Fターム[5J056CC00]の内容
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Fターム[5J056CC00]に分類される特許
201 - 220 / 1,091
半導体装置
【課題】出力端子と単位バッファとの間の寄生抵抗に起因するインピーダンス誤差を低減する。
【解決手段】出力端子DQと、単位バッファ111〜11nと、単位バッファ111〜11nと出力端子DQとをそれぞれ接続する複数の出力配線経路とを備える。各出力配線経路は、それぞれ対応する単位バッファに個別に割り当てられた個別出力配線部161P〜16nP,161N〜16nNを有しており、これら出力配線経路に対応する単位バッファは、該出力配線経路によって共有された共通出力配線部であって、個別出力配線部よりも抵抗値の高い共通出力配線部を介することなく出力端子DQに接続されている。これにより、出力端子DQと単位バッファ111〜11nとの間の寄生抵抗によるインピーダンス誤差が抑制される。
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入力回路
【課題】短時間で入力信号を受信可能な状態に遷移する入力回路を提供する。
【解決手段】入力端子P1は、外部からの入力信号S1を受ける。入力トランジスタM1は、その制御端子が入力端子P1に接続され、入力信号S1に応じて状態が変化する。初期化トランジスタM2は、入力端子P1と接地端子P2の間に設けられる。制御回路12は、入力回路10に対する電源の投入時に、初期化トランジスタM2をオンし、その後初期化トランジスタM2をオフする。
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半導体装置
【課題】高速の半導体装置で要求されるクロック整列トレーニング動作を提供すること。
【解決手段】システムクロック及びデータクロックを入力されるクロック入力部(200)と、データクロックの周波数を分周して所定の位相差を有する複数の多重位相データ分周クロックを生成し、分周制御信号に応答して多重位相データ分周クロックの位相の反転可否を決定するクロック分周部(220)と、多重位相データ分周クロックのうち所定の第1選択クロックの位相を基準としてシステムクロックの位相を検出し、その結果に対応して分周制御信号のレベルを決定する第1位相検出部(240)と、多重位相データ分周クロックのうち所定の第2選択クロックの位相を基準としてシステムクロックの位相を検出し、その結果に対応してトレーニング情報信号を生成する第2位相検出部(260)と、トレーニング情報信号を外部に伝送するための信号伝送部(270)とを具備する。
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電源インタフェース、受信回路、集積回路、及び信号伝送方法
【課題】異電源間であっても入力信号のライズとフォールの相対的な関係を維持したまま出力信号を生成できる電源インタフェースを提供する。
【解決手段】この電源インタフェースは、送信回路11と受信回路12を備える。受信回路12は、第1信号の第1信号レベルから第2信号レベルへの遷移を検出し、第1検出信号を出力する第1検出部18と、第1検出部18が第1信号の第1信号レベルから第2信号レベルへの遷移を検出するのに要する検出時間と同じ検出時間で、第2信号の第1信号レベルから第2信号レベルへの遷移を検出し、第2検出信号を出力する第2検出部19と、第1検出部18から出力された第1検出信号と第2検出部19から出力された第2検出信号に基づいて出力信号OUTを生成する出力信号生成回路20と、を有する。
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出力回路
【課題】貫通電流を防止する。
【解決手段】ローサイドオフ検出回路10は、ローサイドトランジスタM2のゲート信号SGLを所定の第1レベルTHLと比較することによって、ローサイドトランジスタM2がオフしたことを示すローサイドオフ検出信号S1を生成する。ローサイド検出トランジスタMSLは、ローサイドトランジスタM2と同型であり、そのソースが接地端子108に接続され、そのゲートにローサイドトランジスタM2のゲート信号SGLを受ける。第1抵抗R11は、ローサイド検出トランジスタMSLのドレインと電源端子106の間に設けられる。第1バイパス回路12は、第1抵抗R11と並列に設けられ、制御信号SINがローサイドトランジスタM2のオフを指示するレベルをとるときに導通し、オンを指示するレベルをとるとき遮断する。ローサイド検出トランジスタMSLのドレインの信号が、ローサイドオフ検出信号S1として出力される。
