繋ぎ目検出装置及び測長装置
【課題】連続帯状体の表面に検出部を変位可能に接触配置し、変位センサー部は変位信号を出力し、Ａ／Ｄ変換部が変位データを出力し、しきい値演算部は変位データを基にしきい値を求め、比較判定部は変位データがしきい値よりも大であるとき判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力し、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【解決手段】繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に接触して変位可能な検出部１を設け、繋ぎ目検出装置において、変位信号を出力する変位センサー部５と、変位信号をデジタル数値化して変位データＤを出力するＡ／Ｄ変換部６と、しきい値Ｔを求めるしきい値演算部７と、変位データがしきい値よりも大であるとき判定信号を出力する比較判定部８と、判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力する繋ぎ目信号出力部９とを備えてなる。
【解決手段】繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に接触して変位可能な検出部１を設け、繋ぎ目検出装置において、変位信号を出力する変位センサー部５と、変位信号をデジタル数値化して変位データＤを出力するＡ／Ｄ変換部６と、しきい値Ｔを求めるしきい値演算部７と、変位データがしきい値よりも大であるとき判定信号を出力する比較判定部８と、判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力する繋ぎ目信号出力部９とを備えてなる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は例えば布、紙、プラスチックフィルム等の連続帯状体の繋ぎ目検出装置及び測長装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、連続帯状体の繋ぎ目は繋がれる帯状体同士の重なりや帯状体の繋ぎに用いた糸などにより凸部に形成されている。そして、この繋ぎ目の存在を検出することや繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長することは、連続帯状体の染色などの加工工程において不可欠となっている。
【０００３】
従来、この種の連続帯状体の繋ぎ目検出装置として、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に接触して変位可能な検出部を設け、この検出部の変位を基にして繋ぎ目を検出する構造のものが知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実開昭６０−１３４１０８号公報
【特許文献２】特開平３−１９９９１０号公報
【特許文献３】特公平６−１００４４１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら上記従来構造の場合、例えば、帯状体の違いによる厚さの変化及び連続帯状体をその裏面を担持して走行させるための回転ロール自体の偏心度の大きさや真円度の低さなど連続帯状体に加わる機械的誤差の影響により、繋ぎ目がないのに繋ぎ目があるとする誤検出や、逆に、繋ぎ目があるのに繋ぎ目がないとする検出見逃しをしてしまうおそれがあり、それだけ、繋ぎ目の検出精度を低下させることがあるという不都合を有している。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明はこのような不都合を解決することを目的とするもので、本発明のうちで、請求項１記載の発明は、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に接触して変位可能な検出部を設け、該検出部の変位を基に繋ぎ目を検出する繋ぎ目検出装置において、上記検出部の変位に応じた変位信号を出力する変位センサー部と、該変位信号をデジタル数値化して変位データを出力するＡ／Ｄ変換部と、該変位データを基に繋ぎ目の存否を判定するためのしきい値を求めるしきい値演算部と、刻々に出力される該変位データと該しきい値とを比較して変位データが該しきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力する比較判定部と、該判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力する繋ぎ目信号出力部とを備えてなることを特徴とする繋ぎ目検出装置にある。
【０００７】
又、請求項２記載の発明は、上記しきい値演算部は、一定の時間間隔でクロックパルスを発生するクロックパルス発生部と、上記Ａ／Ｄ変換部から出力される変位データの中から該クロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングするサンプリング部と、該サンプリングデータの平均値を算出する平均値算出部と、該サンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値を算出するしきい値算出部と、該算出されたしきい値を記憶しサンプリング区間毎に更新するしきい値記憶部とからなることを特徴とするものであり、又、請求項３記載の発明は、上記しきい値演算部は、上記連続帯状体を走行させる回転ロールの回転角度を検出する角度検出部と、上記Ａ／Ｄ変換部から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出するしきい値算出部と、該角度検出部から出力される回転角度データ各々に対応するしきい値を複数の記憶域にわたり記憶し該回転ロールの一回転周期毎に更新するしきい値記憶部と、該しきい値記憶部内の複数の記憶域の中から該角度検出部から得られる現在の角度に対応した記憶域を選択するポインタ部とからなることを特徴とするものである。
【０００８】
又、請求項４記載の発明は、複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力する測長センサー部と、上記請求項１〜３のいずれか１項に記載の繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されて次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の該測長パルスの数を計数することにより該繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長する測長部とからなることを特徴とする測長装置にある。
