説明

空間光変調素子及び空間光変調素子の製造方法

【課題】光の反射効率が高く、製造プロセスが簡便な空間光変調素子を提供する。
【解決手段】空間光変調素子の製造方法であって、電極が形成された電極側基板を準備するステップと、電極との間の静電力により可動する可動部、可動部の動きに連れて傾斜する反射鏡および可動部を支持する支持部を有する可動側基板を準備するステップと、可動側基板の支持部を電極側基板に貼り合わせるステップとを備える製造方法が提供される。可動側基板を準備するステップは、基板本体を準備するステップと、基板本体の一面をエッチングすることにより可動部を形成するステップと、可動部上に反射鏡を成膜するステップと、基板本体に他面をエッチングすることにより支持部を形成するステップとを有する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、空間光変調素子及び空間光変調素子の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体集積回路パターンの微細化に伴い,フォトリソグラフィ工程における照明条件の選択が非常に重要な要素となり,露光する回路パターン又はプロセス条件毎に照明条件を変更して露光を行うことが求められている。そのようなニーズに応えるべく、空間光変調素子を利用して、照明条件の変更自由度の高い露光装置の研究開発が進められている(特許文献1を参照)。特許文献2には、空間光変調素子及びその製造方法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開2002−353105号公報
【特許文献2】特開平5−196880号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、上記の空間光変調素子の構造が複雑で、その製造に手間、工数がかかる。また、空間光変調素子が半導体の成膜プロセスにより製造されるので、構造的に薄くて小さい。よって、強度が十分でなく、大きい光反射面積が得られない。
【課題を解決するための手段】
【0005】
上記課題を解決するために、本発明の第1の態様においては、空間光変調素子の製造方法であって、電極が形成された電極側基板を準備するステップと、電極との間の静電力により可動する可動部、可動部の動きに連れて傾斜する反射鏡および可動部を支持する支持部を有する可動側基板を準備するステップと、可動側基板の支持部を電極側基板に貼り合わせるステップとを備える製造方法が提供される。
【0006】
本発明の第2の態様においては、上記製造方法により製造された空間光変調素子が提供される。
【0007】
本発明の第3の態様においては、電極が形成された電極側基板と、電極との間の静電力により可動する可動部、可動部の動きに連れて傾斜する反射鏡および可動部を支持する支持部を有し、支持部で電極側基板に貼り合わされた可動側基板とを備える空間光変調素子が提供される。
【0008】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【図1】一実施形態である空間光変調素子100の構造を概略的に示す断面図である。
【図2】図1におけるA−A部平面図である。
【図3】空間光変調素子100の構造を概略的に示す斜視図である。
【図4】可動側基板110の製造過程を概略的に示す断面図である。
【図5】可動側基板110の製造過程を概略的に示す断面図である。
【図6】図5に示す基板の平面図である。
【図7】可動側基板110の製造過程を概略的に示す断面図である。
【図8】可動側基板110の製造過程を概略的に示す断面図である。
【図9】可動側基板110の製造過程を概略的に示す断面図である。
【図10】可動側基板110の製造過程を概略的に示す断面図である。
【図11】可動側基板110の製造過程を概略的に示す断面図である。
【図12】可動側基板110の製造過程を概略的に示す断面図である。
【図13】図12に示す基板の底面図である。
【図14】電極側基板101の構造を概略的に示す断面図である。
【図15】空間光変調素子100の製造過程を概略的に示す斜視図である。
【図16】露光装置400の模式図である。
【図17】照明光発生装置500の部分拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【0011】
