分析装置
【課題】分析処理に使用する容器の測光領域以外の領域についても汚れを検出できる分析装置を提供すること。
【解決手段】この発明にかかる分析装置１は、反応容器２１の汚れを検出するために、検出用光源１２１と検出用測光部１２２とを同期させて昇降することによって、反応容器２１側面に対し分析処理時における測光領域とともに測光領域以外の領域に対しても光を照射することができ、さらに反応容器２１の各領域の所定の光学的測定をそれぞれ測定することができる。そして、分析装置１は、検出用測光部１２２によって測定された反応容器２１の各領域における測定結果をもとに汚れの程度を検出するため、分析処理に使用する容器の測光領域以外の領域についても汚れを検出することが可能になる。
【解決手段】この発明にかかる分析装置１は、反応容器２１の汚れを検出するために、検出用光源１２１と検出用測光部１２２とを同期させて昇降することによって、反応容器２１側面に対し分析処理時における測光領域とともに測光領域以外の領域に対しても光を照射することができ、さらに反応容器２１の各領域の所定の光学的測定をそれぞれ測定することができる。そして、分析装置１は、検出用測光部１２２によって測定された反応容器２１の各領域における測定結果をもとに汚れの程度を検出するため、分析処理に使用する容器の測光領域以外の領域についても汚れを検出することが可能になる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、容器に保持された液体検体を分析する分析装置であって使用する容器の汚れを検出する分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、血液や体液等の検体を自動的に分析する装置として、試薬が分注された反応容器に検体を加え、反応容器内の試薬と検体の間で生じた反応を光学的に検出する分析装置が知られている。このような分析装置においては、光学的測定が終了した反応容器内の混合液を吸引して排出するとともに、洗剤や洗浄水等の洗浄液を注入および吸引することで洗浄を行ない、反応容器を繰り返し利用している。そして、このような分析装置においては、反応容器に蒸留水を注入し吸光度測定を行なうことによって洗浄後の容器の清浄度を確認した上で、反応容器を再利用していた（特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開平５−１６４７６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の分析装置においては、汚れ検出時においても分析処理時に測光される測光領域１点でしか汚れ検出のための吸光度測定を行なっておらず、測光領域以外の領域の汚れまでは検出していなかった。特に近年において要求される分析精度の向上化を実現するためには、洗浄処理後の容器における測光領域以外の領域についても汚れを検出して、洗浄処理後の容器に残存する汚れをさらに厳密に検出することが望ましい。
【０００５】
本発明は、上記した従来技術の欠点に鑑みてなされたものであり、分析処理に使用する容器の測光領域以外の領域における汚れを検出できる分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、この発明にかかる分析装置は、容器に保持された液体検体を分析する分析装置において、前記液体検体を保持する容器に光を照射する分析用光源および、前記分析用光源から照射された光のうち前記容器を透過した光を受光する分析用受光手段を備えた分析用測光手段と、前記分析用光源による光が照射される領域である測光領域以外の領域に対して光を照射する検出用光源および、前記測光領域以外の領域における前記容器の光学特性を測定する検出用測光手段を備えた汚れ用測定手段と、前記検出用測光手段の測定結果をもとに前記容器の汚れの程度を検出する汚れ検出手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００７】
また、この発明にかかる分析装置は、前記汚れ用測定手段は、前記検出用光源から照射される光の光束と前記容器とを相対的に移動させる光路移動手段を有することを特徴とする。
【０００８】
また、この発明にかかる分析装置は、前記光路移動手段は、前記検出用光源から照射される光の光束が前記容器の側面に対して上下に移動するように前記検出用光源を昇降させる光源側昇降手段と、前記光源側昇降手段の昇降動作に同期させて前記検出用測光手段を昇降させる測光側昇降手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
また、この発明にかかる分析装置は、前記光路移動手段は、汚れ検出時に前記検出用光源から照射される光の光束を前記測光領域以外の領域に誘導する光源側誘導機構と、汚れ検出時に前記検出用光源から照射された光のうち前記測光領域以外の領域を透過した光を前記検出用測光手段に誘導する測光側誘導機構と、を備えたことを特徴とする。
【００１０】
また、この発明にかかる分析装置は、前記光路移動手段は、汚れ検出時に汚れ検出対象の前記容器を昇降させる容器昇降手段を備えたことを特徴とする。
【００１１】
また、この発明にかかる分析装置は、前記検出用測光手段は、前記測光領域以外の領域を透過した所定波長の光の吸光度を測定し、前記汚れ検出手段は、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の前記所定波長の光の吸光度が所定の閾値以下である場合には前記容器に汚れがないと判断し、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の吸光度が前記所定の閾値を超えていた場合には前記容器に汚れが残存していると判断することを特徴とする。
【００１２】
また、この発明にかかる分析装置は、前記検出用測光手段は、前記測光領域以外の領域から発せられた蛍光量を測定し、前記汚れ検出手段は、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の蛍光量が所定の閾値以下である場合には前記容器に汚れがないと判断し、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の蛍光量が前記所定の閾値を超えていた場合には前記容器に汚れが残存していると判断することを特徴とする。
【００１３】
また、この発明にかかる分析装置は、前記分析用光源は、前記検出用光源を兼ねることを特徴とする。
【００１４】
また、この発明にかかる分析装置は、前記分析用受光手段は、前記検出用測光手段を兼ねることを特徴とする。
【００１５】
また、この発明にかかる分析装置は、前記検出用光源は、前記容器の角部へ光を照射することを特徴とする。
【００１６】
また、この発明にかかる分析装置は、前記検出用測光手段は、前記容器の開口上部に配置されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、容器の汚れを検出するために、測光領域以外の領域に対して光を照射して容器の光学特性を測定し、測定結果をもとに汚れの程度を検出するため、分析処理に使用する容器における測光領域以外の領域について汚れを検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態である分析装置について、血液や尿などの液体検体が分注される反応容器に残存した汚れを検出する分析装置を例に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、図面の記載において、同一部分には同一の符号を付している。
【００１９】
（実施の形態１）
まず、実施の形態１について説明する。図１は、実施の形態１にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図１に示すように、実施の形態１にかかる分析装置１は、分析対象である検体および試薬を反応容器２１にそれぞれ分注し、分注した反応容器２１内で生じる反応を光学的に測定する測定機構２と、測定機構２を含む分析装置１全体の制御を行なうとともに測定機構２における測定結果の分析を行なう制御機構３とを備える。分析装置１は、これらの二つの機構が連携することによって複数の検体の生化学分析を自動的に行なう。なお、反応容器２１は、容量が数ｎＬ〜数ｍＬと微量な容器であり、測光部１８の光源から出射された分析光（３４０〜８００ｎｍ）に含まれる光の８０％以上を透過する透明素材、例えば、耐熱ガラスを含むガラス、環状オレフィンやポリスチレン等の合成樹脂が使用される。反応容器２１は、側壁と底壁とによって液体を保持する水平断面が四角形の液体保持部が形成され、液体保持部の上部に開口を有する四角筒形状の反応容器である。
【００２０】
測定機構２は、大別して検体移送部１１、検体分注機構１２、反応テーブル１３、試薬庫１４、試薬分注機構１６、攪拌部１７、測光部１８、洗浄部１９および汚れ検出用測光部２０を備える。
【００２１】
検体移送部１１は、血液を検体として収容した複数の検体容器１１ａを保持し、図中の矢印方向に順次移送する複数の検体ラック１１ｂを備える。検体移送部１１上の所定位置に移送された検体容器１１ａ内の検体は、検体分注機構１２によって、反応テーブル１３上に配列して搬送される反応容器２１に分注される。
【００２２】
検体分注機構１２は、鉛直方向への昇降および自身の基端部を通過する鉛直線を中心軸とする回転を自在に行なうアーム１２ａを備える。このアーム１２ａの先端部には、検体の吸引および吐出を行なうノズルが取り付けられている。検体分注機構１２は、図示しない吸排シリンジまたは圧電素子を用いた吸排機構を備える。検体分注機構１２は、上述した検体移送部１１上の所定位置に移送された検体容器１１ａの中からノズルによって検体を吸引し、アーム１２ａを図中時計回りに旋回させ、反応容器２１に検体を吐出して分注を行なう。
【００２３】
反応テーブル１３は、反応容器２１への検体や試薬の分注、反応容器２１の攪拌、測光、洗浄および汚れ検出用測光を行なうために反応容器２１を所定の位置まで移送する。この反応テーブル１３は、制御部３１の制御のもと、図示しない駆動機構が駆動することによって、反応テーブル１３の中心を通る鉛直線を回転軸として回動自在である。反応テーブル１３の上方と下方には、図示しない開閉自在な蓋と恒温槽がそれぞれ設けられている。
【００２４】
試薬庫１４は、反応容器２１内に分注される試薬が収容された試薬容器１５を複数収納できる。試薬庫１４には、複数の収納室が等間隔で配置されており、各収納室には試薬容器１５が着脱自在に収納される。試薬庫１４は、制御部３１の制御のもと、図示しない駆動機構が駆動することによって、試薬庫１４の中心を通る鉛直線を回転軸として時計回りまたは反時計回りに回動自在であり、所望の試薬容器１５を試薬分注機構１６による試薬吸引位置まで移送する。試薬庫１４の上方には、開閉自在な蓋（図示せず）が設けられている。また、試薬庫１４の下方には、恒温槽が設けられている。このため、試薬庫１４内に試薬容器１５が収納され、蓋が閉じられたときに、試薬容器１５内に収容された試薬を冷却し、試薬容器１５内に収容された試薬の蒸発や変性を抑制することができる。
【００２５】
試薬分注機構１６は、検体分注機構１２と同様に、試薬の吸引および吐出を行なう試薬ノズルが先端部に取り付けられたアーム１６ａを備える。アーム１６ａは、鉛直方向への昇降および自身の基端部を通過する鉛直線を中心軸とする回転を自在に行なう。試薬分注機構１６は、試薬庫１４上の所定位置に移動された試薬容器１５内の試薬をノズルによって吸引し、アーム１６ａを図中時計回りに旋回させ、反応テーブル１３上の所定位置に搬送された反応容器２１に分注する。攪拌部１７は、反応容器２１に分注された検体と試薬との攪拌を行い、反応を促進させる。
【００２６】
測光部１８は、たとえば、所定の測光位置に搬送された反応容器２１にハロゲンランプなどの光源から分析光（３４０〜８００ｎｍ）を照射し、反応容器２１内の液体を透過した光を分光し、ＰＤＡなどの受光素子による各波長光の強度測定を行なうことによって、分析対象である検体と試薬との反応液に特有の波長の吸光度を測定する。
【００２７】
洗浄部１９は、洗浄ノズルによって、測光部１８による測定が終了した反応容器２１内の混合液を吸引して排出するとともに、洗剤や洗浄水等の洗浄液を注入および吸引することで分析処理が終了した反応容器２１を洗浄する。この洗浄された反応容器２１は再利用される。
【００２８】
汚れ検出用測光部２０は、分析装置１において使用される反応容器２１の汚れを検出するために、反応容器２１における測光部１８の光源による測光領域以外の領域に対して光を照射する検出用光源と、検出用光源から光を照射された反応容器２１の所定の光学特性を測定する検出用測光部とを備える。検出用光源は、反応容器２１の汚れが吸収する所定波長の光を測光領域以外の領域に照射する。検出用測光部は、測光領域以外の領域を透過した所定波長の光を測定して、測光領域以外の領域の所定波長の光の吸光度を測定する。汚れ検出用測光部２０は、分析処理前におけるメンテナンス時に分析装置１において使用される各反応容器２１の汚れを検出するために汚れ検出用の測定処理を行なうほか、洗浄部１９による洗浄後の反応容器２１に対しても汚れ検出用の測定処理を行なう。
【００２９】
つぎに、制御機構３について説明する。制御機構３は、制御部３１、入力部３２、分析部３３、汚れ検出部３４、記憶部３５および出力部３６を備える。測定機構２および制御機構３が備えるこれらの各部は、制御部３１に電気的に接続されている。
【００３０】
制御部３１は、ＣＰＵ等を用いて構成され、分析装置１の各部の処理および動作を制御する。制御部３１は、これらの各構成部位に入出力される情報について所定の入出力制御を行い、かつ、この情報に対して所定の情報処理を行なう。入力部３２は、キーボード、マウス等を用いて構成され、検体の分析に必要な諸情報や分析動作の指示情報等を外部から取得する。分析部３３は、測光部１８によって測定された吸光度に基づいて検体の成分分析等を行なう。
【００３１】
汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０における検出用測光部によって測定された反応容器２１における測光領域および測光領域以外の領域についての測定結果をもとに反応容器２１の汚れの程度を検出する。汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０によって測定された反応容器２１における測光領域以外の領域の所定波長の光の吸光度が所定の閾値以下である場合には、この反応容器２１の次の分析処理に影響を与えない程度まで取り除かれ、この反応容器２１に汚れがないと判断する。一方、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０によって測定された反応容器２１における測光領域以外の領域の所定波長の光の吸光度のいずれかが所定の閾値を超えている場合には、この反応容器２１に次の分析に影響を与える程度の汚れが残存していると判断する。
【００３２】
記憶部３５は、情報を磁気的に記憶するハードディスクと、分析装置１が処理を実行する際にその処理にかかわる各種プログラムをハードディスクからロードして電気的に記憶するメモリとを用いて構成され、検体の分析結果等を含む諸情報を記憶する。記憶部３５は、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＰＣカード等の記憶媒体に記憶された情報を読み取ることができる補助記憶装置を備えてもよい。
【００３３】
出力部３６は、ディスプレイ、プリンタ、スピーカー等を用いて構成され、検体の分析結果を含む諸情報を出力する。また、出力部３６は、図示しない通信ネットワークを介して外部装置に諸情報を出力する。
【００３４】
以上のように構成された分析装置１では、列をなして順次搬送される複数の反応容器２１に対して、検体分注機構１２が検体容器１１ａ中の検体を分注し、試薬分注機構１６が試薬容器１５中の試薬を分注した後、測光部１８が検体と試薬とを反応させた状態の検体の分光強度測定を行い、この測定結果を分析部３３が分析することで、検体の成分分析等が自動的に行われる。また、洗浄部１９が測光部１８による測定が終了した後に搬送される反応容器２１を搬送させながら洗浄し、その後に汚れ検出用測光部２０および汚れ検出部３４が洗浄後の反応容器２１の汚れを検出することで、一連の分析動作が連続して繰り返し行われる。
【００３５】
つぎに、図２を参照して、汚れ検出用測光部２０について説明する。図２に示すように、汚れ検出用測光部２０は、検出用光源１２１と、検出用測光部１２２とともに、検出用光源１２１から照射される光の光束が反応容器２１の側面に対して上下に移動するように矢印Ｙ１１のように検出用光源１２１を昇降させる光源側昇降機構１２３と、光源側昇降機構１２３の昇降動作に同期させて矢印Ｙ１２のように検出用測光部１２２を昇降させる測光側昇降機構１２４とを備える。
【００３６】
たとえば図２に示す反応容器２１の側面の領域Ｓ１１から領域Ｓ１３に検出用光源１２１から発せられた光が照射されるように、光源側昇降機構１２３が検出用光源１２１を昇降させ、この検出用光源１２１による照射光のうち反応容器２１の各領域を透過した光を受光できるように測光側昇降機構１２４が光源側昇降機構１２３に同期して検出用測光部１２２を昇降させる。
【００３７】
