説明

成膜装置、製造装置、成膜方法、および発光装置の作製方法

【課題】蒸着材料の利用効率をたかめ、有機化合物を含む層を有する発光装置の製造コストを低減するとともに、発光装置の製造に要する製造時間を短縮させることを課題とする。
【解決手段】成膜室内を減圧下とし、導電表面基板への通電によって、導電表面基板を急速に加熱し、導電表面基板上の材料層を短時間に蒸発させ、被成膜基板に蒸着し、被成膜基板上に材料層を成膜する。なお、急速に加熱する導電表面基板の加熱面積は、被成膜基板と同等のサイズとし、1回の加熱で1枚の被成膜基板への成膜を終了させる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は基板上に成膜可能な材料の成膜に用いられる成膜装置および該成膜装置を備えた製造装置に関する。また、その成膜装置を用いて成膜する成膜方法に関する。また、その成膜装置を用いて成膜した有機化合物を含む層を発光層とする発光装置、およびその作製方法に関する。
【背景技術】
【0002】
薄型軽量、高速応答性、低電圧駆動などの特徴を有する有機化合物を発光体として用いた発光素子は、次世代のフラットパネルディスプレイへの応用が検討されている。特に、発光素子をマトリクス状に配置した表示装置は、従来の液晶表示装置と比較して、視野角が広く視認性が優れる点に優位性があると考えられている。
【0003】
発光素子の発光機構は、一対の電極間に有機化合物を含む層を挟んで電圧を印加することにより、陰極から注入された電子および陽極から注入された正孔が有機化合物層中の発光中心で再結合して分子励起子を形成し、その分子励起子が基底状態に戻る際にエネルギーを放出して発光するといわれている。励起状態には一重項励起と三重項励起が知られ、発光はどちらの励起状態を経ても可能であると考えられている。
【0004】
また、有機化合物を含む層は「正孔輸送層、発光層電子輸送層」に代表される積層構造を有している。また、EL層を形成するEL材料は低分子系(モノマー系)材料と高分子系(ポリマー系)材料に大別され、低分子系材料は、蒸着装置を用いて成膜される。
【0005】
従来の蒸着装置は基板ホルダに基板を設置し、EL材料、つまり蒸着材料を封入したルツボ(または蒸着ボート)と、昇華するEL材料の上昇を防止するシャッターと、ルツボ内のEL材料を加熱するヒーターとを有している。そして、ヒーターにより加熱されたEL材料が昇華し、回転する基板に成膜される。従来の蒸着装置は、均一な成膜を行うために、蒸着源と基板との距離を十分に離し、かつ、基板を回転させる必要があった。
【0006】
例えば300×360mmの基板を用いる場合、この距離は1m以上必要であった。扱う基板サイズが大きくなると、この基板とルツボとの間の距離は、比例して大きくする必要がある。そのため、蒸着装置全体が大きく、かつ装置構成が複雑化してしまう問題点がある。
【0007】
また、蒸着源と基板との距離が離れているため、被成膜物以外に対して材料が飛散して成膜室内壁などへの材料付着量が多くなり、材料の使用効率の低下と装置のメンテナンス頻度上昇を招いている。
【0008】
また、蒸着源と基板との距離が離れているため、成膜速度が遅くなり、成膜室内の排気に要する時間も長時間となってスループットが低下していた。
【0009】
また、耐熱性フィルムの少なくとも一方の面に発光性有機化合物を成膜した有機EL転写基板を、ヒートバーで加熱して透明電極を有する透明基板に発光性有機化合物を転写する技術が特許文献1に開示されている。
【0010】
また、発色性有機ドナー層を有するドナーシートと、基板とを接触させた状態で輻射線を照射して、基板に有機材料の層を形成する技術が特許文献2に開示されている。
【0011】
また、ロール−ツゥ−ロール方式で有機ドナー物質が形成されたドナーシートを加熱して、基板に有機材料の層を形成する技術が特許文献3に開示されている。
【特許文献1】特開2000−77182号公報
【特許文献2】特開2003−308974号公報
【特許文献3】特開平10−245547号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0012】
本発明は、従来技術に比べ材料使用効率が高く、また、面内の均一性およびスループットの高い蒸着方法を提供することを目的とする。特に、膜厚モニターを設けることなく、均一性の高い膜を作製する成膜装置および成膜方法を提供することを課題とする。また、その成膜装置を用いて成膜した有機化合物を含む層を発光層とする発光装置の作製方法も提供する。
【0013】
また、複数の基板に対して成膜処理することでスループットを向上させる製造技術を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0014】
表面に有機化合物を含む膜を形成した導電性を有する基板と、被成膜基板(以下、被成膜基板と称する)とを近距離、代表的には0.5mm以上30mm以下で向かい合わせ、導電性を有する基板に電流を流して加熱を行うことで、導電性を有する基板に対向している被成膜基板の面に有機化合物を含む膜を形成する。成膜時間は、導電性を有する基板のサイズにもよるが、電流を流す間の短時間とすることができ、短時間での成膜を行うことができる。本発明は、上記課題の少なくとも一つを解決する。
【0015】
なお、成膜される膜厚は、予め導電性を有する基板に形成された有機化合物を含む膜の膜厚に依存する。
【0016】
本明細書で開示する発明の構成は、導電表面を有する第1の基板(以下、導電表面を有する基板を導電表面基板と称する)上に第1の有機層を形成し、前記第1の基板の一方の端部に電源のアノードを電気的に接続し、もう一方の端部に電源のカソードを電気的に接続し、第1の電極を有する第2の基板を前記第1の基板と対向する位置に配置し、前記アノードと前記カソードを通電させて前記第1の基板上の第1の有機層を加熱した後、第1の基板と対向する前記第2の基板面に設けられた前記第1の電極上に第2の有機層を形成し、前記第2の有機層上に第2の電極を形成する発光装置の作製方法である。
【0017】
上記構成において、第1の電極上に形成された第2の有機層は、第1の基板上に形成されていた第1の有機層と同じ材料を含む。従って、上記構成での第2の有機層の形成は、第1の基板から第2の基板への有機層の転写とも言える。なお、本発明においては、第1の基板への通電によって有機層の少なくとも一部は昇華され、飛翔して第2の基板へ付着することで成膜が行われるため、第1の有機層よりも第2の有機層の膜質を向上させる、例えば膜を緻密にすることもできる。また、第1の有機層の材料によっては、第2の有機層と第1の有機層との膜厚もほぼ同じとすることもできる。
【0018】
また、上記構成において、選択的に成膜することもできる。例えば、第1の基板と第2の基板の間に、開口を有するマスク(メタルマスクなど)を配置した後、第1の基板へ通電を行うことによって前記第2の基板面に第2の有機層を選択的に形成することができる。フルカラーの発光装置を形成する場合、発光色毎に選択的に有機層を形成することができる。例えば、赤色(R)を発光させるための有機層を選択的に形成した後、緑色(G)を発光させるための有機層を選択的に形成した後、青色(B)を発光させるための有機層を選択的に形成して、3種類の画素を形成する。
【0019】
また、第1の導電表面基板は、導電材料からなる基板、導電膜を表面に有する半導体基板、または導電膜を表面に有する絶縁基板を用いればよい。導電材料からなる基板としては、Cu、Au、Al、Ag、Ti、Ni、W、Ta、Nb、Mo、Cr、Pt、Zn、Sn、In、またはMoから選ばれた元素の金属板、または前記元素を主成分とする合金板を用いることができる。また、導電膜を表面に有する半導体基板(代表的には単結晶シリコン基板)を用いることができる。単結晶シリコン基板は円形であり、大面積にすることは困難であるが、平坦性はガラス基板や金属基板よりも優れている。また、導電膜を表面に有する絶縁基板としては、ガラス基板や石英基板やセラミックス基板などの絶縁基板を用い、導電膜としては、Cu、Au、Al、Ag、Ti、Ni、W、Ta、Nb、Mo、Cr、Pt、Zn、Sn、In、またはMoから選ばれた元素、または前記元素を主成分とする合金を含む導電膜を用いることができる。ただし、導電材料からなる基板は、通電を行って発生するジュール熱であまり変形しないような耐熱性を有する材料を選択することが好ましい。また、導電材料からなる基板の表面平均粗さRaは50nm未満、好ましくは20nm以上40nm以下とすることが好ましい。また、平坦性を向上させるために、導電材料からなる基板上に該基板とは異なる導電膜を形成してもよい。
【0020】
また、導電膜を表面に有する絶縁基板の表面平均粗さRaは20nm未満、好ましくは1nm以上10nm以下の範囲内とすることが望ましい。材料層を形成する基板の平坦性は、材料層の平坦性に大きく影響し、さらには被成膜基板に成膜される材料層の平坦性にも大きく影響するため、平坦であればあるほど好ましい。
【0021】
また、前記第1の導電表面基板は、矩形であり、その面積は、第2の基板の面積よりも広いことが好ましい。
【0022】
また、両面に有機化合物を含む膜を形成した導電性を有する基板を、2枚の被成膜基板の間に挟み、導電性を有する基板に電流を流して加熱を行うことで、2枚の被成膜基板へ同時に蒸着することも可能である。
【0023】
