説明

ベース集合体およびベース集合体を用いた圧電デバイスの製造方法

【課題】 確実で安定した切断を行うことができるベース集合体と、ベース集合体を用いた圧電デバイスの製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 開口部8を囲繞する環状の堤部200を備えたベース2が、多数個連なって形成されたベース集合体100において、当該ベース集合体の隣接するベースの境界には、多数個のベースに分離するための切断ラインLが設定されている。各ベースの長辺側の堤部の外周面には、堤部の幅方向に平面視2段状の孔が形成されており、当該孔は前記切断ラインLを含む位置に形成されるとともに、前記孔の内壁であって、前記切断ラインと干渉しない領域に側面導体Mが被着されている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子機器等に用いられる圧電デバイスの製造に用いられるベース集合体および、ベース集合体を用いた圧電デバイスの製造方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
各種電子機器等に実装される圧電デバイスとして水晶振動子が広く使用されている。例えば、表面実装型水晶振動子はセラミック材料からなり、上部に開口部を有する断面視凹状のベース(容器体)の内部に水晶振動板を搭載し、前記開口部を平板状の蓋体で気密封止した構成となっている。そして、圧電デバイスの小型化に対応し、水晶振動子を効率的に製造する手段として、例えば多数個のベースがマトリクス状に整列して一体形成されたベース集合体を用いた製造方法がある(例えば特許文献1参照)。
【0003】
特許文献1の製造方法によると、バッチ処理によって多数個の水晶振動子を一括同時に得ることができる。この方法では、多数個の水晶振動子に分割切断するために隣接するセラミックベースの間をブレードで切断している。このような製造方法において、ベースの4つの角部に上下方向に伸長する円弧状の切り欠き部(所謂、キャスタレーション)を形成する場合、例えば以下の方法がある。まず、焼成前のベース集合体において、隣接するベースの境界線の交点を中心とし,前記隣接するベースの角部に跨る半径の貫通孔を穿孔する。次に当該貫通孔の内壁面に金属導体を形成(メタライズ処理)する。そして隣接するベース間を縦横方向にブレードで切断することによって、前記金属導体が形成された貫通孔が平面視で略四分の一円状に分割されてキャスタレーションが4つ形成されることになる。
【0004】
しかし、前記切断の際にブレードが前記貫通孔の内壁面の金属導体と接触するため、切断が進行するにつれてブレードへの切削物質の目詰まりが発生することがあり、切削効率悪化の原因となる。また、ベース集合体を用いて水晶発振器を製造する場合、角部のキャスタレーションに加え、辺部にベース内部の電子部品素子への情報書込み端子(金属)が内壁面に形成されたキャスタレーションが形成される。しかし、前記書込み端子は前記切断の際にブレードが干渉するため、ブレードの目詰まりを引き起こす要因となる。
【0005】
【特許文献1】特開2005−294617号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、確実で安定した切断を行うことができるベース集合体と、ベース集合体を用いた圧電デバイスの製造方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
上記目的を達成するために、請求項1の発明によると、上部に開口部と、当該開口部を囲繞する環状の堤部とを具備する平面視矩形状のベースが、多数個連なって形成されたベース集合体であって、前記ベース集合体の隣接するベースの境界には、多数個のベースに分離するための切断ラインあるいは切断予定ラインが設定されてなり、前記各ベースの堤部の角部と辺部の両方、あるいはいずれか一方には、当該堤部の幅方向に少なくとも1以上の段数を有する孔が形成されており、当該孔は前記切断ラインあるいは切断予定ラインを含む位置に形成されるとともに、前記孔の内壁であって、前記切断ラインあるいは切断予定ラインと干渉しない領域に側面導体が形成されている。
