説明

循環CVD又はALDによる金属酸化物薄膜の調製

【課題】基材上に金属酸化物膜を形成するための循環堆積法を提供する。
【解決手段】基材上に金属酸化物膜を形成するための循環堆積法であって、金属ケトイミネートを堆積チャンバーに導入し、該金属ケトイミネートを加熱基材上に堆積させる工程、該堆積チャンバーをパージして未反応の金属ケトイミネートと任意の副生成物を除去する工程、酸素含有源を該加熱基材に導入する工程、該堆積チャンバーをパージして任意の未反応の化学物質と副生成物を除去する工程、及び所望の膜厚が確立されるまで循環堆積法を繰り返す工程を含む循環堆積法が提供される。

【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【0001】
高誘電率(高k)薄膜、例えば、SrTiO3(STO)及びBa(Sr)TiO3(BST)は、次世代のダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)デバイスの有望なキャパシタ材料の1つとして広く研究されている。この用途では、膜の厚さ及び組成に関して非常にコンフォーマル(conformal)な堆積が3次元(3D)キャパシタの構造に対して要求される。
【0002】
近年、原子層堆積(ALD)プロセスが、種々の供給源材料を用いてこれらの要求を満たすよう開発されている。ALDは、その特有の自己制限的な堆積メカニズムに基づいて最も有望な技術の1つである。一般的に、ALDは、低い堆積温度、高アスペクト比の特徴上での優れたステップカバレッジ、良好な厚さの均一性、及び層ごとの膜堆積による正確な厚さの制御を示すことができる。
【0003】
プラズマALD(PEALD)もまた、ALDの利点を保ちつつ、より高い堆積速度及びより低い堆積温度などの利点を有することから同様に開発されている。
【0004】
前駆体材料に関しては、例えば、STO薄膜は、Sr前駆体としてビス(2,2,6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオナト)ストロンチウム、すなわち、(Sr(thd)2)、Ti前駆体としてTTIP(Ti−テトライソプロポキシド)、並びに酸化剤としてO3、O2プラズマ又はH2O蒸気を用いて堆積することができる。特にSr前駆体に関しては、Sr(thd)2と他の幾つかのSr前駆体が広く研究されているものの、これらの前駆体には、依然として、低すぎる蒸気圧、低温での熱分解などの制限がある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
それゆえ、依然として、適切な第2族又は第4族の前駆体や、それに対応する堆積プロセスを開発すること、最も重要には、それらと同様の配位子を有する第2族及び第4族の錯体を見出すことに関する要求があり、これらの配位子は、第2族及び第4族の錯体を、物理的及び化学的性質、例えば、融点、溶解度、蒸発挙動、及び半加工半導体表面に対する反応性の観点で適合させる。結果として、これらの第2族及び第4族の錯体を、溶媒中に溶解して反応チャンバーに供給し、DRAM用途のための多成分金属酸化物膜を堆積させることができる。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明は、基材上に金属酸化物膜を形成するための循環堆積法であって、金属ケトイミネートを堆積チャンバーに導入し、該金属ケトイミネートを加熱基材上に堆積させる工程、該堆積チャンバーをパージして未反応の金属ケトイミネートと任意の副生成物を除去する工程、酸素含有源を該加熱基材に導入する工程、該堆積チャンバーをパージして任意の副生成物を除去する工程、及び所望の膜厚が確立されるまで循環堆積法を繰り返す工程を含む、基材上に金属酸化物膜を形成するための循環堆積法である。
【図面の簡単な説明】
【0007】
【図1】Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2(実線)とTi{MeC(O)CHC(NCH2CH2O)Me}2(点線)の熱重量分析/示差走査熱量測定(TGA/DSC)のグラフであり、これら2つの錯体がそれらの非常に類似した蒸発挙動のために適合性があることを示す。
【図2】Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2(実線)とTi{MeC(O)CHC(NCH(Me)CH2O)Me}2(点線)のTGA/DSCのグラフであり、これら2つの錯体がそれらの同じ融点並びに類似の蒸発挙動のために適合性があることを実証している。
【図3】Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2とO2プラズマを用いてSrOを堆積させるPEALDの温度依存性である。
