リソグラフィダブルパターニング法におけるアライメントターゲットコントラストの改善
【課題】光学リソグラフィの解像度を向上させるためのダブルパターニング法などのリソグラフィパターニング法において、アライメントマークのコントラストを改善すること。
【解決手段】第1または第2リソグラフィパターンに色素を付加するリソグラフィダブルパターニングプロセスを伴う、半導体デバイスをリソグラフィにより製造するシステムおよび方法、ならびに製造物が提供される。第1リソグラフィパターンの位置を検出するとともに、それに第2リソグラフィパターンを直接位置合わせするために色素が使用される。この日は、特定の波長または所与の波長帯域において蛍光性、発光性、吸収性、または反射性とすることができる。この波長は、アライメントビームの波長と一致することができる。色素は、第1リソグラフィパターンを、それが放射感応層(例えばレジスト)で上塗りされている場合でも検出できるようにする。
【解決手段】第1または第2リソグラフィパターンに色素を付加するリソグラフィダブルパターニングプロセスを伴う、半導体デバイスをリソグラフィにより製造するシステムおよび方法、ならびに製造物が提供される。第1リソグラフィパターンの位置を検出するとともに、それに第2リソグラフィパターンを直接位置合わせするために色素が使用される。この日は、特定の波長または所与の波長帯域において蛍光性、発光性、吸収性、または反射性とすることができる。この波長は、アライメントビームの波長と一致することができる。色素は、第1リソグラフィパターンを、それが放射感応層(例えばレジスト)で上塗りされている場合でも検出できるようにする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
[0001] 本発明は、一般にはリソグラフィに関し、より詳細にはダブルパターニング法などのリソグラフィパターニング法においてアライメントターゲットを改善することに関する。
【背景技術】
【0002】
[0002] リソグラフィ装置は、所望のパターンを基板の上に、通常は基板のターゲット部分の上に付ける機械である。リソグラフィ装置は、例えば、集積回路(IC)の製造の際に使用することができる。その場合、マスクまたはレチクルとも呼ばれるパターニングデバイスを使用して、ICの個々の層の上に形成されるべき回路パターンを生成することができる。このパターンは、基板(例えばシリコンウェーハ)上のターゲット部分(例えば、1つまたは複数のダイの部分を含む)の上に転写することができる。パターンの転写は通常、基板上に設けられた放射感応性材料(レジスト)の層の上への結像による。一般に、単一の基板が、連続的にパターニングされる隣り合うターゲット部分からなるネットワークを含む。既知のリソグラフィ装置は、全パターンをターゲット部分の上に一度に露光することによって各ターゲット部分が照射される、いわゆるステッパと、パターンを所与の方向(「スキャン」方向、また「y方向」とも呼ばれる)に放射ビームによってスキャンすると同時に、この方向に対し平行または逆平行に基板をスキャンすることによって各ターゲット部分が照射される、いわゆるスキャナとを含む。パターンを基板上にインプリントすることによって、パターンをパターニングデバイスから基板に転写することもまた可能である。
【0003】
[0003] 光学リソグラフィの解像度は、ダブルパターニングを使用することによって向上させることができる。ダブルパターニングは一般に、2組のパターンを要する。第2の組は、第1の組に正確に位置合わせされなければならない。場合によって、2つの組のパターンは間隙をおいて位置合わせされる。これら2つの組を位置合わせすることは、特に半導体業界の要求が解像度を向上すること、およびより厳しいオーバレイの要件を提起しているので、重大な難題をもたらす。
【発明の概要】
【0004】
[0004] 本発明の実施形態は、一般に、ダブルパターニング法などのリソグラフィパターニング法においてアライメントマークのコントラストを改善することに関する。
【0005】
[0005] 本発明の一実施形態では、リソグラフィを用いて半導体デバイスを製造する方法が提供される。この方法は、基板を第1放射感応層で被覆し、この第1放射感応層に色素化合物を付加する工程を含む。この方法はさらに、第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する工程と、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程と、第1リソグラフィパターンの位置を検出する工程と、基板を第1リソグラフィパターンの検出された位置に位置合わせする工程と、第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する工程とを含む。この方法では、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンの検出された位置に位置合わせする。例示的な一実施形態では、色素化合物と第1リソグラフィパターンは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。
【0006】
[0006] 本発明の別の実施形態では、その方法は、基板を第1放射感応層で被覆する工程と、第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する工程と、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程とを含む。この方法はさらに、第2放射感応層に色素化合物を付加する工程と、第1リソグラフィパターンの位置を検出する工程と、基板を第1リソグラフィパターンの検出された位置に位置合わせする工程と、第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する工程とを含む。この方法は、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンの検出された位置に位置合わせする工程を含む。例示的な一実施形態では、色素化合物と第2リソグラフィパターンは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。
【0007】
[0007] 本発明はまた、第1放射感応層で被覆された基板と、第1放射感応層内に形成された第1リソグラフィパターンと、第1放射感応層を被覆する第2放射感応層とを含む製造物にも関する。第1リソグラフィパターンまたは第2放射感応層は色素化合物を含む。この色素化合物は、第1リソグラフィパターンまたは第2放射感応層と協働して、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。例示的な一実施形態では、この製造物はさらに第2リソグラフィパターンを含み、これは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを使用して第1リソグラフィパターンに直接位置合わせされる。
【0008】
[0008] 本発明はまた、半導体デバイスをリソグラフィにより製造するシステムにも関する。このシステムは、ダブルパターニングプロセスにおいてアライメントマークを読み取るための特定の波長のアライメントビームを供給する照明源を含む。このシステムはまた、ダブルパターニングプロセスにおいて、基板上に被覆された第1放射感応層の1つ、または第1リソグラフィパターン上に被覆された第2放射感応層において色素化合物を検出するアライメントシステムも含む。この色素化合物は、第1リソグラフィパターン内に形成されたアライメントマークに基づいてダブルパターニングプロセスの2つのパターニング工程を位置合わせするときに、第1リソグラフィパターンと第2放射感応層の間に所望のコントラストを与える。
【図面の簡単な説明】
【0009】
[0009] 上記の概要は、本発明の態様の多くを示しているがすべてではない。本発明の他の態様は、本発明の様々な「実施形態」についての説明を図面の参照と併せ読むことによって、本発明に関係する分野の当業者には明らかになるはずである。以下の実施形態を示すに際しては、本発明を限定としてではなく例として説明する。図で、同じ参照数字は同様の要素を指す。
【0010】
【図1A】[0010]本発明の一実施形態による、反射型リソグラフィ装置を示す図である。
【図1B】本発明の一実施形態による、透過型リソグラフィ装置を示す図である。
【図2】[0011]本発明の一実施形態による、リソグラフィセルを概略的に示す図である。
【図3】[0012]本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図4】本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図5】本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図6】本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図7】[0013]本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法により得られたポリシリコンのSEM断面を概略的に示す図である。
【図8】[0014]本発明の一実施形態による、リソエッチリソエッチ(LELE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図9】本発明の一実施形態による、リソエッチリソエッチ(LELE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図10】本発明の一実施形態による、リソエッチリソエッチ(LELE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図11】本発明の一実施形態による、リソエッチリソエッチ(LELE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図12】[0015]本発明の一実施形態による、LELEダブルパターニング法により得られたポリシリコンのSEM断面を概略的に示す図である。
【図13】[0016]本発明の一実施形態による、リソフリーズリソエッチ(LFLE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図14】本発明の一実施形態による、リソフリーズリソエッチ(LFLE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図15】本発明の一実施形態による、リソフリーズリソエッチ(LFLE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図16】本発明の一実施形態による、リソフリーズリソエッチ(LFLE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図17】[0017]本発明の一実施形態による、LFLEダブルパターニング法により得られたポリシリコンのSEM断面を概略的に示す図である。
【図18】[0018]本発明の一実施形態による、ダブルパターニングスタックに入射するアライメントビームを概略的に示す図である。
【図19】[0019]本発明の一実施形態による、ダブルパターニングスタックに入射する色素で増強されたアライメントビームを概略的に示す図である。
【図20】[0020]本発明の一実施形態による、着色色素で増強されたフォトレジストの例示的透過スペクトルを概略的に示す図である。
【図21】[0021]本発明の一実施形態による、メロシアニン540のモル吸光係数スペクトルを概略的に示す図である。
【図22】[0022]本発明の一実施形態による、チアトリカルボシアニン(C7)色素のモル吸光係数スペクトルを概略的に示す図である。
【図23】[0023]本発明による製造方法の一実施形態を概略的に示す流れ図である。
【図24】[0024]本発明による製造方法の別の実施形態を概略的に示す流れ図である。
【図25】[0025]本発明の一実施形態による、製造システムを概略的に示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
[0026] 次に本発明を、添付の図面に示されたその好ましいいくつかの実施形態を参照して、詳細に説明する。以下の説明では、本発明の完全な理解が得られるように多数の具体的詳細を示す。しかし、これらの具体的詳細の一部またはすべてがなくても本発明を実施できることは、当業者には明らかであろう。他の事例では、本発明を不必要にわかりにくくしないように、よく知られた方法の工程については詳細に説明していない。
【0012】
[0027] 同様に、システムの実施形態を示す各図面は、部分図で概略的であり、また原寸に比例して描かれていない。大きさの一部は、提示を見やすくするために誇張してある。
【0013】
[0028] 図示の装置は、示されている向きとは異なる向きで動作させることができる。さらに、いくつか共通のフィーチャを有する複数の実施形態を開示し説明する場合、それらの図、説明および理解を分かりやすく簡単にするために、互いに類似し同様なフィーチャは通常、同じ参照数字で示される。
【0014】
[0029] 図1Aおよび1Bは、それぞれ本発明の実施形態と一致するリソグラフィ装置100およびリソグラフィ装置100’を概略的に示す。リソグラフィ装置100およびリソグラフィ装置100’それぞれは、放射ビームB(例えばDUVまたはEUV放射)を調整するように構成された照明システム(イルミネータ)ILと、パターニングデバイス(例えばマスク、レチクル、またはダイナミックパターニングデバイス)MAを支持するように構成され、パターニングデバイスMAを正確に位置決めするように構成された第1ポジショナPMに接続されているサポート構造(例えばマスクテーブル)MTと、基板(例えばレジスト被覆ウェハ)Wを保持するように構成され、基板Wを正確に位置決めするように構成された第2ポジショナPWに接続されている基板テーブル(例えばウェハテーブル)WTとを含む。リソグラフィ装置100および100’はまた、パターニングデバイスMAによって放射ビームBに付与されたパターンを基板Wのターゲット部分(例えば1つまたは複数のダイを含む)Cの上に投影するように構成された投影システムPSも含む。リソグラフィ装置100では、パターニングデバイスMAおよび投影システムPSは反射型であり、リソグラフィ装置100’では、パターニングデバイスMAおよび投影システムPSは透過型である。
【0015】
[0030] 照明システムILは、放射Bを導き、成形し、または制御するための屈折式、反射式、磁気式、電磁気式、静電気式など様々なタイプの光学コンポーネント、または他のタイプの光学コンポーネント、あるいはそれらの任意の組合せを含むことができる。
【0016】
[0031] サポート構造MTは、パターニングデバイスMAの向き、リソグラフィ装置100および100’の設計、および他の条件、例えばパターニングデバイスMAが真空環境内で保持されるかどうかなどによって決まる方法で、パターニングデバイスMAを保持する。サポート構造MTは、機械式、真空式、静電気式、または他のクランプ技法を使用して、パターニングデバイスMAを保持することができる。サポート構造MTは、例えばフレームまたはテーブルとすることができ、これらは必要に応じて固定または可動にすることができる。サポート構造MTは、パターニングデバイスが例えば投影システムPSに対して確実に所望の位置にあるようにすることができる。
【0017】
[0032] 「パターニングデバイス」MAという用語は、放射ビームBの断面にパターンを付与するために使用されて、基板Wのターゲット部分C内にパターンを生成することなどができる任意のデバイスを指すものとして広く解釈されるべきである。放射ビームBに付与されるパターンは、ターゲット部分C内に作製される集積回路などのデバイス内のある特定の機能層に対応し得る。
