本発明の実施形態は、質量分析を行うための装置および方法を特徴とする。装置の一実施形態は、低圧の領域と高圧の領域との間の第１の壁に取り付けるための流入ハウジングを備える。流入ハウジングは、試料のプルームに基づいて調整可能な、あるいは代替えの流入ハウジングと差し替えることによって変更可能な通路と絞りを有する。
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【課題】金属微粒子を数１０ｎｍ以下に密に配置する工程を行わずに、金属微粒子の近傍においてホットスポットを形成可能な微細構造体を容易に作製できる微細構造体の作製方法を提供する。
【解決手段】局在プラズモンを誘起しうる大きさの複数の金属微粒子を基材表面に分散固定した状態とする工程と、前記複数の前記金属微粒子の間隙に金属膜を成膜する工程とを有し、前記金属微粒子は、前記基材の表面と平行な切断面の断面積が最大となる部分をもち、前記断面積が最大となる部分から前記基材表面に向かうにつれて前記断面積が減少する形状であり、前記金属膜と離間することを特徴とする微細構造体の作製方法。 （もっと読む）

【課題】レーザーにより特定分子を選択的にイオン化し、質量分析する質量分析方法において、ターゲットのイオン化ポテンシャルを高精度で予測し、レーザーの波長を調整する。
【解決手段】レーザーを照射し、ターゲットを選択的にイオン化し、質量分析する質量分析方法において、量子化学的計算手法を用いて、(ｉ) ターゲットの電子基底状態の最安定構造Q₀、構造Q₀における零点振動エネルギーzp₀、イオン化状態の最安定構造Q_i、構造Q_iにおける零点振動エネルギーzp_iを求め、(ii) 電子基底状態の構造Q₀におけるポテンシャルエネルギーE₀(Q₀)、イオン化状態の構造Q_iにおけるポテンシャルエネルギーE_i(Q_i)を、少なくとも長距離交換相互作用に補正がなされた密度汎関数法を用いて求め、(iii ) IP = E_i(Q_i) - E₀(Q₀) + zp_i - zp₀により断熱的イオン化ポテンシャルIPを算出し、このIPに基づいて、ターゲットをイオン化させるレーザーの波長を調整する。 （もっと読む）

【課題】従来のグラファイト基板は、検出感度が悪く、またイオン化には高レーザーパワーが必要であり、さらに問題なのはグラファイト由来のピークが数多く観測されてしまうといった、致命的ともいえる欠点を多数有していた。
【解決手段】グラファイト基板表面のグラファイト試料を除去すれば、非常に高い性能をもつイオン化基板として用いることが期待される。すなわち、グラファイト微結晶から構成されるグラファイト薄膜を基板上に固着させ、その固着している層の上に堆積しているグラファイト部分を除去することにより上記課題を解決した。 （もっと読む）

【課題】従来の金ナノ微粒子分散基板においては、ミクロな立場で基板表面を観察すると、表面プラズモン励起効率が非常に不均一になってしまう。例えば、金ナノ微粒子が存在する場所、存在しない場所、共鳴的に高まった場所、そうでない場所が存在する。このような不均一性は、質量分析測定において再現性を損なわせるものである。
【解決手段】上記課題を解決するためには、均一な表面プラズモン励起が基板表面上で展開する必要がある。本願発明においては、粒子径の揃った金属ナノ微粒子の分散溶液を用いて、金属ナノ微粒子を２次元最密充填させることにより上記課題を解決した。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、試料ガスを低パルス発光レートのレーザ光源で、効率良くイオン化できるイオン源とそれを用いた濃縮装置を提供することにある。
【解決手段】イオン源３Ａは、電極１１Ａやイオン引き出し電極２１Ａなどで形成された試料セルＳと、静電レンズ２２Ａと、レーザ光源２３Ａ、２３Ｂ、ミラー２５Ａおよびレンズ２７Ａを含むレーザ照射手段とから構成されている。電極１１Ａは、冷媒で冷却される。内周面１１ｂに向けられたノズル１５ａまで連通する試料ガス通路１５が形成されている。レンズ２７Ａは１対のシリンドリカルレンズで構成され、所定の間隔を設けて設置されている。レンズ２７Ａは、平行ビームである脱離用のレーザ光Ｒ_Ａとイオン化用のレーザ光Ｒ_Ｂを、凸レンズの作用で開口部２１ａ、２２ａを通過するように絞り込み、開口部２１ａ、２２ａを通過後に広がって、内周面１１ｂを広く照射する。 （もっと読む）