【発明の効果】
【０００９】
本発明は上述の如く、請求項１記載の発明にあっては、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に検出部を変位可能に接触配置し、変位センサー部は検出部の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部は変位データを基に繋ぎ目の存否を判定するためのしきい値を求め、比較判定部は刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して繋ぎ目の存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができ、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００１０】
又、請求項２記載の発明にあっては、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に検出部を変位可能に接触配置し、変位センサー部は検出部の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部において、クロックパルス発生部は一定の時間間隔でクロックパルスを発生し、サンプリング部はＡ／Ｄ変換部から出力される変位データの中からクロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングし、平均値算出部はサンプリングデータの平均値を算出し、しきい値算出部はサンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値を算出し、しきい値記憶部は算出されたしきい値を記憶しサンプリング区間毎に更新することになり、そして、比較判定部は刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、しきい値を基にして繋ぎ目の存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができるから、一層、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００１１】
又、請求項３記載の発明にあっては、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に検出部を変位可能に接触配置し、変位センサー部は検出部の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部において、角度検出部は上記連続帯状体を走行させる回転ロールの回転角度を検出し、しきい値算出部はＡ／Ｄ変換部から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出し、しきい値記憶部は角度検出部から出力される回転角度データ各々に対応するしきい値を複数の記憶域にわたり記憶し回転ロールの一回転周期毎に更新し、ポインタ部はしきい値記憶部内の複数の記憶域の中から該角度検出部から得られる現在の角度に対応した記憶域を選択することになり、そして、比較判定部は刻々に出力される変位データとポインタ部が選択した記憶域に存在する現在の角度に対応したしきい値とを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、しきい値を基にして繋ぎ目の存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができるから、一層、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００１２】
又、請求項４記載の発明にあっては、測長センサー部は複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力し、測長部において、上記請求項１〜３のいずれか１項に記載の繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されてから次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の測長パルスの数を計数して繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長することになり、繋ぎ目検出精度の向上によって、連続帯状体に存在する繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを正確に測長することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施の第一形態例の全体構成ブロック図である。
【図２】本発明の実施の第二形態例の全体構成ブロック図である。
【図３】本発明の実施の第二形態例の動作説明図である。
【図４】本発明の実施の第二形態例の動作説明図である。
【図５】本発明の実施の第三形態例の全体構成ブロック図である。
【図６】本発明の実施の第三形態例の説明図である。
【図７】本発明の実施の第三形態例の動作説明図である。
【図８】本発明の実施の第三形態例の動作説明図である。
【図９】本発明の実施の第四形態例の全体構成ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
図１乃至図８は本発明の実施の形態例を示し、図１は請求項１の発明に対応する第一形態例、図２乃至図４は請求項２に対応する第二形態例、図５乃至図８は請求項３に対応する第三形態例、図９は請求項４に対応する第四形態例である。
【００１５】
図１の第一形態例において、１は検出部であって、走行する複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に接触して変位するように設けられ、この場合、支軸２を支点として揺動アーム３を揺動自在に設け、揺動アーム３の先端部にロール状の検出部１を設け、検出部１を錘４により連続帯状体Ｗの表面に接触させるように構成している。
【００１６】
５は変位センサー部であって、この場合、光学式変位センサーが用いられ、揺動アーム３を介して検出部１の変位に応じた変位信号を出力するように構成している。尚、渦電流式などの変位センサーを適用することもできる。
