マルチチャネルアンプＩＣ、マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板ならびにマルチチャネルアンプＩＣの試験方法
【課題】 マルチチャネルアンプＩＣもしくはマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の動作確認を容易に行えるようにする。
【解決手段】 マルチチャネルアンプＩＣ２０を、入力端子ＴＬと、チャージアンプ２１、ローパスフィルター２２およびサンプルホールド２３から構成される電荷検出部と、入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に試験信号を入力させるための配線部２６と、入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替えるスイッチＳＷとから構成される複数の電荷検出回路と、この複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力するマルチプレクサー２４等から構成し、マルチチャネルアンプＩＣ２０内に試験信号を入力した状態で、各ＣｈのＳＷのみをオンにして、そのＣｈのみ試験信号に対応した出力があることを確認する。
【解決手段】 マルチチャネルアンプＩＣ２０を、入力端子ＴＬと、チャージアンプ２１、ローパスフィルター２２およびサンプルホールド２３から構成される電荷検出部と、入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に試験信号を入力させるための配線部２６と、入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替えるスイッチＳＷとから構成される複数の電荷検出回路と、この複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力するマルチプレクサー２４等から構成し、マルチチャネルアンプＩＣ２０内に試験信号を入力した状態で、各ＣｈのＳＷのみをオンにして、そのＣｈのみ試験信号に対応した出力があることを確認する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、照射された放射線の線量あるいは該放射線の励起により発せられる光の光量に応じた量の電荷を潜像電荷として蓄積する蓄電部を有する放射線固体検出器等から電荷を検出するためのマルチチャネルアンプＩＣ、マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板ならびにマルチチャネルアンプＩＣの試験方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
今日、医療診断等を目的とする放射線撮影において、放射線を検出して得た電荷を潜像電荷として蓄電部に一旦蓄積し、該蓄積した潜像電荷を放射線画像情報を表す電気信号に変換して出力する放射線固体検出器（以下単に検出器ともいう）を使用する放射線画像情報記録読取装置が各種提案されている。この装置において使用される放射線固体検出器としては、種々のタイプのものが提案されているが、蓄積された電荷を外部に読み出す電荷読出プロセスの面から、検出器に読取光（読取用の電磁波）を照射して読み出す光読出方式のものがある。
【０００３】
本出願人は、読出しの高速応答性と効率的な信号電荷の取り出しの両立を図ることができる光読出方式の放射線固体検出器として、特許文献１や特許文献２等において、記録用の放射線あるいは該放射線の励起により発せられる光（以下記録光という）に対して透過性を有する第１導電層、記録光を受けることにより導電性を呈する記録用光導電層、第１導電層に帯電される電荷と同極性の電荷に対しては略絶縁体として作用し、かつ、該同極性の電荷と逆極性の電荷に対しては略導電体として作用する電荷輸送層、読取光の照射を受けることにより導電性を呈する読取用光導電層、読取光に対して透過性を有する複数の線状電極を備えた第２導電層を、この順に積層して成り、記録用光導電層と電荷輸送層との界面に形成される蓄電部に、画像情報を担持する潜像電荷（静電潜像）を蓄積する検出器を提案している。
【０００４】
このような検出器から電荷を検出する場合、各線状電極毎に電荷検出用のチャージアンプを接続する必要があるが、線状電極の配線ピッチは約１００μｍと非常に狭いため、一般的に複数のチャージアンプが集積化されたマルチチャネルアンプＩＣが用いられる。このマルチチャネルアンプＩＣは、通常ＴＣＰ（Tape Carrier Package）またはＣＯＦ（Chip On Film）に実装された形態で検出器に接続される。
【特許文献１】特開２０００−１０５２９７号公報
【特許文献２】特開２０００−２８４０５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、上記のようなマルチチャネルアンプＩＣを実装したＴＣＰもしくはＣＯＦ等のマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の動作確認（製品検査）を行う場合、複数の線状電極に対応した複数の入力用配線の各々と出力用配線との間に試験信号を流して確認する必要があるが、入力用配線の配線ピッチは線状電極の配線ピッチと対応しているため非常に狭く、このような入力用配線の一つ一つにプローブを接触させて検査を行うのは効率的ではない。
【０００６】
