自動分析装置
【課題】クロスコンタミネーションの防止についての精度をさらに向上させた自動分析装置を提供する。
【解決手段】サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの制御作動中、対応する液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６及び液面検出部１２１，１２２から供給される検出信号に基づいて、分注プローブ４２，５２への洗浄液吐出液量や洗浄槽における洗浄液の貯留液量を取得する。これら取得した洗浄液吐出液量や貯留液量を予め定めた基準量と比較することによって、分注プローブ４２，５２への洗浄液の供給や洗浄槽における洗浄液の貯留及び排出に異常があるか否かを監視し、異常が判別された場合には、プリンタ１０８やＣＲＴ１０６によって報知する。
【解決手段】サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの制御作動中、対応する液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６及び液面検出部１２１，１２２から供給される検出信号に基づいて、分注プローブ４２，５２への洗浄液吐出液量や洗浄槽における洗浄液の貯留液量を取得する。これら取得した洗浄液吐出液量や貯留液量を予め定めた基準量と比較することによって、分注プローブ４２，５２への洗浄液の供給や洗浄槽における洗浄液の貯留及び排出に異常があるか否かを監視し、異常が判別された場合には、プリンタ１０８やＣＲＴ１０６によって報知する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反応容器にそれぞれ分注されたサンプル及び試薬の反応を分析する自動分析装置に係り、特に、反応容器等の機材を分析反応の度に繰り返し使用する自動分析装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の自動分析装置には、サンプル又は試薬といった液体をその貯留容器から反応容器に分注するための分注プローブを含む分注機構や、反応容器内にそれぞれ分注されたサンプル及び試薬を攪拌する攪拌器を含む攪拌機構に加え、これら反応容器，分注機構の分注プローブ，及び攪拌機構の攪拌器といった分析反応の度に繰り返し使用される機材を、新たな分析反応での使用に備えて洗浄するための洗浄機構が備えられている。
【０００３】
この洗浄機構は、従前に分析したサンプル，試薬，反応生成成分が繰り返しの使用で新たに分析するサンプル成分，試薬成分と混合することによって意図しない反応を引き起こし、分析項目の測定値に影響を与えるクロスコンタミネーションを防止するため、新たな分析反応での使用に備えて、反応容器の内面、分注プローブの外面及び内面、並びに攪拌器の外面といった、分析反応の度に繰り返し使用される機材の洗浄必要箇所を洗浄するための機構である。
【０００４】
そして、この洗浄機構の構成としては、これら反応容器の内面、分注プローブの外面及び内面、並びに攪拌器の外面といった洗浄必要箇所に、洗浄必要箇所に応じた一定量の洗浄液体を吐出し、従前の分析反応で付着したサンプル，試薬，反応生成成分といった新たな分析反応での支障液体を、この洗浄液体で洗い流す構成になっている。
【０００５】
このように、従前においては、一の分析反応で、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器を使用する毎に、これら各部を別の分析反応に使用する前にこれら各部に予め設定された適正な洗浄のために必要な一定量の洗浄液体が供給されるように、自動分析装置の制御装置がそれぞれの洗浄機構を制御作動する構成になっていた。
【０００６】
【特許文献１】特開平６−２１３９０７号公報
【特許文献２】特開２００１−３３７０９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上述した従来技術の自動分析装置では、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器を洗浄している際にそれぞれの洗浄機構が正常に動作し、かつ、適正な液量が実際に吐出されているか否かについて検出及び測定は行われていなかった。
【０００８】
そのため、従来技術の自動分析装置では、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器をそれぞれの洗浄機構が洗浄している際、それぞれの洗浄機構が正常に動作し、かつ、適正な液量が実際に吐出されているのを確認するために、直接目視で、又は自動分析装置近傍に設置された例えばビデオカメラ等の映像記録手段の撮影映像を監視することによって実施していた。
【０００９】
しかも、自動分析装置による分析結果に異常が発生した場合、それぞれの洗浄機構が正常に動作し、且つ、適正な液量が吐出されていることについての検出及び測定は分析反応毎に行われていないため、その分析結果の異常がこれら洗浄機構いずれかの劣化及び異常が原因で生じたものであるかどうかの判別が困難であった。
【００１０】
本発明は、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器といった、分析反応の度に繰り返し使用される機材それぞれの洗浄機構から、分析反応の度にその洗浄対象に対して洗浄液体が実際に適正に吐出されていることを検出することより、それぞれの洗浄機構が正常に動作して、その洗浄対象の洗浄が適正に実施されたか否かの検出が可能な自動分析装置を提供することを、その目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、上記した課題を解決するために、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器といった、分析反応の度に繰り返し使用される機材それぞれの洗浄機構に、その洗浄作動の際に、洗浄液体がその洗浄対象に対して正常に吐出されているか否か、及びその洗浄液体の吐出液量が適正であるか否かを検出する検出手段を設けたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、分析反応の度に繰り返し使用される、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器といった自動分析装置の機材それぞれの洗浄機構が正常に動作し、かつ、適正な液量が吐出されているか否かを判定が可能となるため、これら分析反応の度に洗浄が必要な機材いずれかの洗浄不良に基づく、分析結果の異常の発生を未然に防止できるとともに、分析結果に異常が発生した場合でも、その発生原因がこれら洗浄機構いずれかの劣化及び異常が原因で生じたものであるかどうかの判別を行うことが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の構成について、図面に基づき説明する。なお、その説明にあたって、従来と同様な構成部分については、図示省略し、又はその詳細な説明を省略する。
