説明

積層体、絶縁膜、および半導体装置

【課題】低い比誘電率を有し、かつ、密着性に優れた積層体、ならびに該積層体を含む絶縁膜および半導体装置を提供する。
【解決手段】積層体は、有機系膜と、第1のシリカ系膜と、前記第1のシリカ系膜と前記有機系膜との間に設けられた第2のシリカ系膜と、を有し、第2のシリカ系膜はポリカルボシランを含む。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、複数のシリカ系膜と有機系膜とが積層された積層体、絶縁膜および半導体装置に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体装置における層間絶縁膜として、CVD法等の真空プロセスによって形成されたシリカ(SiO)系膜や、有機ポリマーを主成分とする有機系膜が用いられている。
【0003】
近年、より均一な層間絶縁膜を形成することを目的として、SOG(Spin on Glass)膜と呼ばれる、テトラアルコキシシランの加水分解生成物を主成分とする塗布型の絶縁膜が使用されている。また、半導体装置の高集積化に伴い、有機SOGと呼ばれるオルガノポリシロキサンを主成分とする低比誘電率の層間絶縁膜が開発されている。
【0004】
一方、半導体装置のさらなる高集積化に伴い、より優れた導体間の電気絶縁性が要求されており、したがって、より低比誘電率の層間絶縁膜材料が求められるようになってきた。
【0005】
そのような層間絶縁膜材料の一例として、特開2000−256621号公報に開示されている低比誘電率の絶縁膜形成用塗布型組成物を挙げることができる。特開2000−256621号公報に記載された塗布膜形成用組成物は、アルコキシシラン類を金属触媒存在下で加水分解縮合して得られる。この塗布膜形成用組成物を用いることにより、低比誘電率でかつ高弾性率であり、CMP耐性などに優れた膜を得ることができる。
【特許文献1】特開2000−256621号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
近年の半導体装置の製造プロセスにおいては、積層膜の平坦化を目的としてCMP(Chemical Mechanical Polishing)工程が多用されている。一方、加工プロセスの簡易化を図るために、近年、シリカ系膜の上に有機系膜を形成した複合構造体が提案されている。しかしながら、シリカ系膜と有機系膜との積層膜に対してCMP等の処理を行なうと、両者の密着性不足が原因により、シリカ系膜と有機系膜との間で剥がれが発生することがあった。
【0007】
本発明の目的は、低い比誘電率を有し、かつ、密着性に優れた、シリカ系膜と有機系膜とが積層された積層体を提供することにある。
【0008】
本発明の他の目的は、前記積層体を含む絶縁膜を提供することにある。
【0009】
本発明の他の目的は、前記絶縁膜を有する半導体装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0010】
本発明の一態様に係る積層体は、
有機系膜と、第1のシリカ系膜と、前記第1のシリカ系膜と前記有機系膜との間に設けられた第2のシリカ系膜と、を有し、前記第2のシリカ系膜はポリカルボシランを含む。
【0011】
上記積層体において、前記第2のシリカ系膜は、比誘電率が2.5以上3.5以下であり、密度が1.2g/cm以上1.7g/cm以下であることができる。
【0012】
上記積層体において、前記第1のシリカ系膜は、比誘電率が1.5以上2.5未満であり、密度が0.6g/cm以上1.2g/cm未満であることができる。
【0013】
上記積層体において、前記第2のシリカ系膜は、プラズマ処理、オゾン酸化処理、および有機シラン処理から選ばれる少なくとも1つの処理により得られた表面を有する、積層体。
【0014】
上記積層体において、第1のシリカ系膜の膜厚に対する前記第2のシリカ系膜の膜厚が0.03〜0.3であることができる。
【0015】
上記積層体において、前記第1のシリカ系膜は、下記一般式(1)で表される化合物、下記一般式(2)で表される化合物および下記一般式(3)で表される化合物の群から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物を加水分解,縮合して得られる加水分解縮合物を含む膜形成用組成物を用いて塗布膜を形成し、該塗布膜を硬化して得られた膜であることができる。
【0016】
Si(OR4−a ・・・・・(1)
(式中、Rは水素原子、フッ素原子または1価の有機基を表し、Rは1価の有機基を表し、aは1〜2の整数を示す。)
Si(OR ・・・・・(2)
(式中、Rは1価の有機基を表す。)
(RO)3−bSi−(R−Si(OR3−c ・・・・・(3)
〔式中、R〜Rは同一または異なり、それぞれ1価の有機基を表し、bおよびcは同一または異なり、0〜2の数を示し、Rは酸素原子、フェニレン基または−(CH−で表される基(ここで、nは1〜6の整数である)を表し、dは0または1を示す。〕
【0017】
上記積層体において、前記有機系膜は、ポリアリーレン、ポリアリーレンエーテル、ポリベンゾオキサゾールおよびポリイミドから選ばれる少なくとも1種の化合物からなることができる。
【0018】
上記積層体において、前記有機系膜を構成する化合物は、下記一般式(4)で表される繰り返し単位を有する重合体であることができる。
【0019】
【化6】

・・・・・(4)
(式中、R11〜R14は独立に単結合、−O−、−CO−、−CH−、−COO−、−CONH−、−S−、−SO−、−C≡C−、フェニレン基、
【化7】

または、フルオレニレン基を表し、R15〜R20は独立に炭素原子数1〜20の炭化水素基、シアノ基、ニトロ基、炭素原子数1〜20のアルコキシル基、またはアリール基を表し、aおよびbは独立に0〜3の整数を示し、c〜hは独立に0〜4の整数を示す。)
【0020】
上記積層体において、前記第2のシリカ系膜と前記有機系膜との間に、ポリカルボシランを含み、前記第2のシリカ系膜よりも比誘電率が低い第3のシリカ系膜が設けられていることができる。この場合、前記第3のシリカ系膜の比誘電率は、前記第2のシリカ系膜の比誘電率よりも0.2以上低くてもよい。加えて、この場合、前記第3のシリカ系膜は、プラズマ処理、オゾン酸化処理、および有機シラン処理から選ばれる少なくとも1つの処理により得られた表面を有することができる。さらにこの場合、前記第2および第3のシリカ系膜に含まれる前記ポリカルボシランは、ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖を有し、かつ、下記一般式(5)で表される繰り返し構造単位、下記一般式(6)で表される繰り返し構造単位、および下記一般式(7)で表される繰り返し構造単位を有することができる。
【0021】
【化8】

