説明

強誘電体及び記憶装置

【課題】数nm程度のセルサイズを実現可能な強誘電体及び記憶装置を提供すること。
【解決手段】強誘電体2は、分子内で正に帯電された水素原子群(第一原子群)15と負に帯電された酸素原子群(第二原子群)16とが結合された水分子(極性分子)17同士が、さらに水素原子群15又は酸素原子群16が一端2a又は他端2bに配されるよう一方向に交互に配列された5本の一次元鎖13A〜13Eを有するアイスナノチューブ11Aと、アイスナノチューブ11Aを内包するカーボンナノチューブ(ナノチューブ)11Bと、を備えている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、強誘電体及び記憶装置に関する。
【背景技術】
【0002】
コンピュータの高速化要求、データ量の増加に伴い、より高密度、高速のメモリが求められている。また、携帯型情報機器の普及に伴い、より小型軽量で省電力な大容量データ記憶装置へのニーズが高まっている。そのため、メモリのセルサイズの縮小化が種々検討されている(例えば、特許文献1参照。)。しかし、従来型のフラッシュメモリのメモリセルの場合、微細化を進めるにつれて隣接するメモリセルの浮遊ゲート間の容量結合ノイズ等が大きくなってしまうことから、30nmでセルサイズの微細化限界となるといわれている。
【0003】
そこで、次世代の強誘電体メモリとして、例えば、セルサイズが10nm、20nmのNAND型強誘電体電界効果トランジスタの可能性について議論されている。ここで、強誘電体メモリのセルサイズは、配線の太さをFとすると15Fとなる。磁気記録方式では、1平方インチ当たり1Tbit(セルサイズ25nm相当)に向かっている。
【特許文献1】特開2008−277827号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、上記メモリ構成であっても、セルサイズをさらに10nm以下にするためには、構造的に様々な限界がある。本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、数nm程度のセルサイズを実現可能な強誘電体及び記憶装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明は、上記課題を解決するため、以下の手段を採用する。
本発明に係る強誘電体は、分子内で正に帯電された第一原子群と負に帯電された第二原子群とが結合された極性分子同士が、さらに前記第一原子群又は前記第二原子群が一端又は他端に配されるよう一方向に交互に配列された少なくとも一つの一次元鎖と、前記一次元鎖を内包するナノチューブと、を備えていることを特徴とする。
【0006】
この発明は、第一原子群が正電荷、第二原子群が負電荷を有するので、一次元鎖が電気双極子モーメントを備えることができ、一次元鎖の極性に応じた電気双極子モーメントを有することができる。また、ナノチューブ内に一次元鎖を閉じ込めることにより、一次元鎖の特性を好適に維持することができる。
【0007】
また、本発明に係る強誘電体は、前記強誘電体であって、前記一次元鎖を3以上の奇数本備え、隣接する前記一次元鎖同士の電気双極子モーメントが互いに逆方向に向いていることを特徴とする。
【0008】
この発明は、隣接する一次元鎖同士では電気双極子モーメントが打ち消しあうものの、全体では一次元鎖が一つ余る。この一次元鎖の電気双極子モーメントにて強誘電性を維持することができる。
【0009】
また、本発明に係る強誘電体は、前記強誘電体であって、前記一次元鎖及び前記ナノチューブを冷却する冷却部を備え、前記第一原子群が水素原子、前記第二原子群が酸素原子、前記極性分子が水分子であることを特徴とする。
【0010】
また、本発明に係る強誘電体は、前記強誘電体であって、前記ナノチューブが、炭素原子、又はボロン原子及び窒素原子が結合されてなることを特徴とする。
【0011】
これらの発明は、安価な材料によって構成されるので、安定的に供給されることができる。
【0012】
また、本発明に係る強誘電体は、前記強誘電体であって、複数の前記一次元鎖がチューブ状に連結されていることを特徴とする。
【0013】
この発明は、各一次元鎖が電気双極子モーメントを備えることができ、一次元鎖の極性に応じた電気双極子モーメントを有することができる。
【0014】
本発明に係る記憶装置は、本発明に係る強誘電体と、前記一次元鎖及び前記ナノチューブの一端と絶縁層を挟んで接続された半導体基板と、前記一次元鎖及び前記ナノチューブの他端に接続されたゲート電極と、前記絶縁層を挟んで前記基板に配されたソース電極及びドレイン電極と、を備えていることを特徴とする。
【0015】
この発明は、ゲート電極に電圧を印加した際、その大きさによって各一次元鎖の電気双極子モーメントの極性を1本ずつ反転させることができ、その際に1ビット単位での書き込みをすることができる。
