説明

液晶表示装置

【課題】画像表示と表示ムラ検出を同一の表示パネルで実現する。
【解決手段】第1基板と、第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に挟持される液晶とを有する液晶表示パネルを備える液晶表示装置であって、前記液晶表示パネルは、複数のサブピクセルを有する表示部を有し、前記液晶表示パネルの前記表示部は、前記各サブピクセル毎に設けられるホトセンサを有し、前記各ホトセンサには、前記各サブピクセルにおいて輝度が変調された光が入射される。前記第1基板側が観察面であり、前記第2基板側にバックライトを有し、前記各サブピクセルは、画素電極と対向電極とを有し、前記各サブピクセルの画素電極と前記各ホトセンサは、前記第1基板に形成され、前記各ホトセンサは、前記各サブピクセルの前記画素電極の前記観察面側に形成される。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、液晶表示装置に係り、特に、表示ムラを低減する際に有効となる技術に関する。
【背景技術】
【0002】
アクティブ素子として薄膜トランジスタを使用するTFT方式の液晶表示装置は高精細な画像を表示できるため、各種表示装置のディスプレイとして使用されている。特に、高精細な液晶表示装置は、例えば、医療用の表示装置のディスプレイ、あるいは、サブピクセル数が、240×320×3程度の小型の液晶表示装置は、携帯電話機などの携帯機器のディスプレイとして使用されている。
一般に、液晶表示装置は、一対の基板(例えば、ガラス基板)間に、液晶層を注入・封止した後、当該一対の基板の外側に、一対の偏光板を張り付けて構成されるが、この一対の偏光板に代えて、偏光素子を内蔵した液晶表示装置が知られている。(下記、特許文献1参照)
【0003】
なお、本願発明に関連する先行技術文献としては以下のものがある。
【特許文献1】特開平11−101964号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
医療用の液晶表示装置では、液晶表示パネルの表示ムラを検出し、検出した表示ムラを補正することが要求される。従来の方法では、液晶表示パネルの表示ムラをカメラで測定し、その結果に基づいて、検出した表示ムラの補正を行っていた。よって、製造工程で補正をして出荷した後は、ユーザ側で表示ムラの補正ができないという問題点があった。
一方、低消費電力が要求される携帯用途の液晶表示装置では、フリッカを低減し、低い周波数で駆動することが要望されている。しかし、従来の方法では、温度や電源電圧の変動で最適なコモン電圧の条件が異なるため、その要望を満たすことができないという問題点があった。
本発明は、前記従来技術の問題点を解決するためになされたものであり、本発明の目的は、液晶表示装置において、画像表示と表示ムラ検出を同一の液晶表示パネルで実現することが可能となる技術を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、液晶表示装置において、フリッカ検出を常時行うことが可能となる技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らかにする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下記の通りである。
(1)第1基板と、第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に挟持される液晶とを有する液晶表示パネルを備える液晶表示装置であって、前記液晶表示パネルは、複数のサブピクセルを有する表示部を有し、前記液晶表示パネルの前記表示部は、前記各サブピクセル毎に設けられるホトセンサを有し、前記各ホトセンサには、前記各サブピクセルにおいて輝度が変調された光が入射される。
(2)(1)において、前記第1基板側が観察面であり、前記第2基板側にバックライトを有し、前記各サブピクセルは、画素電極と対向電極とを有し、前記各サブピクセルの、前記画素電極と前記各ホトセンサは、前記第1基板に形成され、前記各ホトセンサは、前記各サブピクセルの前記画素電極の前記観察面側に形成される。
【0006】
