【課題】 測定位置特定の操作性に優れていると共に、高精度で距離測定を行うことができるＸ線分析装置及びＸ線分析方法を提供すること。
【解決手段】 試料Ｓ上の照射ポイントに１次Ｘ線Ｘ１を照射するＸ線管球２と、試料Ｓから放出される特性Ｘ線及び散乱Ｘ線を検出し該特性Ｘ線及び散乱Ｘ線のエネルギー情報を含む信号を出力するＸ線検出器３と、信号を分析する分析器４と、照射ポイントＰ１を決定するために試料Ｓ上を光学的に観察可能な第１観察系５と、該第１観察系５よりも被写界深度が小さくかつ狭域を光学的に観察可能であると共に決定した照射ポイントＰ１との距離を焦点調整によって測定可能な第２観察系６と、を備えている。 （もっと読む）

本発明は、複数の検出器と、制御装置と、Ｘ線源とを有し、ａ）前記制御装置は、複数の検出器の少なくとも一つから、最低Ｘ線透過レベルを検出、及び、特定し、ｂ）前記制御装置は、前記最低Ｘ線透過レベルを少なくとも一つの既定の閾透過レベルと比較し、ｃ）前記制御装置は、前記比較に基づいて、調整信号を生成し、前記Ｘ線源は、前記調整信号を受信し、前記調整信号に基づきＸ線のパルスの持続時間を調整することを特徴とするＸ線走査システムを提供する。
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【課題】被写体によって生じた集光Ｘ線ビームの屈折角を高い分解能でかつ短時間で検出可能とし、高い空間分解能で被写体を観察できるＸ線撮像装置を提供する。
【解決手段】集光Ｘ線ビームの角度分布の端が回折条件を満たすように入射角を調整した結晶のＸ線回折を利用して、被写体によって生じた集光Ｘ線ビームの屈折角を検出する。 （もっと読む）

Ｘ線分光器は解析中の試料からエネルギー分散スペクトルを収集し、試料中に存在し得る候補元素のリストを生成する。その後、波長分散スペクトル収集手段は、候補元素のいくつかまたはすべてのエネルギー／波長においてＸ線強度測定値を取得するように調整され、これによりこれらの候補元素が試料中に実際に存在するかどうかを検証する。さらに、候補元素から選択された１つ（好ましくは、試料中にその存在が検証されたもの、または試料中に存在する可能性が高いもの）のエネルギー／波長に波長分散スペクトル収集手段を調節し、次に、波長分散スペクトル収集手段が選択された候補元素の最大強度測定値を戻すまで波長分散スペクトル収集手段と試料との位置合わせを変更することにより、波長分散スペクトル収集手段と試料との位置合わせを最適化することができる。次に、他の候補元素の強度測定値はこの最適化された位置合わせにおいて収集される。
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【課題】 天然資源の開発では失敗すると多大な損失を負うことになる。従来の技術には不確実性があり、そしてその発見には手間取った。
【解決手段】 本発明においては中性子線の強い透過力を利用して地中の透過撮影をして透過写真を撮るので天然資源の所在位置を正確に把握できる。 （もっと読む）

【課題】
取得画像の像質や分解能の劣化を防ぐことができる走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡の画像の改良方法を提供する。
【解決手段】
試料に電子ビームを照射し該試料から発生する二次信号の情報を画像化する走査型電子顕微鏡において、前記電子ビームを前記試料で走査する走査信号を補正する補正データを格納する記憶部と、該記憶部へ格納された補正データを用いて前記走査信号を補正する補正回路と、該補正回路で補正された走査信号を用いて得られた画像を表示するディスプレイとを備え、該ディスプレイには、さらに、前記補正データに基づいて生成された補正データ波形が表示される。 （もっと読む）

【課題】同一の生体組織試料について、電子像観察だけでなく、蛍光像観察、そして透視像観察等を行うことも可能な、複数の観察用光源を備えた多光源顕微鏡を提供する。
【解決手段】電子顕微鏡の光源である電子銃とそれ以外の少なくとも１種の光源を有し、試料を同一位置で観察可能な多光源顕微鏡であって、蛍光を観察するための光学顕微鏡２０と走査型電子顕微鏡２とからなり、該走査型電子顕微鏡の電子ビームの光軸と同軸となるように該光学顕微鏡のカセグレン鏡１２が該走査型顕微鏡の鏡筒内に配置されてなり、反射面が非球面型であるカセグレン鏡を用いる。 （もっと読む）

