放射線画像撮影システム
【課題】放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出し、画像データ中に生じている線欠陥を適切に修復して放射線画像を生成することが可能な放射線画像撮影システムを提供する。
【解決手段】放射線画像撮影システムにおいて、放射線画像撮影装置１は、放射線画像撮影前に、全てのスイッチ手段８をオフ状態とした状態で読み出し回路１７に周期的に読み出し動作を行わせて、スイッチ手段８を介して放射線検出素子７からリークした電荷ｑをリークデータｄleakに変換するリークデータｄleakの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返し行わせ、読み出したリークデータｄleakに基づいて放射線の照射開始を検出し、画像処理装置５８は、放射線画像撮影装置１の信号線の延在方向における画像データＤのプロファイルを解析して欠損を生じている画像データＤの範囲を特定し、特定した範囲の画像データＤを修復する。
【解決手段】放射線画像撮影システムにおいて、放射線画像撮影装置１は、放射線画像撮影前に、全てのスイッチ手段８をオフ状態とした状態で読み出し回路１７に周期的に読み出し動作を行わせて、スイッチ手段８を介して放射線検出素子７からリークした電荷ｑをリークデータｄleakに変換するリークデータｄleakの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返し行わせ、読み出したリークデータｄleakに基づいて放射線の照射開始を検出し、画像処理装置５８は、放射線画像撮影装置１の信号線の延在方向における画像データＤのプロファイルを解析して欠損を生じている画像データＤの範囲を特定し、特定した範囲の画像データＤを修復する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像撮影システムに係り、特に、放射線画像撮影装置が自ら放射線の照射を検出して放射線画像撮影を行う放射線画像撮影システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
照射されたＸ線等の放射線の線量に応じて検出素子で電荷を発生させて電気信号に変換するいわゆる直接型の放射線画像撮影装置や、照射された放射線をシンチレータ等で可視光等の他の波長の電磁波に変換した後、変換され照射された電磁波のエネルギに応じてフォトダイオード等の光電変換素子で電荷を発生させて電気信号（すなわち画像データ）に変換するいわゆる間接型の放射線画像撮影装置が種々開発されている。なお、本発明では、直接型の放射線画像撮影装置における検出素子や、間接型の放射線画像撮影装置における光電変換素子を、あわせて放射線検出素子という。
【０００３】
このタイプの放射線画像撮影装置はＦＰＤ（Flat Panel Detector）として知られており、従来は支持台（或いはブッキー装置）と一体的に形成された、いわゆる専用機型として構成されていたが（例えば特許文献１参照）、近年、放射線検出素子等をハウジングに収納し、持ち運び可能とした可搬型の放射線画像撮影装置が開発され、実用化されている（例えば特許文献２、３参照）。
【０００４】
このような放射線画像撮影装置では、例えば後述する図７等に示すように、通常、複数の放射線検出素子７が、検出部Ｐ上に二次元状（マトリクス状）に配列され、各放射線検出素子７にそれぞれ薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor。以下、ＴＦＴという。）８で形成されたスイッチ手段が接続されて構成される。
【０００５】
そして、通常、放射線画像撮影は、放射線発生装置５５の放射線源５２（後述する図１１や図１２参照）から放射線画像撮影装置に対して、被験者の身体等の所定の撮影部位（すなわち胸部正面や腰椎側面等）を介した状態で放射線が照射されて行われる。
【０００６】
その際、放射線画像撮影装置の走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加して全てのＴＦＴ８をオフ状態とした状態で放射線を照射することで、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷が、各放射線検出素子７内に的確に蓄積される。
【０００７】
そして、放射線画像撮影の後、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して、各ＴＦＴ８を順次オン状態として、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生して蓄積された電荷を各信号線６に順次放出させて、各読み出し回路１７で画像データＤとしてそれぞれ読み出すように構成される。
【０００８】
ところで、上記のように、放射線画像撮影が的確に行われるためには、放射線画像撮影装置に放射線が照射される際に、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに適切にオフ電圧が印加され、スイッチ手段である各ＴＦＴ８がオフ状態になることが必要となる。
【０００９】
そこで、例えば従来の専用機型の放射線画像撮影装置等では、放射線発生装置との間でインターフェースを構築し、互いに信号等をやり取りして、放射線画像撮影装置が走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加して電荷蓄積状態になったことを確認したうえで、放射線画像撮影装置が放射線源から放射線を照射させるように構成される場合が多い
。
【００１０】
しかし、例えば、放射線画像撮影装置と放射線発生装置との製造メーカーが異なっているような場合には、両者の間でインターフェースを構築することが必ずしも容易でない場合があり、或いは、インターフェースを構築できない場合もある。
【００１１】
このように放射線画像撮影装置と放射線発生装置との間でインターフェースが構築されない場合、放射線画像撮影装置側から見ると、放射線源からどのようなタイミングで放射線が照射されるかが分からない。そのため、放射線源から放射線が照射されたことを、放射線画像撮影装置が自ら検出しなければならなくなる。
【００１２】
そこで、近年、このような放射線画像撮影装置と放射線発生装置との間のインターフェースによらずに、放射線が照射されたことを自ら検出するように構成された放射線画像撮影装置が種々開発されている。
【００１３】
例えば、特許文献４や特許文献５に記載の発明では、放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されて各放射線検出素子７内に電荷が発生すると、各放射線検出素子７から、各放射線検出素子７に接続されているバイアス線９（後述する図７等参照）に電荷が流れ出してバイアス線９を流れる電流が増加することを利用して、バイアス線９に電流検出手段を設けてバイアス線９内を流れる電流の電流値を検出し、その電流値に基づいて放射線の照射の開始等を検出することが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】特開平９−７３１４４号公報
【特許文献２】特開２００６−０５８１２４号公報
【特許文献３】特開平６−３４２０９９号公報
【特許文献４】米国特許第７２１１８０３号明細書
【特許文献５】特開２００９−２１９５３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら、本発明者らの研究で、上記の手法は、バイアス線９が各放射線検出素子７の電極に接続されているため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線９を介して各放射線検出素子７に伝わり、放射線検出素子７から読み出される画像データＤにノイズとして重畳される場合があるなど、必ずしも解決が容易でない問題があることが分かってきた。
【００１６】
そして、本発明者らは、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出する別の手法について種々研究を重ねた結果、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを的確に検出することが可能ないくつかの手法を見出すことができた。
【００１７】
ところで、後述するように、本発明者らが見出した新たな放射線の照射開始の検出方法では、放射線画像撮影前に、走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して画像データｄの読み出し処理を行う。なお、以下では、撮影直後に行われる本画像としての画像データＤと区別して、この放射線画像撮影前に放射線の照射開始の検出用に読み出される照射開始検出用の画像データを、画像データｄという。
【００１８】
そして、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出される画像データｄの値
が上昇することを利用して、読み出された画像データｄの値に基づいて放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。
【００１９】
また、本発明者らが見出した別の新たな放射線の照射開始の検出方法では、放射線画像撮影前に、走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから全ての走査線５にオフ電圧を印加して各ＴＦＴ８をオフ状態とした状態で読み出し回路１７に読み出し動作を行わせ、ＴＦＴ８を介して放射線検出素子７からリークした電荷ｑ（後述する図１３参照）をリークデータｄleakに変換するリークデータｄleakの読み出し処理を行うように構成される。
【００２０】
そして、この場合も、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出されるリークデータｄleakの値が上昇するため、それを利用して、読み出されたリークデータｄleakの値に基づいて放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。
【００２１】
その際、前述したように、リークデータｄleakの読み出し処理では各ＴＦＴ８がオフ状態とされるが、各ＴＦＴ８がオフ状態のままであると、放射線検出素子７自体の熱（温度）による熱励起等により常時発生している、いわゆる暗電荷が各放射線検出素子７内に蓄積されてしまう。
【００２２】
そのため、後述するように、ゲートドライバ１５ｂから走査線５にオン電圧を順次印加して各放射線検出素子７内から暗電荷を除去する各放射線検出素子７のリセット処理を、リークデータｄleakの読み出し処理と交互に繰り返し行うように構成される。
【００２３】
しかし、上記のように、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出される画像データｄの値が上昇するということは、すなわち、放射線の照射により放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部が、画像データｄの読み出し処理を行うことにより、放射線検出素子７から信号線６に流出してしまうことを意味する。
【００２４】
また、放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理を行う場合には、放射線の照射によりＴＦＴ８を介して放射線検出素子７からリークする電荷ｑが増加するとしても、放射線の照射により当該放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の総量に比べれば微々たるものであり、たいした影響はない。
【００２５】
しかし、リークデータｄleakの読み出し処理と交互に行われる各放射線検出素子７のリセット処理を行うことで、やはり、放射線の照射により放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部が当該放射線検出素子７から信号線６に流出してしまう可能性がある。
【００２６】
このように、画像データｄの読み出し処理や各放射線検出素子７のリセット処理でゲートドライバ１５ｂからオン電圧が印加された走査線５に接続されている各放射線検出素子７からは、放射線の照射により発生した有用な電荷の一部がそれぞれ信号線６に流出してしまう。
【００２７】
そのため、後述する図２６に示すように、本画像として読み出された画像データＤ中（或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中）の当該走査線５に対応する部分に、有用な電荷の一部が欠損した画像データＤの線、すなわちいわゆる線欠陥が現れることになる。この線欠陥の発生は、上記の本発明者らが新たに見出した放射線の照射開始の検出方法を採用する限り、必然的に発生するものである。
【００２８】
また、検出感度が低いような場合には、放射線源から放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が実際に開始されてから放射線画像撮影装置で放射線の照射開始を検出するまで
に時間がかかり、その間に、線欠陥が多数発生してしまう場合があり得る。この場合、線欠陥は、後述する図２８に示すように、本画像として読み出された画像データＤ中（或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中）に連続して現れる状態になる。
【００２９】
このように、線欠陥が発生する場合、そのような線欠陥を有する画像データＤに基づいて放射線画像を生成すると、放射線画像中に線状の（或いは線欠陥が多数連続して発生する場合には帯状の）模様が写り込んでしまい、放射線画像が見難くなる。
【００３０】
また、例えば、放射線画像撮影装置で撮影された放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されているような場合、それが病変部なのか線欠陥による模様なのかが判別し難くなる場合があり、そのような放射線画像を見た医師等が誤診してしまう可能性がある。
【００３１】
そこで、上記のような放射線画像撮影装置を用いる放射線画像撮影システムに対しては、放射線画像撮影装置による撮影で上記のように線欠陥が不可避的に発生してしまうとしても、それを適切に修復して、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することができることが望まれる。
【００３２】
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出することが可能であり、しかも、そのような放射線画像撮影装置を用いた放射線画像撮影で得られた画像データＤ中に生じている線欠陥を適切に修復して放射線画像を生成することが可能な放射線画像撮影システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００３３】
前記の問題を解決するために、本発明の放射線画像撮影システムは、
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理と、前記各放射線検出素子のリセット処理とを交互に繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画
像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする。
【００３４】
また、本発明の放射線画像撮影システムは、
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする。
【発明の効果】
【００３５】
本発明のような方式の放射線画像撮影システムによれば、放射線画像撮影装置で、放射線画像撮影前に、リークデータの読み出し処理や画像データの読み出し処理を行い、読み出したリークデータや画像データの値に基づいて放射線の照射開始を検出するため、放射線画像撮影装置自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。
【００３６】
そのため、前述した特許文献４や特許文献５に記載された発明のように、例えば放射線画像撮影装置１にバイアス線９等を流れる電流を検出する電流検出手段を設けなくてもよくなり、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線９を介して各放射線検出素子７に伝わって画像データＤにノイズとして重畳される等の問題が生じることを確実に防止することが可能となる。
【００３７】
また、画像処理装置は、放射線画像撮影装置の信号線の延在方向における画像データＤのプロファイルを解析して、欠損を生じている画像データＤの範囲すなわち線欠陥の範囲を適切に特定する。そして、適切に特定した範囲の画像データＤを修復する。そのため、放射線画像撮影装置を用いた放射線画像撮影で得られた画像データＤ中に生じている線欠陥を適切に修復したうえで、放射線画像を生成することが可能となる。
【００３８】
そのため、放射線画像中に、線欠陥が線状（或いは帯状）に写り込んで放射線画像が見難くなることが的確に防止され、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することが可能となる。そして、例えば放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されていても、線欠陥が的確に修復されるため、修復さ
れた画像データに基づいて生成された放射線画像を見た医師等が、病変部を的確に識別することができるようにすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本実施形態に係る放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１におけるＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【図３】放射線画像撮影装置のコネクタにケーブルのコネクタを接続した状態を表す斜視図である。
【図４】放射線画像撮影装置の基板の構成を示す平面図である。
【図５】図４の基板上の小領域に形成された放射線検出素子とＴＦＴ等の構成を示す拡大図である。
【図６】フレキシブル回路基板やＰＣＢ基板等が取り付けられた基板を説明する側面図である。
【図７】放射線画像撮影装置の等価回路を表すブロック図である。
【図８】検出部を構成する１画素分についての等価回路を表すブロック図である。
【図９】各放射線検出素子のリセット処理における電荷リセット用スイッチやＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１０】画像データの読み出し処理における電荷リセット用スイッチ、パルス信号、ＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１１】撮影室等に構築された放射線画像撮影システムの構成を示す図である。
【図１２】回診車上に構築された放射線画像撮影システムの構成を示す図である。
【図１３】ＴＦＴを介して各放射線検出素子からリークした各電荷がリークデータとして読み出されることを説明する図である。
【図１４】リークデータの読み出し処理における電荷リセット用スイッチやＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１５】放射線画像撮影前にリークデータの読み出し処理と各放射線検出素子のリセット処理を交互に行うように構成した場合の電荷リセット用スイッチ、パルス信号、ＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１６】検出方法１において各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を説明するタイミングチャートである。
【図１７】読み出されるリークデータを時系列的にプロットしたグラフである。
【図１８】検出方法２において放射線画像撮影前に画像データの読み出し処理が繰り返し行われる際の各走査線にオン電圧を順次印加するタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１９】放射線画像撮影前に画像データの読み出し処理における電荷リセット用スイッチ、パルス信号、ＴＦＴのオン／オフのタイミングおよびオン時間ΔＴを表すタイミングチャートである。
【図２０】検出方法２において各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を説明するタイミングチャートである。
【図２１】図１６において放射線の照射開始の検出後もリークデータの読み出し処理を続行するように構成した場合のタイミングチャートである。
【図２２】放射線の照射が終了するとリークデータが減少することを示すグラフである。
【図２３】放射線画像撮影装置に照射野が絞られた放射線が照射された場合を表す図である。
【図２４】各読み出し回路で読み出されたリークデータの読み出しＩＣごとの平均値の時間的推移の例を表すグラフである。
【図２５】図１６に示した処理シーケンスを繰り返してオフセットデータの読み出し処理を行う場合に各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を説明するタイミングチャートである。
【図２６】画像データや放射線画像中に生じた線欠陥を表す図である。
【図２７】照射開始の検出が遅れて画像データの読み出し処理が複数回行われた場合の各走査線にオン電圧を順次印加するタイミングの例を表すタイミングチャートである。
【図２８】線欠陥が連続して発生する状態を表す図である。
【図２９】真の各画像データの例を表す図および走査線ごとの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。
【図３０】欠損が生じていない大きな値の真の画像データの影響で欠損を生じている真の画像データの範囲が分かりづらくなった走査線ごとの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。
【図３１】（Ａ）被写体領域認識処理で抽出される真の画像データの例を表す図であり、（Ｂ）抽出された真の画像データの分布の例を表すグラフであり、（Ｃ）決定された被写体が撮影されている領域の例を表す図である。
【図３２】欠損を生じている真の画像データの範囲を特定する手法を説明するグラフである。
【図３３】欠損を生じている真の画像データの範囲の中で平均値の差分の絶対値が閾値未満になることがあり得ることを説明するグラフである。
【図３４】欠損を生じている真の画像データの範囲として特定した平均値以外の各平均値を近似した直線の例を表すグラフである。
【図３５】（Ａ）正規化される前の真の各画像データの平均値のプロファイルの例、および（Ｂ）正規化された後の真の各画像データの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。
【図３６】図３５（Ｂ）のうち線欠陥が現れている可能性がある走査線を以外の除く検出ライン前後の各走査線における各平均値を近似する直線等を表すグラフである。
【図３７】図３６の直線に対する実際の平均値の各走査線５ごとの低下率を表すグラフである。
【図３８】検出ラインを含む走査線の所定本数を替えた場合の各近似直線を表すグラフである。
【図３９】図３８の各近似直線の中から抽出された近似直線の例を表すグラフである。
【図４０】修復される前と修復された後の真の画像データの走査線ごとの平均値をそれぞれ表すグラフである。
【図４１】放射線源から照射される放射線の線量率の時間的推移を表すグラフであり、（Ａ）線量率が照射開始直後に瞬時に立ち上がる場合を表し、（Ｂ）線量率が時間に比例して増加した後一定になる場合を表す。
【発明を実施するための形態】
【００４０】
以下、本発明に係る放射線画像撮影システムの実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００４１】
なお、以下では、放射線画像撮影システムで用いられる放射線画像撮影装置として、シンチレータ等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得るいわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレータ等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
【００４２】
［放射線画像撮影装置］
まず、本実施形態に係る放射線画像撮影装置について説明する。図１は、放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図であり、図２は、図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。放射線画像撮影装置１は、図１や図２に示すように、筐体状のハウジング２内にシンチレータ３や基板４等で構成されるセンサパネルＳＰが収納されている。
【００４３】
本実施形態では、筐体２のうち、放射線入射面Ｒを有する中空の角筒状のハウジング本体部２Ａは、放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されており、ハウジング本体部２Ａの両側の開口部を蓋部材２Ｂ、２Ｃで閉塞することで筐体２が形成されている。
【００４４】
また、筐体２の一方側の蓋部材２Ｂには、電源スイッチ３７や切替スイッチ３８、コネクタ３９、バッテリ状態や放射線画像撮影装置１の稼働状態等を表示するＬＥＤ等で構成されたインジケータ４０等が配置されている。
【００４５】
本実施形態では、コネクタ３９は、例えば図３に示すように、ケーブルＣａの先端に設けられたコネクタＣが接続されることにより、例えば後述するコンソール５８（図１１や図１２参照）等との間でケーブルＣａを介して信号等を送受信したり、画像処理装置としてのコンソール５８に画像データＤ等を送信したりする際の有線方式の通信手段として機能するようになっている。なお、コネクタ３９の設置位置は蓋部材２Ｂに限定されず、放射線画像撮影装置１の適宜の位置に設置することが可能である。
【００４６】
また、図示を省略するが、例えば筐体２の反対側の蓋部材２Ｃ等に、アンテナ装置４１（後述する図７参照）が例えば蓋部材２Ｃに埋め込む等して設けられており、本実施形態では、このアンテナ装置４１が、放射線画像撮影装置１とコンソール５８等との間で信号等の無線方式で送受信する場合の通信手段として機能するようになっている。
【００４７】
なお、アンテナ装置４１の設置位置は蓋部材２Ｃに限定されず、放射線画像撮影装置１の任意の位置にアンテナ装置４１を設置することが可能である。また、設置するアンテナ装置４１は１個に限らず、複数設けることも可能である。
【００４８】
図２に示すように、筐体２の内部には、基板４の下方側に図示しない鉛の薄板等を介して基台３１が配置され、基台３１には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３やバッテリ２４等が取り付けられている。また、基板４やシンチレータ３の放射線入射面Ｒには、それらを保護するためのガラス基板３４が配設されている。また、本実施形態では、センサパネルＳＰと筐体２の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材３５が設けられている。
【００４９】
シンチレータ３は、基板４の後述する検出部Ｐに対向する位置に設けられるようになっている。本実施形態では、シンチレータ３は、例えば、蛍光体を主成分とし、放射線の入射を受けると３００〜８００ｎｍの波長の電磁波、すなわち可視光を中心とした電磁波に変換して出力するものが用いられる。
【００５０】
基板４は、本実施形態では、ガラス基板で構成されており、図４に示すように、基板４のシンチレータ３に対向する側の面４ａ上には、複数の走査線５と複数の信号線６とが互いに交差するように配設されている。基板４の面４ａ上の複数の走査線５と複数の信号線６により区画された各小領域ｒには、放射線検出素子７がそれぞれ設けられている。このように、走査線５と信号線６で区画された各小領域ｒに二次元状に配列された複数の放射線検出素子７が設けられた小領域ｒ全体、すなわち図４に一点鎖線で示される領域が検出部Ｐとされている。
【００５１】
本実施形態では、放射線検出素子７としてフォトダイオードが用いられているが、この他にも例えばフォトトランジスタ等を用いることも可能である。各放射線検出素子７は、図４の拡大図である図５に示すように、スイッチ手段であるＴＦＴ８のソース電極８ｓに接続されている。また、ＴＦＴ８のドレイン電極８ｄは信号線６に接続されている。
【００５２】
放射線検出素子７は、放射線画像撮影装置１の筐体２の放射線入射面Ｒから放射線が入射し、シンチレータ３で放射線から変換された可視光等の電磁波が照射されると、その内部で電子正孔対を発生させる。放射線検出素子７は、このようにして、照射された放射線（本実施形態ではシンチレータ３で放射線から変換された電磁波）を電荷に変換するようになっている。
【００５３】
そして、ＴＦＴ８は、後述する走査駆動手段１５から走査線５を介してゲート電極８ｇにオン電圧が印加されるとオン状態となり、ソース電極８ｓやドレイン電極８ｄを介して放射線検出素子７内に蓄積されている電荷を信号線６に放出させるようになっている。また、ＴＦＴ８は、接続された走査線５を介してゲート電極８ｇにオフ電圧が印加されるとオフ状態となり、放射線検出素子７から信号線６への電荷の放出を停止して、放射線検出素子７内に電荷を蓄積させるようになっている。
【００５４】
本実施形態では、図５に示すように、それぞれ列状に配置された複数の放射線検出素子７に１本のバイアス線９が接続されており、図４に示すように、各バイアス線９はそれぞれ信号線６に平行に配設されている。また、各バイアス線９は、基板４の検出部Ｐの外側の位置で結線１０に結束されている。
【００５５】
本実施形態では、図４に示すように、各走査線５や各信号線６、バイアス線９の結線１０は、それぞれ基板４の端縁部付近に設けられた入出力端子（パッドともいう。）１１に接続されている。各入出力端子１１には、図６に示すように、後述する走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂを構成するゲートＩＣ１５ｃ等のチップがフィルム上に組み込まれたフレキシブル回路基板（Chip On Film等ともいう。）１２が異方性導電接着フィルム（Anisotropic Conductive Film）や異方性導電ペースト（Anisotropic Conductive Paste）等の異方性導電性接着材料１３を介して接続されている。
【００５６】
そして、フレキシブル回路基板１２は、基板４の裏面４ｂ側に引き回され、裏面４ｂ側で前述したＰＣＢ基板３３に接続されるようになっている。このようにして、放射線画像撮影装置１のセンサパネルＳＰが形成されている。なお、図６では、電子部品３２等の図示が省略されている。
【００５７】
ここで、放射線画像撮影装置１の回路構成について説明する。図７は本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の等価回路を表すブロック図であり、図８は検出部Ｐを構成する１画素分についての等価回路を表すブロック図である。
【００５８】
前述したように、基板４の検出部Ｐの各放射線検出素子７は、その第２電極７ｂにそれぞれバイアス線９が接続されており、各バイアス線９は結線１０に結束されてバイアス電源１４に接続されている。バイアス電源１４は、結線１０および各バイアス線９を介して各放射線検出素子７の第２電極７ｂにそれぞれバイアス電圧を印加するようになっている。また、バイアス電源１４は、後述する制御手段２２に接続されており、制御手段２２により、バイアス電源１４から各放射線検出素子７に印加するバイアス電圧が制御されるようになっている。
【００５９】
図７や図８に示すように、本実施形態では、バイアス電源１４からは、放射線検出素子７の第２電極７ｂにバイアス線９を介してバイアス電圧として放射線検出素子７の第１電極７ａ側にかかる電圧以下の電圧（すなわちいわゆる逆バイアス電圧）が印加されるようになっている。
【００６０】
走査駆動手段１５は、配線１５ｄを介してゲートドライバ１５ｂにオン電圧とオフ電圧
を供給する電源回路１５ａと、走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧の間で切り替えて各ＴＦＴ８のオン状態とオフ状態とを切り替えるゲートドライバ１５ｂとを備えている。本実施形態では、ゲートドライバ１５ｂは、複数の前述したゲートＩＣ１５ｃ（図６参照）が並設されて構成されている。
【００６１】
図７や図８に示すように、各信号線６は、読み出しＩＣ１６内に内蔵された各読み出し回路１７にそれぞれ接続されている。読み出し回路１７は、増幅回路１８と相関二重サンプリング回路１９等で構成されている。読み出しＩＣ１６内には、さらに、アナログマルチプレクサ２１と、Ａ／Ｄ変換器２０とが設けられている。なお、図７や図８中では、相関二重サンプリング回路１９はＣＤＳと表記されている。また、図８中では、アナログマルチプレクサ２１は省略されている。
【００６２】
本実施形態では、増幅回路１８は、オペアンプ１８ａと、オペアンプ１８ａにそれぞれ並列にコンデンサ１８ｂおよび電荷リセット用スイッチ１８ｃが接続され、オペアンプ１８ａ等に電力を供給する電源供給部１８ｄを備えたチャージアンプ回路で構成されている。増幅回路１８のオペアンプ１８ａの入力側の反転入力端子には信号線６が接続されており、増幅回路１８の入力側の非反転入力端子には基準電位Ｖ０が印加されるようになっている。なお、基準電位Ｖ０は適宜の値に設定され、本実施形態では、例えば０［Ｖ］が印加されるようになっている。
【００６３】
また、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃは、制御手段２２に接続されており、制御手段２２によりオン／オフが制御されるようになっている。また、オペアンプ１８ａと相関二重サンプリング回路１９との間には、電荷リセット用スイッチ１８ｃと連動して開閉するスイッチ１８ｅが設けられており、スイッチ１８ｅは、電荷リセット用スイッチ１８ｃがオン／オフ動作と連動してオフ／オン動作するようになっている。
【００６４】
放射線画像撮影装置１で、各放射線検出素子７内に残存する電荷を除去するための各放射線検出素子７のリセット処理を行う際には、図９に示すように、電荷リセット用スイッチ１８ｃがオン状態（およびスイッチ１８ｅがオフ状態）とされた状態で、各ＴＦＴ８がオン状態とされる。
【００６５】
すると、オン状態とされた各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７から電荷が信号線６に放出され、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃを通過して、オペアンプ１８ａの出力端子側からオペアンプ１８ａ内を通り、非反転入力端子から出てアースされたり、電源供給部１８ｄに流れ出す。このようにして、各放射線検出素子７のリセット処理が行われるようになっている。
【００６６】
一方、各放射線検出素子７からの画像データＤの読み出し処理の際には、図１０に示すように、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃがオフ状態（およびスイッチ１８ｅがオン状態）とされた状態で、オン状態とされた各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７から電荷が信号線６に放出されると、電荷が増幅回路１８のコンデンサ１８ｂに蓄積される。
【００６７】
そして、増幅回路１８では、コンデンサ１８ｂに蓄積された電荷量に応じた電圧値がオペアンプ１８ａの出力側から出力されるようになっており、増幅回路１８により、各放射線検出素子７から流出した電荷が電荷電圧変換されるようになっている。
【００６８】
そして、増幅回路１８の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路（ＣＤＳ）１９は、各放射線検出素子７から電荷が流出する前に制御手段２２からパルス信号Ｓｐ１（図１０参照）が送信されると、その時点で増幅回路１８から出力されている電圧値Ｖinを保
持し、上記のように各放射線検出素子７から流出した電荷が増幅回路１８のコンデンサ１８ｂに蓄積された後に制御手段２２からパルス信号Ｓｐ２が送信されると、その時点で増幅回路１８から出力されている電圧値Ｖfiを保持する。
【００６９】
そして、相関二重サンプリング回路１９は、２回目のパルス信号Ｓｐ２で電圧値Ｖfiを保持すると、電圧値の差分Ｖfi−Ｖinを算出し、算出した差分Ｖfi−Ｖinをアナログ値の画像データＤとして下流側に出力するようになっている。そして、相関二重サンプリング回路１９から出力された各放射線検出素子７の画像データＤは、アナログマルチプレクサ２１を介して順次Ａ／Ｄ変換器２０に送信され、Ａ／Ｄ変換器２０で順次デジタル値の画像データＤに変換されて記憶手段２３に出力されて順次保存されるようになっている。
【００７０】
