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Fターム[5F033JJ00]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 層間接続のコンタクト層の材料 (22,060)

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【課題】機械的強度が比較的弱い材料を層間絶縁膜の材料として用いる場合であっても、集積度が高く、信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】支持基板10と、支持基板上に形成され、絶縁層26,28,38,44,50,56,62,68を介して複数の配線36,42,48,54,60,66を積層して成る多層配線構造と、多層配線構造上に形成された電極パッド78と、多層配線構造を貫いて支持基板に達し、電極パッドを支持する構造物76であって、断面が十字形又はY字形である構造物とを有している。この構造物により電極パッドが支持されているため、ボンディングを行った際に電極パッドの下方に存在する構成要素に大きなストレスが加わるのを防止することができ、多層配線構造の一部に、機械的強度が比較的弱い層間絶縁膜を用いた場合であっても、微細な配線パターンの変形や断線等、トランジスタの破壊等を防止することができる。 (もっと読む)


【課題】浅いトレンチ分離および基板貫通ビアの集積回路設計への統合を提供すること。
【解決手段】ICを製造する方法は、第1の側、および第2の対向する側を有する基板を用意すること、基板の第1の側にSTI開口を形成すること、および基板の第1の側に部分的TSV開口を形成すること、および部分的TSV開口を延長することを含む。延長された部分的TSV開口は、STI開口より基板内への深さが深い。方法はまた、STI開口を第1の固体材料で充填すること、および延長された部分的TSV開口を第2の固体材料で充填することを含む。STI開口、部分的TSV開口、または延長された部分的TSV開口のいずれも、基板の第2の側の外面を貫通しない。少なくとも、STI開口および部分的TSV開口は同時に形成され、またはSTI開口および延長された部分的TSV開口は同時に充填される。 (もっと読む)


【課題】半導体基板上に形成するインダクタのインダクタンスを大きくすること。
【解決手段】半導体基板上に形成された少なくとも1層からなるコイル配線のコイル中央孔に別基板に形成されたコアを挿入する。コアをコイル中央孔に固定した後、別基板は分離する。コアは別基板に接合材を介してコア材(磁性体)の薄板を付着させて、パターニングする。半導体基板上に形成されたコイル中央孔は流動性接着剤が入っていて、コアを挿入した後に流動性接着剤が硬化してコアが固定される。コアが固定された後に接合剤の接着力を低下させて別基板を分離する。コア材はバルクと同じ高透磁率を有するので、非常に大きなインダクタンスを持つインダクタを形成できる。 (もっと読む)


【課題】隣接デバイスの特性への悪影響を低減するTSV相互接続構造の製造方法を提供する。
【解決手段】第1の主面S1を有する基板を設け、少なくとも一つのTSV穴部と、TSV穴部を囲み残りの基板材料によって分離されるトレンチ状構造3、とをエッチングにより同時に作製する。基板の第1の主面でトレンチ状構造の開口をピンチオフするためと、TSV穴部側壁を平滑にするために、誘電性のライナー2a、2bを堆積し、トレンチ状構造にエアギャップ4を作製する。TSV相互接続10を生成するためにTSV穴部に導体材料を堆積する。 (もっと読む)


【課題】カーボンナノチューブを有するプラグ配線において良好な電気的接続を得ることができるカーボンナノチューブ配線の製造方法を提供する。
【解決手段】第1配線層12上に層間絶縁膜13を形成する工程と、第1配線層上の層間絶縁膜内にコンタクト孔15を形成する工程と、コンタクト孔内の第1配線層上にカーボンナノチューブ16を成長させ、コンタクト孔から先端が突き出た複数のカーボンナノチューブを形成する工程と、層間絶縁膜上及び複数のカーボンナノチューブ間に、ストッパ膜17を形成する工程と、ストッパ膜上及び複数のカーボンナノチューブ上に絶縁膜を形成する工程と、ストッパ膜をストッパとして用い、ストッパ膜上の絶縁膜と共に、コンタクト孔上の複数のカーボンナノチューブを除去する工程と、複数のカーボンナノチューブ上に第2配線層14を形成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】印刷法にて、容易にヴィアホール等のパターンを形成する方法を提供する事。
【解決手段】基板上に設けられた第一高分子材料からなる第一薄膜をパターニングする際に、第一高分子材料を溶解する第一溶媒に第二高分子材料を溶解させた高分子溶液を準備し、これを第一薄膜に滴下する高分子溶液滴下工程と、第一溶媒が乾燥した後に第一薄膜を第二溶媒に触れさせる第二溶媒接触工程と、を含み、第二溶媒は第一高分子材料を溶解せず、第二高分子材料を溶解する溶媒とする。 (もっと読む)