(3)(2)において、前記各サブピクセルの前記対向電極は、前記第2基板に形成される。
(4)(2)または(3)において、前記第1基板は、前記観察面側に第1偏光板を有し、前記第2基板は、前記バックライト側に第2偏光板を有し、前記第1の基板は、前記各サブピクセルの前記画素電極の前記観察面側に、前記各ホトセンサを覆うように設けられる偏光層を有する。
(5)(4)において、前記偏光層の偏光方向と、前記第1偏光板の偏光方向とは一致する。
(6)(2)または(3)において、前記第2基板は、前記バックライト側に偏光板を有し、前記第1基板は、前記各ホトセンサと前記各サブピクセルの前記画素電極との間に、前記表示部を覆うように設けられる偏光層を有する。
【0007】
(7)第1基板と、第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に挟持される液晶とを有する液晶表示パネルを備える液晶表示装置であって、前記液晶表示パネルは、複数のサブピクセルを有する表示部を有し、前記液晶表示パネルは、前記表示部の周辺に、ホトセンサを有するホトセンサ部を有し、前記ホトセンサには、前記ホトセンサ部において輝度が変調された光が入射される。
(8)(7)において、前記第1基板側が観察面であり、前記第2基板側にバックライトを有し、前記ホトセンサ部は、画素電極と対向電極とを有し、前記ホトセンサ部の前記画素電極と前記ホトセンサは、前記第1基板に形成され、前記ホトセンサは、前記ホトセンサ部の前記画素電極の前記観察面側に形成される。
(9)(7)または(8)において、前記ホトセンサ部の前記対向電極は、前記第2基板に形成される。
【0008】
(10)(8)または(9)において、前記第1基板は、前記観察面側に第1偏光板を有し、前記第2基板は、前記バックライト側に第2偏光板を有し、前記第1基板は、前記ホトセンサ部の前記画素電極の前記観察面側に、前記ホトセンサを覆うように設けられる偏光層を有する。
(11)(10)において、前記偏光層の偏光方向と、前記第1偏光板の偏光方向とは一致する。
(12)(8)または(9)において、前記第2基板は、前記バックライト側に偏光板を有し、前記第1基板は、前記ホトセンサと前記ホトセンサ部の前記画素電極との間に、前記表示部と前記ホトセンサ部を覆うように設けられる偏光層を有する。
(13)(7)ないし(12)の何れかにおいて、前記表示部の周辺の任意のサブピクセルの画素電極は、前記ホトセンサ部の画素電極を兼用する。
(14)(1)ないし(13)の何れかにおいて、前記各ホトセンサは、ダイオード接続された薄膜トランジスタで構成される。
【発明の効果】
【0009】
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである。
(1)本発明の液晶表示装置によれば、画像表示と表示ムラ検出を同一の液晶表示パネルで実現することが可能となる。これにより、表示ムラ検出に特別な装置を必要としないので、ユーザ先でも表示ムラの補正ができ、高い品質の画像表示を実現することが可能となる。
(2)本発明の液晶表示装置によれば、フリッカの検出を常時行うことが可能となる。これにより、温度や電源電圧の変動によるフリッカ増加を検出し、そのフリッカが小さくなるようコモン電圧を制御することでフリッカ補正を行うことができるので、消費電力の少ない低い周波数駆動でもフリッカのない高品位の画像を表示することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0010】
以下、本発明を液晶表示装置に適用した実施例を図面を参照して詳細に説明する。
なお、実施例を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
[実施例1]
図1は、本発明の実施例1の液晶表示装置の液晶表示パネルの概略構成を示すブロック図である。本実施例液晶表示装置は、液晶表示パネルがホトセンサを内蔵することを特徴とする。
図1において、10は液晶パネルであり、液晶表示パネル10は、表示部100と、ドレイン駆動回路200と、ゲート駆動回路300と、X出力回路400とを有する。
表示部100は、マトリクス状に配列されたサブピクセルP(j,k)とセンサ回路S(j,k)とを有する。
