【課題】 ゴム素材Ｓの状態を撮像して検査測定する際のゴム素材内のフィラーの分散度評価を適切に行える試験片をゴム素材から切断する切断装置を提供すること。
【解決手段】 本発明の試験片切断装置１００は、ゴム素材支持部１０と、切断刃・切断刃取り付け板及び取手を備えたカッター部２０と、カッター部の旋回支持部３０と、カッター部が旋回昇降する際のカッターガイド部４０と、切断する前記ゴム素材を押さえる押付部５０と、切断する試験片の幅寸法を設定する幅寸法設定部６０とを備えて構成した。 （もっと読む）

【課題】包埋カセットに固着した包埋剤を、該包埋カセットを傷付けることなく安全且つ確実に除去することが可能であるうえ、効率良く均一な仕上がりで除去すること。
【解決手段】包埋ブロックＢが固定された包埋カセット１から、固着した包埋剤Ｐを除去する装置であって、包埋カセットが載置される載置面２ａを有し、該載置面上に載置された包埋カセットの底面１Ｃを加熱する加熱板２と、加熱板上に配設され、載置された包埋カセット１を挟み込んで、該包埋カセット１の４つの側面１Ｆ、１Ｂ、１Ｌ、１Ｒのうち少なくとも２つの側面を加熱する複数の加熱ブロック３、４と、を備え、複数の加熱ブロックのうちの少なくとも１つが、載置面の面内方向に移動可能とされ、該移動によって残りの加熱ブロックと協働して包埋カセットを挟み込む包埋剤除去装置１０を提供する。 （もっと読む）

【課題】イオンビームを用いるエッチングにより断面観察試料を作製するときに、イオンビームの遮蔽に用いられる遮蔽板であって、使用を繰り返し、エッジ面として使用できる箇所がなくなった場合でも、側面の平坦化加工を必要とせず、再利用が容易で寿命が長い遮蔽板を提供する。
【解決手段】イオンビーム照射による断面観察試料の作製において、試料の上面をイオンビームから遮蔽するために用いられる遮蔽板であって、角柱状であり、イオンビーム照射による前記試料の鏡面研磨を可能にするエッジをその側面に有し、かつ前記側面に直交する方向の厚さがイオンビーム照射径以上である遮蔽用部材の複数を、下面が平坦な板状を形成するように並列させて一体化してなること、又は遮蔽用部材とそれを保持する保持用部材を一体化してなることを特徴とする断面観察試料作製用の遮蔽板。 （もっと読む）

【課題】 従来の土質試料用サンプリング装置は、スウェーデン式サウンディング試験機等で明けられた小径の孔で、地下水の多い砂質層を多く含むような場合には、壁面が崩壊し易く、採取が非常に困難という問題があった。
【解決手段】サンプリングユニットが、土質試料を格納するための略パイプ状の格納部と、その手前側に連結ピンで連結された可変箆からなるもので、そのユニットを所定の孔の位置まで送致したり回収するための送り出し用の鋼線が、加工率７０％以上で、８００Ｎ以上のオーステライト系ステンレスの硬引線で、その硬引線に取り付けられたガイドに一体化された操作紐を地上で操作することにより、可変箆が水分を多く含んだ砂質の試料を採取する。 （もっと読む）

【課題】 速やかにかつ簡便に絶縁性無機材料の焼結体の組織観察を行うことができる組織観察方法を提供する。
【解決手段】 本発明の組織観察方法は、鏡面研磨された焼結体である試料の表面に導電性コーティング層を形成する第一ステップ（ステップＳ４）と、集束イオンビームによって、前記表面に形成された前記導電性コーティング層の一部を除去することで前記試料の表面の一部が露出した観察面を形成する第二ステップ（ステップＳ５）と、走査型イオン顕微鏡による二次電子像で、前記観察面を観察する第三ステップ（ステップＳ６）と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】ラメラを作製するための方法およびシステムを開示する。
【解決手段】方法は、マスクおよび試料のアラインメントをマニピュレータによって実行するステップ、マスクと試料との間の空間的関係を変化させることなく、マスクおよび試料をイオンミリング装置の前に配置するステップ、試料の第１露出部分を、ラメラの第１側壁が露出するまでミリングするステップ、マスクが試料の第２マスキング部分を遮蔽するように、マスクおよび試料をイオンミリング装置の前に配置するステップ、ラメラの第２側壁が露出するまで試料の第２露出部分をイオンミリング装置によってミリングするステップ、ミリング装置によってラメラの両側から物質を除去するステップ；および試料からラメラを切り離すステップを含む。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は、ビーム誘起堆積を用いて、極低温で基板上に材料を堆積するように改善した方法を供することである。
【解決手段】 ビーム誘起堆積を用いることによって、極低温にて基板上に材料を堆積する方法。前駆体気体が、前記基板の極低温よりも低い融点を有する化合物の群から選ばれる。好適には、前記前駆体気体は、所望の極低温にて0.5〜0.8の付着係数を有する化合物の群から選ばれる。この結果、前記前駆体気体は、前記所望の極低温にて、前記基板表面に吸着する前駆体分子と前記基板表面から脱離する前駆体気体分子との間で平衡に到達する。適切な前駆体気体は、アルカン、アルケン、又はアルキンを有して良い。-50℃〜-85℃の極低温では、ヘキサンが材料を堆積する前駆体気体として用いられて良い。-50℃〜-180℃の極低温では、プロパンが前駆体気体として用いられて良い。 （もっと読む）

