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Fターム[2G059JJ01]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学要素 (16,491) | 分光手段 (3,803)

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【課題】本発明は、取り扱いやすい標準ガスを用いて容易に校正を行なうことが可能で、かつ分析計を劣化させることなく、間接的に水素化物ガスの濃度を測定可能なガス測定装置、及び水素化物ガスの測定方法を提供することを課題とする。
【解決手段】ガスを分析する分析計12と、分析計12の前段に配置されると共に、分析計12と接続され、かつ水素化物ガスと反応することで水素化物が含まれていないガスを発生させる置換剤を有する反応管25と、を含む。 (もっと読む)


【課題】気泡による異常データを排除して分子間相互作用の測定において、測定結果の信頼性を向上する。
【解決手段】薄膜上における複数物質間の分子間相互作用を光学的に測定するにあたり、複数の導光手段(バンドルファイバ42a,42,b42c,42d)を用いて、測定対象の生化学物質を含むサンプル溶液を薄膜上に流通させる流路14bにおいて、互いに位置の異なる複数の検出対象領域15a,15b,15c,15dを設け、複数の導光手段に基づき検出した複数の情報について、演算手段がこれら複数の情報間の相対性に基づき、各情報の異常の有無を判断し、前記複数の情報及び前記異常の有無の判断結果に基づき、測定の実行結果を算出する。演算手段は、その相対性判断として平均値に対する一の情報の乖離度合いや、一の情報と検出対象領域が隣接する他の一の情報との比較などを行い、異常有と判断した情報以外の情報について測定結果を算出する。 (もっと読む)


【課題】 走行している長尺の光学異方性膜が所望の光学特性が得られているか否かの判定をインラインでの測定で可能にする評価方法、かかる評価方法を可能にする測定装置、および該評価結果を用いて所望の光学特性を有する光学異方性膜を製造する方法を提供する。
【課題手段】 光学異方性膜に対し垂直方向、面内遅相軸方向に対し方位角−5°〜+5°かつ極角θ(ただし、30°≦θ≦70°である)の方向、および面内遅相軸方向に対し方位角θ(ただし、30°≦θ≦60°である)かつ極角θ(ただし、30°≦θ≦70°である)の方向に光を照射してそれぞれの透過偏光状態の変化を測定する工程、およびその測定値と、所望の光学特性を有する光学異方性膜について同様の測定を行って得られる透過偏光状態の変化とを対比する工程、を有する光学異方性膜の評価方法。 (もっと読む)


【課題】OCT装置により撮像される断層画像から被検眼の曲率を正確に計測する。
【解決手段】本発明は、測定光を被検眼に照射して得られる戻り光と参照光とを合波して得られる合波光より断層画像を得る画像撮像方法に関し、被検眼と対物レンズとの距離を計測する第1の工程、被検眼の断層画像を取得する第2の工程、断層画像における曲率を計算する領域を設定する第3の工程、及び計測した距離を用いて設定した領域の曲率を計算する第4の工程、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 細胞を損傷することなく、単一細胞の生死を複数同時に生死判定する方法及び装置。
【解決手段】 底面と上面とが対向する透明電極で構成されたセル中の非球体細胞懸濁液に、初期周波数を印加する工程と、周波数を、判定周波数まで上昇させる工程と、前記判定周波数における非球体細胞の生死を判定する工程とを含む非球体細胞の生死活性判定方法、及びこれに用いる非球体細胞の生死活性判定装置1であって、セル2と、交流発振器3と、観察装置4と、画像表示装置5と、画像処理装置6とを備える装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】センサー装置表面への生体分子の固定化を強化する表面改質方法の提供。
【解決手段】以下の工程を含むセンサー装置の表面改質方法。複数のカルボキシル基を有する表面改質層をイソプロピルアルコールプラズマによってセンサー装置の金属フィルム上に形成すること;及びポリアクリル酸層のアクリル酸が表面改質層のカルボキシル基にグラフトされているポリアクリル酸層を、表面改質層上に形成すること。表面改質されたセンサー装置も開示される。 (もっと読む)


【課題】Asイオン吸着素子を用いて、水中のAsイオン濃度を短時間に検出する方法、及び水中のAsを除去する方法を提供する。
【解決手段】ナノ構造物からなる担体にAsイオン吸着素子を担持させて、Asイオンが吸着すると光学特性が変化するレセプターを用いて、Asイオンを検出、及び除去する。 (もっと読む)


【課題】レンズを用いた光学系において比色測定や比濁測定の測定性能を向上させる分析装置を提供する。
【解決手段】実施形態に記載の分析装置は、反応管内の混合液に対して、光源からの光を照射する照射光学部を有する。また検出光学部は、混合液を透過した光を検出する。また照射光学部は、前側焦点位置に光源が配置され、光源からの光を集光する第1光学素子を有する。また第2光学素子は、第1光学素子を通過した光を反応管に導く。また入射開口数調整部材は、第1光学素子の後側に設けられ、光源からの光を反応管に入射させる際の開口数を調整する。 (もっと読む)


