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Fターム[2F065QQ08]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 信号処理 (28,761) | A/D変換、多値化 (3,603) | 2値化 (1,922) | 閾値の決定、変更 (724)

Fターム[2F065QQ08]に分類される特許

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【課題】箱体の姿勢にかかわらず接合部の精度を正確に検査でき、箱体の形状精度や印刷品質、異物の有無も同時に検査することができ、検査スペースの効率化を図ることができる品質検査装置を提供する。
【解決手段】接合部を挟んで隣り合う2つの領域を撮像する撮像手段3と、照明手段4と、基準形状データ記憶部、及び基準画像データ記憶部を有する記憶手段50と、撮像される画像に基づき形状データを検出し、各領域の基準形状データと対比することにより各領域のずれ量を算出し、各領域の形状精度の良否を判定する形状精度判定手段と、形状精度判定手段により算出される各領域のずれ量に基づき、当該箱体の接合精度の良否を判定する手段と、撮像手段により撮像される画像に基づき各領域の画像データと基準画像データ記憶部に記憶された各領域の基準画像データとを対比することにより各領域の印刷品質の良否及び異物の有無を判定する手段とを備えた。 (もっと読む)


【課題】溶接ビード欠陥の検出精度を向上できる溶接ビード欠陥検出装置及び溶接ビード欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】溶接ビードの欠陥を検出する溶接ビード欠陥検出装置10であって、溶接モデルBLと平滑モデルSLとの比較、あるいは、平滑モデルSLと折線モデルVLとの比較、に基づいて、溶接モデルBLを、異常点と正常点とに分別する点群データ分別手段200と、異常点と、隣接する正常点間の距離と、に基づいて、溶接モデルBLを、欠落領域GGと非欠落領域GNとに分別する欠落領域分別手段300と、欠落領域GGまたは非欠落領域GNを順次併合して併合欠落領域GGGとする欠落領域併合手段400と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】研磨部及び再研磨部の仕上がり具合を簡単な手法で定量的に評価できる金属板の外観評価方法を提供する。
【解決手段】この金属板の外観評価方法では、金属板1の表面のデジタル画像10をスキャナ4によって取得し、デジタル画像10の一部画像11に含まれる各ピクセルのRGB値をグレースケール変換して得られるAc値の波形パターンに基づいて研磨部2及び再研磨部3の外観の可否を判断する。波形パターンを用いることで、研磨部2及び再研磨部3の外観を容易かつ定量的に判断できる。また、この方法では、波形パターンに基づいて、研磨部2及び再研磨部3の研磨方向がスキャナ4の走査方向と一致しているデジタル画像10を判断対象として選別する。この前処理により、外観判断工程で用いる波形パターンのS/N比が向上し、判断精度が高められる。 (もっと読む)


【課題】所定の特性を有する微小細粒(タガント)を物品に付与し、更にその分布位置に基づいて高精度に個々の物品を識別することが可能な個体識別装置等を提供する。
【解決手段】個々の物品1の基材10上に、基材とは異なる光学反射特性を有し、かつ、異色の微細物質12、並びに特徴的な図案及び形状等を有する微細物質をランダムに配置しておく。また個々の物品をスキャナ等により光学的に読み取り、所定の画像処理を施して微細物質の特徴点及びその特徴点における色情報に関する特徴量を抽出し、基準特徴量データとして記憶部に記憶しておく。識別対象となる物品を上述の読み取りの際と同様の手法で読み取り、同様の画像処理を施して微細物質の対象物特徴量データを抽出する。そして、抽出した対象物特徴量データと記憶されている基準特徴量データとを比較することにより識別対象とする物品と基準物品とが同一個体であるか否かを判定する。 (もっと読む)


【課題】経年変化に伴ってレーザー測長系のレーザー光源の出力特性が変化しても、移動ステージの位置を精度良く検出して、基板の位置決めを精度良く行う。
【解決手段】移動ステージに複数の反射手段34a,34b,35を取り付け、複数のレーザー干渉計32a,32b,33により、レーザー光源31a,31bからのレーザー光と各反射手段34a,34b,35により反射されたレーザー光との干渉を複数箇所で測定する。各レーザー干渉計32a,32b,33の測定結果から、移動ステージの位置を検出し、検出結果に基づき、移動ステージによりチャック10a,10bを移動して、基板1の位置決めを行う。各レーザー干渉計32a,32b,33が受光したレーザー光の強度の変化を検出し、検出したレーザー光の強度の変化を補う様に、レーザー光源31a,31bへ供給する駆動電流を制御する。 (もっと読む)