本発明で開示する他の構成は、第1の導電表面基板の第1の面上に第1の有機層を形成し、前記第1の基板の第2の面上に第2の有機層を形成し、前記第1の基板の一方の端部に電源のアノードを電気的に接続し、もう一方の端部に電源のカソードを電気的に接続し、前記第1の基板を挟んで第2の基板と第3の基板をそれぞれ対向させて配置し、前記アノードと前記カソードを通電させて前記第1の面上の第1の有機層及び前記第2の面上の第2の有機層を加熱した後、前記第1の面に対向する第2の基板の面に第3の有機層を形成し、前記第2の面に対向する第3の基板の面に第4の有機層を形成する成膜方法である。
【0024】
上記構成において、第2の基板に形成される第3の有機層は、第1の基板の第1の面に形成されていた第1の有機層と同じ材料を含み、且つ、第3の基板に形成される第4の有機層は、第1の基板の第2の面に形成されていた第2の有機層と同じ材料を含む。
【0025】
また、上記構成において、第1の基板と、第2の基板とを近距離、代表的には0.5mm以上30mm以下で向かい合わせる。また、第1の基板と、第3の基板とを近距離、代表的には0.5mm以上30mm以下で向かい合わせる。第1の基板と第2の基板とを近距離とすることで、成膜室の内壁への付着量を低減することができる。また、第1の基板と第2の基板とを近距離とし、第1の基板と第3の基板とを近距離とすることで成膜装置全体としてのフットプリントの小型化を図ることができる。
【0026】
また、上記各構成において、導電性を有する基板への通電を行う際、導電性を有する基板と電気的に接続するのは、直流電源でも交流電源でもよい。
【0027】
従来のルツボや蒸着ボートは、セラミックなどの熱伝導性の低い材料で構成することによって、ルツボ内の材料の熱容量の均一化を図っていたため、材料を加熱し、安定な蒸着速度を得るために必要とされる時間が長時間必要とされていた。また、安定な蒸着速度を得る間にも蒸着が行われるため、予めルツボや蒸着ボートに用意する材料量が多く必要であった。
【0028】
本発明の成膜方法は、導電性を有する基板に形成した膜を効率よく被成膜基板上へ成膜できるため、蒸着速度を安定させる必要はなく、短時間での成膜が可能である。
【0029】
また、従来の蒸着法において、タングステンなどのワイヤをコイル状にして熱源として用いる場合にも、電流を流してワイヤを加熱しているが、膜厚均一性の高い蒸着を行うことは困難である。
【0030】
本発明の成膜方法は、予め導電性を有する基板上に公知の方法で膜厚均一性の高い膜が得られていれば、被成膜基板上にほぼ同等の膜厚均一性の高い膜が成膜できる。また、予め導電性を有する基板上に印刷法を用いて膜を形成することで材料使用効率を高めることができる。
【0031】
また、複数のヒートバーで加熱する技術が特許文献1に開示されているが、基板に対して部分的に加熱するもので、その加熱領域は、基板の一辺よりも幅の狭い帯状であり、本発明の概念とは加熱範囲が大きく異なる他、透明基板と有機EL転写基板とをスライドさせて位置合わせを行い、再度ヒートバーで加熱する蒸着を繰り返して1枚の透明基板への成膜処理を行っている。
【0032】
本発明は、基板に対して広い面積で均一な加熱を行い、1回の通電による加熱で1枚の基板への成膜処理を行う。勿論、位置合わせも1回であり、本発明の成膜方法は、大幅な成膜時間の短縮を図ることができる。また、プレート面積を拡大することも可能であり、例えば、基板サイズが、320mm×400mm、370mm×470mm、550mm×650mm、600mm×720mm、680mm×880mm、1000mm×1200mm、1100mm×1250mm、1150mm×1300mmのような大面積基板に対して成膜を行うことができる。また、大面積プレート1枚に対向する複数の被成膜基板を配置して短時間に成膜を行うことも可能である。また、プレート面積を拡大する場合は、通電させて加熱を行う範囲もプレート面積に合わせて拡大させることが好ましい。
【0033】
また、発色性有機ドナー層を有するドナーシートと、基板とを接触させた状態で輻射線を照射して、基板に有機材料の層を形成する技術が特許文献2に開示されているが、本発明の成膜方法は、対向する面同士が接触しないように間隔を空ける点で大きく異なる。また、特許文献2には通電による加熱の記載はない。
【0034】
また、本明細書では、新規な成膜装置も開示する。
【0035】
その成膜装置の構成は、成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結された成膜室を有する成膜装置であり、前記成膜室は、被成膜基板を保持する保持手段と、導電表面基板を保持する第1の保持手段及び第2の保持手段と、前記被成膜基板と前記導電表面基板の位置合わせを行うアライメント手段とを有し、前記導電表面基板上には有機化合物を含む層を有し、前記成膜装置は、前記導電表面基板を介して前記第1の保持手段と前記第2の保持手段との間に電流を流す電源を有している成膜装置である。
【0036】
また、上記成膜装置は、フェイスダウン方式でも、フェイスアップ方式でもよい。第1の基板と第2の基板とを近距離とするので、特に基板の平面の向きは特に限定されず、基板の平面を成膜室底面に対して垂直、または斜めに配置してもよい。
【0037】
また、上記成膜装置の構成において、前記被成膜基板と前記導電表面基板は、対向する位置に配置され、前記第1の保持手段と前記第2の保持手段との間に電流を流すと前記導電表面基板が加熱され、前記導電表面基板上の有機化合物が蒸発し、前記導電表面基板と対向している被成膜基板の面に有機化合物を含む層が成膜される。
【0038】
また、上記成膜装置の構成において、さらにマスクを保持するマスク保持手段と、マスクと被成膜基板の位置合わせを行うアライメント手段とを有する構成としてもよい。マスクを用いることによって選択的に成膜を行うことができる。
【0039】
また、本明細書では、上記成膜装置を有する新規な製造装置も開示する。
【0040】
また、上記成膜装置は、膜厚モニタを用いる蒸着速度の調節を使用者が行わなくてもよいため、成膜装置を有する製造装置を全自動化することができる。また、上記成膜装置は、1層の成膜に1枚のプレート(導電表面を有するガラス基板、または金属基板で代表される導電基板)を使用している、即ち、1回の成膜に対して必要な量だけ毎回材料を補充していると言える。一方、従来の蒸着装置は、膜厚モニタでの蒸着速度の調節を使用者が行うため、従来の蒸着装置を全自動化することは困難であった。
【0041】
また、従来の蒸着装置では、蒸着源に収納した材料が無くなれば、成膜室を大気圧とし、使用者が手作業で補充していた。従来の蒸着装置は、成膜室の容量が大きく、材料使用効率が低いため、頻繁に補充が行われていた。この補充のために従来の蒸着装置を有する製造装置は多くの基板を連続して処理するのに不向きであり、多くの基板を連続で処理する間の手順を全自動化することも困難でもあった。
【0042】
本明細書で開示する製造装置の構成は、第1の成膜室、該第1の成膜室に連結された搬送室、および該搬送室に連結された第2の成膜室とを有する製造装置であり、前記第1の成膜室は、第1の成膜室内において導電表面基板上に有機化合物を含む層を塗布法で塗布する機構を有し、前記搬送室は、前記搬送室内を真空にする真空排気手段と連結され、前記第2の成膜室は、被成膜基板を保持する保持手段と、表面上に前記有機化合物を含む層を有する導電表面を備えた基板を保持する第1の保持手段及び第2の保持手段と、前記被成膜基板と前記導電表面基板の位置合わせを行うアライメント手段とを有し、前記第2の成膜室に配置された導電表面基板を介して前記第1の保持手段と前記第2の保持手段との間に電流を流す電源を有している製造装置である。
【0043】
また、上記製造装置の構成において、前記第2の成膜室内で前記被成膜基板と前記導電表面基板は、対向する位置に配置され、前記第1の保持手段と前記第2の保持手段との間に電流を流すと前記導電表面基板が加熱され、前記導電表面基板上の有機化合物が蒸発し、前記導電表面基板と対向している被成膜基板の面に有機化合物を含む層が成膜される。
【0044】
また、上記製造装置の構成において、前記第2の成膜室内は、さらにマスクを保持するマスク保持手段と、マスクと被成膜基板の位置合わせを行うアライメント手段とを有する構成としてもよい。マスクを用いることによって選択的に成膜を行うことができる。
【0045】
第1の成膜室で塗布法により、導電表面を備えた基板上に、表面が平坦な有機化合物層を形成することができる。導電表面基板は、非常に平坦な表面を有する平板であり、例えばスピンコート法を用いることで、導電表面基板上に平坦、且つ膜厚の均一な有機化合物層を形成することができる。
【0046】
一方、特許文献3では金属ホイルであるドナーシートに有機ドナー物質を形成している。ロールーツゥーロール方式であるため、細長い面に均一な膜を形成することは困難である。また、特許文献3においてドナーシートに電圧を印加する場合、ウェブであるため、成膜装置の内だけでなく、成膜装置の外のドナーシート、例えばロールで巻かれている部分にも電流が少なくとも流れるため、電流のロスが大きい。従って、1回の成膜に要する電流量が大きい。
【0047】
本発明は、矩形状の導電表面基板を用いるため、ロールーツゥーロール方式よりも均一な膜を得ることができる。また、本発明は、1回の成膜につき、導電表面基板1枚にしか電圧を印加しないため、製造装置全体の消費電力量を大幅に減らすことができる。
