ガラス基板検査装置及びガラス基板製造方法
【課題】簡易な構成で素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板等の状態の検査を行うことが可能なガラス基板検査装置及びガラス基板製造方法を提供することを目的としている。
【解決手段】画像データを解析する解析手段を有し、前記解析手段は、前記画像データから特定の色の画像データを抽出する色抽出手段と、前記色抽出手段により抽出された前記特定の色の画像データを含む第一の所定領域の画像データの色の変化に基づき前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、
を有する。
【解決手段】画像データを解析する解析手段を有し、前記解析手段は、前記画像データから特定の色の画像データを抽出する色抽出手段と、前記色抽出手段により抽出された前記特定の色の画像データを含む第一の所定領域の画像データの色の変化に基づき前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、
を有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源からの光をガラス基板に照射して撮像した画像データに基づき前記ガラス基板の検査を行うガラス基板検査装置及びこのガラス基板検査装置により検査されるガラス基板製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、例えば特許文献１ないし特許文献５に記載されているように、光透過性物体に光を照射して撮像し、撮像された画像情報から光透過性物体の色等を識別する手法が知られている。この手法によれば、識別された色に基づき光透過性物体の素材等を判別することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−１６２０４５号公報
【特許文献２】特開２００１−１３３３２８号公報
【特許文献３】特開平３−２０００２５号公報
【特許文献４】特開２００２−２０７９９４号公報
【特許文献５】特開２０００−２８４３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来の技術では、例えばガラス基板等の光透過物体の板厚やガラス基板の端面の状態等に関する情報を得ることが困難であり、ガラス基板等の状態を検査する手法として不充分であった。また、ガラス基板を検査しているとき、ガラス基板表面に異物が付着し、該異物がガラス基板製品の表面異物欠陥となるおそれもある。
【０００５】
本発明は、上記事情を鑑みてこれを解決すべくなされたものであり、簡易な構成で素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板等の状態を検査するガラス基板検査装置及び該検査装置を用いてガラス基板を検査する検査工程を有するガラス基板製造方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上記目的を達成するために以下の如き構成を採用した。
【０００７】
本発明は、光源からの光をガラス基板に照射して撮像した画像データに基づき前記ガラス基板の検査を行うガラス基板検査装置において、前記画像データを解析する解析手段を有し、前記解析手段は、前記画像データから特定の色の画像データを抽出する色抽出手段と、前記色抽出手段により抽出された前記特定の色の画像データを含む第一の所定領域の画像データの色の変化に基づき前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、を有する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、簡易な構成で素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板等の状態の検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第一の実施形態のガラス基板検査装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図２】第一の実施形態の撮像装置を説明するための図である。
【図３】カセットとカセットに収納されたガラス基板と色抽出部による処理を説明するための図である。
【図４】第一の実施形態の解析装置の有する機能を説明する図である。
【図５】色抽出部による処理を説明する第一の図である。
【図６】色抽出部による処理を説明する第二の図である。
【図７】ガラス基板素材と特定色の表の一例を示す図である。
【図８】端面の状態の検出について説明する第一の図である。
【図９】端面の状態の検出について説明する第二の図である。
【図１０】第一の実施形態のガラス基板検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【図１１】第二の実施形態の解析装置の有する機能を説明する図である。
【図１２】第二の実施形態のガラス基板検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
（第一の実施形態）
以下に図面を参照して本発明の第一の実施形態について説明する。図１は、第一の実施形態のガラス基板検査装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【００１１】
本実施形態のガラス基板検査装置１００は、解析装置２００と撮像装置３００とを有する。本実施形態のガラス基板検査装置１００は、撮像装置３００により撮像された画像データを解析装置２００により解析した結果を用いることで、後述するガラス基板５００に接触せずにガラス基板５００の検査を行う。本実施形態のガラス基板検査装置１００で検査されるガラス基板５００とは、例えば磁気記録媒体用のガラス基板等である。
【００１２】
本実施形態の解析装置２００は、演算処理装置２１０、メモリ装置２２０、補助記憶装置２３０、インターフェイス装置２４０、入力装置２５０、出力装置２６０、ドライブ装置２７０がバスＢを介して接続されている。
【００１３】
入力装置２５０はキーボードやマウス、操作スイッチなどで構成され、各種信号を入力するために用いられる。出力装置２６０はディスプレイ装置などで構成され、各種ウインドウやデータ等を表示するために用いられる。インターフェイス装置２４０は、モデム、ＬＡＮカードなどで構成されており、例えばガラス基板検査装置１００をネットワークに接続する為に用いられる。
【００１４】
本発明のガラス基板検査プログラムは、ガラス基板検査装置１００を制御する各種プログラムの少なくとも一部である。ガラス基板検査プログラムは例えば記録媒体２８０の配布やネットワークからのダウンロードなどによって提供される。ガラス基板検査プログラムを記録した記録媒体２８０は、ＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク、光磁気ディスク等の様に情報を光学的，電気的或いは磁気的に記録する記録媒体、ＲＯＭ、フラッシュメモリ等の様に情報を電気的に記録する半導体メモリ等、様々なタイプの記録媒体を用いることができる。
【００１５】
また、ガラス基板検査プログラムを記録した記録媒体２８０がドライブ装置２７０にセットされると、ガラス基板検査プログラムは記録媒体２８０からドライブ装置２７０を介して補助記憶装置２３０にインストールされる。ネットワークからダウンロードされたガラス基板検査プログラムは、インターフェイス装置２４０を介して補助記憶装置２３０にインストールされる。
【００１６】
補助記憶装置２３０は、インストールされたガラス基板検査プログラムを格納すると共に、必要なファイル，データ等を格納する。メモリ装置２２０は、コンピュータの起動時に補助記憶装置２３０からガラス基板検査プログラムを読み出して格納する。そして、演算処理装置２１０はメモリ装置２２０に格納されたガラス基板検査プログラムに従って、後述するような各種処理を実現している。
【００１７】
本実施形態の撮像装置３００は、照明装置３１０、カメラ３２０を有し、照明装置３１０からガラス基板に対して光を照射した状態で撮像する。以下に本実施形態の撮像装置３００について説明する。撮像装置３００と解析装置２００は離れていてもよく、その場合はＬＡＮ（Local Area Network）などで接続してもよい。また、解析装置２００に複数の撮像装置３００を接続して用いてもよい。
【００１８】
図２は、第一の実施形態の撮像装置を説明するための図である。図２（Ａ）は、撮像装置３００に撮像対象となるガラス基板が収納されたカセット４００が配置された状態を示す図であり、図２（Ｂ）は撮像装置３００の照明台座３３０を説明する図である。
【００１９】
本実施形態の撮像装置３００は、台座３０１の上に照明装置３１０が配置され、照明装置３１０を覆うように照明台座３３０が配置されている。照明台座３３０は、照明装置３１０から照射される光を透過させるスリット３３１（図２（Ｂ）参照）を設けても良い。本実施形態の照明装置３１０は、例えばＬＥＤ等により実現される。照明台座３３０の上には、検査対象物であるガラス基板５００が収納されたカセット４００が配置される。照明台座３３０とカセット４００の詳細は後述する。
【００２０】
台座３０１には、カメラ３２０を備え付けるための支柱３０２が取り付けられており、カメラ３２０はこの支柱３０２に固定される。本実施形態のカメラとは、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）カメラ等である。また台座３０１には、照明装置３１０、カセット４００、カメラ３２０を覆うようにカバー３０３が被せられている。本実施形態のカバー３０３は、撮像装置３００の外部の光をカバー３０３内部に透過させない遮光性を有するものである。
【００２１】
図２（Ｂ）は、照明台座３３０の上面図である。照明台座３３０には、スリット３３１を設けても良い。照明装置３１０から照射された光は、スリット３３１を通過してカセット４００へ照射される。スリット３３１を通過した光でカセット４００を照射することで、解析装置２００による解析の精度を向上させることが可能な画像を撮像することができる。スリット３３１の幅Ｗは、特に限定されるものではなく、照明装置３１０やカメラ３２０の性能に応じて決めるものである。例えば、照明装置３１０としてＬＥＤを用いた場合、スリット３３１の幅Ｗを３ｍｍ〜７ｍｍ程度に設定してもよく、照明装置３１０としてレーザ光などの直線性の高い光源を用いた場合、スリット３３１の幅Ｗを３ｍｍ以下に設定する又は格子状のスリットを用いてもよい。なお、撮像装置３００は、カメラ３２０が下で照明装置３１０が上の構成であってもよい。さらに、撮像装置３００は、一度に複数のカセット４００を設置して同時に画像を撮像する、又は連続的に画像を撮像するものであってもよい。
【００２２】