【0008】
上記構成によれば、例えばダイシングによって、前記ベース集合体から多数個の圧電振動デバイスに分割切断する際に、前記切断ラインあるいは切断予定ライン上にある孔の内壁面には金属導体は形成されていないため、ダイシングブレードが金属物質と接触することがなく、ブレードの目詰まりを防止することができる。したがって、切削効率を低下させることなく、確実で安定した切断を行うことができる。
【0009】
また、ベース集合体を用いた圧電振動デバイスの製造過程において、各デバイスの周波数等を測定するためにベース集合体を厚み方向に部分的に切断して多数個のベースを電気的に独立した状態にする必要がある。このような場合においても、前記切断ラインあるいは切断予定ライン上には金属導体は形成されていないため、ダイシングブレードが金属物質と接触することがなく、ブレードの目詰まりを防止することができる。
【0010】
また、上記目的を達成するために、請求項2の発明によると、前記孔は貫通孔または有底孔からなるとともに、堤部幅方向に幅広の領域と、堤部幅方向に幅狭の領域とを有し、前記幅広領域と前記幅狭領域との間に段部を有しており、前記幅狭領域は前記切断ラインあるいは切断予定ラインを含む位置に形成され、前記幅広領域の内壁に側面導体が形成されていることを特徴とする請求項1に記載のベース集合体であってもよい。
【0011】
上記構成によれば、前記切断ラインあるいは切断予定ライン上にある孔、つまり幅狭領域の内壁面には金属導体が形成されていないため、ダイシング等の切断手段によって、前記ベース集合体から多数個の圧電振動デバイスに分割切断する際に、ダイシングブレードが金属物質と接触することがない。これにより、ブレードの目詰まりを防止することができる。
【0012】
また、上記構成によると上記効果に加え、孔の内壁面の導体を安定して形成することができる。具体的に、金属導体が堤部の幅方向に幅広となる領域の内壁面だけに限定して形成されているので、穿孔による堤部の幅方向の薄肉化を抑制し、圧電振動デバイス全体の強度を維持することができる。
【0013】
また、上記目的を達成するために、請求項3の発明によると、請求項1に記載のベース集合体の製造方法であって、前記ベース集合体が複数のシートの積層体であり、ベース集合体の焼成前の状態において、前記ベース集合体の、隣接する各ベースの堤部に跨って、略矩形あるいは略楕円の形状を有する第1孔を、当該孔の長辺あるいは長軸が、前記切断ラインあるいは切断予定ラインと交差するように貫通穿孔する第1穿孔工程と、前記第1孔の内壁面に金属導体を被着する導体被着工程と、前記隣接する各ベースの堤部に跨って、第1孔よりも幅広かつ、前記堤部幅方向に縮幅した形状の第2孔を、第1孔と部分的に重なるように貫通穿孔する第2穿孔工程と、を含むベース集合体の製造方法となっている。
【0014】
このようなベース集合体の製造方法によれば、2種類の孔を、各長寸が交差するように穿孔することで、奥側(第1孔)の内壁面に金属導体が形成された切り欠き部を形成することができる。これにより、切断ラインあるいは切断予定ライン上に金属導体が存在しない切り欠き部を形成することができる。
【0015】
また、このような製造方法によると前記孔の切断によって得られる切り欠き部の内壁面の導体を安定して形成することができる。具体的に、金属導体は堤部の幅方向に幅広となる領域である第1孔(第1切り欠き部)の内壁面だけに限定して形成されているので、穿孔による堤部の幅方向の薄肉化を抑制し、圧電振動デバイス全体の強度を維持することができる。
【0016】
また、上記目的を達成するために、請求項4の発明によると、請求項1乃至2に記載のベース集合体を用いて、当該ベース集合体の各ベースの内部に圧電振動片または、圧電振動片と電子部品素子を搭載し、各ベースの前記開口部を平板状の蓋体を用いて一対一で気密封止した後に、前記切断ラインあるいは切断予定ラインに沿って前記ベース集合体を切断し、前記孔の前記切断によって形成される切り欠き部を備えた圧電デバイスを多数個一括形成する圧電デバイスの製造方法となっている。
【0017】
