説明

電子装置の製造方法

【課題】有機ELパネルや有機薄膜トランジスタなどの電子装置における各種薄膜の形成にインクジェット法を用いた製造方法及びこれに好適な組成のインクを提供する。
【解決手段】水を主溶剤とするインクに三級アルコールを添加したインク組成物を用いて有機ELパネルのホール注入層等の画素部形成有機層または有機薄膜トランジスタの活性層等の電子装置を製造する。三級アルコールとしては、3−メチル−1−ブチン−3−オールを使用する。このアルコールの添加量は、インクに対して25wt%から40wt%の範囲とする。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子装置の製造方法に係わり、特に電子装置の活性領域の形成とその材料に関し、詳細には例えば有機ELパネルの発光層や有機薄膜トランジスタ等の半導体の電極または半導体層をインクジェット法で塗布する方法及びこの塗布に好適なインク組成物に関するものである。
【背景技術】
【0002】
大型パネルディスプレイ(以下、パネルディスプレイを単にパネルとも称する)への適用が期待される高分子系エレクトロルミネッセンスパネル(有機EL表示装置、以下単に有機ELパネルまたはOLEDとも称する)または薄膜トランジスタ等の半導体素子を含む各種の電子装置の構成層の製作にインクジェット法(IJ法)の応用が考えられている。インクジェット法は、微小領域に均一な薄膜を形成するために適した塗布方法である。例えばフルカラーの有機ELパネルでは、一般に、R,G,B3色の各副画素(サブピクセル)で一つのカラー画素(ピクセル)を構成する。
【0003】
現在、フルカラーの有機ELパネルには、R,G,B3色の副画素を構成する各低分子発光材料を真空マスク蒸着法で副画素ごとに塗り分ける、所謂低分子系有機EL方式が有望とされている。この方式では、(1)マスク蒸着の位置精度が低く、大形ディスプレイに適用可能な有機ELパネルの製作が難しい。(2)発光材料をはじめとする発光層形成用材料の利用効率が低い。(3)生産性が低いこと等が課題として挙げられている。
【0004】
これに対して、R,G,B3色の各高分子発光材料をインクジェット法等の印刷法で塗分ける高分子有機ELパネルは、R,G,B3色発光層形成の位置精度、材料利用効率、生産性等が高いことから、大形パネルヘの適用が期待されている。高分子有機ELパネルは上記のような利点を有しているが、膜厚均一性の高い発光層、特にホール注入層を形成することが難しい。
【0005】
有機ELパネルの画素部は、一方の電極(第1の電極、ここでは陽極)の上に有機層からなるホール注入層を含む発光層や電子注入層を積層し、最上層に他方の電極(第2の電極、ここでは陰極)を成膜して構成される。そして、この有機層(特に、その膜厚の均一性の要求からホール注入層)の形成にインクジェット法を用いるのが好適である。
【0006】
高分子系有機ELパネルの画素部を構成するホール注入層は、水を主溶剤とする水系インクをインクジェット装置のノズルから画素部に吐出し、これを乾燥することにより薄膜状に形成される。このようなインクジェット装置を用いた薄膜の形成においては、水系インクがノズルの吐出端で詰まり易いことから、有機ELパネルの表示領域全面にわたって均一で且つ欠損なくホール注入層をもつが装置部を形成することは難しい。また、水系インクを用いた場合、ノズルから吐出されたインク液滴が画素部の電極(ここでは、陽極であるITO)の上に均一に濡れ広がらない。
【0007】
図11は、インクジェット装置のノズルにインク詰まりが生じる過程を説明する模式図であり、図11(a)はノズルの正面図、図11(b)は図11(a)のA−A線に沿った断面図、図11(c)はノズルにインクが詰まった状態を示す図11(b)と同様の断面図である。インクジェット装置のノズル部は、複数のノズルNZLを同一面上に配列してなり、ノズルNZLの背面に設けた圧電板に電圧を印加することで、ノズルNZLの先端からインク滴を吐出する。このとき、インク滴の一部はノズルNZLの先端から離脱せずに配列面上に残留することがある。図11(a)には、4個のノズルを連絡するようにインクが残留した状態を示す。この時点では、インクは未だ液体状であり、図面には液体状であることを符号INK(L)で示す。液体状のインクINK(L)は時間と共に、その含有する溶剤が蒸散し、図11(c)に示したように固体化してノズルNZLを詰まらせる。これが、均一な膜厚の形成を阻害する原因となる。