【0048】
また、特許文献3に記載の金属ホイルであるドナーシートは、破れる恐れがあるため、厚さを薄くするには限界がある。また、シートそのものが薄すぎる場合、具体的には厚さ0.1mm以下の場合には、テープ状にすると撓みやすいため、その上に均一な膜を形成することは困難である。
【0049】
本発明は、スパッタ法やCVD法などで形成した金属薄膜を表面に有する石英基板やガラス基板を用いることができる。従って、100nm以上0.1mm以下の膜厚の均一な金属薄膜を形成することができる。石英基板やガラス基板は、さらに研磨を行うことにより平均表面粗さRaで1nm以下を得ることができ、金属基板に比べてはるかに平坦な面を得ることができる。研磨技術によりガラス基板の平均表面粗さRaで0.2nm、最大表面粗さRmaxで3nm以下とすることができる。具体的には、石英基板やガラス基板上に設ける金属薄膜の平均表面粗さRaは、1nm以上10nm以下の範囲内とすることが好ましい。本発明において、材料層を形成する基板の平坦性は、材料層の平坦性に大きく影響され、さらには被成膜基板に成膜される材料層の平坦性にも大きく影響するため、平坦であればあるほど好ましい。
【0050】
また、100nm以上0.1mm以下の金属薄膜を形成したガラス基板を用いると、0.1mmよりも厚い金属ホイルに比べて短時間での成膜が可能である。
【0051】
同じ電源を用いて成膜した場合、0.1mmのタングステン基板を用いた成膜時間は、約5秒であるのに対し、0.2mmのタングステン基板を用いた成膜時間は、約30秒から1分である。このことから、厚さは薄ければ薄い方が、ジュール熱が発生しやすく、短時間での成膜が可能である。
【0052】
なお、100nmの厚さのタングステン薄膜を形成した石英基板を用いて、本発明の成膜方法が可能であることを実験で確認できている。また、金属薄膜の材料によっては100nm未満であっても電気抵抗があまり高くならないのであれば蒸着できる。ただし、100nm未満の膜厚とすると電気抵抗が高くなってしまい、電流量が増加してしまうため、好ましくない。
【0053】
また、従来では、蒸着ボートを用いた蒸着法が知られている。蒸着ボートはタングステンやモリブデンやタンタルなどを用いて作製され、凹部を有しており、その凹部に蒸着材料を収納させる。蒸着ボートも通電によって加熱するが、全体のサイズは、10mm×5mm、50mm×5mm、112mm×25mmというような細長い矩形形状となっている。蒸着材料は、蒸着ボートの凹部に配置するため、蒸着材料が配置される面積は、さらに小さく最大で50mm×20mm程度である。
【0054】
本発明においては、被成膜基板とほぼ同じサイズの平坦な導電表面基板を用いるため、蒸着ボートとは大きく異なる。導電表面基板は蒸着ボートのような凹部を有しておらず、平坦であることが、被成膜基板への膜厚の均一性に大きく寄与している。蒸着ボートは、複数の基板に対して成膜を行うため、または蒸着速度が安定するまで蒸発させるロスを考慮して凹部に収納できる容量を大きくしており、本発明とは使用方法が大きく異なる他、膜厚の均一性を意図した蒸着源ではない。本発明は、1回の成膜につき、材料層が形成された1枚の導電表面基板を用いる。
【発明の効果】
【0055】
本発明により短時間の成膜が可能になり、発光装置の作製時間の短縮を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0056】
本発明の実施形態および実施例について、以下に説明する。
【0057】
(実施の形態1)
図1(A)及び図1(B)を用いて成膜方法を説明する。図1(A)は、成膜装置の簡略な断面図を示している。
【0058】
まず、第1の基板101上に塗布法を用いて第1の有機層102を形成する。次いで、第1の基板101を成膜室内に搬入する。
【0059】
成膜室内は、真空排気しておくことが好ましく、真空度が5×10−3Torr(0.665Pa)以下、好ましくは10−4〜10−6Paまで真空排気する。成膜室に連結して設けられる真空排気手段は、大気圧から1Pa程度をオイルフリーのドライポンプで真空排気し、それ以上の圧力は磁気浮上型のターボ分子ポンプまたは複合分子ポンプにより真空排気する。成膜室には水分を除去するためにクライオポンプを併設しても良い。こうして排気手段から主に油などの有機物による汚染を防止している。内壁面は、電解研磨により鏡面処理し、表面積を減らしてガス放出を防いでいる。
【0060】
次いで、第1の有機層102を設けた基板面に対向する第2の基板103を配置する。なお、第1の有機層102と第2の基板103が、互いに接しないように配置する。また、第1の基板101と第2の基板103との間隔dは、0.5mm以上30mm以下とする。
【0061】
また、第1の基板101は、導電性を有する金属板であり、図1(A)に示すように、第1の基板101と電気的に接続する電源105およびスイッチ104を設ける。なお、スイッチ104は成膜室の外側に設け、実施者が操作できるようにする。また、電源105は、成膜室の外側に設けてもよいし、内側に設けてもよい。なお、図1(A)はスイッチ104がオフとなっている状態、即ち成膜処理前の図である。
【0062】
そして、成膜室内に第1の基板と第2の基板とを近距離、代表的には0.5mm以上30mm以下で向かい合わせた後、スイッチ104をオンとして電源105から第1の基板に電流を流して加熱を行う。
【0063】
第1の基板に電流を流した後は、瞬間的に、図1(B)に示すように第2の基板103上に成膜が行われる。こうして、第2の基板103の一方の面、即ち、第1の基板に対向する面に第2の有機層106が形成される。図1(A)及び図1(B)に示す成膜方法は、成膜したい所望の材料を無駄にすることなく、被成膜基板に成膜することができる。また、成膜室内壁に付着することも防止することができるため、成膜装置のメンテナンスを簡便なものとすることができる。また、従来の蒸着装置のように、膜厚モニターを用いて蒸着速度が安定するまで蒸着を行う必要がない。従って、成膜装置の構成をシンプルなものとすることができる。
【0064】
また、図1(A)及び図1(B)では、第1の基板101と第2の基板103が同じサイズで示されているが、特に限定されず、一方が他方より大きい面積を有していてもよい。
【0065】
また、選択的に成膜を行う場合には、第1の基板と第2の基板の間に、開口部を有するマスクを配置すればよい。
【0066】
以下に、実際に成膜して膜厚の均一性を確認する実験及び結果を説明する。
【0067】
(実験1)
第1の基板としては、10cm×10cmの面積を有する平板を用いる。第1の基板の材料は、タングステンであり、板の厚さは0.1mmのものを用いる。ここでは、溶媒としてクロロホルムを用い、Alqを分散させた材料液を用意する。重量比(クロロホルム:Alq)が1:0.01となるようにする。
【0068】
スピンコート法により、Alqを含む材料液を滴下して第1の基板を回転させ、第1の基板上に第1の有機層を形成した。そして、第1の基板の周縁部に対してアセトンを染みこませた布で拭き、第1の基板の周縁部における第1の有機層を除去した。
【0069】
次いで、第2の基板としてガラス基板を用意し、第1の基板の第1の有機層が設けられている面に対向するように配置する。第1の基板と第2の基板の間隔dは、1.5mmとした。
【0070】
そして、第1の基板の周縁部の2カ所を導電性の電極用板ではさみ、電気的に接続された配線に100Aの電流を5秒間流した。
【0071】
電流を流した瞬間に、第2の基板上に第2の有機層が均一な膜厚で形成された。第2の有機層の膜厚分布は±6%とすることができた。この第2の有機層の基板面内の膜厚分布を図2(A)に示す。また、第2の基板の中央部の5cm×5cmの領域における膜厚分布を図2(B)に示す。
【0072】
(実施の形態2)
ここでは、発光装置を作製する方法を説明する。
【0073】
導電性を有する基板に第1の有機層を形成し、その導電性を有する基板を被成膜基板に対向させて配置し、導電性を有する基板に電流を流して被成膜基板上に第2の有機層を形成する。
被成膜基板上には、予め第1の電極を複数形成しておく。必要であれば、隣り合う第1の電極の間を絶縁するための隔壁を設ける。
【0074】
そして、積層形成するために、複数の基板を用意し、同様の手順で複数の有機層をそれぞれ形成する。例えば、正孔輸送層と、発光層と、電子注入層とを順次積層させる場合には、塗布法でそれぞれを形成した複数の基板を用意する。正孔輸送層となる有機層を設けた第1金属板に電流を流して、ガラス基板の第1の電極上に正孔輸送層を形成し、発光層となる有機層を設けた第2金属板に電流を流して、ガラス基板の正孔輸送層上に発光層を形成し、電子注入層となる有機層を設けた第3金属板に電流を流して、ガラス基板の発光層上に電子注入層を形成する。
【0075】
そして、公知の方法を用いて、第1の電極と重なる有機層の積層上に第2の電極を形成する。こうして、発光素子を含む発光装置を形成することができる。
【0076】
以下に、実際に発光素子を作製した実験及び結果を説明する。
【0077】
(実験2)
まず、2枚の導電性を有する基板(第1の基板および第2の基板)を用意する。導電性を有する基板としては、9cm×9cmの面積を有する平板を用いる。導電性を有する基板の材料は、タンタルであり、板の厚さは0.1mmのものを用いる。
【0078】
