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【課題】高いガスバリア性を備え、基材、ポリマー層及びガスバリア層間の密着性が向上し、屈曲耐性及び環境耐性に優れたガスバリア積層体とその製造方法を提供する。
【解決手段】基材F上に、少なくともガスバリア層G−1、G−2とポリマー層P−1、P−2、P−3とを有し、該ポリマー層P−1、P−2、P−3の少なくとも1層が該ガスバリア層G−1、G−2の少なくとも1層に隣接し、該ポリマー層P−1、P−2、P−3の該ガスバリア層G−1、G−2との接触界面における平均炭素含有量が該ポリマー層P−1、P−2、P−3の平均炭素含有量より小さいガスバリア積層体1。 (もっと読む)


【課題】基板の両面に窒化物半導体層を形成するに際し、基板に被着した堆積物の除去が容易な窒化物半導体積層構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体積層構造体の製造方法では、第1および第2の面11a、11bと第1熱膨張係数α1を有する基板11の第2の面11bに、第1保護膜31を形成する。第1保護膜31が形成された基板11の第1の面11aに、第1熱膨張係数α1と異なる第2熱膨張係数α2を有する第1窒化物半導体層12を形成する。第1窒化物半導体層12に、第2保護膜34を形成する。第1保護膜31を除去し、基板11の第2の面11bを露出させる。露出した基板11の第2の面11bに、第2熱膨張係数α2に略等しい第3熱膨張係数α3を有する第2窒化物半導体層13を形成する。第2保護膜34を除去し、第1窒化物半導体層12を露出させる。 (もっと読む)


【課題】意図しない不純物の混入を抑制した金属塩化物ガス発生装置、ハイドライド気相成長装置、及び窒化物半導体テンプレートを提供する。
【解決手段】金属塩化物ガス発生装置としてのHVPE装置1は、Ga(金属)7aを収容するタンク(収容部)7を上流側に有し、成長用の基板11が配置される成長部3bを下流側に有する筒状の反応炉2と、ガス導入口64aを有する上流側端部64からタンク7を経由して成長部3bに至るように配置され、上流側端部64からガスを導入してタンク7に供給し、ガスとタンク7内のGaとが反応して生成された金属塩化物ガスを成長部3bに供給する透光性のガス導入管60と、反応炉2内に配置され、ガス導入管60の上流側端部64を成長部3bから熱的に遮断する熱遮蔽板9A、9Bとを備え、ガス導入管60は、上流側端部64と熱遮蔽板9Bとの間で屈曲された構造を有する。 (もっと読む)


【課題】反応チャンバにおいて反応体メモリーを防止しながら、複数工程複数チャンバ化学気相堆積を行う方法を提供する。
【解決手段】第一気相堆積チャンバ24において気相堆積を用いて基板上に半導体材料の層を堆積させる工程、次いで、堆積成長後及び前記チャンバ24を開ける前に、前記第一堆積チャンバ24中に残留している気相堆積原料ガスを減少させるために成長チャンバ24から排気する工程を含む。第二堆積チャンバ26から第一堆積チャンバ24を分離して第一堆積チャンバ24中に存在する反応体が第二堆積チャンバ26における堆積に影響を及ぼさないようにしながら、また、成長停止効果を最小限に抑えるか又は排除する環境を維持しながら、基板を第二堆積チャンバ26へと搬送する。搬送工程の後、異なる半導体材料の追加の層を、第二チャンバ26において、気相堆積によって第一堆積層の上に堆積させる。 (もっと読む)


【課題】支持体と、無機膜とを有する機能性フィルムにおいて、優れた機能を発現し、かつ、無機膜の密着性が良好で、さらに、緻密な無機膜の圧縮応力に起因する剥離やクラックの発生を抑制した機能性フィルム、および、その製造方法を提供する。
【解決手段】機能性フィルムの無機膜が、領域Bと、領域Bよりも高密度/薄い領域Aとを有し、領域B−領域A−領域Bの積層構造を1以上有する機能性フィルム、および、支持体を搬送しつつ、搬送方向に配列された複数のプラズマCVDによる成膜手段によって表面温度が20℃以下にならないようにして同じ無機膜を形成することにより、前記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】膜応力の小さい低誘電率の絶縁膜を形成できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理室内へ無機シリコンガスと酸素含有ガスを供給している状態で、励起エネルギーを処理室内へ供給して、基板表面にシリコン酸化膜を形成するシリコン酸化膜形成工程と、処理室内へ有機シリコンガスを供給している状態で、励起エネルギーを処理室内へ供給して、基板表面にシリコン膜を形成するシリコン膜形成工程と、を行うことにより、処理室内の基板表面に絶縁膜を形成するよう、基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】高性能の光電変換装置を製造するための結晶質シリコン光電変換層の製膜条件設定方法を提供する。
【解決手段】製膜条件候補に対してSiH流量を増加させて結晶質シリコンからなる光電変換層92を形成し、該光電変換層92の高輝度反射領域の面積割合及び基板面内分布を取得する。分布が均一である場合製膜条件候補を最終製膜条件に設定し、分布が不均一である場合放電電極の各給電点に供給される高周波電力密度を調整して最終製膜条件を設定する。また、予め取得した任意のラマンピーク比を有する光電変換層92についてSiH流量の変化量と高輝度反射領域の面積割合との相関関係に基づいて光電変換層92のラマンピーク比を取得する。取得したラマンピーク比が設計値を満たす場合製膜条件候補を最終製膜条件に設定し、ラマンピーク比が設計値から外れる場合SiH流量、SiH分圧または高周波電力密度を調整して最終製膜条件を設定する。 (もっと読む)