【0018】
[0033] パターニングデバイスMAは、(図1Bのリソグラフィ装置100’のような)透過型でも(図1Aのリソグラフィ装置100のような)反射型でもよい。パターニングデバイスMAの例には、レチクル、マスク、プログラマブルミラーアレイ、およびプログラマブルLCDパネルが含まれる。マスクはリソグラフィでよく知られており、バイナリ、レベンソン型(alternating)位相シフト、およびハーフトーン型(attenuated)位相シフトなどのマスクタイプ、ならびに様々なハイブリッドマスクタイプを含む。プログラマブルミラーアレイの一例では、複数の小さな鏡のマトリクス配列を使用し、それぞれの鏡は、入ってくる放射ビームを別々の方向に反射するように個別に傾けることができる。傾けられた鏡は、ミラーマトリクスで反射される放射ビームB内にパターンを付与する。
【0019】
[0034] 「投影システム」PSという用語は、使用される露光放射に対して、あるいは液浸液の使用または真空の使用など他の要因に対して適切な屈折式、反射式、反射屈折式、磁気式、電磁気式および静電気式の光学システム、あるいはこれらの任意の組合せを含むどんなタイプの投影システムも包含することができる。他のガスがあまりに多く放射または電子を吸収しうるので、真空環境がEUVまたは電子ビーム放射に使用されることがある。したがって、真空壁および真空ポンプの補助によりビーム経路全体に真空環境が形成されることがある。
【0020】
[0035] リソグラフィ装置100および/またはリソグラフィ装置100’は、2つ(デュアルステージ)以上の基板テーブル(および/または2つ以上のマスクテーブル)WTを有するタイプとすることができる。このような「マルチステージ」機械では、追加の基板テーブルWTが並行して使用されることがあり、あるいは、1つまたは複数の基板テーブルWTの上で準備工程が実施される一方で、他の1つまたは複数の基板テーブルWTが露光のために使用されることもある。
【0021】
[0036] イルミネータILは、放射源SOから放射ビームを受け取る。放射源SOおよびリソグラフィ装置100、100’は、例えば放射源SOがエキシマレーザである場合には、別々の構成要素とすることができる。このような場合には、放射源SOはリソグラフィ装置100または100’の一部を形成するとみなされず、放射ビームBは、例えば適切な誘導ミラーおよび/またはビームエキスパンダを含むビームデリバリシステムBD(図1B)の補助により、放射源SOからイルミネータILまで進む。他の場合で、例えば放射源SOが水銀ランプのときは、放射源SOは、リソグラフィ装置100、100’に一体化した部分とすることができる。放射源SOとイルミネータILは、ビームデリバリシステムBDと共に、必要に応じて放射システムと呼ばれることもある。
【0022】
[0037] イルミネータILは、放射ビームの角度強度分布を調整するためのアジャスタAD(図1B)を備えることができる。一般に、少なくともイルミネータの瞳面における強度分布の外側および/または内側半径範囲(通常それぞれσ-outerおよびσ-innerと呼ばれる)は、調整することができる。さらに、イルミネータILは、インテグレータINおよびコンデンサCOなど他の様々なコンポーネント(図1B)を備えることができる。イルミネータILを使用して放射ビームBを調整し、その断面内に所望の均一性および強度分布を得ることができる。
【0023】
[0038] 図1Aを参照すると、放射ビームBは、サポート構造(例えばマスクテーブル)MT上に保持されているパターニングデバイス(例えばマスク)MAに入射し、パターニングデバイスMAによってパターニングされる。リソグラフィ装置100では、放射ビームBは、パターニングデバイス(例えばマスク)MAから反射される。パターニングデバイス(例えばマスク)MAから反射された後、放射ビームBは投影システムPSを通過する。投影システムPSは、放射ビームBを基板Wのターゲット部分Cの上に集束する。第2ポジショナPWおよび位置センサIF2(例えば干渉計デバイス、リニアエンコーダ、または容量センサ)の補助により、基板テーブルWTを正確に動かして、例えば放射ビームBの経路内の別々のターゲット部分Cを位置決めすることができる。同様に、第1ポジショナPMおよび別の位置センサIF1を使用して、放射ビームBの経路に対してパターニングデバイス(例えばマスク)MAを正確に位置決めすることができる。パターニングデバイス(例えばマスク)MAと基板Wは、マスクアライメントマークM1、M2および基板アライメントマークP1、P2を使用して位置合わせすることができる。
【0024】
[0039] 図1Bを参照すると、放射ビームBは、サポート構造(例えばマスクテーブルMT)上に保持されたパターニングデバイス(例えばマスクMA)に入射し、このパターニングデバイスよってパターニングされる。マスクMAを横切ってから、放射ビームBは投影システムPSを通過する。投影システムPSは、ビームを基板Wのターゲット部分Cの上に集束する。第2ポジショナPWおよび位置センサIF(例えば干渉計デバイス、リニアエンコーダ、または容量センサ)の補助により、基板テーブルWTを正確に動かして、例えば放射ビームBの経路内の別々のターゲット部分Cを位置決めすることができる。同様に、第1ポジショナPMおよび別の位置センサ(図1Bには明示されていない)を使用して、例えばマスクライブラリからの機械的検索の後またはスキャン中に、放射ビームBの経路に対してマスクMAを正確に位置決めすることができる。
【0025】
[0040] 一般に、マスクテーブルMTの移動は、第1ポジショナPMの一部を形成するロングストロークモジュール(粗動位置決め)およびショートストロークモジュール(微動位置決め)の補助により実現することができる。同様に、基板テーブルWTの移動は、第2ポジショナPWの一部を形成するロングストロークモジュールおよびショートストロークモジュールを使用して実現することができる。ステッパの場合には(スキャナとは対照的に)、マスクテーブルMTをショートストロークアクチュエータだけに接続することができ、あるいは固定することができる。マスクMAと基板Wは、マスクアライメントマークM1、M2、および基板アライメントマークP1、P2を使用して整合させることができる。基板アライメントマークは、図示のように専用のターゲット部分を占有するが、ターゲット部分間の空間に配置することもできる(スクライブラインアライメントマークとして知られている)。同様に、マスクMA上に2つ以上のダイが用意される場合では、マスクアライメントマークはダイ間に配置することができる。
【0026】
[0041] リソグラフィ装置100および100’は、以下のモードのうちの少なくとも1つで使用することができる。
1.工程モードでは、放射ビームBに付与された全パターンが一度にターゲット部分Cの上に投影されている(すなわち単一静的露光)間、サポート構造(例えばマスクテーブル)MT、および基板テーブルWTが実質的に静止状態に維持される。次に、基板テーブルWTは、別のターゲット部分Cを露光できるようにXおよび/またはYの方向に移動される。
2.スキャンモードでは、放射ビームBに付与されたパターンがターゲット部分Cの上に投影されている(すなわち単一動的露光)間、サポート構造(例えばマスクテーブル)MTと基板テーブルWTが同期してスキャンされる。サポート構造(例えばマスクテーブル)MTに対する基板テーブルWTの速度および方向は、投影システムPSの拡大(縮小)および像反転の諸特性によって決定することができる。
3.もう1つのモードでは、サポート構造(例えばマスクテーブル)MTは、プログラマブルパターニングデバイスを保持しながら実質的に静止状態に維持され、放射ビームBに付与されたパターンがターゲット部分Cに投影されている間、基板テーブルWTが移動またはスキャンされる。パルス放射源SOを使用することができ、プログラマブルパターニングデバイスが、基板テーブルWTの各移動の後に、または一回のスキャン中の連続する放射パルスの間に、必要に応じて更新される。この動作モードは、本明細書で言及されたタイプのプログラマブルミラーアレイなど、プログラマブルパターニングデバイスを利用するマスクレスリソグラフィに容易に適用することができる。
【0027】
[0042] 説明した使用モードの組合せおよび/または変種、あるいは全く異なる使用モードもまた用いることができる。
【0028】
[0043] 別の一実施形態では、リソグラフィ装置100は超紫外線(EUV)源を含み、これは、EUVリソグラフィ用のEUV放射ビームを発生するように構成されている。一般に、EUV源は放射システム内に構成され、対応する照明システムは、EUV源のEUV放射ビームを調整するように構成される。
【0029】
[0044] 上述の各使用モードの組合せおよび/または変種、あるいは全く異なる使用モードもまた用いることができる。
【0030】
[0045] 図2に示されるように、本発明の一実施形態と一致して、リソグラフィ装置LAは、リソセルまたはクラスタと呼ばれることもあるリソグラフィセルLCの一部を形成し、リソグラフィセルLCはまた、基板上で前露光および後露光処理を行う装置も含む。一例では、リソセルまたはクラスタは、レジスト層を堆積させるスピンコータSC、露光されたレジストを現像する現像処理装置DE、冷却プレートCH、およびベークプレートBKを含むことができる。基板ハンドラまたはロボットROが入力/出力ポートI/O1、I/O2から基板を持ち上げ、それを別々の処理装置の間で移動させ、次に、リソグラフィ装置のローディングベイLBに供給する。一括してトラックと呼ばれることが多いこれらのデバイスは、トラック制御ユニットTCUの制御下にあり、トラック制御ユニットTCU自体は、リソグラフィ制御ユニットLACUを介してリソグラフィ装置もまた制御する監視制御システムSCSによって制御される。したがって、別々のこれらの装置をスループットおよび加工効率を最大にするように動作させることができる。
【0031】
[0046] 光リソグラフィは、半導体産業の解像度向上およびより厳しいオーバレイ要件の難題に、段階的に光学開口数を増大させ、照明波長を短縮し、低いkファクタ加工を支えることによって応じてきた。この傾向は、EUVリソグラフィツールでは13nmまで短縮された波長、また水性液浸リソグラフィツールでは1.35まで増大された開口数によって継続した。
【0032】
[0047] 現在、水性で193nmの液浸ツールでは、40nm(半ピッチ)未満の解像度で印刷することが6nm未満のオーバレイ精度で可能である。次のリソグラフィノードのために、水性液浸リソグラフィがダブルパターニング技法と共に使用され、これにより32nmノードより下に押さえ込まれる。露光ツールの重要な課題は、プロセスウィンドウを小さくすることに対処しながら、ダブルパターニングで必要とされる規定を厳しくすることである。規定要件にはスループット向上、より厳格なオーバレイ、およびより厳格なクリティカルディメンション制御が含まれる。
【0033】
[0048] 光リソグラフィは、過去30年間の半導体デバイス製造の主要な支えであった。これは、光学システムの開口数を段階的に増大させること、および段階的により短い露光照明波長を使用することによって、半導体産業のロードマップの厳格な解像度要件に追いついてきた。
【0034】
[0049] ときどきの障害は、新技術の導入によって回避されてきた。この一例は液浸リソグラフィの導入であり、これは、上述のように光学システムの開口数が1.0の限界を超えるまで増大することを可能にした。液浸流体として水をレンズとウェハの間に用いることにより、光学システムの開口数を1.35まで増大させることができた。これが、結像層スタックの屈折率によって課される新たな限界になった。最大開口数は、層スタックの最小屈折率と最大光線角度のサインとの積までに限定される。水性液浸では、薄膜スタックの各限界屈折率は、1.44の水の限界屈折率、および1.56のレンズの最終素子ガラスの限界屈折率になる。これにより、1.35すなわち0.94×1.44の最大開口数が得られる。ここで0.94は最大実結像光線角度(70度)のサインである。層スタックの最小屈折率を増大させるために液浸流体および最終レンズ素子ガラスを変更することは、大きな技術的難題であり、必要なリソグラフィロードマップの期限内に、また実働EUVリソグラフィが利用できる前に実現することはできない。液浸光学システムの半ピッチ解像度は次式で与えられる。
【0035】
【数1】
ここでRsは半ピッチ解像度、λは照明波長、NAは光学システムの開口数、kは照明の構成および部分コヒーレンスに関連するプロセスファクタである。kの最小値は0.25であり、ダイポール照明を使用することに関連している。
【0036】
[0050] したがって、使用可能な最高光学半ピッチ解像度は、水性液浸で開口数1.35の場合に、193nmの波長の偏光ダイポール照明を使用して36nmになる。明らかに、32nm(半ピッチ)ノードのリソグラフィ以上を取り込む光リソグラフィには、何らかのさらなる革新が必要である。「ダブルパターニング」はこのような工程に相当し、開発途上にある。
【0037】
[0051] ここで、ダブルパターニングは、3つの主要な加工技術、すなわち、スペーサをベースとするダブルパターニング、リソエッチリソエッチ(LELE)をベースとするダブルパターニング、およびリソプロセスリソエッチ(LPLE)をベースとするダブルパターニングに分類することができる。LPLEの一例は、リソフリーズリソエッチ(LFLE)をベースとするダブルパターニングである。開発段階では、これらの方法のすべてで有望な結果が得られている。スペーサ技術は、特にフラッシュメモリ製造に適用可能である。
【0038】
[0052] 本発明の一実施形態と一致する基本的なスペーサダブルパターニングシーケンスが図3〜6に示されている。図3〜4はスペーサシーケンスでの第1の各工程を示し、これらは、エッチングによって次に犠牲に転写されるレジストパターン(図3に示す)をリソグラフィにより画定する。図3で、パターニングデバイス310が、下部反射防止コーティング(barc)層330の上のリソグラフィパターン320(レジスト)の上方に示されている。以前の工程で(図示せず)、パターン320が、レジスト層を露光し現像することによって形成されている。スタックの残りは、犠牲層340、ハードマスク層350、電気層360、および酸化物層370を含む。一実施形態では、犠牲層340は、カリフォルニア州サンタクララのApplied Materialsからのアドバンスドパターニングフィルム(APF)を含む。
【0039】
[0053] 本発明の一実施形態と一致して、図4は、エッチングによって犠牲層340に転写された図3からのリソグラフィパターン320(図4には示されていない)を示す。
【0040】
[0054] 本発明の一実施形態と一致して、図5はスペーサ形成層380を示し、これは、エッチングされたハードマスクパターン350の上に共形に堆積され、次に、最初にリソグラフィにより画定された犠牲パターンのすべての縁部に追従するスペーサパターンを残すように異方性でエッチバックされる。次に、最初の犠牲パターン340は、高解像度スペーサパターンを残すようにエッチング除去される(図6参照)。
【0041】
[0055] 次に、このスペーサパターンは、スペーサパターニングの望ましくない部分をエッチング除去し削除するために第2のリソグラフィ段階にかけられ、それによって、必要な高解像度の最終パターン(図示せず)が残る。次に、最終の画定された高解像度スペーサパターンは、ハードマスク層にエッチング転写され、このハードマスク層は、下にあるポリシリコン層(図示せず)のエッチングを画定するために使用される。結果として得られた典型的なポリシリコンの走査電子顕微鏡(SEM)断面が図7に示されている。
【0042】
