【課題】レーザーアブレーションにより生成した分子を構成する構成原子のイオンを、後段の分析や解析で良好な結果が得られるように抽出する。
【解決手段】分析対象に超短パルスレーザー光を照射して該分析対象をアブレーションすることにより、該分析対象を構成原子に原子化し、該原子化した構成原子をイオン化し、該イオン化した構成原子のイオンを抽出するイオンの抽出方法であって、逆電場をかけて上記アブレーションにより得られたイオンを減速した後に、順電場をかけて上記アブレーションにより得られたイオンから所定のイオンを加速することによりバックグラウンドイオンを除去して上記所定のイオンを抽出する。 （もっと読む）

ここに記載されているのは、ガス流（２）における化合物を質量分析によって検出する方法である。この方法には、化合物のイオンを形成してガス流（２）における体積ユニットをイオン化することが含まれており、ここでこのイオン化は、ガス流と交わるビーム（９，１０）を介して行われ、これらのビームは、電子パルスまたは電子パルス列および光子パルスまたは光子パルス列が交互に切り換わることによって形成される。またこの方法には、電場（１３）によってイオンを進路変更して質量分析法を実施することならびに質量分析法によってイオンを検出することが含まれる。本発明の課題は、上記のような方法を提案して、測定範囲を拡げ、分解能を格段に改善することである。この課題は、上記の光子パルスまたは光子パルス列をエキシマランプ（１１）によって形成し、電子パルスまたは電子パルス列と、光子パルスまたは光子パルス列との切り換えを５０Hz以上の切換替え周波数で行うことによって解決される。
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【課題】 測定用ビームば照射された試料から散乱した試料イオンの質量にかかわらず均一な質量分解能を実現し，且つ，コンパクトな装置でありながら長い飛行距離を確保して長時間試料イオンを飛行させることにより高い質量分解能を実現すること。
【解決手段】 測定用ビームＨが試料Ｓに照射されることにより該試料Ｓから散乱した試料イオンの飛行時間に基づいて上記散乱イオンの質量を分析する飛行時間型質量分析装置において，試料Ｓにおける上記測定用ビームＨの照射部を通る所定の基準軸Ｇに沿った所定領域に，その基準軸Ｇに平行な磁場をソレノイドコイル３５で発生させ，発生された磁場中を旋回飛行する試料イオンをイオン検出器２１で検出し，検出された試料イオンの所定距離における飛行時間を測定し，測定された飛行時間に基づいて上記散乱イオンの質量を分析する。 （もっと読む）

【課題】イオン源を含む質量分析システムで、イオン源についての視野範囲が拡大された撮像の手法を提供する。
【解決手段】マトリックス・ベース・イオン源のために試料プレート上のある領域の焦点の合った画像を生成するための方法であって、撮像デバイスの視野内において領域の位置決めをするステップと、撮像デバイスを利用して、焦点の合った部分と焦点のずれた部分を含む第１の画像を生成するステップと、撮像デバイスを利用して、焦点の合った部分と焦点のずれた部分を含む第２の画像を生成するステップと、第１及び第２の画像の焦点の合った部分を利用して、焦点の合った最終画像を生成するステップと、を含む方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】 中赤外光と紫外光を一緒に発生させることが可能で、中赤外光の波長と中赤外光と紫外光のタイミングを調整することができるコンパクトで低コストな中赤外光−紫外光発生装置を提供する。特に、マトリックス支援脱離イオン化飛行時間型質量分析法（ＭＡＬＤＩ−ＴＯＦＭＳ）において中赤外光と紫外光を一緒に照射することにより光質量物質、特に不溶性たんぱく質試料の質量分析を可能にする方法に利用できる簡便な中赤外光−紫外光発生装置を提供する。
【解決手段】 Ｎｄ：ＹＡＧレーザ１とＣｒ：ｆｏｒｓｔｅｒｉｔｅレーザ２の差周波発生により中赤外光を発生させる波長可変赤外光発生装置において、差周波発生用非線形光学結晶３に向かうＮｄ：ＹＡＧレーザのエネルギーの一部を分岐し、この分岐Ｎｄ：ＹＡＧレーザまたはこの高調波紫外光と波長可変な中赤外光を同時に出力することができるようにした。 （もっと読む）