【００１７】
６はＡ／Ｄ変換部であって、上記変位センサー部５から出力された変位信号をデジタル数値化して変位データを出力するように構成されている。
【００１８】
７はしきい値演算部であって、上記変位データを基に繋ぎ目Ｊの存否を判定するためのしきい値を求めるように構成されている。
【００１９】
８は比較判定部であって、上記Ａ／Ｄ変換部６から刻々に出力される変位データとしきい値演算部７で求められたしきい値とを比較して変位データが該しきい値よりも大であるとき繋ぎ目Ｊが存在するとして判定信号を出力するように構成されている。
【００２０】
９は繋ぎ目信号出力部であって、上記判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力するように構成されている。例えば、上記判定信号が出力されたらそのまま判定信号を出力し、一定時間経過した後、一定時間、判定信号の出力を停止するような回路で実現可能である。
【００２１】
この実施の第一形態例は上記構成であるから、走行する複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に検出部１を変位可能に接触配置し、変位センサー部５は検出部１の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部６がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部７は変位データを基に繋ぎ目Ｊの存否を判定するためのしきい値を求め、比較判定部８は刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目Ｊが存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部９は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して繋ぎ目Ｊの存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができ、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００２２】
図２乃至図４の実施の第二形態例は、上記第一形態例におけるしきい値演算部７の具体例を示し、この場合、７ａはクロックパルス発生部であって、一定の時間間隔でクロックパルスを発生するように構成されている。
【００２３】
７ｂはサンプリング部であって、上記Ａ／Ｄ変換部６から出力される変位データの中から上記クロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングするように構成されている。
【００２４】
７ｃは平均値算出部であって、上記サンプリングデータの平均値を算出するように構成されている。
【００２５】
７ｄはしきい値算出部であって、上記サンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値を算出するように構成されている。
【００２６】
７ｅはしきい値記憶部であって、上記算出されたしきい値を記憶しサンプリング区間毎に更新するように構成されている。
【００２７】
この第二形態例にあっては、走行する複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に検出部１を変位可能に接触配置し、変位センサー部５は検出部１の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部６がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部７において、クロックパルス発生部７ａは一定の時間間隔でクロックパルスを発生し、サンプリング部７ｂは上記Ａ／Ｄ変換部６から出力される変位データの中から上記クロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングし、平均値算出部７ｃはサンプリングデータの平均値を算出し、図３の如く、しきい値算出部７ｄはサンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値Ｔを算出し、しきい値記憶部７ｅは算出されたしきい値Ｔを記憶しサンプリング区間毎に更新することになり、そして、図４の如く、比較判定部８は刻々に出力される変位データＤとしきい値Ｔとを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目Ｊが存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部９は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、しきい値を基にして繋ぎ目Ｊの存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができるから、一層、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００２８】
図５乃至図８の実施の第三形態例は、上記第一形態例におけるしきい値演算部７の具体例を示し、この場合、７ｆは角度検出部であって、例えば、ロータリーエンコーダが用いられ、上記連続帯状体Ｗを走行させる回転ロール１０の回転角度を検出するように構成されている。
【００２９】
７ｇはしきい値算出部であって、上記Ａ／Ｄ変換部６から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出するように構成されている。
【００３０】
７ｈはしきい値記憶部であって、上記角度検出部７ｆから出力される回転角度データ各々に対応するしきい値を複数の記憶域にわたり記憶し回転ロール１０の一回転周期毎に更新するように構成されている。
【００３１】
７ｉはポインタ部であって、上記しきい値記憶部７ｈ内の複数の記憶域の中から該角度検出部７ｆから得られる現在の角度に対応した記憶域を選択するように構成されている。
【００３２】
