インターフェイス回路およびそれを備える表示装置
【課題】波形整形回路の周波数特性の測定を可能にする。
【解決手段】波形整形回路１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰを波形整形する。出力切換回路１２は、通常モードのときには、波形整形回路１１からの整形差動信号ＳＰ，ＳＮを２値化して出力する。一方、出力切換回路１２は、テストモードのときには、波形整形回路１１からの整形差動信号ＳＮ，ＳＰを正弦波信号として出力する。
【解決手段】波形整形回路１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰを波形整形する。出力切換回路１２は、通常モードのときには、波形整形回路１１からの整形差動信号ＳＰ，ＳＮを２値化して出力する。一方、出力切換回路１２は、テストモードのときには、波形整形回路１１からの整形差動信号ＳＮ，ＳＰを正弦波信号として出力する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、インターフェイス回路およびそれを備える表示装置に関し、さらに詳しくは、インターフェイス回路に搭載された波形整形回路の機能検査に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、データ伝送技術において、受信装置にはイコライズ回路やＡＧＣ回路などの波形整形回路が搭載されている。このような波形整形回路は、ケーブル等の伝送経路において減衰した信号振幅を元の状態に戻すために、受信信号の波形を整形する。このように、波形整形回路が正常に機能することにより、受信信号を正確に処理することが可能となる。近年、デジタルテレビやＤＶＤレコーダ等のデジタルＡＶ分野をはじめ様々な技術分野において、ＨＤＭＩに代表される高速デジタル伝送技術が発展し、高周波数帯域（例えば、１ＧＨｚを超える周波数帯域）でデータ信号が伝送されるようになった。このような送信周波数の高速化に伴って、伝送経路における信号振幅の減衰も激しくなっている。そのため、波形整形回路の機能検査がますます重要になっている。
【０００３】
特開２００７−６００７２号公報（特許文献１）には、受信信号の振幅マージンを確認することができる出力バッファ回路が開示されている。
【特許文献１】特開２００７−６００７２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載の出力バッファ回路では、波形整形回路の振幅を測定することはできるが、波形整形回路の周波数特性を測定することができなかった。波形整形回路が設計通りに動作することを検査するためには、波形整形回路の周波数特性を測定し、その周波数特性に基づいて設計期待値との差異を確認することが大変重要である。
【０００５】
そこで、この発明は、波形整形回路の周波数特性を測定することができるインターフェイス回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明の１つの局面に従うと、インターフェイス回路は、通常モードとテストモードとを有するインターフェイス回路であって、入力信号の波形を整形して整形信号として出力する波形整形回路と、上記波形整形回路からの整形信号に応答して出力信号を出力し、上記通常モードでは上記出力信号の振幅を飽和状態にする一方、上記テストモードでは上記出力信号の振幅を非飽和状態にする出力切換回路とを備える。
【０００７】
上記インターフェイス回路では、通常モードにおいて出力切換回路が出力信号の振幅を飽和状態にすることにより、入力信号に対応するデジタル信号を出力することができる。また、テストモードにおいて出力切換回路が出力信号の振幅を非飽和状態にすることにより、波形整形回路の周波数特性を測定するためのアナログ信号を出力することができる。
【０００８】
また、上記波形整形回路の周波数特性は、可変であり、外部制御により設定可能であることが好ましい。このように構成することにより、波形整形回路の動的な周波数特性を確認することができる。
【発明の効果】
【０００９】
以上のように、テストモードにおいて出力切換回路が出力信号の振幅を非飽和状態にすることにより、イコライズ回路の周波数特性を測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、この発明の実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一の符号を付しその説明は繰り返さない。
【００１１】
図１は、この発明の実施形態によるインターフェイス回路の構成を示す。インターフェイス回路１は、イコライズ回路１１（波形整形回路）と、出力切換回路１２とを備える。このインターフェイス回路１は、通常処理を行う通常モードと、イコライズ回路１１の機能検査を行うテストモードとを切換可能である。通常モードでは、インターフェイス回路１は、伝送経路（例えば、ケーブル等）を介して伝送されたデータ信号（例えば、映像信号など）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとして受け、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの波形を整形し、デジタル信号（振幅が飽和している信号）を出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰとして出力する。一方、テストモードでは、インターフェイス回路１は、テスト信号（例えば、正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとして受け、アナログ信号（振幅が飽和していない信号）を出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰとして出力する。
【００１２】
〔イコライズ回路〕
イコライズ回路１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰのうち特定の周波数帯域（詳しくは、高周波数帯域）を増幅し、整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力する。図２Ａのように、高周波数帯域において入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの振幅が減衰している場合、図２Ｂの実線のように、高周波数帯域におけるゲインが大きくなるようにイコライズ回路１１の周波数特性を設定することにより、図２Ｃのように、所定の周波数帯域において出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が減衰しないように出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を補正することができる。
【００１３】
図２Ｂのように、イコライズ回路１１は、特定の周波数帯域におけるゲイン（詳しくは、ピーク周波数におけるゲイン）が可変である。また、イコライズ回路１１は、イコライズ回路１１のゲインを強制的に設定するための制御信号ＣＴＲＬとモード切換を制御するためのモード制御信号ＭＯＤＥとを受ける。モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合には、イコライズ回路１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量に応じて自己のゲインを自動で調整する。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合には、イコライズ回路１１のゲインは、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインに設定される。このように、イコライズ回路１１は、外部制御により周波数特性を任意に設定できるように構成されている。
【００１４】
図３は、図１に示したイコライズ回路１１の構成例を示す。イコライズ回路１１は、スイッチＳＷ１１，ＳＷ１２と、可変増幅回路１１１と、ハイゲインアンプ（ＨＧＡ）１１２と、アンプ１１３と、ハイパスフィルタ（ＨＰＦ）１１４，１１５と、検出回路１１６とを含む。可変増幅回路１１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰのうち特定の周波数帯域を増幅する。また、可変増幅回路１１１は、特定の周波数帯域におけるゲインが可変である。ハイゲインアンプ１１２は、可変増幅回路１１１からの差動信号を増幅する。アンプ１１３は、ハイゲインアンプ１１２よりも小さいゲイン（例えば、１ｄＢ）で可変増幅回路１１１からの差動信号を増幅する。ハイパスフィルタ１１４，１１５は、可変増幅回路１１１からの差動信号およびハイゲインアンプ１１２からの差動信号から傾き成分をそれぞれ抽出する。検出回路１１６は、ハイパスフィルタ１１４，１１５のそれぞれによって抽出された傾き成分の差を検出する。
【００１５】
モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ１１は、ハイゲインアンプ１１２からの差動信号を整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力し、スイッチＳＷ１２は、検出回路１１６の出力を可変増幅回路１１１に供給する。可変増幅回路１１１は、検出回路１１６によって検出された傾き成分の大きさに対応するゲインで入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰを増幅する。例えば、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量が大きいほど、検出回路１１６によって検出される傾き成分の差が大きくなり、可変増幅回路１１１は、大きなゲインを選択する。このようにして、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量に応じて、イコライズ回路１１のゲインが調整される。
【００１６】
一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ１１は、アンプ１１３からの差動信号を整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力し、スイッチＳＷ１２は、制御信号ＣＴＲＬを可変増幅回路１１１に供給する。可変増幅回路１１１は、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインを選択する。このようにして、イコライズ回路１１のゲインは、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインに設定される。
【００１７】
〔出力切換回路〕
出力切換回路１２は、整形差動信号ＳＮ，ＳＰに応答して出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを出力する。また、出力切換回路１２は、モード制御信号ＭＯＤＥを受ける。
【００１８】
モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合には、出力切換回路１２は、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にする。すなわち、図４Ａのような整形差動信号ＳＮ，ＳＰが出力切換回路１２に供給されると、図４Ｂのように、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰは、デジタル信号（２値化された信号）として出力される。
【００１９】
一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合には、出力切換回路１２は、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にする。すなわち、図４Ａのような整形差動信号ＳＮ，ＳＰが出力切換回路１２に供給されると、図４Ｃのように、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰは、イコライズ回路１１の周波数特性を示すアナログ信号として出力される。
【００２０】
以上のように、通常モードにおいて出力切換回路１２が出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にすることにより、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰに対応するデジタル信号を出力することができる。また、テストモードにおいて出力切換回路１２が出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にすることにより、イコライズ回路１１の周波数特性を測定するためのアナログ信号を出力することができる。これにより、テストモードにおいてイコライズ回路１１の周波数特性を測定することができる。
【００２１】
また、イコライズ回路１１の周波数特性を測定するために、インターフェイス回路１に出力端子対を別途設け、その出力端子対からイコライズ回路１１の整形差動信号ＳＮ，ＳＰを直接取り出すことが考えられる。しかし、この場合、通常モードとテストモードとで異なる出力端子対を使用することになり、インターフェイス回路の動作条件が異なってしまうので、イコライズ回路１１の周波数特性を正確に測定することが困難である。一方、この実施形態によるインターフェイス回路１では、別の出力端子対を設ける必要がなく、さらに、通常モードとテストモードとでインターフェイス回路の動作条件を同一にすることができ、イコライズ回路１１の周波数特性を正確に測定することが可能となる。
【００２２】
〔イコライズ回路の機能検査〕
ここで、イコライズ回路１１の機能検査の一例として、イコライズ回路１１のゲイン可変幅の検査について説明する。
【００２３】
まず、テストモードを示すモード制御信号ＭＯＤＥを出力切換回路１２に供給し、インターフェイス回路１をテストモードに設定する。
【００２４】
次に、制御信号ＣＴＲＬによってイコライズ回路１１のゲインを最小値Ｇｍｉｎに設定した後、テスト信号（正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとしてインターフェイス回路１に供給する。出力切換回路１２は、イコライズ回路１１からの整形差動信号ＳＮ，ＳＰを受け、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを出力する。この出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを測定することにより、イコライズ回路１１の周波数特性（詳しくは、イコライズ回路１１のゲイン最小値Ｇｍｉｎ）を得ることができる。
【００２５】
次に、制御信号ＣＴＲＬによってイコライズ回路１１のゲインを最大値Ｇｍａｘに設定した後、テスト信号（正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとしてインターフェイス回路１に供給する。次に、インターフェイス回路１からの出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを測定することにより、イコライズ回路１１の周波数特性（詳しくは、イコライズ回路１１のゲイン最大値Ｇｍａｘ）を得ることができる。
【００２６】
次に、イコライズ回路１１のゲイン最小値Ｇｍｉｎおよびゲイン最大値Ｇｍａｘの差分を求めることにより、イコライズ回路１１のゲイン可変幅を測定ことができる。このように、イコライズ回路１１の動的な周波数特性を測定することができる。
【００２７】
なお、通常モードにおいてイコライズ回路１１がゲインの自動調整を行うものとして説明したが、通常モードにおいてイコライズ回路１１のゲインが所定のゲイン（例えば、外部制御によって設定されたゲイン）に固定されていても良い。イコライズ回路１１がゲインの自動調整を行わない場合であっても、イコライズ回路１１のゲインが可変であり、制御信号ＣＴＲＬによってイコライズ回路１１のゲインを強制的に設定できるのであれば、上述の検査を行うことにより、イコライズ回路１１の動的な周波数特性（例えば、ゲイン可変幅）を測定することが可能である。
【００２８】
（波形整形回路）
なお、図１に示したインターフェイス回路では、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの波形を整形する波形整形回路の一例としてイコライズ回路１１を挙げたが、波形整形回路は、ＡＧＣ回路であっても良いし、ハイパスフィルタ，ローパスフィルタ，バンドパスフィルタや、これらの組合せであっても良い。
【００２９】
また、イコライズ回路１１のように、波形整形回路の周波数特性は、可変であっても良い。この場合、波形整形回路の周波数特性が外部制御により設定可能であることが好ましい。このように構成すれば、波形整形回路の動的な周波数特性を測定することができる。
【００３０】
〔ＡＧＣ回路〕
ＡＧＣ回路は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰのうち特定の周波数帯域（詳しくは、低周波数帯域）を増幅し、整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力する。また、図５のように、ＡＧＣ回路は、特定の周波数帯域におけるゲインが可変である。
【００３１】
図６は、波形整形回路の一例であるＡＧＣ回路の構成例を示す。ＡＧＣ回路２１は、スイッチＳＷ２１，ＳＷ２２と、可変増幅回路２１１と、ハイゲインアンプ（ＨＧＡ）２１２と、アンプ２１３と、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２１４，２１５と、検出回路２１６とを含む。可変増幅回路２１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰのうち特定の周波数帯域を増幅する。また、可変増幅回路２１１は、特定の周波数帯域におけるゲインが可変である。ハイゲインアンプ２１２は、可変増幅回路２１１からの差動信号を増幅する。アンプ２１３は、ハイゲインアンプ２１２よりも小さいゲイン（例えば、１ｄＢ）で可変増幅回路２１１からの差動信号を増幅する。ローパスフィルタ２１４，２１５は、可変増幅回路２１１からの差動信号およびハイゲインアンプ２１２からの差動信号から振幅成分をそれぞれ抽出する。検出回路２１６は、ローパスフィルタ２１４，２１５のそれぞれによって抽出された振幅成分の差を検出する。
【００３２】
モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ２１は、ハイゲインアンプ２１２からの差動信号を整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力し、スイッチＳＷ２２は、検出回路２１６の出力を可変増幅回路２１１に供給する。可変増幅回路２１１は、検出回路２１６によって検出された振幅成分の大きさに対応するゲインで入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰを増幅する。例えば、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量が大きいほど、検出回路２１６によって検出される振幅成分の差が大きくなり、可変増幅回路２１１は、大きなゲインを選択する。このようにして、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量に応じて、ＡＧＣ回路２１のゲインが調整される。
【００３３】
一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ２１は、アンプ２１３からの差動信号を整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力し、スイッチＳＷ２２は、制御信号ＣＴＲＬを可変増幅回路２１１に供給する。可変増幅回路２１１は、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインを選択する。このようにして、ＡＧＣ回路２１のゲインは、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインに設定される。
【００３４】
〔ＡＧＣ回路の機能検査〕
ここで、ＡＧＣ回路２１の機能検査の一例として、ＡＧＣ回路２１のゲイン可変幅の検査について説明する。ＡＧＣ回路２１のゲイン可変幅を検査する場合も、イコライズ回路１１の検査と同様に、インターフェイス回路１をテストモードに設定した後、制御信号ＣＴＲＬによってＡＧＣ回路２１のゲインを最小値Ｇｍｉｎ，最大値Ｇｍａｘに設定し、テスト信号（正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとしてインターフェイス回路１に供給することにより、それぞれの設定についてＡＧＣ回路２１の周波数特性を示す出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを得ることができる。これにより、ＡＧＣ回路２１のゲイン可変幅を測定することができる。
【００３５】
（出力切換回路の構成例１）
図７は、図１に示した出力切換回路１２の構成例１を示す。出力切換回路１２は、増幅回路１０１，１０２と、電源電圧ＶＤＤを受ける電源ノードに一方端が接続された負荷抵抗ＲＮ，ＲＰとを含む。
【００３６】
増幅回路１０１は、接地電圧ＶＳＳを受ける接地ノードに一方端が接続されたスイッチＳＷ１０１と、電流源ＣＳ１０１と、波形整形回路１１からの整形差動信号ＳＮ，ＳＰを電流対に変換するための入力トランジスタＴＮ，ＴＰとを含む。モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ１０１はオン状態になり、増幅回路１０１は駆動状態になる。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ１０１はオフ状態になり、増幅回路１０１は停止状態になる。
【００３７】
増幅回路１０２は、接地電圧ＶＳＳを受ける接地ノードに一方端が接続されたスイッチＳＷ１０２と、電流源ＣＳ１０２と、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと、抵抗Ｒ１０１，Ｒ１０２とを含む。モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ１０２はオフ状態になり、増幅回路１０２は駆動状態になる。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ１０１はオン状態になり、増幅回路１０２は駆動状態になる。
【００３８】
増幅回路１０２には抵抗Ｒ１０１，Ｒ１０２が設けられているので、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと電流源ＣＳ１０２との間における抵抗値は、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと電流源ＣＳ１０１との間における抵抗値よりも大きい。そのため、増幅回路１０２のゲインは、増幅回路１０１のゲインよりも小さい。ここでは、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が飽和状態になるように増幅回路１０１のゲイン（第１のゲイン）が設定され、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が非飽和状態になるように増幅回路１０２のゲイン（第２のゲイン）が設定される。
【００３９】
このように、通常モードでは、増幅回路１０１が駆動状態になり第１のゲインで整形差動信号ＳＮ，ＳＰを増幅することにより、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を出力することができる。また、テストモードでは、増幅回路１０２が駆動状態になり第２のゲインで整形差動信号ＳＮ，ＳＰを増幅することにより、非飽和状態の出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを出力することができる。
【００４０】
なお、増幅回路１０２の駆動能力を上昇させるために、電流源ＣＳ１０２の電流量を電流源ＣＳ１０１の電流量よりも多くしても良い。例えば、電流源ＣＳ１０１の電流量を“１０ｍＡ”，電流源ＣＳ１０２の電流量を“２０ｍＡ”に設定しても良い。このように設定することにより、テストモードにおける出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅減衰を抑制することができ、イコライズ回路１１の周波数特性を正確に測定することが可能となる。
【００４１】
（出力切換回路の構成例２）
図８は、図１に示した出力切換回路の構成例２を示す。図８に示した出力切換回路２２は、図７に示した増幅回路１０１，１０２に代えて、増幅回路２０１を含む。増幅回路２０１は、図７に示した入力トランジスタＴＮ，ＴＰと、電流源ＣＳ２０１と、可変抵抗部２０２とを含む。
【００４２】
可変抵抗部２０２は、例えば、抵抗Ｒ２０１，Ｒ２０２，スイッチＳＷ２０１，ＳＷ２０２によって構成される。モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ２０１，２０２はオン状態になり、入力トランジスタＴＮ，ＴＰのそれぞれのソースは、電流源ＣＳ２０１に短絡される。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ２０１，２０２はオフ状態になる。このように、可変抵抗部２０２は、モード制御信号ＭＯＤＥに応答して抵抗値が可変であり、可変抵抗部２０２の抵抗値は、通常モードであるときよりもテストモードであるときの方が大きい。
【００４３】
モード制御信号ＭＯＤＥに応答して可変抵抗部２０２の抵抗値が変化するので、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと電流源ＣＳ１０２との間における抵抗値は、通常モードであるときよりもテストモードであるときの方が大きくなる。そのため、増幅回路２０１のゲインは、通常モードであるときよりもテストモードであるときの方が小さくなる。ここでは、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が飽和状態になるように増幅回路２０１の通常モードにおけるゲインが設定され、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が非飽和状態になるように増幅回路２０１のテストモードにおけるゲインが設定される。
【００４４】
このように、モード切換に応答して増幅回路２０１のゲインが切り換えられることにより、通常モードにおいて出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にすることができ、テストモードにおいて出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にすることができる。
【００４５】
なお、モード制御信号ＭＯＤＥに応答して電流量を変更することができるように電流源ＣＳ２０１を構成しても良い。この場合、テストモードにおける電流源ＣＳ２０１の電流量が通常モードにおける電流源ＣＳ２０１の電流量よりも大きくなるように制御すれば、テストモードにおける出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅減衰を抑制することができる。
【００４６】
（出力切換回路の構成例３）
図９は、図１に示した出力切換回路の構成例３を示す。図９に示した出力切換回路３２は、図７に示した増幅回路１０１，１０２に代えて、増幅回路３０１を含む。増幅回路３０１は、図７に示した入力トランジスタＴＮ，ＴＰと、可変電流源ＣＳ３０１とを含む。
【００４７】
