説明

フレキシブル(flexible)表示装置及びその製造方法

【課題】 不良の発生が抑制されるフレキシブル表示装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態によるフレキシブル表示装置は、プラスチック物質で形成されたフレキシブル基板、前記フレキシブル基板の一方の面上に形成された表示素子、及び前記フレキシブル基板の他方の面の少なくとも一部の領域に結合された金属物質及び金属酸化物質のうちの一つ以上の物質を含む表面残留膜を含む。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、フレキシブル(flexible)表示装置及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
近来、重量が軽くて衝撃に強い、プラスチックなどの素材で形成されたフレキシブル(flexible)基板を含むフレキシブル表示装置が開発されている。このようなフレキシブル表示装置は、折り畳んだり巻くことによって携帯性を増大することができるため、多様な分野に活用されている。
【0003】
フレキシブル表示装置は、フレキシブル基板上に形成された表示素子を含む。フレキシブル表示装置として使用される表示素子は、有機発光表示(Organic Light Emitting Diode display)素子、液晶表示(Liquid Crystal Display)素子、及び電気泳動表示(Electro Phoretic Display、EPD)素子などがある。
【0004】
このような表示素子は、共通的に薄膜トランジスターを含む。従って、フレキシブル表示装置を形成するためには、フレキシブル基板が複数回の薄膜工程を経るようになる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、フレキシブル基板は、通常、厚さが数十マイクロメートルと相対的に非常に薄いため、フレキシブル基板上に独自的に複数回の薄膜工程を行うのが難しい問題があった。
【0006】
従って、フレキシブル基板をまずガラス基板上に形成し、ガラス基板と接着されたフレキシブル基板上に表示素子を形成した後、フレキシブル基板及びガラス基板を互いに分離させる方法が使用されている。
【0007】
しかし、プラスチック物質で形成されたフレキシブル基板及びガラス基板は、熱膨張係数(CTE)が互いに異なる。従って、フレキシブル基板及びガラス基板の間の結合力が弱い場合には、高温工程中にフレキシブル基板がガラス基板から剥離されたり、部分的に分離されて反るようになる。これは、フレキシブル表示装置の製造過程において致命的な不良の発生の原因となっている。
【0008】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の第1の目的は、不良の発生を抑制したフレキシブル表示装置を提供することである。
【0009】
また、本発明の第2の目的は、前記フレキシブル表示装置の製造過程において、フレキシブル基板及びガラス基板の間の結合力を向上させて、より安定したフレキシブル表示装置の製造方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0010】
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、プラスチック物質で形成されたフレキシブル基板、前記フレキシブル基板の一方の面上に形成された表示素子、及び前記フレキシブル基板の前記一方の面と対向する他方の面の少なくとも一部の領域と結合された、金属物質及び金属酸化物質のうち、少なくとも一方の物質を含む表面残留膜を含むことを特徴とする、フレキシブル表示装置が提供される。
【0011】
前記フレキシブル基板を形成するプラスチック物質は、−C(=O)NH−基を含むことができる。
【0012】
前記フレキシブル基板は、ポリイミド(polyimide)を含む物質で形成されてもよい。
【0013】
前記フレキシブル基板は、厚さが5μm〜200μmの範囲内であってもよい。
【0014】
前記フレキシブル基板は、熱膨張係数(CTE)が3ppm/C〜10ppm/Cの範囲内であってもよい。
【0015】
前記表面残留膜は、前記−C(=O)NH−基と結合された物質を含むことができる。
【0016】
前記金属物質が前記−C(=O)NH−基と結合され、前記金属物質は、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)のうちの一つ以上を含むことができる。
【0017】
前記金属酸化物質が前記−C(=O)NH−基と結合され、前記金属酸化物質は、酸化アルミニウム(Aluminium oxide)、酸化ガリウム(Gallium oxide)、酸化亜鉛(Znic oxide)、二酸化チタン(Titanium dioxide)、酸化インジウム(Indium oxide)、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide、ITO)、酸化インジウム亜鉛(Indium Zinc Oxide、IZO)、及びGaInZnO(GIZO)のうちの一つ以上を含むことができる。
【0018】
前記フレキシブル表示装置において、前記表示素子は、薄膜トランジスターを含むことができる。
【0019】