光電子増倍管に供給する分圧器に関する。分圧器は、光電子増倍管の別々のポートで分割電圧レベルを確立するように各々が構成された複数の能動回路を含むことができる。
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システムは、観察物体内に励起エネルギーを送信するための送信機と、物体への送信励起エネルギーに応答して受信されるエネルギーをエンコードする投影空間データを生成するための検出装置と、投影空間データを生成するための送信機および受信機を制御するためのコントローラと、投影空間データを受信するための画像再構成装置であって、投影空間データと予測投影データの間の差を特徴づける第１の量を計算し、各インパルス応答が単位強度の参照ボクセルに対応する少なくとも１つのインパルス応答に対応する第２の量を計算し、第１の量および第２の量の反転関数を使ってアップデート値を計算し、アップデート値を使って観察物体を表す物体空間画像を再構成することによって投影空間データを処理するための画像再構成装置とを含む。
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本発明はイオンビーム顕微鏡を用いた試料検査に関するものである。幾つかの実施形態では、本発明は、各検出器は試料についての異なる情報を提供する複数の検出器を用いるものである。
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【課題】ばら流しで搬送される被検査物に好適な検査効率を得るとともに不良品をピンポイント選別して歩留りの悪化を防止する。
【解決手段】搬送方向Ｘと直交方向に分割されて検査レーン１１を形成し、検査レーン１１ごとに多数の被検査物Ｗをばら流しで搬送するベルトコンベア６と、被検査物ＷにＸ線を照射するＸ線発生器３１と、Ｘ線発生器３１からのＸ線を検出し、被検査物Ｗに混入している異物の有無を検出するＸ線検出器３２と、検査レーン１１ごとに設けられ異物検出された被検査物Ｗを不良品として選別する選別シュート１４とを備える検査ユニット２を用いたＸ線異物検出システム１であって、検査ユニット２を搬送方向Ｘと直交する方向に複数並列して複数の検査レーン１１の中から一次検査レーン１１ａ〜１１ｃを設定し、残りを二次検査レーン１１ｄとして設定し、一次検査レーン１１ａ〜１１ｃの一次不良品Ｗを二次検査レーン１１ｄにて再搬送する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線システム、ＣＴシステム及び同様のシステムにおいて物質組成を算出する。特に、画像化される物質の実効原子番号を決定する又は推定することを可能にする。
【解決手段】放射線検査モダリティによって画像化された物体を形成する物質の原子番号を算出する手法を提供する。この方法は、第一のエネルギ・レベルにおいて取得された物体の第一の単色画像及び第二のエネルギ・レベルにおいて取得された該物体の第二の単色画像にアクセスするステップ（７６）を含んでいる。第一の単色画像と第二の単色画像との間の質量減弱係数の比を求めることができる（７８）。この質量減弱係数の比に基づいて物体の物質の原子番号を算出することができる（８２）。 （もっと読む）

１つ又は複数のサンプルからの電子を検出するシステム及び方法を開示する。いくつかの実施形態では、本システム及び方法は、サンプル表面からの二次電子を偏向させるための１つ又は複数の磁場源を含む。
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【課題】高精細な画像が得られるとともに、検査時間も短縮できる放射線検査システム及び放射線検査の撮像方法を提供することにある。
【解決手段】検出器103は、放射線源102に対して検査対象物104を挟んで配置される。移動装置108，109は、放射線源と検出器とを検査対象物の長手方向であって、かつ同一方向に平行移動する。回転装置105は、放射線源が平行移動する軸方向に対して照射方向を回転する。中央制御装置205は、放射線源から照射される照射方向が第１の方向であるときに、移動装置を制御して、放射線源と検出器を同一方向に移動して撮像データを得、さらに、放射線源から照射される照射方向が第２の方向であるときに、移動装置を制御して、放射線源から照射される放射線を検出できる位置に検出器を移動した後、さらに、放射線源と検出器を同一方向に移動して撮像データを得る。 （もっと読む）

