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Fターム[2G001GA01]の内容

Fターム[2G001GA01]に分類される特許

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【課題】機能性付与成分中に励起により蛍光X線を発生する元素が含まれていない場合であっても、非破壊で機能性付与成分の含有状態を容易に判定できる機能性多孔質体を提供する。
【解決手段】機能性付与成分として第一成分とトレース用成分としての第二成分とを多孔質体に同時に含有させてなる機能性多孔質体であって、前記第一成分と前記第二成分とは互いに相溶するか前記第二成分は前記第一成分と同時に溶媒に溶解され、前記第二成分には励起により蛍光X線を発生する元素が含有され、前記第二成分に含有される前記元素が前記第一成分に含有されず、かつ、前記第二成分中の前記元素が前記機能性多孔質体の表面からの蛍光X線分析による検出が可能な含有量で前記第二成分が該機能性多孔質体に含有されている機能性多孔質体。 (もっと読む)


【課題】測定対象物を回転させるためのXYテーブル等の回転機構の軸受として、特に高精度のものを用いることなく、低コストのもとに、正確で鮮明な断層像を得ることのできるX線CT装置を提供する。
【解決手段】XYテーブル2に付されたマーカーMを光学カメラ6て撮影し、その撮影出力の画像処理部12での画像処理によりXYテーブル2の位置を求め、あらかじめ演算部13で算出された各投影角度での目標位置に対するずれを誤差算出部14で算出し、その算出結果に基づいて、各投影角度で採取したX線投影データの位置と角度を補正して再構成演算に供することで、回転精度に起因して実際の投影データがずれていても、最終的に得られる3次元情報を正確なものとする。 (もっと読む)


【課題】感度の低下を抑えつつ鮮鋭度の高い放射線画像を撮影できる放射線撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線が照射されることにより光を発生するシンチレータ8と、光を受光することにより電荷が発生する有機光電変換材料を含んで構成されたセンサ部13が複数設けられたTFT基板30と、が順次積層された放射線検出器20を、被写体Bを透過した放射線がTFT基板30側から入射するように配置する。 (もっと読む)


【課題】高精度に試料の不純物濃度分布を測定する方法を提供する。
【解決手段】本発明の試料の不純物濃度分布を測定する方法は、走査工程、フィルタ工程、二次電子の強度を測定する強度測定工程、ハイパスフィルタ17のカットオフエネルギー値Ecを段階的にN−1回上昇させる工程、及び、二次電子の強度のエネルギー分布曲線RL、RHを評価する工程とを備える。カットオフエネルギー値Ecの各段階において、走査工程、フィルタ工程、及び、強度測定工程が行われる。mを1以上N以下の任意の整数、pを1以上N−1以下の任意の整数、m段階目のカットオフエネルギー値EcをE、カットオフエネルギー値EcがEである際に測定された二次電子の強度をIとしたとき、Ip+1−Iの値を、E以上Ep+1以下のエネルギーを有する二次電子の強度とみなす。 (もっと読む)


【課題】本発明は、全反射蛍光X線分析装置を用いた検査結果に基づいて、ミネラルの充足、不足を簡便に、正確に判別する方法を提供する。また、体内に蓄積した有害な重金属を簡便に検査する方法を提供する。
【解決手段】本発明の第1の形態は、蛍光X線分析により、被検者の前頭部、側頭部又は頂頭部の毛髪に含まれるミネラル金属の含有比率及び/又は含有量を測定し、前記含有比率及び/又は前記含有量が正常値を超える場合に生体内のミネラル金属量が異常であると判断する生体内金属元素検査方法であり、本発明の他の形態は、蛍光X線分析により、皮膚、爪、歯又は骨からなる生体内固形物や血液、尿、涙、汗又は唾液からなる生体液に含まれるミネラル金属量又は重金属量の含有比率及び/又は含有量を測定することを特徴とする生体内ミネラル検査方法である。 (もっと読む)