【課題】プラズマCVD法を用いて、例えば太陽電池の発電層となるシリコン膜を成膜するにあたって、シリコン膜の結晶性を制御することができる成膜方法を提供すること。
【解決手段】水素ガスとモノシランガスとを予め混合し、この混合ガスをプラズマ化して、基板S上にシリコン膜F1を成膜する第1の工程(プリミックス)と、水素ガスとモノシランガスとを別々に供給してプラズマ化し、シリコン膜F2を成膜する第2の工程(ポストミックス)とを組み合わせる。組み合わせの例としては、基板S上にプリミックスによりシリコン膜F1を成膜しそのシリコン膜F1上にポストミックスによりシリコン膜F2を成膜する方法、基板S上にシリコン膜F1及びF2を交互に複数回成膜する方法などが挙げられる。 (もっと読む)


【課題】高速断続切削加工で硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】工具基体の表面に、Ti化合物層からなる下部層とAl層からなる上部層が被覆形成された表面被覆切削工具において、上記Al層について、(0001)面の法線がなす傾斜角を測定して傾斜角度数分布グラフを作成した場合、0〜10度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが存在し、0〜10度の範囲内の度数合計が20〜50%の割合を占め、さらに、上部層のAl粒について結晶粒内平均方位差を求めた場合、上記0〜10度の範囲内の傾斜角区分に存在するAl結晶粒の結晶粒内平均方位差の平均は5度未満を示し、一方、上記0〜10度の範囲を外れる傾斜角区分に存在する結晶粒の結晶粒内平均方位差の平均は5度以上を示す。 (もっと読む)


【課題】大気中で熱処理を実施することにより、トンネル炉等の気密性の低い簡易な設備を用いて行うことができるフッ素ドープ酸化錫膜の形成方法の提供。
【解決手段】フッ素ドープ酸化錫膜を形成する基体表面の温度(成膜面温度)が500℃以上となる条件で、CVD法を用いてフッ素ドープ酸化錫膜を該基体上に形成し、該成膜面温度が280℃以下になるまで冷却した後、該成膜面温度を280〜540℃の温度域に大気中で加熱した後、該成膜面温度を280℃以下に冷却するフッ素ドープ酸化錫膜の形成方法であって、大気中での加熱時において、フッ素ドープ酸化錫膜から酸素の脱離が起こり、かつ、該フッ素ドープ酸化錫膜への酸素の再吸着が起こらないように、280℃と該成膜面の最高到達温度との間の温度域における積分温度値を設定することを特徴とするフッ素ドープ酸化錫膜の形成方法。 (もっと読む)


【課題】炭窒酸化チタンコーティングが施された切削インサートおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】コーティングされた切削インサートの製造方法、およびコーティングされた切削インサートは、表面を有する基材を提供するステップと、炭窒酸化チタンのCVDコーティング層を被覆するステップとを含む。炭窒酸化チタンコーティング層を被覆するためのガス状混合物は、窒素、メタン、塩化水素、四塩化チタン、アセトニトリル、一酸化炭素および水素の組成物を有する。炭窒酸化チタンコーティング層は、2次元平面図で測定すると、平均長が約1.0μmより大きく、平均幅が約0.2μmより大きく、平均アスペクト比が約2.0より大きい炭窒酸化チタンウィスカを含む。 (もっと読む)


【課題】過酷な環境下で保存されても密着性に優れ、かつ良好な透明性、ガスバリア耐性を備えた透明ガスバリア性フィルムを提供する。
【解決手段】基材上に少なくとも低密度層及び高密度層から構成されるガスバリア層を有する透明ガスバリア性フィルムにおいて、該低密度層と該高密度層との間に、1層以上の中密度層を有することを特徴とする透明ガスバリア性フィルム。 (もっと読む)