なお、１回の画像データＤの読み出し処理が終了すると、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃがオン状態とされ（図１０参照）、コンデンサ１８ｂに蓄積された電荷が放電されて、上記と同様に、放電された電荷がオペアンプ１８ａの出力端子側からオペアンプ１８ａ内を通り、非反転入力端子から出てアースされたり、電源供給部１８ｄに流れ出す等して、増幅回路１８がリセットされる。
【００７１】
制御手段２２は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only
Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、入出力インターフェース等がバスに接続されたコンピュータや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等により構成されている。専用の制御回路で構成されていてもよい。
【００７２】
そして、制御手段２２は、放射線画像撮影装置１の各部材の動作等を制御するようになっている。また、図７等に示すように、制御手段２２には、ＳＲＡＭ（Static ＲＡＭ）やＳＤＲＡＭ（Synchronous ＤＲＡＭ）等で構成される記憶手段２３が接続されている。
【００７３】
また、本実施形態では、制御手段２２には、前述したアンテナ装置４１が接続されており、さらに、検出部Ｐや走査駆動手段１５、読み出し回路１７、記憶手段２３、バイアス電源１４等の各部材に電力を供給するためのバッテリ２４が接続されている。また、バッテリ２４には、図示しない充電装置からバッテリ２４に電力を供給してバッテリ２４を充電する際の接続端子２５が取り付けられている。
【００７４】
前述したように、制御手段２２は、バイアス電源１４を制御してバイアス電源１４から各放射線検出素子７に印加するバイアス電圧を設定したり可変させたりするなど、放射線画像撮影装置１の各機能部の動作を制御するようになっている。
【００７５】
なお、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出等については、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０について説明した後で説明する。
【００７６】
［放射線画像撮影システム］
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影システムについて説明する。図１１や図１２は、本実施形態に係る放射線画像撮影システムの構成を示す図である。
【００７７】
図１１は、病院等の撮影室Ｒ１や前室（操作室等ともいう。）Ｒ２等に放射線画像撮影システム５０が構築された場合を示す図であり、図１２は、放射線画像撮影システム５０が病室Ｒ３に搬入される回診車７１上に構築された場合を示す図である。なお、図１２において、Ｈは被写体である被験者を表し、Ｂは被験者が横臥するベッドＢを表す。
【００７８】
以下、図１１に示すように、放射線画像撮影システム５０が、撮影室Ｒ１等に構築された場合について主に説明するが、図１２に示した回診車７１上に構築された場合について
も同様に説明される。
【００７９】
図１１に示すように、撮影室Ｒ１には、ブッキー装置５１が設置されており、ブッキー装置５１は、そのカセッテ保持部（カセッテホルダともいう。）５１ａに上記の放射線画像撮影装置１を装填して用いることができるようになっている。
【００８０】
なお、図１１では、ブッキー装置５１として、立位撮影用のブッキー装置５１Ａと臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂが設置されている場合が示されているが、例えば、立位撮影用のブッキー装置５１Ａのみ、或いは、臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂのみが設けられていてもよい。
【００８１】
放射線画像撮影装置１をブッキー装置５１に装填する際に、例えば前述した図３に示したように、放射線画像撮影装置１のコネクタ３９に、ブッキー装置５１から延設されたケーブルＣａの先端に設けられたコネクタＣを接続した状態で装填するように構成することが可能である。
【００８２】
なお、この場合、放射線画像撮影装置１は、コネクタ３９やケーブルＣａを介してコンソール５８との間で有線方式で信号の送受信等を行ったり、画像処理装置としてのコンソール５８への画像データＤの送信等を行うことが可能となることは前述した通りである。
【００８３】
また、図１２に示したように、放射線画像撮影システム５０を回診車７１上に構築した場合、図１８に示したように放射線画像撮影装置１にケーブルＣａを接続した状態で撮影を行ってもよいが、ケーブルＣａが放射線技師等の撮影動作の邪魔になるような場合には、放射線画像撮影装置１にケーブルＣａを接続しない状態で撮影が行われる。
【００８４】
撮影室Ｒ１には、図１１に示すように、被写体を介してブッキー装置５１に装填された放射線画像撮影装置１に放射線を照射する放射線源５２が少なくとも１つ設けられている。本実施形態では、放射線源５２の位置を移動させたり、放射線の照射方向を変えることで、１つの放射線源５２で、立位撮影用のブッキー装置５１Ａと臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂのいずれにも放射線を照射することができるようになっている。
【００８５】
一方、回診車７１上に構築された放射線画像撮影システム５０では、図１２に示すように、放射線画像撮影装置１はブッキー装置５１には装填されず、いわば単独の状態で用いられる。そして、例えば、患者Ｈが病室Ｒ３のベッドＢから起き上がれず、撮影室Ｒ１に行くことができないような場合に、図１２に示すように放射線画像撮影装置１をベッドＢと患者の身体との間に差し込んだり患者の身体にあてがったりして用いることができるようになっている。
【００８６】
また、放射線画像撮影装置１を病室Ｒ３等で用いる場合、前述した撮影室Ｒ１に据え付けられた放射線発生装置５５や放射線源５２を病室Ｒ３に持ち込むことができないため、図１２に示すように、放射線発生装置５５が例えば回診車７１に搭載される等して病室Ｒ３に持ち込まれる。
【００８７】
そして、この場合、放射線源５２Ｐは任意の方向に放射線を照射できるように構成される。そして、ベッドＢと患者の身体との間に差し込まれたり患者の身体にあてがわれたりした放射線画像撮影装置１に対して、適切な距離や方向から放射線を照射するように調整される。
【００８８】
なお、図１１に示したように、撮影室Ｒ１内においても、放射線画像撮影装置１を、例えば臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂ上に横臥した患者の身体と臥位撮影用のブッキー装
置５１Ｂとの間に差し込んだり、臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂ上で患者の身体にあてがったりして用いることも可能である。そして、この場合、放射線源５２としては、ポータブルの放射線源を用いることも可能であり、また、撮影室Ｒ１に据え付けられた放射線源５２を用いることも可能である。
【００８９】
図１１に示すように、撮影室Ｒ１には、撮影室Ｒ１内の各装置等や撮影室Ｒ１外の各装置等の間の通信等を中継するための中継器（基地局等ともいう。）５４が設けられている。なお、本実施形態では、中継器５４には、放射線画像撮影装置１が無線方式で画像データＤや信号等の送受信を行うことができるように、無線アンテナ（アクセスポイント等ともいう。）５３が設けられている。
【００９０】
また、中継器５４は、放射線発生装置５５やコンソール５８と接続されており、中継器５４には、放射線画像撮影装置１やコンソール５８等から放射線発生装置５５に送信するＬＡＮ通信用の信号等を放射線発生装置５５用の信号等に変換し、また、その逆の変換も行う図示しない変換器が内蔵されている。
【００９１】
なお、図１２に示した回診車７１上に構築された放射線画像撮影システム５０では、放射線発生装置５５内に、或いは外付けで、ＬＡＮ通信用の信号等を放射線発生装置５５用の信号等に変換し、その逆の変換も行う図示しない変換器が設けられており、この変換器に無線アンテナ５３が取り付けられている。
【００９２】
前室（操作室ともいう。）Ｒ２には、本実施形態では、放射線発生装置５５の操作卓５７が設けられており、操作卓５７には、放射線技師等が操作して放射線発生装置５５に対して放射線の照射開始等を指示するための曝射スイッチ５６が設けられている。そして、本実施形態では、放射線技師等が曝射スイッチ５６を操作することで放射線源５２から放射線が照射されるようになっている。
【００９３】
図１２に示した回診車７１上に構築された放射線画像撮影システム５０では、回診車７１に搭載された放射線発生装置５５が操作卓５７の役割も果たしており、放射線発生装置５５に、図１２では図示を省略した曝射スイッチ５６が取り付けられている。
【００９４】
放射線発生装置５５は、このほか、放射線源５２から適切な線量の放射線が照射されるように、放射線源５２に所定の管電流や管電圧を供給したり放射線源５２からの放射線の照射時間を調整する等して、放射線源５２を制御するようになっている。
【００９５】
本実施形態では、コンピュータ等で構成されたコンソール５８が、図１１の場合には前室Ｒ２に設けられており、図１２の場合には、回診車７１に搭載されている。なお、図１１の場合に、コンソール５８を撮影室Ｒ１や前室Ｒ２の外側や別室等に設けるように構成することも可能であり、コンソール５８の設置場所は適宜決められる。
【００９６】
本実施形態では、コンソール５８には、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）やＬＣＤ（Liquid
Crystal Display）等を備えて構成される表示部５８ａ（図１２では図示省略）が設けられており、また、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等で構成された記憶手段５９（図１２では図示省略）が接続、或いは内蔵されている。
【００９７】
コンソール５８は、放射線画像撮影装置１から画像データＤ等が送信されてくると、それに基づいて表示部５８ａ上にプレビュー画像を表示するようになっている。そして、放射線技師等は、表示されたプレビュー画像を見て、画像中に被写体が撮影されているかや画像中での被写体の撮影位置が適切であるか等を確認して、再撮影の要否等を判断するようになっている。
【００９８】
また、本実施形態では、コンソール５８は、画像処理装置として機能するようにもなっており、放射線技師等により再撮影の必要がないと判断された場合には、画像データＤにオフセット補正やゲイン補正、欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっている。なお、画像処理装置としてのコンソール５８における画像処理については、後で説明する。
【００９９】
［放射線の照射開始の検出の制御構成について］
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出処理の制御構成について説明する。
【０１００】
本実施形態では、放射線画像撮影装置１と放射線発生装置５５との間でインターフェースが構築されず、放射線画像撮影装置１自体で放射線源５２から放射線が照射されたことを検出するようになっている。以下、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１で行われる放射線の照射開始の検出の仕方について説明する。
【０１０１】
なお、本実施形態に係る検出方法は、本発明者らの研究により新たに見出された検出方法であり、前述した特許文献４や特許文献５に記載されているように、装置内に電流検出手段を設けて電流検出手段からの出力値に基づいて放射線の照射開始等を検出する手法は採用されていない。本発明者らの研究により新たに見出された検出方法としては、例えば、下記の２つの検出方法のいずれかを採用することが可能である。
【０１０２】
［検出方法１］
例えば、放射線画像撮影において放射線画像撮影装置１に放射線が照射される前に、リークデータｄleakの読み出し処理を繰り返し行うように構成することも可能である。ここで、リークデータｄleakとは、図１３に示すように、各走査線５にオフ電圧を印加した状態で、オフ状態になっている各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７からリークする電荷ｑの信号線６ごとの合計値に相当するデータである。
【０１０３】
そして、リークデータｄleakの読み出し処理では、図１０に示した画像データＤの読み出し処理の場合と異なり、図１４に示すように、走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加して各ＴＦＴ８をオフ状態とした状態で、制御手段２２から各読み出し回路１７の相関二重サンプリング回路１９（図７、８のＣＤＳ参照）にパルス信号Ｓｐ１、Ｓｐ２を送信するようになっている。
【０１０４】
相関二重サンプリング回路１９は、制御手段２２からパルス信号Ｓｐ１が送信されると、その時点で増幅回路１８から出力されている電圧値Ｖinを保持する。そして、増幅回路１８のコンデンサ１８ｂに各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７からリークする電荷ｑが蓄積されて増幅回路１８から出力される電圧値が上昇し、制御手段２２からパルス信号Ｓｐ２が送信されると、相関二重サンプリング回路１９は、その時点で増幅回路１８から出力されている電圧値Ｖfiを保持する。
【０１０５】
そして、相関二重サンプリング回路１９が電圧値の差分Ｖfi−Ｖinを算出して出力した値が、リークデータｄleakとなる。リークデータｄleakが、その後、Ａ／Ｄ変換器２０でデジタル値に変換されることは、前述した画像データＤの読み出し処理の場合と同様である。
【０１０６】
しかし、リークデータｄleakの読み出し処理のみを繰り返し行うように構成すると、各ＴＦＴ８がオフ状態のままとなってしまい、各放射線検出素子７内で発生した暗電荷が各放射線検出素子７内に蓄積され続ける状態になってしまう。
【０１０７】
そのため、上記のように、放射線画像撮影前に、リークデータｄleakの読み出し処理を繰り返し行うように構成する場合には、図１５に示すように、各走査線５にオフ電圧を印加した状態で行うリークデータｄleakの読み出し処理と、走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返し行うように構成することが望ましい。なお、図１５や後述する図１６等のＴやτについては後で説明する。
【０１０８】
このように放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返して行うように構成した場合、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されると、シンチレータ３（図２参照）で放射線から変換された電磁波が、各ＴＦＴ８に照射される。そして、それにより、各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７からリークする電荷ｑ（図１３参照）がそれぞれ増加することが本発明者らの研究で分かった。
【０１０９】
そして、例えば図１６に示すように、放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返して行う場合、図１７に示すように、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始された時点で読み出されたリークデータｄleakが、それ以前に読み出されたリークデータｄleakよりも格段に大きな値になる。
【０１１０】
なお、図１６および図１７では、図１６で走査線５のラインＬ４にオン電圧が印加されてリセット処理が行われた後の４回目の読み出し処理で読み出されたリークデータｄleakが、図１７の時刻ｔ１におけるリークデータｄleakに対応する。また、図１６において「Ｒ」は各放射線検出素子７のリセット処理を表し、「Ｌ」はリークデータｄleakの読み出し処理を表す。なお、図１６中のＴacについては後で説明する。
【０１１１】
そこで、放射線画像撮影装置１の制御手段２２で、放射線画像撮影前のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出されたリークデータｄleakを監視するように構成し、読み出されたリークデータｄleakが、例えば予め設定された所定の閾値ｄleak_th（図１７参照）を越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することができる。
【０１１２】
そして、この場合、制御手段２２は、上記のようにして、放射線の照射が開始されたことを検出すると、図１６に示したように、その時点で各走査線５へのオン電圧の印加を停止して、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の全てのラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させ、各ＴＦＴ８をオフ状態にして、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷を各放射線検出素子７内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。
【０１１３】
そして、例えば放射線の照射開始を検出してから所定時間が経過した後、制御手段２２は、放射線画像撮影前のリークデータｄleakの読み出し処理で放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された走査線５（図１６の場合は走査線５のラインＬ４）の次にオン電圧を印加すべき走査線５（図１６の場合は走査線５のラインＬ５）からオン電圧の印加を開始し、各走査線５にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データＤの読み出し処理を行うように構成される。
【０１１４】
なお、図１６では、本画像としての画像データＤの読み出し処理を、放射線の照射開始を検出した時点でオン電圧が印加された走査線５のラインＬｎの次にラインＬn+1からオン電圧の印加を開始して行う場合を示したが、例えば、走査線５の最初のラインＬ１等からオン電圧の印加を開始して画像データＤの読み出し処理を行うように構成することも可
能である。
【０１１５】
［検出方法２］
また、上記の検出方法１のように、放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理を行うように構成する代わりに、放射線画像撮影前に、図１８に示すように、走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して、各放射線検出素子７からの画像データｄの読み出し処理を繰り返し行うように構成することも可能である。
【０１１６】
なお、前述したように、撮影直後に行われる上記の本画像としての画像データＤと区別して、以下、この放射線画像撮影前に放射線の照射開始の検出用に読み出される照射開始検出用の画像データを、画像データｄという。また、図１８中において、１フレームとは、検出部Ｐ（図４や図７参照）上に二次元状に配列された１面分の各放射線検出素子７から画像データｄの読み出し処理を行う期間をいう。
【０１１７】
また、画像データｄの読み出し処理における読み出し回路１７の増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃのオン／オフや、相関二重サンプリング回路１９へのパルス信号Ｓｐ１、Ｓｐ２の送信等は、図１９に示すように、図１０に示した画像データＤの読み出し処理における処理と同様に行われる。なお、図１９等におけるΔＴについては後で説明する。
【０１１８】
上記のように放射線画像撮影前に画像データｄの読み出し処理を行うように構成した場合、図２０に示すように、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されると、その時点で読み出された画像データｄ（図２０では走査線５のラインＬｎにオン電圧が印加されて読み出された画像データｄ）が、前述した図１７に示したリークデータｄleakの場合と同様に、それ以前に読み出された画像データｄよりも格段に大きな値になる。
【０１１９】
そこで、放射線画像撮影装置１の制御手段２２で、放射線画像撮影前の読み出し処理で読み出された画像データｄを監視するように構成し、読み出された画像データｄが予め設定された所定の閾値ｄthを越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することができる。
【０１２０】
そして、この場合、制御手段２２は、上記のようにして、放射線の照射が開始されたことを検出すると、図２０に示すように、その時点で各走査線５へのオン電圧の印加を停止して、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の全てのラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させ、各ＴＦＴ８をオフ状態にして、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷を各放射線検出素子７内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。
【０１２１】
そして、例えば放射線の照射開始を検出してから所定時間が経過した後、制御手段２２は、放射線画像撮影前の画像データｄの読み出し処理で放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された走査線５（図２０の場合は走査線５のラインＬｎ）の次にオン電圧を印加すべき走査線５（図２０の場合は走査線５のラインＬn+1）からオン電圧の印加を開始し、各走査線５にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データＤの読み出し処理を行うように構成される。
【０１２２】
なお、図２０に示した場合においても、本画像としての画像データＤの読み出し処理を、例えば走査線５の最初のラインＬ１等からオン電圧の印加を開始して行うように構成することが可能である。また、図２０中のΔＴやτについては後で説明する。
【０１２３】
［放射線の照射終了の検出について］
例えば、上記の検出方法１において、図１６に示したように、放射線の照射が開始されたことを検出した後、各走査線５にオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子７のリセット処理は停止して電荷蓄積状態に移行する。
【０１２４】
そして、その際、例えば図２１に示すように、電荷蓄積状態で、各走査線５にオフ電圧を印加して行うリークデータｄleakの読み出し処理を続行するように構成して、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射の終了を検出するように構成することも可能である。
【０１２５】
放射線の照射開始検出後、リークデータｄleakの読み出し処理を続行するように構成すると、電荷蓄積状態では既に放射線の照射が開始されているため、図２２に示すように、読み出されるリークデータｄleakは大きな値になっているが、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が終了すると、リークデータｄleakは元の小さな値に戻る。
【０１２６】
そのため、例えば時刻ｔ２でリークデータｄleakが閾値ｄleak_th＊以下の値になったことをもって放射線の照射が終了したことを検出することが可能となる。
【０１２７】
なお、この場合の閾値ｄleak_th＊は、上記の検出方法１で放射線の照射開始を検出する際の閾値と同じ値ｄleak_thであってもよく、別の値として設定することも可能である。また、図２２では、時刻ｔ２で放射線の照射の終了を検出した後もリークデータｄleakの読み出し処理を引き続き行ってリークデータｄleakを読み出す場合が示されているが、実際には、下記のように、放射線の照射の終了を検出するとリークデータｄleakの読み出し処理は停止される。
【０１２８】
図２２に示したように、リークデータｄleakが閾値ｄleak_th＊以下の値になり、放射線の照射が終了したことが検出された時点（図２１では「Ａ」参照。図２２の時刻ｔ２に対応する。）で、各走査線５へのオン電圧の順次の印加を開始して本画像としての画像データＤの読み出し処理を開始するように構成することが可能となる。
【０１２９】
このように構成すれば、図２１に示したように、放射線の照射の終了を検出した後、すぐに画像データＤの読み出し処理を開始することが可能となり、画像データＤの読み出し処理以降の処理を早期に行うことが可能となるといった利点がある。
【０１３０】
なお、この電荷蓄積状態においてリークデータｄleakの読み出し処理を行って放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射の終了を検出する手法を、上記の検出方法２で行うように構成することも可能である。
【０１３１】
［改良された放射線の照射開始の検出方法について］
ところで、上記の検出方法１、２は、以下のように改良することができる。なお、以下では、前述した検出方法１、すなわち放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理を行い、読み出したリークデータｄleakに基づいて放射線の照射開始を検出する場合について説明するが、上記の検出方法２についても同様にあてはまる。
【０１３２】
上記の検出方法１を採用して放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始を検出するように構成する場合、放射線画像撮影装置１の検出部Ｐ（図４や図７等参照）には、通常、数千本から数万本の信号線６が配線されており、各信号線６にそれぞれ読み出し回路１７が設けられているため、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出されるリークデータｄleakの数は、数千個から数万個の数になる。
【０１３３】
そして、それらの全てのリークデータｄleakについて、上記のように閾値を越えたか否かを判断する処理を各読み出し処理ごとに行うように構成すると、処理が重くなり、リア
ルタイムで放射線の照射開始を検出することができなくなる虞れがある。そこで、以下のような検出手法を採用することが可能である。
【０１３４】
［検出手法Ａ］
読み出しＩＣ１６（図７参照）内には、例えば、１２８個や２５６個の読み出し回路１７が形成されて内蔵されている。すなわち、１個の読み出しＩＣ１６には、１２８本や２５６本等の信号線６が接続されている。そして、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で、１個の読み出しＩＣ１６から各信号線６ごとに１２８個や２５６個のリークデータｄleakが読み出される。
【０１３５】
いま、仮に信号線６が４０９６本設けられており、１個の読み出しＩＣ１６に２５６個の読み出し回路１７が内蔵されている（すなわち１個の読み出しＩＣ１６に２５６本の信号線６が接続されている）とすると、読み出しＩＣ１６の数は、全部で４０９６÷２５６＝１６個になる。
【０１３６】
そこで、例えば、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で１つの読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの合計値や平均値、中間値、最大値等（以下、これらを代表して平均値という。）を算出し、各読み出しＩＣ１６について算出したリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)が、それぞれ閾値を越えたか否かを判断するように構成することが可能である。
【０１３７】
なお、平均値ｄleak_ave(z)中のｚは、読み出しＩＣ１６の番号であり、上記の例では、読み出しＩＣ１６は１６個設けられているため、ｚは１から１６までの値をとる。
【０１３８】
この検出手法Ａのように構成すれば、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、上記の例で言えば、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出される４０９６個のリークデータｄleakについて各々閾値を越えたか否かを判断する必要がなくなり、各読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの１６個の平均値ｄleak_ave(z)について閾値を越えたか否かを判断するだけで済む。そのため、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始の判断処理が軽くなる。
【０１３９】
［検出手法Ｂ］
また、さらに判断処理を軽くするために、制御手段２２で、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で１つの読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakから算出した１６個の平均値ｄleak_ave(z)の中から最大値を抽出し、リークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)の最大値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することも可能である。
【０１４０】
しかし、この場合、各読み出しＩＣ１６内の各読み出し回路１７におけるデータの読み出し効率が問題になる場合がある。すなわち、各読み出し回路１７（図７等参照）のデータの読み出し効率は、通常、各読み出し回路１７ごとに異なり、各放射線検出素子７から信号線６にリークする電荷ｑの合計値（図１３参照）が信号線６ごとに同じであったとしても、他の読み出し回路１７よりも常に大きな値のリークデータｄleakを読み出す読み出し回路１７もあれば、他の読み出し回路１７よりも常に小さな値のリークデータｄleakを読み出す読み出し回路１７もある。
【０１４１】
このような状況において、例えば図２３に示すように、放射線画像撮影装置１に対して放射線が、検出部Ｐの中央部分に照射野Ｆが絞られた状態で照射され、他の読み出し回路１７よりも常に大きな値のリークデータｄleakを読み出す読み出し回路１７に接続されている信号線６ａが照射野Ｆ外に存在する場合を考える。
【０１４２】
このような場合、図２４に示すように、照射野Ｆ内に存在する信号線６に接続されている読み出し回路１７を含む読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)（図中のγ参照）が放射線の照射により上昇しても、照射野Ｆ外に存在する信号線６ａに接続されている読み出し回路１７を含む読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)（図中のδ参照）を越えない場合が生じ得る。
【０１４３】
そして、このような場合、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で１つの読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakから算出した１６個の平均値ｄleak_ave(z)の中から最大値を抽出すると、図中δで示されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)が抽出されるが、抽出されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)は放射線の照射によっても変動しないため、結局、閾値を越えなくなり、放射線の照射を検出することができなくなる。
【０１４４】
そこで、このような問題を回避するために、例えば、各読み出し処理ごとに各読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)の移動平均を、読み出しＩＣ１６ごとに算出するように構成することが可能である。
【０１４５】
すなわち、１回のリークデータｄleakの読み出し処理ごとに読み出しＩＣ１６から出力されるリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)を算出するごとに、当該読み出し処理の直前の読み出し処理を含む所定回数分の過去の各読み出し処理の際に算出された、読み出しＩＣ１６ごとのリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)の平均（すなわち移動平均）を算出するように構成する。
【０１４６】
そして、読み出しＩＣ１６ごとに、今回の読み出し処理で算出したリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)と、算出した移動平均との差分Δｄを算出するように構成することが可能である。
【０１４７】
そして、制御手段２２で、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakから算出した平均値ｄleak_ave(z)と、それぞれに対応する移動平均との差分Δｄを、各読み出しＩＣ１６ごとにそれぞれ算出し、算出した差分Δｄ（上記の例では１６個の差分Δｄ）の中から最大値を抽出し、差分Δｄの最大値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することが可能である。
【０１４８】
このように構成すれば、読み出しＩＣ１６内に設けられた読み出し回路１７ごとに読み出し効率にばらつきがあったとしても、同じ読み出し効率で読み出されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)と移動平均との差分Δｄを算出することで、読み出し効率によるばらつきが相殺される。
【０１４９】
そのため、上記差分Δｄが、読み出しＩＣ１６ごとに、純粋にリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)が過去のデータから増加したか否かのみを反映する値になり、それに基づいて放射線の照射開始を検出するように構成することで、図２４に示したような問題が発生することを的確に防止することが可能となる。
【０１５０】
［検出手法Ｃ］
また、制御手段２２で、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で１つの読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakから算出した１６個の平均値ｄleak_ave(z)と、それぞれに対応する移動平均との差分Δｄをそれぞれ算出するが、算出した差分Δｄの中から最大値だけでなく最小値も抽出し、差分Δｄの最大値と最小値との差が、閾値を越
えたか否かを判断するように構成することも可能である。
【０１５１】
［検出手法Ｄ］
また、放射線源５２から放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量が非常に小さい場合、上記の検出手法Ａ〜Ｃに従って算出する読み出しＩＣ１６ごとのリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)（検出手法Ａ）や、読み出しＩＣ１６ごとのリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)と移動平均との差分Δｄ（検出手法Ｂ）、或いは差分Δｄの最大値と最小値との差（検出手法Ｃ）が小さく、放射線が照射されてもそれらの値が閾値を越えない場合があり得る。
【０１５２】
そこで、例えば、読み出しＩＣ１６ごとに、リークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)と移動平均との差分Δｄの時間的な積分値（すなわち積算値）を算出し、この積分値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することも可能である。
【０１５３】
このように構成すると、放射線画像撮影装置１に放射線が照射されないうちは、リークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)がゆらいで移動平均よりも大きくなったり小さくなったりするため、それらの差分Δｄの積分値は０に近い値で推移する。しかし、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されると、リークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)は移動平均よりも大きな値になるため、それらの差分Δｄは、正の値になる場合が多くなる。
【０１５４】
