走査するための方法および装置
開示されるのは、物品を走査するためのスキャナであり、該スキャナは、走査デバイス（１８）および回転可能なサンプル取付部（１４、４２０）を有し、走査デバイスおよび取付部が取付部の回転軸（４８）に沿って相対的に変位可能である、走査装置（１０）と、サンプル取付部に取り付けられたレセプタクル（４０、１４０、２４０、４００）であって、物品（３０）を確実に収容することができるレセプタクルと、レセプタクルを直線的に変位させるためのアクチュエータ（１４６、２４６）であって、アクチュエータの作動が、レセプタクルと、レセプタクルに取り付けられたいずれの物品をも、サンプル取付部に対し変位させる、アクチュエータと、を備える。物品は細長いと良く、アクチュエータによる変位は、細長い物品の長軸によって定められた軸線に沿っている。同じく開示されるのは、走査方法である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、走査するための、特に、歯科用ブリッジのような細長い物体を走査するための方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
慣例的に、三次元の細長い形状は、始点から終点まで、所定の経路をたどることによって走査される。経路の形式に応じて、高さの偏差は調整されるが、走査装置のセンシング・チップよりも大きいアンダーカットまたは凹部は、適正に調査されないであろう。これはまた、細長い形状が多数の個別の部品からなり、センシング・チップがこれらの個別の部品の交差部に適正にアクセスできない場合も然りである。
【０００３】
アンダーカットまたは凹部に直面する場所には、物体の巡回走査、または、ヘリカル走査が提供されることが知られている。物体は回転させられ、プローブが回転軸に対して角度をつけられて、物体がアンダーカットをプローブに提示しないように操作されてもよく、または、いかなるアンダーカットも詳細に調べられるように、より多くの自由度をもつプローブが提供されてもよい。
【０００４】
【特許文献１】国際公開第ＷＯ０３／０４６４１２号パンフレット
【発明の開示】
【０００５】
プローブの作動域を制約する、寸法上の考慮事項が存在する場合には、現在のところは、巡回走査、または、ヘリカル走査が好ましいが、これは、走査できる物体の形状に制限がある。
【０００６】
本発明は、細長い形状、特に、多数の別個の部品からなる（または、多数の個別の部品に分けられ得る）形状の走査を可能にする。
【０００７】
第１の態様によれば、本発明は、走査方法であって、
走査デバイスおよび回転可能なサンプル取付部を有し、その走査デバイスと取付部が、取付部の回転軸に沿って相対的に変位可能である、走査装置を提供するステップと、
走査デバイスによって物品の第１部品が走査可能となるように、サンプル取付部の上に物品を配置するステップと、
物品の第１部品を走査するステップと、
物品の第２部品が走査可能となるように、走査デバイスに対して物品を相対的に変位させるステップと、
物品と走査デバイスとの間の相対的変位を確認するステップと、
第２部品を走査するステップと、
を含む走査方法を提供する。
【０００８】
物品は、サンプル取付部に配置される前に、レセプタクルに固定されることが好ましい。好ましい実施形態においては、レセプタクルは、サンプル取付部に配置される前に、スライド部に対して取り付けられる。
【０００９】
物品は少なくとも２つの別の部品からなり、第１部品の走査の間は、レセプタクルから第２部品が取り外されることに利点がある。これは、特に、少なくとも２つの部品が隣接している場所にアンダーカット、または、凹部がある場合に完全走査が行われることを可能にする。
【００１０】
第２の態様によれば、本発明は、物品を走査するためのスキャナであって、
走査デバイスおよび回転可能なサンプル取付部を有し、前記走査デバイスおよび前記取付部が、前記取付部の回転軸に沿って相対的に変位可能である、走査装置と、
サンプル取付部に取り付けられたレセプタクルであって、物品を確実に収容することができるレセプタクルと、
レセプタクルを直線的に変位させるためのアクチュエータであって、アクチュエータの作動が、レセプタクルと、レセプタクルに取り付けられたあらゆる物品とを、サンプル取付部に対し変位させる、アクチュエータと、
を備えたスキャナを提供する。
【００１１】
物品は細長く、アクチュエータによる変位は、細長い物品の長軸によって定められた軸線に沿っていることが好ましい。物品の長軸は、直線状であってもよいし、または、弧状であってもよい。
【００１２】
ここで、本発明は、例として付属の図面を参照しながら説明される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
図１は、サンプルホルダ、すなわち取付部１４が、軸線４８の周りを回転可能に取り付けられた、ベース１２を有する走査システム１０を示している。ベース１２はまた、センシング・チップ２０を有するプローブ１８を支持するスタンド１６を有する。サンプル２２は、回転可能なサンプルホルダ１４に配置される。センシング・チップ２０は、サンプルホルダ１４の回転軸４８に対して傾斜させられた軸線Ａに沿って移動可能である。サンプルホルダ１４が回転する際に、サンプル表面との距離の変化に応じて、センシング・チップ２０が軸線Ａに沿って移動する。サンプル２２は一連の二次元スライスによって走査されてもよく、または、サンプルホルダ１４はプローブ１８とサンプルホルダ１４との間の相対的変位が発生するのと同時に回転させられてもよく、それがヘリカル走査をもたらす。プローブおよび／またはサンプルホルダは、Ｚ軸に沿って動くことにより、相対的変位をもたらすことができる。
【００１４】
走査システムの例は、引用によりここに組み入れる特許文献１に、より詳細に記載されている。接触走査システムの代わりに、本発明と共に非接触走査システムが用いられてもよい。
【００１５】
図２は、この場合、この例では石膏から作製される顎印象からの模型キャストの一部である物品３０を保持するためのレセプタクル４０を示す。レセプタクル４０は、この場合にはレセプタクル４０内の所定位置に物品３０を固定する３つのねじを含む、締め付け手段４２を有する。
【００１６】
物品３０はベース３６を含み、該ベースの上に、ブリッジ支持部３２Ａ、３２Ｂと、ブリッジされることになる架工歯すなわち失損歯３４が配置される。物品の異なる部品３２Ａ、３２Ｂ、３４は、ベース３６のそれぞれの孔４５と連通する配置ピン４４を用いてベース内に配置される。物品３０の異なる部品３２Ａ、３２Ｂ、３４は、例えば、石膏模型を鋸引きすることによって分離されている。この工程は、配置ピン４４を用いて物品３０がベース３６に配置された後に実行されることが好ましく、そうすることで、異なる部品間の適正な空間的関係が確実に保たれるであろう。物品３０の異なる部品３２Ａ、３２Ｂ、３４の分離は、走査されていない部品が取り外されることを可能にするので、それらは残りの部品の走査を妨害しない。したがって、異なる部品間の空間的関係を維持しながらブリッジの各部分のフル走査が完了され、それにより、結果として得られるブリッジの適合性が保証される。
【００１７】
レセプタクル４０は、スライド部３８内に取り付けられて図示されている。これは、レセプタクル４０およびレセプタクルに固定された物品３０が、スライド部に対して直線的に移動することを可能にする。したがって、スライド部がサンプルホルダに配置されたときに、レセプタクル４０、サンプルホルダおよび走査システムのセンシング・チップ間の相対的な向きが維持される。スライド部はまた、物品の各部品間の距離を割り出す、サンプルホルダに対するレセプタクルの移動の記録を容易にし、最終的なブリッジ作製のための完全走査の再現を可能にする。