【００１４】
図１は、本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の構成図である。
本実施の形態の自動分析装置１は、サンプルディスク機構１０，反応ディスク機構２０，試薬ディスク機構３０，サンプル分注機構４０，試薬分注機構５０，攪拌機構６０，分析反応検出器７０、及び洗浄機構８０等を備えた構成になっている。そして、本実施の形態の自動分析装置１では、この洗浄機構８０は、サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３，反応容器洗浄機構８４といった各部洗浄機構からなる。
【００１５】
サンプルディスク機構１０は、図示省力したサンプルディスク回転駆動機構により左右所望の回転方向に回転駆動されるサンプルディスク１１を有し、このサンプルディスク１１上には、サンプル（サンプル液）を貯留したサンプル容器１２が複数個配列されている。各サンプル容器１２は、サンプルディスク１１に対して着脱可能に装填されている。サンプルディスク１１の回転動作は、自動分析装置１全体の作動制御を行う制御手段としてのＣＰＵ１０１によって、インターフェース１０２を介して、図示省力したサンプルディスク回転駆動機構を駆動制御して行われる。そして、サンプルディスク１１上のそれぞれサンプル容器１２に貯留されたサンプルは、予め登録された順番に従って、サンプル分注機構４０によってサンプル容器１２から抽出される構成になっている。
【００１６】
反応ディスク機構２０は、図示省力した反応ディスク回転駆動機構により所定の回転方向に回転駆動される反応ディスク２１を有し、この反応ディスク２１上には、それぞれサンプル及び試薬が分注される反応容器２２が複数個配列されている。各反応容器２２は、反応ディスク２１に対して着脱可能に装填されている。反応ディスク２１の回転動作は、サンプルディスク１１の場合と同様に、ＣＰＵ１０１によって、インターフェース１０２を介して、図示省力した反応ディスク回転駆動機構を駆動制御して行われる。
【００１７】
試薬ディスク機構３０は、図示省力した試薬ディスク回転駆動機構により左右所望の回転方向に回転駆動される試薬ディスク３１を有し、この試薬ディスク３１上には、試薬（試薬液）を貯留した試薬容器３２が複数個配列される。これらの試薬容器３２は、試薬ディスク３１に対して着脱可能に装填されている。この試薬ディスク３１の回転動作は、自動分析装置１全体の作動制御を行う制御手段としてのＣＰＵ１０１によって、インターフェース１０２を介して、図示省力した試薬ディスク回転駆動機構を駆動制御して行われる。そして、試薬ディスク３１上のそれぞれ試薬容器３２に貯留された試薬は、予め登録された順番に従って、試薬分注機構５０によって試薬容器３２から抽出される構成になっている。
【００１８】
サンプル分注機構４０，試薬分注機構５０はいずれも、図示せぬ基台に対して上下動及び回動可能なアーム４１，５１を有し、その揺動端に設けられている分注プローブ４２，５２が上下動及び回動可能になっている。
【００１９】
サンプル分注機構４０は、前述したＣＰＵ１０１の制御下で、そのアーム４１の揺動端を複数個のサンプル容器１２が配列されているサンプルディスク１１の上方の所定位置に回動位置させてサンプル分注プローブ４２を下降し、プローブ先端開口をサンプル容器１２のサンプルに浸漬させた上で、図示省略した分注用ポンプを駆動制御して分注プローブ４２内にサンプルを吸引保持する構成になっている。
【００２０】
また、サンプル分注機構４０は、同じくＣＰＵ１０１の制御下で、分注プローブ４２内にサンプルが保持された状態のアーム４１の揺動端を複数個の反応容器２２が配列されている反応ディスク２１の上方の所定位置に回動位置させてサンプル分注プローブ４２を下降し、プローブ先端開口を所定の反応容器２２内に臨ませた状態で、図示省略した分注用ポンプを駆動制御して分注プローブ４２内に吸引保持されているサンプルをこの反応容器２２内に排出する構成になっている。
【００２１】
すなわち、サンプル分注機構４０は、上述のようにして、サンプルディスク機構１０の所定のサンプル容器１２に貯留されている一のサンプルを、反応ディスク機構２０の所定の反応容器２２に移送する構成になっている。
【００２２】
また、試薬分注機構５０も、サンプル分注機構４０の場合と同様にして、試薬分注プローブ５２が設けられたアーム５１、及び図示省略した分注用ポンプを駆動制御し、試薬ディスク機構３０の所定の試薬容器３２に貯留されている一の試薬を、反応ディスク機構２０の所定の反応容器２２に移送する構成になっている。
【００２３】
そして、サンプル分注機構４０は、反応容器２２に対するサンプル分注後は、次の新たなサンプル分注に備えて、アーム４１を所定の洗浄位置に回動位置させて、サンプルに浸漬させたサンプル分注プローブ４２が、サンプル分注プローブ洗浄機構８１によって洗浄される構成になっている。
【００２４】
同様に、試薬分注機構５０も、反応容器２２に対する試薬分注後は、次の新たな試薬分注に備えて、アーム５１を所定の洗浄位置に回動位置させて、試薬に浸漬させた試薬分注プローブ５２が、試薬分注プローブ洗浄機構８２によって洗浄される構成になっている。
【００２５】
反応ディスク機構２０は、その反応ディスク２１の回転変位に応じて、反応ディスク２１上に複数個配列された反応容器２２それぞれを、そのディスク２１の周方向に沿って配置されたサンプル分注機構４０，試薬分注機構５０，攪拌機構６０，分析反応検出器７０、及び反応容器洗浄機構８４に対して、回動位置させる。
【００２６】
そして、前述のサンプル分注機構４０によって分注されたサンプルに試薬分注機構５０によって分注された試薬が添加された反応容器２２は、反応ディスク２１の回転によって、反応ディスク２１の周方向における攪拌機構６０の配置位置に回動位置させられると、攪拌機構６０による反応容器２２内にそれぞれ分注されたサンプル及び試薬の攪拌が行われる。
【００２７】
攪拌機構６０は、図示せぬ基台に対して上下動及び回動可能なアーム６１を有し、その揺動端に回転駆動される攪拌器６２が設けられた構成になっている。
【００２８】
攪拌機構６０は、ＣＰＵ１０１の制御下で、回動位置してきたサンプル及び試薬が分注された反応容器２２に対し、その攪拌器６２を反応容器２２内の液中に挿入して回動させ、試薬が添加されたサンプルを攪拌する構成になっている。
【００２９】
攪拌機構６０は、一の反応容器２２内の液の攪拌後は、次の新たな反応容器２２内の液に備えて、攪拌器６２を反応容器２２内から退出させ、アーム６１を所定の洗浄位置に回動位置させて、反応液（すなわち反応生成成分）が付着した攪拌器６２が、攪拌機構洗浄機構８３によって洗浄される構成になっている。
【００３０】