【図4】Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2とO2プラズマを用いたPEALDによる250℃の温度での堆積サイクル数に関する得られるSrOの厚さ依存性を示す。
【図5】PEALDによる250℃でのSr前駆体Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2のパルス時間に関する得られるSrOの厚さ依存性を示す。
【図6】Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2とオゾンを用いてSrOを堆積させる熱ALDの温度依存性である。
【図7】Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2とオゾンを用いてSrOを堆積させる熱ALDの温度依存性である。
【図8】インジェクターオリフィス前の背圧を監視することによって直接液体注入の安定性を実証するものである。A)メシチレン中に溶解した0.1Mのストロンチウム前駆体Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2とB)ドデカン中10wt%のテトラヒドロフラン中に溶解した0.1Mのストロンチウム前駆体Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2
【発明を実施するための形態】
【0008】
本発明は、例えば、半導体デバイスを製造するのに使用できる金属又は多成分金属酸化物膜、例えば、酸化ストロンチウム、酸化チタン、又はチタン酸ストロンチウムを製造する方法を記載する。本明細書で開示される方法は、従来の熱酸化シリコン、窒化ケイ素、又はジルコニウム/ハフニウム酸化物誘電体よりも十分高い誘電率を有する金属又は多成分金属酸化物膜を提供する。
【0009】
本明細書で開示される方法では、循環化学気相成長(CCVD)又は原子層堆積(ALD)技術を用いて金属酸化物膜が堆積される。幾つかの実施態様では、金属酸化物膜は、プラズマALD(PEALD)又はプラズマCCVD(PECCVD)プロセスによって堆積される。この実施態様では、堆積温度は、DRAM又は他の半導体用途において要求される膜特性の仕様を制御するのに、比較的低く、例えば、200〜600℃であることができる。本明細書で開示される方法では、金属ケトイミネート前駆体と酸素源を用いて金属酸化物膜が形成される。
【0010】
典型的なプロセスは以下のとおりである。
工程1.金属ケトイミネート前駆体の蒸気を加熱基材と接触させて該前駆体を該加熱基材上に化学的に収着させ;
工程2.未収着のケトイミネート前駆体と任意の副生成物をパージし;
工程3.酸素源を前記加熱基材上に導入して前記収着した金属ケトイミネート前駆体と反応させ、
工程4.未反応の酸素源と副生成物をパージする。
【0011】
1つの実施態様では、ケトイミネート前駆体は、以下の構造、すなわち、
【化1】

によって表される群より選択される。
【0012】
式中、Mは、2価の第2族金属、例えば、カルシウム、マグネシウム、ストロンチウム、バリウムである。種々の有機基を用いることができ、例えば、R1は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリール基からなる群より選択され、R2は、水素、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、アルコキシ、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリール基からなる群より選択され、R3は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリール基からなる群より選択され、R4は、キラル炭素原子を持つか又は持たないC2-3の直鎖又は分枝鎖のアルキル架橋であり、かくして金属中心に対して5又は6員配位環を作り、例示的なアルキル架橋としては、特に限定されないが、−(CH22−、−(CH23−、−CH(Me)CH2−、−CH2CH(Me)−が挙げられ、R5-6は、独立して、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリール基からなる群より選択され、これらが結合して炭素原子、酸素原子又は窒素原子を含む環を形成することができる。構造Aの金属ケトイミネートは、好ましくは、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NEt2)Me}2、Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2、及びSr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NEt2)Me}2からなる群より選択される。