また、複数の入力用配線の各々に対応した複数のプローブを備えた検査用冶具を用いることも考えられるが、このような検査用冶具は非常に高価である。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、マルチチャネルアンプＩＣもしくはマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の動作確認を容易に行うことが可能なマルチチャネルアンプＩＣ、マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板ならびにマルチチャネルアンプＩＣの試験方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明によるマルチチャネルアンプＩＣは、複数の電荷検出回路と、複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力する出力切替回路とを備え、電荷検出回路が、入力端子、入力端子に接続された電荷検出部、入力端子と電荷検出部との間に試験信号を入力させるための配線部、および入力端子と電荷検出部との間に試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替える入力切替部とを備え、出力切替回路と入力切替部とが独立して制御可能なものであることを特徴とするものである。
【０００９】
なお、試験信号の入力については、マルチチャネルアンプＩＣに試験信号入力用の端子を設けて外部から試験信号を入力するようにしてもよいし、マルチチャネルアンプＩＣに試験信号発生回路を内蔵して内部から試験信号を入力するようにしてもよい。
【００１０】
また、本発明によるマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板は、フレキシブル基板と、フレキシブル基板上に実装された請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣとを備えたことを特徴とするものである。
【００１１】
また、本発明による第１のマルチチャネルアンプＩＣの試験方法は、請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣを用いて、マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくはマルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を行う方法であって、複数の電荷検出回路の中から一つの電荷検出回路の入力端子と電荷検出部との間のみに試験信号を入力し、出力切替回路により複数の電荷検出回路の出力を切り替えて、試験信号を入力した電荷検出回路のみから入力に対応した信号が出力されていることを確認することを特徴とするものである。
【００１２】
また、本発明による第２のマルチチャネルアンプＩＣの試験方法は、請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣを用いて、マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくはマルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を行う方法であって、複数の電荷検出回路の入力端子を全て短絡し、複数の電荷検出回路の中から一つの電荷検出回路の入力端子と電荷検出部との間のみに試験信号を入力し、出力切替回路により複数の電荷検出回路の出力を切り替えて、全ての電荷検出回路から入力に対応した信号が出力されていることを確認することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によるマルチチャネルアンプＩＣによれば、複数の電荷検出回路と、複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力する出力切替回路とを備え、電荷検出回路が、入力端子、入力端子に接続された電荷検出部、入力端子と電荷検出部との間に試験信号を入力させるための配線部、および入力端子と電荷検出部との間に試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替える入力切替部とを備え、出力切替回路と入力切替部とを独立して制御可能なものとしたので、出力切替回路の出力端子に出力信号モニターを接続し、試験信号入力用の端子に試験信号出力手段を接続（試験信号発生回路を内蔵した場合には不要）した状態で、各電荷検出回路の入力切替部により試験信号の入力を切り替え、出力切替回路において試験対象の電荷検出回路の信号を出力させることにより、マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくはマルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を容易に行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図１は本発明の一実施の形態のマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の上面図、図２は上記マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板に実装されたマルチチャネルアンプＩＣの概略構成図である。なお、本実施の形態においてはマルチチャネルアンプＩＣの一例として４Ｃｈ分の入力を備えたものについて説明する。