本実施形態の撮像装置３００は、解析装置２００からの撮像指示に基づき撮像を行っても良い。解析装置２００は、撮像装置３００からの画像データに基づき、以下に説明する各種の解析を行って、カセット４００に収納されたガラス基板５００の検査を行う。
【００２３】
以下に、図３を参照してカセット４００とカセット４００に収納されたガラス基板５００について説明する。図３は、カセットとカセットに収納されたガラス基板を説明するための図である。
【００２４】
本実施形態ではカセット４００は、ケース４１０、蓋４２０、底板４２１を有する。本実施形態の蓋４２０は、カセット４００内でガラス基板５００を透過した光をカメラ３２０へ導くための開口部を覆う光透過性のものである。底板４２１は、照明装置３１０から照射された光をカセット４００へ入射させるための開口部を覆う光透過性のものである。本実施形態のケース４１０と蓋４２０には、ガラス基板５００を１枚毎に分離して支える溝部４３０が複数形成されている。ガラス基板５００は、この溝部４３０に挿入され、１枚毎に分離した状態でカセット４００に保管される。さらに、ガラス基板５００は蓋４２０に形成された溝部により１枚毎に分離した状態でカセット４００に保持され、カセット４００を移動した際に保管されているガラス基板５００が動かないようになっている。
【００２５】
本実施形態のカセット４００は、上記構成により、底板４２１、ガラス基板５００、蓋４２０を透過した光の画像をカメラ３２０により撮像することができる。なお、本実施形態のガラス基板５００は、中心部に円孔が形成されたドーナツ形状のものとした。
【００２６】
次に、本実施形態の解析装置２００の機能について説明する。図４は、第一の実施形態の解析装置の有する機能を説明する図である。
【００２７】
本実施形態の解析装置２００は、画像データ取得部２１１、位置補正部２１２、ペース処理部２１３、色抽出部２１４、素材判別部２１５、板厚算出部２１６、端面状態検出部２１７を有する。
【００２８】
解析装置２００は、画像データ取得部２１１により撮像装置３００から画像データを取得し、色抽出部２１４により画像データから特定の色の画像を抽出する。解析装置２００は、抽出された画像の色に基づきガラス基板５００の素材を判別する。また解析装置２００は、画像データに基づきガラス基板５００の板厚の算出、ガラス基板５００の端面の状態の検査等を行う。以下に各部の処理について説明する。
【００２９】
画像データ取得部２１１は、撮像装置３００において撮像された画像データを撮像装置３００から取得する。
【００３０】
位置補正部２１２は、取得した画像データが常に同じ位置に表示されるように補正する。撮像装置３００で撮像された画像データは、例えばカセット４００を照明台座３３０に配置する際のずれや、カセット４００のバラツキにより、検査対象であるガラス基板５００の画像の位置にずれが生じる場合がある。よって位置補正部２１２は、予め決められた基準画像に対するパターンマッチングを行うことにより、画像データの位置補正を行う。本実施形態では、この位置補正により、補正された画像が常に同じ位置に映るため、所定領域内で色抽出を行うことができる。
【００３１】
ペース処理部２１３は、画像データからの色抽出の前処理を行う。ペース処理部２１３は、例えば画像データのノイズを除去し、後述する色抽出を行う所定領域を指定する。
【００３２】
色抽出部２１４は、取得した画像データから所定の色の画像データを抽出する。以下に色抽出部２１４の処理の詳細を説明する。
【００３３】
上述した図３では、素材の異なるガラス基板５００Ａ〜５００Ｃがカセット４００に収納された状態を示している。この状態でカセット４００を照明台座３３０へ配置して撮像した場合、ガラス基板５００Ａ、ガラス基板５００Ｂ、ガラス基板５００Ｃは、素材に応じた色の画像となる。本実施形態では、画像データから設定された色の画像を抽出する。
【００３４】
図５は、色抽出部による処理を説明する第一の図である。図５は、色抽出部２１４により、ガラス基板５００Ａに対応する色の画像５００ＡＧ１、５００ＡＧ２を抽出した結果を示している。本実施形態では、画像を抽出した結果は、解析装置２００の出力装置２６０に表示される。
【００３５】
本実施形態の撮像装置３００で撮像される画像データは、カセット４００を上面から撮像した画像となる。領域４００Ｇでは、画像５００ＡＧ１と画像５００ＡＧ２との間に、ガラス基板５００Ａを透過した透過光の画像５００ＡＧ３も表示される。この画像５００ＡＧ３は、後述する素材判別部２１５による処理及び板厚演算部２１６による処理の実行時にはマスクされる。また領域４００Ｇには、画像５００ＡＧ１の上部にマスクされた領域４００ＧＨを有し、画像５００ＡＧ２の下部にマスクされた領域４００ＧＬを有する。
【００３６】
図５の領域４００Ｇは、カセット４００の上面の画像の一例を示している。カセット４００の蓋４２０は光を透過させるため、色抽出を行わない場合は画像４００Ｇにはガラス基板５００Ａ〜５００Ｃを透過した３種類の光の画像が含まれる。本実施形態では、色抽出を行うことにより、所定の色の画像のみを抽出して表示させることができる。
【００３７】
次に、色抽出部２１４による所定の色の画像の抽出について説明する。図６は、色抽出部による処理を説明する第二の図である。なお図６に示す画像は、照明台座３３０にスリット３３１が設けられた場合の画像である。
【００３８】
図６に示す画像４００Ｇは、ガラス基板５００が収納されたカセット４００にスリット３３１を通過した光Ｓが照射された状態でカメラ３２０により撮像された画像の例であり、カセット４００の上面図である。画像４００Ｇには、ガラス基板５００を透過した光の画像Ｓ１と、光が照射された状態のガラス基板５００の画像５００Ｇとが含まれる。
【００３９】
本実施形態では、ペース処理部２１３により、画像４００Ｇの領域５１１、５１２が色抽出を行うための領域として指定される。領域５１１、５１２は、例えばガラス基板５００が挿入される溝部４３０を含むように設定される。色抽出部２１４は、領域５１１、５１２の画像を解析し、その結果から画像５００Ｇの色が抽出対象の色か否かを特定する。なお、本実施形態の解析装置２００には、抽出対象となる色を予め設定する。本実施形態の解析装置２００では、後述するＨＳＶ値の範囲を設定することで抽出対象の色を任意に設定することができる。
【００４０】
なお、領域５１３は、後述する端面状態検出部５１６の処理において指定される領域である。領域５１１、５１２、５１３は、解析装置２００の入力装置２５０により入力される座標に従って任意に設定することができる。
【００４１】
本実施形態の色抽出部２１４は、撮像装置３００から取得したＲ，Ｇ，Ｂ系成分表現による画像データからＨＳＶ（色相、彩度、明度）で表されるＨＳＶ値を算出する。そして色抽出部２１４は、ＨＳＶ値が所定範囲内である領域が所定面積以上存在する場合に、この領域を設定された色の領域として特定し、抽出する。
【００４２】
例えば本実施形態において青色の画像を抽出する場合、解析装置２００には青色に対応するＨＳＶ値の範囲が設定されている。色抽出部２１４は、領域５１１、５１２においてＨＳＶ値が設定された範囲内である領域の面積を算出し、この面積が所定値以上であれば、画像５００Ｇの色を青色と特定する。そして色抽出部２１４は、青色の画像５００Ｇを抽出し、図５に示すように出力装置２６０へ表示させる。
【００４３】
次に素材判別部２１５について説明する。素材判別部２１５は、色抽出部２１４により抽出された画像データの色に基づき、ガラス基板５００の素材を判別する。本実施形態の解析装置２００では、例えば補助記憶装置２３０等にガラス基板の素材と、画像データとの色とを対応付けたガラス基板素材と特定色の表８０が格納されている。図７は、ガラス基板素材と特定色の表の一例を示す図である。
【００４４】
ガラス基板素材と特定色の表８０では、例えばａ色を示す特定色Ａと、光を透過させたときａ色となる素材１とが対応付けられている。また例えばｂ色を示す特定色Ｂと、光を透過させたときｂ色となる素材２とが対応付けられている。素材判別部２１５は、色抽出部２１４により抽出された画像データのＨＳＶ値に基づき、ガラス基板５００の素材を判別する。
【００４５】
板厚算出部２１６は、色抽出部２１４により抽出された画像データから、ガラス基板５００の板厚を算出する。図６を参照して本実施形態の板厚算出部２１６による板厚の算出について説明する。
【００４６】
板厚算出部２１６は、領域５１１、５１２を解析し、ＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を２箇所検出する。なお、本実施形態では、安定性を確保するために領域５１１、５１２の二箇所でＨＶＳ値を検出しているが、領域５１１又は領域５１２の何れか一方のみでＨＶＳ値を検出しても良い。本実施形態の板厚算出部２１６は、例えば画像データのＨＳＶ値が背景画像である黒色を示す値から画像５００Ｇの色を示す値へ変化する点を２点検出し、この２点間の距離をガラス基板５００の板厚として検出する。
【００４７】
板厚算出部２１６は、領域５１１をＸ１からＸ２方向に検索（走査）し、ＨＳＶ値の変化する点Ｐ１と点Ｐ２とを検出する。点Ｐ１、Ｐ２は、画像５００Ｇと背景との境界上の点である。板厚算出部２１６は、点Ｐ１から点Ｐ２までの幅ｔ１をガラス基板５００の板厚とする。なお、幅ｔ１は、点Ｐ１から点Ｐ２までの画素数とカメラ３２０の解像度とに基づき算出される。なお、領域５１１の走査方向は、Ｘ１からＸ２方向と、Ｘ２からＸ１方向の両方向であっても良い。
【００４８】
本実施形態の板厚算出部２１６は、領域５１２においても点Ｐ３、Ｐ４間の幅ｔ２を算出し、幅ｔ１と幅ｔ２との平均を板厚としても良い。また本実施形態の板厚算出部２１６は、幅ｔ１と幅ｔ２との加算値を板厚を示す値としても良い。また本実施形態の板厚算出部２１６は、領域５１１、５１２における走査ラインをＹ１−Ｙ２方向へずらして複数箇所で幅ｔ１、ｔ２を算出し、この平均をガラス基板５００の板厚としても良い。
【００４９】
端面状態検出部２１７は、ガラス基板５００の端面の状態を検出する。以下に図８、図９を参照して端面の状態の検出について説明する。図８は、端面の状態の検出について説明する第一の図である。図８（Ａ）は、ガラス基板５００に端面処理が施されている状態を説明する図であり、図８（Ｂ）はガラス基板５００に端面処理が施されていない状態を説明する図である。本実施形態における端面処理とは、ガラス基板５００の端面に研磨加工またはエッチング加工などの処理を施し、端面のキズや凹凸を除去して鏡面とする加工処理を示す。ガラス基板５００の端面とは、ガラス基板５００の外周面である外周端面５００Ｈと、ガラス基板５００の内周面である内周端面５００Ｉとを示す。
【００５０】
ガラス基板５００に端面処理が施されている場合、外周端面５００Ｈ、内周端面５００Ｉは鏡面となっている。ガラス基板５００の内周の中心Ｏを通るように光Ｓを照射すると、光Ｓはガラス基板５００を透過し、図８（Ａ）に示すように透過光の画像９０を形成する。
【００５１】