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サブスレッショルドディジタルCMOS回路のための電源電圧制御回路及び制御方法
【課題】サブスレッショルド領域で動作するサブスレッショルドCMOS回路の遅延バラツキを補正する回路及び方法を提供する。
【解決手段】pMOSFETとnMOSFETにてなる複数のCMOS回路を備えて所定の遅延時間でサブスレッショルド領域で動作し、pMOSFETの典型値におけるしきい値電圧と、nMOSFETの典型値におけるしきい値電圧の差の絶対値が0.1V以上であるサブスレッショルドディジタルCMOS回路に対して制御出力電圧を電源電圧として供給する電源電圧制御回路であって、電源電圧に基づいて所定の微小電流を発生する微小電流発生回路と、発生された微小電流に基づいて遅延時間のバラツキを補正するためのpMOSFET又はnMOSFETのしきい値電圧の変化を含む制御出力電圧を発生して、制御された電源電圧としてサブスレッショルドディジタルCMOS回路に対して供給する制御出力電圧発生回路とを備えた。
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半導体集積回路装置
【課題】電源遮断時にそれ以前の情報を保持する低消費電力モードにおいてその復帰を高速にする。その一つに従来のデータ保持型フリップフロップを用いることが考えられるが、そのためにセルを大きくする等の面積オーバーヘッドが生じるのは望ましくない。
【解決手段】電源遮断時のデータ保持のための電源線は一般の電源幹線よりも細い配線にて形成する。望ましくは、データ保持回路の電源を信号線扱いとして、自動配置配線時に配線することである。そのために、セルにはあらかじめ上記データ保持回路用電源のための端子を通常の信号線と同様に設けて設計しておく。[効果]セルに余分な電源線のレイアウトが不要となり省面積化が図られるとともに、既存の自動配置配線ツールにより設計が可能となる。
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入力バッファー回路、集積回路装置及び電子機器
【課題】PMOSトランジスターの閾電圧がシフトする劣化モードの発生を回避し、長期間にわたり信頼性の高い動作を実現する入力バッファー回路、集積回路装置及び電子機器を提供すること。
【解決手段】入力バッファー回路1は、PMOSトランジスター12、14、NMOSトランジスター16、18を含み、HVDDとVSSの電位差に相当する振幅を有する信号を、HVDDよりも低いLVDDとVSSの電位差に相当する振幅を有する信号に変換するレベルシフト回路10を含む。PMOSトランジスター12のゲートには、NMOSトランジスター16がオンする時はLVDDが供給され、NMOSトランジスター18がオンする時はVSSが供給される。PMOSトランジスター14のゲートには、NMOSトランジスター16がオンする時はVSSが供給され、NMOSトランジスター18がオンする時はLVDDが供給される。
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劣化検出回路、劣化検出システム及び劣化検出方法
【課題】回路規模を増大することなくトランジスタの劣化具合を正確に評価することができる電圧出力回路、劣化検出システム及び劣化検出方法を提供すること
【解決手段】本発明にかかる劣化検出回路10は、電源(VDD)100と電源(VDD)100よりも電位が低い電源(GND)110との間に設けられたMOSトランジスタ30と、電源(VDD)100と電源(GND)110との間においてMOSトランジスタ30と直列に接続され、MOSトランジスタ30の劣化進行度よりも遅い劣化進行度を有する抵抗部20と、MOSトランジスタ30と抵抗部20との接点における電圧を、MOSトランジスタ30の劣化度を測定するために出力する劣化度測定用出力端子40と、を備えるものである。
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レベルシフト回路及びそれを用いたドライバと表示装置
【課題】回路規模の増大を抑え、高速化を実現するレベルシフト回路の提供。
