光学フィルムの検査方法
【課題】 厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルム２を含む光学フィルム１の検査方法であって、光学フィルム１に対し、光源２０から偏光板１８ａを通して光を照射し、液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルム３１と偏光板１８ｂを積層した素子２９を、液晶フィルム３１を光学フィルム１側に向け且つ液晶フィルム３１の配向軸４３を液晶フィルム２の配向軸４２と非平行となるように配置して光学フィルム１を検査する方法である。この場合、光源２０からの光が偏光板１８ａ、光学フィルム１を透過すると、無欠陥部分と欠陥部分とで位相差に差をつけることができ、無欠陥部分と欠陥部分との間にコントラストを生じさせることができる。
【解決手段】 本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルム２を含む光学フィルム１の検査方法であって、光学フィルム１に対し、光源２０から偏光板１８ａを通して光を照射し、液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルム３１と偏光板１８ｂを積層した素子２９を、液晶フィルム３１を光学フィルム１側に向け且つ液晶フィルム３１の配向軸４３を液晶フィルム２の配向軸４２と非平行となるように配置して光学フィルム１を検査する方法である。この場合、光源２０からの光が偏光板１８ａ、光学フィルム１を透過すると、無欠陥部分と欠陥部分とで位相差に差をつけることができ、無欠陥部分と欠陥部分との間にコントラストを生じさせることができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＴＦＴ（Thin Film Transistor）液晶ディスプレイにおいては、その表示特性改善のために、液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルム、いわゆるＮＨフィルム、が用いられるようになっている。このようなＮＨフィルムを含む光学フィルムは、ＮＨフィルムに欠陥が存在すると、ＴＦＴ液晶ディスプレイの表示特性に悪影響を与える。このため、ＮＨフィルムを含む光学フィルムについて欠陥の検査を行い、欠陥が多い光学フィルムについては事前に排除しておくことが必要である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、ＮＨフィルムを含む光学フィルムについての欠陥検査方法は、本発明者らの知る限りでは知られていない。
【０００４】
一方、本発明者らは、これまで、上記光学フィルムにおける欠陥の検査を以下のように行ってきた。即ちバックライトから発せられる光を、偏光板を通して光学フィルムに照射し、その光学フィルムをもう一つの偏光板越しに覗くことにより行ってきた。そして、このとき、光学フィルムに対してバックライト側の偏光板の透過軸と、ＮＨフィルムの持つ配向軸（液晶の配向ベクトルの偏光板表面への投影成分）とを平行にしていた。
【０００５】
ところが、上記のような光学フィルムの検査方法は、以下に示す課題を有していた。
【０００６】
即ち上記の本発明者らによる光学フィルムの検査方法では、光学フィルムを２枚の偏光板でクロスニコル状態で挟み、光学フィルムの反対側から偏光板を通して光を照射した場合、液晶の軸ずれに起因する欠陥については輝点として視認できるものの、ＮＨフィルム中にごみが混入すること等による厚さムラに起因する欠陥についてはほとんど視認することができない。このため、厚さムラに起因する欠陥を見逃してしまい、欠陥検査を的確に行うことができなくなるおそれがあった。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意研究を重ねた結果、以下の発明により上記課題を解決しうることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００９】
即ち本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、第２偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と非平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１０】
この検査方法によれば、第１液晶フィルムに厚さムラがある場合、光源から発せられる光が第１偏光板及び光学フィルムを透過すると、無欠陥部分と、無欠陥部分とは厚さの異なる欠陥部分とで位相差に差をつけることが可能となり、無欠陥部分と欠陥部分との間にコントラストを生じさせることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となる。
【００１１】
また本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、前記第１液晶フィルム及び前記第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子と、第２偏光板とを順次積層してなる欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と平行又は反平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１２】
この検査方法によれば、第１液晶フィルムに厚さムラがある場合、光源から発せられる光が第１偏光板及び光学フィルムを透過すると、無欠陥部分と、無欠陥部分とは厚さの異なる欠陥部分とで位相差に差をつけることが可能となる。また欠陥検査用素子に位相差低減素子が含まれることにより、第１液晶フィルム及び第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能となり、無欠陥部分と欠陥部分との間にコントラストを生じさせることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となる。加えて、本発明の検査方法によれば、第１液晶フィルムの配向軸と第２液晶フィルムの配向軸との対称性が高いため、第１液晶フィルム及び第２液晶フィルム間で配向軸が非対称である場合に比べて、表示特性をより向上させることができる。
【００１３】
また本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板及び第１位相差低減素子を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、前記第１位相差低減素子、前記第１液晶フィルム及び前記第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を前記第１位相差低減素子と共に低減することが可能な第２位相差低減素子と、第２偏光板とを順次積層してなる欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と平行又は反平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１４】
この検査方法によれば、第１液晶フィルムに厚さムラがある場合、光源から発せられる光が第１偏光板、第１位相差低減素子及び光学フィルムを透過すると、無欠陥部分と、無欠陥部分とは厚さの異なる欠陥部分とで位相差に差をつけることが可能となる。また欠陥検査用素子に含まれる第２位相差低減素子と第１位相差低減素子により、第１液晶フィルム及び第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能となる。このため、無欠陥部分と欠陥部分との間にコントラストを生じさせることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となる。加えて、本発明の検査方法によれば、第１液晶フィルムの配向軸と第２液晶フィルムの配向軸との対称性が高いため、第１液晶フィルム及び第２液晶フィルム間で配向軸が非対称である場合に比べて、表示特性をより向上させることができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の光学フィルムの検査方法によれば、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、添付図面とともに、本発明の光学フィルムの検査方法の実施形態について詳細に説明する。
【００１７】
（第１実施形態）
まず本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１実施形態について説明する。
【００１８】
はじめに、本発明の光学フィルムの検査方法において検査対象となる光学フィルムについて図１を参照して説明する。
【００１９】
図１は、本発明の光学フィルムの検査方法に用いられる光学フィルムの一例を示す図である。図１に示すように、光学フィルム１は、第１液晶フィルムとして、液晶の傾きを膜厚方向（矢印Ａ方向）に変化させて液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルム（以下、「ＮＨフィルム」という）２を含む。ここで、ハイブリッドネマチック配向とは、ネマチック液晶の水平配向と垂直配向とが複合した配向を言い、例えばネマチック液晶の配向が、ＮＨフィルム２の一面４０ａ側では水平配向となっており、その一面４０ａと反対の面４０ｂ側では垂直配向となっており、その間では、面４０ａから面４０ｂに向かう方向に沿って、水平配向から垂直配向に徐々にその配向を変化させるような配向を言う。
【００２０】
光学フィルム１は、ＮＨフィルム２を含むものであればよく、従って、ＮＨフィルム２のほかに、他のフィルムを含んでいてもよい。他のフィルムには通常、図１に示すように、ＮＨフィルム２を支持する支持基板３などがある。かかる支持基板３はＮＨフィルム２を支持し得るものであり且つ厚さ方向に直交する面内において等方性を示すものであれば特に限定されないが、かかる支持基板３としては通常、ＴＡＣ（トリアセチルセルロース）フィルムが用いられる。
【００２１】
このような光学フィルム１の欠陥は以下のように検査される。なお、光学フィルム１の欠陥とは、具体的には、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２における液晶の欠陥を意味する。
【００２２】
図２は、本実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。図３は、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸、後述する偏光板１８ａの透過軸、ＮＨフィルム３１の配向軸及び偏光板１８ｂの透過軸の配置関係の一例を示す図であり、（ａ）は偏光板１８ａの透過軸、（ｂ）はＮＨフィルム２の配向軸、（ｃ）はＮＨフィルム３１の配向軸、（ｄ）は偏光板１８ｂの透過軸を示すものである。
【００２３】
光学フィルム１の欠陥検査にあたっては、まず光学フィルム１にバックライト２０を対向配置し、バックライト２０と光学フィルム１との間に、偏光板（第１偏光板）１８ａを配置する。図３（ａ）、（ｂ）に示すように、本実施形態では、偏光板１８ａの透過軸４１は、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸４２に対して４５°の角度となるように調整する。ここで、ＮＨフィルム２の配向軸４２とは、ＮＨフィルム２の表面付近で水平配向する液晶の配向ベクトルの偏光板１８ａの表面への投影成分をいうものとする。
【００２４】
そして、図２に示すように、バックライト２０を点灯し、光学フィルム１に対してバックライト２０と反対側で、欠陥検査用素子２９を用いて光学フィルム１を覗き込み、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２における欠陥を検査する。
【００２５】
ここで、欠陥検査用素子２９について詳細に説明する。
【００２６】
図２に示すように、欠陥検査用素子２９は、偏光板１８ｂと、ＮＨフィルム（第２液晶フィルム）３１とを積層したものである。ＮＨフィルム３１は、液晶の傾きを膜厚方向（図１の矢印Ａ方向）に変化させて液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルムである。
【００２７】
本実施形態の欠陥検査用素子２９では、ＮＨフィルム３１として、ＮＨフィルム２と材料及び厚さが同一のものを用い、図３（ｃ）、（ｄ）に示すように、ＮＨフィルム３１の配向軸４３が、偏光板１８ｂの透過軸４４に対して４５°となるように偏光板１８ｂに積層されている。
【００２８】
欠陥検査の際は、まず上記のように構成される欠陥検査用素子２９を光学フィルム１に対向配置する。このとき、ＮＨフィルム３１を光学フィルム１側に向け、偏光板１８ｂを光学フィルム１と反対側に向けると共に、偏光板１８ｂと偏光板１８ａがクロスニコル配置となるようにする。これにより、ＮＨフィルム３１の配向軸４３を、図３（ｂ）、（ｃ）に示すように、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸４２と直交させることが可能となる。
【００２９】
こうして欠陥検査用素子２９を光学フィルム１に対して配置すると、偏光板１８ａの透過軸４１とＮＨフィルム２の配向軸４２とが非平行となる。このため、ＮＨフィルム２に厚さムラがある場合、即ち図４に示すように、厚さｄ２の無欠陥部分２ａと、厚さｄ１の欠陥部分２ｂとがある場合、バックライト２０から発せられる光が偏光板１８ａ及び光学フィルム１を透過すると、無欠陥部分２ａと欠陥部分２ｂのそれぞれにおいて、偏光板１８ａの透過軸４１の方向とそれに直交する方向との間に生じる位相差に差をつけることが可能となる。なお、図４において、欠陥部分２ｂに埋設され符号４５で示されているのは、ＮＨフィルム２の製造時に混入したごみ等である。
【００３０】
より詳しく説明すると、無欠陥部分２ａでは、位相差δ２はδ２＝Δｎ・ｄ２となるのに対し、欠陥部分２ｂでは、位相差δ１はδ１＝Δｎ・ｄ１となる。ここで、ｄ１＞ｄ２であるから、δ２＜δ１となる。
【００３１】
このため、無欠陥部分２ａと欠陥部分２ｂとの間にコントラストを生じさせることが可能となる。ここで、ＮＨフィルム２の配向軸４２とＮＨフィルム３１の配向軸４３とは、上述したように互いに直交している。このため、ＮＨフィルム２とＮＨフィルム３１の厚さが等しい場合には、ＮＨフィルム２の複屈折とＮＨフィルム３１の複屈折が相殺し合うため、位相差は打ち消される、即ちゼロとなる。そして、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとはクロスニコル配置となっている。従って、無欠陥部分２ａが真っ暗となり、欠陥部分２ｂは輝点として現れることとなる。よって、欠陥部分２ａの視認性を向上させることが可能となり、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる。
【００３２】
上記のようにして欠陥が発見されたら、マーカーを使用してマーキングを行い、マーキングインクを乾燥装置で乾燥させ、欠陥の検査が終了する。
【００３３】
（第２実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第２実施形態について図５〜図８を用いて説明する。なお、図５〜図８において、第１実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００３４】
図５は、本発明による光学フィルムの検査方法の第２実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。図６は、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸、偏光板１８ａの透過軸、ＮＨフィルム３１の配向軸、１軸フィルム３４，３５の配向軸及び偏光板１８ｂの透過軸の配置関係を示す図であり、（ａ）は偏光板１８ａの透過軸、（ｂ）はＮＨフィルム２の配向軸、（ｃ）はＮＨフィルム３１の配向軸、（ｄ），（ｅ）は１軸フィルムの配向軸、（ｆ）は偏光板１８ｂの透過軸を示すものである。
【００３５】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子３３が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００３６】
即ち図５に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子３３は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２枚の１軸フィルム３４，３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、３５は、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４，３５は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。このような１軸フィルム３４，３５としては、例えばPCフィルム、TACフィルム、アートン（ＪＳＲ社製）、ゼオノア（日本ゼオン製）などが用いられる。１軸フィルムは、上記フィルムを、厚さ方向に直交する面内の一方向に延伸することにより得られる。
【００３７】
ここで、２枚の１軸フィルム３４，３５は、厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図６（ｅ）、（ｆ）に示すように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸４４に対して９０°の角度をなすように配置され、図６（ｄ）、（ｆ）に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸４４に対して４５°の角度をなすように配置される。