これに対し、例えばガラス基板５００の内周端面５００Ｉに端面処理が施されていない場合、内周端面５００Ｉには凹凸が存在する。よって光Ｓは内周端面５００Ｉの凹凸で散乱し、ガラス基板５００を透過しない。ガラス基板５００の内周端面５００Ｉに端面処理を施さなかった場合、図８（Ｂ）に示すように、光Ｓは外周端面５００Ｈを透過するが、内周端面５００Ｉで散乱するため、透過光の画像９０は形成されない。又は、透過光の画像９０が形成されたとしても、輝度が弱く、画像９０部が薄い線または細い線でつながった画像となる。
【００５２】
本実施形態の端面状態検出部２１７は、この原理を利用してガラス基板５００に端面処理が施されているか否かを検出する。端面状態検出部２１７は、図６に示す領域５１３の画像データをＸ１からＸ２方向へ走査する。そして端面状態検出部２１７は、領域５１３においてガラス基板５００の画像５００Ｇが途切れているか否かを検出する。
【００５３】
具体的には端面状態検出部２１７は、例えば領域５１３におけるＸ１からＸ２方向への走査において画像データのＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を２箇所検出したとき、画像５００Ｇが途切れていないと検出する。また端面状態検出部２１７は、領域５１３におけるＸ１からＸ２方向への走査において画像データのＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を検出しない場合、画像５００Ｇが途切れていると検出する。
【００５４】
画像５００Ｇが途切れていない場合、ガラス基板５００の中心Ｏを透過した透過光の画像（図８の画像９０に対応）が形成されていないことを示す。よって端面状態検出部２１７は、端面処理が施されていないものと検出する。
【００５５】
また画像５００Ｇが途切れている場合、ガラス基板５００の中心Ｏを透過した透過光の画像（図８の画像９０に対応）が形成されていることを示す。よって端面状態検出部２１７は、端面処理が施されているものと検出する。
【００５６】
なお、端面状態検出部２１７は、透過光の画像の輝度の強度により端面処理が施されているか否かを検出しても良い。例えば本実施形態の端面状態検出部２１７は、透過光の画像の輝度の強度が所定値以下である場合は、画像５００Ｇが途切れていないものとして検出しても良い。輝度の強度は、例えば解析装置２００に予め設定された値である。
【００５７】
また本実施形態の端面状態検出部２１７は、領域５１３におけるＸ１からＸ２方向への走査を、Ｙ１からＹ２方向またはＹ２からＹ１方向にシフトさせながら複数回行っても良い。そして端面状態検出部２１７は、複数回のＸ１からＸ２方向への走査において、予め設定された回数以上画像５００Ｇが途切れていると検出された場合に、端面処理が施されているものと検出しても良い。なお、領域５１３の走査方向は、Ｘ１からＸ２方向と、Ｘ２からＸ１方向の両方向であっても良い。
【００５８】
図９は、端面の状態の検出について説明する第二の図である。図９に示す画像には、複数のガラス基板５００画像である画像５００Ｇ１〜５００Ｇ４が含まれる。また図９に示す画像は、照明台座３３０にスリット３３１が設けられた場合の画像である。
【００５９】
画像５００Ｇ１、５００Ｇ３では、領域５１３においてガラス基板５００を透過した透過光の画像Ｓ１（図８の画像９０に対応）が形成されていない。したがって画像５００Ｇ１、５００Ｇ３として撮像されたガラス基板５００は、端面処理が施されていないか又は端面処理が不充分であることがわかる。また画像５００Ｇ２、５００Ｇ４では、領域５１３においてガラス基板５００を透過した透過光の画像Ｓ１が形成されている。したがって画像５００Ｇ２、５００Ｇ４として撮像されたガラス基板５００は、端面処理が充分に施されていることがわかる。
【００６０】
なお、本実施形態の端面状態検出部２１７では、領域５１３において走査ラインをＹ１からＹ２方向へずらし、複数箇所において検出を行っても良い。また本実施形態では、複数箇所の検出において、端面処理が施されていないと検出された箇所が所定数以上である場合にガラス基板５００の端面処理が施されていないものしても良い。
【００６１】
次に、図１０を参照して本実施形態のガラス基板検査装置１００の動作について説明する。図１０は、第一の実施形態のガラス基板検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【００６２】
本実施形態のガラス基板検査装置１００において撮像装置３００は、ガラス基板５００が収納されたカセット４００が照明台座３３０に設置され（ステップＳ１１０１）、カメラ３２０のフォーカスや照明装置３１０の光量等の設定がされると（ステップＳ１１０２）、ガラス基板５００の撮像を行う（ステップＳ１１０３）。撮像されたガラス基板５００の画像データは、解析装置２００へ送られ、解析装置２００の画像データ取得部２１１により、解析装置２００に取得される。
【００６３】
解析装置２００は、位置補正部２１２により画像データの位置補正を行い、ペース処理部２１３により、色抽出を行うための領域を指定する（ステップＳ１１０４）。次に解析装置２００は、色抽出部２１４により領域内の画像データの色合いの差分を算出する（ステップＳ１１０５）。次に色抽出部２１４は、Ｒ，Ｇ，Ｂ系成分表現による画像データからＨＳＶ（色相、彩度、明度）で表されるＨＳＶ値を算出する（ステップＳ１１０６）。続いて色抽出部２１４は、算出されたＨＳＶ値が解析装置２００に設定された所定範囲の領域を検索し、該当する領域を抽出する（ステップＳ１１０７）。続いて色抽出部２１４は、抽出された領域の面積を算出する（ステップＳ１１０８）。次に解析装置２００は、素材判別部２１５により、抽出された領域の色を判定し（ステップＳ１１０９）、ガラス基板素材と特定色の表８０を参照してガラス基板５００の素材を判別する（ステップＳ１１１０）。
【００６４】
次に解析装置２００は、板厚算出部２１６により、算出された領域の面積からガラス基板５００の板厚を算出する（ステップＳ１１１１）。次に解析装置２００は、端面状態検出部２１７により、ガラス基板５００の端面状態を検出する（ステップＳ１１１２）。そしてガラス基板検査装置１００は、ステップＳ１１１０〜ステップＳ１１１２の結果を検査結果として出力する（ステップＳ１１１３）。
【００６５】
なお、本実施形態の素材判別部２１５による処理と板厚算出部２１６による処理と端面状態検出部２１７による処理は、いずれの処理を先に実施しても良いし、２つ以上の処理を並列して実行しても良い。
【００６６】
上記処理により、本実施形態のガラス基板検査装置１００は、例えばカセット４００内に異なる素材のガラス基板５００が混在しているか否かの検査を行うことができる。また本実施形態のガラス基板検査装置１００は、例えばカセット４００内に板厚の異なるガラス基板５００が混在しているか否かの検査を行うことができる。また本実施形態のガラス基板検査装置１００は、例えばカセット４００内に板厚が許容値外であるガラス基板５００が混在しているか否かの検査や、端面処理が施されていないガラス基板５００が混在しているか否かの検査を行うことができる。さらに、カセット４００に保管されているガラス基板５００の枚数をカウントし、所定枚数のガラス基板であるか否かの検査を行うことができる。
【００６７】
本実施形態では、カセット４００に収納されたガラス基板５００に接触せずにガラス基板５００の検査を行うことができるため、検査中にガラス基板５００にキズを付けるおそれがない。また本実施形態では、カセット４００に蓋４２０や底板４２１をセットした状態であっても、ガラス基板５００の素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板５００の状態を検査することができるため、検査中にガラス基板５００へ異物を付着させてしまうおそれがない。
【００６８】
なお、本実施形態では、ガラス基板５００はドーナツ形状のものとしたが、これに限定されない。本実施形態のガラス基板検査装置１００は、検査対象物が光透過性であって且つ板状のものであれば、適用可能である。また本実施形態では、カセット４００内に複数のガラス基板５００が収納されているものとしたが、カセット内４００に収納されるガラス基板５００は一枚であっても良い。また本実施形態は、検査対象物のガラス基板５００がカセット４００内に収納されているものとしたが、これに限定されない。本実施形態では、検査対象物がカセット４００内部に収納されていなくても良い。
【００６９】
（第二の実施形態）
以下に図面を参照して本発明の第二の実施形態について説明する。本発明の第二の実施形態は、照明台座に配置されたカセットの種類を判別し、カセットの種類に基づき特定する色の画像を抽出する点で第一の実施形態と相違する。以下の第二の実施形態の説明では、第一の実施形態との相違点についてのみ説明し、第一の実施形態と同様の機能構成を有するものには第一の実施形態の説明で用いた符号と同様の符号を付与し、その説明を省略する。
【００７０】
図１１は、第二の実施形態の解析装置の有する機能を説明する図である。本実施形態の解析装置２００Ａは、第一の実施形態の解析装置２００の有する各部に加え、カセット判別部２１８を有する。本実施形態のカセット判別部２１８は、画像データのカセット４００の蓋４２０の色に基づきカセット４００の種類を判別する。本実施形態の解析装置２００Ａには、例えばカセット４００の色とカセット４００の種類とが対応付けられたカセット判別表が格納されており、カセット判別部２１８はこのカセット判別表を参照してカセット４００の種類を判別する。
【００７１】
また本実施形態の色抽出部２１４Ａは、カセット判別部２１８による判別結果に基づき、画像データから抽出される画像の色を設定する。本実施形態の解析装置２００Ａには、例えばカセット４００の種別と、画像の色とが対応付けられた対応表が格納されている。色抽出部２１４Ａは、対応表を参照してカセット４００の種類に対応した色を抽出する色として設定する。
【００７２】
図１２は、第二の実施形態のガラス基板検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【００７３】
図１２のステップＳ１３０１からステップＳ１３０３までの処理は、図１０のステップＳ１１０１からステップＳ１１０３までの処理と同様であるから説明を省略する。解析装置２００Ａは、カセット判別部２１８により、ステップＳ１３０３により撮像された画像データからカセット４００の種類を判別する（ステップＳ１３０４）。続いて解析装置２００Ａは、色判別部２１４Ａにより、判別されたカセット４００の種類に基づき抽出する色を設定し、設定された色の画像を抽出する（ステップＳ１３０５）。
【００７４】
ステップＳ１３０６からステップＳ１３１４までの処理は、図１０のステップＳ１１０５からステップＳ１１１３までの処理と同様であるから説明を省略する。
【００７５】
以上の構成により、本実施形態では、カセット４００の種類に基づきガラス基板５００の検査を行うことができる。
【００７６】
