説明

Fターム[5J055FX05]の内容

Fターム[5J055FX05]に分類される特許

41 - 60 / 1,457


【課題】高い周波数の差動信号をシングルエンドの信号に変換可能な信号変換回路、当該信号変換回路を備えたアイソレータ回路及び信号変換方法を提供すること
【解決手段】本発明にかかる信号変換回路10は、差動信号である信号D1及び信号D2が入力されるヒステリシスコンパレータ1、2及び変換バッファ3を備える。ヒステリシスコンパレータ1は、信号D1の電位V1と信号D2の電位V2との大小の比較結果を信号E1として出力する。ヒステリシスコンパレータ2は、電位V1と電位V2との大小を比較し、当該比較結果を信号E1の反転信号である信号E2として出力する。変換バッファ3は、信号E1及び信号E2をシングルエンド信号Fに変換する。 (もっと読む)


【課題】スイッチング素子の個数を減らし、スイッチング素子を送受信時共有して、RFアンテナスイッチのサイズを減らすと共に、小型化及びワンチップ化にさらに応じるRFアンテナスイッチ回路、高周波アンテナ部品及び移動通信機器を提供する。
【解決手段】アンテナ1と、少なくとも一つの送信段2及び少なくとも一つの受信段3を備える複数の入出力段と、少なくとも一つの送信段2とアンテナ1側の共通ノード4、5との間の送信経路上に配置され、制御信号によって信号を伝達する少なくとも一つの送信スイッチブロック10と、受信段3と共通ノード4、5との間の受信経路上に配置され、制御信号によって伝達する少なくとも一つの受信スイッチブロック30、30a、30bと、スイッチング素子を共有して各々の送信及び受信動作と同期してオン動作する共用送受信スイッチブロック50とを含む。 (もっと読む)


【課題】より簡単な構成で、出力トランジスタを確実にオフ状態に維持できるトランジスタ駆動回路を提供する。
【解決手段】NチャネルMOSFET5とコイル2との共通接続点;出力端子OUTとグランドとの間にフライホイールダイオード3を接続する。FET5のゲートには、NPNトランジスタ6及びPNPトランジスタ7のプッシュプル回路により制御信号を出力し、トランジスタ7のベースとグランドとの間にNPNトランジスタ11を接続し、トランジスタ11のベースとグランドとの間にNチャネルMOSFET14を接続して、FET14にPWM信号を入力する。ダイオード13は、FET14がオフ状態になるとトランジスタ11のベースにベース電流を供給し、ダイオード15をダイオード13のアノードとトランジスタ6及び7のベースとの間に接続する。NPNトランジスタ22をFET5のゲートと出力端子との間に接続し、トランジスタ22をPWM信号に応じてFET5がオフする際にオンさせる。 (もっと読む)


【課題】アクティブクランプ動作期間を短縮するとともにESD耐量を向上させたアクティブクランプ回路を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、第1のスイッチ素子と、第1のダイオードと、第1の抵抗と、第1および第2の制御回路と、を備えたことを特徴とするアクティブクランプ回路が提供される。前記第1のダイオードは、前記第1のスイッチ素子の両端にかかる過電圧によりブレークダウンする。前記第1の抵抗は、前記第1のダイオードの電流を検出する。前記第1の制御回路は、前記第1の抵抗の両端の電圧を増幅して前記第1のスイッチ素子の電流を制御する。前記第2の制御回路は、前記第1の抵抗の両端の電圧に応じて前記第1のスイッチ素子の導通を制御する。 (もっと読む)


【課題】高いESD保護耐圧を確保しつつ、ESD保護素子の静電容量を極力小さくし、しかも、集積化の際における占有サイズを小さくする。
【解決手段】ESD保護回路103は、共通端子41とグランドとの間に設けられており、共通端子41側から順に、ESD保護スイッチ素子としての複数の直列接続された電界効果トランジスタ31−1〜31−4と、逆接続された一組のESD保護素子としてのダイオード32−1,32−2が直列接続されると共に、電界効果トランジスタ31−1〜31−4は、ゲートが相互に接続されてグランドに接続されており、ESD保護素子のダイオード32−1,32−2による静電容量を低減し、高いESD保護耐圧の確保が可能となっている。 (もっと読む)