前記表示素子は、有機発光表示(OLED)素子、液晶表示(LCD)素子、及び電気泳動表示(EPD)素子のうちのいずれか一つであってもよい。
【0020】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、ガラス基板を準備する段階、前記ガラス基板上に金属物質及び金属酸化物質のうち少なくとも一方の物質で形成された接着物質膜を形成する段階、及び前記接着物質膜上にプラスチック物質でフレキシブル(flexible)基板を形成する段階を含むフレキシブル表示装置の製造方法が提供される。
【0021】
前記フレキシブル基板を形成するプラスチック物質は、−C(=O)NH−基を含むことができる。
【0022】
前記フレキシブル基板は、ポリイミド(polyimide)を含む物質で形成されてもよい。
【0023】
前記フレキシブル基板は、スリットコーティング(slit coating)法及びスクリーン印刷(screen printing)法のうちのいずれか一つの方法で形成されてもよい。
【0024】
前記フレキシブル基板は、厚さが5μm〜200μmの範囲内であってもよい。
【0025】
前記フレキシブル基板は、熱膨張係数が前記ガラス基板の熱膨張係数(CTE)と同一または10ppm/C以下であってもよい。
【0026】
前記接着物質膜は、前記−C(=O)NH−基と結合可能な物質を含むことができる。
【0027】
前記金属物質が前記−C(=O)NH−基と結合され、前記金属物質は、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)のうちの一つ以上を含むことができる。
【0028】
前記金属酸化物質が前記−C(=O)NH−基と結合され、前記金属酸化物質は、酸化アルミニウム(Aluminium oxide)、酸化ガリウム(Gallium oxide)、酸化亜鉛(Znic oxide)、二酸化チタン(Titanium dioxide)、酸化インジウム(Indium oxide)、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide、ITO)、酸化インジウム亜鉛(Indium Zinc Oxide、IZO)、及びGaInZnO(GIZO)のうちの一つ以上を含むことができる。
【0029】
前記接着物質膜は、原子層蒸着(atomic layer depostion、ALD)法で形成されてもよい。
【0030】
前記接着物質膜は、厚さが0.1nm〜1000nmの範囲内であってもよい。
【0031】
前記フレキシブル表示装置の製造方法において、前記フレキシブル基板及び前記ガラス基板を互いに分離させる段階をさらに含むことができる。
【0032】
レーザーを照射して、前記フレキシブル基板及び前記接着物質膜を互いに分離させたり、前記接着物質膜及び前記ガラス基板を互いに分離させることができる。
【0033】
前記フレキシブル基板上に表示素子を形成する段階をさらに含むことができる。
【0034】
前記表示素子は、薄膜トランジスターを含むことができる。
【0035】
前記表示素子は、有機発光表示(OLED)素子、液晶表示(LCD)素子、及び電気泳動表示(EPD)素子のうちのいずれか一つであってもよい。
【発明の効果】
【0036】
本発明に係るフレキシブル表示装置によれば、不良の発生が効果的に抑制される。また、本発明に係るフレキシブル表示装置の製造方法によれば、フレキシブル基板及びガラス基板の間の結合力を効果的に向上させて、前記フレキシブル表示装置を安定的に製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【0037】
【図1】本発明の第1実施形態によるフレキシブル表示装置の断面図である。
【図2】図1のフレキシブル表示装置の内部構造を拡大して示した配置図である。
【図3】図2のIII-III線による断面図である。
【図4】図1のフレキシブル表示装置の製造過程を順次に示した断面図である。
【図5】図1のフレキシブル表示装置の製造過程を順次に示した断面図である。
【図6】図1のフレキシブル表示装置の製造過程を順次に示した断面図である。
【図7】図1のフレキシブル表示装置の製造過程を順次に示した断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0038】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【0039】
また、図面に示された各構成の大きさ及び厚さは、説明の便宜のために任意に示したものであるため、本発明は必ずしも示されたものに限られない。
【0040】
図面では、複数の層及び領域を明確に表現するために、厚さを拡大して示した。また、図面においては、説明の便宜のために、一部の層及び領域の厚さを誇張して示した。層、膜、領域、板などの部分がある部分の「上」または「上部」にあるとする時、これはある部分の「直上」にある場合だけでなく、その中間にまた他の部分がある場合も含む。
【0041】
以下、図1を参照して、本発明の第1実施形態について説明する。
【0042】
図1に示したように、本発明の第1実施形態によるフレキシブル(flexible)表示装置101は、フレキシブル基板111、フレキシブル基板111の一方の面上に形成された表示素子110、及びフレキシブル基板111の他方の面の少なくとも一部の領域と結合された表面残留膜119を含む。ここで、他方の面は、表示素子110が形成された一面の反対面をいう。
