フレキシブル配線基板及びベアチップ実装方法
【課題】 フレキシブル配線基板が撓んだ場合であっても、ベアチップの周縁端部がオーバーコート層によって被覆されていない配線パターンと接触することがなく、ショート不良が発生するのを防止することができるフレキシブル配線基板を提供する。
【解決手段】 フレキシブルプリント配線基板１０は、バンプアレイを介して半導体ベアチップ２１が電気的に接続された配線パターン１２が所定のベース材１１上に形成されているとともに、半導体ベアチップ２１を実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層１３が設けられて構成される。オーバーコート層１３は、実装された半導体ベアチップ２１がベース材１１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２１の底面下の領域であって配線パターン１２と半導体ベアチップ２１とによって形成される間隙に延在するように設けられている。
【解決手段】 フレキシブルプリント配線基板１０は、バンプアレイを介して半導体ベアチップ２１が電気的に接続された配線パターン１２が所定のベース材１１上に形成されているとともに、半導体ベアチップ２１を実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層１３が設けられて構成される。オーバーコート層１３は、実装された半導体ベアチップ２１がベース材１１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２１の底面下の領域であって配線パターン１２と半導体ベアチップ２１とによって形成される間隙に延在するように設けられている。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ベアチップ実装用のフレキシブル配線基板及びベアチップ実装方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、携帯電話機をはじめとする様々な電子機器が急速に普及しているのにともない、さらなる電子機器の小型化や薄型化が要求されている。かかる小型化や薄型化を実現するためには、ＬＳＩ（Large Scale Integration）チップ等の各種半導体チップを高密度に基板上に実装する必要がある。
【０００３】
基板への半導体チップの実装は、当該半導体チップをリード線とともに所定のパッケージに封入し、それを基板上に実装する方法が従来から行われているが、いわゆるフレキシブルプリント配線基板（Flexible Printed Circuit；ＦＰＣ）の普及と高密度実装の要求とにともない、半導体チップをチップ状態のまま基板上に実装する、いわゆるベアチップ実装が行われている（例えば、特許文献１及び特許文献２等参照。）。
【０００４】
ベアチップ実装の方法としては、リード線を設けたフィルムを用いて基板側の電極とチップ側の電極とを接続するＴＡＢ（Tape Automated Bonding）実装、基板側の電極とチップ側の電極とをワイヤによって接続するワイヤボンディング実装、及び、チップの電極部分にバンプ（突起電極）を形成して基板側の電極とチップ側の電極とを直接接続するフリップチップ実装等がある。特に、フレキシブルプリント配線基板へのベアチップ実装は、チップオンフィルム（Chip On Film；ＣＯＦ）実装と称され、ワイヤボンディング実装とフリップチップ実装とに大別される。このようなベアチップ実装は、従来から行われている実装方法に比べて実装領域が小さくて済み、高密度実装を実現する方法として着目されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−６８３２８号公報
【特許文献２】特開２０００−７７４６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、フレキシブルプリント配線基板への通常のチップオンフィルム実装は、例えば図４(ａ)及び図４(ｂ)に示すように行われる。すなわち、フレキシブルプリント配線基板１００は、ポリイミド等からなる所定のベース材１０１の上に銅等からなる配線パターン１０２が形成され、さらに、配線パターン１０２の上にフォトソルダーレジスト等の絶縁材からなるショート防止用のオーバーコート層１０３が設けられて構成される。半導体ベアチップ２０１は、バンプアレイを構成する金等からなる複数のバンプ２０２のそれぞれと配線パターン１０２とを電気的に接続することにより、フレキシブルプリント配線基板１００上に実装される。具体的には、半導体ベアチップ２０１の実装領域は、オーバーコート層１０３の開口領域に対応する領域となる。
【０００７】
ここで、半導体ベアチップ２０１に形成されているバンプ２０２は、異方性導電接着フィルム（Anisotropic Conductive Film；ＡＣＦ）等の接着剤を介して、配線パターン１０２と電気的に接続される。したがって、半導体ベアチップ２０１を実装する際には、接着剤の樹脂を硬化させるために、当該接着剤を介してバンプ２０２と配線パターン１０２とを接触させた状態で加熱及び加圧する必要がある。そのため、フレキシブルプリント配線基板１００においては、半導体ベアチップ２０１の底面とオーバーコート層１０３とが接触して十分に加圧することができない事態を防止するために、オーバーコート層１０３の開口領域の大きさを、半導体ベアチップ２０１が実装された際にベース材１０１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２０１の底面の大きさよりも大きく形成するのが通常である。
【０００８】
しかしながら、かかるベアチップ実装においては、加熱及び加圧によってフレキシブルプリント配線基板１００が撓むことにより、図５中Ａで示すように、半導体ベアチップ２０１の周縁端部と、オーバーコート層１０３によって被覆されていない配線パターン１０２とが接触し、ショート不良が発生する場合があった。特に、このような現象は、半導体ベアチップ２０１のバンプ２０２の形成位置が、当該半導体ベアチップ２０１の底面における周縁部分近傍ではなく、周縁部分から内側に離れた位置に配設されている場合ほど顕著に発生する。
【０００９】