【００３８】
また、本実施形態の欠陥検査用素子３３は、欠陥検査用素子３３を光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ｂと偏光板１８ａとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図６（ｂ）、（ｃ）に示すように、ＮＨフィルム３１の配向軸４３がＮＨフィルム２の配向軸４２と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。このためには、例えば図６（ｃ）、（ｆ）に示すように、欠陥検査用素子３３において、ＮＨフィルム３１の配向軸４３が偏光板１８ｂの透過軸４４に対して４５°となるように配置される。
【００３９】
ここで、ＮＨフィルムの配向軸の向きは、液晶分子の水平配向状態を基準として厚さ方向の液晶分子群を見たときに、液晶分子の両端のいずれの側で液晶分子が立ち上がっているか否かで判断する。従って、例えば図７では、ＮＨフィルム３１では液晶分子の下側端部が立ち上がっているのでＮＨフィルム３１の配向軸４３は下向きとなり、ＮＨフィルム２では、液晶分子の上側端部が立ち上がっているので上向きとなるのである。そして、このように配向軸の向きが互いに逆方向である場合、ＮＨフィルム３１の配向軸４３とＮＨフィルム２の配向軸４２とは反平行であるという。また、図８では、ＮＨフィルム３１では、液晶分子の上側端部が立ち上がっているのでＮＨフィルム３１の配向軸４３は上向きとなり、ＮＨフィルム２では、液晶分子の上側端部が立ち上がっているのでＮＨフィルム２の配向軸４２は上向きとなる。そして、このように配向軸の向きが互いに同じ方向である場合、ＮＨフィルム３１の配向軸４３とＮＨフィルム２の配向軸４２とは平行であるという。
【００４０】
このような欠陥検査用素子３３を用いて光学フィルム１における欠陥を検査する場合は、まず欠陥検査用素子３３を光学フィルム１に対向配置する。このとき、ＮＨフィルム３１を光学フィルム１側に向け、偏光板１８ｂを光学フィルム１と反対側に向けると共に、偏光板１８ｂと偏光板１８ａをクロスニコル配置とする。これにより、ＮＨフィルム３１の配向軸４３を、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸４２と反平行にすることが可能となる。
【００４１】
こうして欠陥検査用素子３３を光学フィルム１に対して配置すると、偏光板１８ａの透過軸４１とＮＨフィルム２の配向軸４２とが非平行であるため、第１実施形態の検査方法と同様に、無欠陥部分と欠陥部分との間でコントラストを生じさせることが可能となる。ここで、ＮＨフィルム２の配向軸４２とＮＨフィルム３１の配向軸４３とは反平行となっている。このため、ＮＨフィルム２とＮＨフィルム３１の厚さが等しくても、位相差は打ち消されない、即ちゼロにはならない。しかし、１軸フィルム３４，３５により、ＮＨフィルム２とＮＨフィルム３１だけでは打ち消されなかった位相差が打ち消されることとなる。そして、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとはクロスニコル配置となっている。従って、無欠陥部分が真っ暗となり、欠陥部分は輝点として現れることとなる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となり、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる。加えて、本実施形態の検査方法では、ＮＨフィルム２の配向軸４２とＮＨフィルム３１の配向軸４３とは反平行となっており、ＮＨフィルム２の配向軸４２とＮＨフィルム３１の配向軸４３との対称性が高くなっている。このため、本実施形態の検査方法によれば、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１間で配向軸が非対称である場合に比べて、表示特性をより向上させることもできる。
【００４２】
（第３実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第３実施形態について図９を用いて説明する。なお、図９において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００４３】
図９は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図９において、偏光板又はフィルムは、左側（偏光板１８ａ側）から右側（偏光板１８ｂ側）に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００４４】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６０が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００４５】
即ち図９に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６０は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚ずつの２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５及び２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００４６】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６０は、欠陥検査用素子６０を光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図９に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００４７】
上記欠陥検査用素子６０を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６０を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００４８】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図９に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して２０度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して７０度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して２０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して７０度の角度をなすように配置される。なお、本明細書において、２軸フィルムの配向軸とは、厚さ方向に直交する面内において互いに直交する二方向のうち屈折率のより大きい方向に沿った軸を言う。
【００４９】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、例えばPCフィルム、TACフィルム、アートン（ＪＳＲ社製）、ゼオノア（日本ゼオン製）などが用いられる。１軸フィルムは、上記フィルムを、厚さ方向に直交する面内の一方向に延伸することにより得られ、２軸フィルムは、上記フィルムを、厚さ方向に直交する面内において、直交する二方向に延伸することにより得られる。
【００５０】
（第４実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第４実施形態について図１０を用いて説明する。なお、図１０において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００５１】
図１０は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１０において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００５２】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６１が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００５３】
即ち図１０に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６１は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の２軸フィルム５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００５４】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６１は、欠陥検査用素子６１を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが１００度の角度をなすように配置させた場合に、図１０に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００５５】
上記欠陥検査用素子６１を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６１を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００５６】
ここで、２枚の１軸フィルム５２及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１０に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０１度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１１０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１０度の角度をなすように配置される。
【００５７】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００５８】
（第５実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第５実施形態について図１１を用いて説明する。なお、図１１において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００５９】
図１１は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１１において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００６０】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６２が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００６１】
即ち図１１に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６２は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００６２】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６２は、欠陥検査用素子６２を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図１１に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００６３】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１１に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して９５度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して９５度の角度をなすように配置される。
【００６４】
上記欠陥検査用素子６２を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６２を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００６５】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００６６】
（第６実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第６実施形態について図１２を用いて説明する。なお、図１２において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００６７】
図１２は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１２において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００６８】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６３が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００６９】
即ち図１２に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６３は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００７０】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６３は、欠陥検査用素子６３を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが９５度の角度をなすように配置した場合に、図１２に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００７１】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１２に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１１０度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１１０度の角度をなすように配置される。
【００７２】
上記欠陥検査用素子６３を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６３を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００７３】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００７４】
（第７実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第７実施形態について図１３を用いて説明する。なお、図１３において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００７５】
図１３は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１３において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００７６】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６４が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００７７】
即ち図１３に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６４は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００７８】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６４は、欠陥検査用素子６４を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが９５度の角度をなすように配置した場合に、図１３に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００７９】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１３に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１１０度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１１０度の角度をなすように配置される。
【００８０】
上記欠陥検査用素子６４を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６４を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００８１】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００８２】
（第８実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第８実施形態について図１４を用いて説明する。なお、図１４において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００８３】