【0013】
別の実施態様では、ケトイミネート前駆体は、以下の構造、すなわち、
【化2】

によって表される群より選択される。
【0014】
式中、Mは、4価の第4族金属、例えば、チタン、ジルコニウム、又はハフニウムである。種々の有機基を用いることができ、例えば、R7は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリール基からなる群より選択され、R8-9は、水素、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、アルコキシ、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリール基からなる群より選択され、R10は、キラル炭素原子を持つか又は持たないC2-3の直鎖又は分枝鎖のアルキル架橋であり、かくして金属中心に対して5又は6員配位環を作る。例示的なアルキル架橋としては、特に限定されないが、−(CH22−、−(CH23−、−CH(Me)CH2−、−CH2CH(Me)−が挙げられる。
【0015】
本明細書で開示される堆積法は、1つ又は複数のパージガスを含むことができる。未反応の反応体及び/又は副生成物をパージする工程において使用されるパージガスは、前駆体と反応しない不活性ガスであり、好ましくはAr、N2、He及びそれらの混合物からなる群より選択することができる。堆積法に応じて、パージガス、例えば、Arが、例えば、約10〜2000sccmの流量で約0.1〜1000秒間にわたって反応器に供給され、それによってチャンバー中に残っている未反応の材料及び任意の副生成物をパージする。
【0016】
反応器、すなわち、堆積チャンバー中の基材の温度は、好ましくは約600℃よりも低く、より好ましくは約500℃よりも低く、プロセスの圧力は、好ましくは約0.01Torr〜約100Torr、より好ましくは約0.1Torr〜約5Torrであることができる。
【0017】
工程3の酸素源は、酸素、酸素プラズマ、水、水プラズマ、オゾン、亜酸化窒素、及びそれらの混合物からなる群より選択される酸素含有源であることができる。
【0018】
前駆体と酸素源ガスを供給する各工程は、それらを供給する時間を変更して得られる金属酸化物膜の化学量論的組成を変化させることによって実施することができる。多成分金属酸化物膜に関しては、構造「A」又は「B」から選択されるケトイミネート前駆体を工程1で交互に反応器チャンバーに導入することができる。
【0019】
直接液体供給法は、好適な溶媒又は溶媒混合物中にケトイミネートを溶解させ、用いられる溶媒又は混合溶媒に応じて0.01〜2Mのモル濃度を有する溶液を調製することで使用することができる。本発明で用いられる溶媒は、任意の適合する溶媒又はそれらの混合物、例えば、脂肪族炭化水素、芳香族炭化水素、直鎖又は環状のエーテル、エステル、ニトリル、アルコール、アミン、ポリアミン、及び有機アミド、好ましくは高沸点の溶媒、例えば、メシチレン(沸点164℃)又はN−メチル−2−ピロリジノン(沸点202℃)、より好ましくは極性溶媒、例えば、テトラヒドロフラン(THF)又はN−メチルピロリジノン(NMP)と非極性溶媒、例えば、ドデカンからなる溶媒混合物を含むことができる。
【0020】
プラズマ発生プロセスは、プラズマを反応器内で直接発生させる直接プラズマ発生プロセス、又はプラズマを反応器外で発生させて反応器に供給する遠隔プラズマ発生プロセスを含む。
【0021】
本発明はまた、複数の前駆体が堆積チャンバーに逐次的に導入され、気化され、そして三元金属酸化物膜を形成するための条件下で基材上に堆積される三元金属酸化物膜を形成するための循環堆積法も意図している。
【0022】
本発明は、得られる多成分金属酸化物膜を高密度化するために、得られた金属酸化物膜をプラズマ処理にさらすことができることをさらに意図する。
【0023】
本発明は、半導体デバイスの構造体において利用される金属酸化物又は多成分金属酸化物の薄膜を堆積させるための方法として有用である。本発明では、金属酸化物膜は、プロセス条件に応じて、原子層堆積ALD又はCCVD法によって形成することができる。
【0024】
ALD成長は、基材表面を異なる前駆体に交互にさらすことにより進行する。それは、これらの前駆体を気相中で互いに厳密に分離した状態に保つことによるCVDとは異なる。表面反応の自己制限的な制御によって膜の成長が進行する理想的なALDウィンドウでは、各前駆体のパルス長さ並びに堆積温度は、表面が飽和している場合には、成長速度に影響しない。
【0025】
