パターン化されたフォトレジスト層の形成方法
【課題】パターン化された傾斜フォトレジスト層の新しい形成方法を提供する。
【解決手段】上面と底面を有する基板を提供するステップ、前記基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、前記フォトレジスト層上に透明層を提供するステップ、前記透明層上に遮光層を提供するステップ、前記遮光層および前記透明層を通過して前記フォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップ、及び前記フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、前記パターン化されたフォトレジスト層と前記基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層の形成方法である。
【解決手段】上面と底面を有する基板を提供するステップ、前記基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、前記フォトレジスト層上に透明層を提供するステップ、前記透明層上に遮光層を提供するステップ、前記遮光層および前記透明層を通過して前記フォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップ、及び前記フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、前記パターン化されたフォトレジスト層と前記基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層の形成方法である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、リソグラフィープロセスに関し、特に、垂直ではない側壁を有する構造を形成するリソグラフィープロセスに関するものである。
【背景技術】
【0002】
マイクロ電子機械プロセスでは、通常、バルクマイクロマシニング、ICPドライエッチング、グレイレベルマスク、超精密加工などが傾斜構造の製造に用いられている。しかし、上述のプロセス、機械、または材料は、下記のような限界がある。まず、バルクマイクロマシニングは、シリコンウェハのシリコン格子および特定の溶液を用いることで特定角度を形成することができるが、角度の程度が変えられない。次に、ICPドライエッチングプロセスとグレイレベルマスクは、実質的に製造コストを高める。また、超精密加工は、さまざまな旋盤と切削ヘッドを用いて異なる構造を製造するもので、構造の精度が機械の精度で決まり、非連続的なパターンを形成し難く、製造時間とコストが掛かる問題がある。
【0003】
よって、傾斜角を有するマイクロ構造を形成する新しい方法が求められている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は上記のような事情の下でなされたものであって、その目的は、パターン化された傾斜フォトレジスト層の新しい形成方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明は、上面と底面を有する基板を提供するステップ、基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、フォトレジスト層上に透明層を提供するステップ、透明層上に遮光層を提供するステップ、遮光層および透明層を通過してフォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップと、フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、パターン化されたフォトレジスト層と基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層の形成方法を提供する。
【0006】
本発明は、上面と底面を有する透明基板を提供するステップ、基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、透明基板の底面下に透明層を提供するステップ、透明層下に遮光層を提供するステップ、遮光層、透明層、および透明基板を通過してフォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップと、フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、パターン化されたフォトレジスト層と基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層のもう1つの形成方法も提供する。
【発明の効果】
【0007】
露光源からの光が遮光層、例えばフォトマスクの開口を通過した時、光強度は、回折により、開口の中心で強くなり、開口の端で弱くなる。本発明は、フォトレジスト材料と遮光層との間に透明層を入れることで上述の回折の原理を用い、それによってパターン化されたフォトレジスト層と基板とが直角でない接触角を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【0008】
本発明の目的、特徴、長所が一層明確に理解されるよう、以下に実施態様を例示し、図面を参照しながら、詳細に説明する。
【0009】
図1〜5は、本発明の1つの実施態様のリソグラフィープロセスを表している。露光源とフォトレジスト層は、基板の同じ側に位置され、これは、表面露光(front side exposure)と言われている。図1では、まず、基板1が提供される。基板1は、例えばシリコンウェハ、シリコンオンインシュレータ(SOI)などである。また、基板1は、ガラス基板、フレキシブルプラスチック基板などでもよい。基板1は、アクティブ/パッシブ回路、素子、または他のレイアウトを更に含むことができる。基板1の上面上のポジ型フォトレジスト層3は、従来のスピンオン法によって形成できる。
【0010】
続いて図2では、透明層5がポジ型フォトレジスト層3の上に形成される。透明層5は、例えばガラスまたはインジウムスズ酸化物(ITO)などの無機材料;例えばポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、またはポリエチレンテレフタレートなどの有機材料;有機無機複合材料;またはその組み合わせを含む。透明層5は、0.1mm〜5mmの厚さを有する。透明層5とポジ型フォトレジスト層3とは、その間に間隙を有する。しかし透明層5は、リソグラフィープロセスおよびポジ型フォトレジスト層3が影響されなければ、ポジ型フォトレジスト層3と隣接していてもよい。
【0011】