そのため、上記のように構成すれば、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されないうちは積分値が閾値を越えることはないが、放射線の照射が開始されると、積分値が増加していき、閾値を越えるようになる。そのため、上記のように構成することで、放射線源５２から放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量が非常に小さい場合でも、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。
【０１５５】
なお、上記の検出手法Ａ〜Ｄのいずれか１つの検出手法を採用するように構成することも可能である。また、例えば、検出手法Ａ〜Ｄのうちの複数の手法或いは全ての手法を併用して行うように構成し、いずれか１つの検出手法で放射線の照射開始が検出された場合に、制御手段２２が放射線の照射が開始されたと判断するように構成することも可能である。
【０１５６】
また、上記の検出方法１において、放射線画像撮影前の各放射線検出素子７のリセット処理で、ある走査線５に対するオン電圧の印加を開始してから次の走査線５に対するオン電圧の印加を開始するまでの周期τ（図１５や図１６等参照）を長くして、制御手段２２から送信する２回のパルス信号Ｓｐ１、Ｓｐ２の送信間隔Ｔを長くすると、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出されるリークデータｄleakの値が大きくなり、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度が向上する。
【０１５７】
また、上記の検出方法２において、放射線画像撮影前の画像データｄの読み出し処理で、各ＴＦＴ８をオン状態とする時間ΔＴ（図１９や図２０参照）、すなわち走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから走査線５にオン電圧を印加してからオフ電圧に切り替えるまでの時間ΔＴを長くすると、１回の画像データｄの読み出し処理で読み出される画像データｄの値が大きくなり、やはり放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度が向上する。
【０１５８】
このように、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度を向上させること等を目的として、上記の検出手法Ａ〜Ｄ以外にも、放射線画像撮影装置１における放
射線の照射開始の検出方法については種々の改良が可能である。
【０１５９】
［オフセットデータの取得について］
一方、図１６や図２０に示したように、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、上記のようにして放射線の照射開始を検出すると、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の全てのラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させて電荷蓄積状態に移行させる。そして、その後、各走査線５にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データＤの読み出し処理を行う。
【０１６０】
ところで、放射線検出素子７内では、放射線検出素子７自体の熱（温度）による熱励起等により、いわゆる暗電荷が常時発生している。そして、前述した画像データＤの読み出し処理で読み出された画像データＤにも、この暗電荷に起因するオフセット分が重畳されている。
【０１６１】
そこで、画像処理装置としてのコンソール５８での画像データＤに基づく放射線画像の生成処理では、画像データＤからこの暗電荷に起因するオフセット分を差し引いて、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷のみに基づく真の画像データ（以下、真の画像データＤ＊という。）を算出し、この真の画像データＤ＊に基づいて放射線画像が生成される。
【０１６２】
そして、この画像データＤに重畳される暗電荷に起因するオフセット分をオフセットデータＯとして取得する処理が、通常、放射線画像撮影装置１で、放射線画像撮影の前や後に行われる。本実施形態では、制御手段２２は、画像データＤの読み出し処理（図１６等参照）までの一連の処理シーケンスを繰り返して、オフセットデータＯの読み出し処理を行うようになっている。
【０１６３】
すなわち、例えば上記の検出方法１を採用する場合、制御手段２２は、図２５に示すように、画像データＤの読み出し処理後、図１６に示した放射線画像撮影前のリークデータｄleakの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理の繰り返しから電荷蓄積状態への移行、画像データＤの読み出し処理までの一連の処理シーケンスを繰り返して、オフセットデータＯの読み出し処理を行うようになっている。
【０１６４】
なお、オフセットデータＯの読み出し処理における電荷蓄積状態では、暗電荷のみを各放射線検出素子７内に蓄積させるために、放射線画像撮影装置１に対して放射線は照射されない。そのため、画像データＤの読み出し処理の後、オフセットデータＯにおける電荷蓄積状態への移行前に、図２５に示したように、リークデータｄleakの読み出し処理を各放射線検出素子７のリセット処理と交互に行う必要はなく、リークデータｄleakの読み出し処理を行わずに、各放射線検出素子７のリセット処理のみを行うように構成することも可能である。
【０１６５】
また、図２５では、画像データＤの読み出し処理後に、各放射線検出素子７のリセット処理を１回（すなわち走査線５のラインＬn+1〜Ｌｘ、Ｌ１〜Ｌｎにオン電圧を順次印加して行うリセット処理を）行う場合を示したが、各放射線検出素子７のリセット処理を複数回行うように構成することも可能である。
【０１６６】
各放射線検出素子７内に蓄積される暗電荷の量は、当該放射線検出素子７に接続されているＴＦＴ８がオフ状態とされていた時間すなわち図１６における時間Ｔac（なお、以下、この時間Ｔacを実効蓄積時間Ｔacという。）に比例して増大する。そして、蓄積された暗電荷はオフセットデータＯとして読み出されるが、オフセットデータＯの大きさも、ＴＦＴ８がオフ状態とされていた時間すなわち図２５における実効蓄積時間Ｔacに依存して
変化する。
【０１６７】
その際、上記のように、本画像としての画像データＤの読み出し処理までの処理シーケンスと、オフセットデータＯの読み出し処理までの処理シーケンスを同じ処理シーケンスとすれば、オフセットデータＯの読み出し処理の際にＴＦＴ８がオフ状態とされていた実効蓄積時間Ｔac（図２５参照）が、本画像としての画像データＤの読み出し処理の際の実行蓄積時間Ｔac（図１６参照）と同じ時間になる。
【０１６８】
そのため、画像データＤに重畳されている暗電荷に起因するオフセット分と、オフセットデータＯの読み出し処理で読み出されるオフセットデータＯとが同じ値になるため、画像データＤからオフセットデータＯを差し引くことで、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷のみに基づく真の画像データＤ＊を算出することが可能となるのである。
【０１６９】
放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、上記のようにして本画像としての画像データＤを読み出すと、読み出した画像データＤをコンソール５８に送信し、また、上記のようにしてオフセットデータＯの読み出し処理を行うと、読み出したオフセットデータＯをコンソール５８に送信するようになっている。
【０１７０】
［画像処理装置における線欠陥の修復処理について］
次に、画像処理装置としてのコンソール５８で、画像データＤ等に基づいて放射線画像の生成処理を行う前に行われる線欠陥の修復処理について説明する。また、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０の作用についてもあわせて説明する。
【０１７１】
なお、本実施形態では、コンソール５８は、線欠陥の修復処理を行った後、修復後の画像データ（すなわち後述する真の画像データ）に対してゲイン補正や欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっているが、この所定の画像処理は公知の技術であり、説明を省略する。
【０１７２】
また、本実施形態では、上記のように、コンソール５８が画像処理装置として機能するようになっているが、コンソール５８とは別体として画像処理装置を設けてもよい。
【０１７３】
ここで、画像データＤ中に発生する線欠陥について簡単に説明する。以下では、上記の検出方法２（図２０等参照）すなわち放射線画像撮影前に画像データｄの読み出し処理を行う場合について説明する。
【０１７４】
検出方法２では、上記のように、読み出した画像データｄが増加することに基づいて放射線の照射開始を検出するが、読み出した画像データｄが増加するということは、結局、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部、すなわち本画像としての画像データＤとして読み出されるべき電荷の一部が、放射線画像撮影前に画像データｄとして各放射線検出素子７内から失われてしまうことを意味する。
【０１７５】
すなわち、図２０に示した例で言えば、走査線５のラインＬｎにオン電圧を印加した時点で放射線の照射開始が検出されているが、これは、走査線５のラインＬｎに接続されている各放射線検出素子７からは、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部が失われたことを意味する。
【０１７６】
そのため、後の本画像としての画像データＤの読み出し処理で、走査線５のラインＬｎに接続されている各放射線検出素子７から読み出された各画像データＤには、有用な電荷の一部の欠損が生じていることになる。すなわち、当該各画像データＤは、本来の値より
も若干小さな値になっている。そして、例えば図２６に示すように、画像データＤ中（或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中）の走査線５のラインＬｎに対応する部分に、欠損を生じている画像データＤの線、すなわち線欠陥が現れることになる。
【０１７７】
この線欠陥が現れる現象は、上記の検出方法１を採用した場合でも同様である。すなわち、例えば図１６に示したタイミングで放射線の照射開始が検出された場合、４回目のリークデータｄleakの読み出し処理の直前に各放射線検出素子７のリセット処理が行われた走査線５のラインＬ４では、リセット処理により、この走査線５に接続されている各放射線検出素子７内から放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部が失われてしまっている可能性がある。
【０１７８】
そのため、放射線の照射開始が検出されたリークデータｄleakの読み出し処理の直前にオン電圧が印加されてリセット処理が行われた走査線５では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに、有用な電荷の一部に欠損を生じている可能性がある。
【０１７９】
そのため、上記の検出方法１を採用した場合でも、放射線の照射開始を検出したリークデータｄleakの読み出し処理の直前にリセット処理でオン電圧が印加された走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤについて、やはり図２６に示したような線欠陥が生じ得る。
【０１８０】
一方、放射線源５２から照射される放射線の強度の立ち上がりが遅い場合や、放射線画像撮影装置１の検出感度が低いような場合には、例えば検出方法２を採用した場合、図２７に示すように、実際に放射線源５２からの放射線の照射が開始されてから、放射線画像撮影装置１で放射線の照射が開始されたことを検出するまでに時間がかかる場合がある。
【０１８１】
そして、このように放射線の照射開始の検出が遅れると、その間に、何回か画像データｄの読み出し処理が行われてしまう場合がある。
【０１８２】
また、図示を省略するが、検出方法２を採用した場合も同様であり、実際に放射線源５２からの放射線の照射が開始されてから、放射線画像撮影装置１で放射線の照射が開始されたことを検出するまでに時間がかかると、その間に、何回か、リークデータｄleakの読み出し処理と交互に行う各放射線検出素子７のリセット処理が行われてしまう場合がある。
【０１８３】
そして、例えば図２７に示したように、放射線画像撮影前の画像データｄの読み出し処理で、走査線５のラインＬｎにオン電圧を印加して画像データｄの読み出し処理が行われた時点で放射線源５２からの放射線の照射が開始され、走査線５のラインＬn+2にオン電圧を印加して行われた画像データｄの読み出し処理で放射線の照射開始が検出された場合には、図２８に示すように、走査線５のラインＬｎ〜Ｌn+2に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに欠損が生じる。
【０１８４】
そして、走査線５のラインＬｎ〜Ｌn+2に対応する部分に線欠陥が生じる。すなわち、上記のように放射線画像撮影装置１の検出感度が低い場合等には、図２８に示すように、線欠陥が連続して発生する状態になる。
【０１８５】
そこで、図２６や図２８に示したように画像データＤ中に発生する線欠陥を、画像処理装置としてのコンソール５８で修復することが必要になる。
【０１８６】
しかし、その際、放射線画像撮影装置１自体では、実際に放射線源５２からどのタイミ
ングで放射線画像撮影装置１に対して放射線の照射が開始されたかを認識することができない。
【０１８７】
すなわち、例えば図２７の例で言えば、放射線画像撮影前の画像データｄの読み出し処理で、走査線５のラインＬｎにオン電圧を印加して画像データｄの読み出し処理が行われた時点で放射線源５２からの放射線の照射が開始されたことを、放射線画像撮影装置１は認識することができない。
【０１８８】
放射線画像撮影装置１自体では、ただ、走査線５のラインＬn+2にオン電圧を印加して行われた画像データｄの読み出し処理で読み出された画像データｄに基づいて、放射線の照射開始が検出されるだけである。これは、検出方法１を採用した場合も同様である。
【０１８９】
そこで、本実施形態では、以下のようにして、画像処理装置としてのコンソール５８が画像データＤ（本実施形態では真の画像データＤ＊。以下同じ）のプロファイルを解析して、放射線源５２から放射線の照射が開始された後で各放射線検出素子７のリセット処理（検出方法１）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２）が行われて、欠損を生じている画像データＤの範囲を特定するようになっている。そして、コンソール５８は、欠損を生じているとして特定した範囲の画像データＤを修復するようになっている。
【０１９０】
以下、画像処理装置としてのコンソール５８での画像データＤの線欠陥の修復処理について説明する。
【０１９１】
上記のように、画像データＤには暗電荷に起因するオフセット分が含まれているため、各画像データＤの値にばらつきが生じている場合が多い。そして、このようにばらつきがある画像データＤに基づいて上記の範囲を特定しようとすると、範囲が適切に特定できなくなる虞れがある。
【０１９２】
そこで、本実施形態では、コンソール５８は、修復すべき画像データＤの範囲の特定処理を行う前に、まず、放射線画像撮影装置１から送信されてきた放射線画像撮影後の画像データＤとオフセット補正値Ｏに基づいて、下記（１）式に従って、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷のみに相当し暗電荷分を含まない真の画像データＤ＊を各放射線検出素子７ごとに算出するようになっている。
Ｄ＊＝Ｄ−Ｏ …（１）
【０１９３】
そして、本実施形態では、算出されたこれらの真の画像データＤ＊を対象として、以下で説明する修復処理を行うようになっている。しかし、例えば画像データＤ自体にさほどばらつきがないような場合には、オフセットデータＯを減算していない画像データＤ自体を対象として修復処理を行うように構成することも可能である。
【０１９４】
コンソール５８は、続いて、算出した真の画像データＤ＊を、真の各画像データＤ＊に対応する放射線画像撮影装置１の信号線６（図４や図７等参照）の延在方向に並べてプロットした場合に形成される真の画像データＤ＊のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するようになっている。
【０１９５】
ここで、各放射線検出素子７を、当該放射線検出素子７が接続されている信号線６のライン番号ｍと走査線５のライン番号ｎとを用いて（ｍ，ｎ）で表し、各放射線検出素子（ｍ，ｎ）から読み出された画像データＤから算出された真の画像データＤ＊をＤ＊（ｍ，ｎ）と表す。
【０１９６】
上記のようにして算出した真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の中から、ある信号線６（こ
の信号線６のライン番号をＭとする。）に接続されている各放射線検出素子（Ｍ，ｎ）から読み出された画像データＤ等に基づいて算出された真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）を抽出する。
【０１９７】
そして、抽出した真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）を走査線５のライン番号ｎの順にプロットすると真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）のプロファイルが得られる。これが、放射線画像撮影装置１のライン番号Ｍの信号線６に関する、信号線６の延在方向における真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）のプロファイルになる。
【０１９８】
コンソール５８は、このようにして形成される真の画像データＤ＊のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）を特定するようになっている。
【０１９９】
しかし、上記のようにして算出した真の画像データＤ＊にもばらつきが生じている場合がある。そのため、抽出した真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）を走査線５のライン番号ｎの順にプロットすると、プロファイルにもばらつきが生じてしまい、プロファイルに基づいて上記の範囲を特定しようとしても、範囲が適切に特定できなくなる場合があり得る。
【０２００】
そこで、本実施形態では、上記のようにして算出した真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）について、放射線画像撮影装置１の走査線５の延在方向に並ぶ真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊ave(n)、すなわち同じ走査線５のライン番号ｎの真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊ave(n)を走査線５ごとに算出する。
【０２０１】
そして、この平均値Ｄ＊ave(n)を、上記と同様にして、図２９に示すように放射線画像撮影装置１の信号線６の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するようになっている。
【０２０２】
なお、真の画像データＤ＊ではなく画像データＤ自体を対象としてプロファイルを解析する場合も、同様にして、同じ走査線５のライン番号ｎの画像データＤ（ｍ，ｎ）の平均値Ｄave(n)を走査線５ごとに算出してプロファイルを形成することが望ましい。
【０２０３】
このように真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）（或いは画像データＤ（ｍ，ｎ）。以下同じ。）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)を算出すると、真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）に含まれるばらつきが相殺される。そのため、図２９に示すようにばらつきのないプロファイルが得られるため、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を的確に特定することが可能となる。
【０２０４】
なお、図２９の右側のグラフでは、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲の近傍の部分の平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルのみが拡大されて示されている。また、平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定する場合には、以下の点に注意することが望ましい。
【０２０５】
放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置１に直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊は、真の画像データＤ＊がとり得る値の上限値に近い値になる。それに対し、被写体が撮影されている部分の真の画像データＤ＊は、通常、それより小さな値になる。
【０２０６】
また、本実施形態では、読み出し回路１７（図７や図８参照）で読み出し得る最大の電荷量よりも多くの電荷量を、放射線検出素子７内に蓄積できるように構成されている。
【０２０７】
そして、上記のように、放射線画像撮影前のリセット処理（検出方法１の場合）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２の場合）で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７では、その後、大きな電荷量が放射線検出素子７内で発生して、読み出し回路１７で読み出し得る最大の電荷量以上の電荷量が放射線検出素子７内に蓄積される状態になり得る。
【０２０８】
そのため、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子７では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、結局、読み出される画像データＤは、読み出し回路１７が出力し得る上限値或いはそれに近い値になる場合がある。
【０２０９】
すなわち、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子７では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、読み出される画像データＤを見る限り、欠損を生じていない大きな値の画像データＤが読み出される場合がある。
【０２１０】
そのため、このような画像データＤから算出される真の画像データＤ＊も、真の画像データＤ＊がとり得る値の上限値に近い値になり、しかも、その真の画像データＤ＊は欠損を生じていない大きな値のデータになる場合がある。
【０２１１】
そして、このような欠損が生じていない大きな値の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を、上記のように真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象に含めてしまうと、欠損が生じていない大きな値の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の影響が大きくなる。
【０２１２】
そして、走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルが、例えば図３０に示すように、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲が分かりづらいプロファイルになり、プロファイルを解析しても、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を的確に特定することが困難になる場合がある。
【０２１３】
そこで、本実施形態では、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊を特定して、当該放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊を、上記の平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象から除外するようになっている。放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊の特定は、例えば以下のようにして行われる。
【０２１４】
上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊が、真の画像データＤ＊がとり得る上限値やそれに近い値であることを利用して、例えば予め真の画像データＤ＊がとり得る上限値やそれに近い値を閾値として定め、閾値以上の真の画像データＤ＊については一律に上記の平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象から除外するように構成することが可能である。
【０２１５】
例えば、真の画像データＤ＊が０〜６５５３５（＝２１６−１）の値をとり得る場合、閾値を例えば６４０００に設定すれば、６４０００以上の値の真の画像データＤ＊は、一律に上記の平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象から除外される。
【０２１６】
また、もう１つの方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール５８で放射線画像を生成するために行われる、被写体が撮影されている領域の認識処理（以下、被写体領域認識処理という。）の結果を用いるように構成することも可能である。
【０２１７】
被写体領域認識処理では、例えば図３１（Ａ）に示すように、真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の中から、例えばライン番号Ｎの走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎ）に対応する真の画像データＤ＊（ｍ，Ｎ）を抽出する。そして、抽出した真の画像データＤ＊（ｍ，Ｎ）を信号線６のライン番号ｍの順にプロットする。
【０２１８】
すると、図３１（Ｂ）に示すように、放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置１に直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊は、真の画像データＤ＊がとり得る値の上限値或いはそれに近い値になるが、被写体が撮影されている部分の真の画像データＤ＊はそれより小さな値になる。
【０２１９】
そこで、このプロファイルを解析することで、ライン番号Ｎの走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎ）に対応する真の各画像データＤ＊（ｍ，Ｎ）について、図３１（Ｂ）に示すように、被写体が撮影されている領域Ｒｏ(N)が決まる。そして、この処理を、各走査線５ごとに行うことで、図３１（Ｃ）に示すように、全ての真の画像データＤ＊における被写体が撮影されている領域Ｒｏを決定して認識することができる。
【０２２０】
被写体領域認識処理では、このようにして、全ての真の画像データＤ＊において被写体が撮影されている領域Ｒｏが認識されるようになっている。
【０２２１】
そこで、この被写体領域認識処理の結果を用い、被写体が撮影されている領域Ｒｏ以外の領域に属する真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を、上記の平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象から除外するように構成することが可能である。
【０２２２】
画像処理装置としてのコンソール５８は、上記のようにして真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)を算出すると（図２９参照）、続いて、平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）を特定するようになっている。
【０２２３】
このプロファイル中で、欠損を生じている真の画像データＤ＊の平均値Ｄ＊ave(n)は、欠損を生じていない真の画像データＤ＊の平均値Ｄ＊ave(n)の全体的な推移のトレンドから外れる状態になる。そこで、本実施形態では、例えば以下のようにして欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するようになっている。
【０２２４】
放射線画像撮影装置１では、放射線の照射開始を検出した画像データｄの読み出し処理の際（検出方法２の場合）、或いは放射線の照射開始を検出したリークデータｄleakの読み出し処理の直前の各放射線検出素子７のリセット処理の際（検出方法１の場合）に、ゲートドライバ１５ｂからオン電圧を印加した走査線５（以下、この走査線５を検出ラインという。）のライン番号ｎを認識することができる。
【０２２５】
以下、この走査線５すなわち検出ラインのライン番号をＮａとする。例えば図２７に示した例では、このライン番号Ｎａの走査線５（すなわち検出ライン）は、放射線の照射開始が検出された画像データｄの読み出し処理でオン電圧が印加された走査線５のラインＬn+2（すなわちこの場合、ライン番号Ｎａはｎ＋２）に相当する。また、放射線画像撮影装置１は、コンソール５８に画像データＤ等を送信する際、この走査線５（すなわち検出ライン）のライン番号Ｎａも同時に送信するように構成される。
【０２２６】
画像処理装置としてのコンソール５８は、図３２に示すように、真の画像データＤ＊の平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルにおいて、この放射線の照射開始が検出された際にオン電圧が印加されていたライン番号Ｎａの走査線５（すなわち検出ライン）から順に、それ
以前にオン電圧が印加されたライン番号Ｎａ−１、Ｎａ−２、…の各ライン番号に対応する平均値Ｄ＊ave(n)を見ていく。
【０２２７】
そして、まず、Ｄ＊ave(Na)とＤ＊ave(Na-1)の差分ΔＤ＊aveの絶対値を算出し、差分ΔＤ＊aveの絶対値が、予め０に近い小さな値に設定された閾値未満であるか否かを判断する。図３２の例では、Ｄ＊ave(Na)とＤ＊ave(Na-1)の差分ΔＤ＊aveの絶対値は閾値以上であるから、続いて、Ｄ＊ave(Na-1)とＤ＊ave(Na-2)の差分ΔＤ＊aveの絶対値を算出し、差分ΔＤ＊aveの絶対値が閾値未満であるか否かを判断する。
【０２２８】
この処理を繰り返していくと、図３２の例では、Ｄ＊ave(Na-1)とＤ＊ave(Na-2)の差分ΔＤ＊aveの絶対値も、Ｄ＊ave(Na-2)とＤ＊ave(Na-3)の差分ΔＤ＊aveの絶対値も、ともに閾値以上になるが、閾値以上Ｄ＊ave(Na-3)とＤ＊ave(Na-4)の差分ΔＤ＊aveの絶対値が初めて閾値未満になる。
【０２２９】
そして、この場合は、ライン番号Ｎａ−３の走査線５にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子７のリセット処理（検出方法１の場合）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２の場合）と、ライン番号Ｎａ−２の走査線５にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子７のリセット処理や画像データｄの読み出し処理との間のタイミングで、放射線源５２（図１１、図１２参照）から実際に放射線画像撮影装置１に放射線が照射されたと判断することができる。
【０２３０】
そこで、コンソール５８は、この場合は、ライン番号Ｎａ−２の走査線５を、画像データＤに欠損が生じ始めた最初の走査線５として認識するようになっている。
【０２３１】
そして、この場合、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）は、ライン番号Ｎａ−２、Ｎａ−１、Ｎａの３本の走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊として特定される。すなわち、真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）のうち、真の画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−２）、Ｄ＊（ｍ，Ｎａ−１）、Ｄ＊（ｍ，Ｎａ）が欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲として特定される。
【０２３２】
なお、図３３に矢印Ａで示すように、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（図中の２本の一点鎖線の間の範囲）の中でも、平均値Ｄ＊ave(n)の差分ΔＤ＊aveの絶対値が閾値未満になることがあり得る。
【０２３３】
そのため、上記のように、走査線５のライン番号ｎを繰り下げながら上記の差分ΔＤ＊aveを算出していき、平均値Ｄ＊ave(n)同士の差分ΔＤ＊aveの絶対値が閾値未満になっても差分ΔＤ＊aveの算出や差分ΔＤ＊aveの絶対値と閾値との比較を続行するように構成する。
【０２３４】
そして、絶対値が閾値未満になる差分ΔＤ＊aveが連続して現れる状態になったことが確認された時点で、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲から外れたと判断して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲の検索処理を終了するように構成することも可能である。
【０２３５】
また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像処理等を行って、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するように構成することも可能である。
【０２３６】
画像処理装置としてのコンソール５８は、上記のようにして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（上記の例ではライン番号Ｎａ−２〜Ｎａの３本の走査線５の範囲）を特定すると、続いて、特定した範囲の真の画像データＤ＊を修復するようになっている
。欠損を生じている真の画像データＤ＊を修復する手法としては、例えば下記のような手法を採用することができる。
【０２３７】
例えば、図３２に示した例で言えば、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲として特定した平均値Ｄ＊ave(Na-2)〜Ｄ＊ave(Na)より図中で左側の平均値Ｄ＊ave(Na-3)や平均値Ｄ＊ave(Na-4)或いは図中でさらに左側の各平均値Ｄ＊ave(n)を含む範囲の各平均値Ｄ＊ave(n)を、例えば図３４に示すように直線Ｌapで直線近似する。すなわち、
Ｄ＊ap＝ａ×ｎ＋ｂ …（２）
の形に直線近似する。
【０２３８】
そして、平均値Ｄ＊ave(Na-2)、Ｄ＊ave(Na-1)、Ｄ＊ave(Na)は、欠損を生じていなければ、本来的には、Ｎａ−２、Ｎａ−１、Ｎａをそれぞれ上記（２）式に代入して得られるａ×（Ｎａ−２）＋ｂ、ａ×（Ｎａ−１）＋ｂ、ａ×Ｎａ＋ｂであるはずであると考える。
【０２３９】
そして、ライン番号Ｎａ−２の走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−２）に対応する真の各画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−２）に対して、｛ａ×（Ｎａ−２）＋ｂ｝／Ｄ＊ave(Na-2)を乗算し、すなわち、
Ｄ＊（ｍ，Ｎａ−２）×｛ａ×（Ｎａ−２）＋ｂ｝／Ｄ＊ave(Na-2) …（３）
の演算を行って、ライン番号Ｎａ−２の走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−２）に対応する真の各画像データを修復する。
【０２４０】
ライン番号Ｎａ−１、Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−１）、（ｍ，Ｎａ）に対応する真の各画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−１）、Ｄ＊（ｍ，Ｎａ）についても同様に、
Ｄ＊（ｍ，Ｎａ−１）×｛ａ×（Ｎａ−１）＋ｂ｝／Ｄ＊ave(Na-1) …（４）
Ｄ＊（ｍ，Ｎａ）×｛ａ×（Ｎａ）＋ｂ｝／Ｄ＊ave(Na) …（５）
の演算を行って、ライン番号Ｎａ−１、Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−１）、（ｍ，Ｎａ）に対応する真の各画像データを修復する。
【０２４１】
このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲として特定した範囲の真の画像データＤ＊を、直線近似等の方法を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。
【０２４２】
また、もう１つの修復方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール５８が、予め、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲に対応する放射線画像撮影装置１の各走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２〜Ｎａの各走査線５）のうち、欠損が生じ始めた最初の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２の走査線５）から修復対象の走査線５までの本数と、当該修復対象の走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊に乗算すべき係数との関係の情報を有しておくように構成する。
【０２４３】
すなわち、例えば、欠損が生じ始めた最初の走査線５から１本目の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２の走査線５）では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊に乗算すべき係数を例えば１．１とする。また、欠損が生じ始めた最初の走査線５から２本目の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−１の走査線５）では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊に乗算すべき係数を例えば１．２とする。
【０２４４】
さらに、欠損が生じ始めた最初の走査線５から３本目の走査線５（すなわち上記の例で
はライン番号Ｎａの走査線５（すなわち検出ライン））では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊に乗算すべき係数を例えば１．３とする。このような関係の情報を、コンソール５８が予め有しておくように構成する。
【０２４５】
なお、この関係は、予め実験を行う等して求めておく。また、この関係は、上記のように欠損が生じ始めた最初の走査線５から何本目の走査線５までの情報を有しておくかは、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度等に応じて適宜決められる。
【０２４６】
そして、コンソール５８は、上記のようにして真の画像データＤ＊や平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損が生じ始めた最初の走査線５や欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定すると、上記の情報を参照して、特定した範囲の真の各画像データＤ＊に対して、当該真の画像データＤ＊に対応する放射線検出素子７が接続されている走査線５に割り当てられている上記の係数をそれぞれ乗算する。
【０２４７】
このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲として特定した範囲の真の画像データＤ＊を、上記の走査線５と係数の関係の情報を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。
【０２４８】
また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像処理を行う等して、欠損を生じている真の画像データＤ＊を修復するように構成することも可能である。
【０２４９】
例えば、上記の図２９以降の各図に示した真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）（或いは画像データＤ（ｍ，ｎ）自体。以下同様）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)の算出処理では、上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊を特定し（図３１（Ａ）〜（Ｃ）参照）、そのような放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊を除外して、平均値Ｄ＊ave(n)の算出を行った。
【０２５０】
しかし、それでもなお、走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)は、値が大きな真の画像データＤ＊の影響を強く受ける。すなわち、被写体である患者の身体は、通常、その中心部付近で分厚く、周縁部に向かうに従って厚みが薄くなる。そのため、被写体の中心部付近よりも周縁部の方が、放射線の透過量が多くなり、その部分に対応する真の画像データＤ＊の方が中心部の真の画像データＤ＊よりも値が大きくなる。
【０２５１】
そのため、上記のように真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)を単純に算出すると、被写体の周縁部分の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の影響が色濃く反映された平均値Ｄ＊ave(n)になってしまう。そして、値が大きい被写体の周縁部分の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）に比較的大きなばらつきが生じると、走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルに真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）のばらつきが反映されてしまい、例えば図２９や図３２等に示したように線欠陥の部分での平均値Ｄ＊ave(n)の低下が明確に現れない状態になってしまう場合がある。
【０２５２】
そこで、以下で説明する厳密な画像処理の例では、画像処理装置としてのコンソール５８は、真の画像データＤ＊そのものの値を用いる代わりに、真の画像データＤ＊をそれぞれ基準値で除算して算出される正規化された真の画像データＤ＊norを用いて、欠損を生じている真の画像データＤ＊（或いは画像データＤ）の範囲を特定するように構成されることが好ましい。
【０２５３】
その場合、基準値としては、例えば、上記の被写体領域認識処理により認識した被写体が撮影されている領域Ｒｏ（例えば図３１（Ｃ）参照）内の任意の行、すなわち領域Ｒｏ中で任意のｎを有する真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の行（以下、この行を基準ラインと
いう。）の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を用いることができる。
【０２５４】
すなわち、例えば、領域Ｒｏのうち、走査線５の延在方向（すなわち例えば同図の横方向）における長さが最も長い位置（例えば同図では図中の上端部分（すなわちｎ＝１の部分））の行を基準ラインとし、その基準ライン上の真の各画像データＤ＊（ｍ，１）を各基準値とすることが可能である。
【０２５５】
また、例えば、検出ライン（図３２の走査線５のラインＮａ等参照）の近傍の走査線５に対応する行を基準ラインとし、その走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を各基準値とすることも可能である。
【０２５６】
なお、この場合、検出ラインＮａの近傍の走査線５のうち、図３２に示したライン番号がＮａ−３〜Ｎａ−１の走査線５のような走査線５は、まさにこれから行われる厳密な画像処理の対象となる走査線５であるから、基準ラインとして選択されるべきでない。そのため、上記の場合、検出ラインＮａよりもライン番号ｎが大きい走査線５（例えば図３２ではＮａより大きないずれかのライン番号ｎの走査線５）を基準ラインとし、それに接続されている各放射線検出素子７から読み出された各画像データＤ（ｍ，ｎ）に基づいて算出された真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を各基準値として用いることが望ましい。
【０２５７】
そして、正規化処理は、上記のようにして設定された各基準値、すなわち基準ラインの走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤ（ｍ，ｎ）に基づいて算出された真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）で、同じ列の（すなわち同じｍを有する）他の行の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）をそれぞれ除算することにより行われる。
【０２５８】
すなわち、ある真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を正規化する場合には、各基準値のうち、当該真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）と同じｍ（すなわち信号線６のライン番号ｍ）を有する真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）で当該真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を除算する。他の列の真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）（Ｍ≠ｍ）を正規化する場合には、各基準値のうち、当該真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）と同じＭを有する真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）で当該真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）をそれぞれ除算する。
【０２５９】
このようにして、領域Ｐｏ内の真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）について、各基準値と真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）とからそれぞれ正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）が算出される。なお、上記の方法では、基準ライン上の真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）はそれぞれ自らの値によって除算されて正規化されるため、基準ライン上の正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）はそれぞれ１になる。
【０２６０】
そして、上記と同様にして、正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）について、放射線画像撮影装置１の走査線５ごとの平均値Ｄ＊nor_ave(n)を算出し、それらを放射線画像撮影装置１の信号線６の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Ｄ＊nor_ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するように構成される。
【０２６１】
このように、正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）について走査線５ごとに平均値Ｄ＊nor_ave(n)を算出することで、真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）ごとの値のばらつきの相対的な重みが均等になる。そのため、例えば、上記のように、被写体の中心部付近よりも周縁部の方が真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）のばらつきが相対的に大きくなって線欠陥の部分での平均値Ｄ＊ave(n)の低下（例えば図２９や図３２参照）が明確
に現れなくなることを的確に防止することが可能となる。
【０２６２】
例えば、正規化される前の真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルが例えば図３５（Ａ）に示すようなプロファイルであった場合、正規化された後の真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊nor_ave(n)のプロファイルは、例えば図３５（Ｂ）に示すようなプロファイルになる。
【０２６３】
以下、このようにして算出された正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊nor_ave(n)のプロファイル（図３５（Ｂ）参照）を解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定し、それらを修復する手法の一例について説明する。
【０２６４】
まず、図３６に示すように、正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊nor_ave(n)のプロファイルのうち、線欠陥が現れている可能性がある走査線５の部分ＬＤすなわち検出ラインＮａおよびライン番号がＮａより小さい所定本数の走査線５（すなわち検出ラインＮａより先にオン電圧が印加された所定本数の走査線５）を含む部分ＬＤを除く、検出ラインＮａ前後の所定本数の各走査線５における各平均値Ｄ＊nor_ave(n)を近似する第１の近似直線Ｌap１を算出する。
【０２６５】
そして、検出ラインＬNaのライン番号Ｎａを含む各ライン番号ｎごとに、実際の平均値Ｄ＊nor_ave(n)を、当該平均値Ｄ＊nor_ave(n)に対応する第１の近似直線Ｌap１上の値で除算した値をプロットすると、例えば図３７に示すようなグラフになる。これらの除算した値は、第１の近似直線Ｌap１に対する実際の平均値Ｄ＊nor_ave(n)の低下率ＤＳ(n)である。
【０２６６】
なお、図３７や以下の各図では、検出ラインＮａやライン番号がＮａより小さい各走査線５に関する部分のみが示されている。また、以下の処理では、この低下率ＤＳ(n)を用いて処理を行う場合について説明するが、第１の近似直線Ｌap１で近似せず、正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊nor_ave(n)をそのままで用いて処理を行うように構成することも可能である。
【０２６７】
また、検出ラインＮａよりライン番号が１５〜５程度小さい走査線５の部分で低下率ＤＳ(n)が１より若干小さくなっているが、これは、骨や臓器等の何らの対象が撮影されている部分であるためと考えられる。すなわち、この部分は、下記に示すような線欠陥が現れた部分ではない。
【０２６８】
上記のようにして各走査線５ごとに低下率ＤＳ(n)を算出すると、続いて、算出した低下率ＤＳ(n)に対して、検出ラインＮａの低下率ＤＳ(Na)と、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出処理（前述した検出方法１、２等参照）の際に検出ラインＮａよりも前にオン電圧が印加された所定本数の各走査線５（すなわち検出ラインＮａよりライン番号が小さい所定本数の各走査線５）の各低下率ＤＳ(n)とを第２の近似直線Ｌap２で直線近似する。なお、以下、第２の近似直線Ｌap２を、簡単に近似直線Ｌap２という。
【０２６９】
そして、図３８に示すように、上記の走査線５の所定本数を替えて、それぞれ近似直線Ｌap２で近似する。
【０２７０】
具体的には、いま仮に、所定本数を４本とすると、その場合、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）が、ライン番号がＮａ−３〜Ｎａの４本の走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の画像データＤ＊であると仮定されたことになる。
【０２７１】
そして、このようにして選択されたライン番号Ｎａ−３〜Ｎａの４本の走査線５の各低下率ＤＳ(Na-3)〜ＤＳ(Na)を、例えば最小二乗法等を用いて近似直線Ｌap２で直線近似する。正確には、この場合は、図３８等のグラフ上で、（Ｎａ−３，ＤＳ(Na-3)）、（Ｎａ−２，ＤＳ(Na-2)）、（Ｎａ−１，ＤＳ(Na-1)）、（Ｎａ，ＤＳ(Na)）の４点を近似直線Ｌap２で直線近似する。
【０２７２】
また、ライン番号Ｎａ−３〜Ｎａの各走査線５に対応する近似直線Ｌap２上の各値を、それぞれ例えばＬap２(Na-3)〜Ｌap２(Na)とすると、それらの各値Ｌap２(Na-3)〜Ｌap２(Na)の各逆数１／Ｌap２(Na-3)〜１／Ｌap２(Na)が、上記の修復すべき範囲として仮定されたライン番号ｎがＮａ−３〜Ｎａの各走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復するための各修復係数であると考えられる。
【０２７３】
そこで、ライン番号ｎがＮａ−３〜Ｎａの各走査線５の各低下率ＤＳ(Na-3)〜ＤＳ(Na)に、それぞれ各修復係数１／Ｌap２(Na-3)〜１／Ｌap２(Na)を乗算する。すると、修復された各低下率ＤＳ(Na-3)／Ｌap２(Na-3)〜ＤＳ(Na)／Ｌap２(Na)は、それぞれ１に近い値に修復されているはずである。
【０２７４】
そして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）として仮定されたライン番号がＮａ−３〜Ｎａの４本の走査線５については、修復された各低下率ＤＳ(Na-3)／Ｌap２(Na-3)〜ＤＳ(Na)／Ｌap２(Na)と１との二乗誤差（すなわち差の二乗）をそれぞれ算出する。一方、それ以外の走査線５については、元の各低下率ＤＳ(n)と１との二乗誤差をそれぞれ算出する。
【０２７５】
そして、それらの二乗誤差の合計値を算出する。このようにして算出された二乗誤差の合計値が、所定本数を４本とした場合に近似された近似直線Ｌap２に対する値となる。そのため、所定本数が４本の場合の近似直線Ｌap２に、算出された二乗誤差の合計値が割り当てられる。
【０２７６】
このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）として仮定する走査線５の所定本数を２本、３本、４本、…と替えて、図３８に示すように、それぞれ近似直線Ｌap２で近似する。
【０２７７】
そして、近似直線Ｌap２を算出するごとに、上記と同様にして、上記の範囲の走査線５については修復された各低下率と１との二乗誤差をそれぞれ算出し、それ以外の走査線５については、元の各低下率ＤＳ(n)と１との二乗誤差をそれぞれ算出する。そして、二乗誤差の合計値を算出して、近似直線Ｌap２にそれぞれ割り当てる。
【０２７８】
そして、図３９に示すように、各近似直線Ｌap２のうち、上記の二乗誤差の合計値が最小となる近似直線Ｌap２＊を抽出する。そして、抽出された近似直線Ｌap２＊が、図３９に示すように例えばライン番号がＮａ−５からＮａまでの各走査線５を対象として近似した近似直線であれば、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）は、ライン番号がＮａ−５からＮａまでの各走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の画像データＤ＊であるとして特定することができる。
【０２７９】
また、この場合、上記のように、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に対応する、抽出された近似直線Ｌap２＊上の各値Ｌap２＊(Na-5)〜Ｌap２＊(Na)の各逆数１／Ｌap２＊(Na-5)〜１／Ｌap２＊(Na)が、それぞれ、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に接
続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づく真の画像データＤ＊に対する各修復係数になる。
【０２８０】
そこで、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子７ごとの真の画像データＤ＊に、それぞれ対応する修復係数１／Ｌap２＊(Na-5)〜１／Ｌap２＊(Na)を乗算して、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復する。
【０２８１】
具体的には、ライン番号ｎがＮａ−５である各放射線検出素子７（ｍ，Ｎａ−５）ごとの真の画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−５）には修復係数１／Ｌap２＊(Na-5)を乗算し、同様に、ライン番号ｎがＮａ−４〜Ｎａである真の各画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−４）〜Ｄ＊（ｍ，Ｎａ）には修復係数１／Ｌap２＊(Na-4)〜１／Ｌap２＊(Na)をそれぞれ乗算することにより、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復することができる。
【０２８２】
このようにして修復すべき範囲内の真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復するように構成することにより、図３５（Ａ）とは別の撮影部位を撮影した場合の例であり真の画像データＤ＊の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)を示すものであるが、例えば図４０に示すように、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ＊に対してより厳密な画像処理を行って、真の各画像データＤ＊をそれぞれ的確に修復することが可能となる。
【０２８３】
なお、上記の図３８や図３９に示した真の画像データＤ＊の修復手法の例では、各走査線５ごとの低下率ＤＳ(n)等を近似直線Ｌap２で直線近似する場合について説明した。これは、実際には、図４１（Ａ）に示すように、放射線源５２（図１１や図１２参照）から放射線画像撮影装置１に対して放射線を照射する際に、放射線の線量率（すなわち単位時間当たりの線量）ｕが、放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がることが前提とされている。
【０２８４】
すなわち、放射線の照射開始からの線量率ｕが一定であるため、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７内に発生する電荷が時間ｔに比例して増加する。そして、時間ｔに比例して増加する電荷が、放射線の照射が開始された後の各放射線検出素子７のリセット処理（検出方法１の場合）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２の場合）で各放射線検出素子７から放出されるために線欠陥が生じる。
【０２８５】
そのため、図３９等に示したように、線欠陥の部分における真の画像データＤ＊の減少（図３９の場合はそれに対応する低下率ＤＳ(n)の減少）を、近似直線Ｌap２等で近似するという仮定が成り立ったのである。
【０２８６】
しかし、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性は多様であり、必ずしも図４１（Ａ）に示したように、放射線の線量率ｕが放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がるとは限らない。
【０２８７】
そこで、放射線の線量率ｕが放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がらない放射線源５２を用いる場合には、線欠陥の部分における真の画像データＤ＊の減少（或いはそれに対応する低下率ＤＳ(n)等の変化）を、上記のように近似直線Ｌap２で近似する代わりに、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて適切な関数を設定し、設定した関数で近似して、真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復することが望ましい。
【０２８８】
上記のように、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７内に発生する電荷は、放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量率ｕの時間的な積分値に応じて増加する。
【０２８９】
そのため、上記の関数を設定する際には、放射線源５２から照射される放射線の線量率ｕが例えば図４１（Ｂ）に示すように変化する場合には、放射線の線量率ｕが増加している最中に各放射線検出素子７のリセット処理（検出方法１の場合）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２の場合）が行われた可能性がある走査線５については二次関数で、また、線量率ｕが一定になった後で各放射線検出素子７のリセット処理等が行われた可能性がある走査線５については一次関数（すなわち直線）で近似するように構成することが可能である。
【０２９０】
また、放射線源５２から照射される放射線の線量率ｕの時間的変動が別の形態になる場合には、線量率ｕの時間的な積分値もそれにあわせて変わる。このように、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて適切な関数を設定し、設定した関数で近似して、真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復することが望ましい。
【０２９１】
なお、このように構成する際、施設に複数の放射線源５２が設けられている場合には、各放射線源５２ごとに放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性を検出する等して、各放射線源５２ことに上記の関数（近似直線である場合を含む。）を設定しておくことが望ましい。そして、画像処理装置としてのコンソール５８は、画像データＤがどの放射線源５２から放射線が照射されて得られたものであるかを認識し、その放射線源５２に対応する関数を適用して、上記の修復処理を行うように構成される。
【０２９２】
以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０によれば、放射線画像撮影装置１で、放射線画像撮影前に、リークデータｄleakの読み出し処理や画像データｄの読み出し処理を行い、読み出したリークデータｄleakや画像データｄの値に基づいて放射線の照射開始を検出するように構成した。
【０２９３】
そのため、前述した特許文献４や特許文献５に記載された発明のように、例えば放射線画像撮影装置１にバイアス線９等を流れる電流を検出する電流検出手段を設けなくても、読み出したリークデータｄleakや画像データｄの値に基づいて放射線画像撮影装置１自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。そのため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線９を介して各放射線検出素子７に伝わって画像データＤにノイズとして重畳される等の問題が生じることを確実に防止することが可能となる。
【０２９４】
また、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０によれば、画像処理装置としてのコンソール５８は、放射線画像撮影装置１の信号線６の延在方向における画像データＤや真の画像データＤ＊のプロファイルや走査線５の延在方向に並ぶ真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）等の平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている画像データＤや真の画像データＤ＊の範囲、すなわち線欠陥の範囲を適切に特定する。
【０２９５】
そして、このようにして適切に特定した範囲の画像データＤや真の画像データＤ＊を修復する。そのため、放射線画像撮影装置１を用いた放射線画像撮影で得られた画像データＤ中に生じている線欠陥を適切に修復したうえで、放射線画像を生成することが可能となる。
【０２９６】
そのため、放射線画像中に、線欠陥が線状（或いは帯状）に写り込んで放射線画像が見難くなることが的確に防止され、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することが可能となる。そして、例えば放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されていても、線欠陥が的確に修復されるため、修復された画像データに基づいて生成された放射線画像を見た医師等が、病変部を的確に識別することができるようにすることが可能となる。
【０２９７】
なお、本発明が上記の各実施形態に限定されず、適宜変更可能であることは言うまでもない。
【符号の説明】
【０２９８】
１ 放射線画像撮影装置
５ 走査線
６ 信号線
７、（ｍ，ｎ） 放射線検出素子
８ ＴＦＴ（スイッチ手段）
１５ 走査駆動手段
１７ 読み出し回路
２２ 制御手段
３９ コネクタ（通信手段）
４１ アンテナ装置（通信手段）
５０ 放射線画像撮影システム
５８ コンソール（画像処理装置）
Ｄ 画像データ
Ｄ＊ 真の画像データ
Ｄave(n) 画像データの平均値
Ｄ＊ave(n) 真の画像データの平均値
Ｄ＊nor 正規化された真の画像データ
ｄ 照射開始検出用の画像データ
ｄleak リークデータ
ｄleak_th 閾値
ｄth 閾値
Ｌap１ 第１の近似直線
Ｌap２ 第２の近似直線
Ｌap２＊ 抽出された近似直線
ＬNa 検出ライン
Ｎａ−２ ライン番号（欠損が生じ始めた最初の走査線）
Ｏ オフセットデータ
Ｐ 検出部
ｑ リークする電荷
ｒ 小領域
１／Ｌap２＊(Na-5)〜１／Ｌap２＊(Na) 修復係数、逆数
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像撮影システムに係り、特に、放射線画像撮影装置が自ら放射線の照射を検出して放射線画像撮影を行う放射線画像撮影システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
照射されたＸ線等の放射線の線量に応じて検出素子で電荷を発生させて電気信号に変換するいわゆる直接型の放射線画像撮影装置や、照射された放射線をシンチレータ等で可視光等の他の波長の電磁波に変換した後、変換され照射された電磁波のエネルギに応じてフォトダイオード等の光電変換素子で電荷を発生させて電気信号（すなわち画像データ）に変換するいわゆる間接型の放射線画像撮影装置が種々開発されている。なお、本発明では、直接型の放射線画像撮影装置における検出素子や、間接型の放射線画像撮影装置における光電変換素子を、あわせて放射線検出素子という。
【０００３】
このタイプの放射線画像撮影装置はＦＰＤ（Flat Panel Detector）として知られており、従来は支持台（或いはブッキー装置）と一体的に形成された、いわゆる専用機型として構成されていたが（例えば特許文献１参照）、近年、放射線検出素子等をハウジングに収納し、持ち運び可能とした可搬型の放射線画像撮影装置が開発され、実用化されている（例えば特許文献２、３参照）。
【０００４】
このような放射線画像撮影装置では、例えば後述する図７等に示すように、通常、複数の放射線検出素子７が、検出部Ｐ上に二次元状（マトリクス状）に配列され、各放射線検出素子７にそれぞれ薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor。以下、ＴＦＴという。）８で形成されたスイッチ手段が接続されて構成される。
【０００５】
そして、通常、放射線画像撮影は、放射線発生装置５５の放射線源５２（後述する図１１や図１２参照）から放射線画像撮影装置に対して、被験者の身体等の所定の撮影部位（すなわち胸部正面や腰椎側面等）を介した状態で放射線が照射されて行われる。
【０００６】
その際、放射線画像撮影装置の走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加して全てのＴＦＴ８をオフ状態とした状態で放射線を照射することで、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷が、各放射線検出素子７内に的確に蓄積される。
【０００７】
そして、放射線画像撮影の後、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して、各ＴＦＴ８を順次オン状態として、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生して蓄積された電荷を各信号線６に順次放出させて、各読み出し回路１７で画像データＤとしてそれぞれ読み出すように構成される。
【０００８】
ところで、上記のように、放射線画像撮影が的確に行われるためには、放射線画像撮影装置に放射線が照射される際に、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに適切にオフ電圧が印加され、スイッチ手段である各ＴＦＴ８がオフ状態になることが必要となる。
【０００９】
そこで、例えば従来の専用機型の放射線画像撮影装置等では、放射線発生装置との間でインターフェースを構築し、互いに信号等をやり取りして、放射線画像撮影装置が走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加して電荷蓄積状態になったことを確認したうえで、放射線画像撮影装置が放射線源から放射線を照射させるように構成される場合が多い
。
【００１０】
しかし、例えば、放射線画像撮影装置と放射線発生装置との製造メーカーが異なっているような場合には、両者の間でインターフェースを構築することが必ずしも容易でない場合があり、或いは、インターフェースを構築できない場合もある。
【００１１】
このように放射線画像撮影装置と放射線発生装置との間でインターフェースが構築されない場合、放射線画像撮影装置側から見ると、放射線源からどのようなタイミングで放射線が照射されるかが分からない。そのため、放射線源から放射線が照射されたことを、放射線画像撮影装置が自ら検出しなければならなくなる。
【００１２】
そこで、近年、このような放射線画像撮影装置と放射線発生装置との間のインターフェースによらずに、放射線が照射されたことを自ら検出するように構成された放射線画像撮影装置が種々開発されている。
【００１３】
例えば、特許文献４や特許文献５に記載の発明では、放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されて各放射線検出素子７内に電荷が発生すると、各放射線検出素子７から、各放射線検出素子７に接続されているバイアス線９（後述する図７等参照）に電荷が流れ出してバイアス線９を流れる電流が増加することを利用して、バイアス線９に電流検出手段を設けてバイアス線９内を流れる電流の電流値を検出し、その電流値に基づいて放射線の照射の開始等を検出することが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】特開平９−７３１４４号公報
【特許文献２】特開２００６−０５８１２４号公報
【特許文献３】特開平６−３４２０９９号公報
【特許文献４】米国特許第７２１１８０３号明細書
【特許文献５】特開２００９−２１９５３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら、本発明者らの研究で、上記の手法は、バイアス線９が各放射線検出素子７の電極に接続されているため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線９を介して各放射線検出素子７に伝わり、放射線検出素子７から読み出される画像データＤにノイズとして重畳される場合があるなど、必ずしも解決が容易でない問題があることが分かってきた。
【００１６】
そして、本発明者らは、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出する別の手法について種々研究を重ねた結果、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを的確に検出することが可能ないくつかの手法を見出すことができた。
【００１７】
ところで、後述するように、本発明者らが見出した新たな放射線の照射開始の検出方法では、放射線画像撮影前に、走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して画像データｄの読み出し処理を行う。なお、以下では、撮影直後に行われる本画像としての画像データＤと区別して、この放射線画像撮影前に放射線の照射開始の検出用に読み出される照射開始検出用の画像データを、画像データｄという。