CCVDプロセスは、ALDプロセスよりも高い、前駆体が分解する温度範囲で実施することができる。CCVDは、前駆体の分離に関して従来のCVDとは異なる。CCVDでは、各前駆体が逐次的に導入され完全に分離されるが、従来のCVDでは、すべての反応体前駆体が反応器に導入され、気相内で互いに反応するようにされる。CCVDと従来のCVDの共通点は、その両方が前駆体の熱分解に関係していることである。
【0026】
本発明はまた、半導体デバイスの構造体を製造するのにプラズマALD(PEALD)技術を用いて金属酸化物膜を堆積する方法として有用である。金属酸化物膜は、CVD及び典型的な熱ALDによって調製することができるが、PEALDを用いることで堆積速度を向上させることができ、さらに、PEALDは膜の特性を向上させ、プロセスウィンドウを広くすることが知られている。
【実施例】
【0027】
[例1]
本例では、メシチレン中に溶解したSrケトイミネート前駆体、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2とO2プラズマを用いたSrOのCCVD堆積を説明する。堆積温度の範囲は200〜400℃であり、気化器によるDLI(直接液体注入)がSr前駆体を供給するのに用いられる。堆積チャンバーの圧力はガス流量に応じて約1.5Torrである。液体(メシチレン)中に溶解したSr前駆体を含有するキャニスターのディップチューブ側をDLIシステムの注入バルブに接続し、加圧N2(約30psig)をキャニスターのもう一方の側に接続して液体を押し出す。SrOのCCVDの1サイクルは5つの工程からなる。
1.メシチレン中Sr前駆体の0.1M溶液を注入し、注入バルブを数ミリ秒間開けて気化器においてSr前駆体含有蒸気を提供する。
2.Srパルス:Sr前駆体の蒸気を堆積チャンバーに導入し、Sr前駆体を加熱基材上に化学的に収着させる。
3.Arパージ:未収着のSr前駆体をArでパージする。
4.O2プラズマパルス:高周波(RF)電力(この場合50ワット(W))を適用しながらO2を堆積チャンバーに導入して加熱基材上の収着されたSr前駆体と反応させる。
5.Arパージ:未反応のO2と副生成物をArでパージする。
【0028】
本例では、SrO膜が得られ、SrO膜の堆積温度依存性を示した。注入時間は2ミリ秒であり、Srのパルス時間は5秒であり、Srパルス後のArのパージ時間は10秒であり、O2プラズマのパルス時間は3秒であり、O2プラズマのパルス後のArのパージ時間は10秒であった。これを150サイクル繰り返した。
【0029】
結果を図3に示し、ALDプロセスのウィンドウは最大約320℃であった。
【0030】
[例2]
本例では、以下の条件でSrO膜を堆積した。メシチレン中のSr前駆体、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2の0.1M溶液の注入時間は2ミリ秒であり、Sr前駆体のパルス時間は5秒であり、Srパルス後のArのパージ時間は10秒であり、O2プラズマのパルス時間は3秒であり、O2プラズマのパルス後のArのパージ時間は10秒であった。ウェハ温度は250℃であった。実験は、それぞれ50、150、250、300及び600サイクルに関して実施した。結果を図4に示し、サイクル数に対して直線的な膜厚の依存性、ALDプロセスの特性を示した。
【0031】
[例3]
本例では、以下の条件でSrO膜を堆積した。メシチレン中のSr前駆体、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2の0.1M溶液の注入時間は2ミリ秒であり、Sr前駆体のパルス後のArのパージ時間は10秒であり、O2プラズマのパルス時間は3秒であり、O2プラズマのパルス後のArのパージ時間は10秒であった。ウェハ温度は250℃であった。Srのパルス時間を1〜7秒で変化させた。結果を図5に示し、Srパルスに関して約5秒で飽和曲線を示し、これらの条件下で典型的な自己制限的なALDプロセスを示唆している。
【0032】
[例4]
本例では、メシチレン中に溶解したSrケトイミネート前駆体、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2とオゾンを用いたSrOのALD又はCCVD堆積を説明する。堆積温度の範囲は200〜425℃であり、気化器によるDLI(直接液体注入)がSr前駆体を供給するのに用いられる。堆積チャンバーの圧力はガス流量に応じて約1.5Torrである。液体(メシチレン)中に溶解したSr前駆体を含有するキャニスターのディップチューブ側をDLIシステムの注入バルブに接続し、加圧N2(約30psig)をキャニスターのもう一方の側に接続して液体を押し出す。SrOのCCVDの1サイクルは5つの工程からなる。
1.メシチレン中Sr前駆体の0.1M溶液を注入し、注入バルブを数ミリ秒間開けて気化器においてSr前駆体含有蒸気を提供する。