このような製造方法によると、ベースを集合基板状態のままで取扱いながら、各ベース内部に圧電振動片または、圧電振動片と電子部品素子を搭載した後、蓋体で一対一で気密封止してから、前記切断ラインあるいは切断予定ラインに沿って切断するため、一括同時に前記孔の前記切断によって形成される切り欠き部を備えた圧電デバイスを多数個得ることができる。また、前記孔の内壁面には、切断ラインあるいは切断予定ラインと干渉しない領域に側面導体が形成されているため、安定した切断が可能となり、高効率かつ信頼性の高い圧電デバイスの製造を行うことができる。
【発明の効果】
【0018】
以上のように、本発明によれば、確実で安定した切断を行うことができるベース集合体と、これを用いた圧電デバイスの製造方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0019】
−第1の実施形態−
以下、本発明による第1の実施形態を図1乃至図9に基づいて説明する。なお、本実施形態では圧電デバイスに表面実装型の水晶発振器を用いた例を示している。図1は本発明の第1の実施形態を示すベースの斜視図を、図2は図1におけるA部拡大図を、図3は図2における第2の層の平面図、図4は本発明の第1の実施形態を示すベース集合体の上面図を表している。また、図5乃至図9は切り欠き部の形成方法を示すベース集合体の部分平面図を、図10は本発明における水晶発振器の長辺方向の断面図を表している。なお、図1乃至図2ではベースの底面(裏面)側に形成される外部接続端子の記載を、図1および図4乃至図9ではベース内底面に形成される金属パターンを省略している。また、図10では水晶振動板の表裏面に形成される励振電極等の各種電極の記載を省略している。さらに図6乃至図9においてベース内部の記載は省略している。
【0020】
本発明の水晶発振器1は、図10に示すように上部に開口部8と、当該開口部8を囲繞する環状の堤部200を備えた平面視矩形状のベース2と、当該ベースの段部24の上面に形成された一対の搭載パッド21,21上に、導電性接着材6を介して片持ち支持接合される水晶振動板3と、当該ベースの内底面に搭載されるIC(集積回路)4と、開口部8を気密封止する蓋体5が主要部材となっている。
【0021】
まず、単体のベース2について図1を基に説明する。ベース2はセラミック材料からなる絶縁性の箱状体であり、上部に開口部8を有した構造となっている。ベース2は3枚のセラミックグリーンシート(第1の層201、第2の層202、第3の層203)を積層した後、焼成によって一体成形されている。
【0022】
ベース2の内底面211(第1の層201の上面)には、ICの接続端子と接続される所定形状の金属パターン(図示せず)が複数配設されている。また、第1の層201の下面(裏面)の4角付近には、電子機器等の内部基板上に半田等によって接合される外部接続端子(図示せず)が各々形成されている。なお、前記外部接続端子は、ベース内部に形成される内部配線導体(ビア)を介して、前述の複数の金属パターンの一部と電気的に繋がった状態となっている。
【0023】
ベース2は内部に段部24を備えており、ベース一端側にある段部24の上面には、水晶振動板3(詳細は後述)の一端側と接合される一対の搭載パッド21,21が形成されている。本実施形態において前記搭載パッド21は、タングステンメタライズ、ニッケルメッキ、金メッキの順で金属膜が積層された構成となっている。そして、第2の層202の開口領域にICが収容されるようになっている。また、前記一対の搭載パッド21,21は、段部24を厚み方向に貫く貫通導体(ビアホール)を介して、ICと接続される複数の金属パターンの一部と電気的に繋がった状態となっている。
【0024】
図1乃至図2に示すように、平面視矩形状のベース2の対向する長辺側の堤部外壁22,22には、切り欠き部(以下、側面キャスタレーションと記す)25,25が対向して形成されている。具体的に、対向する長辺側の堤部中央部分の外側面には、堤部の幅方向に2段状に切り欠かれた,側面キャスタレーション25が各々形成されている。側面キャスタレーション25は、図2乃至図3に示すように堤部の幅方向に幅広となる領域(第1切り欠き部251)と、堤部の幅方向に幅狭となる領域(第2切り欠き部252)とを有しており、前記幅広領域と前記幅狭領域との間に段部を有している。そして前記幅狭領域は切断ライン(後述)を含む位置に形成されている。なお、図3はベース1を構成する3枚のセラミックグリーンシートの内、中間層である第2の層202についてのみ図示したものである。
