位置検出装置、ロータリスケール、および位置検出装置を備える液体吐出装置
【課題】受光部における誤検出を防止可能なロータリスケールを具備する位置検出装置、ロータリスケール、および位置検出装置を備える液体吐出装置を提供すること。
【解決手段】被検出物の位置検出を行う位置検出装置であり、発光部６２および受光部６４を備え、これらの間に空間部６１３を備えるフォトセンサ６０と、空間部６１３の間に差し掛かるロータリスケール５１と、ロータリスケール５１に設けられ、第１透光部および第１遮光部が交互に形成される位置検出パターン５３と、ロータリスケール５１に設けられ、第２透光部および第２遮光部が交互に形成され、通過する光量が位置検出パターン５３を通過する光量よりも少なくなる汚れ検出パターン５４と、フォトセンサ６０を移動させて、位置検出パターン５３の検出状態と汚れ検出パターン５４の検出状態とを切り替えるセンサ位置切替機構７０と、を具備している。
【解決手段】被検出物の位置検出を行う位置検出装置であり、発光部６２および受光部６４を備え、これらの間に空間部６１３を備えるフォトセンサ６０と、空間部６１３の間に差し掛かるロータリスケール５１と、ロータリスケール５１に設けられ、第１透光部および第１遮光部が交互に形成される位置検出パターン５３と、ロータリスケール５１に設けられ、第２透光部および第２遮光部が交互に形成され、通過する光量が位置検出パターン５３を通過する光量よりも少なくなる汚れ検出パターン５４と、フォトセンサ６０を移動させて、位置検出パターン５３の検出状態と汚れ検出パターン５４の検出状態とを切り替えるセンサ位置切替機構７０と、を具備している。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置検出装置、ロータリスケール、および位置検出装置を備える液体吐出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
インクジェットプリンタにおいては、キャリッジおよび紙等の印刷対象物が、モータによって駆動される。かかる駆動に際して、位置制御および速度制御を行うべく、一般にエンコーダが用いられている。エンコーダは、フォトセンサとスケールとを備えている。これらのうち、フォトセンサは、発光素子と受光素子とを備えている。また、スケールは、発光素子で発せられる光を透過する透光部と、発光素子で発せられる光を遮る遮光部とを有していて、これら透光部と遮光部とが一定ピッチで繰り返されている。
【０００３】
かかるエンコーダにおいて、近年、インクミストの付着が問題となっている。すなわち、近年の高精細な印刷を行うプリンタは、微小なインク滴（インクミスト）を印刷ヘッドから吐出可能としている。このインクミストは、微小であるが故に、プリンタの内部で容易に飛散する。そのため、使用するにつれて、インクミストの固化体がスケール等に堆積していく。
【０００４】
かかる不具合を防止するための構成として、特許文献１および特許文献２に開示されている構成がある。これらのうち、特許文献１には、ベルトとスケールの間に仕切り部材を配置していて、スケールに対するインクミストの付着を防止する構成を採用している。また、特許文献２には、インクミストが付着して受光素子から出力される出力信号のＤｕｔｙ比が低下した場合でも、出力信号のＤｕｔｙ比が５０％となるように補正するための構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−８１６９１号公報（要約および段落番号００３２、図３等参照）
【特許文献２】特開２００４−２０２９６３号公報（要約、段落番号００３４〜００４０、図３〜図５他参照）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上述の特許文献１においては、仕切り部材を配置することにより、インクミストの流れを制限し、スケールにインクミストが付着するのを防止している。しかしながら、この特許文献１では、汚れ具合の程度の検出を行えない。また、特許文献１においては、リニアスケールに対してのインクミスト付着防止に関する構成が開示されているものの、ロータリエンコーダにおけるインクミストの付着に関しては、何等考慮されていない。
【０００７】
また、特許文献２には、信号補正のための構成は開示されているが、特許文献１同様、汚れ具合の検出を行えない。また、特許文献２においても、ロータリエンコーダにおけるインクミストの付着に関して、何等考慮されていない。
【０００８】
本発明は上記の事情にもとづきなされたもので、その目的とするところは、汚れ具合を検出可能とすると共に、受光部における誤検出を防止することが可能なロータリスケールを具備する位置検出装置、ロータリスケール、および位置検出装置を備える液体吐出装置を提供しよう、とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明は、被検出物の位置を検出する位置検出装置において、光を出射する発光部、およびこの発光部からの光を受光する受光部を備えると共に、これらの間に空間部を備えるフォトセンサと、円盤状に設けられると共に、空間部の間に差し掛かるロータリスケールと、ロータリスケールに設けられると共に、被検出物の位置を検出するために、発光部からの光を透過する第１透光部および発光部からの光を遮断する第１遮光部が交互に形成される位置検出パターンと、ロータリスケールに設けられると共に、ロータリスケールの汚れを検出するために、発光部からの光を透過する第２透光部および発光部からの光を遮断する第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンと、フォトセンサが取り付けられると共に、このフォトセンサを移動させて、フォトセンサが位置検出パターンを検出する状態と汚れ検出パターンを検出する状態とを切り替えるセンサ位置切替機構と、を具備するものである。
【００１０】
このように構成した場合には、ロータリスケールは、被検出物の位置を検出するための位置検出パターンに加え、第２透光部および第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンを備えている。ここで、センサ位置切替機構により、フォトセンサを移動させて、フォトセンサが位置検出パターンを検出する状態と、汚れ検出パターンを検出する状態とを切り替え可能としている。そのため、フォトセンサが汚れ検出パターンを検出する状態に切り替えれば、発光部から発光され第２透光部を透過する光の受光部での検出結果から、ロータリスケールの汚れ具合を検出することができる。また、一つのロータリスケールで、位置検出と汚れ具合の検出の両方を行うことが可能となる。また、汚れ具合を検出することで、例えば、ロータリスケールの清掃の必要性の有無を確認することができたり、ロータリスケールの汚れに起因する位置検出不良によって生じ得る被検出物の誤動作を防止するための処置を取ることができる。
【００１１】
また、他の発明は、上述の発明に加えて更に、汚れ検出パターンは、位置検出パターンよりも、ロータリスケールの内径側に設けられているものである。このように構成した場合には、通常の位置検出の際には、フォトセンサは、外径側に位置する位置検出パターンを検出すると共に、汚れ検出の際には、フォトセンサは、内径側に位置する汚れ検出パターンを検出する。それにより、ロータリエンコーダの内径側を、汚れ検出用として、有効活用することが可能となる。
【００１２】
さらに、他の発明は、上述の発明に加えて更に、センサ位置切替機構は、フォトセンサを一端側で支持するアームと、回転中心からの距離が回転位置に応じて変化するカム面を具備し、このカム面がアームの他端側に当接する偏心カムと、アームの一端側と他端側の間に位置し、このアームを回動自在に軸支する回動軸と、を具備するものである。
【００１３】
このように構成した場合には、偏心カムが回転すると、アームの他端側と当接しているカム面と回転中心との間の距離が変化する。それにより、アームは、回動軸を中心として回動させることが可能となり、ロータリエンコーダに対するフォトセンサの対向位置を切り替えることが可能となる。
【００１４】
また、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、第２透光部には、第２透光部の発光部からの光の透過面積を第１透光部の発光部からの光の透過面積よりも小さくする、または、第２透光部の発光部からの光の透過率を第１透光部の発光部からの光の透過率よりも低くする遮光パターンが形成されているものである。
【００１５】
このように構成した場合には、ロータリスケールが汚れることにより、第２透光部では、第１透光部に比べ、透過する光の光量が少なくなる。位置検出装置での誤検出が発生する前に、第２透光部を透過する光の受光部での検出結果から、ロータリスケールの汚れの程度を検出することができる。
【００１６】
さらに、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、遮光パターンは、ロータリスケールの接線方向に対して傾斜した斜線状の光遮断部によって形成されているものである。このように構成した場合には、ロータリスケールの汚れを簡易かつ適切に検出することができる。ここで、遮光パターンがロータリスケールの接線方向に沿う光遮断部により形成されている場合、発光部の光軸がロータリスケールの径方向に沿って変動すると、第１透光部に対し、第２透光部の光の透過面積を小さく、または光の透過率を低くすることができなくなる。また、遮光パターンがロータリスケールの径方向に沿う光遮断部によって形成されている場合、第２遮光部との境界部分が判別し難くなり、位置検出パターンにおいて誤検出を生じる虞がある。これに対して、光遮断部を斜めに形成する場合、光遮断部が接線方向または径方向に沿う場合のような不具合が生じなく、ロータリスケールの汚れを簡易かつ適切に検出可能となる。
【００１７】
また、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、遮光パターンは、矩形状の光透過部とともに市松模様状に配置された矩形状の光遮断部によって形成されているものである。
【００１８】
このように構成した場合には、微視的に見て、光透過部が市松模様状を為していても、巨視的に見ると、ロータリスケールの接線方向に対して傾斜した状態となっている。このため、光遮断部が接線方向に沿う場合のように、発光部の光軸の位置によって、第２透光部の光の透過面積、または光の透過率が変動したり、光遮断部が径方向に沿う場合のように、第２遮光部との境界部分が判別し難くなり、位置検出パターンにおいて誤検出を生じる、といった不具合を防止可能となる。
【００１９】
さらに、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、遮光パターンは、ロータリスケールの接線方向または径方向に沿って変化するものである。このように構成した場合には、汚れ検出パターンにおいて、遮光パターンが変化することで、透過面積の比較的小さいまたは透過率の比較的低い第２透光部では、ロータリスケールの汚れによって比較的早く光が遮断される。また、透過面積の比較的大きいまたは透過率の比較的高い第２透過部では、比較的遅く光が遮断される。したがって、ロータリスケールに生じる汚れの程度を容易に検出することが可能となる。また、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することで、ロータリスケールに生じる汚れの経時的な変化を把握することができる。その結果、最終的に位置検出装置で誤検出が生じるまでの時間等の予測が可能になる。また、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することで、どの程度の汚れが発生すると位置検出装置に誤検出が生じるかという位置検出装置の検出限界を認識することができる。
【００２０】
また、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、第２透光部の幅は、第１透光部の幅よりも狭く形成されているものである。
【００２１】
このように構成した場合には、ロータリスケールが汚れるに従って、第２透光部では、第１透光部に比べ、光が遮断されやすくなる。そのため、第１透光部で光が遮断され、ロータリスケールにおける誤検出が生じる前に、第２透光部での受光結果から、ロータリスケールの汚れの程度を検出することができる。
【００２２】
さらに、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、第２透光部の幅は、ロータリスケールの接線方向または径方向に沿って変化するものである。このように構成した場合には、幅が比較的狭い第２透光部では、ロータリスケールの汚れによって比較的早く光が遮断され、幅が比較的広い第２透過部では、比較的遅く光が遮断される。したがって、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することが可能となる。また、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することで、ロータリスケールに生じる汚れの経時的な変化を把握することができ、最終的に位置検出装置で誤検出が生じるまでの時間等の予測が可能になる。また、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することで、位置検出装置の検出限界を認識することができる。
【００２３】
また、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、ロータリスケールの汚れが検出されたときに、発光部からの発光量を増加させる制御を行う光量制御手段を備えるものである。
【００２４】
このように構成した場合には、ロータリスケールに一定以上の汚れが生じた場合であっても、発光部からの発光量を増加させるという簡易な構成で、発光部からの光が第１透光部を透過しやすくなる。そのため、位置検出装置の長寿命化が図れると共に、長期に亘って被検出物の適切な検出が可能となる。
【００２５】
さらに、他の発明は、ロータリスケールに係わる発明であり、円盤状に設けられると共に、発光部と受光部との間に差し掛かって光の透光または遮光を行うためのロータリスケールにおいて、被検出物の位置を検出するために、発光部からの光を透過する第１透光部および発光部からの光を遮断する第１遮光部が交互に形成される位置検出パターンと、ロータリスケールに設けられると共に、ロータリスケールの汚れを検出するために、発光部からの光を透過する第２透光部および発光部からの光を遮断する第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンと、を具備するものである。
【００２６】
このように構成した場合には、ロータリスケールは、被検出物の位置を検出するための位置検出パターンに加え、第２透光部および第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンを備えている。そのため、フォトセンサは、汚れ検出パターンを検出することも可能となる。ここで、汚れ検出パターンを検出すると、別途のフォトセンサの発光部から発光され第２透光部を透過する光の受光部での検出結果から、ロータリスケールの汚れを検出することができる。また、一つのロータリスケールで、位置検出と汚れ検出の両方を行うことが可能となる。また、汚れを検出することで、例えば、ロータリスケールの清掃の必要性の有無を確認することができたり、ロータリスケールの汚れに起因する位置検出不良によって生じ得る被検出物の誤動作を防止するための処置を取ることができる。
【００２７】
また、他の発明は、上述の各発明に係る位置検出装置を備えると共に、印刷対象物に液体を吐出させる液体吐出部とを備えるものである。
【００２８】