本発明の測定の対象となるガラス基板５００としては特に制限はないが、磁気記録媒体用、フォトマスク用、液晶や有機ＥＬ等のディスプレイ用、光ピックアップ素子や光学フィルタ等の光学部品用などのガラス基板が具体的なものとして挙げられる。
【００７７】
また、ガラス基板５００のガラスの種類は、それぞれの用途に適したものが適宜選択されるが、アモルファスガラスでもよいし、結晶化ガラスでもよく、ガラス基板の表層に強化層を有する強化ガラス（例えば、化学強化ガラス）でもよい。
【００７８】
また、加工前のガラス基板５００（以下、ガラス素基板ともいう）の製造方法としても特に制限はなく、フロート法で造られたものでもよく、フュージョン法で造られたものでもよく、プレス成形法で造られたものでもよい。
【００７９】
上記の中でも、磁気記録媒体用ガラス基板は、他のガラス基板製品に要求される形状特性（板厚偏差、端面処理状態など）に比べて厳しいレベルのものが要求されるが、本発明のガラス基板検査装置１００を使用した検査方法およびガラス基板検査装置１００を用いた検査方法を有する検査工程を含むガラス基板の製造方法が最も好適に適用されるものである。
【００８０】
一般に、磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクの製造工程は、以下の工程を含む。（１）フロート法、フュージョン法またはプレス成形法で成形されたガラス素基板を、円盤形状に加工した後、内周側面と外周側面に面取り加工を行う。（２）ガラス基板の上下主平面に研削加工を行う。（３）ガラス基板の側面部と面取り部に端面研磨を行う。（４）ガラス基板の上下主平面に研磨を行う。研磨工程は、１次研磨のみでも良く、１次研磨と２次研磨を行っても良く、２次研磨の後に３次研磨を行っても良い。（５）ガラス基板の精密洗浄を行い、磁気記録媒体用ガラス基板を製造する。（６）磁気記録媒体用ガラス基板の上に磁性層などの薄膜を形成し、磁気ディスクを製造する。
【００８１】
なお、上記磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクの製造工程において、各工程間にガラス基板洗浄（工程間洗浄）やガラス基板表面のエッチング（工程間エッチング）を実施してもよい。さらに、磁気記録媒体用ガラス基板に高い機械的強度が求められる場合、ガラス基板の表層に強化層を形成する強化工程（例えば、化学強化工程）を研磨工程前、または研磨工程後、あるいは研磨工程間で実施してもよい。
【００８２】
本発明において、磁気記録媒体用ガラス基板は、アモルファスガラスでもよく、結晶化ガラスでもよく、ガラス基板の表層に強化層を有する強化ガラス（例えば、化学強化ガラス）でもよい。また、本発明のガラス基板５００のガラス素基板は、フロート法で造られたものでもよく、フュージョン法で造られたものでもよく、プレス成形法で造られたものでもよい。
【００８３】
本発明のガラス基板検査装置１００は、磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクの製造工程の端面研磨工程（３）で、加工途中の磁気記録媒体用ガラス基板の検査に使用できる。また、磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクの製造工程において、ガラス基板を精密洗浄して製造された磁気記録媒体用ガラス基板（５）の検査（磁気記録媒体用ガラス基板の最終検査）や、磁気記録媒体用ガラス基板の上に磁性層などの薄膜を形成して製造された磁気ディスク（６）の形状検査に使用できる。
【００８４】
本発明のガラス基板検査装置１００は、磁気記録媒体用ガラス基板の形状検査（磁気記録媒体用ガラス基板の最終検査）に、特に好適に用いられるものである。
【００８５】
以上、各実施形態に基づき本発明の説明を行ってきたが、上記実施形態に示した要件に本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することができ、その応用形態に応じて適切に定めることができる。
【符号の説明】
【００８６】
１００ ガラス基板検査装置
２００、２００Ａ 解析装置
２１０ 演算処理装置
２１１ 画像データ取得部
２１２ 位置補正部
２１３ ペース処理部
２１４ 色抽出部
２１５ 素材判定部
２１６ 板厚算出部
２１７ 端面状態検出部
２１８ カセット判別部
３００ 撮像装置
３１０ 照明装置
３２０ カメラ
３３０ 照明台座
３３１ スリット
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源からの光をガラス基板に照射して撮像した画像データに基づき前記ガラス基板の検査を行うガラス基板検査装置及びこのガラス基板検査装置により検査されるガラス基板製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、例えば特許文献１ないし特許文献５に記載されているように、光透過性物体に光を照射して撮像し、撮像された画像情報から光透過性物体の色等を識別する手法が知られている。この手法によれば、識別された色に基づき光透過性物体の素材等を判別することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−１６２０４５号公報
【特許文献２】特開２００１−１３３３２８号公報
【特許文献３】特開平３−２０００２５号公報
【特許文献４】特開２００２−２０７９９４号公報
【特許文献５】特開２０００−２８４３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来の技術では、例えばガラス基板等の光透過物体の板厚やガラス基板の端面の状態等に関する情報を得ることが困難であり、ガラス基板等の状態を検査する手法として不充分であった。また、ガラス基板を検査しているとき、ガラス基板表面に異物が付着し、該異物がガラス基板製品の表面異物欠陥となるおそれもある。
【０００５】
本発明は、上記事情を鑑みてこれを解決すべくなされたものであり、簡易な構成で素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板等の状態を検査するガラス基板検査装置及び該検査装置を用いてガラス基板を検査する検査工程を有するガラス基板製造方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上記目的を達成するために以下の如き構成を採用した。
【０００７】
本発明は、光源からの光をガラス基板に照射して撮像した画像データに基づき前記ガラス基板の検査を行うガラス基板検査装置において、前記画像データを解析する解析手段を有し、前記解析手段は、前記画像データから特定の色の画像データを抽出する色抽出手段と、前記色抽出手段により抽出された前記特定の色の画像データを含む第一の所定領域の画像データの色の変化に基づき前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、を有する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、簡易な構成で素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板等の状態の検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第一の実施形態のガラス基板検査装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図２】第一の実施形態の撮像装置を説明するための図である。
【図３】カセットとカセットに収納されたガラス基板と色抽出部による処理を説明するための図である。
【図４】第一の実施形態の解析装置の有する機能を説明する図である。
【図５】色抽出部による処理を説明する第一の図である。
【図６】色抽出部による処理を説明する第二の図である。
【図７】ガラス基板素材と特定色の表の一例を示す図である。
【図８】端面の状態の検出について説明する第一の図である。
【図９】端面の状態の検出について説明する第二の図である。
【図１０】第一の実施形態のガラス基板検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【図１１】第二の実施形態の解析装置の有する機能を説明する図である。
【図１２】第二の実施形態のガラス基板検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
（第一の実施形態）
以下に図面を参照して本発明の第一の実施形態について説明する。図１は、第一の実施形態のガラス基板検査装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【００１１】
本実施形態のガラス基板検査装置１００は、解析装置２００と撮像装置３００とを有する。本実施形態のガラス基板検査装置１００は、撮像装置３００により撮像された画像データを解析装置２００により解析した結果を用いることで、後述するガラス基板５００に接触せずにガラス基板５００の検査を行う。本実施形態のガラス基板検査装置１００で検査されるガラス基板５００とは、例えば磁気記録媒体用のガラス基板等である。
【００１２】
本実施形態の解析装置２００は、演算処理装置２１０、メモリ装置２２０、補助記憶装置２３０、インターフェイス装置２４０、入力装置２５０、出力装置２６０、ドライブ装置２７０がバスＢを介して接続されている。
【００１３】
入力装置２５０はキーボードやマウス、操作スイッチなどで構成され、各種信号を入力するために用いられる。出力装置２６０はディスプレイ装置などで構成され、各種ウインドウやデータ等を表示するために用いられる。インターフェイス装置２４０は、モデム、ＬＡＮカードなどで構成されており、例えばガラス基板検査装置１００をネットワークに接続する為に用いられる。
【００１４】
本発明のガラス基板検査プログラムは、ガラス基板検査装置１００を制御する各種プログラムの少なくとも一部である。ガラス基板検査プログラムは例えば記録媒体２８０の配布やネットワークからのダウンロードなどによって提供される。ガラス基板検査プログラムを記録した記録媒体２８０は、ＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク、光磁気ディスク等の様に情報を光学的，電気的或いは磁気的に記録する記録媒体、ＲＯＭ、フラッシュメモリ等の様に情報を電気的に記録する半導体メモリ等、様々なタイプの記録媒体を用いることができる。
【００１５】
また、ガラス基板検査プログラムを記録した記録媒体２８０がドライブ装置２７０にセットされると、ガラス基板検査プログラムは記録媒体２８０からドライブ装置２７０を介して補助記憶装置２３０にインストールされる。ネットワークからダウンロードされたガラス基板検査プログラムは、インターフェイス装置２４０を介して補助記憶装置２３０にインストールされる。