2.Srパルス:Sr前駆体の蒸気を堆積チャンバーに導入し、Sr前駆体を加熱基材上に化学的に収着させる。
3.Arパージ:未収着のSr前駆体をArでパージする。
4.オゾンパルス:オゾンを堆積チャンバーに導入する。
5.Arパージ:未反応のオゾンと任意の副生成物をArでパージする。
【0033】
本例では、SrO膜が得られ、得られたSrO膜の堆積速度の堆積温度依存性を示した。注入時間は2ミリ秒であり、Srのパルス時間は5秒であり、Srパルス後のArのパージ時間は10秒であり、オゾンのパルス時間は5秒であり、オゾンのパルス後のArのパージ時間は10秒であった。
【0034】
結果を図6に示し、ALDプロセスのウィンドウは最大約340℃であった。
【0035】
[例5]
本例では、ドデカン中10wt%のTHF中に溶解したSrケトイミネート前駆体、Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2とオゾンを用いたSrOのALD又はCCVD堆積を説明する。堆積温度の範囲は200〜425℃であり、市販のDLI(直接液体注入)システムをSr前駆体を供給するのに用いた。堆積チャンバーの圧力はガス流量に応じて約1.5Torrである。ドデカン中10wt%のTHF中に溶解したSr前駆体を含有するキャニスターのディップチューブ側をDLIシステムの注入バルブに接続し、加圧N2(約30psig)をキャニスターのもう一方の側に接続して液体を押し出す。本例では、注入バルブは常に開放し、Sr前駆体と上記溶媒の液体混合物をノズル(噴霧器)を介して気化する。Arのキャリヤーガスによって気化を促進する。SrOのALD又はCCVDの1サイクルは4つの工程からなる。
1.ドデカン中10wt%THF中のSr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2の0.1M溶液を注入し、Sr前駆体の蒸気を堆積チャンバーに供給してSr前駆体を加熱基材上に化学的に収着させる。
2.Arパージ:未収着のSr前駆体をArでパージする。
3.オゾンパルス:オゾンを堆積チャンバーに導入する。
4.Arパージ:未反応のオゾンと任意の副生成物をArでパージする。
【0036】
本例では、SrO膜が得られ、得られたSrO膜の厚さの堆積温度依存性を示した。Srパルスの注入時間は5秒であり、Srパルス後のArのパージ時間は5秒であり、オゾンのパルス時間は5秒であり、オゾンのパルス後のArのパージ時間は5秒であった。
【0037】
結果を図7に示し、ALDプロセスのウィンドウは最大約320℃であった。
【0038】
[例6]
本例では、溶媒中に溶解したストロンチウム前駆体、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2が加熱インジェクターを介して気化するように直接液体注入気化器システムを監視した。この場合、インジェクターは185℃に加熱し、キャリヤーガスの流量はヘリウムガス500sccmであり、前駆体−溶媒の質量流量は1g/分であった。圧力モニターをキャリヤーガス流中に直接的にインジェクターの前に配置した。
【0039】
図8の結果は、ドデカン中10wt%THFの混合溶媒を用いて約3時間の試験時間にわたって非常に安定した背圧を示している。対照的に、メシチレン中に溶解した同じ濃度のストロンチウム前駆体は、追加の前駆体をインジェクターシステムに流すと、背圧の連続的な増加を示す。高沸点溶媒のドデカンとTHFの添加によって得られる追加の溶解性の複合効果がこのフロー試験の期間にわたって安定したインジェクター性能を可能にした。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
基材上に金属酸化物膜を形成するための循環堆積法であって、
金属ケトイミネートを堆積チャンバーに導入し、化学的に収着された金属ケトイミネートを加熱基材上に堆積させる工程、
該堆積チャンバーをパージして未反応の金属ケトイミネートと任意の副生成物を除去する工程、
酸素含有源を該加熱基材に導入する工程、
該堆積チャンバーをパージして任意の副生成物を除去する工程、及び
金属酸化物膜の所望の厚さが確立されるまで循環堆積法を繰り返す工程
を含む、循環堆積法。
【請求項2】
前記金属ケトイミネートが、構造A、すなわち、
【化1】

