発振器制御装置
【課題】安定した位相雑音特性を高速に得ることができる発振器制御装置を提供する。
【解決手段】動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源１４を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器１と、前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部（２，３，４）と、前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタ６と、前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部７と、を備え、前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極大値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力する。
【解決手段】動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源１４を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器１と、前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部（２，３，４）と、前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタ６と、前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部７と、を備え、前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極大値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発振器制御装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、アナログ設計には、デジタルと同じプロセスの使用、及び低電圧での動作が要求されている。そのため、従来と同等の安定性を得ることが困難になってきている。ＲＦ（Radio Frequency：無線周波）通信装置の回路構成部品の１つであるＶＣＯ（Voltage Controlled Oscillator：電圧制御発振器）には、プロセス及び環境変動に対する特性の安定化が求められる。通信特性を保証する上で、安定した位相雑音特性を実現することが特に重要であると言える。
【０００３】
電圧制御発振器は制御電圧を固定した状態において、動作電流の変化に伴い発振周波数が変化する。このとき、位相雑音特性を同時に観測すると、発振周波数が極大となった電流値において位相雑音が最小となる関係があることが知られている。
【０００４】
このような関係を利用して、動作電流を変化させながら電圧制御発振器の発振周波数をカウンタ等で検出し、発振周波数が極大値となる動作電流の値を抽出し、実使用時にこの抽出した値を動作電流に設定する動作電流調整装置が提案されている（例えば特許文献１参照）。
【０００５】
しかし、必要とする検出器の周波数分解能を達成するためには長い検出時間が必要となる。そのため、安定した位相雑音特性を得ることに時間がかかるという問題を有していた。
【特許文献１】特開２００７−２５１２２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は安定した位相雑音特性を高速に得ることができる発振器制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様による発振器制御装置は、動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器と、前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部と、前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタと、前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部と、を備え、前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極大値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力するものである。
【０００８】