【0025】
第1切り欠き部の内壁面の内、第2の層202の部分にのみ、辺部側面導体Mが形成されている。なお、2つの辺部側面導体M,Mは一対の搭載パッド21,21とそれぞれ電気的に接続された状態となっている。つまり、辺部側面導体Mはベース内部の水晶振動板と電気的に繋がった状態となっているため、辺部側面導体Mにベース外部から測定プローブを当接させて水晶振動板の周波数等を測定することができる。また、前記測定結果の情報を辺部側面導体Mを介してベース内底面に接合されたICに書き込むことができるようになっている。
【0026】
本実施形態では、切り欠き部はベース2の堤部の内、長辺部分に形成された構造となっているが、本形態に限定されるものではなく、例えば、ベース2の堤部の外周4角の上下方向に切り欠き部(角部キャスタレーションと略記)を形成してもよい。また、堤部の辺部と角部の両方に切り欠き部を形成してもよい。この場合、例えば角部キャスタレーションの内壁面の内、第1の層201の内壁面あるいは第1の層201と第2の層202の内壁面に側面導体を形成してもよい。前記側面導体を形成することで、前記外部接続端子を基板のランドパターンに半田溶融によって固着させる際に、前記側面導体からランドパターンにかけて半田のフィレットが形成されるため、基板に圧電デバイスをより強固に接合させることができる。
【0027】
次に、ベース集合体の成形方法について図4乃至図9を参照しながら説明する。ベース集合体100を構成する3つの層(201、202、203)は、各々が1枚のセラミックグリーンシートとなっている。
【0028】
まず、図5乃至図6に示すように中間層となる第2の層202の所定位置に平面視で角部に一定曲率を有する略長方形の第1孔250を複数個穿孔する(第1穿孔工程)。このとき第1孔250は、隣接する2つのベースの堤部の一部が残るように穿孔される。前述の所定位置は、図5乃至図6に示すように長辺側が隣接した2つのベースの境界線(仮想線である切断予定ラインと略一致)と交差(本実施形態では略直交)し、前記隣接した2つのベースの堤部領域に跨る位置のことである。具体的に、平面視略長方形の第1孔250は、図6のように当該孔の長辺が前記切断予定ラインLと略直交方向に交差するように貫通穿孔されている。なお、前記交差は直交状態に限定されるものではなく、切断予定ラインに対して90度以外の角度で交差していてもよい。
【0029】
一方、第1の層201と第3の層203の各々に対しても、所定位置に前述と同じ形状の第1孔250をパンチングによって穿孔する。ここで前記所定位置とは、3枚のセラミックグリーンシート(201、202、203)の外周縁が一致するように重ねたとき、前記第2の層202に複数貫通穿孔された前記第1孔250と平面視で略一致する位置のことである。
【0030】
次に、図7に示すように、第2の層202の所定位置に複数個形成された全ての第1孔250の内壁面に側面導体Mを被着する(導体被着工程)。本実施形態では前記金属導体としてタングステンが用いられている。
【0031】
そして、図8に示すように、第2の層202に形成された第1孔250の上から、第1孔250の略中心を基準として、前記第1孔の長辺と交差(略直交)するように平面視略長方形の第2孔254(図6の点線で示す)をパンチングによって貫通穿孔する(第2穿孔工程)。具体的に第2孔254は切断予定ラインを通り、隣接する各ベースの堤部に跨っているとともに、第1孔250よりも幅広で、かつ、前記堤部幅方向に縮幅した形状となっており、第1孔と部分的に重なるように貫通穿孔されている。
【0032】
本実施形態では第1孔250と第2孔254はともに平面視で略長方形であるが、第2孔254の方が第1孔250よりも横に細長い形状となっている。このように形状の異なる2つの孔を重ねて穿孔することによって、第1孔250の内壁面の金属導体が部分的に除去され、平面視2段形状の貫通孔が形成される(図9)。なお、前記第1孔と第2孔は、同一形状の長方形であってもよい。これは同一形状であっても、互いに交差するように重ねて穿孔することで第1孔の長辺両端周辺以外の領域を除去することができるからである。また、本実施形態では第1孔250と第2孔254はともに平面視で略長方形であるが、第1孔250と第2孔254ともに平面視略楕円状であってもよい。この場合、前述の長辺部分を長軸に置換して穿孔すればよい。