このように構成した場合には、ロータリスケールは、被検出物の位置を検出するための位置検出パターンに加え、第２透光部および第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンを備えている。ここで、センサ位置切替機構により、フォトセンサを移動させて、フォトセンサが位置検出パターンを検出する状態と、汚れ検出パターンを検出する状態とを切り替え可能としている。そのため、フォトセンサが汚れ検出パターンを検出する状態に切り替えれば、発光部から発光され第２透光部を透過する光の受光部での検出結果から、ロータリスケールの汚れを検出することができる。また、一つのロータリスケールで、位置検出と汚れ検出の両方を行うことが可能となる。また、汚れを検出することで、例えば、ロータリスケールの清掃の必要性の有無を確認することができたり、ロータリスケールの汚れに起因する位置検出不良によって生じ得る被検出物の誤動作を防止するための処置を取ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の一実施の形態に係るプリンタの構成を示す斜視図である。
【図２】プリンタの構成を示す概略図である。
【図３】プリンタの紙送りに関する部分の一側断面図である。
【図４】ロータリエンコーダの形状を示す側面図である。
【図５】ロータリスケールを拡大して平面視した状態を示す図である。
【図６】センサ位置切替機構の構成を示す側面図である。
【図７】ロータリスケールおよびフォトセンサの構成を示す正面図である。
【図８】ロータリスケールの透明部材とフォトセンサの関係を示す模式図である。
【図９】ロータリエンコーダの回路構成を示す図である。
【図１０】エンコーダの出力パルスを示す図である。
【図１１】ロータリスケールとフォトセンサの関係の変形例を示す模式図である。
【図１２】リニアエンコーダの構成を示す概略図である。
【図１３】汚れ検出を含めたプリンタの動作フローを示す図である。
【図１４】汚れ検出を行う際の処理フローを示す図である。
【図１５】汚れ検出パターンにおけるミスト付着部分を拡大して示す図である。
【図１６】本発明の他の実施の形態に係る汚れ検出方法の説明図である。
【図１７】市松模様状の光遮断部を具備するロータリスケールの拡大図である。
【図１８】幅狭の第２透光部を具備するロータリスケールの拡大図である。
【図１９】斜線状の光遮断部が径方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２０】斜線状の光遮断部が接線方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２１】市松模様の光遮断部が径方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２２】市松模様の光遮断部が接線方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２３】第２透光部の幅寸法が接線方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２４】第２透光部の幅寸法が径方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
以下、本発明の一実施の形態に係る位置検出装置およびこの位置検出装置を用いた、液体吐出装置としてのプリンタ１０について、図１から図１５に基づいて説明する。なお、本実施の形態のプリンタ１０は、インクジェット式のプリンタであるが、かかるインクジェット式プリンタは、インクを吐出して印刷可能な装置であれば、いかなる吐出方法を採用した装置でも良い。
【００３１】
また、以下の説明においては、下方側とは、プリンタ１０が設置される側を指し、上方側とは、設置される側から離間する側を指す。また、後述するキャリッジ３１が移動する方向を主走査方向、主走査方向に直交する方向であって印刷対象物Ｐが搬送される方向を副走査方向とする。また、印刷対象物Ｐが供給される側を給紙側（後端側）、印刷対象物Ｐが排出される側を排紙側（手前側）として説明する。
【００３２】
図１に示すように、プリンタ１０は、筐体部２０と、キャリッジ駆動機構３０と、用紙搬送機構４０と、位置検出装置を構成するロータリエンコーダ５０と、位置検出装置を構成するセンサ位置切替機構７０と、位置検出装置を構成可能なリニアエンコーダ８０と、制御部９０と、を主要な構成要素としている。
【００３３】
これらのうち、筐体部２０は、設置面に設置されるシャーシ２１、このシャーシ２１から上方に向かい立設されている支持フレーム２２を具備している。また、キャリッジ駆動機構３０は、キャリッジ３１と、キャリッジモータ（ＣＲモータ３２）と、ベルト３３と、歯車プーリ３４、従動プーリ３５およびキャリッジ軸３６を備えている。これらのうち、キャリッジ３１には、各色のインクカートリッジ３７を搭載可能としている。また、図２に示すように、キャリッジ３１の下面には、インク滴を吐出可能な、液体吐出部としての印刷ヘッド３８が設けられている。また、ベルト３３は、無端ベルトであり、その一部がキャリッジ３１の背面に固定されている。このベルト３３は、歯車プーリ３４と従動プーリ３５とによって張設されている。なお、キャリッジ３１および印刷ヘッド３８は、被検出物に対応する。
【００３４】
上述の印刷ヘッド３８には、各インクに対応づけられた不図示のノズル列が設けられていて、このノズル列を構成するノズルには、不図示のピエゾ素子が配置されている。このピエゾ素子の作動により、インク通路の端部にあるノズルからインク滴を吐出することが可能となっている。なお、印刷ヘッド３８は、ピエゾ素子を用いたピエゾ駆動方式に限られず、例えばインクをヒータで加熱し、発生する泡の力を利用するヒータ方式、磁歪素子を用いる磁歪方式、ミストを電界で制御するミスト方式等を採用しても良い。また、カートリッジ３７に充填されるインクは、染料系インク／顔料系インク等、いずれの種類のインクを搭載しても良い。
【００３５】
図３に示すように、用紙搬送機構４０は、印刷対象物Ｐ等を搬送するためのＰＦモータ４１（図２他参照）、および普通紙等の給紙に対応する給紙ローラ４２を具備している。また、給紙ローラ４２よりも排紙側には、印刷対象物Ｐを搬送／挟持するためのＰＦローラ対４３が設けられている。また、ＰＦローラ対４３の排紙側には、プラテン４４および上述の印刷ヘッド３８が上下に対向する様に配設されている。プラテン４４は、ＰＦローラ対４３によって印刷ヘッド３８の下へ搬送されてくる印刷対象物Ｐを、下方側から支持する。また、プラテン４４よりも排紙側には、上述のＰＦローラ対４３と同様の、排紙ローラ対４５が設けられている。この排紙ローラ対４５のうち、排紙駆動ローラ４５ａには、ＰＦ駆動ローラ４３ａと共に、ＰＦモータ４１からの駆動力が伝達される。
【００３６】
また、図２に示すように、ロータリエンコーダ５０は、位置検出装置として機能させることが可能であり、ロータリスケール５１と、センサ位置切替機構７０と、フォトセンサ６０と、を備えている。
【００３７】
このうち、ロータリスケール５１は、円盤状に設けられていて、中央部に設けられている取付孔５１ａを介して、シャフトの端部側に取り付けられている。このシャフトは、ＰＦ駆動ローラ４３ａを構成している。そのため、ＰＦモータ４１が駆動されると、シャフトに対して、ロータリスケール５１は同期回転する。このロータリスケール５１は、例えば円盤状の透明部材５２により構成されている。かかる透明部材５２の材質としては、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）があるが、その他の透明材質を種々適用可能である。
【００３８】
また、図４に示すように、ロータリスケール５１には、リング状の位置検出パターン５３、およびリング状の汚れ検出パターン５４が設けられている。これらのうち、位置検出パターン５３は、光を透過させる第１透光部５３ａと、光の透過を遮断する第１遮光部５３ｂとを有している。これらのうち、第１遮光部５３ｂは、黒色かつ光を透過させない程度の厚みを有する黒色の印刷が、透明部材５２の表面に施されることにより、形成される部分である。また、第１透光部５３ａは、黒色の印刷が施されない部分であり、後述する発光部６２で発せられる光を透過可能としている。
【００３９】
ここで、本実施の形態では、第１透光部５３ａと第１遮光部５３ｂとは、同一の幅寸法、すなわち同一ピッチで形成されている。なお、第１透光部５３ａと第１遮光部５３ｂの幅寸法は、必ずしも同一でなくて良いが、第１透光部５３ａと第１遮光部５３ｂとが交互に繰り返されるピッチ（以下、マスクピッチＭと呼ぶ。）は、位置検出パターン５３の周方向の全てにおいて、同一である必要がある。
【００４０】
また、位置検出パターン５３よりも内径側には、汚れ検出パターン５４が設けられている。この汚れ検出パターン５４も、上述の位置検出パターン５３と同様に、光を透過させる第２透光部５４ａと、光の透過を遮断する第２遮光部５４ｂとを有している。なお、汚れ検出パターン５４は、位置検出パターン５３に対して、一定の距離だけ離間して、より内径側に設けられている。
【００４１】
ここで、汚れ検出パターン５４における第２透光部５４ａは、位置検出パターン５３における第１透光部５３ａよりも、光の透過面積および透過率が小さくなるように設けられている。かかる透光部５３ａの光の透過率を小さくする構成としては、図５に示すように、第２透光部５４ａに、遮光パターン５４ｋを設ける場合がある。ここで、図５に示す状態においては、遮光パターン５４ｋは、ロータリスケール５１の接線方向に対して傾斜している、多数の斜線状の光遮断部５４ｍによって構成されている。この光遮断部５４ｍの存在により、第２透光部５４ａにおける光の透過面積および光の透過率は、第１透光部５３ａにおける光の透過面積および光の透過率よりも小さくなっている。また、第２透光部５４ａを透過する光の光量は、第１透光部５３ａを透過する光の光量よりも少なくなっている。
【００４２】
なお、第２透光部５４ａと第２遮光部５４ｂによって構成されるマスクピッチＭｍは、第１透光部５３ａと第１遮光部５３ｂとによって構成されるマスクピッチＭと等しくなっている（図５参照）。しかしながら、マスクピッチＭｍを、マスクピッチＭと異なるように構成しても良い。
【００４３】
また、フォトセンサ６０は、光の投受光方式のセンサであり、図７に示すように、ハウジング６１を備えている。ハウジング６１は、対向する２つの取付部６１１ａ，６１１ｂを有すると共に、これらの取付部６１１ａ，６１１ｂの端部側には、該２つの取付部６１１ａ，６１１ｂを連結する連結部６１２を具備している。それにより、ハウジング６１には、２つの取付部６１１ａ，６１１ｂと連結部６１２とで囲まれている空間部６１３が設けられていて、この空間部６１３にロータリスケール５１が位置可能な構成となっている。なお、空間部６１３は、外径側の位置検出パターン５３と、内径側の汚れ検出パターン５４との間の切り替えにも対応可能なだけの、長さ寸法（窪み深さ）を有している。
【００４４】
また、一方の取付部６１１ａには、発光部６２が取り付けられていて、他方の取付部６１１ｂには、受光部６４が取り付けられている。図７および図８に示すように、これら発光部６２と受光部６４とはロータリスケール５１を挟んで、互いに対向する状態で配置されている。また、コリメータレンズ６３と受光部６４との間には、両者に非接触状態で上述のロータリスケール５１が配置されている。ここで、発光部６２は、例えば発光ダイオードといった発光素子６２０を備え、この発光素子６２０で生じる光は、ロータリスケール５１に向かって出射される。
【００４５】
この発光素子６２０には、光量制御手段を構成する可変抵抗６２１を介して電流が供給されている。そのため、この可変抵抗６２１によって、発光素子６２０からの発光量を増減することができる。本形態では、可変抵抗６２１は、発光部６２からの発光量を制御する光量制御手段となっている。なお、初期状態では、ロータリエンコーダ５０での適切な位置検出が可能な範囲で、発光素子６２０からの発光量は可能な限り低くしておくことが好ましい。このようにすると、発光部６２での消費電力を低減することができる。
【００４６】
また、図８および図９に示すように、受光部６４は、基板６５と、この基板６５上に設けられる第１受光素子列６６および第２受光素子列６７とを有していて、これら第１受光素子列６６においては、複数の受光素子６６ａ，６６ｂが一列に配列され、同じく第２受光素子列６７においても、複数の受光素子６７ａ，６７ｂが配列されている。受光素子６６ａ〜６７ｂは、例えばフォトトランジスタ、フォトダイオード、フォトＩＣ等のような、受光した光を、その光量に応じた電気信号に変換可能な受光素子を備えている。これらの受光素子６６ａ〜６７ｂは、透光部５３ａ，５４ａと遮光部５３ｂ，５４ｂとで構成される位置検出／汚れ検出パターン５４，５５の１ピッチ当たり、２つ設けられている。また、本実施の形態では、第１受光素子列６６と第２受光素子列６７とは、１／４ピッチずつ、ずらされた配置となっている。すなわち、第１受光素子列６６と第２受光素子列６７の位相差が９０度となっている。
【００４７】
なお、本実施の形態のように、透光部５３ａ，５４ａと遮光部５３ｂ，５４ｂとの幅寸法が等しい場合、透光部５３ａ，５４ａ／遮光部５３ｂ，５４ｂのそれぞれに、１つの受光素子６６ａ〜６７ｂが対応する配置関係となっている。
【００４８】
また、図９に示すように、複数の受光素子６６ａ〜６７ｂは、信号増幅回路６８に接続されていて、この信号増幅回路６８によって、受光素子６６ａ〜６７ｂから出力される光量に応じたアナログ波形の信号を増幅した後に、第１コンパレータ６９ａおよび第２コンパレータ６９ｂに向けて出力する。また、第１コンパレータ６９ａおよび第２コンパレータ６９ｂは、信号増幅回路６８を経由してそれぞれの受光素子列６６，６７から出力されるアナログ信号に基づいて、パルス波形のデジタル信号を出力する。
【００４９】
ここで、第１コンパレータ６９ａの＋側の端子には、第１受光素子列６６の受光素子６６ａが接続されると共に、−側の端子には同じ第１受光素子列６６の受光素子６６ｂが接続される。また、第２コンパレータ６９ｂにおいても、第２受光素子列６７の受光素子６７ａ，６７ｂが同様に接続される。そして、例えば、＋側の端子に入力されるアナログ信号のレベルが、−側の端子に入力されるアナログ信号のレベルよりも高い場合、ハイレベルの信号を出力し、逆の場合には、ローレベルの信号を出力する。それにより、透光部５３ａ，５４ａ／遮光部５３ｂ，５４ｂの検出に対応する、図１０に示すようなパルス信号（ＥＮＣ−Ａ，ＥＮＣ−Ｂ）を出力することが可能となっている。
【００５０】
なお、第１受光素子列６６に対応する第１コンパレータ６９ａからは、パルスＥＮＣ−Ａが出力されると共に、１／４ピッチだけずれた配置の第２受光素子列６７に対応する第２コンパレータ６９ｂからは、９０度だけ位相がずれているパルスＥＮＣ−Ｂが出力される。
【００５１】
また、上述のような構成を採用せずに、１つの受光素子列６６０が存在する、図１１に示す構成を採用しても良い。この場合には、受光素子６６０ａが第１コンパレータ６９ａの＋側または−側のいずれかの端子に接続されると共に、受光素子６６０ｂが第２コンパレータ６９ｂの＋側または−側のいずれかの端子に接続される。
【００５２】
次に、センサ切替機構７０について説明する。図６に示すように、センサ位置切替機構７０は、ロータリスケール５１に対するフォトセンサ６０の、対向位置を切り替えるための手段である。このセンサ位置切替機構７０は、アーム７１と、回動軸７２と、偏心カム７３と、押圧バネ７４と、を具備している。
【００５３】
これらのうち、アーム７１には、その一端側にフォトセンサ６０が取り付けられている。また、アーム７１は、その中途部分で回動軸７２に軸支されている。すなわち、アーム７１は、回動軸７２を中心として、回動自在に設けられている。この回動軸７２は、シャーシ２１または支持フレーム２２といった、プリンタ１０のうち固定的な部位に取り付けられている。なお、回動軸７２は、アーム７１の中央よりも他端側寄りの部位に存在している。
【００５４】