本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり、フレキシブル配線基板が撓んだ場合であっても、ベアチップの周縁端部がオーバーコート層によって被覆されていない配線パターンと接触することがなく、ショート不良が発生するのを防止することができるフレキシブル配線基板及びベアチップ実装方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述した目的を達成する本発明にかかるフレキシブル配線基板は、バンプアレイが形成されたベアチップを実装したフレキシブル配線基板であって、上記バンプアレイを介して上記ベアチップが電気的に接続された配線が所定のベース材上に形成されているとともに、上記ベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成され、上記オーバーコート層は、実装された上記ベアチップが上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように設けられていることを特徴としている。
【００１１】
また、上述した目的を達成する本発明にかかるベアチップ実装方法は、所定のベース材上に配線が形成されているとともに、バンプアレイが形成されたベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成されたフレキシブル配線基板を用意する第１の工程と、上記バンプアレイを構成するバンプと上記配線とを電気的に接続して上記ベアチップを上記フレキシブル配線基板上に実装する第２の工程とを備える。ここで、上記フレキシブル配線基板は、上記ベアチップが実装されたときに上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように上記オーバーコート層が設けられたものであることを特徴としている。
【００１２】
さらに、上述した目的を達成する本発明にかかるフレキシブル配線基板は、バンプアレイが形成されたベアチップが実装されるフレキシブル配線基板であって、上記バンプアレイを介して上記ベアチップが電気的に接続される配線が所定のベース材上に形成されているとともに、上記ベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成され、上記オーバーコート層は、上記ベアチップが実装されたときに上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように設けられていることを特徴としている。
【００１３】
このような本発明にかかるフレキシブル配線基板及びベアチップ実装方法においては、ベアチップの実装時に当該フレキシブル配線基板が撓んだ場合であっても、ベアチップの周縁端部がオーバーコート層に接触するのみで、オーバーコート層によって被覆されていない配線と接触するのをなくすことができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、ベアチップの周縁端部がオーバーコート層によって被覆されていない配線と接触するのをなくすことができるため、簡便な構成のもとに、ショート不良の発生を確実に防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１６】
この実施の形態は、バンプアレイが形成された半導体ベアチップを実装したフレキシブルプリント配線基板（Flexible Printed Circuit；ＦＰＣ）である。特に、このフレキシブルプリント配線基板は、半導体ベアチップを実装する実装領域に設けられたショート防止用の保護膜であるオーバーコート層を利用することにより、当該フレキシブルプリント配線基板の撓みに起因する半導体ベアチップと配線パターンとのショート不良を防止することができるものである。
【００１７】
図１(Ａ)に平面図、図１(Ｂ)に断面図を示すように、フレキシブルプリント配線基板１０は、ポリイミド等からなる所定のベース材１１の上に銅等からなる配線パターン１２が形成され、さらに、配線パターン１２の上にフォトソルダーレジスト等の熱硬化性の絶縁材からなるショート防止用のオーバーコート層１３が設けられて構成される。ここで、オーバーコート層１３は、通常、その厚みが１０μｍから２０μｍ程度である。なお、オーバーコート層１３は、後述するように、半導体ベアチップ２１の実装前に硬化状態とされているのが望ましい。
【００１８】
このようなフレキシブルプリント配線基板１０が用意されると、当該フレキシブルプリント配線基板１０の上に、半導体ベアチップ２１がチップオンフィルム（Chip On Film；ＣＯＦ）実装される。
【００１９】
半導体ベアチップ２１は、その平面及び底面の大きさが、例えば３ｍｍ×４ｍｍ等、数ｍｍ角程度の大きさの薄板状に形成される。半導体ベアチップ２１の底面には、複数のバンプ２２が配列されたバンプアレイが形成されている。バンプ２２は、例えば金や銅、半田等の導電性金属を主材料として構成される。また、バンプ２２は、メッキ等によって形成することができ、例えば表面のみを金メッキとすることも可能である。なお、バンプ２２の高さは、例えば５μｍから５０μｍ程度に形成されるのが通常であるが、その下限値は、後述する接着剤の樹脂を硬化させるための加圧を十分に行うことができるように、オーバーコート層１３の厚みに応じて決定される。具体的には、バンプ２２は、加圧後に半導体ベアチップ２１の底面とオーバーコート層１３とが接触しない程度の高さに形成すればよく、オーバーコート層１３の塗布厚精度を加味した厚みよりも例えば１０μｍ以上高く形成するのが望ましい。したがって、具体例としては、上述したように、オーバーコート層１３の厚みが１０μｍ程度である場合には、バンプ２２の高さは２０μｍ以上とするのが望ましく、また、オーバーコート層１３の厚みが２０μｍ程度である場合には、バンプ２２の高さは３０μｍ以上とするのが望ましいことになる。
【００２０】
このような半導体ベアチップ２１は、各バンプ２２と、これら各バンプ２２に対向する位置に形成された配線パターン１２とを、所定の接着剤を介して電気的に接続することにより、フレキシブルプリント配線基板１０上に実装される。
【００２１】
