説明

光半導体素子用ダイボンド剤組成物及び該組成物を用いてなる光半導体装置

【課題】耐熱性、耐UV性及び接着性に優れた硬化物を与える光半導体素子用のダイボンド剤組成物を提供する。
【解決手段】下記成分を含む光半導体素子用ダイボンド剤組成物。
(A)一般式(1)の単位をモル分率0.25〜0.75で含み、一般式(3)で表される単位をモル分率0.25〜0.75で含み、エポキシ当量200〜1300g/eqのシリコーン樹脂、

[RSiO(3−x)/2] (1)
〔式中、
は式(2):
【化1】


(式中、Rは二価の基)で表される基、
は水酸基、一価炭化水素基、又はアルコキシ基、
xは0、1もしくは2の整数]、

一般式(3):
[(RSiO)] (3)
(式中、Rは一価炭化水素基であり、nは3〜15の整数)
(B)上記式(2)の基を有するエポキシ樹脂
(C)硬化剤、
(D)硬化触媒、
(E)無機充填剤
(F)シランカップリング剤
(G)酸化防止剤

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、光半導体素子を基板等に接着するためのダイボンド剤組成物に関し、詳細には、脂環式エポキシ基及び所定長さの直鎖オルガノポリシロキサン構造を有するシリコーン樹脂と、脂環式エポキシ樹脂とを含み、耐熱性、耐UV性及び接着性に優れた硬化物を与えるダイボンド剤組成物及びそれを用いてなる光半導体装置に関する。
【背景技術】
【0002】
光半導体素子用ダイボンド剤組成物としては、接着性や機械的強度に優れるビスフェノールA型エポキシ樹脂と、UV吸収の無いエポキシ樹脂、例えば、水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂或いは脂環式エポキシ樹脂と、硬化剤および硬化触媒を含む組成物が多用されている。しかし、LED素子の輝度及び出力が高くなるのに伴い、LED素子からの光、熱等によって、接着層の変色及びクラックの問題が起きている。
【0003】
これらの問題を解決するものとして、UV吸収が無く且つ可撓性のある硬化物を与えるシリコーン樹脂にエポキシ基を導入した樹脂が知られており、例えば、グリシジル基、エポキシシクロヘキシル基等の環状エーテル含有基を1個以上有するシリコーン樹脂(特許文献1)がある。また、封止剤用途ではあるが、エポキシアルコキシシランとシラノールとの反応生成物(特許文献2)、及び、脂環式エポキシ変性シリコーン樹脂と脂環式エポキシ樹脂を併用したもの(特許文献3)が知られている。しかし、これらのいずれも、耐熱性、接着性の点で、ダイボンド剤としては満足の行くものではない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2008−45088号公報
【特許文献2】特開平7−97433号公報
【特許文献3】特開2006−282988号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、耐熱性、耐UV性及び接着性に優れた硬化物を与える光半導体素子用のダイボンド剤組成物を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明者らは、脂環式エポキシ基及び所定長さの直鎖オルガノポリシロキサン構造を有するシリコーン樹脂と、脂環式エポキシ樹脂を併用することにより、上記課題を達成できることを見出した。
【0007】
即ち、本発明は、
下記(A)〜(G)成分を含む光半導体素子用ダイボンド剤組成物を提供する。
(A)一般式(1)で表される構造単位をモル分率0.25〜0.75で含み、一般式(3)で表される構造体単位をモル分率0.25〜0.75で含有してなり、エポキシ当量が200〜1300g/eqであるシリコーン樹脂 100質量部、
【0008】
一般式(1):
[RSiO(3−x)/2] (1)
〔式(1)において、
は下記式(2):
【0009】
【化1】

【0010】
(式(2)において、RはC1−20二価の基である)
で表される基、
は水酸基、C1−20一価炭化水素基、又はC1−6アルコキシ基であり、該シリコーン樹脂中に複数のR2があるときそれらは同一又は異なり、
xは0、1もしくは2の整数であり、該シリコーン樹脂中に複数のxがあるときはそれらは同一又は異なる。]、
【0011】
一般式(3):
[(RSiO)] (3)
(式中、RはC1−20一価炭化水素基であり、nは3〜15の整数である)
【0012】
(B)上記式(2)で表される基を有するエポキシ樹脂 10〜100質量部
(C)エポキシ基との反応性の官能基を有する硬化剤 (A)成分及び(B)成分中のエポキシ基の合計1モルに対して、前記エポキシ基との反応性の官能性基が0.3〜1.0モルとなる量
(D)硬化触媒 (A)成分と(B)成分の合計100質量部に対して0.01〜3質量部
(E)無機充填剤 (A)〜(D)成分の合計100質量部に対し3〜30質量部
(F)シランカップリング剤 0.1〜0.5質量部
(G)酸化防止剤 0.1〜0.5質量部。
【0013】
本発明は、また、上記のダイボンド剤組成物が施与されてなる光半導体装置を提供する。より具体的には、基板と、該基板上に該ダイボンド剤組成物の硬化物層により接着された光半導体素子とを備えた光半導体装置を提供する。
【発明の効果】
【0014】
上記本発明の組成物は、耐熱性、耐UV性及び接着性に優れ、ダイボンド剤として好適な硬化物を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
【図1】合成例1で得られたオルガノポリシロキサンの29Si−NMRによる測定結果を示す。
【発明を実施するための形態】
【0016】
<(A)シリコーン樹脂>
(A)シリコーン樹脂は、式(1):
[RSiO(3−x)/2] (1)
(式(1)において、Rは下記式(2):
【0017】
【化2】