【００１５】
このマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１は、フレキシブル基板１０上にマルチチャネルアンプＩＣ２０を実装した所謂ＣＯＦと呼ばれる形態のものである。
【００１６】
マルチチャネルアンプＩＣ２０は、４Ｃｈ分の入力端子ＴＬ１、ＴＬ２、ＴＬ３、ＴＬ４と、出力端子ＴＯＵＴと、試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴとを備えており、フレキシブル基板１０は、マルチチャネルアンプＩＣ２０の入力端子ＴＬ１、ＴＬ２、ＴＬ３、ＴＬ４の各々に対応した入力用配線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４と、出力端子ＴＯＵＴに対応した出力用配線ＯＵＴと、試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴに対応した試験信号入力用配線ＴＥＳＴを備えている。
【００１７】
マルチチャネルアンプＩＣ２０の内部は、複数の電荷検出回路と、この複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力するマルチプレクサー（出力切替回路）２４と、マルチプレクサー２４に接続された出力バッファー２５とから構成されており、出力バッファー２５の出力側には出力端子ＴＯＵＴが接続されている。
【００１８】
各電荷検出回路は、入力端子ＴＬと、チャージアンプ２１、ローパスフィルター（ＬＰＦ）２２およびサンプルホールド（Ｓ／Ｈ）２３から構成される電荷検出部と、入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に試験信号を入力させるための配線部２６と、入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替えるスイッチ（入力切替部）ＳＷとから構成されている。なお、マルチプレクサー（出力切替回路）２４とスイッチ（入力切替部）ＳＷとは独立して制御可能なものである。また、配線部２６は複数の電荷検出回路で共用しており、共用部からスイッチＳＷを介して各電荷検出回路の入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に接続されている。また配線部２６の一端には、マルチチャネルアンプＩＣ２０の外部から試験信号を入力させるための試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴが接続されている。
【００１９】
さらにマルチチャネルアンプＩＣ２０は、内部のＳＷの制御等を行うための不図示の制御信号入力用配線と、この制御信号入力用配線に外部から接続させるための不図示の制御信号入力用端子とを備えている。
【００２０】
上記のように構成されたマルチチャネルアンプＩＣ２０およびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１の第１の試験方法について説明する。図３はマルチチャネルアンプＩＣ２０およびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１の第１の試験方法を示すタイミングチャートである。
【００２１】
最初にマルチチャネルアンプＩＣ２０の動作確認について説明する。マルチチャネルアンプＩＣ２０をフレキシブル基板１０に実装する前の状態で、マルチチャネルアンプＩＣ２０の出力端子ＴＯＵＴに出力信号モニターを接続し、試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴに試験信号出力手段を接続する。
【００２２】
図３に示すように、試験信号をマルチチャネルアンプＩＣ２０内に入力した状態で、Ｃｈ１のＳＷ１のみをオンにする。この状態でマルチプレクサー２４の出力を切り替えてＣｈ１からＣｈ４までの出力を確認し、Ｃｈ１のみ試験信号に対応した出力があることを確認する。以下残りのＣｈ２からＣｈ４も同様に各ＣｈのＳＷのみをオン（試験信号を入力可能な状態）にして、そのＣｈのみ試験信号に対応した出力があることを確認する。上記の確認がいずれも正常に行えれば、マルチチャネルアンプＩＣ２０内でショート等の欠陥が無いことが確認できる。
【００２３】
上記のようにしてマルチチャネルアンプＩＣ２０の動作確認を行ったのち、このマルチチャネルアンプＩＣ２０をフレキシブル基板１０に実装して、フレキシブル基板１０の出力用配線ＯＵＴ端部に出力信号モニターを接続し、試験信号入力用配線ＴＥＳＴ端部に試験信号出力手段を接続する。この状態で上記と同様にＣｈ１からＣｈ４までの各ＣｈのＳＷのみをオンにして、そのＣｈのみ試験信号に対応した出力があることが確認できれば、フレキシブル基板１０に形成された配線間でショート等の欠陥が無いことが確認できる。
【００２４】
次にマルチチャネルアンプＩＣ２０およびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１の第２の試験方法について説明する。図４はマルチチャネルアンプＩＣ２０およびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１の第２の試験方法を示すタイミングチャートである。
【００２５】
