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Fターム[5F033RR22]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 絶縁膜の材料 (22,565) | 有機材料 (4,730) | ポリイミド系樹脂 (1,337)

Fターム[5F033RR22]に分類される特許

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【課題】大電流を流す第1ビアおよび第1配線を有し、且つ、当該第1ビアおよび第1配線が形成された第1面が平坦な半導体装置を提供する。
【解決手段】第1基板100と、第1基板100の第1面側から、当該第1基板100を貫通する第1ビア420と、第1基板100の第1面に埋設され、少なくとも一つ以上の第1ビア420の一端と接続する第1配線440と、を備えている。また、第1ビア420は、当該第1ビア420の側面と当該第1ビア420の底面とのなす角θが、第1配線440の側面と第1配線440の底面とのなす角θより大きい傾斜部を有している。 (もっと読む)


【課題】浮遊状態の配線と洗浄水との間において高い密度で電荷が移動することに起因する配線の高抵抗化を防ぐ。
【解決手段】半導体製造装置の製造工程中において、半導体基板1Sなどと絶縁された浮遊状態となる銅配線である第1層配線L1の上面に、電気的に機能する接続ビアPL2と電気的に機能しないダミービアDP2とを接続させて形成する。これにより、第1層配線L1の上面に接続ビアPL2を形成するためのビアホールを形成した後の洗浄工程中に、第1層配線L1に溜まった電荷が洗浄水中に移動する際、前記電荷をダミービアDP2形成用のビアホールにも分散させることで、接続ビアPL2形成用のビアホールの底部のみに前記電荷が集中することを防ぐ。 (もっと読む)


【課題】本発明は、保護膜の境界面での膜厚を厚くし、はんだが金属膜の下方に侵入し難い半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】基板10と、
該基板に積層された金属膜30と、
該金属膜に積層されたはんだ層40と、
前記基板に積層され、前記金属膜及び前記はんだ層に接するように形成されたポリイミドからなる保護膜50とを備え、
該保護膜は、前記金属膜と接する界面において、前記基板から離れるにつれて前記金属膜側に迫り出す形状を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】印刷法による少ない工程数のメリットを生かしつつ、より微細であり、絶縁性の低下がなく、導電部寸法精度の高い、配線部材および電子素子の製造方法を提供することを目的とする。また、配線部材、積層配線、電子素子、電子素子アレイ及び表示装置を提供することを目的とする
【解決手段】基板上にエネルギーの付与により臨界表面張力が変化する材料を含有する濡れ性変化層を形成する工程、紫外領域のレーザーを用いたレーザーアブレーション法により、濡れ性変化層に凹部を形成する工程、凹部に導電性インクを塗布して導電部を形成する工程、を含み、前記濡れ性変化層の凹部のパターン形成と同時に、前記臨界表面張力を変化させて高表面エネルギー領域のパターン形成が行われることを特徴とする配線部材の製造方法、電子素子の製造方法、及び、それにより得られた配線部材、電子素子を提供する。また、電子素子アレイ及び表示装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】クラック伝播を抑制できる新規な構造を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板と、半導体基板に形成された半導体素子と、半導体素子を囲む第1金属リングと、半導体素子を覆って形成され、内部に前記第1金属リングが配置された絶縁膜と、絶縁膜に形成された溝とを有し、第1金属リングは、複数の金属層が積層されて形成され、各々の金属層の外側の側面が一致しているか、または、下側に位置する金属層の外側の側面よりも上側に位置する金属層の外側の側面が内側に位置しており、溝の底面は、第1金属リングより内側に配置された第1部分で、第1金属リングの最上層に位置する金属層の上面以下である。 (もっと読む)


【課題】膜厚の厚い応力緩和層を有するウェハレベルCSPと称される半導体装置において、第1電極と外部電極との接続不良が発生しにくい半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】(1)応力緩和層を半導体ウェハの上に形成する工程、(2)応力緩和層の一部を除去した開口部を形成し、半導体ウェハ上の第1電極を露出する工程、(3)第1電極と接続し、開口部を充填するポスト部を形成する工程、(4)外部電極とポスト部を接続するための再配線層を応力緩和層の上に形成する工程、(5)再配線層の上に再配線保護層を形成する工程、(6)再配線保護層の一部を除去して、外部電極を形成するための第2電極を露出する工程、(7)第2電極上に外部電極を形成する工程を含む半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】エッチング工程設備へ与える腐食性の負荷を減らし、かつ作業者の安全性に優れた、汎用性の高い、エッチング跡の変色等の生じない、導電膜除去剤および導電膜除去方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、導電膜付き基材の少なくとも一部に、20℃におけるpHが6.0〜8.0の導電膜除去剤を塗布する工程、導電膜除去剤を塗布した導電膜付き基材を加熱処理する工程、および加熱処理した導電膜付き基材から液体を用いた洗浄によって導電膜を除去する工程を有する導電膜除去方法であって、加熱処理する工程において塗布された導電膜除去剤の少なくとも一部の成分が揮発することで該導電膜除去剤のpHを6.0未満、または8.0より大きくすることを特徴とする導電膜除去方法である。 (もっと読む)