また、アーム７１の他端側には、突出片７５が設けられている。この突出片７５は、アーム７１の長手方向に対して直交する向きに突出する部位であり、次に述べる偏心カム７３と、押圧バネ７４とが押し当てられる部位である。この突出片７５のうち、いずれかの面には、偏心カム７３が押し当てられている。偏心カム７３は、その回転中心からカム面７３ａまでの距離が、回転角度に応じて変化する部材である。なお、本実施の形態では、偏心カム７３のカム面７３ａには、ロータリスケール５１の外径側の位置検出パターン５３に対応する第１領域Ｓと、内径側の汚れ検出パターン５４に対応する第２領域Ｔとが設けられている。すなわち、突出片７５に第１領域Ｓが当接する場合、フォトセンサ６０は、位置検出パターン５３を検知する状態となる。また、突出片７５に第２領域Ｔが当接する場合、フォトセンサ６０は、汚れ検出パターン５４を検知する状態となる。
【００５５】
また、上述の突出片７５のうち、偏心カム７３が押し当てられる面と反対側の面には、押圧バネ７４が押し当てられている。押圧バネ７４は、第１領域Ｓまたは第２領域Ｔのいずれの領域に突出片７５が当接する場合でも、該突出片７５をカム面７３ａに確実に押し当てるための部材である。この押圧バネ７４は、上述の回動軸７２と同様に、シャーシ２１または支持フレーム２２といった、プリンタ１０のうち固定的な部位に取り付けられている。
【００５６】
また、偏心カム７３は、駆動力の伝達のためのギヤ輪列７６を介して、モータからの駆動力が伝達される。このモータは、上述した各モータとは別個独立したモータを用いるようにしても良く、また上述したＰＦモータ４１の駆動力が分配される構成を採用しても良い。なお、ＰＦモータ４１の駆動力が分配される構成を採用する場合、例えばギヤ輪列７６における一部のギヤの噛み合い／非噛み合いを切り替え可能とする機構を採用して、印刷対象物Ｐの搬送時には、偏心カム７３が回転しない構成を採用する必要がある。
【００５７】
また、リニアエンコーダ８０は、図１２に示すように、長尺状のリニアスケール８１を備えると共に、上述のロータリエンコーダ５０と同様のフォトセンサ８２を備えている（図３参照）。リニアスケール８１は、直線状に設けられていると共に、その両端部分には、図１２に示すような細長の係止孔８３が設けられている。この係止孔８３には、支持フレーム２２に固定されている係止爪２２ａが差し込まれ、該係止爪２２ａによってリニアスケール８１は、張設状態で支持される。なお、リニアエンコーダ８０においては、その他、ロータリエンコーダ５０と同様の構成となっているため、その詳細についての説明は省略する。
【００５８】
また、図２に示すように、制御部９０は、ロータリエンコーダ５０またはリニアエンコーダ８０から出力されるエンコーダ信号、コンピュータ１００からの印刷信号等、各出力信号が入力される。より詳細には、制御部９０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＡＳＩＣ、ＤＣユニット、ドライバ等を備えている。そして、ＣＲモータ３２、印刷ヘッド３８、ＰＦモータ４１等の駆動制御を司ることを可能としている。
【００５９】
以上のような構成を用いて、プリンタ１０を作動させた際に、ロータリエンコーダ５０において行われる動作について、以下に説明する。
【００６０】
ロータリエンコーダ５０が作動し、発光部６２から光が出射されると、発光部６２は、ロータリスケール５１に向けて光を出射する。出射された光は、コリメータレンズ６３に入射されるが、コリメータレンズ６３を通過した光は、一定の平行光となるように加工されるものの、完全な平行光ではない。また、受光素子列６６の端部側に位置する受光素子６７においては、コリメータレンズ６３を通過後、光が透明部材５２の表面５２ａに到達し、所定の割合の光は、表面５２ａで反射されずに、そのまま透明部材５２の内部を進行する。そして、透明部材５２の裏面５２ｂにおいて、光は、第２透光部５４ａまたは第２遮光部５４ｂに到達する。
【００６１】
ここで、印刷対象物Ｐに対して、印刷ヘッド３８からインク滴を吐出させる場合、印刷ヘッド３８から微小なインク滴が吐出されるが、その際に、微小なインク滴の一部が浮遊するインクミストが発生する。このインクミストは、プリンタ１０の内部を浮遊し、ロータリスケール５１等に汚れとして徐々に付着していく。この場合、プリンタ１０では、所定のタイミングでロータリスケール５１の汚れの検出が行われる。以下、ロータリスケール５１の汚れ検出時におけるプリンタ１０の一連の動作を説明する。
【００６２】
図１３に示すように、まず、制御部９０がロータリスケール５１の汚れの検出タイミングであるか否かを判断する（ステップＳ１０）。ロータリスケール５１の汚れの検出タイミングは、例えば、１枚または所定の枚数の印刷用紙Ｐへの印刷終了後、または、プリンタ１０の電源投入時である。また、ロータリスケール５１の汚れの検出タイミングは、例えば、プリンタ１０の電源投入後の一定時間ｔ１経過後、また、その後は一定時間ｔ２経過後ごとであっても良い。さらに、ロータリスケール５１の汚れの検出タイミングは、電源投入後の一定枚数ｎ１の印刷対象物Ｐへの印刷終了後、また、その後は一定枚数ｎ２の印刷対象物Ｐへの印刷終了後ごとであって良い。
【００６３】
ステップＳ１０で、検出タイミングでないと判断されると（Ｎｏの場合）、ロータリスケール５１の汚れの検出は行われず、プリンタ１０は、例えば待機状態となったり、次の印刷対象物Ｐへの印刷を行う。一方、ステップＳ１０で検出タイミングであると判断される（Ｙｅｓの場合）と、所定の前処理を行う（Ｓ１１）。ここで、前処理とは、センサ位置切替機構７０を作動させて、フォトセンサ６０が位置検出パターン５３を検出する状態から、汚れ検出パターン５４を検出する状態に切り替える動作をさせる処理をいう。このとき、上述のモータの駆動により、偏心カム７３が回転駆動させられ、突出片７５がカム面７３ａの第１領域Ｓに接触する状態から、第２領域Ｔに接触する状態に切り替えられ、それによってフォトセンサ６０がロータリスケール５１の内径側に移動させられる。
【００６４】
その後、汚れ検出パターン５４の検出を行う（Ｓ１２）。この検出は、後述する図１４に示すような処理フローに基づいて行われる。
【００６５】
上述のステップＳ１２における検出が終了すると、実際のロータリスケール５１の汚れの程度に応じて、必要に応じた処理を行う（Ｓ１３）。Ｓ１３では、種々の処理が考えられるため、以下にそれを列記する。
【００６６】
処理の例としては、ＰＦモータ４１の駆動電圧の設定を行うものがある。より具体的には、フォトセンサ６０の移動速度を、インクミストが付着していないときの移動速度よりも遅めとなるように、駆動電圧を設定する。このようにすれば、ロータリスケール５１に一定以上のインクミストが付着して、ロータリエンコーダ５０において誤検出の虞がある場合、当該後検出の虞を低減することが可能となる。
【００６７】
また、他の処理としては、あと何枚の印刷対象物Ｐへ印刷を行うと、ロータリスケール５１の読み取り限界となるかを確認するものがある。より具体的には、ロータリスケール５１が読み取り限界となるまでの印刷枚数や印刷時間を制御部９０によって算出する。この確認／算出により、ロータリスケール５１に汚れが生じるまでの印刷枚数や印刷時間の把握が可能となる。
【００６８】
また、他の処理としては、プリンタ１０に別途取り付けられている液晶ディスプレイ等の表示装置（図示省略）に、所定のメッセージを表示させるものがある。所定のメッセージとしては、ロータリスケール５１が読み取り限界に近い、または読み取り限界に到達した旨の注意メッセージや、ロータリスケール５１の汚れに起因するエラーメセージ、またはロータリスケール５１の清掃が必要である旨のメッセージを表示するものがある。これらのメッセージの表示によって、ロータリスケール５１に汚れが生じていることをユーザに知らせることができ、ロータリスケール５１での誤検出によるプリンタ１０の動作不良を防止することが可能になる。
【００６９】
さらに、他の処理としては、プリンタ１０の動作を停止して、プリンタ１０を使用不可能とするものがある。プリンタ１０を使用不可能とすることにより、ロータリスケール５１での誤検出により、プリンタ１０に動作不良が生じるのを防止し、紙送り異常等によって、プリンタ１０の破損等が生じるのを防止することができる。また、他の処理としては、汚れ検出を行ってから、さらに所定時間の印刷を実行した後、または、さらに所定枚数の印刷を実行した後に、プリンタ１０が動作を停止するように、制御部９０が制御するものがある。
【００７０】
さらに、他の処理としては、ＰＦモータ４１の回転速度の上限を設定し、ロータリスケール５１の回転速度を抑える制御を行うものがある。このようにすれば、ロータリスケール５１の回転速度が遅くなり、ロータリスケール５１がある程度汚れていても、フォトセンサ６０で誤検出されるのを防ぐことが可能となる。また、かかる誤検出の防止により、プリンタ１０では、さらに所定枚数あるいは所定時間の印刷が可能となる。
【００７１】
また、他の処理としては、可変抵抗６２１を調整して、発光素子６２０からの発光量を増大させる制御を行うものがある。発光素子６２０の発光量を増加させることで、ロータリスケール５１に多少の汚れが生じていても、汚れの程度がそれ程大きくなければ、プリンタ１０では、さらに所定枚数あるいは所定時間の印刷が可能となる。なお、発光素子６２０の発光量は、さらに所定枚数あるいは所定時間の印刷が可能となる程度の増加率で、可変抵抗６２１によって段階的に増加させても良い。この場合には、発光部６２での消費電力の低減が可能となる。
【００７２】
さらに、他の処理としては、センサ位置切替機構７０を作動させて、位置検出パターン５３における検出位置を、ずらすものがある。例えば、位置検出パターン５３のうち、内径側を検出するように、センサ位置切替機構７０を作動させるようにしても良い。また、他の処理としては、スポンジ等の清掃部材を押し当てる等により、ロータリスケール５１の汚れを除去するものがある。
【００７３】
次に、汚れ検出パターン５４における汚れの検出のための処理フローにつき、図１４に基づいて説明する。図１４に示すように、まず、ＰＦモータ４１の駆動電圧の設定を行う（Ｓ２０）。より具体的には、制御部９０からの駆動に対応する制御指令により、ＰＦモータ４１に対して、検出用の回転速度に対応する駆動電圧を与える。続いて、ＰＦモータ４１の駆動時間の設定を行う（Ｓ２１）。この場合、ｐＦモータ４１は、汚れ検出のために駆動される。
【００７４】
次に、設定された駆動電圧および駆動時間でＰＦモータ４１を駆動する（Ｓ２２）。ＰＦモータ４１の駆動によってロータリスケール５１が回転し、アーム７１に固定されているフォトセンサ６０は、ロータリスケール５１に対して相対移動する。この相対移動によって、ロータリエンコーダ５０は、例えば、周期ＴのＡ相信号ＥＮＣ−ＡおよびＢ相信号ＥＮＣ−２を出力する。ロータリエンコーダ５０の出力信号であるＡ相信号ＥＮＣ−ＡおよびＢ相信号ＥＮＣ−Ｂは制御部９０に入力される。すなわち、制御部９０は、ロータリエンコーダ５０の出力信号を取得する（Ｓ２３）。
【００７５】
その後、制御部９０はロータリスケール５１に汚れが生じているか否かを判断する（Ｓ２４）。ロータリスケール５１にインクミストが所定だけ堆積し、それが所定の大きさに成長すると、例えば、図１５に示すように、第２透光部５４ａにインクミストの付着部分Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３が生じる。そして、付着部分Ｄ１、Ｄ２および光遮断部５４ｍによって、第２透光部５４ａを透過する光は、遮断される。このような付着部分（光を遮断する部分）が生じると、ロータリエンコーダ５０から出力されるＡ相信号ＥＮＣ−ＡやＢ相信号ＥＮＣ−Ａの周期に変動が生じる。本形態では、ロータリエンコーダ５０から出力されるＡ相信号ＥＮＣ−ＡやＢ相信号ＥＮＣ−Ａの周期に所定の変動が生じたときに、汚れ検出パターン５４には、発光部６２には、付着部分（光を遮断する部分）が生じていると判断する。そして、その状態では、ロータリスケール５１に一定以上の汚れが生じていると判断する。
【００７６】
より具体的には、ステップＳ２４では、汚れ検出パターン５４をフォトセンサ６０が通過する際のＡ相信号ＥＮＣ−ＡやＢ相信号ＥＮＣ−Ａの周期（または、周波数）が基本となる周期Ｔ（または、周波数）の±ｘ％（たとえば、±１５％）の範囲から外れているか否かを判断する。この判断において、±ｘ％の範囲から外れていないと判断される場合（Ｎｏの場合）、続いて、出力されるＡ相信号ＥＮＣ−ＡとＢ相信号ＥＮＣ−Ａとの位相に逆転が生じているか否かを判断する（Ｓ２５）。
【００７７】
なお、このＳ２５において、Ｎｏであると判断される場合、検出された周期が、周期Ｔの±ｘ％の範囲から外れていなく、かつ位相の逆転も生じていないため、汚れ検出パターン５４において、ロータリエンコーダ５０での正確な位置の検出は可能（すなわち、正確な読取は可能）と判断される（ステップＳ２６）。すなわち、第２透光部５４ａには、十分な大きさまたは量の付着部分（光を遮断する部分）が形成されておらず、汚れの程度は許容範囲内であると判断され、ロータリエンコーダ５０での位置検出が可能と判断する。
【００７８】
続いて、ＰＦモータ４１の駆動時間が設定時間以上であるか否かを判断する（ステップＳ２７）。ＰＦモータ４１の駆動時間が設定時間未満である場合には、上述のＳ２３に戻り、Ｓ２３以降の判断／処理を継続する。また、ＰＦモータ４１の駆動時間が設定時間以上である場合には、ＰＦモータ４１を停止させる（ステップＳ２８）。また、かかるＰＦモータ４１の停止に前後させて、センサ位置切替機構７０を作動させて、フォトセンサ６０を外径側に移動させる。この移動により、フォトセンサ６０は、汚れ検出パターン５４と対向する状態から、位置検出パターン５３と対向する状態となる。
【００７９】
以上のようにして、汚れ検出が終了し、以後は、通常のロータリエンコーダ５０の送りピッチ検出が行える状態となる。
【００８０】
また、上述のＳ２４において、Ａ相信号ＥＮＣ−ＡやＢ相信号ＥＮＣ−Ａの周期Ｔ１が周期Ｔの±ｘ％の範囲から外れている場合（Ｙｅｓの場合）、またはＡ相信号ＥＮＣ−ＡとＢ相信号ＥＮＣ−Ａとの位相に逆転が生じている場合（Ｙｅｓの場合）、第２透光部５４ａには、十分な大きさまたは量の付着部分（光を遮断する部分）が形成されているとして処理される。すなわち、ロータリエンコーダ５０での正確な位置検出は不可能であるとして処理される（Ｓ２９）。この場合も、上述のＳ２８に進行し、ＰＦモータ４１を停止させる。
【００８１】
なお、Ｓ２９を経た後の、以後の処理は、上述のＳ１４で述べるのと同様である。
【００８２】
このような構成のプリンタ１０によれば、ロータリスケール５１は、位置検出パターン５３に加え、第２透光部５４ａおよび第２遮光部５４ｂが交互に形成される汚れ検出パターン５４を備えている。ここで、センサ位置切替機構７０により、フォトセンサ６０を移動させて、フォトセンサ６０が位置検出パターン５３を検出する状態と、汚れ検出パターン５４を検出する状態とを切り替え可能としている。そのため、フォトセンサ６０が汚れ検出パターン５４を検出する状態に切り替えれば、発光部６２から発光され第２透光部５４ａを透過する光の受光部６４での検出結果から、ロータリスケール５１の汚れを検出することができる。また、一つのロータリスケール５１で、位置検出と汚れ検出の両方を行うことが可能となる。また、汚れを検出することで、例えば、ロータリスケール５１の清掃の必要性の有無を確認することができたり、ロータリスケール５１の汚れに起因する位置検出不良によって生じ得る、印刷ヘッド３８の誤動作を防止するための処置を取ることができる。
【００８３】
また、汚れ検出パターン５４は、位置検出パターン５３よりも、ロータリスケール５１の内径側に設けられている。このため、通常の位置検出の際には、フォトセンサ６０は、外径側に位置する位置検出パターン５３を検出するが、汚れ検出の際には、フォトセンサ６０は、内径側に位置する汚れ検出パターン５４を検出する。それにより、ロータリスケール５１の内径側を、汚れ検出用として、有効活用することが可能となる。
【００８４】
さらに、センサ位置切替機構７０を具備することにより、偏心カム７３が回転すると、アーム７１の他端側と当接しているカム面７３ａと回転中心との間の距離が変化する。それにより、アーム７１は、回動軸７２を中心として回動させることが可能となり、ロータリスケール５１に対するフォトセンサ６０の対向位置を切り替えることが可能となる。