【課題】
多元素同時分析を可能とし、運転に必要とされる洗浄作業や消耗品交換の保守作業を低減し、測定データをオンライン伝送する水質管理システムにも好適な蛍光X線水質計を提供する。
【解決手段】
測定試料の一部は脱泡槽14の下部からノズル13に導かれ、大気中に噴出することでセル等を用いずに流束を形成し、X線発生素子5からX線を投影する。陰極電圧可変用電源装置6はX線発生素子5が発生するX線のエネルギーが測定目的の元素に固有の蛍光X線エネルギーより大きくなるように調整され、流束から放射される固有の蛍光X線を半導体X線検出素子7で検出し、信号処理装置9で処理することで測定試料中に含まれる複数の元素を同時に測定し、その測定データを管理センターに伝送することで水質管理システムを構成する。 (もっと読む)


【課題】濃度に拘わらずに液体試料中の元素の定量分析を行うことができる蛍光X線分析方法及び蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】本発明においては、平坦な試料台2上に所定量の液体試料を滴下し、乾燥させ、残渣試料(残渣)31を作成する。蛍光X線装置は、駆動部41で試料台2を移動しながらX線源11から試料台2へX線を照射することにより、残渣試料31を含む試料台2上をX線で走査する。検出部12は、蛍光X線を検出する。分析部13は、特定の元素に起因する蛍光X線の強度分布を生成し、蛍光X線の強度の積算値を計算し、予め記憶部16に記憶された検量線を用いて、積算値から液体試料中の特定の元素の濃度を計算する。液体試料の濃度に拘わらず、残渣試料31の全体にX線が照射され、液体試料に含まれる特定の元素の定量分析が可能となる。 (もっと読む)


【課題】しきい光電子分光を効率的に行うことができる装置および方法を提供する。
【解決手段】しきい光電子分光装置1は、第1光源10、第2光源20、照射光学系30、真空容器40、分子線生成部50、撮像部60および検出部70を備える。準備段階において、分子線生成部による分子線生成タイミングに対する第1光源による第1パルス光出力タイミングを各値に設定して、分子線生成部による分子線生成,第1光源による第1パルス光出力および撮像部による蛍光撮像を行う。続く測定段階において、準備段階で撮像部による蛍光撮像により得られた蛍光像に基づいて決定されるタイミングおよび照射位置となるように、分子線生成部による分子線生成タイミングに対する第2光源による第2パルス光出力タイミングを設定するとともに、分子線への第2パルス光の照射位置を設定する。 (もっと読む)


【課題】 熱膨張または熱収縮による被搭載物の位置ずれを抑え得るマウント装置を提供する。
【解決手段】 マウント装置は、被搭載物を搭載するための搭載板、搭載板を載置する基台、搭載板と基台との間に配設されて搭載板を支持する第1支持部材、第2支持部材および第3支持部材であって、搭載板の被搭載物を搭載する面に平行で互いに垂直な2方向をX方向およびY方向と定義するとき、基台に対する搭載板のX方向の動きを規制し、Y方向の動きを許容する第1支持部材、基台に対する搭載板のX方向の動きとY方向の動きとを許容する第2支持部材、および基台に対する搭載板のX方向の動きとY方向の動きとを許容する第3支持部材、ならびに、搭載板と基台との間に配設されて、基台に対する搭載板のX方向の動きとY方向の動きとを規制する規制部材を有する。 (もっと読む)


【課題】試料識別標記や特異元素で構成されたマスクや試料ホルダを要せず、試料を試料ホルダに搬送する前に試料ホルダを短時間で自動識別する分析装置を提供する。
【解決手段】本発明の分析装置は、カセット21の種類を識別するカセット部20と、試料Sが挿入される挿入口83、および、試料が載置される輪状の台座82を有する試料ホルダ8と、カセット21から試料ホルダ8へ試料Sを搬送する搬送手段23と、試料ホルダの挿入口の径方向端84または輪状の台座の内径方向端85を検出して、載置されるべき試料の直径に対応した試料ホルダの種類を識別する試料ホルダ識別信号を発信する試料ホルダ識別手段35と、カセット識別信号および試料ホルダ識別信号に基づいて、カセット21に収納されるべき試料の直径と試料ホルダ8の台座に載置されるべき試料の直径とが合致しているか、否かを判定する判定手段40とを備える。 (もっと読む)


