半導体装置及びその製造方法
【課題】 深さの異なるコンタクトホールを同時に形成する場合にも、高抵抗化や接続不良等を無い高品質なコンタクトホールを形成する。
【解決手段】 半導体基板10の表面側に、有機系の絶縁材料からなる第1層膜18、無機系の絶縁材料からなる第2層膜19の2層構造を有する層間絶縁膜17が形成される。ソース・ドレイン拡散領域11及びゲート電極14に達するコンタクトを形成するため、この層間絶縁膜17にコンタクトホールが形成される。第2層膜19のエッチングは、C4H8系のガスで行うと、エッチングは第1層膜18と第2層膜19の界面で止まる。次にエッチングガスをNH3系のガスに切り替えて、第1層膜18のエッチングを行う。
【解決手段】 半導体基板10の表面側に、有機系の絶縁材料からなる第1層膜18、無機系の絶縁材料からなる第2層膜19の2層構造を有する層間絶縁膜17が形成される。ソース・ドレイン拡散領域11及びゲート電極14に達するコンタクトを形成するため、この層間絶縁膜17にコンタクトホールが形成される。第2層膜19のエッチングは、C4H8系のガスで行うと、エッチングは第1層膜18と第2層膜19の界面で止まる。次にエッチングガスをNH3系のガスに切り替えて、第1層膜18のエッチングを行う。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体装置及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体装置の製造工程においては、半導体基板上に複数層に亘って導電層が形成する工程が実行されると共に、その導電層に配線を接続するため、各導電層に達するコンタクトホールを形成する工程が実行される(特許文献1参照)。例えば、MOSFETを半導体基板上に形成する場合、半導体基板中にソース・ドレイン拡散領域を形成すると共に、半導体基板上にゲート絶縁膜を介してゲート電極を形成する。続いてこれら拡散領域及びゲート電極を覆う層間絶縁膜を形成した後、層間絶縁膜上に形成したレジストパターンをマスクとしてRIE法(Reactive Ion etching)法を実行することにより、この層間絶縁膜にコンタクトホールを形成する。このコンタクトホールに配線材料を埋め込むことにより配線用のコンタクトが形成される。
【0003】
この場合、ゲート電極に達するコンタクトホールと、それより深い位置にある拡散領域に達するコンタクトホールとでは、その深さが異なる。そのため、これらコンタクトホールを同時に形成すると、浅い位置にあるゲート電極へのコンタクトホールが先に開口し、ソース・ドレイン拡散領域に達するコンタクトホールが開口するまで、ゲート電極はRIEによるダメージを受けることになる。その際にコンタクトホール底部のゲート電極配線表面に異物が付着してコンタクト界面が電気的に高抵抗になりやすい。また、コンタクトホールの底部の幅が広がって逆テーパ状の孔となり、その後のコンタクトホールに埋め込まれた配線材料にボイド(空洞)が出来て、コンタクトホールに接続不良が生じる虞もある。
【特許文献1】特開2002−184860号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は、深さの異なるコンタクトホールを同時に形成する場合にも、高抵抗化や接続不良等の無い高品質なコンタクトホールを形成することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の一態様に係る半導体装置は、第1導電層及び第2導電層を表面側に形成され前記第2導電層は前記第1導電層よりも高い位置に形成されている半導体基板と、前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように前記半導体基板上に形成される絶縁膜と、有機系絶縁材料からなる第1層膜及びこの第1層膜上に形成される無機系絶縁材料からなる第2層膜の少なくとも2層構造を有し前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように形成される層間絶縁膜とを備えたことを特徴とする。
【0006】
また、本発明の他の一態様に係る半導体装置の製造方法は、半導体基板の表面側に、第1導電層及びこの第1導電層よりも高い位置に存在する第2導電層を形成するステップと、前記第1導電層上及び第2導電層上を含む半導体基板上に絶縁膜を形成するステップと、有機系絶縁材料からなる第1層膜及びこの第1層膜上に形成される無機系絶縁材料からなる第2層膜の少なくとも2層構造を有する層間絶縁膜を、前記絶縁膜を介して前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように形成するステップと、第1のエッチング条件により前記第2層膜をエッチングした後前記第1のエッチング条件とは異なるエッチング条件により前記第1層膜をエッチングして前記第1導電層及び前記第2導電層の上にコンタクトホールを形成する工程とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【0007】
この発明によれば、深さの異なるコンタクトホールを同時に形成する場合にも、高抵抗化や接続不良等を無い高品質なコンタクトホールを形成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0008】
次に、本発明の実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
【0009】
[第1の実施の形態] 図1は、本発明の第1の実施の形態に係る半導体装置の断面図を示す。この半導体装置は、半導体基板10に多数のMOSトランジスタを形成して構成されるものである。図1では、半導体基板10の表面に形成されたドレイン・ソース拡散領域11(第1導電層)を共有した3つのn型MOSトランジスタM1,M2,M3が示されている。ここでは、パターンレイアウトの関係で、トランジスタM2とM3の間の間隔が、トランジスタM1とM2の間の間隔よりも狭くされ、トランジスタM2、M3のゲート電極等は最小配線間隔で配線されているものとする。
【0010】