攪拌機構６０により攪拌され、反応液が内部に貯留されている反応容器２２は、反応ディスク２１の回転によってそのディスク周りの分析反応検出器７０の配置位置に回動位置させられると、分析反応検出器７０による反応容器２２内それぞれの反応生成成分の検出が行われる。
【００３１】
分析反応検出器７０は、反応容器２２内の反応液の吸光度を検知する多波長光度計によって構成され、この多波長光度計１１６には、図示せぬ光源で発生され、反応容器２２内の反応液を透過した光束が入射される構成になっている。
【００３２】
この分析反応検出器７０としての多波長光度計によって検出された反応容器２２それぞれの反応液の吸光度信号は、Ａ／Ｄコンバータ１０３及びインターフェース１０２を介してＣＰＵ１０１に供給され、サンプル中の測定対象の分析項目濃度に変換される。そして、ＣＰＵ１０１によって変換されたサンプル中の測定対象の分析項目濃度は、プリンタ１０８から印字出力され、又はＣＲＴ等といったディスプレイ装置１０６の画面上に表示出力される。このサンプル中における分析項目濃度の測定対象に関しては、キーボード１０７からオペレータが予めどの分析項目を測定するかについて入力し、ＣＰＵ１０１に記憶させておくことができ、ＣＰＵ１０１はこの依頼された分析項目を測定するように、分析反応検出器７０としての多波長光度計を制御する。
【００３３】
分析反応検出器７０により反応液（すなわち反応生成成分）の分析がなされた反応容器２２は、反応ディスク２１の回転によって、そのディスク周りの反応容器洗浄機構８４の配置位置に回動位置させられると、反応容器洗浄機構８４によって反応液が貯留されている反応容器２２の洗浄が行われる構成になっている。
【００３４】
次に、自動分析装置１の上述したサンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３，反応容器洗浄機構８４それぞれの一実施例について説明する。
【００３５】
サンプル分注プローブ洗浄機構８３及び試薬分注プローブ洗浄機構８２は同様な構成からなり、それぞれ分注プローブ４２，５２の外面の洗浄を行う洗浄槽を備え、洗浄槽は給液用バルブを介して洗浄液供給源と連通されるとともに、排液用バルブを介して排液部に連通される構成になっている。
【００３６】
洗浄槽には、排液用バルブを閉弁して給液用バルブを開弁することによって、分注プローブ４２，５２の外面を浸すのに十分な洗浄液が補給され、滞留される。このようにして洗浄槽に滞留された洗浄液は、分注プローブ４２，５２を浸して洗浄した後は、排液用バルブを開弁することによって、洗浄槽から排液部に排出される。
【００３７】
これにより、分注プローブ４２，５２を洗浄槽内に配置して給液用バルブ及び排液用バルブの開閉弁制御を行い、洗浄槽での洗浄液の滞留，排出を繰り返し行うことによって、分注プローブ４２，５２の外面が洗浄される構成になっている。
【００３８】
一方、分注の際に吸引されたサンプル，試薬が保持される分注プローブ４２，５２の内部は、例えば切換弁のような切換機構を介して、その連通先を分注用ポンプと洗浄液供給源との間で選択的に連通変更できる構成になっている。
【００３９】
分注プローブ４２，５２は、この分注プローブ４２，５２の内部を洗浄液供給源に選択的に連通させた状態で、洗浄液供給源から供給された洗浄液が流通し、プローブ開口から排出されることによって、洗浄される構成になっている。
【００４０】
攪拌機構洗浄機構８３は、サンプル分注プローブ洗浄機構８１及び試薬分注プローブ洗浄機構８２における洗浄槽を備えた分注プローブ４２，５２の外面の洗浄構成と、同様な構成になっている。
【００４１】
これら洗浄機構８１，８２，８３に対し、反応容器洗浄機構８４は、反応容器２２内の反応液を吸引排出する反応液吸引排出機構に連通された反応液排出ノズル、反応液が排出された反応容器２２内に洗浄液を供給する洗浄液供給源に連通された洗浄液供給ノズル、反応容器２２内に貯留された洗浄液を吸引排出する洗浄液吸引排出機構に連通された洗浄液排出ノズル等といった複数のノズルを備えた構成になっている。
【００４２】
反応容器洗浄機構８４は、これら複数のノズルを用いて、反応容器２２内に反応液を吸引して排出した後、反応容器２２内に洗浄液を貯留しては排出する洗浄液の吐出・吸引動作を繰り返し行うことによって、反応容器７内の洗浄を行う構成になっている。
【００４３】
図１では、サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの洗浄槽に洗浄液を供給する洗浄液供給路８５，８６，８７及びこれらに共通の洗浄液供給源としての洗浄液供給ポンプ８８と、サンプル分注機構４０のサンプル分注プローブ４２に洗浄液を供給する洗浄液供給路８９及びその洗浄液供給源としての洗浄液供給ポンプ９０と、試薬分注機構５０の試薬分注プローブ５２に洗浄液を供給する洗浄液供給路９１及びその洗浄液供給源としての洗浄液供給ポンプ９２と、反応容器洗浄機構８４の洗浄液供給ノズルに洗浄液を供給する洗浄液供給路９３及びその洗浄液供給源としての洗浄液供給ポンプ９４とのみが図示され、サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの上記説明したその余の機構構成については、図示省略してある。
【００４４】
そして、洗浄液供給ポンプ８８，９０，９２，９４をはじめとするサンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの被制御部は、ＣＰＵ１０１によりインターフェース１０２及びドライバ１０５を介して制御駆動される構成になっている。
【００４５】
その上で、本実施の形態の自動分析装置１は、これらサンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれが正常に動作し、かつ、適正な液量の洗浄液が吐出されているか否かを検出するために、洗浄液供給路８５，８６，８７，８９，９１，９３には、それぞれ流路中の洗浄液の圧力変化（圧力変動）、又は流速変化を検出測定する液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６が設けられている。また、サンプル分注プローブ洗浄機構８１の洗浄槽に貯留された洗浄液によってその外面が洗浄されるサンプル分注機構４０のサンプル分注プローブ４２又はその洗浄槽、試薬分注プローブ洗浄機構８２の洗浄槽に貯留された洗浄液によってその外面が洗浄される試薬分注機構５０の試薬分注プローブ５２又はその洗浄槽には、それぞれ分注プローブ４２，５２のサンプルや試薬に浸った外面が洗浄液中にあることを検出するための液面検出部１２１，１２２が設けられている。この液面検出部１２１，１２２には、例えば、静電容量特性や超音波伝搬特性等といった電気的特性を利用し、洗浄液の介在の有無に応じてその出力信号の大きさが変化する液面検知センサが用いられる。
【００４６】