最初にマルチチャネルアンプＩＣ２０の動作確認について説明する。マルチチャネルアンプＩＣ２０をフレキシブル基板１０に実装する前の状態で、マルチチャネルアンプＩＣ２０の出力端子ＴＯＵＴに出力信号モニターを接続し、試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴに試験信号出力手段を接続し、さらに入力端子ＴＬ１、ＴＬ２、ＴＬ３、ＴＬ４を全て短絡する。
【００２６】
図４に示すように、試験信号をマルチチャネルアンプＩＣ２０内に入力した状態で、Ｃｈ１のＳＷ１のみをオンにする。この状態でマルチプレクサー２４の出力を切り替えてＣｈ１からＣｈ４までの出力を確認し、全てのＣｈで試験信号に対応した出力があることを確認する。以下残りのＣｈ２からＣｈ４も同様に各ＣｈのＳＷのみをオンにして、全てのＣｈで試験信号に対応した出力があることを確認する。上記の確認がいずれも正常に行えれば、マルチチャネルアンプＩＣ２０内で断線等の欠陥が無いことが確認できる。
【００２７】
上記のようにしてマルチチャネルアンプＩＣ２０の動作確認を行ったのち、このマルチチャネルアンプＩＣ２０をフレキシブル基板１０に実装して、フレキシブル基板１０の出力用配線ＯＵＴ端部に出力信号モニターを接続し、試験信号入力用配線ＴＥＳＴ端部に試験信号出力手段を接続し、入力用配線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４の各々の端部を全て短絡する。この状態で上記と同様にＣｈ１からＣｈ４までの各ＣｈのＳＷのみをオンにして、全てのＣｈで試験信号に対応した出力があることが確認できれば、フレキシブル基板１０に形成された配線に断線等の欠陥が無いことが確認できる。
【００２８】
なお、本実施の形態においてマルチチャネルアンプＩＣは４Ｃｈのものとしたが、これに限らず複数Ｃｈであれば何Ｃｈでもよい。
【００２９】
また、電荷検出部の構成も上記に限定されるものではなく、電荷が検出可能な態様であればどのようなものでもよい。
【００３０】
また、マルチチャネルアンプＩＣを実装したマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板については、ＣＯＦと呼ばれる形態のもの以外に、ＴＣＰと呼ばれる形態のものとしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の一実施の形態のマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の上面図
【図２】上記マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板に実装されたマルチチャネルアンプＩＣの概略構成図
【図３】マルチチャネルアンプＩＣおよびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の第１の試験方法を示すタイミングチャート
【図４】マルチチャネルアンプＩＣおよびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の第２の試験方法を示すタイミングチャート
【符号の説明】
【００３２】
１ マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板
１０ フレキシブル基板
２０ マルチチャネルアンプＩＣ
２１ チャージアンプ
２２ ローパスフィルター
２３ サンプルホールド
２４ マルチプレクサー
２５ 出力バッファー
２６ 配線部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、照射された放射線の線量あるいは該放射線の励起により発せられる光の光量に応じた量の電荷を潜像電荷として蓄積する蓄電部を有する放射線固体検出器等から電荷を検出するためのマルチチャネルアンプＩＣ、マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板ならびにマルチチャネルアンプＩＣの試験方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
今日、医療診断等を目的とする放射線撮影において、放射線を検出して得た電荷を潜像電荷として蓄電部に一旦蓄積し、該蓄積した潜像電荷を放射線画像情報を表す電気信号に変換して出力する放射線固体検出器（以下単に検出器ともいう）を使用する放射線画像情報記録読取装置が各種提案されている。この装置において使用される放射線固体検出器としては、種々のタイプのものが提案されているが、蓄積された電荷を外部に読み出す電荷読出プロセスの面から、検出器に読取光（読取用の電磁波）を照射して読み出す光読出方式のものがある。
【０００３】
本出願人は、読出しの高速応答性と効率的な信号電荷の取り出しの両立を図ることができる光読出方式の放射線固体検出器として、特許文献１や特許文献２等において、記録用の放射線あるいは該放射線の励起により発せられる光（以下記録光という）に対して透過性を有する第１導電層、記録光を受けることにより導電性を呈する記録用光導電層、第１導電層に帯電される電荷と同極性の電荷に対しては略絶縁体として作用し、かつ、該同極性の電荷と逆極性の電荷に対しては略導電体として作用する電荷輸送層、読取光の照射を受けることにより導電性を呈する読取用光導電層、読取光に対して透過性を有する複数の線状電極を備えた第２導電層を、この順に積層して成り、記録用光導電層と電荷輸送層との界面に形成される蓄電部に、画像情報を担持する潜像電荷（静電潜像）を蓄積する検出器を提案している。
