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Fターム[2G051EB01]の内容

光学的手段による材料の調査の特殊な応用 (70,229) | 信号の比較、判別 (2,683) | 基準値、閾値の設定 (1,856)

Fターム[2G051EB01]に分類される特許

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【課題】多数の粒状の固形食品を互いに分離して整列した状態で検査領域へ順次供給することができる粒状固形食品整列供給装置を提供する。
【解決手段】粒状固形食品整列供給装置は、水平面に対して傾斜して配置された傾斜板を有し、傾斜板の表面に基端部から先端部にまで延び且つ粒状の固形食品を滑落させるための少なくとも1条のU字状溝21が形成され、U字状溝21の底部にU字状溝の長さ方向に沿って粒状固形食品Mの大きさに対応する幅を有する複数の螺旋溝22が形成されている。 (もっと読む)


【課題】ユーザそれぞれが、自身がその存在を感得しているレシピについて、他のユーザがその存在を含めた設定内容を感得できないように、そのレシピの存在自体も含めてレシピの設定内容を隠蔽しておくことができる検査装置及びその隠蔽方法を提供する。
【解決手段】ユーザそれぞれが、自身の閲覧設定画面500上でその存在を感得しているレシピについて、他のユーザがその存在を含めた設定内容を感得できないように他のユーザを隠蔽先に含む隠蔽ID情報を生成するレシピ隠蔽情報作成機能部116と、ユーザそれぞれの閲覧設定画面500を表示する際、隠蔽ID情報ファイル240に格納されている隠蔽ID情報に基づいて、ユーザそれぞれの閲覧設定画面500の生成のためのレシピ表示情報を作成する表示情報作成機能部120とを備える。 (もっと読む)


【課題】部品の外観良否判別を行うにあたり、信頼性の高い基準値を得る。
【解決手段】優良サンプルS1の格付け評価結果のデータと、優良サンプルS1よりも不良部の程度の大きいサンプルS2、S3・・・の格付け評価結果のデータとの間で分散分析を行い、分散分析により優良サンプルS1に対して有意差無しとされたサンプルS5の不良部の程度(凹部の大きさ)以上、有意差有りとされたサンプルS6の不良部の程度以下の範囲内で、良否判別の基準値を設定する。 (もっと読む)


【課題】多数の粒状の固形食品を互いに分離して整列した状態で検査領域へ順次供給することができる粒状固形食品整列供給装置を提供する。
【解決手段】粒状固形食品整列供給装置は、水平面に対して傾斜して配置された傾斜板を有し、傾斜板の表面に基端部から先端部にまで延び且つ粒状の固形食品を滑落させるための少なくとも1条のU字状溝23が形成され、U字状溝23に沿って傾斜板の先端部方向へエアを噴出することにより傾斜板のU字状溝23内を滑落する粒状固形食品を加速させる加速手段を備えている。 (もっと読む)


【課題】検査表面を多方向から撮影して欠陥を判定する装置および方法において、ワークの姿勢と撮影手段の受光部の向きを変化させると、機構が複雑となる。
【解決手段】検査対象物(W)の表面に生じた欠陥を検出して判定する欠陥検出装置であって、受光部(13a)に侵入した光を受光して、前記表面の検査区域(T)の画像を撮影する撮影手段(13)と、表面が鏡面であって、光を撮影手段(13)の受光部(13a)に導くための第1ミラー手段(14)と、検査対象物の表面に対して45度の角度で傾いて配置される第1ハーフミラー(11)と、内面が鏡面であって前記鏡面の少なくとも一部が前記第1ハーフミラーを向いて第1ハーフミラー(11)を覆うように配置される内部ミラー部材(12)と、第1ハーフミラー(11)に向かって光を照射する発光手段(15)と、を具備する欠陥検出装置により解決する。 (もっと読む)