具体的には、汚れ検出部３４が測光部１８による測光領域に対応する領域Ｓ１１の汚れの程度を検出する場合には、光源側昇降機構１２３は、制御部３１の制御のもと、検出用光源１２１から発せられた光Ｅ１１ａの光束が領域Ｓ１１に照射されるように領域Ｓ１１に対応した高さに検出用光源１２１を移送する。そして、測光側昇降機構１２４は、制御部３１の制御のもと、光源側昇降機構１２３の昇降動作に同期して、光Ｅ１１ａのうち反応容器２１の領域Ｓ１１を透過した光Ｅ１１ｂを受光できるように領域Ｓ１１に対応した高さに検出用測光部１２２を移送する。また、汚れ検出部３４が測光領域以外の領域Ｓ１３の汚れの程度を検出する場合には、光源側昇降機構１２３は、制御部３１の制御のもと、矢印Ｙ１１のように検出用光源１２１から発せられた光Ｅ１３ａの光束が領域Ｓ１３に照射されるように領域Ｓ１３に対応した高さまで検出用光源１２１を上昇する。そして、測光側昇降機構１２４は、制御部３１の制御のもと、光源側昇降機構１２３の昇降動作に同期して、光Ｅ１３ａのうち反応容器２１の領域Ｓ１３を透過した光Ｅ１３ｂを受光できるように、矢印Ｙ１２のように領域Ｓ１３に対応した高さまで検出用測光部１２２を上昇する。
【００３８】
このように、汚れ検出用測光部２０においては、測光部１８における測光領域以外の領域に対しても光が照射されるように、検出用光源１２１から照射される光の光束を、反応容器２１側面に対して移動させる光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４を光路移動手段として備えている。この結果、検出用光源１２１は、矢印Ｙ１３に示すように反応容器２１の側面の領域Ｓ１１から領域Ｓ１３までの領域に検出用光源１２１からの光を照射することができ、さらに検出用測光部１２２は、反応容器２１における領域Ｓ１１からＳ１３までの各領域の透過光を受光して所定波長の吸光度を得ることができる。
【００３９】
次に、図３を参照して、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４について説明する。光源側昇降機構１２３は、プーリ１２３２ａと接続する昇降用モータ１２３１と、検出用光源１２１と接続する光源側軸柱１２３５と並行に配置されプーリ１２３２ａ，１２３２ｂが掛け渡された昇降用ベルト１２３３と、昇降用ベルト１２３３の所定位置に固定されるとともに光源側軸柱１２３５と一体に昇降可能に設けられた移動板１２３４とを備える。
【００４０】
制御部３１の制御のもと昇降用モータ１２３１が上昇方向に対応する矢印Ｙ１５ａ方向に回転した場合、昇降用モータ１２３１の回転がプーリ１２３２ａに伝達することによって、昇降用ベルト１２３３が回転し、これにともない移動板１２３４が矢印Ｙ１６ａのように上昇することによって光源側軸柱１２３５が矢印Ｙ１６ｃのように上昇する。この光源側軸柱１２３５の上昇によって、検出用光源１２１も上昇する。また、制御部３１の制御のもと昇降用モータ１２３１が下降方向に対応する方向に回転した場合、昇降用モータ１２３１の回転がプーリ１２３２ａに伝達することによって、昇降用ベルト１２３３が回転し、これにともない移動板１２３４が矢印Ｙ１７ａのように下降することによって光源側軸柱１２３５が矢印Ｙ１８ａのように下降する。この光源側軸柱１２３５の下降によって、検出用光源１２１も下降する。
【００４１】
このように、昇降用モータ１２３１の回転によって光源側軸柱１２３５が昇降することとなる。そして、検出用光源１２１は、反応テーブル１３のホルダー１３１，１３２に保持された反応容器２１側面の広い範囲に対して、各光Ｅ１１ａ，１２ａ，１３ａを照射することができる。なお、ホルダー１３１には、反応容器２１側面に検出用光源１２１からの光が広く照射するように、測光部１８における測光窓よりも広い領域が開口した汚れ検出用測光窓Ｗ１が設けられている。また、反応容器２１は蓋１３３によって覆われている。
【００４２】
そして、測光側昇降機構１２４は、プーリ１２４２ａと接続する昇降用モータ１２４１と、検出用測光部１２２と接続する測光側軸柱１２４５と並行に配置されプーリ１２４２ａ，１２４２ｂが掛け渡された昇降用ベルト１２４３と、昇降用ベルト１２４３の所定位置に固定されるとともに測光側軸柱１２４５と一体に昇降可能に設けられた移動板１２４４とを備える。
【００４３】
制御部３１の制御のもと昇降用モータ１２４１が上昇方向に対応する矢印Ｙ１５ｂ方向に回転した場合、昇降用モータ１２４１の回転がプーリ１２４２ａに伝達することによって、昇降用ベルト１２４３が回転し、これにともない移動板１２４４が矢印Ｙ１６ｂのように上昇することによって測光側軸柱１２４５が矢印Ｙ１６ｄのように上昇する。この測光側軸柱１２４５の上昇によって、検出用測光部１２２も上昇する。また、制御部３１の制御のもと昇降用モータ１２４１が下降方向に対応する方向に回転した場合、昇降用モータ１２４１の回転がプーリ１２４２ａに伝達することによって、昇降用ベルト１２４３が回転し、これにともない移動板１２４４が矢印Ｙ１７ｂのように下降することによって測光側軸柱１２４５が矢印Ｙ１８ｂのように下降する。この測光側軸柱１２４５の下降によって、検出用測光部１２２も下降する。
【００４４】
このように、昇降用モータ１２４１の回転によって測光側軸柱１２４５が昇降することとなる。そして、検出用測光部１２２は、反応テーブル１３のホルダー１３１，１３２に保持された反応容器２１側面の広い範囲から透過された各光Ｅ１１ｂ，１２ｂ，１３ｂを受光することができる。
【００４５】
つぎに、図４を参照して、分析装置１における反応容器２１に対する汚れ検出処理について説明する。図４に示すように、反応テーブル１３は、汚れ検出対象の反応容器２１を試薬分注機構１６による試薬吐出位置まで搬送し、試薬分注機構１６は、汚れ検出のための評価溶液を注入する評価溶液注入処理を行なう（ステップＳ２）。この評価溶液は、蒸留水などであってもよく、また、反応容器２１に残存する検体中の成分と選択的に反応して発色し、所定波長の光を吸収する構成物を含むものであってもよい。また、この評価溶液は必ずしも注入する必要はなく、内部が空である状態の反応容器２１に対して以下の汚れ検出のための各処理を行なってもよい。
【００４６】
そして、第１光路に対応する領域の汚れを検出するため、検出用光源１２１から発せられ反応容器２１を透過する光の光路が第１光路となるように、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４は、制御部３１の制御のもと、第１光路に対応する高さに検出用光源１２１および検出用測光部１２２を移動する（ステップＳ６）。なお、第１光路は、たとえば図２に示す反応容器２１側面の測光領域に対応する領域Ｓ１１に入射し、この領域Ｓ１１を透過する場合の光路である。
【００４７】
そして、検出用光源１２１が反応容器２１に対して光を照射し、検出用測光部１２２が反応容器２１の所定の領域を透過した光を受光し所定波長の光の吸光度を測定することによって汚れ検出用測光処理が行われる（ステップＳ８）。汚れ検出部３４は、検出用測光部１２２の測光値が汚れ有無判断の基準となる所定の閾値を超えるか否かを判断する（ステップＳ１０）。
【００４８】
汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えると判断した場合（ステップＳ１０：Ｙｅｓ）、この反応容器２１には次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していることを検出する（ステップＳ１２）。そして、制御部３１は、洗浄部１９に対して、汚れ検出部３４によって汚れが検出された反応容器２１を再洗浄させる再洗浄処理を行なう（ステップＳ１４）。次いで、この再洗浄された反応容器２１が汚れているかを再度判断するため、ステップＳ２に戻り評価溶液を注入し、汚れ検出のための各処理を行なう。
【００４９】
これに対し、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えていないと判断した場合（ステップＳ１０：Ｎｏ）、すなわち汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値以下であると判断した場合、この光路に対応する反応容器２１の領域、すなわち第１光路に対応する反応容器２１の領域では次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していないものと判断する（ステップＳ１６）。
【００５０】
そして、制御部３１は、汚れ検出用測光部２０による汚れ検出対象の全領域に対する測光処理が終了したか否かを判断する（ステップＳ１８）。
【００５１】
制御部３１は、終了していないと判断した場合（ステップＳ１８：Ｎｏ）、ステップＳ１６で判断した光路の次の光路に対応する反応容器側面の領域の汚れを判断するため、次の光路に移動する（ステップＳ２０）。すなわち、次の光路に対応する反応容器側面の領域の汚れを判断するため、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４は、次の光路に対応する高さに検出用光源１２１および検出用測光部１２２を移動する。たとえば、第１光路に対応する反応容器２１側面領域の汚れ検出を終了した場合には、図３に例示する光Ｅ１２ａ，１２ｂに示された第２光路に対応する反応容器２１側面領域の汚れを判断するために、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４は、次の第２光路に対応する高さに検出用光源１２１および検出用測光部１２２を移動する。次いでステップ８に戻り、検出用光源１２１および検出用測光部１２２による汚れ検出用測光処理（ステップＳ８）を行ない、汚れ検出部３４は、この第２光路に対応する反応容器側面領域の汚れ検出部３４による汚れ判断の処理を行なう。このように、分析装置１においては、設定された各光路ごとに、各光路に対応する反応容器２１側面の各領域の汚れの程度を検出する。
【００５２】
一方、制御部３１は、終了したと判断した場合（ステップＳ１８：Ｙｅｓ）、汚れ検出対象の全領域に対する汚れ検出処理が終了し、反応容器側面の汚れ検出対象の全領域に汚れがないと判断する（ステップＳ２２）。次いで、制御部３１は、洗浄部１９に対して、汚れ検出部３４によって汚れがないと判断された反応容器２１を水などですすがせるすすぎ洗浄処理を行ない（ステップＳ２４）、この反応容器２１に対する汚れ検出処理を終了する。この反応容器２１は、すすぎ洗浄処理が行われた後、分析処理に使用される。
【００５３】
このように、本実施の形態１においては、検出用光源１２１と検出用測光部１２２との双方を同期して昇降させることによって、測光部１８による測光領域以外の領域に対しても容器の汚れの程度を検出する。
【００５４】
ここで、従来の分析装置においては、反応容器に蒸留水を注入し吸光度測定を行なうことによって洗浄後の容器の清浄度を確認した上で、反応容器を再利用していた。具体的には、図５に示すように、汚れ検出対象の反応容器２１に蒸留水Ｌを注入してから、測光部における光源からの入射光Ｅｉを測光領域Ｓｐに照射し、この測光領域Ｓｐを透過した出射光Ｅｏを受光部において受光する吸光度測定を行なう。そして、従来の分析装置においては、この測光領域Ｓｐにおける吸光度が所定の閾値を超えていた場合には、この反応容器２１には汚れが残存していると判断していた。
【００５５】
しかしながら、従来の分析装置においては、汚れ検出時と分析処理時とにおいて、固定して配設されている分析用の光源および分析用の測光部を兼用していたため、汚れ検出時においても分析処理時に測光される測光領域Ｓｐの１点でしか汚れ検出のための吸光度測定を行なっておらず、測光領域以外の領域の汚れまでは検出していなかった。したがって、従来の分析装置においては、反応容器における測光領域以外の領域についても汚れを検出することができず、特に近年において要求される分析精度の向上化を実現することが困難であった。
【００５６】
これに対し、本実施の形態１にかかる分析装置１は、反応容器２１の汚れを検出するために、検出用光源１２１と検出用測光部１２２とを同期して昇降させて、分析処理時における測光領域以外の領域に対しても光を照射して反応容器２１の吸光度を測定している。この結果、分析装置１は、反応容器２１における測光領域以外の領域に対しても汚れの程度を検出できるため、洗浄処理後の容器に残存する汚れをさらに厳密に検出でき、近年要求されるさらなる分析精度の向上を図ることが可能になる。
【００５７】
なお、実施の形態１においては、反応容器２１の汚れ検出のために反応容器２１側面の各領域の吸光度を測定した場合について説明したが、もちろんこれに限らない。反応容器２１内に残存した汚れが主にたんぱく質である場合には、図６（１）の矢印Ｙ３に示すように、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬Ｌｄを試薬ノズル１６１などで反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる蛍光量を測定して汚れ検出処理を行なってもよい。
【００５８】
この場合、図６（２）に示すように、光源側昇降機構１２３は、検出用光源１２１から照射される励起光Ｅ１３ｃが反応容器２１の側面に対して上下に移動するように矢印Ｙ１１のように検出用光源１２１を昇降させる。そして、測光側昇降機構１２４は、光源側昇降機構１２３の昇降動作に同期させて矢印Ｙ１２のように検出用測光部１２２を昇降させて反応容器２１から発せられた各領域の蛍光Ｅ１３ｄの蛍光量を測定する。
【００５９】
次いで、汚れ検出部３４は、検出用測光部１２２によって測定された蛍光量が汚れ有無判断基準となる所定の閾値を超えていた場合には、この反応容器２１に次の分析に影響を与える程度の汚れが残存していると判断する。一方、汚れ検出部３４は、検出用測光部１２２によって測定された蛍光量が所定の閾値以下である場合には、この反応容器２１の汚れは次の分析処理に影響を与えない程度まで取り除かれたと判断する。
【００６０】
このように、分析装置１は、反応容器２１の汚れを検出するために蛍光を測定する場合においても、検出用光源１２１と検出用測光部１２２とを同期して昇降させることによって、反応容器２１における測光領域とともに測光領域以外の領域に対しても汚れの程度を検出できる。
【００６１】
また、分析装置１は、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く発光を発する構成物を含む試薬を反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる発光量を測定して汚れ検出処理を行なってもよい。この場合、汚れ検出用測光部２０は、励起光を照射する必要がないため、図６に示す構成から検出用光源１２１および光源側昇降機構１２３を削除した構成で足りる。
【００６２】
また、本実施の形態１においては、分析処理として分光強度測定を行なう測光部１８と、汚れ検出のための測光処理を行なう汚れ検出用測光部２０とを別個に設けた場合を例に説明したが、これに限らない。すなわち、汚れ検出のための照射光または励起光の波長が測光部１８におけるハロゲンランプの照射波長に含まれる場合には、測光部１８における光源が検出用光源を兼ねてもよく、また、汚れ検出処理における測光波長が測光部１８における受光素子の測光波長に含まれる場合には、測光部における受光素子が検出用測光部１２２を兼ねてもよい。また、測光領域以外の領域だけでなく、測光領域に光を照射して、測光領域における容器の汚れを検出しても良い。さらに、汚れ検出時には、単一の波長の光を使用するに限らず、複数の波長を使って汚れを検出しても良い。
【００６３】
（実施の形態２）
つぎに、実施の形態２について説明する。実施の形態２においては、汚れ検出時において、光源から照射される光を反応容器側面の測光領域以外の領域に誘導して、測光領域以外の領域における光学的特性を測定する。
【００６４】
図７は、実施の形態２にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図７に示すように、実施の形態２にかかる分析装置２０１の測定機構２０２は、光源から照射される光を反応容器側面の測光領域以外の領域に誘導する機構を備え、分析処理のための測光処理と反応容器２１の汚れ検出のための測光処理との双方の処理を行なう測光部２１８を有する。
【００６５】
つぎに、図８を参照して図７に示す測光部２１８について説明する。図８は、図７に示す測光部２１８の要部構成を示す図である。図８に示すように、測光部２１８は、検体を分析するために反応容器２１に光を照射するとともに反応容器２１の汚れを検出するために反応容器２１に光を照射する光源１８１と、光源１８１から照射された光のうち反応容器２１の各領域を透過した所定波長の光をそれぞれ測定し吸光度を取得する受光部１８２とを備える。
【００６６】
測光部２１８は、光源側領域に、制御部３１の制御によって軸心を中心に回転する回転軸１８３３と、回転軸１８３３に接続し回転軸１８３３の回転によって回動するミラー１８３１と、ミラー１８３１からの反射光を反応容器２１側面の上部領域に反射するように固定して配設されたミラー１８３２とを有する。これに対応するように、測光部２１８は、受光部側領域に、反応容器２１側面の上部領域を透過した光をミラー１８５２方向に反射するように固定して配設されたミラー１８５１と、制御部３１の制御によって軸心を中心に回転する回転軸１８５３と、回転軸１８５３に接続し回転軸１８５３の回転によって回転軸１８５３を中心に回転するミラー１８５２とを有する。
【００６７】
