【課題】直接変換方式のＸ線センサの使用を前提として、製造ラインの稼働を停止させることなく、分極に起因する検出性能の低下の問題に適切に対処し得る、Ｘ線検査装置を得る。
【解決手段】Ｘ線検査装置１は、Ｘ線照射部７と、Ｘ線を直接的に電気信号に変換するタイプのＸ線センサを有するＸ線検出部８と、物品１２がＸ線照射部７とＸ線検出部８との間のＸ線照射領域１００を通過するように、物品１２を搬送するベルトコンベア６と、Ｘ線センサへ印加するバイアス電圧を制御する制御部６０とを備えている。Ｘ線検出部８は、物品１２の搬送経路上に配設されたＸ線ラインセンサ８Ａと、Ｘ線ラインセンサ８Ａよりも下流側でＸ線ラインセンサ８Ａに平行に配設されたＸ線ラインセンサ８Ｂとを有している。制御部６０は、Ｘ線ラインセンサ８Ａ，８Ｂに対して、バイアス電圧の印加を独立に停止可能である。 （もっと読む）

【課題】液体試料の観察又は検査を効率良く行うことのできる検査方法等に関し、装置のメンテナンスの向上を可能にする検査方法及びそれに用いられる試液を提供する。
【解決手段】一部が膜３２から構成された試料保持体４０に液体試料２０として培地３９と細胞３８が入れてある。この液体試料に閉塞物質４１を混入させる。膜３２の下方から膜３２を介して一次線を細胞３８に照射可能で、その時に発生する二次的信号を検出することで細胞の像や情報を得ることができる。膜３２が一次線照射や、何らかの機械的刺激により破壊された場合であっても、閉塞物質４１が膜の破損個所を閉塞するので液漏れを最小限にすることができる。従来、膜の破壊毎に装置を洗浄する必要があったが、本発明により少なくとも１０回膜が破壊されても洗浄の必要性がなくなる。 （もっと読む）

【課題】直接変換方式のＸ線センサの使用を前提として、製造ラインの稼働を停止させることなく、分極に起因する検出性能の低下の問題に適切に対処し得る、Ｘ線検査装置を得る。
【解決手段】Ｘ線検査装置１は、Ｘ線照射部７と、Ｘ線を直接的に電気信号に変換するタイプのＸ線センサを有するＸ線検出部８と、物品１２がＸ線照射部７とＸ線検出部８との間のＸ線照射領域１００を通過するように、物品１２を搬送するベルトコンベア６と、Ｘ線センサへ印加するバイアス電圧を制御する制御部６０とを備えている。Ｘ線検出部８は、物品１２の搬送経路上に配設されたＸ線ラインセンサ８Ａと、Ｘ線ラインセンサ８Ａよりも下流側でＸ線ラインセンサ８Ａに平行に配設されたＸ線ラインセンサ８Ｂとを有している。制御部６０は、Ｘ線ラインセンサ８Ａ，８Ｂに対して、バイアス電圧を独立に印加可能である。 （もっと読む）

【課題】セメント硬化体中のひび割れ等の空隙部を、精度良く検出する方法を提供する。
【解決手段】セメント硬化体に存在する空隙部に、有機ハロゲン化合物を溶解又は混合した樹脂液を含浸させて硬化させた後、表面を研磨し、電子線マイクロアナライザーにより、該有機ハロゲン化合物由来のハロゲン原子の分布状態を分析することを特徴とするセメント硬化体中の空隙部を検出する方法。 （もっと読む）

【課題】高度なサニタリー性の要求に応え得るＸ線異物検出装置の具体的な構造を提供する。
【解決手段】Ｘ線異物検出装置１の筐体２は、製品が通過する製品領域Ｐを挟んで配置された上部筐体２ａと下部筐体２ｂとを有し、上部筐体内にはＸ線発生器６があり、下部筐体内にはＸ線検出器７がある。上部筐体２ａの下面８と、下部筐体２ｂの上面（製品領域の底面）９は傾斜している。底面の上には、搬送ベルトを水平に案内する搬送台２０が設置される。Ｘ線による検査時には、搬送ベルトは搬送台に沿って製品領域内で製品を水平方向に安定して搬送できる。清掃時には、搬送手段と搬送台を筐体から外せば、底面を露出させて清掃できる。底面は傾斜しているので水が滞留せず、サニタリー性が高い。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、異物の分析を分析に際しての新たな異物の混入なく分析し異物の正確な情報を提供することにある。
【解決手段】本発明は、導電性膜を全体にコートしてなる異物分析用試料であり、また異物を含有する試料全体に導電性膜をコートすることを特徴とする異物の分析方法である。 （もっと読む）