【課題】検査速度の低下を伴うことなく、かつ装置容積に占める信号処理部の比率を増加させることなく、データメモリのオーバーフローを回避し、ウエハ全面の検査データを取得するが可能な表面検査装置を実現する。
【解決手段】後処理手段111のブロック化手段300は前処理手段からのデータを任意のデータ数で1ブロックとし1ブロックで1データを取り出す。ブロック化手段300は状態監視手段302の指示でブロック化数を変更する。閾値処理手段301は設定閾値に従いブロック化手段300からのデータに対し閾値を越えた場合にデータを取得しメモリ303へ送る。状態監視手段302はメモリ303の空容量を監視しメモリ303内の空き容量の減少を検知した場合ブロック化手段300に対し、メモリ303がオーバーフローしないように1ブロックのデータ数を増加させる。 (もっと読む)


【課題】積層フィルムの擬似欠陥の有無の判定を簡単に行う。
【解決手段】偏光板13とセパレータ15を有する積層フィルム9上に、偏光フィルタ19を配置する。偏光フィルタ19の偏光軸を、偏光板13の偏光軸と略直交させる。積層フィルム9の直下にライン光源17を配置し、偏光フィルタ19の直上にラインセンサカメラ20を配置する。ライン光源17から積層フィルム9に向けて検査光24を照射する。積層フィルム9及び偏光フィルタ19を透過した検査光24をラインセンサカメラ20で撮像する。撮像により得られた画像データ41から、輝度が高くなる高輝度領域40を欠陥画像データとして抽出する。欠陥画像データが2つの高輝度領域40が並ぶ特定欠陥画像データである場合に、この欠陥画像データに対応するフィルム欠陥部分を、擬似欠陥であると判定する。 (もっと読む)


【課題】溶接部の溶け分かれの有無を適切に検査可能な溶接部検査装置を提供する。
【解決手段】バスバー21と端子22とを溶接にて接合した検査対象物2における溶接部23に対して、バー照明32によってバスバー21側から光を照射した状態、カラーカメラ4により溶接部23を撮像する。そして、画像処理装置5にて、撮像画像(カラー画像)に対して溶接部(23)に対応する検査領域を指定すると共に、指定した検査領域から周囲よりも高輝度となる高輝度領域を抽出し、さらに、抽出した高輝度領域に基づいて溶接部23に溶け分かれが生じているか否かを判定する。この際、高輝度領域が検査領域におけるバスバー21に対応する領域よりも端子22に対応する領域側に存在する場合に、溶接部23に溶け分かれが生じていると判定する。 (もっと読む)


【課題】撮影されたコンクリート表面に、実際のひび割れと類似した汚れや染み、撮影ムラ、型枠跡などが存在する場合でも、高い精度で実際のひび割れのみを検出することのできるひび割れ検出方法を提供すること。
【解決手段】ウェーブレット画像を作成するステップ、注目画素のウェーブレット係数が閾値よりも大きな場合は注目画素をひび割れと判定し、小さな場合は注目画素をひび割れでないと判定し、局所領域および注目画素を変化させながら注目画素のウェーブレット係数と閾値との比較をおこない、ひび割れと判定された画素に対してひび割れとノイズの判別処理をおこない、さらに輪郭線追跡処理をおこなうことで二値化画像を作成するステップ、残りのノイズを除去してひび割れ画像を作成するステップ、細線化処理を実行して細線化画像を作成し、ひび割れ幅を推定するステップ、からなるひび割れ検出方法である。 (もっと読む)


【課題】半導体基板表面の清浄度を正確に確認することのできる半導体基板洗浄装置および洗浄方法を提供する。
【解決手段】半導体基板洗浄装置100は、半導体基板10を洗浄する洗浄部1と、洗浄部1で洗浄された半導体基板10の表面の反射強度を測定する反射式センサ2と、反射式センサ2による反射強度の測定結果に基づき、半導体基板10の洗浄の適否を判定する判定部3とを備えている。 (もっと読む)