MOSトランジスタの各々は、ソース・ドレイン拡散領域11の間の半導体基板10上に形成され例えばシリコン酸化膜からなるゲート絶縁膜13と、ゲート絶縁膜13上に形成され例えばポリシリコンから形成されるゲート電極14(第2導電層)を備えている。このゲート電極14の側面には、例えばシリコン酸化膜からなる側壁絶縁膜15が形成される。また、ゲート電極14の上面を含む半導体基板10上の全体には、シリコン窒化膜16が形成されている。
【0011】
このシリコン窒化膜16の上には、層間絶縁膜17が形成される。層間絶縁膜17は、有機系絶縁材料からなる第1層膜18を下層とし、無機系絶縁材料からなる第2層膜19を上層とする2層構造を有している。第1層膜18の有機系絶縁材料には、例えばポリアリレン系の有機膜、より具体的にはダウケミカル社から入手可能な商品名SiLK(商品名)、又はハネウエル社から入手可能な商品名FLARE(商品名)が用いられる。第2層膜19の材料には、例えばTEOS(テトラエトキシシラン)膜が用いられる。この実施の形態では、第1層膜18はシリコン窒化膜16の最上部、すなわちゲート電極14上のシリコン窒化膜16よりも高い位置まで堆積されている。第2層膜19の上には、シリコン酸化膜等からなる層間絶縁膜20が更に形成されている。
【0012】
これら層間絶縁膜17、20を貫通して形成したコンタクトホールに、コンタクト21、22、及び23が、バリアメタル24を介して形成されている。コンタクト21は、トランジスタM1のゲート電極14の上面に達するように形成されている。またコンタクト22は、トランジスタM1とM2が共有するソース・ドレイン拡散領域11に達するように形成されている。さらにコンタクト23は、トランジスタM2とM3が共有する、最小配線間隔で形成されたソース・ドレイン拡散領域11に達するように形成されている。
【0013】
本実施の形態は、層間絶縁膜17が、上述のように有機系絶縁材料からなる第1層膜18と無機系絶縁材料からなる第2層膜19の2層構造を有する。この構成により、コンタクト21〜23を形成するためのコンタクトホールを同時に形成する場合にも、異物の堆積による高抵抗化や、オーバーエッチングによるボイドの発生などの不具合を生じさせることがない。以下、この点につき図2〜図7を参照して半導体装置の製造工程と共に説明する。
【0014】
まず、図2に示すように、周知のMOSトランジスタの製造工程により、ソース・ドレイン拡散領域11を例えば最小ライン/スペース幅90/90nmで形成すると共に、50nm程度の厚さのゲート絶縁膜13及び200nm程度の厚さのゲート電極14を例えば最小ライン/スペース幅50/120nmで形成する。その後、30nm程度の厚さの側壁絶縁膜15及び50nm程度の厚さのシリコン窒化膜16を周知のCVD法及びRIE等を用いて形成する。
【0015】
続いて、図3に示すように、このゲート電極14等を覆うように、ダウケミカル社製のSiLK(商品名)を、スピンコート法を用いて600nm程度の厚さに塗布して、第1層膜18を形成する。SiLKの熱キュアーによる硬化後、図4に示すように、有機系の材料、例えばレジン樹脂を主成分とするスラリを用いて、この第1層膜18をCMP(化学的機械研磨法:Chemical Mechanical Polishing)法により研磨して厚さ400nm程度まで平坦化する。次に図5に示すように、この平坦化した第1層膜18の上に、厚さ100nm程度のTEOS膜をCVD法等により堆積させ、第2層膜19を形成する。
【0016】
次に、図6に示すように、この第2層膜19上に厚さ60nm程度の反射防止膜R1、及び厚さ150nm程度のレジストをフォトリソグラフィ法により形成し、これをマスクとしC4F8系のガスを用いたRIEにより第2層膜19にコンタクトホール26を形成する。C4F8系のガスを用いる場合、TEOS膜とSiLK(商品名)の選択比は50以上である。このため、エッチングされるのはTEOS膜からなる第2層膜19のみであり、エッチングは第1層膜18と第2層膜19の界面で止まる。なお、コンタクトホール26の加工完了後のレジストR2の厚さは、およそ100nm程度と想定される。
【0017】
次に、エッチングガスをアンモニア(NH3)系ガスに切り替えて、図7に示すように、第2層膜19をマスクとしてRIEを行って第1層膜18をエッチングすることにより、コンタクトホール26を更に深く形成する。NH3系のガスの場合、窒化シリコンとSiLKの選択比が大きいため、シリコン窒化膜16は殆ど加工されず、第1層膜18のみがエッチングされる。最小配線間隔で形成されるトランジスタM2とM3の間のコンタクトホール26は、シリコン窒化膜16の形状に沿うように形成される。なお、このNH3系ガスのエッチングにより、第2層膜19上に残存していた反射防止膜R1及びレジストR2は完全に除去される。また、このNH3系ガスではTEOS膜も殆どエッチングされないため、第2層膜19に形成されたコンタクトホール26の形状が変化してしまうこともない。すなわち、このような第1層膜18、第2層膜19の2層構造を有する層間絶縁膜17によれば、第1層膜18をエッチングする際に、第2層膜19を選択比の高いハードマスクとして機能させることができる。
【0018】
最後に、エッチングガスをCF4系のガスに切り替えて、シリコン窒化膜16をエッチングしてコンタクトホール26をソース・ドレイン拡散領域11及びゲート電極14まで貫通させる。
【0019】
続いて、ALD(原子層堆積法:Atomic Layer Deposition)法又はCVD(化学気相成長法:Chemical Vapor Deposition)法を用いてコンタクトホール26の壁面にTiSiN等からなるバリアメタル24を形成し、更にCVD法を用いてタングステン(W)をコンタクトホール26中に埋め込んだ後、コンタクトホール26の外に堆積されたタングステンをCMP法で除去する。
【0020】
そして、第2層膜19上にTEOS膜を100nm程度の厚さに堆積して層間絶縁膜20を形成し、更にこの層間絶縁膜20にコンタクト21〜23に達するコンタクトホールを形成する。そして、スパッタリングによりタンタル(Ta)膜と銅(Cu)膜をコンタクトホールの壁面に形成してバリアメタル24とし、さらにメッキにより銅(Cu)を形成する。最後にコンタクトホール外のTa及びCuをCMP法により除去して、図1に示すような半導体装置が完成する。
【0021】