(式中、Mは、カルシウム、マグネシウム、ストロンチウム、及びバリウムからなる群より選択される2価の第2族金属であり、R1は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R2は、水素、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、アルコキシ、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R3は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R4は、キラル炭素原子を持つか又は持たないC2-3の直鎖又は分枝鎖のアルキル架橋であり、好ましくは2又は3個の炭素原子を有する基であり、かくして金属中心に対して5又は6員配位環を作り、R5-6は、独立して、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、これらが結合して炭素原子、酸素原子又は窒素原子を含む環を形成することができる)
又は構造B、すなわち、
【化2】

(式中、Mは、チタン、ジルコニウム、及びハフニウムからなる群より選択される4価の第4族金属であり、R7は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R8-9は、水素、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、アルコキシ、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R10は、キラル炭素原子を持つか又は持たないC2-3の直鎖又は分枝鎖のアルキレン架橋であり、かくして金属中心に対して5又は6員配位環を作る)
によって表される群より選択される、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項3】
前記金属ケトイミネートが、溶媒又は溶媒混合物中に該ケトイミネートを溶解させ、0.01〜2Mのモル濃度を有する溶液を調製することで直接液体供給によって供給される、請求項2に記載の循環堆積法。
【請求項4】
前記溶媒が、脂肪族炭化水素、芳香族炭化水素、直鎖又は環状のエーテル、エステル、ニトリル、アルコール、アミン、ポリアミン、有機アミド、及びそれらの混合物からなる群より選択される、請求項3に記載の循環堆積法。
【請求項5】
前記溶媒が、テトラヒドロフラン(THF)、メシチレン、ドデカン、N−メチルピロリジノン(NMP)、及びそれらの混合物からなる群より選択される、請求項4に記載の循環堆積法。
【請求項6】
前記溶媒がテトラヒドロフラン(THF)とドデカンからなる混合物である、請求項5に記載の循環堆積法。
【請求項7】
テトラヒドロフラン(THF)の質量パーセントが1〜90%である、請求項6に記載の循環堆積法。
【請求項8】
前記金属酸化物が酸化ストロンチウムである、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項9】
前記金属酸化物が酸化チタンである、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項10】
循環化学気相成長法である、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項11】
原子層堆積法である、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項12】
前記堆積チャンバーの圧力が50mTorr〜100Torrであり、該堆積チャンバーの温度が600℃よりも低い、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項13】
前記酸素含有源が、酸素、酸素プラズマ、水、水プラズマ、オゾン、亜酸化窒素、及びそれらの混合物からなる群より選択される、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項14】
得られた金属酸化物膜が、該得られた金属酸化物膜を高密度化するために急速熱アニーリング(RTA)プロセス又はプラズマ処理にさらされる、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項15】
前記金属ケトイミネートが、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NEt2)Me}2、Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2、及びSr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NEt2)Me}2からなる群より選択される、請求項1に記載の循環堆積法。
【請求項16】
複数の前駆体が堆積チャンバーに逐次的に導入され、気化され、そして三元金属酸化物膜を形成するための条件下で基材上に堆積される三元金属酸化物膜を形成するための改善された循環堆積法であって、
第1の金属ケトイミネートを第1の前駆体として使用すること、
酸素含有源を使用すること、
第2の金属ケトイミネートを第2の異なる前駆体として使用すること、及び