ここで、接着剤としては、異方性導電接着フィルム（Anisotropic Conductive Film；ＡＣＦ）や異方性導電接着ペースト（Anisotropic Conductive Paste；ＡＣＰ）等の異方性導電接着剤を用いるのが望ましく、取り扱いの簡便さから、特に異方性導電接着フィルムを用いるのが望ましい。なお、異方性導電接着フィルムとは、フィルム状の絶縁樹脂材料中に微細な導電性粒子を分散させた素材からなり、加熱及び加圧することにより、接着機能とともに、導電性粒子を介して厚み方向には電気的接続機能を有し、厚み方向と垂直方向には絶縁機能を有するものである。フレキシブルプリント配線基板１０においては、半導体ベアチップ２１との間に、このような異方性導電接着剤を介在させて加熱及び加圧することにより、バンプ２２と配線パターン１２とが対向する部分において、この異方性導電接着剤に含まれる導電性粒子が押し潰され、電気的な導通を図ることができる。
【００２２】
このような半導体ベアチップ２１が実装されたフレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を、実装された半導体ベアチップ２１がベース材１１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２１の底面下の領域であって配線パターン１２と半導体ベアチップ２１とによって形成される間隙に延在するように設ける。すなわち、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を、半導体ベアチップ２１の底面における周縁端部から内側にわたる領域と、配線パターン１２の領域とが、当該フレキシブルプリント配線基板１０の厚み方向に重複する領域にまで延在するように設ける。さらに換言すれば、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３の開口領域の大きさを、半導体ベアチップ２１が実装された際にベース材１１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２１の底面の大きさよりも小さく形成する。
【００２３】
これにより、フレキシブルプリント配線基板１０においては、半導体ベアチップ２１の実装時に行われる加熱及び加圧によって当該フレキシブルプリント配線基板１０が撓んだ場合であっても、図２中Ａで示すように、半導体ベアチップ２１の周縁端部がオーバーコート層１３に接触するのみで、オーバーコート層１３によって被覆されていない配線パターン１２と接触することがなくなる。したがって、フレキシブルプリント配線基板１０においては、特別な部材を別途設けることなく、簡便な構成且つ低コストのもとに、半導体ベアチップ２１の周縁端部と配線パターン１２とが接触することによるショート不良の発生を防止することができる。
【００２４】
ここで、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３が設けられる領域が半導体ベアチップ２１の底面下の領域にまで延在するものの、上述したように、加圧後に半導体ベアチップ２１の底面とオーバーコート層１３とが接触しない程度の高さにバンプ２２が形成されていることから、半導体ベアチップ２１への加圧力が逃げることがなくなる。そのため、フレキシブルプリント配線基板１０においては、半導体ベアチップ２１を強い圧力で実装することができ、信頼性を向上させることができる。
【００２５】
また、フレキシブルプリント配線基板１０においては、半導体ベアチップ２１の底面下の領域においてオーバーコート層１３によって被覆される部分が多くなるため、従来に比べ、接着剤の量も少なくて済むという利点も生じる。
【００２６】
なお、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を延在させる領域を、半導体ベアチップ２１の底面下の領域のうち、バンプ２２が接触する配線パターン１２の領域を除いた全ての領域としてもよい。しかしながら、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３の領域が多くなると、接着剤が剥離しやすくなるという弊害を招来することから、半導体ベアチップ２１の周縁端部からバンプアレイの外側の領域までに留めるのが望ましい。
【００２７】
また、図１(Ａ)に示した具体例においては、半導体ベアチップ２１の矩形状の底面を画定する周縁４辺のうち１対の対向する辺に沿った領域のみ、オーバーコート層１３を半導体ベアチップ２１の底面下の領域にまで延在させているが、周縁全てに沿った領域にオーバーコート層１３を延在させてもよい。
【００２８】
ただし、特に、周縁全てに沿った領域にオーバーコート層１３を延在させた場合には、接着剤が半導体ベアチップ２１の底面下の領域から外側に流れずに滞留してしまう場合がある。そこで、フレキシブルプリント配線基板１０においては、例えば図３に示すように、半導体ベアチップ２１の底面下の領域であって当該半導体ベアチップ２１の周縁端部のうち少なくとも一部領域に、逃げ部３０としてオーバーコート層１３を延在させない領域を設けるのが望ましい。また、このような逃げ部３０は、１箇所であってもよいが、オーバーコート層１３を延在させた半導体ベアチップ２１の底面を画定する周縁（辺）毎に設けるのが望ましい。これにより、フレキシブルプリント配線基板１０においては、接着剤が半導体ベアチップ２１の底面下の領域から外側に流れずに滞留してしまうのを回避することができ、より信頼性の向上を図ることができる。
【００２９】
さらに、フレキシブルプリント配線基板１０は、上述したように、配線パターン１２が形成されたベース材１１の上に塗布されたオーバーコート層１３が流動せずに硬化した状態で提供されるのが望ましい。すなわち、フレキシブルプリント配線基板１０は、オーバーコート層１３が硬化した状態で半導体ベアチップ２１が実装されるのが望ましい。オーバーコート層１３がベース材１１及び配線パターン１２の上に塗布されてフレキシブルプリント配線基板１０が提供され、これに半導体ベアチップ２１を実装することを考慮すると、オーバーコート層１３が流動状態であるまま半導体ベアチップ２１を実装した場合には、オーバーコート層１３の形状や厚みが確定した状態でないことから、オーバーコート層１３が流動することに起因して半導体ベアチップ２１と配線パターン１２とが不必要に接触してしまうことが想定される。そのため、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を半導体ベアチップ２１の実装前に硬化状態としておくことにより、確実に半導体ベアチップ２１を実装しつつショート不良等の不具合を防止することができ、より信頼性の向上を図ることができる。
【００３０】
