説明

Fターム[2F065LL22]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 光学系 (17,149) | 光学フィルター (1,327) | 波長選択フィルター(例;干渉フィルター) (805)

Fターム[2F065LL22]の下位に属するFターム

波長可変 (33)

Fターム[2F065LL22]に分類される特許

101 - 120 / 772


【課題】光ファイバーでファイバーヒューズが発生した場合に、光ファイバーの損傷を抑制するために、容易にその発生を検知し、できるだけ早く措置を取れる様にする。
【解決手段】光パルス発生器と、その出力を光ファイバーに入射する光結合手段と、発生したファイバーヒューズによる戻り光を分岐する分岐手段と、戻り光から光パルスの戻り光を選択する盧波手段と、その出力光を光電変換する変換手段と、その出力を時間の関数として測定する測定手段と、その測定手段の出力で一方向に移動する特徴点を見出す信号処理手段と、このような特徴点を見出した場合に警報信号を発する警報手段と、を備える。この警報信号で、例えば、光伝送を中断して、損傷を抑制する。特徴点を見出すには、パルスの往復時間の変化を検出するか、シングルパルスやダブルパルスまたはマルチパルスの短縮を検知する。 (もっと読む)


【課題】径サイズの異なるタイヤの検査に容易に適用可能なタイヤ検査装置及びタイヤ検査方法を提供する。
【解決手段】タイヤ検査装置1は、タイヤTの検査面Taを撮像する第1撮像部10と、検査面Taを撮像する第2撮像部20と、画像データ補正部103とを備える。第1撮像部10は、タイヤの回転軸方向視において、第1撮像部10の光軸Ax10が法線N1に一致するとともに検査面Taを撮像するように配置されており、第2撮像部20は、第2撮像部20の光軸Ax20が法線N1に平行に検査面Taを撮像するように配置されている。画像データ補正部103は、第2撮像部20によって取得された画像と第1撮像部10によって取得された画像とを一致させるように第2撮像部20によって取得された画像を補正する。 (もっと読む)


【課題】装置又は部品の加工誤差又は製作誤差や、流体固有の屈折率の影響等に起因する画像データ取得の困難性を解消し、マイクロスケールの微小流動場の流体速度等を解析するために有効な画像を単一の撮像装置によって取得する。
【解決手段】微小流動場撮影装置は、微小流動場(M)の可視化流体の粒子画像を撮像する撮像装置(11)と、撮像装置に光学的に連結した顕微鏡(12)とを備える。複数の第1反射面(17,17a)と、第1反射面の各々に対面し且つ顕微鏡の光路に配置された複数の第2反射面(16,16a)とが顕微鏡と微小流動場との間に配置される。微小流動場撮影装置は、第1又は第2反射面の角度を調整する角度調整機構と、第1又は第2反射面の位置を調整する位置調整機構とを備える。微小流動場の粒子の反射光が第1及び第2反射面によって反射して顕微鏡内の光路に入射し、異なる視点から得られた同一粒子の複数の像が撮像装置の単一の結像面に結像する。 (もっと読む)


【課題】シート状の被検体の厚みおよび厚みムラの測定において、厚み測定の精度を向上させることが可能な被検体測定装置を得る。
【解決手段】低可干渉光源11から出力された低可干渉光を迂回路部2において2光束に分岐し、一方の光束が他方の光束よりも光路長が長くなるように該2光束を別々の経路を進行させた後に1光束に再合波して被検体90に照射する。被検体90を透過した光束のうち、該被検体90での内部反射の回数が2回だけ異なる光束同士が干渉するように迂回路部2における2光束の光路長差を調整し、撮像素子43上に結像された干渉縞を撮像する。撮像された干渉縞のコントラストと、迂回路部2における2光束の光路長差との対応関係に基づき、被検体90の厚みを算出するとともに、撮像された干渉縞を解析して被検体90の厚みムラを求める。 (もっと読む)