図１４は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１４において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００８４】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６５が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００８５】
即ち図１４に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６５は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００８６】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６５は、欠陥検査用素子６５を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図１４に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００８７】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１４に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して７０度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して６５度の角度をなすように配置される。
【００８８】
上記欠陥検査用素子６５を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６５を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００８９】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００９０】
（第９実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第９実施形態について図１５を用いて説明する。なお、図１５において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００９１】
図１５は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１５において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００９２】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６６が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００９３】
即ち図１５に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６６は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００９４】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６６は、欠陥検査用素子６６を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが７５度の角度をなすように配置した場合に、図１５に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００９５】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１５に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して２５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して５度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して２５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して５度の角度をなすように配置される。
【００９６】
上記欠陥検査用素子６６を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６６を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００９７】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００９８】
（第１０実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１０実施形態について図１６を用いて説明する。なお、図１６において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００９９】
図１６は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１６において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１００】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６７が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１０１】
即ち図１６に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６７は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１０２】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６７は、欠陥検査用素子６７を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが７０度の角度をなすように配置した場合に、図１６に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１０３】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１６に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して８５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して９５度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して８５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して９５度の角度をなすように配置される。
【０１０４】
上記欠陥検査用素子６７を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６７を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【０１０５】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１０６】
（第１１実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１１実施形態について図１７を用いて説明する。なお、図１７において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１０７】
図１７は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１７において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１０８】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６８が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１０９】
即ち図１７に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６８は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１１０】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６８は、欠陥検査用素子６８を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが６５度の角度をなすように配置した場合に、図１７に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１１１】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１７に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３５度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３５度の角度をなすように配置される。
【０１１２】
上記欠陥検査用素子６８を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６８を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【０１１３】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１１４】
（第１２実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１２実施形態について図１８を用いて説明する。なお、図１８において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１１５】
図１８は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１８において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１１６】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６９が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１１７】
即ち図１８に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６９は、ＮＨフィルム３と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１１８】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６９は、欠陥検査用素子６９を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図１８に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１１９】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１８に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４０度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１０度の角度をなすように配置される。
【０１２０】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１２１】
（第１３実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１３実施形態について図１９を用いて説明する。なお、図１９において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１２２】
図１９は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１９において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１２３】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７０が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１２４】
即ち図１９に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７０は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に２枚の２軸フィルム５４、５５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。２軸フィルム５４、５５はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。２軸フィルム５４、５５は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１２５】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７０は、欠陥検査用素子７０を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図１９に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１２６】
ここで、２枚の２軸フィルム５４、５５は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１９に示すように、２軸フィルム５４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して２５度の角度をなすように配置される。
【０１２７】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１２８】
（第１４実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１４実施形態について図２０を用いて説明する。なお、図２０において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１２９】
図２０は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２０において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１３０】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７１が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１３１】
即ち図２０に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７１は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１３２】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７１は、欠陥検査用素子７１を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２０に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１３３】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２０に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４０度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１５度の角度をなすように配置される。
【０１３４】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１３５】
（第１５実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１５実施形態について図２１を用いて説明する。なお、図２１において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１３６】
図２１は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２１において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１３７】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７２が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１３８】
即ち図２１に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７２は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１３９】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７２は、欠陥検査用素子７２を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２１に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１４０】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２１に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４５度の角度をなすように配置される。
