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Fターム[4K029BB09]の内容

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Fターム[4K029BB09]に分類される特許

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【課題】分子線エピタキシ装置のための粒子線供給装置を提供する。
【解決手段】粒子線供給装置17では、粒子線生成器31は、分子線エピタキシ成長のための原料を提供する開口31aを有する。シャッタ装置33では、シャッタ35は粒子線生成器31の開口31aの前方に位置し、回転軸37は、シャッタ35を支持しており所定の軸Axに沿って延び、駆動機構39は、回転軸37を所定の軸Axの回りに回転駆動する。シャッタ35は、開口31aの位置に合わせて設けられた窓35aを有する。粒子線生成器31からの粒子線は、窓35aを通して進み、或いは、シャッタ35の遮蔽部35bによって遮断される。矢印Arrowの一方向のみにシャッタ35を等角速度で回転させたとき、シャッタ35の移動と停止を成長中に繰り返すことなく、一定の周期で、粒子線が窓35aを介して軸Bxに沿って供給される。 (もっと読む)


【課題】量子ドット等に利用しうる微細なエピタキシャル層を成長させるのに適した基板表面を実現できるZnTe系化合物半導体基板の表面処理方法、および該基板を用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ZnTe系化合物半導体の表面処理において、ZnTe系化合物半導体基板に、少なくとも、Zn分子線、および1×10−6Torr以上1×10−4Torr以下の原子状水素を照射しながら150℃から300℃の温度範囲でアニールする第1の表面処理工程(工程B)を少なくとも有するようにした。さらに、前記第1の表面処理工程の前に、前記ZnTe系化合物半導体基板に1×10−6Torr以上1×10−4Torr以下の原子状水素を照射しながら80℃から150℃の温度範囲でアニールする第2の表面処理工程(工程A)を有するようにした。 (もっと読む)


【課題】高いMR比を有し、量産性を高め、実用性を高めた磁気抵抗効果素子が得られる磁性多層膜形成装置を提供する。
【解決手段】アモルファスの強磁性体層を成膜する第1の成膜チャンバ27Aと、反強磁性体層を成膜する第2の成膜チャンバ27Bと、成膜層の厚さ方向において、(001)面が該層の界面に平行に配向した単結晶構造の酸化マグネシウム層を成膜する第3の成膜チャンバ27Cとが、それぞれゲートバルブ30,30,30を介して搬送チャンバ22に接続配置され、該搬送チャンバ22内に、基板を第1〜第3チャンバ27A,27B,27Cへ移動させるロボット搬送装置を備えた磁性多層膜製造装置とする。 (もっと読む)


【課題】 ZnO系化合物半導体層のn型層とn側電極とのオーミックコンタクトを改良し、動作電圧を下げる半導体発光素子を提供する。
【解決手段】 基板1上に設けられ、少なくともn型層4を有するZnO系化合物半導体の積層により発光層を形成する発光層形成部11を有するZnO系化合物半導体素子であって、ZnO系化合物半導体のn型層4に接触して設けられるn側電極9は、n型層4に接する部分がAlを含まないTiまたはCrにより形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板温度を高精度に計測可能な基板温度計測装置及び基板温度計測方法を提供する。
【解決手段】基板100を加熱する加熱源10と、基板100を透過できない波長領域の赤外線を透過させる透過窓30と、基板100を透過できない波長領域を感度範囲に含み、加熱源10により加熱された基板100から放射され、透過窓30を透過した赤外線を分析して基板100の基板温度を計測する温度計測器40とを備える。 (もっと読む)


Si基板上にSiC含有フィルムを成長させるための方法が開示される。SiC含有フィルムは、例えば、プラズマスパッタリング、化学気相成長法または原子層堆積により、Si基板上に形成することができる。このようにして成長されたSiC含有フィルムは、半導体結晶の成長用の高価なSiCウェハーの代わりに提供される。
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【課題】基板上に配向特性の良好な中間層が設けられ、その上に結晶性の良好なIII族窒化物半導体が備えられてなり、優れた発光特性及び生産性を備えたIII族窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びにランプを提供する。
【解決手段】基板11上に、少なくともIII族窒化物化合物からなる中間層12が積層され、該中間層12上に、下地層14aを備えるn型半導体層14、発光層15及びp型半導体層16が順次積層されてなるIII族窒化物半導体発光素子であり、中間層12の結晶組織中には、中間層12のX線ロッキングカーブをピーク分離手法によって、半価幅が720arcsec以上となるブロード成分と、ナロー成分とに分離した場合の、ブロード成分に対応する無配向成分が含まれ、中間層12の結晶組織における無配向成分の割合が、中間層12の面積比で30%以下とされている。 (もっと読む)