【００１８】
そして、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出される画像データｄの値
が上昇することを利用して、読み出された画像データｄの値に基づいて放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。
【００１９】
また、本発明者らが見出した別の新たな放射線の照射開始の検出方法では、放射線画像撮影前に、走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから全ての走査線５にオフ電圧を印加して各ＴＦＴ８をオフ状態とした状態で読み出し回路１７に読み出し動作を行わせ、ＴＦＴ８を介して放射線検出素子７からリークした電荷ｑ（後述する図１３参照）をリークデータｄleakに変換するリークデータｄleakの読み出し処理を行うように構成される。
【００２０】
そして、この場合も、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出されるリークデータｄleakの値が上昇するため、それを利用して、読み出されたリークデータｄleakの値に基づいて放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。
【００２１】
その際、前述したように、リークデータｄleakの読み出し処理では各ＴＦＴ８がオフ状態とされるが、各ＴＦＴ８がオフ状態のままであると、放射線検出素子７自体の熱（温度）による熱励起等により常時発生している、いわゆる暗電荷が各放射線検出素子７内に蓄積されてしまう。
【００２２】
そのため、後述するように、ゲートドライバ１５ｂから走査線５にオン電圧を順次印加して各放射線検出素子７内から暗電荷を除去する各放射線検出素子７のリセット処理を、リークデータｄleakの読み出し処理と交互に繰り返し行うように構成される。
【００２３】
しかし、上記のように、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出される画像データｄの値が上昇するということは、すなわち、放射線の照射により放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部が、画像データｄの読み出し処理を行うことにより、放射線検出素子７から信号線６に流出してしまうことを意味する。
【００２４】
また、放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理を行う場合には、放射線の照射によりＴＦＴ８を介して放射線検出素子７からリークする電荷ｑが増加するとしても、放射線の照射により当該放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の総量に比べれば微々たるものであり、たいした影響はない。
【００２５】
しかし、リークデータｄleakの読み出し処理と交互に行われる各放射線検出素子７のリセット処理を行うことで、やはり、放射線の照射により放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部が当該放射線検出素子７から信号線６に流出してしまう可能性がある。
【００２６】
このように、画像データｄの読み出し処理や各放射線検出素子７のリセット処理でゲートドライバ１５ｂからオン電圧が印加された走査線５に接続されている各放射線検出素子７からは、放射線の照射により発生した有用な電荷の一部がそれぞれ信号線６に流出してしまう。
【００２７】
そのため、後述する図２６に示すように、本画像として読み出された画像データＤ中（或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中）の当該走査線５に対応する部分に、有用な電荷の一部が欠損した画像データＤの線、すなわちいわゆる線欠陥が現れることになる。この線欠陥の発生は、上記の本発明者らが新たに見出した放射線の照射開始の検出方法を採用する限り、必然的に発生するものである。
【００２８】
また、検出感度が低いような場合には、放射線源から放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が実際に開始されてから放射線画像撮影装置で放射線の照射開始を検出するまで
に時間がかかり、その間に、線欠陥が多数発生してしまう場合があり得る。この場合、線欠陥は、後述する図２８に示すように、本画像として読み出された画像データＤ中（或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中）に連続して現れる状態になる。
【００２９】
このように、線欠陥が発生する場合、そのような線欠陥を有する画像データＤに基づいて放射線画像を生成すると、放射線画像中に線状の（或いは線欠陥が多数連続して発生する場合には帯状の）模様が写り込んでしまい、放射線画像が見難くなる。
【００３０】
また、例えば、放射線画像撮影装置で撮影された放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されているような場合、それが病変部なのか線欠陥による模様なのかが判別し難くなる場合があり、そのような放射線画像を見た医師等が誤診してしまう可能性がある。
【００３１】
そこで、上記のような放射線画像撮影装置を用いる放射線画像撮影システムに対しては、放射線画像撮影装置による撮影で上記のように線欠陥が不可避的に発生してしまうとしても、それを適切に修復して、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することができることが望まれる。
【００３２】
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出することが可能であり、しかも、そのような放射線画像撮影装置を用いた放射線画像撮影で得られた画像データＤ中に生じている線欠陥を適切に修復して放射線画像を生成することが可能な放射線画像撮影システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００３３】
前記の問題を解決するために、本発明の放射線画像撮影システムは、
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理と、前記各放射線検出素子のリセット処理とを交互に繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画
像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする。
【００３４】
また、本発明の放射線画像撮影システムは、
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする。
【発明の効果】
【００３５】
本発明のような方式の放射線画像撮影システムによれば、放射線画像撮影装置で、放射線画像撮影前に、リークデータの読み出し処理や画像データの読み出し処理を行い、読み出したリークデータや画像データの値に基づいて放射線の照射開始を検出するため、放射線画像撮影装置自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。
【００３６】
そのため、前述した特許文献４や特許文献５に記載された発明のように、例えば放射線画像撮影装置１にバイアス線９等を流れる電流を検出する電流検出手段を設けなくてもよくなり、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線９を介して各放射線検出素子７に伝わって画像データＤにノイズとして重畳される等の問題が生じることを確実に防止することが可能となる。
【００３７】
また、画像処理装置は、放射線画像撮影装置の信号線の延在方向における画像データＤのプロファイルを解析して、欠損を生じている画像データＤの範囲すなわち線欠陥の範囲を適切に特定する。そして、適切に特定した範囲の画像データＤを修復する。そのため、放射線画像撮影装置を用いた放射線画像撮影で得られた画像データＤ中に生じている線欠陥を適切に修復したうえで、放射線画像を生成することが可能となる。
【００３８】
そのため、放射線画像中に、線欠陥が線状（或いは帯状）に写り込んで放射線画像が見難くなることが的確に防止され、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することが可能となる。そして、例えば放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されていても、線欠陥が的確に修復されるため、修復さ
れた画像データに基づいて生成された放射線画像を見た医師等が、病変部を的確に識別することができるようにすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本実施形態に係る放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１におけるＸ−Ｘ線に沿う断面図である。
【図３】放射線画像撮影装置のコネクタにケーブルのコネクタを接続した状態を表す斜視図である。
【図４】放射線画像撮影装置の基板の構成を示す平面図である。
【図５】図４の基板上の小領域に形成された放射線検出素子とＴＦＴ等の構成を示す拡大図である。
【図６】フレキシブル回路基板やＰＣＢ基板等が取り付けられた基板を説明する側面図である。
【図７】放射線画像撮影装置の等価回路を表すブロック図である。
【図８】検出部を構成する１画素分についての等価回路を表すブロック図である。
【図９】各放射線検出素子のリセット処理における電荷リセット用スイッチやＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１０】画像データの読み出し処理における電荷リセット用スイッチ、パルス信号、ＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１１】撮影室等に構築された放射線画像撮影システムの構成を示す図である。
【図１２】回診車上に構築された放射線画像撮影システムの構成を示す図である。
【図１３】ＴＦＴを介して各放射線検出素子からリークした各電荷がリークデータとして読み出されることを説明する図である。
【図１４】リークデータの読み出し処理における電荷リセット用スイッチやＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１５】放射線画像撮影前にリークデータの読み出し処理と各放射線検出素子のリセット処理を交互に行うように構成した場合の電荷リセット用スイッチ、パルス信号、ＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１６】検出方法１において各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を説明するタイミングチャートである。
【図１７】読み出されるリークデータを時系列的にプロットしたグラフである。
【図１８】検出方法２において放射線画像撮影前に画像データの読み出し処理が繰り返し行われる際の各走査線にオン電圧を順次印加するタイミングを表すタイミングチャートである。
【図１９】放射線画像撮影前に画像データの読み出し処理における電荷リセット用スイッチ、パルス信号、ＴＦＴのオン／オフのタイミングおよびオン時間ΔＴを表すタイミングチャートである。
【図２０】検出方法２において各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を説明するタイミングチャートである。
【図２１】図１６において放射線の照射開始の検出後もリークデータの読み出し処理を続行するように構成した場合のタイミングチャートである。
【図２２】放射線の照射が終了するとリークデータが減少することを示すグラフである。
【図２３】放射線画像撮影装置に照射野が絞られた放射線が照射された場合を表す図である。
【図２４】各読み出し回路で読み出されたリークデータの読み出しＩＣごとの平均値の時間的推移の例を表すグラフである。
【図２５】図１６に示した処理シーケンスを繰り返してオフセットデータの読み出し処理を行う場合に各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を説明するタイミングチャートである。
【図２６】画像データや放射線画像中に生じた線欠陥を表す図である。
【図２７】照射開始の検出が遅れて画像データの読み出し処理が複数回行われた場合の各走査線にオン電圧を順次印加するタイミングの例を表すタイミングチャートである。
【図２８】線欠陥が連続して発生する状態を表す図である。
【図２９】真の各画像データの例を表す図および走査線ごとの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。
【図３０】欠損が生じていない大きな値の真の画像データの影響で欠損を生じている真の画像データの範囲が分かりづらくなった走査線ごとの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。
【図３１】（Ａ）被写体領域認識処理で抽出される真の画像データの例を表す図であり、（Ｂ）抽出された真の画像データの分布の例を表すグラフであり、（Ｃ）決定された被写体が撮影されている領域の例を表す図である。
【図３２】欠損を生じている真の画像データの範囲を特定する手法を説明するグラフである。
【図３３】欠損を生じている真の画像データの範囲の中で平均値の差分の絶対値が閾値未満になることがあり得ることを説明するグラフである。
【図３４】欠損を生じている真の画像データの範囲として特定した平均値以外の各平均値を近似した直線の例を表すグラフである。
【図３５】（Ａ）正規化される前の真の各画像データの平均値のプロファイルの例、および（Ｂ）正規化された後の真の各画像データの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。
【図３６】図３５（Ｂ）のうち線欠陥が現れている可能性がある走査線を以外の除く検出ライン前後の各走査線における各平均値を近似する直線等を表すグラフである。
【図３７】図３６の直線に対する実際の平均値の各走査線５ごとの低下率を表すグラフである。
【図３８】検出ラインを含む走査線の所定本数を替えた場合の各近似直線を表すグラフである。
【図３９】図３８の各近似直線の中から抽出された近似直線の例を表すグラフである。
【図４０】修復される前と修復された後の真の画像データの走査線ごとの平均値をそれぞれ表すグラフである。
【図４１】放射線源から照射される放射線の線量率の時間的推移を表すグラフであり、（Ａ）線量率が照射開始直後に瞬時に立ち上がる場合を表し、（Ｂ）線量率が時間に比例して増加した後一定になる場合を表す。
【発明を実施するための形態】
【００４０】
以下、本発明に係る放射線画像撮影システムの実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００４１】
なお、以下では、放射線画像撮影システムで用いられる放射線画像撮影装置として、シンチレータ等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得るいわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレータ等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。
【００４２】
［放射線画像撮影装置］
まず、本実施形態に係る放射線画像撮影装置について説明する。図１は、放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図であり、図２は、図１のＸ−Ｘ線に沿う断面図である。放射線画像撮影装置１は、図１や図２に示すように、筐体状のハウジング２内にシンチレータ３や基板４等で構成されるセンサパネルＳＰが収納されている。
【００４３】
本実施形態では、筐体２のうち、放射線入射面Ｒを有する中空の角筒状のハウジング本体部２Ａは、放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されており、ハウジング本体部２Ａの両側の開口部を蓋部材２Ｂ、２Ｃで閉塞することで筐体２が形成されている。
【００４４】
また、筐体２の一方側の蓋部材２Ｂには、電源スイッチ３７や切替スイッチ３８、コネクタ３９、バッテリ状態や放射線画像撮影装置１の稼働状態等を表示するＬＥＤ等で構成されたインジケータ４０等が配置されている。
【００４５】
本実施形態では、コネクタ３９は、例えば図３に示すように、ケーブルＣａの先端に設けられたコネクタＣが接続されることにより、例えば後述するコンソール５８（図１１や図１２参照）等との間でケーブルＣａを介して信号等を送受信したり、画像処理装置としてのコンソール５８に画像データＤ等を送信したりする際の有線方式の通信手段として機能するようになっている。なお、コネクタ３９の設置位置は蓋部材２Ｂに限定されず、放射線画像撮影装置１の適宜の位置に設置することが可能である。
【００４６】
また、図示を省略するが、例えば筐体２の反対側の蓋部材２Ｃ等に、アンテナ装置４１（後述する図７参照）が例えば蓋部材２Ｃに埋め込む等して設けられており、本実施形態では、このアンテナ装置４１が、放射線画像撮影装置１とコンソール５８等との間で信号等の無線方式で送受信する場合の通信手段として機能するようになっている。
【００４７】
なお、アンテナ装置４１の設置位置は蓋部材２Ｃに限定されず、放射線画像撮影装置１の任意の位置にアンテナ装置４１を設置することが可能である。また、設置するアンテナ装置４１は１個に限らず、複数設けることも可能である。
【００４８】
図２に示すように、筐体２の内部には、基板４の下方側に図示しない鉛の薄板等を介して基台３１が配置され、基台３１には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３やバッテリ２４等が取り付けられている。また、基板４やシンチレータ３の放射線入射面Ｒには、それらを保護するためのガラス基板３４が配設されている。また、本実施形態では、センサパネルＳＰと筐体２の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材３５が設けられている。
【００４９】
シンチレータ３は、基板４の後述する検出部Ｐに対向する位置に設けられるようになっている。本実施形態では、シンチレータ３は、例えば、蛍光体を主成分とし、放射線の入射を受けると３００〜８００ｎｍの波長の電磁波、すなわち可視光を中心とした電磁波に変換して出力するものが用いられる。
【００５０】
基板４は、本実施形態では、ガラス基板で構成されており、図４に示すように、基板４のシンチレータ３に対向する側の面４ａ上には、複数の走査線５と複数の信号線６とが互いに交差するように配設されている。基板４の面４ａ上の複数の走査線５と複数の信号線６により区画された各小領域ｒには、放射線検出素子７がそれぞれ設けられている。このように、走査線５と信号線６で区画された各小領域ｒに二次元状に配列された複数の放射線検出素子７が設けられた小領域ｒ全体、すなわち図４に一点鎖線で示される領域が検出部Ｐとされている。
【００５１】
本実施形態では、放射線検出素子７としてフォトダイオードが用いられているが、この他にも例えばフォトトランジスタ等を用いることも可能である。各放射線検出素子７は、図４の拡大図である図５に示すように、スイッチ手段であるＴＦＴ８のソース電極８ｓに接続されている。また、ＴＦＴ８のドレイン電極８ｄは信号線６に接続されている。
【００５２】
放射線検出素子７は、放射線画像撮影装置１の筐体２の放射線入射面Ｒから放射線が入射し、シンチレータ３で放射線から変換された可視光等の電磁波が照射されると、その内部で電子正孔対を発生させる。放射線検出素子７は、このようにして、照射された放射線（本実施形態ではシンチレータ３で放射線から変換された電磁波）を電荷に変換するようになっている。
【００５３】
そして、ＴＦＴ８は、後述する走査駆動手段１５から走査線５を介してゲート電極８ｇにオン電圧が印加されるとオン状態となり、ソース電極８ｓやドレイン電極８ｄを介して放射線検出素子７内に蓄積されている電荷を信号線６に放出させるようになっている。また、ＴＦＴ８は、接続された走査線５を介してゲート電極８ｇにオフ電圧が印加されるとオフ状態となり、放射線検出素子７から信号線６への電荷の放出を停止して、放射線検出素子７内に電荷を蓄積させるようになっている。
【００５４】
本実施形態では、図５に示すように、それぞれ列状に配置された複数の放射線検出素子７に１本のバイアス線９が接続されており、図４に示すように、各バイアス線９はそれぞれ信号線６に平行に配設されている。また、各バイアス線９は、基板４の検出部Ｐの外側の位置で結線１０に結束されている。
【００５５】
本実施形態では、図４に示すように、各走査線５や各信号線６、バイアス線９の結線１０は、それぞれ基板４の端縁部付近に設けられた入出力端子（パッドともいう。）１１に接続されている。各入出力端子１１には、図６に示すように、後述する走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂを構成するゲートＩＣ１５ｃ等のチップがフィルム上に組み込まれたフレキシブル回路基板（Chip On Film等ともいう。）１２が異方性導電接着フィルム（Anisotropic Conductive Film）や異方性導電ペースト（Anisotropic Conductive Paste）等の異方性導電性接着材料１３を介して接続されている。
【００５６】
そして、フレキシブル回路基板１２は、基板４の裏面４ｂ側に引き回され、裏面４ｂ側で前述したＰＣＢ基板３３に接続されるようになっている。このようにして、放射線画像撮影装置１のセンサパネルＳＰが形成されている。なお、図６では、電子部品３２等の図示が省略されている。
【００５７】
ここで、放射線画像撮影装置１の回路構成について説明する。図７は本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の等価回路を表すブロック図であり、図８は検出部Ｐを構成する１画素分についての等価回路を表すブロック図である。
【００５８】
前述したように、基板４の検出部Ｐの各放射線検出素子７は、その第２電極７ｂにそれぞれバイアス線９が接続されており、各バイアス線９は結線１０に結束されてバイアス電源１４に接続されている。バイアス電源１４は、結線１０および各バイアス線９を介して各放射線検出素子７の第２電極７ｂにそれぞれバイアス電圧を印加するようになっている。また、バイアス電源１４は、後述する制御手段２２に接続されており、制御手段２２により、バイアス電源１４から各放射線検出素子７に印加するバイアス電圧が制御されるようになっている。
【００５９】
図７や図８に示すように、本実施形態では、バイアス電源１４からは、放射線検出素子７の第２電極７ｂにバイアス線９を介してバイアス電圧として放射線検出素子７の第１電極７ａ側にかかる電圧以下の電圧（すなわちいわゆる逆バイアス電圧）が印加されるようになっている。
【００６０】
走査駆動手段１５は、配線１５ｄを介してゲートドライバ１５ｂにオン電圧とオフ電圧
を供給する電源回路１５ａと、走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧の間で切り替えて各ＴＦＴ８のオン状態とオフ状態とを切り替えるゲートドライバ１５ｂとを備えている。本実施形態では、ゲートドライバ１５ｂは、複数の前述したゲートＩＣ１５ｃ（図６参照）が並設されて構成されている。
【００６１】
図７や図８に示すように、各信号線６は、読み出しＩＣ１６内に内蔵された各読み出し回路１７にそれぞれ接続されている。読み出し回路１７は、増幅回路１８と相関二重サンプリング回路１９等で構成されている。読み出しＩＣ１６内には、さらに、アナログマルチプレクサ２１と、Ａ／Ｄ変換器２０とが設けられている。なお、図７や図８中では、相関二重サンプリング回路１９はＣＤＳと表記されている。また、図８中では、アナログマルチプレクサ２１は省略されている。
【００６２】
本実施形態では、増幅回路１８は、オペアンプ１８ａと、オペアンプ１８ａにそれぞれ並列にコンデンサ１８ｂおよび電荷リセット用スイッチ１８ｃが接続され、オペアンプ１８ａ等に電力を供給する電源供給部１８ｄを備えたチャージアンプ回路で構成されている。増幅回路１８のオペアンプ１８ａの入力側の反転入力端子には信号線６が接続されており、増幅回路１８の入力側の非反転入力端子には基準電位Ｖ０が印加されるようになっている。なお、基準電位Ｖ０は適宜の値に設定され、本実施形態では、例えば０［Ｖ］が印加されるようになっている。
【００６３】
また、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃは、制御手段２２に接続されており、制御手段２２によりオン／オフが制御されるようになっている。また、オペアンプ１８ａと相関二重サンプリング回路１９との間には、電荷リセット用スイッチ１８ｃと連動して開閉するスイッチ１８ｅが設けられており、スイッチ１８ｅは、電荷リセット用スイッチ１８ｃがオン／オフ動作と連動してオフ／オン動作するようになっている。
【００６４】
放射線画像撮影装置１で、各放射線検出素子７内に残存する電荷を除去するための各放射線検出素子７のリセット処理を行う際には、図９に示すように、電荷リセット用スイッチ１８ｃがオン状態（およびスイッチ１８ｅがオフ状態）とされた状態で、各ＴＦＴ８がオン状態とされる。
【００６５】
すると、オン状態とされた各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７から電荷が信号線６に放出され、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃを通過して、オペアンプ１８ａの出力端子側からオペアンプ１８ａ内を通り、非反転入力端子から出てアースされたり、電源供給部１８ｄに流れ出す。このようにして、各放射線検出素子７のリセット処理が行われるようになっている。
【００６６】
一方、各放射線検出素子７からの画像データＤの読み出し処理の際には、図１０に示すように、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃがオフ状態（およびスイッチ１８ｅがオン状態）とされた状態で、オン状態とされた各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７から電荷が信号線６に放出されると、電荷が増幅回路１８のコンデンサ１８ｂに蓄積される。
【００６７】
そして、増幅回路１８では、コンデンサ１８ｂに蓄積された電荷量に応じた電圧値がオペアンプ１８ａの出力側から出力されるようになっており、増幅回路１８により、各放射線検出素子７から流出した電荷が電荷電圧変換されるようになっている。
【００６８】
そして、増幅回路１８の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路（ＣＤＳ）１９は、各放射線検出素子７から電荷が流出する前に制御手段２２からパルス信号Ｓｐ１（図１０参照）が送信されると、その時点で増幅回路１８から出力されている電圧値Ｖinを保
持し、上記のように各放射線検出素子７から流出した電荷が増幅回路１８のコンデンサ１８ｂに蓄積された後に制御手段２２からパルス信号Ｓｐ２が送信されると、その時点で増幅回路１８から出力されている電圧値Ｖfiを保持する。
【００６９】
そして、相関二重サンプリング回路１９は、２回目のパルス信号Ｓｐ２で電圧値Ｖfiを保持すると、電圧値の差分Ｖfi−Ｖinを算出し、算出した差分Ｖfi−Ｖinをアナログ値の画像データＤとして下流側に出力するようになっている。そして、相関二重サンプリング回路１９から出力された各放射線検出素子７の画像データＤは、アナログマルチプレクサ２１を介して順次Ａ／Ｄ変換器２０に送信され、Ａ／Ｄ変換器２０で順次デジタル値の画像データＤに変換されて記憶手段２３に出力されて順次保存されるようになっている。
【００７０】
なお、１回の画像データＤの読み出し処理が終了すると、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃがオン状態とされ（図１０参照）、コンデンサ１８ｂに蓄積された電荷が放電されて、上記と同様に、放電された電荷がオペアンプ１８ａの出力端子側からオペアンプ１８ａ内を通り、非反転入力端子から出てアースされたり、電源供給部１８ｄに流れ出す等して、増幅回路１８がリセットされる。
【００７１】
制御手段２２は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only
Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、入出力インターフェース等がバスに接続されたコンピュータや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等により構成されている。専用の制御回路で構成されていてもよい。
【００７２】
そして、制御手段２２は、放射線画像撮影装置１の各部材の動作等を制御するようになっている。また、図７等に示すように、制御手段２２には、ＳＲＡＭ（Static ＲＡＭ）やＳＤＲＡＭ（Synchronous ＤＲＡＭ）等で構成される記憶手段２３が接続されている。
【００７３】
また、本実施形態では、制御手段２２には、前述したアンテナ装置４１が接続されており、さらに、検出部Ｐや走査駆動手段１５、読み出し回路１７、記憶手段２３、バイアス電源１４等の各部材に電力を供給するためのバッテリ２４が接続されている。また、バッテリ２４には、図示しない充電装置からバッテリ２４に電力を供給してバッテリ２４を充電する際の接続端子２５が取り付けられている。
【００７４】
前述したように、制御手段２２は、バイアス電源１４を制御してバイアス電源１４から各放射線検出素子７に印加するバイアス電圧を設定したり可変させたりするなど、放射線画像撮影装置１の各機能部の動作を制御するようになっている。
【００７５】
なお、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出等については、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０について説明した後で説明する。
【００７６】
［放射線画像撮影システム］
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影システムについて説明する。図１１や図１２は、本実施形態に係る放射線画像撮影システムの構成を示す図である。
【００７７】
図１１は、病院等の撮影室Ｒ１や前室（操作室等ともいう。）Ｒ２等に放射線画像撮影システム５０が構築された場合を示す図であり、図１２は、放射線画像撮影システム５０が病室Ｒ３に搬入される回診車７１上に構築された場合を示す図である。なお、図１２において、Ｈは被写体である被験者を表し、Ｂは被験者が横臥するベッドＢを表す。
【００７８】
以下、図１１に示すように、放射線画像撮影システム５０が、撮影室Ｒ１等に構築された場合について主に説明するが、図１２に示した回診車７１上に構築された場合について
も同様に説明される。
【００７９】
図１１に示すように、撮影室Ｒ１には、ブッキー装置５１が設置されており、ブッキー装置５１は、そのカセッテ保持部（カセッテホルダともいう。）５１ａに上記の放射線画像撮影装置１を装填して用いることができるようになっている。
【００８０】
なお、図１１では、ブッキー装置５１として、立位撮影用のブッキー装置５１Ａと臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂが設置されている場合が示されているが、例えば、立位撮影用のブッキー装置５１Ａのみ、或いは、臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂのみが設けられていてもよい。
【００８１】
放射線画像撮影装置１をブッキー装置５１に装填する際に、例えば前述した図３に示したように、放射線画像撮影装置１のコネクタ３９に、ブッキー装置５１から延設されたケーブルＣａの先端に設けられたコネクタＣを接続した状態で装填するように構成することが可能である。
【００８２】
なお、この場合、放射線画像撮影装置１は、コネクタ３９やケーブルＣａを介してコンソール５８との間で有線方式で信号の送受信等を行ったり、画像処理装置としてのコンソール５８への画像データＤの送信等を行うことが可能となることは前述した通りである。
【００８３】
また、図１２に示したように、放射線画像撮影システム５０を回診車７１上に構築した場合、図１８に示したように放射線画像撮影装置１にケーブルＣａを接続した状態で撮影を行ってもよいが、ケーブルＣａが放射線技師等の撮影動作の邪魔になるような場合には、放射線画像撮影装置１にケーブルＣａを接続しない状態で撮影が行われる。
【００８４】
撮影室Ｒ１には、図１１に示すように、被写体を介してブッキー装置５１に装填された放射線画像撮影装置１に放射線を照射する放射線源５２が少なくとも１つ設けられている。本実施形態では、放射線源５２の位置を移動させたり、放射線の照射方向を変えることで、１つの放射線源５２で、立位撮影用のブッキー装置５１Ａと臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂのいずれにも放射線を照射することができるようになっている。
【００８５】
一方、回診車７１上に構築された放射線画像撮影システム５０では、図１２に示すように、放射線画像撮影装置１はブッキー装置５１には装填されず、いわば単独の状態で用いられる。そして、例えば、患者Ｈが病室Ｒ３のベッドＢから起き上がれず、撮影室Ｒ１に行くことができないような場合に、図１２に示すように放射線画像撮影装置１をベッドＢと患者の身体との間に差し込んだり患者の身体にあてがったりして用いることができるようになっている。
【００８６】
また、放射線画像撮影装置１を病室Ｒ３等で用いる場合、前述した撮影室Ｒ１に据え付けられた放射線発生装置５５や放射線源５２を病室Ｒ３に持ち込むことができないため、図１２に示すように、放射線発生装置５５が例えば回診車７１に搭載される等して病室Ｒ３に持ち込まれる。
【００８７】
そして、この場合、放射線源５２Ｐは任意の方向に放射線を照射できるように構成される。そして、ベッドＢと患者の身体との間に差し込まれたり患者の身体にあてがわれたりした放射線画像撮影装置１に対して、適切な距離や方向から放射線を照射するように調整される。
【００８８】
なお、図１１に示したように、撮影室Ｒ１内においても、放射線画像撮影装置１を、例えば臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂ上に横臥した患者の身体と臥位撮影用のブッキー装
置５１Ｂとの間に差し込んだり、臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂ上で患者の身体にあてがったりして用いることも可能である。そして、この場合、放射線源５２としては、ポータブルの放射線源を用いることも可能であり、また、撮影室Ｒ１に据え付けられた放射線源５２を用いることも可能である。
【００８９】
図１１に示すように、撮影室Ｒ１には、撮影室Ｒ１内の各装置等や撮影室Ｒ１外の各装置等の間の通信等を中継するための中継器（基地局等ともいう。）５４が設けられている。なお、本実施形態では、中継器５４には、放射線画像撮影装置１が無線方式で画像データＤや信号等の送受信を行うことができるように、無線アンテナ（アクセスポイント等ともいう。）５３が設けられている。
【００９０】
また、中継器５４は、放射線発生装置５５やコンソール５８と接続されており、中継器５４には、放射線画像撮影装置１やコンソール５８等から放射線発生装置５５に送信するＬＡＮ通信用の信号等を放射線発生装置５５用の信号等に変換し、また、その逆の変換も行う図示しない変換器が内蔵されている。
【００９１】
なお、図１２に示した回診車７１上に構築された放射線画像撮影システム５０では、放射線発生装置５５内に、或いは外付けで、ＬＡＮ通信用の信号等を放射線発生装置５５用の信号等に変換し、その逆の変換も行う図示しない変換器が設けられており、この変換器に無線アンテナ５３が取り付けられている。
【００９２】
前室（操作室ともいう。）Ｒ２には、本実施形態では、放射線発生装置５５の操作卓５７が設けられており、操作卓５７には、放射線技師等が操作して放射線発生装置５５に対して放射線の照射開始等を指示するための曝射スイッチ５６が設けられている。そして、本実施形態では、放射線技師等が曝射スイッチ５６を操作することで放射線源５２から放射線が照射されるようになっている。
【００９３】
図１２に示した回診車７１上に構築された放射線画像撮影システム５０では、回診車７１に搭載された放射線発生装置５５が操作卓５７の役割も果たしており、放射線発生装置５５に、図１２では図示を省略した曝射スイッチ５６が取り付けられている。
【００９４】