【0033】
上記のように、第2孔254を穿孔することによって切断ラインを横断し,隣接する2つの堤部に跨って形成されていた側面導体Mは部分的に除去される。つまり、切断ラインから各ベース内側方向に離間した部分(第1孔の長辺両端周辺領域)にだけ金属導体が残存するため、前記切断ラインと干渉しなくなる。なお、本発明において側面導体Mは、切断ラインを通るダイシングブレードの刃幅以上、ベース内側方向に離間した位置に形成されている。
【0034】
一方、第1の層201と第3の層203の各々に対しても、前述のように穿孔された第1孔250の上から、第2の層202で穿孔された孔と同形状の第2孔254をパンチングによって穿孔する。ここで第2孔254の穿孔位置は、3枚のセラミックグリーンシート(201、202、203)の外周縁が一致するように重ねたとき、第2の層202に複数貫通穿孔された前記第2孔254と平面視で略一致する位置となっている。
【0035】
焼成前の状態(生シート状態)において、前記3枚のセラミックグリーンシート各々にはスクリーン印刷によって所定パターンのメタライズ処理が行われている。本実施形態において前記メタライズには、タングステン(W)が使用されている。なお、タングステン以外にモリブデン(Mo)を使用してもよい。
【0036】
次に、前述の3枚のセラミックグリーンシート(201、202、203)を下から201、202、203の順で各シートの外周縁が略一致するように位置決め積層する。ここで、金属導体は中間層である第2の層202にのみ被着された形態となっている。そして、隣接するベース間(堤部間)に多数個のベース2,2,2・・・に分離するための切断ラインL,L,L・・・を第1の層201の下面側と、第3の層203の上面側にそれぞれ縦横に形成する(図4参照)。具体的に前記切断ラインLは一繋がりとなったベースの堤部上面204において、隣接する堤部間の略中心線上に浅溝の状態で形成される。なお、本実施形態では切断ラインが浅溝状態で形成された状態となっているが、必ずしも浅溝状態である必要は無く、切断予定ラインが設定されていてもよい。つまり、切断ラインが可視状態でない場合であっても本発明は適用可能である。
【0037】
以上の工程は全て焼成前の状態で行われ、前記3枚のセラミックグリーンシート(201、202、203)が積層された状態で焼成することによってベース集合体100を一体成形する。
【0038】
次に、図4に示すベース集合体100の周縁部分に周状に形成された金属配線N(各ベースと電気的に繋がった状態となっている)を介して電解メッキを行う。前記電解メッキによって、ベース集合体表面に露出している金属導体部分、例えば各ベース2,2,2・・・の堤部上面204(第3の層203の上面)のタングステンメタライズ層等の上層に、ニッケル(Ni)膜を成膜する。さらに、ニッケル膜の上層に、電解メッキ法によって金(Au)膜を一括成膜する。以上の工程を経て、多数個のベース2,2,2・・・が連なったベース集合体100の完成となる。
【0039】
本実施形態では、第2孔を3枚のセラミックグリーンシート(201、202、203)の各々に穿孔してから、当該3つのシートを積層して焼成する方法となっているが、3枚の各シートに第1孔を穿孔した後、当該3枚のシートを積層し、一括で第2孔を貫通穿孔する方法であってもよい。
【0040】
以上がベース集合体100の成形方法であるが、以下、ベース集合体100を用いた水晶発振器の製造方法について説明する。
【0041】
まず、以上のように形成されたベース集合体100の各ベース2,2,2・・・の内底面211にIC(図4では図示せず)を各々、金バンプを用いたFCB法(Flip Chip Bonding)によって、ICの接続端子とベース内底面に形成された複数の金属パターンとを接合する。
【0042】