【課題】 荷電粒子を衝突セルに導入するための装置を提供する。
【解決手段】 本発明の装置は、イオンと荷電粒子とを混合するための装置であって、イオン出口端を有する多重極装置と、イオン出口端に接続されている質量分析器と、質量分析器に接続されている荷電粒子源とを備え、荷電粒子源によって生成される荷電粒子が質量分析器を通って、イオン出口端を介して、多重極装置内に入るように構成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】試料プレートの試料を含む領域を、他の領域から容易に識別できるようにするための有効な手段を提供する。
【解決手段】イオン源（４）は、試料をイオン化するためのレーザと、レーザから間隔をあけて配置され、試料を受け入れるようになっている試料プレート（１２）表面と、試料プレート表面に隣接し、試料プレート表面に照射される光ビーム（８）を、試料プレート表面との間にかすめ角（１４）をなすように発生させる照射装置（６）とを備える。かすめ角１４は、例えば、約０°〜約１５°の範囲とすることが可能であるが、それより大きな角度とされても良い。照射装置としては、ハロゲンまたはＬＥＤ灯を含む種々の光源が用いられ得る。 （もっと読む）

イオンをイオントラップ内に導入する方法及びイオン蓄積装置について記述している。導入手段を使用し、イオントラップに対する導入開口部を通じて第１イオンをイオントラップ内に導入する。導入手段の動作条件を調節し、第１イオンとは異なる極性の第２イオンを同一の導入開口部を通じてイオントラップ内に導入している。
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【課題】レーザー脱離イオン化質量分析用試料基板において、レーザー光を照射されたときに、妨害ピークを発生させることなく、高感度かつ正確な測定ができ、試料作成にあたっては、試料を均一に塗布することができるソフトLDI-MS測定のための試料基板およびそれを用いる測定装置の提供。
【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析に用いるレーザー光を吸収するイオン化媒体として、ドット構造を有する特定のイオン化素子を用いる。 （もっと読む）

【課題】 レーザーをイオン化に用いる質量分析において、レーザーの照射領域や照射位置を、試料設置後の試行錯誤等によるのではなく、容易に設定すること、データの再現性を向上させること及び測定時間を短縮することを可能とする方法及びそのための装置を提供する。
【解決手段】 レーザーイオン化質量分析方法を、サンプル台上の試料の厚さや厚さ分布を求め、その結果からパルスレーザーの照射場所を設定するものとする。試料の厚さや厚さ分布を顕微鏡での測定により求めるのが好ましい。パルスレーザーの照射場所の設定は顕微鏡によって求められる厚さ分布データに対して閾値を設定し、当該閾値以上の厚さを有するサンプル台上の試料領域をイオン化領域として設定することにより行うか、或いは試料の厚さとレーザー照射で生じるイオンの質量スペクトルとの関係を示す検量線と照合することにより行うのが好ましい。 （もっと読む）

質量分光分析を使用して電気伝導性領域に隣接するサンプルプレート表面マスクをスキャンする方法が開示される。この方法は、電気伝導性の表面に粗い表面を用いて塗布されたマスクを含むサンプルプレートを提供し、電気伝導性の表面からなる中央部分とマスクのマージン部分とを有するサンプルサイトを提供するステップと、生物分子に有機溶媒、水溶液、およびα−シアノ−４−ヒドロキシ桂皮酸および３，５−ジメトキシ−４−ヒドロキシ桂皮酸のグループから選択されたマトリクスを混合する段階を備えた検体を準備するステップと、前記検体の少なくとも１つの結晶を電気伝導性領域に隣接するマスクの一領域に形成するステップと、レーザビームを用いて前記電気伝導性領域に隣接するマスク上の領域をスキャンするステップと、を有する。
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【課題】簡単な構成で、従来のらせん型飛行時間型質量分析装置の総飛行距離を伸ばし、質量分解能を大幅に向上させた飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料をイオン化するイオン源と、イオンをパルス的に加速するための手段と、複数のセクター電場で構成され、イオンをらせん軌道で飛行させるらせん軌道型飛行時間型分光部と、らせん軌道型飛行時間型分光部にイオンを入出射させる機構と、らせん軌道型飛行時間型分光部の出射部近傍でイオン軌道を折り返す反射電場と、イオンを検出する検出器とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道型飛行時間型分光部を出射したイオンを前記反射電場で反射させて再びらせん軌道型飛行時間型分光部内に戻し、該らせん軌道型飛行時間型分光部内を往復飛行させることによって飛行時間を計測するようにした。 （もっと読む）

【課題】 ナノレベル構造組成観察装置に関し、レーザ光の反射光による測定誤差の発生を防止する。
【解決手段】 針状試料４の表面より、少なくとも外部エネルギー３により原子１つ１つ或いは複数の元素からなるクラスター１集団１集団が外部空間に離脱することにより針状試料４のナノレベルの構造組成を観察するためのナノレベル構造組成観察装置を構成する観察室１の内部の少なくとも一部に黒色光吸収体５を設ける。 （もっと読む）