【００１８】
物品３０は、ベース３６上に配置される必要はなく、レセプタクル４０内に直接配置されることも可能である。走査される部品の完全走査を得るために、および、異なる部品間の空間的関係を維持するために、物品の余分な部品が除去される必要があるような場合には、異なる部品３２Ａ、３２Ｂ、３４は、最初に単一の構成要素としてレセプタクル４０に固定されるべきである。これが一端なされた後に、それらは、例えば石膏を鋸引きすることによって分離され得る。部品は石膏から作製され、締め付け手段４２は各部品用の個々のねじを含むので、各石膏部品は、締め付け工程の間は、それのねじによってマークされているであろう。したがって、部品は、取り外され、必要とされればマークを位置合わせすることによって元の位置に戻され得る。
【００１９】
図３は、物品を保持するための別のレセプタクル１４０を示している。レセプタクル１４０は、物品をそこに締め付けるために物品を長さ方向に貫通するように働く１つのねじ１４２を有する。この例においては、物品１３０の各部品１３２Ａ、１３２Ｂ、１３４はレセプタクルに個々に固定可能ではないので、ベース１３６が要求される。
【００２０】
レセプタクルは２つの部分１４０Ａおよび１４０Ｂを含み、それらは磁気的に引き寄せられているが、互いに対し移動することができる。これは、センシング・チップ（図示せず）に対する物品全体の角度調節を可能にし、アンダーカット、または、凹部が走査工程の中断を引き起こす可能性を減らす。部品間の空間的関係を保つために、この調節は、走査工程の開始前にのみ行われ得ることに注意されたい。
【００２１】
レセプタクル１４０は、マイクロメータねじ１４６に取り付けられたプラットフォーム１４４を備えたスライド部１３８に取り付けられる。マイクロメータねじ１４６の作動は、軸線Ｂに沿ったプラットフォーム１４４の変位をもたらす。スライド部１３８は、回転可能なサンプル取付部１１４上に置かれる。
【００２２】
或いは、レセプタクルの変位の代わりに、プローブがＸ軸に沿って変位させられる（図１参照）。この方法は、結果として、物品の部品がサンプル取付部の回転軸４８に対し実質的に位置合わせされていないときに、それらが走査されることになるので、好ましくない。
【００２３】
図４は、スライド部２３８に取り付けられ、回転可能なサンプルホルダ２１４上に配置されているレセプタクル２４０を示している。レセプタクル２４０を動かすためにアクチュエータ２４６が提供されており、それにより、物品がスライド部２３８およびサンプルホルダ２１４に対して走査されることになる。
【００２４】
走査は以下のようにして行われる。第１の歯２３２Ｂは、サンプルホルダ２１４の回転軸２４８のほぼ中心に置かれている。この時点では走査されていないブリッジの２つの部品２３２Ａ、２３４は、それらをベース（図示せず）から引っぱり出すことによって、レセプタクル２４０から取り外される。第１部品２３２Ｂが走査される。第２部品２３４がベース内の元の位置に戻され、第１部品２３２Ｂが取り外される。レセプタクル２４０は、第２部品２３４がサンプルホルダ２１４の回転軸２４８上に位置合わせされるまで、アクチュエータ２４６を用いてスライド部２３８に対して動かされる。ここで、第２部品２３４が、センシング・チップ２２０を用いて走査される。ここで、ブリッジの第３部品２３２Ａがレセプタクル２４０内のベースにおける元の位置に戻され、第２部品２３４がベースから取り外される。レセプタクル２４０は、第３部品２３２Ａがサンプルホルダ１４の回転軸２４８上に位置合わせされるまで、アクチュエータ２３６を用いてスライド部２３８に対して再び動かされる。次に、第３部品の走査が行われる。
【００２５】
レセプタクルとサンプルホルダの回転軸との間の関係は、図３においてはマイクロメータねじ１４６によって達成される。したがって、各部品がサンプルホルダの回転軸に位置合わせされたときに、マイクロメータねじの読取値を確認することによって、各走査部分の中心点間の距離が理解され、そしてそれは異なる走査間の、したがって異なる歯の間の適正な空間的関係を有する物品全体の複合走査を構築するために用いられることが可能である。これは、部品が走査される前に、または、走査された後に行われ得ることに注意されたい。したがって、レセプタクルは、スライド部に対するいずれかの位置への各移動の後に、再びデータをとられる。
【００２６】
実際には、要求されるのは異なる歯の間の空間的関係であるが、歯はスライド部に対し所定位置に一時的に固定されるので、スライド位置の測定は、それと同義である。
【００２７】
回転軸２４８に対するレセプタクル２４０の位置の測定は、レセプタクルがプローブの移動軸線Ａおよび回転軸２４８と同一平面上にあるときに行われることが重要であり、それは、そうしたときに、各走査部品の回転中心間の測定された距離が真の測定値であることが保証されるためである。基本的には、レセプタクルの縦軸線Ｂは、軸線Ａおよび軸２４８に対して位置合わせされるので、軸線Ａおよび軸２４８に対するレセプタクルの向きは、各測定に関して同じである。
【００２８】
レセプタクル２４０が軸線Ａおよび軸２４８と同一平面上になかった場合には、物品の部品２３２Ａ、２３２Ｂ、２３４間の空間的関係が歪められることになる（対角測定が行われることになるため）。相対測定の各々が行われるときにレセプタクル２４０が軸線Ａおよび軸２４８と同一平面上にあることを保証する１つの方法が、以下に図１を参照しながら説明される。レセプタクル４０が、最初に軸線Ａおよび軸線４８と同一平面に合わせられ、サンプルホルダの側部の、走査システムのベース１２の遮断点の近くに、マークがつけられる。協働する第２のマークがベース１２につけられる。第１の走査が完了したときに、レセプタクル４０をスライド部３８に対し動かして、第２部品３４をサンプルホルダ１４の回転軸４８上に位置合わせするときに、サンプルホルダ１４のマークとベース１２のマークが再び位置合わせされ、それにより、レセプタクル４０がプローブ軸線Ａに対し再び法線方向にされることが保証される。或いは、サンプルホルダ１４には、ベース１２に隣接して配置された恒久的なマークが与えられ、ベース１２は、サンプル取付部の周囲に一連のマークを有し、各走査プロセスにおいては、位置合わせの位置（レセプタクル４０が軸線Ａおよび軸線４８と同一平面上にあるとき）は、例えば、位置合わせされたときのサンプルホルダ１４上のマークに対応するベース上のマークの隣りに位置決めされたステッカーによって示すことができる。
【００２９】
或いは、ホルダ１４は、固定の基準マークを有するモータおよびエンコーダによって、回転軸４８の周りを動かされ得る。移動軸と基準マークとの相対的角度の校正は、軸線Ｂに沿ったレセプタクル４０とホルダ１４との調整が、ベース１２または軸線Ａに対していずれかの向きになされることを可能にする。
【００３０】
物品の部品は、サンプルホルダの回転軸と位置合わせされているが、これは、本発明の幾つかの実施形態に関する好ましい特徴である。部材を回転軸上に位置合わせすることにより、走査からのデータの解釈が容易になり、プローブのトランスデューサがその作動限界付近で使用されないことが保証される。
【００３１】