これら液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６、及び液面検出部１２１，１２２それぞれの検出信号は、コントローラ１０４及びインターフェース１０２を介してＣＰＵ１０１に供給され、洗浄動作中の洗浄液吐出液量や洗浄槽液量に変換される。
【００４７】
その上で、ＣＰＵ１０１は、サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの制御作動中、対応する液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６及び液面検出部１２１，１２２から供給される検出信号に基づいて、分注プローブ４２，５２への洗浄液吐出液量（洗浄液供給液量)や洗浄槽における洗浄液の貯留液量を取得する。
【００４８】
ＣＰＵ１０１は、これら取得した洗浄液吐出液量や貯留液量を予め定めた基準量と比較することによって、分注プローブ４２，５２への洗浄液の供給や洗浄槽における洗浄液の貯留及び排出に異常があるか否か、すなわち、分注プローブ４２，５２、攪拌器、反応容器２２の洗浄が正常になされているか否かを監視する。
【００４９】
そして、ＣＰＵ１０１は、この監視の結果、分注プローブ４２，５２への洗浄液の供給や洗浄槽それぞれの洗浄液の貯留又は排出に異常が生じたことを検出した場合は、自動分析装置１がそれぞれ対応する部分の洗浄が正常に実施できないため、自動分析装置１はクロスコンタミネーションにより正確な自動分析ができないと判断し、異常発生メッセージを生成し、これをプリンタ１０８から印字出力したり、ＣＲＴ１０６画面上に表示出力したりする。この異常発生メッセージには、異常が発生した洗浄機構８１〜８４の種別や、その異常状況を検出した検出部に応じた異常状況、等が含まれている。
【００５０】
これにより、ユーザは、クロスコンタミネーションにより正確な自動分析ができない旨、把握できるとともに、その異常発生原因等についても特定又は推定できる。
【００５１】
また、ＣＰＵ１０１は、上記洗浄機構８１〜８４の異常を判別した場合、サンプルディスク機構１０，反応ディスク機構２０，試薬ディスク機構３０，サンプル分注機構４０，試薬分注機構５０，攪拌機構６０等の各部の作動を必要に応じて停止させるようにすることもできる。
【００５２】
また、ＣＰＵ１０１は、上記洗浄機構８１〜８４の異常を判別した場合、例えば、その異常が洗浄液の供給流量や供給液量の過・不足であるような場合は、異常を判別した洗浄機構８１〜８４の洗浄液供給ポンプ８８，９０，９２，９４をその供給流量や供給液量の過・不足を解消するように補正作動制御することも可能である。また、異常を判別した洗浄機構８１〜８４について、その制御作動が終了した後、洗浄が終了した分注プローブ４２，５２、攪拌器、反応容器２２といった対応する同じ洗浄対象について、再び洗浄機構８１〜８４を作動させて、繰り返し洗浄することもできる。
【００５３】
また、異常の判別の仕方も、上記のような洗浄作業毎に異常を検出するとともに、液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６及び液面検出部１２１，１２２の測定値を所定作業回数分蓄積しておき、その蓄積データから洗浄液の供給流量の変化傾向を分析し、その分析結果から異常を生じさせ易い変化傾向にあるのを判別したときには、洗浄作業毎に異常が発生せずとも異常メッセージを生成する等にしてもよい。
【００５４】
本実施の形態の自動分析装置１は、以上説明したとおりであるが、本発明の実施の形態は上記説明した構成に限られるものではない。例えば、洗浄槽における洗浄液の貯留及び排出に異常があるか否かを検出するための液面検出部１２１，１２２は、サンプル容器１２からのサンプル吸引時や試薬容器３２からの試薬吸引時に、容器中の液量を検出し、分注プローブ４２，５２をクロスコンタミネーション防止のため必要以上にサンプルや試薬の液中に浸漬させないようにする分注プローブ４２，５２に設けられた液面検知機構で兼用させることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の構成図である。
【符号の説明】
【００５６】
１ 自動分析装置
１０ サンプルディスク機構
１１ サンプルディスク
１２ サンプル容器
２０ 反応ディスク機構
２１ 反応ディスク
２２ 反応容器
３０ 試薬ディスク機構
３１ 試薬ディスク
３２ 試薬容器
４０ サンプル分注機構
４１ アーム
４２ サンプル分注プローブ
５０ 試薬分注機構
５１ アーム
５２ 試薬分注プローブ
６０ 攪拌機構
６１ アーム
６２ 攪拌器
７０ 分析反応検出器
８０ 洗浄機構
８１ サンプル分注プローブ洗浄機構
８２ 試薬分注プローブ洗浄機構
８３ 攪拌装置洗浄機構
８４ 反応容器洗浄機構
８５，８６，８７ 洗浄液供給路
８８ 洗浄液供給ポンプ
８９，９１，９３ 洗浄液供給路
９０，９２，９４ 洗浄液供給ポンプ
１０１ ＣＰＵ
１０２ インターフェース
１０３ Ａ／Ｄコンバータ
１０４ コントローラ
１０５ ドライバ
１０６ ディスプレイ装置
１０７ キーボード
１０８ プリンタ
１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６ 液流検出部
１２１，１２２ 液面検出部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反応容器にそれぞれ分注されたサンプル及び試薬の反応を分析する自動分析装置に係り、特に、反応容器等の機材を分析反応の度に繰り返し使用する自動分析装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の自動分析装置には、サンプル又は試薬といった液体をその貯留容器から反応容器に分注するための分注プローブを含む分注機構や、反応容器内にそれぞれ分注されたサンプル及び試薬を攪拌する攪拌器を含む攪拌機構に加え、これら反応容器，分注機構の分注プローブ，及び攪拌機構の攪拌器といった分析反応の度に繰り返し使用される機材を、新たな分析反応での使用に備えて洗浄するための洗浄機構が備えられている。
【０００３】
この洗浄機構は、従前に分析したサンプル，試薬，反応生成成分が繰り返しの使用で新たに分析するサンプル成分，試薬成分と混合することによって意図しない反応を引き起こし、分析項目の測定値に影響を与えるクロスコンタミネーションを防止するため、新たな分析反応での使用に備えて、反応容器の内面、分注プローブの外面及び内面、並びに攪拌器の外面といった、分析反応の度に繰り返し使用される機材の洗浄必要箇所を洗浄するための機構である。
【０００４】
そして、この洗浄機構の構成としては、これら反応容器の内面、分注プローブの外面及び内面、並びに攪拌器の外面といった洗浄必要箇所に、洗浄必要箇所に応じた一定量の洗浄液体を吐出し、従前の分析反応で付着したサンプル，試薬，反応生成成分といった新たな分析反応での支障液体を、この洗浄液体で洗い流す構成になっている。