【0016】
また、本発明に係る記憶装置は、本発明に係る強誘電体と、前記一次元鎖及び前記ナノチューブと並行に配された絶縁基板と、前記一次元鎖及び前記ナノチューブの一端又は他端に接続されたソース電極と、前記一次元鎖及び前記ナノチューブの他端又は一端に接続されたドレイン電極と、前記絶縁基板に配されたゲート電極と、を備えていることを特徴とする。
【0017】
また、本発明に係る記憶装置は、本発明に係る強誘電体と、前記一次元鎖及び前記ナノチューブの一端と接続されたソース電極と、前記一次元鎖及び前記ナノチューブの他端と接続されたドレイン電極と、を備えている。
【0018】
これらの発明は、ソース電極及びドレイン電極間に電圧を印加した際、その大きさによって一次元鎖の電気双極子モーメントの極性を反転させることができ、反転の際に1ビット単位での書き込みをすることができる。
【発明の効果】
【0019】
本発明によれば、数nm程度の大きさの強誘電体セルサイズを安定的に実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
本発明に係る第1の実施形態について図1から図4を参照して説明する。
本実施形態に係る誘電体メモリ(記憶装置)1は、図1に示すように、強誘電体2と、強誘電体2の一端2aと絶縁層3を挟んで接続された半導体基板5と、強誘電体2の他端2bに接続されたゲート電極6と、絶縁層3を挟んで半導体基板5に配されたソース電極7及びドレイン電極8と、少なくとも強誘電体2を冷却する冷却部10と、を備えている。
【0021】
強誘電体2は、図2及び図3に示すように、水の多員環氷であるアイスナノチューブ11Aと、中心軸線Cを共有するようにアイスナノチューブ11Aを内包するカーボンナノチューブ(ナノチューブ)11Bと、を有する一対のチューブ体11を複数備えている。各チューブ体11は、中心軸線Cが強誘電体2の一端2aから他端2bに向かう方向に延びるとともに、互いに略平行となるように配されている。
【0022】
アイスナノチューブ11Aは、例えば、特開2006−16224号公報に記載された方法によって製造される。このアイスナノチューブ11Aは、複数の5員環部12と、5本の一次元鎖13A〜13Eと、を備えている。アイスナノチューブ11Aの外径は約0.5nm、各一次元鎖13A〜13Eにおける酸素原子群16間の距離は、約0.3nmとなっている。
【0023】
5員環部12は、分子内で正に帯電された水素原子群(第一原子群)15と、負に帯電された酸素原子群(第二原子群)16と、が結合されてなる水分子(極性分子)17同士がさらに水素結合されて構成されている。
【0024】
各一次元鎖13A〜13Eは、水素原子群15と酸素原子群16とが一方向に交互に配列されて、5員環部12を繋ぎながら中心軸線C方向に延びるように形成されている。ここで、一次元鎖13A,13C,13Eは、強誘電体2の一端2aが水素原子群15となるように配列されている。一方、一次元鎖13B,13Dは、強誘電体2の他端2bが水素原子群15となるように配列されている。すなわち、隣接する一次元鎖同士で電気双極子モーメントが互いに逆方向に向いている。そのため、電界のない状態では、余った1本の一次元鎖の影響によって強誘電性が維持されている。
【0025】
アイスナノチューブ11Aは、図4に示すように、外部電界の大きさ及び方向によって、各一次元鎖13A〜13Eにおける電気双極子モーメントの向きがA〜Eの間で変化する。すなわち、外部電界の大きさ及び方向に応じて、一次元鎖の極性が1本ずつ反転していく。この際、周囲の温度が低いほど、各一次元鎖13A〜13Eの極性反転に要する電界の大きさが大きくなる。そのため、周囲の温度が上昇するにつれて僅かな電界の変化で極性が反転する。
【0026】
カーボンナノチューブ11Bは、炭素原子18が結合されてなる半導体型で、外径は1.5nmとなっている。すなわち、セルサイズが1.5nm(記録密度が2.8×1014/in=280Tbit/in相当)となっている。
【0027】
ゲート電極6、ソース電極7及びドレイン電極8については、公知の電界効果トランジスタ(Field Effect Transistor、FET)型である、ゲート積層構造となるように配されている。
【0028】
冷却部10は、熱揺らぎにより一次元鎖の電気双極子モーメントが反転しないように、少なくとも強誘電体2の温度を200K以下に維持するように配されている。
【0029】
次に、本実施形態に係る誘電体メモリ1の作用について説明する。