そして、測光部２１８は、光源側領域に、制御部３１の制御によって軸心を中心に回転する回転軸１８４３と、回転軸１８４３に接続して回転軸１８４３の回転によって回動するミラー１８４１と、ミラー１８４１からの反射光を反応容器２１側面の下部領域に反射するミラー１８４２とを有する。これに対応するように、測光部２１８は、受光部側領域に、反応容器２１側面の下部領域を透過した光をミラー１８６１方向に反射するように固定して配設されたミラー１８６２と、制御部３１の制御によって軸心を中心に回転する回転軸１８６３と、回転軸１８６３に接続し回転軸１８６３の回転によって回転軸１８６３を中心に回転するミラー１８６１とを有する。
【００６８】
図８に例示した構成においては、回転軸１８３３，１８４３，１８５３，１８６３の回転動作によってミラー１８３１，１８４１，１８５２，１８６１が所定の各位置に回転することによって、光源１８１から出射された光の光束を、反応容器２１側面における測光領域に対応する入射光路Ｅ２０ａおよび測光領域からの出射光路Ｅ２０ｂ、反応容器２１側面における測光領域の上部領域に対応する入射光路Ｅ２１ａおよび測光領域の上部領域からの出射光路Ｅ２１ｂ、または、反応容器２１側面における測光領域の下部領域に対応する入射光路Ｅ２２ａおよび測光領域の下部領域からの出射光路Ｅ２２ｂのいずれかに誘導する。
【００６９】
まず、図９を参照して、光源１８１から出射された光の光束を、反応容器２１側面における測光領域に対応する入射光路Ｅ２０ａおよび測光領域からの出射光路Ｅ２０ｂに誘導する場合について説明する。
【００７０】
図９に示すように、検体の分析処理時または反応容器２１における測光領域の汚れ検出時には、光源１８１から出射された光を測光領域に入射させるため、ミラー１８３１，１８４１が入射光路Ｅ２０ａに侵入しないように回転軸１８３３，１８４３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８３３は、矢印Ｙ２１のように回転し、ミラー１８３１を入射光路Ｅ２０ａ上から退避させる。また、回転軸１８４３は、矢印Ｙ２２のように回転し、ミラー１８４１を入射光路Ｅ２０ａから退避させる。この結果、光源１８１から出射された光は、入射光路Ｅ２０ａで反応容器２１側面の測光領域に入射する。
【００７１】
そして、反応容器２１側面の測光領域における吸光度測定時には、測光領域を透過した光を受光部１８２に入射させるため、ミラー１８６１，１８５２が出射光路Ｅ２０ｂに侵入しないように回転軸１８６３，１８５３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８６３は、矢印Ｙ２４のように回転し、ミラー１８６１を出射光路Ｅ２０ｂ上から退避させる。また、回転軸１８５３は、矢印Ｙ２３のように回転し、ミラー１８５２を出射光路Ｅ２０ｂから退避させる。この結果、反応容器２１側面の測光領域を透過した光は、出射光路Ｅ２０ｂで受光部１８２に入射する。
【００７２】
このように、分析装置２０１においては、検体の分析処理時または反応容器２１における測光領域の汚れ検出時には、回転軸１８３３，１８４３，１８６３，１８５３を回転させて入射光路Ｅ２０ａおよび出射光路Ｅ２０ｂ上から各ミラー１８３１，１８４１，１８５２，１８６１を退避移動させることによって、光源１８１から出射された光を反応容器２１側面の測光領域に照射し、測光領域の透過光を受光部１８２で受光する。
【００７３】
つぎに、図１０を参照して、光源１８１から出射された光の光束を、反応容器２１側面における上部領域に対応する入射光路Ｅ２１ａおよび上部領域からの出射光路Ｅ２１ｂに誘導する場合について説明する。
【００７４】
図１０に示すように、反応容器２１における測光領域よりも上部領域に対する汚れ検出時には、光源１８１から出射された光を上部領域に入射させるため、ミラー１８３１が入射光路Ｅ２１ａを形成するように回転軸１８３３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８３３は、矢印Ｙ２５のように回転し、光源１８１から出射された光をミラー１８３２に反射する角度となるようにミラー１８３１を回転させる。この結果、光源１８１から出射された光は、ミラー１８３１およびミラー１８３２において順次反射することによって、入射光路Ｅ２１ａで反応容器２１側面の上部領域に入射する。
【００７５】
そして、反応容器２１側面の上部領域における吸光度測定時には、反応容器２１側面の上部領域の透過光を受光部１８２に入射させるため、ミラー１８５２が出射光路Ｅ２１ｂを形成するように回転軸１８５３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８５３は、矢印Ｙ２６のように回転し、反応容器２１側面の上部領域を透過してミラー１８５１によって反射された光を受光部１８２に反射する角度となるようにミラー１８５２を回転させる。この結果、反応容器２１側面の上部領域を透過した光は、ミラー１８５１およびミラー１８５２において順次反射することによって、出射光路Ｅ２１ｂで受光部１８２に入射する。
【００７６】
このように、分析装置２０１においては、反応容器２１における上部領域の汚れ検出時には、回転軸１８３３，１８５３を回転させることによって、光源１８１から出射された光を反応容器２１側面の上部領域に誘導し、さらに、この上部領域の透過光を受光部１８２に誘導している。
【００７７】
つぎに、図１１を参照して、光源１８１から出射された光の光束を、反応容器２１側面における下部領域に対応する入射光路Ｅ２２ａおよび下部領域からの出射光路Ｅ２２ｂに誘導する場合について説明する。
【００７８】
図１１に示すように、反応容器２１における測光領域よりも下部領域に対する汚れ検出時には、光源１８１から出射された光を下部領域に入射させるため、ミラー１８４１が入射光路Ｅ２２ａを形成するように回転軸１８４３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８４３は、矢印Ｙ２７のように回転し、光源１８１から出射された光をミラー１８４２に反射する角度となるようにミラー１８４１を回転させる。この結果、光源１８１から出射された光は、ミラー１８４１およびミラー１８４２において順次反射することによって、入射光路Ｅ２２ａで反応容器２１側面の下部領域に入射する。この場合、ミラー１８３１は、回転軸１８３３の回転動作によって、入射光路Ｅ２２ａ上から退避移動されている。
【００７９】
そして、反応容器２１側面の下部領域における吸光度測定時には、反応容器２１側面の下部領域の透過光を受光部１８２に入射させるため、ミラー１８６１が出射光路Ｅ２２ｂを形成するように回転軸１８６３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８６３は、矢印Ｙ２８のように回転し、反応容器２１側面の下部領域を透過してミラー１８６２によって反射された光を受光部１８２に反射する角度となるようにミラー１８６１を回転させる。この結果、反応容器２１側面の下部領域を透過した光は、ミラー１８６２およびミラー１８６１において順次反射することによって、出射光路Ｅ２２ｂで受光部１８２に入射する。この場合には、ミラー１８５２は、回転軸１８５３の回転動作によって、出射光路Ｅ２２ｂ上から退避移動されている。
【００８０】
このように、分析装置２０１においては、反応容器２１における下部領域の汚れ検出時には、回転軸１８４３，１８６３を回転させることによって、光源１８１から出射された光を反応容器２１側面の下部領域に誘導し、さらに、この下部領域の透過光を受光部１８２に誘導している。
【００８１】
つぎに、図１２を参照して、分析装置２０１における反応容器２１に対する汚れ検出処理について説明する。図１２に示すように、分析装置２０１は、図４のステップＳ２と同様に、評価溶液注入処理（ステップＳ２０２）を行なう。次いで、制御部３１は、光源１８１から発せられ反応容器２１を透過する光の光路が第１光路となるように、回転軸１８３３，１８４３，１８５３，１８６３を回転制御することによって、ミラー１８３１，１８４１，１８５２，１８６１を回転移動させる（ステップＳ２０６）。なお、第１光路は、たとえば図９に示す反応容器２１側面の測光領域に対応する入射光路Ｅ２０ａ，出射光路Ｅ２０ｂである。
【００８２】
そして、光源１８１が反応容器２１に対して光を照射し、受光部１８２が反応容器２１の所定の領域を透過した光を受光し所定波長の光の吸光度を測定することによって汚れ検出用測光処理が行われる（ステップＳ２０８）。汚れ検出部３４は、受光部１８２の測光値が汚れ有無判断の基準となる所定の閾値を超えるか否かを判断する（ステップＳ２１０）。
【００８３】
そして、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えると判断した場合（ステップＳ２１０：Ｙｅｓ）、図４に示すステップＳ１２およびステップＳ１４と同様に、この反応容器２１には次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していることを検出し（ステップＳ２１２）、その後、洗浄部１９は、再洗浄処理を行なう（ステップＳ２１４）。次いで、この再洗浄された反応容器２１が汚れているかを再度判断するため、ステップＳ２０２に戻って評価溶液を注入し、汚れ検出のための各処理を行なう。
【００８４】
これに対し、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えていないと判断した場合（ステップＳ２１０：Ｎｏ）、この第１光路に対応する反応容器２１の領域では次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していないものと判断する（ステップＳ２１６）。
【００８５】
そして、図４に示すステップＳ１８と同様に、制御部３１は、全領域に対する測光処理が終了したか否かを判断する（ステップＳ２１８）。制御部３１は、終了していないと判断した場合（ステップＳ２１８：Ｎｏ）、次の光路に対応する反応容器側面の領域の汚れを判断するため、次の光路へ移動する（ステップＳ２２０）。すなわち、次の光路に対応する反応容器側面の領域の汚れを判断するため、光源１８１から発せられ反応容器２１を透過する光の光路が第２光路となるように、回転軸１８３３，１８４３，１８５３，１８６３を回転制御することによって、ミラー１８３１，１８４１，１８６１，１８５２を回転移動させる。次にステップＳ２０８に戻り、分析装置２０１は、汚れ検出用測光処理（ステップＳ２０８）を行なった上で、この第２光路に対応する反応容器側面領域の汚れ検出部３４による汚れ判断の処理を行なう。なお、第２光路は、たとえば図９に示す入射光路Ｅ２１ａ，出射光路Ｅ２１ｂである。このように、分析装置２０１においては、設定された各光路ごとに、各光路に対応する反応容器２１側面の各領域の汚れの程度を検出する。
【００８６】
一方、制御部３１は、終了したと判断した場合（ステップＳ２１８：Ｙｅｓ）、汚れ検出対象の全領域に対する汚れ検出処理が終了し、反応容器側面の汚れ検出対象の全領域に汚れがないと判断する（ステップＳ２２２）。次いで、洗浄部１９は、この反応容器２１に対しすすぎ洗浄処理を行ない（ステップＳ２２４）、この反応容器２１に対する汚れ検出処理を終了する。この反応容器２１は、すすぎ洗浄処理が行われた後、分析処理に使用される。
【００８７】
このように、実施の形態２においては、回転軸１８３３，１８４３，１８５３，１８６３を回転して各ミラー１８３１，１８４１，１８６１，１８５２を回転移動することによって、光源１８１から出射された光を反応容器２１側面の測光領域および測光領域以外の領域に誘導し、測光領域の透過光を受光部１８２に誘導する。したがって、実施の形態２においては、このような誘導機構を設け光源１８１から照射される光の光束を、反応容器２１側面に対して移動させることによって、測光部１８による測光領域以外の領域に対しても容器の汚れの程度を検出することができ、実施の形態１と同様の効果を奏する。
【００８８】
なお、分析装置２０１においては、図１３に示すように、ミラー１８３２を反応容器２１側面に対し矢印Ｙ２９ａのように上下方向に移送する移送機構１８６、ミラー１８４２を反応容器２１側面に対し矢印Ｙ２９ｃのように上下方向に移送する移送機構１８７、ミラー１８５１を反応容器２１側面に対し矢印Ｙ２９ｂのように上下方向に移送する移送機構１８８およびミラー１８６２を反応容器２１側面に対し矢印Ｙ２９ｄのように上下方向に移送する移送機構１８９を設け、さらに光路を増やし反応容器２１側面のさまざまな領域の汚れを検出できるようにしてもよい。
【００８９】
たとえば、移送機構１８６は、ミラー１８３２を、入射光路Ｅ２１ａに対応する位置から下降させ、移送機構１８８は、移送機構１８６の下降処理に同期してミラー１８５１を出射光路Ｅ２１ｂに対応する位置から下降させる。この場合には、光源１８１から出射された光の光束は入射光路Ｅ２１ａｂで反応容器２１側面に入射し、反応容器２１側面を透過した光は出射光路Ｅ２１ｂｂで受光部１８２に入射する。そして、この受光部１８２による吸光度測定の結果をもとに、汚れ検出部３４は、入射光路Ｅ２１ａｂおよび出射光路Ｅ２１ｂｂに対応する領域の汚れの程度を検出する。同様に、移送機構１８７は、ミラー１８４２を、入射光路Ｅ２２ａに対応する位置から上昇させ、移送機構１８９は、移送機構１８７の上昇処理に同期してミラー１８６２を出射光路Ｅ２２ｂに対応する位置から上昇させる。この場合には、光源１８１から出射された光の光束は入射光路Ｅ２２ａｂで反応容器２１側面に入射し、反応容器２１側面を透過した光は出射光路Ｅ２２ｂｂで受光部１８２に入射する。そして、この受光部１８２による吸光度測定の結果をもとに、汚れ検出部３４は、入射光路および出射光路Ｅ２２ｂｂに対応する領域の汚れの程度を検出する。
【００９０】
また、分析装置２０１は、分析装置１と同様に、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬を注入し、反応容器２１側面の各領域における蛍光量を測定して汚れ検出処理を行ってもよい。また、分析装置２０１は、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く発光を発する構成物を含む試薬を反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる発光量を測定して汚れ検出処理を行なってもよい。この場合、測光部２１８は、励起光を照射する必要がないため、光源１８１側の誘導機構である図９のミラー１８３１，１８３２，１８４１，１８４２および回転軸１８３３，１８４３を削除した構成で足りる。
【００９１】
（実施の形態３）
つぎに、実施の形態３について説明する。実施の形態３においては、汚れ検出時において、反応容器そのものを昇降させることによって、測光領域および測光領域以外の領域における光学的特性を測定する。
【００９２】
図１４は、実施の形態３にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図１４に示すように、実施の形態３にかかる分析装置３０１の測定機構３０２は、汚れ検出のための測光処理において汚れ検出対象の反応容器２１を昇降させる機構を備えた反応テーブル３１３と、分析処理のための測光処理と反応容器２１の汚れ検出のための測光処理との双方の処理を行なう測光部３１８とを有する。
【００９３】
つぎに、図１５および図１６を参照して図１４に示す反応テーブル３１３における昇降機構を説明する。図１５に示すように、反応テーブル３１３は、図示しない回転モータまたはステッピングモータと接続し軸心を中心に回転する回転軸３１８１と、この回転軸３１８１が貫通するカム３１８２とを有する昇降機構を備える。
【００９４】
制御部３１の制御のもと図示しない回転モータまたはステッピングモータが回転することによって、図１５の矢印Ｙ３１のように回転軸３１８１が回転する。そして、この回転軸３１８１の回転によって、回転軸３１８１が貫通するカム３１８２も矢印Ｙ３２のように回転する。この結果、カム３１８２上に位置する反応容器２１も、図１６の矢印Ｙ３３のように上昇する。
【００９５】
この結果、図１６の矢印Ｙ３４に示すように、図１５に示す反応容器２１の側面の領域Ｓ３１から図１６に示す領域Ｓ３３に、光源１８１からの光Ｅ３１ａの入射領域が移動する。そして、受光部１８２は、領域Ｓ３１を透過した透過光Ｅ３１ｂおよび領域Ｓ３３を透過した光Ｅ３３ｂを受光する。
【００９６】
このように、分析装置３０１は、汚れ検出時には、回転軸３１８１およびカム３１８２を回転させ反応容器２１そのものを昇降させて、測光領域および測光領域以外の領域における光学的特性を測定している。
【００９７】
つぎに、図１７を参照して、分析装置３０１における反応容器２１に対する汚れ検出処理について説明する。図１７に示すように、分析装置３０１は、図４のステップＳ２と同様に、評価溶液注入処理（ステップＳ３０２）を行なう。そして、光源１８１から発せられた光が第１汚れ検出対象領域に照射するように、回転軸３１８１が所定分回転し、反応容器２１を第１汚れ検出対象領域に対応する高さに昇降移動させる（ステップＳ３０６）。なお、第１汚れ検出対象領域は、たとえば図１５に示す領域Ｓ３１である。
【００９８】
そして、図１２に示すステップＳ２０８およびステップＳ２１０と同様に、汚れ検出用測光処理（ステップＳ３０８）および測光値が閾値を超えるか否かの判断処理（ステップＳ３１０）が行なわれる。
【００９９】
