【課題】ホールドフリーの小規模なテスト回路であり、且つ実動作周波数でのテスト可能なスキャンフリップフロップを提供する。
【解決手段】ＰｏｓタイプＦ／Ｆ１００は、クロックの立ち上りエッジ同期し、データ又はスキャンテストデータが選択的に入力されるマスタラッチ（Ｌｏｗレベルラッチ）１１０と、マスタラッチ１１０からのデータが入力されるスレーブラッチ（Ｈｉレベルラッチ）１１１とを有する。そして、スキャンシフト時には、マスタラッチ１１０は、スキャンシフトデータ入力ＳＩＮをスキャンシフトクロックＳＣＬＫ１のＬｏｗ期間で取り込むと共にスレーブラッチ１１１へ出力する。スレーブラッチ１１１はＳＣＬＫ１とはエッジ位置が異なるスキャンシフトクロックＳＣＬＫ２のＨｉ期間でマスターラッチ１１０の出力を取り込むと共にＱに出力する。 （もっと読む）

【課題】半導体ウエハ上に形成された半導体装置の特性不良を精度よく検出することができる半導体装置の検査方法および検査装置を提供すること。
【解決手段】実施形態によれば、第１ウエハ検査工程と、２ウエハ検査工程と、判定工程とを含む半導体装置の検査方法が提供される。第１ウエハ検査工程は、複数個の半導体装置に同時にプローブ針を接触させるプローブカードを用いて半導体ウエハ上に形成された半導体装置の特性を検査する。第２ウエハ検査工程は、第１ウエハ検査工程によって特性不良と判定された半導体装置の半導体ウエハ上の分布に基づいて、プローブカードの半導体ウエハに対する位置を第１ウエハ検査工程の位置からずらして、半導体装置の特性を再検査する。判定工程は、第２ウエハ検査工程による再検査の結果に基づいて、半導体装置の特性不良のうち、複数個の半導体装置単位で行われる製造処理において生じる特性不良を判定する。 （もっと読む）

【課題】 供試機器内で発生する電磁ノイズの影響が低減された、注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることを目的とする。
【解決手段】 本発明にかかる電磁ノイズ分布検出装置は、電磁ノイズを供試機器に注入する信号注入手段と、前記供試機器における複数の測定箇所から電磁界強度を検出する電磁界強度検出手段と、検出された前記電磁界強度を最大値検波により測定する最大値検波手段と、前記供試機器における任意の測定箇所から得られた電磁界強度について、複数回の最大値検波による測定から得られた測定値のうち、最小値を保持する最小値保持手段と、前記最小値保持手段に保持された最小値に基づき、前記供試機器上の前記電磁ノイズの伝搬経路分布を検出するノイズ分布検出手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ＩＲドロップ問題を緩和することのできる半導体集積回路およびその設計方法を提供する。
【解決手段】本発明の一実施形態による半導体集積回路は、データをシリアルに転送するシリアル動作を行う直列接続された複数のフリップフロップを分割して構成された複数のＦ／Ｆグループと、前記Ｆ／Ｆグループに含まれるフリップフロップの出力が一致する場合に第１の信号を出力し、そうでない場合に第２の信号を出力する連続信号判定回路とを備えるとともに、前記Ｆ／Ｆグループの先頭以外のフリップフロップに対し、前記第１の信号を受信する場合にはクロック信号を供給せず、前記第２の信号を受信する場合にはクロック信号を供給するクロックゲーティング回路を備える。 （もっと読む）

【課題】メモリへの連続アクセス回数を増やしても使用するスキャンチェーン数を増加させることなく試験を行うことができる集積回路装置の提供を図る。
【解決手段】メモリＭＥＭと、該メモリに接続される複数のロジック回路Ｌと、前記メモリおよび前記ロジック回路の試験を行うスキャンチェーンＳＣＩ，ＳＣIIと、を含む集積回路装置であって、前記メモリの前段の第１スキャンチェーンＳＣＩにおいて、前記メモリに対して出力端子が繋がっている少なくとも２つの第１および第２フリップフロップＦＦ１０７，ＦＦ１０８を有し、前記第２フリップフロップＦＦ１０８の前記出力端子と、前記第１フリップフロップＦＦ１０７のスキャン入力端子の間に、少なくとも１つの第１挿入フリップフロップＦＦ１０５，ＦＦ１０１を挿入して、前記スキャンチェーンの接続を規定する。 （もっと読む）

