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Fターム[5F157AA42]の内容

Fターム[5F157AA42]に分類される特許

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【課題】異物除去の効率を向上できる超音波洗浄装置を提供する。
【解決手段】洗浄装置1は、超音波を発する振動子11と、紫外線を通過する材料により形成され、振動子11が発する超音波を、異物と化学反応する機能水3によって覆われた基板表面2aに対して、基板表面2aに対向するように配置されたホーン底部13から伝達するホーン部12と、ホーン部12の内部に配置され、UV光を発光するUV光源20とを備える。 (もっと読む)


【課題】被処理基板への影響を低減しつつ良好な洗浄、乾燥処理を実行可能な基板処理装置等を提供する。
【解決手段】基板処理装置2に設けられた洗浄槽221では、洗浄液供給部から洗浄液を供給しながら当該洗浄液に被処理基板Wを縦向きの状態で浸漬して洗浄が行われ、この洗浄槽221の上方領域と連通する乾燥室21では、洗浄槽221から引き上げられた被処理基板Wの乾燥が行われる。そして、第1の乾燥ガス供給部及び第2の乾燥ガス供給部からは、洗浄後の被処理基板Wの上端が洗浄液の液面より上方に引き上げられた後、少なくとも被処理基板が晒される領域に、前記洗浄槽の上方領域から乾燥室内に至るまでの雰囲気に液体除去用の溶剤蒸気を含む第1の乾燥ガスと、前記溶剤蒸気を含まない第2の乾燥ガスとが交互に供給される。 (もっと読む)


【課題】電子材料の洗浄における例えばレジストの剥離処理等に要する時間を短縮し、さらにレジスト剥離後のウエット洗浄によりレジスト残渣を短時間に確実に除去し得る低コストで省資源化の可能な洗浄方法を提供する。
【解決手段】キャリアガス制御弁14を開成し、これとともに加圧ガス制御弁19を開成して所定の圧力で加圧ガスを供給することにより加圧板16を押圧して、気体貯槽15内のキャリアガスGを所定の圧力として、キャリアガス供給配管7に供給する。これとともに洗浄液W1を二流体ノズル8へ供給する。このようにして二流体ノズル8で混合された洗浄液W1とキャリアガスGとから生成される液滴W2の噴流を、シリコンウエハ5に接触させて、該シリコンウエハ5の表面を洗浄する。洗浄液W1としては、硫酸を電気分解して得られる過硫酸を含有する硫酸溶液が好ましい。 (もっと読む)


【課題】処理液を用いた基板処理を良好に行うことができるとともに、処理時間をより短縮することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置1は、基板Wに対して処理液による処理を施す処理チャンバ10と、基板収容器17を保持する収容器保持部4と、収容器保持部4と処理チャンバ10との間で基板Wを搬送するインデクサロボット6、シャトル搬送機構7および主搬送ロボット9を備えている。シャトル搬送機構7が備えられたシャトル搬送空間14の上部には、172nmの波長を中心とする紫外線を照射するランプハウスが設けられている。シャトル搬送機構7によって基板Wを搬送するのと同時に、搬送中の基板Wに紫外線を照射することによって、基板Wに付着している有機物を分解・除去したり、基板W表面に酸化膜を形成する処理を行う。 (もっと読む)


【課題】マイクロラフネス、ウォーターマーク、基板材料損失、デバイス構造の破壊といったウェット洗浄が有する技術的課題を回避しつつ、極低温エアロゾル照射手法に比べてより多様な汚染物を基板から除去することができる基板洗浄装置を提供する。
【解決手段】被洗浄物が付着したウェハWを洗浄する基板洗浄装置に、洗浄剤分子が複数集合してなるクラスターをウェハWに噴射するクラスター噴射手段と、前記洗浄剤分子のクラスターを噴射することによって除去された被洗浄物を吸引する吸引手段と、ウェハW及び前記クラスター噴射手段を、被洗浄物が付着したウェハWの面に沿って相対移動させる手段を備える。 (もっと読む)


【課題】エレクトロニクス材料、金属、ガラス、サファイア、樹脂等の洗浄工程で要求される製品表面の高清浄度を実現することができる、水溶性洗浄剤組成物を提供する。
【解決手段】(A)アニオン性ポリマー0.01〜20質量%、(B)キレート剤:0.01〜30質量%、(C)水:40〜99.9質量%を含む水溶性洗浄剤組成物であって、前記アニオン性ポリマー(A)は、(A−1)炭素数2〜8のエチレン系不飽和モノマーの少なくとも1種と、(A−2)スルホ基(SOH)を含むエチレン系不飽和モノマー及びカルボキシル基(COOH)を含むエチレン系不飽和モノマーからなる群から選ばれる少なくとも1種のアニオン性不飽和モノマーとの共重合体である、水溶性洗浄剤組成物。 (もっと読む)