・・・・・(5)
【化9】

・・・・・(6)
【化10】

・・・・・(7)
上記積層体において、比誘電率が2.6以下であることができる。
【0022】
本発明の一態様に係る積層体の製造方法は、
第1のシリカ系膜形成用組成物を塗布して第1のシリカ系膜を形成する工程と、ポリカルボシランを有する第2のシリカ系膜形成用組成物第1のシリカ系膜上に塗布して第2のシリカ系膜を形成する工程と、有機系膜形成用組成物を第2のシリカ系膜上に塗布して有機系膜を形成する工程と、を含む。
【0023】
本発明の一態様に係る積層体の製造方法は、
第1のシリカ系膜形成用組成物を塗布して第1のシリカ系膜を形成する工程と、ポリカルボシランを有する第2のシリカ系膜形成用組成物第1のシリカ系膜上に塗布して第2のシリカ系膜を形成する工程と、ポリカルボシランを有する第3のシリカ系膜形成用組成物第2のシリカ系膜上に塗布して前記第2のシリカ系膜よりも比誘電率が低い第3のシリカ系膜を形成する工程と、有機系膜形成用組成物を第3のシリカ系膜上に塗布して有機系膜を形成する工程と、を含む。
【0024】
本発明の一態様に係る絶縁膜は、上記積層体を少なくとも一部に含む。
【0025】
本発明の一態様に係る半導体装置は、上記絶縁膜を含む。
【発明の効果】
【0026】
ポリカルボシランを含む第2のシリカ系膜は耐エッチング性および耐アッシング性に優れている。このため、上記積層体において、例えば、第1のシリカ系膜と有機系膜との間に、ポリカルボシランを含む第2のシリカ系膜が設けられることにより、エッチングやアッシングなどのプロセスにおいて、第1のシリカ系膜へのダメージを低減することができる。また、上記積層体は、第1のシリカ系膜と有機系膜との界面において、有機系膜が第2のシリカ系膜中に入り込むアンカー効果によって、密着性に優れている。
【0027】
上記積層体によれば、低誘電率であり、かつ高い密着性を有する絶縁膜を提供することができる。このため、上記絶縁膜は、半導体装置の層間絶縁膜や平坦化絶縁膜として好適に用いることができる。
【0028】
上記半導体装置は、上記絶縁膜を含む。上記絶縁膜は、密着性が十分に確保されているため、CMP処理や、パッケージング処理時の膜剥がれが抑制され、信頼性の高い半導体装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0029】
以下に、本発明の一実施形態に係る積層体、絶縁膜、および半導体装置について具体的に説明する。
【0030】
1.積層体
本発明の一実施形態に係る積層体は、第1のシリカ系膜と、第2のシリカ系膜と、有機系膜とを含み、第2のシリカ系膜はポリカルボシランを含む。
【0031】
以下、それぞれの膜について説明する。
【0032】
1.1.第1のシリカ系膜
第1のシリカ系膜は、下記一般式(1)で表される化合物(以下「化合物1」という)、下記一般式(2)で表される化合物(以下、「化合物2」という)および下記一般式(3)で表される化合物(以下、「化合物3」という)の群から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物を加水分解,縮合して得られる加水分解縮合物を含む膜形成用組成物(1)を用いて形成された塗布膜を硬化して得られた膜である。
【0033】
Si(OR4−a ・・・・・(1)
(式中、Rは水素原子、フッ素原子または1価の有機基を表し、Rは1価の有機基を表し、aは1〜2の整数を示す。)
Si(OR ・・・・・(2)
(式中、Rは1価の有機基を表す。)
(RO)3−bSi−(R−Si(OR3−c ・・・・・(3)
〔式中、R〜Rは同一または異なり、それぞれ1価の有機基を表し、bおよびcは同一または異なり、0〜2の数を示し、Rは酸素原子、フェニレン基または−(CH−で表される基(ここで、nは1〜6の整数である)を表し、dは0または1を示す。〕
【0034】
本発明において、「加水分解」とは、上記化合物(1)〜(3)から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物に含まれるアルコキシ基のすべてが加水分解されている必要はなく、例えば、1個だけが加水分解されている場合、2個以上が加水分解されている場合、あるいはこれらが混合している場合であってもよい。また、「縮合」とは、上記化合物(1)〜(3)の加水分解物のシラノール基が縮合してSi−O−Si結合を形成したものであるが、本発明では、シラノール基がすべて縮合している必要はなく、わずかな一部のシラノール基が縮合した場合、縮合の程度が異なっているものが混合している場合等をも包含した概念である。
【0035】
第1のシリカ系膜は、比誘電率が1.5以上2.5未満であり、密度が0.6g/cm以上1.2g/cm未満であることが好ましい。
【0036】
1.1.1.化合物1
一般式(1)において、RおよびRの1価の有機基としては、アルキル基、アリール基、アリル基、グリシジル基などを挙げることができる。なかでも、一般式(1)において、Rは1価の有機基、特にアルキル基またはアリール基であることが好ましい。ここで、アルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基などが挙げられ、好ましくは炭素数1〜5であり、これらのアルキル基は鎖状でも、分岐していてもよく、さらに水素原子がフッ素原子などに置換されていてもよい。一般式(1)において、アリール基としては、フェニル基、ナフチル基、メチルフェニル基、エチルフェニル基、クロロフェニル基、ブロモフェニル基、フルオロフェニル基などを挙げることができる。
【0037】
化合物(1)として好ましい化合物は、トリメトキシシラン、トリエトキシシラン、トリ−n−プロポキシシラン、トリ−iso−プロポキシシラン、トリ−n−ブトキシシラン、トリ−sec−ブトキシシラン、トリ−tert−ブトキシシラン、トリフェノキシシラン、フルオロトリメトキシシラン、フルオロトリエトキシシラン、フルオロトリ−n−プロポキシシラン、フルオロトリ−iso−プロポキシシラン、フルオロトリ−n−ブトキシシラン、フルオロトリ−sec−ブトキシシラン、フルオロトリ−tert−ブトキシシラン、フルオロトリフェノキシシランなど;
メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシシラン、メチルトリ−iso−プロポキシシラン、メチルトリ−n−ブトキシシラン、メチルトリ−sec−ブトキシシラン、メチルトリ−tert−ブトキシシラン、メチルトリフェノキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、エチルトリ−n−プロポキシシラン、エチルトリ−iso−プロポキシシラン、エチルトリ−n−ブトキシシラン、エチルトリ−sec−ブトキシシラン、エチルトリ−tert−ブトキシシラン、エチルトリフェノキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリ−n−プロポキシシラン、ビニルトリ−iso−プロポキシシラン、ビニルトリ−n−ブトキシシラン、ビニルトリ−sec−ブトキシシラン、ビニルトリ−tert−ブトキシシラン、ビニルトリフェノキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラン、n−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、n−プロピルトリ−iso−プロポキシシラン、n−プロピルトリ−n−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−sec−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−tert−ブトキシシラン、n−プロピルトリフェノキシシラン、i−プロピルトリメトキシシラン、i−プロピルトリエトキシシラン、i−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、i−プロピルトリ−iso−プロポキシシラン、i−プロピルトリ−n−ブトキシシラン、i−プロピルトリ−sec−ブトキシシラン、i−プロピルトリ−tert−ブトキシシラン、i−プロピルトリフェノキシシラン、n−ブチルトリメトキシシラン、n−ブチルトリエトキシシラン、n−ブチルトリ−n−プロポキシシラン、n−ブチルトリ−iso−プロポキシシラン、n−ブチルトリ−n−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−sec−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−tert−ブトキシシラン、n−ブチルトリフェノキシシラン、sec−ブチルトリメトキシシラン、sec−ブチルトリエトキシシラン、sec−ブチル−トリ−n−プロポキシシラン、sec−ブチル−トリ−iso−プロポキシシラン、sec−ブチル−トリ−n−ブトキシシラン、sec−ブチル−トリ−sec−ブトキシシラン、sec−ブチル−トリ−tert−ブトキシシラン、sec−ブチル−トリフェノキシシラン、t−ブチルトリメトキシシラン、t−ブチルトリエトキシシラン、t−ブチルトリ−n−プロポキシシラン、t−ブチルトリ−iso−プロポキシシラン、t−ブチルトリ−n−ブトキシシラン、t−ブチルトリ−sec−ブトキシシラン、t−ブチルトリ−tert−ブトキシシラン、t−ブチルトリフェノキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルトリ−n−プロポキシシラン、フェニルトリ−iso−プロポキシシラン、フェニルトリ−n−ブトキシシラン、フェニルトリ−sec−ブトキシシラン、フェニルトリ−tert−ブトキシシラン、フェニルトリフェノキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、γ−トリフロロプロピルトリメトキシシラン、γ−トリフロロプロピルトリエトキシシランなど;
ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジメチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジメチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジメチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジメチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジメチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジメチルジフェノキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジエチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジエチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジエチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジエチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジエチルジフェノキシシラン、ジ−n−プロピルジメトキシシラン、ジ−n−プロピルジエトキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−フェノキシシラン、ジ−iso−プロピルジメトキシシラン、ジ−iso−プロピルジエトキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−フェノキシシラン、ジ−n−ブチルジメトキシシラン、ジ−n−ブチルジエトキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−フェノキシシラン、ジ−sec−ブチルジメトキシシラン、ジ−sec−ブチルジエトキシシラン、ジ−sec−ブチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−sec−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−sec−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチル−ジ−フェノキシシラン、ジ−tert−ブチルジメトキシシラン、ジ−tert−ブチルジエトキシシラン、ジ−tert−ブチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−tert−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−tert−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−tert−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−tert−ブチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−tert−ブチル−ジ−フェノキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニル−ジ−エトキシシラン、ジフェニル−ジ−n−プロポキシシラン、ジフェニル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジフェニル−ジ−n−ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジフェニルジフェノキシシラン、ジビニルジメトキシシラン、ジ−γ−アミノプロピルジメトキシシラン、ジ−γ−グリシドキシプロピルジメトキシシラン、ジ−γ−トリフロロプロピルジメトキシシランなど;を挙げることができる。
【0038】
化合物1としては、好ましくは、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシシラン、メチルトリ−iso−プロポキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエトキシシランであり、特に好ましくはメチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシランである。これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0039】
1.1.2.化合物2
一般式(2)において、Rで表される1価の有機基としては、先の一般式(1)において示したものと同様の有機基を挙げることができる。化合物2の具体例としては、例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラ−iso−プロポキシシラン、テトラ−n−ブトキシシラン、テトラ−sec−ブトキシシラン、テトラ−tert−ブトキシシラン、テトラフェノキシシランなどが挙げられる。好ましくは、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラ−iso−プロポキシシラン、テトラフェノキシシランであり、特に好ましくは、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシランである。これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0040】
1.1.3.化合物3
一般式(3)において、R〜Rで表される1価の有機基としては、先の一般式(1)において示したものと同様の有機基を挙げることができる。
【0041】
一般式(3)におけるRが酸素原子の化合物としては、ヘキサメトキシジシロキサン、ヘキサエトキシジシロキサン、ヘキサフェノキシジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタメトキシ−3−メチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタエトキシ−3−メチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタフェノキシ−3−メチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタメトキシ−3−エチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタエトキシ−3−エチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタフェノキシ−3−エチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタメトキシ−3−フェニルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタエトキシ−3−フェニルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタフェノキシ−3−フェニルジシロキサン、1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラエトキシ−1,3−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラフェノキシ−1,3−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジエチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラエトキシ−1,3−ジエチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラフェノキシ−1,3−ジエチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,1,3,3−テトラエトキシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,1,3,3−テトラフェノキシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,1,3−トリメトキシ−1,3,3−トリメチルジシロキサン、1,1,3−トリエトキシ−1,3,3−トリメチルジシロキサン、1,1,3−トリフェノキシ−1,3,3−トリメチルジシロキサン、1,1,3−トリメトキシ−1,3,3−トリエチルジシロキサン、1,1,3−トリエトキシ−1,3,3−トリエチルジシロキサン、1,1,3−トリフェノキシ−1,3,3−トリエチルジシロキサン、1,1,3−トリメトキシ−1,3,3−トリフェニルジシロキサン、1,1,3−トリエトキシ−1,3,3−トリフェニルジシロキサン、1,1,3−トリフェノキシ−1,3,3−トリフェニルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジフェノキシ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラエチルジシロキサン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラエチルジシロキサン、1,3−ジフェノキシ−1,1,3,3−テトラエチルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサン、1,3−ジフェノキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサンなどを挙げることができる。
【0042】
これらのうち、ヘキサメトキシジシロキサン、ヘキサエトキシジシロキサン、1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラエトキシ−1,3−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサンなどを、好ましい例として挙げることができる。
【0043】
一般式(3)において、Rがフェニレン基で表される基の化合物としては、1,2−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、1,2−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,2−ビス(トリ−n−プロポキシシリル)ベンゼン、1,2−ビス(トリ−iso−プロポキシシリル)ベンゼン、1,2−ビス(トリ−n−ブトキシシリル)ベンゼン、1,2−ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)ベンゼン、1,2−ビス(トリ−tert−ブトキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリ−n−プロポキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリ−iso−プロポキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリ−n−ブトキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリ−tert−ブトキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリ−n−プロポキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリ−iso−プロポキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリ−n−ブトキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリ−tert−ブトキシシリル)ベンゼンなど挙げることができる。
【0044】
これらのうち、1,2−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、1,2−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、1,3−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリメトキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(トリエトキシシリル)ベンゼンなどを好ましい例として挙げることができる。
【0045】
一般式(3)において、Rが−(CH−で表される基の化合物としては、ビス(トリメトキシシリル)メタン、ビス(トリエトキシシリル)メタン、ビス(トリ−n−プロポキシシリル)メタン、ビス(トリ−iso−プロポキシシリル)メタン、ビス(トリ−n−ブトキシシリル)メタン、ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)メタン、ビス(トリ−tert−ブトキシシリル)メタン、1,2−ビス(トリメトキシシリル)エタン、1,2−ビス(トリエトキシシリル)エタン、1,2−ビス(トリ−n−プロポキシシリル)エタン、1,2−ビス(トリ−iso−プロポキシシリル)エタン、1,2−ビス(トリ−n−ブトキシシリル)エタン、1,2−ビス(トリ−sec−ブトキシシリル)エタン、1,2−ビス(トリ−tert−ブトキシシリル)エタン、1−(ジメトキシメチルシリル)−1−(トリメトキシシリル)メタン、1−(ジエトキシメチルシリル)−1−(トリエトキシシリル)メタン、1−(ジ−n−プロポキシメチルシリル)−1−(トリ−n−プロポキシシリル)メタン、1−(ジ−iso−プロポキシメチルシリル)−1−(トリ−iso−プロポキシシリル)メタン、1−(ジ−n−ブトキシメチルシリル)−1−(トリ−n−ブトキシシリル)メタン、1−(ジ−sec−ブトキシメチルシリル)−1−(トリ−sec−ブトキシシリル)メタン、1−(ジ−tert−ブトキシメチルシリル)−1−(トリ−tert−ブトキシシリル)メタン、1−(ジメトキシメチルシリル)−2−(トリメトキシシリル)エタン、1−(ジエトキシメチルシリル)−2−(トリエトキシシリル)エタン、1−(ジ−n−プロポキシメチルシリル)−2−(トリ−n−プロポキシシリル)エタン、1−(ジ−iso−プロポキシメチルシリル)−2−(トリ−iso−プロポキシシリル)エタン、1−(ジ−n−ブトキシメチルシリル)−2−(トリ−n−ブトキシシリル)エタン、1−(ジ−sec−ブトキシメチルシリル)−2−(トリ−sec−ブトキシシリル)エタン、1−(ジ−tert−ブトキシメチルシリル)−2−(トリ−tert−ブトキシシリル)エタン、ビス(ジメトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジエトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジ−n−プロポキシメチルシリル)メタン、ビス(ジ−iso−プロポキシメチルシリル)メタン、ビス(ジ−n−ブトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジ−sec−ブトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジ−tert−ブトキシメチルシリル)メタン、1,2−ビス(ジメトキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス(ジエトキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス(ジ−n−プロポキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス(ジ−iso−プロポキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス(ジ−n−ブトキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス(ジ−sec−ブトキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス(ジ−tert−ブトキシメチルシリル)エタンなどを挙げることができる。これらのうち、ビス(トリメトキシシリル)メタン、ビス(トリエトキシシリル)メタン、1,2−ビス(トリメトキシシリル)エタン、1,2−ビス(トリエトキシシリル)エタン、1−(ジメトキシメチルシリル)−1−(トリメトキシシリル)メタン、1−(ジエトキシメチルシリル)−1−(トリエトキシシリル)メタン、1−(ジメトキシメチルシリル)−2−(トリメトキシシリル)エタン、1−(ジエトキシメチルシリル)−2−(トリエトキシシリル)エタン、ビス(ジメトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジエトキシメチルシリル)メタン、1,2−ビス(ジメトキシメチルシリル)エタン、1,2−ビス(ジエトキシメチルシリル)エタンなどを好ましい例として挙げることができる。
【0046】
一般式(3)において、d=0の化合物としては、ヘキサメトキシジシラン、ヘキサエトキシジシラン、ヘキサフェノキシジシラン、1,1,1,2,2−ペンタメトキシ−2−メチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタエトキシ−2−メチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタフェノキシ−2−メチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタメトキシ−2−エチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタエトキシ−2−エチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタフェノキシ−2−エチルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタメトキシ−2−フェニルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタエトキシ−2−フェニルジシラン、1,1,1,2,2−ペンタフェノキシ−2−フェニルジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラエトキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラフェノキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2−ジエチルジシラン、1,1,2,2−テトラエトキシ−1,2−ジエチルジシラン、1,1,2,2−テトラフェノキシ−1,2−ジエチルジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2−ジフェニルジシラン、1,1,2,2−テトラエトキシ−1,2−ジフェニルジシラン、1,1,2,2−テトラフェノキシ−1,2−ジフェニルジシラン、1,1,2−トリメトキシ−1,2,2−トリメチルジシラン、1,1,2−トリエトキシ−1,2,2−トリメチルジシラン、1,1,2−トリフェノキシ−1,2,2−トリメチルジシラン、1,1,2−トリメトキシ−1,2,2−トリエチルジシラン、1,1,2−トリエトキシ−1,2,2−トリエチルジシラン、1,1,2−トリフェノキシ−1,2,2−トリエチルジシラン、1,1,2−トリメトキシ−1,2,2−トリフェニルジシラン、1,1,2−トリエトキシ−1,2,2−トリフェニルジシラン、1,1,2−トリフェノキシ−1,2,2−トリフェニルジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2−ジフェノキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テトラエチルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラエチルジシラン、1,2−ジフェノキシ−1,1,2,2−テトラエチルジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テトラフェニルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラフェニルジシラン、1,2−ジフェノキシ−1,1,2,2−テトラフェニルジシランなどを挙げることができる。
【0047】
これらのうち、ヘキサメトキシジシラン、ヘキサエトキシジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラエトキシ−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2−ジフェニルジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テトラフェニルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラフェニルジシランなどを、好ましい例として挙げることができる。
【0048】
第1のシリカ系膜を形成するために、化合物1〜3成分のうち少なくとも1種を用いることができ、あるいは、化合物1〜3成分をそれぞれ2種以上用いることもできる。得られる組成物の貯蔵安定性が良好である点で、化合物1および化合物2の加水分解縮合物であることが好ましい。