次に、各ベース2,2,2・・・の内部の段部24に形成された一対の搭載パッド21,21上に導電性接着材を介して水晶振動板を片持ち支持接合する。前記接合によって、ICの上方に水晶振動板が位置する配置となる。なお、前記水晶振動板は、所定の周波数となるように厚みが調整された平面視矩形状のATカット水晶片である。前記水晶振動板の表裏面の中心部には一対の励振電極が対向配置されている。さらに、前記励振電極から一対の引出電極が水晶振動板の一端側(短辺側)方向に引き出されており、前記一端側に形成されたパッド電極と各々繋がっている。
【0043】
次に、各ベース2,2,2・・・の堤部上面204の金属膜上に、平板状の多数個の蓋体を一対一で載置していく。なお、前記蓋体のベースとの接合面側には金属からなる封止材が形成されている。ここで、前記蓋体の外形寸法はベースの外形寸法よりも僅かに小さくなっている。
【0044】
前述のように、多数個の蓋体をベース集合体の各ベースの堤部上面204に載置した後、雰囲気加熱によって前記封止材およびベースの堤部上面の金属膜を溶融させて一体化し、蓋体とベースとを気密接合する。以上により、多数個の水晶発振器が連なった状態で形成される。
【0045】
蓋体とベースとの気密封止を行った後、縦横に形成された切断ラインL,L,L・・・に沿ってダイシングブレードでベース集合体100を切断する。本切断により、多数個の水晶発振器を一括同時に得ることができる。このとき、切断ラインLに沿って切断された堤部の切断面が、そのまま各ベースの外壁面(堤部外壁22)となる。なお、第2の層202と第3の層203とが積層された直立体の部分が堤部200となる。本実施形態では前記蓋体は個片の状態で取り扱われているが、本形態に限定されるものではなく、多数個の蓋体が一体形成された蓋体集合体を用いてもよい。
【0046】
前記切断によって第1孔250も分断される。具体的に、第1孔250はダイシングブレードが、第1孔250の長手方向に平行で、図4で横方向に伸びる切断ラインLに沿って通過することにより、2分割される。これより、1つの第1孔250から2つの側面キャスタレーションが形成される。
【0047】
上記構成によれば、前記切断ライン上にある貫通孔、つまり第2切り欠き部252を構成する第2孔254の内壁面には金属導体が形成されていないため、切断手段によって、前記ベース集合体から多数個の圧電振動デバイスに分割切断する際に、ダイシングブレードが金属物質と接触することがない。これにより、ブレードの目詰まりを防止することができる。
【0048】
また、上記構成によると上記効果に加え、孔の内壁面の導体を安定して形成することができる。具体的に、金属導体が堤部の幅方向に幅広となる第1切り欠き部251の内壁面だけに限定して形成されているので、穿孔による堤部の幅方向の薄肉化を抑制し、圧電振動デバイス全体の強度を維持することができる。
【0049】
また、本発明の製造方法によると、ベースを集合基板状態のままで取扱いながら、各ベース内部に、圧電振動片および電子部品素子を搭載した後、蓋体を用いて一対一で気密封止してから、前記切断ラインに沿って切断するため、一括同時に多数個の圧電デバイスを得ることができる。また、前記切り欠きの内壁面には、切断ラインと干渉しない領域に側面導体が形成されているため、ダイシングブレードの目詰まりを防止し,安定した切断を行うことができる。したがって、高効率かつ信頼性の高い圧電デバイスの製造を行うことができる。
【0050】
−第2の実施形態−
以下、本発明による第2の実施形態を図11に基づいて説明する。なお、本実施形態においても圧電デバイスとして表面実装型の水晶発振器を用いた例を示している。図11は本発明の第2の実施形態を示すベース集合体を構成する3つの層の内、第2の層202に穿孔された孔の平面図を表している。以下、第1の実施形態との相違点を主として説明し、第1の実施形態と同様の構成は説明を割愛するとともに、第1の実施形態と同一の効果を有する。
【0051】
本実施形態では、図11に示すように隣接するベースの長辺側の堤部に形成された孔(切断後に2つの側面キャスタレーションとなる)は平面視で3段形状となっている。具体的に堤部外壁側より、第3切り欠き部253が、その奥側に第2切り欠き部252が、さらに奥側に第1切り欠き部251が漸次小さくなるように切り欠かれている。
