記憶素子、信号処理回路
【課題】新たな構成の不揮発性の記憶素子、それを用いた信号処理回路を提供する。
【解決手段】第1の回路と第2の回路とを有し、第1の回路は第1のトランジスタと第2のトランジスタとを有し、第2の回路は第3のトランジスタと第4のトランジスタとを有する。第1の信号に対応する信号電位は、オン状態とした第1のトランジスタを介して第2のトランジスタのゲートに入力され、第2の信号に対応する信号電位は、オン状態とした第3のトランジスタを介して第4のトランジスタのゲートに入力される。その後、第1のトランジスタ及び第3のトランジスタをオフ状態とする。第2のトランジスタの状態と第4のトランジスタの状態との両方を用いて、第1の信号を読み出す。第1のトランジスタ及び第3のトランジスタは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタとする。
【解決手段】第1の回路と第2の回路とを有し、第1の回路は第1のトランジスタと第2のトランジスタとを有し、第2の回路は第3のトランジスタと第4のトランジスタとを有する。第1の信号に対応する信号電位は、オン状態とした第1のトランジスタを介して第2のトランジスタのゲートに入力され、第2の信号に対応する信号電位は、オン状態とした第3のトランジスタを介して第4のトランジスタのゲートに入力される。その後、第1のトランジスタ及び第3のトランジスタをオフ状態とする。第2のトランジスタの状態と第4のトランジスタの状態との両方を用いて、第1の信号を読み出す。第1のトランジスタ及び第3のトランジスタは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタとする。
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1の回路と第2の回路とを有し、
前記第1の回路は第1のトランジスタと第2のトランジスタとを有し、
前記第2の回路は第3のトランジスタと第4のトランジスタとを有し、
第1の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第1のトランジスタを介して前記第2のトランジスタのゲートに入力し、
第2の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第3のトランジスタを介して前記第4のトランジスタのゲートに入力し、
前記第1のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第1の回路は前記第1の信号に対応する信号電位を前記第2のトランジスタのゲートに保持し、前記第3のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第2の回路は前記第2の信号に対応する信号電位を前記第4のトランジスタのゲートに保持し、
前記第2のトランジスタの状態と前記第4のトランジスタの状態の両方を用いて、前記第1の信号または前記第2の信号を読み出し、
前記第1のトランジスタ及び前記第3のトランジスタは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタであることを特徴とする記憶素子。
【請求項2】
第1の回路と、第2の回路と、センスアンプと、プリチャージ回路とを有し、
前記第1の回路は第1のトランジスタと第2のトランジスタとを有し、
前記第2の回路は第3のトランジスタと第4のトランジスタとを有し、
前記プリチャージ回路は、第1のスイッチと、第2のスイッチと、プリチャージ電位が与えられる配線とを有し、
第1の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第1のトランジスタを介して前記第2のトランジスタのゲートに入力し、
第2の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第3のトランジスタを介して前記第4のトランジスタのゲートに入力し、
前記第1のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第1の回路は前記第1の信号に対応する信号電位を前記第2のトランジスタのゲートに保持し、前記第3のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第2の回路は前記第2の信号に対応する信号電位を前記第4のトランジスタのゲートに保持し、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの一方、並びに前記第4のトランジスタのソース及びドレインの一方は、互いに電気的に接続されて、前記第1のスイッチを介して前記センスアンプの入力端子に電気的に接続され、
前記センスアンプの前記入力端子は、前記第2のスイッチを介して前記配線と電気的に接続され、
前記センスアンプは、前記センスアンプの前記入力端子に入力された電位を増幅して出力し、
前記第1のトランジスタ及び前記第3のトランジスタは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタであることを特徴とする記憶素子。
【請求項3】
第1の回路と、第2の回路と、センスアンプと、第1のプリチャージ回路と、第2のプリチャージ回路とを有し、
前記第1の回路は第1のトランジスタと第2のトランジスタとを有し、
前記第2の回路は第3のトランジスタと第4のトランジスタとを有し、
前記第1のプリチャージ回路は、第1のスイッチと、第2のスイッチと、プリチャージ電位が与えられる第1の配線とを有し、
前記第2のプリチャージ回路は、第3のスイッチと、第4のスイッチと、プリチャージ電位が与えられる第2の配線とを有し、
第1の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第1のトランジスタを介して前記第2のトランジスタのゲートに入力し、
第2の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第3のトランジスタを介して前記第4のトランジスタのゲートに入力し、
前記第1のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第1の回路は前記第1の信号に対応する信号電位を前記第2のトランジスタのゲートに保持し、前記第3のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第2の回路は前記第2の信号に対応する信号電位を前記第4のトランジスタのゲートに保持し、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの一方は、前記第1のスイッチを介して前記センスアンプの第1の入力端子に電気的に接続され、
前記第4のトランジスタのソース及びドレインの一方は、前記第3のスイッチを介して前記センスアンプの第2の入力端子に電気的に接続され、
前記センスアンプの前記第1の入力端子は、前記第2のスイッチを介して前記第1の配線と電気的に接続され、
前記センスアンプの前記第2の入力端子は、前記第4のスイッチを介して前記第2の配線と電気的に接続され、
前記センスアンプは、前記センスアンプの前記第1の入力端子に入力された電位と前記センスアンプの前記第2の入力端子に入力された電位とを比較した結果を出力し、