【課題】電子材料のレジストの剥離処理に要する時間を短縮し、さらにレジスト剥離後のウエット洗浄によりレジスト残渣を短時間に確実に除去し得る電子材料洗浄システムを提供する。
【解決手段】電子材料洗浄システムは、薬液洗浄手段1とウエット洗浄手段2と枚葉式洗浄装置3とを備える。薬液洗浄手段1は、機能性薬液貯留槽6と、この機能性薬液貯留槽6に濃硫酸電解ライン7を介して接続した電解反応装置8とを有する。この機能性薬液貯留槽6は、機能性薬液供給ライン10を介して枚葉式洗浄装置3に機能性薬液W1を供給可能となっている。ウエット洗浄手段2は、純水の供給ライン21と窒素ガス源に連通した窒素ガス供給ライン22と、これら純水供給ライン21及び窒素ガス供給ライン22がそれぞれ接続した内部混合型の二流体ノズル23とを備える。二流体ノズル23の先端から窒素ガスと超純水とから生成される液滴W2を噴射可能となっている。 (もっと読む)


【課題】半導体基板からの剥離物(例えば、レジストや金属膜)等が周囲の飛散防止カバーに付着するのを効果的に防止する半導体基板の処理装置を提案する。
【解決手段】半導体基板11を保持する基板保持部材12と、これの回転駆動手段14と、半導体基板11に処理流体を噴射するノズル15と、基板保持部材12の周囲に設けられた飛散防止カバー16とを有する半導体基板の処理装置10において、飛散防止カバー16の内側上部に、シャワーヘッダー17を設け、飛散防止カバー16の下方には、不要物30を回収する取り外し式のメッシュ籠29を備えている。 (もっと読む)


処理チャンバ(20)が、任意に過酸化水素などの酸化剤とともに硫酸などの酸の存在下で基板上に直接赤外線放射を行うことを通じて硬化フォトレジストをうまく除去する。この処理チャンバは、ウェハを保持して任意に回転させるためのウェハホルダ(26)を含む。赤外線照射アセンブリ(126)が、処理チャンバ内に赤外光を放射するように配置された、処理チャンバの外側の赤外線ランプ(140)を有する。これらの赤外線ランプは、ホルダ上のウェハ表面の実質的に全体を照射するように配列することができる。この赤外線放射アセンブリに冷却アセンブリ(150)を組み合わせて、迅速な冷却を行うとともに過剰処理を回避することができる。少量の薬品溶液を使用してフォトレジストが除去される。 (もっと読む)


【課題】ウエーハの表面を短時間で確実に洗浄することができるウエーハの洗浄方法を提供する。
【解決手段】スピンナーテーブルに保持されたウエーハの表面に洗浄水噴射ノズルから洗浄水を噴射してウエーハの表面を洗浄するウエーハの洗浄方法であって、スピンナーテーブルに保持されたウエーハの回転中心に洗浄水噴射ノズルを位置付ける噴射ノズル位置付け工程と、スピンナーテーブルを回転させ洗浄水噴射ノズルから洗浄水を噴射しつつ洗浄水噴射ノズルをウエーハの回転中心から外周に向けて移動せしめる洗浄工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】基板に付着した異物を取り除きつつ、基板や該基板上に形成された膜の劣化を防止することができる基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】異物22が付着し且つほぼ真空の雰囲気中に配されるウエハWに向けて0.3MPa〜2.0MPaのいずれかの圧力で洗浄ガスを噴霧して複数のガス分子20からなるクラスター21を形成し、該クラスター21をイオン化することなくウエハWへ衝突させる。 (もっと読む)


【課題】凸版印刷などの印刷装置に用いられる刷版を作業性よく簡単に洗浄することができる刷版の洗浄装置及び洗浄方法を提供すること。
【解決手段】容器2の上方に刷版5を吊り下げるための吊り下げ保持部3を設け、刷版5の側部に設けられた被係止部6を吊り下げ保持部3の空間T内に挿入して吊り下げる。そして昇降手段によって刷版5を吊り下げ保持部3とともに下降させ、洗浄液Wに浸漬させることによって刷版5に付着したインキを溶出して除去する。その後、昇降手段により洗浄液Wから刷版5を取り出したならば、第2のモータM2を駆動して、フレーム41をナット43及びスライダ44を介して水平方向に往復移動させる。このとき、ノズル42から洗浄水を刷版5の印刷表面に向かって噴射させながらフレーム41を往復移動させる。これにより、刷版5に残存するインキを除去する。 (もっと読む)