【0052】
このような3段形状の側面キャスタレーション25は、ベース集合体の焼成前に、第1,第2,第3の層の各々に対して、第1孔(ダイシングによる切断後に第1切り欠き部251となる孔)を所定位置に穿孔する。前記所定位置は第1の実施形態と同様に、隣接するベースの長辺側の堤部の略中央かつ、両堤部に跨り、切断予定ラインあるいは切断予定ラインと交差する位置である。
【0053】
次に、第2の層202に穿孔された前記第1孔の内壁面に側面導体Mを被着させる。そして第1孔よりも平面視で横長かつ、堤部幅方向に縮幅した略長方形状の第2孔(ダイシングによる切断後に第2切り欠き部252となる孔)を第1孔に重ねて穿孔する。具体的に、第2孔はその長辺が切断予定ラインを通り、第1孔の長辺と略直交するように穿孔される。
【0054】
同様に、第1および第3の層の各々に対しても、第2孔(前記第2孔と同一)を前述のように、第2孔の長辺が切断ラインを通り、第1孔の長辺と略直交するように穿孔する。
【0055】
そして、第2の層202に穿孔された前記第2孔の内壁面(第1孔の内壁面を除く)にも側面導体Mを被着させ、側面導体Mが被着された,第2の層202の第2孔の上から、第2孔よりも平面視で横長かつ、堤部幅方向に縮幅した略長方形状の第3孔(ダイシングによる切断後に第3切り欠き部253となる孔)を第2孔に重ねて穿孔する。
【0056】
同様に、第1および第3の層の各々に対しても、第3孔(前記第2孔と同一)を第2の層202で穿孔した要領で穿孔する。
【0057】
そして、前記3つの層を各層の外周縁が略一致するように積層した後、一括焼成によってベース集合体を成形する。
【0058】
前述のように、側面導体Mは鉛直方向(深さ方向)については側面キャスタレーションの内壁面の内、第2の層202の部分のみに形成されている。一方、水平方向については、第2の切り欠き部252と第1の切り欠き部251の部分に金属導体が被着された状態となっている。
【0059】
側面導体Mはベース集合体の切断時に、切断ラインL上にダイシングブレードを当接させたとき、ダイシングブレードに触れないような位置、つまり、ダイシングブレード幅(刃幅)よりもベース内側方向に離間した位置に形成されている。これにより、ダイシングブレードの金属物質との干渉を防止することができ、ダイシングブレードの目詰まりを防止することができる。なお、前記側面導体Mの形成位置は一例であり、切断ラインLからベース内側方向に離間し、ダイシングブレードと干渉しない領域であれば側面キャスタレーションの内壁面の任意の位置に形成してもよい。
【0060】
このような構造により、ベース集合体100をダイシングブレードを用いて多数個の圧電デバイスに分割切断する際に、ダイシングブレードの金属導体(辺部側面導体)との接触を防止でき、ダイシングブレードの目詰まりを防止することができる。
【0061】
なお、その他の変形例として図12に示すように、第3の層203だけは切り欠かれていない構造の側面キャスタレーションであってもよい。このような構造の側面キャスタレーションであれば、蓋体と接合される堤部上面は切除される領域が無いため、安定した封止接合を行うことができる。
【0062】
本発明の実施形態では、圧電デバイスとして水晶発振器を例に挙げているが、発振器以外にも水晶振動子の製造においても本発明は適用可能である。さらに本発明の実施形態では、水晶発振器の内部構造として、ベース内底部上にICが、その上方に水晶振動板が各々搭載された構造となっているが、前記ICと前記水晶振動板の位置関係が、上下逆構造の発振器の製造においても本発明は適用可能である。
【0063】
本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他のいろいろな形で実施することができる。そのため、上述の実施の形態はあらゆる点で単なる例示にすぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、なんら拘束されない。さらに、特許請求の範囲の均等範囲に属する変形や変更は、全て本発明の範囲内のものである。
【産業上の利用可能性】
【0064】