[0056] このスペーサ技術は、線幅の高解像度が光学像によってではなく堆積される層の厚さの制御によって実現されるので普及した。これにより、露光ツールに対して解像度およびオーバレイの要件を増大させることが回避される。露光ツールに対する主要な要件は、解像度またはオーバレイではなく、クリティカルディメンション均一性およびクリティカルディメンション制御になる。クリティカルディメンションの制御は、画定されたスペーサ線幅の間の間隙の幅に影響を及ぼす。リソグラフィツールによって画定された犠牲パターンのクリティカル線幅ディメンションが適正ではない場合には、測定されたスペース幅に双峰分布が生じる。
【0043】
[0057] 本発明の一実施形態と一致する、基本的なリソエッチリソエッチ(LELE)プロセスシーケンスが図8〜11に示されている。LELEでは、リソグラフィにより画定された2つのパターンが、間隙をおいて2つの加工シーケンスで露光される。図8に、パターニングデバイス810がスタックの上に示されている。スタックの上部には、第1リソグラフィパターン820(レジスト)がbarc層830の上部にある。スタックの残りは、ハードマスク層840、ポリシリコン層850、および最後の二酸化シリコン(SiO2)層860を含む。
【0044】
[0058] 本発明の一実施形態と一致して、図8〜9は、第1リソグラフィパターン820のレジストへの印刷と、次に、エッチングによるハードマスク層840への転写とを示す。1:1線スペース形のパターンが1:3線/スペース比まで過度に露出され、これにより、最適プロセス制御が得られるとともに第2リソグラフィパターンの挿入を可能にするスペースが開かれる。
【0045】
[0059] 本発明の一実施形態と一致して、図10は、第2間隙パターン870の結像と、別のbarc層890の上にあるレジスト880におけるその画定部とを示す。このパターンもまた、1:3線/スペース比が得られるように過度に露光される。次に、第2リソパターンが現像されて、レジスト/barcパターン1100が画定される。最後に、ハードマスク層内に画定された第1パターン840と、レジスト層内に画定された第2パターン1100との両方が、エッチングによってポリシリコンデバイス層(図示せず)に転写される。
【0046】
[0060] 図12のSEM断面は、ポリシリコン内に画定された典型的な線断面を示す。各線間の高さの相違は、ハードマスクのエッチング特性、およびレジスト像画定パターン(第1パターンから除去されないハードマスク)の相違による。
【0047】
[0061] この技術では、露光ツールに対する厳格な要件は、オーバレイとクリティカルディメンション均一性との両方になる。図8〜11に示された「ポジティブ」LELEプロセスフローを用いると、オーバレイ制御は、線間のスペーシングのディメンション均一性を規定するが、このディメンション均一性は、ゲート構造を画定するために使用される線の実際の幅ほどにはデバイス加工に重要ではないことがある。最終のポリシリコン線幅のクリティカルディメンション制御は最も重要な要件であり、これは露光ツールによって規定される。第1パターンと第2パターンのクリティカルディメンションが一致しない場合には、双峰線幅分布を観察することがありうる。
【0048】
[0062] 最新で最も刺激的な開発はLPLE法である。一例はフリーズ法(リソフリーズリソエッチ、LFLEとしても知られる)である。LPLE法では、LELEシーケンスでの加工工程の数が低減する。LELEプロセスでの第1のエッチングは不要である。このことは、潜在的なコスト節約と歩留まりの改善を意味する。LFLEシーケンスは図13〜16に示されている。
【0049】
[0063] 本発明の一実施形態と一致して、図13は、LELE法と類似の第1リソグラフィパターンの画定部を示す。図13は、すでに露光され現像された第1リソグラフィパターン(レジストでできている)1320の上方にパターニングデバイス1310を示す。レジスト1320はbarc層1330の上部にあり、このbarc層はポリシリコン層1340の上部にある。スタックの下部にSiO2層1350がある。
【0050】
[0064] 次の工程で、本発明の一実施形態と一致して、図14に示されるように、パターン1320をハードマスクにエッチングする代わりに、レジストパターニングが所定の位置に凍結され、その結果、溶解されて消えることなく、レジスト内の第2パターンの画定のための次のレジスト被覆によって、レジストパターニングを上塗りすることができるようになる。凍結レジストパターンは1320’と示されている。レジストパターンを凍結することは、いくつかの方法で実現することができ、これらには、イオン注入、DUV露光硬化、化学硬化などが含まれる。化学硬化が最も経済的で簡便であると見込まれる。
【0051】
[0065] 図15で、本発明の一実施形態と一致して、このプロセスではレジスト上塗り1360を継続する。本発明の一実施形態と一致して、図16は、レジスト内の第2パターン1370の画定部を示す。第1像1320’も第2像1370もレジスト内に画定されており、ポリシリコン1340へのエッチング転写の用意ができている。本発明の一実施形態による、結果として得られたポリシリコン内のSEM断面が図17に示されている。
【0052】
[0066] LFLE法では、露光ツールに関し、LELE法と同じ難題が提示される。パターニング光がスペースを露光する「ポジティブ」シーケンスを用いると、結像によるオーバレイエラーが、線間のスペースの幅のばらつきとして現れる。オーバレイ制御がよくないと、スペースの幅に双峰分布がもたらされる。それぞれ別々の露光工程のクリティカルディメンション(CD)制御および均一性もまた、線幅変化の双峰分布の一因となる。強調されるすべてのダブルパターニングシーケンスでは、露光ツールの難題は、高い生産性を伴う、厳格なクリティカルディメンションおよびオーバレイの仕様になってきている。
【0053】
[0067] ダブルパターニング技術に関わる1つの主要な障害は、第1リソグラフィパターンを第2リソグラフィパターンに正確に位置合わせすることである。一実施形態では、常にそうであるとは限らないが、第1パターンが間隙をおいて第2パターンに位置合わせされる。これらの問題を示すために、一例としてLFLE法を以下でより詳細に説明する。図14〜16に戻って参照すると、第2リソグラフィパターン1370に対応するために、第1リソグラフィパターン1320’は、第2放射感応層(レジスト層)1360で被覆される。例えば、第1放射感応層1320内に画定されたアライメントマークは、第2放射感応層1360で上塗りされた場合には、それらが同様の光学特性を有するのでコントラスト的に消される。したがって、レジスト内のアライメントマークは、アライメントシステムで見ることができない。
【0054】
[0068] 図18で、矢印1810は、第2レジスト層1360に入射するアライメントシステム照明ビームを表す。破線の矢印1820は、埋込みアライメントキーからの非常に弱い散乱信号を表す。このために通常は、第1パターンとそれに続く第2パターンの両方の位置合わせ用に、前の加工レベル(すなわちアライメントキースタック内の下位)で画定されるアライメントマークを使用せざるを得なくなる。したがって、これら2つのパターンは互いに直接位置合わせされるのではなく、代用物によって別個に位置合わせされる。こうすると、これらパターン間の位置合わせ精度が効果的に低下する。このことは、すでに重大な問題であるが、線スペーシング幅が縮小し続けるにつれてより大きな問題となる。
【0055】
[0069] 本発明の一実施形態と一致して、上記の問題に対する1つの解決法は、アライメントマークがレジストで上塗りされる場合に、ダブルパターニング法(例えばLFLE)の第1パターン内にパターニングされたアライメントマーク(例えば回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターン)の画定部を強調する手段を実現することである。この目的のために、ダブルパターニング法の各工程で、第1レジスト層が露光され現像される前や、それと一緒に、またはその後に色素化合物を付加することができる。例えば、レジスト層の化学線反応性(actinic performance)、あるいはLFLEの場合では像を凍結するその能力を容易に感知できるほどには妨げない色素化合物を使用することができる。
【0056】
[0070] 一実施形態では、この色素化合物は、以下で詳細に説明するように、感光化合物またはフォトクロミック材料である。一実施形態では、色素化合物は、所望の波長帯域で実質的に吸収性、または実質的に反射性とすることができる。別の実施形態では、色素化合物は、所望の波長帯域で蛍光性または発光性とすることができる。この波長帯域は、アライメントシステム照明ビームの波長を含むことができる。これらの実施形態すべてで、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または位置合わせに使用されるパターニングが形成される。この回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、またはパターンは、アライメントシステムによって検出可能である。
【0057】
[0071] 本発明の一実施形態と一致して、図19で矢印1910は、第2レジスト層1360に入射するアライメントシステム照明ビームを表す。図示のこの実施形態で、第1パターン1320’は、色素化合物によって増強されている。矢印1920は、埋込みアライメントキーからの強い信号(例えば回折次数)を表し、この信号は、第1パターンが第2レジスト層1360で上塗りされていてもここでは目に見える。図示のように、色素化合物は、第1リソグラフィパターン1320’に塗布される。別の実施形態では、適切な色素化合物を第2放射感応層1360に塗布することができる。しかし、これらの実施形態のどれでも、色素化合物は、第1のリソグラフィパターンと、それを覆う第2レジスト層との間に光学コントラストを与える。このコントラストにより、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の、ダブルパターニング法の第1パターニングプロセスで使用されるアライメントマークのパターンの形状に応じたパターンが形成される。
【0058】
[0072] 一実施形態では、色素化合物は、第1レジスト層(または第1リソグラフィパターン)に付加される。この色素化合物と第1レジスト層(または第1リソグラフィパターン)が協働して、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。別の実施形態では、色素化合物は、(第1レジスト層または第1リソグラフィパターンに付加される代わりに)第1パターンを覆っている第2レジスト層に付加される。この実施形態では、(第1パターンを上塗りする)第2レジスト層とその中の色素化合物が協働して、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。これらの実施形態のどれでも、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンは、色素化合物がない領域に色素化合物を散在させることにより現れる。一実施形態では、色素化合物は、光活性感光化合物またはフォトクロミック材料である。
【0059】
[0073] 色素は、アライメントシステム波長と整合するように選択することができる。これらの色素は、1つのダブルパターニングプロセスで第1レジスト層に付加することができ、あるいは現像されたリソグラフィパターンに塗布することができる。別の実施形態では、色素は、第2レジストの上塗り層に付加することができる。LFLEでの使用では、凍結材料は色素で増強することができ、その結果、この材料は、同時に第1リソグラフィパターンを凍結し光学コントラストを与えて、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または位置合わせ用の他のパターンを設定し、それによって第1パターン自体がアライメントマーカになる。このようにして、1つのダブルパターニングプロセス内の第2パターンは、代用のアライメントマーカを使用することに頼らなくても、第1リソグラフィパターンに直接位置合わせすることができ、それによって、ダブルパターニング法などのリソグラフィパターニング法における位置合わせ精度が大きく改善される。
【0060】
[0074] 現在使用中の例示的アライメントシステム波長は、532nm,635nm,780nmおよび850nmであるが、リソグラフィシステムで使用される特定の種類の光または放射の波長に応じて、他の波長もまた可能である。色素は、それが化学線波長においてはレジストの性能に影響しないままで、位置合わせ波長においてレジストの透過性だけに影響を及ぼすように選択することができる。
【0061】
[0075] 図20は、着色色素で増強されたフォトレジストの例示的な透過スペクトルを示す。スペクトルは、各色素が特定の波長帯域(アライメント波長に対応するように選択することができる)において実質的に吸収性であることを示すが、これらの色素は、典型的な化学線波長では実質的に透過性である。図20で、2010はシアンフォトレジストのスペクトル、2020はマゼンタフォトレジストのスペクトル、2030は黄フォトレジストのスペクトルである。
【0062】
[0076] 例示的な色素はメロシアニン540であり、これは540nmおよびその近辺で多く吸収する。メロシアニン540のモル吸光係数スペクトルが図21に示されている。メロシアニン540の化学構造を以下に示す。
【0063】
【化1】
【0064】
[0077] 第2の例示的な色素はチアトリカルボシアニン(C7としても知られる)色素であり、これは780nmおよびその近辺で多く吸収する。C7のモル吸光係数スペクトルが図22に示されている。C7の化学構造を以下に示す。
【0065】
【化2】
【0066】
[0078] これら両色素は、典型的な化学線波長(例えば220nm〜400nmの範囲内)において透過性である。典型的なアライメント波長において吸収、蛍光発光、または発光する特性を有する他の色素も入手可能である。例示的な色素製造業者は、フロリダ州JupiterのH.W. Sands Corpである。例えば、193nm、248nm、365nm、405nm、および435nmにおいて化学線露光を支持し、同時に、典型的なアライメントシステム波長において実質的に吸収性である他の色素も入手可能である。
【0067】
[0079] 本発明の一実施形態では、色素化合物は感光化合物を含む。本発明の別の実施形態では、色素化合物はフォトクロミック材料を含む。本発明と一致するフォトクロミック材料の例には、スピロピラン、アゾベンゼン、フォトクロミックキノン、無機フォトクロミック材料、または金属イオンに付着した有機発色団のフォトクロミック複合物がある。
【0068】
[0080] 図23は、本発明の一実施形態と一致する、半導体デバイスをリソグラフィにより製造する方法2300の一実施形態を示す。ブロック2310で、基板を第1放射感応層(例えばレジスト)で被覆する。ブロック2320で、第1放射感応層に色素化合物を付加する。一実施形態では、ブロック2320(色素化合物を付加)がブロック2310(基板を被覆)の前に行われる。別の実施形態では、ブロック2310(基板を被覆)がブロック2320(色素化合物を付加)の前に行われる。ブロック2330で、第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する。一実施形態では、ブロック2330で、リソグラフィ装置からの放射ビームを使用する。一実施形態では、ブロック2330(露光および現像)はブロック2320(色素化合物を付加)の前に行われる。すなわち第1リソグラフィパターンに色素化合物を付加する。ブロック2340で、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する。ブロック2350で、第1リソグラフィパターンの位置を検出する。一実施形態では、この検出をアライメントシステムビームによって実施する。ブロック2360で、基板を検出された第1リソグラフィパターンの位置に位置合わせする。ブロック2370で、第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する。一実施形態では、ブロック2370で、リソグラフィ装置からの放射ビームを使用する。第2放射感応層を露光する前に基板を第1パターンに位置合わせするので、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに位置合わせする。一実施形態では、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに間隙をおいて位置合わせする。