放射線発生装置５５は、このほか、放射線源５２から適切な線量の放射線が照射されるように、放射線源５２に所定の管電流や管電圧を供給したり放射線源５２からの放射線の照射時間を調整する等して、放射線源５２を制御するようになっている。
【００９５】
本実施形態では、コンピュータ等で構成されたコンソール５８が、図１１の場合には前室Ｒ２に設けられており、図１２の場合には、回診車７１に搭載されている。なお、図１１の場合に、コンソール５８を撮影室Ｒ１や前室Ｒ２の外側や別室等に設けるように構成することも可能であり、コンソール５８の設置場所は適宜決められる。
【００９６】
本実施形態では、コンソール５８には、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）やＬＣＤ（Liquid
Crystal Display）等を備えて構成される表示部５８ａ（図１２では図示省略）が設けられており、また、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等で構成された記憶手段５９（図１２では図示省略）が接続、或いは内蔵されている。
【００９７】
コンソール５８は、放射線画像撮影装置１から画像データＤ等が送信されてくると、それに基づいて表示部５８ａ上にプレビュー画像を表示するようになっている。そして、放射線技師等は、表示されたプレビュー画像を見て、画像中に被写体が撮影されているかや画像中での被写体の撮影位置が適切であるか等を確認して、再撮影の要否等を判断するようになっている。
【００９８】
また、本実施形態では、コンソール５８は、画像処理装置として機能するようにもなっており、放射線技師等により再撮影の必要がないと判断された場合には、画像データＤにオフセット補正やゲイン補正、欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっている。なお、画像処理装置としてのコンソール５８における画像処理については、後で説明する。
【００９９】
［放射線の照射開始の検出の制御構成について］
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出処理の制御構成について説明する。
【０１００】
本実施形態では、放射線画像撮影装置１と放射線発生装置５５との間でインターフェースが構築されず、放射線画像撮影装置１自体で放射線源５２から放射線が照射されたことを検出するようになっている。以下、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１で行われる放射線の照射開始の検出の仕方について説明する。
【０１０１】
なお、本実施形態に係る検出方法は、本発明者らの研究により新たに見出された検出方法であり、前述した特許文献４や特許文献５に記載されているように、装置内に電流検出手段を設けて電流検出手段からの出力値に基づいて放射線の照射開始等を検出する手法は採用されていない。本発明者らの研究により新たに見出された検出方法としては、例えば、下記の２つの検出方法のいずれかを採用することが可能である。
【０１０２】
［検出方法１］
例えば、放射線画像撮影において放射線画像撮影装置１に放射線が照射される前に、リークデータｄleakの読み出し処理を繰り返し行うように構成することも可能である。ここで、リークデータｄleakとは、図１３に示すように、各走査線５にオフ電圧を印加した状態で、オフ状態になっている各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７からリークする電荷ｑの信号線６ごとの合計値に相当するデータである。
【０１０３】
そして、リークデータｄleakの読み出し処理では、図１０に示した画像データＤの読み出し処理の場合と異なり、図１４に示すように、走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加して各ＴＦＴ８をオフ状態とした状態で、制御手段２２から各読み出し回路１７の相関二重サンプリング回路１９（図７、８のＣＤＳ参照）にパルス信号Ｓｐ１、Ｓｐ２を送信するようになっている。
【０１０４】
相関二重サンプリング回路１９は、制御手段２２からパルス信号Ｓｐ１が送信されると、その時点で増幅回路１８から出力されている電圧値Ｖinを保持する。そして、増幅回路１８のコンデンサ１８ｂに各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７からリークする電荷ｑが蓄積されて増幅回路１８から出力される電圧値が上昇し、制御手段２２からパルス信号Ｓｐ２が送信されると、相関二重サンプリング回路１９は、その時点で増幅回路１８から出力されている電圧値Ｖfiを保持する。
【０１０５】
そして、相関二重サンプリング回路１９が電圧値の差分Ｖfi−Ｖinを算出して出力した値が、リークデータｄleakとなる。リークデータｄleakが、その後、Ａ／Ｄ変換器２０でデジタル値に変換されることは、前述した画像データＤの読み出し処理の場合と同様である。
【０１０６】
しかし、リークデータｄleakの読み出し処理のみを繰り返し行うように構成すると、各ＴＦＴ８がオフ状態のままとなってしまい、各放射線検出素子７内で発生した暗電荷が各放射線検出素子７内に蓄積され続ける状態になってしまう。
【０１０７】
そのため、上記のように、放射線画像撮影前に、リークデータｄleakの読み出し処理を繰り返し行うように構成する場合には、図１５に示すように、各走査線５にオフ電圧を印加した状態で行うリークデータｄleakの読み出し処理と、走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返し行うように構成することが望ましい。なお、図１５や後述する図１６等のＴやτについては後で説明する。
【０１０８】
このように放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返して行うように構成した場合、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されると、シンチレータ３（図２参照）で放射線から変換された電磁波が、各ＴＦＴ８に照射される。そして、それにより、各ＴＦＴ８を介して各放射線検出素子７からリークする電荷ｑ（図１３参照）がそれぞれ増加することが本発明者らの研究で分かった。
【０１０９】
そして、例えば図１６に示すように、放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返して行う場合、図１７に示すように、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始された時点で読み出されたリークデータｄleakが、それ以前に読み出されたリークデータｄleakよりも格段に大きな値になる。
【０１１０】
なお、図１６および図１７では、図１６で走査線５のラインＬ４にオン電圧が印加されてリセット処理が行われた後の４回目の読み出し処理で読み出されたリークデータｄleakが、図１７の時刻ｔ１におけるリークデータｄleakに対応する。また、図１６において「Ｒ」は各放射線検出素子７のリセット処理を表し、「Ｌ」はリークデータｄleakの読み出し処理を表す。なお、図１６中のＴacについては後で説明する。
【０１１１】
そこで、放射線画像撮影装置１の制御手段２２で、放射線画像撮影前のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出されたリークデータｄleakを監視するように構成し、読み出されたリークデータｄleakが、例えば予め設定された所定の閾値ｄleak_th（図１７参照）を越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することができる。
【０１１２】
そして、この場合、制御手段２２は、上記のようにして、放射線の照射が開始されたことを検出すると、図１６に示したように、その時点で各走査線５へのオン電圧の印加を停止して、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の全てのラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させ、各ＴＦＴ８をオフ状態にして、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷を各放射線検出素子７内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。
【０１１３】
そして、例えば放射線の照射開始を検出してから所定時間が経過した後、制御手段２２は、放射線画像撮影前のリークデータｄleakの読み出し処理で放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された走査線５（図１６の場合は走査線５のラインＬ４）の次にオン電圧を印加すべき走査線５（図１６の場合は走査線５のラインＬ５）からオン電圧の印加を開始し、各走査線５にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データＤの読み出し処理を行うように構成される。
【０１１４】
なお、図１６では、本画像としての画像データＤの読み出し処理を、放射線の照射開始を検出した時点でオン電圧が印加された走査線５のラインＬｎの次にラインＬn+1からオン電圧の印加を開始して行う場合を示したが、例えば、走査線５の最初のラインＬ１等からオン電圧の印加を開始して画像データＤの読み出し処理を行うように構成することも可
能である。
【０１１５】
［検出方法２］
また、上記の検出方法１のように、放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理を行うように構成する代わりに、放射線画像撮影前に、図１８に示すように、走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加して、各放射線検出素子７からの画像データｄの読み出し処理を繰り返し行うように構成することも可能である。
【０１１６】
なお、前述したように、撮影直後に行われる上記の本画像としての画像データＤと区別して、以下、この放射線画像撮影前に放射線の照射開始の検出用に読み出される照射開始検出用の画像データを、画像データｄという。また、図１８中において、１フレームとは、検出部Ｐ（図４や図７参照）上に二次元状に配列された１面分の各放射線検出素子７から画像データｄの読み出し処理を行う期間をいう。
【０１１７】
また、画像データｄの読み出し処理における読み出し回路１７の増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃのオン／オフや、相関二重サンプリング回路１９へのパルス信号Ｓｐ１、Ｓｐ２の送信等は、図１９に示すように、図１０に示した画像データＤの読み出し処理における処理と同様に行われる。なお、図１９等におけるΔＴについては後で説明する。
【０１１８】
上記のように放射線画像撮影前に画像データｄの読み出し処理を行うように構成した場合、図２０に示すように、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されると、その時点で読み出された画像データｄ（図２０では走査線５のラインＬｎにオン電圧が印加されて読み出された画像データｄ）が、前述した図１７に示したリークデータｄleakの場合と同様に、それ以前に読み出された画像データｄよりも格段に大きな値になる。
【０１１９】
そこで、放射線画像撮影装置１の制御手段２２で、放射線画像撮影前の読み出し処理で読み出された画像データｄを監視するように構成し、読み出された画像データｄが予め設定された所定の閾値ｄthを越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することができる。
【０１２０】
そして、この場合、制御手段２２は、上記のようにして、放射線の照射が開始されたことを検出すると、図２０に示すように、その時点で各走査線５へのオン電圧の印加を停止して、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の全てのラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させ、各ＴＦＴ８をオフ状態にして、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷を各放射線検出素子７内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。
【０１２１】
そして、例えば放射線の照射開始を検出してから所定時間が経過した後、制御手段２２は、放射線画像撮影前の画像データｄの読み出し処理で放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された走査線５（図２０の場合は走査線５のラインＬｎ）の次にオン電圧を印加すべき走査線５（図２０の場合は走査線５のラインＬn+1）からオン電圧の印加を開始し、各走査線５にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データＤの読み出し処理を行うように構成される。
【０１２２】
なお、図２０に示した場合においても、本画像としての画像データＤの読み出し処理を、例えば走査線５の最初のラインＬ１等からオン電圧の印加を開始して行うように構成することが可能である。また、図２０中のΔＴやτについては後で説明する。
【０１２３】
［放射線の照射終了の検出について］
例えば、上記の検出方法１において、図１６に示したように、放射線の照射が開始されたことを検出した後、各走査線５にオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子７のリセット処理は停止して電荷蓄積状態に移行する。
【０１２４】
そして、その際、例えば図２１に示すように、電荷蓄積状態で、各走査線５にオフ電圧を印加して行うリークデータｄleakの読み出し処理を続行するように構成して、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射の終了を検出するように構成することも可能である。
【０１２５】
放射線の照射開始検出後、リークデータｄleakの読み出し処理を続行するように構成すると、電荷蓄積状態では既に放射線の照射が開始されているため、図２２に示すように、読み出されるリークデータｄleakは大きな値になっているが、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が終了すると、リークデータｄleakは元の小さな値に戻る。
【０１２６】
そのため、例えば時刻ｔ２でリークデータｄleakが閾値ｄleak_th＊以下の値になったことをもって放射線の照射が終了したことを検出することが可能となる。
【０１２７】
なお、この場合の閾値ｄleak_th＊は、上記の検出方法１で放射線の照射開始を検出する際の閾値と同じ値ｄleak_thであってもよく、別の値として設定することも可能である。また、図２２では、時刻ｔ２で放射線の照射の終了を検出した後もリークデータｄleakの読み出し処理を引き続き行ってリークデータｄleakを読み出す場合が示されているが、実際には、下記のように、放射線の照射の終了を検出するとリークデータｄleakの読み出し処理は停止される。
【０１２８】
図２２に示したように、リークデータｄleakが閾値ｄleak_th＊以下の値になり、放射線の照射が終了したことが検出された時点（図２１では「Ａ」参照。図２２の時刻ｔ２に対応する。）で、各走査線５へのオン電圧の順次の印加を開始して本画像としての画像データＤの読み出し処理を開始するように構成することが可能となる。
【０１２９】
このように構成すれば、図２１に示したように、放射線の照射の終了を検出した後、すぐに画像データＤの読み出し処理を開始することが可能となり、画像データＤの読み出し処理以降の処理を早期に行うことが可能となるといった利点がある。
【０１３０】
なお、この電荷蓄積状態においてリークデータｄleakの読み出し処理を行って放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射の終了を検出する手法を、上記の検出方法２で行うように構成することも可能である。
【０１３１】
［改良された放射線の照射開始の検出方法について］
ところで、上記の検出方法１、２は、以下のように改良することができる。なお、以下では、前述した検出方法１、すなわち放射線画像撮影前にリークデータｄleakの読み出し処理を行い、読み出したリークデータｄleakに基づいて放射線の照射開始を検出する場合について説明するが、上記の検出方法２についても同様にあてはまる。
【０１３２】
上記の検出方法１を採用して放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始を検出するように構成する場合、放射線画像撮影装置１の検出部Ｐ（図４や図７等参照）には、通常、数千本から数万本の信号線６が配線されており、各信号線６にそれぞれ読み出し回路１７が設けられているため、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出されるリークデータｄleakの数は、数千個から数万個の数になる。
【０１３３】
そして、それらの全てのリークデータｄleakについて、上記のように閾値を越えたか否かを判断する処理を各読み出し処理ごとに行うように構成すると、処理が重くなり、リア
ルタイムで放射線の照射開始を検出することができなくなる虞れがある。そこで、以下のような検出手法を採用することが可能である。
【０１３４】
［検出手法Ａ］
読み出しＩＣ１６（図７参照）内には、例えば、１２８個や２５６個の読み出し回路１７が形成されて内蔵されている。すなわち、１個の読み出しＩＣ１６には、１２８本や２５６本等の信号線６が接続されている。そして、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で、１個の読み出しＩＣ１６から各信号線６ごとに１２８個や２５６個のリークデータｄleakが読み出される。
【０１３５】
いま、仮に信号線６が４０９６本設けられており、１個の読み出しＩＣ１６に２５６個の読み出し回路１７が内蔵されている（すなわち１個の読み出しＩＣ１６に２５６本の信号線６が接続されている）とすると、読み出しＩＣ１６の数は、全部で４０９６÷２５６＝１６個になる。
【０１３６】
そこで、例えば、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で１つの読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの合計値や平均値、中間値、最大値等（以下、これらを代表して平均値という。）を算出し、各読み出しＩＣ１６について算出したリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)が、それぞれ閾値を越えたか否かを判断するように構成することが可能である。
【０１３７】
なお、平均値ｄleak_ave(z)中のｚは、読み出しＩＣ１６の番号であり、上記の例では、読み出しＩＣ１６は１６個設けられているため、ｚは１から１６までの値をとる。
【０１３８】
この検出手法Ａのように構成すれば、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、上記の例で言えば、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出される４０９６個のリークデータｄleakについて各々閾値を越えたか否かを判断する必要がなくなり、各読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの１６個の平均値ｄleak_ave(z)について閾値を越えたか否かを判断するだけで済む。そのため、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始の判断処理が軽くなる。
【０１３９】
［検出手法Ｂ］
また、さらに判断処理を軽くするために、制御手段２２で、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で１つの読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakから算出した１６個の平均値ｄleak_ave(z)の中から最大値を抽出し、リークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)の最大値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することも可能である。
【０１４０】
しかし、この場合、各読み出しＩＣ１６内の各読み出し回路１７におけるデータの読み出し効率が問題になる場合がある。すなわち、各読み出し回路１７（図７等参照）のデータの読み出し効率は、通常、各読み出し回路１７ごとに異なり、各放射線検出素子７から信号線６にリークする電荷ｑの合計値（図１３参照）が信号線６ごとに同じであったとしても、他の読み出し回路１７よりも常に大きな値のリークデータｄleakを読み出す読み出し回路１７もあれば、他の読み出し回路１７よりも常に小さな値のリークデータｄleakを読み出す読み出し回路１７もある。
【０１４１】
このような状況において、例えば図２３に示すように、放射線画像撮影装置１に対して放射線が、検出部Ｐの中央部分に照射野Ｆが絞られた状態で照射され、他の読み出し回路１７よりも常に大きな値のリークデータｄleakを読み出す読み出し回路１７に接続されている信号線６ａが照射野Ｆ外に存在する場合を考える。
【０１４２】
このような場合、図２４に示すように、照射野Ｆ内に存在する信号線６に接続されている読み出し回路１７を含む読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)（図中のγ参照）が放射線の照射により上昇しても、照射野Ｆ外に存在する信号線６ａに接続されている読み出し回路１７を含む読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)（図中のδ参照）を越えない場合が生じ得る。
【０１４３】
そして、このような場合、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で１つの読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakから算出した１６個の平均値ｄleak_ave(z)の中から最大値を抽出すると、図中δで示されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)が抽出されるが、抽出されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)は放射線の照射によっても変動しないため、結局、閾値を越えなくなり、放射線の照射を検出することができなくなる。
【０１４４】
そこで、このような問題を回避するために、例えば、各読み出し処理ごとに各読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)の移動平均を、読み出しＩＣ１６ごとに算出するように構成することが可能である。
【０１４５】
すなわち、１回のリークデータｄleakの読み出し処理ごとに読み出しＩＣ１６から出力されるリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)を算出するごとに、当該読み出し処理の直前の読み出し処理を含む所定回数分の過去の各読み出し処理の際に算出された、読み出しＩＣ１６ごとのリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)の平均（すなわち移動平均）を算出するように構成する。
【０１４６】
そして、読み出しＩＣ１６ごとに、今回の読み出し処理で算出したリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)と、算出した移動平均との差分Δｄを算出するように構成することが可能である。
【０１４７】
そして、制御手段２２で、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakから算出した平均値ｄleak_ave(z)と、それぞれに対応する移動平均との差分Δｄを、各読み出しＩＣ１６ごとにそれぞれ算出し、算出した差分Δｄ（上記の例では１６個の差分Δｄ）の中から最大値を抽出し、差分Δｄの最大値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することが可能である。
【０１４８】
このように構成すれば、読み出しＩＣ１６内に設けられた読み出し回路１７ごとに読み出し効率にばらつきがあったとしても、同じ読み出し効率で読み出されたリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)と移動平均との差分Δｄを算出することで、読み出し効率によるばらつきが相殺される。
【０１４９】
そのため、上記差分Δｄが、読み出しＩＣ１６ごとに、純粋にリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)が過去のデータから増加したか否かのみを反映する値になり、それに基づいて放射線の照射開始を検出するように構成することで、図２４に示したような問題が発生することを的確に防止することが可能となる。
【０１５０】
［検出手法Ｃ］
また、制御手段２２で、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で１つの読み出しＩＣ１６から出力されたリークデータｄleakから算出した１６個の平均値ｄleak_ave(z)と、それぞれに対応する移動平均との差分Δｄをそれぞれ算出するが、算出した差分Δｄの中から最大値だけでなく最小値も抽出し、差分Δｄの最大値と最小値との差が、閾値を越
えたか否かを判断するように構成することも可能である。
【０１５１】
［検出手法Ｄ］
また、放射線源５２から放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量が非常に小さい場合、上記の検出手法Ａ〜Ｃに従って算出する読み出しＩＣ１６ごとのリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)（検出手法Ａ）や、読み出しＩＣ１６ごとのリークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)と移動平均との差分Δｄ（検出手法Ｂ）、或いは差分Δｄの最大値と最小値との差（検出手法Ｃ）が小さく、放射線が照射されてもそれらの値が閾値を越えない場合があり得る。
【０１５２】
そこで、例えば、読み出しＩＣ１６ごとに、リークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)と移動平均との差分Δｄの時間的な積分値（すなわち積算値）を算出し、この積分値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することも可能である。
【０１５３】
このように構成すると、放射線画像撮影装置１に放射線が照射されないうちは、リークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)がゆらいで移動平均よりも大きくなったり小さくなったりするため、それらの差分Δｄの積分値は０に近い値で推移する。しかし、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されると、リークデータｄleakの平均値ｄleak_ave(z)は移動平均よりも大きな値になるため、それらの差分Δｄは、正の値になる場合が多くなる。
【０１５４】
そのため、上記のように構成すれば、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されないうちは積分値が閾値を越えることはないが、放射線の照射が開始されると、積分値が増加していき、閾値を越えるようになる。そのため、上記のように構成することで、放射線源５２から放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量が非常に小さい場合でも、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。
【０１５５】
なお、上記の検出手法Ａ〜Ｄのいずれか１つの検出手法を採用するように構成することも可能である。また、例えば、検出手法Ａ〜Ｄのうちの複数の手法或いは全ての手法を併用して行うように構成し、いずれか１つの検出手法で放射線の照射開始が検出された場合に、制御手段２２が放射線の照射が開始されたと判断するように構成することも可能である。
【０１５６】
また、上記の検出方法１において、放射線画像撮影前の各放射線検出素子７のリセット処理で、ある走査線５に対するオン電圧の印加を開始してから次の走査線５に対するオン電圧の印加を開始するまでの周期τ（図１５や図１６等参照）を長くして、制御手段２２から送信する２回のパルス信号Ｓｐ１、Ｓｐ２の送信間隔Ｔを長くすると、１回のリークデータｄleakの読み出し処理で読み出されるリークデータｄleakの値が大きくなり、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度が向上する。
【０１５７】
また、上記の検出方法２において、放射線画像撮影前の画像データｄの読み出し処理で、各ＴＦＴ８をオン状態とする時間ΔＴ（図１９や図２０参照）、すなわち走査駆動手段１５のゲートドライバ１５ｂから走査線５にオン電圧を印加してからオフ電圧に切り替えるまでの時間ΔＴを長くすると、１回の画像データｄの読み出し処理で読み出される画像データｄの値が大きくなり、やはり放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度が向上する。
【０１５８】
このように、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度を向上させること等を目的として、上記の検出手法Ａ〜Ｄ以外にも、放射線画像撮影装置１における放
射線の照射開始の検出方法については種々の改良が可能である。
【０１５９】
［オフセットデータの取得について］
一方、図１６や図２０に示したように、放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、上記のようにして放射線の照射開始を検出すると、ゲートドライバ１５ｂから走査線５の全てのラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させて電荷蓄積状態に移行させる。そして、その後、各走査線５にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データＤの読み出し処理を行う。
【０１６０】
ところで、放射線検出素子７内では、放射線検出素子７自体の熱（温度）による熱励起等により、いわゆる暗電荷が常時発生している。そして、前述した画像データＤの読み出し処理で読み出された画像データＤにも、この暗電荷に起因するオフセット分が重畳されている。
【０１６１】
そこで、画像処理装置としてのコンソール５８での画像データＤに基づく放射線画像の生成処理では、画像データＤからこの暗電荷に起因するオフセット分を差し引いて、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷のみに基づく真の画像データ（以下、真の画像データＤ＊という。）を算出し、この真の画像データＤ＊に基づいて放射線画像が生成される。
【０１６２】
そして、この画像データＤに重畳される暗電荷に起因するオフセット分をオフセットデータＯとして取得する処理が、通常、放射線画像撮影装置１で、放射線画像撮影の前や後に行われる。本実施形態では、制御手段２２は、画像データＤの読み出し処理（図１６等参照）までの一連の処理シーケンスを繰り返して、オフセットデータＯの読み出し処理を行うようになっている。
【０１６３】
すなわち、例えば上記の検出方法１を採用する場合、制御手段２２は、図２５に示すように、画像データＤの読み出し処理後、図１６に示した放射線画像撮影前のリークデータｄleakの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理の繰り返しから電荷蓄積状態への移行、画像データＤの読み出し処理までの一連の処理シーケンスを繰り返して、オフセットデータＯの読み出し処理を行うようになっている。
【０１６４】
なお、オフセットデータＯの読み出し処理における電荷蓄積状態では、暗電荷のみを各放射線検出素子７内に蓄積させるために、放射線画像撮影装置１に対して放射線は照射されない。そのため、画像データＤの読み出し処理の後、オフセットデータＯにおける電荷蓄積状態への移行前に、図２５に示したように、リークデータｄleakの読み出し処理を各放射線検出素子７のリセット処理と交互に行う必要はなく、リークデータｄleakの読み出し処理を行わずに、各放射線検出素子７のリセット処理のみを行うように構成することも可能である。
【０１６５】
また、図２５では、画像データＤの読み出し処理後に、各放射線検出素子７のリセット処理を１回（すなわち走査線５のラインＬn+1〜Ｌｘ、Ｌ１〜Ｌｎにオン電圧を順次印加して行うリセット処理を）行う場合を示したが、各放射線検出素子７のリセット処理を複数回行うように構成することも可能である。
【０１６６】
各放射線検出素子７内に蓄積される暗電荷の量は、当該放射線検出素子７に接続されているＴＦＴ８がオフ状態とされていた時間すなわち図１６における時間Ｔac（なお、以下、この時間Ｔacを実効蓄積時間Ｔacという。）に比例して増大する。そして、蓄積された暗電荷はオフセットデータＯとして読み出されるが、オフセットデータＯの大きさも、ＴＦＴ８がオフ状態とされていた時間すなわち図２５における実効蓄積時間Ｔacに依存して
変化する。
【０１６７】
その際、上記のように、本画像としての画像データＤの読み出し処理までの処理シーケンスと、オフセットデータＯの読み出し処理までの処理シーケンスを同じ処理シーケンスとすれば、オフセットデータＯの読み出し処理の際にＴＦＴ８がオフ状態とされていた実効蓄積時間Ｔac（図２５参照）が、本画像としての画像データＤの読み出し処理の際の実行蓄積時間Ｔac（図１６参照）と同じ時間になる。
【０１６８】
そのため、画像データＤに重畳されている暗電荷に起因するオフセット分と、オフセットデータＯの読み出し処理で読み出されるオフセットデータＯとが同じ値になるため、画像データＤからオフセットデータＯを差し引くことで、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷のみに基づく真の画像データＤ＊を算出することが可能となるのである。
【０１６９】
放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、上記のようにして本画像としての画像データＤを読み出すと、読み出した画像データＤをコンソール５８に送信し、また、上記のようにしてオフセットデータＯの読み出し処理を行うと、読み出したオフセットデータＯをコンソール５８に送信するようになっている。
【０１７０】
［画像処理装置における線欠陥の修復処理について］
次に、画像処理装置としてのコンソール５８で、画像データＤ等に基づいて放射線画像の生成処理を行う前に行われる線欠陥の修復処理について説明する。また、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０の作用についてもあわせて説明する。
【０１７１】
なお、本実施形態では、コンソール５８は、線欠陥の修復処理を行った後、修復後の画像データ（すなわち後述する真の画像データ）に対してゲイン補正や欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっているが、この所定の画像処理は公知の技術であり、説明を省略する。
【０１７２】
また、本実施形態では、上記のように、コンソール５８が画像処理装置として機能するようになっているが、コンソール５８とは別体として画像処理装置を設けてもよい。
【０１７３】
ここで、画像データＤ中に発生する線欠陥について簡単に説明する。以下では、上記の検出方法２（図２０等参照）すなわち放射線画像撮影前に画像データｄの読み出し処理を行う場合について説明する。
【０１７４】
検出方法２では、上記のように、読み出した画像データｄが増加することに基づいて放射線の照射開始を検出するが、読み出した画像データｄが増加するということは、結局、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部、すなわち本画像としての画像データＤとして読み出されるべき電荷の一部が、放射線画像撮影前に画像データｄとして各放射線検出素子７内から失われてしまうことを意味する。
【０１７５】