この第三形態例にあっては、走行する複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に検出部１を変位可能に接触配置し、変位センサー部５は検出部１の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部６がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部７において、角度検出部７ｆは上記連続帯状体Ｗを走行させる回転ロール１０の回転角度θを検出し、しきい値算出部７ｇは、Ａ／Ｄ変換部６から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出し、図６の如く、しきい値記憶部７ｈは角度検出部７ｆから出力される回転角度データθｎ各々に対応するしきい値Ｔｎを複数の記憶域にわたり記憶し、回転ロール１０の一回転周期毎に更新し、ポインタ部７ｉはしきい値記憶部７ｈ内の複数の記憶域の中から角度検出部７ｆから得られる現在の回転角度データθｎに対応した記憶域を選択することになり、選択された記憶域において、比較判定部８で比較処理を行った直後に該記憶域のしきい値を更新するようにすれば、図７の如く、全ての回転角度データθｎに対して一周期前の変位データに基づくしきい値が存在するようになり、そして、図８の如く、比較判定部８は刻々に出力される変位データＤとポインタ部７ｉが選択した記憶域に存在する、現在の角度θｎに対応したしきい値Ｔｎとを比較して変位データＤがしきい値Ｔｎよりも大であるとき繋ぎ目Ｊが存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部９は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、しきい値を基にして繋ぎ目Ｊの存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができるから、一層、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００３３】
図９の実施の第四形態例は、測長装置の実施の形態例を示し、この場合、１１は測長センサー部であって、複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力するように構成されている。
【００３４】
１２は測長部であって、上記第一形態例及びその具体例である実施の第二、第三形態例に示す繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されて次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の該測長パルスの数を計数して繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長するように構成されている。
【００３５】
この第四形態例にあっては、測長センサー部１１は複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力し、測長部１２において、上記第一形態例及びその具体例である実施の第二、第三形態例に示す繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されてから次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の測長パルスの数を計数して繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長することになり、繋ぎ目検出精度の向上によって、連続帯状体Ｗに存在する繋ぎ目Ｊから次の繋ぎ目Ｊまでの長さを正確に測長することができる。
【００３６】
尚、本発明は上記の形態例に限られるものではなく、検出部１、変位センサー部５、Ａ／Ｄ変換部６、しきい値演算部７、比較判定部８、繋ぎ目信号出力部９、測長センサー部１１、測長部１２などの構成は適宜変更して設計される。
【００３７】
以上の如く、所期の目的を充分達成することができる。
【符号の説明】
【００３８】
Ｗ 連続帯状体
Ｗ1 帯状体
Ｊ 繋ぎ目
Ｄ 変位データ
Ｔ しきい値
θ 回転角度データ
１ 検出部
５ 変位センサー部
６ Ａ／Ｄ変換部
７ しきい値演算部
７ａ クロックパルス発生部
７ｂ サンプリング部
７ｃ 平均値算出部
７ｄ しきい値算出部
７ｅ しきい値記憶部
７ｆ 角度検出部
７ｇ しきい値算出部
７ｈ しきい値記憶部
７ｉ ポインタ部
８ 比較判定部
９ 繋ぎ目信号出力部
１０ 回転ロール
１１ 測長センサー部
１２ 測長部
【技術分野】
【０００１】
本発明は例えば布、紙、プラスチックフィルム等の連続帯状体の繋ぎ目検出装置及び測長装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、連続帯状体の繋ぎ目は繋がれる帯状体同士の重なりや帯状体の繋ぎに用いた糸などにより凸部に形成されている。そして、この繋ぎ目の存在を検出することや繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長することは、連続帯状体の染色などの加工工程において不可欠となっている。
【０００３】
従来、この種の連続帯状体の繋ぎ目検出装置として、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に接触して変位可能な検出部を設け、この検出部の変位を基にして繋ぎ目を検出する構造のものが知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実開昭６０−１３４１０８号公報
【特許文献２】特開平３−１９９９１０号公報
【特許文献３】特公平６−１００４４１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら上記従来構造の場合、例えば、帯状体の違いによる厚さの変化及び連続帯状体をその裏面を担持して走行させるための回転ロール自体の偏心度の大きさや真円度の低さなど連続帯状体に加わる機械的誤差の影響により、繋ぎ目がないのに繋ぎ目があるとする誤検出や、逆に、繋ぎ目があるのに繋ぎ目がないとする検出見逃しをしてしまうおそれがあり、それだけ、繋ぎ目の検出精度を低下させることがあるという不都合を有している。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明はこのような不都合を解決することを目的とするもので、本発明のうちで、請求項１記載の発明は、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に接触して変位可能な検出部を設け、該検出部の変位を基に繋ぎ目を検出する繋ぎ目検出装置において、上記検出部の変位に応じた変位信号を出力する変位センサー部と、該変位信号をデジタル数値化して変位データを出力するＡ／Ｄ変換部と、該変位データを基に繋ぎ目の存否を判定するためのしきい値を求めるしきい値演算部と、刻々に出力される該変位データと該しきい値とを比較して変位データが該しきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力する比較判定部と、該判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力する繋ぎ目信号出力部とを備えてなることを特徴とする繋ぎ目検出装置にある。