可変電流源ＣＳ３０１は、モード制御信号ＭＯＤＥに応答して電流量が可変であり、可変電流源ＣＳ３０１の電流量は、通常モードであるときよりもテストモードであるときの方が小さい。可変電流源ＣＳ３０１の電流量が小さい程、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと可変電流源ＣＳ３０１との間におけるインピーダンスが大きくなるので、増幅回路３０１のゲインが小さくなる。ここでは、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が飽和状態になるように増幅回路３０１の通常モードにおけるゲインが設定され、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が非飽和状態になるように増幅回路３０１のテストモードにおけるゲインが設定される。
【００４８】
このように、モード切換に応答して増幅回路３０１のゲインが切り換えられることにより、通常モードにおいて出力差動信号ＯＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にすることができ、テストモードにおいて出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にすることができる。
【００４９】
（出力切換回路の構成例４）
図１０は、図１に示した出力切換回路の構成例４を示す。図１０に示した出力切換回路４２は、図７に示した増幅回路１０１，１０２に代えて、増幅回路４０１と、クリップ制御回路４０２とを含む。
【００５０】
増幅回路４０１は、図７に示した入力トランジスタＴＮ，ＴＰ，電流源ＣＳ１０１を含む。ここでは、増幅回路４０１からクリップ制御回路４０２へ供給される差動信号の振幅が非飽和状態になるように、増幅回路４０１のゲインが設定される。
【００５１】
クリップ制御回路４０２は、モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合には、増幅回路４０１からの差動信号の振幅が所定の上限値を超えず且つ所定の下限値を下回らないように、増幅回路４０１からの差動信号の振幅を制限する。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合には、クリップ制御回路４０２は、増幅回路４０１からの差動信号の振幅を制限することなく、増幅回路４０１からの差動信号をそのまま出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰとして出力する。
【００５２】
このように、モード切換に応答してクリップ制御回路４０２の動作が切り換えられることにより、通常モードにおいて出力差動信号ＯＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にすることができ、テストモードにおいて出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にすることができる。
【００５３】
なお、出力切換回路４２は、増幅回路４０１に代えて、図７に示した増幅回路１０１，１０２を備えていても良い。この場合、増幅回路１０１から出力される差動信号の振幅が非飽和状態になるように増幅回路１０１のゲインを設定しても良い。同様に、出力切換回路４２が、増幅回路４０１に代えて、図８，図９にそれぞれ示された増幅回路２０１，３０１を備えていても良い。
【００５４】
（表示装置）
図１１のように、図１に示したインターフェイス回路１は、デジタルテレビなどの表示装置に適用可能である。図１１に示した表示装置５は、インターフェイス回路１の他に、映像信号処理回路５１と、ディスプレイなどの表示回路５２とを備える。
【００５５】
インターフェイス回路１は、通常モードであるときには、映像信号を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとして受け、テストモードであるときには、テスト信号（例えば、正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとして受ける。
【００５６】
映像信号処理回路５１は、通常モードにおいてインターフェイス回路１から出力される出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰ（映像信号）を処理し、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰに対応する画像を表示回路５２に表示させる。
【００５７】
以上の実施形態の説明において、インターフェイス回路１が差動信号を処理するものとして説明したが、単一のアナログ信号を処理するものであっても良い。
【００５８】
また、入力トランジスタＴＮ，ＴＰは、ＭＯＳ型トランジスタに限らず、例えば、バイポーラトランジスタであっても良い。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
以上のように、この発明によるインターフェイス回路は、波形整形回路の周波数特性を測定することができるので、表示装置等に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】この発明の実施形態によるインターフェイス回路の構成を示すブロック図。
【図２】図１に示したイコライズ回路の周波数特性について説明するための特性図。
【図３】図１に示したイコライズ回路の構成例を示すブロック図。
【図４】図１に示した出力切換回路の動作について説明するための信号波形図。
【図５】ＡＧＣ回路の周波数特性について説明するための特性図。
【図６】ＡＧＣ回路の構成例を示すブロック図。
【図７】図１に示した出力切換回路の構成例１を示す図。
【図８】図１に示した出力切換回路の構成例２を示す図。
【図９】図１に示した出力切換回路の構成例３を示す図。
【図１０】図１に示した出力切換回路の構成例４を示す図。
【図１１】図１に示したインターフェイス回路を備える表示装置の構成図。
【符号の説明】
【００６１】
１ インターフェイス回路
１１ イコライズ回路
２１ ＡＧＣ回路
１２，２２，３２，４２ 出力切換回路
１０１，１０２，２０１，３０１，４０１ 増幅回路
ＲＮ，ＲＰ 負荷抵抗
ＴＮ，ＴＲ 差動トランジスタ
ＣＳ１０１，ＣＳ１０２ 電流源
ＳＷ１０１，ＳＷ１０２ スイッチ
Ｒ１０１，Ｒ１０２ 抵抗
２０２ 可変抵抗部
ＣＳ２０１ 電流源
ＳＷ２０１，ＳＷ２０２ スイッチ
Ｒ２０１，Ｒ２０２ 抵抗
ＣＳ３０１ 可変電流源
４０２ クリップ制御回路
５ 表示装置
５１ 映像信号処理装置
５２ 表示回路
【技術分野】
【０００１】
この発明は、インターフェイス回路およびそれを備える表示装置に関し、さらに詳しくは、インターフェイス回路に搭載された波形整形回路の機能検査に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、データ伝送技術において、受信装置にはイコライズ回路やＡＧＣ回路などの波形整形回路が搭載されている。このような波形整形回路は、ケーブル等の伝送経路において減衰した信号振幅を元の状態に戻すために、受信信号の波形を整形する。このように、波形整形回路が正常に機能することにより、受信信号を正確に処理することが可能となる。近年、デジタルテレビやＤＶＤレコーダ等のデジタルＡＶ分野をはじめ様々な技術分野において、ＨＤＭＩに代表される高速デジタル伝送技術が発展し、高周波数帯域（例えば、１ＧＨｚを超える周波数帯域）でデータ信号が伝送されるようになった。このような送信周波数の高速化に伴って、伝送経路における信号振幅の減衰も激しくなっている。そのため、波形整形回路の機能検査がますます重要になっている。
【０００３】
特開２００７−６００７２号公報（特許文献１）には、受信信号の振幅マージンを確認することができる出力バッファ回路が開示されている。
【特許文献１】特開２００７−６００７２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載の出力バッファ回路では、波形整形回路の振幅を測定することはできるが、波形整形回路の周波数特性を測定することができなかった。波形整形回路が設計通りに動作することを検査するためには、波形整形回路の周波数特性を測定し、その周波数特性に基づいて設計期待値との差異を確認することが大変重要である。
【０００５】
そこで、この発明は、波形整形回路の周波数特性を測定することができるインターフェイス回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明の１つの局面に従うと、インターフェイス回路は、通常モードとテストモードとを有するインターフェイス回路であって、入力信号の波形を整形して整形信号として出力する波形整形回路と、上記波形整形回路からの整形信号に応答して出力信号を出力し、上記通常モードでは上記出力信号の振幅を飽和状態にする一方、上記テストモードでは上記出力信号の振幅を非飽和状態にする出力切換回路とを備える。
【０００７】
上記インターフェイス回路では、通常モードにおいて出力切換回路が出力信号の振幅を飽和状態にすることにより、入力信号に対応するデジタル信号を出力することができる。また、テストモードにおいて出力切換回路が出力信号の振幅を非飽和状態にすることにより、波形整形回路の周波数特性を測定するためのアナログ信号を出力することができる。
【０００８】
また、上記波形整形回路の周波数特性は、可変であり、外部制御により設定可能であることが好ましい。このように構成することにより、波形整形回路の動的な周波数特性を確認することができる。
【発明の効果】
【０００９】