【0018】
(式(2)において、RはC1−20二価の基である)
で表される基、
は互いに独立に水酸基、C1−20一価炭化水素基、及びC1−6アルコキシ基から選ばれる基であり、
xは0、1もしくは2の整数である。]
で表される少なくとも1種の構造単位(以下、「単位a」ともいう)をモル分率0.25〜0.75で、そして
式(3):
[(RSiO)] (3)
(式中、Rは、互いに独立に、C1−20一価炭化水素基であり、nは3〜15の整数である)
で表される構造単位(以下、「単位b」ともいう)を、モル分率0.25〜0.75で、
含有してなり、エポキシ当量が200〜1300g/eqであるシリコーン樹脂である。
【0019】
(A)成分のシリコーン樹脂は単位a及び単位b以外に場合によってはその他のシロキサン単位(以下、「単位c」ともいう)を構造単位として含んでもよい。単位cとしては、例えば、式(4):
[RySiO(3−y)/2] (4)
(式(4)において、Rは例えばフェニル基、トルイル基、ナフチル基等のアリール基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等のシクロアルキル基であり、好ましくはフェニル基であり、
は前記の通りであり、
yは0、1もしくは2の整数であり、該シリコーン樹脂中に複数の単位cがあるときはそれらの単位cにおいて同一又は異なる。]
単位cとしてはRがフェニル基である場合、樹脂強度、接着力の向上という点で有利である。
【0020】
単位cの(A)成分のシリコーン樹脂におけるモル分率は0〜0.3であり、好ましくは0〜0.2である。
【0021】
(A)成分のシリコーン樹脂は、好ましい例として下記平均組成式(5)で表すことができる。
【0022】
【化3】

【0023】
(式(5)において、R、R、R、x及びnは上記の通りであり、
はアリール基又はシクロアルキル基、
yは独立に0、1又は2の整数、
aは0.25〜0.75の数、
bは0.25〜0.75の数、
cは0〜0.3の数、但しa+b+c=1、である。)
【0024】
式(3)及び式(5)において、nは3〜15、好ましくは3〜10の整数である。nが前記下限値未満では、耐熱性が悪く、一方、nが上記上限値を超えると、硬化物の硬度及び接着強度が低くなる。xは互いに独立に0、1又は2の整数である。該シリコーン樹脂には、xが0である単位(T単位)、xが1である単位(D単位)及びxが2である単位(M単位)が一分子中に共に存在している。これら単位の存在割合は後述する製造方法において用いる単量体(エポキシ基含有シラン)におけるRの種類及び加水分解・縮合の進行程度に依存する。T単位、D単位及びM単位の存在割合は、T単位:(D単位とM単位の合計)のモル比が、好ましくは1:99〜60:40、より好ましくは2:98〜58:42、さらに好ましくは4:96〜56:44、さらに一層好ましくは5:95〜50:50である。さらに、T単位:D単位:M単位のモル比は、好ましくは1:84:15〜60:39:1であり、より好ましくは2:82:16〜58:41:1であり、さらに好ましくは4:78:18〜56:42:2、さらに一層好ましくは5:75:20〜50:48:2である。T単位の割合が多すぎると、硬化物の耐光性が悪くなる傾向がある。
【0025】
式(3)で表される(RSiO)単位において、例えば、nが3の単位は、下記構造である。
【0026】
【化4】

【0027】
該(RSiO)単位は、該シリコーン樹脂が直鎖状である場合にはその主鎖にあってもよいし、分岐状であればいずれの分岐した鎖にあってもよい。該(RSiO)単位を含むことで、耐熱衝撃性に優れた硬化物を得ることができる。
【0028】
式(1)において、Rは下記式(2)で表される、エポキシシクロヘキシル基を含む一価の基である。
【0029】
【化5】