【課題】低コスト化を図れる導膜製造装置、製造した電気機械変換素子、液滴吐出装置を提供する。
【解決手段】第1のアライメント調整工程では着弾位置251をカメラ205で捕捉し着弾位置251がカメラ205の撮影撮影基準位置252に一致するように基板又は液滴吐出ヘッド201を相対的に移動する。第2のアライメント調整工程ではレーザレッドによってレーザ光を照射して照射跡を形成し照射跡をカメラ205で捕捉し照射跡がカメラ205の撮影撮影基準位置252に一致するように基板又はレーザヘッドを相対的に移動する。第3のアライメント調整工程では基板上に予め形成されているアライメントマークを撮像手段205で撮影したアライメントマークの形状に基づいて基板の向きを検知して基板の向きの調整を行いアライメントマークを撮像手段205の撮影基準位置に一致するように基板を移動することで基板の組付け位置の調整を行う。 (もっと読む)


【課題】移動する測定対象物が加速、減速した場合であっても該測定対象物の速度を高精度に測定することが可能な動き検出装置を提供する。
【解決手段】撮像部11で撮像される画像の各画素に、測定対象物の測定対象物が存在した場合に、投票値を付与する。そして、積算された投票値が増加する場合には、測定対象物は減速しているものと判断し、他方、積算された投票値が減少する場合には、測定対象物は加速しているものと判断する。そして減速している場合には、特徴領域に対応する画素の投票値に、所定の補正値を加算することにより、実際の速度を反映した投票値に補正する。また、減速している場合には、特徴領域に対応する画素の投票値から所定の補正値を減算することにより、実際の速度を反映した投票値に補正する。 (もっと読む)


【課題】シート材の影響を抑制してテストパターンの位置を検出する画像形成装置を提供すること。
【解決手段】液滴の吐出タイミングを調整する装置100であって、テストパターンからの反射光を読み出す読み取り手段30と、均一パターンの印刷データを記憶する印刷データ記憶手段54と、均一パターンを記録媒体に印刷した後、テストパターンを均一パターン上に印刷するパターン形成手段52と、読み取り手段を等速で移動させる相対移動手段313と、テストパターンが形成された記録媒体に対し読み取り手段が相対移動しながら、テストパターンを光が横断する際に前記受光手段が受光した反射光の第1の検出データを取得する第1の検出データ取得手段617と、予め定められた上限値と下限値の間に含まれる第1の検出データにライン位置決定演算を施してテストパターンの位置を検出する位置検出手段616、を有する。 (もっと読む)


【課題】簡単に精度よく鉄筋の配筋情報を取得する。
【解決手段】携帯端末4は、鉄筋の画像から、背景板Bに対して垂直方向の1ピクセルずつの位置に対応する連続的な径長を抽出する(S1001)。次に、抽出した鉄筋径分布の全データのうち、上部5%のデータと、下部5%のデータとをノイズとして除去する(S1002)。そして、中央部90%のデータにおける最大値を特定し、最大径d1として取得する(S1003)。続いて、鉄筋規格情報452を参照し(S1004)、最大径d1に対応する鉄筋規格を特定できるか否かを判定する(S1005)。鉄筋規格を特定できる場合には(S1005のYES)、該当した鉄筋規格を取得する(S1006)。該当する鉄筋規格を特定できない場合には(S1005のNO)、その旨をオペレータに通知することにより、角度を変えて鉄筋を再度撮影し、画像を抽出し(S1007)、S1001の処理から再試行する。 (もっと読む)