【０１４１】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１４２】
（第１６実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１６実施形態について図２２を用いて説明する。なお、図２２において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１４３】
図２２は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２２において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１４４】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７３が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１４５】
即ち図２２に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７３は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１４６】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７３は、欠陥検査用素子７３を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２２に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１４７】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２２に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１０度の角度をなすように配置される。
【０１４８】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１４９】
（第１７実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１７実施形態について図２３を用いて説明する。なお、図２３において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１５０】
図２３は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２３において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１５１】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７４が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１５２】
即ち図２３に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７４は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に２枚の２軸フィルム５４、５５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。２軸フィルム５４、５５はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。２軸フィルム５４、５５は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１５３】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７４は、欠陥検査用素子７４を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２３に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１５４】
ここで、２枚の２軸フィルム５４、５５は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２３に示すように、２軸フィルム５４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して２５度の角度をなすように配置される。
【０１５５】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１５６】
（第１８実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１８実施形態について図２４を用いて説明する。なお、図２４において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１５７】
図２４は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２４において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１５８】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７５が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１５９】
即ち図２４に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７５は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１６０】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７５は、欠陥検査用素子７５を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２４に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１６１】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２４に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して５度の角度をなすように配置される。
【０１６２】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１６３】
（第１９実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１９実施形態について図２５を用いて説明する。なお、図２５において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１６４】
図２５は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２５において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１６５】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７６が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１６６】
即ち図２５に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７６は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１６７】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７６は、欠陥検査用素子７６を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２５に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１６８】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２５に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１３０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して７５度の角度をなすように配置される。
【０１６９】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１７０】
本発明は、前述した実施形態に限定されるものではない。例えば上記第２実施形態では、欠陥検査用素子３３がＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に１軸フィルム３４，３５を有しているが、図２６に示すように、欠陥検査用素子３６を、欠陥検査用素子３３から１軸フィルム３４を外した構成とし、外された１軸フィルム３４を偏光板１８ａと光学フィルム１との間に配置するようにしてもよい。この場合でも、第２実施形態と同様に、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となり、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる。加えて、図２６に係る検査光学系を用いた光学フィルムの検査方法によれば、第２実施形態と同様に、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１間で配向軸が非対称である場合に比べて、表示特性をより向上させることができる。なお、第２実施形態において、１軸フィルム３４は、偏光板１８ａの光学フィルム３４側に積層するようにしてもよい。また１軸フィルム３４を１軸フィルム３５で置き換えても構わない。
【０１７１】
また、上記第２〜第１９実施形態においては、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにするために、１軸フィルム又は２軸フィルムの配向軸が偏光板１８ｂの透過軸に対してなす角度、１軸フィルム又は２軸フィルムの配向軸が偏光板１８ａの透過軸に対してなす角度が上記各実施形態で示す値とされているが、位相差を低減するという目的のためであれば、これらの角度は、上記各実施形態に示す値に対して±１５°の範囲でずれていても構わない。
【図面の簡単な説明】
【０１７２】
【図１】本発明の光学フィルムの検査方法に用いる光学フィルムの構成の一例を示す図である。
【図２】本発明の光学フィルムの検査方法の一実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。
【図３】第１偏光板の透過軸、光学フィルムに含まれる第１液晶フィルムの配向軸、第２液晶フィルムの配向軸及び第２偏光板の透過軸の関係の一例を示す図であり、（ａ）は第１偏光板の透過軸、（ｂ）は第１液晶フィルムの配向軸、（ｃ）は第２液晶フィルムの配向軸、（ｄ）は第２偏光板の透過軸を示す。
【図４】第１液晶フィルムに厚さムラのある光学フィルムを示す断面図である。
【図５】本発明の光学フィルムの検査方法の他の実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。
【図６】第１偏光板の透過軸、光学フィルムに含まれる第１液晶フィルムの配向軸、第２液晶フィルムの配向軸、位相差低減素子の光学軸、第２偏光板の透過軸の関係の一例を示す図であり、（ａ）は第１偏光板の透過軸、（ｂ）は第１液晶フィルムの配向軸、（ｃ）は第２液晶フィルムの配向軸、（ｄ）（ｅ）は位相差低減素子の配向軸、（ｆ）は第２偏光板の透過軸を示す。
【図７】第１液晶フィルムの配向軸と第２液晶フィルムの配向軸とが反平行である場合の第１及び第２液晶フィルムの内部構造を概念的に示す図である。
【図８】第１液晶フィルムの配向軸と第２液晶フィルムの配向軸とが平行である場合の第１及び第２液晶フィルムの内部構造を概念的に示す図である。
【図９】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１０】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１１】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１２】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１３】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１４】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１５】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１６】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１７】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１８】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１９】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２０】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２１】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２２】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２３】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２４】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２５】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２６】本発明の光学フィルムの検査方法のさらに他の実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。
【符号の説明】
【０１７３】
１…光学フィルム、２…ＮＨフィルム（第１液晶フィルム）、１８ａ…偏光板（第１偏光板）、１８ｂ…偏光板（第２偏光板）、２０…バックライト（光源）、２９，３３，３６、６０〜７６…欠陥検査用素子、３１…ＮＨフィルム（第２液晶フィルム）、３４、３５、５２、５３，５４…１軸フィルム、４２，４３…ＮＨフィルムの配向軸、５４，５５，５６…２軸フィルム（位相差低減素子）。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＴＦＴ（Thin Film Transistor）液晶ディスプレイにおいては、その表示特性改善のために、液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルム、いわゆるＮＨフィルム、が用いられるようになっている。このようなＮＨフィルムを含む光学フィルムは、ＮＨフィルムに欠陥が存在すると、ＴＦＴ液晶ディスプレイの表示特性に悪影響を与える。このため、ＮＨフィルムを含む光学フィルムについて欠陥の検査を行い、欠陥が多い光学フィルムについては事前に排除しておくことが必要である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、ＮＨフィルムを含む光学フィルムについての欠陥検査方法は、本発明者らの知る限りでは知られていない。
【０００４】
一方、本発明者らは、これまで、上記光学フィルムにおける欠陥の検査を以下のように行ってきた。即ちバックライトから発せられる光を、偏光板を通して光学フィルムに照射し、その光学フィルムをもう一つの偏光板越しに覗くことにより行ってきた。そして、このとき、光学フィルムに対してバックライト側の偏光板の透過軸と、ＮＨフィルムの持つ配向軸（液晶の配向ベクトルの偏光板表面への投影成分）とを平行にしていた。
【０００５】
ところが、上記のような光学フィルムの検査方法は、以下に示す課題を有していた。
【０００６】
即ち上記の本発明者らによる光学フィルムの検査方法では、光学フィルムを２枚の偏光板でクロスニコル状態で挟み、光学フィルムの反対側から偏光板を通して光を照射した場合、液晶の軸ずれに起因する欠陥については輝点として視認できるものの、ＮＨフィルム中にごみが混入すること等による厚さムラに起因する欠陥についてはほとんど視認することができない。このため、厚さムラに起因する欠陥を見逃してしまい、欠陥検査を的確に行うことができなくなるおそれがあった。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意研究を重ねた結果、以下の発明により上記課題を解決しうることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００９】
即ち本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、第２偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と非平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１０】