【００１６】
補助記憶装置２３０は、インストールされたガラス基板検査プログラムを格納すると共に、必要なファイル，データ等を格納する。メモリ装置２２０は、コンピュータの起動時に補助記憶装置２３０からガラス基板検査プログラムを読み出して格納する。そして、演算処理装置２１０はメモリ装置２２０に格納されたガラス基板検査プログラムに従って、後述するような各種処理を実現している。
【００１７】
本実施形態の撮像装置３００は、照明装置３１０、カメラ３２０を有し、照明装置３１０からガラス基板に対して光を照射した状態で撮像する。以下に本実施形態の撮像装置３００について説明する。撮像装置３００と解析装置２００は離れていてもよく、その場合はＬＡＮ（Local Area Network）などで接続してもよい。また、解析装置２００に複数の撮像装置３００を接続して用いてもよい。
【００１８】
図２は、第一の実施形態の撮像装置を説明するための図である。図２（Ａ）は、撮像装置３００に撮像対象となるガラス基板が収納されたカセット４００が配置された状態を示す図であり、図２（Ｂ）は撮像装置３００の照明台座３３０を説明する図である。
【００１９】
本実施形態の撮像装置３００は、台座３０１の上に照明装置３１０が配置され、照明装置３１０を覆うように照明台座３３０が配置されている。照明台座３３０は、照明装置３１０から照射される光を透過させるスリット３３１（図２（Ｂ）参照）を設けても良い。本実施形態の照明装置３１０は、例えばＬＥＤ等により実現される。照明台座３３０の上には、検査対象物であるガラス基板５００が収納されたカセット４００が配置される。照明台座３３０とカセット４００の詳細は後述する。
【００２０】
台座３０１には、カメラ３２０を備え付けるための支柱３０２が取り付けられており、カメラ３２０はこの支柱３０２に固定される。本実施形態のカメラとは、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）カメラ等である。また台座３０１には、照明装置３１０、カセット４００、カメラ３２０を覆うようにカバー３０３が被せられている。本実施形態のカバー３０３は、撮像装置３００の外部の光をカバー３０３内部に透過させない遮光性を有するものである。
【００２１】
図２（Ｂ）は、照明台座３３０の上面図である。照明台座３３０には、スリット３３１を設けても良い。照明装置３１０から照射された光は、スリット３３１を通過してカセット４００へ照射される。スリット３３１を通過した光でカセット４００を照射することで、解析装置２００による解析の精度を向上させることが可能な画像を撮像することができる。スリット３３１の幅Ｗは、特に限定されるものではなく、照明装置３１０やカメラ３２０の性能に応じて決めるものである。例えば、照明装置３１０としてＬＥＤを用いた場合、スリット３３１の幅Ｗを３ｍｍ〜７ｍｍ程度に設定してもよく、照明装置３１０としてレーザ光などの直線性の高い光源を用いた場合、スリット３３１の幅Ｗを３ｍｍ以下に設定する又は格子状のスリットを用いてもよい。なお、撮像装置３００は、カメラ３２０が下で照明装置３１０が上の構成であってもよい。さらに、撮像装置３００は、一度に複数のカセット４００を設置して同時に画像を撮像する、又は連続的に画像を撮像するものであってもよい。
【００２２】
本実施形態の撮像装置３００は、解析装置２００からの撮像指示に基づき撮像を行っても良い。解析装置２００は、撮像装置３００からの画像データに基づき、以下に説明する各種の解析を行って、カセット４００に収納されたガラス基板５００の検査を行う。
【００２３】
以下に、図３を参照してカセット４００とカセット４００に収納されたガラス基板５００について説明する。図３は、カセットとカセットに収納されたガラス基板を説明するための図である。
【００２４】
本実施形態ではカセット４００は、ケース４１０、蓋４２０、底板４２１を有する。本実施形態の蓋４２０は、カセット４００内でガラス基板５００を透過した光をカメラ３２０へ導くための開口部を覆う光透過性のものである。底板４２１は、照明装置３１０から照射された光をカセット４００へ入射させるための開口部を覆う光透過性のものである。本実施形態のケース４１０と蓋４２０には、ガラス基板５００を１枚毎に分離して支える溝部４３０が複数形成されている。ガラス基板５００は、この溝部４３０に挿入され、１枚毎に分離した状態でカセット４００に保管される。さらに、ガラス基板５００は蓋４２０に形成された溝部により１枚毎に分離した状態でカセット４００に保持され、カセット４００を移動した際に保管されているガラス基板５００が動かないようになっている。
【００２５】
本実施形態のカセット４００は、上記構成により、底板４２１、ガラス基板５００、蓋４２０を透過した光の画像をカメラ３２０により撮像することができる。なお、本実施形態のガラス基板５００は、中心部に円孔が形成されたドーナツ形状のものとした。
【００２６】
次に、本実施形態の解析装置２００の機能について説明する。図４は、第一の実施形態の解析装置の有する機能を説明する図である。
【００２７】
本実施形態の解析装置２００は、画像データ取得部２１１、位置補正部２１２、ペース処理部２１３、色抽出部２１４、素材判別部２１５、板厚算出部２１６、端面状態検出部２１７を有する。
【００２８】
解析装置２００は、画像データ取得部２１１により撮像装置３００から画像データを取得し、色抽出部２１４により画像データから特定の色の画像を抽出する。解析装置２００は、抽出された画像の色に基づきガラス基板５００の素材を判別する。また解析装置２００は、画像データに基づきガラス基板５００の板厚の算出、ガラス基板５００の端面の状態の検査等を行う。以下に各部の処理について説明する。
【００２９】
画像データ取得部２１１は、撮像装置３００において撮像された画像データを撮像装置３００から取得する。
【００３０】
位置補正部２１２は、取得した画像データが常に同じ位置に表示されるように補正する。撮像装置３００で撮像された画像データは、例えばカセット４００を照明台座３３０に配置する際のずれや、カセット４００のバラツキにより、検査対象であるガラス基板５００の画像の位置にずれが生じる場合がある。よって位置補正部２１２は、予め決められた基準画像に対するパターンマッチングを行うことにより、画像データの位置補正を行う。本実施形態では、この位置補正により、補正された画像が常に同じ位置に映るため、所定領域内で色抽出を行うことができる。
【００３１】
ペース処理部２１３は、画像データからの色抽出の前処理を行う。ペース処理部２１３は、例えば画像データのノイズを除去し、後述する色抽出を行う所定領域を指定する。
【００３２】
色抽出部２１４は、取得した画像データから所定の色の画像データを抽出する。以下に色抽出部２１４の処理の詳細を説明する。
【００３３】
上述した図３では、素材の異なるガラス基板５００Ａ〜５００Ｃがカセット４００に収納された状態を示している。この状態でカセット４００を照明台座３３０へ配置して撮像した場合、ガラス基板５００Ａ、ガラス基板５００Ｂ、ガラス基板５００Ｃは、素材に応じた色の画像となる。本実施形態では、画像データから設定された色の画像を抽出する。
【００３４】
図５は、色抽出部による処理を説明する第一の図である。図５は、色抽出部２１４により、ガラス基板５００Ａに対応する色の画像５００ＡＧ１、５００ＡＧ２を抽出した結果を示している。本実施形態では、画像を抽出した結果は、解析装置２００の出力装置２６０に表示される。
【００３５】
本実施形態の撮像装置３００で撮像される画像データは、カセット４００を上面から撮像した画像となる。領域４００Ｇでは、画像５００ＡＧ１と画像５００ＡＧ２との間に、ガラス基板５００Ａを透過した透過光の画像５００ＡＧ３も表示される。この画像５００ＡＧ３は、後述する素材判別部２１５による処理及び板厚演算部２１６による処理の実行時にはマスクされる。また領域４００Ｇには、画像５００ＡＧ１の上部にマスクされた領域４００ＧＨを有し、画像５００ＡＧ２の下部にマスクされた領域４００ＧＬを有する。
【００３６】
図５の領域４００Ｇは、カセット４００の上面の画像の一例を示している。カセット４００の蓋４２０は光を透過させるため、色抽出を行わない場合は画像４００Ｇにはガラス基板５００Ａ〜５００Ｃを透過した３種類の光の画像が含まれる。本実施形態では、色抽出を行うことにより、所定の色の画像のみを抽出して表示させることができる。
【００３７】
次に、色抽出部２１４による所定の色の画像の抽出について説明する。図６は、色抽出部による処理を説明する第二の図である。なお図６に示す画像は、照明台座３３０にスリット３３１が設けられた場合の画像である。
【００３８】
図６に示す画像４００Ｇは、ガラス基板５００が収納されたカセット４００にスリット３３１を通過した光Ｓが照射された状態でカメラ３２０により撮像された画像の例であり、カセット４００の上面図である。画像４００Ｇには、ガラス基板５００を透過した光の画像Ｓ１と、光が照射された状態のガラス基板５００の画像５００Ｇとが含まれる。
【００３９】
本実施形態では、ペース処理部２１３により、画像４００Ｇの領域５１１、５１２が色抽出を行うための領域として指定される。領域５１１、５１２は、例えばガラス基板５００が挿入される溝部４３０を含むように設定される。色抽出部２１４は、領域５１１、５１２の画像を解析し、その結果から画像５００Ｇの色が抽出対象の色か否かを特定する。なお、本実施形態の解析装置２００には、抽出対象となる色を予め設定する。本実施形態の解析装置２００では、後述するＨＳＶ値の範囲を設定することで抽出対象の色を任意に設定することができる。
【００４０】
なお、領域５１３は、後述する端面状態検出部５１６の処理において指定される領域である。領域５１１、５１２、５１３は、解析装置２００の入力装置２５０により入力される座標に従って任意に設定することができる。
【００４１】
本実施形態の色抽出部２１４は、撮像装置３００から取得したＲ，Ｇ，Ｂ系成分表現による画像データからＨＳＶ（色相、彩度、明度）で表されるＨＳＶ値を算出する。そして色抽出部２１４は、ＨＳＶ値が所定範囲内である領域が所定面積以上存在する場合に、この領域を設定された色の領域として特定し、抽出する。
【００４２】
例えば本実施形態において青色の画像を抽出する場合、解析装置２００には青色に対応するＨＳＶ値の範囲が設定されている。色抽出部２１４は、領域５１１、５１２においてＨＳＶ値が設定された範囲内である領域の面積を算出し、この面積が所定値以上であれば、画像５００Ｇの色を青色と特定する。そして色抽出部２１４は、青色の画像５００Ｇを抽出し、図５に示すように出力装置２６０へ表示させる。
【００４３】
次に素材判別部２１５について説明する。素材判別部２１５は、色抽出部２１４により抽出された画像データの色に基づき、ガラス基板５００の素材を判別する。本実施形態の解析装置２００では、例えば補助記憶装置２３０等にガラス基板の素材と、画像データとの色とを対応付けたガラス基板素材と特定色の表８０が格納されている。図７は、ガラス基板素材と特定色の表の一例を示す図である。