図1は、一実施形態である空間光変調素子100の構造を概略的に示す断面図である。図2は、図1におけるA−A部平面図である。図3は、空間光変調素子100の構造を概略的に示す斜視図である。図1から図3は、二つの空間光変調素子100が一体に製造された構造を示す。空間光変調素子100は、電極側基板101と、可動側基板110とを備える。
【0012】
電極側基板101は、基板102と、固定電極104と、誘電体層106を有する。基板102は、シリコン基板である。基板102は、その他の半導体基板であってもよい。基板102は、ガラス基板、セラミックス基板、樹脂基板等であってもよい。基板102は、空間光変調素子100の他の要素を支持するのに十分な機械的強度を有する基板であってよい。
【0013】
固定電極104は、基板102の上に設けられる。固定電極104は、Cu、Al等の金属から形成される。固定電極104は、他の導電性材料により形成されてもよい。例えば、不純物がドーピングされたポリシリコンにより形成されてもよい。固定電極104は、真空蒸着法、スパッタ法、メッキ法、CVD法等の方法により形成できる。
【0014】
誘電体層106は、固定電極104を覆うように、基板102の上に形成される。誘電体層106は、酸化シリコン層である。誘電体層106は、窒化シリコン、アルミナ等他の誘電体から形成されてもよい。誘電体層106は、CVD法、スパッタ法等により形成できる。
【0015】
可動側基板110は、支持部112と、可動電極114と、絶縁層116と、可動部120と、反射鏡130と、支柱132とを有する。支持部112は、シリコンから形成される。支持部112は、他の半導体材料から構成されてもよい。支持部112は、底部が電極側基板101の誘電体層106と接合され、上部は絶縁層116を介して、可動側基板110の他の要素を支持する。
【0016】
可動電極114は、シリコンから形成される。可動電極114は、他の半導体材料から構成されてもよい。可動電極114は、底部が電極側基板101の誘電体層106との間に一定の距離を離れ、上部が絶縁層116を介して可動部120に連結されて懸垂状態にある。
【0017】
絶縁層116は、酸化シリコンから形成される。絶縁層116は、シリコン基板に酸素イオンを注入することにより形成できる。絶縁層116は、窒化シリコン、アルミナ等他の絶縁材料から形成されてもよい。絶縁層116は、CVD法、スパッタ法等により形成することもできる。絶縁層116は、支持部112および可動電極114から可動部120を電気的に隔離する。
【0018】
可動部120は、絶縁層116を介して支持部112の上に形成されるシリコン薄膜である。図2に示すように、可動部120は、駆動板122と、梁124と、支持板126を含む。一つの空間光変調素子100において、可動部120は、a、b、c及びdで示す四つの駆動板122に分けられる。何れの駆動板122も下部から支持部112により支えられる。各駆動板122は、梁124及び支持板126により連結される。また、各駆動板122の下部にはそれぞれ一つの可動電極114が連結され懸垂する。可動部120は、可とう性を有する。
【0019】
反射鏡130は、Ni等の金属により形成される。反射鏡130は、支柱132を介して支持板126の上面に設けられる。反射鏡130は、上面が研磨加工により平坦な鏡面となる。反射鏡130は、光を反射できる他の材料により形成されてもよい。
【0020】
空間光変調素子100を駆動するに当たっては、固定電極104と可動電極114との間に電圧をかけると、静電気により、固定電極104は、可動電極114に対して、下方に引っ張る静電気力が働く。その力が駆動板122に伝わり、駆動板122は弾性変形して下方向きに変位が生ずる。その変位は梁124を通じて支持板126の弾性変形を引き起こし、支柱132を介して反射鏡130の鏡面を傾斜させて、反射光の向きを制御することができる。図1において、破線の130a及び130bにより、反射鏡130の鏡面の傾斜を概略的に示す。
【0021】
例えば、図2において、dで示す(右手前の)駆動板122に対応する固定電極104と可動電極114に電圧をかけると、静電気力により、dの部分駆動板122が駆動され、下方向きに弾性変形する。駆動板122の変位に伴って、対応する梁124及び支持板126も弾性変形して、反射鏡130を右手前に傾斜させることができる。また、同時にbとdで示す駆動板122に対応する固定電極104と可動電極114に同じ電圧をかけることにより、反射鏡130を右方向に傾斜させることができる。図3は、左の反射鏡130が右に傾斜する様子を示す。
【0022】