導電性を有する第1の基板上には、NPBを含む第1の有機層を形成する。ここでは、溶媒としてクロロホルムを用い、NPBを分散させた材料液を用意する。重量比(クロロホルム:NPB)が1:0.005となるようにする。
【0079】
この導電性を有する第1の基板に対向するガラス基板を配置した後、導電性を有する第1の基板に電流を流してガラス基板上にNPBを含む膜(膜厚75nm)を形成する。なお、ガラス基板上には、珪素を含むITO膜からなる第1の電極を複数設けられており、この第1の電極上にNPBを含む膜が成膜される。
【0080】
また、導電性を有する第2の基板上には、Alq及びC6を含む第2の有機層を形成する。ここでは、溶媒としてクロロホルムを用い、Alq及びC6を分散させた材料液を用意する。重量比(クロロホルム:Alq:C6)が1:0.005:0.00005となるようにする。
【0081】
次いで、導電性を有する第2の基板に対向する上記ガラス基板を配置した後、導電性を有する第2の基板に電流を流してガラス基板上にAlq及びC6を含む膜(膜厚70nm)を形成する。
【0082】
次いで、蒸着法により、ガラス基板上に1nmの膜厚のLiF膜と、Al膜を積層形成する。このAl膜は、発光素子の第2の電極として機能する。
【0083】
こうして形成された発光素子の特性(輝度と電流密度の関係)を図3(A)に示す。また、発光素子の輝度と電圧の関係を図3(B)に示す。
【0084】
(実施の形態3)
本実施の形態では、実施の形態1とは異なる装置構成の一例を示す。本実施の形態では、図4(A)及び図4(B)に示す成膜装置を用いて2枚の被成膜基板に対して蒸着を同時に行う。
【0085】
まず、第1の基板401の一方の面上に第1の有機層402を形成し、もう一方の面上に第2の有機層407を形成する。次いで、両面に有機層を有する第1の基板401を成膜室内に搬入する。
【0086】
成膜室内は、真空排気しておくことが好ましく、真空度が5×10−3Torr(0.665Pa)以下、好ましくは10−4〜10−6Paまで真空排気する。
【0087】
次いで、第1の有機層402を設けた基板面に対向する第2の基板403を配置する。また、第2の有機層407を設けた基板面に対向する第3の基板408を配置する。
【0088】
なお、第1の有機層402と第2の基板403が、互いに接しないように配置する。また、同様に、第2の有機層407と第3の基板408が、互いに接しないように配置する。
【0089】
また、第1の基板401と第2の基板403との間隔d1は、0.5mm以上30mm以下とする。同様に、第1の基板401と第3の基板408との間隔d2は、0.5mm以上30mm以下とする。
【0090】
また、第1の基板401は、導電性を有する金属板であり、図4(A)に示すように、第1の基板401と電気的に接続する電源405およびスイッチ404を設ける。なお、スイッチ404は成膜室の外側に設け、実施者が操作できるようにする。また、電源405は、成膜室の外側に設けてもよいし、内側に設けてもよい。なお、図4(A)はスイッチ404がオフとなっている状態、即ち成膜処理前の図である。
【0091】
そして、スイッチ404をオンとして電源405から第1の基板に電流を流して加熱を行う。
【0092】
第1の基板に電流を流した後は、瞬間的に、図4(B)に示すように第2の基板403及び第3の基板408上に成膜が行われる。こうして、第2の基板403の一方の面、即ち、第1の基板に対向する面に第3の有機層406が形成され、第3の基板408の一方の面、即ち、第1の基板に対向する面に第4の有機層409が形成される。
【0093】
図4(A)及び図4(B)に示す成膜装置を用いれば、2枚に蒸着を行っても第1の基板を加熱するための電流値は、実施の形態1とほとんど変わらない。従って、実施の形態1とほぼ同じ電流量で2枚の基板に成膜を行うことができるため、効率よく成膜を行うことができると言える。
【0094】
また、図4(A)及び図4(B)に示す成膜装置は、成膜したい所望の材料を無駄にすることなく、被成膜基板に成膜することができる。また、成膜室内壁に付着することも防止することができるため、成膜装置のメンテナンスを簡便なものとすることができる。また、従来の蒸着装置のように、膜厚モニターを用いて蒸着速度が安定するまで蒸着を行う必要がない。従って、成膜装置の構成をシンプルなものとすることができる。
【0095】
また、本実施の形態は、実施の形態1または実施の形態2と自由に組み合わせることができる。
【0096】
以上の構成でなる本発明について、以下に示す実施例でもってさらに詳細な説明を行うこととする。
【実施例1】
【0097】
本実施例では、実施の形態1に示す成膜装置を有する製造装置の一例を図5を用いて説明する。図5に示す製造装置は、タスク向上を図ったチャンバー配置としている。
【0098】
図5において、成膜室501は、設置室502と、搬送室505とそれぞれ連結している。また、設置室502は、塗布室520と連結している。また、これらの処理室の間にはゲート弁503、504、510がそれぞれ設けられている。
【0099】
塗布室520は、導電表面基板508上に有機化合物を含む材料層509を形成する成膜室である。塗布室520では、大気圧下、または減圧下でスピンコート法やスプレー法などで材料層509を塗布し、焼成する。導電表面基板508を導入するためのロード室や、焼成するための加熱室をさらに塗布室520に連結してもよい。
【0100】
設置室502は、真空排気処理室と連結されており、真空排気して真空にすることができる。また、設置室502には、不活性ガスを導入して成膜室内を大気圧にする不活性ガス導入系と連結されている。また、設置室502には、搬送ロボットアームなどの搬送ユニット516が設けられており、基板500や導電表面基板508を搬送する搬送ユニット516を用いて、塗布室520と成膜室501との間の搬送を行う。また、設置室502に複数の導電表面基板508や複数の基板500をストックするホルダを設けてもよい。また、基板500を導入するためのロード室をさらに設置室502に連結してもよい。
【0101】
成膜室501は、真空排気処理室と連結されており、水分などが混入しないように、真空排気して真空にしておくことが好ましい。また、成膜室501には、不活性ガスを導入して成膜室内を大気圧にする不活性ガス導入系と連結されている。なお、成膜室の大気開放は、極力さけることが好ましい。成膜室を大気開放することにより、内壁には水分をはじめ様々なガスが吸着し、これらが真空排気をすることにより再度放出される。吸着したガスの放出が収まり真空度が平衡値に安定するまでの時間は、数十〜数百時間を要すると言われている。そのために成膜室の壁をベーキング処理してその時間を短縮させている。
【0102】
また、成膜室501は、被成膜基板である基板500を保持するための第1の保持手段と、導電表面基板508を保持するための第2の保持手段と、導電表面基板508に電流を流す電源506を有している。成膜室501には、第1の保持手段としてアライメント機構512aとアライメント機構512bとを有している。また、成膜室501には、第2の保持手段としてカソード側ホルダ517とアノード側ホルダ518とを有している。
【0103】
また、成膜室の内壁に用いる材料としては、その表面積を小さくすることで酸素や水等の不純物の吸着性を小さくすることができるので、電解研磨を施して鏡面化させたアルミニウムやステンレス(SUS)等を内部壁面に用いる。これにより、成膜室内部の真空度を10−5〜10−6Paに維持することができる。また、気孔がきわめて少なくなるように処理されたセラミックス等の材料を内部部材に用いる。なお、これらは、中心線平均粗さが3nm以下となる表面平滑性を有するものが好ましい。
【0104】
導電表面基板508を第2の保持手段にセットすると、カソード側ホルダ517とアノード側ホルダ518は、電源506及びスイッチ507と電気的に接続される。ただし、成膜室501のその他の構成(チャンバー内壁など)は、電源506と電気的に絶縁されている。
【0105】
また、成膜室501は、マスク513を用いて選択的な成膜が行える。パターン開口を有する薄板状のマスク513は、枠状のマスクフレーム514に接着または溶接により固定されている。蒸着する材料に適した加熱を行いながら蒸着することが好ましく、その加熱温度で適度なテンションがマスクにかかるように適宜固定する位置を決定すればよい。また、基板500との位置合わせは、マスク513およびマスクフレーム514を支持するマスクホルダ511によって行う。まず、搬送された基板500はアライメント機構512aによって支持され、マスクホルダ511に搭載させる。次いで、マスク513に載せられた基板500をアライメント機構512bに近づけて磁力によりマスク513とともに基板500を引き付け固定する。なお、アライメント機構512bには永久磁石(図示しない)や加熱手段(図示しない)が設けられている。
【0106】
また、搬送室505は、真空排気処理室と連結されており、真空排気して真空にすることもでき、真空排気した後、不活性ガスを導入して大気圧にすることもできる。また、搬送室505には、搬送ロボットアームなどの搬送ユニットが設けられており、成膜の終わった基板500を搬送する搬送ユニット516を用いて、成膜室501とアンロード室の間の搬送を行う。また、搬送室505に成膜が終わった複数の基板500をストックするホルダを設けてもよい。
【0107】