この実施の形態では、層間絶縁膜17の下層膜である第1層膜18が、シリコン窒化膜16に対する選択比が大きい有機系絶縁材料で形成されるため、シリコン窒化膜16ひいてはゲート電極14にダメージを与えることなくコンタクトホール26の加工を行うことが出来る。
【0022】
[第2の実施の形態] 次に、本発明の第2の実施の形態を図8等を参照して説明する。第1の実施の形態と同様の構成要素については同一の符号を付しその詳細な説明は省略する。この実施の形態は、図8に示すように、層間絶縁膜17の第1層膜18と第2層膜19との界面が、ゲート電極14上のシリコン窒化膜16の上面と略一致している点で、第1の実施の形態と異なっている。換言すれば、この第2の実施の形態は、ゲート電極14の上には第2層膜19のみが存在し、第1層膜18は存在しない点で第1の実施の形態と異なっている。
【0023】
図9及び図10に示すように、第1の実施の形態と同様にMOSトランジスタを形成し第1層膜18を形成した後、この第1層膜18をレジン樹脂をスラリとしたCMP法により平坦化する。ただしこの際、図11に示すように、ゲート電極14上のシリコン窒化膜16をストッパ膜として、第1層膜18の上面がゲート電極14上のシリコン窒化膜16の上面と一致するまでCMPを行う。スラリとされるレジン樹脂は窒化シリコンとは殆ど反応しないので、このCMPを実行しても、シリコン窒化膜16表面へのダメージは極めて小さい。
【0024】
次に、図12に示すように、このCMP終了後の第1層膜18上にTEOS膜をCVD法等により堆積して第2層膜19を形成する。その後、図13に示すように、この第2層膜19上に反射防止膜R1及びレジストR2を形成し、レジストR2をマスクとしC4F8系ガスを用いたRIEによりコンタクトホール26を形成する。この際、ゲート電極14上のコンタクトホール26のエッチングは、窒化シリコンとTEOS膜の選択比が5程度と高いため、シリコン窒化膜16の上で止まる。
【0025】
一方、ソース・ドレイン拡散領域11上のコンタクトホール26のエッチングは、TEOS膜とSiLK(商品名)の選択比が50以上と高いため、第1層膜18と第2層膜19の界面で止まる。
【0026】
その後、図14に示すように、エッチングガスをNH3系のガスに切り替えて、第1層膜18をエッチングする。SiLK(商品名)と窒化シリコンの選択比が高いため、このエッチングはシリコン窒化膜16に達すると止まる。また、コンタクトホールの位置ズレが生じた場合でも、ゲート電極14の側面に形成されたシリコン窒化膜16や側壁絶縁膜15はエッチングされず、第1層膜18のみがエッチングされる。従って、ゲート電極14等にダメージを与えることはない。
【0027】
最後に、エッチングガスをCF4系のガスに切り替えてゲート電極14上及びソース・ドレイン拡散領域11上のシリコン窒化膜16を除去して、コンタクトホール26を貫通させる。以後は第1の実施の形態と同様の工程を実行することにより、図8に示す半導体装置が完成する。
【0028】
この第2の実施の形態の場合、第1層膜18と第2層膜19の界面が、ゲート電極14上のシリコン窒化膜16の上面と一致しており、ゲート電極14上には第1層膜18は形成されていない。このため、ゲート電極14上のコンタクトホールの形状を理想的なテーパ形状に近づけることができる。また、シリコン窒化膜16をCMP法のストッパ膜として用いるため、層間絶縁膜17の平坦性を更に向上させることができる。平坦性が向上すると、上層配線においてデュアルダマシン加工を適用する場合に、その加工を容易にすることができる。
【0029】
[第3の実施の形態] 次に、本発明の第3の実施の形態を、図15等を参照して説明する。上記実施の形態と同様の構成要素については同一の符号を付しその詳細な説明は省略する。この実施の形態では、その製造工程において、第1層膜18に幅広のコンタクト23の下部を形成した後、その後第2層膜19を形成し、続いてこの第2層膜19に幅狭のコンタクトの上部を形成する工程を採用する点で、上記の実施の形態と異なっている。
【0030】
次に、この第3の実施の形態に係る半導体装置の製造工程を、図16〜21を参照して説明する。第1の実施の形態と同様に、半導体基板10上にMOSトランジスタを形成した後(図16)、このMOSトランジスタを覆うよう第1層膜18を形成し(図17)、その後レジン樹脂をスラリとし、ゲート電極14上のシリコン窒化膜16をストッパ膜として、第1層膜18の上面がゲート電極14上のシリコン窒化膜16の上面と一致するまでCMP法により平坦化する(図18)。
【0031】
そして、図19に示すように、この第1層膜18上にレジストの反射防止膜R1’を形成し、更にレジストR2’をフォトリソグラフィ法によりパタ−ニングする。このレジストR2’をマスクとし反射防止膜R1'にCF4系のガスを用いたRIEによりコンタクトホールパターンを形成し、更にレジストR2’のパタ-ンをマスクにNH3系ガスを用いたRIEでコンタクトホ−ル28を形成する。ソース・ドレイン拡散領域11に達するコンタクトホール28は幅広であるが、NH3系のガスを用いているため、シリコン窒化膜16は殆どエッチングされず、第1層膜18のみがシリコン窒化膜16の輪郭に沿ってエッチングされる。このため、幅広のコンタクトホールを形成しても、ゲート電極14等にダメージを与えることはない。
【0032】
続いて、図20に示すように、反射防止膜R1’を除去した後、このコンタクトホール28の壁面にスパッタリングによりバリアメタル24を形成し、続いてCVD法によりタングステン(W)をコンタクトホール28内に堆積させてコンタクトの下部22B,23Bを形成する。コンタクトホール28外のタングステン等をCMPにより除去した後、図21に示すように第1層膜18上にTEOS膜を堆積させて第2層膜19を形成する。この第2層膜に更にコンタクトホール29を形成し、ここにバリアメタル24、タングステンの埋め込みを行うことにより、コンタクト21〜23を形成する。この場合、コンタクトホール28が幅広に形成されたため、コンタクトホール29に関しては位置ズレの許容度を大きくとることができる。また、レジストR1'で用いたSIONは最後にシリコン窒化膜16をエッチングするときに無くなるか、またはその後にバリアメタル24、コンタクト下部22B、23Bを形成するためにCMPで除去した際に一緒に削ることで除去することができる。図22に示すように、トランジスタM2とM3の間だけでなく、コンタクト22の下部も幅広のものとしてもよい。