【課題】水素吸蔵材料の中性子回折に使用することができる中性子による散乱が無い、若しくは散乱が少ない耐水素性及び耐圧性の中性子回折測定用セル及びその製造方法を提供する。
【解決手段】水素吸蔵材料を中性子回折測定する際の試料として保持するセルであって、中性子散乱の無い金属若しくは中性子散乱の少ない金属の内面に、水素吸蔵性の無い材料又は水素吸蔵性の小さい材料からなる耐水素性の層を設けたことを特徴とする。この耐水素性の層の厚さは、0.1μ〜100μmがより好ましい。 (もっと読む)


【課題】本発明はX線分析方法及び装置に関し、ステージ走査でも良好なドリフト補正を行うことができるX線分析方法及び装置を提供する。
【解決手段】試料上の面分析領域の内部を複数のブロックに分けて、ブロック内での各ラインのステージ走査に基づく特性X線の測定が第1ブロックから各ブロック毎に順次行うようにされており、各ブロックにおいて最初に走査が行われるラインについてのステージ走査の開始前に、試料の電子線走査画像を取得し、第2ブロック以降における特性X線の測定開始時においては、当該ブロックにおいて取得された電子線走査画像と、その直前のブロックにおいて取得された電子線走査画像との照合を行って、ステージのドリフト量を求め、該ドリフト量に基づいて電子線のビームシフトを行うことにより、試料上での電子線の照射位置を補正してから当該ブロック内での特性X線測定を開始するように構成する。 (もっと読む)


【課題】 蛍光X線の検出強度や分解能を向上させることができるX線分析装置を提供する。
【解決手段】 X線分析装置1は、試料Sに照射するためのX線を出射するX線管3と、X線の照射によって試料Sから放出された蛍光X線を一端5aから他端5bに伝播するキャピラリー管5を複数含むキャピラリー管集合体4と、キャピラリー管5の他端5bから出射された蛍光X線を検出するX線検出器6と、を備えている。キャピラリー管集合体4は、キャピラリー管5の一端5aの集合によって形成された一端面4aを有し、当該一端面4aは、試料Sが膜状に配置される試料配置面となっている。 (もっと読む)


【課題】複数の信号を用いた高精度な寸法測定を実現することを可能にする。
【解決手段】本実施形態は、走査顕微鏡を用いて対象物の寸法測定を行う寸法測定方法であって、前記対象物の測定に関する始点および終点となる測長点を定義する工程と、前記対象物にビームを入射して走査することにより、同時刻における前記対象物からの複数の信号を検出する工程と、前記対象物の測長点の定義に基づいて、前記複数の信号から測長点を決定する工程と、前記対象物において決定された測長点の間の距離を算出する工程と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】 膨大な量のテーブルを記憶するデータベースが無くても、強度を正確に算出し、正確な定量値を算出することのできる蛍光X線分析方法を提供する。
【解決手段】 FP法や検量法を用いて得た定量値の精密性に着目し、必要最小のテーブルを用いて蛍光X線の実測値から試料の大体の組成比等を仮定し、この仮定から得られた仮の強度を使って定量計算を行い、定量計算で得られた仮の定量値に基づいて前記仮の強度を修正して定量計算を行うという処理を繰り返し、仮の強度を規定値内に収束させ、収束したときの仮の定量値を「定量値」として決定するようにした。 (もっと読む)