【0069】
[0081] 方法2300の一実施形態では、色素化合物と第1リソグラフィパターンは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。方法2300の一実施形態はさらに、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程2340の前に、第1リソグラフィパターンを加工する任意選択の(図示せず)工程を含む。一実施形態では、この任意選択の加工工程は、第1リソグラフィパターンを凍結することを含む。この実施形態では、凍結材料を第1リソグラフィパターンに塗布する前に、まず凍結材料に色素化合物を付加することによってブロック2320(色素化合物を付加)を実施することができる。このようにして、凍結材料を付加することで、パターンを凍結するだけでなく、色素化合物の導入もする。
【0070】
[0082] 方法2300の一実施形態では、色素化合物は、アライメントシステム波長に対応できる所望の波長帯域において、蛍光性または発光性である。別の実施形態では、色素化合物は、アライメントシステム波長に対応できる所望の波長帯域において、実質的に吸収性または実質的に反射性である。一実施形態では、色素化合物は感光性化合物を含む。別の実施形態では、色素化合物はフォトクロミック材料を含む。本発明と一致するフォトクロミック材料の例には、スピロピラン、アゾベンゼン、フォトクロミックキノン、無機フォトクロミック材料、または金属イオンに付着した有機発色団のフォトクロミック複合物がある。
【0071】
[0083] 図24は、本発明の一実施形態と一致する、半導体デバイスをリソグラフィにより製造する代替方法2400を示す。方法2300と2400の主要な相違は、方法2400では、色素化合物が第1層とは対照的に、第2放射感応層に付加されることである。したがって、従来のダブルパターニング法で使用される最初の各プロセス工程は、色素化合物がシーケンスのもっと後ろで付加されるので、変更されないままである。
【0072】
[0084] ブロック2410で、基板を第1放射感応層(例えばレジスト)で被覆する。ブロック2420で、第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する。一実施形態では、ブロック2420で、リソグラフィ装置からの放射ビームを使用する。ブロック2430で、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する。ブロック2440で、第2放射感応層に色素化合物を付加する。ブロック2450で、第1リソグラフィパターンの位置を検出する。一実施形態では、この検出は、アライメントシステムビームによって実施する。ブロック2460で、基板を検出された第1リソグラフィパターンの位置に位置合わせする。ブロック2470で、第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する。一実施形態では、ブロック2470で、リソグラフィ装置からの放射ビームを使用する。第2放射感応層を露光する前に基板を第1パターンに位置合わせするので、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに位置合わせする。一実施形態では、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに間隙をおいて位置合わせする。
【0073】
[0085] 方法2400の一実施形態では、色素化合物と第2リソグラフィパターンは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。方法2400の一実施形態はさらに、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程2430の前に、第1リソグラフィパターンを加工(例えば凍結)する任意選択の工程(図示せず)を含む。
【0074】
[0086] 方法2400の一実施形態では、色素化合物は、アライメントシステム波長に対応できる所望の波長帯域において、蛍光性または発光性である。別の実施形態では、色素化合物は、アライメントシステム波長に対応できる所望の波長帯域において、実質的に吸収性または実質的に反射性である。一実施形態では、色素化合物は感光性化合物を含む。別の実施形態では、色素化合物はフォトクロミック材料を含む。本発明と一致するフォトクロミック材料の例には、スピロピラン、アゾベンゼン、フォトクロミックキノン、無機フォトクロミック材料、または金属イオンに付着した有機発色団のフォトクロミック複合物がある。
【0075】
[0087] 本発明の一実施形態と一致する、半導体デバイスをリソグラフィにより製造するシステム2500が図25に示されている。システム2500は、照明源2510およびアライメントシステム2520を含む。照明源2510は、ダブルパターニングプロセスにおいてアライメントマークを読み取るための特定の波長のアライメントビームを供給する。アライメントシステム2520は、基板上に被覆された第1放射感応層の1つ、または第1リソグラフィパターン上に被覆された第2放射感応層において色素化合物を検出するように構成される。この色素化合物は、第1リソグラフィパターン内に形成されたアライメントマークに基づいてダブルパターニングプロセスの2つのパターニング工程を位置合わせするときに、第1リソグラフィパターンと第2放射感応層の間に所望のコントラストを与える。一実施形態では、2つのパターニング工程は、間隙をおいて位置合わせされる。
【0076】
[0088] 色素化合物は任意のダブルパターニング法、例えばスペーサ法、LELE法、LPLE法、またはLFLEダブルパターニング法で使用できることを理解されたい。図8〜11、および図13〜16に戻って参照すると、LELEもLFLEも、第2放射感応層(例えばレジスト)で引き続き上に被覆される第1リソグラフィパターンを含む。いくつかの実施形態では、第1リソグラフィパターンは、第1パターンを生成した加工工程中に作製されるアライメントマークを有することができる。色素化合物を第1リソグラフィパターンに(それが現像され露光される前または後、かつ基板が被覆される前または後で)付加すると、あるいは第2放射感応層に付加すると光学コントラストが得られ、その結果、色素化合物は、第1リソグラフィパターンまたは第2リソグラフィ層と協働して、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成するようになる。したがって、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに対して非常に正確に直接位置合わせすることができる。いくつかの実施形態では、第2リソグラフィパターンは、間隙をおいて第1リソグラフィパターンに位置合わせされる。
【0077】
[0089] これまで、第1パターンは、前に加工された層内のアライメントマーカを使用して位置合わせされ、それによって、付随するエラーが生じた。その場合、第2パターンは、このアライメントマーカに対して別個に位置合わせされ、それによって、付随するエラーがもう一度生じた。最悪のシナリオでは、これらのエラーが大きく、また同じ方向にあり、それによって、実現できる光学解像度は限定される。第2パターンを、第1パターンと一緒に画定されたアライメントマークに対して直接位置合わせすると、エラーの原因が1つなくなる。
【0078】
[0090] 本明細書では、ICの製造におけるリソグラフィ装置の使用について具体的に言及することができるが、本明細書に記載のリソグラフィ装置には、集積光学システムの製造、磁気ドメインメモリ用のガイダンスパターンおよび検出パターン、フラットパネルディスプレイ、液晶ディスプレイ(LCD)、薄膜磁気ヘッドなど、他の応用分野がありうることを理解されたい。当業者であれば、このような他の応用分野において、本明細書では「ウェハ」または「ダイ」という用語はどれも、それぞれより一般的な「基板」または「ターゲット部分」という用語と同義とみなせることを理解されよう。本明細書でいう基板は、露光の前または後に、例えばトラック(一般にレジスト層を基板に付け、露光されたレジストを現像するツール)、メトロロジーツール、および/またはインスペクションツールで加工することができる。妥当な場合には、本明細書の開示は、このような、また他の基板加工ツールに適用することができる。さらに、基板は、例えば多層ICを作製するために2回以上加工されることがあり、そのため本明細書で使用される基板という用語はまた、加工された複数の層をすでに含む基板を指すこともある。
【0079】
[0091] 本明細書で使用する「放射」および「ビーム」という用語は、紫外線(UV)放射(例えば365nm、355nm、248nm、193nm、157nmまたは126nmの波長、あるいはそれに近い波長を有する)、および超紫外線(EUV)放射(例えば5〜20nmの範囲の波長を有する)を含むすべての種類の電磁放射、ならびにイオンビームまたは電子ビームなどの粒子ビームを包含する。
【0080】
[0092] 「レンズ」という用語は、状況が許せば、屈折式、反射式、磁気式、電磁気式、および静電気式の光学コンポーネントを含む様々な種類の光学コンポーネントのいずれか1つ、またはいずれかの組合せを指すことがある。
【0081】
[0093] 本明細書では、「色素化合物」という用語は広く解釈されたい。「色素化合物」は任意の感光性化合物、または任意のフォトクロミック材料とすることができる。「色素化合物」はまた、放射感応性材料の第1層内に形成されたパターンまたはアライメントマーカが、着色されていない第1層と類似の光学特性を有する放射感応性材料の第2層によってそれが上塗りされている場合でも検出可能であるように、関連する光学特性(例えば、それだけには限らないが、吸収性、反射性、蛍光性、および/または発光性)を変更できる任意の化合物とすることができる。
【0082】
[0094] 上記の説明は例示的なものであり、限定的なものではない。したがって、添付の特許請求の範囲から逸脱することなく、説明した本発明に改変を加えることができることは、当業者には明らかであろう。
【技術分野】
【0001】
[0001] 本発明は、一般にはリソグラフィに関し、より詳細にはダブルパターニング法などのリソグラフィパターニング法においてアライメントターゲットを改善することに関する。
【背景技術】
【0002】
[0002] リソグラフィ装置は、所望のパターンを基板の上に、通常は基板のターゲット部分の上に付ける機械である。リソグラフィ装置は、例えば、集積回路(IC)の製造の際に使用することができる。その場合、マスクまたはレチクルとも呼ばれるパターニングデバイスを使用して、ICの個々の層の上に形成されるべき回路パターンを生成することができる。このパターンは、基板(例えばシリコンウェーハ)上のターゲット部分(例えば、1つまたは複数のダイの部分を含む)の上に転写することができる。パターンの転写は通常、基板上に設けられた放射感応性材料(レジスト)の層の上への結像による。一般に、単一の基板が、連続的にパターニングされる隣り合うターゲット部分からなるネットワークを含む。既知のリソグラフィ装置は、全パターンをターゲット部分の上に一度に露光することによって各ターゲット部分が照射される、いわゆるステッパと、パターンを所与の方向(「スキャン」方向、また「y方向」とも呼ばれる)に放射ビームによってスキャンすると同時に、この方向に対し平行または逆平行に基板をスキャンすることによって各ターゲット部分が照射される、いわゆるスキャナとを含む。パターンを基板上にインプリントすることによって、パターンをパターニングデバイスから基板に転写することもまた可能である。
【0003】
[0003] 光学リソグラフィの解像度は、ダブルパターニングを使用することによって向上させることができる。ダブルパターニングは一般に、2組のパターンを要する。第2の組は、第1の組に正確に位置合わせされなければならない。場合によって、2つの組のパターンは間隙をおいて位置合わせされる。これら2つの組を位置合わせすることは、特に半導体業界の要求が解像度を向上すること、およびより厳しいオーバレイの要件を提起しているので、重大な難題をもたらす。
【発明の概要】
【0004】
[0004] 本発明の実施形態は、一般に、ダブルパターニング法などのリソグラフィパターニング法においてアライメントマークのコントラストを改善することに関する。
【0005】
[0005] 本発明の一実施形態では、リソグラフィを用いて半導体デバイスを製造する方法が提供される。この方法は、基板を第1放射感応層で被覆し、この第1放射感応層に色素化合物を付加する工程を含む。この方法はさらに、第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する工程と、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程と、第1リソグラフィパターンの位置を検出する工程と、基板を第1リソグラフィパターンの検出された位置に位置合わせする工程と、第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する工程とを含む。この方法では、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンの検出された位置に位置合わせする。例示的な一実施形態では、色素化合物と第1リソグラフィパターンは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。
【0006】
[0006] 本発明の別の実施形態では、その方法は、基板を第1放射感応層で被覆する工程と、第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する工程と、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程とを含む。この方法はさらに、第2放射感応層に色素化合物を付加する工程と、第1リソグラフィパターンの位置を検出する工程と、基板を第1リソグラフィパターンの検出された位置に位置合わせする工程と、第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する工程とを含む。この方法は、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンの検出された位置に位置合わせする工程を含む。例示的な一実施形態では、色素化合物と第2リソグラフィパターンは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。
【0007】
[0007] 本発明はまた、第1放射感応層で被覆された基板と、第1放射感応層内に形成された第1リソグラフィパターンと、第1放射感応層を被覆する第2放射感応層とを含む製造物にも関する。第1リソグラフィパターンまたは第2放射感応層は色素化合物を含む。この色素化合物は、第1リソグラフィパターンまたは第2放射感応層と協働して、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。例示的な一実施形態では、この製造物はさらに第2リソグラフィパターンを含み、これは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを使用して第1リソグラフィパターンに直接位置合わせされる。