続いて図3では、遮光層7が透明層5上に提供され、露光ステップが露光源9によって行われる。遮光層7と透明層5とは、その間に間隙を有する。しかし、遮光層7は、リソグラフィープロセスが影響されなければ、透明層5と隣接していてもよい。1つの実施態様では、遮光層7は、従来のフォトマスクである。もう1つの実施態様では、遮光層7は、透明層5上に直接形成された遮光パターンである。露光源9からの光は、遮光層7と透明層5を通過してポジ型フォトレジスト層3を露光する。1つの実施態様では、露光源9は、紫外線、レーザー、またはX線の露光源などを含む。
【0012】
最後に図4では、露光されたポジ型フォトレジスト層3は、現像され、パターン化されたフォトレジスト層3Aを完成する。パターン化されたフォトレジスト層3Aは、狭まった上部と広がった底部を有し、いわゆる“スモールヘッド(small head)構造”を形成する。パターン化されたフォトレジスト層3Aと基板1とは、90度より小さい接触角αを有し、接触角αの傾斜度は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、より小さい接触角αを形成する。1つの実施態様では、接触角αは、15〜85度である。1つの実施態様では、透明層5は、0.1〜1mmの厚さを有し、接触角αは、60〜85度である。1つの実施態様では、透明層5は、1〜2mmの厚さを有し、接触角αは、45〜70度である。1つの実施態様では、透明層5は、2〜3mmの厚さを有し、接触角αは、30〜60度である。1つの実施態様では、透明層5は、3〜4mmの厚さを有し、接触角αは、20〜50度である。1つの実施態様では、透明層5は、4〜5mmの厚さを有し、接触角αは、15〜40度である。
【0013】
図4のパターン化されたフォトレジスト層3Aは、平面の側壁を有するが、図5に表されるように、側壁は曲面であってもよい。図4と図5との構造上の違いは、透明層5の材料の種類によるものである。図4の透明層5は、例えばガラスなどの無機材料であるため、パターン化されたフォトレジスト層3Aは、平面の側壁を有する。また、図5では、パターン化されたフォトレジスト層3Aは、透明層5が例えばポリメチルメタクリレートなどの有機材料であることから、曲面の側壁を有する。図5では、パターン化されたフォトレジスト層3A側壁の曲率は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、パターン化されたフォトレジスト層3A側壁のより小さい傾斜を形成する。パターン化されたフォトレジスト層3Aは、光学素子に用いられるマイクロレンズアレイとして用いることができる。
【0014】
もう1つの実施態様は、上述の実施態様と本質的に同様であり、唯一の違いは、フォトレジスト層がネガ型フォトレジストであることである。図1〜図3のプロセスが同様であるから、簡潔にするため、重複する説明は省略する。図6では、パターン化されたフォトレジスト層4Aは、露光と現像のプロセスの後、ネガ型フォトレジスト層で形成される。パターン化されたフォトレジスト層4Aは、広がった上部と狭まった底部を有し、いわゆる“ビッグヘッド(big head)構造”を形成する。パターン化されたフォトレジスト層4Aと基板1とは、90度より大きい接触角βを有し、接触角βの傾斜度は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、より大きい接触角βを形成する。1つの実施態様では、接触角βは、95〜165度である。1つの実施態様では、透明層5は、0.1〜1mmの厚さを有し、接触角βは、95〜115度である。1つの実施態様では、透明層5は、1〜2mmの厚さを有し、接触角βは、110〜130度である。1つの実施態様では、透明層5は、2〜3mmの厚さを有し、接触角βは、120〜140度である。1つの実施態様では、透明層5は、3〜4mmの厚さを有し、接触角βは、130〜150度である。1つの実施態様では、透明層5は、4〜5mmの厚さを有し、接触角βは、140〜165度である。
【0015】
図6のパターン化されたフォトレジスト層4Aは、平面の側壁を有するが、図7に表されるように、側壁は曲面であってもよい。図6と図7との構造上の違いは、透明層5の材料の種類によるものである。図6では、透明層5は、例えばガラスなどの無機材料であるため、パターン化されたフォトレジスト層4Aは、平面の側壁を有する。また、図7では、パターン化されたフォトレジスト層4Aは、透明層5が例えばポリメチルメタクリレートなどの有機材料であることから、曲面の側壁を有する。図7では、パターン化されたフォトレジスト層4A側壁の曲率は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、パターン化されたフォトレジスト層4A側壁のより小さい傾斜を形成する。
【0016】
図8〜図12は、本発明のもう1つの実施態様におけるリソグラフィープロセスを表している。露光源とフォトレジスト層とは、透明基板の異なる側にそれぞれ位置される。露光源からの光がフォトレジスト層を露光する前に透明基板を通過することから、このプロセスは、背面露光(back side exposure)として知られている。図8では、透明基板10は、例えばガラス基板、フレキシブルプラスチック基板などである。透明基板10は、アクティブ/パッシブ回路、素子、または他のレイアウトを更に含むことができる。透明基板10の上面上のポジ型フォトレジスト層3は、従来のスピンオン法によって形成できる。
【0017】
続いて図9では、透明層5は、透明基板10の底面下に形成される。透明層5は、例えばガラスまたはインジウムスズ酸化物(ITO)などの無機材料;例えばポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、またはポリエチレンテレフタレートなどの有機材料:有機無機複合材料;またはその組み合わせなどを含む。透明層5は、0.1mm〜5mmの厚さを有する。透明層5と透明基板10とは、その間に間隙を有する。しかし、透明層5は、リソグラフィープロセスが影響されなければ、透明基板10と隣接していてもよい。
【0018】
続いて図10では、遮光層7が透明層5下に提供され、露光ステップが露光源9によって行われる。遮光層7と透明層5とは、その間に間隙を有する。しかし、遮光層7は、リソグラフィープロセスが影響されなければ、透明層5と隣接していてもよい。もう1つの実施態様では、遮光層7は、従来のフォトマスクである。もう1つの実施態様では、遮光層7は、透明層5下に直接形成された遮光パターンである。露光源9からの光は、遮光層7、透明層5、および透明基板10を通過してポジ型フォトレジスト層3を露光する。1つの実施態様では、露光源9は、紫外線、レーザー、またはX線の露光源などを含む。
【0019】