【0033】
以上、発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変更、追加等が可能である。例えば、上記の実施の形態では半導体基板上にMOSトランジスタを形成した場合を例示したが、これに限らず、例えばバイポーラトランジスタを形成した半導体装置に本発明を適用することも可能である。また、コンタクトホールに埋め込む導体金属としては、タングステン(W)の他、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、スズ(Su)、タンタル(Ta)、チタン(Ti)、ニオビウム(Nb)等を用いることが出来る。更に、第2層膜19の材料としては、第1層膜18やシリコン窒化膜16に対し高い選択比を有するものであれば、TEOSの他、シリコン酸化膜など様々なシリコン系絶縁膜を用いることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【0034】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る半導体装置の構成を示す断面図である。
【図2】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図3】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図4】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図5】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図6】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図7】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図8】本発明の第2の実施の形態に係る半導体装置の構成を示す断面図である。
【図9】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図10】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図11】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図12】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図13】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図14】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図15】本発明の第3の実施の形態に係る半導体装置の構成を示す断面図である。
【図16】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図17】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図18】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図19】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図20】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図21】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図22】第3の実施の形態の変形例を示す。
【符号の説明】
【0035】
10・・・半導体基板、 11・・・ドレイン・ソース拡散領域、 M1、M2、M3・・・n型MOSトランジスタ、 13・・・ゲート絶縁膜、 14・・・ゲート電極、 15・・・側壁絶縁膜、 16・・・シリコン窒化膜、 17・・・層間絶縁膜、 18・・・第1層膜、 19・・・第2層膜、 20・・・層間絶縁膜、 21、22、23・・・コンタクト、 24・・・バリアメタル、 26、28、29・・・コンタクトホール。
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体装置及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体装置の製造工程においては、半導体基板上に複数層に亘って導電層が形成する工程が実行されると共に、その導電層に配線を接続するため、各導電層に達するコンタクトホールを形成する工程が実行される(特許文献1参照)。例えば、MOSFETを半導体基板上に形成する場合、半導体基板中にソース・ドレイン拡散領域を形成すると共に、半導体基板上にゲート絶縁膜を介してゲート電極を形成する。続いてこれら拡散領域及びゲート電極を覆う層間絶縁膜を形成した後、層間絶縁膜上に形成したレジストパターンをマスクとしてRIE法(Reactive Ion etching)法を実行することにより、この層間絶縁膜にコンタクトホールを形成する。このコンタクトホールに配線材料を埋め込むことにより配線用のコンタクトが形成される。
【0003】
この場合、ゲート電極に達するコンタクトホールと、それより深い位置にある拡散領域に達するコンタクトホールとでは、その深さが異なる。そのため、これらコンタクトホールを同時に形成すると、浅い位置にあるゲート電極へのコンタクトホールが先に開口し、ソース・ドレイン拡散領域に達するコンタクトホールが開口するまで、ゲート電極はRIEによるダメージを受けることになる。その際にコンタクトホール底部のゲート電極配線表面に異物が付着してコンタクト界面が電気的に高抵抗になりやすい。また、コンタクトホールの底部の幅が広がって逆テーパ状の孔となり、その後のコンタクトホールに埋め込まれた配線材料にボイド(空洞)が出来て、コンタクトホールに接続不良が生じる虞もある。