【００４４】
ガラス基板素材と特定色の表８０では、例えばａ色を示す特定色Ａと、光を透過させたときａ色となる素材１とが対応付けられている。また例えばｂ色を示す特定色Ｂと、光を透過させたときｂ色となる素材２とが対応付けられている。素材判別部２１５は、色抽出部２１４により抽出された画像データのＨＳＶ値に基づき、ガラス基板５００の素材を判別する。
【００４５】
板厚算出部２１６は、色抽出部２１４により抽出された画像データから、ガラス基板５００の板厚を算出する。図６を参照して本実施形態の板厚算出部２１６による板厚の算出について説明する。
【００４６】
板厚算出部２１６は、領域５１１、５１２を解析し、ＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を２箇所検出する。なお、本実施形態では、安定性を確保するために領域５１１、５１２の二箇所でＨＶＳ値を検出しているが、領域５１１又は領域５１２の何れか一方のみでＨＶＳ値を検出しても良い。本実施形態の板厚算出部２１６は、例えば画像データのＨＳＶ値が背景画像である黒色を示す値から画像５００Ｇの色を示す値へ変化する点を２点検出し、この２点間の距離をガラス基板５００の板厚として検出する。
【００４７】
板厚算出部２１６は、領域５１１をＸ１からＸ２方向に検索（走査）し、ＨＳＶ値の変化する点Ｐ１と点Ｐ２とを検出する。点Ｐ１、Ｐ２は、画像５００Ｇと背景との境界上の点である。板厚算出部２１６は、点Ｐ１から点Ｐ２までの幅ｔ１をガラス基板５００の板厚とする。なお、幅ｔ１は、点Ｐ１から点Ｐ２までの画素数とカメラ３２０の解像度とに基づき算出される。なお、領域５１１の走査方向は、Ｘ１からＸ２方向と、Ｘ２からＸ１方向の両方向であっても良い。
【００４８】
本実施形態の板厚算出部２１６は、領域５１２においても点Ｐ３、Ｐ４間の幅ｔ２を算出し、幅ｔ１と幅ｔ２との平均を板厚としても良い。また本実施形態の板厚算出部２１６は、幅ｔ１と幅ｔ２との加算値を板厚を示す値としても良い。また本実施形態の板厚算出部２１６は、領域５１１、５１２における走査ラインをＹ１−Ｙ２方向へずらして複数箇所で幅ｔ１、ｔ２を算出し、この平均をガラス基板５００の板厚としても良い。
【００４９】
端面状態検出部２１７は、ガラス基板５００の端面の状態を検出する。以下に図８、図９を参照して端面の状態の検出について説明する。図８は、端面の状態の検出について説明する第一の図である。図８（Ａ）は、ガラス基板５００に端面処理が施されている状態を説明する図であり、図８（Ｂ）はガラス基板５００に端面処理が施されていない状態を説明する図である。本実施形態における端面処理とは、ガラス基板５００の端面に研磨加工またはエッチング加工などの処理を施し、端面のキズや凹凸を除去して鏡面とする加工処理を示す。ガラス基板５００の端面とは、ガラス基板５００の外周面である外周端面５００Ｈと、ガラス基板５００の内周面である内周端面５００Ｉとを示す。
【００５０】
ガラス基板５００に端面処理が施されている場合、外周端面５００Ｈ、内周端面５００Ｉは鏡面となっている。ガラス基板５００の内周の中心Ｏを通るように光Ｓを照射すると、光Ｓはガラス基板５００を透過し、図８（Ａ）に示すように透過光の画像９０を形成する。
【００５１】
これに対し、例えばガラス基板５００の内周端面５００Ｉに端面処理が施されていない場合、内周端面５００Ｉには凹凸が存在する。よって光Ｓは内周端面５００Ｉの凹凸で散乱し、ガラス基板５００を透過しない。ガラス基板５００の内周端面５００Ｉに端面処理を施さなかった場合、図８（Ｂ）に示すように、光Ｓは外周端面５００Ｈを透過するが、内周端面５００Ｉで散乱するため、透過光の画像９０は形成されない。又は、透過光の画像９０が形成されたとしても、輝度が弱く、画像９０部が薄い線または細い線でつながった画像となる。
【００５２】
本実施形態の端面状態検出部２１７は、この原理を利用してガラス基板５００に端面処理が施されているか否かを検出する。端面状態検出部２１７は、図６に示す領域５１３の画像データをＸ１からＸ２方向へ走査する。そして端面状態検出部２１７は、領域５１３においてガラス基板５００の画像５００Ｇが途切れているか否かを検出する。
【００５３】
具体的には端面状態検出部２１７は、例えば領域５１３におけるＸ１からＸ２方向への走査において画像データのＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を２箇所検出したとき、画像５００Ｇが途切れていないと検出する。また端面状態検出部２１７は、領域５１３におけるＸ１からＸ２方向への走査において画像データのＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を検出しない場合、画像５００Ｇが途切れていると検出する。
【００５４】
画像５００Ｇが途切れていない場合、ガラス基板５００の中心Ｏを透過した透過光の画像（図８の画像９０に対応）が形成されていないことを示す。よって端面状態検出部２１７は、端面処理が施されていないものと検出する。
【００５５】
また画像５００Ｇが途切れている場合、ガラス基板５００の中心Ｏを透過した透過光の画像（図８の画像９０に対応）が形成されていることを示す。よって端面状態検出部２１７は、端面処理が施されているものと検出する。
【００５６】
なお、端面状態検出部２１７は、透過光の画像の輝度の強度により端面処理が施されているか否かを検出しても良い。例えば本実施形態の端面状態検出部２１７は、透過光の画像の輝度の強度が所定値以下である場合は、画像５００Ｇが途切れていないものとして検出しても良い。輝度の強度は、例えば解析装置２００に予め設定された値である。
【００５７】
また本実施形態の端面状態検出部２１７は、領域５１３におけるＸ１からＸ２方向への走査を、Ｙ１からＹ２方向またはＹ２からＹ１方向にシフトさせながら複数回行っても良い。そして端面状態検出部２１７は、複数回のＸ１からＸ２方向への走査において、予め設定された回数以上画像５００Ｇが途切れていると検出された場合に、端面処理が施されているものと検出しても良い。なお、領域５１３の走査方向は、Ｘ１からＸ２方向と、Ｘ２からＸ１方向の両方向であっても良い。
【００５８】
図９は、端面の状態の検出について説明する第二の図である。図９に示す画像には、複数のガラス基板５００画像である画像５００Ｇ１〜５００Ｇ４が含まれる。また図９に示す画像は、照明台座３３０にスリット３３１が設けられた場合の画像である。
【００５９】
画像５００Ｇ１、５００Ｇ３では、領域５１３においてガラス基板５００を透過した透過光の画像Ｓ１（図８の画像９０に対応）が形成されていない。したがって画像５００Ｇ１、５００Ｇ３として撮像されたガラス基板５００は、端面処理が施されていないか又は端面処理が不充分であることがわかる。また画像５００Ｇ２、５００Ｇ４では、領域５１３においてガラス基板５００を透過した透過光の画像Ｓ１が形成されている。したがって画像５００Ｇ２、５００Ｇ４として撮像されたガラス基板５００は、端面処理が充分に施されていることがわかる。
【００６０】
なお、本実施形態の端面状態検出部２１７では、領域５１３において走査ラインをＹ１からＹ２方向へずらし、複数箇所において検出を行っても良い。また本実施形態では、複数箇所の検出において、端面処理が施されていないと検出された箇所が所定数以上である場合にガラス基板５００の端面処理が施されていないものしても良い。
【００６１】
次に、図１０を参照して本実施形態のガラス基板検査装置１００の動作について説明する。図１０は、第一の実施形態のガラス基板検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【００６２】
本実施形態のガラス基板検査装置１００において撮像装置３００は、ガラス基板５００が収納されたカセット４００が照明台座３３０に設置され（ステップＳ１１０１）、カメラ３２０のフォーカスや照明装置３１０の光量等の設定がされると（ステップＳ１１０２）、ガラス基板５００の撮像を行う（ステップＳ１１０３）。撮像されたガラス基板５００の画像データは、解析装置２００へ送られ、解析装置２００の画像データ取得部２１１により、解析装置２００に取得される。
【００６３】
解析装置２００は、位置補正部２１２により画像データの位置補正を行い、ペース処理部２１３により、色抽出を行うための領域を指定する（ステップＳ１１０４）。次に解析装置２００は、色抽出部２１４により領域内の画像データの色合いの差分を算出する（ステップＳ１１０５）。次に色抽出部２１４は、Ｒ，Ｇ，Ｂ系成分表現による画像データからＨＳＶ（色相、彩度、明度）で表されるＨＳＶ値を算出する（ステップＳ１１０６）。続いて色抽出部２１４は、算出されたＨＳＶ値が解析装置２００に設定された所定範囲の領域を検索し、該当する領域を抽出する（ステップＳ１１０７）。続いて色抽出部２１４は、抽出された領域の面積を算出する（ステップＳ１１０８）。次に解析装置２００は、素材判別部２１５により、抽出された領域の色を判定し（ステップＳ１１０９）、ガラス基板素材と特定色の表８０を参照してガラス基板５００の素材を判別する（ステップＳ１１１０）。
【００６４】
次に解析装置２００は、板厚算出部２１６により、算出された領域の面積からガラス基板５００の板厚を算出する（ステップＳ１１１１）。次に解析装置２００は、端面状態検出部２１７により、ガラス基板５００の端面状態を検出する（ステップＳ１１１２）。そしてガラス基板検査装置１００は、ステップＳ１１１０〜ステップＳ１１１２の結果を検査結果として出力する（ステップＳ１１１３）。
【００６５】
なお、本実施形態の素材判別部２１５による処理と板厚算出部２１６による処理と端面状態検出部２１７による処理は、いずれの処理を先に実施しても良いし、２つ以上の処理を並列して実行しても良い。
【００６６】
上記処理により、本実施形態のガラス基板検査装置１００は、例えばカセット４００内に異なる素材のガラス基板５００が混在しているか否かの検査を行うことができる。また本実施形態のガラス基板検査装置１００は、例えばカセット４００内に板厚の異なるガラス基板５００が混在しているか否かの検査を行うことができる。また本実施形態のガラス基板検査装置１００は、例えばカセット４００内に板厚が許容値外であるガラス基板５００が混在しているか否かの検査や、端面処理が施されていないガラス基板５００が混在しているか否かの検査を行うことができる。さらに、カセット４００に保管されているガラス基板５００の枚数をカウントし、所定枚数のガラス基板であるか否かの検査を行うことができる。
【００６７】
本実施形態では、カセット４００に収納されたガラス基板５００に接触せずにガラス基板５００の検査を行うことができるため、検査中にガラス基板５００にキズを付けるおそれがない。また本実施形態では、カセット４００に蓋４２０や底板４２１をセットした状態であっても、ガラス基板５００の素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板５００の状態を検査することができるため、検査中にガラス基板５００へ異物を付着させてしまうおそれがない。