【０００５】
このように、従前においては、一の分析反応で、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器を使用する毎に、これら各部を別の分析反応に使用する前にこれら各部に予め設定された適正な洗浄のために必要な一定量の洗浄液体が供給されるように、自動分析装置の制御装置がそれぞれの洗浄機構を制御作動する構成になっていた。
【０００６】
【特許文献１】特開平６−２１３９０７号公報
【特許文献２】特開２００１−３３７０９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上述した従来技術の自動分析装置では、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器を洗浄している際にそれぞれの洗浄機構が正常に動作し、かつ、適正な液量が実際に吐出されているか否かについて検出及び測定は行われていなかった。
【０００８】
そのため、従来技術の自動分析装置では、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器をそれぞれの洗浄機構が洗浄している際、それぞれの洗浄機構が正常に動作し、かつ、適正な液量が実際に吐出されているのを確認するために、直接目視で、又は自動分析装置近傍に設置された例えばビデオカメラ等の映像記録手段の撮影映像を監視することによって実施していた。
【０００９】
しかも、自動分析装置による分析結果に異常が発生した場合、それぞれの洗浄機構が正常に動作し、且つ、適正な液量が吐出されていることについての検出及び測定は分析反応毎に行われていないため、その分析結果の異常がこれら洗浄機構いずれかの劣化及び異常が原因で生じたものであるかどうかの判別が困難であった。
【００１０】
本発明は、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器といった、分析反応の度に繰り返し使用される機材それぞれの洗浄機構から、分析反応の度にその洗浄対象に対して洗浄液体が実際に適正に吐出されていることを検出することより、それぞれの洗浄機構が正常に動作して、その洗浄対象の洗浄が適正に実施されたか否かの検出が可能な自動分析装置を提供することを、その目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、上記した課題を解決するために、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器といった、分析反応の度に繰り返し使用される機材それぞれの洗浄機構に、その洗浄作動の際に、洗浄液体がその洗浄対象に対して正常に吐出されているか否か、及びその洗浄液体の吐出液量が適正であるか否かを検出する検出手段を設けたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、分析反応の度に繰り返し使用される、反応容器，分注機構の分注プローブ，攪拌機構の攪拌器といった自動分析装置の機材それぞれの洗浄機構が正常に動作し、かつ、適正な液量が吐出されているか否かを判定が可能となるため、これら分析反応の度に洗浄が必要な機材いずれかの洗浄不良に基づく、分析結果の異常の発生を未然に防止できるとともに、分析結果に異常が発生した場合でも、その発生原因がこれら洗浄機構いずれかの劣化及び異常が原因で生じたものであるかどうかの判別を行うことが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の構成について、図面に基づき説明する。なお、その説明にあたって、従来と同様な構成部分については、図示省略し、又はその詳細な説明を省略する。
【００１４】
図１は、本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の構成図である。
本実施の形態の自動分析装置１は、サンプルディスク機構１０，反応ディスク機構２０，試薬ディスク機構３０，サンプル分注機構４０，試薬分注機構５０，攪拌機構６０，分析反応検出器７０、及び洗浄機構８０等を備えた構成になっている。そして、本実施の形態の自動分析装置１では、この洗浄機構８０は、サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３，反応容器洗浄機構８４といった各部洗浄機構からなる。
【００１５】
サンプルディスク機構１０は、図示省力したサンプルディスク回転駆動機構により左右所望の回転方向に回転駆動されるサンプルディスク１１を有し、このサンプルディスク１１上には、サンプル（サンプル液）を貯留したサンプル容器１２が複数個配列されている。各サンプル容器１２は、サンプルディスク１１に対して着脱可能に装填されている。サンプルディスク１１の回転動作は、自動分析装置１全体の作動制御を行う制御手段としてのＣＰＵ１０１によって、インターフェース１０２を介して、図示省力したサンプルディスク回転駆動機構を駆動制御して行われる。そして、サンプルディスク１１上のそれぞれサンプル容器１２に貯留されたサンプルは、予め登録された順番に従って、サンプル分注機構４０によってサンプル容器１２から抽出される構成になっている。
【００１６】
反応ディスク機構２０は、図示省力した反応ディスク回転駆動機構により所定の回転方向に回転駆動される反応ディスク２１を有し、この反応ディスク２１上には、それぞれサンプル及び試薬が分注される反応容器２２が複数個配列されている。各反応容器２２は、反応ディスク２１に対して着脱可能に装填されている。反応ディスク２１の回転動作は、サンプルディスク１１の場合と同様に、ＣＰＵ１０１によって、インターフェース１０２を介して、図示省力した反応ディスク回転駆動機構を駆動制御して行われる。
【００１７】
試薬ディスク機構３０は、図示省力した試薬ディスク回転駆動機構により左右所望の回転方向に回転駆動される試薬ディスク３１を有し、この試薬ディスク３１上には、試薬（試薬液）を貯留した試薬容器３２が複数個配列される。これらの試薬容器３２は、試薬ディスク３１に対して着脱可能に装填されている。この試薬ディスク３１の回転動作は、自動分析装置１全体の作動制御を行う制御手段としてのＣＰＵ１０１によって、インターフェース１０２を介して、図示省力した試薬ディスク回転駆動機構を駆動制御して行われる。そして、試薬ディスク３１上のそれぞれ試薬容器３２に貯留された試薬は、予め登録された順番に従って、試薬分注機構５０によって試薬容器３２から抽出される構成になっている。
【００１８】
サンプル分注機構４０，試薬分注機構５０はいずれも、図示せぬ基台に対して上下動及び回動可能なアーム４１，５１を有し、その揺動端に設けられている分注プローブ４２，５２が上下動及び回動可能になっている。
【００１９】