また、本発明の一態様による発振器制御装置は、動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器と、前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部と、前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタと、前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部と、を備え、前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極小値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力するものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、安定した位相雑音特性を高速に得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施の形態による発振器制御装置を図面に基づいて説明する。
【００１１】
図１に本発明の実施形態に係る発振器制御装置の概略構成を示す。発振器制御装置はデジタル制御発振器（以下ＤＣＯ）１、カウンタ２、ＴＤＣ（Time to Digital Converter）３、加算器４、減算器５、デジタルフィルタ６、及び制御部７を備え、ＡＤＰＬＬ（All Digital Phased Locked Loop）の構成になっている。ＤＣＯ１は外部制御信号により離散的に発振周波数が制御可能な発振器である。
【００１２】
カウンタ２はＤＣＯ１の出力（発振信号）と基準信号Ｒｅｆとの位相差を算出する。ＴＤＣ３はＤＣＯ１の出力と基準信号Ｒｅｆとの位相差をカウンタ２より細かい精度で、デジタル表現できる時間計測デバイスである。加算器４はカウンタ２の出力とＴＤＣ３の出力とを加算して、加算値を減算器５へ出力する。カウンタ２、ＴＤＣ３、及び加算器４によりＤＣＯ１から出力される発振信号と基準信号Ｒｅｆとの位相差が算出されることになる。
【００１３】
減算器５は加算器４から出力される加算値と、周波数設定値ＦＣＷ（Frequency Command Word：周波数命令ワード）との差分を算出し、差分値をデジタルフィルタ６へ出力する。周波数設定値ＦＣＷは基準周波数当たりの位相変化量である。
【００１４】
デジタルフィルタ６は与えられた差分値を平滑化し、ＤＣＯ１の発振周波数を制御する信号ＯＴＷ（Oscillator Tuning Word：発振器調整ワード）を出力する。信号ＯＴＷはＤＣＯ１及び制御部７に与えられる。制御部７はＤＣＯ１に含まれる可変電流源１４へ動作電流制御信号を出力する。可変電流源１４は動作電流制御信号に応じた動作電流（バイアス電流）をＤＣＯ１に供給する。
【００１５】
ＤＣＯ１の発振周波数が周波数制御値ＦＣＷで設定される値から大きく（小さく）なった場合、減算器５で算出された差分値に基づき、デジタルフィルタ６からＤＣＯ１へ発振周波数を下げる（上げる）よう制御する信号ＯＴＷが出力される。このようにしてＤＣＯ１の発振周波数が一定となるような制御が行われる。
【００１６】
各信号及び制御値の一例を図２に示す。例えば基準信号Ｒｅｆの周波数を４０ＭＨｚ、ＤＣＯ１の発振周波数を２４００ＭＨｚとすると、このＡＤＰＬＬは４０ＭＨｚで動作していることになり、周波数制御値ＦＣＷが１変化することは、ＤＣＯ１の出力周波数が４０ＭＨｚ変化することに相当する。
【００１７】
フィードバックが正常に動作していれば、周波数制御値ＦＣＷが６０のとき、ＤＣＯ１の出力周波数は２４００ＭＨｚであり、基準信号Ｒｅｆの１周期毎のカウンタ２の出力はほぼ６０となる。このカウンタ２の出力にＴＤＣ３で算出した位相差Δを加えた位相６０±Δは平均６０となる。
【００１８】
図３にＤＣＯ１の構成の一例を示す。ＤＣＯ１はインダクタ１０、１１、ｎ個（ｎは２以上の整数）のキャパシタＣ１〜Ｃｎ、ｎＭＯＳトランジスタ１２、１３、及び可変電流源１４を有する。可変電流源１４は制御部７から出力される動作電流制御信号が与えられ、これに応じた動作電流（バイアス電流）を供給する。
【００１９】
キャパシタＣ１〜Ｃｎは並列に接続されたＭＯＳ型のキャパシタである。ｎビットの信号ＯＴＷの各ビットの値により、キャパシタＣ１〜Ｃｎの各々のバックゲート電圧が制御される。
【００２０】
例えば信号ＯＴＷの１つのビットが１のとき、対応するキャパシタのバックゲート電圧が増加し、容量値が増加する。また、信号ＯＴＷの１つのビットが０のとき、対応するキャパシタのバックゲート電圧が減少し、容量値が減少する。信号ＯＴＷの値によりキャパシタＣ１〜Ｃｎの合成容量値が切り替えられ、ＤＣＯ１の発振周波数を変化させることができる。
【００２１】
信号ＯＴＷの値とＤＣＯ１の発振周波数Ｆｄｃｏとは図４に示すような関係を有する。信号ＯＴＷの値が大きくなると、容量値が増加したキャパシタが増えるため、合成容量値が増加し、発振周波数が低下する。このようにＤＣＯ１は信号ＯＴＷにより制御可能な離散的な出力周波数を有する発振器である。
【００２２】