誘電体メモリ1に書き込む際には、まず、冷却部10による強誘電体2の冷却を一時停止する。そして、ゲート電極6にしきい値電圧以上の電圧を印加する。これにより、強誘電体2が分極され、電界効果トランジスタとしての導通または非導通状態が制御される。なお、過電流を流して強誘電体2を所定温度まで上昇させてから上記電圧を印加してもよい。この際、図示しない加熱部により強誘電体2を温度上昇させてもよい。また、冷却状態を維持したまま、しきい値電圧以上の高電圧を印加してもよい。
【0030】
このとき、5つの一次元鎖13A〜13Eのうち、例えば、一次元鎖13B,13Dについてはゲート電圧の大きさに応じて、図4に示すように順次分極反転が生じる。この一次元鎖1本の分極反転によって1ビット分の書き込みが行われる。この状態でゲート電極6からの電圧印加を停止しても、各一次元鎖13A〜13Eの極性が保持される。ゲート電極6への電圧印加を停止して書き込み終了後は、冷却部10により強誘電体2を所定温度に冷却して熱揺らぎによる分極反転を抑えておく。
【0031】
この誘電体メモリ1及び強誘電体2によれば、水素原子群15が正電荷、酸素原子群16が負電荷を有するので、各一次元鎖13A〜13Eが電気双極子モーメントを備えることができ、水分子17が結合してなるアイスナノチューブ11A全体で、大きな電気双極子モーメントを有することができる。また、カーボンナノチューブ11B内にアイスナノチューブ11Aが閉じ込められることにより、アイスナノチューブ11Aの特性を好適に維持することができる。
【0032】
したがって、この強誘電体2を備えることにより、誘電体メモリ1の限界セルサイズをカーボンナノチューブ11Bの外径によって決定されるようにすることができ、また、軸方向には水分子数個分、すなわち1nm程度の長さにすることができ、数nmのメモリセルサイズを実現することができる。
【0033】
特に、アイスナノチューブ11Aが5員環氷なので、余った一次元鎖1本分の電気双極子によって強誘電性が維持され、この極性変化をメモリとして利用することができる。
【0034】
また、アイスナノチューブ11Aが水分子17、及びカーボンナノチューブ11Bが炭素原子18といった、安価な材料によって構成されるので、安定的に供給されることができる。
【0035】
次に、本発明の第2の実施形態について、図5を参照して説明する。
本実施形態に係る誘電体メモリ20と、第1の実施形態に係る誘電体メモリ1との違いは、本実施形態に係る誘電体メモリ20のカーボンナノチューブ11Bが、半導体基板の機能も兼ねたものであるとした点である。
【0036】
すなわち、誘電体メモリ20は、強誘電体2と、強誘電体2と並行に配された絶縁基板21と、強誘電体2の一端2aと接続されたソース電極22と、強誘電体2の他端2bと接続されたドレイン電極23と、カーボンナノチューブ11Bの側面に接続されたゲート電極25と、を備えている。強誘電体2の周囲には図示しない冷却部が配されている。なお、図6に示すように、カーボンナノチューブ11Bをさらにキャパシタ又は非対称電流素子として機能させた誘電体メモリ30でもよい。
【0037】
この誘電体メモリ20の作用について説明する。
この誘電体メモリ20に書き込む際には、冷却部10による冷却を一時停止する。そして、ソース電極22及びドレイン電極23間にしきい値電圧以上の電圧を印加する。これにより中心軸線C方向に分極Pを発生させる。一方、読み取り時には、一次元鎖の分極が壊れない程度のバイアス電圧をゲート電極25に印加し、ソース電極22及びドレイン電極23間の電流を読む。
【0038】
このとき、5つの一次元鎖13A〜13Eのうち、例えば、一次元鎖13B,13Dについてはソース〜ドレイン電圧の大きさに応じて、1本ずつ順次分極反転が生じる。この一次元鎖1本の分極反転の際に1ビット分の書き込みが行われる。
【0039】
この誘電体メモリ20及び強誘電体2においても、第1の実施形態と同様の効果を奏することができる。
【0040】
なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記実施形態に係るアイスナノチューブ11Aは5員環氷としているが、これに限らず、図7(a)に示すように、7つの水分子が結合された7員環部41を有するアイスナノチューブ40でも構わない。この場合、7つの一次元鎖42A〜42Gをさらに備える。このアイスナノチューブ40の外径は約0.65nm、一次元鎖42A〜42Gにおける酸素原子群16間の距離は、約0.3nmとなっている。
【0041】
また、図7(b)、(c)に示すように、偶数個の水分子が結合された6員環氷のアイスナノチューブ50及び8員環氷のアイスナノチューブ60であっても構わない。このような偶数員環氷の場合、通常は、隣接する一次元鎖同士によって極性が打ち消しあうため、チューブ体全体としては電気双極子をもたない。
【0042】