【課題】特殊な光学系を用いることなく、複数の異なる位置に配置した画像センサでの撮影結果を統合することで、被写体またはカメラが動いている状況、もしくは照明環境が変動している状況下においてもマルチバンド画像の取得を可能にする。
【解決手段】被写体の基準画像を得る第1の撮像手段と、所定の分光透過率を有する光学フィルタを備え、被写体の分光情報画像を得る第2の撮像手段と、第1及び第2の撮像手段により得られた基準画像と分光情報画像との対応点を探索して、三角測量の原理に基づき、分光情報画像の視点位置を基準画像の視点位置に一致させるための画像変形パラメータを求める対応点検出手段と、画像変形パラメータに基づき、分光情報画像の変形処理を行う画像変形処理手段と、基準画像と、画像変形処理手段により画像変形を行った後の分光情報画像とをマルチバンド画像として出力する画像出力手段とを備えた。 (もっと読む)


【課題】溶接時に溶接品質検査が可能で、溶接後に検査工程を追加する必要がなくなり、、検査に要する工数や手間を縮減できる溶接品質検査方法/装置を提供する。
【解決手段】スリット光が照射されたビードを撮影し、その画像によってビード外形状を計測し、同外形状に基づいて溶接品質の良否を判定する溶接品質検査において、スリット光の非照射状態と照射状態とにおけるビード画像を各々スリット光の波長を通過帯域とするバンドパスフィルタを通し、デジタル化した後、両画像間の差分画像を抽出し、同差分画像によってビード外形状を計測し、これにより溶接品質の良否を判定する。差分画像はスリット光のみによる光強度分布画像(スリット光データ)であるから、溶接光と検査用のスリット光が区別されたスリット光による、つまり溶接時における溶接品質の良否判定が行なわれる。 (もっと読む)


【課題】1回のパターン投影、及び撮影により計測対象の3次元形状を復元する。
【解決手段】投影装置1は、所定の投影パターン(円形白黒コード群)を計測対象4に投影する。撮像装置2は、投影パターンが投影された計測対象4を撮影する。コード抽出部3−2は、撮影した画像からコードを抽出する。コード識別部3−3は、抽出したコードからコード番号を識別する。ワード生成部3−4は、着目コード番号の4近傍のコード番号を探索してワードを生成する。対応点算出部3−5は、生成されたワードを用いて、撮影画像中のワードと投影パターンのワードとの対応をとり、対応点の座標を得る。3次元位置算出部3−6は、3角測量の原理を用いて、撮影画像中のワードの中心座標と投影パターンの中心座標とから3次元座標位置を算出する。 (もっと読む)


【課題】計測点の位置の違いによる法線算出の誤差を可及的に小さくし、計測対象物の3次元形状を精度良く算出するための技術を提供する。
【解決手段】形状計測装置は、カメラ1で撮像を行うことにより得られた画像から、計測対象物4の表面上の複数の注目点について特徴量を算出し、記憶装置62に予め記憶されているデータを参照して特徴量の値から法線の向きを算出し、その算出結果から計測対象物4の表面の3次元形状を復元する。ここで、記憶装置62は、カメラ1の視野内に設定された複数の基準位置のそれぞれについて作成された複数のデータを記憶しており、注目点の位置に応じて参照するデータが切り替えられる。 (もっと読む)


【課題】被測定物の視認性や人の作業効率に影響を与えることなく、高精度かつ確実に被測定物の3次元形状を導出する。
【解決手段】3次元形状測定装置110は、被測定物102に投光する投光源150と、被測定物で反射された反射光を受光し投影像を形成する受光素子160と、2値化された制御信号を生成する信号生成部170と、被測定物に照明光を照射する照明装置120を制御信号が第1状態を示す間消灯する照明制御部162と、制御信号が第1状態を示す間に、受光素子に投影像を形成させる投影像形成制御部172と、受光素子で形成された投影像に基づいて被測定物の3次元形状を導出する3次元形状導出部176とを備える。 (もっと読む)


【課題】投射光領域の輪郭が不明瞭な場合でも、移動体の正確な位置を検出する。
【解決手段】移動体の位置を検出する位置検出システムであって、天井面を撮影した画像から前記移動体に装着されかつ鉛直制御された光源から該天井面へ投射された投射光の画像領域を抽出する抽出手段と、前記投射光の画像領域の重心位置を算出する算出手段と、前記重心位置を床面の前記移動体の位置へと変換する位置変換手段とにより達成される。 (もっと読む)