即ち、四つの駆動板122の駆動を組み合わせることにより、様々な方向に反射鏡130を傾斜させることができる。また、梁124は、細いので、上下方向の弾性的な曲げ変形だけでなく、ねじれ変形も弾性的に実現できる。よって、梁124を通じて、反射鏡130の鏡面の傾斜を細かく制御することができる。
【0023】
図4から図15は、空間光変調素子100の製造方法の一実施形態の製造過程を概略的に示す。次に、これらの図面を用いて、空間光変調素子100の製造方法について説明する。
【0024】
図4から図13は、空間光変調素子100における可動側基板110の製造過程を概略的に示す。まず、図4に示すように、シリコン基板212と、酸化シリコン層216と、シリコン活性層220を含むSOI(Silicon on Insulator)基板200を準備する。基板200は、シリコン基板に酸素イオンを注入することにより作製することができる。基板200は、市販のSOI基板であってよい。例えば、直径が6インチ、厚さが750μm、シリコン活性層220の厚さが10μmであるSOI基板200を準備してよい。
【0025】
図5に示すように、フォトリソグラフィ及びエッチング等により、シリコン活性層220をパターニングして、可動部120を形成する。例えば、フォトリソグラフィにより、基板200の表面に、可動部120に含まれる駆動板122、梁124及び支持板126を形成しない部分に開口が設けられるレジストマスクを形成して、ドライエッチングによりシリコン活性層220における不要の部分を除去して、駆動板122、梁124及び支持板126を形成する。このとき、酸化シリコン層216がエッチング停止層となる。
【0026】
図6は、図5に示す基板の平面図である。図6に示すように、エッチングの後、レジストを剥離すると、可動部120が完成する。
【0027】
図7に示すように、可動部120の上に50μmのレジスト240を塗布して、レジスト240の表面を研磨して平坦度を高める。この研磨により、その後レジスト240の上に形成される金属層230の表面平坦度を高めることができ、最終的に反射鏡130の鏡面の平坦度を高めることができる。フォトリソグラフィにより、支柱132を形成する部位に開口242が設けられるマスクを形成する。
【0028】
図8に示すように、無電解メッキによりNiの金属層230を形成する。金属層230の材料として、更にAl等が例示できる。金属層230の形成方法としては、更に電解メッキ法、真空蒸着法、スパッタ法、CVD法等が例示できる。その後、金属層230の表面を研磨することにより、平坦度を高めた鏡面を形成する。
【0029】
図9に示すように、研磨した金属層230の表面に、フォトリソグラフィによりレジストマスクを作り、エッチングにより金属層230を二つの四角の反射鏡130に分割する。そして、レジストを剥離する。本実施形態において、反射鏡130は、図3に示すように、四角形を有する。その四角形の範囲内に、ビーム支持ポストを形成する凹部が存在しないので、四角形の全範囲が反射面となり、光の反射率を高めることができる。
【0030】
図10に示すように、シリコン基板212における可動部120が形成された面と反対の面から加工して、凹部248を形成する。例えば、シリコン基板212の裏面に、凹部248を形成する部位に開口が設けられたレジストマスクを形成して、エッチングにより所定の深さを有する凹部248を形成してから、レジストマスクを剥離する。この凹部248は、後続のプロセスにより形成する可動電極114の底部と電極側基板101との間に一定の間隔を設ける目的で形成する。
【0031】
図11に示すように、支持部112と可動電極114を形成する目的で、フォトリソグラフィにより保護膜250を形成する。保護膜250は、レジストを塗布してからパターニングしてよく、酸化シリコン膜を形成してからパターニングしてもよい。保護膜250のパターンは、支持部112と可動電極114の平面形状に対応する。
【0032】
図12に示すように、保護膜250をマスクとして、エッチングにより、シリコン基板212から支持部112と可動電極114を形成する。エッチングは2段階に分けて行う。第1段階では、ドライエッチングによりシリコン部分をエッチングする。この段階で、酸化シリコン層216はエッチングの停止層となる。第2段階では、HFにより酸化シリコン層216をエッチングして絶縁層116を形成し、且つ可動部120を完成する。図12は、レジスト240がまだ除去されていない可動側基板110を示す。
【0033】