最後に図11では、露光されたポジ型フォトレジスト層3は、現像され、パターン化されたフォトレジスト層3Bを完成する。パターン化されたフォトレジスト層3Bは、広がった上部と狭まった底部を有し、いわゆる“ビッグヘッド(big head)構造”を形成する。パターン化されたフォトレジスト層3Bと透明基板10とは、90度より大きい接触角γを有し、接触角γの傾斜度は、透明層5および透明基板10の吸収率によって決まる。透明層5および透明基板10の合計厚さが厚いほど、その吸収率が高くなり、より大きい接触角γを形成する。1つの実施態様では、接触角γは、95〜165度である。1つの実施態様では、透明層5と透明基板10は、0.1〜1mmの合計厚さを有し、接触角γは、95〜115度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、1〜2mmの合計厚さを有し、接触角γは、110〜130度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、2〜3mmの合計厚さを有し、接触角γは、120〜140度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、3〜4mmの合計厚さを有し、接触角γは、130〜150度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、4〜5mmの合計厚さを有し、接触角γは、140〜165度である。
【0020】
図11のパターン化されたフォトレジスト層3Bは、平面の側壁を有するが、図12に表されるように、側壁は曲面であってもよい。図11と図12との構造上の違いは、透明層5の材料の種類によるものである。図11では、透明層5は、例えばガラスなどの無機材料であるため、パターン化されたフォトレジスト層3Bは、平面の側壁を有する。また、図12では、パターン化されたフォトレジスト層3Bは、透明層5が例えばポリメチルメタクリレートなどの有機材料であることから、曲面の側壁を有する。図12では、パターン化されたフォトレジスト層3B側壁の曲率は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、パターン化されたフォトレジスト層3B側壁のより小さい傾斜を形成する。
【0021】
もう1つの実施態様は、上述の実施態様と本質的に同様であり、唯一の違いは、フォトレジスト層がネガ型フォトレジストであることである。図8〜図10のプロセスが同様であるから、簡潔にするため、重複する説明は省略する。図13では、パターン化されたフォトレジスト層4Bは、露光と現像のプロセスの後、ネガ型フォトレジスト層で形成される。パターン化されたフォトレジスト層4Bは、狭まった上部と広がった底部を有し、いわゆる“スモールヘッド(small head)構造”を形成する。パターン化されたフォトレジスト層4Bと透明基板10とは、90度より小さい接触角δを有し、接触角δの傾斜度は、透明層5および透明基板10の吸収率によって決まる。透明層5および透明基板10の合計厚さが厚いほど、その吸収率が高くなり、より小さい接触角δを形成する。1つの実施態様では、接触角δは、15〜85度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、0.1〜1mmの合計厚さを有し、接触角δは、60〜85度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、1〜2mmの合計厚さを有し、接触角δは、45〜70度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、2〜3mmの合計厚さを有し、接触角δは、30〜60度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、3〜4mmの合計厚さを有し、接触角δは、20〜50度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、4〜5mmの合計厚さを有し、接触角δは、15〜40度である。
【0022】
図13のパターン化されたフォトレジスト層4Bは、平面の側壁を有するが、図14に表されるように、側壁は曲面であってもよい。図13と図14との構造上の違いは、透明層5の材料の種類によるものである。図13では、透明層5は、例えばガラスなどの無機材料であるため、パターン化されたフォトレジスト層4Bは、平面の側壁を有する。また、図14では、パターン化されたフォトレジスト層4Bは、透明層5が例えばポリメチルメタクリレートなどの有機材料であることから、曲面の側壁を有する。図14では、パターン化されたフォトレジスト層4B側壁の曲率は、透明層5および透明基板10の吸収率によって決まる。透明層5および透明基板10の合計厚さが厚いほど、その吸収率が高くなり、パターン化されたフォトレジスト層4B側壁のより小さい傾斜を形成する。
【0023】
以上、本発明の好適な実施態様を例示したが、これは本発明を限定するものではなく、本発明の精神及び範囲を逸脱しない限りにおいては、当業者であれば行い得る様々な変更や修飾を付加することは可能である。従って、本発明が保護を請求する範囲は、特許請求の範囲を基準とする。
【図面の簡単な説明】
【0024】
【図1】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図2】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図3】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図4】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図5】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図6】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるネガ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図7】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるネガ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図8】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図9】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図10】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図11】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図12】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図13】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるネガ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図14】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるネガ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【符号の説明】
