説明

マイクロ電気機械システムセンサおよびその製造方法

【課題】低コストのマイクロ電気機械システムセンサを提供する。
【解決手段】マイクロ電気機械システムセンサ20は、基板21、基板21に位置するマイクロ電気機械システム部品エリア27、薄膜層29、接着層22、および、複数のSi貫通電極26を備える。基板21は、第一表面211および第二表面212、ならびにマイクロ電気機械システム部品エリア27を有する。薄膜層29は、マイクロ電気機械システム部品エリア27に被さってチャンバを密閉することによって密閉空間を形成する。キャップ24は、接着層22によってマイクロ電気機械システム部品エリア27に固着する。複数のSi貫通電極26は、第二表面212まで伸びるようにマイクロ電気機械システム部品エリア27に電気的に接続される。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、マイクロ電気機械システムセンサおよびその製造方法に関し、詳しくはパッケージ工程を整合したマイクロ電気機械システムセンサおよび製造方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
マイクロ電気機械システムMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)部品は半導体製造技術に基づいて電子および機械機能を整合したマイクロ装置であり、製品として市販されている物は、圧力センサ、加速度センサ、ジャイロスコープ、光通信部品、DLP(デジタル光処理)、インクジェットプリンターのヘッド、無線インターネットのRF検出器などがある。MEMSは現今、自動車用タイヤの圧力測量、光通信ネットワーク、プロジェクタ、検知ネットワーク、デジタルマイク、クロック発振器、互換性のあるゲーム機などの様々な製品に応用されてきただけでなく、次世代メモリ技術、生物チップ、ディスプレイ技術、新エネルギなどの研究において、重要な役割を果たす。
【0003】
従来のマイクロ電気機械システムチップから上述した製品に適用できる部品、例えばQFN(Quad Flat No leads)またはLGA(Land Grid Array)パッケージによる部品を製造するには、複雑な組立(assembling)工程を行わなければならない。図1は従来の圧力センサ10を示す断面図である。図1に示すように、圧力センサ10は、マイクロ電気機械システムチップ11、エンクロージャ13、コロイド状絶縁ユニット15、複数のワイヤ17およびQFN用リードフレーム19を備える。マイクロ電気機械システムチップ11は、QFN用リードフレーム19のダイパッド(die pad)193に固定され、複数のワイヤ17によってQFN用リードフレーム19の複数の接点191に電気的に接続される。エンクロージャ13は、マイクロ電気機械システムチップ11に被さり、QFN用リードフレーム19に合わさる。圧力センサ10は、エンクロージャ13の穴131によって外部空気圧をマイクロ電気機械システムチップ11に作用させることによって外部空気圧の数値を測定する。
【0004】
一方、本発明に関連する特許出願は、米国特許第US6,012,336号、US6,536,281号、US6,928,879号、US7,121,146号、US6,743,654号およびUS7,135,749号などの特許出願がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】米国特許第US6,012,336号明細書
【特許文献2】米国特許第US6,536,281号明細書
【特許文献3】米国特許第US6,928,879号明細書
【特許文献4】米国特許第US7,121,146号明細書
【特許文献5】米国特許第US6,743,654号明細書
【特許文献6】米国特許第US7,135,749号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかしながら、QFNまたはLGAパッケージによってマイクロ電気機械システム部品を完成させるには、複雑なパッケージ工程を行い、多様な材料を使用する必要があるため、マイクロ電気機械システムセンサに求められた低コストを満足させることができない。
【0007】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、低コストのマイクロ電気機械システムセンサおよびその製造方法を提供することを主な目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上述の目的を達成するために、本発明のマイクロ電気機械システムセンサは、第一表面および第二表面を有する基板と、基板に位置するマイクロ電気機械システム部品エリアと、マイクロ電気機械システム部品エリアに被さってチャンバを密閉することによって密閉空間を形成する薄膜層と、接着層と、接着層によってマイクロ電気機械システム部品エリアに固着するキャップと、第二表面まで伸びるようにマイクロ電気機械システム部品エリアに電気的に接続される複数の導線と、を備える。
【0009】