【０００７】
又、請求項２記載の発明は、上記しきい値演算部は、一定の時間間隔でクロックパルスを発生するクロックパルス発生部と、上記Ａ／Ｄ変換部から出力される変位データの中から該クロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングするサンプリング部と、該サンプリングデータの平均値を算出する平均値算出部と、該サンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値を算出するしきい値算出部と、該算出されたしきい値を記憶しサンプリング区間毎に更新するしきい値記憶部とからなることを特徴とするものであり、又、請求項３記載の発明は、上記しきい値演算部は、上記連続帯状体を走行させる回転ロールの回転角度を検出する角度検出部と、上記Ａ／Ｄ変換部から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出するしきい値算出部と、該角度検出部から出力される回転角度データ各々に対応するしきい値を複数の記憶域にわたり記憶し該回転ロールの一回転周期毎に更新するしきい値記憶部と、該しきい値記憶部内の複数の記憶域の中から該角度検出部から得られる現在の角度に対応した記憶域を選択するポインタ部とからなることを特徴とするものである。
【０００８】
又、請求項４記載の発明は、複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力する測長センサー部と、上記請求項１〜３のいずれか１項に記載の繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されて次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の該測長パルスの数を計数することにより該繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長する測長部とからなることを特徴とする測長装置にある。
【発明の効果】
【０００９】
本発明は上述の如く、請求項１記載の発明にあっては、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に検出部を変位可能に接触配置し、変位センサー部は検出部の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部は変位データを基に繋ぎ目の存否を判定するためのしきい値を求め、比較判定部は刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して繋ぎ目の存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができ、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００１０】
又、請求項２記載の発明にあっては、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に検出部を変位可能に接触配置し、変位センサー部は検出部の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部において、クロックパルス発生部は一定の時間間隔でクロックパルスを発生し、サンプリング部はＡ／Ｄ変換部から出力される変位データの中からクロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングし、平均値算出部はサンプリングデータの平均値を算出し、しきい値算出部はサンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値を算出し、しきい値記憶部は算出されたしきい値を記憶しサンプリング区間毎に更新することになり、そして、比較判定部は刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、しきい値を基にして繋ぎ目の存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができるから、一層、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００１１】
又、請求項３記載の発明にあっては、走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に検出部を変位可能に接触配置し、変位センサー部は検出部の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部において、角度検出部は上記連続帯状体を走行させる回転ロールの回転角度を検出し、しきい値算出部はＡ／Ｄ変換部から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出し、しきい値記憶部は角度検出部から出力される回転角度データ各々に対応するしきい値を複数の記憶域にわたり記憶し回転ロールの一回転周期毎に更新し、ポインタ部はしきい値記憶部内の複数の記憶域の中から該角度検出部から得られる現在の角度に対応した記憶域を選択することになり、そして、比較判定部は刻々に出力される変位データとポインタ部が選択した記憶域に存在する現在の角度に対応したしきい値とを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、しきい値を基にして繋ぎ目の存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができるから、一層、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００１２】