【0025】
1 基板
3 ポジ型フォトレジスト層
3A、3B、4A、4B パターン化されたフォトレジスト層
5 透明層
7 遮光層
9 露光源
10 透明基板
α、β パターン化されたフォトレジスト層と基板との接触角
γ、δ パターン化されたフォトレジスト層と透明基板との接触角
【技術分野】
【0001】
本発明は、リソグラフィープロセスに関し、特に、垂直ではない側壁を有する構造を形成するリソグラフィープロセスに関するものである。
【背景技術】
【0002】
マイクロ電子機械プロセスでは、通常、バルクマイクロマシニング、ICPドライエッチング、グレイレベルマスク、超精密加工などが傾斜構造の製造に用いられている。しかし、上述のプロセス、機械、または材料は、下記のような限界がある。まず、バルクマイクロマシニングは、シリコンウェハのシリコン格子および特定の溶液を用いることで特定角度を形成することができるが、角度の程度が変えられない。次に、ICPドライエッチングプロセスとグレイレベルマスクは、実質的に製造コストを高める。また、超精密加工は、さまざまな旋盤と切削ヘッドを用いて異なる構造を製造するもので、構造の精度が機械の精度で決まり、非連続的なパターンを形成し難く、製造時間とコストが掛かる問題がある。
【0003】
よって、傾斜角を有するマイクロ構造を形成する新しい方法が求められている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は上記のような事情の下でなされたものであって、その目的は、パターン化された傾斜フォトレジスト層の新しい形成方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明は、上面と底面を有する基板を提供するステップ、基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、フォトレジスト層上に透明層を提供するステップ、透明層上に遮光層を提供するステップ、遮光層および透明層を通過してフォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップと、フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、パターン化されたフォトレジスト層と基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層の形成方法を提供する。
【0006】
本発明は、上面と底面を有する透明基板を提供するステップ、基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、透明基板の底面下に透明層を提供するステップ、透明層下に遮光層を提供するステップ、遮光層、透明層、および透明基板を通過してフォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップと、フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、パターン化されたフォトレジスト層と基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層のもう1つの形成方法も提供する。
【発明の効果】
【0007】
露光源からの光が遮光層、例えばフォトマスクの開口を通過した時、光強度は、回折により、開口の中心で強くなり、開口の端で弱くなる。本発明は、フォトレジスト材料と遮光層との間に透明層を入れることで上述の回折の原理を用い、それによってパターン化されたフォトレジスト層と基板とが直角でない接触角を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【0008】
本発明の目的、特徴、長所が一層明確に理解されるよう、以下に実施態様を例示し、図面を参照しながら、詳細に説明する。
【0009】
図1〜5は、本発明の1つの実施態様のリソグラフィープロセスを表している。露光源とフォトレジスト層は、基板の同じ側に位置され、これは、表面露光(front side exposure)と言われている。図1では、まず、基板1が提供される。基板1は、例えばシリコンウェハ、シリコンオンインシュレータ(SOI)などである。また、基板1は、ガラス基板、フレキシブルプラスチック基板などでもよい。基板1は、アクティブ/パッシブ回路、素子、または他のレイアウトを更に含むことができる。基板1の上面上のポジ型フォトレジスト層3は、従来のスピンオン法によって形成できる。
【0010】
続いて図2では、透明層5がポジ型フォトレジスト層3の上に形成される。透明層5は、例えばガラスまたはインジウムスズ酸化物(ITO)などの無機材料;例えばポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、またはポリエチレンテレフタレートなどの有機材料;有機無機複合材料;またはその組み合わせを含む。透明層5は、0.1mm〜5mmの厚さを有する。透明層5とポジ型フォトレジスト層3とは、その間に間隙を有する。しかし透明層5は、リソグラフィープロセスおよびポジ型フォトレジスト層3が影響されなければ、ポジ型フォトレジスト層3と隣接していてもよい。
【0011】
続いて図3では、遮光層7が透明層5上に提供され、露光ステップが露光源9によって行われる。遮光層7と透明層5とは、その間に間隙を有する。しかし、遮光層7は、リソグラフィープロセスが影響されなければ、透明層5と隣接していてもよい。1つの実施態様では、遮光層7は、従来のフォトマスクである。もう1つの実施態様では、遮光層7は、透明層5上に直接形成された遮光パターンである。露光源9からの光は、遮光層7と透明層5を通過してポジ型フォトレジスト層3を露光する。1つの実施態様では、露光源9は、紫外線、レーザー、またはX線の露光源などを含む。
【0012】