【0008】
特許文献1には、ホール注入層の形成材料にPEDOT(ポリエチレンジオキシチオフェン)とPSS(ポリスチレンスルホン酸を含むコロイド水溶液)とにメチルアルコール、エチルアルコールまたはイソプロピルアルコール等の低級アルコールを添加して表面張力と粘度とを制御できるとの記載がある。また、メチルアルコール、エチルアルコールまたはイソプロピルアルコール等の低級アルコールは揮発性が高く、添加量が多いとノズル詰まりが発生するため、低級アルコールの添加量は約20wt%以下であることが望ましいとしている。
【0009】
また、特許文献2には、一般的なインクジェット法に用いる水性インクに三級アルコールとして三級ブチルアルコールを用いることが記載されている。
【0010】
【特許文献1】特開2000−323276号公報
【特許文献2】特開平07−082499号公報
【非特許文献1】社団法人応用物理学会発行「応用物理」第70巻第12号1452−1455頁
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0011】
有機層、例えばホール注入層を高い膜厚均一性で形成できない原因は、水を主溶剤とするポリスチレンスルホン酸(PSS)とポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)とのコロイド溶液やポリスチレンスルホン酸とポリアニリンのコロイド溶液とを用いてホール注入層形成を形成していることにある。これらコロイド水溶液のインクは、このままの状態では表面張力が約72mN/mと大きいためにインクジェット装置のノズルから吐出され難い。また、吐出されたとしてもインク液滴が画素部を構成する電極(ITO)上に濡れ広がり難い。このため、特許文献1に記載のように低沸点のアルコールや高沸点のグリコールエーテル系酢酸を添加し、表面張力を低減する方式が提案されている。
【0012】
特許文献1では、アルコールは、有機ELパネルの画素部にホール注入層を形成するインクの表面張力と粘度を制御する目的で添加されており、アルコールの添加量とノズル詰まりとの関係については十分な考慮がなされていない。このため、ノズル詰まりの抑制には高沸点の1,3−イミダゾリジノンの添加が必要である。しかし、1,3−イミダゾリジノンは、ホール注入層を構成するバインダのポリマや導電性高分子との親和性が低いため、形成されるホール注入層の膜厚均一性は十分でなかった。また、有機ELパネルの画素部を構成する他の有機層、画素を駆動する薄膜トランジスタまたは他の同様の電子装置の活性領域等の薄膜に有機材料を用いた場合の当該活性領域等を構成する薄膜を均一な膜厚で形成することも十分でなかった。
【0013】
したがって、本発明は、前述した従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的は、有機ELパネルや有機薄膜トランジスタなどの電子装置における各種薄膜の形成にインクジェット法を用いた製造方法及びこれに好適なインク組成物を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0014】
本願の発明者等は、水系インクのノズル詰まりを制御し、且つ吐出されたインク液滴を、例えば有機ELパネルの画素部を構成する電極(ITOなど)上などに濡れ広げるためにインクの揮発性の抑制と表面張力の低減とを両立できる添加剤の検討を行った。この結果、添加剤として水と混和する三級アルコールが有効であることを見出した。このようなアルコールとしては、三級ブチルアルコール、3−メチル−1−ブチン−3−オール等を挙げることができる。前記の特許文献1にも開示されているように、この種のインクにアルコールを添加することは従来から知られており、その添加濃度は約20wt%以下でないとノズル詰まりが発生するとされていた。