又、請求項４記載の発明にあっては、測長センサー部は複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力し、測長部において、上記請求項１〜３のいずれか１項に記載の繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されてから次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の測長パルスの数を計数して繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長することになり、繋ぎ目検出精度の向上によって、連続帯状体に存在する繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを正確に測長することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施の第一形態例の全体構成ブロック図である。
【図２】本発明の実施の第二形態例の全体構成ブロック図である。
【図３】本発明の実施の第二形態例の動作説明図である。
【図４】本発明の実施の第二形態例の動作説明図である。
【図５】本発明の実施の第三形態例の全体構成ブロック図である。
【図６】本発明の実施の第三形態例の説明図である。
【図７】本発明の実施の第三形態例の動作説明図である。
【図８】本発明の実施の第三形態例の動作説明図である。
【図９】本発明の実施の第四形態例の全体構成ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
図１乃至図８は本発明の実施の形態例を示し、図１は請求項１の発明に対応する第一形態例、図２乃至図４は請求項２に対応する第二形態例、図５乃至図８は請求項３に対応する第三形態例、図９は請求項４に対応する第四形態例である。
【００１５】
図１の第一形態例において、１は検出部であって、走行する複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に接触して変位するように設けられ、この場合、支軸２を支点として揺動アーム３を揺動自在に設け、揺動アーム３の先端部にロール状の検出部１を設け、検出部１を錘４により連続帯状体Ｗの表面に接触させるように構成している。
【００１６】
５は変位センサー部であって、この場合、光学式変位センサーが用いられ、揺動アーム３を介して検出部１の変位に応じた変位信号を出力するように構成している。尚、渦電流式などの変位センサーを適用することもできる。
【００１７】
６はＡ／Ｄ変換部であって、上記変位センサー部５から出力された変位信号をデジタル数値化して変位データを出力するように構成されている。
【００１８】
７はしきい値演算部であって、上記変位データを基に繋ぎ目Ｊの存否を判定するためのしきい値を求めるように構成されている。
【００１９】
８は比較判定部であって、上記Ａ／Ｄ変換部６から刻々に出力される変位データとしきい値演算部７で求められたしきい値とを比較して変位データが該しきい値よりも大であるとき繋ぎ目Ｊが存在するとして判定信号を出力するように構成されている。
【００２０】
９は繋ぎ目信号出力部であって、上記判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力するように構成されている。例えば、上記判定信号が出力されたらそのまま判定信号を出力し、一定時間経過した後、一定時間、判定信号の出力を停止するような回路で実現可能である。
【００２１】
この実施の第一形態例は上記構成であるから、走行する複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に検出部１を変位可能に接触配置し、変位センサー部５は検出部１の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部６がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部７は変位データを基に繋ぎ目Ｊの存否を判定するためのしきい値を求め、比較判定部８は刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目Ｊが存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部９は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、刻々に出力される変位データとしきい値とを比較して繋ぎ目Ｊの存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができ、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００２２】
図２乃至図４の実施の第二形態例は、上記第一形態例におけるしきい値演算部７の具体例を示し、この場合、７ａはクロックパルス発生部であって、一定の時間間隔でクロックパルスを発生するように構成されている。
【００２３】
７ｂはサンプリング部であって、上記Ａ／Ｄ変換部６から出力される変位データの中から上記クロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングするように構成されている。
【００２４】
７ｃは平均値算出部であって、上記サンプリングデータの平均値を算出するように構成されている。
【００２５】
７ｄはしきい値算出部であって、上記サンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値を算出するように構成されている。
【００２６】
７ｅはしきい値記憶部であって、上記算出されたしきい値を記憶しサンプリング区間毎に更新するように構成されている。
【００２７】