以上説明したように、本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を、実装された半導体ベアチップ２１がベース材１１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２１の底面下の領域であって配線パターン１２と半導体ベアチップ１２とによって形成される間隙に延在するように設けることにより、半導体ベアチップ２１をチップオンフィルム実装する際に、半導体ベアチップ２１の周縁端部がオーバーコート層１３によって被覆されていない配線パターン１２と接触するのを防止することができ、ショート不良の発生を防止することができる。特に、このようなフレキシブルプリント配線基板１０は、半導体ベアチップ２１のバンプ２２の形成位置が、当該半導体ベアチップ２１の底面における周縁部分近傍ではなく、周縁部分から内側に離れた位置に配設されている場合に極めて有効である。
【００３１】
なお、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではない。例えば、上述した実施の形態では、接着剤として、異方性導電接着剤を用いるものとして説明したが、本発明は、接着剤自体に導電性を必要としない仕様の場合には、非導電性フィルム（Non-conductive Film；ＮＣＦ）や、硬化性樹脂をバインダとする非導電性ペースト（Non-conductive Paste；ＮＣＰ）等、任意の接着剤を用いてもよい。
【００３２】
また、上述した実施の形態にて示した各部の大きさは具体例であり、本発明は、かかる値に限定されるものではない。
【００３３】
このように、本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能であることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１（Ａ）】本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する平面図である。
【図１（Ｂ）】本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する断面図である。
【図２】本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板が撓んだ様子を説明するための図である。
【図３】本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する平面図であり、逃げ部を設けた様子を説明するための図である。
【図４（Ａ）】従来のフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する平面図である。
【図４（Ｂ）】従来のフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する断面図である。
【図５】従来のフレキシブルプリント配線基板が撓んだ様子を説明するための図である。
【符号の説明】
【００３５】
１０ フレキシブルプリント配線基板
１１ ベース材
１２ 配線パターン
１３ オーバーコート層
２１ 半導体ベアチップ
２２ バンプ
３０ 逃げ部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ベアチップ実装用のフレキシブル配線基板及びベアチップ実装方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、携帯電話機をはじめとする様々な電子機器が急速に普及しているのにともない、さらなる電子機器の小型化や薄型化が要求されている。かかる小型化や薄型化を実現するためには、ＬＳＩ（Large Scale Integration）チップ等の各種半導体チップを高密度に基板上に実装する必要がある。
【０００３】
基板への半導体チップの実装は、当該半導体チップをリード線とともに所定のパッケージに封入し、それを基板上に実装する方法が従来から行われているが、いわゆるフレキシブルプリント配線基板（Flexible Printed Circuit；ＦＰＣ）の普及と高密度実装の要求とにともない、半導体チップをチップ状態のまま基板上に実装する、いわゆるベアチップ実装が行われている（例えば、特許文献１及び特許文献２等参照。）。
【０００４】
ベアチップ実装の方法としては、リード線を設けたフィルムを用いて基板側の電極とチップ側の電極とを接続するＴＡＢ（Tape Automated Bonding）実装、基板側の電極とチップ側の電極とをワイヤによって接続するワイヤボンディング実装、及び、チップの電極部分にバンプ（突起電極）を形成して基板側の電極とチップ側の電極とを直接接続するフリップチップ実装等がある。特に、フレキシブルプリント配線基板へのベアチップ実装は、チップオンフィルム（Chip On Film；ＣＯＦ）実装と称され、ワイヤボンディング実装とフリップチップ実装とに大別される。このようなベアチップ実装は、従来から行われている実装方法に比べて実装領域が小さくて済み、高密度実装を実現する方法として着目されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−６８３２８号公報
【特許文献２】特開２０００−７７４６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、フレキシブルプリント配線基板への通常のチップオンフィルム実装は、例えば図４(ａ)及び図４(ｂ)に示すように行われる。すなわち、フレキシブルプリント配線基板１００は、ポリイミド等からなる所定のベース材１０１の上に銅等からなる配線パターン１０２が形成され、さらに、配線パターン１０２の上にフォトソルダーレジスト等の絶縁材からなるショート防止用のオーバーコート層１０３が設けられて構成される。半導体ベアチップ２０１は、バンプアレイを構成する金等からなる複数のバンプ２０２のそれぞれと配線パターン１０２とを電気的に接続することにより、フレキシブルプリント配線基板１００上に実装される。具体的には、半導体ベアチップ２０１の実装領域は、オーバーコート層１０３の開口領域に対応する領域となる。
【０００７】