【0030】
式(2)において、RはC1−20二価の基であり、例えば、メチレン、エチレン、プロピレン等のアルキレン基、オキシメチレン、オキシエチレン、オキシプロピレン等のオキシアルキレン基(即ち−OR−、ここでRはアルキレン基で式(2)においてシクロヘキサン環に結合する)、カルボニル基、及びオキシカルボニル基(即ち−OC(=O)−、式(2)においてカルボニル基側がシクロヘキサン環に結合する)が包含される。Rとして好ましいのはアルキレン基であり、より好ましくはエチレン基である。斯かるエチレン基を有する基として、β−(3,4−エポキシシクロへキシル)エチル基が挙げられる。
【0031】
(A)成分のシリコーン樹脂において、Rは、1分子あたり2〜50個、好ましくは5〜30個存在する。該基が前記下限値より少ないと、組成物を硬化して得られる硬化物の硬度が低く、前記上限値を超えると、該硬化物の強度が低くクラックを生じ易くなる。
【0032】
は、水酸基、C1−20一価炭化水素基、及びC1−6アルコキシ基から選ばれる基である。該炭化水素基としては、メチル基、エチル基、プロピル基及びブチル基等のアルキル基、シクロペンチル基及びシクロヘキシル基等のシクロアルキル基、フェニル基等のアリール基、トリル基等のアルカリール基、ノルボネニル基等の架橋環式基が例示される。C1−6アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基が挙げられる。好ましくは、Rはメチル基またはフェニル基である。
【0033】
は、互いに独立に、C1−20一価炭化水素基であり、Rに関して、上述した基が例示される。
【0034】
aは0.25〜0.75の数、好ましくは0.4〜0.7の数である。aが前記下限値未満では、エポキシ基量が少ないため、組成物の硬化度が低く、前記上限値超ではエポキシ基量が多いため、合成した樹脂がゲル化してしまい、好ましくない。bは0.25〜0.75の数、好ましくは0.3〜0.6の数である。cは0〜0.3の数、好ましくは0〜0.2の数である。cが前記上限値を超えると、硬化物の耐光性が悪くなる傾向がある。式(5)は各構造単位の平均的存在割合を示す組成式であり、a+b+c=1である。
【0035】
(A)成分は、下記式(6)で示される直鎖オルガノポリシロキサンと、
【0036】
【化6】

【0037】
(上式において、Rは上述のとおりであり、Xは加水分解性基、例えばアルコキシ基、及びハロゲン原子であり、mは1〜13の整数である。)
下記式(7):
【0038】
【化7】

【0039】
(上式において、R1及びRは上述のとおりであるが、Rの少なくとも1個は水酸基又はC1−6アルコキシ基である。)
で表されるエポキシ基含有シランを、必要に応じて、任意的な単位cを形成するためのモノマーである、式(8):
【0040】
【化8】

【0041】
(上式において、R及びRは上述のとおりであるが、Rの少なくとも1個は水酸基又はC1−6アルコキシ基である。)
で表されるシランとともに、定法に従い加水分解及び縮合反応させることによって得ることができる。
【0042】
得られる(A)成分のシリコーン樹脂は、ポリスチレン換算の重量平均分子量が1,000〜30,000、好ましくは2,000〜20,000である。また、エポキシ当量が200〜1300g/eq、好ましくは300〜1100g/eqである。エポキシ当量が前記下限値未満では、硬化物が硬くなり過ぎ、クラックが起こり易くなる。一方エポキシ当量が前記上限値を超えては、硬化物の接着性が悪くなる。
【0043】
<(B)エポキシ樹脂>
本発明の組成物は、上記式(2)で表される基を有するエポキシ樹脂を含む。好ましくは、上記式(2)で表される基を2つ、但し、Rは互いに異なっていてよい、を含む。後述の実施例で示すように、該エポキシ樹脂は、該エポキシ樹脂と同じくシクロヘキサン環を備える水添型エポキシ樹脂を併用した場合とほぼ同等の接着性を示しながら、水添型エポキシ樹脂よりも耐熱性、耐UV性に優れた硬化物を与える。最も好ましくは、下記式(9)で示される3,4−エポキシシクロヘキシルメチル3,4−エポキシシクロヘキサンカルボキシレートが使用される。
【0044】
【化9】