【課題】微細な貫通孔を有する膜を形成することが可能な膜の製造方法、およびこの方法を用いた表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第1パターンおよび第2パターンを有する凹版を用いて、第1パターンの膜を基材へ形成する第1転写工程と、第1パターンの膜上に第2パターンの膜を形成して、基材上に貫通孔を有する膜を形成する第2転写工程とを備えた膜の製造方法。基板に、TFT,絶縁膜および有機EL素子を順に形成する工程を含み、絶縁膜を形成する工程は、第1パターンおよび第2パターンを有する凹版を用いて、第1パターンの膜を基材へ形成する第1転写工程と、第1パターンの膜上に第2パターンの膜を形成して、基材上に貫通孔を有する膜を形成する第2転写工程とを備えた表示装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】LTHC膜に由来する基板の汚染を低減する。
【解決手段】基板の第1の主面を光熱変換膜を介して支持基板に張付ける工程と、支持基板上に露出した光熱変換膜を除去する工程と、を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。支持基板上に光熱変換膜を形成する工程と、半導体基板より外側に光熱変換膜が延在するように半導体基板を前記支持基板に張付ける工程と、光熱変換膜に汚染防止処理を行う工程と、支持基板と半導体基板とを分離させる工程と、を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】層間絶縁膜のコンタクトホールの内部にコンタクト用導電膜および埋め込み膜を設けた場合でも、コンタクトホールの外部で画素電極とコンタクト用導電膜とを確実に導通させることができる電気光学装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】電気光学装置100を製造するにあたって、層間絶縁膜45上にコンタクトホール45aの底部45eおよび内壁45fに重なるコンタクト用導電膜90をITO膜により形成した後、コンタクトホール45aの内部を埋める埋め込み膜48をシリコン酸化膜により形成し、その後、埋め込み膜48に対して反応性イオンエッチングを行い、コンタクト用導電膜90を露出させる。また、コンタクトホール45aの内部には埋め込み膜48を残す。その際、埋め込み膜48とコンタクト用導電膜90とのエッチング選択比を利用して埋め込み膜48を選択的に除去してコンタクト用導電膜90を露出させる。 (もっと読む)


【課題】相互接続構造の珪化物層と、ロープロファイルバンプを含む、バンプ間ショートを防止したパワーMOSFETからなる半導体デバイスおよび製造方法を提供する。
【解決手段】基板上にソース領域160およびドレイン領域170を有し、珪化物層174が、ソース領域およびドレイン領域の上に配置されている。第1の相互接続層194が、珪化物層上に形成されており、ソース領域に接続される第1のランナー196と、ドレイン領域に接続される第2のランナー198とが配置される。第2の相互接続層214が、第1の相互接続層上に形成されており、第1のランナーに接続される第3のランナー216と、第2のランナーに接続される第4のランナー218とを含む。第3の相互接続層234が形成され、ソースパッド236、ソースバンプ240が電気的に接続される。 (もっと読む)


【課題】 厚い絶縁樹脂層のウェハレベルCSPで、第1電極(チップパッド)と外部電極(バンプ)との接続不良が発生しにくい半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 次の各工程を含む半導体装置の製造方法、(1)絶縁樹脂層を半導体ウェハの上に形成し、(2)開口径が(D1)となるよう絶縁樹脂層の一部を除去し半導体ウェハ上の第1電極を露出し、(3)フィルム状レジストを半導体ウェハの全面に、第1電極とレジストとの間が中空構造となるよう貼付け、(4)レジストをパターニングし、再配線層を絶縁樹脂層の上に形成し、レジストパターンを除去し、めっきした部分以外のシード層を除去し、(5)再配線層の上に再配線保護層を形成し、(6)再配線保護層の開口径(D2)が、D2>D1となるように再配線保護層の一部を除去して第1電極と、第2電極を露出し、(7)第1電極及び第2電極の上にめっき層を形成し、(8)めっき層を溶融して外部電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、金属膜の端部の応力により金属膜の端部直下の表面電極がダメージを受けることを防止できる半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る半導体装置は、基板24と、該基板24の上に、アルミを含む材料で形成された表面電極26と、該表面電極26の上に、はんだ付け可能な材料で形成された金属膜28と、該表面電極26の上の部分と、該金属膜28の端部に重なる重畳部分30aとが一体的に形成されて該金属膜28の端部を固定する端部固定膜30と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】半導体チップ本体を貫通する電極を有する半導体チップにおいて、半導体チップ本体が厚い場合であっても、電極と半導体チップ本体との間に介在する絶縁部を容易に形成でき、且つ電極の信頼性を高くすることができるようにする。
【解決手段】半導体チップ1は、第1の面2aおよび第2の面2bと、4つの側面を有する半導体チップ本体2を備えている。半導体チップ1は、更に、半導体チップ本体2を貫通する電極収容部4と、少なくとも一部が電極収容部4内に収容された電極7と、電極収容部4内において、電極7と半導体チップ本体2との間に介在する絶縁部5とを備えている。絶縁部5に接する電極収容部4の壁面4Wは、第1の面2aに垂直な方向に対して傾いている。電極7と絶縁部5の界面が第1の面2aに垂直な方向に対してなす角度は、壁面4Wが第1の面2aに垂直な方向に対してなす角度よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】バンプ電極同士の横滑りを防止し、バンプ電極同士を接合する接合材料のはみ出しを抑制する。
【解決手段】
半導体チップ10は、基板17と、基板17の一方の面に設けられた第1のバンプ電極50と、基板17の他方の面に設けられた第2のバンプ電極60と、第1のバンプ電極50と第2のバンプ電極60のうちの少なくとも一方の頂面に形成された導電性の接合材料層61と、を有している。第1のバンプ電極50の頂面は凸面54であり、第2のバンプ電極60の頂面は凹面63である。 (もっと読む)