【0043】
フレキシブル基板111は、プラスチック物質で形成される。具体的には、本発明の第1実施形態において、フレキシブル基板111は、−C(=O)NH−基を含むプラスチック物質で形成される。例えば、フレキシブル基板111の素材として使用されるプラスチック物質としては、−C(=O)NH−基を含むポリイミド(polyimide)がある。ポリイミドは、耐熱性が特に優れていて、高温工程を経なければならないフレキシブル表示装置101用のフレキシブル基板111の素材として適切である。
【0044】
また、フレキシブル基板111は、厚さが5μm〜200μmの範囲内である。フレキシブル基板111の厚さが5μm未満である場合には、フレキシブル基板111が表示素子110を安定的に支持するのが難しい。また、フレキシブル基板111の厚さが5μm未満になるように形成するのが難しい問題もある。一方、フレキシブル基板111の厚さが200μmより厚い場合には、フレキシブル表示装置101の全体的な厚さが過度に厚くなって、フレキシブルな特性が低下する。
【0045】
また、フレキシブル基板111は、熱膨張係数(CTE)が3ppm/C〜10ppm/Cの範囲内になるように形成される。フレキシブル基板111の熱膨張係数が3ppm/Cより小さかったり10ppm/Cより大きい場合には、フレキシブル表示装置101の製造過程で使用されるるガラス基板900(図4〜図7に図示)及びフレキシブル基板111の間の熱膨張係数の差が過度に大きくなる。このように熱膨張係数の差が大きくなると、フレキシブル表示装置101の製造過程中の高温工程を経て互いに安定的に結合しなければならないフレキシブル基板111及びガラス基板900が互いに剥離されて、不良が発生する原因となる。
【0046】
表面残留膜119は、フレキシブル基板111が含む−C(=O)NH−基と結合された状態で存在する。また、表面残留膜119は、フレキシブル基板111が含む−C(=O)NH−基と結合された、金属物質及び金属酸化物質のうち、少なくとも一方の物質を含む。つまり、表面残留膜119は、金属物質及び金属酸化物質のうち少なくとも一方の物質がフレキシブル基板111に含まれる−C(=O)NH−基と結合された状態で存在する。
【0047】
金属物質は、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)のうちの一つ以上を含む。
【0048】
金属酸化物質は、酸化アルミニウム(Aluminium oxide)、酸化ガリウム(Gallium oxide)、酸化亜鉛(Znic oxide)、二酸化チタン(Titanium dioxide)、酸化インジウム(Indium Oxide)、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide、ITO)、酸化インジウム亜鉛(Indium Zinc Oxide、IZO)、及びGaInZnO(GIZO)のうちの一つ以上を含む。
【0049】
表面残留膜119が含む金属物質または金属酸化物質は、フレキシブル表示装置101の製造過程でフレキシブル基板111及びガラス基板900の間の結合力を向上させる役割を果たす。つまり、表面残留膜119に含まれている金属物質または金属酸化物質は、フレキシブル基板111と強く結合して、フレキシブル基板111及びガラス基板900が互いに剥離されるのを効果的に抑制する。
【0050】
フレキシブル基板111上に表示素子110が形成された後、フレキシブル基板111及びガラス基板900は分離される。この時、フレキシブル基板111及びガラス基板900の間で両基板111、900を互いに結合させた金属物質または金属酸化物質の少なくとも一部がフレキシブル基板111の他方の面と結合された状態で残り、これが表面残留膜119となる。
【0051】
表示素子110は、有機発光表示(OLDE)素子、液晶表示(LCD)素子、及び電気泳動表示(EPD)素子のうちのいずれか一つでありうる。このような表示素子は、共通的に薄膜トランジスター(TFT)を含む。従って、フレキシブル表示装置101を製造するためには、複数回の薄膜工程を経なければならない。
【0052】
図1では、表示素子110として有機発光表示素子が使用されたフレキシブル表示装置101を示しているが、本発明の第1実施形態はこれに限定されない。
【0053】
以下、表示素子110として有機発光表示素子が使用されたフレキシブル表示装置101を例として、フレキシブル表示装置101の全体的な構造を詳しく説明する。
【0054】
表示素子110は、有機発光素子70及び駆動回路部(DC)を含む。駆動回路部(DC)は、薄膜トランジスター10、20(図2に図示)を含んで、有機発光素子70を駆動する。 つまり、有機発光素子70は、駆動回路部(DC)から伝達された駆動信号によって光を放出して画像を表示する。
【0055】
駆動回路部(DC)及び有機発光素子70の具体的な構造が図2及び図3に示されているが、本発明の第1実施形態は図2及び図3に示された構造に限定されない。駆動回路部(DC)及び有機発光素子70は、当該技術分野における当業者が容易に変形実施できる範囲内で多様な構造に形成される。
【0056】