そして、汚れ検出部３４は、受光部１８２の測定値が所定の閾値を超えると判断した場合（ステップＳ３１０：Ｙｅｓ）、図４に示すステップＳ１２およびステップＳ１４と同様に、この反応容器２１には次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していることを検出し（ステップＳ３１２）、その後、洗浄部１９は、再洗浄処理を行なう（ステップＳ３１４）。次いで、この再洗浄された反応容器２１が汚れているかを再度判断するため、ステップＳ３０２に戻って評価溶液を注入し、汚れ検出のための各処理を行なう。
【０１００】
これに対し、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えていないと判断した場合（ステップＳ３１０：Ｎｏ）、この第１汚れ検出対象領域には次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していないものと判断する（ステップＳ３１６）。
【０１０１】
そして、制御部３１は、測光部３１８による汚れ検出対象の全領域に対する測光処理が終了したか否かを判断する（ステップＳ３１８）。
【０１０２】
制御部３１は、終了していないと判断した場合（ステップＳ３１８：Ｎｏ）、次の汚れ検出対象領域の汚れを判断するため、次の領域へ移動する（ステップＳ３２０）。すなわち、次の第２汚れ検出対象領域を判断するため、光源１８１から発せられた光が第２汚れ検出対象領域に照射するように、回転軸３１８１が回転し、反応容器２１を第２汚れ検出対象領域に対応する高さに昇降移動させる。なお、第２汚れ検出対象領域は、たとえば図１６に示す領域Ｓ３３である。このように、分析装置３０１においては、反応容器２１側面の各汚れ検出対象領域の汚れの程度を検出する。
【０１０３】
一方、制御部３１は、終了したと判断した場合（ステップＳ３１８：Ｙｅｓ）、汚れ検出対象の全領域に対する汚れ検出処理が終了し、反応容器側面の汚れ検出対象の全領域に汚れがないと判断する（ステップＳ３２２）。次いで、洗浄部１９は、この反応容器２１に対しすすぎ洗浄処理を行ない（ステップＳ３２４）、この反応容器２１に対する汚れ検出処理を終了する。この反応容器２１は、すすぎ洗浄処理が行われた後、分析処理に使用される。
【０１０４】
このように、実施の形態３においては、回転軸３１８１の回転制御によって、光源１８１から発せられた光が反応容器２１側面の測光領域および測光領域以外の領域に照射するように反応容器２１自体を昇降している。したがって、実施の形態３においては、反応容器２１を昇降させる昇降機構を設け、光源１８１から照射される光の光束に対し反応容器２１を上下に移動させることによって、測光部３１８による測光領域以外の領域に対しても容器の汚れの程度を検出することができ、実施の形態１と同様の効果を奏する。
【０１０５】
なお、実施の形態３では、カムによるほか、磁石の反発力を利用して反応容器２１を昇降させてもよい。この場合、図１８のように、反応テーブル３１３の測光位置において、反応容器２１下方に電磁石３１３２，３１３３を備えたホルダー３１３１を用いる。電磁石３１３２は、ホルダー３１３１底壁に固定して配設されており、電磁石３１３３は、ホルダー３１３１内を昇降できるように電磁石３１３２上に設けられている。
【０１０６】
制御部３１は、検体の分析処理時または反応容器２１における測光領域の汚れ検出時には、電磁石３１３２，３１３３がそれぞれ引き合うように、電磁石３１３２をＳ極化し、電磁石３１３３をＮ極化する。この場合、反応容器２１は、光源１８１から出射された光が反応容器２１側面の測光領域に入射できる高さを維持する。したがって、光源１８１から出射された光Ｅ４１ａは、反応容器２１側面の測光領域に入射し、受光部１８２は、反応容器２１側面の測光領域を透過した光Ｅ４１ｂを受光する。
【０１０７】
そして、反応容器２１側面における測光領域以外の領域の汚れ検出を行なう場合には、制御部３１は、電磁石３１３２，３１３３がそれぞれ反発するように、図１９に示すように、電磁石３１３３をＳ極化する。この結果、Ｓ極化された電磁石３１３２と電磁石３１３３との間に反発力Ｈ３１が発生する。電磁石３１３２は、ホルダー３１３１底壁に固定されているため、発生した反発力Ｈ３１の作用によって、電磁石３１３３がホルダー３１３１の領域Ｒ３１内を上昇する。この電磁石３１３３の上昇にともなって、電磁石３１３３上の反応容器２１は、矢印Ｙ３６のように、光源１８１から出射された光が反応容器２１側面の測光領域以外の領域に入射できる高さまで上昇することになる。したがって、光源１８１から出射された光Ｅ４３ａは、反応容器２１側面の測光領域の下部領域に入射し、受光部１８２は、この下部領域を透過した光Ｅ４３ｂを受光する。なお、電磁石３１３２，３１３３間に生じる反発力の強度を調整することによって、反応容器２１の高さを調節することができる。
【０１０８】
図１８および図１９のように磁石の反発力を利用して反応容器２１を昇降させた場合には、図１５および図１６のようにカム３１８２などの構成が大きな昇降機構を設ける必要がないため、昇降機構の小型化が可能になる。
【０１０９】
また、分析装置３０１は、分析装置１と同様に、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬を注入し、反応容器２１側面の各領域における蛍光量を測定して汚れ検出処理を行ってもよい。また、分析装置３０１は、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く発光を発する構成物を含む試薬を反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる発光量を測定して汚れ検出処理を行なってもよい。この場合、測光部３１８における光源１８１は、励起光を照射する必要がない。
【０１１０】
また、実施の形態１〜３において、汚れ検出時において、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬を注入し、反応容器２１側面の各領域における蛍光量を測定する場合には、反応容器２１の開口上部にさらに汚れ検出用の受光部を設けて、汚れ検出処理の確実化を図ってもよい。たとえば、実施の形態１に適用したばあいには、図２０に例示するように、検出用測光部１２２ａを、検出用光源１２１からの光軸を避けるように反応容器２１の開口上部に新たに配置する。このように反応容器２１の開口上部に設置した検出用測光部１２２ａは、反応容器２１側壁越しに蛍光量を検出するよりも高感度で蛍光量を検出でき、検出用光源１２１から発せられる光を直接受光しないため、受光結果への検出用光源１２１からの発光の影響を除去できる。したがって、検出用測光部１２２ａは、反応容器２１から発せられた蛍光Ｅ１３１ｄのみを確実に測定することができる。
【０１１１】
さらに、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬を注入し反応容器２１側面における蛍光量を測定して汚れ検出処理を行なう場合には、図２１に示すように、図２０の検出用光源１２１に代えて、反応容器２１側面全体に励起光を照射可能である検出用光源１２１ａを設けてもよい。この検出用光源１２１ａを用いて反応容器２１側面全体に励起光を照射した場合、反応容器２１開口上部の検出用測光部１２２ａは、たとえ反応容器２１側面の各領域における汚れが低濃度であった場合であっても、反応容器２１側面全体の汚れが積み重なった状態の蛍光量Ｅ１３１ｅを測定できる。このため、汚れ検出部３４は、検出用測光部１２２ａが測定した蛍光量をもとに、さらに低濃度の汚れを検出することができる。
【０１１２】
また、実施の形態１〜３においては、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く発光を発する構成物を含む試薬を反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる発光量を測定する場合においても同様に、たとえば図２２に示すように、反応容器２１の開口上部に汚れ検出用の検出用測光部１２２ａを設けて、汚れ検出処理の確実化を図ってもよい。
【０１１３】
また、実施の形態１〜３においては、検出用光源から照射される光の光束が反応容器２１の側面の角部へ照射されるように、光源側昇降機構、測光側昇降機構、誘導機構、容器昇降機構の配置位置などを設定してもよい。
【０１１４】
たとえば、実施の形態１における汚れ検出用測光部２０においては、図２３に例示するように、反応容器２１の側面角部に検出用光源１２１から発せられた光が照射されるように、検出用光源１２１および検出用測光部１２２の配置位置、向きを設定する。そして、光源側昇降機構１２３が矢印Ｙ４１１のように検出用光源１２１を昇降させ、測光側昇降機構１２４が矢印Ｙ４１２のように光源側昇降機構１２３に同期して検出用測光部１２２を昇降させる。この結果、矢印Ｙ４１３に示すように汚れ検出対象領域が反応容器２１の側面角部の領域Ｓ４１１から領域Ｓ４１３のように変化する。すなわち、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４の昇降動作によって、検出用光源１２１は光Ｅ４１１ａを反応容器２１側面角部の領域Ｓ４１１に照射できるとともに検出用測光部１２２は領域Ｓ４１１を透過した光Ｅ４１１ｂを受光できる。また、検出用光源１２１は光Ｅ４１３ａを反応容器２１側面角部の領域Ｓ４１３に照射できるとともに検出用測光部１２２は領域Ｓ４１３を透過した光Ｅ４１３ｂを受光できる。
【０１１５】
このように、光源側昇降機構、測光側昇降機構、誘導機構、容器昇降機構の配置位置などを設定して、汚れ残りが発生しやすいと考えられる反応容器２１側面の角部に対しても汚れ検出を行ない、汚れ検出の確実化を図ってもよい。
【０１１６】
また、上記実施の形態で説明した分析装置１，２０１，３０１は、あらかじめ用意されたプログラムをコンピュータシステムで実行することによって実現することができる。このコンピュータシステムは、所定の記録媒体に記録されたプログラムを読み出して実行することで分析装置の処理動作を実現する。ここで、所定の記録媒体とは、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯディスク、ＤＶＤディスク、光磁気ディスク、ＩＣカードなどの「可搬用の物理媒体」の他に、コンピュータシステムの内外に備えられるハードディスクドライブ（ＨＤＤ）などのように、プログラムの送信に際して短期にプログラムを保持する「通信媒体」など、コンピュータシステムによって読み取り可能なプログラムを記録する、あらゆる記録媒体を含むものである。また、このコンピュータシステムは、ネットワーク回線を介して接続した管理サーバや他のコンピュータシステムからプログラムを取得し、取得したプログラムを実行することで分析装置の処理動作を実現する。
【図面の簡単な説明】
【０１１７】
【図１】実施の形態１にかかる分析装置の構成を示す模式図である。
【図２】図１に示す汚れ検出用測光部を説明する図である。
【図３】図２に示す光源側昇降機構および測光側昇降機構を説明する図である。
【図４】図１に示す分析装置における反応容器の汚れ検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図５】従来の汚れ検出処理を説明する図である。
【図６】実施の形態１における汚れ検出方法の他の例を説明する図である。
【図７】実施の形態２にかかる分析装置の構成を示す模式図である。
【図８】図７に示す測光部を説明する図である。
【図９】図７に示す測光部の各構成部位の動作について説明する図である。
【図１０】図７に示す測光部の各構成部位の動作について説明する図である。
【図１１】図７に示す測光部の各構成部位の動作について説明する図である。
【図１２】図７に示す分析装置における反応容器の汚れ検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１３】図７に示す測光部の他の例を説明する図である。
【図１４】実施の形態３にかかる分析装置の構成を示す模式図である。
【図１５】図１４に示す反応テーブルおよび測光部を説明する図である。
【図１６】図１４に示す反応テーブルおよび測光部を説明する図である。
【図１７】図１４に示す分析装置における反応容器の汚れ検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１８】図１４に示す反応テーブルの他の例を説明する図である。
【図１９】図１４に示す反応テーブルの他の例を説明する図である。
【図２０】図１に示す汚れ検出用測光部の他の例を示す図である。
【図２１】図１に示す汚れ検出用測光部の他の例を示す図である。
【図２２】図１に示す汚れ検出用測光部の他の例を示す図である。
【図２３】図１に示す汚れ検出用測光部の他の例を示す図である。
【符号の説明】
【０１１８】
１，２０１，３０１ 分析装置
２，２０２，３０２ 測定機構
３ 制御機構
１１ 検体移送部
１１ｂ 検体ラック
１１ａ 検体容器
１２ 検体分注機構
１２ａ，１６ａ アーム
１３，３１３ 反応テーブル
１４ 試薬庫
１５ 試薬容器
１６ 試薬分注機構
１７ 攪拌部
１８，２１８，３１８ 測光部
１９ 洗浄部
２０ 汚れ検出用測光部
２１ 反応容器
３１ 制御部
３２ 入力部
３３ 分析部
３４ 汚れ検出部
３５ 記憶部
３６ 出力部
１２１，１２１ａ 検出用光源
１２２，１２２ａ 検出用測光部
１２３ 光源側昇降機構
１２４ 測光側昇降機構
１３１，１３２ ホルダー
１３３ 蓋
１６１ 試薬ノズル
１８１ 光源
１８２ 受光部
１８６，１８７，１８８，１８９ 移送機構
１２３１，１２４１ 昇降用モータ
１２３２ａ，１２３２ｂ，１２４２ａ，１２４２ｂ プーリ
１２３３，１２４３ 昇降用ベルト
１２３４，１２４４ 移動板
１２３５ 光源側軸柱
１２４５ 測光側軸柱
１８３１，１８３２，１８４１，１８４２，１８５１，１８５２，１８６１，１８６２ ミラー
１８３３，１８４３，１８５３，１８６３ 回転軸
３１３１ ホルダー
３１３２，３１３３ 電磁石
３１８１ 回転軸
３１８２ カム
【技術分野】
【０００１】
この発明は、容器に保持された液体検体を分析する分析装置であって使用する容器の汚れを検出する分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、血液や体液等の検体を自動的に分析する装置として、試薬が分注された反応容器に検体を加え、反応容器内の試薬と検体の間で生じた反応を光学的に検出する分析装置が知られている。このような分析装置においては、光学的測定が終了した反応容器内の混合液を吸引して排出するとともに、洗剤や洗浄水等の洗浄液を注入および吸引することで洗浄を行ない、反応容器を繰り返し利用している。そして、このような分析装置においては、反応容器に蒸留水を注入し吸光度測定を行なうことによって洗浄後の容器の清浄度を確認した上で、反応容器を再利用していた（特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開平５−１６４７６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の分析装置においては、汚れ検出時においても分析処理時に測光される測光領域１点でしか汚れ検出のための吸光度測定を行なっておらず、測光領域以外の領域の汚れまでは検出していなかった。特に近年において要求される分析精度の向上化を実現するためには、洗浄処理後の容器における測光領域以外の領域についても汚れを検出して、洗浄処理後の容器に残存する汚れをさらに厳密に検出することが望ましい。
【０００５】
本発明は、上記した従来技術の欠点に鑑みてなされたものであり、分析処理に使用する容器の測光領域以外の領域における汚れを検出できる分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、この発明にかかる分析装置は、容器に保持された液体検体を分析する分析装置において、前記液体検体を保持する容器に光を照射する分析用光源および、前記分析用光源から照射された光のうち前記容器を透過した光を受光する分析用受光手段を備えた分析用測光手段と、前記分析用光源による光が照射される領域である測光領域以外の領域に対して光を照射する検出用光源および、前記測光領域以外の領域における前記容器の光学特性を測定する検出用測光手段を備えた汚れ用測定手段と、前記検出用測光手段の測定結果をもとに前記容器の汚れの程度を検出する汚れ検出手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００７】
また、この発明にかかる分析装置は、前記汚れ用測定手段は、前記検出用光源から照射される光の光束と前記容器とを相対的に移動させる光路移動手段を有することを特徴とする。
【０００８】
また、この発明にかかる分析装置は、前記光路移動手段は、前記検出用光源から照射される光の光束が前記容器の側面に対して上下に移動するように前記検出用光源を昇降させる光源側昇降手段と、前記光源側昇降手段の昇降動作に同期させて前記検出用測光手段を昇降させる測光側昇降手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
また、この発明にかかる分析装置は、前記光路移動手段は、汚れ検出時に前記検出用光源から照射される光の光束を前記測光領域以外の領域に誘導する光源側誘導機構と、汚れ検出時に前記検出用光源から照射された光のうち前記測光領域以外の領域を透過した光を前記検出用測光手段に誘導する測光側誘導機構と、を備えたことを特徴とする。