【課題】タイヤ表面に付着した塗膜の影響を受けることなく精度良く不良個所を判定するタイヤの外観検査方法及び外観検査装置を提供する。
【解決手段】タイヤ表面を検査して欠陥を抽出するタイヤの外観検査方法であって、タイヤ中心軸回りに回転するタイヤ表面に対してスリット光を照射し、スリット光が照射されたタイヤ表面を撮像手段により撮像して撮像画像を取得する撮像ステップと、撮像画像からタイヤ表面の形状情報を取得する形状情報取得ステップと、形状情報からタイヤ表面の欠陥情報を抽出する形状欠陥情報抽出ステップと、撮像画像からタイヤ表面の色調情報を取得する外観情報取得ステップと、色調情報からタイヤ表面の塗膜情報を抽出する塗膜情報抽出ステップとを有し、欠陥情報と塗膜情報とを比較して塗膜情報に欠陥情報が一部叉は全部重複するときに塗膜情報に基づいて欠陥情報を修正する塗膜除去ステップとを含むようにした。 (もっと読む)


【課題】粒子像のボケを利用して1台のカメラで粒子の三次元定量的情報を計測するデフォーカス法において、粒子数が多い場合や粒子が合焦点に近いところに位置する場合でも、粒子の識別ができる手法を提供する。
【解決手段】カメラのレンズに装着するマスクの3箇所(正三角形の各頂点)に孔を設け、それぞれの孔に赤、緑、青の色フィルタを取り付けて撮影すると、浮遊粒子が合焦点位置にあるときには粒子像は1点に集中して1つの白色輝点として観察されるが、合焦点位置から外れると赤、緑、青3輝点で形成される三角形が観測される。それぞれの輝点の中心をつないでできる三角形に外接する外周円を想定し、その半径を求め、その三角形の向きを正負で表し、予め作成しておいた較正曲線に当てはめて、粒子の合焦点位置からの光軸方向への位置のずれ量を算出する。 (もっと読む)


【課題】溶接ワークの開先角が90°以下で様々な角度をとる場合に、溶接対象部における反射スリット光を特定領域に集めるようにカメラ及び投光器を配置することで、本来のスリット光を容易に検出して、安定的に溶接ワークの開先形状を計測する。
【解決手段】溶接ワークWの開先Kにある溶接線Lに対して直交するように投光器2からスリット光Sを照射し、スリット光Sが照射された溶接ワークWの開先Kをカメラ3で撮像する場合に、投光器2とカメラ3とを、溶接ワークWの開先Kがなす開先角θの2等分線Rと溶接線Lとを含む平面H上で、且つ撮像画像G中においてスリット光Sが反射スリット光S’よりも投光器2の照射方向の基側に存在するように配置して、撮像画像Gを投光器2の照射方向の基側から探索してスリット光Sを抽出することにより、溶接ワークWの開先Kの形状を計測する。 (もっと読む)


【課題】アイセーフ波長のレーザ光を用いて低コストかつ高精度に距離を測定する。
【解決手段】レーザ光源24からのアイセーフ波長のレーザ光は、ポリゴンミラー21により走査されつつ測定対象に照射される。測定対象からの光はGLV32へと導かれ、GLV32からの回折光が光検出器35にて受光される。光検出器35は単一のフォトダイオードを備える。GLV32からは可干渉性の強い光のみが光検出器35へと導かれるため、レーザ光に由来する光のみが光検出器35にて検出される。GLV32において回折光を出射する領域を移動することにより、レーザ光に由来する光の入射位置が求められる。これにより、背景光の影響を受けることなく精度よく距離を測定することができる。また、単一のフォトダイオードを用いることにより、アイセーフ波長の光を低コストにて検出することができる。 (もっと読む)