【特許文献1】特開2002−184860号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は、深さの異なるコンタクトホールを同時に形成する場合にも、高抵抗化や接続不良等の無い高品質なコンタクトホールを形成することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の一態様に係る半導体装置は、第1導電層及び第2導電層を表面側に形成され前記第2導電層は前記第1導電層よりも高い位置に形成されている半導体基板と、前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように前記半導体基板上に形成される絶縁膜と、有機系絶縁材料からなる第1層膜及びこの第1層膜上に形成される無機系絶縁材料からなる第2層膜の少なくとも2層構造を有し前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように形成される層間絶縁膜とを備えたことを特徴とする。
【0006】
また、本発明の他の一態様に係る半導体装置の製造方法は、半導体基板の表面側に、第1導電層及びこの第1導電層よりも高い位置に存在する第2導電層を形成するステップと、前記第1導電層上及び第2導電層上を含む半導体基板上に絶縁膜を形成するステップと、有機系絶縁材料からなる第1層膜及びこの第1層膜上に形成される無機系絶縁材料からなる第2層膜の少なくとも2層構造を有する層間絶縁膜を、前記絶縁膜を介して前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように形成するステップと、第1のエッチング条件により前記第2層膜をエッチングした後前記第1のエッチング条件とは異なるエッチング条件により前記第1層膜をエッチングして前記第1導電層及び前記第2導電層の上にコンタクトホールを形成する工程とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【0007】
この発明によれば、深さの異なるコンタクトホールを同時に形成する場合にも、高抵抗化や接続不良等を無い高品質なコンタクトホールを形成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0008】
次に、本発明の実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
【0009】
[第1の実施の形態] 図1は、本発明の第1の実施の形態に係る半導体装置の断面図を示す。この半導体装置は、半導体基板10に多数のMOSトランジスタを形成して構成されるものである。図1では、半導体基板10の表面に形成されたドレイン・ソース拡散領域11(第1導電層)を共有した3つのn型MOSトランジスタM1,M2,M3が示されている。ここでは、パターンレイアウトの関係で、トランジスタM2とM3の間の間隔が、トランジスタM1とM2の間の間隔よりも狭くされ、トランジスタM2、M3のゲート電極等は最小配線間隔で配線されているものとする。
【0010】
MOSトランジスタの各々は、ソース・ドレイン拡散領域11の間の半導体基板10上に形成され例えばシリコン酸化膜からなるゲート絶縁膜13と、ゲート絶縁膜13上に形成され例えばポリシリコンから形成されるゲート電極14(第2導電層)を備えている。このゲート電極14の側面には、例えばシリコン酸化膜からなる側壁絶縁膜15が形成される。また、ゲート電極14の上面を含む半導体基板10上の全体には、シリコン窒化膜16が形成されている。
【0011】
このシリコン窒化膜16の上には、層間絶縁膜17が形成される。層間絶縁膜17は、有機系絶縁材料からなる第1層膜18を下層とし、無機系絶縁材料からなる第2層膜19を上層とする2層構造を有している。第1層膜18の有機系絶縁材料には、例えばポリアリレン系の有機膜、より具体的にはダウケミカル社から入手可能な商品名SiLK(商品名)、又はハネウエル社から入手可能な商品名FLARE(商品名)が用いられる。第2層膜19の材料には、例えばTEOS(テトラエトキシシラン)膜が用いられる。この実施の形態では、第1層膜18はシリコン窒化膜16の最上部、すなわちゲート電極14上のシリコン窒化膜16よりも高い位置まで堆積されている。第2層膜19の上には、シリコン酸化膜等からなる層間絶縁膜20が更に形成されている。
【0012】
これら層間絶縁膜17、20を貫通して形成したコンタクトホールに、コンタクト21、22、及び23が、バリアメタル24を介して形成されている。コンタクト21は、トランジスタM1のゲート電極14の上面に達するように形成されている。またコンタクト22は、トランジスタM1とM2が共有するソース・ドレイン拡散領域11に達するように形成されている。さらにコンタクト23は、トランジスタM2とM3が共有する、最小配線間隔で形成されたソース・ドレイン拡散領域11に達するように形成されている。
【0013】
本実施の形態は、層間絶縁膜17が、上述のように有機系絶縁材料からなる第1層膜18と無機系絶縁材料からなる第2層膜19の2層構造を有する。この構成により、コンタクト21〜23を形成するためのコンタクトホールを同時に形成する場合にも、異物の堆積による高抵抗化や、オーバーエッチングによるボイドの発生などの不具合を生じさせることがない。以下、この点につき図2〜図7を参照して半導体装置の製造工程と共に説明する。
【0014】
まず、図2に示すように、周知のMOSトランジスタの製造工程により、ソース・ドレイン拡散領域11を例えば最小ライン/スペース幅90/90nmで形成すると共に、50nm程度の厚さのゲート絶縁膜13及び200nm程度の厚さのゲート電極14を例えば最小ライン/スペース幅50/120nmで形成する。その後、30nm程度の厚さの側壁絶縁膜15及び50nm程度の厚さのシリコン窒化膜16を周知のCVD法及びRIE等を用いて形成する。
【0015】
続いて、図3に示すように、このゲート電極14等を覆うように、ダウケミカル社製のSiLK(商品名)を、スピンコート法を用いて600nm程度の厚さに塗布して、第1層膜18を形成する。SiLKの熱キュアーによる硬化後、図4に示すように、有機系の材料、例えばレジン樹脂を主成分とするスラリを用いて、この第1層膜18をCMP(化学的機械研磨法:Chemical Mechanical Polishing)法により研磨して厚さ400nm程度まで平坦化する。次に図5に示すように、この平坦化した第1層膜18の上に、厚さ100nm程度のTEOS膜をCVD法等により堆積させ、第2層膜19を形成する。
【0016】