【課題】軸状ワークを、外周の径方向張り出し部をテーブルで受け支えて吊り下げ姿勢で搬送しながら選別のための検査を行う検査装置について、検査の高速化と高精度化を図ることを課題としている。
【解決手段】回転テーブル２、吸着装置１０、回転駆動機構２０、ワーク突き上げ機構３０、および検査機４０を有し、吸着ヘッド１１とワーク突き上げピース３１が検査部５に対向して配置され、回転テーブル２が間欠的に回転して外周の切欠き溝に受け入れたワークＷを検査部５に移動させ、検査部において、ワーク突き上げ機構３０がワークＷをそのワークの頭頂部が吸着ヘッド１１に吸着・保持される位置まで下から突き上げ、回転駆動機構２０が吸着ヘッド１１と一緒にワークＷを回転させて検査機４０による検査が行われるようにした。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）により一連の回転像を撮影して画像処理を行うＴＥＭトモグラフィーにおいて、位置合わせの目印のために用いる金微粒子は、直径が数ｎｍであり、試料上に分散して載せることが困難であった。針状試料に金微粒子を載せる方法を提供する。
【解決手段】試料を集束イオンビームで針状に加工する際に、同時にマスク１０を加工形成する。次に、マスク１０を近傍に有する針状試料に対して、所定の角度を持たせて金微粒子を蒸着させると、針状試料の特定の領域には金微粒子が付着し、他の領域にはマスクにより金微粒子が付着しないので、蒸着装置内で金微粒子を付着させる領域と付着させない領域を分離することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、試料を透過した電子を用いて観察するＴＥＭやＳＴＥＭ、或いはＳＥＭにおいて、画像のサブミクロンから数１０μｍの微小寸法を高い精度で測定可能にする荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供することにある。
【解決手段】本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 注入された試料アリコート内に含有される粒子を分離するフィールドフロー分画装置。
【解決手段】 必要に応じて、上記分画装置は、そのような粒子の特定の予め規定されたクラスをその後の除去のために捕捉するために用いられてもよい。クロスフロー分画装置か非対称流フィールドフロー分画装置かに基づいて、開示される分画装置は、その分離チャンネルの長さに沿った複数の場所で、加えられた横方向流を変化させる手段を含む。複数の分離された区画は各々、別個の対応する膜支持透過性フリットセグメントの下方に横たわり、その上方の膜部分を通る局所化されたフローを制御する個々の手段を設けられている。対応する同心状区画実現例は、中空繊維分画装置と統合されると、同じタイプの区画化されたクロスフローを実現する。 （もっと読む）

【課題】降下塵を含んだ気体を収集する収集部に降下塵が滞留することがない装置を提供する。
【解決手段】気中を降下する粒子を含んだ気体を収集する収集部（３）と、この収集部（３）により収集された気中の粒子を計測する計測部（２６）とを備え、収集部（３）にシースエアを発生させるシースエア発生手段（１１）を有させると共に、収集部（３）と計測部（２６）との間に慣性力による分粒を行うインパクタ（２１）を配置する。 （もっと読む）

【課題】イオンビームを用いて試料を鏡面研磨する断面観察試料の作製方法であって、複数の試料について、分析に充分な研磨面積を得るために要する時間が短縮された方法を提供する。
【解決手段】被加工物の上部を遮蔽板で覆い、非遮蔽部をイオンビーム照射によりエッチングして鏡面研磨部を形成する断面観察試料の作製方法であって、前記被加工物が、２個の試料よりなり、前記２個の試料のイオンビーム照射される部分が、互いに密着又は近接して配置されており、かつ、イオンビームの照射方向に直交する方向、又は、イオンビームの照射方向に平行な方向に並べられていることを特徴とする断面観察試料の作製方法。 （もっと読む）

