【課題】メンテナンス作業後、及び、装置稼動前に行う装置性能の校正作業を迅速に安価に行えるようにする。
【解決手段】（１）イオン源８に流入させる試料ガス流量を常に一定にするため、イオン源、及び、質量分析部を有する真空チャンバー１３に設けた真空計２０ａ，２０ｂの真空度変化からバルブ６の絞り部径、オリフィス１５の径などを求め、基準値との差分を補正するため、試料導入部、イオン源、真空チャンバーの真空度を変化させる手段を有する。
（２）イオン源でのプラズマ生成状態を一定にするため、放電電圧、放電電流、プラズマ発光強度を計測し、現状の状態を把握し、基準値との変化分を補正するため、放電電圧などの放電条件を変化させる手段を有する。
（３）質量分離部に流入するイオン量を常に一定にするため、オリフィス径の変化分を補正するため放電時間などの放電条件を変化させる手段を有する。 （もっと読む）

【課題】長時間に亘り安定に高感度分析が実現し、再現性の高いデータを取得できるガス噴霧支援型のインターフェースを有する質量分析装置を提供する。
【解決手段】気体状のイオンを細孔に導く穴又は穴構造を、細孔のイオン導入口側に取り付けた質量分析装置を提案する。ここでの穴又は穴構造は、気体状のイオンが導入される側の断面積が導出される側の断面積よりも大きい構造を有する。 （もっと読む）

【課題】小型軽量で、高精度な質量分析が可能な質量分析装置を提供する。
【解決手段】測定試料４をイオン化するために外部から流入するガス２３をイオン化するイオン源と、イオン化した測定試料４を分離する質量分析部１０２とを有し、イオン源は、質量分析部１０２からの差動排気によって内部が減圧され、ガス２３を取り込み内圧が上昇して略１００Ｐａ〜略１００００Ｐａのときにガス２３をイオン化し、質量分析部１０２は、ガス２３の取り込みに連動して上昇した内圧がガス２３の取り込み後に略０．１Ｐａ以下に低下したときに、イオン化した測定試料４を分離する。イオン源が取り込むガス２３の流量を抑制する抑制手段９と、イオン源が取り込むガス２３の流れを開閉する開閉手段８とを有する。 （もっと読む）

【課題】固体試料がアブレーションされてできた試料エアロゾルをアブレーションチャンバーからICP-MS装置にスムースに提供することができ、しかもアブレーションチャンバー内の洗浄性能に優れたレーザーアブレーション質量分析装置を提供する。
【解決手段】ＬＡ装置１０とＩＣＰ−ＭＳ装置２０からなるレーザーアブレーション質量分析装置１００において、アブレーションチャンバー３は外管３２と内管３１の二重管構造の管路からなり、内管３１の内部が第１の流路３１ａ、その外側が第２の流路３２ａであり、流路３１ａとＩＣＰ−ＭＳ装置２０が導入路４で流体連通され、チャンバー３は固体試料Ｓとの間に隙間Ｇを設けた姿勢で固定され、流路３１ａおよび流路３２ａにキャリアガスを固体試料Ｓに向かう方向に導入し、流路３２ａを流れるキャリアガスが固体試料Ｓ表面で反射して流路３１ａに導かれ、試料エアロゾルＡＥを導入路４に導くようになっている。 （もっと読む）

【課題】大気開放路１０６末端から反応室３に大気ガスを混入させない真空分析装置を提供する。
【解決手段】真空反応室３と、ガス源４と、反応室３に出口端が接続された流量制御用抵抗管１１と、流量制御用抵抗管１１の上流に配置された圧力検出手段１４と、圧力検出手段１４の検出値が所定値になるよう流量制御用抵抗管１１から出るガス量を調節する流量調節手段７と、流量調節手段７と圧力検出手段１４の間でガスを分岐し、スプリット用抵抗管１０３を備えるスプリット流路１０１と、流量調節手段７と圧力検出手段１４の間で上流から流れるガスを分岐して大気中に放出する大気開放路１０６と、大気開放路１０６に設けられたバルブ１０４とを有する真空分析装置で、バルブ１０４の直下にスプリット流路１０１を接続する。ガスがバルブ１０４下流に流入するため大気開放バルブ１０４開放時に大気ガスが拡散によって混入するのを防ぐことができる。 （もっと読む）