【0045】
該樹脂は、ダイセル化学工業(株)より、商品名「セロキサイド2021P」で市販されている。
【0046】
(B)成分のエポキシ樹脂の配合量は、(A)成分100質量部に対して、10〜100質量部、好ましくは20〜80質量部である。配合量が前記下限値未満では、十分な接着強度が得られず、一方、前記上限値を超えては、耐熱性、耐UV性が低下する。
【0047】
<(C)硬化剤>
硬化剤としては、エポキシ基と反応性の官能基を有する硬化剤が使用される。例えば、アミン系硬化剤、フェノール系硬化剤、酸無水物系硬化剤が挙げられ、そのうち酸無水物系硬化剤が好ましい。酸無水物系硬化剤としては、無水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、3−メチル−ヘキサヒドロ無水フタル酸、4−メチル−ヘキサヒドロ無水フタル酸、3−メチル−ヘキサヒドロ無水フタル酸と4−メチル−ヘキサヒドロ無水フタル酸との混合物、テトラヒドロ無水フタル酸、無水ナジック酸、無水メチルナジック酸、ノルボルナン−2,3−ジカルボン酸無水物、メチルノルボルナン−2,3−ジカルボン酸無水物、2,4−ジエチルグルタル酸無水物などを挙げることができ、これらのうち、ヘキサヒドロ無水フタル酸及びその誘導体が好ましい。
【0048】
(C)成分の硬化剤の配合量は、(A)成分と(B)成分中のエポキシ基の合計1モルに対して、エポキシ基と反応性を有する官能基(酸無水物系硬化剤の場合には−CO−O−CO−で表される酸無水物基)が0.3〜1.0モルとなる量、好ましくは0.4〜0.8モルとなる量である。ここで、「エポキシ基と反応性を有する官能基」とは、アミン系硬化剤が有するアミノ基、フェノール系硬化剤が有するフェノール性水酸基、酸無水物系硬化剤が有する酸無水物基である。
【0049】
<(D)硬化触媒>
硬化触媒としては、テトラブチルホスホニウム・O,O−ジエチルホスホロジチオエート、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレートなどの第四級ホスホニウム塩、トリフェニルフォスフィン、ジフェニルフォスフィン等の有機フォスフィン系硬化触媒、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7、トリエタノールアミン、ベンジルジメチルアミン等の三級アミン系硬化触媒、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7 フェノール塩、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7 オクチル酸塩、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7 p-トルエンスルホン酸塩、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7 ギ酸塩等の第四級アンモニウム塩、オクチル酸亜鉛、ナフチル酸亜鉛等の有機カルボン酸塩、アルミニウムビスエチルアセトアセテート・モノアセチルアセトネート、アルミニウムエチルアセトアセテート・ジイソプロピレート等のアルミキレート化合物、2−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾールなどのイミダゾール類などを挙げられ、望ましくは第四級ホスホニウム塩、第四級アンモニウム塩である。
【0050】
(D)硬化触媒の配合量は(A)成分と(B)成分の合計100質量部に対して0.01〜3質量部、好ましくは0.05〜1.5質量部である。硬化触媒の配合量が前記下限値より少ないと、エポキシ樹脂と硬化剤との反応を促進させる効果が十分ではないおそれがある。逆に、硬化触媒の配合量が前記上限値より多いと、硬化時やリフロー試験時の変色の原因となるおそれがある。
【0051】
<(E)無機充填剤>
無機充填剤としては、シリカ、アルミナ、ジルコニア、水酸化アルミニウム、酸化チタン、ベンガラ、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、窒化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化ジルコニウム、窒化ホウ素、窒化ケイ素、炭化ケイ素、及びこれらの混合物が挙げられ、粒径、純度等の点で、シリカが好適に使用される。
【0052】
前記シリカとしては、湿式シリカ、乾式シリカ及びこれらの混合物であってもよい。例えば、沈降シリカ、シリカキセロゲル、ヒュームドシリカ、溶融シリカ、結晶性シリカおよびこれらの混合物が挙げられ、これらの表面を有機シリル基で疎水化処理したものであってよい。これらの市販品としては、例えば、商品名で、アエロジル(日本アエロジル(株)製)、ニプシル(日本シリカ(株)製)、キャボシル(米国キャボット社製)、サントセル(米国モンサント社製)等が挙げられる。
【0053】
該無機充填剤のBET法による比表面積(BET比表面積)は、50m/g〜400m/gであることが好ましく、より好ましくは150m/g〜380m/gであり、180〜350m/gであることが特に好ましい。斯かる範囲内であると、組成物の良好なチクソ性が得られる。
【0054】
(E)成分の配合量は、前記(A)〜(D)成分の合計100質量部に対して、3〜30質量部、より好ましくは3〜27質量部、特に好ましくは5〜25質量部である。斯かる範囲を超えては、組成物の取り扱い性が悪くなり、ディスペンスによる塗布やスタンピング等による転写後の形状保持に好適なチクソ性が得られ難くなる。
【0055】
<(F)シランカップリング剤>
シランカップリング剤としては、エポキシシラン、ビニルシラン、メタクリロキシシラン、アミノシラン、メルカプトシラン化合物等があり、これらのうちメルカプト系シランカップリング剤が好ましい。(F)成分の配合量は、(A)成分100質量部に対して、0.1〜0.5質量部、好ましくは0.2〜0.3質量部である。
【0056】
<(G)酸化防止剤>
酸化防止剤としては、亜リン酸化合物、ヒンダードフェノール系酸化防止剤等があり、ヒンダードフェノール系酸化防止剤が好ましい。また、紫外線吸収剤としては、ヒンダードアミン系紫外線吸収剤が好ましい。(G)成分の配合量は、(A)成分100質量部に対して、0.1〜0.5質量部、好ましくは0.1〜0.3質量部である。
【0057】
<その他の成分>
上記各成分に加えて、本発明の目的を阻害しない範囲の量で、慣用の添加剤、例えば、紫外線吸収剤、劣化防止剤、蛍光体、熱可塑剤、希釈剤などを必要に応じて併用しても差し支えない。
【0058】
本発明の組成物は、上記各成分および必要により各種の添加剤を配合して、溶解または溶融混合することで製造することができる。溶融混合は、公知の方法でよく、例えば、上記の成分をリアクターに仕込み、バッチ式にて溶融混合してもよく、また上記の各成分をニーダーや熱三本ロールなどの混練機に投入して、連続的にて溶融混合することができる。(D)硬化触媒は、(B)硬化剤に予め加熱溶解混合し、混合の最終段階でエポキシ樹脂等と分散混合することが好ましい。
【0059】
得られたダイボンド剤組成物で、光半導体素子を基板等に接着する場合には公知の方法、例えばスタンピングを用いて施与することができる。施与された組成物を、予め、所定の温度で加熱し、必要に応じて水、有機酸、アルコール等を添加して、高粘度化(またはB-ステージ化)してもよい。
【0060】
ダイボンド剤の硬化条件は装置に応じて適宜設定することが好ましいが、通常、100℃で1〜2時間程度加熱し、さらに150〜200℃で0.1〜2時間加熱する。
【実施例】
【0061】
以下、実施例により本発明を説明するが、本発明はこれらの実施例に制限されるものではない。下記中の「部」は質量部を意味し、Meはメチル基、Phはフェニル基を表す。
【0062】
−(A)成分の合成−
以下の合成例において、生成物を示す平均組成式におけるnの平均値は、GPC測定による分子量分布のチャートにおいて、各nと各nにおけるピーク面積との積の総和を、全ピーク面積の総和で除して求めた値である。例えば、ある生成物のnが2〜20の整数の場合、[2×(n=2のピーク面積)+3×(n=3のピーク面積)+ … +20×(n=20のピーク面積)]/[(n=2のピーク面積)+(n=3のピーク面積)+ … +(n=20のピーク面積)]の計算から求めた値である。
【0063】
[合成例1]
反応器にMeO(Me)SiO(MeSiO)Si(Me)OMe(mは1〜8の整数で、平均は1.5)306g(1.00モル)、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン(信越化学工業社製KBM303)246g(1.00モル)、イソプロピルアルコール500mlを仕込んだ後、水酸化テトラメチルアンモニウムの25質量%水溶液12g、水110gを添加し室温で3時間攪拌した。次いで、系内にトルエン500mlを入れ、リン酸二水素ナトリウム水溶液で中和した。分液漏斗を用いて分離した有機層(トルエン溶液)を熱水にて洗浄した後、減圧下トルエンを溜去したところ、下記平均組成式で示される構造を有する、目的のオルガノポリシロキサン(「樹脂1」とする)を得た。
・樹脂1のGPCで測定されたポリスチレン換算の重量平均分子量は4300であり、エポキシ当量(滴定法(JIS K7236)により測定、以下同様)は403g/eqであった。
【0064】
29Si−NMRによる測定結果を図1に示す。−55〜−70ppm付近のピークはT単位を形成するSi原子を反映し、−10〜−25ppm付近のピークはD単位及びM単位を形成するSi原子を反映する。この結果から、該平均組成式を構成する第一の構造体単位(左側の単位)は、T単位を約22モル%、D単位とM単位とを合計で約78モル%含むことが分かった。
【0065】
【化10】