すなわち、図２０に示した例で言えば、走査線５のラインＬｎにオン電圧を印加した時点で放射線の照射開始が検出されているが、これは、走査線５のラインＬｎに接続されている各放射線検出素子７からは、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部が失われたことを意味する。
【０１７６】
そのため、後の本画像としての画像データＤの読み出し処理で、走査線５のラインＬｎに接続されている各放射線検出素子７から読み出された各画像データＤには、有用な電荷の一部の欠損が生じていることになる。すなわち、当該各画像データＤは、本来の値より
も若干小さな値になっている。そして、例えば図２６に示すように、画像データＤ中（或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中）の走査線５のラインＬｎに対応する部分に、欠損を生じている画像データＤの線、すなわち線欠陥が現れることになる。
【０１７７】
この線欠陥が現れる現象は、上記の検出方法１を採用した場合でも同様である。すなわち、例えば図１６に示したタイミングで放射線の照射開始が検出された場合、４回目のリークデータｄleakの読み出し処理の直前に各放射線検出素子７のリセット処理が行われた走査線５のラインＬ４では、リセット処理により、この走査線５に接続されている各放射線検出素子７内から放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部が失われてしまっている可能性がある。
【０１７８】
そのため、放射線の照射開始が検出されたリークデータｄleakの読み出し処理の直前にオン電圧が印加されてリセット処理が行われた走査線５では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに、有用な電荷の一部に欠損を生じている可能性がある。
【０１７９】
そのため、上記の検出方法１を採用した場合でも、放射線の照射開始を検出したリークデータｄleakの読み出し処理の直前にリセット処理でオン電圧が印加された走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤについて、やはり図２６に示したような線欠陥が生じ得る。
【０１８０】
一方、放射線源５２から照射される放射線の強度の立ち上がりが遅い場合や、放射線画像撮影装置１の検出感度が低いような場合には、例えば検出方法２を採用した場合、図２７に示すように、実際に放射線源５２からの放射線の照射が開始されてから、放射線画像撮影装置１で放射線の照射が開始されたことを検出するまでに時間がかかる場合がある。
【０１８１】
そして、このように放射線の照射開始の検出が遅れると、その間に、何回か画像データｄの読み出し処理が行われてしまう場合がある。
【０１８２】
また、図示を省略するが、検出方法２を採用した場合も同様であり、実際に放射線源５２からの放射線の照射が開始されてから、放射線画像撮影装置１で放射線の照射が開始されたことを検出するまでに時間がかかると、その間に、何回か、リークデータｄleakの読み出し処理と交互に行う各放射線検出素子７のリセット処理が行われてしまう場合がある。
【０１８３】
そして、例えば図２７に示したように、放射線画像撮影前の画像データｄの読み出し処理で、走査線５のラインＬｎにオン電圧を印加して画像データｄの読み出し処理が行われた時点で放射線源５２からの放射線の照射が開始され、走査線５のラインＬn+2にオン電圧を印加して行われた画像データｄの読み出し処理で放射線の照射開始が検出された場合には、図２８に示すように、走査線５のラインＬｎ〜Ｌn+2に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに欠損が生じる。
【０１８４】
そして、走査線５のラインＬｎ〜Ｌn+2に対応する部分に線欠陥が生じる。すなわち、上記のように放射線画像撮影装置１の検出感度が低い場合等には、図２８に示すように、線欠陥が連続して発生する状態になる。
【０１８５】
そこで、図２６や図２８に示したように画像データＤ中に発生する線欠陥を、画像処理装置としてのコンソール５８で修復することが必要になる。
【０１８６】
しかし、その際、放射線画像撮影装置１自体では、実際に放射線源５２からどのタイミ
ングで放射線画像撮影装置１に対して放射線の照射が開始されたかを認識することができない。
【０１８７】
すなわち、例えば図２７の例で言えば、放射線画像撮影前の画像データｄの読み出し処理で、走査線５のラインＬｎにオン電圧を印加して画像データｄの読み出し処理が行われた時点で放射線源５２からの放射線の照射が開始されたことを、放射線画像撮影装置１は認識することができない。
【０１８８】
放射線画像撮影装置１自体では、ただ、走査線５のラインＬn+2にオン電圧を印加して行われた画像データｄの読み出し処理で読み出された画像データｄに基づいて、放射線の照射開始が検出されるだけである。これは、検出方法１を採用した場合も同様である。
【０１８９】
そこで、本実施形態では、以下のようにして、画像処理装置としてのコンソール５８が画像データＤ（本実施形態では真の画像データＤ＊。以下同じ）のプロファイルを解析して、放射線源５２から放射線の照射が開始された後で各放射線検出素子７のリセット処理（検出方法１）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２）が行われて、欠損を生じている画像データＤの範囲を特定するようになっている。そして、コンソール５８は、欠損を生じているとして特定した範囲の画像データＤを修復するようになっている。
【０１９０】
以下、画像処理装置としてのコンソール５８での画像データＤの線欠陥の修復処理について説明する。
【０１９１】
上記のように、画像データＤには暗電荷に起因するオフセット分が含まれているため、各画像データＤの値にばらつきが生じている場合が多い。そして、このようにばらつきがある画像データＤに基づいて上記の範囲を特定しようとすると、範囲が適切に特定できなくなる虞れがある。
【０１９２】
そこで、本実施形態では、コンソール５８は、修復すべき画像データＤの範囲の特定処理を行う前に、まず、放射線画像撮影装置１から送信されてきた放射線画像撮影後の画像データＤとオフセット補正値Ｏに基づいて、下記（１）式に従って、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷のみに相当し暗電荷分を含まない真の画像データＤ＊を各放射線検出素子７ごとに算出するようになっている。
Ｄ＊＝Ｄ−Ｏ …（１）
【０１９３】
そして、本実施形態では、算出されたこれらの真の画像データＤ＊を対象として、以下で説明する修復処理を行うようになっている。しかし、例えば画像データＤ自体にさほどばらつきがないような場合には、オフセットデータＯを減算していない画像データＤ自体を対象として修復処理を行うように構成することも可能である。
【０１９４】
コンソール５８は、続いて、算出した真の画像データＤ＊を、真の各画像データＤ＊に対応する放射線画像撮影装置１の信号線６（図４や図７等参照）の延在方向に並べてプロットした場合に形成される真の画像データＤ＊のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するようになっている。
【０１９５】
ここで、各放射線検出素子７を、当該放射線検出素子７が接続されている信号線６のライン番号ｍと走査線５のライン番号ｎとを用いて（ｍ，ｎ）で表し、各放射線検出素子（ｍ，ｎ）から読み出された画像データＤから算出された真の画像データＤ＊をＤ＊（ｍ，ｎ）と表す。
【０１９６】
上記のようにして算出した真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の中から、ある信号線６（こ
の信号線６のライン番号をＭとする。）に接続されている各放射線検出素子（Ｍ，ｎ）から読み出された画像データＤ等に基づいて算出された真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）を抽出する。
【０１９７】
そして、抽出した真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）を走査線５のライン番号ｎの順にプロットすると真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）のプロファイルが得られる。これが、放射線画像撮影装置１のライン番号Ｍの信号線６に関する、信号線６の延在方向における真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）のプロファイルになる。
【０１９８】
コンソール５８は、このようにして形成される真の画像データＤ＊のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）を特定するようになっている。
【０１９９】
しかし、上記のようにして算出した真の画像データＤ＊にもばらつきが生じている場合がある。そのため、抽出した真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）を走査線５のライン番号ｎの順にプロットすると、プロファイルにもばらつきが生じてしまい、プロファイルに基づいて上記の範囲を特定しようとしても、範囲が適切に特定できなくなる場合があり得る。
【０２００】
そこで、本実施形態では、上記のようにして算出した真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）について、放射線画像撮影装置１の走査線５の延在方向に並ぶ真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊ave(n)、すなわち同じ走査線５のライン番号ｎの真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊ave(n)を走査線５ごとに算出する。
【０２０１】
そして、この平均値Ｄ＊ave(n)を、上記と同様にして、図２９に示すように放射線画像撮影装置１の信号線６の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するようになっている。
【０２０２】
なお、真の画像データＤ＊ではなく画像データＤ自体を対象としてプロファイルを解析する場合も、同様にして、同じ走査線５のライン番号ｎの画像データＤ（ｍ，ｎ）の平均値Ｄave(n)を走査線５ごとに算出してプロファイルを形成することが望ましい。
【０２０３】
このように真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）（或いは画像データＤ（ｍ，ｎ）。以下同じ。）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)を算出すると、真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）に含まれるばらつきが相殺される。そのため、図２９に示すようにばらつきのないプロファイルが得られるため、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を的確に特定することが可能となる。
【０２０４】
なお、図２９の右側のグラフでは、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲の近傍の部分の平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルのみが拡大されて示されている。また、平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定する場合には、以下の点に注意することが望ましい。
【０２０５】
放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置１に直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊は、真の画像データＤ＊がとり得る値の上限値に近い値になる。それに対し、被写体が撮影されている部分の真の画像データＤ＊は、通常、それより小さな値になる。
【０２０６】
また、本実施形態では、読み出し回路１７（図７や図８参照）で読み出し得る最大の電荷量よりも多くの電荷量を、放射線検出素子７内に蓄積できるように構成されている。
【０２０７】
そして、上記のように、放射線画像撮影前のリセット処理（検出方法１の場合）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２の場合）で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７では、その後、大きな電荷量が放射線検出素子７内で発生して、読み出し回路１７で読み出し得る最大の電荷量以上の電荷量が放射線検出素子７内に蓄積される状態になり得る。
【０２０８】
そのため、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子７では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、結局、読み出される画像データＤは、読み出し回路１７が出力し得る上限値或いはそれに近い値になる場合がある。
【０２０９】
すなわち、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子７では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、読み出される画像データＤを見る限り、欠損を生じていない大きな値の画像データＤが読み出される場合がある。
【０２１０】
そのため、このような画像データＤから算出される真の画像データＤ＊も、真の画像データＤ＊がとり得る値の上限値に近い値になり、しかも、その真の画像データＤ＊は欠損を生じていない大きな値のデータになる場合がある。
【０２１１】
そして、このような欠損が生じていない大きな値の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を、上記のように真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象に含めてしまうと、欠損が生じていない大きな値の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の影響が大きくなる。
【０２１２】
そして、走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルが、例えば図３０に示すように、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲が分かりづらいプロファイルになり、プロファイルを解析しても、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を的確に特定することが困難になる場合がある。
【０２１３】
そこで、本実施形態では、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊を特定して、当該放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊を、上記の平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象から除外するようになっている。放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊の特定は、例えば以下のようにして行われる。
【０２１４】
上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊が、真の画像データＤ＊がとり得る上限値やそれに近い値であることを利用して、例えば予め真の画像データＤ＊がとり得る上限値やそれに近い値を閾値として定め、閾値以上の真の画像データＤ＊については一律に上記の平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象から除外するように構成することが可能である。
【０２１５】
例えば、真の画像データＤ＊が０〜６５５３５（＝２１６−１）の値をとり得る場合、閾値を例えば６４０００に設定すれば、６４０００以上の値の真の画像データＤ＊は、一律に上記の平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象から除外される。
【０２１６】
また、もう１つの方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール５８で放射線画像を生成するために行われる、被写体が撮影されている領域の認識処理（以下、被写体領域認識処理という。）の結果を用いるように構成することも可能である。
【０２１７】
被写体領域認識処理では、例えば図３１（Ａ）に示すように、真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の中から、例えばライン番号Ｎの走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎ）に対応する真の画像データＤ＊（ｍ，Ｎ）を抽出する。そして、抽出した真の画像データＤ＊（ｍ，Ｎ）を信号線６のライン番号ｍの順にプロットする。
【０２１８】
すると、図３１（Ｂ）に示すように、放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置１に直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊は、真の画像データＤ＊がとり得る値の上限値或いはそれに近い値になるが、被写体が撮影されている部分の真の画像データＤ＊はそれより小さな値になる。
【０２１９】
そこで、このプロファイルを解析することで、ライン番号Ｎの走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎ）に対応する真の各画像データＤ＊（ｍ，Ｎ）について、図３１（Ｂ）に示すように、被写体が撮影されている領域Ｒｏ(N)が決まる。そして、この処理を、各走査線５ごとに行うことで、図３１（Ｃ）に示すように、全ての真の画像データＤ＊における被写体が撮影されている領域Ｒｏを決定して認識することができる。
【０２２０】
被写体領域認識処理では、このようにして、全ての真の画像データＤ＊において被写体が撮影されている領域Ｒｏが認識されるようになっている。
【０２２１】
そこで、この被写体領域認識処理の結果を用い、被写体が撮影されている領域Ｒｏ以外の領域に属する真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を、上記の平均値Ｄ＊ave(n)の算出の対象から除外するように構成することが可能である。
【０２２２】
画像処理装置としてのコンソール５８は、上記のようにして真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)を算出すると（図２９参照）、続いて、平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）を特定するようになっている。
【０２２３】
このプロファイル中で、欠損を生じている真の画像データＤ＊の平均値Ｄ＊ave(n)は、欠損を生じていない真の画像データＤ＊の平均値Ｄ＊ave(n)の全体的な推移のトレンドから外れる状態になる。そこで、本実施形態では、例えば以下のようにして欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するようになっている。
【０２２４】
放射線画像撮影装置１では、放射線の照射開始を検出した画像データｄの読み出し処理の際（検出方法２の場合）、或いは放射線の照射開始を検出したリークデータｄleakの読み出し処理の直前の各放射線検出素子７のリセット処理の際（検出方法１の場合）に、ゲートドライバ１５ｂからオン電圧を印加した走査線５（以下、この走査線５を検出ラインという。）のライン番号ｎを認識することができる。
【０２２５】
以下、この走査線５すなわち検出ラインのライン番号をＮａとする。例えば図２７に示した例では、このライン番号Ｎａの走査線５（すなわち検出ライン）は、放射線の照射開始が検出された画像データｄの読み出し処理でオン電圧が印加された走査線５のラインＬn+2（すなわちこの場合、ライン番号Ｎａはｎ＋２）に相当する。また、放射線画像撮影装置１は、コンソール５８に画像データＤ等を送信する際、この走査線５（すなわち検出ライン）のライン番号Ｎａも同時に送信するように構成される。
【０２２６】
画像処理装置としてのコンソール５８は、図３２に示すように、真の画像データＤ＊の平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルにおいて、この放射線の照射開始が検出された際にオン電圧が印加されていたライン番号Ｎａの走査線５（すなわち検出ライン）から順に、それ
以前にオン電圧が印加されたライン番号Ｎａ−１、Ｎａ−２、…の各ライン番号に対応する平均値Ｄ＊ave(n)を見ていく。
【０２２７】
そして、まず、Ｄ＊ave(Na)とＤ＊ave(Na-1)の差分ΔＤ＊aveの絶対値を算出し、差分ΔＤ＊aveの絶対値が、予め０に近い小さな値に設定された閾値未満であるか否かを判断する。図３２の例では、Ｄ＊ave(Na)とＤ＊ave(Na-1)の差分ΔＤ＊aveの絶対値は閾値以上であるから、続いて、Ｄ＊ave(Na-1)とＤ＊ave(Na-2)の差分ΔＤ＊aveの絶対値を算出し、差分ΔＤ＊aveの絶対値が閾値未満であるか否かを判断する。
【０２２８】
この処理を繰り返していくと、図３２の例では、Ｄ＊ave(Na-1)とＤ＊ave(Na-2)の差分ΔＤ＊aveの絶対値も、Ｄ＊ave(Na-2)とＤ＊ave(Na-3)の差分ΔＤ＊aveの絶対値も、ともに閾値以上になるが、閾値以上Ｄ＊ave(Na-3)とＤ＊ave(Na-4)の差分ΔＤ＊aveの絶対値が初めて閾値未満になる。
【０２２９】
そして、この場合は、ライン番号Ｎａ−３の走査線５にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子７のリセット処理（検出方法１の場合）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２の場合）と、ライン番号Ｎａ−２の走査線５にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子７のリセット処理や画像データｄの読み出し処理との間のタイミングで、放射線源５２（図１１、図１２参照）から実際に放射線画像撮影装置１に放射線が照射されたと判断することができる。
【０２３０】
そこで、コンソール５８は、この場合は、ライン番号Ｎａ−２の走査線５を、画像データＤに欠損が生じ始めた最初の走査線５として認識するようになっている。
【０２３１】
そして、この場合、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）は、ライン番号Ｎａ−２、Ｎａ−１、Ｎａの３本の走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊として特定される。すなわち、真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）のうち、真の画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−２）、Ｄ＊（ｍ，Ｎａ−１）、Ｄ＊（ｍ，Ｎａ）が欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲として特定される。
【０２３２】
なお、図３３に矢印Ａで示すように、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（図中の２本の一点鎖線の間の範囲）の中でも、平均値Ｄ＊ave(n)の差分ΔＤ＊aveの絶対値が閾値未満になることがあり得る。
【０２３３】
そのため、上記のように、走査線５のライン番号ｎを繰り下げながら上記の差分ΔＤ＊aveを算出していき、平均値Ｄ＊ave(n)同士の差分ΔＤ＊aveの絶対値が閾値未満になっても差分ΔＤ＊aveの算出や差分ΔＤ＊aveの絶対値と閾値との比較を続行するように構成する。
【０２３４】
そして、絶対値が閾値未満になる差分ΔＤ＊aveが連続して現れる状態になったことが確認された時点で、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲から外れたと判断して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲の検索処理を終了するように構成することも可能である。
【０２３５】
また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像処理等を行って、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するように構成することも可能である。
【０２３６】
画像処理装置としてのコンソール５８は、上記のようにして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（上記の例ではライン番号Ｎａ−２〜Ｎａの３本の走査線５の範囲）を特定すると、続いて、特定した範囲の真の画像データＤ＊を修復するようになっている
。欠損を生じている真の画像データＤ＊を修復する手法としては、例えば下記のような手法を採用することができる。
【０２３７】
例えば、図３２に示した例で言えば、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲として特定した平均値Ｄ＊ave(Na-2)〜Ｄ＊ave(Na)より図中で左側の平均値Ｄ＊ave(Na-3)や平均値Ｄ＊ave(Na-4)或いは図中でさらに左側の各平均値Ｄ＊ave(n)を含む範囲の各平均値Ｄ＊ave(n)を、例えば図３４に示すように直線Ｌapで直線近似する。すなわち、
Ｄ＊ap＝ａ×ｎ＋ｂ …（２）
の形に直線近似する。
【０２３８】
そして、平均値Ｄ＊ave(Na-2)、Ｄ＊ave(Na-1)、Ｄ＊ave(Na)は、欠損を生じていなければ、本来的には、Ｎａ−２、Ｎａ−１、Ｎａをそれぞれ上記（２）式に代入して得られるａ×（Ｎａ−２）＋ｂ、ａ×（Ｎａ−１）＋ｂ、ａ×Ｎａ＋ｂであるはずであると考える。
【０２３９】
そして、ライン番号Ｎａ−２の走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−２）に対応する真の各画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−２）に対して、｛ａ×（Ｎａ−２）＋ｂ｝／Ｄ＊ave(Na-2)を乗算し、すなわち、
Ｄ＊（ｍ，Ｎａ−２）×｛ａ×（Ｎａ−２）＋ｂ｝／Ｄ＊ave(Na-2) …（３）
の演算を行って、ライン番号Ｎａ−２の走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−２）に対応する真の各画像データを修復する。
【０２４０】
ライン番号Ｎａ−１、Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−１）、（ｍ，Ｎａ）に対応する真の各画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−１）、Ｄ＊（ｍ，Ｎａ）についても同様に、
Ｄ＊（ｍ，Ｎａ−１）×｛ａ×（Ｎａ−１）＋ｂ｝／Ｄ＊ave(Na-1) …（４）
Ｄ＊（ｍ，Ｎａ）×｛ａ×（Ｎａ）＋ｂ｝／Ｄ＊ave(Na) …（５）
の演算を行って、ライン番号Ｎａ−１、Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−１）、（ｍ，Ｎａ）に対応する真の各画像データを修復する。
【０２４１】
このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲として特定した範囲の真の画像データＤ＊を、直線近似等の方法を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。
【０２４２】
また、もう１つの修復方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール５８が、予め、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲に対応する放射線画像撮影装置１の各走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２〜Ｎａの各走査線５）のうち、欠損が生じ始めた最初の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２の走査線５）から修復対象の走査線５までの本数と、当該修復対象の走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊に乗算すべき係数との関係の情報を有しておくように構成する。
【０２４３】
すなわち、例えば、欠損が生じ始めた最初の走査線５から１本目の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２の走査線５）では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊に乗算すべき係数を例えば１．１とする。また、欠損が生じ始めた最初の走査線５から２本目の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−１の走査線５）では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊に乗算すべき係数を例えば１．２とする。
【０２４４】
さらに、欠損が生じ始めた最初の走査線５から３本目の走査線５（すなわち上記の例で
はライン番号Ｎａの走査線５（すなわち検出ライン））では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊に乗算すべき係数を例えば１．３とする。このような関係の情報を、コンソール５８が予め有しておくように構成する。
【０２４５】
なお、この関係は、予め実験を行う等して求めておく。また、この関係は、上記のように欠損が生じ始めた最初の走査線５から何本目の走査線５までの情報を有しておくかは、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度等に応じて適宜決められる。
【０２４６】
そして、コンソール５８は、上記のようにして真の画像データＤ＊や平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損が生じ始めた最初の走査線５や欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定すると、上記の情報を参照して、特定した範囲の真の各画像データＤ＊に対して、当該真の画像データＤ＊に対応する放射線検出素子７が接続されている走査線５に割り当てられている上記の係数をそれぞれ乗算する。
【０２４７】
このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲として特定した範囲の真の画像データＤ＊を、上記の走査線５と係数の関係の情報を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。
【０２４８】
また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像処理を行う等して、欠損を生じている真の画像データＤ＊を修復するように構成することも可能である。
【０２４９】
例えば、上記の図２９以降の各図に示した真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）（或いは画像データＤ（ｍ，ｎ）自体。以下同様）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)の算出処理では、上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊を特定し（図３１（Ａ）〜（Ｃ）参照）、そのような放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ＊を除外して、平均値Ｄ＊ave(n)の算出を行った。
【０２５０】
しかし、それでもなお、走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)は、値が大きな真の画像データＤ＊の影響を強く受ける。すなわち、被写体である患者の身体は、通常、その中心部付近で分厚く、周縁部に向かうに従って厚みが薄くなる。そのため、被写体の中心部付近よりも周縁部の方が、放射線の透過量が多くなり、その部分に対応する真の画像データＤ＊の方が中心部の真の画像データＤ＊よりも値が大きくなる。
【０２５１】
そのため、上記のように真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)を単純に算出すると、被写体の周縁部分の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の影響が色濃く反映された平均値Ｄ＊ave(n)になってしまう。そして、値が大きい被写体の周縁部分の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）に比較的大きなばらつきが生じると、走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルに真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）のばらつきが反映されてしまい、例えば図２９や図３２等に示したように線欠陥の部分での平均値Ｄ＊ave(n)の低下が明確に現れない状態になってしまう場合がある。
【０２５２】
そこで、以下で説明する厳密な画像処理の例では、画像処理装置としてのコンソール５８は、真の画像データＤ＊そのものの値を用いる代わりに、真の画像データＤ＊をそれぞれ基準値で除算して算出される正規化された真の画像データＤ＊norを用いて、欠損を生じている真の画像データＤ＊（或いは画像データＤ）の範囲を特定するように構成されることが好ましい。
【０２５３】
その場合、基準値としては、例えば、上記の被写体領域認識処理により認識した被写体が撮影されている領域Ｒｏ（例えば図３１（Ｃ）参照）内の任意の行、すなわち領域Ｒｏ中で任意のｎを有する真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の行（以下、この行を基準ラインと
いう。）の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を用いることができる。
【０２５４】
すなわち、例えば、領域Ｒｏのうち、走査線５の延在方向（すなわち例えば同図の横方向）における長さが最も長い位置（例えば同図では図中の上端部分（すなわちｎ＝１の部分））の行を基準ラインとし、その基準ライン上の真の各画像データＤ＊（ｍ，１）を各基準値とすることが可能である。
【０２５５】
また、例えば、検出ライン（図３２の走査線５のラインＮａ等参照）の近傍の走査線５に対応する行を基準ラインとし、その走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を各基準値とすることも可能である。
【０２５６】
なお、この場合、検出ラインＮａの近傍の走査線５のうち、図３２に示したライン番号がＮａ−３〜Ｎａ−１の走査線５のような走査線５は、まさにこれから行われる厳密な画像処理の対象となる走査線５であるから、基準ラインとして選択されるべきでない。そのため、上記の場合、検出ラインＮａよりもライン番号ｎが大きい走査線５（例えば図３２ではＮａより大きないずれかのライン番号ｎの走査線５）を基準ラインとし、それに接続されている各放射線検出素子７から読み出された各画像データＤ（ｍ，ｎ）に基づいて算出された真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を各基準値として用いることが望ましい。
【０２５７】
そして、正規化処理は、上記のようにして設定された各基準値、すなわち基準ラインの走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤ（ｍ，ｎ）に基づいて算出された真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）で、同じ列の（すなわち同じｍを有する）他の行の真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）をそれぞれ除算することにより行われる。
【０２５８】