【課題】高いデータレート（Ｄａｔｅｎｒａｔｅｎ）と短い分析時間とによる二次イオン形成の高い効率を達成するために、二次イオン質量分析器の操作のための、クラスターイオンに関し改善された生成量を有するイオン源を提供すること。
【解決手段】液体金属層は純粋な金属ビスマスまたは低融点のビスマス含有合金からなり、その際電場の影響下でイオンエミッタ１を用いてビスマスイオン混合ビームを放射可能であり、該ビスマスイオン混合ビームから、それらの質量が単原子の１重または多重に電荷されたビスマスイオンＢｉ_１^Ｐ＋の複数倍となる複数のビスマスイオン種のうちの１種が、フィルタ手段により、質量の純粋なイオンビームとしてろ過可能であり、該イオンビームは１種類のＢｉ_ｎ^Ｐ＋イオンのみから成っており、その際ｎ≧２およびｐ≧１であり、かつｎとｐはそれぞれ自然数であることを特徴とする質量分析器。 （もっと読む）

【課題】 イオンの真空部への導入損失率を低減し、感度を上昇させる。
【解決手段】 バリヤー放電、および、バリヤー放電で生じた励起分子またはイオンと試料との反応による試料のイオン化を、大気圧よりも低圧下で行う。 （もっと読む）

【課題】イオン液体を含有する溶液をエレクトロスプレー用細管の先端からエレクトロスプレー法により気相中に放出させることを用いるイオンビーム発生装置において、エレクトロスプレー用導電性細管の先端から溶液が流れ出ることによる溶液の損失や溶液供給ラインへの空気の混入に起因するイオンビーム電流の不安定性を改善することを課題とする。
【解決手段】本発明においては、エレクトロスプレー用細管にイオン液体を含有する溶液を供給する溶液供給ラインに開閉用バルブ等を設け、停止中において開閉用バルブを閉じることにより溶液が流れ出ることを防止し、また空気の混入をも防止できる構造とした。 （もっと読む）

本明細書で説明されるある実施形態は、源アセンブリと真空室の間に封止を提供するために使用できるカプラに関する。ある実施例において、封止はカプラの可動部材の運動に応じて提供できる。一部の実施例において、適した封止を真空室に提供するために固定部材が付勢されるように、可動部材の回転が可動部材に結合した固定部材に軸方向の力を提供するように働く。 （もっと読む）

質量分析計に界接する大気圧化学イオン化（ＡＰＣＩ）源は、ＡＰＣＩ注入プローブアセンブリ内にコロナ放電針を備える。ＡＰＣＩ注入プローブに流入する液体試料がコロナ放電区域を通過する前に霧化／気化され、ＡＰＣＩ注入プローブアセンブリに収容される。コロナ放電区域生成イオンは、ＡＰＣＩプローブ出口を通るイオン搬送を最大化すべくＡＰＣＩプローブ中心線に集束される。ＡＰＣＩプローブ出口開口に進入する外部電界は、ＡＰＣＩプローブからの試料イオンを集束させる追加中心線を提供する。ＡＰＣＩプローブは、コロナ放電区域から電界を遮蔽する一方、外部電界の進入を許してＡＰＣＩ生成イオンを質量電荷比分析のための真空へのオリフィス内に集束させる。ＡＰＣＩプローブから出るイオンは、外部電界とガス流によってのみ質量電荷比分析器内へのイオン搬送を最大化するように方向づけられる。
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マトリックス支援レーザ脱離／イオン化質量分析イメージング（ＭＡＬＤＩ−ＭＳＩ）装置および方法は、レーザ（１００）と、レーザ光をＭＡＤＬＩイオン源（１０４）に伝達するマルチモード光ファイバ（１０１）とを具える。光ファイバ（１０１）の長さに沿った領域に振動連結部（１０９）が設けられており、光ファイバ（１０１）に振動運動を与えて試料（１０４）の照射強度の最大点を移動させ、効果的に照射表面域を増加させる。本装置および方法は、画像感度を増加させて、対応するデータ収集時間を減少させる。 （もっと読む）

イオン体積部、レンズスタック、及び取り外された多極イオンガイドと同様に協働するイオン光学系を組み合わせる方法及び装置は、ここでは、通気することなしに質量分析計器から取り外すことができる単一のサブアセンブリに組み込まれる。このような構成により、操作者は、システムを通気する必要なしに、通常の操作時に汚染されるイオン経路のすべての部品を洗浄し、適時に再組立し、再挿入し、次に許容可能な真空までポンプで排気することが可能である。
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【課題】１つのフィラメントが切れても質量スペクトルの使用を継続できる電子ソースの性能を正規化するための方法および装置を提供する。
【解決手段】質量スペクトロメータを作動させるための方法は、第１電子放出器を用いて質量スペクトロメータを作動させながら、第１性能特性を決定するステップと、第１性能特性に関連する第１情報を記憶するステップと、第２電子放出器を用いて質量スペクトロメータを作動させながら、第２性能特性を決定するステップと、第２性能特性に関連する第２情報を記憶するステップと、その後、第１電子放出器を使用する作動から、第２電子放出器を使用する作動へ切り換えるステップとを備え、この切り換えるステップは、切り換え前の第１電子放出器の性能に対して切り換え後の第２電子放出器の性能を正規化するよう、第１情報および前記第２情報を使用することを含む。 （もっと読む）