【００８５】
また、第２透光部５４ａには、遮光パターン５４ｋが形成されている。そのため、ロータリスケール５１が汚れると、第２透光部５４ａでは、第１透光部５３ａに比べ、透過する光の光量が少なくなる。そのため、フォトセンサ６０等での誤検出が発生する前に、第２透光部５４ａを透過する光の受光部６４での検出結果から、ロータリスケール５１の汚れの程度を検出することができる。
【００８６】
さらに、図５に示すように、遮光パターン５４ｋは、ロータリスケール５１の接線方向に対して傾斜した斜線状の光遮断部５４ｍによって形成することが可能となる。このように構成する場合、ロータリスケール５１の汚れを簡易かつ適切に検出することができる。ここで、遮光パターン５４ｋがロータリスケール５１の接線方向に沿う光遮断部により形成されている場合、発光部６２の光軸がロータリスケール５１の径方向に沿って変動すると、第１透光部５３ａに対し、第２透光部５４ａの光の透過面積を小さく、または光の透過率を低くすることができなくなる。また、遮光パターン５４ｋがロータリスケール５１の径方向に沿う光遮断部によって形成されている場合、第２遮光部５４ｂとの境界部分が判別し難くなり、位置検出パターン５３において誤検出を生じる虞がある。これに対して、光遮断部５４ｍを斜めに形成する場合、光遮断部５４ｍが接線方向または径方向に沿う場合のような不具合が生じなく、ロータリスケール５１の汚れを簡易かつ適切に検出可能となる。
【００８７】
また、ロータリスケール５１の汚れが検出されたときに、発光部６２からの発光量を増加させる制御を行う可変抵抗６２１を備えるように構成しても良い。このように構成する場合、ロータリスケール５１に一定以上の汚れが生じた場合であっても、発光部６２からの発光量を増加させるという簡易な構成で、発光部６２からの光が第１透光部５３ａを透過しやすくなる。そのため、ロータリスケール５１等から構成される位置検出装置の長寿命化が図れると共に、長期に亘って印刷ヘッド３８の適切な位置検出が可能となる。
【００８８】
以上、本発明の一実施の形態について述べたが、本発明は、種々変形可能である。以下、それについて述べる。
【００８９】
上述の実施の形態では、ロータリスケール５１の第２透光部５４ａには、複数の斜線状の光遮断部５４ｍによって遮光パターン５４ｋが形成されている。この他にも、例えば図１６（Ａ）に示すように、信号増幅回路６８の出力信号に所定の閾値Ｃを設定することで、デジタル信号であるＡ相信号等を生成しても良い。すなわち、出力信号の値が閾値Ｃより大きければハイレベルの信号を出力し、出力信号の値が閾値Ｃより小さければローレベルの信号を出力することで、デジタル信号を生成しても良い。この場合のロータリスケール５１の汚れの検出は以下のように行えば良い。
【００９０】
発光部６２から発光され、第１透光部５３ａを透過する光量は、第２透光部５４ａを透過する光量よりも多い。そのため、位置検出パターン５３が形成された部分をフォトセンサ６０が通過する際に、信号増幅回路６８からアナログ信号ＳＧ１１が出力される。また、汚れ検出パターン５４が形成された部分をフォトセンサ６０が通過する際には、信号増幅回路６８からアナログ信号ＳＧ１１よりも低いレベルのアナログ信号ＳＧ１２が出力される（図１６（Ａ）参照）。
【００９１】
また、アナログ信号ＳＧ１１と閾値Ｃとから図１６（Ｂ）に示すデジタル信号ＳＧ１３が生成され、アナログ信号ＳＧ１２と閾値Ｃとから図１６（Ｃ）に示すデジタル信号ＳＧ１４が生成される。ここで、発光部６２から発光された光のロータリスケール５１の透過量が多い程、デジタル信号のハイレベルの周期が長くなるため、デジタル信号ＳＧ１３のハイレベルの周期Ｔ１１は、デジタル信号ＳＧ１４のハイレベルの周期Ｔ１２よりも長くなる。また、ロータリスケール５１に汚れが発生していない場合には、周期Ｔ１１に対する周期Ｔ１２の比率は、例えば８０％となっている。
【００９２】
ここで、ロータリスケール５１にインクミストが均等に付着すると、信号増幅回路６８から出力されるアナログ信号ＳＧ１１、アナログＳＧ１２のレベルは同程度で低下する。例えば、図１６（Ｄ）に示すように、アナログ信号ＳＧ１１からアナログ信号ＳＧ２１までレベルが低下し、アナログ信号ＳＧ１２はアナログ信号ＳＧ２２までレベルが低下する。また、図１６（Ｅ）に示すように、アナログ信号ＳＧ２１と閾値Ｃとから生成されるデジタル信号ＳＧ２３のハイレベルの周期Ｔ２１は、周期Ｔ１１よりも短くなる。また、図１６（Ｆ）に示すように、デジタル信号ＳＧ２４のハイレベルの周期Ｔ２２は、周期Ｔ１２よりも短くなる。
【００９３】
この場合、図１６に示すように、周期Ｔ１１に対する周期Ｔ１２の比率よりも周期Ｔ２１に対する周期Ｔ２２の比率は低下する。例えば、周期Ｔ１１に対する周期Ｔ１２の比率が８０％であったのに対し、周期Ｔ２１に対する周期Ｔ２２の比率は５０％となる。そのため、ロータリスケール５１にインクミストが付着したときの、位置検出パターン５３に基づくデジタル信号のハイレベルの周期（たとえば、周期Ｔ２１）と、汚れ検出パターン５４に基づくデジタル信号のハイレベルの周期（たとえば、周期Ｔ２２）との比率が所定の値以下になったときに、ロータリスケール５１に汚れが生じていると判断することができる。以上のように、信号増幅回路６８の出力信号に所定の閾値Ｃを設定することで、デジタル信号を生成する場合には、上述した方法で、ロータリスケール５１の汚れの検出を行うことができる。なお、汚れ検出パターン５４に基づくデジタル信号のハイレベルの周期の、初期状態に対する低下率から、ロータリスケール５１の汚れの検出を行うことも可能である。
【００９４】
なお、かかる初期の比率と、所定の印刷枚数または所定の印刷時間だけ経過した後の比率とを対比させることにより、インクミスト付着による寿命が、あとどのぐらいであるのかを予測することが可能となる。
【００９５】
また、上述の実施の形態においては、遮光パターン５４ｋは、ロータリスケール５１の接線方向に対して傾斜している、多数の斜線状の光遮断部５４ｍによって構成されている。しかしながら、遮光パターン５４ｋは、図１７に示すように、矩形状の光透過部とともに市松模様状に配置された矩形状の光遮断部５４ｍによって形成することも可能である。このように構成する場合、微視的に見て、光透過部が市松模様状を為していても、巨視的に見ると、ロータリスケール５１の接線方向に対して傾斜した状態となっている。このため、光遮断部５４ｍが接線方向に沿う場合のように、発光部６２の光軸の位置によって、第２透光部５４ａの光の透過面積、または光の透過率が変動したり、光遮断部５４ｍが径方向に沿う場合のように、第２遮光部５４ｂとの境界部分が判別し難くなり、位置検出パターン５３において誤検出を生じる、といった不具合を防止可能となる。
【００９６】
さらに、図１８に示すように、第２透光部５４ａの幅は、第１透光部５３ａの幅よりも狭く形成することも可能である。このように構成する場合、ロータリスケール５１が汚れるに従って、第２透光部５４ａでは、第１透光部５３ａに比べ、光が遮断されやすくなる。そのため、第１透光部５３ａで光が遮断され、ロータリスケール５１における誤検出が生じる前に、第２透光部５４ａでの受光結果から、ロータリスケール５１の汚れの程度を検出することができる。
【００９７】
また、図１９〜図２２に示すように、遮光パターン５４ｋを、ロータリスケール５１の接線方向または径方向に沿って変化させる構成を採用することも可能である。このように構成する場合、透過面積の比較的小さいまたは透過率の比較的低い第２透光部５４ａでは、ロータリスケール５１の汚れによって比較的早く光が遮断される。一方、透過面積の比較的大きいまたは透過率の比較的高い第２透過部５４ａでは、比較的遅く光が遮断される。したがって、ロータリスケール５１に生じる汚れの程度を容易に検出することが可能となると共に、汚れの程度の検出により、ロータリスケール５１に生じる汚れの経時的な変化を把握することができる。その結果、最終的に誤検出が生じるまでの時間等の予測が可能となり、検出限界を認識することができる。
【００９８】
なお、図１９は、斜線状の光遮断部５４ｍが、ロータリスケール５１の径方向に沿って変化する場合を示しており、図２０は、斜線状の光遮断部５４ｍが、ロータリスケール５１の接線方向に沿って変化する場合を示している。また、図２１は、市松模様状にの光遮断部５４ｍが、ロータリスケール５１の径方向に沿って変化する場合を示しており、図２２は、市松模様状にの光遮断部５４ｍが、ロータリスケール５１の接線方向に沿って変化する場合を示している。
【００９９】
また、図２３および図２４に示すように、第２透光部５４ａの幅寸法を、ロータリスケール５１の接線方向または径方向に沿って変化させる構成を採用することも可能である。このように構成する場合、幅が比較的狭い第２透光部５４ａでは、ロータリスケール５１の汚れによって比較的早く光が遮断され、幅が比較的広い第２透過部５４ａでは、比較的遅く光が遮断される。したがって、ロータリスケール５１に生じる汚れの程度を検出することが可能となると共に、汚れの程度の検出により、ロータリスケール５１に生じる汚れの経時的な変化を把握することができる。その結果、誤検出が生じるまでの時間等の予測が可能となり、検出限界を認識することができる。
【０１００】
なお、図２３は、第２透光部５４ａの幅寸法が、ロータリスケール５１の接線方向に沿って変化する場合を示しており、図２４は、第２透光部５４ａの幅寸法が、ロータリスケール５１の径方向に沿って変化する場合を示している。
【０１０１】
また、上述の実施の形態では、センサ位置切替機構７０は、アーム７１と、回動軸７２と、偏心カム７３と、押圧バネ７４とによって構成されている。しかしながら、センサ位置切替機構７０の構成は、これには限られず、種々変更可能である。例えば、ラックギヤをフォトセンサ６０に取り付けると共に、ギヤ輪列の最終段にピニオンギヤを設けるように構成しても良い。このとき、ピニオンギヤを固定的な部位に設ければ、位置検出パターン５３と汚れ検出パターン５４との間で、フォトセンサ６０を移動可能となる。
【０１０２】
また、上述の実施の形態では、汚れ検出パターン５４は、位置検出パターン５３の内径側に位置する構成について述べているが、汚れ検出パターン５４が位置検出パターン５３の外径側に位置する構成を採用しても良い。
【０１０３】
また、上述の実施の形態では、汚れ検出パターン５４は、ロータリスケール５１の周方向の全周に亘って設けられている。しかしながら、汚れ検出パターン５４は、ロータリスケール５１の周方向の一部のみに設ける構成を採用しても良い。また、位置検出パターン５３のうち、内径側の部位を、汚れ検出パターン５４としても良い。
【０１０４】
また、上述の実施の形態においては、液体吐出装置としてのプリンタ１０、および位置検出装置が設けられるプリンタ１０について説明したが、液体吐出装置は、プリンタ１０には限られず、また位置検出装置が設けられる装置も、プリンタ１０には限られない。位置検出装置が設けられる液体吐出装置としては、カラーフィルタ製造装置、染色装置、微細加工装置、半導体加工装置、表面加工装置、三次元造形装置、液体気化装置、有機ＥＬ製造装置（特に高分子ＥＬ製造装置）、ディスプレイ製造装置、成膜装置、ＤＮＡチップ製造装置等のインクジェット技術を応用した各種の液体吐出装置に応用可能である。なお、これらの液体吐出装置で吐出される液体は、それぞれの装置に応じて変更され、例えば金属材料、有機材料、磁性材料、導電性材料、配線材料、成膜材料、各種加工液等がある。
【符号の説明】
【０１０５】
１０…プリンタ、２０…筐体部、３０…キャリッジ機構、３１…キャリッジ、３２…キャリッジモータ、３８…印刷ヘッド（液体吐出部に対応）、４０…用紙搬送機構、４１…ＰＦモータ、５０…ロータリエンコーダ（位置検出装置に対応）、５１…ロータリスケール、５２…透明部材、５３…位置検出パターン、５４…汚れ検出パターン、５４ａ…透光部、５４ｂ…遮光部、６０…フォトセンサ、６１３…空間部、６２…発光部、６２１…可変抵抗（光量制御手段に対応）、６４…受光部、７０…センサ位置切替機構、７１…アーム、７３…偏心カム、８０…ロータリエンコーダ、９０…制御部。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置検出装置、ロータリスケール、および位置検出装置を備える液体吐出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
インクジェットプリンタにおいては、キャリッジおよび紙等の印刷対象物が、モータによって駆動される。かかる駆動に際して、位置制御および速度制御を行うべく、一般にエンコーダが用いられている。エンコーダは、フォトセンサとスケールとを備えている。これらのうち、フォトセンサは、発光素子と受光素子とを備えている。また、スケールは、発光素子で発せられる光を透過する透光部と、発光素子で発せられる光を遮る遮光部とを有していて、これら透光部と遮光部とが一定ピッチで繰り返されている。
【０００３】
かかるエンコーダにおいて、近年、インクミストの付着が問題となっている。すなわち、近年の高精細な印刷を行うプリンタは、微小なインク滴（インクミスト）を印刷ヘッドから吐出可能としている。このインクミストは、微小であるが故に、プリンタの内部で容易に飛散する。そのため、使用するにつれて、インクミストの固化体がスケール等に堆積していく。
【０００４】
かかる不具合を防止するための構成として、特許文献１および特許文献２に開示されている構成がある。これらのうち、特許文献１には、ベルトとスケールの間に仕切り部材を配置していて、スケールに対するインクミストの付着を防止する構成を採用している。また、特許文献２には、インクミストが付着して受光素子から出力される出力信号のＤｕｔｙ比が低下した場合でも、出力信号のＤｕｔｙ比が５０％となるように補正するための構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−８１６９１号公報（要約および段落番号００３２、図３等参照）
【特許文献２】特開２００４−２０２９６３号公報（要約、段落番号００３４〜００４０、図３〜図５他参照）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上述の特許文献１においては、仕切り部材を配置することにより、インクミストの流れを制限し、スケールにインクミストが付着するのを防止している。しかしながら、この特許文献１では、汚れ具合の程度の検出を行えない。また、特許文献１においては、リニアスケールに対してのインクミスト付着防止に関する構成が開示されているものの、ロータリエンコーダにおけるインクミストの付着に関しては、何等考慮されていない。
【０００７】
また、特許文献２には、信号補正のための構成は開示されているが、特許文献１同様、汚れ具合の検出を行えない。また、特許文献２においても、ロータリエンコーダにおけるインクミストの付着に関して、何等考慮されていない。
【０００８】
本発明は上記の事情にもとづきなされたもので、その目的とするところは、汚れ具合を検出可能とすると共に、受光部における誤検出を防止することが可能なロータリスケールを具備する位置検出装置、ロータリスケール、および位置検出装置を備える液体吐出装置を提供しよう、とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明は、被検出物の位置を検出する位置検出装置において、光を出射する発光部、およびこの発光部からの光を受光する受光部を備えると共に、これらの間に空間部を備えるフォトセンサと、円盤状に設けられると共に、空間部の間に差し掛かるロータリスケールと、ロータリスケールに設けられると共に、被検出物の位置を検出するために、発光部からの光を透過する第１透光部および発光部からの光を遮断する第１遮光部が交互に形成される位置検出パターンと、ロータリスケールに設けられると共に、ロータリスケールの汚れを検出するために、発光部からの光を透過する第２透光部および発光部からの光を遮断する第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンと、フォトセンサが取り付けられると共に、このフォトセンサを移動させて、フォトセンサが位置検出パターンを検出する状態と汚れ検出パターンを検出する状態とを切り替えるセンサ位置切替機構と、を具備するものである。
