半導体装置およびその作製方法
【課題】開口率の高い半導体装置を提供することを課題とする。または、開示する発明の一態様は、消費電力の低い半導体装置を提供することを課題とする。または、開示する発明の一態様は、配線抵抗の低い半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】絶縁面を有する基板と、基板上に設けられた透光性を有する第1の電極と、基板上に設けられた透光性を有する第2の電極と、第1の電極および第2の電極と電気的に接続するように設けられた透光性を有する半導体層と、第1の電極と電気的に接続された第1の配線と、少なくとも半導体層を覆うように設けられた絶縁層と、半導体層と重なる領域の絶縁層上に設けられた透光性を有する第3の電極と、第3の電極と電気的に接続された第2の配線と、を有する。
【解決手段】絶縁面を有する基板と、基板上に設けられた透光性を有する第1の電極と、基板上に設けられた透光性を有する第2の電極と、第1の電極および第2の電極と電気的に接続するように設けられた透光性を有する半導体層と、第1の電極と電気的に接続された第1の配線と、少なくとも半導体層を覆うように設けられた絶縁層と、半導体層と重なる領域の絶縁層上に設けられた透光性を有する第3の電極と、第3の電極と電気的に接続された第2の配線と、を有する。
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
絶縁面を有する基板と、
前記基板上に設けられた透光性を有する第1の電極と、
前記基板上に設けられた透光性を有する第2の電極と、
前記第1の電極および前記第2の電極と電気的に接続するように設けられた透光性を有する半導体層と、
前記第1の電極と電気的に接続された第1の配線と、
少なくとも前記半導体層を覆うように設けられた絶縁層と、
前記半導体層と重なる領域の前記絶縁層上に設けられた透光性を有する第3の電極と、
前記第3の電極と電気的に接続された第2の配線と、
を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項2】
請求項1において、
前記第2の電極と電気的に接続された透光性を有する第4の電極を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項3】
請求項1または2において、
前記絶縁層を介して前記第2の電極の一部と重なる領域に設けられ、かつ前記第3の電極と同一層でなる第5の電極と、
前記第5の電極と電気的に接続され、かつ前記第2の配線と同一層でなる第3の配線と、
を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項4】
請求項1乃至3のいずれか一において、
前記半導体層は、インジウム、ガリウムおよび亜鉛を含む酸化物半導体からなることを特徴とする半導体装置。
【請求項5】
請求項1乃至4のいずれか一において、
前記第1の電極、前記第2の電極、および前記第3の電極は、インジウム錫酸化物、酸化珪素を含むインジウム錫酸化物、有機インジウム、有機スズ、酸化亜鉛、窒化チタン、酸化亜鉛を含むインジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛にガリウムを添加した材料、酸化スズ、酸化タングステンを含むインジウム酸化物、酸化タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化チタンを含むインジウム酸化物、酸化チタンを含むインジウム錫酸化物、のいずれかからなることを特徴とする半導体装置。
【請求項6】
請求項1乃至5のいずれか一において、
前記第1の配線および前記第2の配線は、遮光性を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項7】
請求項1乃至6のいずれか一において、
前記第1の配線と前記第2の配線との交差部分に、前記半導体層と同一層でなる層を設けることを特徴とする半導体装置。
【請求項8】
絶縁面を有する基板上に、透光性を有する第1の導電層と、第2の導電層とを積層して形成し、
前記第2の導電層上に第1のマスクを形成し、
前記第1のマスクを用いて前記第1の導電層をエッチングして第1の電極および第2の電極を形成すると共に、第2の導電層をエッチングして第3の導電層を形成し、
前記第1のマスクを後退させて、第2のマスクを形成し、
前記第2のマスクを用いて前記第3の導電層をエッチングして第1の配線を形成し、
前記第1の電極および前記第2の電極と電気的に接続する透光性を有する半導体層を形成し、
前記半導体層を覆うように絶縁層を形成し、
前記絶縁層上に、透光性を有する第4の導電層と、第5の導電層とを積層して形成し、
前記第5の導電層上に第3のマスクを形成し、
前記第3のマスクを用いて前記第4の導電層をエッチングして第3の電極を形成すると共に、第5の導電層をエッチングして第6の導電層を形成し、
前記第3のマスクを後退させて、第4のマスクを形成し、
前記第4のマスクを用いて前記第6の導電層をエッチングして第2の配線を形成することを特徴とする半導体装置の作製方法。