【課題】電解コンデンサが回路基板に搭載された状態であっても、その電解コンデンサの劣化状態を容易に判定できる劣化診断装置および劣化診断方法を提供する。
【解決手段】透過画像取得部８は、回路基板２０に対して一方からＸ線を照射し、回路基板２０を介して対向する他方において、透過したＸ線に応じた透過画像を取得する。画像処理部２は、ＣＣＤ部１６から電気信号を受けて回路基板２０の透過画像を生成し、その透過画像を濃淡画像（グレイ画像）に変換する。演算部４は、グレイ画像から濃淡値（グレイ値）の度数分布を生成するとともに、その度数分布において、電解コンデンサの劣化状態に応じて度数が変化する濃淡値の度数に基づいて劣化指標を算出する。演算部４は、この劣化指標に基づいて電解コンデンサ３４の劣化状態を判断する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、１個の電子源でマイクロ波増幅管と加速管の双方に電子ビームを供給できる高エネルギー電子ビーム発生装置及びＸ線装置を提供することを課題とする。
【解決手段】電子源、入力空洞及び出力空洞からなるマイクロ波増幅管と、マイクロ波増幅管の電子ビームの一部を加速管に供給するビーム制限用スリットと、単一あるいは複数の加速空洞からなる加速管を直列に配置するとともに、マイクロ波増幅管のマイクロ波出力を加速管に供給するマイクロ波導波管を備えたことを特徴とする高エネルギー電子ビーム発生装置及びＸ線装置である。 （もっと読む）

【課題】移動式処理機により生成される処理物の品質向上に寄与することができる移動式検査機を提供する。
【解決手段】被処理物の発生現場にて移動式処理機の被処理物又は処理物を検査する移動式検査機であって、下部車体上に設けた動力装置及びホッパと、ホッパの下方位置から延在するコンベヤ４０と、ホッパに受け入れた被検査物の検査データを検出する検出部５００と、検出部５００よりも下流側の位置で被検査物をコンベヤ４０上から除去する選別装置６０と、検出部５００で検出された検査データを基に算出された被検査物の特徴量を記憶部５９２から読み出した設定値と比較し、コンベヤ４０上の被検査物の品質の良否を判定する判定部５６４と、判定部５６４から入力された品質不良の被検査物の情報を基に選別装置６０を制御する選別装置コントローラ５８０とを備える。 （もっと読む）

マッドケーキおよびスタンドオフの影響を、従来より少ない検出器を用いて補正する、掘削孔により横切られる地層の特徴を測定する装置および方法。装置は、第１および第２の入射角から地層に照射するために、空間的および時間的に分離された第１および第２のＸ線を作成するのに効果的な放射源と、地層から検出器に戻る第１および第２のＸ線の強度を表す第１および第２の信号を作成することができる１またはそれ以上のＸ線検出器と、放射源と検出器を収容するハウジングとを含む。
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【課題】 本発明の課題は包含される物品が開梱されていない条件下において放射線撮像原理を使用してトレーラー上に載置された物品を査察するためのトレーラーセキュリティー調査システムを提供することにある。
【解決手段】 トレーラーセキュリティー調査システムはトレーラーが通過するための調査路を形成する保護壁と、通路を通過するトレーラーのセキュリティー調査を実施する放射線撮像システムと、トレーラーを牽引するための牽引手段とを備える。システムはトレーラーを調査することに好適な特別な装置であり、手荷物のセキュリティー調査のための信頼性を有する技術的手段を提供し、非常に好適にして、且つ経済的である。 （もっと読む）

【課題】 加熱炉内に収容されている電子部品などのワークに最も近接した位置でＸ線照射を行うことで、実際の加熱条件下におけるワークの挙動をリアルタイム且つ詳細に観察することのできる加熱型Ｘ線観察装置を提供することである。
【解決手段】 ハンダ付けの対象物であるワーク２０を収容して加熱処理を施す加熱炉１２と、前記ワーク２０にＸ線を照射してハンダ付けの状態を検査するＸ線検査ユニット１３とを備えた加熱型Ｘ線観察装置において、前記Ｘ線検査ユニット１３は、加熱処理中の加熱炉１２内に突出し、先端部のＸ線ターゲット部４０が前記ワーク２０の検査部位に近接した位置でＸ線を照射するＸ線照射管３０を備えた。 （もっと読む）

スタンドオフによって生ずる光電効果および密度変動に起因した相互作用を同時に補償するパルス・ガンマ−ガンマ・密度ツールのための方法は、より正確なバルク地層密度測定を可能にする。該方法は、エネルギー粒子の線源を設けて、これらのエネルギー粒子を既知の光電係数および電子密度を有する地層に向けるステップと、前記地層から放出または偏向された１つ又はそれ以上のフォトンを、第１検出器または第２検出器を用いて捕捉するステップとを含む。第１検出器は、線源から第１距離だけ離れており、第２検出器は、検出器から第２距離だけ離れており、第３距離は、第１検出器を第２検出器から分離している。ある時間間隔で、第１検出器に衝突するフォトンの第１合計エネルギーを測定し、該時間間隔の関数として、第２検出器に衝突するフォトンの第２合計エネルギーを測定し、スタンドオフ効果と整合するＰｅ応答を生じさせるのに有効な第１フィルタを第１検出器と地層との間に配置し、これにより両方の効果を同時に補償する。
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【課題】簡単な操作によって被検査物に対するＸ線の照射角度を変更して容易にその照射角度を最適化し、さらに、装置サイズをコンパクトに維持する。
【解決手段】搬送面上の被検査物Ｗを所定の搬送方向Ｙに搬送する搬送手段５と、搬送面上を搬送される被検査物Ｗに向けてＸ線を照射するＸ線発生器１８と、搬送面を挟んでＸ線発生器１８と対向配置され、被検査物Ｗを透過してくるＸ線をＸ線検出面に受けるＸ線検出器１９と、を備えるＸ線異物検出装置１において、搬送手段５が、搬送面を形成する搬送コンベア６を備えるとともに搬送面のＸ線検出面に対する角度が変更自在となるように傾斜可能に設けられ、且つ傾斜時に被検査物Ｗの側面を支持しながら被検査物Ｗの搬送をガイドするガイドコンベア１２を備える。 （もっと読む）