以下、図2及び図3を参照して、有機発光素子70を含むフレキシブル表示装置101の内部構造について詳しく説明する。図2は画素の構造を示した配置図であり、図3は図2のIII-III線による断面図である。
【0057】
また、図2及び図3では、一つの画素に二つの薄膜トランジスター(TFT)10、20及び一つの蓄電素子(capacitor)80を備えた2Tr-1Cap構造の能動駆動(active matrix、AM)型有機発光表示装置101を示しているが、本発明の第1実施形態はこれに限定されない。従って、本発明の第1実施形態によるフレキシブル表示装置101は、一つの画素に三つ以上の薄膜トランジスター及び二つ以上の蓄電素子を備え、別途の配線がさらに形成されて、多様な構造を有するように形成されてもよい。ここで、画素は、画像を表示する最小単位を言い、画素領域毎に配置される。フレキシブル表示装置101は、複数の画素によって画像を表示する。
【0058】
図2及び図3に示したように、表示素子110は、一つの画素毎に各々形成されたスイッチング薄膜トランジスター10、駆動薄膜トランジスター20、蓄電素子80、及び有機発光素子(OLED)70を含む。ここで、スイッチング薄膜トランジスター10、駆動薄膜トランジスター20、及び蓄電素子80を含む構成を駆動回路部(DC)という。
【0059】
また、表示素子110は、一方向に沿って配置されるゲートライン151、ゲートライン151と絶縁交差されるデータライン171、及び共通電源ライン172をさらに含む。
【0060】
一つの画素は、ゲートライン151、データライン171、及び共通電源ライン172を境界として定義されるが、必ずしもこれに限定されるのではない。
【0061】
有機発光素子70は、アノードである第1電極710、カソードである第2電極730、そして第1電極710及び第2電極730の間に配置された有機発光層720を含む。しかし、本発明の第1実施形態はこれに限定されない。従って、第1電極710がカソード電極となり、第2電極730がアノード電極となってもよい。
【0062】
また、フレキシブル表示装置101は、前面表示型、背面表示型、及び両面表示型のうちのいずれか一つの構造を有する。フレキシブル表示装置101が前面表示型である場合、第1電極710は反射膜で形成され、第2電極730は半透過膜で形成される。一方、フレキシブル表示装置101が背面表示型である場合、第1電極710が半透過膜で形成され、第2電極730は反射膜で形成される。また、フレキシブル表示装置101が両面表示型である場合、第1電極710及び第2電極730は透明膜または半透過膜で形成される。
【0063】
反射膜及び半透過膜は、マグネシウム(Mg)、銀(Ag)、金(Au)、カルシウム(Ca)、リチウム(Li)、クロム(Cr)、及びアルミニウム(Al)のうちの一つ以上の金属、またはこれらの合金を使用して形成される。この時、反射膜及び半透過膜は厚さによって決定される。一般に、半透過膜は、厚さが200nm以下である。半透過膜は、厚さが薄くなるほど光の透過率が高くなり、厚さが厚くなるほど光の透過率が低くなる。
【0064】
透明膜は、ITO(酸化インジウムスズ)、IZO(酸化インジウム亜鉛)、ZnO(酸化亜鉛)またはIn(Indium Oxide)などの物質で形成される。
【0065】
また、有機発光層720は、発光層、正孔注入層(hole injection layer、HIL)、正孔輸送層(hole transporting layer、HTL)、電子輸送層(electron transportion layer、ETL)、及び電子注入層(electron injection layer、EIL)のうちの一つ以上を含む多重膜で形成される。有機発光層720がこれらの全てを含む場合、正孔注入層がアノードである第1電極710上に配置され、その上に正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層が順次に積層される。また、有機発光層720は、必要に応じて他の層をさらに含むこともできる。
【0066】
このように、有機発光素子70は、第1電極710及び第2電極730を通して各々正孔及び電子を有機発光層720の内部に注入する。注入された正孔及び電子が結合された励起子(exciton)が励起状態から基底状態に落ちる時に、有機発光素子70が発光される。
【0067】
蓄電素子80は、層間絶縁膜160を間において配置された一対の蓄電板158、178を含む。ここで、層間絶縁膜160は、誘電体となる。蓄電素子80に蓄電された電荷及び両蓄電板158、178の間の電圧によって蓄電容量が決定される。
【0068】
スイッチング薄膜トランジスター10は、スイッチング半導体層131、スイッチングゲート電極152、スイッチングソース電極173、及びスイッチングドレイン電極174を含む。駆動薄膜トランジスター20は、駆動半導体層132、駆動ゲート電極155、駆動ソース電極176、及び駆動ドレイン電極177を含む。
【0069】
スイッチング薄膜トランジスター10は、発光しようとする画素を選択するスイッチング素子として使用される。スイッチングゲート電極152は、ゲートライン151と接続される。スイッチングソース電極173は、データライン171と接続される。スイッチングドレイン電極174は、スイッチングソース電極173から離隔配置されて、いずれか一つの蓄電板158と接続される。
【0070】
