【課題】別個の電源を必要とせずに、電子衝撃方式にて効果的にグリッドをデガス処理し得る低コストの四重極型質量分析計を提供する。
【解決手段】本発明は、フィラメント４２及びグリッド４１を備えたイオン源４と、４本の円柱状の電極を周方向に所定間隔で配置してなる四重極部３と、四重極部を通過した所定のイオンを捕集するイオン検出部２とを有する。フィラメントに直流電流を通電する電源Ｅ１と、グリッドに対してフィラメントより高い電位を印加する電源Ｅ２と、グリッドとフィラメントとの間に所定の電位差をつくるためにフィラメントに所定の電位を与える電源Ｅ４と、四重極部の相対する電極に、正、負の直流電圧と交流電圧とが重畳した電圧を印加する電源Ｅ３と制御ユニットＣとを備える。四重極部用の電源を介して正、負の両電圧間の電位差に相当する電圧をグリッドに印加し得るように構成される。 （もっと読む）

【課題】イオン化効率（感度）の低下と凝縮・吸着の両問題を改善する。
【解決手段】金属イオンを放出するエミッタを有するチャンバーと、前記チャンバー内に中性分子を導入する分子導入部と、前記チャンバー内に他のガスを導入するガス導入部と、前記チャンバー内における前記中性分子に前記金属イオンを付着させる領域の温度を制御する制御部と、前記金属イオンが付着した中性分子の質量を分析する質量分析計とを有し、前記制御部は、前記中性分子に前記金属イオンが付着したときの付着エネルギーを横軸、前記金属イオンを付着させる領域の温度［℃］を縦軸とすると、前記領域の温度［℃］＝１５０×付着エネルギー［ｅＶ］及び１００×付着エネルギー［ｅＶ］−５０、２０℃並びに、付着エネルギー［ｅＶ］＝２．１及び０．５で囲まれる範囲から、前記領域の温度１５０℃以上かつ２００℃以下の範囲を除いた範囲にあるように前記領域の温度を調整する。 （もっと読む）

【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、被測定ガス中の注目する有機分子をオンサイトで連続的にかつ高感度で定量分析できるガス分析用Ｊｅｔ−ＲＥＭＰＩ装置を提供する。
【解決手段】ガス導入系１からイオン化室２内に被測定ガス５を飛行時間型質量分析計４の方向に連続的に導入して超音速分子ジェット流６を形成するとともに、レーザ照射系３からレーザ光７を超音速分子ジェット流６に対して照射して被測定ガス５中の特定分子を共鳴多光子吸収過程でイオン化し、生成イオンをイオン化室２内のイオン光学系３６により加速偏向させた後、飛行時間型質量分析計４で被測定ガス５中の特定分子を分析するＪｅｔ−ＲＥＭＰＩ装置であって、対向電極１１先端を局部的に加熱可能な赤外線導入部４１を順次配置し、引き出し電極１２の先端から仕切り板１８までの範囲の電極部材の一部または全てをメッシュ構造とする。 （もっと読む）

【課題】高効率で安定性が良く安全なイオン化を実現可能なイオン化装置及び方法を提供する。
【解決手段】Ｘ線管１と、ガス流路を流れるガスに接触する状態で設けられた金属薄膜２ａとを備え、前記金属薄膜２ａに前記Ｘ線管１からのＸ線５を照射して前記ガス流路中に光電子を放出するように構成する。金属体の金属薄膜にＸ線を照射したときに生じる電子をガス流路中に放出し、電界加速する構成を採用しているので、ガス流路によって形成される限定された空間（イオン化室をなす空間）内において電子とガス流路を流れる分子とを接触させることができ、ガス流路の流路断面積や断面形状等を適宜に設定することにより、安定したイオン化を容易に実現することができる。 （もっと読む）