【0049】
1.1.4.触媒
本発明において、上記化合物1〜3の加水分解縮合は、金属キレート化合物、酸性化合物、または塩基性化合物の存在下で行なうことができる。以下、金属キレート化合物、酸性化合物、および塩基性化合物それぞれについて説明する。
【0050】
1.1.4.1.金属キレート化合物
化合物1〜3から選択されるシラン化合物の加水分解縮合時に使用可能な金属キレート化合物は、下記一般式(8)で表される。
【0051】
βM(ORα−β ・・・・・(8)
〔式中、Rはキレート剤を表し、Mは金属原子を表し、Rは炭素数2〜5のアルキル基または炭素数6〜20のアリール基を表し、αは金属Mの原子価を示し、βは1〜αの整数を示す。〕
【0052】
ここで、金属Mとしては、IIIB族金属(アルミニウム、ガリウム、インジウム、タリウム)およびIVA族金属(チタン、ジルコニウム、ハフニウム)より選ばれる少なくとも1種の金属であることが好ましく、チタン、アルミニウム、ジルコニウムがより好ましい。
【0053】
金属キレート化合物の具体例としては、トリエトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリイソプロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−tert−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、ジエトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−tert−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノイソプロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−tert−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、テトラキス(アセチルアセトナート)チタン、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリイソプロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−tert−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、ジエトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジイソプロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−tert−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、モノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノイソプロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−tert−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、テトラキス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテート)チタン、ビス(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)チタン、トリス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)チタン、等のチタンキレート化合物;トリエトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリイソプロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−tert−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジエトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノイソプロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、テトラキス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリイソプロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−tert−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジエトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジイソプロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノイソプロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、テトラキス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ビス(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、等のジルコニウムキレート化合物;トリエトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリイソプロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリ−tert−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジエトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノイソプロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、テトラキス(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリイソプロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリ−tert−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジエトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジイソプロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノイソプロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、テトラキス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ビス(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、等のアルミニウムキレート化合物;等の1種または2種以上が挙げられる。
【0054】
特に、(CH(CH)HCO)4−tTi(CHCOCHCOCH,(CH(CH)HCO)4−tTi(CHCOCHCOOC(CO)4−tTi(CHCOCHCOCH,(CO)4−tTi(CHCOCHCOOC,(C(CH)CO)4−tTi(CHCOCHCOCH,(C(CH)CO)4−tTi(CHCOCHCOOC(CH(CH)HCO)4−tZr(CHCOCHCOCH(CH(CH)HCO)4−tZr(CHCOCHCOOC(CO)4−tZr(CHCOCHCOCH,(CO)4−tZr(CHCOCHCOOC,(C(CH)CO)4−tZr(CHCOCHCOCH,(C(CH)CO)4−tZr(CHCOCHCOOC(CH(CH)HCO)3−tAl(CHCOCHCOCH(CH(CH)HCO)3−tAl(CHCOCHCOOC(CO)3−tAl(CHCOCHCOCH,(CO)3−tAl(CHCOCHCOOC,(C(CH)CO)3−tAl(CHCOCHCOCH,(C(CH)CO)3−tAl(CHCOCHCOOC等の1種または2種以上が、使用される金属キレート化合物として好ましい。
【0055】
金属キレート化合物の使用量は、加水分解縮合時の化合物1〜3から選ばれるシラン化合物の総量100重量部(完全加水分解縮合物換算)に対して、0.0001〜10重量部、好ましくは0.001〜5重量部である。金属キレート化合物の使用割合が0.0001重量部未満であると、塗布膜の塗布性が劣る場合があり、10重量部を超えると塗布膜のクラック耐性が低下することがある。また、金属キレート化合物は、加水分解縮合時に化合物1〜3から選ばれるシラン化合物とともに有機溶剤中にあらかじめ添加しておいてもよいし、水の添加時に水中に溶解あるいは分散させておいてもよい。
【0056】
金属キレート化合物の存在下で化合物1〜3から選ばれるシラン化合物を加水分解縮合させる場合、化合物1〜3から選ばれるシラン化合物の総量1モル当たり0.5〜20モルの水を用いることが好ましく、1〜10モルの水を加えることが特に好ましい。添加する水の量が0.5モル未満であると塗布膜の耐クラック性が劣る場合があり、20モルを越えると加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲル化が生じる場合がある。また、水は断続的あるいは連続的に添加されることが好ましい。
【0057】
1.1.4.2.酸性化合物
化合物1〜3から選択されるシラン化合物の加水分解縮合時に使用可能な酸性化合物としては、有機酸または無機酸が例示できる。有機酸としては、例えば、酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、シキミ酸、2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、無水マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、コハク酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、マロン酸、グルタル酸の加水分解物、無水マレイン酸の加水分解物、無水フタル酸の加水分解物などを挙げることができる。無機酸としては、例えば、塩酸、硝酸、硫酸、フッ酸、リン酸などを挙げることができる。なかでも、加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲル化のおそれが少ない点で有機酸が好ましく、このうち、カルボキシル基を有する化合物がより好ましく、なかでも、酢酸、シュウ酸、マレイン酸、ギ酸、マロン酸、フタル酸、フマル酸、イタコン酸、コハク酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、マロン酸、グルタル酸、無水マレイン酸の加水分解物が特に好ましい。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0058】
酸性化合物の使用量は、加水分解縮合時の化合物1〜3から選ばれるシラン化合物の総量100重量部(完全加水分解縮合物換算)に対して、0.0001〜10重量部、好ましくは0.001〜5重量部である。酸性化合物の使用割合が0.0001重量部未満であると、塗布膜の塗布性が劣る場合があり、10重量部を超えると塗布膜のクラック耐性が低下することがある。また、酸性化合物は、加水分解縮合時に化合物1〜3から選ばれるシラン化合物とともに有機溶剤中にあらかじめ添加しておいてもよいし、水の添加時に水中に溶解あるいは分散させておいてもよい。
【0059】
酸性化合物の存在下で化合物1〜3から選ばれるシラン化合物を加水分解縮合させる場合、化合物1〜3から選ばれるシラン化合物の総量1モル当たり0.5〜20モルの水を用いることが好ましく、1〜10モルの水を加えることが特に好ましい。添加する水の量が0.5モル未満であると塗布膜の耐クラック性が劣る場合があり、10モルを越えると加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲル化が生じる場合がある。また、水は断続的あるいは連続的に添加されることが好ましい。
【0060】
1.1.4.3.塩基性化合物
化合物1〜3から選択されるシラン化合物の加水分解縮合時に使用可能な塩基性化合物としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム、水酸化セリウム、水酸化バリウム、水酸化カルシウム、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、アンモニア、メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、ジメチルアミン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン、ジブチルアミン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、ジメチルモノエタノールアミン、モノメチルジエタノールアミン、トリエタノールアミン、ジアザビシクロオクラン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセン、尿素、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラプロピルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラブチルアンモニウムハイドロオキサイド、ベンジルトリメチルアンモニウムハイドロオキサイド、コリン、などを挙げることができる。これらの中で、アンモニア、有機アミン類、アンモニウムハイドロオキサイド類を好ましい例として挙げることができ、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラプロピルアンモニウムハイドロオキサイドが特に好ましい。これらの塩基性化合物は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0061】
塩基性化合物の使用量は、化合物1〜3から選ばれるシラン化合物のアルコキシル基の総量(RO−基,RO−基,RO−基およびRO−基で表される基)の合計1モルに対して、通常、0.00001〜1モル、好ましくは0.00005〜0.5モルである。塩基性化合物の使用量が上記範囲内であれば、反応中のポリマーの析出やゲル化のおそれが少ない。
【0062】
塩基性化合物の存在下で化合物1〜3から選ばれるシラン化合物を加水分解縮合させる場合、化合物1〜3から選ばれるシラン化合物の総量1モル当たり0.5〜150モルの水を用いることが好ましく、0.5〜130モルの水を加えることが特に好ましい。添加する水の量が0.5モル未満であると塗布膜の耐クラック性が劣る場合があり、150モルを越えると加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲル化が生じる場合がある。
【0063】
この場合、水とともに、沸点100℃以下のアルコールを用いることが好ましい。ここで、沸点100℃以下のアルコールとしては、例えばメタノール、エタノール、n−プロパノール、イソプロパノールを挙げることができる。沸点100℃以下のアルコールの使用量は、化合物1〜3から選ばれるシラン化合物の総量1モルに対して通常3〜100モル、好ましくは5〜80モルである。
【0064】
なお、沸点100℃以下のアルコールは、化合物1〜3から選ばれるシラン化合物の加水分解および/またはその縮合の際に生じる場合があり、その含量が20重量%以下、好ましくは5重量%以下になるように蒸留などにより除去することが好ましい。また、添加剤として、オルソギ酸メチル等の脱水剤やさらなる金属錯体やレベリング剤が含まれていてもよい。
【0065】
また、塩基性化合物の存在下で化合物1〜3から選ばれるシラン化合物から加水分解縮合物を得た後、本発明の膜形成用組成物のpHを7以下に調整することが好ましい。pHを調整する方法としては、例えば以下の方法が挙げられる。これらの方法は、それぞれ、組み合わせて用いてもよい。
【0066】
(I)pH調整剤を添加する方法、
(II)常圧または減圧下で、組成物中から塩基性化合物を留去する方法、
(III)窒素、アルゴンなどのガスをバブリングすることにより、組成物中から(塩基性化合物を除去する方法、
(IV)イオン交換樹脂により、組成物中から塩基性化合物を除去する方法、
(V)抽出や洗浄によって塩基性化合物を系外に除去する方法
ここで、pH調整剤としては、無機酸や有機酸が挙げられる。無機酸としては、例えば、塩酸、硝酸、硫酸、フッ酸、リン酸、ホウ酸、シュウ酸などを挙げることができる。また、有機酸としては、例えば、酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、シキミ酸、2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、コハク酸、フマル酸、イタコン酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、グルタル酸の加水分解物、無水マレイン酸の加水分解物、無水フタル酸の加水分解物などを挙げることができる。これら化合物は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0067】
上記pH調整剤による組成物のpHは、7以下、好ましくは1〜6に調整される。上記pH調整剤により上記範囲内にpHを調整することにより、組成物の貯蔵安定性が向上するという効果が得られる。pH調整剤の使用量は、組成物のpHが上記範囲内となる量であり、その使用量は、適宜選択される。
【0068】
1.1.5.有機溶剤
本発明においては、化合物1〜3から選択されたシラン化合物を有機溶剤中で加水分解縮合を行なうことができる。ここで、有機溶剤としては、下記一般式(9)で表される溶剤であることが好ましい。
【0069】
21O(CHCHCHO)γ22 ・・・・・(9)
〔式中、R21およびR22は、それぞれ独立して水素原子、炭素数1〜4のアルキル基またはCHCO−から選ばれる1価の有機基を示し、γは1〜2の整数を表す。〕
【0070】
上記一般式(9)において、炭素数1〜4のアルキル基としては、先の一般式(1)において示したものと同様のものを挙げることができる。
【0071】
上記一般式(9)で表される有機溶剤としては、具体例には、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジプロピルエーテル、プロピレングリコールジブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノプロピルエーテル、ジプロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールジエチルエーテル、ジプロピレングリコールジプロピルエーテル、ジプロピレングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノブチルエーテルアセテート、プロピレングリコールジアセテート、ジプロピレングリコールジアセテートなどが挙げられ、特にプロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノプロピルエーテルアセテートが好ましい。これらは1種または2種以上を同時に使用することができる。なお、上記一般式(9)で表される溶剤とともに、エステル系溶媒やアミド系溶媒等の他の溶剤が多少含まれていてもよい。
【0072】
1.1.6.膜形成用組成物(1)の固形分濃度および他の成分
膜形成用組成物(1)の全固形分濃度は、好ましくは2〜30重量%であり、使用目的に応じて適宜調整される。本実施形態に係る膜形成用組成物の全固形分濃度が2〜30重量%であることにより、塗布膜の膜厚が適当な範囲となり、より優れた保存安定性を有するものとなる。なお、この全固形分濃度の調整は、必要であれば、濃縮および有機溶剤による希釈によって行われる。
【0073】
膜形成用組成物(1)は、さらに下記の有機溶剤を溶剤の50重量%以下含有していてもよい。このような有機溶剤としては、例えば、n−ペンタン、i−ペンタン、n−ヘキサン、i−ヘキサン、n−ヘプタン、i−ヘプタン、2,2,4−トリメチルペンタン、n−オクタン、i−オクタン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサンなどの脂肪族炭化水素系溶媒;
ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、トリメチルベンゼン、メチルエチルベンゼン、n−プロピルベンセン、i−プロピルベンセン、ジエチルベンゼン、i−ブチルベンゼン、トリエチルベンゼン、ジ−i−プロピルベンセン、n−アミルナフタレン、トリメチルベンゼンなどの芳香族炭化水素系溶媒;
アセトン、メチルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブチルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i−ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロヘキサノン、2−ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、ジアセトンアルコール、アセトフェノン、フェンチョンなどのケトン系溶媒;エチルエーテル、i−プロピルエーテル、n−ブチルエーテル、n−ヘキシルエーテル、2−エチルヘキシルエーテル、エチレンオキシド、1,2−プロピレンオキシド、ジオキソラン、4−メチルジオキソラン、ジオキサン、ジメチルジオキサン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、エチレングリコールジブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールジ−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エトキシトリグリコール、テトラエチレングリコールジ−n−ブチルエーテル、トリプロピレングリコールモノメチルエーテル、テトラヒドロフラン、2−メチルテトラヒドロフランなどのエーテル系溶媒;
ジエチルカーボネート、酢酸メチル、酢酸エチル、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロピル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸n−ペンチル、酢酸sec−ペンチル、酢酸3−メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2−エチルブチル、酢酸2−エチルヘキシル、酢酸ベンジル、酢酸シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、酢酸n−ノニル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、酢酸エチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸エチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、酢酸メトキシトリグリコール、プロピオン酸エチル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸i−アミル、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ−n−ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−ブチル、乳酸n−アミル、マロン酸ジエチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジエチルなどのエステル系溶媒;N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルプロピオンアミド、N−メチルピロリドンなどの含窒素系溶媒;
硫化ジメチル、硫化ジエチル、チオフェン、テトラヒドロチオフェン、ジメチルスルホキシド、スルホラン、1,3−プロパンスルトンなどの含硫黄系溶媒などを挙げることができる。これらは、1種あるいは2種以上を混合して使用することができる。
【0074】
1.1.7.膜形成用組成物(1)の添加剤
膜形成用組成物(1)は、コロイド状シリカ、コロイド状アルミナ、有機ポリマー、界面活性剤、シランカップリング剤、ラジカル発生剤、トリアゼン化合物などの成分をさらに含有していてもよい。コロイド状シリカとは、例えば、高純度の無水ケイ酸を親水性有機溶媒に分散した分散液であり、通常、平均粒径が5〜30μm、好ましくは10〜20μm、固形分濃度が10〜40重量%程度のものである。このような、コロイド状シリカとしては、例えば、日産化学工業(株)製、メタノールシリカゾルおよびイソプロパノールシリカゾル;触媒化成工業(株)製、オスカルなどが挙げられる。コロイド状アルミナとしては、日産化学工業(株)製のアルミナゾル520、同100、同200;川研ファインケミカル(株)製のアルミナクリアーゾル、アルミナゾル10、同132などが挙げられる。有機ポリマーとしては、例えば、糖鎖構造を有する化合物、ビニルアミド系重合体、(メタ)アクリル系重合体、芳香族ビニル化合物、デンドリマー、ポリイミド,ポリアミック酸、ポリアリーレン、ポリアミド、ポリキノキサリン、ポリオキサジアゾール、フッ素系重合体、ポリアルキレンオキサイド構造を有する化合物などを挙げることができる。
【0075】
ポリアルキレンオキサイド構造を有する化合物としては、ポリメチレンオキサイド構造、ポリエチレンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構造、ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレンオキサイド構造などが挙げられる。具体的には、ポリオキシメチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエテチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンステロールエーテル、ポリオキシエチレンラノリン誘導体、アルキルフェノールホルマリン縮合物の酸化エチレン誘導体、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテルなどのエーテル型化合物、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン脂肪酸アルカノールアミド硫酸塩などのエーテルエステル型化合物、ポリエチレングリコール脂肪酸エステル、エチレングリコール脂肪酸エステル、脂肪酸モノグリセリド、ポリグリセリン脂肪酸エステル、ソルビタン脂肪酸エステル、プロピレングリコール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステルなどのエーテルエステル型化合物などを挙げることができる。ポリオキシチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマーとしては下記のようなブロック構造を有する化合物が挙げられる。
−(A’)j’−(B’)k’
−(A’)j’−(B’)k’−(A’)l’
〔式中、A’は−CHCHO−で表される基を、B’は−CHCH(CH)O−で表される基を示し、j’は1〜90、k’は10〜99、l’は0〜90の数を示す。〕
【0076】
これらの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、などのエーテル型化合物をより好ましい例として挙げることができる。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0077】
界面活性剤としては、例えば、ノニオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活性剤、両性界面活性剤などが挙げられ、さらには、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキレンオキシド系界面活性剤、ポリ(メタ)アクリレート系界面活性剤などを挙げることができ、好ましくはフッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤を挙げることができる。
【0078】
フッ素系界面活性剤としては、例えば1,1,2,2−テトラフロロオクチル(1,1,2,2−テトラフロロプロピル)エーテル、1,1,2,2−テトラフロロオクチルヘキシルエーテル、オクタエチレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)エーテル、ヘキサエチレングリコール(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、オクタプロピレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)エーテル、ヘキサプロピレングリコールジ(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、パーフロロドデシルスルホン酸ナトリウム、1,1,2,2,8,8,9,9,10,10−デカフロロドデカン、1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロデカン、N−[3−(パーフルオロオクタンスルホンアミド)プロピル]-N,N‘−ジメチル−N−カルボキシメチレンアンモニウムベタイン、パーフルオロアルキルスルホンアミドプロピルトリメチルアンモニウム塩、パーフルオロアルキル−N−エチルスルホニルグリシン塩、リン酸ビス(N−パーフルオロオクチルスルホニル−N−エチルアミノエチル)、モノパーフルオロアルキルエチルリン酸エステル等の末端、主鎖および側鎖の少なくとも何れかの部位にフルオロアルキルまたはフルオロアルキレン基を有する化合物からなるフッ素系界面活性剤を挙げることができる。また、市販品としてはメガファックF142D、同F172、同F173、同F183(以上、大日本インキ化学工業(株)製)、エフトップEF301、同303、同352(新秋田化成(株)製)、フロラードFC−430、同FC−431(住友スリーエム(株)製)、アサヒガードAG710、サーフロンS−382、同SC−101、同SC−102、同SC−103、同SC−104、同SC−105、同SC−106(旭硝子(株)製)、BM−1000、BM−1100(裕商(株)製)、NBX−15((株)ネオス)などの名称で市販されているフッ素系界面活性剤を挙げることができる。これらの中でも、上記メガファックF172,BM−1000,BM−1100,NBX−15が特に好ましい。
【0079】
シリコーン系界面活性剤としては、例えばSH7PA、SH21PA、SH30PA、ST94PA(いずれも東レ・ダウコーニング・シリコーン(株)製などを用いることが出来る。これらの中でも、上記SH28PA、SH30PAに相当する下記一般式(10)で表される重合体が特に好ましい。
【0080】
【化11】