マイクロ電気機械システムセンサは、キャップまたは接着層に位置する少なくとも一つの開口部をさらに備える。
【0010】
マイクロ電気機械システム部品エリアは可変コンデンサユニットを有する。可変コンデンサユニットは、容量値が薄膜層の受けた外部空気の圧力によって変化する。
【0011】
複数の導線は基板を貫通する複数のSi貫通電極である。
複数の導線は複数のT接点である。
薄膜層は、開口部によってマイクロ電気機械システムセンサの外部空気からの圧力を受ける。
【0012】
上述の目的を達成するために、本発明のマイクロ電気機械システムセンサの製造方法は、次の通りである。まず基板を用意する。基板は互いに向かい合う第一表面および第二表面、ならびにマイクロ電気機械システム部品エリアを有する。続いて基板の第一表面に複数の金属層および一つの絶縁エリアの積層を形成する。続いて積層に遮蔽層を形成する。続いて絶縁エリアの一部分を除去し、チャンバを形成する。続いて遮蔽層に薄膜層を被せ、チャンバを密閉し、密閉空間を形成する。続いて、接着層によってキャップをマイクロ電気機械システム部品エリアに固着させる。続いて、基板に複数の導線を配置する。複数の導線は第二表面まで伸びるようにマイクロ電気機械システム部品エリアに電気的に接続される。続いてキャップに少なくとも一つの開口部を形成する。
【0013】
複数の導線は基板を貫通する複数のSi貫通電極である。
複数の導線は複数のT接点(T contact)である。
薄膜層は、開口部によってマイクロ電気機械システムセンサの外部空気からの圧力を受ける。
【0014】
上述の目的を達成するために、本発明のマイクロ電気機械システムセンサの製造方法は、次の通りである。まず基板を用意する。基板は互いに向かい合う第一表面および第二表面、ならびにマイクロ電気機械システム部品エリアを有する。続いて基板の第一表面に複数の金属層および一つの絶縁エリアの積層を形成する。続いて積層に遮蔽層を形成する。続いて絶縁エリアの一部分を除去し、チャンバを形成する。続いて遮蔽層に薄膜層を被せ、チャンバを密閉し、密閉空間を形成する。続いて、接着層によってキャップをマイクロ電気機械システム部品エリアに固着させる。接着層は少なくとも一つの開口部を有する。続いて、基板に複数の導線を配置する。複数の導線は第二表面まで伸びるようにマイクロ電気機械システム部品エリアに電気的に接続される。
【0015】
複数の導線は、基板を貫通する複数のSi貫通電極である。
複数の導線は複数のT接点(T contact)である。
薄膜層は開口部によってマイクロ電気機械システムセンサの外部空気からの圧力を受ける。
【0016】
本発明のマイクロ電気機械システムセンサの製造方法は、マイクロ電気機械システムのCMOS製造工程が完了した後、ウェハーレベル(wafer level)パッケージ工程を進めることであるため、パッケージ工程の簡単化および製造コストの削減を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【0017】
【図1】従来の圧力センサを示す断面図である。
【図2A】本発明の第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法のプロセスを示す断面図である。
【図2B】本発明の第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法のプロセスを示す断面図である。
【図2C】本発明の第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法のプロセスを示す断面図である。
【図2D】本発明の第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法のプロセスを示す断面図である。
【図2E】本発明の第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法のプロセスを示す断面図である。
【図2F】本発明の第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法のプロセスを示す断面図である。
【図2G】本発明の第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法のプロセスを示す断面図である。
【図3】本発明の第2実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサを示す断面図である。
【図4】本発明の第3実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサを示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0018】
以下、本発明の複数の実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサおよびその製造方法を図面に基づいて説明する。そのうちの図面は製造工程、および層と層との上下順序関係を表示する。図面に示した形、厚さおよび幅は一定の比率で製造されるものではない。