前記第1のトランジスタ及び前記第3のトランジスタは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタであることを特徴とする記憶素子。
【請求項4】
請求項2において、
前記第2の信号は、前記第1の信号の反転信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は互いに異なり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは同じであることを特徴とする記憶素子。
【請求項5】
請求項3において、
前記第2の信号は、前記第1の信号と同じ信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は互いに異なり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは同じであることを特徴とする記憶素子。
【請求項6】
請求項3において、
前記第2の信号は、前記第1の信号の反転信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は同じであり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは同じであることを特徴とする記憶素子。
【請求項7】
請求項2において、
前記第2の信号は、前記第1の信号と同じ信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は同じであり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは同じであることを特徴とする記憶素子。
【請求項8】
請求項3において、
前記第2の信号は、前記第1の信号の反転信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は互いに異なり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは異なることを特徴とする記憶素子。
【請求項9】
請求項2において、
前記第2の信号は、前記第1の信号と同じ信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は互いに異なり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは異なることを特徴とする記憶素子。
【請求項10】
請求項2において、
前記第2の信号は、前記第1の信号の反転信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は同じであり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは異なることを特徴とする記憶素子。
【請求項11】
請求項3において、
前記第2の信号は、前記第1の信号と同じ信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は同じであり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは異なることを特徴とする記憶素子。
【請求項12】
請求項2乃至請求項11のいずれか一において、
前記センスアンプは、ラッチ回路であることを特徴とする記憶素子。
【請求項13】
請求項1乃至請求項12のいずれか一において、
前記第1のトランジスタ及び前記第3のトランジスタは、前記酸化物半導体層を挟んで2つのゲート電極を有するトランジスタであることを特徴とする記憶素子。
【請求項14】
請求項1乃至請求項13のいずれか一において、
揮発性の記憶回路を有し、
前記揮発性の記憶回路に保持されたデータに対応する信号を、前記第1の信号または前記第2の信号とし、
前記センスアンプの出力またはその反転信号が、前記揮発性の記憶回路に入力されることを特徴とする記憶素子。
【請求項15】
請求項1乃至請求項14のいずれか一において、
前記記憶素子を用いた信号処理回路。
【請求項1】
第1の回路と第2の回路とを有し、
前記第1の回路は第1のトランジスタと第2のトランジスタとを有し、
前記第2の回路は第3のトランジスタと第4のトランジスタとを有し、
第1の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第1のトランジスタを介して前記第2のトランジスタのゲートに入力し、
第2の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第3のトランジスタを介して前記第4のトランジスタのゲートに入力し、
前記第1のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第1の回路は前記第1の信号に対応する信号電位を前記第2のトランジスタのゲートに保持し、前記第3のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第2の回路は前記第2の信号に対応する信号電位を前記第4のトランジスタのゲートに保持し、
前記第2のトランジスタの状態と前記第4のトランジスタの状態の両方を用いて、前記第1の信号または前記第2の信号を読み出し、
前記第1のトランジスタ及び前記第3のトランジスタは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタであることを特徴とする記憶素子。
【請求項2】
第1の回路と、第2の回路と、センスアンプと、プリチャージ回路とを有し、
前記第1の回路は第1のトランジスタと第2のトランジスタとを有し、
前記第2の回路は第3のトランジスタと第4のトランジスタとを有し、
前記プリチャージ回路は、第1のスイッチと、第2のスイッチと、プリチャージ電位が与えられる配線とを有し、
第1の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第1のトランジスタを介して前記第2のトランジスタのゲートに入力し、
第2の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第3のトランジスタを介して前記第4のトランジスタのゲートに入力し、
前記第1のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第1の回路は前記第1の信号に対応する信号電位を前記第2のトランジスタのゲートに保持し、前記第3のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第2の回路は前記第2の信号に対応する信号電位を前記第4のトランジスタのゲートに保持し、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの一方、並びに前記第4のトランジスタのソース及びドレインの一方は、互いに電気的に接続されて、前記第1のスイッチを介して前記センスアンプの入力端子に電気的に接続され、
前記センスアンプの前記入力端子は、前記第2のスイッチを介して前記配線と電気的に接続され、
前記センスアンプは、前記センスアンプの前記入力端子に入力された電位を増幅して出力し、
前記第1のトランジスタ及び前記第3のトランジスタは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタであることを特徴とする記憶素子。
【請求項3】