【００１０】
このように構成した場合には、ロータリスケールは、被検出物の位置を検出するための位置検出パターンに加え、第２透光部および第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンを備えている。ここで、センサ位置切替機構により、フォトセンサを移動させて、フォトセンサが位置検出パターンを検出する状態と、汚れ検出パターンを検出する状態とを切り替え可能としている。そのため、フォトセンサが汚れ検出パターンを検出する状態に切り替えれば、発光部から発光され第２透光部を透過する光の受光部での検出結果から、ロータリスケールの汚れ具合を検出することができる。また、一つのロータリスケールで、位置検出と汚れ具合の検出の両方を行うことが可能となる。また、汚れ具合を検出することで、例えば、ロータリスケールの清掃の必要性の有無を確認することができたり、ロータリスケールの汚れに起因する位置検出不良によって生じ得る被検出物の誤動作を防止するための処置を取ることができる。
【００１１】
また、他の発明は、上述の発明に加えて更に、汚れ検出パターンは、位置検出パターンよりも、ロータリスケールの内径側に設けられているものである。このように構成した場合には、通常の位置検出の際には、フォトセンサは、外径側に位置する位置検出パターンを検出すると共に、汚れ検出の際には、フォトセンサは、内径側に位置する汚れ検出パターンを検出する。それにより、ロータリエンコーダの内径側を、汚れ検出用として、有効活用することが可能となる。
【００１２】
さらに、他の発明は、上述の発明に加えて更に、センサ位置切替機構は、フォトセンサを一端側で支持するアームと、回転中心からの距離が回転位置に応じて変化するカム面を具備し、このカム面がアームの他端側に当接する偏心カムと、アームの一端側と他端側の間に位置し、このアームを回動自在に軸支する回動軸と、を具備するものである。
【００１３】
このように構成した場合には、偏心カムが回転すると、アームの他端側と当接しているカム面と回転中心との間の距離が変化する。それにより、アームは、回動軸を中心として回動させることが可能となり、ロータリエンコーダに対するフォトセンサの対向位置を切り替えることが可能となる。
【００１４】
また、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、第２透光部には、第２透光部の発光部からの光の透過面積を第１透光部の発光部からの光の透過面積よりも小さくする、または、第２透光部の発光部からの光の透過率を第１透光部の発光部からの光の透過率よりも低くする遮光パターンが形成されているものである。
【００１５】
このように構成した場合には、ロータリスケールが汚れることにより、第２透光部では、第１透光部に比べ、透過する光の光量が少なくなる。位置検出装置での誤検出が発生する前に、第２透光部を透過する光の受光部での検出結果から、ロータリスケールの汚れの程度を検出することができる。
【００１６】
さらに、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、遮光パターンは、ロータリスケールの接線方向に対して傾斜した斜線状の光遮断部によって形成されているものである。このように構成した場合には、ロータリスケールの汚れを簡易かつ適切に検出することができる。ここで、遮光パターンがロータリスケールの接線方向に沿う光遮断部により形成されている場合、発光部の光軸がロータリスケールの径方向に沿って変動すると、第１透光部に対し、第２透光部の光の透過面積を小さく、または光の透過率を低くすることができなくなる。また、遮光パターンがロータリスケールの径方向に沿う光遮断部によって形成されている場合、第２遮光部との境界部分が判別し難くなり、位置検出パターンにおいて誤検出を生じる虞がある。これに対して、光遮断部を斜めに形成する場合、光遮断部が接線方向または径方向に沿う場合のような不具合が生じなく、ロータリスケールの汚れを簡易かつ適切に検出可能となる。
【００１７】
また、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、遮光パターンは、矩形状の光透過部とともに市松模様状に配置された矩形状の光遮断部によって形成されているものである。
【００１８】
このように構成した場合には、微視的に見て、光透過部が市松模様状を為していても、巨視的に見ると、ロータリスケールの接線方向に対して傾斜した状態となっている。このため、光遮断部が接線方向に沿う場合のように、発光部の光軸の位置によって、第２透光部の光の透過面積、または光の透過率が変動したり、光遮断部が径方向に沿う場合のように、第２遮光部との境界部分が判別し難くなり、位置検出パターンにおいて誤検出を生じる、といった不具合を防止可能となる。
【００１９】
さらに、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、遮光パターンは、ロータリスケールの接線方向または径方向に沿って変化するものである。このように構成した場合には、汚れ検出パターンにおいて、遮光パターンが変化することで、透過面積の比較的小さいまたは透過率の比較的低い第２透光部では、ロータリスケールの汚れによって比較的早く光が遮断される。また、透過面積の比較的大きいまたは透過率の比較的高い第２透過部では、比較的遅く光が遮断される。したがって、ロータリスケールに生じる汚れの程度を容易に検出することが可能となる。また、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することで、ロータリスケールに生じる汚れの経時的な変化を把握することができる。その結果、最終的に位置検出装置で誤検出が生じるまでの時間等の予測が可能になる。また、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することで、どの程度の汚れが発生すると位置検出装置に誤検出が生じるかという位置検出装置の検出限界を認識することができる。
【００２０】
また、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、第２透光部の幅は、第１透光部の幅よりも狭く形成されているものである。
【００２１】
このように構成した場合には、ロータリスケールが汚れるに従って、第２透光部では、第１透光部に比べ、光が遮断されやすくなる。そのため、第１透光部で光が遮断され、ロータリスケールにおける誤検出が生じる前に、第２透光部での受光結果から、ロータリスケールの汚れの程度を検出することができる。
【００２２】
さらに、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、第２透光部の幅は、ロータリスケールの接線方向または径方向に沿って変化するものである。このように構成した場合には、幅が比較的狭い第２透光部では、ロータリスケールの汚れによって比較的早く光が遮断され、幅が比較的広い第２透過部では、比較的遅く光が遮断される。したがって、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することが可能となる。また、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することで、ロータリスケールに生じる汚れの経時的な変化を把握することができ、最終的に位置検出装置で誤検出が生じるまでの時間等の予測が可能になる。また、ロータリスケールに生じる汚れの程度を検出することで、位置検出装置の検出限界を認識することができる。
【００２３】
また、他の発明は、上述の各発明に加えて更に、ロータリスケールの汚れが検出されたときに、発光部からの発光量を増加させる制御を行う光量制御手段を備えるものである。
【００２４】
このように構成した場合には、ロータリスケールに一定以上の汚れが生じた場合であっても、発光部からの発光量を増加させるという簡易な構成で、発光部からの光が第１透光部を透過しやすくなる。そのため、位置検出装置の長寿命化が図れると共に、長期に亘って被検出物の適切な検出が可能となる。
【００２５】
さらに、他の発明は、ロータリスケールに係わる発明であり、円盤状に設けられると共に、発光部と受光部との間に差し掛かって光の透光または遮光を行うためのロータリスケールにおいて、被検出物の位置を検出するために、発光部からの光を透過する第１透光部および発光部からの光を遮断する第１遮光部が交互に形成される位置検出パターンと、ロータリスケールに設けられると共に、ロータリスケールの汚れを検出するために、発光部からの光を透過する第２透光部および発光部からの光を遮断する第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンと、を具備するものである。
【００２６】
このように構成した場合には、ロータリスケールは、被検出物の位置を検出するための位置検出パターンに加え、第２透光部および第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンを備えている。そのため、フォトセンサは、汚れ検出パターンを検出することも可能となる。ここで、汚れ検出パターンを検出すると、別途のフォトセンサの発光部から発光され第２透光部を透過する光の受光部での検出結果から、ロータリスケールの汚れを検出することができる。また、一つのロータリスケールで、位置検出と汚れ検出の両方を行うことが可能となる。また、汚れを検出することで、例えば、ロータリスケールの清掃の必要性の有無を確認することができたり、ロータリスケールの汚れに起因する位置検出不良によって生じ得る被検出物の誤動作を防止するための処置を取ることができる。
【００２７】
また、他の発明は、上述の各発明に係る位置検出装置を備えると共に、印刷対象物に液体を吐出させる液体吐出部とを備えるものである。
【００２８】
このように構成した場合には、ロータリスケールは、被検出物の位置を検出するための位置検出パターンに加え、第２透光部および第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンを備えている。ここで、センサ位置切替機構により、フォトセンサを移動させて、フォトセンサが位置検出パターンを検出する状態と、汚れ検出パターンを検出する状態とを切り替え可能としている。そのため、フォトセンサが汚れ検出パターンを検出する状態に切り替えれば、発光部から発光され第２透光部を透過する光の受光部での検出結果から、ロータリスケールの汚れを検出することができる。また、一つのロータリスケールで、位置検出と汚れ検出の両方を行うことが可能となる。また、汚れを検出することで、例えば、ロータリスケールの清掃の必要性の有無を確認することができたり、ロータリスケールの汚れに起因する位置検出不良によって生じ得る被検出物の誤動作を防止するための処置を取ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の一実施の形態に係るプリンタの構成を示す斜視図である。
【図２】プリンタの構成を示す概略図である。
【図３】プリンタの紙送りに関する部分の一側断面図である。
【図４】ロータリエンコーダの形状を示す側面図である。
【図５】ロータリスケールを拡大して平面視した状態を示す図である。
【図６】センサ位置切替機構の構成を示す側面図である。
【図７】ロータリスケールおよびフォトセンサの構成を示す正面図である。
【図８】ロータリスケールの透明部材とフォトセンサの関係を示す模式図である。
【図９】ロータリエンコーダの回路構成を示す図である。
【図１０】エンコーダの出力パルスを示す図である。
【図１１】ロータリスケールとフォトセンサの関係の変形例を示す模式図である。
【図１２】リニアエンコーダの構成を示す概略図である。
【図１３】汚れ検出を含めたプリンタの動作フローを示す図である。
【図１４】汚れ検出を行う際の処理フローを示す図である。
【図１５】汚れ検出パターンにおけるミスト付着部分を拡大して示す図である。
【図１６】本発明の他の実施の形態に係る汚れ検出方法の説明図である。
【図１７】市松模様状の光遮断部を具備するロータリスケールの拡大図である。
【図１８】幅狭の第２透光部を具備するロータリスケールの拡大図である。
【図１９】斜線状の光遮断部が径方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２０】斜線状の光遮断部が接線方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２１】市松模様の光遮断部が径方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２２】市松模様の光遮断部が接線方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２３】第２透光部の幅寸法が接線方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【図２４】第２透光部の幅寸法が径方向に沿って変化する場合の拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
以下、本発明の一実施の形態に係る位置検出装置およびこの位置検出装置を用いた、液体吐出装置としてのプリンタ１０について、図１から図１５に基づいて説明する。なお、本実施の形態のプリンタ１０は、インクジェット式のプリンタであるが、かかるインクジェット式プリンタは、インクを吐出して印刷可能な装置であれば、いかなる吐出方法を採用した装置でも良い。
【００３１】
また、以下の説明においては、下方側とは、プリンタ１０が設置される側を指し、上方側とは、設置される側から離間する側を指す。また、後述するキャリッジ３１が移動する方向を主走査方向、主走査方向に直交する方向であって印刷対象物Ｐが搬送される方向を副走査方向とする。また、印刷対象物Ｐが供給される側を給紙側（後端側）、印刷対象物Ｐが排出される側を排紙側（手前側）として説明する。
【００３２】
図１に示すように、プリンタ１０は、筐体部２０と、キャリッジ駆動機構３０と、用紙搬送機構４０と、位置検出装置を構成するロータリエンコーダ５０と、位置検出装置を構成するセンサ位置切替機構７０と、位置検出装置を構成可能なリニアエンコーダ８０と、制御部９０と、を主要な構成要素としている。
【００３３】
これらのうち、筐体部２０は、設置面に設置されるシャーシ２１、このシャーシ２１から上方に向かい立設されている支持フレーム２２を具備している。また、キャリッジ駆動機構３０は、キャリッジ３１と、キャリッジモータ（ＣＲモータ３２）と、ベルト３３と、歯車プーリ３４、従動プーリ３５およびキャリッジ軸３６を備えている。これらのうち、キャリッジ３１には、各色のインクカートリッジ３７を搭載可能としている。また、図２に示すように、キャリッジ３１の下面には、インク滴を吐出可能な、液体吐出部としての印刷ヘッド３８が設けられている。また、ベルト３３は、無端ベルトであり、その一部がキャリッジ３１の背面に固定されている。このベルト３３は、歯車プーリ３４と従動プーリ３５とによって張設されている。なお、キャリッジ３１および印刷ヘッド３８は、被検出物に対応する。
【００３４】
上述の印刷ヘッド３８には、各インクに対応づけられた不図示のノズル列が設けられていて、このノズル列を構成するノズルには、不図示のピエゾ素子が配置されている。このピエゾ素子の作動により、インク通路の端部にあるノズルからインク滴を吐出することが可能となっている。なお、印刷ヘッド３８は、ピエゾ素子を用いたピエゾ駆動方式に限られず、例えばインクをヒータで加熱し、発生する泡の力を利用するヒータ方式、磁歪素子を用いる磁歪方式、ミストを電界で制御するミスト方式等を採用しても良い。また、カートリッジ３７に充填されるインクは、染料系インク／顔料系インク等、いずれの種類のインクを搭載しても良い。