次に、図6に示すように、この第2層膜19上に厚さ60nm程度の反射防止膜R1、及び厚さ150nm程度のレジストをフォトリソグラフィ法により形成し、これをマスクとしC4F8系のガスを用いたRIEにより第2層膜19にコンタクトホール26を形成する。C4F8系のガスを用いる場合、TEOS膜とSiLK(商品名)の選択比は50以上である。このため、エッチングされるのはTEOS膜からなる第2層膜19のみであり、エッチングは第1層膜18と第2層膜19の界面で止まる。なお、コンタクトホール26の加工完了後のレジストR2の厚さは、およそ100nm程度と想定される。
【0017】
次に、エッチングガスをアンモニア(NH3)系ガスに切り替えて、図7に示すように、第2層膜19をマスクとしてRIEを行って第1層膜18をエッチングすることにより、コンタクトホール26を更に深く形成する。NH3系のガスの場合、窒化シリコンとSiLKの選択比が大きいため、シリコン窒化膜16は殆ど加工されず、第1層膜18のみがエッチングされる。最小配線間隔で形成されるトランジスタM2とM3の間のコンタクトホール26は、シリコン窒化膜16の形状に沿うように形成される。なお、このNH3系ガスのエッチングにより、第2層膜19上に残存していた反射防止膜R1及びレジストR2は完全に除去される。また、このNH3系ガスではTEOS膜も殆どエッチングされないため、第2層膜19に形成されたコンタクトホール26の形状が変化してしまうこともない。すなわち、このような第1層膜18、第2層膜19の2層構造を有する層間絶縁膜17によれば、第1層膜18をエッチングする際に、第2層膜19を選択比の高いハードマスクとして機能させることができる。
【0018】
最後に、エッチングガスをCF4系のガスに切り替えて、シリコン窒化膜16をエッチングしてコンタクトホール26をソース・ドレイン拡散領域11及びゲート電極14まで貫通させる。
【0019】
続いて、ALD(原子層堆積法:Atomic Layer Deposition)法又はCVD(化学気相成長法:Chemical Vapor Deposition)法を用いてコンタクトホール26の壁面にTiSiN等からなるバリアメタル24を形成し、更にCVD法を用いてタングステン(W)をコンタクトホール26中に埋め込んだ後、コンタクトホール26の外に堆積されたタングステンをCMP法で除去する。
【0020】
そして、第2層膜19上にTEOS膜を100nm程度の厚さに堆積して層間絶縁膜20を形成し、更にこの層間絶縁膜20にコンタクト21〜23に達するコンタクトホールを形成する。そして、スパッタリングによりタンタル(Ta)膜と銅(Cu)膜をコンタクトホールの壁面に形成してバリアメタル24とし、さらにメッキにより銅(Cu)を形成する。最後にコンタクトホール外のTa及びCuをCMP法により除去して、図1に示すような半導体装置が完成する。
【0021】
この実施の形態では、層間絶縁膜17の下層膜である第1層膜18が、シリコン窒化膜16に対する選択比が大きい有機系絶縁材料で形成されるため、シリコン窒化膜16ひいてはゲート電極14にダメージを与えることなくコンタクトホール26の加工を行うことが出来る。
【0022】
[第2の実施の形態] 次に、本発明の第2の実施の形態を図8等を参照して説明する。第1の実施の形態と同様の構成要素については同一の符号を付しその詳細な説明は省略する。この実施の形態は、図8に示すように、層間絶縁膜17の第1層膜18と第2層膜19との界面が、ゲート電極14上のシリコン窒化膜16の上面と略一致している点で、第1の実施の形態と異なっている。換言すれば、この第2の実施の形態は、ゲート電極14の上には第2層膜19のみが存在し、第1層膜18は存在しない点で第1の実施の形態と異なっている。
【0023】
図9及び図10に示すように、第1の実施の形態と同様にMOSトランジスタを形成し第1層膜18を形成した後、この第1層膜18をレジン樹脂をスラリとしたCMP法により平坦化する。ただしこの際、図11に示すように、ゲート電極14上のシリコン窒化膜16をストッパ膜として、第1層膜18の上面がゲート電極14上のシリコン窒化膜16の上面と一致するまでCMPを行う。スラリとされるレジン樹脂は窒化シリコンとは殆ど反応しないので、このCMPを実行しても、シリコン窒化膜16表面へのダメージは極めて小さい。
【0024】
次に、図12に示すように、このCMP終了後の第1層膜18上にTEOS膜をCVD法等により堆積して第2層膜19を形成する。その後、図13に示すように、この第2層膜19上に反射防止膜R1及びレジストR2を形成し、レジストR2をマスクとしC4F8系ガスを用いたRIEによりコンタクトホール26を形成する。この際、ゲート電極14上のコンタクトホール26のエッチングは、窒化シリコンとTEOS膜の選択比が5程度と高いため、シリコン窒化膜16の上で止まる。
【0025】
一方、ソース・ドレイン拡散領域11上のコンタクトホール26のエッチングは、TEOS膜とSiLK(商品名)の選択比が50以上と高いため、第1層膜18と第2層膜19の界面で止まる。
【0026】
その後、図14に示すように、エッチングガスをNH3系のガスに切り替えて、第1層膜18をエッチングする。SiLK(商品名)と窒化シリコンの選択比が高いため、このエッチングはシリコン窒化膜16に達すると止まる。また、コンタクトホールの位置ズレが生じた場合でも、ゲート電極14の側面に形成されたシリコン窒化膜16や側壁絶縁膜15はエッチングされず、第1層膜18のみがエッチングされる。従って、ゲート電極14等にダメージを与えることはない。
【0027】
最後に、エッチングガスをCF4系のガスに切り替えてゲート電極14上及びソース・ドレイン拡散領域11上のシリコン窒化膜16を除去して、コンタクトホール26を貫通させる。以後は第1の実施の形態と同様の工程を実行することにより、図8に示す半導体装置が完成する。
【0028】
この第2の実施の形態の場合、第1層膜18と第2層膜19の界面が、ゲート電極14上のシリコン窒化膜16の上面と一致しており、ゲート電極14上には第1層膜18は形成されていない。このため、ゲート電極14上のコンタクトホールの形状を理想的なテーパ形状に近づけることができる。また、シリコン窒化膜16をCMP法のストッパ膜として用いるため、層間絶縁膜17の平坦性を更に向上させることができる。平坦性が向上すると、上層配線においてデュアルダマシン加工を適用する場合に、その加工を容易にすることができる。