第1の回路と、第2の回路と、センスアンプと、第1のプリチャージ回路と、第2のプリチャージ回路とを有し、
前記第1の回路は第1のトランジスタと第2のトランジスタとを有し、
前記第2の回路は第3のトランジスタと第4のトランジスタとを有し、
前記第1のプリチャージ回路は、第1のスイッチと、第2のスイッチと、プリチャージ電位が与えられる第1の配線とを有し、
前記第2のプリチャージ回路は、第3のスイッチと、第4のスイッチと、プリチャージ電位が与えられる第2の配線とを有し、
第1の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第1のトランジスタを介して前記第2のトランジスタのゲートに入力し、
第2の信号に対応する信号電位を、オン状態とした前記第3のトランジスタを介して前記第4のトランジスタのゲートに入力し、
前記第1のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第1の回路は前記第1の信号に対応する信号電位を前記第2のトランジスタのゲートに保持し、前記第3のトランジスタをオフ状態とすることによって、前記第2の回路は前記第2の信号に対応する信号電位を前記第4のトランジスタのゲートに保持し、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの一方は、前記第1のスイッチを介して前記センスアンプの第1の入力端子に電気的に接続され、
前記第4のトランジスタのソース及びドレインの一方は、前記第3のスイッチを介して前記センスアンプの第2の入力端子に電気的に接続され、
前記センスアンプの前記第1の入力端子は、前記第2のスイッチを介して前記第1の配線と電気的に接続され、
前記センスアンプの前記第2の入力端子は、前記第4のスイッチを介して前記第2の配線と電気的に接続され、
前記センスアンプは、前記センスアンプの前記第1の入力端子に入力された電位と前記センスアンプの前記第2の入力端子に入力された電位とを比較した結果を出力し、
前記第1のトランジスタ及び前記第3のトランジスタは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタであることを特徴とする記憶素子。
【請求項4】
請求項2において、
前記第2の信号は、前記第1の信号の反転信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は互いに異なり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは同じであることを特徴とする記憶素子。
【請求項5】
請求項3において、
前記第2の信号は、前記第1の信号と同じ信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は互いに異なり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは同じであることを特徴とする記憶素子。
【請求項6】
請求項3において、
前記第2の信号は、前記第1の信号の反転信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は同じであり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは同じであることを特徴とする記憶素子。
【請求項7】
請求項2において、
前記第2の信号は、前記第1の信号と同じ信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は同じであり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは同じであることを特徴とする記憶素子。
【請求項8】
請求項3において、
前記第2の信号は、前記第1の信号の反転信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は互いに異なり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは異なることを特徴とする記憶素子。
【請求項9】
請求項2において、
前記第2の信号は、前記第1の信号と同じ信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は互いに異なり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは異なることを特徴とする記憶素子。
【請求項10】
請求項2において、
前記第2の信号は、前記第1の信号の反転信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は同じであり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは異なることを特徴とする記憶素子。
【請求項11】
請求項3において、
前記第2の信号は、前記第1の信号と同じ信号であり、
前記第2のトランジスタの極性と前記第4のトランジスタの極性は同じであり、
前記第2のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位と、前記第4のトランジスタのソース及びドレインの他方に与えられる電位とは異なることを特徴とする記憶素子。
【請求項12】
請求項2乃至請求項11のいずれか一において、
前記センスアンプは、ラッチ回路であることを特徴とする記憶素子。
【請求項13】
請求項1乃至請求項12のいずれか一において、
前記第1のトランジスタ及び前記第3のトランジスタは、前記酸化物半導体層を挟んで2つのゲート電極を有するトランジスタであることを特徴とする記憶素子。
【請求項14】
請求項1乃至請求項13のいずれか一において、
揮発性の記憶回路を有し、
前記揮発性の記憶回路に保持されたデータに対応する信号を、前記第1の信号または前記第2の信号とし、
前記センスアンプの出力またはその反転信号が、前記揮発性の記憶回路に入力されることを特徴とする記憶素子。
【請求項15】
請求項1乃至請求項14のいずれか一において、
前記記憶素子を用いた信号処理回路。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図27】
【図28】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図37】
【図27】
【図28】
【公開番号】特開2012−256404(P2012−256404A)
【公開日】平成24年12月27日(2012.12.27)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2012−26860(P2012−26860)
【出願日】平成24年2月10日(2012.2.10)
【出願人】(000153878)株式会社半導体エネルギー研究所 (5,264)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成24年12月27日(2012.12.27)
【国際特許分類】
【出願日】平成24年2月10日(2012.2.10)
【出願人】(000153878)株式会社半導体エネルギー研究所 (5,264)
【Fターム(参考)】
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