図５ａおよび図５ｂは、物品の異なる部品のそれぞれの走査の間にそれらの相対位置を求めるために用いられ得る、測定機能部５０を示している。図５ａは、サンプルホルダ１４の回転軸４８に対するレセプタクル４０の位置を確立するのに用いられているときの、角度のついた機能部５０を示している。図５ｂは、その引っ込められた位置５２にある、角度のついた機能部５０を示している。
【００３２】
角度のついた機能部５０は、レセプタクル４０に回転可能に取り付けられ、レセプタクル４０の長さに対して勾配を有する。したがって、レセプタクル４０の一方の端部から他方の端部に動かすことにより、レセプタクル４０から角度のついた機能部５０までの距離が変化することになる。物品３０の部品３２Ｂが回転軸４８上に適正に配置されたときには、プローブ・チップ２０が、角度のついた機能部５０と接触させられる。角度のついた機能部５０は、９０度まで回転させることによって引っ込められ（図５ｂに示される）、前述のように第１部品の走査が行われる。その後、物品３０の第２部品３４が回転軸４８と位置合わせされたときに、プローブ・チップが、角度のついた機能部５０に再び近づけられる。角度のついた機能部に勾配が存在するので、プローブの軸線Ａに沿ったプローブ・チップ２０の位置は異なるであろう。角度のついた機能部の勾配は分かっているので、第１部品の走査の中心点と第２部品の走査の中心点との間の距離も分かる。
【００３３】
図６は、一組の副尺付きノギス６０である別の測定デバイスを示している。この例においては、異なる走査における物品の各部品の相対位置を得るために、スライド部３８の一方の端部１００とレセプタクル４０の遠位端１０２との間の距離が測定される。副尺付きノギス６０は、システムに取り付けられず、測定１０４が行われたあとに取り外される。
【００３４】
各部品の走査における回転中心間の距離の測定は、多くの方法で実行することができる。回転軸に対する移動が手動で制御されるときには、移動する部品（図２のレセプタクル４０、または、図３のプラットフォーム１４４）上の副尺、マイクロメータねじ、または、外付けの副尺付きノギスが、好ましい方法である。
【００３５】
回転軸に対する移動が、モータを用いて、すなわち自動的に制御されるときには、スケールと読取ヘッドとを有するエンコーダ・システム（直線式または回転式）が好ましい。モータによる移動は、デバイスの１つの向きにおけるスリップリングまたはコンタクトを介して移動部品に送られた外部電気信号、１つの向きにおける誘導結合または容量結合、デバイスに取り付けられ得るモータ、例えば図３の１５０、または、無線または光信号によって作動され、制御されるバッテリとされ得るデバイス、といった多くの手段で達成することができる。
【００３６】
１つの軸線Ｂ（図３参照）に沿ったレセプタクル４８の調節は単純な部品に適応させられているが、ベース３６上の２つより多いブリッジ支持部を走査するために、２つの調節直交軸を与えることが要求されてもよい。図７ａおよび図７ｂは、それぞれ、本発明に係る別のレセプタクルの平面図および断面図を示す。この実施形態においては、レセプタクル３００は、顎の断面の形状を再現するために湾曲させられている。レセプタクルは、セグメント形状であり、５つの接触点によってサンプルホルダ３２０上に繰り返し配置される。第１の接触位置は、レセプタクル３００の回転中心３１０にある。第２および第３の接触位置は、回転中心３１０から半径方向に離間されていて、レセプタクルによって描かれた外周部３０２に隣接している。物品３０４は、外周部３０２の近くのレセプタクル３００上に配置され、それにより、物品３０４のいずれの個々の部品も、回転中心からほぼ同じ半径のところにある、すなわち、レセプタクルが回転する際に、部品は同じ経路にそって互いに追従する。
【００３７】
回転中心３１０は、レセプタクル３００に収容された物品３０４の移動を最大にしながら、ベース３２０の要求される直径を最小にするように、ベース３２０の縁の近くに配置される。第１の接触位置は、円錐内に位置されたボールを含み、３つの接触点を含む。ボール３１２は、レセプタクル３００の下面に埋め込まれ、ベース３２０の上面の円錐形状の穴３１４内に位置される。レセプタクルの移動は、この第１の接触位置のまわりに弧を描く。
【００３８】
第２および第３の接触位置は、レセプタクルの外周部３０２の近くに配置される。第２および第３の接触位置は、ベース３２０の上面とレセプタクル３００の下面に埋め込まれたボール３２２との間の単一の接触点を含む。第２および第３の接触位置は、セグメント形状のレセプタクルの各半径縁の１つに配置されるので、３つの接触位置が三角形を描く。
【００３９】
或いは、第１の接触位置は、説明されたように配置され、第２および第３の接触位置は、ベース３２０の上面に機械加工された「ｖ」字形状の湾曲した溝３１６に各々形成された２つの接触点と、レセプタクル３００の下側に埋め込まれた第２のボール３１８を含む。溝３１６は、レセプタクルの回転中心と同じ点に中心を有する円の一部である。
【００４０】
物品を走査するために、物品の第１部品が、プローブ（図示せず）に対して位置決めされる。物品の異なる部品の相対位置を確立するために、レセプタクルの１つの半径縁３０６が突き止められ、その座標が保存される。物品の第１部品が走査される。レセプタクルが、プローブに対して物品の第２部品を位置決めするために回転させられる。レセプタクルの半径縁３０６の新たな座標が確立され、第２部品が走査される。このプロセスは、物品の全ての部品が走査されるまで繰り返される。レセプタクルの半径縁に関する各走査部品の相対位置は、物品全体の複合像がグラフィックで生成されることを可能にする。
【００４１】
レセプタクルの移動は、手動のプロセスで、または、モータによるプロセスで実行されてもよい。
【００４２】
別の方法として、「ｖ」字形状の溝３１６は、ベースの表面に機械加工された複数の個別の「Ｖ」字形状のノッチと置き換えられる。この実施形態においては、ノッチは、既知の関係性をもっており、そのため、レセプタクルが各ノッチ間でインデックス付けされる際に、レセプタクルのノッチ位置が分かっている限り、レセプタクルの相対位置が既に分かっているので、各部品を走査する前にレセプタクルの縁をもはや突き止める必要はない。
【００４３】
ボールをレセプタクルの下側に埋め込む代わりに、それらをベースの上面に埋め込んでもよい。さらに、ベースの平らな面を破壊するのではなく、例えば、磁力によってベースに取り付けられるマウント３３０が設けられてもよい。
【００４４】
図８は、レセプタクル４００および協働するサンプル取付部４２０を通る断面図である。レセプタクルは、表面に機械加工された複数のギヤ歯４０２を有し、サンプル取付部４２０は、レセプタクル４００に（少なくとも部分的に）適応させられた中央トレンチ４２２を有する。トレンチ４２２のベースは、レセプタクル４００のギヤ歯４０２と協働する、一組の嵌合するギヤ歯４２４を含む。レセプタクルは、手動で、または、機械的に（例えばモータによって）、サンプル取付部４２０に対して動かされてもよい。
【００４５】
ギヤ歯は、正確に機械加工されるので、レセプタクル４００が隣接するギヤ歯に係合する際にレセプタクルが動かされた距離が分かり、それにより、走査部品間で動かされたギヤ歯の数をカウントすることにより、走査部品が互いに適合されることが可能となる。したがって、複数の画定された位置、または、インデックス位置が存在する。
【００４６】