【課題】タイヤの外観形状の検査を、従来法と比較してより短時間で、かつ、簡素な処理方法により行うことができ、さらにはタイヤ表面の微小欠陥についても検出することが可能なタイヤの外観検査方法および外観検査装置を提供する。
【解決手段】タイヤ10の表面に対し偏光Lを照射して、タイヤ表面からの偏光の反射光Lを偏光カメラ2により受光し、受光した反射光の光強度からタイヤ表面の凹凸を検出するタイヤの外観検査方法である。偏光カメラ2としては、少なくとも3以上の異なる方向の偏光子を備えるものを用いることが好ましい。また、偏光としては、直線偏光を好適に用いることができる。 (もっと読む)


【課題】測定対象物より後方の物体での反射光をカメラが受像しないようにする。
【解決手段】測定対象物1に線状のレーザ光5aを照射し、測定対象物1での反射光をカメラ4で受像することで、その形状を撮像するレーザ形状認識センサである。測定対象物1にレーザ光5aを扇状に照射するレーザ光源5と、このレーザ光源5から照射されたレーザ光5aの測定対象物1での反射光を、抽出したい波長のみを通過させるフィルター6を介して受像するカメラ4を有する。レーザ光源5のレーザ光5aの照射範囲5bをカメラ4の素子列方向の視野4aがカバーでき、かつ、カメラ4の高さ方向の検出範囲4bは測定対象物1より後方はカバーしないように、レーザ光5aの光軸に対して角度θをつけてカメラ4を、同一の筐体7内に組み込む。
【効果】正確で安定に形状を計測することができる。 (もっと読む)


【課題】試料の三次元位置と該試料の蛍光スペクトルとの計測を行うための顕微鏡システムの提供。
【解決手段】光学顕微鏡を用いて、試料の三次元位置と該試料の蛍光スペクトルとの計測を行うための顕微鏡システムであって、試料の明視野像を得るための光源と、試料の蛍光像を得るための光源と、結像側の光路を明視野像の光路と蛍光像の光路とに分けるためのダイクロイックミラーと、明視野像及び蛍光像を取得する画像取得部と、磁場を発生させることにより試料に張力を与える磁場発生部と、画像取得部にて得られた明視野像から試料の三次元位置を算出する解析部とを備える。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコン薄膜の表面の状態を光学的に観察して、多結晶シリコン薄膜の結晶の状態を検査することを可能にする。
【解決手段】本発明では、表面に多結晶シリコン薄膜が形成された基板に光を照射し、光が照射された多結晶シリコン薄膜の表面から発生する1次回折光の像を撮像し、撮像して得た1次回折光の像の画像を処理して多結晶シリコン薄膜の結晶の状態を検査し、画像を処理して検査した1次回折光の像を検査した結果の情報と共に画面上に表示するようにした。 (もっと読む)


【課題】レーザ光の光軸方向において、投射光学系の小型化を図り得る情報取得装置およびこれを搭載する物体検出装置を提供する。
【解決手段】情報取得装置は、所定波長帯域のレーザ光を出射するレーザ光源111と、レーザ光源から出射されたレーザ光を平行光に変換するコリメータレンズ112と、目標領域から反射された反射光を受光して信号を出力するCMOSイメージセンサ125と、CMOSイメージセンサ125から出力される信号に基づいて目標領域に存在する物体の3次元情報を取得するCPUとを備える。コリメータレンズ112の出射面112bに、レーザ光を回折によりドットパターンを持つレーザ光に変換する光回折部112cが一体的に形成されている。 (もっと読む)


【課題】光学的な測定を行うための照射部および受光部がそれぞれ最小個数でありながらも、被検査基板の測定対象物の光学的な測定を精度良く行うことが可能な検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】レーザー計測器33はレーザー光を照射する照射部33aと測定対象物111で反射された反射光を受光する受光部33bを有し、シャフト333の下端に取り付けられている。シャフト333にはベルト335を介してモータ331の回転駆動力が伝達されるように構成されており、レーザー計測器33はモータ331の回転により向きを変更可能に構成されている。これによって、測定対象物111から見たレーザー光の入射経路L1と反射光の反射経路L2との入受光関係が調整可能になっている。 (もっと読む)


101 - 120 / 772