【０００４】
このような検出器から電荷を検出する場合、各線状電極毎に電荷検出用のチャージアンプを接続する必要があるが、線状電極の配線ピッチは約１００μｍと非常に狭いため、一般的に複数のチャージアンプが集積化されたマルチチャネルアンプＩＣが用いられる。このマルチチャネルアンプＩＣは、通常ＴＣＰ（Tape Carrier Package）またはＣＯＦ（Chip On Film）に実装された形態で検出器に接続される。
【特許文献１】特開２０００−１０５２９７号公報
【特許文献２】特開２０００−２８４０５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、上記のようなマルチチャネルアンプＩＣを実装したＴＣＰもしくはＣＯＦ等のマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の動作確認（製品検査）を行う場合、複数の線状電極に対応した複数の入力用配線の各々と出力用配線との間に試験信号を流して確認する必要があるが、入力用配線の配線ピッチは線状電極の配線ピッチと対応しているため非常に狭く、このような入力用配線の一つ一つにプローブを接触させて検査を行うのは効率的ではない。
【０００６】
また、複数の入力用配線の各々に対応した複数のプローブを備えた検査用冶具を用いることも考えられるが、このような検査用冶具は非常に高価である。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、マルチチャネルアンプＩＣもしくはマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の動作確認を容易に行うことが可能なマルチチャネルアンプＩＣ、マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板ならびにマルチチャネルアンプＩＣの試験方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明によるマルチチャネルアンプＩＣは、複数の電荷検出回路と、複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力する出力切替回路とを備え、電荷検出回路が、入力端子、入力端子に接続された電荷検出部、入力端子と電荷検出部との間に試験信号を入力させるための配線部、および入力端子と電荷検出部との間に試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替える入力切替部とを備え、出力切替回路と入力切替部とが独立して制御可能なものであることを特徴とするものである。
【０００９】
なお、試験信号の入力については、マルチチャネルアンプＩＣに試験信号入力用の端子を設けて外部から試験信号を入力するようにしてもよいし、マルチチャネルアンプＩＣに試験信号発生回路を内蔵して内部から試験信号を入力するようにしてもよい。
【００１０】
また、本発明によるマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板は、フレキシブル基板と、フレキシブル基板上に実装された請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣとを備えたことを特徴とするものである。
【００１１】
また、本発明による第１のマルチチャネルアンプＩＣの試験方法は、請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣを用いて、マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくはマルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を行う方法であって、複数の電荷検出回路の中から一つの電荷検出回路の入力端子と電荷検出部との間のみに試験信号を入力し、出力切替回路により複数の電荷検出回路の出力を切り替えて、試験信号を入力した電荷検出回路のみから入力に対応した信号が出力されていることを確認することを特徴とするものである。
【００１２】
また、本発明による第２のマルチチャネルアンプＩＣの試験方法は、請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣを用いて、マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくはマルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を行う方法であって、複数の電荷検出回路の入力端子を全て短絡し、複数の電荷検出回路の中から一つの電荷検出回路の入力端子と電荷検出部との間のみに試験信号を入力し、出力切替回路により複数の電荷検出回路の出力を切り替えて、全ての電荷検出回路から入力に対応した信号が出力されていることを確認することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によるマルチチャネルアンプＩＣによれば、複数の電荷検出回路と、複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力する出力切替回路とを備え、電荷検出回路が、入力端子、入力端子に接続された電荷検出部、入力端子と電荷検出部との間に試験信号を入力させるための配線部、および入力端