すなわち、ある真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を正規化する場合には、各基準値のうち、当該真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）と同じｍ（すなわち信号線６のライン番号ｍ）を有する真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）で当該真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）を除算する。他の列の真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）（Ｍ≠ｍ）を正規化する場合には、各基準値のうち、当該真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）と同じＭを有する真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）で当該真の画像データＤ＊（Ｍ，ｎ）をそれぞれ除算する。
【０２５９】
このようにして、領域Ｐｏ内の真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）について、各基準値と真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）とからそれぞれ正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）が算出される。なお、上記の方法では、基準ライン上の真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）はそれぞれ自らの値によって除算されて正規化されるため、基準ライン上の正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）はそれぞれ１になる。
【０２６０】
そして、上記と同様にして、正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）について、放射線画像撮影装置１の走査線５ごとの平均値Ｄ＊nor_ave(n)を算出し、それらを放射線画像撮影装置１の信号線６の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Ｄ＊nor_ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定するように構成される。
【０２６１】
このように、正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）について走査線５ごとに平均値Ｄ＊nor_ave(n)を算出することで、真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）ごとの値のばらつきの相対的な重みが均等になる。そのため、例えば、上記のように、被写体の中心部付近よりも周縁部の方が真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）のばらつきが相対的に大きくなって線欠陥の部分での平均値Ｄ＊ave(n)の低下（例えば図２９や図３２参照）が明確
に現れなくなることを的確に防止することが可能となる。
【０２６２】
例えば、正規化される前の真の各画像データＤ＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルが例えば図３５（Ａ）に示すようなプロファイルであった場合、正規化された後の真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊nor_ave(n)のプロファイルは、例えば図３５（Ｂ）に示すようなプロファイルになる。
【０２６３】
以下、このようにして算出された正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊nor_ave(n)のプロファイル（図３５（Ｂ）参照）を解析して、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲を特定し、それらを修復する手法の一例について説明する。
【０２６４】
まず、図３６に示すように、正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊nor_ave(n)のプロファイルのうち、線欠陥が現れている可能性がある走査線５の部分ＬＤすなわち検出ラインＮａおよびライン番号がＮａより小さい所定本数の走査線５（すなわち検出ラインＮａより先にオン電圧が印加された所定本数の走査線５）を含む部分ＬＤを除く、検出ラインＮａ前後の所定本数の各走査線５における各平均値Ｄ＊nor_ave(n)を近似する第１の近似直線Ｌap１を算出する。
【０２６５】
そして、検出ラインＬNaのライン番号Ｎａを含む各ライン番号ｎごとに、実際の平均値Ｄ＊nor_ave(n)を、当該平均値Ｄ＊nor_ave(n)に対応する第１の近似直線Ｌap１上の値で除算した値をプロットすると、例えば図３７に示すようなグラフになる。これらの除算した値は、第１の近似直線Ｌap１に対する実際の平均値Ｄ＊nor_ave(n)の低下率ＤＳ(n)である。
【０２６６】
なお、図３７や以下の各図では、検出ラインＮａやライン番号がＮａより小さい各走査線５に関する部分のみが示されている。また、以下の処理では、この低下率ＤＳ(n)を用いて処理を行う場合について説明するが、第１の近似直線Ｌap１で近似せず、正規化された真の各画像データＤ＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ＊nor_ave(n)をそのままで用いて処理を行うように構成することも可能である。
【０２６７】
また、検出ラインＮａよりライン番号が１５〜５程度小さい走査線５の部分で低下率ＤＳ(n)が１より若干小さくなっているが、これは、骨や臓器等の何らの対象が撮影されている部分であるためと考えられる。すなわち、この部分は、下記に示すような線欠陥が現れた部分ではない。
【０２６８】
上記のようにして各走査線５ごとに低下率ＤＳ(n)を算出すると、続いて、算出した低下率ＤＳ(n)に対して、検出ラインＮａの低下率ＤＳ(Na)と、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出処理（前述した検出方法１、２等参照）の際に検出ラインＮａよりも前にオン電圧が印加された所定本数の各走査線５（すなわち検出ラインＮａよりライン番号が小さい所定本数の各走査線５）の各低下率ＤＳ(n)とを第２の近似直線Ｌap２で直線近似する。なお、以下、第２の近似直線Ｌap２を、簡単に近似直線Ｌap２という。
【０２６９】
そして、図３８に示すように、上記の走査線５の所定本数を替えて、それぞれ近似直線Ｌap２で近似する。
【０２７０】
具体的には、いま仮に、所定本数を４本とすると、その場合、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）が、ライン番号がＮａ−３〜Ｎａの４本の走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の画像データＤ＊であると仮定されたことになる。
【０２７１】
そして、このようにして選択されたライン番号Ｎａ−３〜Ｎａの４本の走査線５の各低下率ＤＳ(Na-3)〜ＤＳ(Na)を、例えば最小二乗法等を用いて近似直線Ｌap２で直線近似する。正確には、この場合は、図３８等のグラフ上で、（Ｎａ−３，ＤＳ(Na-3)）、（Ｎａ−２，ＤＳ(Na-2)）、（Ｎａ−１，ＤＳ(Na-1)）、（Ｎａ，ＤＳ(Na)）の４点を近似直線Ｌap２で直線近似する。
【０２７２】
また、ライン番号Ｎａ−３〜Ｎａの各走査線５に対応する近似直線Ｌap２上の各値を、それぞれ例えばＬap２(Na-3)〜Ｌap２(Na)とすると、それらの各値Ｌap２(Na-3)〜Ｌap２(Na)の各逆数１／Ｌap２(Na-3)〜１／Ｌap２(Na)が、上記の修復すべき範囲として仮定されたライン番号ｎがＮａ−３〜Ｎａの各走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復するための各修復係数であると考えられる。
【０２７３】
そこで、ライン番号ｎがＮａ−３〜Ｎａの各走査線５の各低下率ＤＳ(Na-3)〜ＤＳ(Na)に、それぞれ各修復係数１／Ｌap２(Na-3)〜１／Ｌap２(Na)を乗算する。すると、修復された各低下率ＤＳ(Na-3)／Ｌap２(Na-3)〜ＤＳ(Na)／Ｌap２(Na)は、それぞれ１に近い値に修復されているはずである。
【０２７４】
そして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）として仮定されたライン番号がＮａ−３〜Ｎａの４本の走査線５については、修復された各低下率ＤＳ(Na-3)／Ｌap２(Na-3)〜ＤＳ(Na)／Ｌap２(Na)と１との二乗誤差（すなわち差の二乗）をそれぞれ算出する。一方、それ以外の走査線５については、元の各低下率ＤＳ(n)と１との二乗誤差をそれぞれ算出する。
【０２７５】
そして、それらの二乗誤差の合計値を算出する。このようにして算出された二乗誤差の合計値が、所定本数を４本とした場合に近似された近似直線Ｌap２に対する値となる。そのため、所定本数が４本の場合の近似直線Ｌap２に、算出された二乗誤差の合計値が割り当てられる。
【０２７６】
このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）として仮定する走査線５の所定本数を２本、３本、４本、…と替えて、図３８に示すように、それぞれ近似直線Ｌap２で近似する。
【０２７７】
そして、近似直線Ｌap２を算出するごとに、上記と同様にして、上記の範囲の走査線５については修復された各低下率と１との二乗誤差をそれぞれ算出し、それ以外の走査線５については、元の各低下率ＤＳ(n)と１との二乗誤差をそれぞれ算出する。そして、二乗誤差の合計値を算出して、近似直線Ｌap２にそれぞれ割り当てる。
【０２７８】
そして、図３９に示すように、各近似直線Ｌap２のうち、上記の二乗誤差の合計値が最小となる近似直線Ｌap２＊を抽出する。そして、抽出された近似直線Ｌap２＊が、図３９に示すように例えばライン番号がＮａ−５からＮａまでの各走査線５を対象として近似した近似直線であれば、欠損を生じている真の画像データＤ＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）は、ライン番号がＮａ−５からＮａまでの各走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の画像データＤ＊であるとして特定することができる。
【０２７９】
また、この場合、上記のように、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に対応する、抽出された近似直線Ｌap２＊上の各値Ｌap２＊(Na-5)〜Ｌap２＊(Na)の各逆数１／Ｌap２＊(Na-5)〜１／Ｌap２＊(Na)が、それぞれ、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に接
続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づく真の画像データＤ＊に対する各修復係数になる。
【０２８０】
そこで、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子７ごとの真の画像データＤ＊に、それぞれ対応する修復係数１／Ｌap２＊(Na-5)〜１／Ｌap２＊(Na)を乗算して、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復する。
【０２８１】
具体的には、ライン番号ｎがＮａ−５である各放射線検出素子７（ｍ，Ｎａ−５）ごとの真の画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−５）には修復係数１／Ｌap２＊(Na-5)を乗算し、同様に、ライン番号ｎがＮａ−４〜Ｎａである真の各画像データＤ＊（ｍ，Ｎａ−４）〜Ｄ＊（ｍ，Ｎａ）には修復係数１／Ｌap２＊(Na-4)〜１／Ｌap２＊(Na)をそれぞれ乗算することにより、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復することができる。
【０２８２】
このようにして修復すべき範囲内の真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復するように構成することにより、図３５（Ａ）とは別の撮影部位を撮影した場合の例であり真の画像データＤ＊の走査線５ごとの平均値Ｄ＊ave(n)を示すものであるが、例えば図４０に示すように、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ＊に対してより厳密な画像処理を行って、真の各画像データＤ＊をそれぞれ的確に修復することが可能となる。
【０２８３】
なお、上記の図３８や図３９に示した真の画像データＤ＊の修復手法の例では、各走査線５ごとの低下率ＤＳ(n)等を近似直線Ｌap２で直線近似する場合について説明した。これは、実際には、図４１（Ａ）に示すように、放射線源５２（図１１や図１２参照）から放射線画像撮影装置１に対して放射線を照射する際に、放射線の線量率（すなわち単位時間当たりの線量）ｕが、放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がることが前提とされている。
【０２８４】
すなわち、放射線の照射開始からの線量率ｕが一定であるため、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７内に発生する電荷が時間ｔに比例して増加する。そして、時間ｔに比例して増加する電荷が、放射線の照射が開始された後の各放射線検出素子７のリセット処理（検出方法１の場合）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２の場合）で各放射線検出素子７から放出されるために線欠陥が生じる。
【０２８５】
そのため、図３９等に示したように、線欠陥の部分における真の画像データＤ＊の減少（図３９の場合はそれに対応する低下率ＤＳ(n)の減少）を、近似直線Ｌap２等で近似するという仮定が成り立ったのである。
【０２８６】
しかし、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性は多様であり、必ずしも図４１（Ａ）に示したように、放射線の線量率ｕが放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がるとは限らない。
【０２８７】
そこで、放射線の線量率ｕが放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がらない放射線源５２を用いる場合には、線欠陥の部分における真の画像データＤ＊の減少（或いはそれに対応する低下率ＤＳ(n)等の変化）を、上記のように近似直線Ｌap２で近似する代わりに、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて適切な関数を設定し、設定した関数で近似して、真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復することが望ましい。
【０２８８】
上記のように、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７内に発生する電荷は、放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量率ｕの時間的な積分値に応じて増加する。
【０２８９】
そのため、上記の関数を設定する際には、放射線源５２から照射される放射線の線量率ｕが例えば図４１（Ｂ）に示すように変化する場合には、放射線の線量率ｕが増加している最中に各放射線検出素子７のリセット処理（検出方法１の場合）や画像データｄの読み出し処理（検出方法２の場合）が行われた可能性がある走査線５については二次関数で、また、線量率ｕが一定になった後で各放射線検出素子７のリセット処理等が行われた可能性がある走査線５については一次関数（すなわち直線）で近似するように構成することが可能である。
【０２９０】
また、放射線源５２から照射される放射線の線量率ｕの時間的変動が別の形態になる場合には、線量率ｕの時間的な積分値もそれにあわせて変わる。このように、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて適切な関数を設定し、設定した関数で近似して、真の各画像データＤ＊をそれぞれ修復することが望ましい。
【０２９１】
なお、このように構成する際、施設に複数の放射線源５２が設けられている場合には、各放射線源５２ごとに放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性を検出する等して、各放射線源５２ことに上記の関数（近似直線である場合を含む。）を設定しておくことが望ましい。そして、画像処理装置としてのコンソール５８は、画像データＤがどの放射線源５２から放射線が照射されて得られたものであるかを認識し、その放射線源５２に対応する関数を適用して、上記の修復処理を行うように構成される。
【０２９２】
以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０によれば、放射線画像撮影装置１で、放射線画像撮影前に、リークデータｄleakの読み出し処理や画像データｄの読み出し処理を行い、読み出したリークデータｄleakや画像データｄの値に基づいて放射線の照射開始を検出するように構成した。
【０２９３】
そのため、前述した特許文献４や特許文献５に記載された発明のように、例えば放射線画像撮影装置１にバイアス線９等を流れる電流を検出する電流検出手段を設けなくても、読み出したリークデータｄleakや画像データｄの値に基づいて放射線画像撮影装置１自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。そのため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線９を介して各放射線検出素子７に伝わって画像データＤにノイズとして重畳される等の問題が生じることを確実に防止することが可能となる。
【０２９４】
また、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０によれば、画像処理装置としてのコンソール５８は、放射線画像撮影装置１の信号線６の延在方向における画像データＤや真の画像データＤ＊のプロファイルや走査線５の延在方向に並ぶ真の画像データＤ＊（ｍ，ｎ）等の平均値Ｄ＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている画像データＤや真の画像データＤ＊の範囲、すなわち線欠陥の範囲を適切に特定する。
【０２９５】
そして、このようにして適切に特定した範囲の画像データＤや真の画像データＤ＊を修復する。そのため、放射線画像撮影装置１を用いた放射線画像撮影で得られた画像データＤ中に生じている線欠陥を適切に修復したうえで、放射線画像を生成することが可能となる。
【０２９６】
そのため、放射線画像中に、線欠陥が線状（或いは帯状）に写り込んで放射線画像が見難くなることが的確に防止され、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することが可能となる。そして、例えば放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されていても、線欠陥が的確に修復されるため、修復された画像データに基づいて生成された放射線画像を見た医師等が、病変部を的確に識別することができるようにすることが可能となる。
【０２９７】
なお、本発明が上記の各実施形態に限定されず、適宜変更可能であることは言うまでもない。
【符号の説明】
【０２９８】
１ 放射線画像撮影装置
５ 走査線
６ 信号線
７、（ｍ，ｎ） 放射線検出素子
８ ＴＦＴ（スイッチ手段）
１５ 走査駆動手段
１７ 読み出し回路
２２ 制御手段
３９ コネクタ（通信手段）
４１ アンテナ装置（通信手段）
５０ 放射線画像撮影システム
５８ コンソール（画像処理装置）
Ｄ 画像データ
Ｄ＊ 真の画像データ
Ｄave(n) 画像データの平均値
Ｄ＊ave(n) 真の画像データの平均値
Ｄ＊nor 正規化された真の画像データ
ｄ 照射開始検出用の画像データ
ｄleak リークデータ
ｄleak_th 閾値
ｄth 閾値
Ｌap１ 第１の近似直線
Ｌap２ 第２の近似直線
Ｌap２＊ 抽出された近似直線
ＬNa 検出ライン
Ｎａ−２ ライン番号（欠損が生じ始めた最初の走査線）
Ｏ オフセットデータ
Ｐ 検出部
ｑ リークする電荷
ｒ 小領域
１／Ｌap２＊(Na-5)〜１／Ｌap２＊(Na) 修復係数、逆数
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理と、前記各放射線検出素子のリセット処理とを交互に繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする放射線画像撮影システム。
【請求項２】
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画
像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする放射線画像撮影システム。
【請求項３】
前記画像処理装置は、
前記放射線画像撮影装置の前記走査線の延在方向に並ぶ前記画像データの平均値を前記走査線ごとに算出して、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記平均値のプロファイルを算出し、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段が放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された前記走査線である検出ラインおよび当該検出ラインより先にオン電圧が印加された所定本数の前記走査線を除く、前記検出ライン前後の所定本数の前記走査線において、前記平均値のプロファイルを近似する第１の近似直線を算出し、
前記検出ラインを含む前記各走査線ごとに、前記平均値を、当該走査線に対応する前記第１の近似直線上の値で除算して、それぞれ前記各走査線ごとの低下率を算出して、前記各走査線ごとの前記低下率のプロファイルを算出し、
前記検出ラインおよび当該検出ラインより先にオン電圧が印加された所定本数の前記走査線を選択し、当該所定本数の走査線に関する前記低下率のプロファイルを第２の近似直線で近似し、当該所定本数の走査線については、当該各走査線に対応する前記第２の近似直線の各値の各逆数をそれぞれ各修復係数として、対応する前記走査線の前記低下率にそれぞれ乗算し、前記修復係数を乗算した前記低下率と１との誤差を算出し、前記所定本数の走査線以外の前記走査線については、前記走査線の前記低下率と１との誤差を算出し、算出した前記各誤差を加算して合計値を算出する処理を、選択する前記走査線の前記所定本数を替えて行い、
算出した前記誤差の合計値が最小となる前記第２の近似直線に対応する前記所定本数の前記各走査線を、前記欠損を生じている前記画像データの範囲として特定するとともに、
特定した前記範囲の前記各走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データに、抽出した前記第２の近似直線に基づいて、対応する前記走査線について算出した前記修復係数をそれぞれ乗算することにより、特定した前記範囲の前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項４】
前記画像処理装置は、前記誤差の合計値が最小となる前記近似直線を抽出し、前記各画像データに対応する前記抽出した近似直線上の各値の逆数をそれぞれ前記各修復係数として用いて、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項３に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項５】
前記画像処理装置は、前記直線で近似する代わりに、前記放射線画像撮影装置に放射線を照射する放射線源における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて設定される関数で近似して、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項３または請求項４に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項６】
前記画像処理装置は、
前記欠損を生じている前記画像データの範囲に対応する前記放射線画像撮影装置の前記各走査線のうち、前記欠損が生じ始めた最初の前記走査線から修復対象の前記走査線までの本数と、当該修復対象の走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記各画像データに乗算すべき係数との関係の情報を予め有しており、
前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析し、前記欠損を生じている画像データの範囲を特定して、前記欠損が生じ始めた最初の前記走査線を特定し、
前記情報を参照して、特定した前記範囲の前記各画像データに、当該画像データが読み
出された前記放射線検出素子が接続されている前記走査線に割り当てられている前記係数をそれぞれ乗算することにより、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項７】
前記放射線画像撮影装置は、前記画像データ中に含まれる暗電荷に起因するオフセット分を前記放射線検出素子ごとにオフセットデータとして読み出すオフセットデータの読み出し処理を行うように構成されており、
前記画像処理装置は、前記画像データのプロファイルを解析する代わりに、前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出素子ごとに前記画像データから前記オフセットデータを差し引いて真の画像データを算出し、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記真の画像データのプロファイルを解析して前記欠損を生じている前記真の画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記真の画像データを修復することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項８】
前記画像処理装置は、前記画像データのプロファイルまたは前記真の画像データのプロファイルの代わりに、前記放射線画像撮影装置の前記走査線の延在方向に並ぶ前記画像データまたは前記真の画像データの平均値を前記走査線ごとに算出し、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記平均値のプロファイルを解析して前記欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データまたは前記真の画像データを修復することを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項９】
前記画像処理装置は、前記平均値を前記走査線ごとに算出する際に、放射線が被写体を介さずに前記放射線画像撮影装置に直接到達した部分の前記放射線検出素子に対応する前記画像データまたは前記真の画像データを、前記平均値の算出の対象から除外することを特徴とする請求項８に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項１０】
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置で読み出された前記画像データまたは前記画像データに基づいて算出される前記真の画像データを用いる代わりに、前記画像データまたは前記真の画像データをそれぞれ基準値で除算して算出される正規化された前記画像データまたは前記真の画像データを用いることを特徴とする請求項１から請求項９のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項１】
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理と、前記各放射線検出素子のリセット処理とを交互に繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする放射線画像撮影システム。
【請求項２】
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、
を備える放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画
像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする放射線画像撮影システム。
【請求項３】
前記画像処理装置は、
前記放射線画像撮影装置の前記走査線の延在方向に並ぶ前記画像データの平均値を前記走査線ごとに算出して、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記平均値のプロファイルを算出し、
前記放射線画像撮影装置の前記制御手段が放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された前記走査線である検出ラインおよび当該検出ラインより先にオン電圧が印加された所定本数の前記走査線を除く、前記検出ライン前後の所定本数の前記走査線において、前記平均値のプロファイルを近似する第１の近似直線を算出し、
前記検出ラインを含む前記各走査線ごとに、前記平均値を、当該走査線に対応する前記第１の近似直線上の値で除算して、それぞれ前記各走査線ごとの低下率を算出して、前記各走査線ごとの前記低下率のプロファイルを算出し、
前記検出ラインおよび当該検出ラインより先にオン電圧が印加された所定本数の前記走査線を選択し、当該所定本数の走査線に関する前記低下率のプロファイルを第２の近似直線で近似し、当該所定本数の走査線については、当該各走査線に対応する前記第２の近似直線の各値の各逆数をそれぞれ各修復係数として、対応する前記走査線の前記低下率にそれぞれ乗算し、前記修復係数を乗算した前記低下率と１との誤差を算出し、前記所定本数の走査線以外の前記走査線については、前記走査線の前記低下率と１との誤差を算出し、算出した前記各誤差を加算して合計値を算出する処理を、選択する前記走査線の前記所定本数を替えて行い、
算出した前記誤差の合計値が最小となる前記第２の近似直線に対応する前記所定本数の前記各走査線を、前記欠損を生じている前記画像データの範囲として特定するとともに、
特定した前記範囲の前記各走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データに、抽出した前記第２の近似直線に基づいて、対応する前記走査線について算出した前記修復係数をそれぞれ乗算することにより、特定した前記範囲の前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項４】
前記画像処理装置は、前記誤差の合計値が最小となる前記近似直線を抽出し、前記各画像データに対応する前記抽出した近似直線上の各値の逆数をそれぞれ前記各修復係数として用いて、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項３に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項５】
前記画像処理装置は、前記直線で近似する代わりに、前記放射線画像撮影装置に放射線を照射する放射線源における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて設定される関数で近似して、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項３または請求項４に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項６】
前記画像処理装置は、
前記欠損を生じている前記画像データの範囲に対応する前記放射線画像撮影装置の前記各走査線のうち、前記欠損が生じ始めた最初の前記走査線から修復対象の前記走査線までの本数と、当該修復対象の走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記各画像データに乗算すべき係数との関係の情報を予め有しており、
前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析し、前記欠損を生じている画像データの範囲を特定して、前記欠損が生じ始めた最初の前記走査線を特定し、
前記情報を参照して、特定した前記範囲の前記各画像データに、当該画像データが読み
出された前記放射線検出素子が接続されている前記走査線に割り当てられている前記係数をそれぞれ乗算することにより、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項７】
前記放射線画像撮影装置は、前記画像データ中に含まれる暗電荷に起因するオフセット分を前記放射線検出素子ごとにオフセットデータとして読み出すオフセットデータの読み出し処理を行うように構成されており、
前記画像処理装置は、前記画像データのプロファイルを解析する代わりに、前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出素子ごとに前記画像データから前記オフセットデータを差し引いて真の画像データを算出し、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記真の画像データのプロファイルを解析して前記欠損を生じている前記真の画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記真の画像データを修復することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項８】
前記画像処理装置は、前記画像データのプロファイルまたは前記真の画像データのプロファイルの代わりに、前記放射線画像撮影装置の前記走査線の延在方向に並ぶ前記画像データまたは前記真の画像データの平均値を前記走査線ごとに算出し、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記平均値のプロファイルを解析して前記欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データまたは前記真の画像データを修復することを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項９】
前記画像処理装置は、前記平均値を前記走査線ごとに算出する際に、放射線が被写体を介さずに前記放射線画像撮影装置に直接到達した部分の前記放射線検出素子に対応する前記画像データまたは前記真の画像データを、前記平均値の算出の対象から除外することを特徴とする請求項８に記載の放射線画像撮影システム。
【請求項１０】
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置で読み出された前記画像データまたは前記画像データに基づいて算出される前記真の画像データを用いる代わりに、前記画像データまたは前記真の画像データをそれぞれ基準値で除算して算出される正規化された前記画像データまたは前記真の画像データを用いることを特徴とする請求項１から請求項９のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
【図３１】
【図３２】
【図３３】
【図３４】
【図３５】
【図３６】
【図３７】
【図３８】
【図３９】
【図４０】
【図４１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
【図３１】
【図３２】
【図３３】
【図３４】
【図３５】
【図３６】
【図３７】
【図３８】
【図３９】
【図４０】
【図４１】
【公開番号】特開２０１２−１９１５９９（Ｐ２０１２−１９１５９９Ａ）
【公開日】平成２４年１０月４日（２０１２．１０．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２２２６４４（Ｐ２０１１−２２２６４４）
【出願日】平成２３年１０月７日（２０１１．１０．７）
【出願人】（３０３０００４２０）コニカミノルタエムジー株式会社 (2,950)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１０月４日（２０１２．１０．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１０月７日（２０１１．１０．７）
【出願人】（３０３０００４２０）コニカミノルタエムジー株式会社 (2,950)
【Ｆターム（参考）】
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