【００１０】
また、この発明にかかる分析装置は、前記光路移動手段は、汚れ検出時に汚れ検出対象の前記容器を昇降させる容器昇降手段を備えたことを特徴とする。
【００１１】
また、この発明にかかる分析装置は、前記検出用測光手段は、前記測光領域以外の領域を透過した所定波長の光の吸光度を測定し、前記汚れ検出手段は、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の前記所定波長の光の吸光度が所定の閾値以下である場合には前記容器に汚れがないと判断し、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の吸光度が前記所定の閾値を超えていた場合には前記容器に汚れが残存していると判断することを特徴とする。
【００１２】
また、この発明にかかる分析装置は、前記検出用測光手段は、前記測光領域以外の領域から発せられた蛍光量を測定し、前記汚れ検出手段は、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の蛍光量が所定の閾値以下である場合には前記容器に汚れがないと判断し、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の蛍光量が前記所定の閾値を超えていた場合には前記容器に汚れが残存していると判断することを特徴とする。
【００１３】
また、この発明にかかる分析装置は、前記分析用光源は、前記検出用光源を兼ねることを特徴とする。
【００１４】
また、この発明にかかる分析装置は、前記分析用受光手段は、前記検出用測光手段を兼ねることを特徴とする。
【００１５】
また、この発明にかかる分析装置は、前記検出用光源は、前記容器の角部へ光を照射することを特徴とする。
【００１６】
また、この発明にかかる分析装置は、前記検出用測光手段は、前記容器の開口上部に配置されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、容器の汚れを検出するために、測光領域以外の領域に対して光を照射して容器の光学特性を測定し、測定結果をもとに汚れの程度を検出するため、分析処理に使用する容器における測光領域以外の領域について汚れを検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態である分析装置について、血液や尿などの液体検体が分注される反応容器に残存した汚れを検出する分析装置を例に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、図面の記載において、同一部分には同一の符号を付している。
【００１９】
（実施の形態１）
まず、実施の形態１について説明する。図１は、実施の形態１にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図１に示すように、実施の形態１にかかる分析装置１は、分析対象である検体および試薬を反応容器２１にそれぞれ分注し、分注した反応容器２１内で生じる反応を光学的に測定する測定機構２と、測定機構２を含む分析装置１全体の制御を行なうとともに測定機構２における測定結果の分析を行なう制御機構３とを備える。分析装置１は、これらの二つの機構が連携することによって複数の検体の生化学分析を自動的に行なう。なお、反応容器２１は、容量が数ｎＬ〜数ｍＬと微量な容器であり、測光部１８の光源から出射された分析光（３４０〜８００ｎｍ）に含まれる光の８０％以上を透過する透明素材、例えば、耐熱ガラスを含むガラス、環状オレフィンやポリスチレン等の合成樹脂が使用される。反応容器２１は、側壁と底壁とによって液体を保持する水平断面が四角形の液体保持部が形成され、液体保持部の上部に開口を有する四角筒形状の反応容器である。
【００２０】
測定機構２は、大別して検体移送部１１、検体分注機構１２、反応テーブル１３、試薬庫１４、試薬分注機構１６、攪拌部１７、測光部１８、洗浄部１９および汚れ検出用測光部２０を備える。
【００２１】
検体移送部１１は、血液を検体として収容した複数の検体容器１１ａを保持し、図中の矢印方向に順次移送する複数の検体ラック１１ｂを備える。検体移送部１１上の所定位置に移送された検体容器１１ａ内の検体は、検体分注機構１２によって、反応テーブル１３上に配列して搬送される反応容器２１に分注される。
【００２２】
検体分注機構１２は、鉛直方向への昇降および自身の基端部を通過する鉛直線を中心軸とする回転を自在に行なうアーム１２ａを備える。このアーム１２ａの先端部には、検体の吸引および吐出を行なうノズルが取り付けられている。検体分注機構１２は、図示しない吸排シリンジまたは圧電素子を用いた吸排機構を備える。検体分注機構１２は、上述した検体移送部１１上の所定位置に移送された検体容器１１ａの中からノズルによって検体を吸引し、アーム１２ａを図中時計回りに旋回させ、反応容器２１に検体を吐出して分注を行なう。
【００２３】
反応テーブル１３は、反応容器２１への検体や試薬の分注、反応容器２１の攪拌、測光、洗浄および汚れ検出用測光を行なうために反応容器２１を所定の位置まで移送する。この反応テーブル１３は、制御部３１の制御のもと、図示しない駆動機構が駆動することによって、反応テーブル１３の中心を通る鉛直線を回転軸として回動自在である。反応テーブル１３の上方と下方には、図示しない開閉自在な蓋と恒温槽がそれぞれ設けられている。
【００２４】
試薬庫１４は、反応容器２１内に分注される試薬が収容された試薬容器１５を複数収納できる。試薬庫１４には、複数の収納室が等間隔で配置されており、各収納室には試薬容器１５が着脱自在に収納される。試薬庫１４は、制御部３１の制御のもと、図示しない駆動機構が駆動することによって、試薬庫１４の中心を通る鉛直線を回転軸として時計回りまたは反時計回りに回動自在であり、所望の試薬容器１５を試薬分注機構１６による試薬吸引位置まで移送する。試薬庫１４の上方には、開閉自在な蓋（図示せず）が設けられている。また、試薬庫１４の下方には、恒温槽が設けられている。このため、試薬庫１４内に試薬容器１５が収納され、蓋が閉じられたときに、試薬容器１５内に収容された試薬を冷却し、試薬容器１５内に収容された試薬の蒸発や変性を抑制することができる。
【００２５】
試薬分注機構１６は、検体分注機構１２と同様に、試薬の吸引および吐出を行なう試薬ノズルが先端部に取り付けられたアーム１６ａを備える。アーム１６ａは、鉛直方向への昇降および自身の基端部を通過する鉛直線を中心軸とする回転を自在に行なう。試薬分注機構１６は、試薬庫１４上の所定位置に移動された試薬容器１５内の試薬をノズルによって吸引し、アーム１６ａを図中時計回りに旋回させ、反応テーブル１３上の所定位置に搬送された反応容器２１に分注する。攪拌部１７は、反応容器２１に分注された検体と試薬との攪拌を行い、反応を促進させる。
【００２６】
測光部１８は、たとえば、所定の測光位置に搬送された反応容器２１にハロゲンランプなどの光源から分析光（３４０〜８００ｎｍ）を照射し、反応容器２１内の液体を透過した光を分光し、ＰＤＡなどの受光素子による各波長光の強度測定を行なうことによって、分析対象である検体と試薬との反応液に特有の波長の吸光度を測定する。
【００２７】
洗浄部１９は、洗浄ノズルによって、測光部１８による測定が終了した反応容器２１内の混合液を吸引して排出するとともに、洗剤や洗浄水等の洗浄液を注入および吸引することで分析処理が終了した反応容器２１を洗浄する。この洗浄された反応容器２１は再利用される。
【００２８】
汚れ検出用測光部２０は、分析装置１において使用される反応容器２１の汚れを検出するために、反応容器２１における測光部１８の光源による測光領域以外の領域に対して光を照射する検出用光源と、検出用光源から光を照射された反応容器２１の所定の光学特性を測定する検出用測光部とを備える。検出用光源は、反応容器２１の汚れが吸収する所定波長の光を測光領域以外の領域に照射する。検出用測光部は、測光領域以外の領域を透過した所定波長の光を測定して、測光領域以外の領域の所定波長の光の吸光度を測定する。汚れ検出用測光部２０は、分析処理前におけるメンテナンス時に分析装置１において使用される各反応容器２１の汚れを検出するために汚れ検出用の測定処理を行なうほか、洗浄部１９による洗浄後の反応容器２１に対しても汚れ検出用の測定処理を行なう。
【００２９】
つぎに、制御機構３について説明する。制御機構３は、制御部３１、入力部３２、分析部３３、汚れ検出部３４、記憶部３５および出力部３６を備える。測定機構２および制御機構３が備えるこれらの各部は、制御部３１に電気的に接続されている。
【００３０】
制御部３１は、ＣＰＵ等を用いて構成され、分析装置１の各部の処理および動作を制御する。制御部３１は、これらの各構成部位に入出力される情報について所定の入出力制御を行い、かつ、この情報に対して所定の情報処理を行なう。入力部３２は、キーボード、マウス等を用いて構成され、検体の分析に必要な諸情報や分析動作の指示情報等を外部から取得する。分析部３３は、測光部１８によって測定された吸光度に基づいて検体の成分分析等を行なう。
【００３１】
汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０における検出用測光部によって測定された反応容器２１における測光領域および測光領域以外の領域についての測定結果をもとに反応容器２１の汚れの程度を検出する。汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０によって測定された反応容器２１における測光領域以外の領域の所定波長の光の吸光度が所定の閾値以下である場合には、この反応容器２１の次の分析処理に影響を与えない程度まで取り除かれ、この反応容器２１に汚れがないと判断する。一方、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０によって測定された反応容器２１における測光領域以外の領域の所定波長の光の吸光度のいずれかが所定の閾値を超えている場合には、この反応容器２１に次の分析に影響を与える程度の汚れが残存していると判断する。
【００３２】
記憶部３５は、情報を磁気的に記憶するハードディスクと、分析装置１が処理を実行する際にその処理にかかわる各種プログラムをハードディスクからロードして電気的に記憶するメモリとを用いて構成され、検体の分析結果等を含む諸情報を記憶する。記憶部３５は、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＰＣカード等の記憶媒体に記憶された情報を読み取ることができる補助記憶装置を備えてもよい。
【００３３】
出力部３６は、ディスプレイ、プリンタ、スピーカー等を用いて構成され、検体の分析結果を含む諸情報を出力する。また、出力部３６は、図示しない通信ネットワークを介して外部装置に諸情報を出力する。
【００３４】
以上のように構成された分析装置１では、列をなして順次搬送される複数の反応容器２１に対して、検体分注機構１２が検体容器１１ａ中の検体を分注し、試薬分注機構１６が試薬容器１５中の試薬を分注した後、測光部１８が検体と試薬とを反応させた状態の検体の分光強度測定を行い、この測定結果を分析部３３が分析することで、検体の成分分析等が自動的に行われる。また、洗浄部１９が測光部１８による測定が終了した後に搬送される反応容器２１を搬送させながら洗浄し、その後に汚れ検出用測光部２０および汚れ検出部３４が洗浄後の反応容器２１の汚れを検出することで、一連の分析動作が連続して繰り返し行われる。
【００３５】
つぎに、図２を参照して、汚れ検出用測光部２０について説明する。図２に示すように、汚れ検出用測光部２０は、検出用光源１２１と、検出用測光部１２２とともに、検出用光源１２１から照射される光の光束が反応容器２１の側面に対して上下に移動するように矢印Ｙ１１のように検出用光源１２１を昇降させる光源側昇降機構１２３と、光源側昇降機構１２３の昇降動作に同期させて矢印Ｙ１２のように検出用測光部１２２を昇降させる測光側昇降機構１２４とを備える。
【００３６】
たとえば図２に示す反応容器２１の側面の領域Ｓ１１から領域Ｓ１３に検出用光源１２１から発せられた光が照射されるように、光源側昇降機構１２３が検出用光源１２１を昇降させ、この検出用光源１２１による照射光のうち反応容器２１の各領域を透過した光を受光できるように測光側昇降機構１２４が光源側昇降機構１２３に同期して検出用測光部１２２を昇降させる。
【００３７】
具体的には、汚れ検出部３４が測光部１８による測光領域に対応する領域Ｓ１１の汚れの程度を検出する場合には、光源側昇降機構１２３は、制御部３１の制御のもと、検出用光源１２１から発せられた光Ｅ１１ａの光束が領域Ｓ１１に照射されるように領域Ｓ１１に対応した高さに検出用光源１２１を移送する。そして、測光側昇降機構１２４は、制御部３１の制御のもと、光源側昇降機構１２３の昇降動作に同期して、光Ｅ１１ａのうち反応容器２１の領域Ｓ１１を透過した光Ｅ１１ｂを受光できるように領域Ｓ１１に対応した高さに検出用測光部１２２を移送する。また、汚れ検出部３４が測光領域以外の領域Ｓ１３の汚れの程度を検出する場合には、光源側昇降機構１２３は、制御部３１の制御のもと、矢印Ｙ１１のように検出用光源１２１から発せられた光Ｅ１３ａの光束が領域Ｓ１３に照射されるように領域Ｓ１３に対応した高さまで検出用光源１２１を上昇する。そして、測光側昇降機構１２４は、制御部３１の制御のもと、光源側昇降機構１２３の昇降動作に同期して、光Ｅ１３ａのうち反応容器２１の領域Ｓ１３を透過した光Ｅ１３ｂを受光できるように、矢印Ｙ１２のように領域Ｓ１３に対応した高さまで検出用測光部１２２を上昇する。
【００３８】
このように、汚れ検出用測光部２０においては、測光部１８における測光領域以外の領域に対しても光が照射されるように、検出用光源１２１から照射される光の光束を、反応容器２１側面に対して移動させる光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４を光路移動手段として備えている。この結果、検出用光源１２１は、矢印Ｙ１３に示すように反応容器２１の側面の領域Ｓ１１から領域Ｓ１３までの領域に検出用光源１２１からの光を照射することができ、さらに検出用測光部１２２は、反応容器２１における領域Ｓ１１からＳ１３までの各領域の透過光を受光して所定波長の吸光度を得ることができる。
【００３９】
次に、図３を参照して、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４について説明する。光源側昇降機構１２３は、プーリ１２３２ａと接続する昇降用モータ１２３１と、検出用光源１２１と接続する光源側軸柱１２３５と並行に配置されプーリ１２３２ａ，１２３２ｂが掛け渡された昇降用ベルト１２３３と、昇降用ベルト１２３３の所定位置に固定されるとともに光源側軸柱１２３５と一体に昇降可能に設けられた移動板１２３４とを備える。
【００４０】
制御部３１の制御のもと昇降用モータ１２３１が上昇方向に対応する矢印Ｙ１５ａ方向に回転した場合、昇降用モータ１２３１の回転がプーリ１２３２ａに伝達することによって、昇降用ベルト１２３３が回転し、これにともない移動板１２３４が矢印Ｙ１６ａのように上昇することによって光源側軸柱１２３５が矢印Ｙ１６ｃのように上昇する。この光源側軸柱１２３５の上昇によって、検出用光源１２１も上昇する。また、制御部３１の制御のもと昇降用モータ１２３１が下降方向に対応する方向に回転した場合、昇降用モータ１２３１の回転がプーリ１２３２ａに伝達することによって、昇降用ベルト１２３３が回転し、これにともない移動板１２３４が矢印Ｙ１７ａのように下降することによって光源側軸柱１２３５が矢印Ｙ１８ａのように下降する。この光源側軸柱１２３５の下降によって、検出用光源１２１も下降する。
【００４１】
このように、昇降用モータ１２３１の回転によって光源側軸柱１２３５が昇降することとなる。そして、検出用光源１２１は、反応テーブル１３のホルダー１３１，１３２に保持された反応容器２１側面の広い範囲に対して、各光Ｅ１１ａ，１２ａ，１３ａを照射することができる。なお、ホルダー１３１には、反応容器２１側面に検出用光源１２１からの光が広く照射するように、測光部１８における測光窓よりも広い領域が開口した汚れ検出用測光窓Ｗ１が設けられている。また、反応容器２１は蓋１３３によって覆われている。
【００４２】
そして、測光側昇降機構１２４は、プーリ１２４２ａと接続する昇降用モータ１２４１と、検出用測光部１２２と接続する測光側軸柱１２４５と並行に配置されプーリ１２４２ａ，１２４２ｂが掛け渡された昇降用ベルト１２４３と、昇降用ベルト１２４３の所定位置に固定されるとともに測光側軸柱１２４５と一体に昇降可能に設けられた移動板１２４４とを備える。
【００４３】
制御部３１の制御のもと昇降用モータ１２４１が上昇方向に対応する矢印Ｙ１５ｂ方向に回転した場合、昇降用モータ１２４１の回転がプーリ１２４２ａに伝達することによって、昇降用ベルト１２４３が回転し、これにともない移動板１２４４が矢印Ｙ１６ｂのように上昇することによって測光側軸柱１２４５が矢印Ｙ１６ｄのように上昇する。この測光側軸柱１２４５の上昇によって、検出用測光部１２２も上昇する。また、制御部３１の制御のもと昇降用モータ１２４１が下降方向に対応する方向に回転した場合、昇降用モータ１２４１の回転がプーリ１２４２ａに伝達することによって、昇降用ベルト１２４３が回転し、これにともない移動板１２４４が矢印Ｙ１７ｂのように下降することによって測光側軸柱１２４５が矢印Ｙ１８ｂのように下降する。この測光側軸柱１２４５の下降によって、検出用測光部１２２も下降する。