【課題】体格及びコストの増大が抑制された半導体装置を提供する。
【解決手段】直流電源とグランドとの間に直列接続された2つの単位回路と、単位回路を制御する制御部と、を備え、2つの単位回路の中点に誘導性負荷が接続された半導体装置であって、2つの単位回路それぞれは、第1スイッチ素子と、第1スイッチ素子と逆並列接続された還流ダイオードと、還流ダイオードと第1スイッチ素子それぞれと並列接続されたバイパス部と、を有し、バイパス部は、直列接続された第2スイッチ素子及び抵抗を有し、制御部は、2つの単位回路の第1スイッチ素子をOFF状態にするデッド期間を挟んで、2つの第1スイッチ素子を交互にON状態とし、デッド期間において、一方の第1スイッチ素子がOFF状態からON状態に移行するまで、一方の第1スイッチ素子と並列接続された第2スイッチ素子をON状態にする。 (もっと読む)


【課題】ノイズを低減することができるインターフェース回路を提供することを課題とする。
【解決手段】インターフェース回路は、電源電圧端子が第1の電源電圧ノードに接続され、入力信号を増幅する第1のバッファ(111)と、第2の電源電圧ノード及び前記第1のバッファの電源電圧端子間に接続されるスイッチ(124)と、前記第1のバッファの入力信号がローレベルからハイレベルに立ち上がると、遅延時間経過後に前記スイッチをオフからオンに切り換える第1の制御回路(127)とを有する。 (もっと読む)


【課題】オン指令期間とオフ指令期間の両期間における電流を高精度に検出する。
【解決手段】制御装置13は、PWM駆動信号のオン指令期間において、電流検出回路14による検出電流と電源電圧検出回路15による検出電源電圧を電圧方程式に適用してオン期間電流経路の抵抗値とインダクタンス値を算出する。これらの値から還流経路12以外の経路の抵抗値とインダクタンス値を減算してオフ期間電流経路の抵抗値とインダクタンス値を求める。オフ指令期間において、オフ期間電流経路の抵抗値Rとインダクタンス値L、ダイオード7の順電圧Vfおよび前回の計算で求めた前回電流値を電圧方程式に適用し、リニアソレノイド2に流れる負荷電流を順次算出する。 (もっと読む)


【課題】複雑な作製工程を必要とせず、消費電力を抑えることができる信号処理回路の提供する。
【解決手段】入力された信号の位相を反転させて出力する論理素子を2つ(第1の位相反転素子及び第2の位相反転素子)と、第1の選択トランジスタと、第2の選択トランジスタと、を有する記憶素子であって、酸化物半導体層にチャネルが形成されるトランジスタと容量素子との組を2つ(第1のトランジスタと第1の容量素子との組、及び第2のトランジスタと第2の容量素子との組)有する。そして、信号処理回路が有する記憶装置に上記記憶素子を用いる。例えば、信号処理回路が有するレジスタ、キャッシュメモリ等の記憶装置に上記記憶素子を用いる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の制御に好適な制御信号発生回路を提供する。
【解決手段】ジョンソンカウンタ31は、フリップフロップFF1〜FF4およびゲート回路41〜44を含み、順次入力されるスタート信号ST1〜ST4に応答してそれぞれ制御信号C1〜C4を「H」レベルにした後、順次入力されるストップ信号SP1〜SP4に応答してそれぞれ制御信号C1〜C4を「L」レベルにする。したがって、多数のフリップフロップを用いることなく、所望の時間間隔で制御信号C1〜C4を順次「H」レベルにし、順次「L」レベルにすることができる。 (もっと読む)