【0015】
しかし、本願の発明者等は、アルコールの構造並びにその添加量を詳細に検討した結果、水系インク中の水含有量に対して三級アルコールを約25wt%以上添加した場合に、画素部の電極上にインク液滴を塗れ広げることができ、しかも長時間インクを吐出してもノズル詰まりは発生しないことを見出した。また、アルコールの添加量が約40wt%以上の場合には、インク中でのコロイドの分散性が低下し、固形分が析出するため好ましくない。
【0016】
本発明は、上記の知見に基づいて、水を主溶剤とするインクに三級アルコールを添加したインク組成物を用いて有機ELパネルのホール注入層等の画素部を形成する有機層(発光機能に係る活性層)または有機薄膜トランジスタのチャネル層(又はチャネル領域、以降活性層と記す)等の電子装置を製造する。三級アルコールとしては、三級ブチルアルコール、3−メチル−1−ブチン−3−オール等が使用される。このアルコールの添加量は、インク組成物に対して溶解度が約25wt%から約40wt%の範囲とする。
【発明の効果】
【0017】
本発明により、インクジェット装置のノズル詰まりを抑制することができ、各種電子装置の活性層を均一な膜厚で形成にでき、特に、本発明の組成を有するインクを有機ELパネルの画素部を構成するホール注入層の形成に適用することによって、高分子有機ELパネルの表示領域全面の発光の均一性並びに素子寿命を大幅に改善できる。
【0018】
また、本発明を有機薄膜トランジスタのソース電極、ドレイン電極の形成に適用することで、良好な動作特性を有する有機薄膜トランジスタを得ることができる。さらに、本発明は、他の同様な有機薄膜の成膜を要する種々の電子装置にも適用できることは言うまでもない。
【0019】
なお、本発明は、上記製造方法に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の技術思想を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【0020】
以下、本発明の実施の形態について、実施例の図面を参照して詳細に説明する。
【0021】
先ず、実施例の説明に入る前に、本発明によって、PSSとPEDOTとを含むコロイド水溶液の揮発性を抑制できることについて図1乃至図5を用いて詳細に説明する。ここでは、図1乃至図5は、マイクロシリンジを用いてPSSとPEDOTとを含む各種のコロイド水溶液の液滴をインクジェット装置のノズルに用いられているテフロンのシート上に静置して静置後の液滴の重量変化を示した図であり、横軸に時間(s)を、縦軸に規格化重量をそれぞれ取って示す。
【0022】
図1は、ホール注入層形成用インクの主溶剤である水、三級ブチルアルコール(三級ブタノール)、キシレン並びに発光層インク溶剤として適用可能な安息香酸ブチルの揮発特性を示す図である。図2は、水、三級ブチルアルコール、30wt%三級ブチルアルコールを含む水溶液の揮発特性を示す図である。図1より、ノズル詰りを発生させないインク溶剤の一つである安息香酸ブチルは静置後の重量変化は極めて小さく、揮発性が低いことを示している。一方、発光層インク溶剤として用いるとノズルを詰まらせるキシレンの揮発性は大きいことが分かる。水の揮発性はキシレンのものとほぼ同等であり、ホール注入層形成に水を主溶剤とするインクを用いるとノズル詰まりが発生することが予想され、実際に発明者らは、ノズル詰まり確認している。また、低級アルコールの一つである三級ブチルアルコールは水よりも相当速く揮発することが分かる。
【0023】
このことから判断すると、特許文献1にも記載されているように、PSSとPEDOTとを含むコロイド水溶液に三級ブチルアルコールを添加すると、水よりも揮発性の大きいインクとなってしまうことが推測される。しかし、本願の発明者等は、三級ブチルアルコールの添加量と揮発性との関係を検討した結果、図2に一例として示した添加濃度約25wt%の三級ブチルアルコールを含む水溶液の場合、ほとんど揮発しないことを見出した。
【0024】