導電表面基板508を成膜室501内のホルダ上に設置する際には、設置室502に設けられた搬送ユニット516によって、塗布室520から導電表面基板508を成膜室501内の第2の保持手段に搭載する。このように設置室502を設け、設置室内を真空と大気圧とを適宜切り替えることで、成膜室501内を常に真空とすることができる。
【0108】
ここで、材料層509が設けられた導電表面基板508を用いて、基板500上に成膜を行う手順の一例を以下に示す。
【0109】
まず、塗布室520で導電表面基板508上にスピンコート法により塗布を行い、焼成して材料層509を形成する。
【0110】
次いで、導電表面基板508を搬送ユニット516を用いて設置室502に搬送し、ゲート弁510を閉める。次いで、成膜室501の真空度とほぼ同じになるまで設置室内を真空排気する。次いで、ゲート弁503を開けて、カソード側ホルダ517及びアノード側ホルダ518上に導電表面基板508を載せる。なお、導電表面基板508の位置がずれないように、カソード側ホルダ517及びアノード側ホルダ518に導電表面基板508を固定するピンやクリップを設けてもよい。
【0111】
次いで、基板500と導電表面基板508とを平行に保ち、アライメント機構512bで調節して、それらの間隔を0.5mm以上30mm以下に固定する。
【0112】
次いで、スイッチ507をオン状態とすることで、電源506からの電流をカソード側ホルダ517及びアノード側ホルダ518に流す。電流をカソード側ホルダ517及びアノード側ホルダ518に流すことによって、導電表面基板508が瞬時に加熱され、材料層509が蒸発して、基板500の一方の面、即ち導電表面基板508と向かい合う面に成膜が行われる。
【0113】
以上の手順で成膜が終了する。このように膜厚モニタを用いることなく短時間で成膜を行うことができる。
【0114】
また、上記手順では成膜室501内に基板500を設置する手順を省略したが、特に限定されない。
【0115】
図5に示す成膜室は、第2の保持手段に位置合わせする機構を設けていない例であるため、成膜室501内に導電表面基板508を設置した後に基板500を設置することが望ましい。なお、図5に示す成膜室は一例であって、第2の保持手段に位置合わせする機構を有していれば、成膜室501内に導電表面基板508を設置する前に基板500を設置してもよい。
【0116】
従って、本発明は、成膜室501内に導電表面基板508を設置する前に基板500を設置してもよいし、成膜室501内に導電表面基板508を設置した後に基板500を設置してもよい。
【0117】
図5に示す成膜室は、被成膜基板の被成膜面が下方にセットされる、所謂フェイスダウン方式の成膜装置であるが、フェイスアップ方式の成膜装置とすることも可能である。従来の蒸着装置は、粉末状の蒸着材料をルツボや蒸着ボートに収納していたため、フェイスアップ方式の成膜装置とすることは困難であった。
【0118】
また、図5に示す成膜室を改造して、被成膜基板の被成膜面を水平面に対して垂直に立てる構成、所謂基板縦置きの成膜装置とすることも可能である。また、被成膜基板の被成膜面は、水平面に対して垂直に限らず、水平面に対して斜めであってもよい。撓みやすい大面積基板の場合には、被成膜基板平面を水平面に対して垂直に立てることで被成膜基板(およびマスク)の撓みを低減することができるため、好ましい。
【0119】
即ち、図5に示す成膜室の被成膜基板の向きは特に限定されず、被成膜基板と導電表面基板との間隔距離を100mm以下、好ましくは、5mm以下の距離範囲に狭めて配置できるのであれば、その成膜装置は、蒸着材料の利用効率及びスループットを格段に向上させることができる。
【0120】
また、図5に示す成膜室501を1室として備えたマルチチャンバー型の製造装置としてもよい。また、図5に示す成膜室501をインライン式の製造装置の1室として備えることも可能であることはいうまでもない。
【0121】
また、本実施例は、実施の形態1乃至3のいずれか一と自由に組み合わせることができる。
【0122】
また、本実施例は、導電表面基板として平坦な金属プレートを用いる例を示したため、電源との導通は、導電表面基板の裏面で電気的な接続を行っているが、導電表面基板として、図6(A)に示すような透光性を有する絶縁基板上に導電膜532を形成したものを用いる場合、裏面で電気的な接続はできないため、カソード側ホルダ及びアノード側ホルダに工夫が必要となる。
【0123】
そこで、図6(B)に図5とは異なるカソード側ホルダ及びアノード側ホルダを用いた成膜装置の例を示す。なお、図5と同じ部材には同じ符号を用いる。
【0124】
透光性を有する基板531は、成膜時の200℃程度の加熱温度に耐える基板であればよい。透光性を有する基板531上には100nm以上0.1mm以下の導電膜532をスパッタ法またはCVD法などによって形成する。図6(A)に示すように材料層509は、ホルダと接触する部分の材料層のみ除去することが好ましい。例えば、メタルマスクを用いてプラズマ処理を行い、ホルダと接触する部分の材料層のみ除去する。
【0125】
材料層509が設けられた透光性を有する基板531を成膜室501に搬入し、カソード側ホルダ527及びアノード側ホルダ528上に載せる。カソード側ホルダ527及びアノード側ホルダ528には、固定する器具とともに導電膜532と電気的に接続させるための電極が設けられている。
【0126】
そして、スイッチ507をオン状態として、電源506からカソード側ホルダ527とアノード側ホルダ528の間に電流を流し、導電膜532を加熱する。
【0127】
なお、基板500は、アライメント機構512aで水平位置や垂直位置を調節する。また、アライメント機構512aは、基板500と透光性を有する基板531との間隔も調節できる。
【0128】
導電膜532の厚さは、100nm以上0.1mm以下であり、短時間での加熱が可能であるため、非常に好ましい。スイッチをオンにする時間が5秒程度であっても十分に成膜を終えることができる。
【0129】
なお、図6(A)では基板周縁部の材料層を選択的に除去する例を示したが、特に限定されない。例えば、材料層を選択的に除去しなくても、針状の電極をカソード側ホルダ527及びアノード側ホルダ528に設けて針状の電極に圧力を加えて材料層を貫通させて電気的に導電膜と接続を行ってもよい。
【0130】
また、実施の形態3に示したように金属基板の両面に材料層を形成する場合、どちらかの面に針状の電極を押圧して材料層を貫通させて電気的に金属基板と接続を行うことが好ましい。
【0131】
また、基板上に形成した導電膜の表面の平坦性をAFM(Atomic Force Microscope)で調べた。
【0132】
0.2mmの厚さの矩形状のタングステン板(対角5インチ)の表面粗さを測定したところ、100μm四方の領域における平均表面粗さRaは、39.09nmであった。
【0133】
また、スパッタ法でタングステン膜を1μm成膜したコーニング社製のガラス基板(EAGLE2000)の表面粗さを測定したところ、100μm四方の領域における平均表面粗さRaは9.239nmであった。
【0134】
また、スパッタ法でタングステン膜を1μm成膜した石英基板(対角5インチ)の表面粗さを測定したところ、100μm四方の領域における平均表面粗さRaは4.65nmであった。
【0135】
これらのAFMの結果から、ガラス基板や石英基板に形成した金属膜表面の平坦性は、金属板に比べてはるかに優れていると言える。また、金属板は加熱によってわずかに膨張するため、加熱によってほとんど変化のない石英基板が耐熱性、および平坦性の面で好ましいと言える。
【実施例2】
【0136】
ここではガラス基板にパッシブマトリクス型の発光装置を作製する例を図7、図8、及び図9を用いて説明する。
【0137】
パッシブマトリクス型(単純マトリクス型)発光装置は、ストライプ状(帯状)に並列された複数の陽極と、ストライプ状に並列された複数の陰極とが互いに直交するように設けられており、その交差部に発光層或いは蛍光層が挟まれた構造となっている。従って、選択された(電圧が印加された)陽極と選択された陰極との交点にあたる画素が点灯することになる。
【0138】
図7(A)は、封止前における画素部の上面図を示す図であり、図7(A)中の鎖線A−A’で切断した断面図が図7(B)であり、鎖線B−B’で切断した断面図が図7(C)である。
【0139】
第1の基板1501上には、下地膜として絶縁膜1504を形成する。なお、下地膜が必要でなければ特に形成しなくともよい。絶縁膜1504上には、ストライプ状に複数の第1の電極1513が等間隔で配置されている。また、第1の電極1513上には、各画素に対応する開口部を有する隔壁1514が設けられ、開口部を有する隔壁1514は絶縁材料(感光性または非感光性の有機材料(ポリイミド、アクリル、ポリアミド、ポリイミドアミド、レジストまたはベンゾシクロブテン)、またはSOG膜(例えば、アルキル基を含むSiOx膜))で構成されている。なお、各画素に対応する開口部が発光領域1521となる。
【0140】
開口部を有する隔壁1514上に、第1の電極1513と交差する互いに平行な複数の逆テーパ状の隔壁1522が設けられる。逆テーパ状の隔壁1522はフォトリソグラフィ法に従い、未露光部分がパターンとしてポジ型感光性樹脂を用い、パターンの下部がより多くエッチングされるように露光量または現像時間を調節することによって形成する。