【課題】ステンレス鋼等の難削材の高速断続切削加工において、硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性、耐欠損性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】工具基体の表面に、(a)3〜20μmの合計平均層厚を有するTi化合物層からなる下部層、(b)1〜15μmの平均層厚を有する酸化アルミニウム層からなる中間層、(c)5〜16μmの平均層厚の縦長成長結晶組織をもつ改質Ti炭窒化物層からなる上部層、前記(a)、(b)、(c)の硬質被覆層が化学蒸着により形成された表面被覆切削工具において、(d)上部層を構成する改質Ti炭窒化物層は、層厚方向に沿って0.5〜4.0μmの間隔をおいて、酸素含有量のピークが現れ、該ピーク位置における酸素含有量OMAXは、OMAX=3〜8原子%であり、しかも、該ピーク位置におけるZr含有量は、0.8〜1.5原子%である酸素、Zr濃化領域を少なくとも1つ備える。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板上に高電子移動度トランジスタを成長させた構造及びその方法の提供。
【解決手段】本シリコン基板上に高電子移動度トランジスタを成長させた構造及びその方法は、半導体産業において半導体装置製造に用いられる。本発明によると、UHVCVDシステムを使用してGeフィルムをSi基板上に成長させ、その後、高電子移動度トランジスタを該Geフィルム上に成長させることで、バッファ層の厚さとコストを低減する。該Geフィルムの機能は、Si基板上にMOCVDによりIII-V MHEMT構造を成長させるときに、シリコン酸化物の形成を防止することである。本発明においてMHEMTを使用する理由は、MHEMT構造中の変成バッファ層がGeとSi基板間の非常に大きな格子不整合度のために形成される貫通転位をブロックし得ることにある。 (もっと読む)


【課題】冷媒の流通により気相成長装置本体の少なくとも一部(サセプタの対面、ヒータへの通電を制御する制御機器等)が冷却される構成を備えた気相成長装置であって、外気から冷媒中への雑菌や藻等の異物の混入を防止することができる気相成長装置を提供する。
【解決手段】冷媒の循環流路が密閉系であり、外部に設けられた冷却手段との熱交換により該冷媒を冷却できる構成とする。さらに好ましくは、該冷媒をイオン交換水とする。 (もっと読む)


【課題】薄膜太陽電池を製造する際に、プラズマCVD装置の1つの製膜室で同じ組成の膜を連続して製膜するのではなく異なる不純物を含む複数の膜を連続して製膜する場合に、クリーニング前後での製膜室雰囲気の再現性に問題がなくクリーニング前の変換効率が得られる製造方法を提供する。
【解決手段】プラズマCVD装置のクリーニング後の仮製膜工程で光電変換層と同じ組成の複数の膜を製膜することで、製膜室雰囲気の再現性を得ることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極によるチャネルのポテンシャル制御性を大幅に向上させ、信頼性の高い所期の高耐圧及び高出力を得ることのできる化合物半導体装置を実現する。
【解決手段】AlGaN/GaN・HEMTは、Si基板1と、Si基板1の上方に形成された電子走行層2bと、電子走行層2bの上方に形成された電子供給層2cと、電子供給層2cの上方に形成されたソース電極4、ドレイン電極5及びゲート電極6とを含み構成されており、電子走行層2cは、平面視でソース電極4とドレイン電極5とを結ぶ方向と交差する方向に並ぶ複数の段差、例えば第1の段差2ca、第2の段差2cb、第3の段差2ccを有する。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、簡易に、特性の均一性と画像特性を同時に向上させる方法を提供する。
【解決手段】 リング状部材100,200の外周面には、周方向に3箇所以上の凸部102を有し、凸部102の外接円の直径d0は、円筒状基体108、下補助基体107、上補助基体112の内壁面の内径より大きくする。リング状部材100,200の凸部102を円筒状基体108、下補助基体107、上補助基体112の内壁面にくい込ませた状態で、基体ホルダ118に円筒状基体108、下補助基体107、上補助基体112を設置する。 (もっと読む)


【課題】窒化膜の屈折率及び/又は堆積速度の分布の均一性を所定の数値範囲内に収めるとともに、窒化膜の応力の制御性を高める。
【解決手段】本発明の1つの窒化膜の製造装置100は、チャンバー30内に配置された基板20上にプラズマCVD法によって窒化膜70(70a)を形成する窒化膜の製造装置100である。具体的には、この窒化膜の製造装置100は、窒化膜70(70a)の形成のために独立に印加する相対的に高い周波数の第1高周波電力及び/又は相対的に低い周波数の第2高周波電力とを用いて得られる、所定の数値範囲内に収まった前述の窒化膜の屈折率の分布及び/又は前述の窒化膜の堆積速度の分布に基づいて、所望(応力が0の場合を含む)の窒化膜70(70a)の圧縮応力又は引張応力を得るための第1高周波電力が印加される第1期間と第2高周波電力が印加される第2期間とを算出する制御部39を備えている。 (もっと読む)


【課題】長時間に亘り十分なバリア性を発揮する積層構造のバリア膜を単一のプラズマCVD装置にて一貫して成膜することができる量産性のよい成膜方法を提供する。
【解決手段】減圧下のプラズマCVD装置の反応室内に、シリコンを含む原料ガスと、窒素を含む第1の反応ガスとを導入し、放電用電力を投入してプラズマCVD法にて処理対象物表面に下層(窒化シリコン膜)Bdを成膜する第1工程と、第1の反応ガスから、窒素及び酸素を含む第2の反応ガスに切り換え、原料ガスと共に反応室内に導入し、中間層(酸窒化シリコン膜)Bmを成膜する第2工程と、第2の反応ガスから第1の反応ガスに切り換え、原料ガスと共に反応室内に導入し、上層(窒化シリコン膜)Buを成膜する第3工程とを含み、少なくとも第2工程と第3工程との間で、少なくとも原料ガスの導入を一時的に停止する工程を更に含む。 (もっと読む)


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