次に、一般的なＤＣＯのバイアス電流と発振周波数の関係、及びバイアス電流と位相雑音の関係について説明する。図５（ａ）にＤＣＯのバイアス電流と発振周波数の関係、図５（ｂ）にバイアス電流と位相雑音の関係を示す。
【００２３】
図５に示すように、バイアス電流を変化させると発振周波数が変化する。このとき、位相雑音特性を同時に観測すると、発振周波数が極大となった電流値において、位相雑音が最小となることがわかる。すなわち、発振周波数が極大となった電流値において、最も位相雑音特性が良好になる。
【００２４】
続いて、図１に示すようなＡＤＰＬＬにおけるＤＣＯ１のバイアス電流と信号ＯＴＷの値の関係、及びバイアス電流と位相雑音の関係について説明する。図６（ａ）にＤＣＯ１のバイアス電流とＤＣＯ１に与えられる信号ＯＴＷの値の関係、図６（ｂ）にバイアス電流と位相雑音の関係を示す。
【００２５】
上述のようにＡＤＰＬＬにおけるＤＣＯ１では発振周波数が一定となるような制御が行われる。そのため、バイアス電流の変化に伴う発振周波数の変化を抑制（補正）するように信号ＯＴＷの値が変化する。
【００２６】
例えば、バイアス電流の変化に伴って発振周波数が大きくなる場合、信号ＯＴＷの値は発振周波数を小さくするように変化する。すなわち信号ＯＴＷの値が増加する。また、バイアス電流の変化に伴って発振周波数が小さくなる場合、信号ＯＴＷの値は発振周波数を大きくするように変化する。すなわち信号ＯＴＷの値が減少する。
【００２７】
従って、図６（ａ）に示すように、ＤＣＯの発振周波数が極大値となるバイアス電流のときに、発振周波数を一定にするため信号ＯＴＷの値は極大値をとる。このとき、位相雑音特性を同時に観測すると、信号ＯＴＷの値が極大となった電流値において、位相雑音が最小となることがわかる。すなわち、信号ＯＴＷの値が極大となった電流値において、最も位相雑音特性が良好になる。信号ＯＴＷの値はバイアス電流の変化に対して十分な変化量を有するものである。
【００２８】
本実施形態では、このバイアス電流と位相雑音の関係を利用し、バイアス電流による信号ＯＴＷの値の変化を制御部７が観測して、最適なバイアス電流を検出する。
【００２９】
制御部７の動作について説明する。制御部７は電源投入時などの動作開始時にＤＣＯ１のバイアス電流を十分大きな値（例えば上限値）に設定する。そしてこの時の信号ＯＴＷの値を検出し、記憶する。信号ＯＴＷの値を複数回（所定時間）検出して、その平均値を記憶するようにしてもよい。信号ＯＴＷの値を格納する記憶領域は制御部７の内部に設けるようしてもよいし、制御部７の外部に設けるようにしてもよい。
【００３０】
次に、制御部７はバイアス電流を所定値だけ減少させ、この時の信号ＯＴＷの値を検出して記憶する。これをバイアス電流が十分小さい値（例えば下限値）になるまで繰り返す。
【００３１】
これにより、図６（ａ）に示すようなバイアス電流と信号ＯＴＷの値が得られる。上述のように、信号ＯＴＷの値が極大となるバイアス電流の時に位相雑音特性は最も良くなる。
【００３２】
従って、制御部７は信号ＯＴＷの値が極大となるバイアス電流値を検出して記憶し、この発振器制御装置の実使用時に、記憶したバイアス電流値をＤＣＯ１の可変電流源１４に設定する。信号ＯＴＷの値はｋＨｚ程度の解像度があり、信号ＯＴＷの極小値は短時間で得られるため、安定した位相雑音特性を高速に得ることができる。
【００３３】
このように、本実施形態による発振器制御装置は、安定した位相雑音特性を高速に得ることができる。また、ＡＤＰＬＬ内にもともと存在していた信号ＯＴＷの値を利用するものであるため、大きな面積増大を招くことなく実装することができる。
【００３４】
上述した実施の形態は一例であって限定的なものではないと考えられるべきである。例えば、上記実施形態では制御部７はバイアス電流を十分大きい値から十分小さい値へ変化させていたが、検出した信号ＯＴＷの値が増加から減少に転じた時点でバイアス電流のスイープを終了するようにしてもよい。
【００３５】
また、上記実施形態では、制御部７がバイアス電流を徐々に減少させながら信号ＯＴＷの値を検出していたが、徐々に増加させながら信号ＯＴＷの値を検出するようにしてもよい。このとき、バイアス電流の初期設定値がＤＣＯ１の発振可能な値となるようにする。
【００３６】
また、上記実施形態ではＤＣＯ１のバイアス電流と信号ＯＴＷの値が図６（ａ）に示すような上に凸な関係を有する例を用いて説明したが、図７に示すような下に凸の関係を有する場合は、制御部７は信号ＯＴＷの値の極小値を検出し、その時のバイアス電流値を実使用時にＤＣＯ１の可変電流源１４に設定する。
【００３７】
例えばＤＣＯ１が、信号ＯＴＷの値が大きいほど発振周波数が高くなるときや、バイアス電流と発振周波数の関係が図５（ａ）とは反対の下に凸となるときなどが該当する。
【００３８】
本発明の技術的範囲は特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の実施形態による発振器制御装置の概略構成図である。