或いは、ギヤ歯は、単に、レセプタクルとサンプル取付部とを係合させるために用いられる。この場合は、サンプル取付部に対するレセプタクルの位置が読み取られることを可能にするスケールが設けられてもよく、または、レセプタクルの縁と歯との間の距離を確立するためにプローブが用いられる。
【００４７】
図９は、ベース５０８上に取り付けられ、サンプル取付部５２０上に置かれた、３つの部品５０２、５０４、５０６を備えた物品５１０を示している。この実施形態においては、走査部品間を動かされるのは、物品５１０ではなくプローブ（図示せず）である。
【００４８】
走査されていない部品５０４、５０６は、ベース５０８から取り外され、残りの部品はプローブによって走査される。走査の終了時に、プローブは、ベース５０８の指定された角部５１２までＳ１の距離を動かされ、走査終点とベース５０８の角部５１２との間のプローブ・チップの変位が記録される。同じプロセスは、物品の中央の部品５０４および他方の端部の部品５０６が走査された後に繰り返され、中央の部品５０４および他方の端部の部品５０６とベースの指定された角部５１２との間の、２つのさらに別の変位Ｓ２、Ｓ３がそれぞれ与えられる。この例においては、各走査の終点は、プローブが歯、または、架工歯の頂部に到達したときであると示されているが、これは選択できることである。走査された最後のデータ片と指定された角部との間の関係性が分かっている限り、走査全体の個々の部分が電子的に合わされて、複合走査がもたらされることが可能である。
【００４９】
各走査部品の基準点は、ベースの指定された角部である必要はない。その代わりに、サンプル取付部の表面上のある点であってもよい。物品の全ての部品が横たわるサンプル取付部の直径が、走査デバイスによって正確に突き止められ得る場合には、この直径に沿った物品の各部品の位置は、異なる走査部分を複合表現に組み合わせることを容易にするために確立されることが可能である。
【００５０】
代替歯の製作における次に重要な段階は、どのような外形にするかを定めることである。これを行う従来の方法は、ワックスを塗られた模型を用いることによるものである。ワックス層は、石膏模型に塗布され、支持歯と失損歯が再建されるまで形づくられる（正確さを保証するために反対側のあごの歯に当たる状態を確認する必要がある）。
【００５１】
一旦ワックス模型を満足すると、物品の個々の部品が、ここで説明された方法を用いて再び走査され、それにより、ブリッジの外面の形状に関するデータが与えられる。次に、このデータは、部品走査の第１の組からのデータ（ブリッジの内面の寸法および形状を与える）と組み合わせて、ブリッジの製作に用いられる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】走査システムを示す図である。
【図２】走査される物品用のレセプタクルを遠近法で示す図である。
【図３】別のレセプタクルを遠近法で示す図である。
【図４】サンプル取付部に配置されたレセプタクルを示す図である。
【図５ａ】サンプル取付部の回転軸およびプローブに対するレセプタクルの位置を求めることができる、測定機能部を示す図である。
【図５ｂ】サンプル取付部の回転軸およびプローブに対するレセプタクルの位置を求めることができる、測定機能部を示す図である。
【図６】別の測定デバイスを示す図である。
【図７ａ】別のレセプタクルの平面図である。
【図７ｂ】別のレセプタクルの断面図である。
【図８】レセプタクルおよび協働するサンプル取付部を通る断面図である。
【図９】本発明の実施形態を示す図である。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、走査するための、特に、歯科用ブリッジのような細長い物体を走査するための方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
慣例的に、三次元の細長い形状は、始点から終点まで、所定の経路をたどることによって走査される。経路の形式に応じて、高さの偏差は調整されるが、走査装置のセンシング・チップよりも大きいアンダーカットまたは凹部は、適正に調査されないであろう。これはまた、細長い形状が多数の個別の部品からなり、センシング・チップがこれらの個別の部品の交差部に適正にアクセスできない場合も然りである。
【０００３】
アンダーカットまたは凹部に直面する場所には、物体の巡回走査、または、ヘリカル走査が提供されることが知られている。物体は回転させられ、プローブが回転軸に対して角度をつけられて、物体がアンダーカットをプローブに提示しないように操作されてもよく、または、いかなるアンダーカットも詳細に調べられるように、より多くの自由度をもつプローブが提供されてもよい。
【０００４】
【特許文献１】国際公開第ＷＯ０３／０４６４１２号パンフレット
【発明の開示】
【０００５】
プローブの作動域を制約する、寸法上の考慮事項が存在する場合には、現在のところは、巡回走査、または、ヘリカル走査が好ましいが、これは、走査できる物体の形状に制限がある。
【０００６】
本発明は、細長い形状、特に、多数の別個の部品からなる（または、多数の個別の部品に分けられ得る）形状の走査を可能にする。
【０００７】
第１の態様によれば、本発明は、走査方法であって、
走査デバイスおよび回転可能なサンプル取付部を有し、その走査デバイスと取付部が、取付部の回転軸に沿って相対的に変位可能である、走査装置を提供するステップと、
走査デバイスによって物品の第１部品が走査可能となるように、サンプル取付部の上に物品を配置するステップと、
物品の第１部品を走査するステップと、
物品の第２部品が走査可能となるように、走査デバイスに対して物品を相対的に変位させるステップと、
物品と走査デバイスとの間の相対的変位を確認するステップと、
第２部品を走査するステップと、
を含む走査方法を提供する。
【０００８】
物品は、サンプル取付部に配置される前に、レセプタクルに固定されることが好ましい。好ましい実施形態においては、レセプタクルは、サンプル取付部に配置される前に、スライド部に対して取り付けられる。
【０００９】
物品は少なくとも２つの別の部品からなり、第１部品の走査の間は、レセプタクルから第２部品が取り外されることに利点がある。これは、特に、少なくとも２つの部品が隣接している場所にアンダーカット、または、凹部がある場合に完全走査が行われることを可能にする。
【００１０】
第２の態様によれば、本発明は、物品を走査するためのスキャナであって、
走査デバイスおよび回転可能なサンプル取付部を有し、前記走査デバイスおよび前記取付部が、前記取付部の回転軸に沿って相対的に変位可能である、走査装置と、
サンプル取付部に取り付けられたレセプタクルであって、物品を確実に収容することができるレセプタクルと、
レセプタクルを直線的に変位させるためのアクチュエータであって、アクチュエータの作動が、レセプタクルと、レセプタクルに取り付けられたあらゆる物品とを、サンプル取付部に対し変位させる、アクチュエータと、
を備えたスキャナを提供する。
【００１１】
物品は細長く、アクチュエータによる変位は、細長い物品の長軸によって定められた軸線に沿っていることが好ましい。物品の長軸は、直線状であってもよいし、または、弧状であってもよい。
【００１２】
ここで、本発明は、例として付属の図面を参照しながら説明される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