【0029】
[第3の実施の形態] 次に、本発明の第3の実施の形態を、図15等を参照して説明する。上記実施の形態と同様の構成要素については同一の符号を付しその詳細な説明は省略する。この実施の形態では、その製造工程において、第1層膜18に幅広のコンタクト23の下部を形成した後、その後第2層膜19を形成し、続いてこの第2層膜19に幅狭のコンタクトの上部を形成する工程を採用する点で、上記の実施の形態と異なっている。
【0030】
次に、この第3の実施の形態に係る半導体装置の製造工程を、図16〜21を参照して説明する。第1の実施の形態と同様に、半導体基板10上にMOSトランジスタを形成した後(図16)、このMOSトランジスタを覆うよう第1層膜18を形成し(図17)、その後レジン樹脂をスラリとし、ゲート電極14上のシリコン窒化膜16をストッパ膜として、第1層膜18の上面がゲート電極14上のシリコン窒化膜16の上面と一致するまでCMP法により平坦化する(図18)。
【0031】
そして、図19に示すように、この第1層膜18上にレジストの反射防止膜R1’を形成し、更にレジストR2’をフォトリソグラフィ法によりパタ−ニングする。このレジストR2’をマスクとし反射防止膜R1'にCF4系のガスを用いたRIEによりコンタクトホールパターンを形成し、更にレジストR2’のパタ-ンをマスクにNH3系ガスを用いたRIEでコンタクトホ−ル28を形成する。ソース・ドレイン拡散領域11に達するコンタクトホール28は幅広であるが、NH3系のガスを用いているため、シリコン窒化膜16は殆どエッチングされず、第1層膜18のみがシリコン窒化膜16の輪郭に沿ってエッチングされる。このため、幅広のコンタクトホールを形成しても、ゲート電極14等にダメージを与えることはない。
【0032】
続いて、図20に示すように、反射防止膜R1’を除去した後、このコンタクトホール28の壁面にスパッタリングによりバリアメタル24を形成し、続いてCVD法によりタングステン(W)をコンタクトホール28内に堆積させてコンタクトの下部22B,23Bを形成する。コンタクトホール28外のタングステン等をCMPにより除去した後、図21に示すように第1層膜18上にTEOS膜を堆積させて第2層膜19を形成する。この第2層膜に更にコンタクトホール29を形成し、ここにバリアメタル24、タングステンの埋め込みを行うことにより、コンタクト21〜23を形成する。この場合、コンタクトホール28が幅広に形成されたため、コンタクトホール29に関しては位置ズレの許容度を大きくとることができる。また、レジストR1'で用いたSIONは最後にシリコン窒化膜16をエッチングするときに無くなるか、またはその後にバリアメタル24、コンタクト下部22B、23Bを形成するためにCMPで除去した際に一緒に削ることで除去することができる。図22に示すように、トランジスタM2とM3の間だけでなく、コンタクト22の下部も幅広のものとしてもよい。
【0033】
以上、発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変更、追加等が可能である。例えば、上記の実施の形態では半導体基板上にMOSトランジスタを形成した場合を例示したが、これに限らず、例えばバイポーラトランジスタを形成した半導体装置に本発明を適用することも可能である。また、コンタクトホールに埋め込む導体金属としては、タングステン(W)の他、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、スズ(Su)、タンタル(Ta)、チタン(Ti)、ニオビウム(Nb)等を用いることが出来る。更に、第2層膜19の材料としては、第1層膜18やシリコン窒化膜16に対し高い選択比を有するものであれば、TEOSの他、シリコン酸化膜など様々なシリコン系絶縁膜を用いることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【0034】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る半導体装置の構成を示す断面図である。
【図2】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図3】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図4】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図5】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図6】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図7】第1の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図8】本発明の第2の実施の形態に係る半導体装置の構成を示す断面図である。
【図9】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図10】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図11】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図12】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図13】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図14】第2の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図15】本発明の第3の実施の形態に係る半導体装置の構成を示す断面図である。
【図16】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図17】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図18】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図19】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図20】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図21】第3の実施の形態の半導体装置の製造工程を示す。