【課題】半導体を用いた半導体装置として、論理回路がある。論理回路にはダイナミック論理回路とスタティック論理回路とがあり、トランジスタ等を用いて構成される。ダイナミック論理回路は情報を一定期間保持することができる。そのため、ダイナミック論理回路は、スタティック論理回路と比較して、トランジスタからのリーク電流が問題となる。
【解決手段】論理回路は、オフ電流が小さい第1のトランジスタと、ゲートが電気的に接続された第2のトランジスタと、を有し、第2のトランジスタのゲートのノードには第1のトランジスタを介して電荷が供給される。ノードに対して、複数の容量を介して電荷を供給する。電荷の状態に応じて、第2のトランジスタのオン、オフが制御される。第1のトランジスタは、チャネル形成領域に酸化物半導体を有する。 (もっと読む)


【課題】半導体を用いた半導体装置として、論理回路がある。論理回路にはダイナミック論理回路とスタティック論理回路とがあり、トランジスタ等を用いて構成される。ダイナミック論理回路は情報を一定期間保持することができる。そのため、ダイナミック論理回路は、スタティック論理回路と比較して、トランジスタからのリーク電流が問題となる。
【解決手段】論理回路は、オフ電流が小さい第1のトランジスタと、ゲートが電気的に接続された第2のトランジスタと、を有し、第2のトランジスタのゲートのノードには第1のトランジスタを介して電荷が供給される。ノードに対して、第1及び第2の容量を介して電荷を供給する。電荷の状態に応じて、第2のトランジスタのオン、オフが制御される。第1のトランジスタは、チャネル形成領域に酸化物半導体を有する。 (もっと読む)


【課題】ベース電流による電力損失を低減するドライブ回路を提供する。
【解決手段】BJT21のベース端子にベース電流を供給するドライブ回路1は、BJT21のベース電流を生成するベース回路部30と、制御端子に供給される制御電圧に基づき、ベース電流を生成するための駆動電圧をベース回路部30に供給するドライブ部10と、BJT21のベース端子とBJT21のエミッタ端子との間に発生する第1のベース−エミッタ間電圧Vbeを検出し、検出した第1のベース−エミッタ間電圧Vbeに応じたベース電流をBJT21に供給するように制御電圧を制御して、ドライブ部10に供給するベース電流制御部50とを備える。 (もっと読む)


【課題】新たな構成の不揮発性の記憶回路を提供する。
【解決手段】第1の記憶回路と、第2の記憶回路と、第1のスイッチと、第2のスイッチと、位相反転回路と、を有し、第1の記憶回路は、酸化物半導体膜により形成された第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、第3のトランジスタと、容量素子と、を有する。酸化物半導体膜により形成された第1のトランジスタと、容量素子と、を用い不揮発性の記憶回路を構成する。また、記憶回路に接続する電源線、及び信号線を少なくし、当該記憶回路に用いるトランジスタ数を減少させることで、回路規模の小さい不揮発性の記憶回路を実現することができる。 (もっと読む)


【課題】信号処理回路に対する電源電圧の供給及び遮断を選択することができるスイッチとして機能する回路(電源供給制御回路)として好ましい回路を提供する。
【解決手段】信号処理回路に対する電源電位の供給を担う第1の配線と、電源電位を供給する第2の配線との電気的な接続を制御するトランジスタ、及び、信号処理回路に対する電源電位の供給を担う第1の配線を接地させるか否かを制御するトランジスタとを設け、当該2つのトランジスタの少なくとも一方として、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタを適用する。これにより、2つのトランジスタの少なくとも一のカットオフ電流に起因する消費電力を低減することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】回路を構成するトランジスタ数を少なくし、且つレベルシフタを配置することな
くシフトレジスタとして正確に動作を行う半導体回路の提供することを課題とする。
【解決手段】第1端子が高電位電源に接続されたpチャネル型トランジスタと、第1端子
が低電位電源に接続されたnチャネル型トランジスタと、を含む回路群と、インバータ回
路と、をm段(mは任意の正の整数であり、m≧3)有し、第2n−1段目(nは任意の
整数であり、m≧2n≧2)の回路群の前記nチャネル型トランジスタのゲートにはクロ
ック信号が入力され、第2n段目(nは任意の整数であり、m≧2n≧2)の回路群の前
記nチャネル型トランジスタのゲートには反転クロック信号が入力される。 (もっと読む)