【００４４】
このように、昇降用モータ１２４１の回転によって測光側軸柱１２４５が昇降することとなる。そして、検出用測光部１２２は、反応テーブル１３のホルダー１３１，１３２に保持された反応容器２１側面の広い範囲から透過された各光Ｅ１１ｂ，１２ｂ，１３ｂを受光することができる。
【００４５】
つぎに、図４を参照して、分析装置１における反応容器２１に対する汚れ検出処理について説明する。図４に示すように、反応テーブル１３は、汚れ検出対象の反応容器２１を試薬分注機構１６による試薬吐出位置まで搬送し、試薬分注機構１６は、汚れ検出のための評価溶液を注入する評価溶液注入処理を行なう（ステップＳ２）。この評価溶液は、蒸留水などであってもよく、また、反応容器２１に残存する検体中の成分と選択的に反応して発色し、所定波長の光を吸収する構成物を含むものであってもよい。また、この評価溶液は必ずしも注入する必要はなく、内部が空である状態の反応容器２１に対して以下の汚れ検出のための各処理を行なってもよい。
【００４６】
そして、第１光路に対応する領域の汚れを検出するため、検出用光源１２１から発せられ反応容器２１を透過する光の光路が第１光路となるように、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４は、制御部３１の制御のもと、第１光路に対応する高さに検出用光源１２１および検出用測光部１２２を移動する（ステップＳ６）。なお、第１光路は、たとえば図２に示す反応容器２１側面の測光領域に対応する領域Ｓ１１に入射し、この領域Ｓ１１を透過する場合の光路である。
【００４７】
そして、検出用光源１２１が反応容器２１に対して光を照射し、検出用測光部１２２が反応容器２１の所定の領域を透過した光を受光し所定波長の光の吸光度を測定することによって汚れ検出用測光処理が行われる（ステップＳ８）。汚れ検出部３４は、検出用測光部１２２の測光値が汚れ有無判断の基準となる所定の閾値を超えるか否かを判断する（ステップＳ１０）。
【００４８】
汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えると判断した場合（ステップＳ１０：Ｙｅｓ）、この反応容器２１には次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していることを検出する（ステップＳ１２）。そして、制御部３１は、洗浄部１９に対して、汚れ検出部３４によって汚れが検出された反応容器２１を再洗浄させる再洗浄処理を行なう（ステップＳ１４）。次いで、この再洗浄された反応容器２１が汚れているかを再度判断するため、ステップＳ２に戻り評価溶液を注入し、汚れ検出のための各処理を行なう。
【００４９】
これに対し、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えていないと判断した場合（ステップＳ１０：Ｎｏ）、すなわち汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値以下であると判断した場合、この光路に対応する反応容器２１の領域、すなわち第１光路に対応する反応容器２１の領域では次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していないものと判断する（ステップＳ１６）。
【００５０】
そして、制御部３１は、汚れ検出用測光部２０による汚れ検出対象の全領域に対する測光処理が終了したか否かを判断する（ステップＳ１８）。
【００５１】
制御部３１は、終了していないと判断した場合（ステップＳ１８：Ｎｏ）、ステップＳ１６で判断した光路の次の光路に対応する反応容器側面の領域の汚れを判断するため、次の光路に移動する（ステップＳ２０）。すなわち、次の光路に対応する反応容器側面の領域の汚れを判断するため、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４は、次の光路に対応する高さに検出用光源１２１および検出用測光部１２２を移動する。たとえば、第１光路に対応する反応容器２１側面領域の汚れ検出を終了した場合には、図３に例示する光Ｅ１２ａ，１２ｂに示された第２光路に対応する反応容器２１側面領域の汚れを判断するために、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４は、次の第２光路に対応する高さに検出用光源１２１および検出用測光部１２２を移動する。次いでステップ８に戻り、検出用光源１２１および検出用測光部１２２による汚れ検出用測光処理（ステップＳ８）を行ない、汚れ検出部３４は、この第２光路に対応する反応容器側面領域の汚れ検出部３４による汚れ判断の処理を行なう。このように、分析装置１においては、設定された各光路ごとに、各光路に対応する反応容器２１側面の各領域の汚れの程度を検出する。
【００５２】
一方、制御部３１は、終了したと判断した場合（ステップＳ１８：Ｙｅｓ）、汚れ検出対象の全領域に対する汚れ検出処理が終了し、反応容器側面の汚れ検出対象の全領域に汚れがないと判断する（ステップＳ２２）。次いで、制御部３１は、洗浄部１９に対して、汚れ検出部３４によって汚れがないと判断された反応容器２１を水などですすがせるすすぎ洗浄処理を行ない（ステップＳ２４）、この反応容器２１に対する汚れ検出処理を終了する。この反応容器２１は、すすぎ洗浄処理が行われた後、分析処理に使用される。
【００５３】
このように、本実施の形態１においては、検出用光源１２１と検出用測光部１２２との双方を同期して昇降させることによって、測光部１８による測光領域以外の領域に対しても容器の汚れの程度を検出する。
【００５４】
ここで、従来の分析装置においては、反応容器に蒸留水を注入し吸光度測定を行なうことによって洗浄後の容器の清浄度を確認した上で、反応容器を再利用していた。具体的には、図５に示すように、汚れ検出対象の反応容器２１に蒸留水Ｌを注入してから、測光部における光源からの入射光Ｅｉを測光領域Ｓｐに照射し、この測光領域Ｓｐを透過した出射光Ｅｏを受光部において受光する吸光度測定を行なう。そして、従来の分析装置においては、この測光領域Ｓｐにおける吸光度が所定の閾値を超えていた場合には、この反応容器２１には汚れが残存していると判断していた。
【００５５】
しかしながら、従来の分析装置においては、汚れ検出時と分析処理時とにおいて、固定して配設されている分析用の光源および分析用の測光部を兼用していたため、汚れ検出時においても分析処理時に測光される測光領域Ｓｐの１点でしか汚れ検出のための吸光度測定を行なっておらず、測光領域以外の領域の汚れまでは検出していなかった。したがって、従来の分析装置においては、反応容器における測光領域以外の領域についても汚れを検出することができず、特に近年において要求される分析精度の向上化を実現することが困難であった。
【００５６】
これに対し、本実施の形態１にかかる分析装置１は、反応容器２１の汚れを検出するために、検出用光源１２１と検出用測光部１２２とを同期して昇降させて、分析処理時における測光領域以外の領域に対しても光を照射して反応容器２１の吸光度を測定している。この結果、分析装置１は、反応容器２１における測光領域以外の領域に対しても汚れの程度を検出できるため、洗浄処理後の容器に残存する汚れをさらに厳密に検出でき、近年要求されるさらなる分析精度の向上を図ることが可能になる。
【００５７】
なお、実施の形態１においては、反応容器２１の汚れ検出のために反応容器２１側面の各領域の吸光度を測定した場合について説明したが、もちろんこれに限らない。反応容器２１内に残存した汚れが主にたんぱく質である場合には、図６（１）の矢印Ｙ３に示すように、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬Ｌｄを試薬ノズル１６１などで反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる蛍光量を測定して汚れ検出処理を行なってもよい。
【００５８】
この場合、図６（２）に示すように、光源側昇降機構１２３は、検出用光源１２１から照射される励起光Ｅ１３ｃが反応容器２１の側面に対して上下に移動するように矢印Ｙ１１のように検出用光源１２１を昇降させる。そして、測光側昇降機構１２４は、光源側昇降機構１２３の昇降動作に同期させて矢印Ｙ１２のように検出用測光部１２２を昇降させて反応容器２１から発せられた各領域の蛍光Ｅ１３ｄの蛍光量を測定する。
【００５９】
次いで、汚れ検出部３４は、検出用測光部１２２によって測定された蛍光量が汚れ有無判断基準となる所定の閾値を超えていた場合には、この反応容器２１に次の分析に影響を与える程度の汚れが残存していると判断する。一方、汚れ検出部３４は、検出用測光部１２２によって測定された蛍光量が所定の閾値以下である場合には、この反応容器２１の汚れは次の分析処理に影響を与えない程度まで取り除かれたと判断する。
【００６０】
このように、分析装置１は、反応容器２１の汚れを検出するために蛍光を測定する場合においても、検出用光源１２１と検出用測光部１２２とを同期して昇降させることによって、反応容器２１における測光領域とともに測光領域以外の領域に対しても汚れの程度を検出できる。
【００６１】
また、分析装置１は、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く発光を発する構成物を含む試薬を反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる発光量を測定して汚れ検出処理を行なってもよい。この場合、汚れ検出用測光部２０は、励起光を照射する必要がないため、図６に示す構成から検出用光源１２１および光源側昇降機構１２３を削除した構成で足りる。
【００６２】
また、本実施の形態１においては、分析処理として分光強度測定を行なう測光部１８と、汚れ検出のための測光処理を行なう汚れ検出用測光部２０とを別個に設けた場合を例に説明したが、これに限らない。すなわち、汚れ検出のための照射光または励起光の波長が測光部１８におけるハロゲンランプの照射波長に含まれる場合には、測光部１８における光源が検出用光源を兼ねてもよく、また、汚れ検出処理における測光波長が測光部１８における受光素子の測光波長に含まれる場合には、測光部における受光素子が検出用測光部１２２を兼ねてもよい。また、測光領域以外の領域だけでなく、測光領域に光を照射して、測光領域における容器の汚れを検出しても良い。さらに、汚れ検出時には、単一の波長の光を使用するに限らず、複数の波長を使って汚れを検出しても良い。
【００６３】
（実施の形態２）
つぎに、実施の形態２について説明する。実施の形態２においては、汚れ検出時において、光源から照射される光を反応容器側面の測光領域以外の領域に誘導して、測光領域以外の領域における光学的特性を測定する。
【００６４】
図７は、実施の形態２にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図７に示すように、実施の形態２にかかる分析装置２０１の測定機構２０２は、光源から照射される光を反応容器側面の測光領域以外の領域に誘導する機構を備え、分析処理のための測光処理と反応容器２１の汚れ検出のための測光処理との双方の処理を行なう測光部２１８を有する。
【００６５】
つぎに、図８を参照して図７に示す測光部２１８について説明する。図８は、図７に示す測光部２１８の要部構成を示す図である。図８に示すように、測光部２１８は、検体を分析するために反応容器２１に光を照射するとともに反応容器２１の汚れを検出するために反応容器２１に光を照射する光源１８１と、光源１８１から照射された光のうち反応容器２１の各領域を透過した所定波長の光をそれぞれ測定し吸光度を取得する受光部１８２とを備える。
【００６６】
測光部２１８は、光源側領域に、制御部３１の制御によって軸心を中心に回転する回転軸１８３３と、回転軸１８３３に接続し回転軸１８３３の回転によって回動するミラー１８３１と、ミラー１８３１からの反射光を反応容器２１側面の上部領域に反射するように固定して配設されたミラー１８３２とを有する。これに対応するように、測光部２１８は、受光部側領域に、反応容器２１側面の上部領域を透過した光をミラー１８５２方向に反射するように固定して配設されたミラー１８５１と、制御部３１の制御によって軸心を中心に回転する回転軸１８５３と、回転軸１８５３に接続し回転軸１８５３の回転によって回転軸１８５３を中心に回転するミラー１８５２とを有する。
【００６７】
そして、測光部２１８は、光源側領域に、制御部３１の制御によって軸心を中心に回転する回転軸１８４３と、回転軸１８４３に接続して回転軸１８４３の回転によって回動するミラー１８４１と、ミラー１８４１からの反射光を反応容器２１側面の下部領域に反射するミラー１８４２とを有する。これに対応するように、測光部２１８は、受光部側領域に、反応容器２１側面の下部領域を透過した光をミラー１８６１方向に反射するように固定して配設されたミラー１８６２と、制御部３１の制御によって軸心を中心に回転する回転軸１８６３と、回転軸１８６３に接続し回転軸１８６３の回転によって回転軸１８６３を中心に回転するミラー１８６１とを有する。
【００６８】
図８に例示した構成においては、回転軸１８３３，１８４３，１８５３，１８６３の回転動作によってミラー１８３１，１８４１，１８５２，１８６１が所定の各位置に回転することによって、光源１８１から出射された光の光束を、反応容器２１側面における測光領域に対応する入射光路Ｅ２０ａおよび測光領域からの出射光路Ｅ２０ｂ、反応容器２１側面における測光領域の上部領域に対応する入射光路Ｅ２１ａおよび測光領域の上部領域からの出射光路Ｅ２１ｂ、または、反応容器２１側面における測光領域の下部領域に対応する入射光路Ｅ２２ａおよび測光領域の下部領域からの出射光路Ｅ２２ｂのいずれかに誘導する。
【００６９】
まず、図９を参照して、光源１８１から出射された光の光束を、反応容器２１側面における測光領域に対応する入射光路Ｅ２０ａおよび測光領域からの出射光路Ｅ２０ｂに誘導する場合について説明する。
【００７０】
図９に示すように、検体の分析処理時または反応容器２１における測光領域の汚れ検出時には、光源１８１から出射された光を測光領域に入射させるため、ミラー１８３１，１８４１が入射光路Ｅ２０ａに侵入しないように回転軸１８３３，１８４３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８３３は、矢印Ｙ２１のように回転し、ミラー１８３１を入射光路Ｅ２０ａ上から退避させる。また、回転軸１８４３は、矢印Ｙ２２のように回転し、ミラー１８４１を入射光路Ｅ２０ａから退避させる。この結果、光源１８１から出射された光は、入射光路Ｅ２０ａで反応容器２１側面の測光領域に入射する。
【００７１】
そして、反応容器２１側面の測光領域における吸光度測定時には、測光領域を透過した光を受光部１８２に入射させるため、ミラー１８６１，１８５２が出射光路Ｅ２０ｂに侵入しないように回転軸１８６３，１８５３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８６３は、矢印Ｙ２４のように回転し、ミラー１８６１を出射光路Ｅ２０ｂ上から退避させる。また、回転軸１８５３は、矢印Ｙ２３のように回転し、ミラー１８５２を出射光路Ｅ２０ｂから退避させる。この結果、反応容器２１側面の測光領域を透過した光は、出射光路Ｅ２０ｂで受光部１８２に入射する。
【００７２】
このように、分析装置２０１においては、検体の分析処理時または反応容器２１における測光領域の汚れ検出時には、回転軸１８３３，１８４３，１８６３，１８５３を回転させて入射光路Ｅ２０ａおよび出射光路Ｅ２０ｂ上から各ミラー１８３１，１８４１，１８５２，１８６１を退避移動させることによって、光源１８１から出射された光を反応容器２１側面の測光領域に照射し、測光領域の透過光を受光部１８２で受光する。
【００７３】
つぎに、図１０を参照して、光源１８１から出射された光の光束を、反応容器２１側面における上部領域に対応する入射光路Ｅ２１ａおよび上部領域からの出射光路Ｅ２１ｂに誘導する場合について説明する。
【００７４】
図１０に示すように、反応容器２１における測光領域よりも上部領域に対する汚れ検出時には、光源１８１から出射された光を上部領域に入射させるため、ミラー１８３１が入射光路Ｅ２１ａを形成するように回転軸１８３３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８３３は、矢印Ｙ２５のように回転し、光源１８１から出射された光をミラー１８３２に反射する角度となるようにミラー１８３１を回転させる。この結果、光源１８１から出射された光は、ミラー１８３１およびミラー１８３２において順次反射することによって、入射光路Ｅ２１ａで反応容器２１側面の上部領域に入射する。
【００７５】
そして、反応容器２１側面の上部領域における吸光度測定時には、反応容器２１側面の上部領域の透過光を受光部１８２に入射させるため、ミラー１８５２が出射光路Ｅ２１ｂを形成するように回転軸１８５３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８５３は、矢印Ｙ２６のように回転し、反応容器２１側面の上部領域を透過してミラー１８５１によって反射された光を受光部１８２に反射する角度となるようにミラー１８５２を回転させる。この結果、反応容器２１側面の上部領域を透過した光は、ミラー１８５１およびミラー１８５２において順次反射することによって、出射光路Ｅ２１ｂで受光部１８２に入射する。