サンプル分注機構４０は、前述したＣＰＵ１０１の制御下で、そのアーム４１の揺動端を複数個のサンプル容器１２が配列されているサンプルディスク１１の上方の所定位置に回動位置させてサンプル分注プローブ４２を下降し、プローブ先端開口をサンプル容器１２のサンプルに浸漬させた上で、図示省略した分注用ポンプを駆動制御して分注プローブ４２内にサンプルを吸引保持する構成になっている。
【００２０】
また、サンプル分注機構４０は、同じくＣＰＵ１０１の制御下で、分注プローブ４２内にサンプルが保持された状態のアーム４１の揺動端を複数個の反応容器２２が配列されている反応ディスク２１の上方の所定位置に回動位置させてサンプル分注プローブ４２を下降し、プローブ先端開口を所定の反応容器２２内に臨ませた状態で、図示省略した分注用ポンプを駆動制御して分注プローブ４２内に吸引保持されているサンプルをこの反応容器２２内に排出する構成になっている。
【００２１】
すなわち、サンプル分注機構４０は、上述のようにして、サンプルディスク機構１０の所定のサンプル容器１２に貯留されている一のサンプルを、反応ディスク機構２０の所定の反応容器２２に移送する構成になっている。
【００２２】
また、試薬分注機構５０も、サンプル分注機構４０の場合と同様にして、試薬分注プローブ５２が設けられたアーム５１、及び図示省略した分注用ポンプを駆動制御し、試薬ディスク機構３０の所定の試薬容器３２に貯留されている一の試薬を、反応ディスク機構２０の所定の反応容器２２に移送する構成になっている。
【００２３】
そして、サンプル分注機構４０は、反応容器２２に対するサンプル分注後は、次の新たなサンプル分注に備えて、アーム４１を所定の洗浄位置に回動位置させて、サンプルに浸漬させたサンプル分注プローブ４２が、サンプル分注プローブ洗浄機構８１によって洗浄される構成になっている。
【００２４】
同様に、試薬分注機構５０も、反応容器２２に対する試薬分注後は、次の新たな試薬分注に備えて、アーム５１を所定の洗浄位置に回動位置させて、試薬に浸漬させた試薬分注プローブ５２が、試薬分注プローブ洗浄機構８２によって洗浄される構成になっている。
【００２５】
反応ディスク機構２０は、その反応ディスク２１の回転変位に応じて、反応ディスク２１上に複数個配列された反応容器２２それぞれを、そのディスク２１の周方向に沿って配置されたサンプル分注機構４０，試薬分注機構５０，攪拌機構６０，分析反応検出器７０、及び反応容器洗浄機構８４に対して、回動位置させる。
【００２６】
そして、前述のサンプル分注機構４０によって分注されたサンプルに試薬分注機構５０によって分注された試薬が添加された反応容器２２は、反応ディスク２１の回転によって、反応ディスク２１の周方向における攪拌機構６０の配置位置に回動位置させられると、攪拌機構６０による反応容器２２内にそれぞれ分注されたサンプル及び試薬の攪拌が行われる。
【００２７】
攪拌機構６０は、図示せぬ基台に対して上下動及び回動可能なアーム６１を有し、その揺動端に回転駆動される攪拌器６２が設けられた構成になっている。
【００２８】
攪拌機構６０は、ＣＰＵ１０１の制御下で、回動位置してきたサンプル及び試薬が分注された反応容器２２に対し、その攪拌器６２を反応容器２２内の液中に挿入して回動させ、試薬が添加されたサンプルを攪拌する構成になっている。
【００２９】
攪拌機構６０は、一の反応容器２２内の液の攪拌後は、次の新たな反応容器２２内の液に備えて、攪拌器６２を反応容器２２内から退出させ、アーム６１を所定の洗浄位置に回動位置させて、反応液（すなわち反応生成成分）が付着した攪拌器６２が、攪拌機構洗浄機構８３によって洗浄される構成になっている。
【００３０】
攪拌機構６０により攪拌され、反応液が内部に貯留されている反応容器２２は、反応ディスク２１の回転によってそのディスク周りの分析反応検出器７０の配置位置に回動位置させられると、分析反応検出器７０による反応容器２２内それぞれの反応生成成分の検出が行われる。
【００３１】
分析反応検出器７０は、反応容器２２内の反応液の吸光度を検知する多波長光度計によって構成され、この多波長光度計１１６には、図示せぬ光源で発生され、反応容器２２内の反応液を透過した光束が入射される構成になっている。
【００３２】
この分析反応検出器７０としての多波長光度計によって検出された反応容器２２それぞれの反応液の吸光度信号は、Ａ／Ｄコンバータ１０３及びインターフェース１０２を介してＣＰＵ１０１に供給され、サンプル中の測定対象の分析項目濃度に変換される。そして、ＣＰＵ１０１によって変換されたサンプル中の測定対象の分析項目濃度は、プリンタ１０８から印字出力され、又はＣＲＴ等といったディスプレイ装置１０６の画面上に表示出力される。このサンプル中における分析項目濃度の測定対象に関しては、キーボード１０７からオペレータが予めどの分析項目を測定するかについて入力し、ＣＰＵ１０１に記憶させておくことができ、ＣＰＵ１０１はこの依頼された分析項目を測定するように、分析反応検出器７０としての多波長光度計を制御する。
【００３３】
分析反応検出器７０により反応液（すなわち反応生成成分）の分析がなされた反応容器２２は、反応ディスク２１の回転によって、そのディスク周りの反応容器洗浄機構８４の配置位置に回動位置させられると、反応容器洗浄機構８４によって反応液が貯留されている反応容器２２の洗浄が行われる構成になっている。
【００３４】
次に、自動分析装置１の上述したサンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３，反応容器洗浄機構８４それぞれの一実施例について説明する。
【００３５】
サンプル分注プローブ洗浄機構８３及び試薬分注プローブ洗浄機構８２は同様な構成からなり、それぞれ分注プローブ４２，５２の外面の洗浄を行う洗浄槽を備え、洗浄槽は給液用バルブを介して洗浄液供給源と連通されるとともに、排液用バルブを介して排液部に連通される構成になっている。
【００３６】
洗浄槽には、排液用バルブを閉弁して給液用バルブを開弁することによって、分注プローブ４２，５２の外面を浸すのに十分な洗浄液が補給され、滞留される。このようにして洗浄槽に滞留された洗浄液は、分注プローブ４２，５２を浸して洗浄した後は、排液用バルブを開弁することによって、洗浄槽から排液部に排出される。
【００３７】
これにより、分注プローブ４２，５２を洗浄槽内に配置して給液用バルブ及び排液用バルブの開閉弁制御を行い、洗浄槽での洗浄液の滞留，排出を繰り返し行うことによって、分注プローブ４２，５２の外面が洗浄される構成になっている。
【００３８】
一方、分注の際に吸引されたサンプル，試薬が保持される分注プローブ４２，５２の内部は、例えば切換弁のような切換機構を介して、その連通先を分注用ポンプと洗浄液供給源との間で選択的に連通変更できる構成になっている。
【００３９】
分注プローブ４２，５２は、この分注プローブ４２，５２の内部を洗浄液供給源に選択的に連通させた状態で、洗浄液供給源から供給された洗浄液が流通し、プローブ開口から排出されることによって、洗浄される構成になっている。