【0066】
(ただし、nは3〜10の整数で平均3.5であり、xは0、1、2又はそれらの2種以上の組み合わせである。)
【0067】
[合成例2]
反応器に、MeO(Me)SiO(MeSiO)Si(Me)OMe(mは1〜8の整数で、平均は1.5)275g(0.90モル)、フェニルトリメトキシシラン(信越化学工業社製KBM103)59.5g(0.30モル)、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン(信越化学工業社製KBM303)221.8g(0.90モル)、イソプロピルアルコール500mlを仕込んだ後、水酸化テトラメチルアンモニウムの25質量%水溶液12g、水110gを添加し、室温で3時間攪拌した。次いで、系内にトルエン500mlを入れ、リン酸二水素ナトリウム水溶液で中和した。分液漏斗を用いて、トルエン溶液を熱水にて洗浄した。減圧下トルエンを溜去して、下記平均組成式で示される目的のオルガノポリシロキサン(「樹脂2」とする)を得た。樹脂2のGPCで測定されたポリスチレン換算の重量平均分子量は6200であり、エポキシ当量は354g/eqであった。
【0068】
29Si−NMRによる測定結果から、合成例1と同様にして、該平均組成式を構成する第一の構造体単位(左側の単位)は、T単位を約36モル%、D単位とM単位とを合計で約58モル%、該平均組成式を構成する第三の構造体単位(右側の単位)は、T単位のフェニル基を約6モル%含むことが分かった。
【0069】
【化11】