【解決手段】第1の電圧VE1を与える第1給電端子E1と、第2電圧VE2を与える第2の給電端子E2の間に接続され、レベルシフト回路の入力信号INが第3の電圧VE3に対応した値のとき、第1の回路M4を導通させ、出力端子4が第1の電圧VE1に対応した値であることを示しているときは、入力信号INの値によらずに第1の回路M4を非導通とする制御を行う第3の回路M3、M1、M2とを備え、第2の回路M5は、入力信号の反転信号INBが第3の電圧VE3に対応した値のとき、導通し、第4の電圧VE4に対応した値のとき、非導通とし、第1乃至第4の電圧はVE2≦VE4<VE3<VE1の関係とする。
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入力インターフェース回路
【課題】有効なセットアップ特性及びホールド特性を良好に確保することが可能な入力インターフェース回路を提供すること。
【解決手段】本発明に係る入力インターフェース回路100は、データが外部入力される信号端子に接続される入力初段回路と、外部入力されるクロックと、入力初段回路に含まれるラッチ回路3、4へのラッチタイミング信号とを同位相に調整する位相調整回路6と、を備える。位相調整回路6は、クロックと当該クロックから擬似する擬似遅延回路の出力との比較結果に基づいてクロックツリー回路7を通過してラッチ回路3、4へと供給されるラッチタイミング信号の遅延時間を調整する。
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半導体装置
【課題】電源回路等を追加することなく、第1の電源電圧が低下してもダイナミックVTによる高速化の効果の低減を抑制できる半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の回路は、第1の電源電圧を供給する第1の電源ラインと第1の電源電圧よりも低い第2の電源電圧を供給する第2の電源ライン間に接続された、トランジスタを備える。制御回路は、第1の電源ラインと第2の電源ライン間に接続され、上記トランジスタのバックゲートに第1の電源電圧と第2の電源電圧の電位差よりも振幅が大きい制御信号を供給する。
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半導体装置
【課題】マスクデータの変更をせずに複数のデフォルト値を設定する。
【解決手段】半導体装置80には、n個のデフォルト値設定回路が並列に配置される。n個のデフォルト値設定回路には、デフォルト値設定部2、デフォルト値設定部3、及びマルチプレクサMUX1がそれぞれ設けられる。デフォルト値設定部2は低電位側電源VSS電圧(ローレベル)を設定し、デフォルト値設定部3は高電位側電源VDD電圧(ハイレベル)を設定する。マルチプレクサMUX1は、デフォルト値設定部2及び3の値が入力され、モード選択信号Smsにより1ビットのデフォルト値を生成する。n個のデフォルト値設定回路はNビットのデフォルト値を生成する。
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協調シミュレーション装置及びシミュレーション方法
【課題】 本発明の課題は、半導体集積回路の論理回路をシミュレーションするする装置に関し、特に、ハードウェアとソフトウェアとの協調動作によって論理回路を検証することを目的とする。
【解決手段】 上記課題は、評価回路の論理回路部を表すハードウェアと、前記評価回路の動作モデルとして機能する動作モデル部とを用いてシミュレーションする協調シミュレーション装置であって、前記ハードウェアは、該ハードウェア内部で検出した信号の変化毎に生成した第1番号を、該信号の変化を前記ソフトウェアに通知するデータに付加する第1番号付加手段を有し、前記動作モデル部は、受信した前記データの前記第1番号と、第1期待値とを比較する比較手段として機能することにより達成される。
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半導体集積回路
【課題】本発明は、中央処理装置の低消費電力モード時に外部から供給されるアナログ信号の正確なAD変換を行うことができる半導体集積回路を提供することを目的とする。
【解決手段】割込み信号のエッジ検出を行ってエッジ検出信号を生成するエッジ検出手段11と、外部から供給されるアナログ信号をエッジ検出信号により保持し、中央処理装置13からの制御により、保持しているアナログ信号をAD変換して中央処理装置に供給するAD変換手段12とを有し、割込み信号又はエッジ検出信号によって中央処理装置が低消費電力モードからクロックを高速とする通常モードとなった後にAD変換手段12に保持しているアナログ信号をAD変換したデジタルデータを中央処理装置13に取り込む。