【課題】測定スループットを低減することなく、また、多成分の標準化合物を添加することなく、正確な定量を行う方法、手段を提供する。
【解決手段】測定試料に特定の化合物を添加した混合物をイオン化し、生成したイオンを質量分析する手段を有し、上記測定試料中に含まれる測定対象化合物の濃度を定量する分析装置において、測定対象化合物および添加化合物、各々に対し、あるマトリックス成分の濃度に対する信号強度依存性を格納するデータベースを有し、質量分析手段により得られた測定対象化合物由来の信号と添加化合物由来の信号から、データベースを用いて測定対象化合物の濃度を補正する。
【効果】 従来技術に比べ、低コストでスループットの高い質量分析を用いた多成分分析装置が実現できる。 （もっと読む）

【課題】サンプルプレートの個別管理や、サンプルプレートのゆがみ情報に基づく質量較正を容易に行なうことのできるMALDIイオン源を備えた質量分析装置およびMALDIイオン源用サンプルプレートを提供する。
【解決手段】サンプルプレートのＩＤ情報と、サンプルプレート表面の凹凸によるゆがみ情報とをサンプルプレート表面に彫刻し、また電子ファイルとして登録することで、測定時に観察手段で読み取って、サンプルプレートの個別管理や、マススペクトルの質量較正に利用するようにした。 （もっと読む）

【課題】大気圧下で行うことができ、自立した形状を有する試料のイメージング・プロファイルを迅速且つ正確に得ることができる質量分析イメージング法を提供する。
【解決手段】連続的に生じる帯電液滴を、移動経路に沿って質量分析器のレシービングユニットに向けて移動させるステップと、試料に含まれる分析物を脱離させて、複数の飛行経路の各々に沿って飛行させるに十分な照射エネルギーを有するレーザービームで前記試料を走査するステップと、前記複数の飛行経路のそれぞれに沿う前記複数の分析物がそれぞれ前記帯電液滴に閉じ込められ、それによって対応するイオン化分析物が形成されるべく、前記複数の飛行経路と前記移動経路が交差するようにレーザービームを位置決めするステップとを備えて成る質量分析イメージング法。 （もっと読む）

【課題】光学的な顕微観察画像で試料上の各組織が明瞭でなく、組織の有無や組織を構成する分子等についての予見がない場合でも、煩雑な手間を要することなく、組織のマッピング画像を提示する。
【解決手段】試料上の所定の二次元範囲内に設定された多数の微小領域の質量スペクトルデータが得られると（Ｓ１）、このデータを主成分分析することにより二次元範囲に特徴的な質量ピークを抽出する（Ｓ２）。そして、特定の質量ピークが観察される微小領域の二次元的な集中の度合いを例えば座標の分散値などを算出することで調査し（Ｓ３）、集中度が高い場合に、それら微小領域が同一組織を形成しているとみなし、各組織を識別可能なマッピング画像を作成して表示する（Ｓ４、Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】 従来技術では衝突減衰器の排出時間を短くまたは長くと、測定条件にあわせて最適に調整することが困難であった。
【解決手段】 線形多重極電極と、線形多重極電極の中心軸上に直流電位を印加するための補助電極と、補助電極のための直流電源を備えた構成で、多重極の中心軸上に直流電位勾配を形成し、その電位勾配を測定条件に合わせて変化させる。測定条件に適した電位勾配に調整することで、イオンの排出時間を短くも長く最適に調整可能である。イオンの排出時間を短くすることでスペクトル上のイオン情報の混同を避けることができ、またイオンの排出時間を長くすることで検出限界を回避し効率的にイオンを測定することが可能になり、常に高効率な測定が可能となる。 （もっと読む）

【課題】イオン化効率が向上した質量分析方法を提供する。
【解決手段】試料から放出されるイオンを検出して質量分析を行う質量分析方法において、その試料近傍に設けられた導電体へ光を照射してプラズモン共鳴を発生させた状態で、その試料へエネルギービームを照射してイオン化を行う。 （もっと読む）