子と電荷検出部との間に試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替える入力切替部とを備え、出力切替回路と入力切替部とを独立して制御可能なものとしたので、出力切替回路の出力端子に出力信号モニターを接続し、試験信号入力用の端子に試験信号出力手段を接続（試験信号発生回路を内蔵した場合には不要）した状態で、各電荷検出回路の入力切替部により試験信号の入力を切り替え、出力切替回路において試験対象の電荷検出回路の信号を出力させることにより、マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくはマルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を容易に行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図１は本発明の一実施の形態のマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の上面図、図２は上記マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板に実装されたマルチチャネルアンプＩＣの概略構成図である。なお、本実施の形態においてはマルチチャネルアンプＩＣの一例として４Ｃｈ分の入力を備えたものについて説明する。
【００１５】
このマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１は、フレキシブル基板１０上にマルチチャネルアンプＩＣ２０を実装した所謂ＣＯＦと呼ばれる形態のものである。
【００１６】
マルチチャネルアンプＩＣ２０は、４Ｃｈ分の入力端子ＴＬ１、ＴＬ２、ＴＬ３、ＴＬ４と、出力端子ＴＯＵＴと、試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴとを備えており、フレキシブル基板１０は、マルチチャネルアンプＩＣ２０の入力端子ＴＬ１、ＴＬ２、ＴＬ３、ＴＬ４の各々に対応した入力用配線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４と、出力端子ＴＯＵＴに対応した出力用配線ＯＵＴと、試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴに対応した試験信号入力用配線ＴＥＳＴを備えている。
【００１７】
マルチチャネルアンプＩＣ２０の内部は、複数の電荷検出回路と、この複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力するマルチプレクサー（出力切替回路）２４と、マルチプレクサー２４に接続された出力バッファー２５とから構成されており、出力バッファー２５の出力側には出力端子ＴＯＵＴが接続されている。
【００１８】
各電荷検出回路は、入力端子ＴＬと、チャージアンプ２１、ローパスフィルター（ＬＰＦ）２２およびサンプルホールド（Ｓ／Ｈ）２３から構成される電荷検出部と、入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に試験信号を入力させるための配線部２６と、入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替えるスイッチ（入力切替部）ＳＷとから構成されている。なお、マルチプレクサー（出力切替回路）２４とスイッチ（入力切替部）ＳＷとは独立して制御可能なものである。また、配線部２６は複数の電荷検出回路で共用しており、共用部からスイッチＳＷを介して各電荷検出回路の入力端子ＴＬとチャージアンプ２１との間に接続されている。また配線部２６の一端には、マルチチャネルアンプＩＣ２０の外部から試験信号を入力させるための試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴが接続されている。
【００１９】
さらにマルチチャネルアンプＩＣ２０は、内部のＳＷの制御等を行うための不図示の制御信号入力用配線と、この制御信号入力用配線に外部から接続させるための不図示の制御信号入力用端子とを備えている。
【００２０】
上記のように構成されたマルチチャネルアンプＩＣ２０およびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１の第１の試験方法について説明する。図３はマルチチャネルアンプＩＣ２０およびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１の第１の試験方法を示すタイミングチャートである。
【００２１】
最初にマルチチャネルアンプＩＣ２０の動作確認について説明する。マルチチャネルアンプＩＣ２０をフレキシブル基板１０に実装する前の状態で、マルチチャネルアンプＩＣ２０の出力端子ＴＯＵＴに出力信号モニターを接続し、試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴに試験信号出力手段を接続する。
【００２２】
図３に示すように、試験信号をマルチチャネルアンプＩＣ２０内に入力した状態で、Ｃｈ１のＳＷ１のみをオンにする。この状態でマルチプレクサー２４の出力を切り替えてＣｈ１からＣｈ４までの出力を確認し、Ｃｈ１のみ試験信号に対応した出力があることを確認する。以下残りのＣｈ２からＣｈ４も同様に各ＣｈのＳＷのみをオン（試験信号を入力可能な状態）にして、そのＣｈのみ試験信号に対応した出力があることを確認する。上記の確認がいずれも正常に行えれば、マルチチャネルアンプＩＣ２０内でショート等の欠陥が無いことが確認できる。