【課題】従来のグラファイト基板は、検出感度が悪く、またイオン化には高レーザーパワーが必要であり、さらに問題なのはグラファイト由来のピークが数多く観測されてしまうといった、致命的ともいえる欠点を多数有していた。
【解決手段】グラファイト基板表面のグラファイト試料を除去すれば、非常に高い性能をもつイオン化基板として用いることが期待される。すなわち、グラファイト微結晶から構成されるグラファイト薄膜を基板上に固着させ、その固着している層の上に堆積しているグラファイト部分を除去することにより上記課題を解決した。 （もっと読む）

【課題】サンプルプレートの個別管理や、サンプルプレートのゆがみ情報に基づく質量較正を容易に行なうことのできるMALDIイオン源を備えた質量分析装置およびMALDIイオン源用サンプルプレートを提供する。
【解決手段】サンプルプレートのＩＤ情報と、サンプルプレート表面の凹凸によるゆがみ情報とをサンプルプレート表面に彫刻し、また電子ファイルとして登録することで、測定時に観察手段で読み取って、サンプルプレートの個別管理や、マススペクトルの質量較正に利用するようにした。 （もっと読む）

【課題】無機微粒子をマトリクスとするＭＡＬＤＩ質量分析法において、妨害イオンピークの原因となる物質を介在させることなく、試料物質をマトリクス粒子に直接保持させて、特に低分子量の有機化合物が精度良く分析できる質量分析技術を提供する。
【解決手段】平均粒子径１００ｎｍ以下のＣｕＯ一次粒子が集合してなる二次粒子であって、最表層を構成する一次粒子の形状に起因した凹凸表面を有するＣｕＯ二次粒子を、レーザー光吸収マトリクスとして備えたＭＡＬＤＩ質量分析用の試料ホルダを使用する。前記ＣｕＯ二次粒子は、炭酸水素アンモニウム水溶液と硝酸銅水溶液を混合する工程で生成する塩基性炭酸銅を、２００〜３００℃で大気焼成することにより合成されるＣｕＯ粉末に由来するものが使用でき、そのＣｕＯ二次粒子は例えば平均粒子径が０.３〜１０μｍである。 （もっと読む）

本発明は、エアロゾルが試料の溶液から形成される大気圧イオン化源と共に用いる装置を備える。エアロゾルは、中空部材に収容され、溶液中の不揮発性材料と予め分析された試料とによって、イオン化源自体の汚染を低減するためにイオン化源のチャンバから外側に放出される。中空部材は、洗浄と交換とを容易に行うためイオン化源から容易に取り外し可能である。装置を構成するイオン化源と質量スペクトロメータとイオン移動度スペクトロメータとがさらに記載されている。
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【課題】
汎用性の高いLDIプレート等を提供する。
【解決手段】
本発明の第１の側面は、レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、容易に製造でき、汎用性の高いLDIプレートが得られる。本発明の第2の側面は、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子を有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、広範囲の波長のレーザー光を吸収できる白金粒子が基板上に担持されているため、様々な種類の試料をレーザー脱離イオン化質量分析法の対象とすることができる。 （もっと読む）

【課題】高精度な全圧および分圧測定を容易に実現することができる質量分析計を提供する。
【解決手段】被測定ガスの分子をイオン化するイオン源９と、イオン源９で生成されたイオンの進路を質量電荷比ごとに決定する質量分離部５と、質量分離部５を通過した特定の質量電荷比のイオンを捕捉する分圧測定用集イオン電極７とを備えた質量分析計１１であって、イオン源９を挟んで質量分離部５の反対側に、イオン源９で生成された全種類のイオンを捕捉する全圧測定用集イオン電極８を設け、全圧測定用集イオン電極８が板状に形成され、かつ開口が形成されている。 （もっと読む）

【課題】プラズマ条件に係る装置の特性を短時間で診断でき、装置の設定条件を最適なものとするよう自動的に較正可能な診断及び較正のシステムを提供する。
【解決手段】本発明の診断システムは、高周波電源の出力に係る第１のパラメータと、エアロゾル中のキャリアガスの流量に係る第２のパラメータと、プラズマトーチ及びインタフェース間の距離に係る第３のパラメータとからなるパラメータの組の集合であって、感度・酸化物イオン比グラフ上で、それぞれの組に対応する測定点が、全測定点の集合として描かれる図形の高感度側の端を成す弧状の包絡線の長さ方向に沿った位置に順に並ぶように所定の配列を成すパラメータの組の集合を記憶し、該集合を構成するパラメータの各組のパラメータ値を用いて所定の診断用試料による診断測定を行い、対応する実測定点の感度・酸化物イオン比グラフにおける包絡線上の位置によって装置特性を確認するよう構成される。 （もっと読む）