【課題】捕集板上に濃淡や縞が生じないようにするとともに、粒子を均一に堆積することができるようにした粒子分粒捕集機構を提供する。
【解決手段】ノズルプレート１と対向するように配設され、ノズルプレートのノズルを通過した気体を衝突させて浮遊粒子を捕集する捕集板と、捕集板を回転させる回転機構とを備えた粒子分粒捕集機構であって、ノズルプレート１に形成されるノズルが、少なくとも１本の曲線スリット６からなり、捕集板の回転軸を延長した線上にくるノズルプレートの位置をノズルプレートの中心として、ノズルプレート１の中心近傍の円形領域２を除いた円環状領域３内で、この曲線スリット６が当該円環状領域３の内周円４から外周円５に向かう曲線を形成するようにすることで、均一な分布にする。 （もっと読む）

【課題】微小試料を加工する際のユーザの負担を効果的に低減できる微小試料の加工方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る微小試料の加工方法は、微小試料の断面のＳＥＭ画像を取得するステップと、取得したＳＥＭ画像の一部の領域を指定するステップと、指定した領域の濃淡度を指定するステップと、集束イオンビームを照射して、微小試料を加工するステップと、加工した微小試料の断面のＳＥＭ画像を取得するステップと、取得したＳＥＭ画像の指定した領域の濃淡度を算出するステップと、算出した濃淡度が、指定した濃淡度を満たすかどうかを判定するステップとを具備し、算出した濃淡度が指定した濃淡度を満たすまで、微小試料を加工するステップから濃淡度を算出するステップまでを繰り返すことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】フィルムやシート状の観察用対象物について、凍結破断法による断面観察用試料作成時における損傷や物理的変性を軽減し、容易かつ簡便に、微小、微量であっても断面作成が可能な冶具を提供する。
【解決手段】フィルムやシート状の観察用対象物から凍結破断法によって観察用対象物の破断面を作成する観測用試料作成冶具であって、観察用対象物から切り出した試料を固定する２つの固定台と、固定台を保持するホルダーと、固定台に試料の両端を固定するための２つの固定具と、ホルダーに固定された柄と、２つの固定台の一方の固定台に固定された柄と、を備え、上記柄を固定した固定台を可動可能とし、他の一方の固定台をホルダーに固定することを特徴とする観察用試料作成用治具。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で、フィルタ交換の煩わしさを解消することができる浮遊粒子状物質の採取装置を提供することを目的とする。
【解決手段】浮遊粒子状物質の採取装置は、試料大気中に含まれる浮遊粒子状物質のうち粒径が予め定められた値以下である微小粒子を含む浮遊粒子状物質含有空気を得る少なくとも１つ以上の分級手段と、上記浮遊粒子状物質含有空気から上記微小粒子を採取する複数の採取手段と、上記浮遊粒子状物質を含む試料大気を吸引するための吸引手段と、上記吸引手段によって吸引される上記試料大気の流量を調節する流量制御手段と、上記浮遊粒子状物質含有空気中の上記微小粒子が、予め定められたタイミングで異なる上記採取手段によって採取されるように上記試料大気の流れを選択的に切替える切替手段と、上記切替手段に切替指示を出力する切替制御手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】清浄な検査断面を簡単かつ迅速に形成することができる、断面観察用試料製造装置及び断面観察用試料の製造方法を提供する。
【解決手段】この製造装置１０は、試料１の一部を遮蔽する遮蔽材２０と、前記遮蔽材２０の端縁部に沿って、前記試料１の表面にイオンビームを照射して、遮蔽材２０で覆われた部分と遮蔽材２０で覆われていない部分との境界に沿って前記試料１の表面に切欠溝を形成する切欠溝形成手段（イオン銃１３）と、前記切欠溝に沿って試料１に圧力を加えて、前記試料１を切欠溝に沿って劈開する劈開手段２３と、劈開された試料１の検査すべき断面にイオンビームを照射して検査断面を加工研磨する加工研磨手段（イオン銃１３）とを備えている。 （もっと読む）

【課題】アトムプローブ観察用の試料を容易に作製すること。
【解決手段】観察対象となるモデル合金１から、透過型電子顕微鏡で観察可能な厚さまで薄膜化された薄膜試料２が作製され、薄膜試料２にマーク３の作製が行なわれる。そして、マーク３近傍を照射部位として、超高圧電子線の照射が行なわれ、マーク３の近傍に位置する薄膜試料２の上面にて、保護膜４の形成が行なわれる。そして、保護膜４および保護膜４の下面にある薄膜試料２は、三次元アトムプローブを用いた解析を行なうために採取される対象である採取対象試料５とされ、アトムプローブ観察用の試料が作製される。 （もっと読む）