前記サブピクセルP(j,k)は、ゲート駆動回路300に接続されるゲート線G(k)と、ドレイン駆動回路200から出力するドレイン線D(j)に接続され、前記センサ回路S(j,k)は、ゲート駆動回路300に接続されるゲート線G(k)と、X出力回路400に接続される出力線X(j)に接続される。
【0011】
図2に、図1に示すサブピクセルP(j,k)の等価回路を示す。
サブピクセルP(j,k)は、画素電極(PX)と、映像電圧を画素電極(PX)に入力するための薄膜トランジスタ(以下、画素TFTという。)101とを有する。
画素TFT(101)のゲート電極は、ゲート線G(k)に接続され、このゲート線G(k)は、ゲート駆動回路300に接続される。画素TFT(101)のドレイン電極は、ドレイン線D(j)に接続され、このドレイン線D(j)は、ドレイン駆動回路200に接続される。
画素TFT(101)のソース電極は、画素電極(PX)に接続される。画素電極(PX)は、液晶を挟んで対向電極と対向するため、画素電極(PX)と対向電極との間には、液晶容量103が等価的に形成される。また、画素電極(PX)には、保持容量102が接続され、保持容量102の他端はストレージ線(STG)に接続される。なお、対向電極には、VCOMのコモン電圧が供給される。
本実施例では、ゲート線G(k)に、画素TFT(101)をオンとするHighレベルの走査電圧が供給されると、画素TFT(101)がオンとなり、ドレイン線D(j)上の映像電圧が、画素電極(PX)に入力されるので、液晶表示パネルに画像が表示される。
【0012】
図3に、図1に示すセンサ回路S(j,k)の等価回路を示す。
センサ回路S(j,k)は、検出した光量をX出力回路400に出力するための薄膜トランジスタ121と、容量122と、ホトセンサ120とで構成される。
薄膜トランジスタ121は、ゲートがゲート線G(k)に、ドレインが出力線X(j)に接続される。また、薄膜トランジスタ121のソースは、容量122とホトセンサ120に接続される。
ホトセンサ120は、ゲートとソースを接続したダイオード接続の薄膜トランジスタであり、このゲートとソースは次段のゲート線G(k+1)に接続される。また、容量122の他端はストレージ線(STG)に接続される。
本実施例では、ゲート線G(k+1)に、Highレベルの走査電圧が供給されたときに、容量122が所定の電圧に充電される。そして、ゲート線G(k+1)に、Lowレベルの走査電圧が供給されたときから、各サブピクセルから照射される光量に応じて、ホトセンサ120が容量122の電荷を放電する。これにより、容量122の電圧は低下するが、この低下の度合いは、各サブピクセルから照射される光量に応じて変化することになる。
そして、次のフレームにおいて、ゲート線G(k)にHighレベルの走査電圧が供給されたときに、薄膜トランジスタ121がオンとなり、容量122の電圧が、ゲート走査と同期して1ライン毎に、出力線X(j)を介してX出力回路400に出力される。
前述したように、容量122の電圧の低下の度合いは、各サブピクセルから照射される光量に応じて変化する。したがって、X出力回路400は、検出した容量122の電圧に基づき、各サブピクセルから照射される光量を検出することが可能となる。
【0013】
図4に、図1に示すサブピクセルP(j,k)と、センサ回路S(j,k)の断面図を示す。
図4において、760は、第1基板(以下、TFT基板という。)、720は、第2基板(以下、CF基板という。)であり、TFT基板760とCF基板720との間に液晶740が挟持される。なお、TFT基板760、CF基板720は、例えば、ガラス基板などで構成される。
また、TFT基板760の外側には第1偏光板762が形成され、CF基板720の外側には第2偏光板722が形成される。ここで、TFT基板760の第1偏光板762が形成された側が表示面となる。
図4に示すように、TFT基板760の液晶740側には、画素TFT(780)、ホトセンサ790が形成される。画素TFT(780)のソース電極は、層間絶縁膜766を介して画素電極768に接続される。
画素電極768は、ホトセンサ790を覆うように形成する。また、ホトセンサ790と画素電極768との間には偏光層770が形成される。ここで、偏光層770の偏光方向は、第1偏光板762の偏光方向と一致する。