【課題】波長依存性の少ないリターダーシステムを提供する。
【解決手段】入射電磁ビームが2つの平行四辺形状の菱面体のそれぞれにおいて少なくとも1回は内部全反射するように互いに向きを定めて置かれ、それらの第1の面RS1と第3の面RS3、及び第2面のRS2と第4面のRS4がそれぞれ実質的に平行となるように向きを定めて置かれている。それらの一方の菱面体の第1の面に、その面に対して実質的に垂直に入射するようにされた電磁放射線のビームは、このビームが、一方の菱面体の第4の面RS4及び第2の面RS2で内部反射され、続いて、一方の菱面体の第3の面から出射するように進み、このビームの出射方向は、このビームがもう一方の菱面体の第1の面に、この面に対して実質的に垂直に入射し、続いて、このビームが平行四辺形状の菱面体の第2の面及び第4の面で内部反射されて、もう一方の菱面体の第3の面から出射する。 (もっと読む)


【課題】基板に形成された凹部の深さを、加工方法の制約を受けず、かつ、任意の時間に、非破壊、非接触で測定する技術を提供する。
【解決手段】基板9に形成された貫通ビア9H(凹部)の深度を検査する基板検査装置100であって、基板9に向けて電磁波パルスを照射する電磁波パルス照射部13と、電磁波パルスを検出する電磁波パルス検出部15とを備える。また、基板検査装置100は、貫通ビア9Hが形成されているビア形成領域92Rを透過した電磁波パルスの時間波形と、ビア形成領域92Rとは異なる参照領域を透過した電磁波パルスの時間波形とを比較して、その位相差を取得する位相差取得部25と、前記位相差に基づいて、前記ビア形成領域に形成された貫通ビアの深度を取得するビア深度取得部27とを備える。 (もっと読む)


【課題】局所的な領域における圧力あるいは温度の測定を可能にするための装置および方法を提供する。
【解決手段】圧力検出装置100は、光源101と、基板20に固定された金属ナノ粒子集積構造体10と、分光器105と、演算部106とを備える。金属ナノ粒子集積構造体10は、マイクロオーダーのサイズを有するビーズと、そのビーズの表面に固定化された金属ナノ粒子とを含む。圧力によるビーズの変形により、金属ナノ粒子の局在表面プラズモン共鳴による消衰スペクトルのピーク波長が変化する。これを利用して圧力を検出できる。同様に、温度によるビーズの変形により、局在表面プラズモン共鳴による消衰スペクトルのピーク波長が変化するので、これを利用して温度を検出できる。 (もっと読む)


【課題】回折格子の形状特徴物などの小寸法の形状特徴物のプロフィールを見出すためのシステムを提供する。
【解決手段】シード・プロフィールのギャラリが作られ、半導体装置についての製造プロセス情報を用いて該プロフィールに関連する初期パラメータ値が選択される。回折構造および関連するフィルムを測定するとき、反射率Rs,Rpなどのいろいろな放射パラメータおよび楕円偏光パラメータを使用することができる。放射パラメータのうちのあるものは、該プロフィールまたは該フィルムのパラメータ値の変化に対してより敏感な1つ以上の放射パラメータを選択してより精密な測定に到達することができる。プロフィール・パラメータのエラーを補正するために上述した手法をトラック/ステッパおよびエッチャに供給してリソグラフィおよびエッチングのプロセスを制御することができる。 (もっと読む)


【課題】
200g/Nm以上の高濃度オゾンガス濃度を測定する場合、従来の紫外線吸光式オゾン濃度計でオゾン吸光のための紫外線光路長を非常に短くする必要があったため、オゾンガスを流すための圧力損失が大きく、また、オゾンが紫外線により光解離し濃度低下が生じる恐れがあった。
【解決手段】
可視光光源、特に、波長550〜630nmnm付近の光を用いると、200g/Nm以上の高濃度オゾンガス濃度も、広い空間でオゾンガスを流通させたり滞留させて計測でき、かつ、オゾン分解を生ずることなく、精度良くオゾンガス濃度を計測できる。 (もっと読む)


【課題】試料の全反射光のみならず、拡散反射光や反射ヘイズ率などの反射特性を個別に測定(算出)可能にし、この特徴を活かして試料の膜厚を算出する。
【解決手段】全反射光を積分球2により集光させる第1反射光測定光学系3と、拡散反射光を前記積分球2により集光させる第2反射光測定光学系3と、積分球2により集光された光を検出する検出光学系7とを備え、第1反射光測定光学系3及び検出光学系7により得られた全反射光と第2反射光測定光学系3及び検出光学系7により得られた拡散反射光から反射ヘイズ率を算出するとともに、全反射光から試料の膜厚を算出する。 (もっと読む)