図１は、サンプルホルダ、すなわち取付部１４が、軸線４８の周りを回転可能に取り付けられた、ベース１２を有する走査システム１０を示している。ベース１２はまた、センシング・チップ２０を有するプローブ１８を支持するスタンド１６を有する。サンプル２２は、回転可能なサンプルホルダ１４に配置される。センシング・チップ２０は、サンプルホルダ１４の回転軸４８に対して傾斜させられた軸線Ａに沿って移動可能である。サンプルホルダ１４が回転する際に、サンプル表面との距離の変化に応じて、センシング・チップ２０が軸線Ａに沿って移動する。サンプル２２は一連の二次元スライスによって走査されてもよく、または、サンプルホルダ１４はプローブ１８とサンプルホルダ１４との間の相対的変位が発生するのと同時に回転させられてもよく、それがヘリカル走査をもたらす。プローブおよび／またはサンプルホルダは、Ｚ軸に沿って動くことにより、相対的変位をもたらすことができる。
【００１４】
走査システムの例は、引用によりここに組み入れる特許文献１に、より詳細に記載されている。接触走査システムの代わりに、本発明と共に非接触走査システムが用いられてもよい。
【００１５】
図２は、この場合、この例では石膏から作製される顎印象からの模型キャストの一部である物品３０を保持するためのレセプタクル４０を示す。レセプタクル４０は、この場合にはレセプタクル４０内の所定位置に物品３０を固定する３つのねじを含む、締め付け手段４２を有する。
【００１６】
物品３０はベース３６を含み、該ベースの上に、ブリッジ支持部３２Ａ、３２Ｂと、ブリッジされることになる架工歯すなわち失損歯３４が配置される。物品の異なる部品３２Ａ、３２Ｂ、３４は、ベース３６のそれぞれの孔４５と連通する配置ピン４４を用いてベース内に配置される。物品３０の異なる部品３２Ａ、３２Ｂ、３４は、例えば、石膏模型を鋸引きすることによって分離されている。この工程は、配置ピン４４を用いて物品３０がベース３６に配置された後に実行されることが好ましく、そうすることで、異なる部品間の適正な空間的関係が確実に保たれるであろう。物品３０の異なる部品３２Ａ、３２Ｂ、３４の分離は、走査されていない部品が取り外されることを可能にするので、それらは残りの部品の走査を妨害しない。したがって、異なる部品間の空間的関係を維持しながらブリッジの各部分のフル走査が完了され、それにより、結果として得られるブリッジの適合性が保証される。
【００１７】
レセプタクル４０は、スライド部３８内に取り付けられて図示されている。これは、レセプタクル４０およびレセプタクルに固定された物品３０が、スライド部に対して直線的に移動することを可能にする。したがって、スライド部がサンプルホルダに配置されたときに、レセプタクル４０、サンプルホルダおよび走査システムのセンシング・チップ間の相対的な向きが維持される。スライド部はまた、物品の各部品間の距離を割り出す、サンプルホルダに対するレセプタクルの移動の記録を容易にし、最終的なブリッジ作製のための完全走査の再現を可能にする。
【００１８】
物品３０は、ベース３６上に配置される必要はなく、レセプタクル４０内に直接配置されることも可能である。走査される部品の完全走査を得るために、および、異なる部品間の空間的関係を維持するために、物品の余分な部品が除去される必要があるような場合には、異なる部品３２Ａ、３２Ｂ、３４は、最初に単一の構成要素としてレセプタクル４０に固定されるべきである。これが一端なされた後に、それらは、例えば石膏を鋸引きすることによって分離され得る。部品は石膏から作製され、締め付け手段４２は各部品用の個々のねじを含むので、各石膏部品は、締め付け工程の間は、それのねじによってマークされているであろう。したがって、部品は、取り外され、必要とされればマークを位置合わせすることによって元の位置に戻され得る。
【００１９】
図３は、物品を保持するための別のレセプタクル１４０を示している。レセプタクル１４０は、物品をそこに締め付けるために物品を長さ方向に貫通するように働く１つのねじ１４２を有する。この例においては、物品１３０の各部品１３２Ａ、１３２Ｂ、１３４はレセプタクルに個々に固定可能ではないので、ベース１３６が要求される。
【００２０】
レセプタクルは２つの部分１４０Ａおよび１４０Ｂを含み、それらは磁気的に引き寄せられているが、互いに対し移動することができる。これは、センシング・チップ（図示せず）に対する物品全体の角度調節を可能にし、アンダーカット、または、凹部が走査工程の中断を引き起こす可能性を減らす。部品間の空間的関係を保つために、この調節は、走査工程の開始前にのみ行われ得ることに注意されたい。
【００２１】
レセプタクル１４０は、マイクロメータねじ１４６に取り付けられたプラットフォーム１４４を備えたスライド部１３８に取り付けられる。マイクロメータねじ１４６の作動は、軸線Ｂに沿ったプラットフォーム１４４の変位をもたらす。スライド部１３８は、回転可能なサンプル取付部１１４上に置かれる。
【００２２】
或いは、レセプタクルの変位の代わりに、プローブがＸ軸に沿って変位させられる（図１参照）。この方法は、結果として、物品の部品がサンプル取付部の回転軸４８に対し実質的に位置合わせされていないときに、それらが走査されることになるので、好ましくない。
【００２３】
図４は、スライド部２３８に取り付けられ、回転可能なサンプルホルダ２１４上に配置されているレセプタクル２４０を示している。レセプタクル２４０を動かすためにアクチュエータ２４６が提供されており、それにより、物品がスライド部２３８およびサンプルホルダ２１４に対して走査されることになる。
【００２４】
走査は以下のようにして行われる。第１の歯２３２Ｂは、サンプルホルダ２１４の回転軸２４８のほぼ中心に置かれている。この時点では走査されていないブリッジの２つの部品２３２Ａ、２３４は、それらをベース（図示せず）から引っぱり出すことによって、レセプタクル２４０から取り外される。第１部品２３２Ｂが走査される。第２部品２３４がベース内の元の位置に戻され、第１部品２３２Ｂが取り外される。レセプタクル２４０は、第２部品２３４がサンプルホルダ２１４の回転軸２４８上に位置合わせされるまで、アクチュエータ２４６を用いてスライド部２３８に対して動かされる。ここで、第２部品２３４が、センシング・チップ２２０を用いて走査される。ここで、ブリッジの第３部品２３２Ａがレセプタクル２４０内のベースにおける元の位置に戻され、第２部品２３４がベースから取り外される。レセプタクル２４０は、第３部品２３２Ａがサンプルホルダ１４の回転軸２４８上に位置合わせされるまで、アクチュエータ２３６を用いてスライド部２３８に対して再び動かされる。次に、第３部品の走査が行われる。
【００２５】
レセプタクルとサンプルホルダの回転軸との間の関係は、図３においてはマイクロメータねじ１４６によって達成される。したがって、各部品がサンプルホルダの回転軸に位置合わせされたときに、マイクロメータねじの読取値を確認することによって、各走査部分の中心点間の距離が理解され、そしてそれは異なる走査間の、したがって異なる歯の間の適正な空間的関係を有する物品全体の複合走査を構築するために用いられることが可能である。これは、部品が走査される前に、または、走査された後に行われ得ることに注意されたい。したがって、レセプタクルは、スライド部に対するいずれかの位置への各移動の後に、再びデータをとられる。
【００２６】
実際には、要求されるのは異なる歯の間の空間的関係であるが、歯はスライド部に対し所定位置に一時的に固定されるので、スライド位置の測定は、それと同義である。
【００２７】