【0070】
(ただし、nは3〜10の整数で平均3.5であり、x及びyは、独立に、0、1又は2であり、一番目の構造単位ではxが0、1又は2であるものが共に存在し、三番目の構造単位ではyが0、1又は2であるものが共に存在する。)
【0071】
[合成例3]
反応器に、MeO(Me)SiO(MeSiO)Si(Me)OMe(mは1〜13の整数で、平均は8)787g(1.00モル)、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン(信越化学工業社製KBM303)246g(1.00モル)、イソプロピルアルコール1000ml、を仕込んだ後、水酸化テトラメチルアンモニウムの25質量%水溶液12g、水110gを添加し室温で3時間攪拌した。次いで、系内にトルエン1000mlを入れ、リン酸二水素ナトリウム水溶液で中和した。分液漏斗を用いて、トルエン溶液を熱水にて洗浄した後、減圧下トルエンを溜去して、下記平均組成式で示される目的のオルガノポリシロキサン(「樹脂3」とする)を得た。樹脂3のGPCで測定されたポリスチレン換算の重量平均分子量は5600であり、エポキシ当量は750g/eqであった。
【0072】
29Si−NMRによる測定結果から、合成例1と同様にして、該平均組成式を構成する第一の構造体単位(左側の単位)は、T単位を約10モル%、D単位とM単位とを合計で約90モル%含むことが分かった。
【0073】
【化12】

【0074】
(ただし、nは3〜15の整数で平均10であり、一番目の構造単位ではxが0、1又は2であるものが共に存在する。)
【0075】
−比較例で使用のシリコーン樹脂の合成−
[合成例4]
反応器に、MeO(Me)SiO(MeSiO)Si(Me)OMe(mは1〜8の整数で、平均は1.5)306g(1.00モル)、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業社製KBM403)236g(1.00モル)、イソプロピルアルコール500ml、を仕込んだ後、水酸化テトラメチルアンモニウムの25質量%水溶液12g、水110gを添加し室温で3時間攪拌した。次いで、系内にトルエン500mlを入れ、リン酸二水素ナトリウム水溶液で中和した。分液漏斗を用いて、トルエン溶液を熱水にて洗浄した後、減圧下トルエンを溜去して、下記平均組成式で示される目的のオルガノポリシロキサン(「樹脂4」とする)を得た。
【0076】
・樹脂4のGPCで測定されたポリスチレン換算の重量平均分子量は4300であり、エポキシ当量は416g/eqであった。
29Si−NMRによる測定結果から、合成例1と同様にして、該平均組成式を構成する第一の構造体単位(左側の単位)は、T単位を約23モル%、D単位とM単位とを合計で約77モル%含むことが分かった。
【0077】
【化13】

【0078】
(ただし、nは3〜10の整数で平均3.5であり、一番目の構造単位ではxが0、1又は2であるものが共に存在する。)
【0079】
[合成例5]
反応器に、MeO(Me)SiO(MeSiO)Si(Me)OMe(mは1〜28の整数で、平均は18)765g(0.50モル)、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン(信越化学工業社製KBM303)123g(0.50モル)、イソプロピルアルコール800ml、を仕込んだ後、水酸化テトラメチルアンモニウムの25質量%水溶液6.0g、水55gを添加し室温で3時間攪拌した。次いで、系内にトルエン800mlを入れ、リン酸二水素ナトリウム水溶液で中和した。分液漏斗を用いて、トルエン溶液を熱水にて洗浄した後、減圧下トルエンを溜去して、下記式で示される目的のオルガノポリシロキサン(「樹脂5」とする)を得た。樹脂5のGPCで測定されたポリスチレン換算の重量平均分子量は3500であり、エポキシ当量は1300g/eqであった。
【0080】
29Si−NMRによる測定結果から、合成例1と同様にして、該平均組成式を構成する第一の構造体単位(左側の単位)は、T単位を約5モル%、D単位とM単位とを合計で約95モル%含むことが分かった。
【0081】
【化14】