【課題】マスク枚数を増加させることなく、積層構造の導電層の下層が露出した構造を有する半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】ソース電極及びドレイン電極層を形成する導電膜を2層の積層構造で形成し、該導電膜上にエッチングマスクを形成し、該エッチングマスクを用いて該導電膜をエッチングし、該エッチングマスクを残した状態で該導電膜の上層をサイドエッチングして該導電膜の下層の一部を露出させてソース電極及びドレイン電極層とする。このように形成したソース電極及びドレイン電極層と画素電極層は、露出された下層の部分において接続される。ソース電極及びドレイン電極層を形成する導電膜は、例えば、下層をTi層とし、上層をAl層とすればよい。エッチングマスクに開口部が複数設けられていてもよい。 (もっと読む)


【課題】配線構造における電気特性の向上を図る。
【解決手段】カーボンナノチューブ配線の製造方法は、第1導電層200上に、絶縁膜18を形成し、前記絶縁膜内に、前記絶縁膜を貫通するホール40を形成し、前記ホール内の底面の前記第1導電層上および前記ホール内の側面の前記絶縁膜上に、触媒下地膜19を形成し、前記ホール内の側面の前記触媒下地膜上に、触媒不活性膜20を形成し、前記ホール内の底面の前記触媒下地膜上および前記ホール内の側面の前記触媒不活性膜上に、触媒膜21を形成し、前記ホール内の底面の前記触媒膜上から複数のカーボンナノチューブ22を成長させる。 (もっと読む)


【課題】ビア配孔内に形成したカーボンナノチューブを埋め込む埋め込み膜が基板に均一に形成されないため基板の平坦化処理工程において層間絶縁膜が不均一に研磨されて、下層配線と上部電極がビア配線以外で電気的につながってしまう場合が発生する。
【解決手段】半導体基板における層間絶縁膜内のビアホール内にカーボンナノチューブを形成した後、基板全体をフッ化処理することにより、カーボンナノチューブが存在するビアホールにのみ埋め込み膜が形成され、その後に基板全体の平坦化処理のために基板を研磨する工程において、層間絶縁膜が局所的に研磨されることを防止する。 (もっと読む)


【課題】応力による半導体回路の特性劣化を抑制した半導体デバイスを提供する。
【解決手段】縦導体は、半導体基板の厚み方向に設けられた微細孔を満たし、第1結晶組織301と第2結晶組織302とを含むナノコンポジット結晶構造を有する。ナノコンポジット結晶構造において、第1結晶組織301及び第2結晶組織302の少なくとも一方は、ナノサイズである。 (もっと読む)


【課題】貫通ビアを形成する工程の効率化を図り、製造コストの抑制を図ることのできる半導体記憶装置を提供すること。
【解決手段】実施の形態の半導体装置1は、半導体基板11と、第1絶縁層20と、電極パッド14と、貫通孔21と、支持絶縁層12と、を備える。半導体基板は、配線層が設けられるとともに上下に貫通する貫通溝が形成される。第1絶縁層は、貫通溝に充填される。電極パッドは、配線層に含まれる配線と一体的に形成される。貫通孔は、電極パッドと第1絶縁層の間に設けられて電極パッドを支持する。 (もっと読む)


【課題】基板、少なくとも1つの第1のくぼんだ基部、少なくとも1つの第2のくぼんだ基部、少なくとも1つの接続構造および少なくとも1つのバンプを備える自己整合ウェハまたはチップ構造を提供する。
【解決手段】基板100は第1の表面101aおよび第2の表面101bを有し、少なくとも1つのパッド102は第1の表面101a上に形成されている。第1のくぼんだ基部116は、第1の表面101a上に配置されるとともに、パッド102に電気的に接続されている。第2のくぼんだ基部120は第2の表面101b上に配置されている。接続構造は、第1および第2のくぼんだ基部116、120に電気的に接続するために、基板100を貫通するとともに、第1および第2のくぼんだ基部116、120間に配置されている。バンプ122は、第2のくぼんだ基部120に充填され、第2の表面101bから突出する。 (もっと読む)


【課題】配線破断を軽減する構造を有する液晶表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上にゲート配線及び信号配線、ゲート絶縁膜、半導体パターン、データ配線、保護膜、ドレーン電極を露出させる第1接触孔及び信号配線を露出させ、側辺の長さが幅より大きく形成される複数の第2接触孔、第1及び第2接触孔を通じてドレーン電極に連結される画素電極及び信号配線に連結される信号配線補助パッドを形成する液晶表示装置の製造方法であって、信号配線を形成する段階では、信号配線に一対一に対応する複数の信号リードを有する信号伝送用フィルムを含み、信号伝送用フィルムには複数の信号リードのうちの高電圧信号を伝送する第1信号リードと低電圧信号を伝送する第2信号リードとの間にダミーリードが形成され、ダミーリードに対応するダミー配線が基板に形成され、ダミー配線は信号配線より酸化傾向が小さい特性を有する導電物質で形成される。 (もっと読む)