【課題】イオン導入管の入口端に対するイオン化プローブからの噴霧流の中心軸の角度（噴霧角）の調整を可能とするとともに、そのためにハウジングに形成した開口を有効に活用する。
【解決手段】イオン化室２を内部に形成するハウジング２３は、噴霧角が４５°、９０°になるような位置にプローブ装着開口２４、２５を有する。両プローブ装着開口２４、２５にはイオン化プローブ２０の装着が可能であるとともに、イオン化室２内を透視するための透明窓を有する窓部材３０の装着も可能である。そこで、いずれか一方のプローブ装着開口２４、２５にイオン化プローブ２０を装着したとき、使用しない他方のプローブ装着開口に窓部材を取り付ける。それにより、その窓部材３０の透明窓を通してイオン導入管３０の入口端３０ａ付近の汚れ状況などを確認することができる。 （もっと読む）

【課題】ハウジングへのイオン化プローブの取付け・取外し作業の効率化を図りつつ、部品点数の増加を抑えてコストを抑制する。
【解決手段】フランジ部２２に貫設したシャフト２５の頭部にレバー２６を設け、シャフト２５の周面に係止ピン２７を突設する。ハウジング３０にはシャフト２５が挿入される挿入孔３５を形成し、その挿入孔３５の上部には係止ピン２７が回動可能なざぐり３５ａを設ける。凹部３３に収容されたマイクロスイッチ４０を被覆する保護プレート５２はざぐり３５ａの一部にせり出している。イオン化プローブ２０がハウジング３０にセットされ、レバー２６が回動操作されると、係止ピン２７が保護プレート５２の下方に入り込み、その係合によってイオン化プローブ２０はハウジング３０に固定される。保護プレート５２はスイッチ４０の保護とイオン化プローブ２０の固定との２つの機能を果たす。 （もっと読む）

イオン体積部、レンズスタック、及び取り外された多極イオンガイドと同様に協働するイオン光学系を組み合わせる方法及び装置は、ここでは、通気することなしに質量分析計器から取り外すことができる単一のサブアセンブリに組み込まれる。このような構成により、操作者は、システムを通気する必要なしに、通常の操作時に汚染されるイオン経路のすべての部品を洗浄し、適時に再組立し、再挿入し、次に許容可能な真空までポンプで排気することが可能である。
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本発明は、エアロゾルが試料の溶液から形成される大気圧イオン化源と共に用いる装置を備える。エアロゾルは、中空部材に収容され、溶液中の不揮発性材料と予め分析された試料とによって、イオン化源自体の汚染を低減するためにイオン化源のチャンバから外側に放出される。中空部材は、洗浄と交換とを容易に行うためイオン化源から容易に取り外し可能である。装置を構成するイオン化源と質量スペクトロメータとイオン移動度スペクトロメータとがさらに記載されている。
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二次イオン質量分析法のための装置が提供され、該装置は、標的面上の試料を支える、標的面と、一次イオンのビームを試料の方に導き、試料から二次イオンと中性粒子とをたたき出すように構成されるイオン源とを有する。入口を有する第１のチャンバは、二次イオンと中性粒子とを冷却するために試料の位置において高い圧力を維持するために気体を提供し、高い圧力は、約１０^−３〜約１０００トルの範囲内である。二次イオン質量分析法の方法が提供され、該方法は、試料を支える標的面を有し、一次イオンのビームを試料の方に導いて、試料から二次イオンと中性粒子とをたたき出し、二次イオンと中性粒子とを冷却するために試料の位置に高い圧力を提供し、高い圧力は、約１０^−３〜約１０００トルの範囲内である。
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【課題】高沸点化合物がイオン化室箱のサンプル導入口付近に吸着するのを抑える。また、熱源の温度調節を切ったときイオン源温度の冷却時間を短縮する。
【解決手段】イオン化室箱８のサンプル導入孔１９部分の温度低下を抑えるために断熱性の高い材料を用いてかつ断熱性の高い構造によってイオン化室プレート上４の固定を行うとともにイオン化室プレート上４を熱伝導性の良好な材料を用いて構成しかつ熱伝導性の高い構造とすることで熱源１５からイオン源への熱伝導の損失を抑えることができ、イオン化室箱８のサンプル導入孔１９付近の温度はより熱源に近い温度になりイオン化室Ａ内の温度分布が改善され、サンプル導入孔１９付近での高沸点サンプルの吸着問題を解消できる。また、冷却時間を短縮するために熱源１５側を放熱性のある材料および構造で固定する。 （もっと読む）