少なくとも即発ガンマ線および中性子を発生させる入射ハドロンビーム（１０）による上記標的（２０）の衝突における、上記標的（２０）の領域（２５）が受ける局所線量をリアルタイム測定する方法であって、上記標的（２０）から放出される粒子は、上記標的（２０）の上記領域（２５）をコリメートすることによって、かつ上記標的（２０）における測定される上記領域（２５）から距離Ｌの位置に検出器（４５）を配置することによって、測定される方法。上記検出器（４５）は、粒子エネルギーおよび粒子飛行時間を測定する上記手段を有しており、上記検出器（４５）が受けた即発ガンマ線の数は、記録された事象を選択することにより決定され、即発ガンマ線についての空間情報を提供するために、上記標的（２０）よりも前の入射ハドロンビーム（１０）中に配置されている、二方向性荷電粒子検出システムが、入射ハドロン（１０）の横断位置を取得するように用いられる。
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【課題】広角のＸ線管と複数組の検出器とを備えるＣＴスキャナ。
【解決手段】小型化された手荷物検査用ＣＴスキャナであって、広角のＸ線源および当該Ｘ線源から異なる距離にある複数組の検出器を有している。各組の検出器は、すべての検出器について一定のピッチおよび線束レベルが保たれるような寸法および配置とされている。ＣＴスキャナからのデータを処理するために、従来からの再現方法を使用することができる。このスキャナを、スキャナのネットワークとしてチェックイン・デスクに組み込んでもよい。 （もっと読む）

【課題】直接変換方式のＸ線センサの使用を前提として、製造ラインの稼働を停止させることなく、分極に起因する検出性能の低下の問題に適切に対処し得る、Ｘ線検査装置を得る。
【解決手段】Ｘ線検査装置１は、Ｘ線照射部７と、Ｘ線を直接的に電気信号に変換するタイプのＸ線センサを有するＸ線検出部８と、物品１２がＸ線照射部７とＸ線検出部８との間のＸ線照射領域１００を通過するように、物品１２を搬送するベルトコンベア６と、Ｘ線センサへ印加するバイアス電圧を制御する制御部６０とを備えている。Ｘ線検出部８は、物品１２の搬送経路上に配設されたＸ線ラインセンサ８Ａと、Ｘ線ラインセンサ８Ａよりも下流側でＸ線ラインセンサ８Ａに平行に配設されたＸ線ラインセンサ８Ｂとを有している。制御部６０は、Ｘ線ラインセンサ８Ａ，８Ｂに対して、バイアス電圧の印加を独立に停止可能である。 （もっと読む）

【課題】多価イオンを用いて、試料表面の分析を高精度で短時間に行うことができる表面分析装置を提供する。
【解決手段】表面分析装置１は、試料５を搭載する試料台６と、試料台６に搭載した試料５に価数が１５以上の多価イオンビーム４を照射する多価イオン発生源３と、試料５に多価イオンビーム４を照射することにより生じる二次イオン７を検出する質量分析部８と、試料５に多価イオンビーム４を照射することにより生じる二次電子９を検出する二次電子検出部１０と、二次電子検出部１０からの二次電子検出信号を受け分析開始信号を生成し質量分析部へ送信する質量分析制御部１２を、備えて構成される。 （もっと読む）

【課題】直接変換方式のＸ線センサの使用を前提として、製造ラインの稼働を停止させることなく、分極に起因する検出性能の低下の問題に適切に対処し得る、Ｘ線検査装置を得る。
【解決手段】Ｘ線検査装置１は、Ｘ線照射部７と、Ｘ線を直接的に電気信号に変換するタイプのＸ線センサを有するＸ線検出部８と、物品１２がＸ線照射部７とＸ線検出部８との間のＸ線照射領域１００を通過するように、物品１２を搬送するベルトコンベア６と、Ｘ線センサへ印加するバイアス電圧を制御する制御部６０とを備えている。Ｘ線検出部８は、物品１２の搬送経路上に配設されたＸ線ラインセンサ８Ａと、Ｘ線ラインセンサ８Ａよりも下流側でＸ線ラインセンサ８Ａに平行に配設されたＸ線ラインセンサ８Ｂとを有している。制御部６０は、Ｘ線ラインセンサ８Ａ，８Ｂに対して、バイアス電圧を独立に印加可能である。 （もっと読む）

【課題】回転装置を設けることなく被検体に対して多方向からＸ線を照射してＣＴ撮影を行うＸ線ＣＴ装置を提供する。
【解決手段】被検体ＨにＸ線１００を照射し、被検体Ｈを透過したＸ線１００を検出することにより被検体Ｈの内部状態を画像化するＸ線ＣＴ装置であって、電子銃と、被検体Ｈの周りに円環状に複数配置され、電子ビームＢが入射すると被検体Ｈに向けてＸ線１００を照射するターゲットコリメータ１５と、電子銃から入射した電子ビームＢを被検体Ｈの周りの円環軌道に沿って偏向すると共に、複数のターゲットコリメータ１５の何れかに順次選択的に電子ビームＢを照射する電子ビーム偏向装置とを具備するという構成を採用する。 （もっと読む）