【００４０】
攪拌機構洗浄機構８３は、サンプル分注プローブ洗浄機構８１及び試薬分注プローブ洗浄機構８２における洗浄槽を備えた分注プローブ４２，５２の外面の洗浄構成と、同様な構成になっている。
【００４１】
これら洗浄機構８１，８２，８３に対し、反応容器洗浄機構８４は、反応容器２２内の反応液を吸引排出する反応液吸引排出機構に連通された反応液排出ノズル、反応液が排出された反応容器２２内に洗浄液を供給する洗浄液供給源に連通された洗浄液供給ノズル、反応容器２２内に貯留された洗浄液を吸引排出する洗浄液吸引排出機構に連通された洗浄液排出ノズル等といった複数のノズルを備えた構成になっている。
【００４２】
反応容器洗浄機構８４は、これら複数のノズルを用いて、反応容器２２内に反応液を吸引して排出した後、反応容器２２内に洗浄液を貯留しては排出する洗浄液の吐出・吸引動作を繰り返し行うことによって、反応容器７内の洗浄を行う構成になっている。
【００４３】
図１では、サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの洗浄槽に洗浄液を供給する洗浄液供給路８５，８６，８７及びこれらに共通の洗浄液供給源としての洗浄液供給ポンプ８８と、サンプル分注機構４０のサンプル分注プローブ４２に洗浄液を供給する洗浄液供給路８９及びその洗浄液供給源としての洗浄液供給ポンプ９０と、試薬分注機構５０の試薬分注プローブ５２に洗浄液を供給する洗浄液供給路９１及びその洗浄液供給源としての洗浄液供給ポンプ９２と、反応容器洗浄機構８４の洗浄液供給ノズルに洗浄液を供給する洗浄液供給路９３及びその洗浄液供給源としての洗浄液供給ポンプ９４とのみが図示され、サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの上記説明したその余の機構構成については、図示省略してある。
【００４４】
そして、洗浄液供給ポンプ８８，９０，９２，９４をはじめとするサンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの被制御部は、ＣＰＵ１０１によりインターフェース１０２及びドライバ１０５を介して制御駆動される構成になっている。
【００４５】
その上で、本実施の形態の自動分析装置１は、これらサンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれが正常に動作し、かつ、適正な液量の洗浄液が吐出されているか否かを検出するために、洗浄液供給路８５，８６，８７，８９，９１，９３には、それぞれ流路中の洗浄液の圧力変化（圧力変動）、又は流速変化を検出測定する液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６が設けられている。また、サンプル分注プローブ洗浄機構８１の洗浄槽に貯留された洗浄液によってその外面が洗浄されるサンプル分注機構４０のサンプル分注プローブ４２又はその洗浄槽、試薬分注プローブ洗浄機構８２の洗浄槽に貯留された洗浄液によってその外面が洗浄される試薬分注機構５０の試薬分注プローブ５２又はその洗浄槽には、それぞれ分注プローブ４２，５２のサンプルや試薬に浸った外面が洗浄液中にあることを検出するための液面検出部１２１，１２２が設けられている。この液面検出部１２１，１２２には、例えば、静電容量特性や超音波伝搬特性等といった電気的特性を利用し、洗浄液の介在の有無に応じてその出力信号の大きさが変化する液面検知センサが用いられる。
【００４６】
これら液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６、及び液面検出部１２１，１２２それぞれの検出信号は、コントローラ１０４及びインターフェース１０２を介してＣＰＵ１０１に供給され、洗浄動作中の洗浄液吐出液量や洗浄槽液量に変換される。
【００４７】
その上で、ＣＰＵ１０１は、サンプル分注プローブ洗浄機構８１，試薬分注プローブ洗浄機構８２，攪拌機構洗浄機構８３それぞれの制御作動中、対応する液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６及び液面検出部１２１，１２２から供給される検出信号に基づいて、分注プローブ４２，５２への洗浄液吐出液量（洗浄液供給液量)や洗浄槽における洗浄液の貯留液量を取得する。
【００４８】
ＣＰＵ１０１は、これら取得した洗浄液吐出液量や貯留液量を予め定めた基準量と比較することによって、分注プローブ４２，５２への洗浄液の供給や洗浄槽における洗浄液の貯留及び排出に異常があるか否か、すなわち、分注プローブ４２，５２、攪拌器、反応容器２２の洗浄が正常になされているか否かを監視する。
【００４９】
そして、ＣＰＵ１０１は、この監視の結果、分注プローブ４２，５２への洗浄液の供給や洗浄槽それぞれの洗浄液の貯留又は排出に異常が生じたことを検出した場合は、自動分析装置１がそれぞれ対応する部分の洗浄が正常に実施できないため、自動分析装置１はクロスコンタミネーションにより正確な自動分析ができないと判断し、異常発生メッセージを生成し、これをプリンタ１０８から印字出力したり、ＣＲＴ１０６画面上に表示出力したりする。この異常発生メッセージには、異常が発生した洗浄機構８１〜８４の種別や、その異常状況を検出した検出部に応じた異常状況、等が含まれている。
【００５０】
これにより、ユーザは、クロスコンタミネーションにより正確な自動分析ができない旨、把握できるとともに、その異常発生原因等についても特定又は推定できる。
【００５１】
また、ＣＰＵ１０１は、上記洗浄機構８１〜８４の異常を判別した場合、サンプルディスク機構１０，反応ディスク機構２０，試薬ディスク機構３０，サンプル分注機構４０，試薬分注機構５０，攪拌機構６０等の各部の作動を必要に応じて停止させるようにすることもできる。
【００５２】
また、ＣＰＵ１０１は、上記洗浄機構８１〜８４の異常を判別した場合、例えば、その異常が洗浄液の供給流量や供給液量の過・不足であるような場合は、異常を判別した洗浄機構８１〜８４の洗浄液供給ポンプ８８，９０，９２，９４をその供給流量や供給液量の過・不足を解消するように補正作動制御することも可能である。また、異常を判別した洗浄機構８１〜８４について、その制御作動が終了した後、洗浄が終了した分注プローブ４２，５２、攪拌器、反応容器２２といった対応する同じ洗浄対象について、再び洗浄機構８１〜８４を作動させて、繰り返し洗浄することもできる。
【００５３】
また、異常の判別の仕方も、上記のような洗浄作業毎に異常を検出するとともに、液流検出部１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６及び液面検出部１２１，１２２の測定値を所定作業回数分蓄積しておき、その蓄積データから洗浄液の供給流量の変化傾向を分析し、その分析結果から異常を生じさせ易い変化傾向にあるのを判別したときには、洗浄作業毎に異常が発生せずとも異常メッセージを生成する等にしてもよい。