この第二形態例にあっては、走行する複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に検出部１を変位可能に接触配置し、変位センサー部５は検出部１の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部６がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部７において、クロックパルス発生部７ａは一定の時間間隔でクロックパルスを発生し、サンプリング部７ｂは上記Ａ／Ｄ変換部６から出力される変位データの中から上記クロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングし、平均値算出部７ｃはサンプリングデータの平均値を算出し、図３の如く、しきい値算出部７ｄはサンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値Ｔを算出し、しきい値記憶部７ｅは算出されたしきい値Ｔを記憶しサンプリング区間毎に更新することになり、そして、図４の如く、比較判定部８は刻々に出力される変位データＤとしきい値Ｔとを比較して変位データがしきい値よりも大であるとき繋ぎ目Ｊが存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部９は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、しきい値を基にして繋ぎ目Ｊの存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができるから、一層、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００２８】
図５乃至図８の実施の第三形態例は、上記第一形態例におけるしきい値演算部７の具体例を示し、この場合、７ｆは角度検出部であって、例えば、ロータリーエンコーダが用いられ、上記連続帯状体Ｗを走行させる回転ロール１０の回転角度を検出するように構成されている。
【００２９】
７ｇはしきい値算出部であって、上記Ａ／Ｄ変換部６から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出するように構成されている。
【００３０】
７ｈはしきい値記憶部であって、上記角度検出部７ｆから出力される回転角度データ各々に対応するしきい値を複数の記憶域にわたり記憶し回転ロール１０の一回転周期毎に更新するように構成されている。
【００３１】
７ｉはポインタ部であって、上記しきい値記憶部７ｈ内の複数の記憶域の中から該角度検出部７ｆから得られる現在の角度に対応した記憶域を選択するように構成されている。
【００３２】
この第三形態例にあっては、走行する複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの表面に検出部１を変位可能に接触配置し、変位センサー部５は検出部１の変位に応じた変位信号を出力し、この変位信号をＡ／Ｄ変換部６がデジタル数値化して変位データを出力し、しきい値演算部７において、角度検出部７ｆは上記連続帯状体Ｗを走行させる回転ロール１０の回転角度θを検出し、しきい値算出部７ｇは、Ａ／Ｄ変換部６から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出し、図６の如く、しきい値記憶部７ｈは角度検出部７ｆから出力される回転角度データθｎ各々に対応するしきい値Ｔｎを複数の記憶域にわたり記憶し、回転ロール１０の一回転周期毎に更新し、ポインタ部７ｉはしきい値記憶部７ｈ内の複数の記憶域の中から角度検出部７ｆから得られる現在の回転角度データθｎに対応した記憶域を選択することになり、選択された記憶域において、比較判定部８で比較処理を行った直後に該記憶域のしきい値を更新するようにすれば、図７の如く、全ての回転角度データθｎに対して一周期前の変位データに基づくしきい値が存在するようになり、そして、図８の如く、比較判定部８は刻々に出力される変位データＤとポインタ部７ｉが選択した記憶域に存在する、現在の角度θｎに対応したしきい値Ｔｎとを比較して変位データＤがしきい値Ｔｎよりも大であるとき繋ぎ目Ｊが存在するとして判定信号を出力し、繋ぎ目信号出力部９は判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力することになり、したがって、しきい値を基にして繋ぎ目Ｊの存否を判定することができ、帯状体の違いによる厚さの変化及び走行する連続帯状体に加わる機械的誤差の影響を回避することができるから、一層、繋ぎ目検出精度を高めることができる。
【００３３】
図９の実施の第四形態例は、測長装置の実施の形態例を示し、この場合、１１は測長センサー部であって、複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力するように構成されている。
【００３４】
１２は測長部であって、上記第一形態例及びその具体例である実施の第二、第三形態例に示す繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されて次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の該測長パルスの数を計数して繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長するように構成されている。
【００３５】
この第四形態例にあっては、測長センサー部１１は複数個の帯状体Ｗ1・・を繋いで繋ぎ目Ｊに凸部を有してなる連続帯状体Ｗの走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力し、測長部１２において、上記第一形態例及びその具体例である実施の第二、第三形態例に示す繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されてから次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の測長パルスの数を計数して繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長することになり、繋ぎ目検出精度の向上によって、連続帯状体Ｗに存在する繋ぎ目Ｊから次の繋ぎ目Ｊまでの長さを正確に測長することができる。
【００３６】
尚、本発明は上記の形態例に限られるものではなく、検出部１、変位センサー部５、Ａ／Ｄ変換部６、しきい値演算部７、比較判定部８、繋ぎ目信号出力部９、測長センサー部１１、測長部１２などの構成は適宜変更して設計される。
【００３７】
以上の如く、所期の目的を充分達成することができる。
【符号の説明】
【００３８】
Ｗ 連続帯状体
Ｗ1 帯状体
Ｊ 繋ぎ目
Ｄ 変位データ
Ｔ しきい値
θ 回転角度データ
１ 検出部
５ 変位センサー部
６ Ａ／Ｄ変換部
７ しきい値演算部
７ａ クロックパルス発生部
７ｂ サンプリング部
７ｃ 平均値算出部
７ｄ しきい値算出部