【0008】
[0008] 本発明はまた、半導体デバイスをリソグラフィにより製造するシステムにも関する。このシステムは、ダブルパターニングプロセスにおいてアライメントマークを読み取るための特定の波長のアライメントビームを供給する照明源を含む。このシステムはまた、ダブルパターニングプロセスにおいて、基板上に被覆された第1放射感応層の1つ、または第1リソグラフィパターン上に被覆された第2放射感応層において色素化合物を検出するアライメントシステムも含む。この色素化合物は、第1リソグラフィパターン内に形成されたアライメントマークに基づいてダブルパターニングプロセスの2つのパターニング工程を位置合わせするときに、第1リソグラフィパターンと第2放射感応層の間に所望のコントラストを与える。
【図面の簡単な説明】
【0009】
[0009] 上記の概要は、本発明の態様の多くを示しているがすべてではない。本発明の他の態様は、本発明の様々な「実施形態」についての説明を図面の参照と併せ読むことによって、本発明に関係する分野の当業者には明らかになるはずである。以下の実施形態を示すに際しては、本発明を限定としてではなく例として説明する。図で、同じ参照数字は同様の要素を指す。
【0010】
【図1A】[0010]本発明の一実施形態による、反射型リソグラフィ装置を示す図である。
【図1B】本発明の一実施形態による、透過型リソグラフィ装置を示す図である。
【図2】[0011]本発明の一実施形態による、リソグラフィセルを概略的に示す図である。
【図3】[0012]本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図4】本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図5】本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図6】本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図7】[0013]本発明の一実施形態による、スペーサダブルパターニング法により得られたポリシリコンのSEM断面を概略的に示す図である。
【図8】[0014]本発明の一実施形態による、リソエッチリソエッチ(LELE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図9】本発明の一実施形態による、リソエッチリソエッチ(LELE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図10】本発明の一実施形態による、リソエッチリソエッチ(LELE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図11】本発明の一実施形態による、リソエッチリソエッチ(LELE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図12】[0015]本発明の一実施形態による、LELEダブルパターニング法により得られたポリシリコンのSEM断面を概略的に示す図である。
【図13】[0016]本発明の一実施形態による、リソフリーズリソエッチ(LFLE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図14】本発明の一実施形態による、リソフリーズリソエッチ(LFLE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図15】本発明の一実施形態による、リソフリーズリソエッチ(LFLE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図16】本発明の一実施形態による、リソフリーズリソエッチ(LFLE)ダブルパターニング法の工程を概略的に示す図である。
【図17】[0017]本発明の一実施形態による、LFLEダブルパターニング法により得られたポリシリコンのSEM断面を概略的に示す図である。
【図18】[0018]本発明の一実施形態による、ダブルパターニングスタックに入射するアライメントビームを概略的に示す図である。
【図19】[0019]本発明の一実施形態による、ダブルパターニングスタックに入射する色素で増強されたアライメントビームを概略的に示す図である。
【図20】[0020]本発明の一実施形態による、着色色素で増強されたフォトレジストの例示的透過スペクトルを概略的に示す図である。
【図21】[0021]本発明の一実施形態による、メロシアニン540のモル吸光係数スペクトルを概略的に示す図である。
【図22】[0022]本発明の一実施形態による、チアトリカルボシアニン(C7)色素のモル吸光係数スペクトルを概略的に示す図である。
【図23】[0023]本発明による製造方法の一実施形態を概略的に示す流れ図である。
【図24】[0024]本発明による製造方法の別の実施形態を概略的に示す流れ図である。
【図25】[0025]本発明の一実施形態による、製造システムを概略的に示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【0011】
[0026] 次に本発明を、添付の図面に示されたその好ましいいくつかの実施形態を参照して、詳細に説明する。以下の説明では、本発明の完全な理解が得られるように多数の具体的詳細を示す。しかし、これらの具体的詳細の一部またはすべてがなくても本発明を実施できることは、当業者には明らかであろう。他の事例では、本発明を不必要にわかりにくくしないように、よく知られた方法の工程については詳細に説明していない。
【0012】
[0027] 同様に、システムの実施形態を示す各図面は、部分図で概略的であり、また原寸に比例して描かれていない。大きさの一部は、提示を見やすくするために誇張してある。
【0013】
[0028] 図示の装置は、示されている向きとは異なる向きで動作させることができる。さらに、いくつか共通のフィーチャを有する複数の実施形態を開示し説明する場合、それらの図、説明および理解を分かりやすく簡単にするために、互いに類似し同様なフィーチャは通常、同じ参照数字で示される。
【0014】
[0029] 図1Aおよび1Bは、それぞれ本発明の実施形態と一致するリソグラフィ装置100およびリソグラフィ装置100’を概略的に示す。リソグラフィ装置100およびリソグラフィ装置100’それぞれは、放射ビームB(例えばDUVまたはEUV放射)を調整するように構成された照明システム(イルミネータ)ILと、パターニングデバイス(例えばマスク、レチクル、またはダイナミックパターニングデバイス)MAを支持するように構成され、パターニングデバイスMAを正確に位置決めするように構成された第1ポジショナPMに接続されているサポート構造(例えばマスクテーブル)MTと、基板(例えばレジスト被覆ウェハ)Wを保持するように構成され、基板Wを正確に位置決めするように構成された第2ポジショナPWに接続されている基板テーブル(例えばウェハテーブル)WTとを含む。リソグラフィ装置100および100’はまた、パターニングデバイスMAによって放射ビームBに付与されたパターンを基板Wのターゲット部分(例えば1つまたは複数のダイを含む)Cの上に投影するように構成された投影システムPSも含む。リソグラフィ装置100では、パターニングデバイスMAおよび投影システムPSは反射型であり、リソグラフィ装置100’では、パターニングデバイスMAおよび投影システムPSは透過型である。
【0015】
[0030] 照明システムILは、放射Bを導き、成形し、または制御するための屈折式、反射式、磁気式、電磁気式、静電気式など様々なタイプの光学コンポーネント、または他のタイプの光学コンポーネント、あるいはそれらの任意の組合せを含むことができる。
【0016】
[0031] サポート構造MTは、パターニングデバイスMAの向き、リソグラフィ装置100および100’の設計、および他の条件、例えばパターニングデバイスMAが真空環境内で保持されるかどうかなどによって決まる方法で、パターニングデバイスMAを保持する。サポート構造MTは、機械式、真空式、静電気式、または他のクランプ技法を使用して、パターニングデバイスMAを保持することができる。サポート構造MTは、例えばフレームまたはテーブルとすることができ、これらは必要に応じて固定または可動にすることができる。サポート構造MTは、パターニングデバイスが例えば投影システムPSに対して確実に所望の位置にあるようにすることができる。
【0017】
[0032] 「パターニングデバイス」MAという用語は、放射ビームBの断面にパターンを付与するために使用されて、基板Wのターゲット部分C内にパターンを生成することなどができる任意のデバイスを指すものとして広く解釈されるべきである。放射ビームBに付与されるパターンは、ターゲット部分C内に作製される集積回路などのデバイス内のある特定の機能層に対応し得る。
【0018】
[0033] パターニングデバイスMAは、(図1Bのリソグラフィ装置100’のような)透過型でも(図1Aのリソグラフィ装置100のような)反射型でもよい。パターニングデバイスMAの例には、レチクル、マスク、プログラマブルミラーアレイ、およびプログラマブルLCDパネルが含まれる。マスクはリソグラフィでよく知られており、バイナリ、レベンソン型(alternating)位相シフト、およびハーフトーン型(attenuated)位相シフトなどのマスクタイプ、ならびに様々なハイブリッドマスクタイプを含む。プログラマブルミラーアレイの一例では、複数の小さな鏡のマトリクス配列を使用し、それぞれの鏡は、入ってくる放射ビームを別々の方向に反射するように個別に傾けることができる。傾けられた鏡は、ミラーマトリクスで反射される放射ビームB内にパターンを付与する。
【0019】
[0034] 「投影システム」PSという用語は、使用される露光放射に対して、あるいは液浸液の使用または真空の使用など他の要因に対して適切な屈折式、反射式、反射屈折式、磁気式、電磁気式および静電気式の光学システム、あるいはこれらの任意の組合せを含むどんなタイプの投影システムも包含することができる。他のガスがあまりに多く放射または電子を吸収しうるので、真空環境がEUVまたは電子ビーム放射に使用されることがある。したがって、真空壁および真空ポンプの補助によりビーム経路全体に真空環境が形成されることがある。
【0020】
[0035] リソグラフィ装置100および/またはリソグラフィ装置100’は、2つ(デュアルステージ)以上の基板テーブル(および/または2つ以上のマスクテーブル)WTを有するタイプとすることができる。このような「マルチステージ」機械では、追加の基板テーブルWTが並行して使用されることがあり、あるいは、1つまたは複数の基板テーブルWTの上で準備工程が実施される一方で、他の1つまたは複数の基板テーブルWTが露光のために使用されることもある。
【0021】
[0036] イルミネータILは、放射源SOから放射ビームを受け取る。放射源SOおよびリソグラフィ装置100、100’は、例えば放射源SOがエキシマレーザである場合には、別々の構成要素とすることができる。このような場合には、放射源SOはリソグラフィ装置100または100’の一部を形成するとみなされず、放射ビームBは、例えば適切な誘導ミラーおよび/またはビームエキスパンダを含むビームデリバリシステムBD(図1B)の補助により、放射源SOからイルミネータILまで進む。他の場合で、例えば放射源SOが水銀ランプのときは、放射源SOは、リソグラフィ装置100、100’に一体化した部分とすることができる。放射源SOとイルミネータILは、ビームデリバリシステムBDと共に、必要に応じて放射システムと呼ばれることもある。
【0022】
[0037] イルミネータILは、放射ビームの角度強度分布を調整するためのアジャスタAD(図1B)を備えることができる。一般に、少なくともイルミネータの瞳面における強度分布の外側および/または内側半径範囲(通常それぞれσ-outerおよびσ-innerと呼ばれる)は、調整することができる。さらに、イルミネータILは、インテグレータINおよびコンデンサCOなど他の様々なコンポーネント(図1B)を備えることができる。イルミネータILを使用して放射ビームBを調整し、その断面内に所望の均一性および強度分布を得ることができる。
【0023】
[0038] 図1Aを参照すると、放射ビームBは、サポート構造(例えばマスクテーブル)MT上に保持されているパターニングデバイス(例えばマスク)MAに入射し、パターニングデバイスMAによってパターニングされる。リソグラフィ装置100では、放射ビームBは、パターニングデバイス(例えばマスク)MAから反射される。パターニングデバイス(例えばマスク)MAから反射された後、放射ビームBは投影システムPSを通過する。投影システムPSは、放射ビームBを基板Wのターゲット部分Cの上に集束する。第2ポジショナPWおよび位置センサIF2(例えば干渉計デバイス、リニアエンコーダ、または容量センサ)の補助により、基板テーブルWTを正確に動かして、例えば放射ビームBの経路内の別々のターゲット部分Cを位置決めすることができる。同様に、第1ポジショナPMおよび別の位置センサIF1を使用して、放射ビームBの経路に対してパターニングデバイス(例えばマスク)MAを正確に位置決めすることができる。パターニングデバイス(例えばマスク)MAと基板Wは、マスクアライメントマークM1、M2および基板アライメントマークP1、P2を使用して位置合わせすることができる。
【0024】
[0039] 図1Bを参照すると、放射ビームBは、サポート構造(例えばマスクテーブルMT)上に保持されたパターニングデバイス(例えばマスクMA)に入射し、このパターニングデバイスよってパターニングされる。マスクMAを横切ってから、放射ビームBは投影システムPSを通過する。投影システムPSは、ビームを基板Wのターゲット部分Cの上に集束する。第2ポジショナPWおよび位置センサIF(例えば干渉計デバイス、リニアエンコーダ、または容量センサ)の補助により、基板テーブルWTを正確に動かして、例えば放射ビームBの経路内の別々のターゲット部分Cを位置決めすることができる。同様に、第1ポジショナPMおよび別の位置センサ(図1Bには明示されていない)を使用して、例えばマスクライブラリからの機械的検索の後またはスキャン中に、放射ビームBの経路に対してマスクMAを正確に位置決めすることができる。
【0025】
[0040] 一般に、マスクテーブルMTの移動は、第1ポジショナPMの一部を形成するロングストロークモジュール(粗動位置決め)およびショートストロークモジュール(微動位置決め)の補助により実現することができる。同様に、基板テーブルWTの移動は、第2ポジショナPWの一部を形成するロングストロークモジュールおよびショートストロークモジュールを使用して実現することができる。ステッパの場合には(スキャナとは対照的に)、マスクテーブルMTをショートストロークアクチュエータだけに接続することができ、あるいは固定することができる。マスクMAと基板Wは、マスクアライメントマークM1、M2、および基板アライメントマークP1、P2を使用して整合させることができる。基板アライメントマークは、図示のように専用のターゲット部分を占有するが、ターゲット部分間の空間に配置することもできる(スクライブラインアライメントマークとして知られている)。同様に、マスクMA上に2つ以上のダイが用意される場合では、マスクアライメントマークはダイ間に配置することができる。
【0026】
[0041] リソグラフィ装置100および100’は、以下のモードのうちの少なくとも1つで使用することができる。
1.工程モードでは、放射ビームBに付与された全パターンが一度にターゲット部分Cの上に投影されている(すなわち単一静的露光)間、サポート構造(例えばマスクテーブル)MT、および基板テーブルWTが実質的に静止状態に維持される。次に、基板テーブルWTは、別のターゲット部分Cを露光できるようにXおよび/またはYの方向に移動される。