図3は、三級ブチルアルコール濃度と揮発性との関係を評価した結果を示す図である。図3より、三級ブチルアルコール濃度が約25wt%以上の場合に揮発性が抑制されていることが分かる。
【0025】
また、本願の発明者らは、3−メチル−1−ブチン−3−オールを用いた場合にも三級ブチルアルコールと同様に水の揮発性を抑制できることを確認した。さらに、添加濃度約25wt%三級アルコールを、PSSとPEDOTとを含むコロイド水溶液に添加したインクを用いてインクジェット法でホール注入層を形成したところ、ノズル詰まりが発生せず、しかも膜厚均一性の高いホール注入層を形成できることを確認した。
【0026】
真空蒸着法による有機ELパネルの作製では、生産性が低く、また、材料の利用効率が低いという問題があり、生産コストが極めて高い。本発明によって、大形ディスプレイパネルヘの適用が期待されている高分子有機ELパネルの製作が可能となることから、有機EL生産の大幅な低コス下化を実現できると同時に、有機ELパネルの発光均一性、大幅な長寿命化を達成できる。
【0027】
なお、本発明は、大形ディスプレイに適用可能な有機ELパネルの生産に最も効果的に活かすことができるが、本発明のインク組成物を適用して形成されるホール注入層が高い電気導電性を有していることから、本発明は、例えば非特許文献1に記載のようなインクジェットよる有機薄膜トランジスタのソース電極、ドレイン電極(ドレイン線)、ゲート電極(ゲート線)等の形成にも採用することができる。
【実施例1】
【0028】
水系ホール注入層形成用材料(PEDOTとPSSを含む水溶液)に三級ブチルアルコールを約25wt%添加したインクを、インクジェット装置を用いて光沢紙上に吐出した。光沢紙上に形成されたドット状薄膜を顕微鏡で観察してノズル詰まりを評価した結果、インクを約60分間連続吐出してもノズルの詰まりは全く発生しないことが分かった。
【0029】
上記と同じ組成のインクをインクジェット法により撥液性を有する高分子(ポリイミド)隔壁層を形成した公称2.1インチサイズの薄膜トランジスタ(TFT)付基板(陽極はITO)上に吐出して、画素部ITO上にホール注入層を選択的に形成した。
【0030】
しかし、インク詰まりによるホール注入層の欠陥は全く認められなかった。ホール注入層を形成した基板を約200℃で10分間、加熱処理して溶剤を揮発させた。ホール注入層の膜厚分布を測定したところ、平坦性の高い薄膜が形成されていることが分かった(図3)。同基板の緑発光層を形成すべき画素部にポリフルオレン系高分子緑発光材をジクロロベンゼンに約0.5wt%溶解したインクをインクジェット装置のノズルから吐出して緑色発光層を形成した。同様にして青色、赤色発光層をインクジェット法で形成した後、約120℃で10分間加熱処理してインク溶剤を揮発させた。
【0031】
発光層を形成した薄膜トランジスタ付基板上にグローブボックス中に設置した蒸着装置を用いて、陰極CDとして膜厚約10nmのCa層と、膜厚約80nmのAl層とを積層した。さらに、グローブボックス中で乾燥剤入り封止缶により発光部を封止して有機ELパネル素子を作製した。作製した有機ELパネルに電圧を印加したところ、発光欠陥の無い良好なカラー画像表示特性を有していることが分かった。
【比較例1】
【0032】
実施例1において、三級ブチルアルコールの代わりにメチルアルコールを添加したインクをホール注入層形成に用いたこと以外は実施例1と同様にしてインクを吐出した。フラッシュランプ照明下でインク吐出状態をカメラ観察したところ、吐出開始後数分でノズルが詰まることが分かつた。メタノールの代わりにエタノールを添加したインクを用いた場合も同様に吐出開始後数分でノズルが詰まることが分かった。
【0033】
図4は、実施例1で製造した有機ELパネルの1画素付近の構造例を説明する断面図である。図4において、薄膜トランジスタ(TFT)付基板TRSは、ガラス基板SUB1の内面に下地層として窒化シリコン膜SINと酸化シリコン膜SIOとを有する。この下地層上にポリシリコン半導体層PSI,ゲート電極GT,ゲート絶縁膜GI,ソース電極SD1及びドレイン電極SD2からなる薄膜トランジスタが形成されている。ITOで形成された陽極ADがパッシベーション膜PASの上層に成膜されており、スルーホールを通してソース電極SD1に接続している。