【課題】バーコードの外観不良を簡易に検査できるバーコード外観検査システム等を提供する。
【解決手段】バーコード外観検査システムの画像処理装置の制御部は、カメラで撮影されたバーコード6の撮影画像データを取得し、バーコード6のバー配列方向の両端部のエッジ65の位置と、バー配列方向の両端部の近傍におけるバー長さ方向の両端部のエッジ67a、67bの位置を算出する。続いて、これらエッジ65、67a、67bの位置に基づきバーコード6の中心座標等を演算して求め、これに基づきバーコード6の欠陥検出領域を生成する。次に、この欠陥検出領域において、バー長さ方向の微分フィルタ演算と演算結果の2値化を行い、バーコード6の汚れ61、抜け63等の欠陥領域を検出する。いずれかの欠陥領域の面積が所定値以上の場合に、画像処理装置の制御部は、バーコード6に外観不良があると判定する。 (もっと読む)


【課題】検査精度の向上を図ることのできる基板検査装置を提供する。
【解決手段】基板検査装置は、実装エリア内のクリームハンダ4及びレジスト膜5の表面の三次元計測を行うと共に、各クリームハンダ4の最高点の位置情報を基に算出した所定の平面を第1仮想基準面K1として設定し、さらに当該第1仮想基準面K1をベース基板2の表面2aに直交する方向に沿って所定位置まで降下させ、第2仮想基準面K2として設定する。そして、当該第2仮想基準面K2からの各クリームハンダ4の突出量を算出し、これを基に当該クリームハンダ4の印刷状態の良否を判定する。 (もっと読む)


【目的】マスクに形成されたパターン自体の位置精度の均質性を検査可能な検査装置を提供する。
【構成】検査装置100は、離散的な領域を撮像した際に取得されたそれぞれの光学画像中の図形の寸法と、対応する参照画像中の図形の寸法との間での第1の位置ずれ量を用いて、被検査領域全体における第1の位置ずれ量マップを作成するマップ作成回路131と、検査領域全体を撮像した際に取得されたそれぞれの光学画像中の図形の寸法と、それぞれ対応する参照画像中の図形の寸法との間での第2の位置ずれ量を用いて、被検査領域全体における第2の位置ずれ量マップを作成するマップ作成回路132と、第2の位置ずれ量マップを、第1の位置ずれ量マップと第2の位置ずれ量マップとの第1の差分マップで補正した第3の位置ずれ量マップに定義される各値のうち、許容値を超える値の有無を判定する判定回路156と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】誤検出指標や検出精度の低い指標による影響を減少させ、高精度かつより安定な撮像装置の位置姿勢計測方法を提供する。
【解決手段】指標検出部2030は、物体上に配置または設定された指標P1、P2、P3を撮像画像から検出する。評価量算出部2060は評価量を、指標P1、P2、P3の画像上での2次元幾何特徴及び/又は指標P1、P2、P3の3次元空間中における撮像装置2010と指標P1、P2、P3との間の関係を表す3次元幾何特徴を利用して算出する。信頼度算出部2070は、算出した指標P1、P2、P3の評価量に応じて指標P1、P2、P3の信頼度を算出する。位置姿勢算出部2080は、算出された指標P1、P2、P3の信頼度と、検出された夫々の指標P1、P2、P3の画像座標に関する情報とを少なくとも用いて、物体または撮像装置2010の位置姿勢を求める。 (もっと読む)


【課題】撮像画像中から他車両のライトを検出するライト検出装置において、車両のライトに類似する特徴を有する光源を識別し、車両のライトを良好に検出する。
【解決手段】ライト制御システム1においては、自車両の周囲を撮像した撮像画像を取得し(S110)、撮像画像中の光源を抽出する(S120)。そして撮像画像中を複数に区分した領域毎に他車両が存在する確度が設定された領域確度マップに基づいて、該光源毎に光源が他車両のライトである確度を表す領域確度を演算する(S150)。また各光源における形状を含む特徴量が車両のライトが有する特徴量と一致する確度に応じて、各光源が他車両のライトである確度を表す特徴確度を演算し(S150)、各光源に対して領域確度および特徴確度に基づく最終確度を演算し、予め設定された閾値以上となる最終確度を有する光源が他車両のライトである旨を出力する(S150,S190)。 (もっと読む)