回転軸２４８に対するレセプタクル２４０の位置の測定は、レセプタクルがプローブの移動軸線Ａおよび回転軸２４８と同一平面上にあるときに行われることが重要であり、それは、そうしたときに、各走査部品の回転中心間の測定された距離が真の測定値であることが保証されるためである。基本的には、レセプタクルの縦軸線Ｂは、軸線Ａおよび軸２４８に対して位置合わせされるので、軸線Ａおよび軸２４８に対するレセプタクルの向きは、各測定に関して同じである。
【００２８】
レセプタクル２４０が軸線Ａおよび軸２４８と同一平面上になかった場合には、物品の部品２３２Ａ、２３２Ｂ、２３４間の空間的関係が歪められることになる（対角測定が行われることになるため）。相対測定の各々が行われるときにレセプタクル２４０が軸線Ａおよび軸２４８と同一平面上にあることを保証する１つの方法が、以下に図１を参照しながら説明される。レセプタクル４０が、最初に軸線Ａおよび軸線４８と同一平面に合わせられ、サンプルホルダの側部の、走査システムのベース１２の遮断点の近くに、マークがつけられる。協働する第２のマークがベース１２につけられる。第１の走査が完了したときに、レセプタクル４０をスライド部３８に対し動かして、第２部品３４をサンプルホルダ１４の回転軸４８上に位置合わせするときに、サンプルホルダ１４のマークとベース１２のマークが再び位置合わせされ、それにより、レセプタクル４０がプローブ軸線Ａに対し再び法線方向にされることが保証される。或いは、サンプルホルダ１４には、ベース１２に隣接して配置された恒久的なマークが与えられ、ベース１２は、サンプル取付部の周囲に一連のマークを有し、各走査プロセスにおいては、位置合わせの位置（レセプタクル４０が軸線Ａおよび軸線４８と同一平面上にあるとき）は、例えば、位置合わせされたときのサンプルホルダ１４上のマークに対応するベース上のマークの隣りに位置決めされたステッカーによって示すことができる。
【００２９】
或いは、ホルダ１４は、固定の基準マークを有するモータおよびエンコーダによって、回転軸４８の周りを動かされ得る。移動軸と基準マークとの相対的角度の校正は、軸線Ｂに沿ったレセプタクル４０とホルダ１４との調整が、ベース１２または軸線Ａに対していずれかの向きになされることを可能にする。
【００３０】
物品の部品は、サンプルホルダの回転軸と位置合わせされているが、これは、本発明の幾つかの実施形態に関する好ましい特徴である。部材を回転軸上に位置合わせすることにより、走査からのデータの解釈が容易になり、プローブのトランスデューサがその作動限界付近で使用されないことが保証される。
【００３１】
図５ａおよび図５ｂは、物品の異なる部品のそれぞれの走査の間にそれらの相対位置を求めるために用いられ得る、測定機能部５０を示している。図５ａは、サンプルホルダ１４の回転軸４８に対するレセプタクル４０の位置を確立するのに用いられているときの、角度のついた機能部５０を示している。図５ｂは、その引っ込められた位置５２にある、角度のついた機能部５０を示している。
【００３２】
角度のついた機能部５０は、レセプタクル４０に回転可能に取り付けられ、レセプタクル４０の長さに対して勾配を有する。したがって、レセプタクル４０の一方の端部から他方の端部に動かすことにより、レセプタクル４０から角度のついた機能部５０までの距離が変化することになる。物品３０の部品３２Ｂが回転軸４８上に適正に配置されたときには、プローブ・チップ２０が、角度のついた機能部５０と接触させられる。角度のついた機能部５０は、９０度まで回転させることによって引っ込められ（図５ｂに示される）、前述のように第１部品の走査が行われる。その後、物品３０の第２部品３４が回転軸４８と位置合わせされたときに、プローブ・チップが、角度のついた機能部５０に再び近づけられる。角度のついた機能部に勾配が存在するので、プローブの軸線Ａに沿ったプローブ・チップ２０の位置は異なるであろう。角度のついた機能部の勾配は分かっているので、第１部品の走査の中心点と第２部品の走査の中心点との間の距離も分かる。
【００３３】
図６は、一組の副尺付きノギス６０である別の測定デバイスを示している。この例においては、異なる走査における物品の各部品の相対位置を得るために、スライド部３８の一方の端部１００とレセプタクル４０の遠位端１０２との間の距離が測定される。副尺付きノギス６０は、システムに取り付けられず、測定１０４が行われたあとに取り外される。
【００３４】
各部品の走査における回転中心間の距離の測定は、多くの方法で実行することができる。回転軸に対する移動が手動で制御されるときには、移動する部品（図２のレセプタクル４０、または、図３のプラットフォーム１４４）上の副尺、マイクロメータねじ、または、外付けの副尺付きノギスが、好ましい方法である。
【００３５】
回転軸に対する移動が、モータを用いて、すなわち自動的に制御されるときには、スケールと読取ヘッドとを有するエンコーダ・システム（直線式または回転式）が好ましい。モータによる移動は、デバイスの１つの向きにおけるスリップリングまたはコンタクトを介して移動部品に送られた外部電気信号、１つの向きにおける誘導結合または容量結合、デバイスに取り付けられ得るモータ、例えば図３の１５０、または、無線または光信号によって作動され、制御されるバッテリとされ得るデバイス、といった多くの手段で達成することができる。
【００３６】
１つの軸線Ｂ（図３参照）に沿ったレセプタクル４８の調節は単純な部品に適応させられているが、ベース３６上の２つより多いブリッジ支持部を走査するために、２つの調節直交軸を与えることが要求されてもよい。図７ａおよび図７ｂは、それぞれ、本発明に係る別のレセプタクルの平面図および断面図を示す。この実施形態においては、レセプタクル３００は、顎の断面の形状を再現するために湾曲させられている。レセプタクルは、セグメント形状であり、５つの接触点によってサンプルホルダ３２０上に繰り返し配置される。第１の接触位置は、レセプタクル３００の回転中心３１０にある。第２および第３の接触位置は、回転中心３１０から半径方向に離間されていて、レセプタクルによって描かれた外周部３０２に隣接している。物品３０４は、外周部３０２の近くのレセプタクル３００上に配置され、それにより、物品３０４のいずれの個々の部品も、回転中心からほぼ同じ半径のところにある、すなわち、レセプタクルが回転する際に、部品は同じ経路にそって互いに追従する。
【００３７】
回転中心３１０は、レセプタクル３００に収容された物品３０４の移動を最大にしながら、ベース３２０の要求される直径を最小にするように、ベース３２０の縁の近くに配置される。第１の接触位置は、円錐内に位置されたボールを含み、３つの接触点を含む。ボール３１２は、レセプタクル３００の下面に埋め込まれ、ベース３２０の上面の円錐形状の穴３１４内に位置される。レセプタクルの移動は、この第１の接触位置のまわりに弧を描く。
【００３８】
第２および第３の接触位置は、レセプタクルの外周部３０２の近くに配置される。第２および第３の接触位置は、ベース３２０の上面とレセプタクル３００の下面に埋め込まれたボール３２２との間の単一の接触点を含む。第２および第３の接触位置は、セグメント形状のレセプタクルの各半径縁の１つに配置されるので、３つの接触位置が三角形を描く。
【００３９】
或いは、第１の接触位置は、説明されたように配置され、第２および第３の接触位置は、ベース３２０の上面に機械加工された「ｖ」字形状の湾曲した溝３１６に各々形成された２つの接触点と、レセプタクル３００の下側に埋め込まれた第２のボール３１８を含む。溝３１６は、レセプタクルの回転中心と同じ点に中心を有する円の一部である。
【００４０】