【課題】半導体集積回路にスキャンパスを組み込んでスキャンテストを行う際に、シングルサイクルパスとマルチサイクルパスが混在している論理回路において、シングルサイクルパスの実動作速度によるテストを可能にすること。
【解決手段】実動作モードでタイミング解析を行い、マルチサイクルパスを抽出する。次に、シングルサイクルパスとマルチサイクルパスの分岐点と、シングルサイクルパスとマルチサイクルパスの合流点を抽出する。そして、上記分岐点から出力側のマルチサイクルパス側の経路上と、上記合流点から入力側のマルチサイクルパス側の経路上に、出力固定回路を挿入する。但し、出力固定回路は、マルチサイクルテスト時には、入力と同じ信号を出力し、シングルサイクルテスト時には、任意の固定値を出力する回路である。 （もっと読む）

【課題】入力回路および出力回路の故障または両回路間にある信号線の断線状態を検査する信号のノイズによる影響を軽減し故障診断の精度を上げることができる入出力回路を提供すること。
【解決手段】通電または非通電の二信号を伝送する信号線と、信号線の両端に接続された出力回路７０および入力回路とを備え、ハイレベル信号とローレベル信号のいずれか一方を通常信号とし他方を検査信号とし、出力回路７０は、単位時間当たりの検査信号の送信回数を任意に変更できる検査用信号出力条件設定部（回数変更手段）７１を備えている。 （もっと読む）

【課題】複数の半導体チップの各々の信号端子が共通の外部端子に接続される場合であっても、半導体装置のオープン不良を検出する。
【解決手段】半導体装置は、複数の半導体チップと、外部と接続される電源端子、第１及び第２の外部端子と、を備え、複数の半導体チップのそれぞれは、第１の信号端子（第１の信号パッドＴ１）に供給される信号に基づくクロック信号によって計数を行うカウンタ部４２と、複数の半導体チップの中で自己の半導体チップを固定的に識別し、識別情報を出力する識別情報認識部と、カウンタ部４２の出力と識別情報を比較し、比較した比較結果に基づいて、第２の信号端子（第２の信号パッドＴ２）と電源端子との導通／非導通状態を制御する比較回路４３と、を有し、複数の半導体チップの各々の第１の信号端子は、共通の第１の外部端子に接続され、複数の半導体チップの各々の第２の信号端子は、共通の第２の外部端子に接続される。 （もっと読む）

【課題】高速モード時において自由度の高いパターンデータを生成する。
【解決手段】予め定められた試験レートに同期してそれぞれ入力される入力パターンに応じたパターンデータを出力する複数のパターン出力部を備え、それぞれのパターン出力部は、通常モードおよび高速モードの２つの動作モードを有し、高速モードにおいて、それぞれのパターン出力部は、自己のパターン出力部に入力される入力パターンに対応するパターンデータ、および、他のパターン出力部に入力される入力パターンに対応するパターンデータのそれぞれを、複数の分割レートに対するパターンデータのうちの少なくとも一つとして出力する試験装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】電源分離回路への電源供給を制御する複数の電源スイッチから、不良スイッチを特定する。
【解決手段】電源スイッチ群２１は、第１電源１０１と複数の電源供給端子１０３〜１０５との間の接続を制御する複数の電源スイッチ１２０〜１２２を備える。電源分離回路１１は、複数の電源供給端子１０３〜１０５の各々に対応して接続される複数の内部回路１４０〜１４２を備える。スイッチング素子１３１、１３２は、通常動作モードにおいて、複数の電源供給端子１０３〜１０５のそれぞれの間を短絡し、テストモードにおいて、複数の電源供給端子１０３〜１０５のそれぞれの間を分離する。複数の電源供給端子１０３〜１０５における電圧ＶＳＤは、複数のモニタ端子１６１〜１６３に監視可能に出力される。 （もっと読む）