酸素含有源を使用すること、
を含む、循環堆積法。
【請求項17】
前記ケトイミネートの一方が、構造A、すなわち、
【化3】

(式中、Mは、カルシウム、マグネシウム、ストロンチウム、及びバリウムからなる群より選択される2価の第2族金属であり、R1は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R2は、水素、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、アルコキシ、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R3は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R4は、キラル炭素原子を持つか又は持たないC2-3の直鎖又は分枝鎖のアルキレン架橋であり、かくして金属中心に対して5又は6員配位環を作り、R5-6は、独立して、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、これらが結合して炭素原子、酸素原子又は窒素原子を含む環を形成することができる)
によって表される群より選択され、他方のケトイミネートが、構造B、すなわち、
【化4】

(式中、Mは、チタン、ジルコニウム、及びハフニウムからなる群より選択される4価の金属であり、R7は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R8-9は、水素、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、アルコキシ、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R10は、キラル炭素原子を持つか又は持たないC2-3の直鎖又は分枝鎖のアルキレン架橋であり、かくして金属中心に対して5又は6員配位環を作る)
によって表される群より選択される、請求項16に記載の循環堆積法。
【請求項18】
前記金属ケトイミネートが、溶媒又は溶媒混合物中に該ケトイミネートを溶解させ、0.01〜2Mのモル濃度を有する溶液を調製することで直接液体供給によって供給される、請求項17に記載の循環堆積法。
【請求項19】
前記溶媒が、脂肪族炭化水素、芳香族炭化水素、直鎖又は環状のエーテル、エステル、ニトリル、アルコール、アミン、ポリアミン、有機アミド、及びそれらの混合物からなる群より選択される、請求項18に記載の循環堆積法。
【請求項20】
前記溶媒が、テトラヒドロフラン(THF)、メシチレン、ドデカン、N−メチルピロリジノン(NMP)、及びそれらの混合物からなる群より選択される、請求項19に記載の循環堆積法。
【請求項21】
前記金属酸化物がチタン酸ストロンチウムである、請求項16に記載の循環堆積法。
【請求項22】
循環化学気相成長法である、請求項16に記載の循環堆積法。
【請求項23】
原子層堆積法である、請求項16に記載の循環堆積法。
【請求項24】
前記堆積チャンバーの圧力が50mTorr〜100Torrであり、該堆積チャンバーの温度が500℃よりも低い、請求項16に記載の循環堆積法。
【請求項25】
前記酸素含有源が、酸素、酸素プラズマ、水、水プラズマ、オゾン、亜酸化窒素、及びそれらの混合物からなる群より選択される、請求項16に記載の循環堆積法。
【請求項26】
得られた三元金属酸化物膜が、得られた多成分金属酸化物膜を高密度化するために急速熱アニーリング又はプラズマ処理にさらされる、請求項16に記載の循環堆積法。
【請求項27】
前記構造Aの金属ケトイミネートが、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NEt2)Me}2、Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2、及びSr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NEt2)Me}2からなる群より選択され、前記構造Bの金属ケトイミネートが、Ti{MeC(O)CHC(NCH2CH2O)Me}2及びTi{MeC(O)CHC(NCH(Me)CH2O)Me}2からなる群より選択される、請求項16に記載の循環堆積法。
【請求項28】
複数の前駆体が堆積チャンバーに導入され、気化され、そして多成分金属酸化物膜を形成するための条件下で基材上に堆積される多成分金属酸化物膜を形成するための改善された循環堆積法であって、
溶媒又は溶媒混合物中に溶解した少なくとも2つの金属ケトイミネートを用いて溶液を調製すること、及び
酸素含有源を使用すること、
を含む、循環堆積法。
【請求項29】