以上のように、テストモードにおいて出力切換回路が出力信号の振幅を非飽和状態にすることにより、イコライズ回路の周波数特性を測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、この発明の実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一の符号を付しその説明は繰り返さない。
【００１１】
図１は、この発明の実施形態によるインターフェイス回路の構成を示す。インターフェイス回路１は、イコライズ回路１１（波形整形回路）と、出力切換回路１２とを備える。このインターフェイス回路１は、通常処理を行う通常モードと、イコライズ回路１１の機能検査を行うテストモードとを切換可能である。通常モードでは、インターフェイス回路１は、伝送経路（例えば、ケーブル等）を介して伝送されたデータ信号（例えば、映像信号など）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとして受け、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの波形を整形し、デジタル信号（振幅が飽和している信号）を出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰとして出力する。一方、テストモードでは、インターフェイス回路１は、テスト信号（例えば、正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとして受け、アナログ信号（振幅が飽和していない信号）を出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰとして出力する。
【００１２】
〔イコライズ回路〕
イコライズ回路１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰのうち特定の周波数帯域（詳しくは、高周波数帯域）を増幅し、整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力する。図２Ａのように、高周波数帯域において入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの振幅が減衰している場合、図２Ｂの実線のように、高周波数帯域におけるゲインが大きくなるようにイコライズ回路１１の周波数特性を設定することにより、図２Ｃのように、所定の周波数帯域において出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が減衰しないように出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を補正することができる。
【００１３】
図２Ｂのように、イコライズ回路１１は、特定の周波数帯域におけるゲイン（詳しくは、ピーク周波数におけるゲイン）が可変である。また、イコライズ回路１１は、イコライズ回路１１のゲインを強制的に設定するための制御信号ＣＴＲＬとモード切換を制御するためのモード制御信号ＭＯＤＥとを受ける。モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合には、イコライズ回路１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量に応じて自己のゲインを自動で調整する。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合には、イコライズ回路１１のゲインは、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインに設定される。このように、イコライズ回路１１は、外部制御により周波数特性を任意に設定できるように構成されている。
【００１４】
図３は、図１に示したイコライズ回路１１の構成例を示す。イコライズ回路１１は、スイッチＳＷ１１，ＳＷ１２と、可変増幅回路１１１と、ハイゲインアンプ（ＨＧＡ）１１２と、アンプ１１３と、ハイパスフィルタ（ＨＰＦ）１１４，１１５と、検出回路１１６とを含む。可変増幅回路１１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰのうち特定の周波数帯域を増幅する。また、可変増幅回路１１１は、特定の周波数帯域におけるゲインが可変である。ハイゲインアンプ１１２は、可変増幅回路１１１からの差動信号を増幅する。アンプ１１３は、ハイゲインアンプ１１２よりも小さいゲイン（例えば、１ｄＢ）で可変増幅回路１１１からの差動信号を増幅する。ハイパスフィルタ１１４，１１５は、可変増幅回路１１１からの差動信号およびハイゲインアンプ１１２からの差動信号から傾き成分をそれぞれ抽出する。検出回路１１６は、ハイパスフィルタ１１４，１１５のそれぞれによって抽出された傾き成分の差を検出する。
【００１５】
モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ１１は、ハイゲインアンプ１１２からの差動信号を整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力し、スイッチＳＷ１２は、検出回路１１６の出力を可変増幅回路１１１に供給する。可変増幅回路１１１は、検出回路１１６によって検出された傾き成分の大きさに対応するゲインで入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰを増幅する。例えば、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量が大きいほど、検出回路１１６によって検出される傾き成分の差が大きくなり、可変増幅回路１１１は、大きなゲインを選択する。このようにして、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量に応じて、イコライズ回路１１のゲインが調整される。
【００１６】
一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ１１は、アンプ１１３からの差動信号を整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力し、スイッチＳＷ１２は、制御信号ＣＴＲＬを可変増幅回路１１１に供給する。可変増幅回路１１１は、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインを選択する。このようにして、イコライズ回路１１のゲインは、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインに設定される。
【００１７】
〔出力切換回路〕
出力切換回路１２は、整形差動信号ＳＮ，ＳＰに応答して出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを出力する。また、出力切換回路１２は、モード制御信号ＭＯＤＥを受ける。
【００１８】
モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合には、出力切換回路１２は、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にする。すなわち、図４Ａのような整形差動信号ＳＮ，ＳＰが出力切換回路１２に供給されると、図４Ｂのように、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰは、デジタル信号（２値化された信号）として出力される。
【００１９】
一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合には、出力切換回路１２は、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にする。すなわち、図４Ａのような整形差動信号ＳＮ，ＳＰが出力切換回路１２に供給されると、図４Ｃのように、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰは、イコライズ回路１１の周波数特性を示すアナログ信号として出力される。
【００２０】
以上のように、通常モードにおいて出力切換回路１２が出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にすることにより、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰに対応するデジタル信号を出力することができる。また、テストモードにおいて出力切換回路１２が出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にすることにより、イコライズ回路１１の周波数特性を測定するためのアナログ信号を出力することができる。これにより、テストモードにおいてイコライズ回路１１の周波数特性を測定することができる。
【００２１】
また、イコライズ回路１１の周波数特性を測定するために、インターフェイス回路１に出力端子対を別途設け、その出力端子対からイコライズ回路１１の整形差動信号ＳＮ，ＳＰを直接取り出すことが考えられる。しかし、この場合、通常モードとテストモードとで異なる出力端子対を使用することになり、インターフェイス回路の動作条件が異なってしまうので、イコライズ回路１１の周波数特性を正確に測定することが困難である。一方、この実施形態によるインターフェイス回路１では、別の出力端子対を設ける必要がなく、さらに、通常モードとテストモードとでインターフェイス回路の動作条件を同一にすることができ、イコライズ回路１１の周波数特性を正確に測定することが可能となる。