物品を走査するために、物品の第１部品が、プローブ（図示せず）に対して位置決めされる。物品の異なる部品の相対位置を確立するために、レセプタクルの１つの半径縁３０６が突き止められ、その座標が保存される。物品の第１部品が走査される。レセプタクルが、プローブに対して物品の第２部品を位置決めするために回転させられる。レセプタクルの半径縁３０６の新たな座標が確立され、第２部品が走査される。このプロセスは、物品の全ての部品が走査されるまで繰り返される。レセプタクルの半径縁に関する各走査部品の相対位置は、物品全体の複合像がグラフィックで生成されることを可能にする。
【００４１】
レセプタクルの移動は、手動のプロセスで、または、モータによるプロセスで実行されてもよい。
【００４２】
別の方法として、「ｖ」字形状の溝３１６は、ベースの表面に機械加工された複数の個別の「Ｖ」字形状のノッチと置き換えられる。この実施形態においては、ノッチは、既知の関係性をもっており、そのため、レセプタクルが各ノッチ間でインデックス付けされる際に、レセプタクルのノッチ位置が分かっている限り、レセプタクルの相対位置が既に分かっているので、各部品を走査する前にレセプタクルの縁をもはや突き止める必要はない。
【００４３】
ボールをレセプタクルの下側に埋め込む代わりに、それらをベースの上面に埋め込んでもよい。さらに、ベースの平らな面を破壊するのではなく、例えば、磁力によってベースに取り付けられるマウント３３０が設けられてもよい。
【００４４】
図８は、レセプタクル４００および協働するサンプル取付部４２０を通る断面図である。レセプタクルは、表面に機械加工された複数のギヤ歯４０２を有し、サンプル取付部４２０は、レセプタクル４００に（少なくとも部分的に）適応させられた中央トレンチ４２２を有する。トレンチ４２２のベースは、レセプタクル４００のギヤ歯４０２と協働する、一組の嵌合するギヤ歯４２４を含む。レセプタクルは、手動で、または、機械的に（例えばモータによって）、サンプル取付部４２０に対して動かされてもよい。
【００４５】
ギヤ歯は、正確に機械加工されるので、レセプタクル４００が隣接するギヤ歯に係合する際にレセプタクルが動かされた距離が分かり、それにより、走査部品間で動かされたギヤ歯の数をカウントすることにより、走査部品が互いに適合されることが可能となる。したがって、複数の画定された位置、または、インデックス位置が存在する。
【００４６】
或いは、ギヤ歯は、単に、レセプタクルとサンプル取付部とを係合させるために用いられる。この場合は、サンプル取付部に対するレセプタクルの位置が読み取られることを可能にするスケールが設けられてもよく、または、レセプタクルの縁と歯との間の距離を確立するためにプローブが用いられる。
【００４７】
図９は、ベース５０８上に取り付けられ、サンプル取付部５２０上に置かれた、３つの部品５０２、５０４、５０６を備えた物品５１０を示している。この実施形態においては、走査部品間を動かされるのは、物品５１０ではなくプローブ（図示せず）である。
【００４８】
走査されていない部品５０４、５０６は、ベース５０８から取り外され、残りの部品はプローブによって走査される。走査の終了時に、プローブは、ベース５０８の指定された角部５１２までＳ１の距離を動かされ、走査終点とベース５０８の角部５１２との間のプローブ・チップの変位が記録される。同じプロセスは、物品の中央の部品５０４および他方の端部の部品５０６が走査された後に繰り返され、中央の部品５０４および他方の端部の部品５０６とベースの指定された角部５１２との間の、２つのさらに別の変位Ｓ２、Ｓ３がそれぞれ与えられる。この例においては、各走査の終点は、プローブが歯、または、架工歯の頂部に到達したときであると示されているが、これは選択できることである。走査された最後のデータ片と指定された角部との間の関係性が分かっている限り、走査全体の個々の部分が電子的に合わされて、複合走査がもたらされることが可能である。
【００４９】
各走査部品の基準点は、ベースの指定された角部である必要はない。その代わりに、サンプル取付部の表面上のある点であってもよい。物品の全ての部品が横たわるサンプル取付部の直径が、走査デバイスによって正確に突き止められ得る場合には、この直径に沿った物品の各部品の位置は、異なる走査部分を複合表現に組み合わせることを容易にするために確立されることが可能である。
【００５０】
代替歯の製作における次に重要な段階は、どのような外形にするかを定めることである。これを行う従来の方法は、ワックスを塗られた模型を用いることによるものである。ワックス層は、石膏模型に塗布され、支持歯と失損歯が再建されるまで形づくられる（正確さを保証するために反対側のあごの歯に当たる状態を確認する必要がある）。
【００５１】
一旦ワックス模型を満足すると、物品の個々の部品が、ここで説明された方法を用いて再び走査され、それにより、ブリッジの外面の形状に関するデータが与えられる。次に、このデータは、部品走査の第１の組からのデータ（ブリッジの内面の寸法および形状を与える）と組み合わせて、ブリッジの製作に用いられる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】走査システムを示す図である。
【図２】走査される物品用のレセプタクルを遠近法で示す図である。
【図３】別のレセプタクルを遠近法で示す図である。
【図４】サンプル取付部に配置されたレセプタクルを示す図である。
【図５ａ】サンプル取付部の回転軸およびプローブに対するレセプタクルの位置を求めることができる、測定機能部を示す図である。
【図５ｂ】サンプル取付部の回転軸およびプローブに対するレセプタクルの位置を求めることができる、測定機能部を示す図である。
【図６】別の測定デバイスを示す図である。
【図７ａ】別のレセプタクルの平面図である。
【図７ｂ】別のレセプタクルの断面図である。
【図８】レセプタクルおよび協働するサンプル取付部を通る断面図である。
【図９】本発明の実施形態を示す図である。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走査方法であって、
走査デバイス（１８）および回転可能なサンプル取付部（１４）を有し、前記走査デバイスおよび前記取付部が、前記取付部の回転軸（４８）に沿って相対的に変位可能である、走査装置（１０）を提供するステップと、
前記走査デバイス（１８）によって物品（２２）の第１部品が走査可能となるように、サンプル取付部の上に前記物品（２２）を配置するステップと、
前記物品の第１部品を走査するステップと、
前記物品の第２部品が走査可能となるように、前記走査デバイスに対して前記物品を相対的に変位させるステップと、
前記物品と前記走査デバイスとの間の相対的変位を確認するステップと、
前記第２部品を走査するステップと、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記物品（２２）は、レセプタクル（４０、１４０、２４０）に固定されていることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記レセプタクル（４０、１４０、２４０）は、スライド部（３８、１３８、２３８）に対して取り付けられていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記物品は少なくとも２つの別個の部品（３２Ａ、３２Ｂ、３４）からなり、前記第１部品の走査の間は、前記レセプタクルから第２部品が取り外されることを特徴とする請求項１から請求項３までのいずれかに記載の方法。