【００３５】
図３に示すように、用紙搬送機構４０は、印刷対象物Ｐ等を搬送するためのＰＦモータ４１（図２他参照）、および普通紙等の給紙に対応する給紙ローラ４２を具備している。また、給紙ローラ４２よりも排紙側には、印刷対象物Ｐを搬送／挟持するためのＰＦローラ対４３が設けられている。また、ＰＦローラ対４３の排紙側には、プラテン４４および上述の印刷ヘッド３８が上下に対向する様に配設されている。プラテン４４は、ＰＦローラ対４３によって印刷ヘッド３８の下へ搬送されてくる印刷対象物Ｐを、下方側から支持する。また、プラテン４４よりも排紙側には、上述のＰＦローラ対４３と同様の、排紙ローラ対４５が設けられている。この排紙ローラ対４５のうち、排紙駆動ローラ４５ａには、ＰＦ駆動ローラ４３ａと共に、ＰＦモータ４１からの駆動力が伝達される。
【００３６】
また、図２に示すように、ロータリエンコーダ５０は、位置検出装置として機能させることが可能であり、ロータリスケール５１と、センサ位置切替機構７０と、フォトセンサ６０と、を備えている。
【００３７】
このうち、ロータリスケール５１は、円盤状に設けられていて、中央部に設けられている取付孔５１ａを介して、シャフトの端部側に取り付けられている。このシャフトは、ＰＦ駆動ローラ４３ａを構成している。そのため、ＰＦモータ４１が駆動されると、シャフトに対して、ロータリスケール５１は同期回転する。このロータリスケール５１は、例えば円盤状の透明部材５２により構成されている。かかる透明部材５２の材質としては、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）があるが、その他の透明材質を種々適用可能である。
【００３８】
また、図４に示すように、ロータリスケール５１には、リング状の位置検出パターン５３、およびリング状の汚れ検出パターン５４が設けられている。これらのうち、位置検出パターン５３は、光を透過させる第１透光部５３ａと、光の透過を遮断する第１遮光部５３ｂとを有している。これらのうち、第１遮光部５３ｂは、黒色かつ光を透過させない程度の厚みを有する黒色の印刷が、透明部材５２の表面に施されることにより、形成される部分である。また、第１透光部５３ａは、黒色の印刷が施されない部分であり、後述する発光部６２で発せられる光を透過可能としている。
【００３９】
ここで、本実施の形態では、第１透光部５３ａと第１遮光部５３ｂとは、同一の幅寸法、すなわち同一ピッチで形成されている。なお、第１透光部５３ａと第１遮光部５３ｂの幅寸法は、必ずしも同一でなくて良いが、第１透光部５３ａと第１遮光部５３ｂとが交互に繰り返されるピッチ（以下、マスクピッチＭと呼ぶ。）は、位置検出パターン５３の周方向の全てにおいて、同一である必要がある。
【００４０】
また、位置検出パターン５３よりも内径側には、汚れ検出パターン５４が設けられている。この汚れ検出パターン５４も、上述の位置検出パターン５３と同様に、光を透過させる第２透光部５４ａと、光の透過を遮断する第２遮光部５４ｂとを有している。なお、汚れ検出パターン５４は、位置検出パターン５３に対して、一定の距離だけ離間して、より内径側に設けられている。
【００４１】
ここで、汚れ検出パターン５４における第２透光部５４ａは、位置検出パターン５３における第１透光部５３ａよりも、光の透過面積および透過率が小さくなるように設けられている。かかる透光部５３ａの光の透過率を小さくする構成としては、図５に示すように、第２透光部５４ａに、遮光パターン５４ｋを設ける場合がある。ここで、図５に示す状態においては、遮光パターン５４ｋは、ロータリスケール５１の接線方向に対して傾斜している、多数の斜線状の光遮断部５４ｍによって構成されている。この光遮断部５４ｍの存在により、第２透光部５４ａにおける光の透過面積および光の透過率は、第１透光部５３ａにおける光の透過面積および光の透過率よりも小さくなっている。また、第２透光部５４ａを透過する光の光量は、第１透光部５３ａを透過する光の光量よりも少なくなっている。
【００４２】
なお、第２透光部５４ａと第２遮光部５４ｂによって構成されるマスクピッチＭｍは、第１透光部５３ａと第１遮光部５３ｂとによって構成されるマスクピッチＭと等しくなっている（図５参照）。しかしながら、マスクピッチＭｍを、マスクピッチＭと異なるように構成しても良い。
【００４３】
また、フォトセンサ６０は、光の投受光方式のセンサであり、図７に示すように、ハウジング６１を備えている。ハウジング６１は、対向する２つの取付部６１１ａ，６１１ｂを有すると共に、これらの取付部６１１ａ，６１１ｂの端部側には、該２つの取付部６１１ａ，６１１ｂを連結する連結部６１２を具備している。それにより、ハウジング６１には、２つの取付部６１１ａ，６１１ｂと連結部６１２とで囲まれている空間部６１３が設けられていて、この空間部６１３にロータリスケール５１が位置可能な構成となっている。なお、空間部６１３は、外径側の位置検出パターン５３と、内径側の汚れ検出パターン５４との間の切り替えにも対応可能なだけの、長さ寸法（窪み深さ）を有している。
【００４４】
また、一方の取付部６１１ａには、発光部６２が取り付けられていて、他方の取付部６１１ｂには、受光部６４が取り付けられている。図７および図８に示すように、これら発光部６２と受光部６４とはロータリスケール５１を挟んで、互いに対向する状態で配置されている。また、コリメータレンズ６３と受光部６４との間には、両者に非接触状態で上述のロータリスケール５１が配置されている。ここで、発光部６２は、例えば発光ダイオードといった発光素子６２０を備え、この発光素子６２０で生じる光は、ロータリスケール５１に向かって出射される。
【００４５】
この発光素子６２０には、光量制御手段を構成する可変抵抗６２１を介して電流が供給されている。そのため、この可変抵抗６２１によって、発光素子６２０からの発光量を増減することができる。本形態では、可変抵抗６２１は、発光部６２からの発光量を制御する光量制御手段となっている。なお、初期状態では、ロータリエンコーダ５０での適切な位置検出が可能な範囲で、発光素子６２０からの発光量は可能な限り低くしておくことが好ましい。このようにすると、発光部６２での消費電力を低減することができる。
【００４６】
また、図８および図９に示すように、受光部６４は、基板６５と、この基板６５上に設けられる第１受光素子列６６および第２受光素子列６７とを有していて、これら第１受光素子列６６においては、複数の受光素子６６ａ，６６ｂが一列に配列され、同じく第２受光素子列６７においても、複数の受光素子６７ａ，６７ｂが配列されている。受光素子６６ａ〜６７ｂは、例えばフォトトランジスタ、フォトダイオード、フォトＩＣ等のような、受光した光を、その光量に応じた電気信号に変換可能な受光素子を備えている。これらの受光素子６６ａ〜６７ｂは、透光部５３ａ，５４ａと遮光部５３ｂ，５４ｂとで構成される位置検出／汚れ検出パターン５４，５５の１ピッチ当たり、２つ設けられている。また、本実施の形態では、第１受光素子列６６と第２受光素子列６７とは、１／４ピッチずつ、ずらされた配置となっている。すなわち、第１受光素子列６６と第２受光素子列６７の位相差が９０度となっている。
【００４７】
なお、本実施の形態のように、透光部５３ａ，５４ａと遮光部５３ｂ，５４ｂとの幅寸法が等しい場合、透光部５３ａ，５４ａ／遮光部５３ｂ，５４ｂのそれぞれに、１つの受光素子６６ａ〜６７ｂが対応する配置関係となっている。
【００４８】
また、図９に示すように、複数の受光素子６６ａ〜６７ｂは、信号増幅回路６８に接続されていて、この信号増幅回路６８によって、受光素子６６ａ〜６７ｂから出力される光量に応じたアナログ波形の信号を増幅した後に、第１コンパレータ６９ａおよび第２コンパレータ６９ｂに向けて出力する。また、第１コンパレータ６９ａおよび第２コンパレータ６９ｂは、信号増幅回路６８を経由してそれぞれの受光素子列６６，６７から出力されるアナログ信号に基づいて、パルス波形のデジタル信号を出力する。
【００４９】
ここで、第１コンパレータ６９ａの＋側の端子には、第１受光素子列６６の受光素子６６ａが接続されると共に、−側の端子には同じ第１受光素子列６６の受光素子６６ｂが接続される。また、第２コンパレータ６９ｂにおいても、第２受光素子列６７の受光素子６７ａ，６７ｂが同様に接続される。そして、例えば、＋側の端子に入力されるアナログ信号のレベルが、−側の端子に入力されるアナログ信号のレベルよりも高い場合、ハイレベルの信号を出力し、逆の場合には、ローレベルの信号を出力する。それにより、透光部５３ａ，５４ａ／遮光部５３ｂ，５４ｂの検出に対応する、図１０に示すようなパルス信号（ＥＮＣ−Ａ，ＥＮＣ−Ｂ）を出力することが可能となっている。
【００５０】
なお、第１受光素子列６６に対応する第１コンパレータ６９ａからは、パルスＥＮＣ−Ａが出力されると共に、１／４ピッチだけずれた配置の第２受光素子列６７に対応する第２コンパレータ６９ｂからは、９０度だけ位相がずれているパルスＥＮＣ−Ｂが出力される。
【００５１】
また、上述のような構成を採用せずに、１つの受光素子列６６０が存在する、図１１に示す構成を採用しても良い。この場合には、受光素子６６０ａが第１コンパレータ６９ａの＋側または−側のいずれかの端子に接続されると共に、受光素子６６０ｂが第２コンパレータ６９ｂの＋側または−側のいずれかの端子に接続される。
【００５２】
次に、センサ切替機構７０について説明する。図６に示すように、センサ位置切替機構７０は、ロータリスケール５１に対するフォトセンサ６０の、対向位置を切り替えるための手段である。このセンサ位置切替機構７０は、アーム７１と、回動軸７２と、偏心カム７３と、押圧バネ７４と、を具備している。
【００５３】
これらのうち、アーム７１には、その一端側にフォトセンサ６０が取り付けられている。また、アーム７１は、その中途部分で回動軸７２に軸支されている。すなわち、アーム７１は、回動軸７２を中心として、回動自在に設けられている。この回動軸７２は、シャーシ２１または支持フレーム２２といった、プリンタ１０のうち固定的な部位に取り付けられている。なお、回動軸７２は、アーム７１の中央よりも他端側寄りの部位に存在している。
【００５４】
また、アーム７１の他端側には、突出片７５が設けられている。この突出片７５は、アーム７１の長手方向に対して直交する向きに突出する部位であり、次に述べる偏心カム７３と、押圧バネ７４とが押し当てられる部位である。この突出片７５のうち、いずれかの面には、偏心カム７３が押し当てられている。偏心カム７３は、その回転中心からカム面７３ａまでの距離が、回転角度に応じて変化する部材である。なお、本実施の形態では、偏心カム７３のカム面７３ａには、ロータリスケール５１の外径側の位置検出パターン５３に対応する第１領域Ｓと、内径側の汚れ検出パターン５４に対応する第２領域Ｔとが設けられている。すなわち、突出片７５に第１領域Ｓが当接する場合、フォトセンサ６０は、位置検出パターン５３を検知する状態となる。また、突出片７５に第２領域Ｔが当接する場合、フォトセンサ６０は、汚れ検出パターン５４を検知する状態となる。
【００５５】
また、上述の突出片７５のうち、偏心カム７３が押し当てられる面と反対側の面には、押圧バネ７４が押し当てられている。押圧バネ７４は、第１領域Ｓまたは第２領域Ｔのいずれの領域に突出片７５が当接する場合でも、該突出片７５をカム面７３ａに確実に押し当てるための部材である。この押圧バネ７４は、上述の回動軸７２と同様に、シャーシ２１または支持フレーム２２といった、プリンタ１０のうち固定的な部位に取り付けられている。
【００５６】
また、偏心カム７３は、駆動力の伝達のためのギヤ輪列７６を介して、モータからの駆動力が伝達される。このモータは、上述した各モータとは別個独立したモータを用いるようにしても良く、また上述したＰＦモータ４１の駆動力が分配される構成を採用しても良い。なお、ＰＦモータ４１の駆動力が分配される構成を採用する場合、例えばギヤ輪列７６における一部のギヤの噛み合い／非噛み合いを切り替え可能とする機構を採用して、印刷対象物Ｐの搬送時には、偏心カム７３が回転しない構成を採用する必要がある。
【００５７】
また、リニアエンコーダ８０は、図１２に示すように、長尺状のリニアスケール８１を備えると共に、上述のロータリエンコーダ５０と同様のフォトセンサ８２を備えている（図３参照）。リニアスケール８１は、直線状に設けられていると共に、その両端部分には、図１２に示すような細長の係止孔８３が設けられている。この係止孔８３には、支持フレーム２２に固定されている係止爪２２ａが差し込まれ、該係止爪２２ａによってリニアスケール８１は、張設状態で支持される。なお、リニアエンコーダ８０においては、その他、ロータリエンコーダ５０と同様の構成となっているため、その詳細についての説明は省略する。
【００５８】
また、図２に示すように、制御部９０は、ロータリエンコーダ５０またはリニアエンコーダ８０から出力されるエンコーダ信号、コンピュータ１００からの印刷信号等、各出力信号が入力される。より詳細には、制御部９０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＡＳＩＣ、ＤＣユニット、ドライバ等を備えている。そして、ＣＲモータ３２、印刷ヘッド３８、ＰＦモータ４１等の駆動制御を司ることを可能としている。
【００５９】
以上のような構成を用いて、プリンタ１０を作動させた際に、ロータリエンコーダ５０において行われる動作について、以下に説明する。
【００６０】
ロータリエンコーダ５０が作動し、発光部６２から光が出射されると、発光部６２は、ロータリスケール５１に向けて光を出射する。出射された光は、コリメータレンズ６３に入射されるが、コリメータレンズ６３を通過した光は、一定の平行光となるように加工されるものの、完全な平行光ではない。また、受光素子列６６の端部側に位置する受光素子６７においては、コリメータレンズ６３を通過後、光が透明部材５２の表面５２ａに到達し、所定の割合の光は、表面５２ａで反射されずに、そのまま透明部材５２の内部を進行する。そして、透明部材５２の裏面５２ｂにおいて、光は、第２透光部５４ａまたは第２遮光部５４ｂに到達する。
【００６１】
ここで、印刷対象物Ｐに対して、印刷ヘッド３８からインク滴を吐出させる場合、印刷ヘッド３８から微小なインク滴が吐出されるが、その際に、微小なインク滴の一部が浮遊するインクミストが発生する。このインクミストは、プリンタ１０の内部を浮遊し、ロータリスケール５１等に汚れとして徐々に付着していく。この場合、プリンタ１０では、所定のタイミングでロータリスケール５１の汚れの検出が行われる。以下、ロータリスケール５１の汚れ検出時におけるプリンタ１０の一連の動作を説明する。
【００６２】
図１３に示すように、まず、制御部９０がロータリスケール５１の汚れの検出タイミングであるか否かを判断する（ステップＳ１０）。ロータリスケール５１の汚れの検出タイミングは、例えば、１枚または所定の枚数の印刷用紙Ｐへの印刷終了後、または、プリンタ１０の電源投入時である。また、ロータリスケール５１の汚れの検出タイミングは、例えば、プリンタ１０の電源投入後の一定時間ｔ１経過後、また、その後は一定時間ｔ２経過後ごとであっても良い。さらに、ロータリスケール５１の汚れの検出タイミングは、電源投入後の一定枚数ｎ１の印刷対象物Ｐへの印刷終了後、また、その後は一定枚数ｎ２の印刷対象物Ｐへの印刷終了後ごとであって良い。
【００６３】
ステップＳ１０で、検出タイミングでないと判断されると（Ｎｏの場合）、ロータリスケール５１の汚れの検出は行われず、プリンタ１０は、例えば待機状態となったり、次の印刷対象物Ｐへの印刷を行う。一方、ステップＳ１０で検出タイミングであると判断される（Ｙｅｓの場合）と、所定の前処理を行う（Ｓ１１）。ここで、前処理とは、センサ位置切替機構７０を作動させて、フォトセンサ６０が位置検出パターン５３を検出する状態から、汚れ検出パターン５４を検出する状態に切り替える動作をさせる処理をいう。このとき、上述のモータの駆動により、偏心カム７３が回転駆動させられ、突出片７５がカム面７３ａの第１領域Ｓに接触する状態から、第２領域Ｔに接触する状態に切り替えられ、それによってフォトセンサ６０がロータリスケール５１の内径側に移動させられる。