2.スキャンモードでは、放射ビームBに付与されたパターンがターゲット部分Cの上に投影されている(すなわち単一動的露光)間、サポート構造(例えばマスクテーブル)MTと基板テーブルWTが同期してスキャンされる。サポート構造(例えばマスクテーブル)MTに対する基板テーブルWTの速度および方向は、投影システムPSの拡大(縮小)および像反転の諸特性によって決定することができる。
3.もう1つのモードでは、サポート構造(例えばマスクテーブル)MTは、プログラマブルパターニングデバイスを保持しながら実質的に静止状態に維持され、放射ビームBに付与されたパターンがターゲット部分Cに投影されている間、基板テーブルWTが移動またはスキャンされる。パルス放射源SOを使用することができ、プログラマブルパターニングデバイスが、基板テーブルWTの各移動の後に、または一回のスキャン中の連続する放射パルスの間に、必要に応じて更新される。この動作モードは、本明細書で言及されたタイプのプログラマブルミラーアレイなど、プログラマブルパターニングデバイスを利用するマスクレスリソグラフィに容易に適用することができる。
【0027】
[0042] 説明した使用モードの組合せおよび/または変種、あるいは全く異なる使用モードもまた用いることができる。
【0028】
[0043] 別の一実施形態では、リソグラフィ装置100は超紫外線(EUV)源を含み、これは、EUVリソグラフィ用のEUV放射ビームを発生するように構成されている。一般に、EUV源は放射システム内に構成され、対応する照明システムは、EUV源のEUV放射ビームを調整するように構成される。
【0029】
[0044] 上述の各使用モードの組合せおよび/または変種、あるいは全く異なる使用モードもまた用いることができる。
【0030】
[0045] 図2に示されるように、本発明の一実施形態と一致して、リソグラフィ装置LAは、リソセルまたはクラスタと呼ばれることもあるリソグラフィセルLCの一部を形成し、リソグラフィセルLCはまた、基板上で前露光および後露光処理を行う装置も含む。一例では、リソセルまたはクラスタは、レジスト層を堆積させるスピンコータSC、露光されたレジストを現像する現像処理装置DE、冷却プレートCH、およびベークプレートBKを含むことができる。基板ハンドラまたはロボットROが入力/出力ポートI/O1、I/O2から基板を持ち上げ、それを別々の処理装置の間で移動させ、次に、リソグラフィ装置のローディングベイLBに供給する。一括してトラックと呼ばれることが多いこれらのデバイスは、トラック制御ユニットTCUの制御下にあり、トラック制御ユニットTCU自体は、リソグラフィ制御ユニットLACUを介してリソグラフィ装置もまた制御する監視制御システムSCSによって制御される。したがって、別々のこれらの装置をスループットおよび加工効率を最大にするように動作させることができる。
【0031】
[0046] 光リソグラフィは、半導体産業の解像度向上およびより厳しいオーバレイ要件の難題に、段階的に光学開口数を増大させ、照明波長を短縮し、低いkファクタ加工を支えることによって応じてきた。この傾向は、EUVリソグラフィツールでは13nmまで短縮された波長、また水性液浸リソグラフィツールでは1.35まで増大された開口数によって継続した。
【0032】
[0047] 現在、水性で193nmの液浸ツールでは、40nm(半ピッチ)未満の解像度で印刷することが6nm未満のオーバレイ精度で可能である。次のリソグラフィノードのために、水性液浸リソグラフィがダブルパターニング技法と共に使用され、これにより32nmノードより下に押さえ込まれる。露光ツールの重要な課題は、プロセスウィンドウを小さくすることに対処しながら、ダブルパターニングで必要とされる規定を厳しくすることである。規定要件にはスループット向上、より厳格なオーバレイ、およびより厳格なクリティカルディメンション制御が含まれる。
【0033】
[0048] 光リソグラフィは、過去30年間の半導体デバイス製造の主要な支えであった。これは、光学システムの開口数を段階的に増大させること、および段階的により短い露光照明波長を使用することによって、半導体産業のロードマップの厳格な解像度要件に追いついてきた。
【0034】
[0049] ときどきの障害は、新技術の導入によって回避されてきた。この一例は液浸リソグラフィの導入であり、これは、上述のように光学システムの開口数が1.0の限界を超えるまで増大することを可能にした。液浸流体として水をレンズとウェハの間に用いることにより、光学システムの開口数を1.35まで増大させることができた。これが、結像層スタックの屈折率によって課される新たな限界になった。最大開口数は、層スタックの最小屈折率と最大光線角度のサインとの積までに限定される。水性液浸では、薄膜スタックの各限界屈折率は、1.44の水の限界屈折率、および1.56のレンズの最終素子ガラスの限界屈折率になる。これにより、1.35すなわち0.94×1.44の最大開口数が得られる。ここで0.94は最大実結像光線角度(70度)のサインである。層スタックの最小屈折率を増大させるために液浸流体および最終レンズ素子ガラスを変更することは、大きな技術的難題であり、必要なリソグラフィロードマップの期限内に、また実働EUVリソグラフィが利用できる前に実現することはできない。液浸光学システムの半ピッチ解像度は次式で与えられる。
【0035】
【数1】
ここでRsは半ピッチ解像度、λは照明波長、NAは光学システムの開口数、kは照明の構成および部分コヒーレンスに関連するプロセスファクタである。kの最小値は0.25であり、ダイポール照明を使用することに関連している。
【0036】
[0050] したがって、使用可能な最高光学半ピッチ解像度は、水性液浸で開口数1.35の場合に、193nmの波長の偏光ダイポール照明を使用して36nmになる。明らかに、32nm(半ピッチ)ノードのリソグラフィ以上を取り込む光リソグラフィには、何らかのさらなる革新が必要である。「ダブルパターニング」はこのような工程に相当し、開発途上にある。
【0037】
[0051] ここで、ダブルパターニングは、3つの主要な加工技術、すなわち、スペーサをベースとするダブルパターニング、リソエッチリソエッチ(LELE)をベースとするダブルパターニング、およびリソプロセスリソエッチ(LPLE)をベースとするダブルパターニングに分類することができる。LPLEの一例は、リソフリーズリソエッチ(LFLE)をベースとするダブルパターニングである。開発段階では、これらの方法のすべてで有望な結果が得られている。スペーサ技術は、特にフラッシュメモリ製造に適用可能である。
【0038】
[0052] 本発明の一実施形態と一致する基本的なスペーサダブルパターニングシーケンスが図3〜6に示されている。図3〜4はスペーサシーケンスでの第1の各工程を示し、これらは、エッチングによって次に犠牲に転写されるレジストパターン(図3に示す)をリソグラフィにより画定する。図3で、パターニングデバイス310が、下部反射防止コーティング(barc)層330の上のリソグラフィパターン320(レジスト)の上方に示されている。以前の工程で(図示せず)、パターン320が、レジスト層を露光し現像することによって形成されている。スタックの残りは、犠牲層340、ハードマスク層350、電気層360、および酸化物層370を含む。一実施形態では、犠牲層340は、カリフォルニア州サンタクララのApplied Materialsからのアドバンスドパターニングフィルム(APF)を含む。
【0039】
[0053] 本発明の一実施形態と一致して、図4は、エッチングによって犠牲層340に転写された図3からのリソグラフィパターン320(図4には示されていない)を示す。
【0040】
[0054] 本発明の一実施形態と一致して、図5はスペーサ形成層380を示し、これは、エッチングされたハードマスクパターン350の上に共形に堆積され、次に、最初にリソグラフィにより画定された犠牲パターンのすべての縁部に追従するスペーサパターンを残すように異方性でエッチバックされる。次に、最初の犠牲パターン340は、高解像度スペーサパターンを残すようにエッチング除去される(図6参照)。
【0041】
[0055] 次に、このスペーサパターンは、スペーサパターニングの望ましくない部分をエッチング除去し削除するために第2のリソグラフィ段階にかけられ、それによって、必要な高解像度の最終パターン(図示せず)が残る。次に、最終の画定された高解像度スペーサパターンは、ハードマスク層にエッチング転写され、このハードマスク層は、下にあるポリシリコン層(図示せず)のエッチングを画定するために使用される。結果として得られた典型的なポリシリコンの走査電子顕微鏡(SEM)断面が図7に示されている。
【0042】
[0056] このスペーサ技術は、線幅の高解像度が光学像によってではなく堆積される層の厚さの制御によって実現されるので普及した。これにより、露光ツールに対して解像度およびオーバレイの要件を増大させることが回避される。露光ツールに対する主要な要件は、解像度またはオーバレイではなく、クリティカルディメンション均一性およびクリティカルディメンション制御になる。クリティカルディメンションの制御は、画定されたスペーサ線幅の間の間隙の幅に影響を及ぼす。リソグラフィツールによって画定された犠牲パターンのクリティカル線幅ディメンションが適正ではない場合には、測定されたスペース幅に双峰分布が生じる。
【0043】
[0057] 本発明の一実施形態と一致する、基本的なリソエッチリソエッチ(LELE)プロセスシーケンスが図8〜11に示されている。LELEでは、リソグラフィにより画定された2つのパターンが、間隙をおいて2つの加工シーケンスで露光される。図8に、パターニングデバイス810がスタックの上に示されている。スタックの上部には、第1リソグラフィパターン820(レジスト)がbarc層830の上部にある。スタックの残りは、ハードマスク層840、ポリシリコン層850、および最後の二酸化シリコン(SiO2)層860を含む。
【0044】
[0058] 本発明の一実施形態と一致して、図8〜9は、第1リソグラフィパターン820のレジストへの印刷と、次に、エッチングによるハードマスク層840への転写とを示す。1:1線スペース形のパターンが1:3線/スペース比まで過度に露出され、これにより、最適プロセス制御が得られるとともに第2リソグラフィパターンの挿入を可能にするスペースが開かれる。
【0045】
[0059] 本発明の一実施形態と一致して、図10は、第2間隙パターン870の結像と、別のbarc層890の上にあるレジスト880におけるその画定部とを示す。このパターンもまた、1:3線/スペース比が得られるように過度に露光される。次に、第2リソパターンが現像されて、レジスト/barcパターン1100が画定される。最後に、ハードマスク層内に画定された第1パターン840と、レジスト層内に画定された第2パターン1100との両方が、エッチングによってポリシリコンデバイス層(図示せず)に転写される。
【0046】
[0060] 図12のSEM断面は、ポリシリコン内に画定された典型的な線断面を示す。各線間の高さの相違は、ハードマスクのエッチング特性、およびレジスト像画定パターン(第1パターンから除去されないハードマスク)の相違による。
【0047】
[0061] この技術では、露光ツールに対する厳格な要件は、オーバレイとクリティカルディメンション均一性との両方になる。図8〜11に示された「ポジティブ」LELEプロセスフローを用いると、オーバレイ制御は、線間のスペーシングのディメンション均一性を規定するが、このディメンション均一性は、ゲート構造を画定するために使用される線の実際の幅ほどにはデバイス加工に重要ではないことがある。最終のポリシリコン線幅のクリティカルディメンション制御は最も重要な要件であり、これは露光ツールによって規定される。第1パターンと第2パターンのクリティカルディメンションが一致しない場合には、双峰線幅分布を観察することがありうる。
【0048】
[0062] 最新で最も刺激的な開発はLPLE法である。一例はフリーズ法(リソフリーズリソエッチ、LFLEとしても知られる)である。LPLE法では、LELEシーケンスでの加工工程の数が低減する。LELEプロセスでの第1のエッチングは不要である。このことは、潜在的なコスト節約と歩留まりの改善を意味する。LFLEシーケンスは図13〜16に示されている。
【0049】
[0063] 本発明の一実施形態と一致して、図13は、LELE法と類似の第1リソグラフィパターンの画定部を示す。図13は、すでに露光され現像された第1リソグラフィパターン(レジストでできている)1320の上方にパターニングデバイス1310を示す。レジスト1320はbarc層1330の上部にあり、このbarc層はポリシリコン層1340の上部にある。スタックの下部にSiO2層1350がある。
【0050】
[0064] 次の工程で、本発明の一実施形態と一致して、図14に示されるように、パターン1320をハードマスクにエッチングする代わりに、レジストパターニングが所定の位置に凍結され、その結果、溶解されて消えることなく、レジスト内の第2パターンの画定のための次のレジスト被覆によって、レジストパターニングを上塗りすることができるようになる。凍結レジストパターンは1320’と示されている。レジストパターンを凍結することは、いくつかの方法で実現することができ、これらには、イオン注入、DUV露光硬化、化学硬化などが含まれる。化学硬化が最も経済的で簡便であると見込まれる。
【0051】
[0065] 図15で、本発明の一実施形態と一致して、このプロセスではレジスト上塗り1360を継続する。本発明の一実施形態と一致して、図16は、レジスト内の第2パターン1370の画定部を示す。第1像1320’も第2像1370もレジスト内に画定されており、ポリシリコン1340へのエッチング転写の用意ができている。本発明の一実施形態による、結果として得られたポリシリコン内のSEM断面が図17に示されている。
【0052】
[0066] LFLE法では、露光ツールに関し、LELE法と同じ難題が提示される。パターニング光がスペースを露光する「ポジティブ」シーケンスを用いると、結像によるオーバレイエラーが、線間のスペースの幅のばらつきとして現れる。オーバレイ制御がよくないと、スペースの幅に双峰分布がもたらされる。それぞれ別々の露光工程のクリティカルディメンション(CD)制御および均一性もまた、線幅変化の双峰分布の一因となる。強調されるすべてのダブルパターニングシーケンスでは、露光ツールの難題は、高い生産性を伴う、厳格なクリティカルディメンションおよびオーバレイの仕様になってきている。
【0053】
[0067] ダブルパターニング技術に関わる1つの主要な障害は、第1リソグラフィパターンを第2リソグラフィパターンに正確に位置合わせすることである。一実施形態では、常にそうであるとは限らないが、第1パターンが間隙をおいて第2パターンに位置合わせされる。これらの問題を示すために、一例としてLFLE法を以下でより詳細に説明する。図14〜16に戻って参照すると、第2リソグラフィパターン1370に対応するために、第1リソグラフィパターン1320’は、第2放射感応層(レジスト層)1360で被覆される。例えば、第1放射感応層1320内に画定されたアライメントマークは、第2放射感応層1360で上塗りされた場合には、それらが同様の光学特性を有するのでコントラスト的に消される。したがって、レジスト内のアライメントマークは、アライメントシステムで見ることができない。
【0054】
[0068] 図18で、矢印1810は、第2レジスト層1360に入射するアライメントシステム照明ビームを表す。破線の矢印1820は、埋込みアライメントキーからの非常に弱い散乱信号を表す。このために通常は、第1パターンとそれに続く第2パターンの両方の位置合わせ用に、前の加工レベル(すなわちアライメントキースタック内の下位)で画定されるアライメントマークを使用せざるを得なくなる。したがって、これら2つのパターンは互いに直接位置合わせされるのではなく、代用物によって別個に位置合わせされる。こうすると、これらパターン間の位置合わせ精度が効果的に低下する。このことは、すでに重大な問題であるが、線スペーシング幅が縮小し続けるにつれてより大きな問題となる。