【0034】
ITOで形成された陽極ADの上には、上述した組成のインクをインクジェット装置のノズルで塗布したホール注入層HTLが形成されている。ホール注入層HTLの上には特定色の発光層LMがインクジェット装置を用いて塗布されている。発光層LMの上にCa層BFを蒸着してさらにその上にAl層を蒸着して陰極CDとした。なお、ホール注入層HTL、発光層LMの材料に応じてホール注入層HTLと発光層LMとの間にはホール輸送層を、発光層LMと陰極CDとの間には電子輸送層と電子注入層とをこの順にそれぞれ挿入してもよい。
【0035】
上記の構造とした薄膜トランジスタ(TFT)付基板TRSは、封止板SUB2で密封して封止される。図4の例では、薄膜トランジスタ(TFT)付基板TRSの陰極CDと封止板SUB2との間にエポキシ樹脂などの充填材を配置している。しかし、基板TRSと封止板SUB2との間を乾燥空間としてもよい。乾燥空間の維持には両基板の適当な位置に乾燥剤を配置するのが望ましい。
【0036】
図5は、本発明を適用した有機ELパネルの回路構成例を示す図である。図7に示したように表示領域DIPには、複数のデータ線DL(DL(m+1),DL(m),DL(m−1)・・・)と複数のゲート線GL(GL(n+1),GL(n),GL(n−1)・・・)がマトリクス状に配線されている。各データ線DLとゲート線GLとで囲まれた画素PXには、スイッチング素子(コントロール・トランジスタ)である薄膜トランジスタSW1、電流供給トランジスタ(ドライブ・トランジスタ)である薄膜トランジスタSW2、データ保持用のコンデンサC及び有機EL素子OLEが配置される。
【0037】
薄膜トランジスタ素子SW1の制御電極(ゲート)はゲート線GLに、チャネルの一端(ドレイン)はデータ線DLにそれぞれ接続されている。薄膜トランジスタSW2のゲートは薄膜トランジスタSW1のチャネルの他端(ソース)に接続されており、この接続点にはコンデンサCの一方の電極(+極)が接続されている。薄膜トランジスタSW2のチャネルの一端(ドレイン)は電流供給線PLに、その他端(ソース)は有機EL素子OLEの陽極にそれぞれ接続されている。データ線DLはデータ駆動回路DDRで駆動され、走査線(ゲート線)GLは走査駆動回路DDGで駆動される。また、電流供給線PLは共通電位供給バスラインPLAを通して電流供給回路PWに接続される。
【0038】
図5において、1つの画素PXが走査線GLで選択されてその薄膜トランジスタSW1がターン・オンすると、データ線DLから供給される画像データがコンデンサCに蓄積される。その後、薄膜トランジスタSW1がターン・オフした時点で薄膜トランジスタSW2がターン・オンし、電流供給線PLから有機EL素子OLEに、ほぼ1フレーム期間に亘って電流が流れる。有機EL素子OLEに流れる電流は薄膜トランジスタSW2により調整され、また、薄膜トランジスタSW2のゲートには、コンデンサCに蓄積されている電荷に応じた電圧が印加される。これら各々が装置について制御することにより、複数の画素の発光が制御され、表示領域DIPに二次元の画像が再現される。
【実施例2】
【0039】
図6は、本発明を適用した有機薄膜トランジスタの断面構造例を示す図である。なお、この有機半導体の構造は、非特許文献1に記載の構造に準拠した。ここでは、基板SUBとしてガラス基板を用い、セパレータPSBにはアクリル樹脂を用いた。この有機薄膜トランジスタは、ガラス基板SUB上にアクリル系ポジ型レジスト(JSR社製)を塗布し、ソース電極SD1とドレイン電極SD2とを分離するセパレータPSBのパターンをアクリル樹脂層のフォトリソグラフィ法で形成した。
【0040】
次いで、加熱処理によりアクリル樹脂層を溶剤不溶性とした後、CF4フッ素プラズマ処理により分離層を撥液化した。PEDOT/PSSを含む水分散液に溶解度が約25wt%のブタノールを添加して作製したインクをインクジェット装置のノズルから上記アクリル樹脂のパターンの間に吐出し、加熱乾燥することによりPEDOT/PSSからなるソース電極SD1とドレイン電極SD2とを形成した。