【課題】画像から取得される欠陥から目的欠陥を抽出するための検査方法を提供する。
【解決手段】複数の検査対象領域の画像データを取得し、前記複数の検査対象領域のうち同じ構造を形成する領域同士の同じ位置の輝度を比較して輝度の差から輝度差分布を求め、前記複数の検査対象領域のそれぞれにおいて、優先的に検査をしたい優先検出領域の閾値がその他の領域の閾値よりも低くなるよう閾値分布を設定し、前記輝度差分布のうち前記閾値分布以上になる位置を目的欠陥発生位置と判定する、処理を有する。 (もっと読む)


【課題】ホワイトスポットを除去して検査精度を向上させることのできる検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】複数の撮像素子が直線状に配列されたラインセンサによって取得された3ライン分の画像データを蓄積し(S2)、この内の中央ラインの各画素について、対象となる画素と、この周囲に隣接する8つの画素との階調値の差を求め、得られた8つの差の全てが第1の閾値を超える場合に対象となる画素を疑似欠陥と判定する(S2)。8つの画素について階調値の平均を算出し、得られた値を対象となる画素の階調値と置き換える(S2)。また、疑似欠陥の判定が行われたストライプと同じストライプについてラインセンサで光学画像を再度取得し、得られた画像データを前回得られた画像データと置き換えることもできる。 (もっと読む)


【課題】ラップフィルム等の透明あるいは半透明のフィルムをロール状に小巻にしたフィルム・ロールの内部に発生する巻皺を検査する。
【解決手段】搬送コンベアに保持されたラップフィルム等が小巻されたフィルム・ロールを一定速度で搬送する過程で、ラインセンサにより画像を撮像する構成とし、入射した光がフィルム・ロールの内部で発生した巻皺等によって拡散され、正常であれば暗くなっているはずの部分が皺の影響により明るく映っていないか判断する。対象となる検査領域は、入射光がフィルム・ロールの表面で正反射している輝線の部分ではなく、そこから数画素離れた、隣接する暗くなっている領域に設定する。この領域に通常より明るい画素があれば、それは巻皺の存在を示している可能性があるので、予め設定された閾値と比較し、その画素数の総計がある基準を上回ると、巻皺があると判定し、該フィルム・ロールを不良品とする。 (もっと読む)


【課題】被検出形状に縁部における輝度変化を除去し、欠けや異物の検出を確実に行える孔形状検査方法および孔形状検査プログラムを提供する。
【解決手段】孔形状良否を判定する孔形状検査方法およびプログラムであって、前記孔の孔形状撮像工程と、前記孔形状画像の2値化画像形成工程と、前記孔の面積が既定値であるかを判定する孔面積判定工程と、前記孔の内形状の孔重心を求める孔重心演算工程と、前記孔形状画像に前記孔重心を中心とする同心フィルターをかけ、前記孔重心を中心とする同心形状上の画素の平均輝度と、1画素の画素輝度と、の差によるフィルタリング画像形成工程と、前記フィルタリング画像の2値化フィルタリング画像形成工程とを有し、前記2値化フィルタリング画像の画素数が所定の値以下である場合、前記孔を良品と判定する良否判定工程を有する孔形状検査方法、およびその検査方法をコンピューターに実行させるプログラム。 (もっと読む)


【課題】錠剤の変更にも柔軟かつ円滑に対応することができ、しかも検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びPTP包装機を提供する。
【解決手段】錠剤検査装置21は、容器フィルムのポケット部に収容された錠剤に対し光を照射可能な照明装置22と、照明された範囲内の錠剤を撮像可能なカメラ23と、カメラ23から出力される画像信号を処理する画像処理装置24とを備える。画像処理装置24は、画像データに基づき錠剤の輪郭を抽出し、輪郭上における第1の所定点及び第2の所定点の接線の向き情報を演算するとともに、第1及び第2の所定点で挟まれた第3の所定点の接線の向き情報を求め、第3の所定点の接線の向き情報が、第1の所定点の接線の向き情報及び第2の所定点の接線の向き情報に基づく許容範囲を逸脱している場合に、当該第3の所定点に関し不良候補として判定する。 (もっと読む)


