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Fターム[4K029EA05]の内容

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Fターム[4K029EA05]に分類される特許

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【課題】下地膜を酸素や水分と反応させずに、下地膜の表面に光が透過できる金属酸化物膜を形成する光透過性金属酸化物膜の形成方法を提供する。
【解決手段】
気体分子を前記気体分子の凝縮温度以下の凝縮面に凝縮させて捕捉する第一の真空ポンプ121を用いて第一の真空雰囲気を形成し、第一の真空雰囲気中に配置された成膜対象物30の下地膜の表面に金属酸化物の粒子を付着させて第一の金属酸化物膜を形成し、気体分子を大気中に移動させる第二の真空ポンプ122を用いて第二の真空雰囲気を形成し、化学構造中に酸素を有する反応性ガスの第二の真空雰囲気中の分圧を第一の真空雰囲気中の分圧より大きくし、第二の真空雰囲気中に配置された成膜対象物の第一の金属酸化物膜の表面に金属又は金属酸化物の粒子を付着させて第二の金属酸化物膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】圧電定数のばらつきを小さくでき、耐電圧特性を向上させることができ、製造歩留りを向上させる圧電アクチュエータとその製造方法を提供する。
【解決手段】単結晶シリコン基板1、酸化シリコン層2、TiOx密着層3’、Pt下部電極層4、PZT圧電体層5及びPt上部電極層6を積層して圧電アクチュエータを構成する。TiOx密着層3’のTiOxの組成比xは0<x<2であり、つまり、TiOx密着層3’はTiを不完全に酸化させて成膜する。密着層3’による絶縁層2と下部電極層4との結合を確保できると共に、Ti成分、Pt成分及びPb成分の拡散が抑制されるので、下部電極層4、密着層3’及び絶縁層2の境界を明瞭にすることができる。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、各種イオンをイオン注入した後に活性化させるための熱処理を行う場合に、炭化珪素表面が荒れてしまうことを防ぐ炭化珪素半導体デバイスの作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 炭化珪素単結晶基板又は炭化珪素単結晶エピタキシャル膜が成膜された基板にイオン注入する工程と、該基板上に窒素を含有した炭素膜を形成する工程と、注入イオンの活性化熱処理を行う工程とを含む炭化珪素半導体デバイスの作製方法である。 (もっと読む)


【課題】酸窒化物膜を作製する成膜技術を提供する。また、その酸窒化物膜を用いて信頼性の高い半導体素子を作製する。
【解決手段】窒化インジウム、窒化ガリウム、窒化亜鉛の少なくとも1つを原料の一とし、これと、酸化インジウム、酸化ガリウム、酸化亜鉛の少なくとも1つと混合して窒素雰囲気中で焼結したインジウムとガリウムと亜鉛を有する酸窒化物よりなるスパッタリングターゲットを用いて酸窒化物膜を作製することにより、必要な濃度の窒素を含んだ酸窒化物膜が得られる。得られた酸窒化物膜はトランジスタのゲートやソース電極、ドレイン電極等に用いることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、反射防止膜の中間屈折率膜として用いられる、屈折率1.5〜2.0を示す酸窒化ケイ素膜を形成する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、スパッタリング法により、基材上に希ガス及び反応性ガスからなる混合ガス雰囲気の真空チャンバー内で酸窒化ケイ素膜を形成する方法であり、前記反応性ガスに酸素及び窒素を含む時の放電電圧Vと、前記反応性ガスに窒素を含み酸素を含まない時の放電電圧Vとが、(V/V)>0.9となるように、前記混合ガスに含まれる希ガスを50〜70体積%とし、屈折率が1.5〜2.0の酸窒化ケイ素膜を得ることを特徴とする酸窒化ケイ素膜の形成方法。 (もっと読む)


【課題】2桁以上高い固有抵抗値を持った酸化物絶縁膜を提供でき、適量の酸素原子を含有した酸化物半導体材料を半導体層に、酸素原子に加えて適量の炭素原子を含有した酸化物絶縁層材料をゲート絶縁層、チャンネル保護層、パッシベーション層に使った酸化物半導体薄膜トランジスタ素子およびその製造方法を得る。
【解決手段】酸化物半導体層中に、酸素原子に加えて、炭素原子を添加して酸化物絶縁膜を形成する。また、本発明に係る酸化物半導体薄膜トランジスタ素子は、酸化物材料がチャンネル半導体層に使われる酸化物半導体薄膜トランジスタ素子であって、前記酸化物絶縁膜は、前記チャンネル半導体層に使われる酸化物材料と同一材料でなり、ゲート絶縁層、チャンネル保護層、パッシベーション層のいずれかまたはすべてに用いる。 (もっと読む)