【0041】
次に、フルオレン系ポリマ(分子量30万)を含むキシレン溶液をソース電極及びドレイン電極を形成したガラス基板SUB上にスピン法により塗布し、窒素雰囲気中において約200℃で加熱処理して半導体層を形成した。この半導体層上にポリビニルフェノール(分子量20000)を含むイソプロパノール溶液をスピン法により塗布して絶縁層GIを形成した。なお、符号CHはチャネル領域を示す。絶縁層GIをCF4プラズマ処理によって撥液化し、セパレータPBSであるアクリル樹脂パターン直上の絶縁層にKrFエキシマレーザを照射し、ゲート電極を形成する領域の撥液性を消失させた。次に、PEDOT/PSSを含む水分散液に溶解度が約25wt%の三級ブチルアルコールを添加して作製したインクをインクジェット法でゲート電極を形成する領域に吐出し、加熱乾燥することによりゲート電極を形成した。その後に形成する保護膜等は図示を省略した。こうして作製した有機薄膜トランジスタの特性を評価したところ、良好な特性を示した。
【0042】
上記実施例では、パターン化を要する点で共通な薄膜トランジスタの導電層であるソース電極、ドレイン電極及びゲート電極の形成をインクジェット法で行い、半導体層及び絶縁層の形成をスピンコート法で行った。このとき、アクリル樹脂のパターンであるセパレータPSBをガイドにしたソース電極及びドレイン電極の形成、絶縁層上面の撥インク性を抑えた部分をガイドにしたゲート電極の形成を行う際に上記した本発明の組成としたインク組成物を用いた。
【0043】
図7は、図6で説明した有機薄膜トランジスタを構成する導電層を本発明のインクを用いたインクジェット法で形成する様子を説明する模式図である。図7において、ガラス基板SUBのセパレータPSBを配置した電極形成部分に沿ってインクジェット装置のノズルから本発明による組成とした電極材料のインクを吐出する。図7(a)では、吐出されたインクの液滴と、ガラス基板SUB上に滴下されて未だ液状であるインクとをINK(L)で示した。ノズルを矢印S方向に走査しながら、インクを吐出する。吐出されたインクINK(L)はガラス基板SUB上でセパレータPSBにより不要な広がりが抑制され、液滴同士が結合しあってノズルの走査方向に連続して塗布される。その後、加熱乾燥することにより固化し、図7(b)に示したように帯状の電極(ソース電極SD1、ドレイン電極SD2またはゲート電極GT)となる。なお、固化したインクを参照符号INK(D)で示した。
【0044】
図8は、図6で説明した有機薄膜トランジスタの電極材料となる高分子材料の一例を説明する分子構造図である。この種の電極材料は、上記したPEDOTとPSSとである。図8(a)にPEDOTを、図8(b)にPSSをそれぞれ示した。
【0045】
図9は、図6で説明した有機薄膜トランジスタの半導体層PSIとなる高分子材料の一例を説明する分子構造図である。半導体層PSIの材料は、上記したようにフルオレン−ビチオフェンであり、図9に示したような分子構造を有する。
【0046】
図10は、図6で説明した有機薄膜トランジスタの絶縁材料GIとなる高分子材料の一例を説明する分子構造図である。この絶縁材料GIは所謂ゲート絶縁層であり、ポリビニルフェノールである。その分子構造は図9に示したとおりである。
【図面の簡単な説明】
【0047】
【図1】ホール注入層形成用インクの主溶剤である水、三級ブチルアルコール(三級ブタノール)、キシレン及び発光層インク溶剤として適用可能な安息香酸ブチルの揮発特性を示す図である。
【図2】水、三級ブチルアルコール、30wt%三級ブチルアルコールを含む水溶液の揮発特性を示す図である。
【図3】初期液滴重量が0.25mgのときの三級ブチルアルコール水溶液の揮発性を示す図である。
【図4】実施例1で製造した有機ELパネルの1画素付近の構造例を説明する断面図である。
【図5】本発明を適用した有機ELパネルの回路構成例を示す図である。
【図6】本発明を適用した有機薄膜トランジスタの断面構造例を示す図である。
【図7】図6で説明した有機薄膜トランジスタを構成する導電層を本発明のインクを用いたインクジェット法で形成する様子を説明する模式図である。