ここで、半導体ベアチップ２０１に形成されているバンプ２０２は、異方性導電接着フィルム（Anisotropic Conductive Film；ＡＣＦ）等の接着剤を介して、配線パターン１０２と電気的に接続される。したがって、半導体ベアチップ２０１を実装する際には、接着剤の樹脂を硬化させるために、当該接着剤を介してバンプ２０２と配線パターン１０２とを接触させた状態で加熱及び加圧する必要がある。そのため、フレキシブルプリント配線基板１００においては、半導体ベアチップ２０１の底面とオーバーコート層１０３とが接触して十分に加圧することができない事態を防止するために、オーバーコート層１０３の開口領域の大きさを、半導体ベアチップ２０１が実装された際にベース材１０１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２０１の底面の大きさよりも大きく形成するのが通常である。
【０００８】
しかしながら、かかるベアチップ実装においては、加熱及び加圧によってフレキシブルプリント配線基板１００が撓むことにより、図５中Ａで示すように、半導体ベアチップ２０１の周縁端部と、オーバーコート層１０３によって被覆されていない配線パターン１０２とが接触し、ショート不良が発生する場合があった。特に、このような現象は、半導体ベアチップ２０１のバンプ２０２の形成位置が、当該半導体ベアチップ２０１の底面における周縁部分近傍ではなく、周縁部分から内側に離れた位置に配設されている場合ほど顕著に発生する。
【０００９】
本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり、フレキシブル配線基板が撓んだ場合であっても、ベアチップの周縁端部がオーバーコート層によって被覆されていない配線パターンと接触することがなく、ショート不良が発生するのを防止することができるフレキシブル配線基板及びベアチップ実装方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述した目的を達成する本発明にかかるフレキシブル配線基板は、バンプアレイが形成されたベアチップを実装したフレキシブル配線基板であって、上記バンプアレイを介して上記ベアチップが電気的に接続された配線が所定のベース材上に形成されているとともに、上記ベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成され、上記オーバーコート層は、実装された上記ベアチップが上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように設けられていることを特徴としている。
【００１１】
また、上述した目的を達成する本発明にかかるベアチップ実装方法は、所定のベース材上に配線が形成されているとともに、バンプアレイが形成されたベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成されたフレキシブル配線基板を用意する第１の工程と、上記バンプアレイを構成するバンプと上記配線とを電気的に接続して上記ベアチップを上記フレキシブル配線基板上に実装する第２の工程とを備える。ここで、上記フレキシブル配線基板は、上記ベアチップが実装されたときに上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように上記オーバーコート層が設けられたものであることを特徴としている。
【００１２】
さらに、上述した目的を達成する本発明にかかるフレキシブル配線基板は、バンプアレイが形成されたベアチップが実装されるフレキシブル配線基板であって、上記バンプアレイを介して上記ベアチップが電気的に接続される配線が所定のベース材上に形成されているとともに、上記ベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成され、上記オーバーコート層は、上記ベアチップが実装されたときに上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように設けられていることを特徴としている。
【００１３】
このような本発明にかかるフレキシブル配線基板及びベアチップ実装方法においては、ベアチップの実装時に当該フレキシブル配線基板が撓んだ場合であっても、ベアチップの周縁端部がオーバーコート層に接触するのみで、オーバーコート層によって被覆されていない配線と接触するのをなくすことができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、ベアチップの周縁端部がオーバーコート層によって被覆されていない配線と接触するのをなくすことができるため、簡便な構成のもとに、ショート不良の発生を確実に防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１６】
この実施の形態は、バンプアレイが形成された半導体ベアチップを実装したフレキシブルプリント配線基板（Flexible Printed Circuit；ＦＰＣ）である。特に、このフレキシブルプリント配線基板は、半導体ベアチップを実装する実装領域に設けられたショート防止用の保護膜であるオーバーコート層を利用することにより、当該フレキシブルプリント配線基板の撓みに起因する半導体ベアチップと配線パターンとのショート不良を防止することができるものである。
【００１７】
図１(Ａ)に平面図、図１(Ｂ)に断面図を示すように、フレキシブルプリント配線基板１０は、ポリイミド等からなる所定のベース材１１の上に銅等からなる配線パターン１２が形成され、さらに、配線パターン１２の上にフォトソルダーレジスト等の熱硬化性の絶縁材からなるショート防止用のオーバーコート層１３が設けられて構成される。ここで、オーバーコート層１３は、通常、その厚みが１０μｍから２０μｍ程度である。なお、オーバーコート層１３は、後述するように、半導体ベアチップ２１の実装前に硬化状態とされているのが望ましい。
【００１８】
このようなフレキシブルプリント配線基板１０が用意されると、当該フレキシブルプリント配線基板１０の上に、半導体ベアチップ２１がチップオンフィルム（Chip On Film；ＣＯＦ）実装される。
【００１９】