【課題】安定した、高い発光効率の赤色発光が得られるEuドープZnO膜形成方法を提供する。
【解決手段】まず、第1工程で、H2Oガスを導入するスパッタ法で、基板101の上に、EuがドープされたZnOからなる薄膜102を形成する。次に、第2工程で、薄膜を加熱する。H2Oガスを用いているので、形成される膜にはH原子も導入されるようになる。この結果、主に620nm付近で発光するEuを添加したZnOを形成できるようになり、Euを添加したZnOで、高い発光効率で安定した赤色発光が得られるようになる。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板とモリブデン層との密着力の向上が図られた成膜基板を製造する方法、成膜基板、及び成膜装置を提供すること。
【解決手段】所定量の酸素を含有する第1の雰囲気中で、ガラス基板2の表面に第1のモリブデン層3aを成膜し、第1の雰囲気よりも酸素の含有率が低い第2の雰囲気中で、第1のモリブデン層3aの表面に第2のモリブデン層3bを成膜する。これにより、酸化モリブデンを含む密着層3aをガラス基板2上に成膜し、この密着層3aの上にモリブデン層3bを成膜することができる。 (もっと読む)


【課題】結晶層の結晶性や均一性を向上させることができるIII族窒化物半導体素子製造用基板の製造方法を提供する。
【解決手段】成長用下地基板10上に、クロム層20を形成する成膜工程と、該クロム層20を、所定の条件で窒化することによりクロム窒化物層30とする窒化工程と、該クロム窒化物層30上に、バッファ層40を介して、少なくとも1層のIII族窒化物半導体層50をエピタキシャル成長させる結晶層成長工程とを具えるIII族窒化物半導体素子製造用基板90の製造方法であって、前記クロム層20は、スパッタリング法により、スパッタリング粒子飛程領域における成膜速度が7〜65Å/秒の範囲で、厚さが50〜300Åの範囲となるよう成膜され、前記クロム窒化物層30は、炉内圧力6.666kPa以上66.66kPa以下の、温度1000℃以上のMOCVD成長炉内において、アンモニアガスを含むガス雰囲気中で形成される。 (もっと読む)


【課題】絶縁層上に結晶性の良好な半導体層を形成することができる、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁層41上に厚さ4nm〜1μmの非晶質の半導体層43を形成する工程と、この半導体層43に対して、波長が350nm〜500nmの範囲内のエネルギービームを照射することにより、半導体層43を結晶化させる工程とを含んで、半導体装置を製造する。 (もっと読む)


【課題】フッ素グリースを封入した転がり軸受において、内・外輪軌道面などに形成されたDLC膜の耐剥離性を向上させ、該膜によりフッ素と鋼との反応の抑制を図れるとともに、耐焼き付き性、耐摩耗性、および耐腐食性に優れる転がり軸受を提供する。
【解決手段】転がり軸受1は、内輪2と外輪3と複数の転動体4と保持器5とを備え、フッ素グリース7が転動体4の周囲に封入される軸受であり、曲面である内輪軌道面2aや外輪軌道面3aなどに硬質膜8が成膜されてなり、この硬質膜8は、該表面に直接成膜されるCrを主体とする下地層と、該層の上に成膜されるWCとDLCとを主体とする混合層と、該混合層の上に成膜されるDLCを主体とする表面層とからなる構造の膜であり、混合層は、下地層側から表面層側へ向けて連続的または段階的に、WCの含有率が小さくなり、DLCの含有率が高くなる層である。 (もっと読む)


【課題】コンデンサの容量低下を抑制することを目的とする。
【解決手段】この目的を達成するため本発明は、アルミニウムを主成分とする基材18の表面に亜鉛または亜鉛合金からなる下地層23を形成する工程と、この下地層23の表面に、蒸着によってアルミニウムを主成分とする微粒子20を複数積み重ね、粗膜層19を形成する工程と、を少なくとも備えたものとした。これにより本発明は、基材18表面の酸化を抑制するとともに、基材18と粗膜層19との密着性を高め、コンデンサ6の容量低下を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】信頼性および再現性が優れるとともに、歩留まりが高く生産性が優れた薄膜トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタの製造方法は、基板上にゲート電極を形成する工程と、ゲート電極を覆って基板上に第1の絶縁膜を形成し、第1の絶縁膜上に酸化物半導体膜を形成し、酸化物半導体膜上に第2の絶縁膜を形成して、第1の絶縁膜、酸化物半導体膜および第2の絶縁膜からなる積層体を得る工程と、積層体の第1の絶縁膜、酸化物半導体膜および第2の絶縁膜をパターニングして、それぞれゲート絶縁層、活性層およびチャネル保護層を形成する工程と、ソース電極およびドレイン電極を形成する工程とを有する。第1の絶縁膜、酸化物半導体膜および第2の絶縁膜は、大気に曝されることなく連続して形成される。 (もっと読む)