【００６４】
その後、汚れ検出パターン５４の検出を行う（Ｓ１２）。この検出は、後述する図１４に示すような処理フローに基づいて行われる。
【００６５】
上述のステップＳ１２における検出が終了すると、実際のロータリスケール５１の汚れの程度に応じて、必要に応じた処理を行う（Ｓ１３）。Ｓ１３では、種々の処理が考えられるため、以下にそれを列記する。
【００６６】
処理の例としては、ＰＦモータ４１の駆動電圧の設定を行うものがある。より具体的には、フォトセンサ６０の移動速度を、インクミストが付着していないときの移動速度よりも遅めとなるように、駆動電圧を設定する。このようにすれば、ロータリスケール５１に一定以上のインクミストが付着して、ロータリエンコーダ５０において誤検出の虞がある場合、当該後検出の虞を低減することが可能となる。
【００６７】
また、他の処理としては、あと何枚の印刷対象物Ｐへ印刷を行うと、ロータリスケール５１の読み取り限界となるかを確認するものがある。より具体的には、ロータリスケール５１が読み取り限界となるまでの印刷枚数や印刷時間を制御部９０によって算出する。この確認／算出により、ロータリスケール５１に汚れが生じるまでの印刷枚数や印刷時間の把握が可能となる。
【００６８】
また、他の処理としては、プリンタ１０に別途取り付けられている液晶ディスプレイ等の表示装置（図示省略）に、所定のメッセージを表示させるものがある。所定のメッセージとしては、ロータリスケール５１が読み取り限界に近い、または読み取り限界に到達した旨の注意メッセージや、ロータリスケール５１の汚れに起因するエラーメセージ、またはロータリスケール５１の清掃が必要である旨のメッセージを表示するものがある。これらのメッセージの表示によって、ロータリスケール５１に汚れが生じていることをユーザに知らせることができ、ロータリスケール５１での誤検出によるプリンタ１０の動作不良を防止することが可能になる。
【００６９】
さらに、他の処理としては、プリンタ１０の動作を停止して、プリンタ１０を使用不可能とするものがある。プリンタ１０を使用不可能とすることにより、ロータリスケール５１での誤検出により、プリンタ１０に動作不良が生じるのを防止し、紙送り異常等によって、プリンタ１０の破損等が生じるのを防止することができる。また、他の処理としては、汚れ検出を行ってから、さらに所定時間の印刷を実行した後、または、さらに所定枚数の印刷を実行した後に、プリンタ１０が動作を停止するように、制御部９０が制御するものがある。
【００７０】
さらに、他の処理としては、ＰＦモータ４１の回転速度の上限を設定し、ロータリスケール５１の回転速度を抑える制御を行うものがある。このようにすれば、ロータリスケール５１の回転速度が遅くなり、ロータリスケール５１がある程度汚れていても、フォトセンサ６０で誤検出されるのを防ぐことが可能となる。また、かかる誤検出の防止により、プリンタ１０では、さらに所定枚数あるいは所定時間の印刷が可能となる。
【００７１】
また、他の処理としては、可変抵抗６２１を調整して、発光素子６２０からの発光量を増大させる制御を行うものがある。発光素子６２０の発光量を増加させることで、ロータリスケール５１に多少の汚れが生じていても、汚れの程度がそれ程大きくなければ、プリンタ１０では、さらに所定枚数あるいは所定時間の印刷が可能となる。なお、発光素子６２０の発光量は、さらに所定枚数あるいは所定時間の印刷が可能となる程度の増加率で、可変抵抗６２１によって段階的に増加させても良い。この場合には、発光部６２での消費電力の低減が可能となる。
【００７２】
さらに、他の処理としては、センサ位置切替機構７０を作動させて、位置検出パターン５３における検出位置を、ずらすものがある。例えば、位置検出パターン５３のうち、内径側を検出するように、センサ位置切替機構７０を作動させるようにしても良い。また、他の処理としては、スポンジ等の清掃部材を押し当てる等により、ロータリスケール５１の汚れを除去するものがある。
【００７３】
次に、汚れ検出パターン５４における汚れの検出のための処理フローにつき、図１４に基づいて説明する。図１４に示すように、まず、ＰＦモータ４１の駆動電圧の設定を行う（Ｓ２０）。より具体的には、制御部９０からの駆動に対応する制御指令により、ＰＦモータ４１に対して、検出用の回転速度に対応する駆動電圧を与える。続いて、ＰＦモータ４１の駆動時間の設定を行う（Ｓ２１）。この場合、ｐＦモータ４１は、汚れ検出のために駆動される。
【００７４】
次に、設定された駆動電圧および駆動時間でＰＦモータ４１を駆動する（Ｓ２２）。ＰＦモータ４１の駆動によってロータリスケール５１が回転し、アーム７１に固定されているフォトセンサ６０は、ロータリスケール５１に対して相対移動する。この相対移動によって、ロータリエンコーダ５０は、例えば、周期ＴのＡ相信号ＥＮＣ−ＡおよびＢ相信号ＥＮＣ−２を出力する。ロータリエンコーダ５０の出力信号であるＡ相信号ＥＮＣ−ＡおよびＢ相信号ＥＮＣ−Ｂは制御部９０に入力される。すなわち、制御部９０は、ロータリエンコーダ５０の出力信号を取得する（Ｓ２３）。
【００７５】
その後、制御部９０はロータリスケール５１に汚れが生じているか否かを判断する（Ｓ２４）。ロータリスケール５１にインクミストが所定だけ堆積し、それが所定の大きさに成長すると、例えば、図１５に示すように、第２透光部５４ａにインクミストの付着部分Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３が生じる。そして、付着部分Ｄ１、Ｄ２および光遮断部５４ｍによって、第２透光部５４ａを透過する光は、遮断される。このような付着部分（光を遮断する部分）が生じると、ロータリエンコーダ５０から出力されるＡ相信号ＥＮＣ−ＡやＢ相信号ＥＮＣ−Ａの周期に変動が生じる。本形態では、ロータリエンコーダ５０から出力されるＡ相信号ＥＮＣ−ＡやＢ相信号ＥＮＣ−Ａの周期に所定の変動が生じたときに、汚れ検出パターン５４には、発光部６２には、付着部分（光を遮断する部分）が生じていると判断する。そして、その状態では、ロータリスケール５１に一定以上の汚れが生じていると判断する。
【００７６】
より具体的には、ステップＳ２４では、汚れ検出パターン５４をフォトセンサ６０が通過する際のＡ相信号ＥＮＣ−ＡやＢ相信号ＥＮＣ−Ａの周期（または、周波数）が基本となる周期Ｔ（または、周波数）の±ｘ％（たとえば、±１５％）の範囲から外れているか否かを判断する。この判断において、±ｘ％の範囲から外れていないと判断される場合（Ｎｏの場合）、続いて、出力されるＡ相信号ＥＮＣ−ＡとＢ相信号ＥＮＣ−Ａとの位相に逆転が生じているか否かを判断する（Ｓ２５）。
【００７７】
なお、このＳ２５において、Ｎｏであると判断される場合、検出された周期が、周期Ｔの±ｘ％の範囲から外れていなく、かつ位相の逆転も生じていないため、汚れ検出パターン５４において、ロータリエンコーダ５０での正確な位置の検出は可能（すなわち、正確な読取は可能）と判断される（ステップＳ２６）。すなわち、第２透光部５４ａには、十分な大きさまたは量の付着部分（光を遮断する部分）が形成されておらず、汚れの程度は許容範囲内であると判断され、ロータリエンコーダ５０での位置検出が可能と判断する。
【００７８】
続いて、ＰＦモータ４１の駆動時間が設定時間以上であるか否かを判断する（ステップＳ２７）。ＰＦモータ４１の駆動時間が設定時間未満である場合には、上述のＳ２３に戻り、Ｓ２３以降の判断／処理を継続する。また、ＰＦモータ４１の駆動時間が設定時間以上である場合には、ＰＦモータ４１を停止させる（ステップＳ２８）。また、かかるＰＦモータ４１の停止に前後させて、センサ位置切替機構７０を作動させて、フォトセンサ６０を外径側に移動させる。この移動により、フォトセンサ６０は、汚れ検出パターン５４と対向する状態から、位置検出パターン５３と対向する状態となる。
【００７９】
以上のようにして、汚れ検出が終了し、以後は、通常のロータリエンコーダ５０の送りピッチ検出が行える状態となる。
【００８０】
また、上述のＳ２４において、Ａ相信号ＥＮＣ−ＡやＢ相信号ＥＮＣ−Ａの周期Ｔ１が周期Ｔの±ｘ％の範囲から外れている場合（Ｙｅｓの場合）、またはＡ相信号ＥＮＣ−ＡとＢ相信号ＥＮＣ−Ａとの位相に逆転が生じている場合（Ｙｅｓの場合）、第２透光部５４ａには、十分な大きさまたは量の付着部分（光を遮断する部分）が形成されているとして処理される。すなわち、ロータリエンコーダ５０での正確な位置検出は不可能であるとして処理される（Ｓ２９）。この場合も、上述のＳ２８に進行し、ＰＦモータ４１を停止させる。
【００８１】
なお、Ｓ２９を経た後の、以後の処理は、上述のＳ１４で述べるのと同様である。
【００８２】
このような構成のプリンタ１０によれば、ロータリスケール５１は、位置検出パターン５３に加え、第２透光部５４ａおよび第２遮光部５４ｂが交互に形成される汚れ検出パターン５４を備えている。ここで、センサ位置切替機構７０により、フォトセンサ６０を移動させて、フォトセンサ６０が位置検出パターン５３を検出する状態と、汚れ検出パターン５４を検出する状態とを切り替え可能としている。そのため、フォトセンサ６０が汚れ検出パターン５４を検出する状態に切り替えれば、発光部６２から発光され第２透光部５４ａを透過する光の受光部６４での検出結果から、ロータリスケール５１の汚れを検出することができる。また、一つのロータリスケール５１で、位置検出と汚れ検出の両方を行うことが可能となる。また、汚れを検出することで、例えば、ロータリスケール５１の清掃の必要性の有無を確認することができたり、ロータリスケール５１の汚れに起因する位置検出不良によって生じ得る、印刷ヘッド３８の誤動作を防止するための処置を取ることができる。
【００８３】
また、汚れ検出パターン５４は、位置検出パターン５３よりも、ロータリスケール５１の内径側に設けられている。このため、通常の位置検出の際には、フォトセンサ６０は、外径側に位置する位置検出パターン５３を検出するが、汚れ検出の際には、フォトセンサ６０は、内径側に位置する汚れ検出パターン５４を検出する。それにより、ロータリスケール５１の内径側を、汚れ検出用として、有効活用することが可能となる。
【００８４】
さらに、センサ位置切替機構７０を具備することにより、偏心カム７３が回転すると、アーム７１の他端側と当接しているカム面７３ａと回転中心との間の距離が変化する。それにより、アーム７１は、回動軸７２を中心として回動させることが可能となり、ロータリスケール５１に対するフォトセンサ６０の対向位置を切り替えることが可能となる。
【００８５】
また、第２透光部５４ａには、遮光パターン５４ｋが形成されている。そのため、ロータリスケール５１が汚れると、第２透光部５４ａでは、第１透光部５３ａに比べ、透過する光の光量が少なくなる。そのため、フォトセンサ６０等での誤検出が発生する前に、第２透光部５４ａを透過する光の受光部６４での検出結果から、ロータリスケール５１の汚れの程度を検出することができる。
【００８６】
さらに、図５に示すように、遮光パターン５４ｋは、ロータリスケール５１の接線方向に対して傾斜した斜線状の光遮断部５４ｍによって形成することが可能となる。このように構成する場合、ロータリスケール５１の汚れを簡易かつ適切に検出することができる。ここで、遮光パターン５４ｋがロータリスケール５１の接線方向に沿う光遮断部により形成されている場合、発光部６２の光軸がロータリスケール５１の径方向に沿って変動すると、第１透光部５３ａに対し、第２透光部５４ａの光の透過面積を小さく、または光の透過率を低くすることができなくなる。また、遮光パターン５４ｋがロータリスケール５１の径方向に沿う光遮断部によって形成されている場合、第２遮光部５４ｂとの境界部分が判別し難くなり、位置検出パターン５３において誤検出を生じる虞がある。これに対して、光遮断部５４ｍを斜めに形成する場合、光遮断部５４ｍが接線方向または径方向に沿う場合のような不具合が生じなく、ロータリスケール５１の汚れを簡易かつ適切に検出可能となる。
【００８７】
また、ロータリスケール５１の汚れが検出されたときに、発光部６２からの発光量を増加させる制御を行う可変抵抗６２１を備えるように構成しても良い。このように構成する場合、ロータリスケール５１に一定以上の汚れが生じた場合であっても、発光部６２からの発光量を増加させるという簡易な構成で、発光部６２からの光が第１透光部５３ａを透過しやすくなる。そのため、ロータリスケール５１等から構成される位置検出装置の長寿命化が図れると共に、長期に亘って印刷ヘッド３８の適切な位置検出が可能となる。
【００８８】
以上、本発明の一実施の形態について述べたが、本発明は、種々変形可能である。以下、それについて述べる。
【００８９】
上述の実施の形態では、ロータリスケール５１の第２透光部５４ａには、複数の斜線状の光遮断部５４ｍによって遮光パターン５４ｋが形成されている。この他にも、例えば図１６（Ａ）に示すように、信号増幅回路６８の出力信号に所定の閾値Ｃを設定することで、デジタル信号であるＡ相信号等を生成しても良い。すなわち、出力信号の値が閾値Ｃより大きければハイレベルの信号を出力し、出力信号の値が閾値Ｃより小さければローレベルの信号を出力することで、デジタル信号を生成しても良い。この場合のロータリスケール５１の汚れの検出は以下のように行えば良い。
【００９０】
発光部６２から発光され、第１透光部５３ａを透過する光量は、第２透光部５４ａを透過する光量よりも多い。そのため、位置検出パターン５３が形成された部分をフォトセンサ６０が通過する際に、信号増幅回路６８からアナログ信号ＳＧ１１が出力される。また、汚れ検出パターン５４が形成された部分をフォトセンサ６０が通過する際には、信号増幅回路６８からアナログ信号ＳＧ１１よりも低いレベルのアナログ信号ＳＧ１２が出力される（図１６（Ａ）参照）。
【００９１】
また、アナログ信号ＳＧ１１と閾値Ｃとから図１６（Ｂ）に示すデジタル信号ＳＧ１３が生成され、アナログ信号ＳＧ１２と閾値Ｃとから図１６（Ｃ）に示すデジタル信号ＳＧ１４が生成される。ここで、発光部６２から発光された光のロータリスケール５１の透過量が多い程、デジタル信号のハイレベルの周期が長くなるため、デジタル信号ＳＧ１３のハイレベルの周期Ｔ１１は、デジタル信号ＳＧ１４のハイレベルの周期Ｔ１２よりも長くなる。また、ロータリスケール５１に汚れが発生していない場合には、周期Ｔ１１に対する周期Ｔ１２の比率は、例えば８０％となっている。
【００９２】
ここで、ロータリスケール５１にインクミストが均等に付着すると、信号増幅回路６８から出力されるアナログ信号ＳＧ１１、アナログＳＧ１２のレベルは同程度で低下する。例えば、図１６（Ｄ）に示すように、アナログ信号ＳＧ１１からアナログ信号ＳＧ２１までレベルが低下し、アナログ信号ＳＧ１２はアナログ信号ＳＧ２２までレベルが低下する。また、図１６（Ｅ）に示すように、アナログ信号ＳＧ２１と閾値Ｃとから生成されるデジタル信号ＳＧ２３のハイレベルの周期Ｔ２１は、周期Ｔ１１よりも短くなる。また、図１６（Ｆ）に示すように、デジタル信号ＳＧ２４のハイレベルの周期Ｔ２２は、周期Ｔ１２よりも短くなる。
【００９３】
この場合、図１６に示すように、周期Ｔ１１に対する周期Ｔ１２の比率よりも周期Ｔ２１に対する周期Ｔ２２の比率は低下する。例えば、周期Ｔ１１に対する周期Ｔ１２の比率が８０％であったのに対し、周期Ｔ２１に対する周期Ｔ２２の比率は５０％となる。そのため、ロータリスケール５１にインクミストが付着したときの、位置検出パターン５３に基づくデジタル信号のハイレベルの周期（たとえば、周期Ｔ２１）と、汚れ検出パターン５４に基づくデジタル信号のハイレベルの周期（たとえば、周期Ｔ２２）との比率が所定の値以下になったときに、ロータリスケール５１に汚れが生じていると判断することができる。以上のように、信号増幅回路６８の出力信号に所定の閾値Ｃを設定することで、デジタル信号を生成する場合には、上述した方法で、ロータリスケール５１の汚れの検出を行うことができる。なお、汚れ検出パターン５４に基づくデジタル信号のハイレベルの周期の、初期状態に対する低下率から、ロータリスケール５１の汚れの検出を行うことも可能である。
【００９４】