【課題】軟Ｘ線を用いて試料分子をイオン化する際のイオン密度を高めることができるイオン化装置を提供する。
【解決手段】イオン化装置１は、本体部２１、軟Ｘ線管３、及び電極４，５を備える。本体部２１は、所定の軸方向に延びており試料分子をイオン化するイオン化室２と、イオン化室２に試料分子を導入する導入口２２と、試料分子イオンを排出する排出口２３とを有する。軟Ｘ線管３は、電子源３１と、電子源３１からの電子を受けて軟Ｘ線を発生するターゲット部３２とを有する。電極４，５はイオン化室２の一端側、他端側にそれぞれ設けられている。軟Ｘ線管３の軟Ｘ線出射軸方向は、上記所定の軸方向と交差している。ターゲット部３２に設けられた電極３２ｂと電極５とは、互いに短絡されている。導入口２２の中心軸方向は、軟Ｘ線出射軸方向と交差している。 （もっと読む）

【課題】本発明は、有機化合物、特に大気中の微量揮発性有機化合物を多成分同時に高感度、リアルタイムに測定する有機化合物の測定装置及び有機化合物の測定方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、上記課題を解決するために、 放電式のイオン源とドリフトチューブと輸送チャンバーとビーム成形輸送部材と飛行時間型質量分析計からなる陽子移動反応飛行時間型質量分析計において、前記イオン源が、押出し電極と、第一スペーサーと、引出し電極と、第二スペーサーと、中心に穿孔が穿設された接続電極からなり、前記押出し電極と前記第一スペーサーと前記引出し電極で形成されたイオン発生空間の前記押出し電極と前記引出し電極で放電し、水蒸気をＨ_３Ｏ^＋にすることを特徴とする有機化合物の測定装置の構成及び、前記装置を用いた有機化合物の測定方法とした。 （もっと読む）

【課題】大気圧雰囲気下で粒子線を試料に照射してイオン化を行う場合、粒子線の照射範囲を絞ることができないため空間分解能を高めることが困難であった。
【解決手段】大気圧雰囲気にあるイオン化室１内でノズル８から噴射される粒子線の経路に小孔６を穿設した粒子線遮蔽板５を配設し、該小孔６を通過した一部の粒子線を試料３に照射する。そして、試料３上の粒子線の照射部位４から発生したイオンをイオン輸送管７で収集して質量分析部に送る。さらに、この遮蔽板５の位置を固定し試料３を保持する試料ステージ２を二次元面内で移動させることにより、試料３上での粒子線の照射部位４を移動させる走査を行い、それにより試料３上の所定範囲の定性情報や定量情報の二次元分布を取得可能とする。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】親イオンが混合物から溶離するのと実質的に同時に生成されたと分かった娘イオンを照合することによって親イオンを同定する方法を開示する。イオン源（１）から出射されたイオンは、電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスを含むフラグメンテーションデバイス（４）へ移送される。フラグメンテーションデバイス（４）は、イオンが実質的にフラグメンテーションされ、娘イオンを生成する第１のモードとイオンが実質的にフラグメンテーションされない第２のモードとの間を交番しておよび繰り返し切り換えられる。質量スペクトルは、両方のモードにおいてとられる。１回の実験稼動の終了時に、親および娘イオンが２つの異なるモードにおいて得られた質量スペクトルを比較することによって認識される。娘イオンは、それらの溶離時間の一致度にしたがって特定の親イオンと照合され、次いでこれによって親イオンを同定することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】ナノスプレーキャピラリニードル、１組の電極、および質量分析器へのキャピラリ入力部を位置合わせする方法を提供すること。
【解決手段】この電極システムは、微細加工技術を利用して、２つの別々のチップからなるアセンブリとして形成される。各チップは、絶縁プラスチック基板上に形成される。第１のチップは、キャピラリエレクトロスプレーニードルおよびＡＰＩ質量分析器入力部用の機械的位置合わせフィーチャを、１組の部分電極と共に担持する。第２のチップは、１組の部分電極を担持する。完全な電極システムは、これらのチップがスタック構成で組み立てられるときに形成され、テイラーコーンのきっかけをつくることができ、かつ集束させることによって電気的中性物からイオンを分離し得るアインツェルレンズを含む。 （もっと読む）