被験者の発散された息からサンプルを収集するための携帯型装置（１０）が開示されている。発散された息中の製剤原料が検出されるか、又は測定される。当該サンプルは質量分析法を用いてさらなる分析のために収集される。当該装置は、サンプリングユニット（１４）と、当該サンプリングユニット（１４）を保持するために配列されたハウジング（１２）とを備え、当該サンプリングユニット（１４）は被験者から発散された息から少なくとも１つの製剤原料の非揮発性物質及び揮発性物質を収集するために適合されている。前記ハウジング（１２）は、被験者が当該ハウジング（１２）内のサンプリングユニット（１４）へ息を発散するための少なくとも１つの入口（１５）と、当該発散された息を出すための少なくとも１つの出口（１６）を有している。 （もっと読む）

【課題】鋳造品質を確保しつつ溶融パラフィンを迅速に凝固させることができる包埋皿を提供する
【解決手段】検体（Ｓ）をパラフィン（Ｐ）等の鋳込み材料で鋳込む包埋処理を実施するための包埋皿（１）は、底壁（１１）と、底壁の周縁に立設されて、底壁とともに鋳込み材料が注入されるキャビティ（１０）を区画する複数の側壁（１２）と、キャビティの開口部を囲んで設けられるとともに、カセット等のベース材料を載置するための載置壁（２）と、を備えており、底壁（１１）の厚さ（ｔ11）は、側壁（１２）および載置壁（２）の厚さより小さい。 （もっと読む）

【課題】簡便な操作で、迅速に菌体に吸着したポリフェノールを検出できるポリフェノールの検出法の提供。
【解決手段】ポリフェノールを含有する試料と菌体とを反応させた後、該反応液にセリウム化合物を作用させ、次いで菌体表層部に形成されたセリウムの結晶物を電子顕微鏡により観察する菌体に吸着したポリフェノールの検出法。 （もっと読む）

部分希釈排気サンプリングシステム（２０）の能力を、動力源（３０）からの排気に２つの異なる評価を同時に行うように拡大する。粒子状物質生成に関する試験のほか、システム（２０）は、ＮＯｘおよび二酸化炭素などの望まないガス状排出物に関して排気を同時に評価し得、および／または排気サンプル中の粒径および粒子分布を同時に評価し得る。動力源（３０）の排気流からサンプル流を抜き取ってサンプル流に希釈剤を添加した後、希釈されたサンプル流は、第１の部分流と第２の部分流とに分割される。追加的な排気評価装置（８１、８３、８６、８７）が微粒子測定重量フィルタ（５０）と並列であるかまたはフィルタ（５０）と直列であるかに依存して、補助排気評価装置（８１、８３、８６、８７）に向けられた希釈されたサンプル流の部分を計上するために希釈流アクチュエータ（４４）および／または出口アクチュエータ（５３）を調整し得る。
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【課題】根固め改良土（未固結土）を採取する土質試料採取装置および土質試料採取方法を提供する。
【解決手段】土質試料の採取装置２は、土質試料採取用容器であるシリンダケース５と、土質試料採取用シリンダケース５の下端部に取り付けた下部昇降ガイドレール部材４と、同試料採取用シリンダケース５内を昇降する上部ピストン６及び下部ピストン７と、直動形アクチュエータ８と、下部ピストン７の下方へ突き出された出力ロッド８ｂへ設けられたロック解除入力部材９と、下降したロック解除入力部材９と連係する配置に設けられたロック解除指示部材１５と、上部ピストン６の上面部へ設置された上部フレーム１２と、上部フレーム１２の内側に設置された駆動エネルギ源部１６と、下部ピストン７の下面に設置されたロック部材１４とで構成され、プレボーリングされた杭孔３の中へ下ろして試料採取に使用される。 （もっと読む）

本発明は、ディープウェルプレートと、ディープウェルプレートをしっかりと封止するようにスナップ又はクランプ固定手段によりディープウェルプレートに取り外し可能に嵌合することができる蓋システムとを備えるディープウェルプレートシステム、及び、本発明によるディープウェルプレートシステム内で細胞を培養する方法に関する。 （もっと読む）