【0141】
また、平行な複数の逆テーパ状の隔壁1522を形成した直後における斜視図を図8に示す。なお、図7と同一の部分には同一の符号を用いている。
【0142】
逆テーパ状の隔壁1522の高さは、発光層を含む積層膜及び導電膜の膜厚より大きく設定する。図8に示す構成を有する第1の基板に対して発光層を含む積層膜と、導電膜とを積層形成すると、図7に示すように電気的に独立した複数の領域に分離され、発光層を含む積層膜1515R、1515G、1515Bと、第2の電極1516とが形成される。第2の電極1516は、第1の電極1513と交差する方向に伸長する互いに平行なストライプ状の電極である。なお、逆テーパ状の隔壁1522上にも発光層を含む積層膜及び導電膜が形成されるが、発光層を含む積層膜1515R、1515G、1515B及び第2の電極1516とは分断されている。
【0143】
ここでは、発光層を含む積層膜1515R、1515G、1515Bを選択的に形成し、3種類(R、G、B)の発光が得られるフルカラー表示可能な発光装置を形成する例を示している。発光層を含む積層膜1515R、1515G、1515Bはそれぞれ互いに平行なストライプパターンで形成されている。
【0144】
本実施例では、実施例1に示した成膜室を用いて発光層を含む積層膜を順次形成する。赤色の発光が得られる発光層を形成した第1プレート、緑色の発光が得られる発光層を形成した第2プレート、青色の発光が得られる発光層を形成した第3プレートをそれぞれ用意して、実施例1に示した第2の成膜室に搬入する。そして、第1の電極1513が設けられた基板も成膜室に搬入する。そして、基板と同じもしくはそれより広い面積を有する熱源、即ち通電させて加熱する導電表面基板により第1プレート面を加熱して蒸着を行う。次いで、第2プレート、第3プレートと適宜、蒸着を選択的に行う。実施例1に示した成膜室を用いることでマスクの回り込みを防ぐことができるため、逆テーパ状の隔壁1522を不要とすることができる。また、成膜室は、膜厚均一性が6%未満と優れているため、所望の膜厚の発光層を得ることができ、発光装置の色ムラを低減することができる。従って、実施例1に示す成膜室は、パッシブマトリクス型の発光装置の製造装置として有用である。
【0145】
また、全面に同じ発光色を発光する発光層を含む積層膜を形成し、単色の発光素子を設けてもよく、モノクロ表示可能な発光装置、或いはエリアカラー表示可能な発光装置としてもよい。また、白色発光が得られる発光装置として、カラーフィルタと組み合わせることによってフルカラー表示可能な発光装置としてもよい。
【0146】
また、必要であれば、封止缶や封止のためのガラス基板などの封止材を用いて封止する。ここでは、第2の基板としてガラス基板を用い、シール材などの接着材を用いて第1の基板と第2の基板とを貼り合わせ、シール材などの接着材で囲まれた空間を密閉なものとしている。密閉された空間には、充填材や、乾燥した不活性ガスを充填する。また、発光装置の信頼性を向上させるために、第1の基板と封止材との間に乾燥材などを封入してもよい。乾燥材によって微量な水分が除去され、十分乾燥される。また、乾燥材としては、酸化カルシウムや酸化バリウムなどのようなアルカリ土類金属の酸化物のような化学吸着によって水分を吸収する物質を用いることが可能である。なお、他の乾燥材として、ゼオライトやシリカゲル等の物理吸着によって水分を吸着する物質を用いてもよい。
【0147】
ただし、発光素子を覆って接する封止材が設けられ、十分に外気と遮断されている場合には、乾燥材は、特に設けなくともよい。
【0148】
次いで、FPCなどを実装した発光モジュールの上面図を図9に示す。
【0149】
なお、本明細書中における発光装置とは、画像表示デバイス、発光デバイス、もしくは光源(照明装置含む)を指す。また、発光装置にコネクター、例えばFPC(Flexible printed circuit)もしくはTAB(Tape Automated Bonding)テープもしくはTCP(Tape Carrier Package)が取り付けられたモジュール、TABテープやTCPの先にプリント配線板が設けられたモジュール、または発光素子にCOG(Chip On Glass)方式によりIC(集積回路)が直接実装されたモジュールも全て発光装置に含むものとする。
【0150】
図9に示すように画像表示を構成する画素部は、走査線群とデータ線群が互いに直交するように交差している。
【0151】
図7における第1の電極1513が図9の走査線1603に相当し、第2の電極1516がデータ線1602に相当し、逆テーパ状の隔壁1522が隔壁1604に相当する。データ線1602と走査線1603の間には発光層が挟まれており、領域1605で示される交差部が画素1つ分となる。
【0152】
なお、走査線1603は配線端で接続配線1608と電気的に接続され、接続配線1608が入力端子1607を介してFPC1609bに接続される。また、データ線1602は入力端子1606を介してFPC1609aに接続される。
【0153】
また、必要であれば、射出面に偏光板、又は円偏光板(楕円偏光板を含む)、位相差板(λ/4板、λ/2板)、カラーフィルタなどの光学フィルムを適宜設けてもよい。また、偏光板又は円偏光板に反射防止膜を設けてもよい。例えば、表面の凹凸により反射光を拡散し、映り込みを低減できるアンチグレア処理を施すことができる。
【0154】
以上の工程でフレキシブルなパッシブマトリクス型の発光装置を作製できる。本発明の成膜装置を用いて、逆テーパー形状の隔壁を不要とすることができれば、大幅に素子構造を簡素化でき、また作製工程に要する時間を短縮できる。
【0155】
また、図9では、駆動回路を基板上に設けていない例を示したが、以下に示すように駆動回路を有するICチップを実装させてもよい。
【0156】
ICチップを実装させる場合、画素部の周辺(外側)の領域に、画素部へ各信号を伝送する駆動回路が形成されたデータ線側IC、走査線側ICをCOG方式によりそれぞれ実装する。COG方式以外の実装技術としてTCPやワイヤボンディング方式を用いて実装してもよい。TCPはTABテープにICを実装したものであり、TABテープを素子形成基板上の配線に接続してICを実装する。データ線側IC、および走査線側ICは、シリコン基板を用いたものであってもよいし、ガラス基板、石英基板もしくはプラスチック基板上にTFTで駆動回路を形成したものであってもよい。また、片側に一つのICを設けた例を説明しているが、片側に複数個に分割して設けても構わない。
【実施例3】
【0157】
本実施例では、本発明の成膜装置を用いて形成された発光装置について図10を用いて説明する。なお、図10(A)は発光装置を示す上面図、図10(B)は図10(A)をA−A’で切断した断面図である。点線で示された1701は駆動回路部(ソース側駆動回路)、1702は画素部、1703は駆動回路部(ゲート側駆動回路)である。また、1704は封止基板、1705はシール材であり、シール材1705で囲まれた内側である1707は、空間になっている。
【0158】
なお、1708はソース側駆動回路1701及びゲート側駆動回路1703に入力される信号を伝送するための配線であり、外部入力端子となるFPC(フレキシブルプリントサーキット)1709からビデオ信号、クロック信号、スタート信号、リセット信号等を受け取る。なお、ここではFPCしか図示されていないが、このFPCにはプリント配線基板(PWB)が取り付けられていても良い。本明細書における発光装置には、発光装置本体だけでなく、それにFPCもしくはPWBが取り付けられた状態をも含むものとする。
【0159】
次に、断面構造について図10(B)を用いて説明する。素子基板1710上には駆動回路部及び画素部が形成されているが、ここでは、駆動回路部であるソース側駆動回路1701と、画素部1702が示されている。
【0160】
なお、ソース側駆動回路1701はnチャネル型TFT1723とpチャネル型TFT1724とを組み合わせたCMOS回路が形成される。また、駆動回路を形成する回路は、公知のCMOS回路、PMOS回路もしくはNMOS回路で形成しても良い。また、本実施例では、基板上に駆動回路を形成したドライバー一体型を示すが、必ずしもその必要はなく、基板上ではなく外部に駆動回路を形成することもできる。
【0161】
また、画素部1702はスイッチング用TFT1711と、電流制御用TFT1712とそのドレインに電気的に接続された陽極1713とを含む複数の画素により形成される。なお、陽極1713の端部を覆って絶縁物1714が形成されている。ここでは、ポジ型の感光性アクリル樹脂膜を用いることにより形成する。
【0162】
また、膜被覆性を良好なものとするため、絶縁物1714の上端部または下端部に曲率を有する曲面が形成されるようにする。例えば、絶縁物1714の材料としてポジ型の感光性アクリルを用いた場合、絶縁物1714の上端部に曲率半径(0.2μm〜3μm)を有する曲面を持たせることが好ましい。また、絶縁物1714として、感光性の光によってエッチャントに不溶解性となるネガ型、或いは光によってエッチャントに溶解性となるポジ型のいずれも使用することができ、有機化合物に限らず無機化合物、例えば、酸化珪素、酸窒化珪素等、の両者を使用することができる。
【0163】