【００６８】
なお、本実施形態では、ガラス基板５００はドーナツ形状のものとしたが、これに限定されない。本実施形態のガラス基板検査装置１００は、検査対象物が光透過性であって且つ板状のものであれば、適用可能である。また本実施形態では、カセット４００内に複数のガラス基板５００が収納されているものとしたが、カセット内４００に収納されるガラス基板５００は一枚であっても良い。また本実施形態は、検査対象物のガラス基板５００がカセット４００内に収納されているものとしたが、これに限定されない。本実施形態では、検査対象物がカセット４００内部に収納されていなくても良い。
【００６９】
（第二の実施形態）
以下に図面を参照して本発明の第二の実施形態について説明する。本発明の第二の実施形態は、照明台座に配置されたカセットの種類を判別し、カセットの種類に基づき特定する色の画像を抽出する点で第一の実施形態と相違する。以下の第二の実施形態の説明では、第一の実施形態との相違点についてのみ説明し、第一の実施形態と同様の機能構成を有するものには第一の実施形態の説明で用いた符号と同様の符号を付与し、その説明を省略する。
【００７０】
図１１は、第二の実施形態の解析装置の有する機能を説明する図である。本実施形態の解析装置２００Ａは、第一の実施形態の解析装置２００の有する各部に加え、カセット判別部２１８を有する。本実施形態のカセット判別部２１８は、画像データのカセット４００の蓋４２０の色に基づきカセット４００の種類を判別する。本実施形態の解析装置２００Ａには、例えばカセット４００の色とカセット４００の種類とが対応付けられたカセット判別表が格納されており、カセット判別部２１８はこのカセット判別表を参照してカセット４００の種類を判別する。
【００７１】
また本実施形態の色抽出部２１４Ａは、カセット判別部２１８による判別結果に基づき、画像データから抽出される画像の色を設定する。本実施形態の解析装置２００Ａには、例えばカセット４００の種別と、画像の色とが対応付けられた対応表が格納されている。色抽出部２１４Ａは、対応表を参照してカセット４００の種類に対応した色を抽出する色として設定する。
【００７２】
図１２は、第二の実施形態のガラス基板検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【００７３】
図１２のステップＳ１３０１からステップＳ１３０３までの処理は、図１０のステップＳ１１０１からステップＳ１１０３までの処理と同様であるから説明を省略する。解析装置２００Ａは、カセット判別部２１８により、ステップＳ１３０３により撮像された画像データからカセット４００の種類を判別する（ステップＳ１３０４）。続いて解析装置２００Ａは、色判別部２１４Ａにより、判別されたカセット４００の種類に基づき抽出する色を設定し、設定された色の画像を抽出する（ステップＳ１３０５）。
【００７４】
ステップＳ１３０６からステップＳ１３１４までの処理は、図１０のステップＳ１１０５からステップＳ１１１３までの処理と同様であるから説明を省略する。
【００７５】
以上の構成により、本実施形態では、カセット４００の種類に基づきガラス基板５００の検査を行うことができる。
【００７６】
本発明の測定の対象となるガラス基板５００としては特に制限はないが、磁気記録媒体用、フォトマスク用、液晶や有機ＥＬ等のディスプレイ用、光ピックアップ素子や光学フィルタ等の光学部品用などのガラス基板が具体的なものとして挙げられる。
【００７７】
また、ガラス基板５００のガラスの種類は、それぞれの用途に適したものが適宜選択されるが、アモルファスガラスでもよいし、結晶化ガラスでもよく、ガラス基板の表層に強化層を有する強化ガラス（例えば、化学強化ガラス）でもよい。
【００７８】
また、加工前のガラス基板５００（以下、ガラス素基板ともいう）の製造方法としても特に制限はなく、フロート法で造られたものでもよく、フュージョン法で造られたものでもよく、プレス成形法で造られたものでもよい。
【００７９】
上記の中でも、磁気記録媒体用ガラス基板は、他のガラス基板製品に要求される形状特性（板厚偏差、端面処理状態など）に比べて厳しいレベルのものが要求されるが、本発明のガラス基板検査装置１００を使用した検査方法およびガラス基板検査装置１００を用いた検査方法を有する検査工程を含むガラス基板の製造方法が最も好適に適用されるものである。
【００８０】
一般に、磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクの製造工程は、以下の工程を含む。（１）フロート法、フュージョン法またはプレス成形法で成形されたガラス素基板を、円盤形状に加工した後、内周側面と外周側面に面取り加工を行う。（２）ガラス基板の上下主平面に研削加工を行う。（３）ガラス基板の側面部と面取り部に端面研磨を行う。（４）ガラス基板の上下主平面に研磨を行う。研磨工程は、１次研磨のみでも良く、１次研磨と２次研磨を行っても良く、２次研磨の後に３次研磨を行っても良い。（５）ガラス基板の精密洗浄を行い、磁気記録媒体用ガラス基板を製造する。（６）磁気記録媒体用ガラス基板の上に磁性層などの薄膜を形成し、磁気ディスクを製造する。
【００８１】
なお、上記磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクの製造工程において、各工程間にガラス基板洗浄（工程間洗浄）やガラス基板表面のエッチング（工程間エッチング）を実施してもよい。さらに、磁気記録媒体用ガラス基板に高い機械的強度が求められる場合、ガラス基板の表層に強化層を形成する強化工程（例えば、化学強化工程）を研磨工程前、または研磨工程後、あるいは研磨工程間で実施してもよい。
【００８２】
本発明において、磁気記録媒体用ガラス基板は、アモルファスガラスでもよく、結晶化ガラスでもよく、ガラス基板の表層に強化層を有する強化ガラス（例えば、化学強化ガラス）でもよい。また、本発明のガラス基板５００のガラス素基板は、フロート法で造られたものでもよく、フュージョン法で造られたものでもよく、プレス成形法で造られたものでもよい。
【００８３】
本発明のガラス基板検査装置１００は、磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクの製造工程の端面研磨工程（３）で、加工途中の磁気記録媒体用ガラス基板の検査に使用できる。また、磁気記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスクの製造工程において、ガラス基板を精密洗浄して製造された磁気記録媒体用ガラス基板（５）の検査（磁気記録媒体用ガラス基板の最終検査）や、磁気記録媒体用ガラス基板の上に磁性層などの薄膜を形成して製造された磁気ディスク（６）の形状検査に使用できる。
【００８４】
本発明のガラス基板検査装置１００は、磁気記録媒体用ガラス基板の形状検査（磁気記録媒体用ガラス基板の最終検査）に、特に好適に用いられるものである。
【００８５】
以上、各実施形態に基づき本発明の説明を行ってきたが、上記実施形態に示した要件に本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することができ、その応用形態に応じて適切に定めることができる。
【符号の説明】
【００８６】
１００ ガラス基板検査装置
２００、２００Ａ 解析装置
２１０ 演算処理装置
２１１ 画像データ取得部
２１２ 位置補正部
２１３ ペース処理部
２１４ 色抽出部
２１５ 素材判定部
２１６ 板厚算出部
２１７ 端面状態検出部
２１８ カセット判別部
３００ 撮像装置
３１０ 照明装置
３２０ カメラ
３３０ 照明台座
３３１ スリット
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光をガラス基板に照射して撮像した画像データに基づき前記ガラス基板の検査を行うガラス基板検査装置において、
前記画像データを解析する解析手段を有し、
前記解析手段は、
前記画像データから特定の色の画像データを抽出する色抽出手段と、
前記色抽出手段により抽出された前記特定の色の画像データを含む第一の所定領域の画像データの色の変化に基づき前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、
を有するガラス基板検査装置。
【請求項２】
前記解析手段は
前記色抽出手段により抽出された前記特定の色の画像データを含む第二の所定領域の画像データの色の変化に基づき前記ガラス基板の板厚を算出する板厚算出手段を有する請求項１記載のガラス基板検査装置。
【請求項３】
前記解析手段は、
前記色抽出手段により抽出された前記画像データの色に基づき前記ガラス基板の素材を判別する素材判別手段を有する請求項１又は２記載のガラス基板検査装置。
【請求項４】
前記色抽出手段は、
前記画像データのＲＧＢ値に基づき前記特定の色の画像データを抽出する請求項１ないし３の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項５】
前記色抽出手段は、
前記画像データのＲＧＢ値に基づきＨＳＶ値を算出し、前記ＨＳＶ値に基づき前記特定の色の画像データを抽出する請求項４記載のガラス基板検査装置。
【請求項６】
前記色抽出手段は、
前記画像データにおいて、前記ＲＧＢ値または前記ＨＳＶ値が所定範囲内である領域の面積を算出し、前記面積が所定値以上であるとき、前記領域の画像データを前記特定の色の画像データとして抽出する請求項４又は５記載のガラス基板検査装置。
【請求項７】
前記撮像した画像データを表示する表示手段と、
前記撮像した画像データが前記表示手段において同じ位置に表示されるように前記画像データの位置補正を行う位置補正手段と、を有し、
前記色抽出手段は、
前記位置補正後の画像データから前記特定の色の画像データを抽出する請求項１ないし６の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項８】
前記板厚算出手段は、
前記第二の所定領域内の前記画像データの色の階調の変化を検出した結果に基づき前記ガラス基板の板厚を算出する請求項２ないし７の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項９】
前記板厚算出手段は、
前記第二の所定領域内の前記色の階調が変化する点を二点検出し、前記二点間の幅を前記ガラス基板の板厚として算出する請求項８記載のガラス基板検査装置。
【請求項１０】
前記端面状態検出手段は、
前記第一の所定領域において、前記ガラス基板に対して照射された光源からの光が形成するガラス基板の画像が途切れているか否かを判断した結果に基づき前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する請求項１ないし９の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１１】