CF基板720の液晶740側には、対向電極724が形成される。また、図4において、764はゲート絶縁膜である。
【0014】
図4において、各サブピクセルから出射される光は、第2偏光板722、液晶740、第1偏光板762を通過したバックライト光(BL)である。この各サブピクセルから出射される光は、第2偏光板722を通過した後、液晶740において、画素電極768に入力される電圧に応じて偏光方向が制御され、第1偏光板762を通過する時点で輝度変調された光である。
一方、バックライト光(BL)は、第2偏光板722、液晶740、偏光層770を介してホトセンサ790に入射する。このホトセンサ790に入射する光は、第2偏光板722を通過した後、液晶740において、画素電極768に入力される電圧に応じて偏光方向が制御され、偏光層770を通過する時点で輝度変調された光である。
ここで、偏光層770の偏光方向は、第1偏光板762の偏光方向と一致する。この結果、ホトセンサ790に到達する光は、各サブピクセルから出射される、表示データに応じて輝度変調された光と同等の光となる。したがって、ホトセンサ790の出力で、各サブピクセル毎の表示ムラを検出することが可能となる。
図5に、図1に示すサブピクセルP(j,k)とセンサ回路S(j,k)の他の断面図を示す。
図4に示す構成と異なる点は、偏光層770を表示部100の全域に形成し、第1偏光板762を削除した点である。この構成でも図4と同様に表示ムラの検出が可能である。
以上説明したように、本実施例によれば、画像表示と表示ムラの検出を同一の表示パネルで実現でき、そのため、表示ムラの検出に特別な装置を必要としないので、ユーザ側でも表示ムラの補正ができ、高い品質の画像表示を実現することが可能である。
【0015】
[実施例2]
一般に、液晶層は、長時間同じ電圧(直流電圧)が印加されていると、液晶層の傾きが固定化され、結果として残像現象を引き起こし、液晶層の寿命を縮めることになる。これを防止するために、液晶表示装置おいては、液晶層に印加する電圧をある一定時間毎に交流化、即ち、対向電極(共通電極ともいう)に供給する電圧を基準にして、画素電極に供給する電圧を、一定時間毎に高電位側/低電位側に変化させるようにしている。
この場合に、温度の変動などで、対向電極に供給されるコモン電圧(VCOM)の最適値が変動、あるいは、電源電圧の変動などにより、対向電極に供給されるコモン電圧(VCOM)の電圧が変動すると、画素電極に供給する電圧が対向電極に供給する電圧よりも高電位のときに液晶に書き込まれる(以下、正極性の書き込みという。)電圧と、画素電極に供給する電圧が対向電極に供給する電圧よりも低電位のときに液晶に書き込まれる(以下、負極性の書き込みという。)電圧とが異なり、表示画面にチラツキ(一般に、フリッカと呼ばれる。)が生じる。
このフリッカを防止するためには、正極性の書き込み時の表示部100の輝度と、負極性の書き込み時の表示部100の輝度の差を検出し、対向電極に供給されるコモン電圧(VCOM)の値を調整する必要がある。
本実施例は、正極性の書き込み時の表示部100の輝度と、負極性の書き込み時の表示部100の輝度の差を検出するフリッカ検出回路を設け、当該フリッカ検出回路に前述のホトセンサを適用した実施例である。
【0016】
図6は、本発明の実施例2の液晶表示装置の液晶表示パネルの概略構成を示すブロック図である。
図1の液晶表示パネルと異なる点は、表示部100にはサブピクセルP(j,k)のみが形成され、表示部100の外側にフリッカ検出回路800を設けた点である。
フリッカ検出回路800の構成は、前述の実施例1に示す一組のサブピクセルP(j,k)とセンサ回路S(j,k)とで構成される。
即ち、フリッカ検出回路800のセンサ回路Sは、図3に示す等価回路で表され、図4あるいは図5と同じような断面構造を有する。
また、フリッカ検出回路800のサブピクセルPは、図2に示す等価回路で表され、図4あるいは図5と同じような断面構造を有する。なお、フリッカ検出回路800のサブピクセルPの画素電極は、表示部100の外にフリッカ検出用に専用に形成してもよく、あるいは、表示部100の周辺部のサブピクセルP(j,k)の任意の一つの画素電極で兼用するようにしてもよい。