(第1実施形態)
【0019】
図2Aから図2Gは、本発明の第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法のプロセスを示す断面図である。第1実施形態によるマイクロ電気機械システムセンサの製造方法は、次の通りである。図2Aに示すようにまず基板21を用意する。基板21はシリコン基板であるが、これに限らない。図2Bに示すよう、続いて基板21の第一表面211に複数の金属層271(例えばアルミニウム)、複数のスルーホール273(例えばタングステン)および一つの絶縁エリア25(例えばシリカ)の積層を形成する。続いて積層に遮蔽層(hard mask)23を形成する。絶縁エリア25がシリカから構成され、後続のエッチング工程がHFガスによる乾式エッチング工程である場合、遮蔽層23は窒化物(窒化ケイ素、窒化チタン)、金属材料(銅、アルミニウム、タングステンまたはチタン含有合金)またはHF腐食に耐えられる材料から構成されるが、これに限らず、エッチング工程およびエッチング対象物によって適切な材料を決めてもよい。また一般のCMOS製造工程によって上述したステップを完成させることができる。一方、本発明は第1実施形態により提示された積層に限らず、異なる金属および絶縁材料の積層を採用してもよい。また積層の上下の順およびパターンを変更することができる。基板21はさらに第二表面212を有し、第二表面212は第一表面211に向かい合う。
【0020】
遮蔽層23は、後続のエッチング工程のマスクに用いる金属層または絶縁材料層を有する。金属層はパターンを有する。図2Bに示すように、続いてエッチング工程によって絶縁エリア25の一部分を除去し、チャンバ275および可変コンデンサの可動電極部276を形成する。このときエッチングされた積層はマイクロ電気機械システム部品エリア27となる。一方、可変コンデンサの固定電極部は図中に表示されない。第1実施形態において、可動電極部276はチャンバ275内の圧力変化に応じて移動するため、可変コンデンサの容量値を変化させる。本発明において、マイクロ電気機械システム部品エリア27は圧力を検知して反応を起こすマイクロ電気機械システム構築に限らず、加速度または別の物を検知するためのマイクロ電気機械システム構築を採用してもよい。移動または圧力が原因でマイクロ電気機械システム構築内の可変コンデンサの容量値を変化させる際、変化した容量値によって演算を行い、所期の目的を達成することができる。また上述したエッチング工程はHFガスによる乾式エッチングを採用する。
【0021】
図2Cに示すように、続いて遮蔽層23に薄膜層29を被せ、チャンバ275を密閉し、密閉空間を形成する。薄膜層29は金属蒸着工程に基づいて遮蔽層23の表面に金属膜が付着することによって構成され、チャンバ275および外部に連絡する開口部を密閉する。図2Dに示すように、続いて一部分の薄膜層29および遮蔽層23を除去し、最上の金属層271を露出する。遮蔽層23が絶縁材料層である場合、このステップを省略してもよい。後続工程がT接点(T contact)工程である場合、このステップが必要である。
【0022】
図2Eに示すように、続いて、接着層22によってキャップ24をマイクロ電気機械システム部品エリア27に固着させる。第1実施形態において、接着層22はマイクロ電気機械システム部品エリア27上の薄膜層29に塗布されることでキャップ24と結合する。接着層22の塗布位置は第1実施形態に制限されない。図2Fに示すように、続いて基板21を貫通して複数のSi貫通電極26を第二表面212に形成する。Si貫通電極26と基板21との間に絶縁層215(例えばシリカ)を配置することによってSi貫通電極26と基板21との接触を遮断する。
【0023】
図2Gに示すように、続いて少なくとも一つの開口部28をキャップ24に形成する。マイクロ電気機械システムセンサ20は開口部28によって外部空気圧をマイクロ電気機械システム部品27の薄膜層29に作用させることによって外部空気圧の数値を測定する。第1実施形態は、キャップ24に開口部28を予め形成し、そののち開口部28を有するキャップ24をマイクロ電気機械システム部品エリア27に固定することができる。
【0024】
(第2実施形態)
本発明は、Si貫通電極26の代わりに、T接点とマイクロ電気機械システム部品27とを接続し、かつT接点を外部接点とする方式を採用することができる。図3に示すように、マイクロ電気機械システムセンサ30において、T接点36はマイクロ電気機械システム部品エリア27の最上の金属層271に接続される。T接点36の導線は基板21の第二表面212まで伸び、かつ第二表面212に位置する部分がマイクロ電気機械システムセンサ30の外部接点になる。かつT接点36の導線とマイクロ電気機械システム部品エリア27との間、およびT接点36の導線と基板21との間に配置された絶縁層31はT接点36とマイクロ電気機械システム部品エリア27との接触、およびT接点36と基板21との接触を遮断する。
【0025】
(第3実施形態)