駆動薄膜トランジスター20は、選択された画素内の有機発光素子70の有機発光層720を発光させるための駆動電源を画素電極710に印加する。駆動ゲート電極155は、スイッチングドレイン電極174と接続された蓄電板158と接続される。駆動ソース電極176及び他の一つの蓄電板178は、各々共通電源ライン172と接続される。駆動ドレイン電極177は、コンタクト孔(contact hole)を通して有機発光素子70の画素電極710と接続される。
【0071】
このような構造によって、スイッチング薄膜トランジスター10は、ゲートライン151に印加されるゲート電圧によって作動して、データライン171に印加されるデータ電圧を駆動薄膜トランジスター20に伝達する役割を果たす。共通電源ライン172から駆動薄膜トランジスター20に印加される共通電圧及びスイッチング薄膜トランジスター10から伝達されたデータ電圧の差に相当する電圧が蓄電素子80に保存され、蓄電素子80に保存された電圧に対応する電流が駆動薄膜トランジスター20を通して有機発光素子70に流れて、有機発光素子70が発光されるようになる。
【0072】
また、フレキシブル表示装置101は、フレキシブル基板111上に形成されて、表示素子110をカバーする薄膜封止層210、及び表示素子110及びフレキシブル基板111の間に配置されたバリア膜120をさらに含む。
【0073】
薄膜封止層210は、一つ以上の無機膜211、213、215及び一つ以上の有機膜212、214を含む。また、薄膜封止層210は、無機膜211、213、215及び有機膜212、214が交互に積層された構造を有する。この時、無機膜211が最下部に配置される。つまり、無機膜211が有機発光素子70に最も近く配置される。図4で、薄膜封止層210は、三つの無機膜211、213、215及び二つの有機膜212、214を含むが、本発明の第1実施形態はこれに限定されない。
【0074】
無機膜211、213、215は、Al、TiO、ZrO、SiO、AlON、AlN、SiON、Si、ZnO、及びTaのうちの一つ以上の無機物を含んで形成される。また、無機膜211、213、215は、化学蒸着(chemical vaporde position、CVD)法または原子層蒸着(atomic layer depostion、ALD)法で形成される。この中でも、原子層蒸着法は、有機発光素子70が損傷されないように摂氏100度以下の温度で前述した無機物を成長させて形成する。また、原子層蒸着法で形成された無機膜211、213、215は、薄膜の密度が緻密で、水分または酸素の浸透を効果的に抑制することができる。しかし、本発明の第1実施形態はこれに限定されず、無機膜211、213、215は、当該技術分野の当業者に公知の多様な方法で形成される。
【0075】
有機膜212、214は、ポリマー系の素材で形成される。ここで、ポリマー系の素材は、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド、及びポリエチレンなどを含む。また、有機膜212、214は、熱蒸着工程で形成される。また、有機膜212、214を形成するための熱蒸着工程は、有機発光素子70を損傷させない温度範囲内で行われる。しかし、本発明の第1実施形態はこれに限定されず、有機膜212、214は、当該技術分野の当業者に公知の多様な方法で形成される。
【0076】
薄膜の密度が緻密に形成された無機膜211、213、215は、主に水分または酸素の浸透を抑制する。大部分の水分及び酸素は、無機膜211、213、215によって有機発光素子70への浸透が遮断される。
【0077】
無機膜211、213、215を通過した水分及び酸素は、有機膜212、214によって再び遮断される。有機膜212、214は、無機膜211、213、215に比べて相対的に透湿抑制効果は少ない。しかし、有機膜212、214は、透湿抑制以外に、無機膜211、213、215及び無機膜211、213、215の間で有機発光表示装置101の反りによる各層の間の応力を減らす緩衝層の役割も共に果たす。つまり、有機膜212、214なく無機膜211、213、215の真上に直に無機膜211、213、215が連続的に形成されると、有機発光表示装置101の反りによって無機膜211、213、215及び無機膜211、213、215の間に応力が発生し、この応力により無機膜211、213、215が損傷され、薄膜封止層210の透湿抑制機能が顕著に低下する。このように、有機膜212、214は、透湿抑制と共に緩衝層の役割を果たして、薄膜封止層210が安定的に水分または酸素の浸透を抑制する。また、有機膜212、214は平坦化特性を有するため、薄膜封止層210の最上部面が平坦になる。
【0078】
また、薄膜封止層210は、厚さが10μm以下に形成される。従って、フレキシブル表示装置101の全体的な厚さを相対的に非常に薄く形成することができる。
【0079】
また、薄膜封止層210を使用してフレキシブル表示装置101のフレキシブルな特性を増大することができる。
【0080】
バリア膜120は、多様な無機膜及び有機膜のうちの一つ以上の膜で形成される。
【0081】
このように形成された薄膜封止層210及びバリア膜120は、共に有機発光素子70に水分などの不要な成分が浸透するのを防止するために、透湿率(water vapor transmission rate、WWTR)が10-6g/m/day以下であるのが望ましい。有機発光素子70に浸透した水分は有機発光素子70の寿命を短縮させる。