圧電振動デバイスの量産に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【0065】
【図1】本発明の第1の実施形態を示すベースの斜視図。
【図2】図1におけるA部拡大図。
【図3】図2の第2の層における平面図。
【図4】本発明の第1の実施形態を示すベース集合体の上面図。
【図5】切り欠き部の形成方法を示すベース集合体の部分平面図。
【図6】切り欠き部の形成方法を示すベース集合体の部分平面図。
【図7】切り欠き部の形成方法を示すベース集合体の部分平面図。
【図8】切り欠き部の形成方法を示すベース集合体の部分平面図。
【図9】切り欠き部の形成方法を示すベース集合体の部分平面図。
【図10】本発明における水晶発振器の長辺方向断面図。
【図11】本発明の第2の実施形態を示すベース集合体の切り欠き部の平面図。
【図12】本発明の変形例を示すベースの斜視図。
【符号の説明】
【0066】
1 水晶発振器
100 ベース集合体
2 ベース
200 堤部
201 第1の層
202 第2の層
203 第3の層
204 堤部上面
25 側面キャスタレーション
250 第1孔
251 第1切り欠き部
252 第2切り欠き部
253 第3切り欠き部
254 第2孔
3 水晶振動板
8 開口部
L 切断ライン
M 側面導体

【特許請求の範囲】
【請求項1】
上部に開口部と、当該開口部を囲繞する環状の堤部とを具備する平面視矩形状のベースが、多数個連なって形成されたベース集合体であって、
前記ベース集合体の隣接するベースの境界には、多数個のベースに分離するための切断ラインあるいは切断予定ラインが設定されてなり、
前記各ベースの堤部の角部と辺部の両方、あるいはいずれか一方には、当該堤部の幅方向に少なくとも1以上の段数を有する孔が形成されており、当該孔は前記切断ラインあるいは切断予定ラインを含む位置に形成されるとともに、
前記孔の内壁であって、前記切断ラインあるいは切断予定ラインと干渉しない領域に側面導体が形成されていることを特徴とするベース集合体。
【請求項2】
前記孔は貫通孔または有底孔からなるとともに、堤部幅方向に幅広の領域と、堤部幅方向に幅狭の領域とを有し、前記幅広領域と前記幅狭領域との間に段部を有しており、
前記幅狭領域は前記切断ラインあるいは切断予定ラインを含む位置に形成され、前記幅広領域の内壁に側面導体が形成されていることを特徴とする請求項1に記載のベース集合体。
【請求項3】
請求項1に記載のベース集合体の製造方法であって、
前記ベース集合体が複数のシートの積層体であり、ベース集合体の焼成前の状態において、
前記ベース集合体の、隣接する各ベースの堤部に跨って略矩形あるいは略楕円の形状を有する第1孔を、当該孔の長辺あるいは長軸が前記切断ラインあるいは切断予定ラインと交差するように貫通穿孔する第1穿孔工程と、
前記第1孔の内壁面に金属導体を被着する導体被着工程と、
前記隣接する各ベースの堤部に跨って、第1孔よりも幅広かつ、前記堤部幅方向に縮幅した形状の第2孔を、第1孔と部分的に重なるように貫通穿孔する第2穿孔工程と、
を含むベース集合体の製造方法。
【請求項4】
請求項1乃至2に記載のベース集合体を用いて、当該ベース集合体の各ベースの内部に圧電振動片または、圧電振動片と電子部品素子を搭載し、
各ベースの前記開口部を平板状の蓋体を用いて一対一で気密封止した後に、
前記切断ラインあるいは切断予定ラインに沿って前記ベース集合体を切断し、
前記孔の前記切断によって形成される切り欠き部を備えた圧電デバイスを多数個一括形成する圧電デバイスの製造方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【図12】
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【公開番号】特開2010−11172(P2010−11172A)
【公開日】平成22年1月14日(2010.1.14)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−169021(P2008−169021)
【出願日】平成20年6月27日(2008.6.27)
【出願人】(000149734)株式会社大真空 (312)
【Fターム(参考)】