図13は、図12に示す状態まで加工した可動側基板110の底面図である。図13から分かるように、支持部112は、四角の枠体を構成して、各空間光変調素子100を囲むように四方から支える。各空間光変調素子100において、支持部112と分離して、L字の可動電極114が四つ形成されている。四つの可動電極114は、それぞれ支持部112の四つの角の近傍に配置される。
【0034】
可動電極114と支持部112との間には、可動側基板110の上部に形成され、支持部112と可動電極114とを連結する駆動板122が裏面に露出する。各可動電極114には、対応する1枚の駆動板122が設けられ、可動電極114により駆動される。四つの可動電極114の間には、支持板126と、それを各駆動板122に連結する梁124が裏面に露出する。また、可動部120が設けられなかった部分には、まだ除去されていないレジスト240が見える。レジスト240を残しておくことにより、レジスト240が各プロセスにおいて反射鏡130及び可動部120等を補強することができる。
【0035】
図14に示すように、電極側基板101を準備する。図14は、電極側基板101の構造を概略的に示す断面図である。電極側基板101は、基板102に固定電極104を形成して、更にその上に誘電体層106を積層することにより準備できる。例えば、固定電極104は、シリコンの基板102の上面に、固定電極104を形成する部位に開口が設けられたレジストマスクを形成してから、真空蒸着法、スパッタ法等により固定電極104の材料であるAlを製膜して、リフトオフにより形成できる。更に、その上にCVD法により酸化シリコン膜を形成すれば、電極側基板101が完成できる。電極側基板101において、可動側基板110に形成されるそれぞれの可動電極114対応して固定電極104が設けられる。即ち、一つの空間光変調素子100において、四つの固定電極104が設けられる。
【0036】
図15に示すように、作製した電極側基板101の上面と可動側基板110における支持部112の底面を位置合わせして接合する。電極側基板101と可動側基板110の接合には、UV硬化型、熱硬化型などの有機系接着剤、低融点薄膜ガラスによる接着、陽極接合法などの公知の接合方法を用いることができる。最後に、レジスト240を除去すると、図1に示す空間光変調素子100が完成する。
【0037】
上述の製造方法により製造した空間光変調素子100は、支持部112により保持された可動部120と、可動部120と一体化された反射鏡130と複数可動電極114が一括して形成できる。よって、各構成要素の間の配置、組合せがより正確に実現でき、空間光変調素子100の制御精度が高い。なお、空間光変調素子100は、構造が簡単で、製造プロセスが簡便である。また、反射鏡130の反射面に、ビーム支持ポストのような構造上の制限で形成される凹部がなく、全面に平坦な反射面となっているので、光の反射効率が高い。更に、上述の実施形態において、二つの空間光変調素子100が同時に形成される例を挙げたが、本実施形態により、より多くの空間光変調素子100を平面上に配列するように形成できる。
【0038】
図16は、露光装置400の模式図である。この露光装置400は、空間光変調器300を備え、照明光学系600に任意の照度分布を有する照明光を入射できる。即ち、露光装置400は、照明光発生装置500、照明光学系600および投影光学系700を備える。空間光変調器300は、複数の空間光変調素子100の配列から構成される。各空間光変調素子100は、それぞれの制御により反射鏡130を傾斜させ、反射光の方向を変えることができる。よって、空間光変調器300は、反射鏡130の傾斜を制御することにより、任意の照度分布を形成することができる。
【0039】
照明光発生装置500は、制御部510、光源520、空間光変調器300、プリズム530、結像光学系540、ビームスプリッタ550および計測部560を含む。光源520は、照明光Lを発生する。光源520が発生した照明光Lは、光源520の発光機構の特性に応じた照度分布を有する。このため、照明光Lは、照明光Lの光路と直交する断面において原画像Iを有する。
【0040】
光源520から出射された照明光Lは、プリズム530に入射する。プリズム530は、照明光Lを空間光変調器300に導いた後、再び外部に出射させる。空間光変調器300は、制御部510の制御の下に入射した照明光Lを変調する。
【0041】