【0082】
このような構成によって、本発明の第1実施形態によるフレキシブル表示装置101は、不良の発生が効果的に抑制される。
【0083】
以下、図4〜図7を参照して、図1のフレキシブル表示装置101の製造方法を説明する。
【0084】
まず、図4に示したように、ガラス基板900を準備して、ガラス基板900の上に接着物質膜950を形成する。
【0085】
接着物質膜950は、図1のフレキシブル表示装置101の表面残留膜109と同一な成分を有する。つまり、接着物質膜950は、金属物質及び金属酸化物質のうちの一つ以上の物質で形成される。
【0086】
また、接着物質膜950は、−C(=O)NH−基と結合可能な物質を含む。具体的には、接着物質膜950に含まれる金属物質は、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)のうちの一つ以上を含む。
【0087】
また、接着物質膜950に含まれる金属酸化物質は、酸化アルミニウム(Aluminium oxide)、酸化ガリウム(Gallium oxide)、酸化亜鉛(Znic oxide)、二酸化チタン(Titanium dioxide)、酸化インジウム(Indium oxide)、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide、ITO)、酸化インジウム亜鉛(Indium Zinc Oxide、IZO)、及びGaInZnO(GIZO)のうちの一つ以上を含む。
【0088】
また、接着物質膜950は、スパッタ(sputter)、化学蒸着(chemicalvapor deposition、CVD)法、または原子層蒸着(atomic layer depostion、ALD)法などで形成される。この中でも、原子層蒸着法が接着物質膜950が均一でパーティクル(particle)なく清潔に形成することができるので、最も適切である。また、原子層層蒸着法を使用する場合、接着物質膜950を均一で相対的に薄く形成することができる。しかし、原子層蒸着法の蒸着速度は、サイクル当り約0.5Å〜2Å程度と非常に遅い。このような原子層蒸着法の特性を考慮して、接着物質膜950は、厚さ(t1)が0.1nm〜1000nmの範囲内になるように形成される。接着物質膜950は、ガラス基板900の表面処理のためにガラス基板900の表面を覆う程度であれば十分である。従って、接着物質膜900を過度に厚く形成すると、相対的に遅い原子層蒸着法の蒸着速度によってフレキシブル表示装置101の全体的な生産効率が低下する。従って、接着物質膜950は、厚さ(t1)が1000nm以下になるように形成するのが望ましい。
【0089】
次に、図5に示したように、接着物質膜950上にフレキシブル基板111を形成する。フレキシブル基板111は、−C(=O)NH−基を含むプラスチック物質で形成される。本発明の第1実施形態による製造方法で、フレキシブル基板111は、−C(=O)NH−基を含むポリイミド(polyimide)で形成される。ポリイミドは、耐熱性が特に優れていて、高温工程を複数回経なければならないフレキシブル表示装置101用フレキシブル基板111の素材として適切である。
【0090】
また、フレキシブル基板111は、スリットコーティング(slit coating)法及びスクリーン印刷(screen printing)法のうちのいずれか一つの方法で形成される。つまり、スリットコーティング法またはスクリーン印刷法でポリイミドを接着物質膜950上に塗布して、フレキシブル基板111を形成する。この時、フレキシブル基板111に含まれている−C(=O)NH−基が接着物質膜950と強く結合される。また、一般に、金属物質または金属酸化物質は、ガラス基板900と非常に良好な接着力を有する。従って、フレキシブル基板111及びガラス基板900は、接着物質膜950によって互いに安定的に接着される。
【0091】
また、フレキシブル基板111は、製造環境やフレキシブルな特性を考慮して、厚さ(t2)が5μm〜200μmの範囲内になるように形成される。具体的には、例えば、スリットコーティング法でポリイミドに厚さ(t2)が約10μmのフレキシブル基板111を形成することができる。また、スクリーン印刷法でポリイミドに厚さ(t2)が約10μm〜70μmの範囲内のフレキシブル基板111を形成することができる。
【0092】
また、フレキシブル基板111は、熱膨張係数(CTE)がガラス基板900の熱膨張係数(CTE)と同一または10ppm/C以下になるように形成される。ガラス基板900は、熱膨張係数が約4ppm/C程度である。フレキシブル基板111及びガラス基板900の熱膨張係数の差が過度に大きくなると、互いに安定的に結合しなければならないフレキシブル基板111及びガラス基板900が高温工程を経て剥離される。これは、製造過程で発生する不良の原因となる。
【0093】
また、本発明の第1実施形態によれば、フレキシブル基板111及びガラス基板900の熱膨張係数に多少の差が発生しても、接着物質膜950によってフレキシブル基板111及びガラス基板900が互いに効果的に結合されるため、フレキシブル表示装置101を安定的に製造することができる。
【0094】