この検査方法によれば、第１液晶フィルムに厚さムラがある場合、光源から発せられる光が第１偏光板及び光学フィルムを透過すると、無欠陥部分と、無欠陥部分とは厚さの異なる欠陥部分とで位相差に差をつけることが可能となり、無欠陥部分と欠陥部分との間にコントラストを生じさせることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となる。
【００１１】
また本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、前記第１液晶フィルム及び前記第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子と、第２偏光板とを順次積層してなる欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と平行又は反平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１２】
この検査方法によれば、第１液晶フィルムに厚さムラがある場合、光源から発せられる光が第１偏光板及び光学フィルムを透過すると、無欠陥部分と、無欠陥部分とは厚さの異なる欠陥部分とで位相差に差をつけることが可能となる。また欠陥検査用素子に位相差低減素子が含まれることにより、第１液晶フィルム及び第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能となり、無欠陥部分と欠陥部分との間にコントラストを生じさせることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となる。加えて、本発明の検査方法によれば、第１液晶フィルムの配向軸と第２液晶フィルムの配向軸との対称性が高いため、第１液晶フィルム及び第２液晶フィルム間で配向軸が非対称である場合に比べて、表示特性をより向上させることができる。
【００１３】
また本発明は、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板及び第１位相差低減素子を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、前記第１位相差低減素子、前記第１液晶フィルム及び前記第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を前記第１位相差低減素子と共に低減することが可能な第２位相差低減素子と、第２偏光板とを順次積層してなる欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と平行又は反平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法である。
【００１４】
この検査方法によれば、第１液晶フィルムに厚さムラがある場合、光源から発せられる光が第１偏光板、第１位相差低減素子及び光学フィルムを透過すると、無欠陥部分と、無欠陥部分とは厚さの異なる欠陥部分とで位相差に差をつけることが可能となる。また欠陥検査用素子に含まれる第２位相差低減素子と第１位相差低減素子により、第１液晶フィルム及び第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能となる。このため、無欠陥部分と欠陥部分との間にコントラストを生じさせることが可能となる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となる。加えて、本発明の検査方法によれば、第１液晶フィルムの配向軸と第２液晶フィルムの配向軸との対称性が高いため、第１液晶フィルム及び第２液晶フィルム間で配向軸が非対称である場合に比べて、表示特性をより向上させることができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の光学フィルムの検査方法によれば、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、添付図面とともに、本発明の光学フィルムの検査方法の実施形態について詳細に説明する。
【００１７】
（第１実施形態）
まず本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１実施形態について説明する。
【００１８】
はじめに、本発明の光学フィルムの検査方法において検査対象となる光学フィルムについて図１を参照して説明する。
【００１９】
図１は、本発明の光学フィルムの検査方法に用いられる光学フィルムの一例を示す図である。図１に示すように、光学フィルム１は、第１液晶フィルムとして、液晶の傾きを膜厚方向（矢印Ａ方向）に変化させて液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルム（以下、「ＮＨフィルム」という）２を含む。ここで、ハイブリッドネマチック配向とは、ネマチック液晶の水平配向と垂直配向とが複合した配向を言い、例えばネマチック液晶の配向が、ＮＨフィルム２の一面４０ａ側では水平配向となっており、その一面４０ａと反対の面４０ｂ側では垂直配向となっており、その間では、面４０ａから面４０ｂに向かう方向に沿って、水平配向から垂直配向に徐々にその配向を変化させるような配向を言う。
【００２０】
光学フィルム１は、ＮＨフィルム２を含むものであればよく、従って、ＮＨフィルム２のほかに、他のフィルムを含んでいてもよい。他のフィルムには通常、図１に示すように、ＮＨフィルム２を支持する支持基板３などがある。かかる支持基板３はＮＨフィルム２を支持し得るものであり且つ厚さ方向に直交する面内において等方性を示すものであれば特に限定されないが、かかる支持基板３としては通常、ＴＡＣ（トリアセチルセルロース）フィルムが用いられる。
【００２１】
このような光学フィルム１の欠陥は以下のように検査される。なお、光学フィルム１の欠陥とは、具体的には、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２における液晶の欠陥を意味する。
【００２２】
図２は、本実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。図３は、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸、後述する偏光板１８ａの透過軸、ＮＨフィルム３１の配向軸及び偏光板１８ｂの透過軸の配置関係の一例を示す図であり、（ａ）は偏光板１８ａの透過軸、（ｂ）はＮＨフィルム２の配向軸、（ｃ）はＮＨフィルム３１の配向軸、（ｄ）は偏光板１８ｂの透過軸を示すものである。
【００２３】
光学フィルム１の欠陥検査にあたっては、まず光学フィルム１にバックライト２０を対向配置し、バックライト２０と光学フィルム１との間に、偏光板（第１偏光板）１８ａを配置する。図３（ａ）、（ｂ）に示すように、本実施形態では、偏光板１８ａの透過軸４１は、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸４２に対して４５°の角度となるように調整する。ここで、ＮＨフィルム２の配向軸４２とは、ＮＨフィルム２の表面付近で水平配向する液晶の配向ベクトルの偏光板１８ａの表面への投影成分をいうものとする。
【００２４】
そして、図２に示すように、バックライト２０を点灯し、光学フィルム１に対してバックライト２０と反対側で、欠陥検査用素子２９を用いて光学フィルム１を覗き込み、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２における欠陥を検査する。
【００２５】
ここで、欠陥検査用素子２９について詳細に説明する。
【００２６】
図２に示すように、欠陥検査用素子２９は、偏光板１８ｂと、ＮＨフィルム（第２液晶フィルム）３１とを積層したものである。ＮＨフィルム３１は、液晶の傾きを膜厚方向（図１の矢印Ａ方向）に変化させて液晶をハイブリッドネマチック配向させた液晶フィルムである。
【００２７】
本実施形態の欠陥検査用素子２９では、ＮＨフィルム３１として、ＮＨフィルム２と材料及び厚さが同一のものを用い、図３（ｃ）、（ｄ）に示すように、ＮＨフィルム３１の配向軸４３が、偏光板１８ｂの透過軸４４に対して４５°となるように偏光板１８ｂに積層されている。
【００２８】
欠陥検査の際は、まず上記のように構成される欠陥検査用素子２９を光学フィルム１に対向配置する。このとき、ＮＨフィルム３１を光学フィルム１側に向け、偏光板１８ｂを光学フィルム１と反対側に向けると共に、偏光板１８ｂと偏光板１８ａがクロスニコル配置となるようにする。これにより、ＮＨフィルム３１の配向軸４３を、図３（ｂ）、（ｃ）に示すように、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸４２と直交させることが可能となる。
【００２９】
こうして欠陥検査用素子２９を光学フィルム１に対して配置すると、偏光板１８ａの透過軸４１とＮＨフィルム２の配向軸４２とが非平行となる。このため、ＮＨフィルム２に厚さムラがある場合、即ち図４に示すように、厚さｄ２の無欠陥部分２ａと、厚さｄ１の欠陥部分２ｂとがある場合、バックライト２０から発せられる光が偏光板１８ａ及び光学フィルム１を透過すると、無欠陥部分２ａと欠陥部分２ｂのそれぞれにおいて、偏光板１８ａの透過軸４１の方向とそれに直交する方向との間に生じる位相差に差をつけることが可能となる。なお、図４において、欠陥部分２ｂに埋設され符号４５で示されているのは、ＮＨフィルム２の製造時に混入したごみ等である。
【００３０】
より詳しく説明すると、無欠陥部分２ａでは、位相差δ２はδ２＝Δｎ・ｄ２となるのに対し、欠陥部分２ｂでは、位相差δ１はδ１＝Δｎ・ｄ１となる。ここで、ｄ１＞ｄ２であるから、δ２＜δ１となる。
【００３１】
このため、無欠陥部分２ａと欠陥部分２ｂとの間にコントラストを生じさせることが可能となる。ここで、ＮＨフィルム２の配向軸４２とＮＨフィルム３１の配向軸４３とは、上述したように互いに直交している。このため、ＮＨフィルム２とＮＨフィルム３１の厚さが等しい場合には、ＮＨフィルム２の複屈折とＮＨフィルム３１の複屈折が相殺し合うため、位相差は打ち消される、即ちゼロとなる。そして、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとはクロスニコル配置となっている。従って、無欠陥部分２ａが真っ暗となり、欠陥部分２ｂは輝点として現れることとなる。よって、欠陥部分２ａの視認性を向上させることが可能となり、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる。
【００３２】
上記のようにして欠陥が発見されたら、マーカーを使用してマーキングを行い、マーキングインクを乾燥装置で乾燥させ、欠陥の検査が終了する。
【００３３】
（第２実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第２実施形態について図５〜図８を用いて説明する。なお、図５〜図８において、第１実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００３４】
図５は、本発明による光学フィルムの検査方法の第２実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。図６は、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸、偏光板１８ａの透過軸、ＮＨフィルム３１の配向軸、１軸フィルム３４，３５の配向軸及び偏光板１８ｂの透過軸の配置関係を示す図であり、（ａ）は偏光板１８ａの透過軸、（ｂ）はＮＨフィルム２の配向軸、（ｃ）はＮＨフィルム３１の配向軸、（ｄ），（ｅ）は１軸フィルムの配向軸、（ｆ）は偏光板１８ｂの透過軸を示すものである。
【００３５】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子３３が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００３６】
即ち図５に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子３３は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２枚の１軸フィルム３４，３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、３５は、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４，３５は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。このような１軸フィルム３４，３５としては、例えばPCフィルム、TACフィルム、アートン（ＪＳＲ社製）、ゼオノア（日本ゼオン製）などが用いられる。１軸フィルムは、上記フィルムを、厚さ方向に直交する面内の一方向に延伸することにより得られる。
【００３７】
ここで、２枚の１軸フィルム３４，３５は、厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図６（ｅ）、（ｆ）に示すように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸４４に対して９０°の角度をなすように配置され、図６（ｄ）、（ｆ）に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸４４に対して４５°の角度をなすように配置される。
【００３８】
また、本実施形態の欠陥検査用素子３３は、欠陥検査用素子３３を光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ｂと偏光板１８ａとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図６（ｂ）、（ｃ）に示すように、ＮＨフィルム３１の配向軸４３がＮＨフィルム２の配向軸４２と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。このためには、例えば図６（ｃ）、（ｆ）に示すように、欠陥検査用素子３３において、ＮＨフィルム３１の配向軸４３が偏光板１８ｂの透過軸４４に対して４５°となるように配置される。
【００３９】
ここで、ＮＨフィルムの配向軸の向きは、液晶分子の水平配向状態を基準として厚さ方向の液晶分子群を見たときに、液晶分子の両端のいずれの側で液晶分子が立ち上がっているか否かで判断する。従って、例えば図７では、ＮＨフィルム３１では液晶分子の下側端部が立ち上がっているのでＮＨフィルム３１の配向軸４３は下向きとなり、ＮＨフィルム２では、液晶分子の上側端部が立ち上がっているので上向きとなるのである。そして、このように配向軸の向きが互いに逆方向である場合、ＮＨフィルム３１の配向軸４３とＮＨフィルム２の配向軸４２とは反平行であるという。また、図８では、ＮＨフィルム３１では、液晶分子の上側端部が立ち上がっているのでＮＨフィルム３１の配向軸４３は上向きとなり、ＮＨフィルム２では、液晶分子の上側端部が立ち上がっているのでＮＨフィルム２の配向軸４２は上向きとなる。そして、このように配向軸の向きが互いに同じ方向である場合、ＮＨフィルム３１の配向軸４３とＮＨフィルム２の配向軸４２とは平行であるという。
【００４０】
このような欠陥検査用素子３３を用いて光学フィルム１における欠陥を検査する場合は、まず欠陥検査用素子３３を光学フィルム１に対向配置する。このとき、ＮＨフィルム３１を光学フィルム１側に向け、偏光板１８ｂを光学フィルム１と反対側に向けると共に、偏光板１８ｂと偏光板１８ａをクロスニコル配置とする。これにより、ＮＨフィルム３１の配向軸４３を、光学フィルム１に含まれるＮＨフィルム２の配向軸４２と反平行にすることが可能となる。
【００４１】
こうして欠陥検査用素子３３を光学フィルム１に対して配置すると、偏光板１８ａの透過軸４１とＮＨフィルム２の配向軸４２とが非平行であるため、第１実施形態の検査方法と同様に、無欠陥部分と欠陥部分との間でコントラストを生じさせることが可能となる。ここで、ＮＨフィルム２の配向軸４２とＮＨフィルム３１の配向軸４３とは反平行となっている。このため、ＮＨフィルム２とＮＨフィルム３１の厚さが等しくても、位相差は打ち消されない、即ちゼロにはならない。しかし、１軸フィルム３４，３５により、ＮＨフィルム２とＮＨフィルム３１だけでは打ち消されなかった位相差が打ち消されることとなる。そして、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとはクロスニコル配置となっている。従って、無欠陥部分が真っ暗となり、欠陥部分は輝点として現れることとなる。よって、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となり、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる。加えて、本実施形態の検査方法では、ＮＨフィルム２の配向軸４２とＮＨフィルム３１の配向軸４３とは反平行となっており、ＮＨフィルム２の配向軸４２とＮＨフィルム３１の配向軸４３との対称性が高くなっている。このため、本実施形態の検査方法によれば、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１間で配向軸が非対称である場合に比べて、表示特性をより向上させることもできる。
【００４２】
（第３実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第３実施形態について図９を用いて説明する。なお、図９において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００４３】