【図２】同実施形態による発振器制御装置における各信号の値及び制御値の一例を示す図である。
【図３】ＤＣＯの概略構成図である。
【図４】ＯＴＷ値とＤＣＯの発振周波数の関係を示すグラフである。
【図５】ＤＣＯのバイアス電流と発振周波数の関係及びバイアス電流と位相雑音の関係を示すグラフである。
【図６】ＡＤＰＬＬにおけるＤＣＯのバイアス電流とＯＴＷ値の関係及びバイアス電流と位相雑音の関係を示すグラフである。
【図７】ＡＤＰＬＬにおけるＤＣＯのバイアス電流とＯＴＷ値の関係の別の例を示すグラフである。
【符号の説明】
【００４０】
１ ＤＣＯ
２ カウンタ
３ ＴＤＣ
４ 加算器
５ 減算器
６ デジタルフィルタ
７ 制御部
１４ 可変電流源
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発振器制御装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、アナログ設計には、デジタルと同じプロセスの使用、及び低電圧での動作が要求されている。そのため、従来と同等の安定性を得ることが困難になってきている。ＲＦ（Radio Frequency：無線周波）通信装置の回路構成部品の１つであるＶＣＯ（Voltage Controlled Oscillator：電圧制御発振器）には、プロセス及び環境変動に対する特性の安定化が求められる。通信特性を保証する上で、安定した位相雑音特性を実現することが特に重要であると言える。
【０００３】
電圧制御発振器は制御電圧を固定した状態において、動作電流の変化に伴い発振周波数が変化する。このとき、位相雑音特性を同時に観測すると、発振周波数が極大となった電流値において位相雑音が最小となる関係があることが知られている。
【０００４】
このような関係を利用して、動作電流を変化させながら電圧制御発振器の発振周波数をカウンタ等で検出し、発振周波数が極大値となる動作電流の値を抽出し、実使用時にこの抽出した値を動作電流に設定する動作電流調整装置が提案されている（例えば特許文献１参照）。
【０００５】
しかし、必要とする検出器の周波数分解能を達成するためには長い検出時間が必要となる。そのため、安定した位相雑音特性を得ることに時間がかかるという問題を有していた。
【特許文献１】特開２００７−２５１２２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は安定した位相雑音特性を高速に得ることができる発振器制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様による発振器制御装置は、動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器と、前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部と、前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタと、前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部と、を備え、前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極大値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力するものである。
【０００８】
また、本発明の一態様による発振器制御装置は、動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器と、前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部と、前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタと、前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部と、を備え、前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極小値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力するものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、安定した位相雑音特性を高速に得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施の形態による発振器制御装置を図面に基づいて説明する。
【００１１】