【課題】有機材料中の個々の結晶粒の分布状態を詳細に解析する。
【解決手段】始めに、樹脂材料１の表面上に結晶粒を分散させた有機材料２を蒸着法やスピンコート法等を用いて成膜する。次に、樹脂材料３により有機材料２表面を包埋する。次に、試料を厚みが３０ｎｍ以上１００ｎｍ以下の範囲内になるまで薄片化する。次に目的とする観察部位Ａの近傍領域Ｂにおいて透過電子顕微鏡を用いた観察のための試料高さ調整，電圧軸調整，非点収差補正調整，及びフォーカス調整を行った後、目的とする観察部位Ａを光軸中心に移動してフォーカス調整を行うことにより、透過電子顕微鏡を用いて薄片化された結晶粒分散有機材料を観察し、結晶粒分散有機材料中の結晶粒の分布状態や原子配列構造を解析する。 （もっと読む）

カニューレを有するシリンジ・キャップ（３）を検査するためのＸ線装置であって、Ｘ線源（５）と、Ｘ線検出器（９）と、シリンジ・キャップ（３）をビーム路（１３）で検査個所（１５）に保持する保持装置と、を具備するＸ線装置が提案される。このＸ線装置は、シリンジ・キャップの縦軸（１７）が、ビーム路（１３）の縦軸（１９）と一致するように、シリンジ・キャップ（３）が、ビーム路（１３）に設けられていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】駆動部位の微小摩耗量を継続的に測定する。
【解決手段】駆動部位を成して互いに相対移動する２つのスラストプレート１６、１７のうち、摩耗量を測定したい方のスラストプレート１６を放射化し、放射化されたスラストプレート１６の経時的な平均位置の変化が少ない方向Ｖから、放射線を検出可能に配置された検出器２０によって、駆動部位を駆動させながら、放射化されたスラストプレート１６から発せられる放射線を所定時間検出することにより、駆動部位の摩耗量を測定する。
これによれば、駆動部位を駆動させながら所定時間放射線を検出することで、放射化されたスラストプレート１６と検出器２０との経時的な平均位置変化による検出値のばらつきによる誤差を抑えて、駆動部位の微小摩耗量を継続的に測定することができる。 （もっと読む）

【課題】特定の形状をした異物を欠陥と明確に区別しながら、正確に異物を検出することが望まれていた。
【解決手段】検査対象に対して照射した放射線によって前記検査対象の透過画像を取得し、前記透過画像に基づいて予め定義された非対称な形状の異物に対応した特徴量を取得し、前記特徴量に基づいて前記検査対象の良否を判定する。 （もっと読む）

【課題】
本発明は、半導体パターンやコンタクトホールの変形や側壁の傾斜のできばえを判定することができる走査型電子顕微鏡を提供することを目的とする。
【解決手段】
半導体ウェーハ上に形成された回路パターンの画像をあらかじめ設定された条件で撮像する撮像手段、該撮像手段で撮像された画像と予め記憶された基準画像とを比較して撮像された画像の特徴量を算出する算出手段，該算出手段で算出された特徴量に基づいて、半導体ウェーハのできばえ評価を実行するコンピュータを備え、特徴量の算出は、２次電子画像，反射電子画像に関して独立に行われる。 （もっと読む）

【課題】架空送電線の腐食の程度を定量的に測定して評価（寿命予測）できる架空送電線の腐食測定方法、余寿命測定方法、ならびに腐食測定および余寿命測定装置を提供する。
【解決手段】架空送電線にＸ線を照射して得られたＸ線撮影データをディジタルデータ記録装置に記録し、前記Ｘ線撮影データに、異常箇所の性質に応じて前記Ｘ線撮影データが示す傾向に着目したクラスタ分類を施すとともに、前記架空送電線の長手方向に対して垂直方向の上下クラスタ値差の算出を含む処理をして腐食の程度を測定する架空送電線の腐食測定方法。上下クラスタ値差を複数のクラスに分類し、各クラスの相対頻度を入力値とするニューラルネットワークを構築する。 （もっと読む）