７ｅ しきい値記憶部
７ｆ 角度検出部
７ｇ しきい値算出部
７ｈ しきい値記憶部
７ｉ ポインタ部
８ 比較判定部
９ 繋ぎ目信号出力部
１０ 回転ロール
１１ 測長センサー部
１２ 測長部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に接触して変位可能な検出部を設け、該検出部の変位を基に繋ぎ目を検出する繋ぎ目検出装置において、上記検出部の変位に応じた変位信号を出力する変位センサー部と、該変位信号をデジタル数値化して変位データを出力するＡ／Ｄ変換部と、該変位データを基に繋ぎ目の存否を判定するためのしきい値を求めるしきい値演算部と、刻々に出力される該変位データと該しきい値とを比較して変位データが該しきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力する比較判定部と、該判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力する繋ぎ目信号出力部とを備えてなることを特徴とする繋ぎ目検出装置。
【請求項２】
上記しきい値演算部は、一定の時間間隔でクロックパルスを発生するクロックパルス発生部と、上記Ａ／Ｄ変換部から出力される変位データの中から該クロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングするサンプリング部と、該サンプリングデータの平均値を算出する平均値算出部と、該サンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値を算出するしきい値算出部と、該算出されたしきい値を記憶しサンプリング区間毎に更新するしきい値記憶部とからなることを特徴とする請求項１記載の繋ぎ目検出装置。
【請求項３】
上記しきい値演算部は、上記連続帯状体を走行させる回転ロールの回転角度を検出する角度検出部と、上記Ａ／Ｄ変換部から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出するしきい値算出部と、該角度検出部から出力される回転角度データ各々に対応するしきい値を複数の記憶域にわたり記憶し該回転ロールの一回転周期毎に更新するしきい値記憶部と、該しきい値記憶部内の複数の記憶域の中から該角度検出部から得られる現在の角度に対応した記憶域を選択するポインタ部とからなることを特徴とする請求項１記載の繋ぎ目検出装置。
【請求項４】
複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力する測長センサー部と、上記請求項１〜３のいずれか１項に記載の繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されて次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の該測長パルスの数を計数することにより該繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長する測長部とからなることを特徴とする測長装置。
【請求項１】
走行する複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の表面に接触して変位可能な検出部を設け、該検出部の変位を基に繋ぎ目を検出する繋ぎ目検出装置において、上記検出部の変位に応じた変位信号を出力する変位センサー部と、該変位信号をデジタル数値化して変位データを出力するＡ／Ｄ変換部と、該変位データを基に繋ぎ目の存否を判定するためのしきい値を求めるしきい値演算部と、刻々に出力される該変位データと該しきい値とを比較して変位データが該しきい値よりも大であるとき繋ぎ目が存在するとして判定信号を出力する比較判定部と、該判定信号が出力されたとき繋ぎ目信号を出力する繋ぎ目信号出力部とを備えてなることを特徴とする繋ぎ目検出装置。
【請求項２】
上記しきい値演算部は、一定の時間間隔でクロックパルスを発生するクロックパルス発生部と、上記Ａ／Ｄ変換部から出力される変位データの中から該クロックパルスのタイミングで一定数をサンプリングするサンプリング部と、該サンプリングデータの平均値を算出する平均値算出部と、該サンプリングデータの平均値に一定値を加算してしきい値を算出するしきい値算出部と、該算出されたしきい値を記憶しサンプリング区間毎に更新するしきい値記憶部とからなることを特徴とする請求項１記載の繋ぎ目検出装置。
【請求項３】
上記しきい値演算部は、上記連続帯状体を走行させる回転ロールの回転角度を検出する角度検出部と、上記Ａ／Ｄ変換部から出力される変位データに一定値を加算してしきい値を算出するしきい値算出部と、該角度検出部から出力される回転角度データ各々に対応するしきい値を複数の記憶域にわたり記憶し該回転ロールの一回転周期毎に更新するしきい値記憶部と、該しきい値記憶部内の複数の記憶域の中から該角度検出部から得られる現在の角度に対応した記憶域を選択するポインタ部とからなることを特徴とする請求項１記載の繋ぎ目検出装置。
【請求項４】
複数個の帯状体を繋いで繋ぎ目に凸部を有してなる連続帯状体の走行長さに応じて測長パルスを連続的に出力する測長センサー部と、上記請求項１〜３のいずれか１項に記載の繋ぎ目検出装置から繋ぎ目信号が出力されて次の繋ぎ目信号が出力されるまでの間の該測長パルスの数を計数することにより該繋ぎ目から次の繋ぎ目までの長さを測長する測長部とからなることを特徴とする測長装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２０１０−１９７１０８（Ｐ２０１０−１９７１０８Ａ）
【公開日】平成２２年９月９日（２０１０．９．９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−３９９２２（Ｐ２００９−３９９２２）
【出願日】平成２１年２月２３日（２００９．２．２３）
【出願人】（５９２１０２９４０）新潟県 (41)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年９月９日（２０１０．９．９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年２月２３日（２００９．２．２３）
【出願人】（５９２１０２９４０）新潟県 (41)
【Ｆターム（参考）】
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