【0082】
(ただし、nは3〜30の整数で平均20であり、一番目の構造単位ではxが0、1又は2であるものが共に存在する。)
【0083】
−組成物の調製−
下記表1、表2に示す配合(質量部)で、各成分を攪拌混合装置で十分混合した後、三本ロールミルを通し、ダイボンド剤組成物を調製した。これらの表中の各成分は以下のとおりである。また、表中、空欄は「0」を意味する。
(B)エポキシ樹脂:3,4−エポキシシクロヘキシルメチル3,4−エポキシシクロヘキサンカルボキシレート(ダイセル化学工業(株)製、セロキサイド2021P)
(C)硬化剤:4−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(新日本理化(株)製、リカシッドMH)
(D)硬化触媒:第四級ホスホニウム塩(サンアプロ(株)製、U−CAT5003)
(E)無機充填剤:ヒュームドシリカ(信越化学工業(株)社製、BET比表面積300m/g)
(F)シランカップリング剤:3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、KBM−803)
(G)酸化防止剤:ペンタエリスリトールテトラキス[3−(3’,5’−ジ−t−ブチル−4’−ヒドロキシフェニル)プロピオナート](株式会社ADEKA社製、アデカスタブAO−60)
【0084】
・比較例で使用のエポキシ樹脂
・・水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)社製、YX8000)
・・ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)社製、jER828)
【0085】
−組成物及び硬化物の特性評価−
得られた組成物及び硬化物の特性評価を以下の方法で行なった。硬化は、組成物を100℃で1時間、次いで150℃で2時間加熱して行なった。結果を表1及び表2に示す。
(1)粘度
東機産業製E型回転粘度計にて、23℃で測定した。
(2)チクソ比
上記E型回転粘度計にて測定した5rpmと50rpmでの粘度の比よりもとめた。
(4)硬度
JIS K6301に準拠して棒状硬化物について測定した(タイプD)。
(5)耐UV性
1mm厚のシート状硬化物の、波長450nmにおける光透過率(T)を分光光度計U−4100(日立ハイテック社製)にて測定した。該硬化物を、365nmバンドパスフィルターを装備したUV照射装置(照度100mW/cm2)で、24時間照射後の光透過率(T)を同様にして測定し、T/T(%)を求めた。
(6)耐熱性
1mm厚のシート状硬化物の、波長450nmにおける光透過率(T)を分光光度計U−4100(日立ハイテック社製)にて測定した。該硬化物を、150℃×400時間加熱した後の光透過率(T)を同様にして測定し、T/T(%)を求めた。
(7)接着強度
Agメッキ基板(42アロイ)に組成物を0.1mg程度塗布し、その上に、2mmx2mm角のSiチップを置き、上記硬化条件にて硬化させ、試験片を作成し、Dage社製4000ボンドテスターを用いて剪断法により剪断接着強度を求めた。各組成物について5個の試験片について測定し、平均値を求めた。
【0086】
−LED装置の作成及び評価−
光半導体素子を載置する円状凹部を有しその底部が銀メッキされたLED用プレモールドパッケージ(3mm四方、厚さ1mm、凹部の内径2.6mm)を用意した。該パッケージの該底部に組成物をスタンピングにより転写して底部をコートし、得られた被膜にInGaN系青色発光素子を、ダイボンディング装置を用いて接着させた。その後、180℃で1.5時間加熱して該組成物被膜を硬化させた。次に該発光素子を、金ワイヤーにて外部電極に接続した。その後、シリコーンハイブリッド樹脂組成物(LPS−7410、信越化学工業(株)社製)を凹部に充填し、100℃で1時間、さらに150℃で4時間硬化させて該素子を封止した。このようにして、各組成物について、10個の封止LED装置を作成した。これらを次に試験に供した。
【0087】
・温度サイクル試験:
得られた封止LED装置5個を、次に条件で温度サイクルに、LEDを点灯させないで供した。
【0088】
・・温度サイクル条件:
一サイクル:−40℃で20分間置き、次に125℃で20分間置く。
【0089】
繰り返しサイクル数:1000サイクル及び2000サイクル
【0090】
・高温高湿点灯試験:
65℃、95%RHの恒温恒湿条件に、50mAを通電して点灯した状態で500時間放置した。
【0091】
放置後に、LED素子と前記凹部の底部との間に剥離等の接着不良、接着層にクラック発生の有無、及びチップ周りの接着層の変色の有無を観察した。結果を表1及び表2に示す。
【0092】
比較例1の組成物は、本発明の(B)成分の比率の範囲を超えるものであり、耐UV性、耐熱性が劣り、耐衝撃性に劣る。比較例2及び3の組成物は、本発明の(B)成分に代えて水添エポキシ樹脂または芳香族エポキシ樹脂を含む。これらはいずれも耐UV性、耐熱性が劣る。比較例4の組成物は、本発明の(B)成分を欠くものであり、接着強度、硬度が低く、樹脂強度が低い。比較例(5)の組成物は、本発明の(A)成分の代りにエポキシ基がエポキシシクロヘキサン環ではなくグリシジル基を有したシリコーン樹脂を用いたものであるが、接着強度、耐UV性、耐熱性、耐衝撃性等に劣る。また、比較例6は、本発明の(A)成分の直鎖オルガノポリシロキサンの鎖長が本発明の範囲を超えるものであり、接着強度、耐衝撃性に劣る。これらに対して、実施例の組成物は、接着強度、耐熱性、耐UV性、硬度のバランスに優れる。
【0093】
【表1】