・・・・・(10)
〔式中、R23は水素原子または炭素数1〜5のアルキル基であり、z’は1〜20の整数であり、x’、y’はそれぞれ独立に2〜100の整数である。〕
【0081】
界面活性剤の使用量は、化合物1〜3から選択されたシラン化合物の総量100重量部(完全加水分解縮合物換算)に対して通常0.0001〜10重量部である。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0082】
シランカップリング剤としては、例えば3−グリシジロキシプロピルトリメトキシシラン、3−アミノグリシジロキシプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシジロキシプロピルメチルジメトキシシラン、1−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、2−アミノプロピルトリメトキシシラン、2−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、10−トリメトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、10−トリエトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、9−トリメトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテート、9−トリエトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテート、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−アミノプロピルトリエトキシシランなどが挙げられる。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0083】
ラジカル発生剤としては、例えばイソブチリルパーオキサイド、α、α’ビス(ネオデカノイルパーオキシ)ジイソプロピルベンゼン、クミルパーオキシネオデカノエート、ジ−nプロピルパーオキシジカーボネート、ジイソプロピルパーオキシジカーボネート、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシネオデカノエート、ビス(4−t−ブチルシクロヘキシル)パーオキシジカーボネート、1−シクロヘキシル−1−メチルエチルパーオキシネオデカノエート、ジ−2−エトキシエチルパーオキシジカーボネート、ジ(2−エチルヘキシルパーオキシ)ジカーボネート、t−ヘキシルパーオキシネオデカノエート、ジメトキブチルパーオキシジカーボネート、ジ(3−メチル−3−メトキシブチルパーオキシ)ジカーボネート、t−ブチルパーオキシネオデカノエート、2,4−ジクロロベンゾイルパーオキサイド、t−ヘキシルパーオキシピバレート、t−ブチルパーオキシピバレート、3,5,5−トリメチルヘキサノイルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイド、ラウロイルパーオキサイド、ステアロイルパーオキサイド、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシ2−エチルヘキサノエート、スクシニックパーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(2−エチルヘキサノイルパーオキシ)ヘキサン、1−シクロヘキシル−1−メチルエチルパーオキシ2−エチルヘキサノエート、t−ヘキシルパーオキシ2−エチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシ2−エチルヘキサノエート、m−トルオイルアンドベンゾイルパーオキサイド、ベンゾイルパーオキサイド、t−ブチルパーオキシイソブチレート、ジ−t−ブチルパーオキシ−2−メチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)−3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)シクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)−3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)シクロヘキサン、2,2−ビス(4,4−ジ−t−ブチルパーオキシシクロヘキシル)プロパン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)シクロデカン、t−ヘキシルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシマレイン酸、t−ブチルパーオキシ−3,3,5−トリメチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシラウレート、2,5−ジメチル−2,5−ジ(m−トルオイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシ2−エチルヘキシルモノカーボネート、t−ヘキシルパーオキシベンゾエート、2,5−ジメチル−2,5−ジ(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパーオキシアセテート、2,2−ビス(t−ブチルパーオキシ)ブタン、t−ブチルパーオキシベンゾエート、n−ブチル−4,4−ビス(t−ブチルパーオキシ)バレレート、ジ−t−ブチルパーオキシイソフタレート、α、α’ビス(t−ブチルパーオキシ)ジイソプロピルベンゼン、ジクミルパーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルクミルパーオキサイド、ジ−t−ブチルパーオキサイド、p−メンタンヒドロパーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキシン−3、ジイソプロピルベンゼンヒドロパーオキサイド、t−ブチルトリメチルシリルパーオキサイド、1,1,3,3−テトラメチルブチルヒドロパーオキサイド、クメンヒドロパーオキサイド、t−ヘキシルヒドロパーオキサイド、t−ブチルヒドロパーオキサイド、2,3−ジメチル−2,3−ジフェニルブタン等を挙げることができる。ラジカル発生剤の配合量は、重合体100重量部に対し、0.1〜10重量部が好ましい。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0084】
トリアゼン化合物としては、例えば、1,2−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、1,3−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、1,4−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)エーテル、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)メタン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)スルホン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)スルフィド、2,2−ビス〔4−(3,3−ジメチルトリアゼニルフェノキシ)フェニル〕−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(3,3−ジメチルトリアゼニルフェノキシ)フェニル〕プロパン、1,3,5−トリス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−メチル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−フェニル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−プロペニル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−フルオロ−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3,5−ジフルオロ−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−トリフルオロメチル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレンなどが挙げられる。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0085】
膜形成用組成物(1)は、沸点100℃以下のアルコールの含量が20重量%以下、特に5重量%以下であることが好ましい。沸点100℃以下のアルコールは、化合物1〜3の加水分解および/またはその縮合の際に生じる場合があり、その含量が20重量%以下、好ましくは5重量%以下になるように蒸留などにより除去することが好ましい。また、添加剤として、オルソギ酸メチル等の脱水剤やさらなる金属錯体やレベリング剤が含まれていてもよい。
【0086】
1.2.第2のシリカ系膜
1.2.1.第2のシリカ系膜の構成
第2のシリカ系膜は、ポリカルボシランを含む。また、第2のシリカ系膜は、第1のシリカ系膜と有機系膜との間に設けられているのが好ましい。
【0087】
また、第1のシリカ系膜の膜厚に対する第2のシリカ系膜の膜厚は0.03〜0.3であるのが好ましい。第1のシリカ系膜の膜厚に対する第2のシリカ系膜の膜厚が0.03より小さい場合には最上層の有機系膜をエッチング、アッシング加工する際に第1のシリカ系膜におよぼされるプラズマ起因のダメージを抑制する効果が十分でなく、0.3より大きい場合には最終的な積層体の比誘電率が2.6を上回ることがある。
【0088】
第2のシリカ系膜は、プラズマ処理、オゾン酸化処理、および有機シラン処理から選ばれる少なくとも1つの処理により得られた表面を有することができる。第2のシリカ系膜が該表面を有することにより、該表面を介して有機系膜との密着性をさらに高めることができる。
【0089】
また、第2のシリカ系膜は、比誘電率が2.5以上3.5以下であり、密度が1.2以上1.7g/cm以下であることができる。
【0090】
1.2.2.ポリカルボシランの構成
第2のシリカ系膜に含まれるポリカルボシランは、ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖を有し、かつ、下記一般式(5)で表される繰り返し構造単位、下記一般式(6)で表される繰り返し構造単位、および下記一般式(7)で表される繰り返し構造単位を有することができる。すなわち、第2のシリカ系膜に含まれるポリカルボシランは、ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖と、主鎖のケイ素原子に結合する水素原子、酸素原子、および炭素原子を含む側鎖とを含むことができる。
【0091】
【化12】