【0055】
[0069] 本発明の一実施形態と一致して、上記の問題に対する1つの解決法は、アライメントマークがレジストで上塗りされる場合に、ダブルパターニング法(例えばLFLE)の第1パターン内にパターニングされたアライメントマーク(例えば回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターン)の画定部を強調する手段を実現することである。この目的のために、ダブルパターニング法の各工程で、第1レジスト層が露光され現像される前や、それと一緒に、またはその後に色素化合物を付加することができる。例えば、レジスト層の化学線反応性(actinic performance)、あるいはLFLEの場合では像を凍結するその能力を容易に感知できるほどには妨げない色素化合物を使用することができる。
【0056】
[0070] 一実施形態では、この色素化合物は、以下で詳細に説明するように、感光化合物またはフォトクロミック材料である。一実施形態では、色素化合物は、所望の波長帯域で実質的に吸収性、または実質的に反射性とすることができる。別の実施形態では、色素化合物は、所望の波長帯域で蛍光性または発光性とすることができる。この波長帯域は、アライメントシステム照明ビームの波長を含むことができる。これらの実施形態すべてで、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または位置合わせに使用されるパターニングが形成される。この回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、またはパターンは、アライメントシステムによって検出可能である。
【0057】
[0071] 本発明の一実施形態と一致して、図19で矢印1910は、第2レジスト層1360に入射するアライメントシステム照明ビームを表す。図示のこの実施形態で、第1パターン1320’は、色素化合物によって増強されている。矢印1920は、埋込みアライメントキーからの強い信号(例えば回折次数)を表し、この信号は、第1パターンが第2レジスト層1360で上塗りされていてもここでは目に見える。図示のように、色素化合物は、第1リソグラフィパターン1320’に塗布される。別の実施形態では、適切な色素化合物を第2放射感応層1360に塗布することができる。しかし、これらの実施形態のどれでも、色素化合物は、第1のリソグラフィパターンと、それを覆う第2レジスト層との間に光学コントラストを与える。このコントラストにより、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の、ダブルパターニング法の第1パターニングプロセスで使用されるアライメントマークのパターンの形状に応じたパターンが形成される。
【0058】
[0072] 一実施形態では、色素化合物は、第1レジスト層(または第1リソグラフィパターン)に付加される。この色素化合物と第1レジスト層(または第1リソグラフィパターン)が協働して、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。別の実施形態では、色素化合物は、(第1レジスト層または第1リソグラフィパターンに付加される代わりに)第1パターンを覆っている第2レジスト層に付加される。この実施形態では、(第1パターンを上塗りする)第2レジスト層とその中の色素化合物が協働して、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。これらの実施形態のどれでも、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンは、色素化合物がない領域に色素化合物を散在させることにより現れる。一実施形態では、色素化合物は、光活性感光化合物またはフォトクロミック材料である。
【0059】
[0073] 色素は、アライメントシステム波長と整合するように選択することができる。これらの色素は、1つのダブルパターニングプロセスで第1レジスト層に付加することができ、あるいは現像されたリソグラフィパターンに塗布することができる。別の実施形態では、色素は、第2レジストの上塗り層に付加することができる。LFLEでの使用では、凍結材料は色素で増強することができ、その結果、この材料は、同時に第1リソグラフィパターンを凍結し光学コントラストを与えて、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または位置合わせ用の他のパターンを設定し、それによって第1パターン自体がアライメントマーカになる。このようにして、1つのダブルパターニングプロセス内の第2パターンは、代用のアライメントマーカを使用することに頼らなくても、第1リソグラフィパターンに直接位置合わせすることができ、それによって、ダブルパターニング法などのリソグラフィパターニング法における位置合わせ精度が大きく改善される。
【0060】
[0074] 現在使用中の例示的アライメントシステム波長は、532nm,635nm,780nmおよび850nmであるが、リソグラフィシステムで使用される特定の種類の光または放射の波長に応じて、他の波長もまた可能である。色素は、それが化学線波長においてはレジストの性能に影響しないままで、位置合わせ波長においてレジストの透過性だけに影響を及ぼすように選択することができる。
【0061】
[0075] 図20は、着色色素で増強されたフォトレジストの例示的な透過スペクトルを示す。スペクトルは、各色素が特定の波長帯域(アライメント波長に対応するように選択することができる)において実質的に吸収性であることを示すが、これらの色素は、典型的な化学線波長では実質的に透過性である。図20で、2010はシアンフォトレジストのスペクトル、2020はマゼンタフォトレジストのスペクトル、2030は黄フォトレジストのスペクトルである。
【0062】
[0076] 例示的な色素はメロシアニン540であり、これは540nmおよびその近辺で多く吸収する。メロシアニン540のモル吸光係数スペクトルが図21に示されている。メロシアニン540の化学構造を以下に示す。
【0063】
【化1】
【0064】
[0077] 第2の例示的な色素はチアトリカルボシアニン(C7としても知られる)色素であり、これは780nmおよびその近辺で多く吸収する。C7のモル吸光係数スペクトルが図22に示されている。C7の化学構造を以下に示す。
【0065】
【化2】
【0066】
[0078] これら両色素は、典型的な化学線波長(例えば220nm〜400nmの範囲内)において透過性である。典型的なアライメント波長において吸収、蛍光発光、または発光する特性を有する他の色素も入手可能である。例示的な色素製造業者は、フロリダ州JupiterのH.W. Sands Corpである。例えば、193nm、248nm、365nm、405nm、および435nmにおいて化学線露光を支持し、同時に、典型的なアライメントシステム波長において実質的に吸収性である他の色素も入手可能である。
【0067】
[0079] 本発明の一実施形態では、色素化合物は感光化合物を含む。本発明の別の実施形態では、色素化合物はフォトクロミック材料を含む。本発明と一致するフォトクロミック材料の例には、スピロピラン、アゾベンゼン、フォトクロミックキノン、無機フォトクロミック材料、または金属イオンに付着した有機発色団のフォトクロミック複合物がある。
【0068】
[0080] 図23は、本発明の一実施形態と一致する、半導体デバイスをリソグラフィにより製造する方法2300の一実施形態を示す。ブロック2310で、基板を第1放射感応層(例えばレジスト)で被覆する。ブロック2320で、第1放射感応層に色素化合物を付加する。一実施形態では、ブロック2320(色素化合物を付加)がブロック2310(基板を被覆)の前に行われる。別の実施形態では、ブロック2310(基板を被覆)がブロック2320(色素化合物を付加)の前に行われる。ブロック2330で、第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する。一実施形態では、ブロック2330で、リソグラフィ装置からの放射ビームを使用する。一実施形態では、ブロック2330(露光および現像)はブロック2320(色素化合物を付加)の前に行われる。すなわち第1リソグラフィパターンに色素化合物を付加する。ブロック2340で、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する。ブロック2350で、第1リソグラフィパターンの位置を検出する。一実施形態では、この検出をアライメントシステムビームによって実施する。ブロック2360で、基板を検出された第1リソグラフィパターンの位置に位置合わせする。ブロック2370で、第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する。一実施形態では、ブロック2370で、リソグラフィ装置からの放射ビームを使用する。第2放射感応層を露光する前に基板を第1パターンに位置合わせするので、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに位置合わせする。一実施形態では、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに間隙をおいて位置合わせする。
【0069】
[0081] 方法2300の一実施形態では、色素化合物と第1リソグラフィパターンは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。方法2300の一実施形態はさらに、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程2340の前に、第1リソグラフィパターンを加工する任意選択の(図示せず)工程を含む。一実施形態では、この任意選択の加工工程は、第1リソグラフィパターンを凍結することを含む。この実施形態では、凍結材料を第1リソグラフィパターンに塗布する前に、まず凍結材料に色素化合物を付加することによってブロック2320(色素化合物を付加)を実施することができる。このようにして、凍結材料を付加することで、パターンを凍結するだけでなく、色素化合物の導入もする。
【0070】
[0082] 方法2300の一実施形態では、色素化合物は、アライメントシステム波長に対応できる所望の波長帯域において、蛍光性または発光性である。別の実施形態では、色素化合物は、アライメントシステム波長に対応できる所望の波長帯域において、実質的に吸収性または実質的に反射性である。一実施形態では、色素化合物は感光性化合物を含む。別の実施形態では、色素化合物はフォトクロミック材料を含む。本発明と一致するフォトクロミック材料の例には、スピロピラン、アゾベンゼン、フォトクロミックキノン、無機フォトクロミック材料、または金属イオンに付着した有機発色団のフォトクロミック複合物がある。
【0071】
[0083] 図24は、本発明の一実施形態と一致する、半導体デバイスをリソグラフィにより製造する代替方法2400を示す。方法2300と2400の主要な相違は、方法2400では、色素化合物が第1層とは対照的に、第2放射感応層に付加されることである。したがって、従来のダブルパターニング法で使用される最初の各プロセス工程は、色素化合物がシーケンスのもっと後ろで付加されるので、変更されないままである。
【0072】
[0084] ブロック2410で、基板を第1放射感応層(例えばレジスト)で被覆する。ブロック2420で、第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する。一実施形態では、ブロック2420で、リソグラフィ装置からの放射ビームを使用する。ブロック2430で、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する。ブロック2440で、第2放射感応層に色素化合物を付加する。ブロック2450で、第1リソグラフィパターンの位置を検出する。一実施形態では、この検出は、アライメントシステムビームによって実施する。ブロック2460で、基板を検出された第1リソグラフィパターンの位置に位置合わせする。ブロック2470で、第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する。一実施形態では、ブロック2470で、リソグラフィ装置からの放射ビームを使用する。第2放射感応層を露光する前に基板を第1パターンに位置合わせするので、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに位置合わせする。一実施形態では、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに間隙をおいて位置合わせする。
【0073】
[0085] 方法2400の一実施形態では、色素化合物と第2リソグラフィパターンは、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する。方法2400の一実施形態はさらに、第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程2430の前に、第1リソグラフィパターンを加工(例えば凍結)する任意選択の工程(図示せず)を含む。
【0074】
[0086] 方法2400の一実施形態では、色素化合物は、アライメントシステム波長に対応できる所望の波長帯域において、蛍光性または発光性である。別の実施形態では、色素化合物は、アライメントシステム波長に対応できる所望の波長帯域において、実質的に吸収性または実質的に反射性である。一実施形態では、色素化合物は感光性化合物を含む。別の実施形態では、色素化合物はフォトクロミック材料を含む。本発明と一致するフォトクロミック材料の例には、スピロピラン、アゾベンゼン、フォトクロミックキノン、無機フォトクロミック材料、または金属イオンに付着した有機発色団のフォトクロミック複合物がある。
【0075】
[0087] 本発明の一実施形態と一致する、半導体デバイスをリソグラフィにより製造するシステム2500が図25に示されている。システム2500は、照明源2510およびアライメントシステム2520を含む。照明源2510は、ダブルパターニングプロセスにおいてアライメントマークを読み取るための特定の波長のアライメントビームを供給する。アライメントシステム2520は、基板上に被覆された第1放射感応層の1つ、または第1リソグラフィパターン上に被覆された第2放射感応層において色素化合物を検出するように構成される。この色素化合物は、第1リソグラフィパターン内に形成されたアライメントマークに基づいてダブルパターニングプロセスの2つのパターニング工程を位置合わせするときに、第1リソグラフィパターンと第2放射感応層の間に所望のコントラストを与える。一実施形態では、2つのパターニング工程は、間隙をおいて位置合わせされる。
【0076】
[0088] 色素化合物は任意のダブルパターニング法、例えばスペーサ法、LELE法、LPLE法、またはLFLEダブルパターニング法で使用できることを理解されたい。図8〜11、および図13〜16に戻って参照すると、LELEもLFLEも、第2放射感応層(例えばレジスト)で引き続き上に被覆される第1リソグラフィパターンを含む。いくつかの実施形態では、第1リソグラフィパターンは、第1パターンを生成した加工工程中に作製されるアライメントマークを有することができる。色素化合物を第1リソグラフィパターンに(それが現像され露光される前または後、かつ基板が被覆される前または後で)付加すると、あるいは第2放射感応層に付加すると光学コントラストが得られ、その結果、色素化合物は、第1リソグラフィパターンまたは第2リソグラフィ層と協働して、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成するようになる。したがって、第2リソグラフィパターンを第1リソグラフィパターンに対して非常に正確に直接位置合わせすることができる。いくつかの実施形態では、第2リソグラフィパターンは、間隙をおいて第1リソグラフィパターンに位置合わせされる。