半導体ベアチップ２１は、その平面及び底面の大きさが、例えば３ｍｍ×４ｍｍ等、数ｍｍ角程度の大きさの薄板状に形成される。半導体ベアチップ２１の底面には、複数のバンプ２２が配列されたバンプアレイが形成されている。バンプ２２は、例えば金や銅、半田等の導電性金属を主材料として構成される。また、バンプ２２は、メッキ等によって形成することができ、例えば表面のみを金メッキとすることも可能である。なお、バンプ２２の高さは、例えば５μｍから５０μｍ程度に形成されるのが通常であるが、その下限値は、後述する接着剤の樹脂を硬化させるための加圧を十分に行うことができるように、オーバーコート層１３の厚みに応じて決定される。具体的には、バンプ２２は、加圧後に半導体ベアチップ２１の底面とオーバーコート層１３とが接触しない程度の高さに形成すればよく、オーバーコート層１３の塗布厚精度を加味した厚みよりも例えば１０μｍ以上高く形成するのが望ましい。したがって、具体例としては、上述したように、オーバーコート層１３の厚みが１０μｍ程度である場合には、バンプ２２の高さは２０μｍ以上とするのが望ましく、また、オーバーコート層１３の厚みが２０μｍ程度である場合には、バンプ２２の高さは３０μｍ以上とするのが望ましいことになる。
【００２０】
このような半導体ベアチップ２１は、各バンプ２２と、これら各バンプ２２に対向する位置に形成された配線パターン１２とを、所定の接着剤を介して電気的に接続することにより、フレキシブルプリント配線基板１０上に実装される。
【００２１】
ここで、接着剤としては、異方性導電接着フィルム（Anisotropic Conductive Film；ＡＣＦ）や異方性導電接着ペースト（Anisotropic Conductive Paste；ＡＣＰ）等の異方性導電接着剤を用いるのが望ましく、取り扱いの簡便さから、特に異方性導電接着フィルムを用いるのが望ましい。なお、異方性導電接着フィルムとは、フィルム状の絶縁樹脂材料中に微細な導電性粒子を分散させた素材からなり、加熱及び加圧することにより、接着機能とともに、導電性粒子を介して厚み方向には電気的接続機能を有し、厚み方向と垂直方向には絶縁機能を有するものである。フレキシブルプリント配線基板１０においては、半導体ベアチップ２１との間に、このような異方性導電接着剤を介在させて加熱及び加圧することにより、バンプ２２と配線パターン１２とが対向する部分において、この異方性導電接着剤に含まれる導電性粒子が押し潰され、電気的な導通を図ることができる。
【００２２】
このような半導体ベアチップ２１が実装されたフレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を、実装された半導体ベアチップ２１がベース材１１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２１の底面下の領域であって配線パターン１２と半導体ベアチップ２１とによって形成される間隙に延在するように設ける。すなわち、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を、半導体ベアチップ２１の底面における周縁端部から内側にわたる領域と、配線パターン１２の領域とが、当該フレキシブルプリント配線基板１０の厚み方向に重複する領域にまで延在するように設ける。さらに換言すれば、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３の開口領域の大きさを、半導体ベアチップ２１が実装された際にベース材１１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２１の底面の大きさよりも小さく形成する。
【００２３】
これにより、フレキシブルプリント配線基板１０においては、半導体ベアチップ２１の実装時に行われる加熱及び加圧によって当該フレキシブルプリント配線基板１０が撓んだ場合であっても、図２中Ａで示すように、半導体ベアチップ２１の周縁端部がオーバーコート層１３に接触するのみで、オーバーコート層１３によって被覆されていない配線パターン１２と接触することがなくなる。したがって、フレキシブルプリント配線基板１０においては、特別な部材を別途設けることなく、簡便な構成且つ低コストのもとに、半導体ベアチップ２１の周縁端部と配線パターン１２とが接触することによるショート不良の発生を防止することができる。
【００２４】
ここで、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３が設けられる領域が半導体ベアチップ２１の底面下の領域にまで延在するものの、上述したように、加圧後に半導体ベアチップ２１の底面とオーバーコート層１３とが接触しない程度の高さにバンプ２２が形成されていることから、半導体ベアチップ２１への加圧力が逃げることがなくなる。そのため、フレキシブルプリント配線基板１０においては、半導体ベアチップ２１を強い圧力で実装することができ、信頼性を向上させることができる。
【００２５】
また、フレキシブルプリント配線基板１０においては、半導体ベアチップ２１の底面下の領域においてオーバーコート層１３によって被覆される部分が多くなるため、従来に比べ、接着剤の量も少なくて済むという利点も生じる。
【００２６】
なお、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を延在させる領域を、半導体ベアチップ２１の底面下の領域のうち、バンプ２２が接触する配線パターン１２の領域を除いた全ての領域としてもよい。しかしながら、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３の領域が多くなると、接着剤が剥離しやすくなるという弊害を招来することから、半導体ベアチップ２１の周縁端部からバンプアレイの外側の領域までに留めるのが望ましい。
【００２７】
また、図１(Ａ)に示した具体例においては、半導体ベアチップ２１の矩形状の底面を画定する周縁４辺のうち１対の対向する辺に沿った領域のみ、オーバーコート層１３を半導体ベアチップ２１の底面下の領域にまで延在させているが、周縁全てに沿った領域にオーバーコート層１３を延在させてもよい。
【００２８】
ただし、特に、周縁全てに沿った領域にオーバーコート層１３を延在させた場合には、接着剤が半導体ベアチップ２１の底面下の領域から外側に流れずに滞留してしまう場合がある。そこで、フレキシブルプリント配線基板１０においては、例えば図３に示すように、半導体ベアチップ２１の底面下の領域であって当該半導体ベアチップ２１の周縁端部のうち少なくとも一部領域に、逃げ部３０としてオーバーコート層１３を延在させない領域を設けるのが望ましい。また、このような逃げ部３０は、１箇所であってもよいが、オーバーコート層１３を延在させた半導体ベアチップ２１の底面を画定する周縁（辺）毎に設けるのが望ましい。これにより、フレキシブルプリント配線基板１０においては、接着剤が半導体ベアチップ２１の底面下の領域から外側に流れずに滞留してしまうのを回避することができ、より信頼性の向上を図ることができる。