・・・・・(5)
【化13】

・・・・・(6)
【化14】

・・・・・(7)
上記一般式(7)において、酸素原子は、水素原子、ケイ素原子、および炭素原子のいずれかに結合可能である。
【0092】
本発明において、「ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖」とは、例えば下記一般式(11)で表される構造を有する。なお、下記一般式(11)においては、主鎖に結合する側鎖の記載は省略する。また、主鎖に含まれるケイ素原子および炭素原子の数はこれに限定されるわけではない。前記主鎖において、側鎖の種類は特に限定されないが、側鎖としては例えば、−H、−OH、−OR(ここで、Rは、ポリカルボシラン(1)を製造する際に用いるアルコール由来であってもよく、例えば炭素数1〜6のアルキル基)、−O−Siであってもよい。
【0093】
【化15】

・・・・・(11)
第2のシリカ系膜に含まれるポリカルボシランは、下記一般式(12)〜(18)で表される繰り返し構造単位のうち少なくとも1つをさらに含むことができる。
【0094】
【化16】

・・・・・(12)
【化17】

・・・・・(13)
【化18】

・・・・・(14)
【化19】

・・・・・(15)
【化20】

・・・・・(16)
【化21】

・・・・・(17)
【化22】

・・・・・(18)
上記一般式(14)および(15)において、酸素原子は、水素原子、ケイ素原子、および炭素原子のいずれかに結合可能である。また、上記一般式(16)において、メチレン(−CH−)の炭素原子は、酸素原子、ケイ素原子、および炭素原子のいずれかに結合可能である。
【0095】
1.2.3.ポリカルボシラン(1)の構成および製造
第2のシリカ系膜は、ポリカルボシラン(以下、「ポリカルボシラン(1)」ともいう。)を含む膜形成用組成物(2)を用いて形成された塗布膜を硬化して得ることができる。
【0096】
ポリカルボシラン(1)は、ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖を有し、かつ、上記一般式(5)で表される繰り返し構造単位、上記一般式(6)で表される繰り返し構造単位、および上記一般式(7)で表される繰り返し構造単位を有することができる。なお、ポリカルボシラン(1)は、必要に応じて、上記一般式(12)〜(18)で表される繰り返し構造単位のうち少なくとも1つをさらに含むことができる。
【0097】
また、ポリカルボシラン(1)は、ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖を有し、上記一般式(5)で表される繰り返し構造単位および上記一般式(6)で表される繰り返し構造単位を有する原料ポリマーに、塩基性触媒の存在下で水および/またはアルコールを反応させる工程により得ることができる。
【0098】
また、上記原料ポリマーは、上記一般式(12)で表される繰り返し構造単位および/または上記一般式(13)あるいは(16)で表される繰り返し構造単位を有することができる。
【0099】
例えば、ポリカルボシラン(1)を製造するための原料ポリマーとしては、下記一般式(19)、一般式(20)、および一般式(21)に示すものが挙げられる。
【0100】
【化23】

・・・・・(19)
〔上記一般式(19)において、x,yはそれぞれ1以上の整数を示す。〕
【化24】

・・・・・(20)
〔上記一般式(20)において、a,bはそれぞれ1以上の整数を示す。cまたはdは
いずれも整数で、どちらかが1以上である。〕
【化25】

・・・・・(21)
〔上記一般式(21)において、a,bはそれぞれ1以上の整数を示す。cまたはdは
いずれも整数で、どちらかが1以上である。〕
【0101】
ポリカルボシラン(1)の製造において使用可能な塩基性触媒としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム、水酸化セリウム、水酸化バリウム、水酸化カルシウム、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、アンモニア、メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、ジメチルアミン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン、ジブチルアミン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、ジメチルモノエタノールアミン、モノメチルジエタノールアミン、トリエタノールアミン、ジアザビシクロオクラン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセン、尿素、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラプロピルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラブチルアンモニウムハイドロオキサイド、ベンジルトリメチルアンモニウムハイドロオキサイド、コリン、などを挙げることができる。これらの中で、アンモニア、有機アミン類、アンモニウムハイドロオキサイド類を好ましい例として挙げることができ、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラプロピルアンモニウムハイドロオキサイドが特に好ましい。これらの塩基性触媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
【0102】
塩基性触媒の使用量は、原料モノマーに含まれるケイ素―水素結合の数によって決定される。
【0103】
ポリカルボシラン(1)の製造において使用可能なアルコールとしては、例えば、炭素数1〜6のアルコールが挙げられ、具体的には、メタノール、エタノール、n−プロパノール、iso−プロパノール、n−ブタノール、tert−ブタノール、sec−ブタノール、n−プロパノール、エチレングリコール、プロピレングリコール、グリセリンなどが挙げられる。
【0104】
ポリカルボシラン(1)は、具体的には、塩基性触媒の存在下、有機溶媒中に原料ポリマーと、水および/またはアルコール(ROH;Rはアルキル基)とを反応させることにより、Si−H結合の一部がSi−O結合に変換されることにより得ることができる。より具体的には、Si−H結合の一部を、シラノール(Si−OH)部位、アルコキシシラン(Si−OR)部位、Si−O−Si結合のいずれかに変換することができる。水を反応剤として用いる場合、シラノール部位形成後に、当該シラノール部位同士の脱水縮合反応が起こり得る。これにより、Si−O−Si結合が形成される。なおSi−H結合を金属あるいは酸、または塩基触媒の存在下、水またはアルコールを用いてSi−O結合に変換する方法については、例えば、特開2003−142477号公報および特表平8−510292号公報に示されている。
【0105】
膜形成用組成物(2)の製造においては、膜形成用組成物(1)の製造で用いられる触媒(塩基性触媒)、有機溶媒、その他の添加剤などと同様のものを用いることができる(1.1.1.〜1.1.7.参照)。
【0106】
ポリカルボシラン(1)において、上記一般式(5)〜(7)で表される繰り返し構造単位の数はそれぞれ、5〜50%、10〜70%、5〜50%であることが好ましい。
【0107】
また、ポリカルボシラン(1)は有機溶剤に可溶であり、かつ、その重量平均分子量は300〜1,000,000であることが好ましく、1、000〜100,000であることがより好ましい。重量平均分子量が300未満であると、焼成時にポリマーが揮発することがあり、一方、重量平均分子量が1,000,000を超えると、ポリマーが溶液に不溶になり、塗布組成物を得ることができない。
【0108】
1.2.4.膜形成用組成物(2)の他の成分
膜形成用組成物(2)の全固形分濃度は、好ましくは0.1〜5重量%であり、使用目的に応じて適宜調整される。本実施形態に係る膜形成用組成物(2)の全固形分濃度が0.1〜5重量%であることにより、塗布膜の膜厚が適当な範囲となり、より優れた保存安定性を有するものとなる。なお、この全固形分濃度の調整は、必要であれば、濃縮または含酸素系有機溶媒として例示した溶剤または他の溶剤による希釈によって行われる。
【0109】
また、膜形成用組成物(2)は、有機溶剤を含有していてもよい。このとき、用いることができる有機溶剤としては、上記膜形成用組成物(1)に使用する有機溶剤として例示したものを用いることができる。また、膜形成用組成物(2)は、その他の添加物として、上記膜形成用組成物(1)において例示された、コロイド状シリカ、コロイド状アルミナ、有機ポリマー、界面活性剤、シランカップリング剤、ラジカル発生剤、トリアゼン化合物などをさらに含有していてもよい。
【0110】
1.3.有機系膜
1.3.1.重合体
本実施形態に係る積層体において、有機系膜は、ポリアリーレン、ポリアリーレンエーテル、ポリベンゾオキサゾールおよびポリイミドの少なくとも一種の化合物を含む膜形成用組成物(3)を塗布し、溶剤を除去することにより得られた塗布膜を硬化して得られた膜であることができる。具体的には、膜形成用組成物(3)は、下記一般式(4)で表される繰り返し単位を有する重合体を含む。
【0111】
【化26】

・・・・・(4)
(式中、R11〜R14は独立に単結合、−O−、−CO−、−CH−、−COO−、−CONH−、−S−、−SO−、−C≡C−、フェニレン基、
【化27】

【0112】
またはフルオレニレン基を表わし、R15〜R20は独立に炭素原子数1〜20の炭化水素基、シアノ基、ニトロ基、炭素原子数1〜20のアルコキシル基またはアリール基を表わし、aおよびbは独立に0〜3の整数を示し、c〜hは独立に0〜4の整数を示す。)
【0113】
1.3.2.有機溶媒
上述の重合体の形成においては必要に応じて有機溶媒を用いることができる。重合に用いる有機溶媒としては特に制限はないが、例えば、
クロロホルム、ジクロロメタン、1,2−ジクロロエタン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン等のハロゲン系溶媒;
ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、ジエチルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒;
ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジグライム、アニソール、ジエチレンクリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル等のエーテル系溶媒;
アセトン、メチルエチルケトン、2−ヘプタノン、シクロヘキサノン、シクルペンタノン等のケトン系溶媒;
酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、γ−ブチロラクトン等のエステル系溶媒;
N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド系溶媒等を挙げることができる。これらの有機溶媒は十分に乾燥、脱酸素して用いることが好ましい。これらの有機溶媒は1種単独で使用しても2種以上を同時に使用してもよい。重合溶媒中におけるモノマー(重合成分)濃度は、好ましくは、1〜80重量%、さらに好ましくは5〜60重量%である。また、重合温度は、好ましくは、0〜150℃、さらに好ましくは5〜100℃である。また、重合時間は、好ましくは、0.5〜100時間、さらに好ましくは1〜40時間である。
【0114】
また、有機系膜を形成するためには上記ポリアリーレンおよびポリアリーレンエーテル、ポリベンゾオキサゾールおよびポリイミドのいずれか一種を有機溶剤に溶解して膜形成用組成物(3)とし、これを基材に塗布し、加熱する。
【0115】
ここで、膜形成用組成物(3)に使用できる有機溶剤としては、例えば、膜形成用組成物(1)で用いられるものと同様の有機溶剤を例示できる。これらの溶剤は、1種単独でまたは2種以上を組み合わせて用いることができる。
【0116】
1.3.3.その他の添加剤
膜形成用組成物(3)には、さらにコロイド状シリカ、本実施形態に係る有機系膜を形成するために用いられる化合物以外の有機ポリマー、界面活性剤、シランカップリング剤、ラジカル発生剤、重合性の二重結合を含有する化合物、重合性の三重結合などの成分を添加してもよい。本実施形態に係る有機系膜を形成するために用いられる化合物以外の有機ポリマーとしては、例えば、糖鎖構造を有する重合体、ビニルアミド系重合体、(メタ)アクリル系重合体、芳香族ビニル化合物系重合体、デンドリマー、ポリイミド、ポリアミック酸、ポリアミド、ポリキノキサリン、ポリオキサジアゾール、フッ素系重合体、ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体などを挙げることができる。
【0117】
ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体としては、ポリメチレンオキサイド構造、ポリエチレンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構造、ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレンオキシド構造などを有する重合体が挙げられる。
【0118】
界面活性剤としては、膜形成用組成物(1)で用いられるものと同様の界面活性剤を例示できる。これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0119】
ラジカル発生剤としては、膜形成用組成物(1)で用いられるものと同様の界面活性剤を例示できる。これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0120】
重合性の二重結合を含有する化合物としては、例えば、アリルベンゼン、ジアリルベンゼン、トリアリルベンゼン、アリルオキシベンゼン、ジアリルオキシベンゼン、トリアリルオキシベンゼン、α,ω―ジアリルオキシアルカン類、α,ω―ジアリルアルケン類、α,ω―ジアリルアルケン類、アリルアミン、ジアリルアミン、トリアリルアミン、N―アリルフタルイミド、N―アリルピロメリットイミド、N、N’―ジアリルウレア、トリアリルイソシアヌレート、2,2’−ジアリルビスフェノールAなどのアリル化合物;スチレン、ジビニルベンゼン、トリビニルベンゼン、スチルベン、プロペニルベンゼン、ジプロペニルベンゼン、トリプロペニルベンゼン、フェニルビニルケトン、メチルスチリルケトン、α,α’―ジビニルアルカン類、α,α’―ジビニルアルケン類、α,α’―ジビニルアルキン類、α,α’―ジビニルオキシアルカン類、α,α’―ジビニルアルケン類、α,α’―ジビニルアルキン類、α,α’―ジアクリルオキシアルカン類、α,α’―ジアクリルアルケン類、α,α’―ジアクリルアルケン類、α,α’―ジメタクリルオキシアルカン類、α,α’―ジメタクリルアルケン類、α,α’―ジメタクリルアルケン類、ビスアクリルオキシベンゼン、トリスアクリルオキシベンゼン、ビスメタクリルオキシベンゼン、トリスメタクリルオキシベンゼン、N―ビニルフタルイミド、N―ビニルピロメリットイミドなどのビニル化合物;2,2’−ジアリル−4,4’−ビフェノールを含むポリアリーレンエーテル、2,2’−ジアリル−4,4’−ビフェノールを含むポリアリーレンなどを挙げることができる。これらは、1種または2種以上を同時に使用しても良い。重合性の三重結合を含有する化合物としては、例えば、下記一般式(22)および一般式(23)で表される化合物もしくはいずれか一方が挙げられる。
【0121】
【化28】