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差動増幅器
【課題】入力端子にノイズが発生する。
【解決手段】第1の電流経路は、第1の電源端子と第1の出力端子間に接続され、制御端子に差動入力信号の一方が入力される第1のトランジスタと、第2の電源端子と第1の出力端子との間に接続され、制御端子に差動入力信号の他方が入力される第2のトランジスタと、第1の電源端子と第1のトランジスタとの間に接続される第1のスイッチ回路とを有し、第2の電流経路は、第2の電源端子と第2の出力端子との間に接続され、制御端子に差動入力信号の一方が入力される第3のトランジスタと、第1の電源端子と第2の出力端子との間に接続され、制御端子に差動入力信号の他方が入力される第4のトランジスタと、第2の電源端子と第3のトランジスタとの間に接続される第2のスイッチ回路とを有し、第1、第2のスイッチ回路は、制御信号により導通状態が制御される差動増幅器。
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ドライブ回路
【課題】低電圧の制御信号を高電圧の制御信号に変換して出力する高圧用のドライブ回路において、待機時の消費電力を削減することができるようにする。
【解決手段】低圧部1からの制御信号a1〜d1及びa2〜d2により高圧部2のトランジスタMN1〜MN8を駆動し、操作対象3に駆動信号を出力する。その際、低圧部1からの制御信号a1〜d1をそれぞれ論理積ゲートQ1〜Q4の一方の入力端子を介して高圧部2のトランジスタMN1,MN3,MN5,MN7のゲートに入力し、論理積ゲートQ1〜Q4の他方の入力端子には高圧部2のオン/オフ信号を入力する。
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半導体装置
【課題】大規模な容量素子を搭載した半導体装置において、容量素子内部に短絡故障が生じた場合でも、装置としての機能を維持して信頼性を確保する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、第1電圧と第2電圧との間に並列に接続される複数の容量ユニットを備える。複数の容量ユニットの各々は、容量素子と、容量遮断回路とを含む。容量素子の一方のノードは第1電圧に接続される。容量遮断回路は、第2電圧と容量素子の他方のノードとの間に接続される。容量遮断回路は、容量素子から流入するリーク電流によって閾値電圧が変動する不揮発性メモリセルを有し、容量素子から流入するリーク電流が所定値を超える場合に、不揮発性メモリセルの閾値電圧の上昇によって容量素子から第2電圧へ流出するリーク電流を遮断する。
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パルス出力回路、シフトレジスタ
【課題】薄膜トランジスタの特性劣化の程度を小さくし、回路内の誤動作を低減し、より確度の高い動作を保証する駆動回路を提供する。
【解決手段】シフトレジスタに設けられたパルス出力回路において、パルスの出力が行われない非選択期間、ゲート電極がオンするように浮遊状態となっているトランジスタのゲート電極が接続されたノードに対し、クロック信号がトランジスタのゲート電極に入力されるように設けることで、定期的に電位を供給する。また、ブートストラップ動作を行うトランジスタのゲートにゲートが固定電位に接続されたトランジスタを設ける。
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出力ドライバ、出力ドライバを含むメモリ、メモリコントローラ及びメモリシステム
【課題】プリアンブルに続く最初のハイレベル又はローレベルの区間の長さを、その後のクロッキング部分のハイレベル又はローレベルの区間の長さに一致させる。
【解決手段】 出力ドライバは、第1の電源と出力端子との間に接続される第1のドライバと、第2の電源と出力端子との間に接続される第2のドライバとを有する。第1のドライバ及び第2のドライバの一方は、互いに並列接続された2つの駆動部を備える。これら2つの駆動部の各々と、第1のドライバ及び第2のドライバの他方とは、それぞれ独立した入力信号に応じて動作する。
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