【請求項1】
絶縁面を有する基板と、
前記基板上に設けられた透光性を有する第1の電極と、
前記基板上に設けられた透光性を有する第2の電極と、
前記第1の電極および前記第2の電極と電気的に接続するように設けられた透光性を有する半導体層と、
前記第1の電極と電気的に接続された第1の配線と、
少なくとも前記半導体層を覆うように設けられた絶縁層と、
前記半導体層と重なる領域の前記絶縁層上に設けられた透光性を有する第3の電極と、
前記第3の電極と電気的に接続された第2の配線と、
を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項2】
請求項1において、
前記第2の電極と電気的に接続された透光性を有する第4の電極を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項3】
請求項1または2において、
前記絶縁層を介して前記第2の電極の一部と重なる領域に設けられ、かつ前記第3の電極と同一層でなる第5の電極と、
前記第5の電極と電気的に接続され、かつ前記第2の配線と同一層でなる第3の配線と、
を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項4】
請求項1乃至3のいずれか一において、
前記半導体層は、インジウム、ガリウムおよび亜鉛を含む酸化物半導体からなることを特徴とする半導体装置。
【請求項5】
請求項1乃至4のいずれか一において、
前記第1の電極、前記第2の電極、および前記第3の電極は、インジウム錫酸化物、酸化珪素を含むインジウム錫酸化物、有機インジウム、有機スズ、酸化亜鉛、窒化チタン、酸化亜鉛を含むインジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛にガリウムを添加した材料、酸化スズ、酸化タングステンを含むインジウム酸化物、酸化タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化チタンを含むインジウム酸化物、酸化チタンを含むインジウム錫酸化物、のいずれかからなることを特徴とする半導体装置。
【請求項6】
請求項1乃至5のいずれか一において、
前記第1の配線および前記第2の配線は、遮光性を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項7】
請求項1乃至6のいずれか一において、
前記第1の配線と前記第2の配線との交差部分に、前記半導体層と同一層でなる層を設けることを特徴とする半導体装置。
【請求項8】
絶縁面を有する基板上に、透光性を有する第1の導電層と、第2の導電層とを積層して形成し、
前記第2の導電層上に第1のマスクを形成し、
前記第1のマスクを用いて前記第1の導電層をエッチングして第1の電極および第2の電極を形成すると共に、第2の導電層をエッチングして第3の導電層を形成し、
前記第1のマスクを後退させて、第2のマスクを形成し、
前記第2のマスクを用いて前記第3の導電層をエッチングして第1の配線を形成し、
前記第1の電極および前記第2の電極と電気的に接続する透光性を有する半導体層を形成し、
前記半導体層を覆うように絶縁層を形成し、
前記絶縁層上に、透光性を有する第4の導電層と、第5の導電層とを積層して形成し、
前記第5の導電層上に第3のマスクを形成し、
前記第3のマスクを用いて前記第4の導電層をエッチングして第3の電極を形成すると共に、第5の導電層をエッチングして第6の導電層を形成し、
前記第3のマスクを後退させて、第4のマスクを形成し、
前記第4のマスクを用いて前記第6の導電層をエッチングして第2の配線を形成することを特徴とする半導体装置の作製方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図38】
【図39】
【図40】
【図41】
【図42】
【図43】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図38】
【図39】
【図40】
【図41】
【図42】
【図43】
【公開番号】特開2010−232645(P2010−232645A)
【公開日】平成22年10月14日(2010.10.14)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−44930(P2010−44930)
【出願日】平成22年3月2日(2010.3.2)
【出願人】(000153878)株式会社半導体エネルギー研究所 (5,264)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成22年10月14日(2010.10.14)
【国際特許分類】
【出願日】平成22年3月2日(2010.3.2)
【出願人】(000153878)株式会社半導体エネルギー研究所 (5,264)
【Fターム(参考)】
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