・・・・・(22)
【化29】

・・・・・(23)
〔式(22)および(23)中、R24は炭素数1〜3のアルキル基を表し、R25はv’価の芳香族基を表し、R26はw’価の芳香族基を示し、u’は0〜5の整数を示し、v’およびw’はそれぞれ独立に2〜6の整数を示す。〕
【0122】
上記一般式(8)において、R24で表される炭素数1〜3のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基を挙げることができる。
【0123】
重合性の三重結合を含有する化合物としては、そのほか、エチニルベンゼン、ビス(トリメチルシリルエチニル)ベンゼン、トリス(トリメチルシリルエチニル)ベンゼン、トリス(トリメチルシリルエチニル)ベンゼン、ビス(トリメチルシリルエチニルフェニル)エーテル、トリメチルシリルエチニルベンゼンなどを挙げることができる。これらの重合性の三重結合を含有する化合物は、1種または2種以上を同時に使用しても良い。
【0124】
1.3.4.膜形成用組成物(3)の固形分濃度等
膜形成用組成物(3)の全固形分濃度は、好ましくは1〜30重量%であり、使用目的に応じて適宜調整される。組成物の全固形分濃度が1〜30重量%であると、塗布膜の膜厚が適当な範囲となり、保存安定性もより優れたものとなる。
【0125】
1.4.第3のシリカ系膜
1.4.1.第3のシリカ系膜の構成
上述したように、第3のシリカ系膜は、第2のシリカ系膜よりも比誘電率が低く、ポリカルボシランを含む。また、第3のシリカ系膜は、第2のシリカ系膜と有機系膜との間に設けられているのが好ましい。第2のシリカ系膜と有機系膜との間に、第2のシリカ系膜よりも比誘電率が低い、ポリカルボシランを含む第3のシリカ系膜が設けられることにより、第1のシリカ系膜と有機系膜との密着性を高めることができる。
【0126】
第3のシリカ系膜に含まれるポリカルボシランは、ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖を有し、かつ、上記一般式(5)で表される繰り返し構造単位、上記一般式(6)で表される繰り返し構造単位、および上記一般式(7)で表される繰り返し構造単位を有することができる。すなわち、第3のシリカ系膜に含まれるポリカルボシランは、ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖と、主鎖のケイ素原子に結合する水素原子、酸素原子、および炭素原子を含む側鎖とを含むことができる。
【0127】
第2のシリカ系膜と比較して第3シリカ系膜は空隙がより多いため、第3のシリカ系膜が第2のシリカ系膜と有機系膜との間に設けられていることにより、アンカー効果が生じ、各層間の物理的な密着性を向上させることができる。
【0128】
第3のシリカ系膜は、比誘電率が1.5以上2.5以下であり、密度が0.6g/cm以上1.2g/cm未満であることが好ましい。
【0129】
第3のシリカ系膜の比誘電率は、第2のシリカ系膜の比誘電率よりも0.2以上低いことが好ましい。第3のシリカ系膜の比誘電率が第2のシリカ系膜の比誘電率よりも0.2以上低いことにより、上層の有機系膜との物理的混合領域を形成し密着性が向上する。また、第3のシリカ系膜は、第2のシリカ系膜よりも密度が小さいことが好ましく、より具体的には、第3のシリカ系膜は、第2のシリカ系膜よりも密度が0.2g/cm以上小さいことが好ましい。
【0130】
第3のシリカ系膜は、沸点または分解温度が200〜400℃であるポリアルキレンオキサイド構造を有する化合物または(メタ)アクリル系重合体を、第2のシリカ系膜形成組成物に添加し、塗膜形成後の熱処理で分解、除去することで得ることができる。
【0131】
ポリアルキレンオキサイド構造を有する化合物または(メタ)アクリル系重合体の具体例としては、1)ポリアルキレンオキサイド構造を有する化合物、2)(メタ)アクリル系重合体、3)ビニルアミド系重合体、4)芳香族ビニル系重合体、5)デンドリマー、6)親油性化合物および分散剤、7)超微粒子、8)糖鎖構造を有する化合物などを挙げることができる。
【0132】
1)ポリアルキレンオキサイド構造を有する化合物としては、ポリメチレンオキサイド構造、ポリエチレンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構造、ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレンオキサイド構造などが挙げられる。具体的には、ポリオキシメチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエテチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンステロールエーテル、ポリオキシエチレンラノリン誘導体、アルキルフェノールホルマリン縮合物の酸化エチレン誘導体、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテルなどのエーテル型化合物、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン脂肪酸アルカノールアミド硫酸塩などのエーテルエステル型化合物、ポリエチレングリコール脂肪酸エステル(例えば、ポリエチレングリコールウンデカン酸エステル)、エチレングリコール脂肪酸エステル、脂肪酸モノグリセリド、ポリグリセリン脂肪酸エステル、ソルビタン脂肪酸エステル、プロピレングリコール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステルなどのエーテルエステル型化合物などを挙げることができる。ポリオキシチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマーとしては下記のようなブロック構造を有する化合物が挙げられる。
【0133】
−(A)−(B)−−(A)−(B)−(A)
〔式中、Aは−CHCHO−で表される基を、Bは−CHCH(CH)O−で表される基を示し、jは1〜90、kは10〜99、lは0〜90の数を示す。〕
【0134】
これらの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、などのエーテル型化合物をより好ましい例として挙げることができる。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0135】
2)(メタ)アクリル系重合体は、下記一般式(24)で表される化合物および下記一般式(25)で表される化合物を重合して得られる。
【0136】
CH=CR21COOR22 ・・・・・(24)
〔式中、R21は水素またはメチル基を示し、R22は1価の脂肪族炭化水素基を示す。〕
CH=CR23COOR24 ・・・・・(25)
〔式中、R23は水素またはメチル基を示し、R24はヘテロ原子を含む官能基を示す。〕
【0137】
上記一般式(24)において、R21である1価の脂肪属炭化水素基としては、例えば、炭素数1〜12のアルキル基、アルケニル基、アルキニル基を挙げることができる。また、上記脂肪属炭化水素基は鎖状でも分岐していてもよく、さらに環を形成していても良い。なかでも、メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プロピル基、n−ブチル基、iso−ブチル基、sec−ブチル基、n−ブチル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基であることが好ましい。
【0138】
上記一般式(24)として好ましい化合物は、メチルアクリレート、エチルアクリレート、n−プロピルアクリレート、iso−プロピルアクリレート、n−ブチルアクリレート、iso−ブチルアクリレート、sec−ブチルアクリレート、tert−ブチルアクリレート、アミルアクリレート、ヘキシルアクリレート、ヘプチルアクリレート、オクチルアクリレート、ノニルアクリレート、デシルアクリレート、ドデシルアクリレート、テトラデシルアクリレート、ヘキサデシルアクリレート、オクタデシルアクリレート、シクロヘキシルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、イソボルニルアクリレートなどのモノアクリレート類;メチルメタクリレート、エチルメタクリレート、n−プロピルメタクリレート、iso−プロピルメタクリレート、n−ブチルメタクリレート、iso−ブチルメタクリレート、sec−ブチルメタクリレート、ter−ブチルメタクリレート、アミルメタクリレート、ヘキシルメタクリレート、ヘプチルメタクリレート、オクチルメタクリレート、ノニルメタクリレート、デシルメタクリレート、ドデシルメタクリレート、テトラデシルメタクリレート、ヘキサデシルメタクリレート、オクタデシルメタクリレート、シクロヘキシルメタクリレート、2−エチルヘキシルメタクリレート、イソボルニルメタクリレートなどのモノメタクリレート類;を挙げることができる。
【0139】
上記一般式(25)において、R24であるヘテロ原子(例えば、酸素原子、窒素原子)を含む官能基としては、例えば、ヒドロキシ基、アルコキシ基、エーテル基、ポリオキシアルキル基、カルボキシル基、カルボニル基、エステル基、アミド基、イミド基の群より選ばれた少なくとも1種を有するアルキル基を挙げることができる。また、上記官能基は鎖状でも分岐していてもよく、さらに環を形成していても良い。なかでも、ヒドロキシ基、アルコキシ基、エーテル基、ポリオキシアルキル基であることが好ましい。
【0140】
また、上記一般式(25)として好ましい化合物は、2−メトキシエチルアクリレート、2−エトキシエチルアクリレート、2−メトキシプロピルアクリレート、2−エトキシプロピルアクリレート、フェニルカルビトールアクリレート、ノニルフェニルカルビトールアクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチルアクリレート、テトラヒドロフルフリルアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、ジエチレングリコールアクリレート、ポリエチレングリコールアクリレート、メトキシジエチレングリコールアクリレート、メトキシポリエチレングリコールアクリレート、エトキシジエチレングリコールアクリレート、エトキシポリエチレングリコールアクリレート、2−ヒドロキシプロピルアクリレート、ジプロピレングリコールアクリレート、ポリプロピレングリコールアクリレート、メトキシジプロピレングリコールアクリレート、メトキシポリプロピレングリコールアクリレート、エトキシジプロピレングリコールアクリレート、エトキシポリプロピレングリコールアクリレート、2−ジメチルアミノエチルアクリレート、2−ジエチルアミノエチルアクリレート、グリシジルアクリレートなどのモノアクリレート類;2−メトキシエチルメタクリレート、2−エトキシエチルメタクリレート、2−メトキシプロピルメタクリレート、2−エトキシプロピルメタクリレート、フェニルカルビトールメタクリレート、ノニルフェニルカルビトールメタクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチルメタクリレート、テトラヒドロフルフリルメタクリレート、などのモノメタクリレート類;を挙げることができる。
【0141】
これら一般式(24)または(25)で示される化合物は、1種または2種以上を同時に使用してもよい。
【0142】
本実施形態に係る膜形成用組成物において、(メタ)アクリル系重合体のポリスチレン換算数平均分子量は1,000〜100,000、好ましくは2,000〜20,000である。
【0143】
3)ビニルアミド系重合体としては、ポリ(N−ビニルアセトアミド)、ポリ(N−ビニルピロリドン、ポリ(2−メチル−2−オキサゾリン)、ポリ(N、N−ジメチルアクリルアミド)などが挙げられる。
【0144】
4)芳香族ビニル系重合体としては、ポリスチレン、ポリメチルスチレン、ポリα−メチルスチレンなどが挙げられる。
【0145】
5)デンドリマーとしては、ベンジルエーテル系、フェニルアセチレン、ポリアミン系、ポリアミド系が挙げられるが、熱分解性の観点からポリアミン系が好ましい。
【0146】
6)親油性化合物および分散剤は、親油化合物のみでは加水分解縮合物(I)と広い組成範囲で相溶しないが、分散剤と共存することによって、加水分解縮合物(I)と広い組成範囲で相溶するものである。親油性化合物としては、ポリカルボン酸エステル、例えばジデシルフタレート、ジウンデシルフタレート、ジドデシルフタレート、ジトリデシルフタレート、トリス(2−エチルヘキシル)トリメリテート、トリデシルトリメリテート、トリドデシルトリメリテート、テトラブチルピロメリテート、テトラヘキシルトリメリテート、テトラオクチルピロメリテート、ビス(2−エチルヘキシル)ドデカンジオエート、ビスデシルドデカンジオエートなどを挙げることができる。これらの親油性化合物を相溶させる分散剤としては、オクタノール、ラウリルアルコール、デシルアルコール、ウンデシルアルコールなどの高級アルコールを挙げることができる。分散剤としての高級アルコールの使用量は親油性化合物に対し0.1〜10倍量(重量)の範囲で使用できる。
【0147】
7)超微粒子は、粒径100nm以下の重合体粒子であって、通常の乳化重合で、乳化剤の種類、乳化剤濃度、攪拌速度などで粒径を制御されたものであって、芳香族ビニル化合物、(メタ)アクリレート化合物の単量体から、粒径制御のために架橋性単量体を使用して調製されるものである。
【0148】
8)糖鎖構造を有する化合物としては、シクロデキストリン、ショ糖エステル、オリゴ糖、グルコース、フルクトース、マンニット、デンプン糖、D−ソルビット、デキストラン、ザンサンガム、カードラン、プルラン、シクロアミロース、異性化糖、マルチトール、酢酸セルロース、セルロース、カルボキシメチルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロース、メチルセルロース、エチルヒドロキシエチルセルロース、カルボキシメチルセルロース、キチン、キトサンなどを挙げることができる。
【0149】
本実施形態に係る膜形成用組成物において、化合物(II)としては、1)アルキレンオキサイド構造を有する化合物または2)(メタ)アクリル系重合体を使用することが好ましい。
【0150】
また、本実施形態に係る膜形成用組成物において、化合物(II)の使用量は、加水分解縮合物(I)100重量部(完全加水分解縮合物換算)に対して、5〜200重量部であり、好ましくは5〜50重量部である。ここで、化合物(II)の使用量が5〜200重量部であると、本実施形態に係る膜形成用組成物を用いて形成されるシリカ系膜の比誘電率を下げる効果が大きくなる。
【0151】
第3のシリカ系膜は、プラズマ処理、オゾン酸化処理、および有機シラン処理から選ばれる少なくとも1つの処理により得られた表面を有することが好ましい。第3のシリカ系膜が該表面を有することにより、該表面を介して有機系膜との密着性をさらに高めることができる。
【0152】
また、第2のシリカ系膜の膜厚に対する第3のシリカ系膜の膜厚は0.1〜1であるのが好ましい。第2のシリカ系膜の膜厚に対する第3のシリカ系膜の膜厚が0.1より小さい場合には有機系膜との十分な混合領域を確保できずに密着が向上せず、逆に1より大きい場合には拡散しない領域が生じることでここが破壊の起点になり密着が向上しない可能性がある。
【0153】
2.積層体
2.1.積層体の形成方法
本実施形態に係る積層体の形成方法は、第1のシリカ系膜のための膜形成用組成物(1)を基材の上に塗布した後乾燥させて、第1の塗布膜を形成する工程、第2のシリカ系膜のための膜形成用組成物(2)を第1の塗布膜上に塗布した後乾燥させて、第2の塗布膜を形成する工程、有機系膜のための膜形成用組成物(3)を第2の塗布膜の上方に塗布した後乾燥させて、第3の塗布膜を形成する工程、および、加熱もしくはエネルギー線の照射によって、第1,第2および第3の塗布膜を硬化する工程を含むことができる。なお、必要に応じて、第3のシリカ系膜のための膜形成用組成物(4)を第2の塗布膜上に塗布した後乾燥させて、第2の塗布膜の上に第4の塗布膜を形成した後、有機系膜のための膜形成用組成物(3)を第4の塗布膜の上方に塗布した後乾燥させて、第3の塗布膜を形成してもよい。
【0154】
以下、積層体の製造方法について詳細に述べる。
【0155】
積層体の形成方法においては、第1の塗布膜が形成される基材としては、Si、SiO、SiN、SiC、SiCN等のSi含有層が挙げられる。
【0156】
膜形成用組成物を塗布する方法としては、回転塗布機を用いたスピンコート法、浸漬法、ロールコート法、スプレー法などの塗装手段が用いられる。
【0157】
まず、基材上に膜形成用組成物(1)を塗布した後、たとえば、ホットプレートを用いて熱処理を施すことなどにより、有機溶剤を除去して塗布膜を乾燥する。このようにして、基材の上に第1の塗布膜が形成される。
【0158】
ついで、第1の塗布膜の上に、第2のシリカ系膜のための第2の塗布膜および有機絶縁膜のための第3の塗布膜を順次形成する。第2および第3の塗布膜の形成は、上述した第1の塗布膜の形成と同様に行なうことができる。
【0159】
各塗布膜の膜厚は特に限定されない。例えば、第1の塗布膜の膜厚は、好ましくは、10〜1000nm、より好ましくは10〜200nmである。第2の塗布膜の膜厚は、第1のシリカ系膜と有機系膜との密着性を充分に高めることを考慮すると、好ましくは、5〜100nm、より好ましくは5〜10nmである。第3の塗布膜の膜厚は、好ましくは、10〜1000nm、より好ましくは10〜200nmである。
【0160】
次に、第1、第2および第3の塗布膜が積層された積層膜に対して硬化処理を施す。硬化処理は、加熱や、電子線、紫外線などの高エネルギー線の照射により行なうことができる。加熱により硬化を行なうときは、好ましくは250〜500℃、より好ましくは、300〜450℃の条件で行なうことができる。電子線あるいは紫外線を照射して硬化を行なうときには、好ましくは250〜500℃、より好ましくは、300〜450℃で行なうことができる。
【0161】
上述した積層体の形成方法では、各塗布膜について乾燥を行ったが、例えば第2および第3の塗布膜(第4の塗布膜を含む場合はさらに第4の塗布膜)については乾燥を行なわないこともできる。
【0162】
すなわち、本実施形態に係る積層体の形成方法では、
(a)第1のシリカ系膜のための膜形成用組成物(1)を基材の上に例えば回転塗布機によって塗布した後、例えばホットプレートで乾燥させて、第1の塗布膜を形成する工程、
(b)第2のシリカ系膜のための膜形成用組成物(2)を例えば回転塗布機で第1の塗布膜上に塗布し、その後塗布膜の乾燥を行なわないで、未乾燥の第2の塗布膜を形成する工程、
(c)有機系膜のための膜形成用組成物(3)を例えば回転塗布機で第2の塗布膜上に塗布し、その後塗布膜の乾燥を行なわないで、未乾燥の第3の塗布膜を形成する工程、および
(d)例えばホットプレートを用いて第2および第3の塗布膜を乾燥させる工程、および
(e)加熱もしくはエネルギー線の照射によって、第1,第2および第3の塗布膜を硬化する工程
を含むことができる。
【0163】
この形成方法によれば、第2の塗布膜を形成するための工程(b)および第3の塗布膜を形成するための工程(c)での塗布工程を連続して行なうことができ、また、第2および第3の塗布膜の乾燥工程を1回で行なうことができるので、各塗布膜について乾燥を行なう場合に比べて、プロセスの簡易化を図ることができる。
【0164】
2.2.積層体の特性
本実施形態に係る積層体においては、好ましくは、第1のシリカ系膜は、比誘電率が
1.5以上2.5以下であり、密度が0.6g/cm以上1.2g/cm以下であり、第2のシリカ系膜は、第1のシリカ系膜より、比誘電率が0.1以上低い。
【0165】
第1および第2のシリカ系膜がこのような比誘電率の関係を有することにより、積層体の比誘電率を充分に小さくできる。また、第1および第2のシリカ系膜がこのような密度の関係を有することは、第2のシリカ系膜が第1のシリカ系膜に比べて空隙率が高く、ポーラスであることを意味する。したがって、第2のシリカ系膜と有機系膜とは物理的な絡み合いによるアンカー効果によって高い密着性を有することができる。
【0166】
また、本実施形態に係る積層体は、好ましくは比誘電率が2.6以下である。
【0167】
2.3.積層体の具体例
本実施形態に係る積層体の一具体例を図1および図2に示す。本実施形態に係る積層体10は図1に示すように、第1のシリカ系膜11と、第1のシリカ系膜11上に設けられた第2のシリカ系膜12と、第2のシリカ系膜12上に設けられた有機系膜13とを含む。
【0168】
また、図2に示す積層体20は、第1のシリカ系膜11と、第1のシリカ系膜11上に設けられた第2のシリカ系膜12と、第2のシリカ系膜12上に設けられた第3のシリカ系膜14と、第3のシリカ系膜14上に設けられた有機系膜13とを含む。すなわち、積層体20では、第2のシリカ系膜12と有機系膜13との間に、第3のシリカ系膜14が設けられている。
【0169】
3.絶縁膜
本実施形態に係る絶縁膜は、上述の方法によって形成された積層体を少なくとも一部に含むものである。そのため、本実施形態に係る絶縁膜は、低誘電率であり、かつ、第2のシリカ系膜が設けられていることにより、第1のシリカ系膜と有機系膜との密着性が優れている。したがって、本実施形態に係る絶縁膜は、例えば、LSI、システムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAMなどの半導体装置用の層間絶縁膜、半導体装置の表面コート膜などの保護膜、多層レジストを用いた半導体作製工程の中間層、多層配線基板の層間絶縁膜、液晶表示装置用の保護膜や絶縁膜などの用途に有用である。特に、本実施形態に係る絶縁膜は、ダマシン構造体に含まれる絶縁膜として好適である。
【0170】
4.半導体装置
本実施形態に係る半導体装置は、上記絶縁膜を含む。絶縁膜を例えば、層間絶縁膜や、平坦化絶縁膜などに用いる場合、絶縁膜の密着性が十分に確保されているため、CMP処理や、パッケージング処理時の膜剥がれが抑制され、信頼性の高い半導体装置を提供することができる。
【0171】
5.実施例
次に、本発明を、実施例を挙げてさらに具体的に説明する。なお、実施例および比較例中の「部」および「%」は、特記しない限りそれぞれ重量部および重量%であることを示している。また、以下の記載は本発明の態様を概括的に示すものであり、特に理由なく、かかる記載により本発明は限定されるものではない。
【0172】
5.1.特性の評価方法
以下に、実施例および比較例のサンプルについて求めた特性の評価方法を記載する。
【0173】
5.1.1.密着性(破壊靭性)
まず、測定するサンプルウエハ(各実施例において得られた、絶縁膜の積層体が形成されたシリコンウエハ)にスパッタリング装置を用いてSiOを500nm成膜した後3×4cmに切り出し、これをサンプル1とした。次に、未使用のシリコンウエハを3×4cmに切り出し、これをサンプル2とした。次いで、エポキシ樹脂を用いてサンプル1とサンプル2の表面を接合し、オーブンで135℃にて2時間加熱硬化して、サンプル3を得た。次いで、ダイシングソーを用いてサンプル3を3mm×4cmに切断し、それぞれについて一方のウエハ片の中央部分にノッチを入れサンプル4を得た。このサンプル4を4つのピンではさみ、両側から力を加えてノッチから亀裂が発生するまで力を加えた。亀裂が発生するのに要する力(破壊靭性)によって密着性を評価した。
【0174】
5.1.2.比誘電率
積層体が形成されたウエハ上にアルミニウムを蒸着して、誘電率評価用基板を作製した。比誘電率は、横川・ヒューレットパッカード(株)製のHP16451B電極およびHP4284AプレシジョンLCRメーター用いて、10kHzにおける容量値から算出した。
【0175】
5.1.3.密度
密度の測定は、GIXR法を用いた。
【0176】
5.1.4.RIE(Reactive Ion Etching)プラズマ耐性評価
積層膜に対して400℃、1時間、窒素雰囲気下で焼成を行った後、各積層膜を東京エレクトロン社製プラズマエッチング装置を用いて、アンモニアまたは酸素を用いる有機Low-k膜エッチング条件に暴露し、絶縁膜の暴露前後の誘電率変化よりRIE耐性を評価した。暴露前後の誘電率変化に応じて次のように評価した。
【0177】
S 比誘電率の上昇値が0.1未満
A 比誘電率の上昇値が0.1以上0.2未満
B 比誘電率の上昇値が0.2以上0.5未満
C 比誘電率の上昇値が0.5以上
【0178】
5.2.膜形成用組成物の調整
5.2.1.膜形成用組成物(1)
石英製セパラブルフラスコに、エタノール570g、イオン交換水160gおよび10%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液30gを入れ、均一に攪拌した。この溶液にメチルトリメトキシシラン136gとテトラエトキシシラン209gの混合物を添加した。溶液を60℃に保ったまま、5時間反応を行った。この溶液にプロピレングリコールモノエチルエーテル300gを加え、その後、50℃のエバポレータを用いて溶液を10%(完全加水分解縮合物換算)となるまで濃縮した。その後、得られた液を0.2μmの孔径を有するテフロン(登録商標)製フィルターでろ過して固形分含有量3%(完全加水分解縮合物換算)の膜形成用組成物組成物(1)を得た。
【0179】
このようにして得られた膜形成用組成物(1)を8インチのシリコン基板上にスピンコート法で塗布し、80℃で1分間、200℃で1分間乾燥した後、さらに真空下400℃で30分間加熱することにより、塗布膜を硬化させて第1のシリカ系膜を得た。
【0180】
このシリカ系膜の比誘電率は2.25であり、密度は0.9g/cmであった。
【0181】
5.2.2.膜形成用組成物(2)
下記式(26)に示される構成単位(式(26)において、x、yは独立して1以上の数を示す。)を有する(株)日本カーボン社製ニプシType−UH(商品名)20gをジオキサンに溶解させて400gとし、これにピリジン3.0mlおよび水4.0mlを加えた後、この反応液を80℃で5時間加熱した。次に、この反応液を室温まで冷却した後、2.0mol/Lの酢酸水溶液10mlを加えて反応を停止させた。次いで、この反応液にシクロヘキサノン100gと0.02mol/Lの酢酸水溶液400gとを加えて振り混ぜた後、静置して有機相と水相とに分離した。この有機相を取り出して濃縮することにより、ポリカルボシラン19.3gを得た。
【0182】
【化30】