図１に本発明の実施形態に係る発振器制御装置の概略構成を示す。発振器制御装置はデジタル制御発振器（以下ＤＣＯ）１、カウンタ２、ＴＤＣ（Time to Digital Converter）３、加算器４、減算器５、デジタルフィルタ６、及び制御部７を備え、ＡＤＰＬＬ（All Digital Phased Locked Loop）の構成になっている。ＤＣＯ１は外部制御信号により離散的に発振周波数が制御可能な発振器である。
【００１２】
カウンタ２はＤＣＯ１の出力（発振信号）と基準信号Ｒｅｆとの位相差を算出する。ＴＤＣ３はＤＣＯ１の出力と基準信号Ｒｅｆとの位相差をカウンタ２より細かい精度で、デジタル表現できる時間計測デバイスである。加算器４はカウンタ２の出力とＴＤＣ３の出力とを加算して、加算値を減算器５へ出力する。カウンタ２、ＴＤＣ３、及び加算器４によりＤＣＯ１から出力される発振信号と基準信号Ｒｅｆとの位相差が算出されることになる。
【００１３】
減算器５は加算器４から出力される加算値と、周波数設定値ＦＣＷ（Frequency Command Word：周波数命令ワード）との差分を算出し、差分値をデジタルフィルタ６へ出力する。周波数設定値ＦＣＷは基準周波数当たりの位相変化量である。
【００１４】
デジタルフィルタ６は与えられた差分値を平滑化し、ＤＣＯ１の発振周波数を制御する信号ＯＴＷ（Oscillator Tuning Word：発振器調整ワード）を出力する。信号ＯＴＷはＤＣＯ１及び制御部７に与えられる。制御部７はＤＣＯ１に含まれる可変電流源１４へ動作電流制御信号を出力する。可変電流源１４は動作電流制御信号に応じた動作電流（バイアス電流）をＤＣＯ１に供給する。
【００１５】
ＤＣＯ１の発振周波数が周波数制御値ＦＣＷで設定される値から大きく（小さく）なった場合、減算器５で算出された差分値に基づき、デジタルフィルタ６からＤＣＯ１へ発振周波数を下げる（上げる）よう制御する信号ＯＴＷが出力される。このようにしてＤＣＯ１の発振周波数が一定となるような制御が行われる。
【００１６】
各信号及び制御値の一例を図２に示す。例えば基準信号Ｒｅｆの周波数を４０ＭＨｚ、ＤＣＯ１の発振周波数を２４００ＭＨｚとすると、このＡＤＰＬＬは４０ＭＨｚで動作していることになり、周波数制御値ＦＣＷが１変化することは、ＤＣＯ１の出力周波数が４０ＭＨｚ変化することに相当する。
【００１７】
フィードバックが正常に動作していれば、周波数制御値ＦＣＷが６０のとき、ＤＣＯ１の出力周波数は２４００ＭＨｚであり、基準信号Ｒｅｆの１周期毎のカウンタ２の出力はほぼ６０となる。このカウンタ２の出力にＴＤＣ３で算出した位相差Δを加えた位相６０±Δは平均６０となる。
【００１８】
図３にＤＣＯ１の構成の一例を示す。ＤＣＯ１はインダクタ１０、１１、ｎ個（ｎは２以上の整数）のキャパシタＣ１〜Ｃｎ、ｎＭＯＳトランジスタ１２、１３、及び可変電流源１４を有する。可変電流源１４は制御部７から出力される動作電流制御信号が与えられ、これに応じた動作電流（バイアス電流）を供給する。
【００１９】
キャパシタＣ１〜Ｃｎは並列に接続されたＭＯＳ型のキャパシタである。ｎビットの信号ＯＴＷの各ビットの値により、キャパシタＣ１〜Ｃｎの各々のバックゲート電圧が制御される。
【００２０】
例えば信号ＯＴＷの１つのビットが１のとき、対応するキャパシタのバックゲート電圧が増加し、容量値が増加する。また、信号ＯＴＷの１つのビットが０のとき、対応するキャパシタのバックゲート電圧が減少し、容量値が減少する。信号ＯＴＷの値によりキャパシタＣ１〜Ｃｎの合成容量値が切り替えられ、ＤＣＯ１の発振周波数を変化させることができる。
【００２１】
信号ＯＴＷの値とＤＣＯ１の発振周波数Ｆｄｃｏとは図４に示すような関係を有する。信号ＯＴＷの値が大きくなると、容量値が増加したキャパシタが増えるため、合成容量値が増加し、発振周波数が低下する。このようにＤＣＯ１は信号ＯＴＷにより制御可能な離散的な出力周波数を有する発振器である。
【００２２】
次に、一般的なＤＣＯのバイアス電流と発振周波数の関係、及びバイアス電流と位相雑音の関係について説明する。図５（ａ）にＤＣＯのバイアス電流と発振周波数の関係、図５（ｂ）にバイアス電流と位相雑音の関係を示す。
【００２３】
図５に示すように、バイアス電流を変化させると発振周波数が変化する。このとき、位相雑音特性を同時に観測すると、発振周波数が極大となった電流値において、位相雑音が最小となることがわかる。すなわち、発振周波数が極大となった電流値において、最も位相雑音特性が良好になる。
【００２４】
続いて、図１に示すようなＡＤＰＬＬにおけるＤＣＯ１のバイアス電流と信号ＯＴＷの値の関係、及びバイアス電流と位相雑音の関係について説明する。図６（ａ）にＤＣＯ１のバイアス電流とＤＣＯ１に与えられる信号ＯＴＷの値の関係、図６（ｂ）にバイアス電流と位相雑音の関係を示す。
【００２５】
上述のようにＡＤＰＬＬにおけるＤＣＯ１では発振周波数が一定となるような制御が行われる。そのため、バイアス電流の変化に伴う発振周波数の変化を抑制（補正）するように信号ＯＴＷの値が変化する。
【００２６】