【課題】ターゲットへの再付着を低減させて、異常放電およびダストを防止すると共に、成膜速度の低下を抑制する。
【解決手段】希ガスを含むスパッタリングガスを真空チャンバ1内へ2ヶ所以上の場所から導入し、ターゲット2の周囲から導入するスパッタリングガスの分子量を、基板51の周囲から導入するいずれのスパッタリングガスの分子量と比べて大きくすると共に、ターゲット2の周囲に、スパッタリングガスをプラズマ化する導入ガス用プラズマ源13を設ける。このようにすることにより、分子量の大きいスパッタリングガスを優先的にイオン化することによりスパッタリング能力を高めることができる。これによりターゲット2への再付着を低減させると共に、成膜レートが低減することを抑制することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】不純物が混入しない酸化物半導体膜を成膜する成膜装置を提供することを課題とする。不純物が混入しない酸化物半導体膜を含む半導体装置の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】成膜装置を含む環境から不純物を排除することにより、成膜装置の外部から成膜装置内へ不純物を含む気体が漏洩(リーク)する現象を防げばよい。また、当該装置を用いて成膜した、不純物が低減された酸化物半導体層を半導体装置に適用すればよい。 (もっと読む)


【課題】転がり軸受の内・外輪軌道面などに形成されたDLC膜の耐剥離性を向上させ、DLC膜本来の特性を発揮することで、耐焼き付き性、耐摩耗性、および耐腐食性に優れる転がり軸受を提供する。
【解決手段】転がり軸受1は、外周に内輪軌道面2aを有する内輪2と、内周に外輪軌道面3aを有する外輪3と、内輪軌道面2aと外輪軌道面3aとの間を転動する複数の転動体4とを備え、曲面である内輪軌道面2aや外輪軌道面3aの表面に硬質膜8が成膜されてなり、この硬質膜8は、該表面に直接成膜されるCrを主体とする下地層と、該層の上に成膜されるWCとDLCとを主体とする混合層と、該混合層の上に成膜されるDLCを主体とする表面層とからなる構造の膜であり、混合層は、下地層側から表面層側へ向けて連続的または段階的に、WCの含有率が小さくなり、DLCの含有率が高くなる層である。 (もっと読む)


【課題】1.5〜2.0の間で所望の屈折率を示すSi系薄膜を、安定的に得ることが可能な透明誘電体薄膜の形成方法を提供する。
【解決手段】スパッタリング法を用いて基材上に薄膜を形成する方法において、真空チャンバー内にSiターゲットを設置する工程、該真空チャンバー内を減圧する工程、減圧後の該真空チャンバー内に反応性ガスとしてN及びCOを含有するスパッタガスを導入する工程、を有し、(CO2流量/全スパッタガス流量)で表される流量比を制御することにより薄膜の屈折率を制御する。 (もっと読む)


【課題】LaB膜の結晶性を更に改善でき、剥離も少ないスパッタ形成方法を提供する。
【解決手段】タングステン又はモリブデンと、希土類元素の酸化物を含む材料からなる基体にスパッタリングによってLaB膜を成膜する際、アルゴンに窒素ガスを0.01〜5体積%添加した雰囲気でLaBターゲットのスパッタリングを行うことにより、結晶性の優れたLaB膜が得られる。 (もっと読む)


【課題】酸化マグネシウム又は酸化ゲルマニウムと酸化ビスマスとを主成分とする光メディアの記録層を高速成膜できる、耐電力特性の高いスパッタリングターゲット及び製造方法を提供する。
【解決手段】酸化マグネシウム又は酸化ゲルマニウムを主成分とするマトリクス、及び、前記マトリクス中に分散した酸化ビスマス粒子を備え、充填率が高い成形法と粒成長抑制効果のある昇温速度と温度で焼成した、酸化ビスマス粒子の平均粒径が0.2〜0.7μmであるスパッタリングターゲット。 (もっと読む)


【課題】基板ホルダの基板以外の領域の表面に成膜材料が付着するのを防止することができ、基板上に成膜される膜の品質及び生産性を向上させることができるスパッタリング装置を提供する
【解決手段】真空排気可能な真空容器1と、真空容器1の内部に配設され、基板8をその処理面を下方へ臨ませて保持する保持機構30、31を備えた基板ホルダ40と、基板ホルダ40の直下に基板8に対向させて配置され、放電用電力が供給されるカソード電極10と、カソード電極10の基板側に支持されたターゲット16と、を備え、基板ホルダ40は、基板以外の領域の表面温度を基板8上に成膜する成膜材料の分解または蒸発温度以上に加熱する加熱機構60、61を有する。 (もっと読む)


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