【００２３】
上記のようにしてマルチチャネルアンプＩＣ２０の動作確認を行ったのち、このマルチチャネルアンプＩＣ２０をフレキシブル基板１０に実装して、フレキシブル基板１０の出力用配線ＯＵＴ端部に出力信号モニターを接続し、試験信号入力用配線ＴＥＳＴ端部に試験信号出力手段を接続する。この状態で上記と同様にＣｈ１からＣｈ４までの各ＣｈのＳＷのみをオンにして、そのＣｈのみ試験信号に対応した出力があることが確認できれば、フレキシブル基板１０に形成された配線間でショート等の欠陥が無いことが確認できる。
【００２４】
次にマルチチャネルアンプＩＣ２０およびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１の第２の試験方法について説明する。図４はマルチチャネルアンプＩＣ２０およびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板１の第２の試験方法を示すタイミングチャートである。
【００２５】
最初にマルチチャネルアンプＩＣ２０の動作確認について説明する。マルチチャネルアンプＩＣ２０をフレキシブル基板１０に実装する前の状態で、マルチチャネルアンプＩＣ２０の出力端子ＴＯＵＴに出力信号モニターを接続し、試験信号入力用端子ＴＴＥＳＴに試験信号出力手段を接続し、さらに入力端子ＴＬ１、ＴＬ２、ＴＬ３、ＴＬ４を全て短絡する。
【００２６】
図４に示すように、試験信号をマルチチャネルアンプＩＣ２０内に入力した状態で、Ｃｈ１のＳＷ１のみをオンにする。この状態でマルチプレクサー２４の出力を切り替えてＣｈ１からＣｈ４までの出力を確認し、全てのＣｈで試験信号に対応した出力があることを確認する。以下残りのＣｈ２からＣｈ４も同様に各ＣｈのＳＷのみをオンにして、全てのＣｈで試験信号に対応した出力があることを確認する。上記の確認がいずれも正常に行えれば、マルチチャネルアンプＩＣ２０内で断線等の欠陥が無いことが確認できる。
【００２７】
上記のようにしてマルチチャネルアンプＩＣ２０の動作確認を行ったのち、このマルチチャネルアンプＩＣ２０をフレキシブル基板１０に実装して、フレキシブル基板１０の出力用配線ＯＵＴ端部に出力信号モニターを接続し、試験信号入力用配線ＴＥＳＴ端部に試験信号出力手段を接続し、入力用配線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４の各々の端部を全て短絡する。この状態で上記と同様にＣｈ１からＣｈ４までの各ＣｈのＳＷのみをオンにして、全てのＣｈで試験信号に対応した出力があることが確認できれば、フレキシブル基板１０に形成された配線に断線等の欠陥が無いことが確認できる。
【００２８】
なお、本実施の形態においてマルチチャネルアンプＩＣは４Ｃｈのものとしたが、これに限らず複数Ｃｈであれば何Ｃｈでもよい。
【００２９】
また、電荷検出部の構成も上記に限定されるものではなく、電荷が検出可能な態様であればどのようなものでもよい。
【００３０】
また、マルチチャネルアンプＩＣを実装したマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板については、ＣＯＦと呼ばれる形態のもの以外に、ＴＣＰと呼ばれる形態のものとしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の一実施の形態のマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の上面図
【図２】上記マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板に実装されたマルチチャネルアンプＩＣの概略構成図
【図３】マルチチャネルアンプＩＣおよびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の第１の試験方法を示すタイミングチャート
【図４】マルチチャネルアンプＩＣおよびマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板の第２の試験方法を示すタイミングチャート
【符号の説明】
【００３２】
１ マルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板
１０ フレキシブル基板
２０ マルチチャネルアンプＩＣ
２１ チャージアンプ
２２ ローパスフィルター
２３ サンプルホールド
２４ マルチプレクサー
２５ 出力バッファー
２６ 配線部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電荷検出回路と、
該複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力する出力切替回路とを備え、
前記電荷検出回路が、
入力端子、
該入力端子に接続された電荷検出部、
前記入力端子と前記電荷検出部との間に試験信号を入力させるための配線部、
および前記入力端子と前記電荷検出部との間に前記試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替える入力切替部とを備え、
前記出力切替回路と前記入力切替部とが独立して制御可能なものであることを特徴とするマルチチャネルアンプＩＣ。
【請求項２】
フレキシブル基板と、