図4は本発明の第3実施形態を示す断面図である。図2Gに示したマイクロ電気機械システムセンサ20との違いは次の通りである。マイクロ電気機械システムセンサ40において、キャップ24には開口部が配置されない。接着層42は薄膜層29の表面にまんべんなく塗布されず、非密閉状態を呈し、かつ少なくとも一つの開口部48を有する。開口部48は外部空気圧を薄膜層29に作用させる。また図3に示したマイクロ電気機械システムセンサ30の如く、マイクロ電気機械システムセンサ40はT接点とマイクロ電気機械システム部品27とを接続し、T接点を外部接点とする方式を採用することができる。
【0026】
上述したとおり、本発明によるマイクロ電気機械システムセンサおよび製造方法は、マイクロ電気機械システムのCMOS製造工程が完了した後、大量処理できる(high throughput)ウェハーレベルパッケージ工程を進めることである。従来のQFNまたはLGAパッケージによるマイクロ電気機械システム装置は複雑なパッケージ工程および多様な材料に頼らないと完成できないことに対し、本発明はパッケージ工程を簡単化できるだけでなく、製造コストを削減できる。
【0027】
以上は本発明を説明するための比較的好ましい実施形態である。上述した内容は本発明の請求範囲を限定するものでなく、この技術を熟知した人に本発明の内容を容易に理解させるための説明である。この技術を熟知した人ならば本発明の発明精神に基づいて効果が同等な変化を加えることは本発明の請求範囲に属するべきである。例えばマイクロ電気機械システム部品エリアの主な特徴に影響を与えない範囲において別の工程または構築を加える、或いはマイクロ電気機械システム部品エリアを別の検知機能、例えば質量検知機能などを有するユニットに取り替えることは本発明の請求範囲に属するべきである。
【符号の説明】
【0028】
10・・・圧力センサ、
11・・・マイクロ電気機械システムチップ、
13・・・エンクロージャ、
15・・・コロイド状絶縁ユニット、
17・・・ワイヤ、
19・・・QFN用リードフレーム、
20、30、40・・・マイクロ電気機械システムセンサ、
21・・・基板、
22、42・・・接着層、
23・・・遮蔽層、
24・・・キャップ、
25・・・絶縁区域、
26・・・Si貫通電極、
27・・・マイクロ電気機械システム部品エリア、
28、48・・・開口、
29・・・薄膜層、
31・・・絶縁層、
36・・・T接点、
131・・・穴、
191・・・接点、
193・・・ダイパッド、
211・・・第一金属層、
212・・・第二金属層、
215・・・絶縁層、
271・・・金属層、
273・・・スルーホール、
275・・・チャンバ。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
第一表面および第二表面を有する基板と、
前記基板に位置するマイクロ電気機械システム部品エリアと、
前記マイクロ電気機械システム部品エリアに被さってチャンバを密閉することによって密閉空間を形成する薄膜層と、
接着層と、
前記接着層によって前記マイクロ電気機械システム部品エリアに固着するキャップと、
前記第二表面まで伸びるように前記マイクロ電気機械システム部品エリアに電気的に接続される複数の導線と、
を備えることを特徴とするマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項2】
前記マイクロ電気機械システム部品エリアは、可変コンデンサユニットを有し、前記可変コンデンサユニットは、容量値が前記薄膜層の受けた外部空気の圧力によって変化することを特徴とする請求項1に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項3】
前記複数の導線は、前記基板を貫通する複数のSi貫通電極または複数のT接点であることを特徴とする請求項1に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項4】
前記複数の導線と前記基板または前記マイクロ電気機械システム部品エリアとの間は、絶縁層を有することを特徴とする請求項3に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項5】
前記薄膜層は、金属膜であることを特徴とする請求項1に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項6】
前記マイクロ電気機械システムセンサは、遮蔽層をさらに備え、
前記遮蔽層は前記マイクロ電気機械システム部品エリアと前記薄膜層との間に配置されることを特徴とする請求項1または請求項5に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項7】
前記遮蔽層は、金属層であり、
前記マイクロ電気機械システム部品エリアは、一部分の回路が前記薄膜層および前記遮蔽層によって遮断され、残り部分の回路が複数の導線に接続されることを特徴とする請求項6に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項8】
圧力センサとして機能することを特徴とする請求項1に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項9】