次に、図6に示したように、フレキシブル基板111上にバリア膜120を形成し、バリア膜120上に表示素子110を形成する。そして、フレキシブル基板111上に表示素子110をカバーする薄膜封止層210を形成する。ここで、バリア膜120及び薄膜封止層210は、表示素子110の種類及び必要に応じて省略することができる。また、表示素子110の種類によってフレキシブル基板111上の構造が異なる。
【0095】
図5においては、表示素子110は有機発光表示素子を示しているが、本発明の第1実施形態はこれに限定されない。従って、表示素子は、有機発光表示素子以外に、液晶表示素子や電気泳動表示素子のうちのいずれか一つであってもよい。また、このような表示素子110は、共通的に薄膜トランジスター(TFT)を含む。従って、フレキシブル表示装置101の製造過程で、フレキシブル基板111及びガラス基板900は、互いに接着された状態で複数回の高温工程を経るようになる。
【0096】
次に、図7に示したように、レーザー(L)を照射して、フレキシブル基板111及びガラス基板900を互いに分離させる。具体的には、レーザーによってフレキシブル基板111及び接着物質膜950が分離されたり、接着物質膜950及びガラス基板900が分離される。
【0097】
このように、フレキシブル基板111及びガラス基板900が分離されて、フレキシブル表示装置101が完成される。本発明の第1実施形態によって製造されたフレキシブル表示装置101は、前記図1に示したように、フレキシブル基板111と結合された接着物質膜950の金属物質または金属酸化物質の少なくとも一部がフレキシブル基板111に結合された状態で残留する。
【0098】
このような製造方法によって、本発明の実施形態によるフレキシブル表示装置101の製造方法は、フレキシブル基板111及びガラス基板900の間の結合力を効果的に向上させて、フレキシブル表示装置101を安定的に製造することができる。
【0099】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【符号の説明】
【0100】
101 フレキシブル表示装置
10、20 薄膜トランジスター
70 有機発光素子
80 蓄電素子
110 表示素子
111 フレキシブル基板
119 表面残留膜
120 バリア膜
131 スイッチング半導体層
132 駆動半導体層
151 ゲートライン
152 スイッチングゲート電極
155 駆動ゲート電極
158、178 蓄電板
160 層間絶縁膜
171 データライン
172 共通電源ライン
173 スイッチングソース電極
174 スイッチングドレイン電極
176 駆動ソース電極
177 駆動ドレイン電極
210 薄膜封止層
211、213、215 無機膜
212、214 有機膜
710、730 電極
900 ガラス基板
950 接着物質膜

【特許請求の範囲】
【請求項1】
プラスチック物質で形成されたフレキシブル基板、
前記フレキシブル基板の一方の面上に形成された表示素子、及び
前記フレキシブル基板の前記一方の面と対向する他方の面の少なくとも一部の領域と結合された、金属物質及び金属酸化物質のうち、少なくとも一方の物質を含む表面残留膜を含むことを特徴とする、フレキシブル表示装置。
【請求項2】
前記フレキシブル基板を形成するプラスチック物質は、−C(=O)NH−基を含むことを特徴とする、請求項1に記載のフレキシブル表示装置。
【請求項3】
前記フレキシブル基板は、ポリイミドを含む物質で形成されることを特徴とする、請求項2に記載のフレキシブル表示装置。
【請求項4】
前記フレキシブル基板は、厚さが5μm〜200μmの範囲内であることを特徴とする、請求項2に記載のフレキシブル表示装置。
【請求項5】
前記フレキシブル基板は、熱膨張係数(CTE)が3ppm/C〜10ppm/Cの範囲内であることを特徴とする、請求項2に記載のフレキシブル表示装置。
【請求項6】
前記表面残留膜は、前記−C(=O)NH−基と結合された物質を含むことを特徴とする、請求項2に記載のフレキシブル表示装置。
【請求項7】
前記金属物質が前記−C(=O)NH−基と結合され、
前記金属物質は、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)のうちの一つ以上を含むことを特徴とする、請求項6に記載のフレキシブル表示装置。
【請求項8】
前記金属酸化物質が前記−C(=O)NH−基と結合され、
前記金属酸化物質は、酸化アルミニウム(Aluminium oxide)、酸化ガリウム(Gallium oxide)、酸化亜鉛(Znic oxide)、二酸化チタン(Titanium dioxide)、酸化インジウム(Indium oxide)、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide、ITO)、酸化インジウム亜鉛(Indium Zinc Oxide、IZO)、及びGaInZnO(GIZO)のうちの一つ以上を含むことを特徴とする、請求項6に記載のフレキシブル表示装置。
【請求項9】
前記表示素子は、薄膜トランジスターを含むことを特徴とする、請求項1〜8のうちのいずれか一つに記載のフレキシブル表示装置。
【請求項10】
前記表示素子は、有機発光表示素子、液晶表示素子、及び電気泳動表示素子のうちのいずれか一つであることを特徴とする、請求項9に記載のフレキシブル表示装置。
【請求項11】