【課題】イオンビームを用いて試料を鏡面研磨する断面観察試料の作製方法であって、複数の試料について、分析に充分な研磨面積を得るために要する時間が短縮された方法を提供する。
【解決手段】被加工物の上部を遮蔽板で覆い、非遮蔽部をイオンビーム照射によりエッチングして鏡面研磨部を形成する断面観察試料の作製方法であって、前記被加工物が、２個の試料からなる対を１対以上含み、前記対を構成する２個の試料のイオンビーム照射される部分が、それぞれ、イオンビームの中心線を含む平面の両側に、前記平面に対向して配置されていることを特徴とする断面観察試料の作製方法。 （もっと読む）

【課題】迅速かつ高精度な測定を実現する試料の断面形成方法、固定用治具および測定方法、を提供する。
【解決手段】試料の断面形成方法は、減衰全反射法を利用した赤外分光法において、フィルム状の試料２１に測定用断面２２を形成するための方法である。試料の断面形成方法は、試料２１を補強用シート３１間に配置するステップと、補強用シート３１に対してその両側から試料２１を挟み込む方向の外力を作用させるステップと、補強用シート３１に外力を作用させた状態で、補強用シート３１の端部を試料２１ごと除去することによって、試料２１に測定用断面２２を得るステップとを備える。 （もっと読む）

【課題】撮像によるフィラーの分散度評価を適切に行えるフィラー分散度の評価試験体の前処理方法、分散度評価方法、分散度評価装置を提供する。
【解決手段】未加硫ゴム又は加硫ゴムを主成分としフィラーを含有するゴム素材のフィラー分散度を測定する際に使用する評価試験体７の前処理方法として、冷却手段９によって評価用ゴム素材Ｓを所定温度で所定時間冷却する工程と、冷却されて硬化した前記評価用ゴム素材Ｓを切断手段１０で切断し、得られた評価試験体７の切断面が前記フィラー分散度を評価する測定部８を形成できるようにする切断工程とを備えた前処理方法とした。 （もっと読む）

【課題】被検体の表面を転写した型取り材から観察用試料を簡便かつ効率的に作製できる観察用試料作製装置を提供することにある。
【解決手段】被検体の表面を転写した型取り材から観察用試料を作製する観察用試料作製装置であって、型取り材Ｍを支持する支持台１１と、支持台１１上に設けられ、所定の方向にて隣接して配置されると共に、当該所定の方向に直交する方向で対向して配置される６つの支柱２１〜２６と、支柱２１〜２６のそれぞれに取り付けられる押え板３１〜３６と、押え板３１〜３６を固定するナット４１とを備える支持機構１０を有する。 （もっと読む）

【課題】正確な診断を可能にする凍結薄切片作製装置を提供することを目的としている。
【解決手段】冷凍装置１内に設けられ、且つ、人体等から採取される生体組織又は生体細胞である試料２１と、該試料２１が含有する水分を過冷却状態とするようなマイクロ波を前記試料２１に照射可能なマイクロ波照射部２８と、前記試料２１の温度を検知する温度センサ２４と、該温度センサ２４にて検知した温度に基づいて前記マイクロ波照射部２８にて照射されるマイクロ波を可変してなるマイクロ波生成部２５とを有してなる凍結装置２と、前記冷凍装置１内に設けられ、且つ、前記凍結装置２を用いて凍結させた試料２１を薄切可能な薄切装置３とを有してなることを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】所望深度の地盤試料を確実に採取することが出来ると共に、地盤調査にあたって十分な採取量を確保することができる地盤試料採取装置を提供する。
【解決手段】軸方向に連結される複数の中空状又は中実状のロッドと、先端部に設けられた地盤試料Ｈ１を採取する採取ロッド１とを有するスウェーデン式サウンディング試験機を用いた地盤試料採取装置であり、採取ロッド１は、地盤試料Ｈ１を収容する収容部１３と、上部に設けられている窓開口部１０と、一側縁部に、窓開口部１０を閉塞する位置と開放する位置とに亘って移動可能に設けられた蓋体１１とを有し、窓開口部１０を閉塞する位置に蓋体１１を維持する蓋ストッパーが配設され、蓋体１１の維持位置を解除する方向に蓋ストッパーを移動できる解除部材が配設され、中空状のロッド２から外部へ出没可能か、又は、採取ロッド１内から出没させ、且つ、中実状のロッドの外周に沿うように配設される。 （もっと読む）

【課題】採取針や採取刃などを用いて、厚みが３００ｎｍ以下の極薄層の微小試料片を採取すると、基板層の一部が採取サンプル中に混入してしまい、積層体表面の極薄層を構成する成分を精度良く分析することが困難であった。
【解決手段】厚みが１０〜３００ｎｍの極薄層と、基板層とからなる積層体の表層として存在する極薄層を構成する成分の分析方法であり、
前記極薄層を構成する成分を１０００℃以下の温度で熱分解しない粉末を用いて擦り取り採取する工程と、前記工程により採取された前記成分を熱分解ガスクロマトグラフ質量分析装置に供する工程とを含むことを特徴とする分析方法。 （もっと読む）