前記キャップまたは前記接着層に位置する少なくとも一つの開口部をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項10】
前記開口部は、前記接着層に位置し、前記接着層は非密閉状態を構築するように前記薄膜層の表面に配置されることを特徴とする請求項9に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項11】
前記薄膜層は、前記開口部によって外部空気からの圧力を受けることを特徴とする請求項9に記載のマイクロ電気機械システムセンサ。
【請求項12】
互いに向かい合う第一表面および第二表面、ならびにマイクロ電気機械システム部品エリアを有する基板を用意するステップと、
前記基板の前記第一表面に複数の金属層および一つの絶縁エリアの積層を形成するステップと、
前記積層に遮蔽層を形成するステップと、
前記絶縁エリアの一部分を除去し、チャンバを形成するステップと、
前記遮蔽層に薄膜層を被せ、チャンバを密閉し、密閉空間を形成するステップと、
接着層によってキャップを前記マイクロ電気機械システム部品エリアに固着させるステップと、
前記基板に複数の導線を配置するステップと、
前記キャップに少なくとも一つの開口部を形成するステップと、を含み、
前記複数の導線は前記第二表面まで伸びるように前記マイクロ電気機械システム部品エリアに電気的に接続されることを特徴とするマイクロ電気機械システムセンサの製造方法。
【請求項13】
前記キャップに少なくとも一つの開口部を形成するステップは、前記キャップを前記マイクロ電気機械システム部品エリアに固着させるステップの前で行うことを特徴とする請求項12に記載のマイクロ電気機械システムセンサの製造方法。
【請求項14】
互いに向かい合う第一表面および第二表面、ならびにマイクロ電気機械システム部品エリアを有する基板を用意するステップと、
前記基板の前記第一表面に複数の金属層および一つの絶縁エリアの積層を形成するステップと、
前記積層に遮蔽層を形成するステップと、
前記絶縁エリアの一部分を除去し、チャンバを形成するステップと、
前記遮蔽層に薄膜層を被せ、前記チャンバを密閉し、密閉空間を形成するステップと、
接着層によってキャップを前記マイクロ電気機械システム部品エリアに固着させるステップと、
前記基板に複数の導線を配置するステップと、を含み、
前記接着層は少なくとも一つの開口部を有し、
前記複数の導線は前記第二表面まで伸びるように前記マイクロ電気機械システム部品エリアに電気的に接続されることを特徴とするマイクロ電気機械システムセンサの製造方法。
【請求項15】
前記絶縁エリアは、前記遮蔽層に遮蔽されている部分以外の部分がエッチングされることを特徴とする請求項12または請求項14に記載のマイクロ電気機械システムセンサの製造方法。
【請求項16】
前記複数の導線は、前記基板上の複数のSi貫通電極または複数のT接点を貫通することを特徴とする請求項12または請求項14に記載のマイクロ電気機械システムセンサの製造方法。
【請求項17】
前記薄膜層は、前記開口部によって外部空気からの圧力を受けることを特徴とする請求項12または請求項14に記載のマイクロ電気機械システムセンサの製造方法。

【図1】
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【図2A】
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【図2B】
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【図2C】
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【図2D】
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【図2E】
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【図2F】
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【図2G】
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【図3】
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【図4】
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【公開番号】特開2012−210702(P2012−210702A)
【公開日】平成24年11月1日(2012.11.1)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2012−76790(P2012−76790)
【出願日】平成24年3月29日(2012.3.29)
【出願人】(507208819)原相科技股▲分▼有限公司 (6)
【Fターム(参考)】