【００７６】
このように、分析装置２０１においては、反応容器２１における上部領域の汚れ検出時には、回転軸１８３３，１８５３を回転させることによって、光源１８１から出射された光を反応容器２１側面の上部領域に誘導し、さらに、この上部領域の透過光を受光部１８２に誘導している。
【００７７】
つぎに、図１１を参照して、光源１８１から出射された光の光束を、反応容器２１側面における下部領域に対応する入射光路Ｅ２２ａおよび下部領域からの出射光路Ｅ２２ｂに誘導する場合について説明する。
【００７８】
図１１に示すように、反応容器２１における測光領域よりも下部領域に対する汚れ検出時には、光源１８１から出射された光を下部領域に入射させるため、ミラー１８４１が入射光路Ｅ２２ａを形成するように回転軸１８４３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８４３は、矢印Ｙ２７のように回転し、光源１８１から出射された光をミラー１８４２に反射する角度となるようにミラー１８４１を回転させる。この結果、光源１８１から出射された光は、ミラー１８４１およびミラー１８４２において順次反射することによって、入射光路Ｅ２２ａで反応容器２１側面の下部領域に入射する。この場合、ミラー１８３１は、回転軸１８３３の回転動作によって、入射光路Ｅ２２ａ上から退避移動されている。
【００７９】
そして、反応容器２１側面の下部領域における吸光度測定時には、反応容器２１側面の下部領域の透過光を受光部１８２に入射させるため、ミラー１８６１が出射光路Ｅ２２ｂを形成するように回転軸１８６３の回転動作が制御される。すなわち、回転軸１８６３は、矢印Ｙ２８のように回転し、反応容器２１側面の下部領域を透過してミラー１８６２によって反射された光を受光部１８２に反射する角度となるようにミラー１８６１を回転させる。この結果、反応容器２１側面の下部領域を透過した光は、ミラー１８６２およびミラー１８６１において順次反射することによって、出射光路Ｅ２２ｂで受光部１８２に入射する。この場合には、ミラー１８５２は、回転軸１８５３の回転動作によって、出射光路Ｅ２２ｂ上から退避移動されている。
【００８０】
このように、分析装置２０１においては、反応容器２１における下部領域の汚れ検出時には、回転軸１８４３，１８６３を回転させることによって、光源１８１から出射された光を反応容器２１側面の下部領域に誘導し、さらに、この下部領域の透過光を受光部１８２に誘導している。
【００８１】
つぎに、図１２を参照して、分析装置２０１における反応容器２１に対する汚れ検出処理について説明する。図１２に示すように、分析装置２０１は、図４のステップＳ２と同様に、評価溶液注入処理（ステップＳ２０２）を行なう。次いで、制御部３１は、光源１８１から発せられ反応容器２１を透過する光の光路が第１光路となるように、回転軸１８３３，１８４３，１８５３，１８６３を回転制御することによって、ミラー１８３１，１８４１，１８５２，１８６１を回転移動させる（ステップＳ２０６）。なお、第１光路は、たとえば図９に示す反応容器２１側面の測光領域に対応する入射光路Ｅ２０ａ，出射光路Ｅ２０ｂである。
【００８２】
そして、光源１８１が反応容器２１に対して光を照射し、受光部１８２が反応容器２１の所定の領域を透過した光を受光し所定波長の光の吸光度を測定することによって汚れ検出用測光処理が行われる（ステップＳ２０８）。汚れ検出部３４は、受光部１８２の測光値が汚れ有無判断の基準となる所定の閾値を超えるか否かを判断する（ステップＳ２１０）。
【００８３】
そして、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えると判断した場合（ステップＳ２１０：Ｙｅｓ）、図４に示すステップＳ１２およびステップＳ１４と同様に、この反応容器２１には次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していることを検出し（ステップＳ２１２）、その後、洗浄部１９は、再洗浄処理を行なう（ステップＳ２１４）。次いで、この再洗浄された反応容器２１が汚れているかを再度判断するため、ステップＳ２０２に戻って評価溶液を注入し、汚れ検出のための各処理を行なう。
【００８４】
これに対し、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えていないと判断した場合（ステップＳ２１０：Ｎｏ）、この第１光路に対応する反応容器２１の領域では次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していないものと判断する（ステップＳ２１６）。
【００８５】
そして、図４に示すステップＳ１８と同様に、制御部３１は、全領域に対する測光処理が終了したか否かを判断する（ステップＳ２１８）。制御部３１は、終了していないと判断した場合（ステップＳ２１８：Ｎｏ）、次の光路に対応する反応容器側面の領域の汚れを判断するため、次の光路へ移動する（ステップＳ２２０）。すなわち、次の光路に対応する反応容器側面の領域の汚れを判断するため、光源１８１から発せられ反応容器２１を透過する光の光路が第２光路となるように、回転軸１８３３，１８４３，１８５３，１８６３を回転制御することによって、ミラー１８３１，１８４１，１８６１，１８５２を回転移動させる。次にステップＳ２０８に戻り、分析装置２０１は、汚れ検出用測光処理（ステップＳ２０８）を行なった上で、この第２光路に対応する反応容器側面領域の汚れ検出部３４による汚れ判断の処理を行なう。なお、第２光路は、たとえば図９に示す入射光路Ｅ２１ａ，出射光路Ｅ２１ｂである。このように、分析装置２０１においては、設定された各光路ごとに、各光路に対応する反応容器２１側面の各領域の汚れの程度を検出する。
【００８６】
一方、制御部３１は、終了したと判断した場合（ステップＳ２１８：Ｙｅｓ）、汚れ検出対象の全領域に対する汚れ検出処理が終了し、反応容器側面の汚れ検出対象の全領域に汚れがないと判断する（ステップＳ２２２）。次いで、洗浄部１９は、この反応容器２１に対しすすぎ洗浄処理を行ない（ステップＳ２２４）、この反応容器２１に対する汚れ検出処理を終了する。この反応容器２１は、すすぎ洗浄処理が行われた後、分析処理に使用される。
【００８７】
このように、実施の形態２においては、回転軸１８３３，１８４３，１８５３，１８６３を回転して各ミラー１８３１，１８４１，１８６１，１８５２を回転移動することによって、光源１８１から出射された光を反応容器２１側面の測光領域および測光領域以外の領域に誘導し、測光領域の透過光を受光部１８２に誘導する。したがって、実施の形態２においては、このような誘導機構を設け光源１８１から照射される光の光束を、反応容器２１側面に対して移動させることによって、測光部１８による測光領域以外の領域に対しても容器の汚れの程度を検出することができ、実施の形態１と同様の効果を奏する。
【００８８】
なお、分析装置２０１においては、図１３に示すように、ミラー１８３２を反応容器２１側面に対し矢印Ｙ２９ａのように上下方向に移送する移送機構１８６、ミラー１８４２を反応容器２１側面に対し矢印Ｙ２９ｃのように上下方向に移送する移送機構１８７、ミラー１８５１を反応容器２１側面に対し矢印Ｙ２９ｂのように上下方向に移送する移送機構１８８およびミラー１８６２を反応容器２１側面に対し矢印Ｙ２９ｄのように上下方向に移送する移送機構１８９を設け、さらに光路を増やし反応容器２１側面のさまざまな領域の汚れを検出できるようにしてもよい。
【００８９】
たとえば、移送機構１８６は、ミラー１８３２を、入射光路Ｅ２１ａに対応する位置から下降させ、移送機構１８８は、移送機構１８６の下降処理に同期してミラー１８５１を出射光路Ｅ２１ｂに対応する位置から下降させる。この場合には、光源１８１から出射された光の光束は入射光路Ｅ２１ａｂで反応容器２１側面に入射し、反応容器２１側面を透過した光は出射光路Ｅ２１ｂｂで受光部１８２に入射する。そして、この受光部１８２による吸光度測定の結果をもとに、汚れ検出部３４は、入射光路Ｅ２１ａｂおよび出射光路Ｅ２１ｂｂに対応する領域の汚れの程度を検出する。同様に、移送機構１８７は、ミラー１８４２を、入射光路Ｅ２２ａに対応する位置から上昇させ、移送機構１８９は、移送機構１８７の上昇処理に同期してミラー１８６２を出射光路Ｅ２２ｂに対応する位置から上昇させる。この場合には、光源１８１から出射された光の光束は入射光路Ｅ２２ａｂで反応容器２１側面に入射し、反応容器２１側面を透過した光は出射光路Ｅ２２ｂｂで受光部１８２に入射する。そして、この受光部１８２による吸光度測定の結果をもとに、汚れ検出部３４は、入射光路および出射光路Ｅ２２ｂｂに対応する領域の汚れの程度を検出する。
【００９０】
また、分析装置２０１は、分析装置１と同様に、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬を注入し、反応容器２１側面の各領域における蛍光量を測定して汚れ検出処理を行ってもよい。また、分析装置２０１は、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く発光を発する構成物を含む試薬を反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる発光量を測定して汚れ検出処理を行なってもよい。この場合、測光部２１８は、励起光を照射する必要がないため、光源１８１側の誘導機構である図９のミラー１８３１，１８３２，１８４１，１８４２および回転軸１８３３，１８４３を削除した構成で足りる。
【００９１】
（実施の形態３）
つぎに、実施の形態３について説明する。実施の形態３においては、汚れ検出時において、反応容器そのものを昇降させることによって、測光領域および測光領域以外の領域における光学的特性を測定する。
【００９２】
図１４は、実施の形態３にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図１４に示すように、実施の形態３にかかる分析装置３０１の測定機構３０２は、汚れ検出のための測光処理において汚れ検出対象の反応容器２１を昇降させる機構を備えた反応テーブル３１３と、分析処理のための測光処理と反応容器２１の汚れ検出のための測光処理との双方の処理を行なう測光部３１８とを有する。
【００９３】
つぎに、図１５および図１６を参照して図１４に示す反応テーブル３１３における昇降機構を説明する。図１５に示すように、反応テーブル３１３は、図示しない回転モータまたはステッピングモータと接続し軸心を中心に回転する回転軸３１８１と、この回転軸３１８１が貫通するカム３１８２とを有する昇降機構を備える。
【００９４】
制御部３１の制御のもと図示しない回転モータまたはステッピングモータが回転することによって、図１５の矢印Ｙ３１のように回転軸３１８１が回転する。そして、この回転軸３１８１の回転によって、回転軸３１８１が貫通するカム３１８２も矢印Ｙ３２のように回転する。この結果、カム３１８２上に位置する反応容器２１も、図１６の矢印Ｙ３３のように上昇する。
【００９５】
この結果、図１６の矢印Ｙ３４に示すように、図１５に示す反応容器２１の側面の領域Ｓ３１から図１６に示す領域Ｓ３３に、光源１８１からの光Ｅ３１ａの入射領域が移動する。そして、受光部１８２は、領域Ｓ３１を透過した透過光Ｅ３１ｂおよび領域Ｓ３３を透過した光Ｅ３３ｂを受光する。
【００９６】
このように、分析装置３０１は、汚れ検出時には、回転軸３１８１およびカム３１８２を回転させ反応容器２１そのものを昇降させて、測光領域および測光領域以外の領域における光学的特性を測定している。
【００９７】
つぎに、図１７を参照して、分析装置３０１における反応容器２１に対する汚れ検出処理について説明する。図１７に示すように、分析装置３０１は、図４のステップＳ２と同様に、評価溶液注入処理（ステップＳ３０２）を行なう。そして、光源１８１から発せられた光が第１汚れ検出対象領域に照射するように、回転軸３１８１が所定分回転し、反応容器２１を第１汚れ検出対象領域に対応する高さに昇降移動させる（ステップＳ３０６）。なお、第１汚れ検出対象領域は、たとえば図１５に示す領域Ｓ３１である。
【００９８】
そして、図１２に示すステップＳ２０８およびステップＳ２１０と同様に、汚れ検出用測光処理（ステップＳ３０８）および測光値が閾値を超えるか否かの判断処理（ステップＳ３１０）が行なわれる。
【００９９】
そして、汚れ検出部３４は、受光部１８２の測定値が所定の閾値を超えると判断した場合（ステップＳ３１０：Ｙｅｓ）、図４に示すステップＳ１２およびステップＳ１４と同様に、この反応容器２１には次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していることを検出し（ステップＳ３１２）、その後、洗浄部１９は、再洗浄処理を行なう（ステップＳ３１４）。次いで、この再洗浄された反応容器２１が汚れているかを再度判断するため、ステップＳ３０２に戻って評価溶液を注入し、汚れ検出のための各処理を行なう。
【０１００】
これに対し、汚れ検出部３４は、汚れ検出用測光部２０の測定値が所定の閾値を超えていないと判断した場合（ステップＳ３１０：Ｎｏ）、この第１汚れ検出対象領域には次の分析処理に影響を与える程度の汚れが残存していないものと判断する（ステップＳ３１６）。
【０１０１】
そして、制御部３１は、測光部３１８による汚れ検出対象の全領域に対する測光処理が終了したか否かを判断する（ステップＳ３１８）。
【０１０２】
制御部３１は、終了していないと判断した場合（ステップＳ３１８：Ｎｏ）、次の汚れ検出対象領域の汚れを判断するため、次の領域へ移動する（ステップＳ３２０）。すなわち、次の第２汚れ検出対象領域を判断するため、光源１８１から発せられた光が第２汚れ検出対象領域に照射するように、回転軸３１８１が回転し、反応容器２１を第２汚れ検出対象領域に対応する高さに昇降移動させる。なお、第２汚れ検出対象領域は、たとえば図１６に示す領域Ｓ３３である。このように、分析装置３０１においては、反応容器２１側面の各汚れ検出対象領域の汚れの程度を検出する。
【０１０３】
一方、制御部３１は、終了したと判断した場合（ステップＳ３１８：Ｙｅｓ）、汚れ検出対象の全領域に対する汚れ検出処理が終了し、反応容器側面の汚れ検出対象の全領域に汚れがないと判断する（ステップＳ３２２）。次いで、洗浄部１９は、この反応容器２１に対しすすぎ洗浄処理を行ない（ステップＳ３２４）、この反応容器２１に対する汚れ検出処理を終了する。この反応容器２１は、すすぎ洗浄処理が行われた後、分析処理に使用される。
【０１０４】
このように、実施の形態３においては、回転軸３１８１の回転制御によって、光源１８１から発せられた光が反応容器２１側面の測光領域および測光領域以外の領域に照射するように反応容器２１自体を昇降している。したがって、実施の形態３においては、反応容器２１を昇降させる昇降機構を設け、光源１８１から照射される光の光束に対し反応容器２１を上下に移動させることによって、測光部３１８による測光領域以外の領域に対しても容器の汚れの程度を検出することができ、実施の形態１と同様の効果を奏する。
【０１０５】
なお、実施の形態３では、カムによるほか、磁石の反発力を利用して反応容器２１を昇降させてもよい。この場合、図１８のように、反応テーブル３１３の測光位置において、反応容器２１下方に電磁石３１３２，３１３３を備えたホルダー３１３１を用いる。電磁石３１３２は、ホルダー３１３１底壁に固定して配設されており、電磁石３１３３は、ホルダー３１３１内を昇降できるように電磁石３１３２上に設けられている。
【０１０６】
制御部３１は、検体の分析処理時または反応容器２１における測光領域の汚れ検出時には、電磁石３１３２，３１３３がそれぞれ引き合うように、電磁石３１３２をＳ極化し、電磁石３１３３をＮ極化する。この場合、反応容器２１は、光源１８１から出射された光が反応容器２１側面の測光領域に入射できる高さを維持する。したがって、光源１８１から出射された光Ｅ４１ａは、反応容器２１側面の測光領域に入射し、受光部１８２は、反応容器２１側面の測光領域を透過した光Ｅ４１ｂを受光する。
【０１０７】
そして、反応容器２１側面における測光領域以外の領域の汚れ検出を行なう場合には、制御部３１は、電磁石３１３２，３１３３がそれぞれ反発するように、図１９に示すように、電磁石３１３３をＳ極化する。この結果、Ｓ極化された電磁石３１３２と電磁石３１３３との間に反発力Ｈ３１が発生する。電磁石３１３２は、ホルダー３１３１底壁に固定されているため、発生した反発力Ｈ３１の作用によって、電磁石３１３３がホルダー３１３１の領域Ｒ３１内を上昇する。この電磁石３１３３の上昇にともなって、電磁石３１３３上の反応容器２１は、矢印Ｙ３６のように、光源１８１から出射された光が反応容器２１側面の測光領域以外の領域に入射できる高さまで上昇することになる。したがって、光源１８１から出射された光Ｅ４３ａは、反応容器２１側面の測光領域の下部領域に入射し、受光部１８２は、この下部領域を透過した光Ｅ４３ｂを受光する。なお、電磁石３１３２，３１３３間に生じる反発力の強度を調整することによって、反応容器２１の高さを調節することができる。
【０１０８】
図１８および図１９のように磁石の反発力を利用して反応容器２１を昇降させた場合には、図１５および図１６のようにカム３１８２などの構成が大きな昇降機構を設ける必要がないため、昇降機構の小型化が可能になる。
【０１０９】