【課題】無機微粒子をマトリクスとするＭＡＬＤＩ質量分析法において、妨害イオンピークの原因となる物質を介在させることなく、試料物質をマトリクス粒子に直接保持させて、特に低分子量の有機化合物が精度良く分析できる質量分析技術を提供する。
【解決手段】平均粒子径１００ｎｍ以下のＣｕＯ一次粒子が集合してなる二次粒子であって、最表層を構成する一次粒子の形状に起因した凹凸表面を有するＣｕＯ二次粒子を、レーザー光吸収マトリクスとして備えたＭＡＬＤＩ質量分析用の試料ホルダを使用する。前記ＣｕＯ二次粒子は、炭酸水素アンモニウム水溶液と硝酸銅水溶液を混合する工程で生成する塩基性炭酸銅を、２００〜３００℃で大気焼成することにより合成されるＣｕＯ粉末に由来するものが使用でき、そのＣｕＯ二次粒子は例えば平均粒子径が０.３〜１０μｍである。 （もっと読む）

【課題】大がかりな装置を必要とせず、マトリックスとともに測定対象物をも十分に単離し且つ励起し得る質量分析用試料基板を提供する。
【解決手段】導電性基体と、該導電性基体の上方に積層された、発光材料を含有する発光層と、を有する質量分析用試料基板であって、前記発光材料は、量子ドットであることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】微量の目的分子および多数の夾雑成分を含む試料に関して、実験者の経験と勘に依存することなしに、高感度で目的分子の質量スペクトル測定を行う方法の提供。
【解決手段】目的分子を含む測定試料の複数の領域に関してプレスキャンＭＳ測定を行い、異なるｍ／ｚを有する複数のイオンのシグナル強度を求め、得られたシグナル強度を比較して、前記複数の領域の中から測定領域を選択する工程を含むことを特徴とする質量分析法。 （もっと読む）

本発明は、エアロゾルが試料の溶液から形成される大気圧イオン化源と共に用いる装置を備える。エアロゾルは、中空部材に収容され、溶液中の不揮発性材料と予め分析された試料とによって、イオン化源自体の汚染を低減するためにイオン化源のチャンバから外側に放出される。中空部材は、洗浄と交換とを容易に行うためイオン化源から容易に取り外し可能である。装置を構成するイオン化源と質量スペクトロメータとイオン移動度スペクトロメータとがさらに記載されている。
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【課題】質量分析において、よく利用されている電子衝撃法は、イオン化過程において選択性がなく、分子の解離が起り易い。このため、いくつかの方法が考案されているが、分子の解離を完全に抑制する方法は発明されていない。この状況を鑑みて、分子の振動周期より短い光パルスを用いて、分子の解裂を抑制してイオン化する方法、及び装置を提供する。
【解決手段】分子の振動周期より短い光パルスを用いて、分子の解裂を抑制してイオン化する。この方法では、分子振動により原子が動く前に電子を放出してイオン化するので、分子を解裂させずにイオン化することができる。したがって、ニトロ化合物や臭素化ダイオキシン化合物などに対して、解裂を抑制して分子イオンを測定することが可能になる。 （もっと読む）

質量分析機器システムにおける混入を減らすための装置および方法が開示される。システムは、レーザ脱離／イオン化でイオンを生成する第１圧力にあるイオン源と、イオン源の第１圧力よりも低い第２圧力にある真空チェンバへの入口開口部とを含む。イオン源内のサンプルプレートが、上に堆積させたサンプルを支持し、レーザが、質量分析計の第１イオン光学軸の中心線に対して約０から約８０度の入射角でサンプルの少なくとも一部に当たるレーザパルスを生成し、プルームを生成するように構成できる。レーザパルスの入射角と、サンプルプレートと入口領域開口部との間の距離との組み合わせが、入口開口部に引き込まれるプルームにおける中性混入物を減らすことができる。
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【課題】
汎用性の高いLDIプレート等を提供する。
【解決手段】
本発明の第１の側面は、レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、容易に製造でき、汎用性の高いLDIプレートが得られる。本発明の第2の側面は、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子を有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、広範囲の波長のレーザー光を吸収できる白金粒子が基板上に担持されているため、様々な種類の試料をレーザー脱離イオン化質量分析法の対象とすることができる。 （もっと読む）

【課題】従来のTOF/TOF装置および方法の利点を生かし、欠点を克服した、新しいTOF/TOF装置および方法を提供する。
【解決手段】らせん軌道型飛行時間型質量分析装置は、らせん軌道の周回ごとに飛行方向およびその垂直な面に対する空間的な収束を満たすと共に、プリカーサイオンを選択するイオンゲートは、前記らせん軌道型飛行時間型質量分析装置のらせん軌道内に置かれ、イオンゲートの後段に扇形電場が配置されている。 （もっと読む）