【課題】本発明は、薄膜トランジスタのソース領域やドレイン領域へのコンタクトを確実
にした半導体装置を提供するものである。
【解決手段】本発明における半導体装置において、半導体層上の絶縁膜およびゲイト電極
上に形成された第1の層間絶縁膜と、前記第1の層間絶縁膜の上に形成された第2の層間
絶縁膜と、前記第2の層間絶縁膜、前記第1の層間絶縁膜、および前記絶縁膜に設けられ
たコンタクトホールとを有する。前記第1の絶縁層の膜厚は、前記積層の絶縁膜の合計膜
厚の1/3以下に形成する。 (もっと読む)


【課題】被処理体上のビアホールや配線用溝等の開口部に高密度にカーボンナノチューブ膜を埋め込むことができるカーボンナノチューブの形成方法を提供する。
【解決手段】表面に1又は複数の開口部を有し、当該開口部底面に触媒金属層が形成された被処理体を準備し(STEP1)、触媒金属層に酸素プラズマ処理を施し(STEP2)、酸素プラズマ処理後の触媒金属層に水素含有プラズマ処理を施して、触媒金属層の表面を活性化し(STEP3)、その後、触媒金属層の上にプラズマCVDによりカーボンナノチューブを成長させて、被処理体の開口部内をカーボンナノチューブで充填する(STEP5)。 (もっと読む)


【課題】ビアホール内のコンタクト材料としてカーボンナノチューブ(CNT)を用いつつ、ビア抵抗の低減及びプロセスの容易化をはかる。
【解決手段】配線層間のビアにCNTを用いた半導体装置であって、表面にCu配線17を有する基板上に設けられた層間絶縁膜19と、層間絶縁膜19に形成されCu配線17に接続されるビアホールと、ビアホール内に露出するCu配線17上に選択的に形成され、Cu配線17に対するバリアとなり、且つCNTの成長の助触媒となる第1の金属膜21と、ビアホール内の少なくとも第1の金属膜21上に形成された、CNTの成長の触媒となる第2の金属膜22と、第1及び第2の金属膜21,22が形成されたビアホール内に形成されたCNT23と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】半導体チップを評価する技術を提供する。
【解決手段】
シリコン基板の一方の面に、複数領域からなる抵抗測温体としての金属配線膜101、及び、1つ又は複数領域からなるヒータとしての金属配線膜102の少なくとも何れかと、金属配線膜101及び金属配線膜102を実装基板と接続するための電極103と、が積層された半導体チップを実装基板に実装して、金属配線膜101を電流計及び電圧計と、金属配線膜102を電源と、電気的に接続することで、半導体チップの上記各領域における測温及び加熱、及び、その温度プロファイルが評価可能な評価システムを提供する。 (もっと読む)


【課題】形状制御性良く、タングステンを含む導電層のエッチングを行える半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、下地層上にタングステンを含む導電層を形成する工程と、導電層を選択的にエッチングし、導電層の表面から下地層に達する深さよりも浅い溝を形成する工程と、溝を形成した後、臭素を含むガスを用いて、溝内の導電層の側面及び底面にタングステンと臭素との化合物を含む保護膜を形成する工程と、導電層の底面の保護膜を除去する工程と、導電層の底面の保護膜を除去した後、導電層の側面に保護膜が形成された状態で、導電層における溝より下の部分をエッチングする工程と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板上にIII−V族半導体で形成されたHEMTとシリコン面に形成されたショツトキーダイオードのモノリシック集積デバイスを開示する。
【解決手段】少なくとも1つのビアは、III−V族半導体を通じて延在して、III−V族トランジスタの少なくとも1つの端子をシリコン基板に形成されたシリコンデバイスに結合させる。シリコンデバイスはショットキーダイオードと、III−V族トランジスタはGaNHEMTとすることができる。ショットキーダイオードのアノードは、一実施形態においては、シリコン基板202に形成され、他の実施形態においては、シリコン基板上の低濃度にドープされたエピタキシャルシリコン層204に形成される。HEMTはGANで構成されたチヤネル層212、AlGaNで構成された電子供給層214より構成される。 (もっと読む)


【課題】基板上に形成された配線用パターンの底部までCu埋め込みが可能な基板の配線方法を提供する。
【解決手段】真空状態に保持された処理容器100内にて配線用パターンが形成された基板を配線する方法であって、ウエハ上の配線用パターンを所望のクリーニングガスにより洗浄する前工程と、前工程後、クラスタ化された金属ガス(金属ガスクラスタCg)を用いて配線用パターン内に金属ナノ粒子を埋め込む埋め込み工程と、を含むことを特徴とする基板の配線方法が提供される。 (もっと読む)


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