最後に図4では、露光されたポジ型フォトレジスト層3は、現像され、パターン化されたフォトレジスト層3Aを完成する。パターン化されたフォトレジスト層3Aは、狭まった上部と広がった底部を有し、いわゆる“スモールヘッド(small head)構造”を形成する。パターン化されたフォトレジスト層3Aと基板1とは、90度より小さい接触角αを有し、接触角αの傾斜度は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、より小さい接触角αを形成する。1つの実施態様では、接触角αは、15〜85度である。1つの実施態様では、透明層5は、0.1〜1mmの厚さを有し、接触角αは、60〜85度である。1つの実施態様では、透明層5は、1〜2mmの厚さを有し、接触角αは、45〜70度である。1つの実施態様では、透明層5は、2〜3mmの厚さを有し、接触角αは、30〜60度である。1つの実施態様では、透明層5は、3〜4mmの厚さを有し、接触角αは、20〜50度である。1つの実施態様では、透明層5は、4〜5mmの厚さを有し、接触角αは、15〜40度である。
【0013】
図4のパターン化されたフォトレジスト層3Aは、平面の側壁を有するが、図5に表されるように、側壁は曲面であってもよい。図4と図5との構造上の違いは、透明層5の材料の種類によるものである。図4の透明層5は、例えばガラスなどの無機材料であるため、パターン化されたフォトレジスト層3Aは、平面の側壁を有する。また、図5では、パターン化されたフォトレジスト層3Aは、透明層5が例えばポリメチルメタクリレートなどの有機材料であることから、曲面の側壁を有する。図5では、パターン化されたフォトレジスト層3A側壁の曲率は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、パターン化されたフォトレジスト層3A側壁のより小さい傾斜を形成する。パターン化されたフォトレジスト層3Aは、光学素子に用いられるマイクロレンズアレイとして用いることができる。
【0014】
もう1つの実施態様は、上述の実施態様と本質的に同様であり、唯一の違いは、フォトレジスト層がネガ型フォトレジストであることである。図1〜図3のプロセスが同様であるから、簡潔にするため、重複する説明は省略する。図6では、パターン化されたフォトレジスト層4Aは、露光と現像のプロセスの後、ネガ型フォトレジスト層で形成される。パターン化されたフォトレジスト層4Aは、広がった上部と狭まった底部を有し、いわゆる“ビッグヘッド(big head)構造”を形成する。パターン化されたフォトレジスト層4Aと基板1とは、90度より大きい接触角βを有し、接触角βの傾斜度は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、より大きい接触角βを形成する。1つの実施態様では、接触角βは、95〜165度である。1つの実施態様では、透明層5は、0.1〜1mmの厚さを有し、接触角βは、95〜115度である。1つの実施態様では、透明層5は、1〜2mmの厚さを有し、接触角βは、110〜130度である。1つの実施態様では、透明層5は、2〜3mmの厚さを有し、接触角βは、120〜140度である。1つの実施態様では、透明層5は、3〜4mmの厚さを有し、接触角βは、130〜150度である。1つの実施態様では、透明層5は、4〜5mmの厚さを有し、接触角βは、140〜165度である。
【0015】
図6のパターン化されたフォトレジスト層4Aは、平面の側壁を有するが、図7に表されるように、側壁は曲面であってもよい。図6と図7との構造上の違いは、透明層5の材料の種類によるものである。図6では、透明層5は、例えばガラスなどの無機材料であるため、パターン化されたフォトレジスト層4Aは、平面の側壁を有する。また、図7では、パターン化されたフォトレジスト層4Aは、透明層5が例えばポリメチルメタクリレートなどの有機材料であることから、曲面の側壁を有する。図7では、パターン化されたフォトレジスト層4A側壁の曲率は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、パターン化されたフォトレジスト層4A側壁のより小さい傾斜を形成する。
【0016】
図8〜図12は、本発明のもう1つの実施態様におけるリソグラフィープロセスを表している。露光源とフォトレジスト層とは、透明基板の異なる側にそれぞれ位置される。露光源からの光がフォトレジスト層を露光する前に透明基板を通過することから、このプロセスは、背面露光(back side exposure)として知られている。図8では、透明基板10は、例えばガラス基板、フレキシブルプラスチック基板などである。透明基板10は、アクティブ/パッシブ回路、素子、または他のレイアウトを更に含むことができる。透明基板10の上面上のポジ型フォトレジスト層3は、従来のスピンオン法によって形成できる。
【0017】
続いて図9では、透明層5は、透明基板10の底面下に形成される。透明層5は、例えばガラスまたはインジウムスズ酸化物(ITO)などの無機材料;例えばポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、またはポリエチレンテレフタレートなどの有機材料:有機無機複合材料;またはその組み合わせなどを含む。透明層5は、0.1mm〜5mmの厚さを有する。透明層5と透明基板10とは、その間に間隙を有する。しかし、透明層5は、リソグラフィープロセスが影響されなければ、透明基板10と隣接していてもよい。
【0018】
続いて図10では、遮光層7が透明層5下に提供され、露光ステップが露光源9によって行われる。遮光層7と透明層5とは、その間に間隙を有する。しかし、遮光層7は、リソグラフィープロセスが影響されなければ、透明層5と隣接していてもよい。もう1つの実施態様では、遮光層7は、従来のフォトマスクである。もう1つの実施態様では、遮光層7は、透明層5下に直接形成された遮光パターンである。露光源9からの光は、遮光層7、透明層5、および透明基板10を通過してポジ型フォトレジスト層3を露光する。1つの実施態様では、露光源9は、紫外線、レーザー、またはX線の露光源などを含む。
【0019】
最後に図11では、露光されたポジ型フォトレジスト層3は、現像され、パターン化されたフォトレジスト層3Bを完成する。パターン化されたフォトレジスト層3Bは、広がった上部と狭まった底部を有し、いわゆる“ビッグヘッド(big head)構造”を形成する。パターン化されたフォトレジスト層3Bと透明基板10とは、90度より大きい接触角γを有し、接触角γの傾斜度は、透明層5および透明基板10の吸収率によって決まる。透明層5および透明基板10の合計厚さが厚いほど、その吸収率が高くなり、より大きい接触角γを形成する。1つの実施態様では、接触角γは、95〜165度である。1つの実施態様では、透明層5と透明基板10は、0.1〜1mmの合計厚さを有し、接触角γは、95〜115度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、1〜2mmの合計厚さを有し、接触角γは、110〜130度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、2〜3mmの合計厚さを有し、接触角γは、120〜140度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、3〜4mmの合計厚さを有し、接触角γは、130〜150度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、4〜5mmの合計厚さを有し、接触角γは、140〜165度である。