さらに、当該画素電極に供給する映像電圧は、フリッカを検出し易い中間調の映像電圧を入力する。即ち、フリッカ検出回路800のサブピクセルPの画素電極として、表示部100の外にフリッカ検出用に専用に形成した場合は、常時、画素電極に、フリッカを検出し易い中間調の映像電圧を印加する。また、フリッカ検出回路800のサブピクセルPの画素電極として、表示部100の周辺部のサブピクセルP(j,k)の任意の一つの画素電極で兼用する場合には、フリッカ検出期間内に、当該サブピクセルP(j,k)の任意の一つの画素電極に、フリッカを検出し易い中間調の映像電圧を印加する。
【0017】
本実施例では、フリッカ検出回路800により、正極性の書き込み時のフリッカ検出回路800の輝度(即ち、表示部100の輝度)と、負極性の書き込み時のフリッカ検出回路800の輝度を検出する。X出力回路400は、検出した輝度の差に基づき、フリッカが小さくなるように、コモン電圧(VCOM)の値を調整する。
以上説明したように、本実施例では、フリッカ検出回路を、TFT基板の表示部100の外側に設けるようにしたので、フリッカ検出を常時行うことができる。これにより、温度や電源電圧の変動によるフリッカを検出し、当該フリッカが小さくなるように、コモン電圧(VCOM)を制御することで、フリッカ補正を行うことができるので、消費電力の少ない低い周波数駆動でもフリッカのない高品位の画像を表示することが可能となる。
なお、前述の各実施例において、CF基板側にカラーフィルタを設けてもよい。また、前述の各実施例では、対向電極がCF基板側に形成される縦電界方式の液晶表示パネルの場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、対向電極がTFT基板側に形成される横電界方式の液晶表示パネル(IPS方式の液晶表示パネル)にも適用可能である。
以上、本発明者によってなされた発明を、前記実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【0018】
【図1】本発明の実施例1の液晶表示装置の液晶表示パネルの概略構成を示すブロック図である。
【図2】図1に示すサブピクセルP(j,k)の等価回路を示す図である。
【図3】図1に示すセンサ回路S(j,k)の等価回路を示す図である。
【図4】図1に示すサブピクセルP(j,k)と、センサ回路S(j,k)の断面構造を示す模式断面図を示す。
【図5】図1に示すサブピクセルP(j,k)と、センサ回路S(j,k)の他の例の断面構造を示す模式断面図を示す。
【図6】本発明の実施例2の液晶表示装置の液晶表示パネルの概略構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【0019】
10 液晶パネル
100 表示部
101,121,780 薄膜トランジスタ
102 保持容量
103 液晶容量
120 ホトセンサ
122 容量
200 ドレイン駆動回路
300 ゲート駆動回路
400 X出力回路
720 第2基板(CF基板)
722 第2偏光板
724 対向電極
740 液晶
760 第1基板(TFT基板)
762 第1偏光板
764 ゲート絶縁膜
766 層間絶縁膜
768 画素電極
770 偏光層
790 ホトセンサ
800 フリッカ検出回路
P(j,k) サブピクセル
S(j,k) センサ回路
G(k) ゲート線
D(j) ドレイン線
X(j) 出力線
PX 画素電極
STG ストレージ線

【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1基板と、第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に挟持される液晶とを有する液晶表示パネルを備え、
前記液晶表示パネルは、複数のサブピクセルを有する表示部を有し、
前記液晶表示パネルの前記表示部は、前記各サブピクセル毎に設けられるホトセンサを有し、
前記各ホトセンサには、前記各サブピクセルにおいて輝度が変調された光が入射されることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項2】
前記第1基板側が観察面であり、
前記第2基板側にバックライトを有し、
前記各サブピクセルは、画素電極と対向電極とを有し、
前記各サブピクセルの、前記画素電極と前記各ホトセンサは、前記第1基板に形成され、