空間光変調器300を経てプリズム530から出射された照明光Lは、結像光学系540を経て、後段の照明光学系600に入射される。結像光学系540は、照明光学系600の入射面612に照明光画像Iを形成する。
【0042】
ビームスプリッタ550は、結像光学系540および照明光学系の間において、照明光Lの光路上に配される。ビームスプリッタ550は、照明光学系600に入射する前の照明光Lの一部を分離して計測部560に導く。
【0043】
計測部560は、照明光学系600の入射面612と光学的に共役な位置で照明光Lの画像を計測する。これにより、計測部560は、照明光学系600に入射する照明光画像Iと同じ画像を計測する。よって、制御部510は、計測部560により計測される照明光画像Iを参照して、空間光変調器300を帰還制御できる。
【0044】
照明光学系600は、フライアイレンズ610、コンデンサ光学系620、視野絞り630および結像光学系640を含む。照明光学系600の出射端には、マスク710を保持したマスクステージ720が配される。
【0045】
フライアイレンズ610は、並列的に緻密に配された多数のレンズ素子を備え、後側焦点面にレンズ素子の数と同数の照明光画像Iを含む2次光源を形成する。コンデンサ光学系620は、フライアイレンズ610から出射された照明光Lを集光して視野絞り630を重畳的に照明する。
【0046】
視野絞り630を経た照明光Lは、結像光学系640により、マスク710のパターン面に、視野絞り630の開口部の像である照射光画像Iを形成する。こうして、照明光学系600は、その出射端に配されたマスク710のパターン面を、照射光画像Iによりケーラー照明する。
【0047】
なお、照明光学系600の入射面612でもあるフライアイレンズ610の入射端に形成される照度分布は、フライアイレンズ610の出射端に形成される2次光源全体の大局的な照度分布と高い相関を示す。よって、照明光発生装置500が照明光学系600に入射させる照明光画像Iは、照明光学系600がマスク710に照射する照明光Lの照度分布である照射光画像Iにも反映される。
【0048】
投影光学系700はマスクステージ720の直後に配され、開口絞り730を備える。開口絞り730は、照明光学系600のフライアイレンズ610の出射端と光学的に共役な位置に配される。投影光学系700の出射端には、感光性材料を塗布された基板810を保持する基板ステージ820が配される。
【0049】
マスクステージ720に保持されたマスク710は、照明光学系600により照射された照明光Lを反射または透過する領域と吸収する領域とからなるマスクパターンを有する。よって、マスク710に照明光画像Iを照射することにより、マスク710のマスクパターンと照明光画像I自体の照度分布との相互作用により投影光画像Iが生成される。投影光画像Iは、基板810の感光性材料に投影されて、要求されたパターンを有するレジスト層を基板810の表面に形成する。
【0050】
なお、図16では照明光Lの光路を直線状に描いているが、照明光Lの光路を屈曲させることにより露光装置400を小型化できる。また、図16は、照明光Lがマスク710を透過するように描いているが、反射型のマスク710が用いられる場合もある。
【0051】
図17は、照明光発生装置500の部分拡大図であり、露光装置400における空間光変調器300の役割を示す図である。プリズム530は、一対の反射面532、534を有する。プリズム530に入射した照明光Lは、一方の反射面532により、空間光変調器300に向かって照射される。
【0052】
既に説明した通り、空間光変調器300は、個別に傾斜させることができる複数の反射鏡130を有する。よって、制御部510が空間光変調器300を制御することにより、要求に応じた任意の光源画像Iを形成できる。
【0053】
空間光変調器300から出射された光源画像Iは、プリズム530の他方の反射面534により反射され、図中のプリズム530右端面から出射される。プリズム530から出射された光源画像Iは、結像光学系540により、照明光学系600の入射面612に照明光画像Iを形成する。
【0054】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【0055】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【0056】