【0077】
[0089] これまで、第1パターンは、前に加工された層内のアライメントマーカを使用して位置合わせされ、それによって、付随するエラーが生じた。その場合、第2パターンは、このアライメントマーカに対して別個に位置合わせされ、それによって、付随するエラーがもう一度生じた。最悪のシナリオでは、これらのエラーが大きく、また同じ方向にあり、それによって、実現できる光学解像度は限定される。第2パターンを、第1パターンと一緒に画定されたアライメントマークに対して直接位置合わせすると、エラーの原因が1つなくなる。
【0078】
[0090] 本明細書では、ICの製造におけるリソグラフィ装置の使用について具体的に言及することができるが、本明細書に記載のリソグラフィ装置には、集積光学システムの製造、磁気ドメインメモリ用のガイダンスパターンおよび検出パターン、フラットパネルディスプレイ、液晶ディスプレイ(LCD)、薄膜磁気ヘッドなど、他の応用分野がありうることを理解されたい。当業者であれば、このような他の応用分野において、本明細書では「ウェハ」または「ダイ」という用語はどれも、それぞれより一般的な「基板」または「ターゲット部分」という用語と同義とみなせることを理解されよう。本明細書でいう基板は、露光の前または後に、例えばトラック(一般にレジスト層を基板に付け、露光されたレジストを現像するツール)、メトロロジーツール、および/またはインスペクションツールで加工することができる。妥当な場合には、本明細書の開示は、このような、また他の基板加工ツールに適用することができる。さらに、基板は、例えば多層ICを作製するために2回以上加工されることがあり、そのため本明細書で使用される基板という用語はまた、加工された複数の層をすでに含む基板を指すこともある。
【0079】
[0091] 本明細書で使用する「放射」および「ビーム」という用語は、紫外線(UV)放射(例えば365nm、355nm、248nm、193nm、157nmまたは126nmの波長、あるいはそれに近い波長を有する)、および超紫外線(EUV)放射(例えば5〜20nmの範囲の波長を有する)を含むすべての種類の電磁放射、ならびにイオンビームまたは電子ビームなどの粒子ビームを包含する。
【0080】
[0092] 「レンズ」という用語は、状況が許せば、屈折式、反射式、磁気式、電磁気式、および静電気式の光学コンポーネントを含む様々な種類の光学コンポーネントのいずれか1つ、またはいずれかの組合せを指すことがある。
【0081】
[0093] 本明細書では、「色素化合物」という用語は広く解釈されたい。「色素化合物」は任意の感光性化合物、または任意のフォトクロミック材料とすることができる。「色素化合物」はまた、放射感応性材料の第1層内に形成されたパターンまたはアライメントマーカが、着色されていない第1層と類似の光学特性を有する放射感応性材料の第2層によってそれが上塗りされている場合でも検出可能であるように、関連する光学特性(例えば、それだけには限らないが、吸収性、反射性、蛍光性、および/または発光性)を変更できる任意の化合物とすることができる。
【0082】
[0094] 上記の説明は例示的なものであり、限定的なものではない。したがって、添付の特許請求の範囲から逸脱することなく、説明した本発明に改変を加えることができることは、当業者には明らかであろう。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
半導体デバイスをリソグラフィにより製造する方法であって、
(a)基板を第1放射感応層で被覆する工程と、
(b)前記第1放射感応層に色素化合物を付加する工程と、
(c)前記第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する工程と、
(d)前記第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程と、
(e)前記第1リソグラフィパターンの位置を検出する工程と、
(f)前記基板を前記第1リソグラフィパターンの前記検出された位置に位置合わせする工程と、
(g)前記第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する工程と、
を含み、
(h)前記第2リソグラフィパターンが前記第1リソグラフィパターンに位置合わせされる、
方法。
【請求項2】
(a)前記第2リソグラフィパターンを前記第1リソグラフィパターンに間隙をおいて位置合わせする工程をさらに含む、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項3】
(a)前記色素化合物と前記第1リソグラフィパターンにより、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する工程をさらに含む、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項4】
色素化合物を付加する工程が、前記基板を被覆する工程の前に行われる、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項5】
前記色素化合物を付加する工程が、前記基板を被覆する工程の後で、前記第1放射感応層を露光、現像する工程の前に行われる、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項6】
前記色素化合物を付加する工程が、前記第1放射感応層を露光、現像する工程の後に行われる、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項7】
(a)前記第1リソグラフィパターンを前記第2放射感応層で被覆する工程の前に、前記第1リソグラフィパターンを加工する工程をさらに含む、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項8】
前記色素化合物が所望の波長帯域において蛍光性または発光性である、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項9】
前記色素化合物が所望の波長帯域において実質的に吸収性、または実質的に反射性である、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項10】
半導体デバイスをリソグラフィにより製造する方法であって、
(a)基板を第1放射感応層で被覆する工程と、
(b)前記第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する工程と、
(c)前記第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程と、
(d)前記第2放射感応層に色素化合物を付加する工程と、
(e)前記第1リソグラフィパターンの位置を検出する工程と、
(f)前記基板を前記第1リソグラフィパターンの前記検出された位置に位置合わせする工程と、
(g)前記第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する工程と、
を含み、
(h)前記第2リソグラフィパターンが前記第1リソグラフィパターンに位置合わせされる、
方法。
【請求項11】
(a)前記第2リソグラフィパターンを前記第1リソグラフィパターンに間隙をおいて位置合わせする工程をさらに含む、
請求項10に記載の製造方法。
【請求項12】
(a)前記色素化合物と前記第2リソグラフィパターンにより、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する工程をさらに含む、
請求項10に記載の製造方法。
【請求項13】
(a)前記第1リソグラフィパターンを前記第2放射感応層で被覆する工程の前に、前記第1リソグラフィパターンを加工する工程をさらに含む、
請求項10に記載の製造方法。
【請求項14】
半導体デバイスをリソグラフィにより製造するシステムであって、
(a)ダブルパターニングプロセスにおいてアライメントマークを読み取るための特定の波長のアライメントビームを供給する照明源と、
(b)前記ダブルパターニングプロセスにおいて、基板上に被覆された第1放射感応層の1つ、または第1リソグラフィパターン上に被覆された第2放射感応層において色素化合物を検出するように構成されたアライメントシステムと、
を備え、
(c)前記色素化合物が、前記第1リソグラフィパターン内に形成された前記アライメントマークに基づいて前記ダブルパターニングプロセスの2つのパターニング工程を位置合わせするときに、前記第1リソグラフィパターンと前記第2放射感応層の間に所望のコントラストを与える、
システム。
【請求項15】
前記第2リソグラフィパターンが間隙をおいて前記第1リソグラフィパターンに位置合わせされる、
請求項14に記載のシステム。
【請求項1】
半導体デバイスをリソグラフィにより製造する方法であって、
(a)基板を第1放射感応層で被覆する工程と、
(b)前記第1放射感応層に色素化合物を付加する工程と、
(c)前記第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する工程と、
(d)前記第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程と、
(e)前記第1リソグラフィパターンの位置を検出する工程と、
(f)前記基板を前記第1リソグラフィパターンの前記検出された位置に位置合わせする工程と、
(g)前記第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する工程と、
を含み、
(h)前記第2リソグラフィパターンが前記第1リソグラフィパターンに位置合わせされる、
方法。
【請求項2】
(a)前記第2リソグラフィパターンを前記第1リソグラフィパターンに間隙をおいて位置合わせする工程をさらに含む、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項3】
(a)前記色素化合物と前記第1リソグラフィパターンにより、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する工程をさらに含む、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項4】
色素化合物を付加する工程が、前記基板を被覆する工程の前に行われる、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項5】
前記色素化合物を付加する工程が、前記基板を被覆する工程の後で、前記第1放射感応層を露光、現像する工程の前に行われる、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項6】
前記色素化合物を付加する工程が、前記第1放射感応層を露光、現像する工程の後に行われる、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項7】
(a)前記第1リソグラフィパターンを前記第2放射感応層で被覆する工程の前に、前記第1リソグラフィパターンを加工する工程をさらに含む、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項8】
前記色素化合物が所望の波長帯域において蛍光性または発光性である、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項9】
前記色素化合物が所望の波長帯域において実質的に吸収性、または実質的に反射性である、
請求項1に記載の製造方法。
【請求項10】
半導体デバイスをリソグラフィにより製造する方法であって、
(a)基板を第1放射感応層で被覆する工程と、
(b)前記第1放射感応層を露光、現像して第1リソグラフィパターンを形成する工程と、
(c)前記第1リソグラフィパターンを第2放射感応層で被覆する工程と、
(d)前記第2放射感応層に色素化合物を付加する工程と、
(e)前記第1リソグラフィパターンの位置を検出する工程と、
(f)前記基板を前記第1リソグラフィパターンの前記検出された位置に位置合わせする工程と、
(g)前記第2放射感応層を露光、現像して第2リソグラフィパターンを形成する工程と、
を含み、
(h)前記第2リソグラフィパターンが前記第1リソグラフィパターンに位置合わせされる、
方法。
【請求項11】
(a)前記第2リソグラフィパターンを前記第1リソグラフィパターンに間隙をおいて位置合わせする工程をさらに含む、
請求項10に記載の製造方法。
【請求項12】
(a)前記色素化合物と前記第2リソグラフィパターンにより、回折格子、回折アレイ、アライメントアレイ、または他の位置合わせ用パターンを形成する工程をさらに含む、
請求項10に記載の製造方法。
【請求項13】
(a)前記第1リソグラフィパターンを前記第2放射感応層で被覆する工程の前に、前記第1リソグラフィパターンを加工する工程をさらに含む、
請求項10に記載の製造方法。
【請求項14】
半導体デバイスをリソグラフィにより製造するシステムであって、
(a)ダブルパターニングプロセスにおいてアライメントマークを読み取るための特定の波長のアライメントビームを供給する照明源と、
(b)前記ダブルパターニングプロセスにおいて、基板上に被覆された第1放射感応層の1つ、または第1リソグラフィパターン上に被覆された第2放射感応層において色素化合物を検出するように構成されたアライメントシステムと、
を備え、
(c)前記色素化合物が、前記第1リソグラフィパターン内に形成された前記アライメントマークに基づいて前記ダブルパターニングプロセスの2つのパターニング工程を位置合わせするときに、前記第1リソグラフィパターンと前記第2放射感応層の間に所望のコントラストを与える、
システム。
【請求項15】
前記第2リソグラフィパターンが間隙をおいて前記第1リソグラフィパターンに位置合わせされる、
請求項14に記載のシステム。
【図1A】
【図1B】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図1B】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【公開番号】特開2010−226105(P2010−226105A)
【公開日】平成22年10月7日(2010.10.7)
【国際特許分類】
【外国語出願】
【出願番号】特願2010−59101(P2010−59101)
【出願日】平成22年3月16日(2010.3.16)
【出願人】(503195263)エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. (232)
【出願人】(504151804)エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. (1,856)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成22年10月7日(2010.10.7)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−59101(P2010−59101)
【出願日】平成22年3月16日(2010.3.16)
【出願人】(503195263)エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. (232)
【出願人】(504151804)エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. (1,856)
【Fターム(参考)】
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