【0020】
図11のパターン化されたフォトレジスト層3Bは、平面の側壁を有するが、図12に表されるように、側壁は曲面であってもよい。図11と図12との構造上の違いは、透明層5の材料の種類によるものである。図11では、透明層5は、例えばガラスなどの無機材料であるため、パターン化されたフォトレジスト層3Bは、平面の側壁を有する。また、図12では、パターン化されたフォトレジスト層3Bは、透明層5が例えばポリメチルメタクリレートなどの有機材料であることから、曲面の側壁を有する。図12では、パターン化されたフォトレジスト層3B側壁の曲率は、透明層5の吸収率によって決まる。より厚い透明層5は、高い吸収率を有することで、パターン化されたフォトレジスト層3B側壁のより小さい傾斜を形成する。
【0021】
もう1つの実施態様は、上述の実施態様と本質的に同様であり、唯一の違いは、フォトレジスト層がネガ型フォトレジストであることである。図8〜図10のプロセスが同様であるから、簡潔にするため、重複する説明は省略する。図13では、パターン化されたフォトレジスト層4Bは、露光と現像のプロセスの後、ネガ型フォトレジスト層で形成される。パターン化されたフォトレジスト層4Bは、狭まった上部と広がった底部を有し、いわゆる“スモールヘッド(small head)構造”を形成する。パターン化されたフォトレジスト層4Bと透明基板10とは、90度より小さい接触角δを有し、接触角δの傾斜度は、透明層5および透明基板10の吸収率によって決まる。透明層5および透明基板10の合計厚さが厚いほど、その吸収率が高くなり、より小さい接触角δを形成する。1つの実施態様では、接触角δは、15〜85度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、0.1〜1mmの合計厚さを有し、接触角δは、60〜85度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、1〜2mmの合計厚さを有し、接触角δは、45〜70度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、2〜3mmの合計厚さを有し、接触角δは、30〜60度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、3〜4mmの合計厚さを有し、接触角δは、20〜50度である。1つの実施態様では、透明層5および透明基板10は、4〜5mmの合計厚さを有し、接触角δは、15〜40度である。
【0022】
図13のパターン化されたフォトレジスト層4Bは、平面の側壁を有するが、図14に表されるように、側壁は曲面であってもよい。図13と図14との構造上の違いは、透明層5の材料の種類によるものである。図13では、透明層5は、例えばガラスなどの無機材料であるため、パターン化されたフォトレジスト層4Bは、平面の側壁を有する。また、図14では、パターン化されたフォトレジスト層4Bは、透明層5が例えばポリメチルメタクリレートなどの有機材料であることから、曲面の側壁を有する。図14では、パターン化されたフォトレジスト層4B側壁の曲率は、透明層5および透明基板10の吸収率によって決まる。透明層5および透明基板10の合計厚さが厚いほど、その吸収率が高くなり、パターン化されたフォトレジスト層4B側壁のより小さい傾斜を形成する。
【0023】
以上、本発明の好適な実施態様を例示したが、これは本発明を限定するものではなく、本発明の精神及び範囲を逸脱しない限りにおいては、当業者であれば行い得る様々な変更や修飾を付加することは可能である。従って、本発明が保護を請求する範囲は、特許請求の範囲を基準とする。
【図面の簡単な説明】
【0024】
【図1】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図2】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図3】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図4】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図5】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図6】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるネガ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図7】本発明の1つの実施態様において、表面露光によるネガ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図8】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図9】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図10】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図11】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図12】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるポジ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図13】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるネガ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【図14】本発明の1つの実施態様において、背面露光によるネガ型フォトレジストを用いたリソグラフィープロセスを表す断面図である。
【符号の説明】
【0025】
1 基板
3 ポジ型フォトレジスト層
3A、3B、4A、4B パターン化されたフォトレジスト層
5 透明層
7 遮光層
9 露光源
10 透明基板
α、β パターン化されたフォトレジスト層と基板との接触角
γ、δ パターン化されたフォトレジスト層と透明基板との接触角
【特許請求の範囲】
【請求項1】
上面と底面を有する基板を提供するステップ、
前記基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、
前記フォトレジスト層上に透明層を提供するステップ、
前記透明層上に遮光層を提供するステップ、