【課題】抗菌剤の抗菌性能の評価に要する時間および費用を低減する。抗菌剤の抗菌性能の評価において、細菌培養を行うことなく間接的な方法によって簡易な評価方法を提供する。さまざまな形状の抗菌加工品の各部位の抗菌性能を評価する方法を提供する。
【解決手段】本願発明の抗菌の抗菌性能の評価方法は、抗菌剤の少なくとも一部が表面から露出してなる抗菌加工品の抗菌性能を評価する評価方法であり、抗菌加工品の表面上に設定した関心領域の画像を取得し、関心領域において表面から露出する抗菌剤の露出の程度を表す露出率を画像から求め、予め求めておいた露出率と抗菌加工品の抗菌性能との相関関係に基づいて、画像から求めた露出率に対応する抗菌性能を求め、求めた抗菌性能によって抗菌加工品の抗菌性能を評価する。 (もっと読む)


【目的】動きぶれや焦点ぼけがある画像からでも抽出することができるモノスペクトル・マーカを提供する。
【構成】HSV色空間により表現される。モノスペクトル・マーカでは位置セグメントSp1,Sp2,Sp3,Sp4とIDセグメントSd1,Sd2,Sd3,Sd4,Sd5が黒の境界領域BD内に配置される。位置セグメントのVの値はその中心でピークを示し,中心を通るすべての方向において単一周波数で変化する。位置セグメントとIDセグメントのHの値は特定の色相を表わす。 (もっと読む)


【課題】ノイズの影響等を軽減させて、ステレオペアの相関関数を精度良く算出することができる関数算出装置、デプスマップ生成装置、関数算出方法及び関数算出プログラムを提供する。
【解決手段】関数算出装置110は、参照視点画像及び複数の近傍視点画像を受信する正規化部111と、参照視点画像及び近傍視点画像をステレオペア毎に平行化する正規化部111と、平行化したステレオペアの視差を正規化する正規化部111と、視差を正規化したステレオペアの参照視点画像及び近傍視点画像に、マッチングウィンドウを定めるウィンドウ設定部112と、マッチングウィンドウ間の1次元POC関数を、視差を正規化したステレオペア毎に算出する関数算出部113と、1次元POC関数のうち、相関ピークの高さが閾値以上である1次元POC関数を統合する関数統合部114と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 計測対象物体からの反射光を用いて3次元計測を行う手法において、計測の誤差に起因する、計測対象物体の3次元位置の取得精度の低下を防止することを目的とする。
【解決手段】 構造化光が投影された計測対象物体からの反射光の情報と、前記構造化光の光源の位置と、前記反射光を受光して前記反射光の情報を取得する受光部の位置とを用いた三角法により、前記計測対象物体の表面の複数の位置を取得する第一の取得手段と、前記複数の位置に基づき、前記計測対象物体の表面の位置および向きを取得する第二の取得手段と、前記複数の位置を取得する際の計測の誤差に関する情報と、前記計測対象物体の表面の位置および向きとに基づき、前記複数の位置の少なくとも一つを補正する補正手段と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】サンプリングピッチを細かくすることなく、少ないサンプリング数でより高精度に交点を算出する。
【解決手段】明部および暗部を有する第1のパターンまたは第2のパターンを投影パターンとして対象物へ投影する投影部と、投影パターンが投影された対象物を撮像素子に輝度分布として結像させる撮像部と、を備え、輝度分布は明部に対応する第1の輝度値と暗部に対応する第2の輝度値とを有し、第1のパターンおよび第2のパターンは明部の位置または暗部の位置が重複する重複部を有し、第1のパターンに対応する第1の輝度分布および第2のパターンに対応する第2の輝度分布は重複部で同輝度値となる交点を有し、交点の輝度値は第1の輝度値および第2の輝度値の平均値と所定値だけ異なる。 (もっと読む)


【課題】検査対象からの反射光角度の変化に基づいて基板の欠陥を精度よく検査することができる検査装置を提供すること。
【解決手段】本発明に係る検査装置は、赤外光を出射する光源11と、光源11から出射される赤外光を平行光としてウエハ30に略垂直に入射させ、当該ウエハ30からの反射光を導く光学系と、光学系により導かれる反射光のうち、正反射光以外の光を検出するIRカメラ19、20とを備え、光源11からの赤外光を導光する光ファイバ13の出射端面面は、光学系の瞳位置に配置されている。 (もっと読む)


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