【００２９】
さらに、フレキシブルプリント配線基板１０は、上述したように、配線パターン１２が形成されたベース材１１の上に塗布されたオーバーコート層１３が流動せずに硬化した状態で提供されるのが望ましい。すなわち、フレキシブルプリント配線基板１０は、オーバーコート層１３が硬化した状態で半導体ベアチップ２１が実装されるのが望ましい。オーバーコート層１３がベース材１１及び配線パターン１２の上に塗布されてフレキシブルプリント配線基板１０が提供され、これに半導体ベアチップ２１を実装することを考慮すると、オーバーコート層１３が流動状態であるまま半導体ベアチップ２１を実装した場合には、オーバーコート層１３の形状や厚みが確定した状態でないことから、オーバーコート層１３が流動することに起因して半導体ベアチップ２１と配線パターン１２とが不必要に接触してしまうことが想定される。そのため、フレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を半導体ベアチップ２１の実装前に硬化状態としておくことにより、確実に半導体ベアチップ２１を実装しつつショート不良等の不具合を防止することができ、より信頼性の向上を図ることができる。
【００３０】
以上説明したように、本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板１０においては、オーバーコート層１３を、実装された半導体ベアチップ２１がベース材１１と向き合う面である当該半導体ベアチップ２１の底面下の領域であって配線パターン１２と半導体ベアチップ１２とによって形成される間隙に延在するように設けることにより、半導体ベアチップ２１をチップオンフィルム実装する際に、半導体ベアチップ２１の周縁端部がオーバーコート層１３によって被覆されていない配線パターン１２と接触するのを防止することができ、ショート不良の発生を防止することができる。特に、このようなフレキシブルプリント配線基板１０は、半導体ベアチップ２１のバンプ２２の形成位置が、当該半導体ベアチップ２１の底面における周縁部分近傍ではなく、周縁部分から内側に離れた位置に配設されている場合に極めて有効である。
【００３１】
なお、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではない。例えば、上述した実施の形態では、接着剤として、異方性導電接着剤を用いるものとして説明したが、本発明は、接着剤自体に導電性を必要としない仕様の場合には、非導電性フィルム（Non-conductive Film；ＮＣＦ）や、硬化性樹脂をバインダとする非導電性ペースト（Non-conductive Paste；ＮＣＰ）等、任意の接着剤を用いてもよい。
【００３２】
また、上述した実施の形態にて示した各部の大きさは具体例であり、本発明は、かかる値に限定されるものではない。
【００３３】
このように、本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能であることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１（Ａ）】本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する平面図である。
【図１（Ｂ）】本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する断面図である。
【図２】本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板が撓んだ様子を説明するための図である。
【図３】本発明の実施の形態として示すフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する平面図であり、逃げ部を設けた様子を説明するための図である。
【図４（Ａ）】従来のフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する平面図である。
【図４（Ｂ）】従来のフレキシブルプリント配線基板の構成を説明する断面図である。
【図５】従来のフレキシブルプリント配線基板が撓んだ様子を説明するための図である。
【符号の説明】
【００３５】
１０ フレキシブルプリント配線基板
１１ ベース材
１２ 配線パターン
１３ オーバーコート層
２１ 半導体ベアチップ
２２ バンプ
３０ 逃げ部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
バンプアレイが形成されたベアチップを実装したフレキシブル配線基板であって、
上記バンプアレイを介して上記ベアチップが電気的に接続された配線が所定のベース材上に形成されているとともに、上記ベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成され、
上記オーバーコート層は、実装された上記ベアチップが上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように設けられていること
を特徴とするフレキシブル配線基板。
【請求項２】
上記バンプアレイを構成する各バンプは、上記ベアチップの実装時に行われる加圧後に当該ベアチップの底面と上記オーバーコート層とが接触しない高さに形成されていること
を特徴とする請求項１記載のフレキシブル配線基板。
【請求項３】
上記ベアチップは、上記バンプアレイを構成する各バンプと、これら各バンプに対向する位置に形成された上記配線とが、所定の接着剤を介して電気的に接続されて実装されていること
を特徴とする請求項１記載のフレキシブル配線基板。
【請求項４】
上記接着剤は、異方性導電接着フィルム、異方性導電接着ペースト、非導電性フィルム、又は、非導電性ペーストのいずれかであること
を特徴とする請求項３記載のフレキシブル配線基板。
【請求項５】
上記オーバーコート層は、上記ベアチップの底面を画定する周縁端部から上記バンプアレイの外側の領域までに延在するように設けられていること
を特徴とする請求項１乃至請求項４のうちいずれか１項記載のフレキシブル配線基板。
【請求項６】
上記ベアチップの底面下の領域であって当該底面を画定する周縁端部のうち少なくとも一部領域に、上記オーバーコート層を延在させない領域が設けられていること
を特徴とする請求項１乃至請求項５のうちいずれか１項記載のフレキシブル配線基板。