【課題】部品実装基板に対して行う電気的検査において用いる検査用データを作成する際の入力作業を効率よくかつ正確に行う。
【解決手段】回路基板に電気部品（抵抗器Ｒ１，Ｒ２，Ｒ６，Ｒ７）が実装された部品実装基板に対して行う電気的検査において電気信号の入出力を行うための部品実装基板における検査ポイントを示すポイント情報を含む検査用データを作成する処理部と、ポイント情報を入力する操作が可能な操作部と、ポイント情報の入力時に参照させる図であって回路基板の配線（Ｗ１〜Ｗ３，Ｗ６，Ｗ７）および電気部品の配置を示す配置図Ｆを表示部１２に表示させる表示制御部とを備え、操作部は、配置図Ｆ内に図示されている配線を選択する選択操作が可能に構成され、処理部は、選択操作によって選択された配線を示す情報をポイント情報として検査用データを作成する。 （もっと読む）

【課題】検査ポイントや判定用の基準値を正確かつ効率的に設定する。
【解決手段】回路基板に電気部品が実装された部品実装基板に対して行う電気的検査において電気信号の入出力を行うための部品実装基板における検査ポイントを示すポイント情報を含む検査用データを作成可能に構成され、検査用データの作成時に参照させる図であって回路基板の配線および電気部品の配置を示す配置図Ｆ２を表示部１２に表示させる表示制御部を備え、表示制御部は、配置図Ｆ２を表示させる際に、予め設定された条件を満たす電気部品の図示を省略して表示させる第１表示処理を実行可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】部品実装基板に対して行う電気的検査において用いる検査用データを作成する際の入力作業の効率を向上させる。
【解決手段】回路基板に電気部品（抵抗器Ｒ１〜Ｒ８）が実装された部品実装基板における基板の配線（Ｗ１〜Ｗ７）上に規定されている規定ポイント（Ｐ１ａ〜Ｐ７ｂ）の中から選択されて部品実装基板に対して行う電気的検査において電気信号の入出力を行うための検査ポイントを示すポイント情報を含む検査用データを作成する処理部と、配線および電気部品の配置を示す第１配置図を表示部１２に表示させる表示制御部とを備え、表示制御部は、第１配置図内に図示されている配線を選択する第１選択操作が行われたときに規定ポイントの配置を示す第２配置図Ｆｂを表示部１２に表示させ、その際に、第１選択操作によって選択された配線上に規定されている規定ポイントを他の規定ポイントと識別可能に図示させる。 （もっと読む）

【課題】被測定物の送信器と受信器を接続する試験を測定装置により行う。
【解決手段】送信部２０２と受信部２０４を有する被測定物２００に接続される測定装置１００は、送信部２０２に接続される入力ポート１０２と、受信部２０４に接続される出力ポート１０４と、出力信号を出力する信号出力部１３２、１３４と、入力信号の電力を測定する電力測定部１４５、１５５と、入力ポートが接続される部分を、出力ポート１０４および電力測定部１４５、１５５の一方または双方とすることができ、しかも、出力ポート１０４が接続される部分を、入力ポート１０２および信号出力部１３２、１３４の一方または双方とすることができる接続部（カプラ１１０、スイッチ１２０〜１２８）と、入力ポート１０２と出力ポート１０４とが接続される際に、出力ポート１０４から出力される出力ポート信号の電力を調整する電力調整部１８３、１８５とを備える。 （もっと読む）