図９は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図９において、偏光板又はフィルムは、左側（偏光板１８ａ側）から右側（偏光板１８ｂ側）に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００４４】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６０が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００４５】
即ち図９に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６０は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚ずつの２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５及び２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００４６】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６０は、欠陥検査用素子６０を光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図９に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００４７】
上記欠陥検査用素子６０を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６０を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００４８】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図９に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して２０度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して７０度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して２０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して７０度の角度をなすように配置される。なお、本明細書において、２軸フィルムの配向軸とは、厚さ方向に直交する面内において互いに直交する二方向のうち屈折率のより大きい方向に沿った軸を言う。
【００４９】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、例えばPCフィルム、TACフィルム、アートン（ＪＳＲ社製）、ゼオノア（日本ゼオン製）などが用いられる。１軸フィルムは、上記フィルムを、厚さ方向に直交する面内の一方向に延伸することにより得られ、２軸フィルムは、上記フィルムを、厚さ方向に直交する面内において、直交する二方向に延伸することにより得られる。
【００５０】
（第４実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第４実施形態について図１０を用いて説明する。なお、図１０において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００５１】
図１０は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１０において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００５２】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６１が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００５３】
即ち図１０に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６１は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の２軸フィルム５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００５４】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６１は、欠陥検査用素子６１を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが１００度の角度をなすように配置させた場合に、図１０に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００５５】
上記欠陥検査用素子６１を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６１を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００５６】
ここで、２枚の１軸フィルム５２及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１０に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０１度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１１０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１０度の角度をなすように配置される。
【００５７】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００５８】
（第５実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第５実施形態について図１１を用いて説明する。なお、図１１において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００５９】
図１１は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１１において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００６０】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６２が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００６１】
即ち図１１に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６２は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００６２】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６２は、欠陥検査用素子６２を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図１１に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００６３】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１１に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して９５度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して９５度の角度をなすように配置される。
【００６４】
上記欠陥検査用素子６２を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６２を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００６５】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００６６】
（第６実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第６実施形態について図１２を用いて説明する。なお、図１２において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００６７】
図１２は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１２において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００６８】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６３が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００６９】
即ち図１２に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６３は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００７０】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６３は、欠陥検査用素子６３を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが９５度の角度をなすように配置した場合に、図１２に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００７１】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１２に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１１０度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１１０度の角度をなすように配置される。
【００７２】
上記欠陥検査用素子６３を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６３を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００７３】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００７４】
（第７実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第７実施形態について図１３を用いて説明する。なお、図１３において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００７５】
図１３は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１３において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００７６】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６４が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００７７】
即ち図１３に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６４は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００７８】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６４は、欠陥検査用素子６４を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが９５度の角度をなすように配置した場合に、図１３に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００７９】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１３に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１１０度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１１０度の角度をなすように配置される。
【００８０】
上記欠陥検査用素子６４を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６４を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００８１】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００８２】
（第８実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第８実施形態について図１４を用いて説明する。なお、図１４において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００８３】
図１４は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１４において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００８４】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６５が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００８５】
即ち図１４に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６５は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００８６】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６５は、欠陥検査用素子６５を光学フィルム光学フィルム１光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図１４に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００８７】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１４に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して７０度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して６５度の角度をなすように配置される。
【００８８】
上記欠陥検査用素子６５を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６５を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００８９】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００９０】
（第９実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第９実施形態について図１５を用いて説明する。なお、図１５において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００９１】
図１５は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１５において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【００９２】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６６が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【００９３】
即ち図１５に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６６は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【００９４】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６６は、欠陥検査用素子６６を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが７５度の角度をなすように配置した場合に、図１５に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【００９５】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１５に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して２５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して５度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して２５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して５度の角度をなすように配置される。
【００９６】
上記欠陥検査用素子６６を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６６を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【００９７】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【００９８】