【課題】JIS Z 8717による蛍光試料の分光放射輝度率の推定方法によれば、特定の観察光源下における測定時であっても、用意されたN個の測定光源の全てについて測定を行うため、処理時間が長くなってしまう。
【解決手段】色処理装置が備える複数の測定光源のうち、その分光放射輝度を合成することで観察光源の分光放射輝度を近似する組み合わせを決定する(S2)。該組み合わとして選択された測定光源ごとに試料を照射し(S5)、その際の試料の分光放射輝度を取得する(S6)。そして測定光源ごとに試料の分光放射輝度率を算出し、その重み付け線形和として、観察光源下における試料の分光放射輝度率を算出する(S8)。このように、色処理装置が備える複数の測定光源を選択的に用いることで、観察光源下の分光放射輝度率を取得する際の処理時間が短縮される。 (もっと読む)


【課題】分光分析方法及び装置において、液体試料の光物性と質量とを簡易に計測する。
【解決手段】液体試料を吸着していない吸着材に、第1の波長範囲の第1の電磁波を照射して、前記吸着材を透過又は反射する第2の電磁波を検出する工程と、液体試料を吸着材に吸着させる工程と、液体試料を吸着した吸着材に、第1の波長範囲の第3の電磁波を照射し、前記吸着材を透過又は反射する第4の電磁波を検出する工程と、第4の電磁波の第2の電磁波からの変化に基づいて、液体試料の光物性情報を取得する工程と、液体試料を吸着した吸着材に、第2の波長範囲の第5の電磁波を照射すると共に、前記吸着材を透過した第6の電磁波を検出し、第5の電磁波と第6の電磁波とに基づいて前記吸着材の光透過率を測定する工程と、前記光透過率に基づいて液体試料の質量情報を取得する工程とを有し、前記各電磁波を照射する工程は、同一の分光分析装置内で行う。 (もっと読む)


【課題】磁気光学効果として観測される信号の絶対値を校正すると共に効率よく測定する。
【解決手段】磁気光学スペクトル分光装置1は、偏光面の角度φ,φが調整可能な回転機構付き直線偏光板4,7と、回転偏光子法を用いた各直線偏光板4,7における偏光面の角度別のそれぞれの測定値41に基づいてカー回転角の絶対値43をそれぞれ算出する第1算出手段51と、カー回転角の絶対値43と第1直線偏光板4における偏光面である入射光偏光面の角度φ1との相関の有無を判別する相関判別手段52と、相関が無いと判定された場合、偏光変調法を用いた測定値42に基づいて試料のカー回転角のスペクトル44を算出する第2算出手段53と、スペクトル44におけるカー回転角の値をカー回転角の絶対値43に適合させる乗算を行い、校正されたスペクトルを当該試料の磁気光学特性のスペクトル45として算出する第3算出手段54とを備える。 (もっと読む)


【課題】青果物が載置パンから落下した場合であっても、青果物が投光用開口部若しくは受光用開口部に落下するのを防止することができる青果物品質判定装置を提供する。
【解決手段】青果物1を搬送する搬送装置2と、搬送装置2の中途部に設けた青果物1の内部を測定する内部測定装置3と、を備える青果物品質判定装置100であって、搬送装置2は、青果物1を載置する載置パン10を有し、内部測定装置3は、青果物1に光を照射する投光手段53と、青果物1からの光を受光して分光し、その分光された光を計測する受光手段54と、外部からの光を遮断するカーテン65と、を有し、搬送装置2の下方に投光手段53若しくは受光手段54を設け、搬送装置2の搬送面に開口部15を設け、開口部15は、投光手段53若しくは受光手段54よりも上流側に設けた。 (もっと読む)


【課題】 試料の量子収率を正確にかつ効率良く測定することができる量子収率測定装置を提供する。
【解決手段】 量子収率測定装置1Aは、試料セル2の試料収容部3が内部に配置される暗箱5と、励起光L1を発生させる光発生部6と、被測定光L2を検出する光検出部9と、暗箱5内に配置された積分球14と、暗箱5内において積分球14を移動させる移動機構30と、を備える。光発生部6は、暗箱5に接続された光出射部7を有し、光検出部9は、暗箱5に接続された光入射部11を有する。積分球14は、励起光L1を入射させる光入射開口15、及び被測定光L2を出射させる光出射開口16を有する。移動機構30は、試料収容部3が積分球14内に位置する第1の状態、及び試料収容部3が積分球14外に位置する第2の状態の各状態となるように、試料収容部3、光出射部7及び光入射部11を移動させる。 (もっと読む)


【課題】フィルムの表面と裏面から反射した光の分光スペクトルによるパワースペクトルのピークからこのフィルムの膜厚を測定する膜厚測定装置は、フィルムの膜厚が厚いと測定ができなくなり、また複屈折性を有するフィルムはピークが双峰性を有するので、誤差が大きくなる。本発明は、膜厚が厚くかつ複屈折性を有するフィルムでも正確な測定ができる膜厚測定方法および装置を提供することを目的にする。
【解決手段】フィルムに偏光した光を照射し、フィルムを透過した光からリタデーションを演算し、このリタデーションとフィルムの屈折率差から膜厚を演算する。膜厚が厚く、かつ複屈折性を有するフィルムの膜厚を正確に測定できる。 (もっと読む)


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