【課題】金属元素や金属元素の化合物を基板上に形成する場合に、パーティクルが発生しないような薄膜形成装置とこれを用いたZnO系薄膜を提供する。
【解決手段】
金属元素を供給する供給源に対向して配置されている部材表面を粗面化するようにした。図1に示されるように、ウエハ25を保持する基板ホルダ11の金属元素供給源と対向する面に凹凸を形成した。このように凹凸を形成すると、金属元素が堆積した場合、平坦な面と比べて、付着性が向上し、粗面化された面からは簡単には剥がれ落ちない。 (もっと読む)


【課題】被処理物を急速昇温でき、熱効率及びスループットに優れるとともに、構成の簡素な熱処理装置を提供する。
【解決手段】高温真空炉は、被処理物を1,000℃以上2,400℃以下の温度に加熱する本加熱室21と、本加熱室21に隣接する予備加熱室22と、予備加熱室22と本加熱室21との間で被処理物を移動させるための移動機構27と、を備える。本加熱室21の内部には、被処理物を加熱するメッシュヒータ33と、メッシュヒータ33の熱を被処理物に向けて反射するように配置される第1多層熱反射金属板41と、が備えられる。移動機構27は、被処理物とともに移動可能な第2多層熱反射金属板42を備える。被処理物が予備加熱室22内にあるときには、第2多層熱反射金属板42が本加熱室21と予備加熱室22とを隔てて、メッシュヒータ33の一部が第2多層熱反射金属板42を介して予備加熱室22に供給される。 (もっと読む)


【課題】ガリウム窒化物化合物半導体の結晶中におけるドーパント元素のドーピング濃度を容易に最適化でき、効率よく成膜することができるIII族窒化物化合物半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】Ga元素を含有するGaターゲット47aとドーパント元素からなるドーパントターゲット47bとを用い、前記Gaターゲット47aをスパッタにより励起させるとともに、前記ドーパントターゲット47bをビーム状とした荷電粒子により励起させて、半導体層の少なくとも一部を形成するIII族窒化物化合物半導体発光素子の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】波長250〜270nmの深紫外域で発光する光源として使用可能な高機能性Ga23単結晶薄膜を、簡便な手段で作製する。
【解決手段】光学式浮遊帯域溶融法を用いて作製したβ‐Ga23単結晶ウエハを基板とし、この基板の(100)面上に分子線エピタキシー法を用いて800℃以上の温度でβ‐Ga23単結晶膜を成長させる。 (もっと読む)


【課題】 サーモクロミック特性を有する酸化バナジウム層を低温でガラス上に形成する方法を提供する。
【解決手段】 酸化バナジウムのシード層として、酸化ジルコニウム/酸化錫の積層体を用いることで、サーモクロミック特性を有する酸化バナジウムの成膜に適した結晶質層および配向性を有する酸化ジルコニウム/酸化錫シード層を非加熱成膜で形成することを可能にし、そのシード層に酸化バナジウム層を形成したサーモクロミック体を得る。 (もっと読む)


【課題】高い結晶品質を有する、多様な材料からなる、完全に緩和した、又は歪んだ半導体層を積層するために絶縁体層の格子寸法を調整するための高い柔軟性を許容する、SOI構造の作製のための基板を提供する。
【解決手段】実質的にシリコンからなる単結晶基板ウェハ1、電気絶縁性材料を含み、かつ2nm〜100nmの厚さを有する第一非晶質中間層2、立方晶系Ia−3結晶構造と、(Me123-1-x(Me223xの組成と、基板ウェハの材料の格子定数と0%〜5%異なる格子定数とを有する単結晶第一酸化物層3を示される順序で含むことを特徴とする半導体ウェハ。 (もっと読む)


【課題】 全体が直線状の原子ステップ及び表面に凹凸のない平坦なテラス部を表面に有する二硼化物単結晶から成る基板を用いた窒化ガリウム系化合物半導体の成長方法、及び二硼化物単結晶から成る基板の表面処理方法を提供すること。
【解決手段】 窒化ガリウム系化合物半導体の成長方法は、成膜装置内において、化学式XB2(ただし、XはTi及びZrの少なくとも1種を含む。)で表される二硼化物単結晶から成るとともに表面に自然酸化膜が形成された基板に、真空中での加熱処理を施すことによって、自然酸化膜を除去するとともに基板の表面に原子ステップ構造を表出させる工程と、引続き成膜装置内において、基板の表面が大気に触れない状態で基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体を成長させる工程とを具備する。 (もっと読む)