（第１０実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１０実施形態について図１６を用いて説明する。なお、図１６において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００９９】
図１６は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１６において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１００】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６７が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１０１】
即ち図１６に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６７は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１０２】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６７は、欠陥検査用素子６７を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが７０度の角度をなすように配置した場合に、図１６に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１０３】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１６に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して８５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して９５度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して８５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して９５度の角度をなすように配置される。
【０１０４】
上記欠陥検査用素子６７を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６７を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【０１０５】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１０６】
（第１１実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１１実施形態について図１７を用いて説明する。なお、図１７において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１０７】
図１７は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１７において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１０８】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６８が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１０９】
即ち図１７に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６８は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、２軸フィルム５６及び１軸フィルム３５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３とともに、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３５、２軸フィルム５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１１０】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６８は、欠陥検査用素子６８を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとが６５度の角度をなすように配置した場合に、図１７に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１１１】
ここで、２枚の１軸フィルム５２、３５及び２枚の２軸フィルム５３、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１７に示すように、１軸フィルム５２の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して５度の角度をなすように、１軸フィルム３５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３５度の角度をなすように配置される。２軸フィルム５３の配向軸は、偏光板１８ａの透過軸に対して５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３５度の角度をなすように配置される。
【０１１２】
上記欠陥検査用素子６８を用いた光学フィルム１の検査に際しては、偏光板１８ａとＮＨフィルム２との間に、偏光板１８ａ側から１軸フィルム５２及び２軸フィルム５３を順次配置する。ここで、１軸フィルム５２、２軸フィルム５３は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。そして、上記欠陥検査用素子６８を用いて、第２実施形態と同様にして光学フィルム１の検査を行う。
【０１１３】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１１４】
（第１２実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１２実施形態について図１８を用いて説明する。なお、図１８において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１１５】
図１８は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１８において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１１６】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子６９が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１１７】
即ち図１８に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子６９は、ＮＨフィルム３と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１１８】
また、本実施形態の欠陥検査用素子６９は、欠陥検査用素子６９を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図１８に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１１９】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１８に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４０度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１０度の角度をなすように配置される。
【０１２０】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１２１】
（第１３実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１３実施形態について図１９を用いて説明する。なお、図１９において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１２２】
図１９は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図１９において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１２３】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７０が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１２４】
即ち図１９に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７０は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に２枚の２軸フィルム５４、５５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。２軸フィルム５４、５５はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。２軸フィルム５４、５５は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１２５】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７０は、欠陥検査用素子７０を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図１９に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１２６】
ここで、２枚の２軸フィルム５４、５５は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図１９に示すように、２軸フィルム５４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して２５度の角度をなすように配置される。
【０１２７】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１２８】
（第１４実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１４実施形態について図２０を用いて説明する。なお、図２０において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１２９】
図２０は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２０において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１３０】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７１が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１３１】
即ち図２０に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７１は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１３２】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７１は、欠陥検査用素子７１を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２０に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１３３】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２０に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４０度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１５度の角度をなすように配置される。
【０１３４】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１３５】
（第１５実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１５実施形態について図２１を用いて説明する。なお、図２１において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１３６】
図２１は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２１において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１３７】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７２が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１３８】
即ち図２１に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７２は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１３９】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７２は、欠陥検査用素子７２を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２１に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１４０】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２１に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４５度の角度をなすように配置される。
【０１４１】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１４２】
（第１６実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１６実施形態について図２２を用いて説明する。なお、図２２において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１４３】
図２２は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２２において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１４４】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７３が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１４５】
即ち図２２に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７３は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１４６】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７３は、欠陥検査用素子７３を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２２に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１４７】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２２に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して４５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１０度の角度をなすように配置される。
【０１４８】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１４９】
（第１７実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１７実施形態について図２３を用いて説明する。なお、図２３において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１５０】
図２３は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２３において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１５１】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７４が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１５２】