前記遮光層および前記透明層を通過して前記フォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップ、及び
前記フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、
前記パターン化されたフォトレジスト層と前記基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層の形成方法。
【請求項2】
前記直角でない接触角は、15〜85度、または95〜165度である請求項1に記載の方法。
【請求項3】
前記パターン化されたフォトレジスト層は、曲面の側壁を有する請求項1又は2に記載の方法。
【請求項4】
前記フォトレジスト層は、ポジ型フォトレジスト、またはネガ型フォトレジストを含む請求項1〜3のいずれかに記載の方法。
【請求項5】
前記遮光層は、フォトマスクである請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
【請求項6】
前記透明層は、ガラス、インジウムスズ酸化物、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、またはその組み合わせを含む請求項1〜5のいずれかに記載の方法。
【請求項7】
前記透明層は、0.1〜1mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、60〜85度、または95〜115度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項8】
前記透明層は、1〜2mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、45〜70度、または110〜130度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項9】
前記透明層は、2〜3mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、30〜60度、または120〜140度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項10】
前記透明層は、3〜4mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、20〜50度、または130〜150度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項11】
前記透明層は、4〜5mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、15〜40度、または140〜165度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項12】
上面と底面を有する透明基板を提供するステップ、
前記基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、
前記透明基板の底面下に透明層を提供するステップ、
前記透明層下に遮光層を提供するステップ、
前記遮光層、前記透明層、および前記透明基板を通過して前記フォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップ、及び
前記フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、
前記パターン化されたフォトレジスト層と前記基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層の形成方法。
【請求項13】
前記直角でない接触角は、15〜85度、または95〜165度である請求項12に記載の方法。
【請求項14】
前記パターン化されたフォトレジスト層は、曲面の側壁を有する請求項12又は13に記載の方法。
【請求項15】
前記フォトレジスト層は、ポジ型フォトレジスト、またはネガ型フォトレジストを含む請求項12〜14のいずれかに記載の方法。
【請求項16】
前記遮光層は、フォトマスクである請求項12〜15のいずれかに記載の方法。
【請求項17】
前記透明層は、ガラス、インジウムスズ酸化物、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、またはその組み合わせを含む請求項12〜16のいずれかに記載の方法。
【請求項18】
前記透明層および前記透明基板は、0.1〜1mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、60〜85度、または95〜115度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項19】
前記透明層および前記透明基板は、1〜2mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、45〜70度、または110〜130度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項20】
前記透明層および前記透明基板は、2〜3mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、30〜60度、または120〜140度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項21】
前記透明層および前記透明基板は、3〜4mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、20〜50度、または130〜150度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項22】
前記透明層および前記透明基板は、4〜5mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、15〜40度、または140〜165度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項1】
上面と底面を有する基板を提供するステップ、
前記基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、
前記フォトレジスト層上に透明層を提供するステップ、
前記透明層上に遮光層を提供するステップ、
前記遮光層および前記透明層を通過して前記フォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップ、及び
前記フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、