例えば、バイアス電流の変化に伴って発振周波数が大きくなる場合、信号ＯＴＷの値は発振周波数を小さくするように変化する。すなわち信号ＯＴＷの値が増加する。また、バイアス電流の変化に伴って発振周波数が小さくなる場合、信号ＯＴＷの値は発振周波数を大きくするように変化する。すなわち信号ＯＴＷの値が減少する。
【００２７】
従って、図６（ａ）に示すように、ＤＣＯの発振周波数が極大値となるバイアス電流のときに、発振周波数を一定にするため信号ＯＴＷの値は極大値をとる。このとき、位相雑音特性を同時に観測すると、信号ＯＴＷの値が極大となった電流値において、位相雑音が最小となることがわかる。すなわち、信号ＯＴＷの値が極大となった電流値において、最も位相雑音特性が良好になる。信号ＯＴＷの値はバイアス電流の変化に対して十分な変化量を有するものである。
【００２８】
本実施形態では、このバイアス電流と位相雑音の関係を利用し、バイアス電流による信号ＯＴＷの値の変化を制御部７が観測して、最適なバイアス電流を検出する。
【００２９】
制御部７の動作について説明する。制御部７は電源投入時などの動作開始時にＤＣＯ１のバイアス電流を十分大きな値（例えば上限値）に設定する。そしてこの時の信号ＯＴＷの値を検出し、記憶する。信号ＯＴＷの値を複数回（所定時間）検出して、その平均値を記憶するようにしてもよい。信号ＯＴＷの値を格納する記憶領域は制御部７の内部に設けるようしてもよいし、制御部７の外部に設けるようにしてもよい。
【００３０】
次に、制御部７はバイアス電流を所定値だけ減少させ、この時の信号ＯＴＷの値を検出して記憶する。これをバイアス電流が十分小さい値（例えば下限値）になるまで繰り返す。
【００３１】
これにより、図６（ａ）に示すようなバイアス電流と信号ＯＴＷの値が得られる。上述のように、信号ＯＴＷの値が極大となるバイアス電流の時に位相雑音特性は最も良くなる。
【００３２】
従って、制御部７は信号ＯＴＷの値が極大となるバイアス電流値を検出して記憶し、この発振器制御装置の実使用時に、記憶したバイアス電流値をＤＣＯ１の可変電流源１４に設定する。信号ＯＴＷの値はｋＨｚ程度の解像度があり、信号ＯＴＷの極小値は短時間で得られるため、安定した位相雑音特性を高速に得ることができる。
【００３３】
このように、本実施形態による発振器制御装置は、安定した位相雑音特性を高速に得ることができる。また、ＡＤＰＬＬ内にもともと存在していた信号ＯＴＷの値を利用するものであるため、大きな面積増大を招くことなく実装することができる。
【００３４】
上述した実施の形態は一例であって限定的なものではないと考えられるべきである。例えば、上記実施形態では制御部７はバイアス電流を十分大きい値から十分小さい値へ変化させていたが、検出した信号ＯＴＷの値が増加から減少に転じた時点でバイアス電流のスイープを終了するようにしてもよい。
【００３５】
また、上記実施形態では、制御部７がバイアス電流を徐々に減少させながら信号ＯＴＷの値を検出していたが、徐々に増加させながら信号ＯＴＷの値を検出するようにしてもよい。このとき、バイアス電流の初期設定値がＤＣＯ１の発振可能な値となるようにする。
【００３６】
また、上記実施形態ではＤＣＯ１のバイアス電流と信号ＯＴＷの値が図６（ａ）に示すような上に凸な関係を有する例を用いて説明したが、図７に示すような下に凸の関係を有する場合は、制御部７は信号ＯＴＷの値の極小値を検出し、その時のバイアス電流値を実使用時にＤＣＯ１の可変電流源１４に設定する。
【００３７】
例えばＤＣＯ１が、信号ＯＴＷの値が大きいほど発振周波数が高くなるときや、バイアス電流と発振周波数の関係が図５（ａ）とは反対の下に凸となるときなどが該当する。
【００３８】
本発明の技術的範囲は特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の実施形態による発振器制御装置の概略構成図である。
【図２】同実施形態による発振器制御装置における各信号の値及び制御値の一例を示す図である。
【図３】ＤＣＯの概略構成図である。
【図４】ＯＴＷ値とＤＣＯの発振周波数の関係を示すグラフである。
【図５】ＤＣＯのバイアス電流と発振周波数の関係及びバイアス電流と位相雑音の関係を示すグラフである。
【図６】ＡＤＰＬＬにおけるＤＣＯのバイアス電流とＯＴＷ値の関係及びバイアス電流と位相雑音の関係を示すグラフである。
【図７】ＡＤＰＬＬにおけるＤＣＯのバイアス電流とＯＴＷ値の関係の別の例を示すグラフである。
【符号の説明】
【００４０】
１ ＤＣＯ
２ カウンタ
３ ＴＤＣ
４ 加算器
５ 減算器
６ デジタルフィルタ
７ 制御部
１４ 可変電流源
【特許請求の範囲】
【請求項１】
動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器と、
前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部と、