即ち図２３に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７４は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に２枚の２軸フィルム５４、５５を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。２軸フィルム５４、５５はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。２軸フィルム５４、５５は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１５３】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７４は、欠陥検査用素子７４を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２３に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１５４】
ここで、２枚の２軸フィルム５４、５５は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２３に示すように、２軸フィルム５４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して２５度の角度をなすように配置される。
【０１５５】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１５６】
（第１８実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１８実施形態について図２４を用いて説明する。なお、図２４において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１５７】
図２４は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２４において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１５８】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７５が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１５９】
即ち図２４に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７５は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１６０】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７５は、欠陥検査用素子７５を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２４に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１６１】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２４に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して３５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１５度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して５度の角度をなすように配置される。
【０１６２】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１６３】
（第１９実施形態）
次に、本発明に係る光学フィルムの検査方法の第１９実施形態について図２５を用いて説明する。なお、図２５において、第１及び第２実施形態と同一又は同等の構成要素については同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【０１６４】
図２５は、ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、１軸フィルム及び２軸フィルムの配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。なお、図２５において、偏光板又はフィルムは、左側から右側に向かうにつれて順次光源から遠い位置に配置される。
【０１６５】
本実施形態の検査方法は、欠陥検査用素子７６が以下のように構成されている点で第１実施形態と異なる。
【０１６６】
即ち図２５に示すように、本実施形態の欠陥検査用素子７６は、ＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６を有する点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６はＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子として機能するものである。１軸フィルム３４、２軸フィルム５５、５６は、厚さ方向に直交する面内で複屈折を有する。
【０１６７】
また、本実施形態の欠陥検査用素子７６は、欠陥検査用素子７６を光学フィルム光学フィルム１に対向配置し、偏光板１８ａと偏光板１８ｂとがクロスニコル配置となるようにした場合に、図２５に示すように、ＮＨフィルム２の配向軸がＮＨフィルム３１の配向軸と反平行となる点で第１実施形態の欠陥検査用素子２９と異なる。
【０１６８】
ここで、１枚の１軸フィルム３４及び２枚の２軸フィルム５５、５６は厚さムラに起因する欠陥の視認性を向上させる観点からは、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにし得るものであることが好ましい。位相差をゼロにするためには、図２５に示すように、１軸フィルム３４の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１２５度の角度をなすように、２軸フィルム５５の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して１３０度の角度をなすように、２軸フィルム５６の配向軸は、偏光板１８ｂの透過軸に対して７５度の角度をなすように配置される。
【０１６９】
上記のような１軸フィルム、２軸フィルム等の位相差低減素子としては、上記第３実施形態におけるものと同様のものが用いられる。
【０１７０】
本発明は、前述した実施形態に限定されるものではない。例えば上記第２実施形態では、欠陥検査用素子３３がＮＨフィルム３１と偏光板１８ｂとの間に１軸フィルム３４，３５を有しているが、図２６に示すように、欠陥検査用素子３６を、欠陥検査用素子３３から１軸フィルム３４を外した構成とし、外された１軸フィルム３４を偏光板１８ａと光学フィルム１との間に配置するようにしてもよい。この場合でも、第２実施形態と同様に、欠陥部分の視認性を向上させることが可能となり、厚さムラに起因する欠陥の検査を的確に行うことができる。加えて、図２６に係る検査光学系を用いた光学フィルムの検査方法によれば、第２実施形態と同様に、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１間で配向軸が非対称である場合に比べて、表示特性をより向上させることができる。なお、第２実施形態において、１軸フィルム３４は、偏光板１８ａの光学フィルム３４側に積層するようにしてもよい。また１軸フィルム３４を１軸フィルム３５で置き換えても構わない。
【０１７１】
また、上記第２〜第１９実施形態においては、ＮＨフィルム２及びＮＨフィルム３１を光が透過するときに得られる位相差をゼロにするために、１軸フィルム又は２軸フィルムの配向軸が偏光板１８ｂの透過軸に対してなす角度、１軸フィルム又は２軸フィルムの配向軸が偏光板１８ａの透過軸に対してなす角度が上記各実施形態で示す値とされているが、位相差を低減するという目的のためであれば、これらの角度は、上記各実施形態に示す値に対して±１５°の範囲でずれていても構わない。
【図面の簡単な説明】
【０１７２】
【図１】本発明の光学フィルムの検査方法に用いる光学フィルムの構成の一例を示す図である。
【図２】本発明の光学フィルムの検査方法の一実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。
【図３】第１偏光板の透過軸、光学フィルムに含まれる第１液晶フィルムの配向軸、第２液晶フィルムの配向軸及び第２偏光板の透過軸の関係の一例を示す図であり、（ａ）は第１偏光板の透過軸、（ｂ）は第１液晶フィルムの配向軸、（ｃ）は第２液晶フィルムの配向軸、（ｄ）は第２偏光板の透過軸を示す。
【図４】第１液晶フィルムに厚さムラのある光学フィルムを示す断面図である。
【図５】本発明の光学フィルムの検査方法の他の実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。
【図６】第１偏光板の透過軸、光学フィルムに含まれる第１液晶フィルムの配向軸、第２液晶フィルムの配向軸、位相差低減素子の光学軸、第２偏光板の透過軸の関係の一例を示す図であり、（ａ）は第１偏光板の透過軸、（ｂ）は第１液晶フィルムの配向軸、（ｃ）は第２液晶フィルムの配向軸、（ｄ）（ｅ）は位相差低減素子の配向軸、（ｆ）は第２偏光板の透過軸を示す。
【図７】第１液晶フィルムの配向軸と第２液晶フィルムの配向軸とが反平行である場合の第１及び第２液晶フィルムの内部構造を概念的に示す図である。
【図８】第１液晶フィルムの配向軸と第２液晶フィルムの配向軸とが平行である場合の第１及び第２液晶フィルムの内部構造を概念的に示す図である。
【図９】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１０】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１１】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１２】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１３】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１４】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１５】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１６】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１７】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１８】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図１９】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２０】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２１】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２２】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２３】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２４】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２５】ＮＨフィルムの配向軸、偏光板の透過軸、位相差低減素子の配向軸同士の欠陥検査時における配置関係を示す図である。
【図２６】本発明の光学フィルムの検査方法のさらに他の実施形態における光学フィルムの検査光学系の一例を示す側面図である。
【符号の説明】
【０１７３】
１…光学フィルム、２…ＮＨフィルム（第１液晶フィルム）、１８ａ…偏光板（第１偏光板）、１８ｂ…偏光板（第２偏光板）、２０…バックライト（光源）、２９，３３，３６、６０〜７６…欠陥検査用素子、３１…ＮＨフィルム（第２液晶フィルム）、３４、３５、５２、５３，５４…１軸フィルム、４２，４３…ＮＨフィルムの配向軸、５４，５５，５６…２軸フィルム（位相差低減素子）。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、
前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、第２偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と非平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項２】
前記第１液晶フィルムの配向軸と前記第２液晶フィルムの配向軸とが直交するように前記欠陥検査用素子を配置することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査方法。
【請求項３】
液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、
前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、前記第１液晶フィルム及び前記第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子と、第２偏光板とを順次積層してなる欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と平行又は反平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項４】
液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、
前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板及び第１位相差低減素子を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、前記第１位相差低減素子、前記第１液晶フィルム及び前記第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を前記第１位相差低減素子と共に低減することが可能な第２位相差低減素子と、第２偏光板とを順次積層してなる欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と平行又は反平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項１】
液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、
前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、第２偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と非平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項２】
前記第１液晶フィルムの配向軸と前記第２液晶フィルムの配向軸とが直交するように前記欠陥検査用素子を配置することを特徴とする請求項１に記載の光学フィルムの検査方法。
【請求項３】
液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、
前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、前記第１液晶フィルム及び前記第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を低減することが可能な位相差低減素子と、第２偏光板とを順次積層してなる欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と平行又は反平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【請求項４】
液晶をハイブリッドネマチック配向させた第１液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、
前記光学フィルムに対し、光源から第１偏光板及び第１位相差低減素子を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第２液晶フィルムと、前記第１位相差低減素子、前記第１液晶フィルム及び前記第２液晶フィルムを光が透過するときに得られる位相差を前記第１位相差低減素子と共に低減することが可能な第２位相差低減素子と、第２偏光板とを順次積層してなる欠陥検査用素子を、前記第２液晶フィルムを前記光学フィルム側に向けるように且つ前記第２液晶フィルムの配向軸が前記第１液晶フィルムの配向軸と平行又は反平行となるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【公開番号】特開２００６−３１７４（Ｐ２００６−３１７４Ａ）
【公開日】平成１８年１月５日（２００６．１．５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００４−１７８８９０（Ｐ２００４−１７８８９０）
【出願日】平成１６年６月１６日（２００４．６．１６）
【出願人】（５０４０３０７６１）新日石液晶フィルム株式会社 (12)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年１月５日（２００６．１．５）
【国際特許分類】
【出願日】平成１６年６月１６日（２００４．６．１６）
【出願人】（５０４０３０７６１）新日石液晶フィルム株式会社 (12)
【Ｆターム（参考）】
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