前記パターン化されたフォトレジスト層と前記基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層の形成方法。
【請求項2】
前記直角でない接触角は、15〜85度、または95〜165度である請求項1に記載の方法。
【請求項3】
前記パターン化されたフォトレジスト層は、曲面の側壁を有する請求項1又は2に記載の方法。
【請求項4】
前記フォトレジスト層は、ポジ型フォトレジスト、またはネガ型フォトレジストを含む請求項1〜3のいずれかに記載の方法。
【請求項5】
前記遮光層は、フォトマスクである請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
【請求項6】
前記透明層は、ガラス、インジウムスズ酸化物、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、またはその組み合わせを含む請求項1〜5のいずれかに記載の方法。
【請求項7】
前記透明層は、0.1〜1mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、60〜85度、または95〜115度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項8】
前記透明層は、1〜2mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、45〜70度、または110〜130度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項9】
前記透明層は、2〜3mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、30〜60度、または120〜140度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項10】
前記透明層は、3〜4mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、20〜50度、または130〜150度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項11】
前記透明層は、4〜5mmの厚さを有し、前記直角でない接触角は、15〜40度、または140〜165度である請求項1〜6のいずれかに記載の方法。
【請求項12】
上面と底面を有する透明基板を提供するステップ、
前記基板の上面にフォトレジスト層を形成するステップ、
前記透明基板の底面下に透明層を提供するステップ、
前記透明層下に遮光層を提供するステップ、
前記遮光層、前記透明層、および前記透明基板を通過して前記フォトレジスト層を露光する露光源を提供するステップ、及び
前記フォトレジスト層を現像してパターン化されたフォトレジスト層を形成するステップを含み、
前記パターン化されたフォトレジスト層と前記基板とが直角でない接触角を有するパターン化されたフォトレジスト層の形成方法。
【請求項13】
前記直角でない接触角は、15〜85度、または95〜165度である請求項12に記載の方法。
【請求項14】
前記パターン化されたフォトレジスト層は、曲面の側壁を有する請求項12又は13に記載の方法。
【請求項15】
前記フォトレジスト層は、ポジ型フォトレジスト、またはネガ型フォトレジストを含む請求項12〜14のいずれかに記載の方法。
【請求項16】
前記遮光層は、フォトマスクである請求項12〜15のいずれかに記載の方法。
【請求項17】
前記透明層は、ガラス、インジウムスズ酸化物、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、またはその組み合わせを含む請求項12〜16のいずれかに記載の方法。
【請求項18】
前記透明層および前記透明基板は、0.1〜1mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、60〜85度、または95〜115度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項19】
前記透明層および前記透明基板は、1〜2mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、45〜70度、または110〜130度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項20】
前記透明層および前記透明基板は、2〜3mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、30〜60度、または120〜140度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項21】
前記透明層および前記透明基板は、3〜4mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、20〜50度、または130〜150度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【請求項22】
前記透明層および前記透明基板は、4〜5mmの合計厚さを有し、前記直角でない接触角は、15〜40度、または140〜165度である請求項12〜17のいずれかに記載の方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【公開番号】特開2009−237527(P2009−237527A)
【公開日】平成21年10月15日(2009.10.15)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−231066(P2008−231066)
【出願日】平成20年9月9日(2008.9.9)
【出願人】(390023582)財団法人工業技術研究院 (524)
【氏名又は名称原語表記】INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
【住所又は居所原語表記】195 Chung Hsing Rd.,Sec.4,Chutung,Hsin−Chu,Taiwan R.O.C
【Fターム(参考)】
【公開日】平成21年10月15日(2009.10.15)
【国際特許分類】
【出願日】平成20年9月9日(2008.9.9)
【出願人】(390023582)財団法人工業技術研究院 (524)
【氏名又は名称原語表記】INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
【住所又は居所原語表記】195 Chung Hsing Rd.,Sec.4,Chutung,Hsin−Chu,Taiwan R.O.C
【Fターム(参考)】
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