陽極1713上には、発光素子1715および陰極1716がそれぞれ形成されている。ここで、陽極1713に用いる材料としては、仕事関数の大きい材料を用いることが望ましい。例えば、ITO(インジウムスズ酸化物)膜、ITSO(indium tin silicon oxide)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)膜、窒化チタン膜、クロム膜、タングステン膜、Zn膜、Pt膜などの単層膜の他、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜との積層、窒化チタン膜とアルミニウムを主成分とする膜と窒化チタン膜との3層構造等を用いることができる。また、陽極1713をITO膜とし、陽極1713と接続する電流制御用TFT1712の配線を、窒化チタン膜、アルミニウムを主成分とする膜との積層構造、または窒化チタン膜、アルミニウムを主成分とする膜、窒化チタン膜との積層構造とすると、配線としての抵抗も低く、ITO膜との良好なオーミックコンタクトがとれ、さらに陽極1713を陽極として機能させることができる。また、陽極1713は、発光素子1715における第1の陽極と同一の物質で形成されていても良い。もしくは、陽極1713は発光素子1715の第1の陽極と接して積層されていても良い。
【0164】
また、発光素子1715は、陽極1713と有機化合物を含む層1700と陰極1716とを積層した構成であり、具体的には、ホール注入層、ホール輸送層、発光層、電子輸送層、または電子注入層を適宜、積層する。実施の形態1または実施の形態3のいずれか一の成膜装置を用いて形成すればよい。本実施例では、実施例1に示す製造装置を用いて作製する。また、実施例1に示す製造装置は、膜厚均一性が6%未満と優れているため、所望の膜厚を得ることができ、発光装置の輝度バラツキを低減することができる。
【0165】
さらに、陰極1716に用いる材料としては、仕事関数の小さい材料(Al、Ag、Li、Ca、またはこれらの合金MgAg、MgIn、AlLi、CaF、または窒化カルシウム)を用いればよいが、これらに限定されることはなく、適切な電子注入材料を選択することにより、多様な導電膜を適用することができる。なお、発光素子1715からの発光を陰極1716を透過させる場合には、陰極1716として、膜厚を薄くした金属薄膜と、透明導電膜ITO(酸化インジウム酸化スズ合金)、ITSO(indium tin silicon oxide)、酸化インジウム酸化亜鉛合金(In―ZnO)、酸化亜鉛(ZnO)等)との積層を用いる手法がある。また、陰極1716は、発光素子1715における第2の陰極と同一の物質で形成されていても良い。もしくは、陰極1716は発光素子1715の第2の陰極と接して積層されていても良い。
【0166】
さらにシール材1705で封止基板1704を素子基板1710と貼り合わせることにより、素子基板1710、封止基板1704、およびシール材1705で囲まれた空間1707に発光素子1715が備えられた構造になっている。なお、空間1707には、不活性気体(窒素やアルゴン等)が充填される場合の他、シール材1705で充填される構成も含むものとする。
【0167】
なお、シール材1705にはエポキシ系樹脂を用いるのが好ましい。また、これらの材料はできるだけ水分や酸素を透過しない材料であることが望ましい。また、封止基板1704に用いる材料としてガラス基板や石英基板の他、FRP(Fiberglass−Reinforced Plastics)、PVF(ポリビニルフロライド)、ポリエステルまたはアクリル等からなるプラスチック基板を用いることができる。
【0168】
以上のようにして、本発明の発光素子を有する発光装置を得ることができる。アクティブマトリクス型の発光装置は、TFTを作製するため、1枚あたりの製造コストが高くなりやすいが、実施例1に示す本発明の製造装置に大面積基板を用いて基板1枚当りの成膜処理時間を大幅に短縮し、発光装置1つ当たりの大幅な低コスト化を図ることができる。従って、実施例1に示す本発明の製造装置は、アクティブマトリクス型の発光装置の製造装置として有用である。
【0169】
なお、本実施例に示す発光装置は、実施の形態1、または実施の形態3に示した成膜装置、または実施の形態2に示した成膜方法を自由に組み合わせて実施することが可能である。さらに本実施例に示す発光装置は、必要に応じてカラーフィルター等の色度変換膜を用いてもよい。
【実施例4】
【0170】
本実施例では、本発明の成膜装置を用いて形成された発光素子を有する発光装置を用いて完成させた様々な電気器具について、図11を用いて説明する。
【0171】
本発明の成膜装置を用いて形成された電気器具として、テレビジョン、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディオコンポ等)、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはデジタルビデオディスク(DVD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうる表示装置を備えた装置)、照明器具などが挙げられる。これらの電気器具の具体例を図11に示す。
【0172】
図11(A)は表示装置であり、筐体8001、支持台8002、表示部8003、スピーカー部8004、ビデオ入力端子8005等を含む。本発明を用いて形成される発光装置をその表示部8003に用いることにより作製される。なお、表示装置は、パーソナルコンピュータ用、TV放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用装置が含まれる。本発明の製造装置により大幅な製造コストの低減を図ることができ、安価な表示装置を提供することができる。また、本発明の成膜装置は、膜厚均一性が6%未満と優れているため、所望の膜厚を得ることができ、表示部8003の表示バラツキを低減することができる。
【0173】
図11(B)はノート型パーソナルコンピュータであり、本体8101、筐体8102、表示部8103、キーボード8104、外部接続ポート8105、ポインティングデバイス8106等を含む。本発明の成膜装置を用いて形成された発光素子を有する発光装置をその表示部8103に用いることにより作製される。本発明の製造装置により大幅な製造コストの低減を図ることができ、安価なノート型パーソナルコンピュータを提供することができる。また、本発明の成膜装置は、膜厚均一性が6%未満と優れているため、所望の膜厚を得ることができ、表示部8103の表示バラツキを低減することができる。
【0174】
図11(C)はビデオカメラであり、本体8201、表示部8202、筐体8203、外部接続ポート8204、リモコン受信部8205、受像部8206、バッテリー8207、音声入力部8208、操作キー8209、接眼部8210等を含む。本発明の成膜装置を用いて形成された発光素子を有する発光装置をその表示部8202に用いることにより作製される。本発明の製造装置により大幅な製造コストの低減を図ることができ、安価なビデオカメラを提供することができる。また、本発明の成膜装置は、膜厚均一性が6%未満と優れているため、所望の膜厚を得ることができ、表示部8202の表示バラツキを低減することができる。
【0175】
図11(D)は卓上照明器具であり、照明部8301、傘8302、可変アーム8303、支柱8304、台8305、電源8306を含む。本発明の成膜装置を用いて形成される発光装置を照明部8301に用いることにより作製される。なお、照明器具には天井固定型の照明器具または壁掛け型の照明器具なども含まれる。本発明の製造装置により大幅な製造コストの低減を図ることができ、安価な卓上照明器具を提供することができる。また、本発明の成膜装置は、膜厚均一性が6%未満と優れているため、所望の膜厚を得ることができ、発光装置の輝度バラツキを低減することができる。
【0176】
ここで、図11(E)は携帯電話であり、本体8401、筐体8402、表示部8403、音声入力部8404、音声出力部8405、操作キー8406、外部接続ポート8407、アンテナ8408等を含む。本発明の成膜装置を用いて形成された発光素子を有する発光装置をその表示部8403に用いることにより作製される。本発明の製造装置により大幅な製造コストの低減を図ることができ、安価な携帯電話を提供することができる。また、本発明の成膜装置は、膜厚均一性が6%未満と優れているため、所望の膜厚を得ることができ、表示部8403の表示バラツキを低減することができる。
【0177】
以上のようにして、本発明の成膜装置を用いて形成された発光素子を用いた電気器具や照明器具を得ることができる。本発明の成膜装置を用いて形成された発光素子を有する発光装置の適用範囲は極めて広く、この発光装置をあらゆる分野の電気器具に適用することが可能である。
【0178】
なお、本実施例に示す発光装置は、実施の形態1、または実施の形態3に示した成膜装置、または実施の形態2に示した成膜方法を自由に組み合わせて実施することが可能である。また、実施例1乃至3のいずれか一を自由に組み合わせて実施することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【0179】
【図1】成膜工程の断面を示す図。
【図2】(A)有機層の基板面内の膜厚分布を示すグラフ、(B)基板中央部の5cm×5cmの領域における膜厚分布を示すグラフ。
【図3】(A)輝度と電流密度の関係を示すグラフ、(B)輝度と電圧の関係を示すグラフ。