【課題】均一な厚さとなる電子顕微鏡用の試料を作製する。
【解決手段】試料の面方向に対し略垂直となる第１の角度より電子を照射し、第１の長さを測定する第１の測定工程と、第１の測定工程の後、試料の面方向に沿った集束イオンビームを照射し、試料を薄く加工する加工工程と、加工工程の後、試料の面方向に対し、第１の角度とは異なる第２の角度より電子を照射し、第２の長さを測定する第２の測定工程と、第２の測定工程の後、第１の長さと前記第２の長さに基づき、試料の厚さを算出する厚さ算出工程とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】使用する電解液が極めて少量であり、環境への負荷が劇的に減少すると共に、透過型電子顕微鏡による試料の観察視野も広く且つ安価な電解研磨装置を提供する。
【解決手段】試料及び又は棒状電極の先端の位置を観察する観察鏡と、試料セル保持台に着脱可能に取り付けられ、上下方向に開口部を有し、開口部において試料を均一に保持すると共に少量の電解液を保持する試料セルと、試料セルの対極として試料に近接して設けられた棒状電極と、棒状電極と試料との間隔を調整する位置調整手段と試料と棒状電極とに電圧を印加する電圧印加手段とを備えている。 （もっと読む）

【課題】より明瞭な観察又は分析を可能にする試料、試料作製方法及び試料作製装置を提供すること。
【解決手段】試料作製方法は、第１面１０ａが上方を向き、コンタクトを有する試料２０を、第１面１０ａが側方ないし下方を向くように試料２０の向きを変える回転工程と、試料２０に対して、コンタクトの短手方向から集束イオンビームを照射する照射工程とを含む。照射工程において、回転工程により上面を向いた第２面１０ｂに対して集束イオンビームを照射し、コンタクトの延在方向に沿うように試料２０に薄膜領域２０ａを形成する。 （もっと読む）

【課題】 様々な薬剤液を使用して組織試料（２１）の浸潤を加速させることを実現する。
【解決手段】 組織浸潤装置は、組織試料（２１）及び、組織試料に浸潤する誘電体液（１９）を受け入れるように適合された反応チャンバ（４）を含む。反応チャンバは、底部（３）及び、マイクロ波照射に対して透過性の少なくとも１つの窓部分（５）を有する円周状の壁（２）を含む。保持要素は、所定の時間にわたって、前記窓部分（５）から前記誘電体液（１９）の３ＰＤの距離に、前記組織試料（２１）を保持する。ＰＤは、前記誘電体液（１９）への前記マイクロ波の浸透深度であり、最初のマイクロ波の電磁界強度が１／ｅまで減少している深度として定義される。マイクロ波システム（７）は、マイクロ波を、前記窓部分（５）を介して前記反応チャンバ（４）に照射する。 （もっと読む）

【課題】より明瞭な観察又は分析を可能にする試料、試料作製方法及び試料作製装置を提供すること。
【解決手段】試料作製方法は、一方の側に切欠部３０ａを有し、試料２０を支持する支持基板３０を作製する支持基板作製工程と、試料２０のコンタクト側が支持基板の一方の側を向き、平面投影面において試料２０の一部が切欠部３０ａの断面に重なるように試料２０と支持基板３０とを接合する接合工程と、試料２０の面１０ｂ側（基板側）から集束イオンビームを照射して、切欠部と重なった部分において、コンタクトの延在方向に沿うように試料に薄膜領域２０ａを形成する照射工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】電子顕微鏡における試料の検査方法を提供する。
【解決手段】試料キャリア500は、パッド505,508と接続する電極504,507を有する。領域A上に試料は設けられる。前記試料を前記試料キャリア上に設けた後、前記試料上に伝導性パターンが堆積される。それにより前記試料の特定部分に電圧又は電流を印加することが可能となる。前記試料上への前記パターンの堆積は、たとえばビーム誘起堆積又はインクジェットプリントによって行われて良い。前記試料内での電子部品-たとえばレジスタ、キャパシタ、インダクタ、及びFETのような能動素子-の構成についても教示する。 （もっと読む）

本発明は、低分子芳香族化合物から構成され、かつ横方向に架橋される少なくとも１つの単分子層を含む、膜であって、１ｎｍ〜２００ｎｍの範囲の厚み、及び０．１ｎｍ〜１μｍの範囲の直径を有する開口の形態の穿孔を有する、膜に関する。本発明は更に、その製造方法、及びその使用に関する。 （もっと読む）

【課題】切削しながら表面からサブミクロンの深さにおける表面サンプルの状態を分析できる表面分析装置を提供する。
【解決手段】表面分析対象となる試料の表面を切削する切刃と、この試料から削られた表面サンプル及びこの切刃に分析光を照射可能な光源と、この分析光がこの表面サンプルに照射されて到達する面であってこの表面サンプルをバックアップするバックアップ面と、この表面サンプルからの光を通過させる光路とを備え、この試料若しくはこの切刃を相対的に移動して表面サンプルの表面からの深さを変えることができる表面分析装置を提供する。 （もっと読む）