【００５４】
本実施の形態の自動分析装置１は、以上説明したとおりであるが、本発明の実施の形態は上記説明した構成に限られるものではない。例えば、洗浄槽における洗浄液の貯留及び排出に異常があるか否かを検出するための液面検出部１２１，１２２は、サンプル容器１２からのサンプル吸引時や試薬容器３２からの試薬吸引時に、容器中の液量を検出し、分注プローブ４２，５２をクロスコンタミネーション防止のため必要以上にサンプルや試薬の液中に浸漬させないようにする分注プローブ４２，５２に設けられた液面検知機構で兼用させることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の構成図である。
【符号の説明】
【００５６】
１ 自動分析装置
１０ サンプルディスク機構
１１ サンプルディスク
１２ サンプル容器
２０ 反応ディスク機構
２１ 反応ディスク
２２ 反応容器
３０ 試薬ディスク機構
３１ 試薬ディスク
３２ 試薬容器
４０ サンプル分注機構
４１ アーム
４２ サンプル分注プローブ
５０ 試薬分注機構
５１ アーム
５２ 試薬分注プローブ
６０ 攪拌機構
６１ アーム
６２ 攪拌器
７０ 分析反応検出器
８０ 洗浄機構
８１ サンプル分注プローブ洗浄機構
８２ 試薬分注プローブ洗浄機構
８３ 攪拌装置洗浄機構
８４ 反応容器洗浄機構
８５，８６，８７ 洗浄液供給路
８８ 洗浄液供給ポンプ
８９，９１，９３ 洗浄液供給路
９０，９２，９４ 洗浄液供給ポンプ
１０１ ＣＰＵ
１０２ インターフェース
１０３ Ａ／Ｄコンバータ
１０４ コントローラ
１０５ ドライバ
１０６ ディスプレイ装置
１０７ キーボード
１０８ プリンタ
１１１，１１２，１１３，１１４，１１５，１１６ 液流検出部
１２１，１２２ 液面検出部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプル及び試薬を反応させる容器と、該容器内にサンプル及び試薬をそれぞれ分注する分注プローブと、該分注プローブによって前記容器内にそれぞれ分注されたサンプル及び試薬を攪拌する攪拌器と、これら各部をそれぞれ洗浄する洗浄機構とを備えた自動分析装置であって、
洗浄液がそれぞれ対応する前記洗浄機構で洗浄対象に対して所定の条件を満たして供給されているか否かを検知する検出部
を備えていることを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
前記検出部は、
前記洗浄対象に対して洗浄液を供給する洗浄液供給路の圧力変動状態を測定することによって、前記洗浄機構で前記洗浄対象に対して所定の条件を満たして洗浄液が供給されているか否かを検出する
ことを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
【請求項３】
前記検出部は、
前記洗浄対象に対して洗浄液を供給する洗浄液供給路の流速又は流量の変動状態を測定することよって、前記洗浄機構で前記洗浄対象に対して所定の条件を満たして洗浄液が供給されているか否かを検出する
ことを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
【請求項４】
前記検出部は、
前記洗浄対象を浸漬させるための洗浄液が貯留される洗浄槽における供給洗浄液の液面高さ又は液量を測定することよって、前記洗浄機構で前記洗浄対象に対して所定の条件を満たして洗浄液が供給されているか否かを検出する
ことを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記検出部によって、洗浄液がそれぞれ対応する前記洗浄機構から洗浄対象に対して所定の条件を満たして供給されていないことが検出された場合は、前記洗浄機構を同じ洗浄対象について繰り返し作動させる
ことを特徴とする請求項１乃至４いずれかに記載の自動分析装置。
【請求項１】
サンプル及び試薬を反応させる容器と、該容器内にサンプル及び試薬をそれぞれ分注する分注プローブと、該分注プローブによって前記容器内にそれぞれ分注されたサンプル及び試薬を攪拌する攪拌器と、これら各部をそれぞれ洗浄する洗浄機構とを備えた自動分析装置であって、
洗浄液がそれぞれ対応する前記洗浄機構で洗浄対象に対して所定の条件を満たして供給されているか否かを検知する検出部
を備えていることを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
前記検出部は、
前記洗浄対象に対して洗浄液を供給する洗浄液供給路の圧力変動状態を測定することによって、前記洗浄機構で前記洗浄対象に対して所定の条件を満たして洗浄液が供給されているか否かを検出する
ことを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
【請求項３】
前記検出部は、
前記洗浄対象に対して洗浄液を供給する洗浄液供給路の流速又は流量の変動状態を測定することよって、前記洗浄機構で前記洗浄対象に対して所定の条件を満たして洗浄液が供給されているか否かを検出する
ことを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
【請求項４】
前記検出部は、
前記洗浄対象を浸漬させるための洗浄液が貯留される洗浄槽における供給洗浄液の液面高さ又は液量を測定することよって、前記洗浄機構で前記洗浄対象に対して所定の条件を満たして洗浄液が供給されているか否かを検出する
ことを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記検出部によって、洗浄液がそれぞれ対応する前記洗浄機構から洗浄対象に対して所定の条件を満たして供給されていないことが検出された場合は、前記洗浄機構を同じ洗浄対象について繰り返し作動させる
ことを特徴とする請求項１乃至４いずれかに記載の自動分析装置。
【図１】
【公開番号】特開２００８−５８１６３（Ｐ２００８−５８１６３Ａ）
【公開日】平成２０年３月１３日（２００８．３．１３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−２３５８１６（Ｐ２００６−２３５８１６）
【出願日】平成１８年８月３１日（２００６．８．３１）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年３月１３日（２００８．３．１３）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年８月３１日（２００６．８．３１）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
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