【００２２】
〔イコライズ回路の機能検査〕
ここで、イコライズ回路１１の機能検査の一例として、イコライズ回路１１のゲイン可変幅の検査について説明する。
【００２３】
まず、テストモードを示すモード制御信号ＭＯＤＥを出力切換回路１２に供給し、インターフェイス回路１をテストモードに設定する。
【００２４】
次に、制御信号ＣＴＲＬによってイコライズ回路１１のゲインを最小値Ｇｍｉｎに設定した後、テスト信号（正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとしてインターフェイス回路１に供給する。出力切換回路１２は、イコライズ回路１１からの整形差動信号ＳＮ，ＳＰを受け、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを出力する。この出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを測定することにより、イコライズ回路１１の周波数特性（詳しくは、イコライズ回路１１のゲイン最小値Ｇｍｉｎ）を得ることができる。
【００２５】
次に、制御信号ＣＴＲＬによってイコライズ回路１１のゲインを最大値Ｇｍａｘに設定した後、テスト信号（正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとしてインターフェイス回路１に供給する。次に、インターフェイス回路１からの出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを測定することにより、イコライズ回路１１の周波数特性（詳しくは、イコライズ回路１１のゲイン最大値Ｇｍａｘ）を得ることができる。
【００２６】
次に、イコライズ回路１１のゲイン最小値Ｇｍｉｎおよびゲイン最大値Ｇｍａｘの差分を求めることにより、イコライズ回路１１のゲイン可変幅を測定ことができる。このように、イコライズ回路１１の動的な周波数特性を測定することができる。
【００２７】
なお、通常モードにおいてイコライズ回路１１がゲインの自動調整を行うものとして説明したが、通常モードにおいてイコライズ回路１１のゲインが所定のゲイン（例えば、外部制御によって設定されたゲイン）に固定されていても良い。イコライズ回路１１がゲインの自動調整を行わない場合であっても、イコライズ回路１１のゲインが可変であり、制御信号ＣＴＲＬによってイコライズ回路１１のゲインを強制的に設定できるのであれば、上述の検査を行うことにより、イコライズ回路１１の動的な周波数特性（例えば、ゲイン可変幅）を測定することが可能である。
【００２８】
（波形整形回路）
なお、図１に示したインターフェイス回路では、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの波形を整形する波形整形回路の一例としてイコライズ回路１１を挙げたが、波形整形回路は、ＡＧＣ回路であっても良いし、ハイパスフィルタ，ローパスフィルタ，バンドパスフィルタや、これらの組合せであっても良い。
【００２９】
また、イコライズ回路１１のように、波形整形回路の周波数特性は、可変であっても良い。この場合、波形整形回路の周波数特性が外部制御により設定可能であることが好ましい。このように構成すれば、波形整形回路の動的な周波数特性を測定することができる。
【００３０】
〔ＡＧＣ回路〕
ＡＧＣ回路は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰのうち特定の周波数帯域（詳しくは、低周波数帯域）を増幅し、整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力する。また、図５のように、ＡＧＣ回路は、特定の周波数帯域におけるゲインが可変である。
【００３１】
図６は、波形整形回路の一例であるＡＧＣ回路の構成例を示す。ＡＧＣ回路２１は、スイッチＳＷ２１，ＳＷ２２と、可変増幅回路２１１と、ハイゲインアンプ（ＨＧＡ）２１２と、アンプ２１３と、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２１４，２１５と、検出回路２１６とを含む。可変増幅回路２１１は、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰのうち特定の周波数帯域を増幅する。また、可変増幅回路２１１は、特定の周波数帯域におけるゲインが可変である。ハイゲインアンプ２１２は、可変増幅回路２１１からの差動信号を増幅する。アンプ２１３は、ハイゲインアンプ２１２よりも小さいゲイン（例えば、１ｄＢ）で可変増幅回路２１１からの差動信号を増幅する。ローパスフィルタ２１４，２１５は、可変増幅回路２１１からの差動信号およびハイゲインアンプ２１２からの差動信号から振幅成分をそれぞれ抽出する。検出回路２１６は、ローパスフィルタ２１４，２１５のそれぞれによって抽出された振幅成分の差を検出する。
【００３２】
モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ２１は、ハイゲインアンプ２１２からの差動信号を整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力し、スイッチＳＷ２２は、検出回路２１６の出力を可変増幅回路２１１に供給する。可変増幅回路２１１は、検出回路２１６によって検出された振幅成分の大きさに対応するゲインで入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰを増幅する。例えば、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量が大きいほど、検出回路２１６によって検出される振幅成分の差が大きくなり、可変増幅回路２１１は、大きなゲインを選択する。このようにして、入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰの減衰量に応じて、ＡＧＣ回路２１のゲインが調整される。
【００３３】
一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ２１は、アンプ２１３からの差動信号を整形差動信号ＳＮ，ＳＰとして出力し、スイッチＳＷ２２は、制御信号ＣＴＲＬを可変増幅回路２１１に供給する。可変増幅回路２１１は、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインを選択する。このようにして、ＡＧＣ回路２１のゲインは、制御信号ＣＴＲＬに示されたゲインに設定される。
【００３４】
〔ＡＧＣ回路の機能検査〕
ここで、ＡＧＣ回路２１の機能検査の一例として、ＡＧＣ回路２１のゲイン可変幅の検査について説明する。ＡＧＣ回路２１のゲイン可変幅を検査する場合も、イコライズ回路１１の検査と同様に、インターフェイス回路１をテストモードに設定した後、制御信号ＣＴＲＬによってＡＧＣ回路２１のゲインを最小値Ｇｍｉｎ，最大値Ｇｍａｘに設定し、テスト信号（正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとしてインターフェイス回路１に供給することにより、それぞれの設定についてＡＧＣ回路２１の周波数特性を示す出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを得ることができる。これにより、ＡＧＣ回路２１のゲイン可変幅を測定することができる。
【００３５】
（出力切換回路の構成例１）
図７は、図１に示した出力切換回路１２の構成例１を示す。出力切換回路１２は、増幅回路１０１，１０２と、電源電圧ＶＤＤを受ける電源ノードに一方端が接続された負荷抵抗ＲＮ，ＲＰとを含む。
【００３６】
増幅回路１０１は、接地電圧ＶＳＳを受ける接地ノードに一方端が接続されたスイッチＳＷ１０１と、電流源ＣＳ１０１と、波形整形回路１１からの整形差動信号ＳＮ，ＳＰを電流対に変換するための入力トランジスタＴＮ，ＴＰとを含む。モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ１０１はオン状態になり、増幅回路１０１は駆動状態になる。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ１０１はオフ状態になり、増幅回路１０１は停止状態になる。
【００３７】
増幅回路１０２は、接地電圧ＶＳＳを受ける接地ノードに一方端が接続されたスイッチＳＷ１０２と、電流源ＣＳ１０２と、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと、抵抗Ｒ１０１，Ｒ１０２とを含む。モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ１０２はオフ状態になり、増幅回路１０２は駆動状態になる。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ１０１はオン状態になり、増幅回路１０２は駆動状態になる。
【００３８】