【課題】貫通電極と直接に接続される配線の信頼性を向上できるようにする。
【解決手段】半導体装置100は、貫通孔1Aを有する半導体基板1と、半導体基板1の上に形成された第2層間絶縁膜7bと、第2層間絶縁膜7bに貫通孔1Aを覆うように形成された第1の外部接続用配線8aと、第2層間絶縁膜7bの上に、第1の外部接続用配線8aを覆うように形成された第3層間絶縁膜7cと、第3層間絶縁膜7cにおける第1の外部接続用配線8aの上側部分に形成された第2の外部接続用配線8bと、貫通孔1Aにおける少なくとも内壁面に形成されると共に、各外部接続用配線8a、8bとそれぞれ電気的に接続される貫通電極15Aとを備えている。第1の外部接続用配線8aは、複数の孔部19aを有し、第2の外部接続用配線8bは、第1の外部接続用配線8aの孔部19aを覆うように形成されている。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の表面のAl層の表面が荒れることを抑制しつつ、リフトオフの後に溶解層が剥離せずに残ることを防止し得る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板12の表面にAl層14を形成し、Al層14の表面にTiN層16を形成し、TiN層16の表面の一部に絶縁層20を形成し、TiN層16と絶縁層20の表面に溶解層を形成し、溶解層の表面にレジスト層を形成し、溶解層とレジスト層の一部を除去して溶解層開口部を形成してTiN層16の一部を露出させ、レジスト層の表面、及び、露出したTiN層16の一部の表面にTi層30及びNi層40を形成し、アルカリ溶液によって溶解層を溶解させることにより、溶解層とともに、レジスト層とその表面に形成されたTi層及びNi層を除去する。 (もっと読む)


【課題】基板を実装する際の温度負荷によって絶縁層と下地金属層の側面との接点領域に加わる応力を緩和させ、応力に起因した絶縁層のクラックの発生を抑えるように構成された半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板101の一面101aに、絶縁層102、下地金属層103、金属端子が設けられるためのランド部104を順に積層してなる半導体装置109であって、ランド部104は、絶縁層102と対向する面の中央部において、下地金属層103と接合する接合領域と、絶縁層102と対向する面において、接合領域を除いた非接合領域と、を有し、下地金属層103は、ランド部104側から絶縁層102側にかけて外向きに傾斜した側面を有していること、を特徴とする半導体装置109。 (もっと読む)


【課題】微細な貫通孔を有する膜を形成することが可能な膜の製造方法、およびこの方法を用いた表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ペースト充填用の凹部を有すると共に凹部内に凸部を有し、凸部の上面に撥液性領域を有する凹版を用い、凹部に充填されたペーストを基材に転写することにより、基材上に、貫通孔を有する膜を形成する膜の製造方法。基板に、TFT,絶縁膜および有機EL素子を順に形成する工程を含み、絶縁膜を形成する工程において、ペースト充填用の凹部を有すると共に凹部内に凸部を有し、凸部の上面に撥液性領域を有する凹版を用い、凹部に充填されたペーストを基材に転写することにより、基材上に、貫通孔を有する膜を形成する表示装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】感光性樹脂膜を塗布した後のパターン形成不良を抑制する。
【解決手段】まず、基板上に、配線を形成する(S110)。次いで、配線上にパッシベーション膜を形成する(S120)。次いで、基板をアニールする(S130)。次いで、基板をアニールする工程(S130)の後、パッシベーション膜上に、感光性樹脂膜として、フォトレジスト膜を塗布する(S140)。次いで、フォトレジスト膜が塗布された基板を少なくとも一回以上ベークする(S150)。次いで、フォトレジスト膜を、露光および現像によりパターニングする(S160)。 (もっと読む)


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