しかし、図4に示すように、アイスナノチューブ50,60は、電界の大きさ及び方向に応じて一次元鎖の極性方向が変化するとともに、低温では電界がなくなった状態でも極性が保持される特性を有する。そのため、偶数員環氷であっても強誘電体として使用することができる。
【0043】
さらに、上記実施形態では、アイスナノチューブの周囲にカーボンナノチューブ11Bが配されているとしているが、ボロン原子及び窒素原子が交互に結合されてなるBNナノチューブでも構わない。また、水分子17は1分子当たり1.8デバイ(6.19×10−30C・m)の永久双極子モーメントを有するが、水分子17の代わりに、1×10−30C・m以上の電気双極子をもつ分子、例えば、エタノール、ニトロベンゼン、アセトン、エーテル、酢酸、などでもよい。
【図面の簡単な説明】
【0044】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る誘電体メモリを示す構成図である。
【図2】本発明の第1の実施形態に係る強誘電体を構成するチューブ体における分子又は原子の結合状態を示す(a)正面図、(b)側面図である。
【図3】本発明の第1の実施形態に係る強誘電体を構成するチューブ体を示す(a)正面図、(b)側面図である。
【図4】本発明の第1の実施形態に係る強誘電体のアイスナノチューブにおける電界に応じた極性変化を示すグラフである。
【図5】本発明の第2の実施形態に係る誘電体メモリを示す構成図である。
【図6】本発明の第2の実施形態に係る誘電体メモリの変形例を示す構成図である。
【図7】本発明の第1及び第2の実施形態に係る強誘電体における(a)7員環氷、(b)6員環氷、(c)8員環氷のアイスナノチューブにおける水分子の結合状態を示す斜視図である。
【符号の説明】
【0045】
1,20,30 誘電体メモリ(記憶装置)
2 強誘電体
3 絶縁層
5 半導体基板
6,25 ゲート電極
7,22 ソース電極
8,23 ドレイン電極
11B カーボンナノチューブ(ナノチューブ)
13A〜13E,42A〜42G 一次元鎖
15 水素原子(第一原子群)
16 酸素原子(第二原子群)
17 水分子(極性分子)
18 炭素原子
21 絶縁基板


【特許請求の範囲】
【請求項1】
分子内で正に帯電された第一原子群と負に帯電された第二原子群とが結合された極性分子同士が、さらに前記第一原子群又は前記第二原子群が一端又は他端に配されるよう一方向に交互に配列された少なくとも一つの一次元鎖と、
前記一次元鎖を内包するナノチューブと、
を備えていることを特徴とする強誘電体。
【請求項2】
前記一次元鎖を3以上の奇数本備え、
隣接する前記一次元鎖同士の電気双極子モーメントが互いに逆方向に向いていることを特徴とする請求項1に記載の強誘電体。
【請求項3】
前記一次元鎖及び前記ナノチューブを冷却する冷却部を備え、
前記第一原子群が水素原子、前記第二原子群が酸素原子、前記極性分子が水分子であることを特徴とする請求項1又は2に記載の強誘電体。
【請求項4】
前記ナノチューブが、炭素原子、又はボロン原子及び窒素原子が結合されてなることを特徴とする請求項1から3の何れか一つに記載の強誘電体。
【請求項5】
複数の前記一次元鎖がチューブ状に連結されていることを特徴とする請求項1から4の何れか一つに記載の強誘電体。
【請求項6】
請求項1から5の何れか一つに記載の強誘電体と、
前記一次元鎖及び前記ナノチューブの一端と絶縁層を挟んで接続された半導体基板と、
前記一次元鎖及び前記ナノチューブの他端に接続されたゲート電極と、
前記絶縁層を挟んで前記基板に配されたソース電極及びドレイン電極と、
を備えていることを特徴とする記憶装置。
【請求項7】
請求項1から5の何れか一つに記載の強誘電体と、
前記一次元鎖及び前記ナノチューブと並行に配された絶縁基板と、
前記一次元鎖及び前記ナノチューブの一端又は他端に接続されたソース電極と、
前記一次元鎖及び前記ナノチューブの他端又は一端に接続されたドレイン電極と、
前記絶縁基板に配されたゲート電極と、
を備えていることを特徴とする記憶装置。
【請求項8】
請求項1から5の何れか一つに記載の強誘電体と、
前記一次元鎖及び前記ナノチューブの一端と接続されたソース電極と、
前記一次元鎖及び前記ナノチューブの他端と接続されたドレイン電極と、
を備えていることを特徴とする記憶装置。


【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【公開番号】特開2010−135661(P2010−135661A)
【公開日】平成22年6月17日(2010.6.17)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−311807(P2008−311807)
【出願日】平成20年12月8日(2008.12.8)
【出願人】(305027401)公立大学法人首都大学東京 (385)
【Fターム(参考)】