【請求項５】
物品を走査するためのスキャナであって、
走査デバイス（１８）および回転可能なサンプル取付部（１４、４２０）を有し、前記走査デバイスおよび前記取付部が、前記取付部の回転軸（４８）に沿って相対的に変位可能である、走査装置（１０）と、
前記サンプル取付部に取り付けられたレセプタクル（４０、１４０、２４０、４００）であって、前記物品（３０）を確実に収容することができるレセプタクル（４０、１４０、２４０、４００）と、
前記レセプタクルを直線的に変位させるためのアクチュエータ（１４６、２４６）であって、前記アクチュエータの作動が、前記レセプタクルと、前記レセプタクルに取り付けられたいずれの物品とをも、前記サンプル取付部に対し変位させる、アクチュエータ（１４６、２４６）と、
を備えることを特徴とするスキャナ。
【請求項６】
前記物品は細長く、前記アクチュエータによる変位は、前記細長い物品の長軸によって定められた軸線に沿っていることを特徴とする請求項５に記載のスキャナ。
【請求項７】
前記アクチュエータはマイクロメータ（１４６）であることを特徴とする請求項５または請求項６に記載のスキャナ。
【請求項８】
前記物品の異なる部品の相対位置を測定する、測定機能部（５０、６０、１４６、２４６）を含むことを特徴とする請求項５から請求項７までのいずれかに記載のスキャナ。
【請求項９】
前記測定機能部は、マイクロメータ（１４６）、または、一組の副尺付きノギス（６０）であることを特徴とする請求項８に記載のスキャナ。
【請求項１０】
前記アクチュエータは手動式であることを特徴とする請求項５または請求項６に記載のスキャナ。
【請求項１１】
前記アクチュエータは自動であることを特徴とする請求項５または請求項６に記載のスキャナ。
【請求項１２】
前記レセプタクルは、前記サンプル取付部に対する複数の画定された位置を有することを特徴とする請求項５から請求項１１までのいずれかに記載のスキャナ。
【請求項１】
走査方法であって、
走査デバイス（１８）および回転可能なサンプル取付部（１４）を有し、前記走査デバイスおよび前記取付部が、前記取付部の回転軸（４８）に沿って相対的に変位可能である、走査装置（１０）を提供するステップと、
前記走査デバイス（１８）によって物品（２２）の第１部品が走査可能となるように、サンプル取付部の上に前記物品（２２）を配置するステップと、
前記物品の第１部品を走査するステップと、
前記物品の第２部品が走査可能となるように、前記走査デバイスに対して前記物品を相対的に変位させるステップと、
前記物品と前記走査デバイスとの間の相対的変位を確認するステップと、
前記第２部品を走査するステップと、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記物品（２２）は、レセプタクル（４０、１４０、２４０）に固定されていることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記レセプタクル（４０、１４０、２４０）は、スライド部（３８、１３８、２３８）に対して取り付けられていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記物品は少なくとも２つの別個の部品（３２Ａ、３２Ｂ、３４）からなり、前記第１部品の走査の間は、前記レセプタクルから第２部品が取り外されることを特徴とする請求項１から請求項３までのいずれかに記載の方法。
【請求項５】
物品を走査するためのスキャナであって、
走査デバイス（１８）および回転可能なサンプル取付部（１４、４２０）を有し、前記走査デバイスおよび前記取付部が、前記取付部の回転軸（４８）に沿って相対的に変位可能である、走査装置（１０）と、
前記サンプル取付部に取り付けられたレセプタクル（４０、１４０、２４０、４００）であって、前記物品（３０）を確実に収容することができるレセプタクル（４０、１４０、２４０、４００）と、
前記レセプタクルを直線的に変位させるためのアクチュエータ（１４６、２４６）であって、前記アクチュエータの作動が、前記レセプタクルと、前記レセプタクルに取り付けられたいずれの物品とをも、前記サンプル取付部に対し変位させる、アクチュエータ（１４６、２４６）と、
を備えることを特徴とするスキャナ。
【請求項６】
前記物品は細長く、前記アクチュエータによる変位は、前記細長い物品の長軸によって定められた軸線に沿っていることを特徴とする請求項５に記載のスキャナ。
【請求項７】
前記アクチュエータはマイクロメータ（１４６）であることを特徴とする請求項５または請求項６に記載のスキャナ。
【請求項８】
前記物品の異なる部品の相対位置を測定する、測定機能部（５０、６０、１４６、２４６）を含むことを特徴とする請求項５から請求項７までのいずれかに記載のスキャナ。
【請求項９】
前記測定機能部は、マイクロメータ（１４６）、または、一組の副尺付きノギス（６０）であることを特徴とする請求項８に記載のスキャナ。
【請求項１０】
前記アクチュエータは手動式であることを特徴とする請求項５または請求項６に記載のスキャナ。
【請求項１１】
前記アクチュエータは自動であることを特徴とする請求項５または請求項６に記載のスキャナ。
【請求項１２】
前記レセプタクルは、前記サンプル取付部に対する複数の画定された位置を有することを特徴とする請求項５から請求項１１までのいずれかに記載のスキャナ。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５ａ】
【図５ｂ】
【図６】
【図７ａ】
【図７ｂ】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５ａ】
【図５ｂ】
【図６】
【図７ａ】
【図７ｂ】
【図８】
【図９】
【公表番号】特表２００７−５１６４３６（Ｐ２００７−５１６４３６Ａ）
【公表日】平成１９年６月２１日（２００７．６．２１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−５４０６０７（Ｐ２００６−５４０６０７）
【出願日】平成１６年１１月２４日（２００４．１１．２４）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＧＢ２００４／００４９５３
【国際公開番号】ＷＯ２００５／０５４７８１
【国際公開日】平成１７年６月１６日（２００５．６．１６）
【出願人】（３９１００２３０６）レニショウ パブリック リミテッド カンパニー (166)
【氏名又は名称原語表記】ＲＥＮＩＳＨＡＷ ＰＵＢＬＩＣ ＬＩＭＩＴＥＤ ＣＯＭＰＡＮＹ
【Ｆターム（参考）】
【公表日】平成１９年６月２１日（２００７．６．２１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１６年１１月２４日（２００４．１１．２４）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＧＢ２００４／００４９５３
【国際公開番号】ＷＯ２００５／０５４７８１
【国際公開日】平成１７年６月１６日（２００５．６．１６）
【出願人】（３９１００２３０６）レニショウ パブリック リミテッド カンパニー (166)
【氏名又は名称原語表記】ＲＥＮＩＳＨＡＷ ＰＵＢＬＩＣ ＬＩＭＩＴＥＤ ＣＯＭＰＡＮＹ
【Ｆターム（参考）】
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