また、分析装置３０１は、分析装置１と同様に、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬を注入し、反応容器２１側面の各領域における蛍光量を測定して汚れ検出処理を行ってもよい。また、分析装置３０１は、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く発光を発する構成物を含む試薬を反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる発光量を測定して汚れ検出処理を行なってもよい。この場合、測光部３１８における光源１８１は、励起光を照射する必要がない。
【０１１０】
また、実施の形態１〜３において、汚れ検出時において、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬を注入し、反応容器２１側面の各領域における蛍光量を測定する場合には、反応容器２１の開口上部にさらに汚れ検出用の受光部を設けて、汚れ検出処理の確実化を図ってもよい。たとえば、実施の形態１に適用したばあいには、図２０に例示するように、検出用測光部１２２ａを、検出用光源１２１からの光軸を避けるように反応容器２１の開口上部に新たに配置する。このように反応容器２１の開口上部に設置した検出用測光部１２２ａは、反応容器２１側壁越しに蛍光量を検出するよりも高感度で蛍光量を検出でき、検出用光源１２１から発せられる光を直接受光しないため、受光結果への検出用光源１２１からの発光の影響を除去できる。したがって、検出用測光部１２２ａは、反応容器２１から発せられた蛍光Ｅ１３１ｄのみを確実に測定することができる。
【０１１１】
さらに、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く蛍光を発する構成物を含む試薬を注入し反応容器２１側面における蛍光量を測定して汚れ検出処理を行なう場合には、図２１に示すように、図２０の検出用光源１２１に代えて、反応容器２１側面全体に励起光を照射可能である検出用光源１２１ａを設けてもよい。この検出用光源１２１ａを用いて反応容器２１側面全体に励起光を照射した場合、反応容器２１開口上部の検出用測光部１２２ａは、たとえ反応容器２１側面の各領域における汚れが低濃度であった場合であっても、反応容器２１側面全体の汚れが積み重なった状態の蛍光量Ｅ１３１ｅを測定できる。このため、汚れ検出部３４は、検出用測光部１２２ａが測定した蛍光量をもとに、さらに低濃度の汚れを検出することができる。
【０１１２】
また、実施の形態１〜３においては、評価溶液として血液中のたんぱく質と選択的に反応して強く発光を発する構成物を含む試薬を反応容器２１内に注入してから、この反応容器２１から発せられる発光量を測定する場合においても同様に、たとえば図２２に示すように、反応容器２１の開口上部に汚れ検出用の検出用測光部１２２ａを設けて、汚れ検出処理の確実化を図ってもよい。
【０１１３】
また、実施の形態１〜３においては、検出用光源から照射される光の光束が反応容器２１の側面の角部へ照射されるように、光源側昇降機構、測光側昇降機構、誘導機構、容器昇降機構の配置位置などを設定してもよい。
【０１１４】
たとえば、実施の形態１における汚れ検出用測光部２０においては、図２３に例示するように、反応容器２１の側面角部に検出用光源１２１から発せられた光が照射されるように、検出用光源１２１および検出用測光部１２２の配置位置、向きを設定する。そして、光源側昇降機構１２３が矢印Ｙ４１１のように検出用光源１２１を昇降させ、測光側昇降機構１２４が矢印Ｙ４１２のように光源側昇降機構１２３に同期して検出用測光部１２２を昇降させる。この結果、矢印Ｙ４１３に示すように汚れ検出対象領域が反応容器２１の側面角部の領域Ｓ４１１から領域Ｓ４１３のように変化する。すなわち、光源側昇降機構１２３および測光側昇降機構１２４の昇降動作によって、検出用光源１２１は光Ｅ４１１ａを反応容器２１側面角部の領域Ｓ４１１に照射できるとともに検出用測光部１２２は領域Ｓ４１１を透過した光Ｅ４１１ｂを受光できる。また、検出用光源１２１は光Ｅ４１３ａを反応容器２１側面角部の領域Ｓ４１３に照射できるとともに検出用測光部１２２は領域Ｓ４１３を透過した光Ｅ４１３ｂを受光できる。
【０１１５】
このように、光源側昇降機構、測光側昇降機構、誘導機構、容器昇降機構の配置位置などを設定して、汚れ残りが発生しやすいと考えられる反応容器２１側面の角部に対しても汚れ検出を行ない、汚れ検出の確実化を図ってもよい。
【０１１６】
また、上記実施の形態で説明した分析装置１，２０１，３０１は、あらかじめ用意されたプログラムをコンピュータシステムで実行することによって実現することができる。このコンピュータシステムは、所定の記録媒体に記録されたプログラムを読み出して実行することで分析装置の処理動作を実現する。ここで、所定の記録媒体とは、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯディスク、ＤＶＤディスク、光磁気ディスク、ＩＣカードなどの「可搬用の物理媒体」の他に、コンピュータシステムの内外に備えられるハードディスクドライブ（ＨＤＤ）などのように、プログラムの送信に際して短期にプログラムを保持する「通信媒体」など、コンピュータシステムによって読み取り可能なプログラムを記録する、あらゆる記録媒体を含むものである。また、このコンピュータシステムは、ネットワーク回線を介して接続した管理サーバや他のコンピュータシステムからプログラムを取得し、取得したプログラムを実行することで分析装置の処理動作を実現する。
【図面の簡単な説明】
【０１１７】
【図１】実施の形態１にかかる分析装置の構成を示す模式図である。
【図２】図１に示す汚れ検出用測光部を説明する図である。
【図３】図２に示す光源側昇降機構および測光側昇降機構を説明する図である。
【図４】図１に示す分析装置における反応容器の汚れ検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図５】従来の汚れ検出処理を説明する図である。
【図６】実施の形態１における汚れ検出方法の他の例を説明する図である。
【図７】実施の形態２にかかる分析装置の構成を示す模式図である。
【図８】図７に示す測光部を説明する図である。
【図９】図７に示す測光部の各構成部位の動作について説明する図である。
【図１０】図７に示す測光部の各構成部位の動作について説明する図である。
【図１１】図７に示す測光部の各構成部位の動作について説明する図である。
【図１２】図７に示す分析装置における反応容器の汚れ検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１３】図７に示す測光部の他の例を説明する図である。
【図１４】実施の形態３にかかる分析装置の構成を示す模式図である。
【図１５】図１４に示す反応テーブルおよび測光部を説明する図である。
【図１６】図１４に示す反応テーブルおよび測光部を説明する図である。
【図１７】図１４に示す分析装置における反応容器の汚れ検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１８】図１４に示す反応テーブルの他の例を説明する図である。
【図１９】図１４に示す反応テーブルの他の例を説明する図である。
【図２０】図１に示す汚れ検出用測光部の他の例を示す図である。
【図２１】図１に示す汚れ検出用測光部の他の例を示す図である。
【図２２】図１に示す汚れ検出用測光部の他の例を示す図である。
【図２３】図１に示す汚れ検出用測光部の他の例を示す図である。
【符号の説明】
【０１１８】
１，２０１，３０１ 分析装置
２，２０２，３０２ 測定機構
３ 制御機構
１１ 検体移送部
１１ｂ 検体ラック
１１ａ 検体容器
１２ 検体分注機構
１２ａ，１６ａ アーム
１３，３１３ 反応テーブル
１４ 試薬庫
１５ 試薬容器
１６ 試薬分注機構
１７ 攪拌部
１８，２１８，３１８ 測光部
１９ 洗浄部
２０ 汚れ検出用測光部
２１ 反応容器
３１ 制御部
３２ 入力部
３３ 分析部
３４ 汚れ検出部
３５ 記憶部
３６ 出力部
１２１，１２１ａ 検出用光源
１２２，１２２ａ 検出用測光部
１２３ 光源側昇降機構
１２４ 測光側昇降機構
１３１，１３２ ホルダー
１３３ 蓋
１６１ 試薬ノズル
１８１ 光源
１８２ 受光部
１８６，１８７，１８８，１８９ 移送機構
１２３１，１２４１ 昇降用モータ
１２３２ａ，１２３２ｂ，１２４２ａ，１２４２ｂ プーリ
１２３３，１２４３ 昇降用ベルト
１２３４，１２４４ 移動板
１２３５ 光源側軸柱
１２４５ 測光側軸柱
１８３１，１８３２，１８４１，１８４２，１８５１，１８５２，１８６１，１８６２ ミラー
１８３３，１８４３，１８５３，１８６３ 回転軸
３１３１ ホルダー
３１３２，３１３３ 電磁石
３１８１ 回転軸
３１８２ カム
【特許請求の範囲】
【請求項１】
容器に保持された液体検体を分析する分析装置において、
前記液体検体を保持する容器に光を照射する分析用光源および、前記分析用光源から照射された光のうち前記容器を透過した光を受光する分析用受光手段を備えた分析用測光手段と、
前記分析用光源による光が照射される領域である測光領域以外の領域に対して光を照射する検出用光源および、前記測光領域以外の領域における前記容器の光学特性を測定する検出用測光手段を備えた汚れ用測定手段と、
前記検出用測光手段の測定結果をもとに前記容器の汚れの程度を検出する汚れ検出手段と、
を備えたことを特徴とする分析装置。
【請求項２】
前記汚れ用測定手段は、前記検出用光源から照射される光の光束と前記容器とを相対的に移動させる光路移動手段を有することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項３】
前記光路移動手段は、
前記検出用光源から照射される光の光束が前記容器の側面に対して上下に移動するように前記検出用光源を昇降させる光源側昇降手段と、
前記光源側昇降手段の昇降動作に同期させて前記検出用測光手段を昇降させる測光側昇降手段と、
を備えたことを特徴とする請求項２に記載の分析装置。
【請求項４】
前記光路移動手段は、
汚れ検出時に前記検出用光源から照射される光の光束を前記測光領域以外の領域に誘導する光源側誘導機構と、
汚れ検出時に前記検出用光源から照射された光のうち前記測光領域以外の領域を透過した光を前記検出用測光手段に誘導する測光側誘導機構と、
を備えたことを特徴とする請求項２に記載の分析装置。
【請求項５】
前記光路移動手段は、汚れ検出時に汚れ検出対象の前記容器を昇降させる容器昇降手段を備えたことを特徴とする請求項２に記載の分析装置。
【請求項６】
前記検出用測光手段は、前記測光領域以外の領域を透過した所定波長の光の吸光度を測定し、
前記汚れ検出手段は、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の前記所定波長の光の吸光度が所定の閾値以下である場合には前記容器に汚れがないと判断し、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の前記所定波長の光の吸光度が前記所定の閾値を超えていた場合には前記容器に汚れが残存していると判断することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項７】
前記検出用測光手段は、前記測光領域以外の領域から発せられた蛍光量を測定し、
前記汚れ検出手段は、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の蛍光量が所定の閾値以下である場合には前記容器に汚れがないと判断し、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の蛍光量が前記所定の閾値を超えていた場合には前記容器に汚れが残存していると判断することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項８】
前記分析用光源は、前記検出用光源を兼ねることを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項９】
前記分析用受光手段は、前記検出用測光手段を兼ねることを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項１０】
前記検出用光源は、前記容器の角部へ光を照射することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項１１】
前記検出用測光手段は、前記容器の開口上部に配置されることを特徴とする請求項７に記載の分析装置。
【請求項１】
容器に保持された液体検体を分析する分析装置において、
前記液体検体を保持する容器に光を照射する分析用光源および、前記分析用光源から照射された光のうち前記容器を透過した光を受光する分析用受光手段を備えた分析用測光手段と、
前記分析用光源による光が照射される領域である測光領域以外の領域に対して光を照射する検出用光源および、前記測光領域以外の領域における前記容器の光学特性を測定する検出用測光手段を備えた汚れ用測定手段と、
前記検出用測光手段の測定結果をもとに前記容器の汚れの程度を検出する汚れ検出手段と、
を備えたことを特徴とする分析装置。
【請求項２】
前記汚れ用測定手段は、前記検出用光源から照射される光の光束と前記容器とを相対的に移動させる光路移動手段を有することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項３】
前記光路移動手段は、
前記検出用光源から照射される光の光束が前記容器の側面に対して上下に移動するように前記検出用光源を昇降させる光源側昇降手段と、
前記光源側昇降手段の昇降動作に同期させて前記検出用測光手段を昇降させる測光側昇降手段と、
を備えたことを特徴とする請求項２に記載の分析装置。
【請求項４】
前記光路移動手段は、
汚れ検出時に前記検出用光源から照射される光の光束を前記測光領域以外の領域に誘導する光源側誘導機構と、
汚れ検出時に前記検出用光源から照射された光のうち前記測光領域以外の領域を透過した光を前記検出用測光手段に誘導する測光側誘導機構と、
を備えたことを特徴とする請求項２に記載の分析装置。
【請求項５】
前記光路移動手段は、汚れ検出時に汚れ検出対象の前記容器を昇降させる容器昇降手段を備えたことを特徴とする請求項２に記載の分析装置。
【請求項６】
前記検出用測光手段は、前記測光領域以外の領域を透過した所定波長の光の吸光度を測定し、
前記汚れ検出手段は、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の前記所定波長の光の吸光度が所定の閾値以下である場合には前記容器に汚れがないと判断し、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の前記所定波長の光の吸光度が前記所定の閾値を超えていた場合には前記容器に汚れが残存していると判断することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項７】
前記検出用測光手段は、前記測光領域以外の領域から発せられた蛍光量を測定し、
前記汚れ検出手段は、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の蛍光量が所定の閾値以下である場合には前記容器に汚れがないと判断し、前記検出用測光手段によって測定された前記測光領域以外の領域の蛍光量が前記所定の閾値を超えていた場合には前記容器に汚れが残存していると判断することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項８】
前記分析用光源は、前記検出用光源を兼ねることを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項９】
前記分析用受光手段は、前記検出用測光手段を兼ねることを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項１０】
前記検出用光源は、前記容器の角部へ光を照射することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
【請求項１１】
前記検出用測光手段は、前記容器の開口上部に配置されることを特徴とする請求項７に記載の分析装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【公開番号】特開２００９−２０００４（Ｐ２００９−２０００４Ａ）
【公開日】平成２１年１月２９日（２００９．１．２９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−１８３０７０（Ｐ２００７−１８３０７０）
【出願日】平成１９年７月１２日（２００７．７．１２）
【出願人】（００００００３７６）オリンパス株式会社 (11,466)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年１月２９日（２００９．１．２９）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年７月１２日（２００７．７．１２）
【出願人】（００００００３７６）オリンパス株式会社 (11,466)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]