【課題】より簡単な構成で波形歪みのエネルギーを消費させ、リンギングを確実に抑制できるリンギング抑制回路を提供する。
【解決手段】一対の信号線3P,3N間に、NチャネルMOSFET7を接続し、制御回路14は、伝送線路3を介して伝送される差動信号のレベルがハイからローに変化したことを検出すると、NチャネルMOSFET7を一定期間オンさせる。すなわち、差動信号のレベルが遷移する期間にNチャネルMOSFET7が導通することで信号線3P,3N間のインピーダンスを大きく低下させ、差動信号波形の歪みエネルギーを吸収させてリンギングの発生を確実に抑制する。 (もっと読む)


【課題】大電流を制御可能なスイッチング回路において、部品点数を少なくしたコンパクトな構成にて、スイッチング損失を低減するとともにサージ電圧を抑制することができるスイッチング回路を提供する。
【解決手段】高電圧ラインL1と低電圧ラインL2との間においてMOSFET30,31,32,33が並列接続され、ゲート抵抗50,51,52,53の第1の端子がMOSFET30〜33のゲート電極に接続されている。MOSFET30,31,32,33毎に設けられたゲート抵抗50,51,52,53の第2の端子がゲート電圧印加ラインL3を介してパルス発生回路60と接続されている。パルス発生回路60により、ゲート抵抗50〜53を介してMOSFET30〜33のゲート電極にパルス状のゲート電圧が印加される。ゲート電圧印加ラインL3と高電圧ラインL1との間の1箇所にコンデンサ70が接続されている。 (もっと読む)


【課題】耐圧の向上が図られる半導体装置を提供する。
【解決手段】n-型半導体領域には、ドレイン領域となるn-型の拡散領域が形成されている。n-型の拡散領域の周囲を取囲むようにp型の拡散領域が形成されている。p型の拡散領域には、ソース領域となるn+型の拡散領域が形成されている。n-型の拡散領域の直下には、p-型の埋め込み層13が形成されている。n-型の半導体領域の領域には、高電位が印加されるn+型の拡散領域が形成され、そのn+型の拡散領域の表面上には電極が形成されている。電極とドレイン電極とは、配線20によって電気的に接続されている。配線20の直下に位置する部分に、p-埋め込み層13に達するトレンチ3aが形成されて、ポリシリコン膜81が形成されている。 (もっと読む)


【課題】スイッチング素子の発熱を抑制した過電圧抑制ゲート制御を確実、容易にし、さらにスイッチング素子を複数直列接続した半導体スイッチ回路における発振防止と分担電圧のバランス制御を確実、容易にする。
【解決手段】ゲートドライブ回路2によるゲート抵抗Aを通したIGBT1の主ゲート電流とは独立して、電圧補償ゲート制御回路3〜6はIGBT1のコレクタ・エミッタ間電圧Vceがしきい値を超えたときにゲート抵抗Bを通して電圧補償ゲート電流を注入し、電圧Vceがしきい値を下回ったときに電圧補償ゲート電流の注入をオフする。
ゲート抵抗Aの抵抗値に対してゲート抵抗Bの抵抗値を小さくする。電圧補償ゲート電流を注入した後にこのゲート電流の注入量とほぼ同じ電荷量分をIGBT1からゲート電流として引き抜く。 (もっと読む)


41 - 60 / 1,457