【課題】 すき入れ及び紙端を鮮明に撮像し、すき入れが施された位置をばらつきが生じることなく高い精度で測定する検査方法を提供する。
【解決手段】
あらかじめ紙端撮像ラインカメラの撮像条件を紙端が鮮明に撮れる撮像条件に設定し、すき入れ撮像ラインカメラの撮像条件をすき入れが鮮明に撮れる撮像条件に設定した後、各ラインカメラにおいて紙端画像とすき入れ画像とをそれぞれ取得し、紙端画像から紙端を示す座標を検出し、すき入れ画像からすき入れを示す座標を検出し、紙端の座標からすき入れの座標までの距離を算出した後、算出した各座標間の距離が許容範囲か否かを判定してすき入れが形成された位置の合否判定を行う。 (もっと読む)


【課題】自動検査、特に、製造欠陥の解析の方法及びシステムを提供する。
【解決手段】欠陥解析方法は、検査パラメータ値のそれぞれの範囲によって特徴付けられる複数の欠陥部類に対する単一部類分類子を識別する段階を含む。各単一部類分類子は、それぞれの部類に対して、検査パラメータ値に基づいてそれぞれの部類に属する欠陥を識別し、一方でそれぞれの部類に入っていない欠陥を未知欠陥として識別するように構成される。検査パラメータ値に基づいて複数の欠陥部類のうちの1つに各欠陥を割り当てるように構成された多重部類分類子が識別される。検査データが受信され、欠陥を欠陥部類のうちの1つに割り当てるために、単一部類及び多重部類分類子の両方が適用される。 (もっと読む)


【課題】検査用基板を用いることなく照明部の照度の低下による検査の不具合が発生することを防ぐことができる技術を提供すること。
【解決手段】筐体内に設けられた載置台に載置された基板を被写体として撮像して検査を行う検査モードと、照明部の照度を確認するためのメンテナンスモードとの間でモードを選択するためのモード選択部と、前記筐体内に設けられ、前記照明部の光を撮像部の撮像素子に導光するための導光部材と、メンテナンスモード実行時に前記導光部材を介して撮像素子により取得した照明部の光の輝度が、予め設定された許容範囲内であるか否かを判定する判定部と、前記判定部により前記輝度が前記許容範囲から外れていると判定されたときに照明部の交換を要することを報知するための報知部と、を備えるように基板検査装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】黒系のメタリック色について、白とびの新たな評価手法を提供する。
【解決手段】メタリックブラック色の白とび評価方法は、まず、メタリック材の量と、明度、彩度および色相とを変化させた複数のカラーパッチを用意する。次に、カラーパッチの各々について、正反射方向と非正反射方向とで測色して、非正反射方向の明度と、正反射方向と非正反射方向との間での色差とを取得し、その関係をプロットする。次に、カラーパッチの各々について、白とびの発生の有無を評価する。次に、プロットの結果を、評価の結果に基づいて、白とびありの集合と、白とびなしの集合とに分類し、白とびの判定基準を、非正反射方向の明度と、色差との関係によって設定する。次に、評価対象の色について測色し、非正反射方向の明度と、色差とを取得して、取得した明度および色差の値と、設定した判定基準との関係から、白とびを評価する。 (もっと読む)


【課題】 多様な種類のボトルに適用可能であり、ボトル底面に存在する欠陥の有無を高精度に判定することができる、透明体ボトルの外観検査装置を提供する。
【解決手段】 開口部103を有する透明体ボトルの底外面102に向けて第1の周波数の拡散光を照射可能な第1光源部3と、前記透明体ボトルの底外面102に向けて第2の周波数の平行光を照射可能な第2光源部4と、前記透明体ボトルの開口部103に隣接し、前記第1光源部3及び第2光源部4から照射された光を判別して、前記開口部103を通して前記底内面を撮像するエリアカメラ2と、前記エリアカメラ2により撮像された前記第1光源部3からの光による第1画像及び第2光源部4からの光による第2画像に基づいて、前記透明体ボトルの底面の欠陥の有無を判定する欠陥判定部6と、を備える。 (もっと読む)


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