前記少なくとも2つの金属ケトイミネートが、構造Aによって表される金属ケトイミネートと、構造Bによって表される別の金属ケトイミネートとを含み、前記溶液がそれぞれ0.01〜2Mのモル濃度を有し、該構造A及びBが以下のように規定される、請求項28に記載の循環堆積法。
【化5】

(式中、Mは、カルシウム、マグネシウム、ストロンチウム、及びバリウムからなる群より選択される2価の第2族金属であり、R1は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R2は、水素、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、アルコキシ、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R3は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R4は、キラル炭素原子を持つか又は持たないC2-3の直鎖又は分枝鎖のアルキレン架橋であり、かくして金属中心に対して5又は6員配位環を作り、R5-6は、独立して、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、これらが結合して炭素原子、酸素原子又は窒素原子を含む環を形成することができる)
【化6】

(式中、Mは、チタン、ジルコニウム、及びハフニウムからなる群より選択される4価の金属であり、R7は、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、フルオロアルキル、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R8-9は、水素、1〜10個の炭素原子を有するアルキル、アルコキシ、環状脂肪族、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する基、及び6〜12個の炭素原子を有するアリールからなる群より選択され、R10は、キラル炭素原子を持つか又は持たないC2-3の直鎖又は分枝鎖のアルキレン架橋であり、かくして金属中心に対して5又は6員配位環を作る)
【請求項30】
前記金属ケトイミネートの溶液が直接液体注入によって供給される、請求項29に記載の循環堆積法。
【請求項31】
前記溶媒が、脂肪族炭化水素、芳香族炭化水素、直鎖又は環状のエーテル、エステル、ニトリル、アルコール、アミン、ポリアミン、有機アミド、及びそれらの混合物からなる群より選択される、請求項29に記載の循環堆積法。
【請求項32】
前記溶媒が、テトラヒドロフラン(THF)、メシチレン、ドデカン、N−メチルピロリジノン(NMP)、及びそれらの混合物からなる群より選択される、請求項31に記載の循環堆積法。
【請求項33】
前記多成分金属酸化物がチタン酸ストロンチウムである、請求項28に記載の循環堆積法。
【請求項34】
循環化学気相成長法である、請求項28に記載の循環堆積法。
【請求項35】
前記構造Aの金属ケトイミネートが、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NMe2)Me}2、Sr{tBuC(O)CHC(NCH2CH2NEt2)Me}2、Sr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NMe2)Me}2、及びSr{tBuC(O)CHC(NCH(Me)CH2NEt2)Me}2からなる群より選択される、請求項29に記載の循環堆積法。
【請求項36】
前記構造Bの金属ケトイミネートが、Ti{MeC(O)CHC(NCH2CH2O)Me}2及びTi{MeC(O)CHC(NCH(Me)CH2O)Me}2からなる群より選択される、請求項29に記載の循環堆積法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【公開番号】特開2012−214910(P2012−214910A)
【公開日】平成24年11月8日(2012.11.8)
【国際特許分類】
【外国語出願】
【出願番号】特願2012−168610(P2012−168610)
【出願日】平成24年7月30日(2012.7.30)
【分割の表示】特願2009−95723(P2009−95723)の分割
【原出願日】平成21年4月10日(2009.4.10)
【出願人】(591035368)エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッド (452)
【氏名又は名称原語表記】AIR PRODUCTS AND CHEMICALS INCORPORATED
【住所又は居所原語表記】7201 Hamilton Boulevard, Allentown, Pennsylvania 18195−1501, USA
【Fターム(参考)】