【請求項７】
所定のベース材上に配線が形成されているとともに、バンプアレイが形成されたベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成されたフレキシブル配線基板を用意する第１の工程と、
上記バンプアレイを構成するバンプと上記配線とを電気的に接続して上記ベアチップを上記フレキシブル配線基板上に実装する第２の工程とを備え、
上記フレキシブル配線基板は、上記ベアチップが実装されたときに上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように上記オーバーコート層が設けられたものであること
を特徴とするベアチップ実装方法。
【請求項８】
上記第１の工程では、上記オーバーコート層が硬化状態とされた上記フレキシブル配線基板を用意すること
を特徴とする請求項７記載のベアチップ実装方法。
【請求項９】
バンプアレイが形成されたベアチップが実装されるフレキシブル配線基板であって、
上記バンプアレイを介して上記ベアチップが電気的に接続される配線が所定のベース材上に形成されているとともに、上記ベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成され、
上記オーバーコート層は、上記ベアチップが実装されたときに上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように設けられていること
を特徴とするフレキシブル配線基板。
【請求項１０】
上記オーバーコート層は、硬化状態とされていること
を特徴とする請求項９記載のフレキシブル配線基板。
【請求項１】
バンプアレイが形成されたベアチップを実装したフレキシブル配線基板であって、
上記バンプアレイを介して上記ベアチップが電気的に接続された配線が所定のベース材上に形成されているとともに、上記ベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成され、
上記オーバーコート層は、実装された上記ベアチップが上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように設けられていること
を特徴とするフレキシブル配線基板。
【請求項２】
上記バンプアレイを構成する各バンプは、上記ベアチップの実装時に行われる加圧後に当該ベアチップの底面と上記オーバーコート層とが接触しない高さに形成されていること
を特徴とする請求項１記載のフレキシブル配線基板。
【請求項３】
上記ベアチップは、上記バンプアレイを構成する各バンプと、これら各バンプに対向する位置に形成された上記配線とが、所定の接着剤を介して電気的に接続されて実装されていること
を特徴とする請求項１記載のフレキシブル配線基板。
【請求項４】
上記接着剤は、異方性導電接着フィルム、異方性導電接着ペースト、非導電性フィルム、又は、非導電性ペーストのいずれかであること
を特徴とする請求項３記載のフレキシブル配線基板。
【請求項５】
上記オーバーコート層は、上記ベアチップの底面を画定する周縁端部から上記バンプアレイの外側の領域までに延在するように設けられていること
を特徴とする請求項１乃至請求項４のうちいずれか１項記載のフレキシブル配線基板。
【請求項６】
上記ベアチップの底面下の領域であって当該底面を画定する周縁端部のうち少なくとも一部領域に、上記オーバーコート層を延在させない領域が設けられていること
を特徴とする請求項１乃至請求項５のうちいずれか１項記載のフレキシブル配線基板。
【請求項７】
所定のベース材上に配線が形成されているとともに、バンプアレイが形成されたベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成されたフレキシブル配線基板を用意する第１の工程と、
上記バンプアレイを構成するバンプと上記配線とを電気的に接続して上記ベアチップを上記フレキシブル配線基板上に実装する第２の工程とを備え、
上記フレキシブル配線基板は、上記ベアチップが実装されたときに上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように上記オーバーコート層が設けられたものであること
を特徴とするベアチップ実装方法。
【請求項８】
上記第１の工程では、上記オーバーコート層が硬化状態とされた上記フレキシブル配線基板を用意すること
を特徴とする請求項７記載のベアチップ実装方法。
【請求項９】
バンプアレイが形成されたベアチップが実装されるフレキシブル配線基板であって、
上記バンプアレイを介して上記ベアチップが電気的に接続される配線が所定のベース材上に形成されているとともに、上記ベアチップを実装する実装領域にショート防止用のオーバーコート層が設けられて構成され、
上記オーバーコート層は、上記ベアチップが実装されたときに上記ベース材と向き合う面である当該ベアチップの底面下の領域であって上記配線と上記ベアチップとによって形成される間隙に延在するように設けられていること
を特徴とするフレキシブル配線基板。
【請求項１０】
上記オーバーコート層は、硬化状態とされていること
を特徴とする請求項９記載のフレキシブル配線基板。
【図１（Ａ）】
【図１（Ｂ）】
【図２】
【図３】
【図４（Ａ）】
【図４（Ｂ）】
【図５】
【図１（Ｂ）】
【図２】
【図３】
【図４（Ａ）】
【図４（Ｂ）】
【図５】
【公開番号】特開２００９−７１１５９（Ｐ２００９−７１１５９Ａ）
【公開日】平成２１年４月２日（２００９．４．２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−２３９５９２（Ｐ２００７−２３９５９２）
【出願日】平成１９年９月１４日（２００７．９．１４）
【出願人】（０００１０８４１０）ソニーケミカル＆インフォメーションデバイス株式会社 (595)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年４月２日（２００９．４．２）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年９月１４日（２００７．９．１４）
【出願人】（０００１０８４１０）ソニーケミカル＆インフォメーションデバイス株式会社 (595)
【Ｆターム（参考）】
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