なお、かかる初期の比率と、所定の印刷枚数または所定の印刷時間だけ経過した後の比率とを対比させることにより、インクミスト付着による寿命が、あとどのぐらいであるのかを予測することが可能となる。
【００９５】
また、上述の実施の形態においては、遮光パターン５４ｋは、ロータリスケール５１の接線方向に対して傾斜している、多数の斜線状の光遮断部５４ｍによって構成されている。しかしながら、遮光パターン５４ｋは、図１７に示すように、矩形状の光透過部とともに市松模様状に配置された矩形状の光遮断部５４ｍによって形成することも可能である。このように構成する場合、微視的に見て、光透過部が市松模様状を為していても、巨視的に見ると、ロータリスケール５１の接線方向に対して傾斜した状態となっている。このため、光遮断部５４ｍが接線方向に沿う場合のように、発光部６２の光軸の位置によって、第２透光部５４ａの光の透過面積、または光の透過率が変動したり、光遮断部５４ｍが径方向に沿う場合のように、第２遮光部５４ｂとの境界部分が判別し難くなり、位置検出パターン５３において誤検出を生じる、といった不具合を防止可能となる。
【００９６】
さらに、図１８に示すように、第２透光部５４ａの幅は、第１透光部５３ａの幅よりも狭く形成することも可能である。このように構成する場合、ロータリスケール５１が汚れるに従って、第２透光部５４ａでは、第１透光部５３ａに比べ、光が遮断されやすくなる。そのため、第１透光部５３ａで光が遮断され、ロータリスケール５１における誤検出が生じる前に、第２透光部５４ａでの受光結果から、ロータリスケール５１の汚れの程度を検出することができる。
【００９７】
また、図１９〜図２２に示すように、遮光パターン５４ｋを、ロータリスケール５１の接線方向または径方向に沿って変化させる構成を採用することも可能である。このように構成する場合、透過面積の比較的小さいまたは透過率の比較的低い第２透光部５４ａでは、ロータリスケール５１の汚れによって比較的早く光が遮断される。一方、透過面積の比較的大きいまたは透過率の比較的高い第２透過部５４ａでは、比較的遅く光が遮断される。したがって、ロータリスケール５１に生じる汚れの程度を容易に検出することが可能となると共に、汚れの程度の検出により、ロータリスケール５１に生じる汚れの経時的な変化を把握することができる。その結果、最終的に誤検出が生じるまでの時間等の予測が可能となり、検出限界を認識することができる。
【００９８】
なお、図１９は、斜線状の光遮断部５４ｍが、ロータリスケール５１の径方向に沿って変化する場合を示しており、図２０は、斜線状の光遮断部５４ｍが、ロータリスケール５１の接線方向に沿って変化する場合を示している。また、図２１は、市松模様状にの光遮断部５４ｍが、ロータリスケール５１の径方向に沿って変化する場合を示しており、図２２は、市松模様状にの光遮断部５４ｍが、ロータリスケール５１の接線方向に沿って変化する場合を示している。
【００９９】
また、図２３および図２４に示すように、第２透光部５４ａの幅寸法を、ロータリスケール５１の接線方向または径方向に沿って変化させる構成を採用することも可能である。このように構成する場合、幅が比較的狭い第２透光部５４ａでは、ロータリスケール５１の汚れによって比較的早く光が遮断され、幅が比較的広い第２透過部５４ａでは、比較的遅く光が遮断される。したがって、ロータリスケール５１に生じる汚れの程度を検出することが可能となると共に、汚れの程度の検出により、ロータリスケール５１に生じる汚れの経時的な変化を把握することができる。その結果、誤検出が生じるまでの時間等の予測が可能となり、検出限界を認識することができる。
【０１００】
なお、図２３は、第２透光部５４ａの幅寸法が、ロータリスケール５１の接線方向に沿って変化する場合を示しており、図２４は、第２透光部５４ａの幅寸法が、ロータリスケール５１の径方向に沿って変化する場合を示している。
【０１０１】
また、上述の実施の形態では、センサ位置切替機構７０は、アーム７１と、回動軸７２と、偏心カム７３と、押圧バネ７４とによって構成されている。しかしながら、センサ位置切替機構７０の構成は、これには限られず、種々変更可能である。例えば、ラックギヤをフォトセンサ６０に取り付けると共に、ギヤ輪列の最終段にピニオンギヤを設けるように構成しても良い。このとき、ピニオンギヤを固定的な部位に設ければ、位置検出パターン５３と汚れ検出パターン５４との間で、フォトセンサ６０を移動可能となる。
【０１０２】
また、上述の実施の形態では、汚れ検出パターン５４は、位置検出パターン５３の内径側に位置する構成について述べているが、汚れ検出パターン５４が位置検出パターン５３の外径側に位置する構成を採用しても良い。
【０１０３】
また、上述の実施の形態では、汚れ検出パターン５４は、ロータリスケール５１の周方向の全周に亘って設けられている。しかしながら、汚れ検出パターン５４は、ロータリスケール５１の周方向の一部のみに設ける構成を採用しても良い。また、位置検出パターン５３のうち、内径側の部位を、汚れ検出パターン５４としても良い。
【０１０４】
また、上述の実施の形態においては、液体吐出装置としてのプリンタ１０、および位置検出装置が設けられるプリンタ１０について説明したが、液体吐出装置は、プリンタ１０には限られず、また位置検出装置が設けられる装置も、プリンタ１０には限られない。位置検出装置が設けられる液体吐出装置としては、カラーフィルタ製造装置、染色装置、微細加工装置、半導体加工装置、表面加工装置、三次元造形装置、液体気化装置、有機ＥＬ製造装置（特に高分子ＥＬ製造装置）、ディスプレイ製造装置、成膜装置、ＤＮＡチップ製造装置等のインクジェット技術を応用した各種の液体吐出装置に応用可能である。なお、これらの液体吐出装置で吐出される液体は、それぞれの装置に応じて変更され、例えば金属材料、有機材料、磁性材料、導電性材料、配線材料、成膜材料、各種加工液等がある。
【符号の説明】
【０１０５】
１０…プリンタ、２０…筐体部、３０…キャリッジ機構、３１…キャリッジ、３２…キャリッジモータ、３８…印刷ヘッド（液体吐出部に対応）、４０…用紙搬送機構、４１…ＰＦモータ、５０…ロータリエンコーダ（位置検出装置に対応）、５１…ロータリスケール、５２…透明部材、５３…位置検出パターン、５４…汚れ検出パターン、５４ａ…透光部、５４ｂ…遮光部、６０…フォトセンサ、６１３…空間部、６２…発光部、６２１…可変抵抗（光量制御手段に対応）、６４…受光部、７０…センサ位置切替機構、７１…アーム、７３…偏心カム、８０…ロータリエンコーダ、９０…制御部。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検出物の位置を検出する位置検出装置において、
光を出射する発光部、およびこの発光部からの光を受光する受光部を備えると共に、これらの間に空間部を備えるフォトセンサと、
円盤状に設けられると共に、上記空間部の間に差し掛かるロータリスケールと、
上記ロータリスケールに設けられると共に、上記被検出物の位置を検出するために、上記発光部からの光を透過する第１透光部および上記発光部からの光を遮断する第１遮光部が交互に形成される位置検出パターンと、
上記ロータリスケールに設けられると共に、上記ロータリスケールの汚れを検出するために、上記発光部からの光を透過する第２透光部および上記発光部からの光を遮断する第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンと、
上記フォトセンサが取り付けられると共に、このフォトセンサを移動させて、上記フォトセンサが上記位置検出パターンを検出する状態と上記汚れ検出パターンを検出する状態とを切り替えるセンサ位置切替機構と、
を具備することを特徴とする位置検出装置。
【請求項２】
前記汚れ検出パターンは、前記位置検出パターンよりも、前記ロータリスケールの内径側に設けられていることを特徴とする請求項１記載の位置検出装置。
【請求項３】
前記センサ位置切替機構は、
前記フォトセンサを一端側で支持するアームと、
回転中心からの距離が回転位置に応じて変化するカム面を具備し、このカム面が前記アームの他端側に当接する偏心カムと、
前記アームの一端側と他端側の間に位置し、このアームを回動自在に軸支する回動軸と、
を具備することを特徴とする請求項１または２記載の位置検出装置。
【請求項４】
前記第２透光部には、前記第２透光部の前記発光部からの光の透過面積を前記第１透光部の前記発光部からの光の透過面積よりも小さくする、または、前記第２透光部の前記発光部からの光の透過率を前記第１透光部の前記発光部からの光の透過率よりも低くする遮光パターンが形成されていることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項５】
前記遮光パターンは、前記ロータリスケールの接線方向に対して傾斜した斜線状の光遮断部によって形成されていることを特徴とする請求項４記載の位置検出装置。
【請求項６】
前記遮光パターンは、矩形状の光透過部とともに市松模様状に配置された矩形状の光遮断部によって形成されていることを特徴とする請求項４記載の位置検出装置。
【請求項７】
前記遮光パターンは、前記ロータリスケールの接線方向または径方向に沿って変化することを特徴とする請求項４から６のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項８】
前記第２透光部の幅は、前記第１透光部の幅よりも狭く形成されていることを特徴とする請求項１から７いずれかに記載の位置検出装置。
【請求項９】
前記第２透光部の幅は、前記ロータリスケールの接線方向または径方向に沿って変化することを特徴とする請求項１から８のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項１０】
前記ロータリスケールの汚れが検出されたときに、前記発光部からの発光量を増加させる制御を行う光量制御手段を備えることを特徴とする請求項１から９いずれかに記載の位置検出装置。
【請求項１１】
円盤状に設けられると共に、発光部と受光部との間に差し掛かって光の透光または遮光を行うためのロータリスケールにおいて、
上記被検出物の位置を検出するために、上記発光部からの光を透過する第１透光部および上記発光部からの光を遮断する第１遮光部が交互に形成される位置検出パターンと、
上記ロータリスケールに設けられると共に、上記ロータリスケールの汚れを検出するために、上記発光部からの光を透過する第２透光部および上記発光部からの光を遮断する第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンと、
を具備することを特徴とするロータリスケール。
【請求項１２】
請求項１から１０のいずれか１項に記載の位置検出装置を備えると共に、印刷対象物に液体を吐出させる液体吐出部とを備えることを特徴とする液体吐出装置。
【請求項１】
被検出物の位置を検出する位置検出装置において、
光を出射する発光部、およびこの発光部からの光を受光する受光部を備えると共に、これらの間に空間部を備えるフォトセンサと、
円盤状に設けられると共に、上記空間部の間に差し掛かるロータリスケールと、
上記ロータリスケールに設けられると共に、上記被検出物の位置を検出するために、上記発光部からの光を透過する第１透光部および上記発光部からの光を遮断する第１遮光部が交互に形成される位置検出パターンと、
上記ロータリスケールに設けられると共に、上記ロータリスケールの汚れを検出するために、上記発光部からの光を透過する第２透光部および上記発光部からの光を遮断する第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンと、
上記フォトセンサが取り付けられると共に、このフォトセンサを移動させて、上記フォトセンサが上記位置検出パターンを検出する状態と上記汚れ検出パターンを検出する状態とを切り替えるセンサ位置切替機構と、
を具備することを特徴とする位置検出装置。
【請求項２】
前記汚れ検出パターンは、前記位置検出パターンよりも、前記ロータリスケールの内径側に設けられていることを特徴とする請求項１記載の位置検出装置。
【請求項３】
前記センサ位置切替機構は、
前記フォトセンサを一端側で支持するアームと、
回転中心からの距離が回転位置に応じて変化するカム面を具備し、このカム面が前記アームの他端側に当接する偏心カムと、
前記アームの一端側と他端側の間に位置し、このアームを回動自在に軸支する回動軸と、
を具備することを特徴とする請求項１または２記載の位置検出装置。
【請求項４】
前記第２透光部には、前記第２透光部の前記発光部からの光の透過面積を前記第１透光部の前記発光部からの光の透過面積よりも小さくする、または、前記第２透光部の前記発光部からの光の透過率を前記第１透光部の前記発光部からの光の透過率よりも低くする遮光パターンが形成されていることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項５】
前記遮光パターンは、前記ロータリスケールの接線方向に対して傾斜した斜線状の光遮断部によって形成されていることを特徴とする請求項４記載の位置検出装置。
【請求項６】
前記遮光パターンは、矩形状の光透過部とともに市松模様状に配置された矩形状の光遮断部によって形成されていることを特徴とする請求項４記載の位置検出装置。
【請求項７】
前記遮光パターンは、前記ロータリスケールの接線方向または径方向に沿って変化することを特徴とする請求項４から６のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項８】
前記第２透光部の幅は、前記第１透光部の幅よりも狭く形成されていることを特徴とする請求項１から７いずれかに記載の位置検出装置。
【請求項９】
前記第２透光部の幅は、前記ロータリスケールの接線方向または径方向に沿って変化することを特徴とする請求項１から８のいずれか１項に記載の位置検出装置。
【請求項１０】
前記ロータリスケールの汚れが検出されたときに、前記発光部からの発光量を増加させる制御を行う光量制御手段を備えることを特徴とする請求項１から９いずれかに記載の位置検出装置。
【請求項１１】
円盤状に設けられると共に、発光部と受光部との間に差し掛かって光の透光または遮光を行うためのロータリスケールにおいて、
上記被検出物の位置を検出するために、上記発光部からの光を透過する第１透光部および上記発光部からの光を遮断する第１遮光部が交互に形成される位置検出パターンと、
上記ロータリスケールに設けられると共に、上記ロータリスケールの汚れを検出するために、上記発光部からの光を透過する第２透光部および上記発光部からの光を遮断する第２遮光部が交互に形成される汚れ検出パターンと、
を具備することを特徴とするロータリスケール。
【請求項１２】
請求項１から１０のいずれか１項に記載の位置検出装置を備えると共に、印刷対象物に液体を吐出させる液体吐出部とを備えることを特徴とする液体吐出装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【公開番号】特開２０１２−５１３７４（Ｐ２０１２−５１３７４Ａ）
【公開日】平成２４年３月１５日（２０１２．３．１５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１９２５１７（Ｐ２０１１−１９２５１７）
【出願日】平成２３年９月５日（２０１１．９．５）
【分割の表示】特願２００５−２９５９６６（Ｐ２００５−２９５９６６）の分割
【原出願日】平成１７年１０月１１日（２００５．１０．１１）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年３月１５日（２０１２．３．１５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年９月５日（２０１１．９．５）
【分割の表示】特願２００５−２９５９６６（Ｐ２００５−２９５９６６）の分割
【原出願日】平成１７年１０月１１日（２００５．１０．１１）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
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