【課題】可逆的非180°ドメイン回転による圧電歪が得られ、高い圧電性能を有する圧電体膜を備えた圧電素子を提供する。
【解決手段】圧電素子1において、圧電体膜14は、電界印加方向と、自発分極軸と[010]軸とのなす面の法線とのなす角θmが、−45°<θm<+45°かつθm≠0°を充足する強誘電体相(I)、自発分極軸が電界印加方向に対して垂直であり、かつ、電界印加方向と、自発分極軸と[010]軸とのなす面の法線とのなす角θmが、−45°<θm<+45°かつθm≠0°を充足する強誘電体相(II)、[010]軸が電界印加方向に対して垂直であり、かつ、電界印加方向と、自発分極軸と[010]軸とのなす面の法線とのなす角θmが、−45°<θm<+45°かつθm≠0°を充足する強誘電体相(III)のうち、いずれかの強誘電体相を含むものである。 (もっと読む)


【課題】 InP基板上のGaInNAsSbの表面平滑性が良好で、結晶欠陥密度の低い半導体積層構造の半導体ウエハ、その製造方法および半導体素子を提供する。
【解決手段】 InP基板1をMBE装置の基板取付部に取り付ける工程と、InP基板上に該InP基板との格子定数差が−0.5%以上+0.5%以下の範囲のGa1−xInSbzAs1−y(0.4≦x≦0.8、0<y≦0.2、0≦z≦0.1)を、パイロメータで測定の基板表面温度490℃超え530℃以下の状態で膜厚0.5μm以上に成長させる工程とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】容量、均一性、そして長期の流束安定性を最大にし、楕円欠陥、空乏効果、そしてシャッターに関連する短期の流束の遷移性を最小限にす坩堝を提供する。
【解決手段】MBE流出源のための単一で、一体型の負のドラフトを持つ坩堝40で、化学蒸着によりPBNから形成され、基部41から延びてネックオリフィスに終わる負のドラフト角を有するネック部と、ネックオリフィスから延びてクラッキングオリフィスに終わるクラッキング部とを形成しており、基部は第1の外周寸法を有し、ネックオリフィスは第2の外周寸法を有しており、第2の外周寸法は第1の外周寸法より小さくなっている分解流出セル。 (もっと読む)


【課題】材料元素の供給温度を上げることができ、材料元素の安定供給を行うことができる材料供給装置を提供する。
【解決手段】
材料供給装置の容器10は、坩堝1とオリフィス3とで構成されている。坩堝1は、円筒型や角柱型等の形状で、かつ中空の形状に構成されている。坩堝1の周囲にヒータ等の熱源2が配置されており、坩堝1の材料元素供給方向には、開口部3aを有するオリフィス3が設けられている。オリフィス3は材料元素供給側に向かって伸びている管部3cを備えており、管部3cの先端には開口部3aが形成されている。また、管部3cの開口面積は、材料元素供給側、すなわち開口部3aの方向に向かって、次第に小さくなって行くように形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板上にZnO系薄膜を形成する場合に、平坦な膜を成長させるためのZnO系薄膜を提供する。
【解決手段】 図1(a)では、ZnO系基板1上にZnO系薄膜2が形成されている。また、図1(b)では、ZnO系基板1上に、ZnO系薄膜の積層体であるZnO系積層体10が形成されている。ZnO系積層体10は、ZnO系半導体層3やZnO系半導体層4等の複数のZnO系半導体層が積層された積層体である。ZnO系薄膜2やZnO系積層体10を形成する場合には、成長温度750℃以上で成長させるか、又は、膜表面の粗さが所定の範囲になるように、膜表面のステップ構造が所定の構造となるように形成する。 (もっと読む)


【課題】不純物の取り込みや平坦性の悪化を抑制できる酸化物基板の清浄化方法、及び該方法によって清浄化された基板を用いた酸化物薄膜の製造方法の提供。
【解決手段】真空雰囲気中に置いた酸化物基板を加熱することなしに、その表面に原子状水素および原子状重水素のうち少なくとも一方を接触させて該酸化物基板の表面を清浄化処理することを特徴とする酸化物基板の清浄化方法。この酸化物基板の清浄化方法によって酸化物基板の表面を清浄化する工程と、清浄化した酸化物基板の表面に酸化物半導体結晶を成長させて酸化物半導体薄膜を得る工程とを有することを特徴とする酸化物半導体薄膜の製造方法。 (もっと読む)


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