【課題】イオン源を含む質量分析システムで、イオン源についての視野範囲が拡大された撮像の手法を提供する。
【解決手段】マトリックス・ベース・イオン源のために試料プレート上のある領域の焦点の合った画像を生成するための方法であって、撮像デバイスの視野内において領域の位置決めをするステップと、撮像デバイスを利用して、焦点の合った部分と焦点のずれた部分を含む第１の画像を生成するステップと、撮像デバイスを利用して、焦点の合った部分と焦点のずれた部分を含む第２の画像を生成するステップと、第１及び第２の画像の焦点の合った部分を利用して、焦点の合った最終画像を生成するステップと、を含む方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】 高精度の圧力測定を行い、且つ高精度のガス分析も同時に行える四重極質量分析計を提供すること。また、１台の真空装置に取り付ける圧力計測を四重極質量分析計だけにして、電離真空計を廃止することのできる手段を提供すること。
【解決手段】 本発明は、イオン電流強度から真空装置（９）内のガス種類別の分圧強度を測定する四重極質量分析計（Q）において、グリッド電極（２）とイオン集束電極（４）とで形成する画定空間（Ａ）内に、イオン密度を探査する全圧測定電極（１）を設けた全圧測定電極付き四重極質量分析計である。また、本発明は、イオン電流強度から該真空装置（９）内のガス種類別の分圧強度を測定する四重極質量分析計（Q）だけが取り付けられ、該四重極質量分析計以外の電離真空計を持たない真空装置である。 （もっと読む）

【課題】水中の重水の含有率を測定する。
【解決手段】重水含有の水に染ませた紙を、小穴のある平面コンデンサ−の負極板と絶縁膜の間に置き、コンデンサ−に端子電圧をかけ、分極によるＨ^＋，Ｄ^＋イオンを引き出し磁場型質量分析器に導く。このとき、コンデンサ−と質量分析器は真空容器の中に置き、回転ポンプで排気し、５Ｐａ〜１０^２Ｐａの圧力にする。 （もっと読む）

【課題】 ナノレベル構造組成観察装置に関し、レーザ光の反射光による測定誤差の発生を防止する。
【解決手段】 針状試料４の表面より、少なくとも外部エネルギー３により原子１つ１つ或いは複数の元素からなるクラスター１集団１集団が外部空間に離脱することにより針状試料４のナノレベルの構造組成を観察するためのナノレベル構造組成観察装置を構成する観察室１の内部の少なくとも一部に黒色光吸収体５を設ける。 （もっと読む）

【課題】 粒子状物質の内部に含まれる成分の分析を良好に行うことができる微量成分分析装置及び微量成分分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 微量成分分析装置１を、チャンバー２内に、粒子状物質のイオン化が行われるイオン化部３が設けられた構成とする。チャンバー２の一端に、図示せぬ粒子状物質供給源に接続される供給路１１を接続し、この供給路１１上に、前室１２を設ける。前室１２の内部を、粒子状物質へのレーザー光の照射が行われる成分抽出部１３とする。イオン化部３にパルス状のレーザー光を供給するイオン化用レーザー発振装置１６と、成分抽出部１３にパルス状のレーザー光を供給する成分引き出し用レーザー発振装置１７とを設ける。 （もっと読む）