増幅回路１０２には抵抗Ｒ１０１，Ｒ１０２が設けられているので、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと電流源ＣＳ１０２との間における抵抗値は、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと電流源ＣＳ１０１との間における抵抗値よりも大きい。そのため、増幅回路１０２のゲインは、増幅回路１０１のゲインよりも小さい。ここでは、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が飽和状態になるように増幅回路１０１のゲイン（第１のゲイン）が設定され、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が非飽和状態になるように増幅回路１０２のゲイン（第２のゲイン）が設定される。
【００３９】
このように、通常モードでは、増幅回路１０１が駆動状態になり第１のゲインで整形差動信号ＳＮ，ＳＰを増幅することにより、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を出力することができる。また、テストモードでは、増幅回路１０２が駆動状態になり第２のゲインで整形差動信号ＳＮ，ＳＰを増幅することにより、非飽和状態の出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰを出力することができる。
【００４０】
なお、増幅回路１０２の駆動能力を上昇させるために、電流源ＣＳ１０２の電流量を電流源ＣＳ１０１の電流量よりも多くしても良い。例えば、電流源ＣＳ１０１の電流量を“１０ｍＡ”，電流源ＣＳ１０２の電流量を“２０ｍＡ”に設定しても良い。このように設定することにより、テストモードにおける出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅減衰を抑制することができ、イコライズ回路１１の周波数特性を正確に測定することが可能となる。
【００４１】
（出力切換回路の構成例２）
図８は、図１に示した出力切換回路の構成例２を示す。図８に示した出力切換回路２２は、図７に示した増幅回路１０１，１０２に代えて、増幅回路２０１を含む。増幅回路２０１は、図７に示した入力トランジスタＴＮ，ＴＰと、電流源ＣＳ２０１と、可変抵抗部２０２とを含む。
【００４２】
可変抵抗部２０２は、例えば、抵抗Ｒ２０１，Ｒ２０２，スイッチＳＷ２０１，ＳＷ２０２によって構成される。モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合、スイッチＳＷ２０１，２０２はオン状態になり、入力トランジスタＴＮ，ＴＰのそれぞれのソースは、電流源ＣＳ２０１に短絡される。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合、スイッチＳＷ２０１，２０２はオフ状態になる。このように、可変抵抗部２０２は、モード制御信号ＭＯＤＥに応答して抵抗値が可変であり、可変抵抗部２０２の抵抗値は、通常モードであるときよりもテストモードであるときの方が大きい。
【００４３】
モード制御信号ＭＯＤＥに応答して可変抵抗部２０２の抵抗値が変化するので、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと電流源ＣＳ１０２との間における抵抗値は、通常モードであるときよりもテストモードであるときの方が大きくなる。そのため、増幅回路２０１のゲインは、通常モードであるときよりもテストモードであるときの方が小さくなる。ここでは、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が飽和状態になるように増幅回路２０１の通常モードにおけるゲインが設定され、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が非飽和状態になるように増幅回路２０１のテストモードにおけるゲインが設定される。
【００４４】
このように、モード切換に応答して増幅回路２０１のゲインが切り換えられることにより、通常モードにおいて出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にすることができ、テストモードにおいて出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にすることができる。
【００４５】
なお、モード制御信号ＭＯＤＥに応答して電流量を変更することができるように電流源ＣＳ２０１を構成しても良い。この場合、テストモードにおける電流源ＣＳ２０１の電流量が通常モードにおける電流源ＣＳ２０１の電流量よりも大きくなるように制御すれば、テストモードにおける出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅減衰を抑制することができる。
【００４６】
（出力切換回路の構成例３）
図９は、図１に示した出力切換回路の構成例３を示す。図９に示した出力切換回路３２は、図７に示した増幅回路１０１，１０２に代えて、増幅回路３０１を含む。増幅回路３０１は、図７に示した入力トランジスタＴＮ，ＴＰと、可変電流源ＣＳ３０１とを含む。
【００４７】
可変電流源ＣＳ３０１は、モード制御信号ＭＯＤＥに応答して電流量が可変であり、可変電流源ＣＳ３０１の電流量は、通常モードであるときよりもテストモードであるときの方が小さい。可変電流源ＣＳ３０１の電流量が小さい程、入力トランジスタＴＮ，ＴＰと可変電流源ＣＳ３０１との間におけるインピーダンスが大きくなるので、増幅回路３０１のゲインが小さくなる。ここでは、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が飽和状態になるように増幅回路３０１の通常モードにおけるゲインが設定され、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅が非飽和状態になるように増幅回路３０１のテストモードにおけるゲインが設定される。
【００４８】
このように、モード切換に応答して増幅回路３０１のゲインが切り換えられることにより、通常モードにおいて出力差動信号ＯＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にすることができ、テストモードにおいて出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にすることができる。
【００４９】
（出力切換回路の構成例４）
図１０は、図１に示した出力切換回路の構成例４を示す。図１０に示した出力切換回路４２は、図７に示した増幅回路１０１，１０２に代えて、増幅回路４０１と、クリップ制御回路４０２とを含む。
【００５０】
増幅回路４０１は、図７に示した入力トランジスタＴＮ，ＴＰ，電流源ＣＳ１０１を含む。ここでは、増幅回路４０１からクリップ制御回路４０２へ供給される差動信号の振幅が非飽和状態になるように、増幅回路４０１のゲインが設定される。
【００５１】
クリップ制御回路４０２は、モード制御信号ＭＯＤＥが通常モードを示す場合には、増幅回路４０１からの差動信号の振幅が所定の上限値を超えず且つ所定の下限値を下回らないように、増幅回路４０１からの差動信号の振幅を制限する。一方、モード制御信号ＭＯＤＥがテストモードを示す場合には、クリップ制御回路４０２は、増幅回路４０１からの差動信号の振幅を制限することなく、増幅回路４０１からの差動信号をそのまま出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰとして出力する。
【００５２】
このように、モード切換に応答してクリップ制御回路４０２の動作が切り換えられることにより、通常モードにおいて出力差動信号ＯＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を飽和状態にすることができ、テストモードにおいて出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰの振幅を非飽和状態にすることができる。
【００５３】
なお、出力切換回路４２は、増幅回路４０１に代えて、図７に示した増幅回路１０１，１０２を備えていても良い。この場合、増幅回路１０１から出力される差動信号の振幅が非飽和状態になるように増幅回路１０１のゲインを設定しても良い。同様に、出力切換回路４２が、増幅回路４０１に代えて、図８，図９にそれぞれ示された増幅回路２０１，３０１を備えていても良い。
【００５４】
（表示装置）
図１１のように、図１に示したインターフェイス回路１は、デジタルテレビなどの表示装置に適用可能である。図１１に示した表示装置５は、インターフェイス回路１の他に、映像信号処理回路５１と、ディスプレイなどの表示回路５２とを備える。
【００５５】
インターフェイス回路１は、通常モードであるときには、映像信号を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとして受け、テストモードであるときには、テスト信号（例えば、正弦波信号）を入力差動信号ＩＮＮ，ＩＮＰとして受ける。
【００５６】
映像信号処理回路５１は、通常モードにおいてインターフェイス回路１から出力される出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰ（映像信号）を処理し、出力差動信号ＯＵＴＮ，ＯＵＴＰに対応する画像を表示回路５２に表示させる。
【００５７】
以上の実施形態の説明において、インターフェイス回路１が差動信号を処理するものとして説明したが、単一のアナログ信号を処理するものであっても良い。
【００５８】