ガラス基板を準備する段階、
前記ガラス基板上に金属物質及び金属酸化物質のうち少なくとも一方の物質で形成された接着物質膜を形成する段階、及び
前記接着物質膜上にプラスチック物質でフレキシブル基板を形成する段階を含むことを特徴とする、フレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項12】
前記フレキシブル基板を形成するプラスチック物質は、−C(=O)NH−基を含むことを特徴とする、請求項11に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項13】
前記フレキシブル基板は、ポリイミドを含む物質で形成されることを特徴とする、請求項12に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項14】
前記フレキシブル基板は、スリットコーティング法及びスクリーン印刷法のうちのいずれか一つの方法で形成されることを特徴とする、請求項12に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項15】
前記フレキシブル基板は、厚さが5μm〜200μmの範囲内であることを特徴とする、請求項14に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項16】
前記フレキシブル基板は、熱膨張係数が前記ガラス基板の熱膨張係数(CTE)と同一または10ppm/C以下であることを特徴とする、請求項12に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項17】
前記接着物質膜は、前記−C(=O)NH−基と結合可能な物質を含むことを特徴とする、請求項12に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項18】
前記金属物質が前記−C(=O)NH−基と結合され、
前記金属物質は、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、及び亜鉛(Zn)のうちの一つ以上を含むことを特徴とする、請求項17に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項19】
前記金属酸化物質が前記−C(=O)NH−基と結合され、
前記金属酸化物質は、酸化アルミニウム(Aluminium oxide)、酸化ガリウム(Gallium oxide)、酸化亜鉛(Znic oxide)、二酸化チタン(Titanium dioxide)、酸化インジウム(Indium oxide)、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide、ITO)、酸化インジウム亜鉛(Indium Zinc Oxide、IZO)、及びGaInZO(GIZO)のうちの一つ以上を含むことを特徴とする、請求項17に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項20】
前記接着物質膜は、原子層蒸着法で形成されることを特徴とする、請求項17に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項21】
前記接着物質膜は、厚さが0.1nm〜1000nmの範囲内であることを特徴とする、請求項20に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項22】
前記フレキシブル基板及び前記ガラス基板を互いに分離させる段階をさらに含むことを特徴とする、請求項11〜21のうちのいずれか一つに記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項23】
レーザーを照射して、前記フレキシブル基板及び前記接着物質膜を互いに分離したり、前記接着物質膜及び前記ガラス基板を互いに分離することを特徴とする、請求項22に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項24】
前記フレキシブル基板上に表示素子を形成する段階をさらに含むことを特徴とする、請求項22に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項25】
前記表示素子は、薄膜トランジスターを含むことを特徴とする、請求項24に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。
【請求項26】
前記表示素子は、有機発光表示素子、液晶表示素子、及び電気泳動表示素子のうちのいずれか一つであることを特徴とする、請求項25に記載のフレキシブル表示装置の製造方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【公開番号】特開2011−48374(P2011−48374A)
【公開日】平成23年3月10日(2011.3.10)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−190775(P2010−190775)
【出願日】平成22年8月27日(2010.8.27)
【出願人】(308040351)三星モバイルディスプレイ株式會社 (764)
【Fターム(参考)】