【0094】
【表2】

【産業上の利用可能性】
【0095】
本発明の組成物は、耐熱性、耐UV性及び接着性に優れた硬化物を与え、信頼性の高い接着部を形成することができる。該組成物は光半導体素子のダイボンド剤として好適である。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
下記(A)〜(G)成分を含む光半導体素子用ダイボンド剤組成物。
(A)式(1)で表される構造単位をモル分率0.25〜0.75で含み、一般式(3)で表される構造体単位をモル分率0.25〜0.75で含有してなり、エポキシ当量が200〜1300g/eqであるシリコーン樹脂 100質量部、

一般式(1):
[RSiO(3−x)/2] (1)
〔式(1)において、
は下記式(2):
【化1】

(式(2)において、RはC1−20二価の基である)
で表される基、
は水酸基、C1−20一価炭化水素基、又はC1−6アルコキシ基であり、該シリコーン樹脂中に複数のRがあるときそれらは同一又は異なり、
xは0、1もしくは2の整数であり、該シリコーン樹脂中に複数のxがあるときはそれらは同一又は異なる。]、

一般式(3):
[(RSiO)] (3)
(式中、RはC1−20一価炭化水素基であり、nは3〜15の整数である)
(B)上記式(2)で表される基を有するエポキシ樹脂 10〜100質量部
(C)エポキシ基との反応性の官能基を有する硬化剤 (A)成分及び(B)成分中のエポキシ基の合計1モルに対して、前記エポキシ基との反応性の官能性基が0.3〜1.0モルとなる量
(D)硬化触媒 (A)成分と(B)成分の合計100質量部に対して0.01〜3質量部
(E)無機充填剤 (A)〜(D)成分の合計100質量部に対し3〜30質量部
(F)シランカップリング剤 0.1〜0.5質量部
(G)酸化防止剤 0.1〜0.5質量部。
【請求項2】
(A)成分が、下記平均組成式(5):
【化2】

(式(5)において、R、R、R、x及びnは請求項1に記載の通りであり、
はアリール基又はシクロアルキル基、
yは独立に0、1又は2の整数、
aは0.25〜0.75の数、
bは0.25〜0.75の数、
cは0〜0.3の数、但しa+b+c=1、である。)
で表されるシリコーン樹脂である請求項1に係るダイボンド剤組成物。
【請求項3】
(B)成分が、下記式(9)で表されるエポキシ樹脂である、請求項1又は2に係るダイボンド剤組成物。
【化3】

【請求項4】
(A)成分のエポキシ当量が300〜1100g/eqである、請求項1〜3のいずれか1項に係るダイボンド剤組成物。
【請求項5】
がβ−(3,4−エポキシシクロへキシル)エチル基であり、Rが式(1)で表される複数の構造単位において独立に水酸基又はメトキシ基であり、Rがメチル基である、請求項1〜4のいずれか1項に係るダイボンド剤組成物。
【請求項6】
(C)成分が酸無水物硬化剤である請求項1〜5のいずれか1項に係るダイボンド剤組成物。
【請求項7】
(D)硬化触媒が第4級ホスホニウム塩化合物である、請求項1〜6のいずれか1項に係るダイボンド剤組成物。
【請求項8】
(E)成分のBET比表面積が180m/g〜350m/gである、請求項1〜7のいずれか1項に係るダイボンド剤組成物。
【請求項9】
(F)成分がメルカプト系シランカップリング剤である、請求項1〜8のいずれか1項に係るダイボンド剤組成物。
【請求項10】
(G)成分がヒンダードフェノール酸化防止剤である、請求項1〜9のいずれか1項に係るダイボンド剤組成物。
【請求項11】
請求項1〜10のいずれか1項に係るダイボンド剤組成物が施与されてなる光半導体装置。

【図1】
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【公開番号】特開2011−109058(P2011−109058A)
【公開日】平成23年6月2日(2011.6.2)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−141750(P2010−141750)
【出願日】平成22年6月22日(2010.6.22)
【出願人】(000002060)信越化学工業株式会社 (3,361)
【Fターム(参考)】