【課題】 10μm以下のビームサイズの入射X線を使用したX線反射率法で微小領域の膜厚を計測するには、入射角を変えながら、X線の焦点位置、試料表面、回転軸の関係を1μm以下の精度で維持、制御する必要がある。
【解決手段】 本発明は、X線レンズを振幅分割ビームスプリッターと集光光学系として用いることにある。X線レンズで屈折されたX線は、焦点位置で10μm以下に集光するような角度分布を与える。薄膜積層体を焦点位置に配置し、鏡面反射されたX線を物体波、X線レンズを透過したX線を参照波として薄膜積層体下流に配置したX線レンズで重ね合わせ干渉させる。光路差と薄膜積層体中で生じた位相差を反映した干渉縞の間隔および位置から反射X線の位相を解析し、微小領域の膜厚を計測、検査することを特徴とする薄膜積層体検査方法 (もっと読む)


【課題】板状試料の大きさ、形状に関わらず、試料底面を試料台に接触させずに簡便に安定した状態で保持できる保持具を提供する。
【解決手段】板状上部保持部材2と板状下部保持部材3と両保持部材の間に試料を挟んだ状態で両保持部材を固定する固定手段(4、5、5a、5b)とを備え、前記固定手段を、前記両保持部材の板中心から離れる位置に設ける構造とする。 (もっと読む)


【課題】容器中の二相流状態における液膜厚さの分布情報を求めるために、CT画像により計測領域を2次元又は3次元の連続的情報として得る。CT装置での時間平均画像において液膜厚さを評価しようとした場合に、液膜分布を計測するために液膜の真値との相関関係を把握することが必要となる。
【解決手段】被検体を透過するエネルギーを持つX線源と、透過X線を検出する検出器と、被検体の全周方向からの透過データが取得可能な機構とからなるX線CT装置と、該被検体内の容器表面の液膜厚さを計測可能な厚さ計測器を少なくとも1つ有し、X線CT装置が取得するCT画像において厚さ計測器の計測位置と対応する箇所の液膜厚さを、厚さ計測器の計測値によりキャリブレーションを実施し、CT画像から液膜厚さを算出する。 (もっと読む)


【課題】電子線を照射した試料からの特性X線を回折させてスペクトルを採取するシステムにおいて、採取スペクトル中にカソードルミネッセンスが含まれているかを検出し、除去する。
【解決手段】試料に対して電子線を照射する電子線照射部と、電子線が照射された前記試料から放出される特性X線を受けて回折X線を生じさせる回折格子と、前記回折格子で生じた回折X線を検出するイメージセンサと、前記イメージセンサで検出された前記回折X線の採取スペクトルを分析してエネルギー分布スペクトルを生成する分析部と、前記エネルギー分布スペクトルのベースラインを抽出するベース抽出部と、前記ベースラインの傾きから前記エネルギー分布スペクトルに含まれるカソードルミネッセンス成分を抽出するカソードルミネッセンス抽出部と、を備え、前記分析部は、抽出された前記カソードルミネッセンス成分を前記エネルギー分布スペクトルから除去する。 (もっと読む)


【課題】電子線を照射した試料からの特性X線を回折させてスペクトルを採取するシステムにおいて、採取スペクトルの各ピークが、測定対象であるか、カソードルミネッセンスや高次線の複合ピークであるかの情報を提供する。
【解決手段】試料に対して電子線を照射する電子線照射部10と、電子線が照射された前記試料から放出される特性X線を受けて回折X線を生じさせる回折格子50と、前記回折格子で生じた回折X線を検出するイメージセンサ60と、前記回折X線のイメージのエネルギー分散方向を測定長手方向として前記イメージセンサに隣接して配置され、エネルギー設定範囲において前記回折X線を検出するシンチレーションカウンタ70と、前記イメージセンサで検出された前記回折X線のスペクトルを分析すると共に、前記シンチレーションカウンタの検出結果を参照し、前記スペクトルのピークの内容を分析する分析部80とを備える。 (もっと読む)


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