・・・・・(26)
分子量(GPC):Mw=30,600,Mn=4、500
また、得られたポリマーを0.5%の酢酸ブチル溶液とした後、得られた液を0.2μmの孔径を有するテフロン(登録商標)製フィルターでろ過して膜形成用組成物(2)を得た。これを8インチのシリコン基板上にスピンコート法で塗布し、窒素雰囲気下150℃で1分間、続いて400℃で1分間ホットプレート上にて乾燥した後、さらに真空下400℃で30分間加熱することにより、塗布膜を硬化させて第2のシリカ系膜を得た。
【0183】
このシリカ系膜の比誘電率は2.85であり、密度は1.4g/cmであった。
【0184】
5.2.3.膜形成用組成物(3)
温度計、アルゴンガス導入管、攪拌装置を備えた1000ml三口フラスコにテトラヒドロフラン120ml、テトラキストリフェニルホスフィンパラジウム3.46g、ジクロロビストリフェニルホスフィンパラジウム2.1g、ヨウ化銅1.44g)、ピペリジン20ml、4,4’−ビス(2−ヨードフェノキシ)ベンゾフェノン185.72gを加えた。次に、4,4’−ジエチニルジフェニルエーテル65.48gを加え、25℃で20時間反応させた。この反応液を酢酸5リットルで再沈殿を2回繰り返した後、シクロヘキサノンに溶かし超純水で2回洗浄し、メタノール5リットルで再沈殿し、沈殿を濾過、乾燥して重量平均分子量35,000の重合体を得た。この重合体20gをシクロヘキサノン380gに溶解させた後、0.2μmの孔径を有するテフロン(登録商標)製フィルターでろ過して固形分含有量5%の膜形成用組成物(3)を得た。
【0185】
このようにして得られた膜形成用組成物(3)を8インチのシリコン基板上にスピンコート法で塗布し、80℃で1分間、300℃で1分間乾燥した後、さらに真空下400℃で30分間加熱することにより、塗布膜を硬化させて有機系膜を得た。
【0186】
この有機系膜の比誘電率は2.23であり、密度は0.9g/cmであった。
【0187】
5.2.4.膜形成用組成物(4)
膜形成用組成物(2)2000gにポリオキシエチレン−ポリオキシプロピレン−ポリオキシエチレンブロックコポリマー(三洋化成(株)製、ニューポールPE61〔HO−PEO2−PPO70−PEO2−OH相当〕)2.5gを溶解させた後、得られた液を0.2μmの孔径を有するテフロン(登録商標)製フィルターでろ過して膜形成用組成物(4)を得た。これを8インチのシリコン基板上にスピンコート法で塗布し、窒素雰囲気下150℃で1分間、続いて400℃で1分間ホットプレート上にて乾燥した後、さらに真空下400℃で30分間加熱することにより、塗布膜を硬化させて第4のシリカ系膜を得た。このシリカ系膜の比誘電率は2.45であり、密度は1.2g/cmであった。
【0188】
5.2.5.膜形成用組成物(5)
石英製セパラブルフラスコ中で、メチルトリメトキシシラン243.30g、テトラメトキシシラン101.24g、トリエトキシシラン123.64gとテトラキス(アセチルアセトナート)チタン0.02gを、ジプロピレングリコールジメチルエーテル254gに溶解させた後、均一に攪拌させ、溶液温度を50℃に安定させた。次に、イオン交換水278gを1時間かけて溶液に添加した。その後、50℃で3時間反応を行った。この溶液にプロピレングリコールモノエチルエーテル300gを加え、その後、50℃のエバポレータを用いて溶液を3%(完全加水分解縮合物換算)となるまで濃縮した。その後、得られた液を0.2μmの孔径を有するテフロン(登録商標)製フィルターでろ過した後、プロピレングリコールモノエチルエーテルを加えて固形分含有量0.5%(完全加水分解縮合物換算)の膜形成用組成物組成物(5)を得た。
【0189】
このようにして得られた膜形成用組成物(5)を8インチのシリコン基板上にスピンコート法で塗布し、80℃で1分間、200℃で1分間乾燥した後、さらに真空下400℃で30分間加熱することにより、塗布膜を硬化させて第4のシリカ系膜を得た。
【0190】
このシリカ系膜の比誘電率は2.87であり、密度は1.4g/cmであった。
【0191】
5.3.実施例および比較例
5.3.1.実施例1
膜形成用組成物(1)を8インチのシリコンウエハ上に130nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第1のシリカ系膜を形成した。続いてこの第1のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(2)を10nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第2のシリカ系膜を形成した。さらに、この第2のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(3)を120nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱して有機系膜を形成し、積層体を形成した。その後、積層体が形成された基板を400℃の窒素雰囲気のホットプレートによって30分加熱して積層体を焼成した。
【0192】
この積層体について、4ポイントベンディング法にて、積層体における第2のシリカ系膜と有機系膜との間の破壊靭性を測定したところ、6J/mであった。
【0193】
5.3.2.実施例2
膜形成用組成物(1)を8インチのシリコンウエハ上に130nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱して第1のシリカ系膜を形成した。続いてこの第1のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(2)を10nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第2のシリカ系膜を形成した。さらに、この第2のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(4)を5nmの膜厚で塗布した後、150℃で1分間、400℃で1分間基板を加熱し、第3のシリカ系膜を形成した。さらに、この第3のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(3)を120nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱して有機系膜を形成し、積層体を形成した。その後、積層体が形成された基板を400℃の窒素雰囲気のホットプレートによって30分加熱して積層体を焼成した。
【0194】
この積層体について、4ポイントベンディング法にて、積層体における第3のシリカ系膜と有機系膜との間の破壊靭性を測定したところ、8J/mであった。
【0195】
5.3.3.実施例3
膜形成用組成物(1)を8インチのシリコンウエハ上に130nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第1のシリカ系膜を形成した。続いてこの第1のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(2)を10nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第2のシリカ系膜を形成した。この第1及び第2のシリカ系膜が積層されたシリコンウエハを、ウシオ電気製エキシマ照射装置にて空気下で172nmエキシマ真空紫外光に5秒さらし第2のシリカ系膜表面を酸化処理行った。さらに、この第2のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(3)を120nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱して有機系膜を形成し、積層体を形成した。その後、積層体が形成された基板を400℃の窒素雰囲気のホットプレートによって30分加熱して積層体を焼成した。
【0196】
この積層体について、4ポイントベンディング法にて、積層体における第2のシリカ系膜と有機系膜との間の破壊靭性を測定したところ、8J/mであった。
【0197】
5.3.4.実施例4
膜形成用組成物(1)を8インチのシリコンウエハ上に130nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第1のシリカ系膜を形成した。続いてこの第1のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(2)を10nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第2のシリカ系膜を形成した。さらに、この第2のシリカ系膜上に、ビニルトリメトキシシラン加水分解物の3%酢酸ビニル溶液を回転塗布した後、連続して膜形成用組成物(3)を120nmの膜厚で塗布し、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱して有機系膜を形成し、積層体を形成した。その後、積層体が形成された基板を400℃の窒素雰囲気のホットプレートによって30分加熱して積層体を焼成した。
【0198】
この積層体について、4ポイントベンディング法にて、積層体における第2のシリカ系膜と有機系膜との間の破壊靭性を測定したところ、8J/mであった。
【0199】
5.3.5.実施例5
膜形成用組成物(1)を8インチのシリコンウエハ上に130nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第1のシリカ系膜を形成した。続いてこの第1のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(4)を5nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第3のシリカ系膜を形成した。さらに、この第3のシリカ系膜の上に、膜形成用組成物(3)を120nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱して有機系膜を形成し、積層体を形成した。その後、積層体が形成された基板を400℃の窒素雰囲気のホットプレートによって30分加熱して積層体を焼成した。
【0200】
この積層体について、4ポイントベンディング法にて、積層体における第3のシリカ系膜と有機系膜との間の破壊靭性を測定したところ、8J/mであった。
【0201】
5.3.6.比較例1
膜形成用組成物(1)を8インチのシリコンウエハ上に130nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第1のシリカ系膜を形成した。続いてこの第1のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(3)を120nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱して有機系膜を形成し、積層体を形成した。その後、積層体が形成された基板を400℃の窒素雰囲気のホットプレートによって30分加熱して積層体を焼成した。
【0202】
この積層体について、4ポイントベンディング法にて、積層体における第1のシリカ系膜と有機系膜との間の破壊靭性を測定したところ、4J/mであった。
【0203】
5.3.7.比較例2
膜形成用組成物(1)を8インチのシリコンウエハ上に130nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第1のシリカ系膜を形成した。続いてこの第1のシリカ系膜上に、膜形成用組成物(5)を10nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱し、第3のシリカ系膜を形成した。さらに、この第3のシリカ系膜の上に、膜形成用組成物(3)を120nmの膜厚で塗布した後、80℃で1分間、200℃で1分間基板を加熱して有機系膜を形成し、積層体を形成した。その後、積層体が形成された基板を400℃の窒素雰囲気のホットプレートによって30分加熱して積層体を焼成した。
【0204】
この積層体について、4ポイントベンディング法にて、積層体における第3のシリカ系膜と有機系膜との間の破壊靭性を測定したところ、6J/mであった。
【0205】
【表1】