【課題】従来の半導体装置では、電源電圧変動を抑制するために回路規模が大きくなる問題があった。
【解決手段】本発明の半導体装置は、テスト対象回路１１〜１３と、スキャンモード制御信号ＳＭＣと、ノイズ制御信号ＣＮＴと、クロック信号ＣＬＫと、テストパターンＳＩＮとが入力され、テスト対象回路１２に対するテストを行うテスト回路２０と、を有し、テスト回路２０は、ノイズ制御信号ＣＮＴがイネーブルであるダミーノイズ生成期間にテスト回路２０において保持されているテストパターンＳＩＮに基づくテスト値を維持し、ダミーノイズ生成期間にクロック信号ＣＬＫの周期に応じて変動するダミー電源ノイズを生成し、ダミーノイズ生成期間の終了後にテストパターンによりテスト対象回路１２をテストする。 （もっと読む）

【課題】スキャンＦ／Ｆの遷移する回数を抑えて消費電力を削減することができるスキャンチェーン回路及びスキャンチェーン構築方法を提供すること
【解決手段】本発明にかかるスキャンチェーン回路は、複数のフリップフロップ２１〜２６を有し、複数のフリップフロップ２１〜２６のうち、それぞれのフリップフロップが保持しているデータを先頭方向から後尾方向に対してシフトするスキャンチェーン回路であって、複数のフリップフロップ２１〜２６は、スキャンチェーン回路の先頭方向から後尾方向に対して、保持しているデータの遷移回数が少ない方から昇順となるように配置されるものである。 （もっと読む）

【課題】ＢＣＩ試験のシミュレーションをより短時間に行えるようにする技術を提供する。
【解決手段】ＢＣＩ試験で伝送線にバルク電流の注入に用いるカレントプローブは、伝送線にバルク電流を直接、注入する電圧源と見なし、モデル化する。それにより、カレントプローブは電圧源モデル２０で模擬する。カレントプローブは電圧の印加により信号線に電流を注入する。そのようにして注入される電流は、周波数と電圧振幅値のテーブルデータ２５に格納された周波数と電圧振幅値の組み合わせにより制御する。このために、周波数と組み合わせる電圧振幅値は、その周波数で実際に注入される電流の電流振幅値と、電圧源モデル２０と伝送線を含む測定用回路のシミュレーションにより得られるその電流振幅値とが一致するように選択される。 （もっと読む）

【課題】テストパターンの内容、あるいは回路規模によらず、動作試験が短時間且つ高効率で行える半導体装置の実現。
【解決手段】フリップフロップ回路37と、試験モード時に、フリップフロップ回路に所定の値を設定すると共にフリップフロップ回路の保持する値を読み出すスキャンチェーンと、通常モード時に非動作で、試験モード時には、フリップフロップ回路の値が変化する場合に動作状態となり、前記フリップフロップ回路の値が変化するタイミングで非動作状態になる電流消費回路37A,37Bと、を有する半導体装置。 （もっと読む）

【課題】エッジの位相を固定して、信号のデューティ比を変更する。
【解決手段】指定されたデューティ比の出力信号を出力する信号発生装置であって、入力信号と出力信号との位相差を検出する位相検出器と、位相検出器により検出された位相差をフィルタリングして、発振器に供給するループフィルタと、位相差に応じた周波数の発振信号を出力する発振器と、指定値に応じて発振信号のデューティ比を変更して出力信号として出力するとともに位相検出器に供給するデューティ変更部と、を備える信号発生装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】半導体試験装置のシステム周波数よりも高い周波数の論理信号を低コストで生成出力することができ、リアルタイムにエッジや周波数を変更でき、高精度のタイミング精度が得られる半導体試験装置を提供すること。
【解決手段】半導体試験装置に内蔵されている信号発生部から出力される複数系統の論理信号を加算する加算器とこの加算器の出力をリタイミングクロックにしたがって取り込むラッチとこのラッチ出力を選択的に出力するスイッチとで構成された複数のパターン信号発生ユニットと、これら複数のパターン信号発生ユニットからスイッチを介して出力される出力信号間のスキューを補正する校正経路が設けられた半導体試験装置において、
前記リタイミングクロックは少なくとも２系統の論理信号を加算することにより生成され、前記校正経路は、前記各パターン信号発生ユニットのスイッチに連動して駆動され択一的に所定の出力信号を選択するロジックゲートを含むことを特徴とするもの。 （もっと読む）