【図8】図6で説明した有機薄膜トランジスタの電極材料となる高分子材料の一例を説明する分子構造図である。
【図9】図6で説明した有機薄膜トランジスタの半導体層PSIとなる高分子材料の一例を説明する分子構造図である。
【図10】図6で説明した有機薄膜トランジスタの絶縁材料GIとなる高分子材料の一例を説明する分子構造図である。
【図11】インクジェット装置のノズルにインク詰まりが生じる過程を説明する模式図である。
【符号の説明】
【0048】
SUB1・・・ガラス基板、SIN・・・窒化シリコン膜、SIO・・・酸化シリコン膜、PSI・・・導体層、GT・・・ゲート電極、GI・・・ゲート絶縁膜、SD1・・・ソース電極、SD2・・・ドレイン電極、AD・・・陽極、PAS・・・パッシベーション膜、SD1・・・ソース電極、HTL・・・ホール注入層、LML・・・発光層、BF・・・陰極バッファ層、CD・・・陰極、TRS・・・薄膜トランジスタ(TFT)付基板、SUB2・・・封止板。



【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数の活性層の積層又は並設、あるいはそれらの積層と並設とで所定の機能構造を実現する電子装置の製造方法であって、
前記複数の活性層の少なくとも一層を、当該活性層となる材料に三級アルコールを添加した水性インクのインクジェット法による塗布で形成すること特徴とする電子装置の製造方法。
【請求項2】
前記三級アルコールが3−メチル−1−ブチン−3−オールであることを特徴とする請求項1に記載の電子装置の製造方法。
【請求項3】
前記三級アルコールの添加量が当該インクに対して25wt%から40wt%の範囲であることを特徴とする請求項2に記載の電子装置の製造方法。
【請求項4】
前記電子装置は、絶縁性基板上に多数の有機EL素子を配列してなる有機ELパネルであり、
前記絶縁性基板上に、画素毎に第1の電極を形成する第1電極形成工程と、
前記第1の電極の上に発光に寄与する有機材料からなる複数の画素部形成層を形成する有機材料形成工程と、
前記画素部形成層を覆って第2の電極を形成する第2電極形成工程と、
を含み、
前記画素部形成層の少なくとも1層の形成に三級アルコールを添加した水性インクをインクジェット法による塗布で形成することを特徴とする電子装置の製造方法。
【請求項5】
前記三級アルコールが3−メチル−1−ブチン−3−オールであることを特徴とする請求項4に記載の電子装置の製造方法。
【請求項6】
前記三級アルコールの添加量が当該インクに対して25wt%から40wt%の範囲であることを特徴とする請求項5に記載の電子装置の製造方法。
【請求項7】
前記画素部形成層の少なくとも1層がホール注入層であることを特徴とする請求項5に記載の電子装置の製造方法。
【請求項8】
前記電子装置は、絶縁性基板上にソース電極と、ドレイン電極と、半導体層と、ゲート電極とを有する有機薄膜トランジスタであり、
前記ソース電極,ドレイン電極及びゲート電極の少なくとも何れかの電極が三級アルコールを添加した水性インクのインクジェット法による塗布で形成することを特徴とする電子装置の製造方法。
【請求項9】
前記三級アルコールが3−メチル−1−ブチン−3−オールであることを特徴とする請求項8に記載の電子装置の製造方法。
【請求項10】
前記三級アルコールの添加量が当該インクに対して25wt%から40wt%の範囲であることを特徴とする請求項9に記載の電子装置の製造方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【公開番号】特開2007−194113(P2007−194113A)
【公開日】平成19年8月2日(2007.8.2)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−12363(P2006−12363)
【出願日】平成18年1月20日(2006.1.20)
【公序良俗違反の表示】
(特許庁注:以下のものは登録商標)
1.テフロン
【出願人】(502356528)株式会社 日立ディスプレイズ (2,552)
【Fターム(参考)】