【課題】
従来の針状サンプルのイオン化には、針先にパルス高電圧を印加するか、あるいはナノ秒レーザーを照射していた。このようなイオン化の方法では３次元アトムプローブ電界顕微鏡においては、針状サンプルの破壊を招くか、あるいは加熱による温度上昇のため分解能の低下を招いていた。また、半導体や絶縁体の分析は極めて困難であった。
【解決手段】
電界蒸発が生じる閾値以下の高電圧を印加した波長より充分小さな曲率半径をもつ針状サンプルに対して、その針先に超短パルスレーザー光を集光することにより、針状サンプルの表層の原子をイオン化により順次除去し、内部に残留応力を有する針状サンプルを破壊することなく元素の３次元分布の分析を可能とし、さらに分解能を高めるだけでなく半導体や絶縁体の分析を可能とするイオン化の方法。 （もっと読む）

【課題】多元素及び多成分を同時に計測することができる多元素多成分同時計測装置及び方法を提供する。
【解決手段】多元素多成分同時計測装置１０−１は、イオン化効率に選択性が少ない真空紫外レーザ光１１による真空紫外レーザイオン化装置１２と、紫外光レーザ光１３による多光子レーザイオン化装置１４と、レーザ光１５を集光するレーザブレークダウン装置１６とを少なくとも二以上の組合せてなり、各々のレーザ光を微小時間ずらしつつチャンバ１７内の導入された試料１８に照射し、質量分析装置１９にて多元素・多成分を直接・同時に分析するものである。 （もっと読む）

本発明による方法においては、イオンパルスを生成し、イオンパルスの持続時間と関連させつつ過渡的な電界を生成し、イオンパルスを過渡的電界の中へと受領し、過渡的電界のイオンドリフト領域から、導入開口の動的ガスフロー領域内へと、イオンを収集する。同様に、本発明による装置は、質量分析器内へとイオンを搬送するための装置であって、イオンパルスを生成し得るよう構成されたイオン生成源と、イオンパルスを受領し得るとともに過渡的な電界を生成し得るよう構成された過渡的電界形成デバイスと、イオンドリフト領域から、導入開口の動的ガスフロー領域へと、イオンを収集し得るとともに、さらに、質量分析器内へとイオンを搬送し得るよう構成されたイオンコレクタと；を具備している。
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イオン源、イオンを形成する方法、および質量分析計システムが提供される。本教示はさまざまな実施例において、イオン源、イオン源からイオンを集束させる方法、および飛行時間型質量分析計を操作する方法を提供する。本教示はさまざまな実施例において、質量分析計とともに使用する場合の、マトリックス支援レーザー脱離イオン化（ＭＡＬＤＩ）イオン源およびＭＡＬＤＩイオン源の操作方法に関連する。さまざまな側面において、複数の操作モードが構成されるＴＯＦ質量分析計の感度と分解能のうち１つ以上の向上を促進するイオン源およびその操作方法が提供される。
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【課題】改良された質量分析器が説明されている。
【解決手段】１つの実施形態によれば、該質量分析器は、フリンジング効果を無視すれば主に単一の座標面（即ち、ｙ−ｚ面）内で振動する、回転せず振動する電界をイオンに印加することによって、イオンをその質量電荷比（ｍ／Ｑ）に基づいて検出するためにイオンを選択するイオン選択室を備えている、独自の質量フィルター設計を使用している。該イオンは、ｍ／Ｑ分解能を所望のレベルに上げるために、該イオン選択室内へ、該選択室の入口に対して相当な角度で且つ単一の座標面内で注入することができる。該質量分析器の更なる実施形態によれば、イオン検出面は、所定の流出角度範囲内に収まるイオンが検出され、別の流出角度を有するイオンが概ね排除されるように、該イオン選択室の出口に配置されている。
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【課題】 レーザー脱離イオン化質量分析用試料基板において、レーザー光を照射されたときに、妨害ピークを発生させることなく、正確な測定ができ、試料作成にあたっては、試料を均一に塗布することができ、かつ測定後の洗浄が容易であるソフトLDI-MS測定のための試料基板およびそれを用いる測定装置の提供。
【解決手段】 レーザー脱離イオン化質量分析に用いるレーザー光を吸収するイオン化媒体として、焦電性素子、又は前記焦電性素子が強誘電体素子、又は前記焦電性素子が結晶性の素子、又は前記強誘電体素子が結晶性の素子、又は前記結晶性素子の表面が平滑な特定の単結晶を用いる。 （もっと読む）

質量分析計で分析するイオン集団の制御方法および装置。イオン蓄積速度と所定の所望のイオン集団との関数として決定される注入時間間隔のあいだ、イオンを蓄積する。蓄積速度は、イオン源からイオンアキュムレータへのイオンの流速を表す。蓄積されたイオン由来のイオンは、分析のために質量分析計に導入される。本発明は、所定のイオン集団を蓄積させ、蓄積したイオン集団を質量分析計の分析セルまたは一部に移送することにより、質量分析計内でイオン集団を制御する方法および装置を提供する。
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