該フレキシブル基板上に実装された請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣとを備えたことを特徴とするマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板。
【請求項３】
請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣを用いて、該マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくは該マルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を行うマルチチャネルアンプＩＣの試験方法であって、
前記複数の電荷検出回路の中から一つの前記電荷検出回路の前記入力端子と前記電荷検出部との間のみに前記試験信号を入力し、
前記出力切替回路により前記複数の電荷検出回路の出力を切り替えて、前記試験信号を入力した前記電荷検出回路のみから前記入力に対応した信号が出力されていることを確認することを特徴とするマルチチャネルアンプＩＣの試験方法。
【請求項４】
請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣを用いて、該マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくは該マルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を行うマルチチャネルアンプＩＣの試験方法であって、
前記複数の電荷検出回路の前記入力端子を全て短絡し、
前記複数の電荷検出回路の中から一つの前記電荷検出回路の前記入力端子と前記電荷検出部との間のみに前記試験信号を入力し、
前記出力切替回路により前記複数の電荷検出回路の出力を切り替えて、全ての前記電荷検出回路から前記入力に対応した信号が出力されていることを確認することを特徴とするマルチチャネルアンプＩＣの試験方法。
【請求項１】
複数の電荷検出回路と、
該複数の電荷検出回路の出力の中から選択された出力のみを出力する出力切替回路とを備え、
前記電荷検出回路が、
入力端子、
該入力端子に接続された電荷検出部、
前記入力端子と前記電荷検出部との間に試験信号を入力させるための配線部、
および前記入力端子と前記電荷検出部との間に前記試験信号を入力可能な状態と入力不可能な状態とを切り替える入力切替部とを備え、
前記出力切替回路と前記入力切替部とが独立して制御可能なものであることを特徴とするマルチチャネルアンプＩＣ。
【請求項２】
フレキシブル基板と、
該フレキシブル基板上に実装された請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣとを備えたことを特徴とするマルチチャネルアンプＩＣ実装フレキシブル基板。
【請求項３】
請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣを用いて、該マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくは該マルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を行うマルチチャネルアンプＩＣの試験方法であって、
前記複数の電荷検出回路の中から一つの前記電荷検出回路の前記入力端子と前記電荷検出部との間のみに前記試験信号を入力し、
前記出力切替回路により前記複数の電荷検出回路の出力を切り替えて、前記試験信号を入力した前記電荷検出回路のみから前記入力に対応した信号が出力されていることを確認することを特徴とするマルチチャネルアンプＩＣの試験方法。
【請求項４】
請求項１記載のマルチチャネルアンプＩＣを用いて、該マルチチャネルアンプＩＣの動作確認試験、もしくは該マルチチャネルアンプＩＣに接続された配線の状態確認試験を行うマルチチャネルアンプＩＣの試験方法であって、
前記複数の電荷検出回路の前記入力端子を全て短絡し、
前記複数の電荷検出回路の中から一つの前記電荷検出回路の前記入力端子と前記電荷検出部との間のみに前記試験信号を入力し、
前記出力切替回路により前記複数の電荷検出回路の出力を切り替えて、全ての前記電荷検出回路から前記入力に対応した信号が出力されていることを確認することを特徴とするマルチチャネルアンプＩＣの試験方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図２】
【図３】
【図４】
【公開番号】特開２００６−１１４９６６（Ｐ２００６−１１４９６６Ａ）
【公開日】平成１８年４月２７日（２００６．４．２７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００４−２９７４３９（Ｐ２００４−２９７４３９）
【出願日】平成１６年１０月１２日（２００４．１０．１２）
【出願人】（０００００５２０１）富士写真フイルム株式会社 (7,609)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年４月２７日（２００６．４．２７）
【国際特許分類】
【出願日】平成１６年１０月１２日（２００４．１０．１２）
【出願人】（０００００５２０１）富士写真フイルム株式会社 (7,609)
【Ｆターム（参考）】
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