前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタと、
前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極大値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力する発振器制御装置。
【請求項２】
前記デジタル制御発振器は、前記発振器調整ワードの値が大きいほど前記発振周波数の低い発振信号を出力することを特徴とする請求項１に記載の発振器制御装置。
【請求項３】
動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器と、
前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部と、
前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタと、
前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極小値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力する発振器制御装置。
【請求項４】
前記デジタル制御発振器は、前記発振器調整ワードの値が大きいほど前記発振周波数の高い発振信号を出力することを特徴とする請求項３に記載の発振器制御装置。
【請求項５】
前記制御部は前記発振器調整ワードの所定時間の平均値を測定することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の発振器制御装置。
【請求項１】
動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器と、
前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部と、
前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタと、
前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極大値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力する発振器制御装置。
【請求項２】
前記デジタル制御発振器は、前記発振器調整ワードの値が大きいほど前記発振周波数の低い発振信号を出力することを特徴とする請求項１に記載の発振器制御装置。
【請求項３】
動作電流制御信号に基づく動作電流を供給する可変電流源を含み、発振器調整ワードに応じた発振周波数の発振信号を出力するデジタル制御発振器と、
前記発振信号と基準信号との間の位相差を算出し、位相差信号を出力する位相差算出部と、
前記デジタル制御発振器の発振周波数を設定するための周波数命令ワードと前記位相差信号との差分を平滑化して、前記発振器調整ワードを出力するフィルタと、
前記発振器調整ワードを測定し、前記動作電流制御信号を出力する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記動作電流の値を変化させるように前記動作電流制御信号を出力し、前記発振器調整ワードが極小値となる前記動作電流の値を抽出し、前記可変電流源が供給する動作電流がこの抽出した値となるように前記動作電流制御信号を出力する発振器制御装置。
【請求項４】
前記デジタル制御発振器は、前記発振器調整ワードの値が大きいほど前記発振周波数の高い発振信号を出力することを特徴とする請求項３に記載の発振器制御装置。
【請求項５】
前記制御部は前記発振器調整ワードの所定時間の平均値を測定することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の発振器制御装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２００９−２０１０１６（Ｐ２００９−２０１０１６Ａ）
【公開日】平成２１年９月３日（２００９．９．３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−４２８７６（Ｐ２００８−４２８７６）
【出願日】平成２０年２月２５日（２００８．２．２５）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年９月３日（２００９．９．３）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年２月２５日（２００８．２．２５）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【Ｆターム（参考）】
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