【課題】洗浄時の環境負荷をできるだけ低くし、かつ構造体の破壊のおそれがある片寄った物理的負荷を与えずに、電子部品あるいは微細構造を有する精密加工部品もしくは微細加工用金型等に付着した難洗浄性汚れを除去する。
【解決手段】被洗浄物を水、低級アルコール、または界面活性剤溶液に浸漬し、100MPa〜1000MPaの超高圧の静水圧を当該被洗浄物に付与することによって、難洗浄性汚れを除去する。 (もっと読む)


本発明は、低圧プラズマ工程によって被覆された適応性ナノコーティングに関する。本発明はまた、そのような適応性ナノコーティングを、三次元ナノ構造体、特に導電性および非導電性要素を含む三次元構造体の上に形成する方法に関する。 (もっと読む)


【課題】少ない薬品の使用量で、ウェーハ表面に付着した有機物および金属等の微粒子をより精度高く除去することができるシリコンウェーハの表面浄化方法を提供する。
【解決手段】オゾンガスをウェーハ表面に接触させ、ウェーハ表面に酸化膜を形成させ(ステップS1)、フッ化水素ガスをウェーハ表面に接触させ、ウェーハ表面に形成された酸化膜を除去し(ステップS2)、シュウ酸またはクエン酸のジカルボン酸の薬液を用いてウェーハ表面を洗浄し、微粒子の再付着防止と金属粒子の除去とを行い(ステップS3)、さらに、オゾン水を用いてウェーハ表面を洗浄して微粒子を除去するとともに、更なる酸化膜の形成を行う(ステップS4)。 (もっと読む)


【課題】ペリクルを損傷させることなく、異物を除去することができる異物除去装置を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様に係る異物除去装置10は、ペリクルフレーム23を介してペリクル22が装着されたマスク20のペリクル22上の異物を除去する異物除去装置であって、ペリクル22側から超音波を照射して、ペリクル22の近傍を腹とする定在波を発生させる超音波発生手段11を備える。また、ペリクル22と異物25との間の静電気を除去するイオナイザ12をさらに備える。 (もっと読む)


【課題】 全長が1800mm以上ある大型のエキシマランプ40を光源に備えていても、中間部と端部とで一定の水準の処理効果を保つことができるランプユニット20を提供すること。
【解決手段】 放電容器41における上壁面42と下壁面43との外表面に電極46、47が設けられると共に放電容器内にキセノンガスが封入されてなり、当該放電容器内にエキシマ放電を発生させるエキシマランプ40と、
エキシマランプ40の両端をランプ保持体26によって支持して筐体21内にエキシマランプ40を配置したランプユニットにおいて、
前記エキシマランプ40の長手方向の中間部下方に中間支持体50を配置し、エキシマランプ40を下側から支持したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】従来は塗布の前処理として洗浄を行う製造ラインにおいて洗浄工程から塗布工程の間に設備間の移動が必要であった。そのため洗浄後の清浄部に空気中に浮遊しているゴミをかみこみ、濡れ性不足、接着強度不足、信頼性の低下を招く恐れがあった。
【解決手段】本発明は、被照射部にスポット照射を行い清浄化する洗浄ヘッド21と、前記洗浄ヘッドと被照射体の相対位置関係において前記洗浄ヘッド21の進行方向の後ろ側に配された前記塗布ヘッド22を具備する洗浄塗布装置である。係る発明を用いることで、洗浄工程後、清浄部に汚染物質が再付着する前に塗布工程を行うことができる。また、洗浄工程と塗布工程の間に搬送工程を含まず、一つの装置で洗浄塗布工程が行えるため、工程及び設備の簡易化が可能である。 (もっと読む)


【課題】被処理物の表面に存在する有機物等の汚染物を高い効率で除去することができると共に、被処理物の表面の濡れ性を向上させることができ、被処理物の表面に高い密着性を有する薄膜を形成することができるドライ洗浄方法およびドライ洗浄装置を提供する。
【解決手段】被処理物1に大気圧プラズマを作用させることにより洗浄処理する第1洗浄工程と、この第1洗浄工程によって洗浄処理された被処理物1にエキシマランプから放射されたエキシマ光を照射することにより洗浄処理する第2洗浄工程とを有し、搬送される被処理物1に対して被処理物1の搬送方向の上流位置に大気圧プラズマ装置20を配置し、被処理物1の搬送方向の下流位置にエキシマ光照射装置30を配置する。 (もっと読む)


【課題】ガス溶解水による高圧ジェット洗浄又は二流体洗浄で高い洗浄効果を得て、低コストで省資源な洗浄方法を提供する。
【解決手段】洗浄流体吐出ノズルから、洗浄液又は洗浄液と気体との混合流体を被洗浄物に向けて吐出させて該被洗浄物を洗浄する高圧ジェット洗浄又は二流体洗浄方法において、該洗浄流体吐出ノズルに導入される洗浄液が、該洗浄液の液温における飽和溶解度以上の溶存ガスを含むことを特徴とする洗浄方法。 (もっと読む)


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