【0206】
上述の実施例から明らかなように、実施例の積層体は、比較例1や比較例2と比べて密着性およびプラズマ耐性が向上していることがわかった。これにより、本発明の積層体の効果が確認された。その結果、本発明の積層体およびその形成方法によれば、低比誘電離であり、密着性の高い絶縁膜を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0207】
【図1】本発明の一実施形態に係る積層体の一具体例を模式的に示す断面図である。
【図2】本発明の一実施形態に係る積層体の一具体例を模式的に示す断面図である。
【符号の説明】
【0208】
10 積層体
11 第1のシリカ系膜
12 第2のシリカ系膜
13 有機系膜
14 第3のシリカ系膜

【特許請求の範囲】
【請求項1】
有機系膜と、第1のシリカ系膜と、前記第1のシリカ系膜と前記有機系膜との間に設けられた第2のシリカ系膜と、を有し、
前記第2のシリカ系膜はポリカルボシランを含む、積層体。
【請求項2】
請求項1において、
前記第2のシリカ系膜は、比誘電率が2.5以上3.5以下であり、密度が1.2g/cm以上1.7g/cm以下である、積層体。
【請求項3】
請求項1または2において、
前記第1のシリカ系膜は、比誘電率が1.5以上2.5未満であり、密度が0.6g/cm以上1.2g/cm未満である、積層体。
【請求項4】
請求項1〜3のいずれかにおいて、
前記第2のシリカ系膜は、プラズマ処理、オゾン酸化処理、および有機シラン処理から選ばれる少なくとも1つの処理により得られた表面を有する、積層体。
【請求項5】
請求項1〜4のいずれかにおいて、
第1のシリカ系膜の膜厚に対する前記第2のシリカ系膜の膜厚が0.03〜0.3である、積層体。
【請求項6】
請求項1〜5のいずれかにおいて、
前記第1のシリカ系膜は、下記一般式(1)で表される化合物、下記一般式(2)で表される化合物および下記一般式(3)で表される化合物の群から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物を加水分解,縮合して得られる加水分解縮合物を含む膜形成用組成物を用いて塗布膜を形成し、該塗布膜を硬化して得られた膜である、積層体。
Si(OR4−a ・・・・・(1)
(式中、Rは水素原子、フッ素原子または1価の有機基を表し、Rは1価の有機基を表し、aは1〜2の整数を示す。)
Si(OR ・・・・・(2)
(式中、Rは1価の有機基を表す。)
(RO)3−bSi−(R−Si(OR3−c ・・・・・(3)
〔式中、R〜Rは同一または異なり、それぞれ1価の有機基を表し、bおよびcは同一または異なり、0〜2の数を示し、Rは酸素原子、フェニレン基または−(CH−で表される基(ここで、nは1〜6の整数である)を表し、dは0または1を示す。〕
【請求項7】
請求項1〜6のいずれかにおいて、
前記有機系膜は、ポリアリーレン、ポリアリーレンエーテル、ポリベンゾオキサゾールおよびポリイミドから選ばれる少なくとも1種の化合物からなる、積層体。
【請求項8】
請求項1〜7のいずれかにおいて、
前記有機系膜を構成する化合物は、下記一般式(4)で表される繰り返し単位を有する重合体である、積層体。
【化1】

・・・・・(4)
(式中、R11〜R14は独立に単結合、−O−、−CO−、−CH−、−COO−、−CONH−、−S−、−SO−、−C≡C−、フェニレン基、
【化2】

または、フルオレニレン基を表し、R15〜R20は独立に炭素原子数1〜20の炭化水素基、シアノ基、ニトロ基、炭素原子数1〜20のアルコキシル基、またはアリール基を表し、aおよびbは独立に0〜3の整数を示し、c〜hは独立に0〜4の整数を示す。)
【請求項9】
請求項1〜8のいずれかにおいて、
前記第2のシリカ系膜と前記有機系膜との間に、ポリカルボシランを含み、前記第2のシリカ系膜よりも比誘電率が低い第3のシリカ系膜が設けられた、積層体。
【請求項10】
請求項9において、
前記第3のシリカ系膜の比誘電率は、前記第2のシリカ系膜の比誘電率よりも0.2以上低い、積層体。
【請求項11】
請求項9または10において、
前記第3のシリカ系膜は、プラズマ処理、オゾン酸化処理、および有機シラン処理から選ばれる少なくとも1つの処理により得られた表面を有する、積層体。
【請求項12】
請求項9〜11のいずれかにおいて、
前記第2および第3のシリカ系膜に含まれる前記ポリカルボシランは、ケイ素原子と炭素原子とが交互に連続してなる主鎖を有し、かつ、下記一般式(5)で表される繰り返し構造単位、下記一般式(6)で表される繰り返し構造単位、および下記一般式(7)で表される繰り返し構造単位を有する、積層体。
【化3】

・・・・・(5)
【化4】

・・・・・(6)
【化5】

・・・・・(7)
【請求項13】
請求項1〜12のいずれかにおいて、
比誘電率が2.6以下である、積層体。
【請求項14】
第1のシリカ系膜形成用組成物を塗布して第1のシリカ系膜を形成する工程と、ポリカルボシランを有する第2のシリカ系膜形成用組成物第1のシリカ系膜上に塗布して第2のシリカ系膜を形成する工程と、有機系膜形成用組成物を第2のシリカ系膜上に塗布して有機系膜を形成する工程と、を含む積層体の製造方法。
【請求項15】
第1のシリカ系膜形成用組成物を塗布して第1のシリカ系膜を形成する工程と、ポリカルボシランを有する第2のシリカ系膜形成用組成物第1のシリカ系膜上に塗布して第2のシリカ系膜を形成する工程と、ポリカルボシランを有する第3のシリカ系膜形成用組成物第2のシリカ系膜上に塗布して前記第2のシリカ系膜よりも比誘電率が低い第3のシリカ系膜を形成する工程と、有機系膜形成用組成物を第3のシリカ系膜上に塗布して有機系膜を形成する工程と、を含む積層体の製造方法。
【請求項16】
請求項1〜13のいずれかに記載の積層体を少なくとも一部に含む、絶縁膜。
【請求項17】
請求項16に記載の絶縁膜を含む、半導体装置。

【図1】
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【図2】
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【公開番号】特開2008−166572(P2008−166572A)
【公開日】平成20年7月17日(2008.7.17)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−355629(P2006−355629)
【出願日】平成18年12月28日(2006.12.28)
【出願人】(000004178)JSR株式会社 (3,320)
【Fターム(参考)】