【図4】成膜工程の断面を示す図。
【図5】製造装置の一例を示す断面図。
【図6】導電表面基板の一例及び製造装置の一例を示す断面図。
【図7】パッシブマトリクス型発光装置の上面図および断面図。
【図8】パッシブマトリクス型発光装置の斜視図。
【図9】パッシブマトリクス型発光装置の上面図。
【図10】発光装置の構造を示す図。
【図11】電気器具の例を示す図。
【符号の説明】
【0180】
101:第1の基板
102:第1の有機層
103:第2の基板
104:スイッチ
105:電源
106:第2の有機層
401:第1の基板
402:第1の有機層
403:第2の基板
404:スイッチ
405:電源
406:第3の有機層
407:第2の有機層
408:第3の基板
409:第4の有機層
500:基板
501:成膜室
502:設置室
503:ゲート弁
504:ゲート弁
505:搬送室
506:電源
507:スイッチ
508:導電表面基板
509:材料層
510:ゲート弁
512a:アライメント機構
512b:アライメント機構
513:マスク
514:マスクフレーム
516:搬送ユニット
517:カソード側ホルダ
518:アノード側ホルダ
520:塗布室
527:カソード側ホルダ
528:アノード側ホルダ
531:透光性を有する基板
532:導電膜
1501:第1の基板
1504:絶縁膜
1513:第1の電極
1514:隔壁
1515R、1515G、1515B:発光層を含む積層膜
1516:第2の電極
1521:発光領域
1522:逆テーパ状の隔壁
1601:第1の基板
1602:データ線
1603:走査線
1604:隔壁
1605:領域
1607:入力端子
1608:接続配線
1609a、1609b:FPC
1700 有機化合物を含む層
1701 ソース側駆動回路
1702 画素部
1703 ゲート側駆動回路
1704 封止基板
1705 シール材
1707 空間
1709 FPC(フレキシブルプリントサーキット)
1710 素子基板
1711 スイッチング用TFT
1712 電流制御用TFT
1713 陽極
1714 絶縁物
1715 発光素子
1716 陰極
1723 nチャネル型TFT
1724 pチャネル型TFT
8001 筐体
8002 支持台
8003 表示部
8004 スピーカー部
8005 ビデオ入力端子
8101 本体
8102 筐体
8103 表示部
8104 キーボード
8105 外部接続ポート
8106 マウス
8201 本体
8202 表示部
8203 筐体
8204 外部接続ポート
8205 リモコン受信部
8206 受像部
8207 バッテリー
8208 音声入力部
8209 操作キー
8301 照明部
8302 傘
8303 可変アーム
8304 支柱
8305 台
8306 電源
8401 本体
8402 筐体
8403 表示部
8404 音声入力部
8405 音声出力部
8406 操作キー
8407 外部接続ポート
8408 アンテナ

【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1の導電表面基板上に第1の有機層を形成し、
前記第1の導電表面基板の一方の端部に電源のアノードを電気的に接続し、もう一方の端部に電源のカソードを電気的に接続し、
第1の電極を有する第2の基板を前記第1の導電表面基板と対向する位置に配置し、
前記アノードと前記カソードを通電させて前記第1の導電表面基板上の第1の有機層を加熱した後、第1の導電表面基板と対向する前記第2の基板面に設けられた前記第1の電極上に第2の有機層を形成し、
前記第2の有機層上に第2の電極を形成する発光装置の作製方法。
【請求項2】
請求項1において、前記第1の導電表面基板と前記第2の基板の間に、開口を有するマスクを配置して、前記第2の基板面に第2の有機層を選択的に形成する発光装置の作製方法。
【請求項3】
請求項1または請求項2において、前記第1の導電表面基板の導電表面と前記第2の基板の表面との間隔は、0.5mm以上30mm以下である発光装置の作製方法。
【請求項4】
請求項1乃至3のいずれか一において、前記第2の有機層は、前記第1の有機層と同じ材料を含む発光装置の作製方法。
【請求項5】
請求項1乃至4のいずれか一において、前記第1の導電表面基板は、導電材料からなる基板、導電膜を表面に有する半導体基板、または導電膜を表面に有する絶縁基板である発光装置の作製方法。
【請求項6】
第1の導電表面基板の第1の面上に第1の有機層を形成し、
前記第1の導電表面基板の第2の面上に第2の有機層を形成し、
前記第1の導電表面基板の一方の端部に電源のアノードを電気的に接続し、もう一方の端部に電源のカソードを電気的に接続し、
前記第1の導電表面基板を挟んで第2の基板と第3の基板をそれぞれ対向させて配置し、
前記アノードと前記カソードを通電させて前記第1の面上の第1の有機層及び前記第2の面上の第2の有機層を加熱した後、前記第1の面に対向する第2の基板の面に第3の有機層を形成し、前記第2の面に対向する第3の基板の面に第4の有機層を形成する成膜方法。
【請求項7】
請求項6において、前記第3の有機層は、前記第1の有機層と同じ材料を含み、且つ、前記第4の有機層は、前記第2の有機層と同じ材料を含む成膜方法。
【請求項8】
請求項6または請求項7において、前記第1の導電表面基板の導電表面と前記第2の基板の表面との間隔は、0.5mm以上30mm以下である成膜方法。
【請求項9】
請求項6乃至8のいずれか一において、前記第1の導電表面基板の導電表面と前記第3の基板の表面との間隔は、0.5mm以上30mm以下である成膜方法。
【請求項10】
請求項1乃至9のいずれか一において、前記第1の導電表面基板は、表面に平坦な導電膜が形成されたガラス基板または石英基板である成膜方法。
【請求項11】
請求項1乃至9のいずれか一において、前記第1の導電表面基板は、平坦な表面を有する金属基板である成膜方法。
【請求項12】
請求項1乃至11のいずれか一において、前記第1の導電表面基板は、矩形であり、その面積は、前記第2の基板の面積よりも広い成膜方法。
【請求項13】
成膜室内を真空にする真空排気処理室と連結された成膜室を有する成膜装置であり、
前記成膜室は、被成膜基板を保持する保持手段と、
導電表面基板を保持する第1の保持手段及び第2の保持手段と、
前記被成膜基板と前記導電表面基板の位置合わせを行うアライメント手段とを有し、
前記導電表面基板上には有機化合物を含む層を有し、
前記成膜装置は、前記導電表面基板を介して前記第1の保持手段と前記第2の保持手段との間に電流を流す電源を有している成膜装置。
【請求項14】
請求項13において、前記被成膜基板と前記導電表面基板は、対向する位置に配置され、
前記第1の保持手段と前記第2の保持手段との間に電流を流すと前記導電表面基板が加熱され、前記導電表面基板上の有機化合物が蒸発し、前記導電表面基板と対向している被成膜基板の面に有機化合物を含む層が成膜される成膜装置。
【請求項15】
請求項13または請求項14において、さらにマスクを保持するマスク保持手段と、マスクと被成膜基板の位置合わせを行うアライメント手段とを有する成膜装置。
【請求項16】
請求項13乃至15のいずれか一において、前記導電表面基板と前記被成膜基板との間隔は、0.5mm以上30mm以下である成膜装置。
【請求項17】
第1の成膜室、該第1の成膜室に連結された搬送室、および該搬送室に連結された第2の成膜室とを有する製造装置であり、
前記第1の成膜室は、第1の成膜室内において導電表面基板上に有機化合物を含む層を塗布法で塗布する機構を有し、
前記搬送室は、前記搬送室内を真空にする真空排気手段と連結され、
前記第2の成膜室は、被成膜基板を保持する保持手段と、
表面上に前記有機化合物を含む層を有する導電表面基板を保持する第1の保持手段及び第2の保持手段と、
前記被成膜基板と前記導電表面基板の位置合わせを行うアライメント手段とを有し、
前記第2の成膜室に配置された導電表面基板を介して前記第1の保持手段と前記第2の保持手段との間に電流を流す電源を有している製造装置。
【請求項18】
請求項17において、前記第2の成膜室内で前記被成膜基板と前記導電表面基板は、対向する位置に配置され、
前記第1の保持手段と前記第2の保持手段との間に電流を流すと前記導電表面基板が加熱され、前記導電表面基板上の有機化合物が蒸発し、前記導電表面基板と対向している被成膜基板の面に有機化合物を含む層が成膜される製造装置。
【請求項19】
請求項17または請求項18において、前記第2の成膜室内は、さらにマスクを保持するマスク保持手段と、マスクと被成膜基板の位置合わせを行うアライメント手段とを有する製造装置。
【請求項20】
請求項17乃至19のいずれか一において、前記第2の成膜室内における前記導電表面基板と前記被成膜基板との間隔は、0.5mm以上30mm以下である製造装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【公開番号】特開2008−270187(P2008−270187A)
【公開日】平成20年11月6日(2008.11.6)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−73229(P2008−73229)
【出願日】平成20年3月21日(2008.3.21)
【出願人】(000153878)株式会社半導体エネルギー研究所 (5,264)
【Fターム(参考)】