【図22】第3の実施の形態の変形例を示す。
【符号の説明】
【0035】
10・・・半導体基板、 11・・・ドレイン・ソース拡散領域、 M1、M2、M3・・・n型MOSトランジスタ、 13・・・ゲート絶縁膜、 14・・・ゲート電極、 15・・・側壁絶縁膜、 16・・・シリコン窒化膜、 17・・・層間絶縁膜、 18・・・第1層膜、 19・・・第2層膜、 20・・・層間絶縁膜、 21、22、23・・・コンタクト、 24・・・バリアメタル、 26、28、29・・・コンタクトホール。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1導電層及び第2導電層を表面側に形成され前記第2導電層は前記第1導電層よりも高い位置に形成されている半導体基板と、
前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように前記半導体基板上に形成される絶縁膜と、
有機系絶縁材料からなる第1層膜及びこの第1層膜上に形成される無機系絶縁材料からなる第2層膜の少なくとも2層構造を有し前記絶縁膜を介して前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように形成される層間絶縁膜と
を備えたことを特徴とする半導体装置。
【請求項2】
前記第1層膜の表面の高さが、前記絶縁膜の高さと略一致していることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
【請求項3】
前記第1層膜は、有機系材料のスラリを用い前記絶縁膜をストッパ膜としたCMP法により平坦化されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
【請求項4】
半導体基板の表面側に、第1導電層及びこの第1導電層よりも高い位置に存在する第2導電層を形成するステップと、
前記第1導電層上及び第2導電層上を含む半導体基板上に絶縁膜を形成するステップと、
有機系絶縁材料からなる第1層膜及びこの第1層膜上に形成される無機系絶縁材料からなる第2層膜の少なくとも2層構造を有する層間絶縁膜を、前記絶縁膜を介して前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように形成するステップと、
第1のエッチング条件により前記第2層膜をエッチングした後前記第1のエッチング条件とは異なるエッチング条件により前記第1層膜をエッチングして前記第1導電層及び前記第2導電層の上にコンタクトホールを形成する工程と、
を備えたことを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項5】
前記第1層膜を前記第2導電層を覆うように形成した後、前記第1層膜を前記絶縁膜をストッパ膜としたCMP法により平坦化するステップを更に備えた請求項4記載の半導体装置の製造方法。
【請求項1】
第1導電層及び第2導電層を表面側に形成され前記第2導電層は前記第1導電層よりも高い位置に形成されている半導体基板と、
前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように前記半導体基板上に形成される絶縁膜と、
有機系絶縁材料からなる第1層膜及びこの第1層膜上に形成される無機系絶縁材料からなる第2層膜の少なくとも2層構造を有し前記絶縁膜を介して前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように形成される層間絶縁膜と
を備えたことを特徴とする半導体装置。
【請求項2】
前記第1層膜の表面の高さが、前記絶縁膜の高さと略一致していることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
【請求項3】
前記第1層膜は、有機系材料のスラリを用い前記絶縁膜をストッパ膜としたCMP法により平坦化されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
【請求項4】
半導体基板の表面側に、第1導電層及びこの第1導電層よりも高い位置に存在する第2導電層を形成するステップと、
前記第1導電層上及び第2導電層上を含む半導体基板上に絶縁膜を形成するステップと、
有機系絶縁材料からなる第1層膜及びこの第1層膜上に形成される無機系絶縁材料からなる第2層膜の少なくとも2層構造を有する層間絶縁膜を、前記絶縁膜を介して前記第1導電層及び前記第2導電層を覆うように形成するステップと、
第1のエッチング条件により前記第2層膜をエッチングした後前記第1のエッチング条件とは異なるエッチング条件により前記第1層膜をエッチングして前記第1導電層及び前記第2導電層の上にコンタクトホールを形成する工程と、
を備えたことを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項5】
前記第1層膜を前記第2導電層を覆うように形成した後、前記第1層膜を前記絶縁膜をストッパ膜としたCMP法により平坦化するステップを更に備えた請求項4記載の半導体装置の製造方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【公開番号】特開2007−27343(P2007−27343A)
【公開日】平成19年2月1日(2007.2.1)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−206370(P2005−206370)
【出願日】平成17年7月15日(2005.7.15)
【出願人】(000003078)株式会社東芝 (54,554)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成19年2月1日(2007.2.1)
【国際特許分類】
【出願日】平成17年7月15日(2005.7.15)
【出願人】(000003078)株式会社東芝 (54,554)
【Fターム(参考)】
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