100 空間光変調素子、101 電極側基板、102 基板、104 固定電極、106 誘電体層、110 可動側基板、112 支持部、114 可動電極、116 絶縁層、120 可動部、122 駆動板、124 梁、126 支持板、130 反射鏡、132 支柱、200 基板、212 シリコン基板、216 酸化シリコン層、220 シリコン活性層、230 金属層、240 レジスト、242 開口、248 凹部、250 保護膜、300 空間光変調器、400 露光装置、500 照明光発生装置、510 制御部、520 光源、530 プリズム、532 反射面、534 反射面、540 結像光学系、640 結像光学系、550 ビームスプリッタ、560 計測部、600 照明光学系、612 入射面、610 フライアイレンズ、620 コンデンサ光学系、630 視野絞り、700 投影光学系、710 マスク、720 マスクステージ、730 開口絞り、810 基板、820 基板ステージ

【特許請求の範囲】
【請求項1】
空間光変調素子の製造方法であって、
電極が形成された電極側基板を準備するステップと、
前記電極との間の静電力により可動する可動部、前記可動部の動きに連れて傾斜する反射鏡および前記可動部を支持する支持部を有する可動側基板を準備するステップと、
前記可動側基板の前記支持部を前記電極側基板に貼り合わせるステップと
を備える製造方法。
【請求項2】
前記可動側基板を準備するステップは、
基板本体を準備するステップと、
前記基板本体の一面をエッチングすることにより前記可動部を形成するステップと、
前記可動部上に前記反射鏡を成膜するステップと、
前記基板本体に他面をエッチングすることにより前記支持部を形成するステップと
を有する請求項1に記載の製造方法。
【請求項3】
前記反射鏡を成膜するステップは、
前記基板本体の前記一面に犠牲層を形成するステップと、
前記犠牲層をパターニングするステップと、
前記パターニングされた犠牲層上に金属膜を成膜するステップと、
を備え、
前記貼り合わせステップの後に、前記犠牲層を除去するステップをさらに備える請求項2に記載の製造方法。
【請求項4】
前記反射鏡を成膜するステップは、前記金属膜を成膜するステップの後に、前記金属膜の表面を研磨するステップをさらに有する請求項3に記載の製造方法。
【請求項5】
前記反射鏡を成膜するステップは、前記犠牲層をパターニングするステップの後に、前記犠牲層の表面を研磨するステップをさらに有する請求項3に記載の製造方法。
【請求項6】
前記基板本体は、SOI基板である請求項2から5のいずれかに記載の製造方法。
【請求項7】
請求項1から6のいずれかに記載の製造方法により製造された空間光変調素子。
【請求項8】
電極が形成された電極側基板と、
前記電極との間の静電力により可動する可動部、前記可動部の動きに連れて傾斜する反射鏡および前記可動部を支持する支持部を有し、前記支持部で前記電極側基板に貼り合わされた可動側基板と
を備える空間光変調素子。
【請求項9】
前記電極、前記可動部および前記反射鏡の組が複数配列されている請求項8に記載の空間光変調素子。
【請求項10】
請求項7から請求項9までのいずれかに記載の空間光変調素子を備える照明光発生装置。
【請求項11】
請求項10に記載の照明光発生装置を備える露光装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【図12】
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【図13】
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【図14】
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【図15】
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【図16】
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【図17】
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【公開番号】特開2011−164307(P2011−164307A)
【公開日】平成23年8月25日(2011.8.25)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−25957(P2010−25957)
【出願日】平成22年2月8日(2010.2.8)
【出願人】(000004112)株式会社ニコン (12,601)
【Fターム(参考)】