前記端面状態検出手段は、
前記第一の所定領域において、前記ガラス基板に対して照射された光源からの光が形成するガラス基板の画像が途切れた場合に、前記端面に対する加工が行われたものとし、
前記第一の所定領域において、前記ガラス基板に対して照射された光源からの光が形成するガラス基板の画像が途切れない場合に、前記端面に対する加工が行われていないものとする請求項１ないし１０の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１２】
前記端面状態検出手段は、
前記第一の所定領域において、
画像データの前記ＲＧＢ値または前記ＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を２箇所検出したとき、前記ガラス基板の画像が途切れていないと検出し、
画像データの前記ＲＧＢ値または前記ＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を検出しないとき、前記ガラス基板の画像が途切れていると検出する
請求項６ないし１１に記載の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１３】
前記ガラス基板の素材と前記画像データの色とを対応付けた表が格納された記憶手段を有し、
前記素材判別手段は、
前記表を参照して前記ガラス基板の素材を判別する請求項３ないし１２の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１４】
前記ガラス基板は、前記光源からの光を入射させるための光源用開口部と、前記ガラス基板を透過した光を撮像手段へ導くための撮像用開口部と、を有するカセットに収納されている請求項１ないし１３の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１５】
前記画像データに基づき前記カセットの種類を判別するカセット判別手段を有する請求項１４記載のガラス基板検査装置。
【請求項１６】
前記色抽出手段は、
前記カセット判別手段により判別されたカセットの種類に対応した色の画像データを抽出する請求項１５記載のガラス基板検査装置。
【請求項１７】
前記光源用開口部は光透過性の底板で覆われており、前記検出用開口部は光透過性の蓋で覆われている請求項１４ないし１６の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１８】
前記光源となる照明手段と、
前記照明手段を覆う照明台座と、を有し、
前記照明台座には、前記光源からの光を通過させるスリットが設けられている請求項１ないし１７の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１９】
前記ガラス基板は、中心に形成された円孔を有する磁気記録媒体用のガラス基板である請求項１ないし１８の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項２０】
磁気記録媒体用ガラス基板製造方法であって、
請求項１ないし１９の何れか一項に記載のガラス基板検査装置による検査工程を含む磁気記録媒体用ガラス基板製造方法。
【請求項１】
光源からの光をガラス基板に照射して撮像した画像データに基づき前記ガラス基板の検査を行うガラス基板検査装置において、
前記画像データを解析する解析手段を有し、
前記解析手段は、
前記画像データから特定の色の画像データを抽出する色抽出手段と、
前記色抽出手段により抽出された前記特定の色の画像データを含む第一の所定領域の画像データの色の変化に基づき前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、
を有するガラス基板検査装置。
【請求項２】
前記解析手段は
前記色抽出手段により抽出された前記特定の色の画像データを含む第二の所定領域の画像データの色の変化に基づき前記ガラス基板の板厚を算出する板厚算出手段を有する請求項１記載のガラス基板検査装置。
【請求項３】
前記解析手段は、
前記色抽出手段により抽出された前記画像データの色に基づき前記ガラス基板の素材を判別する素材判別手段を有する請求項１又は２記載のガラス基板検査装置。
【請求項４】
前記色抽出手段は、
前記画像データのＲＧＢ値に基づき前記特定の色の画像データを抽出する請求項１ないし３の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項５】
前記色抽出手段は、
前記画像データのＲＧＢ値に基づきＨＳＶ値を算出し、前記ＨＳＶ値に基づき前記特定の色の画像データを抽出する請求項４記載のガラス基板検査装置。
【請求項６】
前記色抽出手段は、
前記画像データにおいて、前記ＲＧＢ値または前記ＨＳＶ値が所定範囲内である領域の面積を算出し、前記面積が所定値以上であるとき、前記領域の画像データを前記特定の色の画像データとして抽出する請求項４又は５記載のガラス基板検査装置。
【請求項７】
前記撮像した画像データを表示する表示手段と、
前記撮像した画像データが前記表示手段において同じ位置に表示されるように前記画像データの位置補正を行う位置補正手段と、を有し、
前記色抽出手段は、
前記位置補正後の画像データから前記特定の色の画像データを抽出する請求項１ないし６の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項８】
前記板厚算出手段は、
前記第二の所定領域内の前記画像データの色の階調の変化を検出した結果に基づき前記ガラス基板の板厚を算出する請求項２ないし７の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項９】
前記板厚算出手段は、
前記第二の所定領域内の前記色の階調が変化する点を二点検出し、前記二点間の幅を前記ガラス基板の板厚として算出する請求項８記載のガラス基板検査装置。
【請求項１０】
前記端面状態検出手段は、
前記第一の所定領域において、前記ガラス基板に対して照射された光源からの光が形成するガラス基板の画像が途切れているか否かを判断した結果に基づき前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する請求項１ないし９の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１１】
前記端面状態検出手段は、
前記第一の所定領域において、前記ガラス基板に対して照射された光源からの光が形成するガラス基板の画像が途切れた場合に、前記端面に対する加工が行われたものとし、
前記第一の所定領域において、前記ガラス基板に対して照射された光源からの光が形成するガラス基板の画像が途切れない場合に、前記端面に対する加工が行われていないものとする請求項１ないし１０の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１２】
前記端面状態検出手段は、
前記第一の所定領域において、
画像データの前記ＲＧＢ値または前記ＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を２箇所検出したとき、前記ガラス基板の画像が途切れていないと検出し、
画像データの前記ＲＧＢ値または前記ＨＳＶ値の変化が所定値以上となる箇所を検出しないとき、前記ガラス基板の画像が途切れていると検出する
請求項６ないし１１に記載の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１３】
前記ガラス基板の素材と前記画像データの色とを対応付けた表が格納された記憶手段を有し、
前記素材判別手段は、
前記表を参照して前記ガラス基板の素材を判別する請求項３ないし１２の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１４】
前記ガラス基板は、前記光源からの光を入射させるための光源用開口部と、前記ガラス基板を透過した光を撮像手段へ導くための撮像用開口部と、を有するカセットに収納されている請求項１ないし１３の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１５】
前記画像データに基づき前記カセットの種類を判別するカセット判別手段を有する請求項１４記載のガラス基板検査装置。
【請求項１６】
前記色抽出手段は、
前記カセット判別手段により判別されたカセットの種類に対応した色の画像データを抽出する請求項１５記載のガラス基板検査装置。
【請求項１７】
前記光源用開口部は光透過性の底板で覆われており、前記検出用開口部は光透過性の蓋で覆われている請求項１４ないし１６の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１８】
前記光源となる照明手段と、
前記照明手段を覆う照明台座と、を有し、
前記照明台座には、前記光源からの光を通過させるスリットが設けられている請求項１ないし１７の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項１９】
前記ガラス基板は、中心に形成された円孔を有する磁気記録媒体用のガラス基板である請求項１ないし１８の何れか一項に記載のガラス基板検査装置。
【請求項２０】
磁気記録媒体用ガラス基板製造方法であって、
請求項１ないし１９の何れか一項に記載のガラス基板検査装置による検査工程を含む磁気記録媒体用ガラス基板製造方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２０１１−２５７４１２（Ｐ２０１１−２５７４１２Ａ）
【公開日】平成２３年１２月２２日（２０１１．１２．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１５３２４７（Ｐ２０１１−１５３２４７）
【出願日】平成２３年７月１１日（２０１１．７．１１）
【分割の表示】特願２０１０−１３２２８８（Ｐ２０１０−１３２２８８）の分割
【原出願日】平成２２年６月９日（２０１０．６．９）
【出願人】（０００００００４４）旭硝子株式会社 (2,665)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１２月２２日（２０１１．１２．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年７月１１日（２０１１．７．１１）
【分割の表示】特願２０１０−１３２２８８（Ｐ２０１０−１３２２８８）の分割
【原出願日】平成２２年６月９日（２０１０．６．９）
【出願人】（０００００００４４）旭硝子株式会社 (2,665)
【Ｆターム（参考）】
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