また、入力トランジスタＴＮ，ＴＰは、ＭＯＳ型トランジスタに限らず、例えば、バイポーラトランジスタであっても良い。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
以上のように、この発明によるインターフェイス回路は、波形整形回路の周波数特性を測定することができるので、表示装置等に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】この発明の実施形態によるインターフェイス回路の構成を示すブロック図。
【図２】図１に示したイコライズ回路の周波数特性について説明するための特性図。
【図３】図１に示したイコライズ回路の構成例を示すブロック図。
【図４】図１に示した出力切換回路の動作について説明するための信号波形図。
【図５】ＡＧＣ回路の周波数特性について説明するための特性図。
【図６】ＡＧＣ回路の構成例を示すブロック図。
【図７】図１に示した出力切換回路の構成例１を示す図。
【図８】図１に示した出力切換回路の構成例２を示す図。
【図９】図１に示した出力切換回路の構成例３を示す図。
【図１０】図１に示した出力切換回路の構成例４を示す図。
【図１１】図１に示したインターフェイス回路を備える表示装置の構成図。
【符号の説明】
【００６１】
１ インターフェイス回路
１１ イコライズ回路
２１ ＡＧＣ回路
１２，２２，３２，４２ 出力切換回路
１０１，１０２，２０１，３０１，４０１ 増幅回路
ＲＮ，ＲＰ 負荷抵抗
ＴＮ，ＴＲ 差動トランジスタ
ＣＳ１０１，ＣＳ１０２ 電流源
ＳＷ１０１，ＳＷ１０２ スイッチ
Ｒ１０１，Ｒ１０２ 抵抗
２０２ 可変抵抗部
ＣＳ２０１ 電流源
ＳＷ２０１，ＳＷ２０２ スイッチ
Ｒ２０１，Ｒ２０２ 抵抗
ＣＳ３０１ 可変電流源
４０２ クリップ制御回路
５ 表示装置
５１ 映像信号処理装置
５２ 表示回路
【特許請求の範囲】
【請求項１】
通常モードとテストモードとを有するインターフェイス回路であって、
入力信号の波形を整形して整形信号として出力する波形整形回路と、
前記波形整形回路からの整形信号に応答して出力信号を出力し、前記通常モードでは前記出力信号の振幅を飽和状態にする一方、前記テストモードでは前記出力信号の振幅を非飽和状態にする出力切換回路とを備える
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項２】
請求項１において、
前記出力切換回路は、
前記通常モードにおいて駆動状態になり、第１のゲインで前記整形信号を増幅して前記出力信号を出力する第１の増幅回路と、
前記テストモードにおいて駆動状態になり、前記第１のゲインよりも小さい第２のゲインで前記整形信号を増幅して前記出力信号を出力する第２の増幅回路とを含む
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項３】
請求項１において、
前記出力切換回路は、
電流源と、
前記電流源と前記出力信号を出力するための出力ノードとの間に接続され、前記波形整形回路からの整形信号を電流に変換する入力トランジスタと、
前記出力ノードに接続される負荷抵抗と、
前記電流源と前記入力トランジスタとの間に介在し、モード切換に応答して抵抗値が可変であり、前記テストモードにおける抵抗値が前記通常モードにおける抵抗値よりも大きい可変抵抗部とを含む
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項４】
請求項１において、
前記出力切換回路は、
モード切換に応答して電流量が可変であり、前記テストモードにおける電流量が前記通常モードにおける電流量よりも小さい可変電流源と、
前記電流源と前記出力信号を出力するための出力ノードとの間に接続され、前記波形整形回路からの整形信号を電流に変換する入力トランジスタと、
前記出力ノードに接続される負荷抵抗とを含む
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項５】
請求項１において、
前記出力切換回路は、
前記波形整形回路からの整形信号を増幅する増幅回路と、
前記通常モードでは前記増幅回路の出力振幅を制限して前記増幅回路の出力を前記出力信号として出力する一方、前記テストモードでは前記増幅回路の出力振幅を制限せずに前記増幅回路の出力を前記出力信号として出力するクリップ制御回路とを含む
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項において、
前記波形整形回路の周波数特性は、可変であり、外部制御により設定可能である
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか１項に記載のインターフェイス回路と、
映像信号処理回路と、
表示回路とを備え、
前記インターフェイス回路は、前記通常モードでは映像信号を前記入力信号として受け、前記テストモードではテスト信号を前記入力信号として受け、
前記映像信号処理回路は、前記通常モードにおいて前記インターフェイス回路から出力される出力信号を処理し、前記出力信号に対応する画像を前記表示回路に表示させる
ことを特徴とする表示装置。
【請求項１】
通常モードとテストモードとを有するインターフェイス回路であって、
入力信号の波形を整形して整形信号として出力する波形整形回路と、
前記波形整形回路からの整形信号に応答して出力信号を出力し、前記通常モードでは前記出力信号の振幅を飽和状態にする一方、前記テストモードでは前記出力信号の振幅を非飽和状態にする出力切換回路とを備える
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項２】
請求項１において、
前記出力切換回路は、
前記通常モードにおいて駆動状態になり、第１のゲインで前記整形信号を増幅して前記出力信号を出力する第１の増幅回路と、
前記テストモードにおいて駆動状態になり、前記第１のゲインよりも小さい第２のゲインで前記整形信号を増幅して前記出力信号を出力する第２の増幅回路とを含む
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項３】
請求項１において、
前記出力切換回路は、
電流源と、
前記電流源と前記出力信号を出力するための出力ノードとの間に接続され、前記波形整形回路からの整形信号を電流に変換する入力トランジスタと、
前記出力ノードに接続される負荷抵抗と、
前記電流源と前記入力トランジスタとの間に介在し、モード切換に応答して抵抗値が可変であり、前記テストモードにおける抵抗値が前記通常モードにおける抵抗値よりも大きい可変抵抗部とを含む
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項４】
請求項１において、
前記出力切換回路は、
モード切換に応答して電流量が可変であり、前記テストモードにおける電流量が前記通常モードにおける電流量よりも小さい可変電流源と、
前記電流源と前記出力信号を出力するための出力ノードとの間に接続され、前記波形整形回路からの整形信号を電流に変換する入力トランジスタと、
前記出力ノードに接続される負荷抵抗とを含む
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項５】
請求項１において、
前記出力切換回路は、
前記波形整形回路からの整形信号を増幅する増幅回路と、
前記通常モードでは前記増幅回路の出力振幅を制限して前記増幅回路の出力を前記出力信号として出力する一方、前記テストモードでは前記増幅回路の出力振幅を制限せずに前記増幅回路の出力を前記出力信号として出力するクリップ制御回路とを含む
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項において、
前記波形整形回路の周波数特性は、可変であり、外部制御により設定可能である
ことを特徴とするインターフェイス回路。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか１項に記載のインターフェイス回路と、
映像信号処理回路と、
表示回路とを備え、
前記インターフェイス回路は、前記通常モードでは映像信号を前記入力信号として受け、前記テストモードではテスト信号を前記入力信号として受け、
前記映像信号処理回路は、前記通常モードにおいて前記インターフェイス回路から出力される出力信号を処理し、前記出力信号に対応する画像を前記表示回路に表示させる
ことを特徴とする表示装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【公開番号】特開２００９−１５９５０１（Ｐ２００９−１５９５０１Ａ）
【公開日】平成２１年７月１６日（２００９．７．１６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−３３７６９８（Ｐ２００７−３３７６９８）
【出願日】平成１９年１２月２７日（２００７．１２．２７）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年７月１６日（２００９．７．１６）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年１２月２７日（２００７．１２．２７）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
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