前記各ホトセンサは、前記各サブピクセルの前記画素電極の前記観察面側に形成されることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
【請求項3】
前記各サブピクセルの前記対向電極は、前記第2基板に形成されることを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置。
【請求項4】
前記第1基板は、前記観察面側に第1偏光板を有し、
前記第2基板は、前記バックライト側に第2偏光板を有し、
前記第1の基板は、前記各サブピクセルの前記画素電極の前記観察面側に、前記各ホトセンサを覆うように設けられる偏光層を有することを特徴とする請求項2または請求項3に記載の液晶表示装置。
【請求項5】
前記偏光層の偏光方向と、前記第1偏光板の偏光方向とは一致することを特徴とする請求項4に記載の液晶表示装置。
【請求項6】
前記第2基板は、前記バックライト側に偏光板を有し、
前記第1基板は、前記各ホトセンサと前記各サブピクセルの前記画素電極との間に、前記表示部を覆うように設けられる偏光層を有することを特徴とする請求項2または請求項3に記載の液晶表示装置。
【請求項7】
第1基板と、第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に挟持される液晶とを有する液晶表示パネルを備え、
前記液晶表示パネルは、複数のサブピクセルを有する表示部を有し、
前記液晶表示パネルは、前記表示部の周辺に、ホトセンサを有するホトセンサ部を有し、
前記ホトセンサには、前記ホトセンサ部において輝度が変調された光が入射されることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項8】
前記第1基板側が観察面であり、
前記第2基板側にバックライトを有し、
前記ホトセンサ部は、画素電極と対向電極とを有し、
前記ホトセンサ部の前記画素電極と前記ホトセンサは、前記第1基板に形成され、
前記ホトセンサは、前記ホトセンサ部の前記画素電極の前記観察面側に形成されることを特徴とする請求項7に記載の液晶表示装置。
【請求項9】
前記ホトセンサ部の前記対向電極は、前記第2基板に形成されることを特徴とする請求項7または請求項8に記載の液晶表示装置。
【請求項10】
前記第1基板は、前記観察面側に第1偏光板を有し、
前記第2基板は、前記バックライト側に第2偏光板を有し、
前記第1基板は、前記ホトセンサ部の前記画素電極の前記観察面側に、前記ホトセンサを覆うように設けられる偏光層を有することを特徴とする請求項8または請求項9に記載の液晶表示装置。
【請求項11】
前記偏光層の偏光方向と、前記第1偏光板の偏光方向とは一致することを特徴とする請求項10に記載の液晶表示装置。
【請求項12】
前記第2基板は、前記バックライト側に偏光板を有し、
前記第1基板は、前記ホトセンサと前記ホトセンサ部の前記画素電極との間に、前記表示部と前記ホトセンサ部を覆うように設けられる偏光層を有することを特徴とする請求項8または請求項9に記載の液晶表示装置。
【請求項13】
前記表示部の周辺の任意のサブピクセルの画素電極は、前記ホトセンサ部の画素電極を兼用することを特徴とする請求項7ないし請求項12のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
【請求項14】
前記各ホトセンサは、ダイオード接続された薄膜トランジスタで構成されることを特徴とする請求項1ないし請求項13のいずれか1項に記載の液晶表示装置。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate

【図5】
image rotate

【図6】
image rotate


【公開番号】特開2009−42702(P2009−42702A)
【公開日】平成21年2月26日(2009.2.26)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−210676(P2007−210676)
【出願日】平成19年8月13日(2007.8.13)
【出願人】(502356528)株式会社 日立ディスプレイズ (2,552)
【Fターム(参考)】